JP3086070B2 - ポジ型放射感応性混合物およびそれによって製造した放射感応性記録材料 - Google Patents
ポジ型放射感応性混合物およびそれによって製造した放射感応性記録材料Info
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- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims description 103
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 71
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims description 21
- -1 dihydroxyphenyl Chemical group 0.000 claims description 92
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 65
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 29
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 23
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 claims description 18
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 12
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M Bisulfite Chemical compound OS([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 11
- 150000002148 esters Chemical group 0.000 claims description 10
- FIDRAVVQGKNYQK-UHFFFAOYSA-N 1,2,3,4-tetrahydrotriazine Chemical compound C1NNNC=C1 FIDRAVVQGKNYQK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 7
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 5
- 229920005596 polymer binder Polymers 0.000 claims description 5
- 239000002491 polymer binding agent Substances 0.000 claims description 5
- 125000000008 (C1-C10) alkyl group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000000041 C6-C10 aryl group Chemical group 0.000 claims description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 3
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 claims description 3
- 125000006832 (C1-C10) alkylene group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000004209 (C1-C8) alkyl group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000006713 (C5-C10) cycloalkyl group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000004423 acyloxy group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000000732 arylene group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000001589 carboacyl group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000004093 cyano group Chemical group *C#N 0.000 claims description 2
- 125000001072 heteroaryl group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000005549 heteroarylene group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 claims 1
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 18
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 16
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 15
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 13
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 13
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 12
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 8
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 7
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 7
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 7
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 7
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 7
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- DRUIESSIVFYOMK-UHFFFAOYSA-N Trichloroacetonitrile Chemical compound ClC(Cl)(Cl)C#N DRUIESSIVFYOMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 6
- 239000002178 crystalline material Substances 0.000 description 6
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hydrogen chloride Substances Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000012074 organic phase Substances 0.000 description 6
- 230000020477 pH reduction Effects 0.000 description 6
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 6
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 6
- PUGUQINMNYINPK-UHFFFAOYSA-N tert-butyl 4-(2-chloroacetyl)piperazine-1-carboxylate Chemical compound CC(C)(C)OC(=O)N1CCN(C(=O)CCl)CC1 PUGUQINMNYINPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 6
- 238000011161 development Methods 0.000 description 5
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 5
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 5
- CVNOWLNNPYYEOH-UHFFFAOYSA-N 4-cyanophenol Chemical compound OC1=CC=C(C#N)C=C1 CVNOWLNNPYYEOH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- WTQZSMDDRMKJRI-UHFFFAOYSA-N 4-diazoniophenolate Chemical compound [O-]C1=CC=C([N+]#N)C=C1 WTQZSMDDRMKJRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- DHKHKXVYLBGOIT-UHFFFAOYSA-N acetaldehyde Diethyl Acetal Natural products CCOC(C)OCC DHKHKXVYLBGOIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 4
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 4
- 238000005227 gel permeation chromatography Methods 0.000 description 4
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- YBBRCQOCSYXUOC-UHFFFAOYSA-N sulfuryl dichloride Chemical compound ClS(Cl)(=O)=O YBBRCQOCSYXUOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- CHZCERSEMVWNHL-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxybenzonitrile Chemical class OC1=CC=CC=C1C#N CHZCERSEMVWNHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QKJHNPXSYSFZMJ-UHFFFAOYSA-N 4-ethenyl-2-methylphenol Chemical compound CC1=CC(C=C)=CC=C1O QKJHNPXSYSFZMJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- FUGYGGDSWSUORM-UHFFFAOYSA-N 4-hydroxystyrene Chemical compound OC1=CC=C(C=C)C=C1 FUGYGGDSWSUORM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WVDDGKGOMKODPV-UHFFFAOYSA-N Benzyl alcohol Chemical compound OCC1=CC=CC=C1 WVDDGKGOMKODPV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 3
- 239000002318 adhesion promoter Substances 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 3
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 3
- 150000002366 halogen compounds Chemical class 0.000 description 3
- 229920001519 homopolymer Polymers 0.000 description 3
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 3
- VSQYNPJPULBZKU-UHFFFAOYSA-N mercury xenon Chemical compound [Xe].[Hg] VSQYNPJPULBZKU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 3
- LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N propylene glycol methyl ether acetate Chemical compound COCC(C)OC(C)=O LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000006862 quantum yield reaction Methods 0.000 description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- HEVMDQBCAHEHDY-UHFFFAOYSA-N (Dimethoxymethyl)benzene Chemical compound COC(OC)C1=CC=CC=C1 HEVMDQBCAHEHDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VAJVDSVGBWFCLW-UHFFFAOYSA-N 3-Phenyl-1-propanol Chemical compound OCCCC1=CC=CC=C1 VAJVDSVGBWFCLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KWUAGCBNSJDXJD-UHFFFAOYSA-N 4-(trichloromethyl)oxadiazole Chemical class ClC(Cl)(Cl)C1=CON=N1 KWUAGCBNSJDXJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IXAUCVOJRVFRBJ-UHFFFAOYSA-N 4-(trichloromethyl)triazine Chemical class ClC(Cl)(Cl)C1=CC=NN=N1 IXAUCVOJRVFRBJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YYROPELSRYBVMQ-UHFFFAOYSA-N 4-toluenesulfonyl chloride Chemical compound CC1=CC=C(S(Cl)(=O)=O)C=C1 YYROPELSRYBVMQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910014571 C—O—Si Inorganic materials 0.000 description 2
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012359 Methanesulfonyl chloride Substances 0.000 description 2
- STOLYTNTPGXYRW-UHFFFAOYSA-N [nitro(phenyl)methyl] 4-methylbenzenesulfonate Chemical compound C1=CC(C)=CC=C1S(=O)(=O)OC([N+]([O-])=O)C1=CC=CC=C1 STOLYTNTPGXYRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001241 acetals Chemical class 0.000 description 2
- 150000001299 aldehydes Chemical class 0.000 description 2
- XXROGKLTLUQVRX-UHFFFAOYSA-N allyl alcohol Chemical compound OCC=C XXROGKLTLUQVRX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 2
- 125000003500 enol ether group Chemical group 0.000 description 2
- FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisilazane Chemical compound C[Si](C)(C)N[Si](C)(C)C FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004128 high performance liquid chromatography Methods 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 2
- 125000000040 m-tolyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C([H])C(=C1[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- QARBMVPHQWIHKH-UHFFFAOYSA-N methanesulfonyl chloride Chemical compound CS(Cl)(=O)=O QARBMVPHQWIHKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N phenol group Chemical group C1(=CC=CC=C1)O ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006303 photolysis reaction Methods 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 230000015843 photosynthesis, light reaction Effects 0.000 description 2
- WGYKZJWCGVVSQN-UHFFFAOYSA-N propylamine Chemical compound CCCN WGYKZJWCGVVSQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 2
- 150000003460 sulfonic acids Chemical class 0.000 description 2
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 2
- WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M tetramethylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].C[N+](C)(C)C WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 2
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 2
- IHMXGGGRTZANCF-UHFFFAOYSA-N (2-cyanophenyl) methanesulfonate Chemical compound CS(=O)(=O)OC1=CC=CC=C1C#N IHMXGGGRTZANCF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SVKARVLUFZRMLE-UHFFFAOYSA-N (3-cyanophenyl) 2,4,6-tri(propan-2-yl)benzenesulfonate Chemical compound CC(C)C1=CC(C(C)C)=CC(C(C)C)=C1S(=O)(=O)OC1=CC=CC(C#N)=C1 SVKARVLUFZRMLE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LDAXYUXHBISFDF-UHFFFAOYSA-N (4-cyanophenyl) 4-methoxybenzenesulfonate Chemical compound C1=CC(OC)=CC=C1S(=O)(=O)OC1=CC=C(C#N)C=C1 LDAXYUXHBISFDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DYKBJPFZEPCFRA-UHFFFAOYSA-N (4-cyanophenyl) 4-methylbenzenesulfonate Chemical compound C1=CC(C)=CC=C1S(=O)(=O)OC1=CC=C(C#N)C=C1 DYKBJPFZEPCFRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KBEOVAOGOKJRCY-UHFFFAOYSA-N (4-cyanophenyl) methanesulfonate Chemical compound CS(=O)(=O)OC1=CC=C(C#N)C=C1 KBEOVAOGOKJRCY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XVQGXXAFRFBXPW-UHFFFAOYSA-N (4-cyanophenyl) naphthalene-2-sulfonate Chemical compound C=1C=C2C=CC=CC2=CC=1S(=O)(=O)OC1=CC=C(C#N)C=C1 XVQGXXAFRFBXPW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 1,2,3-triazine Chemical compound C1=CN=NN=C1 JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JIHQDMXYYFUGFV-UHFFFAOYSA-N 1,3,5-triazine Chemical compound C1=NC=NC=N1 JIHQDMXYYFUGFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BMVXCPBXGZKUPN-UHFFFAOYSA-N 1-hexanamine Chemical compound CCCCCCN BMVXCPBXGZKUPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001637 1-naphthyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C2C(*)=C([H])C([H])=C([H])C2=C1[H] 0.000 description 1
- 125000004206 2,2,2-trifluoroethyl group Chemical group [H]C([H])(*)C(F)(F)F 0.000 description 1
- JAPYIBBSTJFDAK-UHFFFAOYSA-N 2,4,6-tri(propan-2-yl)benzenesulfonyl chloride Chemical compound CC(C)C1=CC(C(C)C)=C(S(Cl)(=O)=O)C(C(C)C)=C1 JAPYIBBSTJFDAK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QZZJTWAHFMBFSX-UHFFFAOYSA-N 2,4-bis(trichloromethyl)-1,3,5-triazine Chemical compound ClC(Cl)(Cl)C1=NC=NC(C(Cl)(Cl)Cl)=N1 QZZJTWAHFMBFSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001917 2,4-dinitrophenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(=C([H])C(=C1*)[N+]([O-])=O)[N+]([O-])=O 0.000 description 1
- SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxy-5-methylphenyl)ethanamine Chemical compound COC1=CC=C(C)C=C1CCN SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 2-Propenoic acid Natural products OC(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000006276 2-bromophenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(Br)=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 125000001340 2-chloroethyl group Chemical group [H]C([H])(Cl)C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000004182 2-chlorophenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(Cl)=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- JESXATFQYMPTNL-UHFFFAOYSA-N 2-ethenylphenol Chemical class OC1=CC=CC=C1C=C JESXATFQYMPTNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004198 2-fluorophenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(F)=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 125000004204 2-methoxyphenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C(OC([H])([H])[H])C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 125000001622 2-naphthyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C2C([H])=C(*)C([H])=C([H])C2=C1[H] 0.000 description 1
- QCDWFXQBSFUVSP-UHFFFAOYSA-N 2-phenoxyethanol Chemical compound OCCOC1=CC=CC=C1 QCDWFXQBSFUVSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RXELBMYKBFKHSM-UHFFFAOYSA-N 2-phenyl-1,3,5-triazine Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NC=NC=N1 RXELBMYKBFKHSM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000175 2-thienyl group Chemical group S1C([*])=C([H])C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 125000003762 3,4-dimethoxyphenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(OC([H])([H])[H])=C(OC([H])([H])[H])C([H])=C1* 0.000 description 1
- 125000006275 3-bromophenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(Br)=C([H])C(*)=C1[H] 0.000 description 1
- 125000004179 3-chlorophenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C([H])C(Cl)=C1[H] 0.000 description 1
- YNGIFMKMDRDNBQ-UHFFFAOYSA-N 3-ethenylphenol Chemical compound OC1=CC=CC(C=C)=C1 YNGIFMKMDRDNBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004180 3-fluorophenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C([H])C(F)=C1[H] 0.000 description 1
- SGHBRHKBCLLVCI-UHFFFAOYSA-N 3-hydroxybenzonitrile Chemical compound OC1=CC=CC(C#N)=C1 SGHBRHKBCLLVCI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004800 4-bromophenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C([H])C([H])=C1Br 0.000 description 1
- 125000004860 4-ethylphenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(=C([H])C([H])=C1*)C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 125000001255 4-fluorophenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C([H])C([H])=C1F 0.000 description 1
- 125000006306 4-iodophenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C([H])C([H])=C1I 0.000 description 1
- 125000004861 4-isopropyl phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(=C([H])C([H])=C1*)C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- DTJVECUKADWGMO-UHFFFAOYSA-N 4-methoxybenzenesulfonyl chloride Chemical compound COC1=CC=C(S(Cl)(=O)=O)C=C1 DTJVECUKADWGMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004172 4-methoxyphenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(OC([H])([H])[H])=C([H])C([H])=C1* 0.000 description 1
- 125000004863 4-trifluoromethoxyphenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(OC(F)(F)F)=C([H])C([H])=C1* 0.000 description 1
- 125000004199 4-trifluoromethylphenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(=C([H])C([H])=C1*)C(F)(F)F 0.000 description 1
- UNANDJIJRBQOOF-UHFFFAOYSA-N 5-(dimethoxymethyl)-1,3-benzodioxole Chemical compound COC(OC)C1=CC=C2OCOC2=C1 UNANDJIJRBQOOF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- VDLCBECRQVYQAN-UHFFFAOYSA-N C1=CC=C(C=C1)S(=O)(=O)OC2=CC=CC=C2C3=NC=NC=N3 Chemical compound C1=CC=C(C=C1)S(=O)(=O)OC2=CC=CC=C2C3=NC=NC=N3 VDLCBECRQVYQAN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical class S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N Dodecane Natural products CCCCCCCCCCCC SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001856 Ethyl cellulose Substances 0.000 description 1
- ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N Ethyl cellulose Chemical compound CCOCC1OC(OC)C(OCC)C(OCC)C1OC1C(O)C(O)C(OC)C(CO)O1 ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KMTRUDSVKNLOMY-UHFFFAOYSA-N Ethylene carbonate Chemical compound O=C1OCCO1 KMTRUDSVKNLOMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IAYPIBMASNFSPL-UHFFFAOYSA-N Ethylene oxide Chemical compound C1CO1 IAYPIBMASNFSPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- PEEHTFAAVSWFBL-UHFFFAOYSA-N Maleimide Chemical compound O=C1NC(=O)C=C1 PEEHTFAAVSWFBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930192627 Naphthoquinone Natural products 0.000 description 1
- 229930182556 Polyacetal Natural products 0.000 description 1
- OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N Propanedioic acid Natural products OC(=O)CC(O)=O OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QYKIQEUNHZKYBP-UHFFFAOYSA-N Vinyl ether Chemical class C=COC=C QYKIQEUNHZKYBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001015 X-ray lithography Methods 0.000 description 1
- JLQQLEWFYKRJFD-UHFFFAOYSA-N [3-[4,6-bis(trichloromethyl)-1,3,5-triazin-2-yl]phenyl] 2,4,6-tri(propan-2-yl)benzenesulfonate Chemical compound CC(C)C1=CC(C(C)C)=CC(C(C)C)=C1S(=O)(=O)OC1=CC=CC(C=2N=C(N=C(N=2)C(Cl)(Cl)Cl)C(Cl)(Cl)Cl)=C1 JLQQLEWFYKRJFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HYMOUWXMIUWCKL-UHFFFAOYSA-N [4-[4,6-bis(trichloromethyl)-1,3,5-triazin-2-yl]phenyl] 4-methoxybenzenesulfonate Chemical compound C1=CC(OC)=CC=C1S(=O)(=O)OC1=CC=C(C=2N=C(N=C(N=2)C(Cl)(Cl)Cl)C(Cl)(Cl)Cl)C=C1 HYMOUWXMIUWCKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JLJQILDZXLEKID-UHFFFAOYSA-N [4-[4,6-bis(trichloromethyl)-1,3,5-triazin-2-yl]phenyl] 4-methylbenzenesulfonate Chemical compound C1=CC(C)=CC=C1S(=O)(=O)OC1=CC=C(C=2N=C(N=C(N=2)C(Cl)(Cl)Cl)C(Cl)(Cl)Cl)C=C1 JLJQILDZXLEKID-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KZXRZXGDOJHLCH-UHFFFAOYSA-N [4-[4,6-bis(trichloromethyl)-1,3,5-triazin-2-yl]phenyl] naphthalene-2-sulfonate Chemical compound ClC(Cl)(Cl)C1=NC(C(Cl)(Cl)Cl)=NC(C=2C=CC(OS(=O)(=O)C=3C=C4C=CC=CC4=CC=3)=CC=2)=N1 KZXRZXGDOJHLCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001252 acrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 150000001491 aromatic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- MLWPJXZKQOPTKZ-UHFFFAOYSA-N benzenesulfonyl benzenesulfonate Chemical group C=1C=CC=CC=1S(=O)(=O)OS(=O)(=O)C1=CC=CC=C1 MLWPJXZKQOPTKZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000019445 benzyl alcohol Nutrition 0.000 description 1
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 230000000740 bleeding effect Effects 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 125000003096 carboxylic acid amide acetal group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001733 carboxylic acid esters Chemical class 0.000 description 1
- 229920003086 cellulose ether Polymers 0.000 description 1
- 125000004218 chloromethyl group Chemical group [H]C([H])(Cl)* 0.000 description 1
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 1
- 125000004802 cyanophenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000002704 decyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- CSYSRRCOBYEGPI-UHFFFAOYSA-N diazo(sulfonyl)methane Chemical compound [N-]=[N+]=C=S(=O)=O CSYSRRCOBYEGPI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012954 diazonium Substances 0.000 description 1
- 150000001989 diazonium salts Chemical class 0.000 description 1
- 125000004772 dichloromethyl group Chemical group [H]C(Cl)(Cl)* 0.000 description 1
- 125000001028 difluoromethyl group Chemical group [H]C(F)(F)* 0.000 description 1
- KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N disiloxane Chemical group [SiH3]O[SiH3] KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003438 dodecyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000609 electron-beam lithography Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 125000004185 ester group Chemical group 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- GCSJLQSCSDMKTP-UHFFFAOYSA-N ethenyl(trimethyl)silane Chemical compound C[Si](C)(C)C=C GCSJLQSCSDMKTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- 229920001249 ethyl cellulose Polymers 0.000 description 1
- 235000019325 ethyl cellulose Nutrition 0.000 description 1
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 description 1
- 125000004051 hexyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical class I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N maleic acid Chemical compound OC(=O)\C=C/C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N 0.000 description 1
- 239000011976 maleic acid Substances 0.000 description 1
- FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N maleic anhydride Chemical compound O=C1OC(=O)C=C1 FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- QVEIBLDXZNGPHR-UHFFFAOYSA-N naphthalene-1,4-dione;diazide Chemical class [N-]=[N+]=[N-].[N-]=[N+]=[N-].C1=CC=C2C(=O)C=CC(=O)C2=C1 QVEIBLDXZNGPHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OPECTNGATDYLSS-UHFFFAOYSA-N naphthalene-2-sulfonyl chloride Chemical compound C1=CC=CC2=CC(S(=O)(=O)Cl)=CC=C21 OPECTNGATDYLSS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002791 naphthoquinones Chemical class 0.000 description 1
- 230000000269 nucleophilic effect Effects 0.000 description 1
- 125000003261 o-tolyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 125000002347 octyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001181 organosilyl group Chemical group [SiH3]* 0.000 description 1
- 125000003854 p-chlorophenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C([H])C([H])=C1Cl 0.000 description 1
- 125000000636 p-nitrophenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(=C([H])C([H])=C1*)[N+]([O-])=O 0.000 description 1
- 125000001037 p-tolyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(=C([H])C([H])=C1*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 125000000913 palmityl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 125000005010 perfluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000005005 perfluorohexyl group Chemical group FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)* 0.000 description 1
- 150000002989 phenols Chemical class 0.000 description 1
- 229960005323 phenoxyethanol Drugs 0.000 description 1
- 150000004714 phosphonium salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 229920000151 polyglycol Polymers 0.000 description 1
- 239000010695 polyglycol Substances 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 238000011417 postcuring Methods 0.000 description 1
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000004626 scanning electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 125000004079 stearyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 150000003440 styrenes Chemical class 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 125000001650 tertiary alcohol group Chemical group 0.000 description 1
- 150000003509 tertiary alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N trans-butenedioic acid Natural products OC(=O)C=CC(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003866 trichloromethyl group Chemical group ClC(Cl)(Cl)* 0.000 description 1
- 125000002023 trifluoromethyl group Chemical group FC(F)(F)* 0.000 description 1
- 229920001567 vinyl ester resin Chemical class 0.000 description 1
- 239000000080 wetting agent Substances 0.000 description 1
- 150000004798 β-ketoamides Chemical class 0.000 description 1
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、a)活性線放射に露出
することにより強酸を形成する化合物、b)酸により開
裂し得る少なくとも1個のC−O−CまたはC−O−S
i結合を含む化合物、およびc)水に不溶で、アルカリ
水溶液に可溶である、または少なくとも膨潤し得る重合
体結合剤を含むポジ型放射感応性混合物に関する。
することにより強酸を形成する化合物、b)酸により開
裂し得る少なくとも1個のC−O−CまたはC−O−S
i結合を含む化合物、およびc)水に不溶で、アルカリ
水溶液に可溶である、または少なくとも膨潤し得る重合
体結合剤を含むポジ型放射感応性混合物に関する。
【0002】本発明は、さらに、その混合物を使用して
製造した、フォトレジスト、電子部品、印刷版の製造、
または化学的研削加工に適した、放射感応性記録材料に
関する。
製造した、フォトレジスト、電子部品、印刷版の製造、
または化学的研削加工に適した、放射感応性記録材料に
関する。
【0003】
【従来の技術】構造が、例えばチップ製造では1μm 未
満の領域まで小型化するにつれ、平版印刷技術の改良が
必要とされている。その様な微小構造の画像を形成する
には、高エネルギーUV光、電子線およびX線の様な短
波長の放射を使用する。放射感応性混合物は短波長放射
に適用できるものでなければならない。放射感応性混合
物が満たすべきこれらの必要条件は、例えばC.G.ウ
イルソン「有機レジスト材料−理論と化学」[マイクロ
平版印刷入門、理論、材料、および処理、編集者L.
F.トムプソン、C.G.ウイルソン、M.J.ボウデ
ン、ACS Symp.Ser., 219、87(1983)、
アメリカン ケミカル ソサエティー、ワシントン]に
まとめられている。従って、中UVまたは深UV平版印
刷[例えば305nm(XeF)、248nm(KrF)、
193nm(ArF)の波長におけるエキシマレーザーで
露光]、電子線平版印刷またはX線平版印刷の様な最新
の技術に使用でき、さらに、好ましくは広いスペクトル
領域で感応性があり、従って従来のUV平版印刷にも使
用できる放射感応性混合物に対する需要が増加してい
る。
満の領域まで小型化するにつれ、平版印刷技術の改良が
必要とされている。その様な微小構造の画像を形成する
には、高エネルギーUV光、電子線およびX線の様な短
波長の放射を使用する。放射感応性混合物は短波長放射
に適用できるものでなければならない。放射感応性混合
物が満たすべきこれらの必要条件は、例えばC.G.ウ
イルソン「有機レジスト材料−理論と化学」[マイクロ
平版印刷入門、理論、材料、および処理、編集者L.
F.トムプソン、C.G.ウイルソン、M.J.ボウデ
ン、ACS Symp.Ser., 219、87(1983)、
アメリカン ケミカル ソサエティー、ワシントン]に
まとめられている。従って、中UVまたは深UV平版印
刷[例えば305nm(XeF)、248nm(KrF)、
193nm(ArF)の波長におけるエキシマレーザーで
露光]、電子線平版印刷またはX線平版印刷の様な最新
の技術に使用でき、さらに、好ましくは広いスペクトル
領域で感応性があり、従って従来のUV平版印刷にも使
用できる放射感応性混合物に対する需要が増加してい
る。
【0004】水に不溶で、アルカリ水溶液に可溶であ
る、または少なくとも膨潤し得る重合体結合剤および活
性線放射に露出することにより強酸を形成する化合物に
加えて、必須成分として酸により開裂し得る化合物、例
えばC−O−CまたはC−O−Si結合を含む化合物を
含む混合物は、例えばDE−A 2306248(=U
S−A 3,779,778)に記載されている。
る、または少なくとも膨潤し得る重合体結合剤および活
性線放射に露出することにより強酸を形成する化合物に
加えて、必須成分として酸により開裂し得る化合物、例
えばC−O−CまたはC−O−Si結合を含む化合物を
含む混合物は、例えばDE−A 2306248(=U
S−A 3,779,778)に記載されている。
【0005】照射により強酸を形成する化合物として
は、特に、HSbF6 、HAsF6 またはHPF
6 [J.V.クリベロ、Polym.Eng.Sc
i.、23,(1983)953]の様な非求核性酸の
ジアゾニウム塩、ホスホニウム塩、スルホニウム塩およ
びイオドニウム塩などのオニウム塩がこれまで使用され
ている。その上、ハロゲン化合物、特にトリクロロメチ
ルトリアジン誘導体またはトリクロロメチルオキサジア
ゾール誘導体、o−(キノン ジアジド)スルホニルク
ロリド、o−(キノン ジアジド)−4−スルホン酸エ
ステル、有機金属/有機ハロゲンの組合わせ、ビス−
(スルホニル)ジアゾメタン、スルホニルカルボニルジ
アゾメタン(DE−A 3930087)またはニトロ
ベンジルトシレート[F.M.ホウリアンら、SPIE
Rroc., adv. in Resist Techn. and Proc. 920(198
8), 67] が推奨されている。
は、特に、HSbF6 、HAsF6 またはHPF
6 [J.V.クリベロ、Polym.Eng.Sc
i.、23,(1983)953]の様な非求核性酸の
ジアゾニウム塩、ホスホニウム塩、スルホニウム塩およ
びイオドニウム塩などのオニウム塩がこれまで使用され
ている。その上、ハロゲン化合物、特にトリクロロメチ
ルトリアジン誘導体またはトリクロロメチルオキサジア
ゾール誘導体、o−(キノン ジアジド)スルホニルク
ロリド、o−(キノン ジアジド)−4−スルホン酸エ
ステル、有機金属/有機ハロゲンの組合わせ、ビス−
(スルホニル)ジアゾメタン、スルホニルカルボニルジ
アゾメタン(DE−A 3930087)またはニトロ
ベンジルトシレート[F.M.ホウリアンら、SPIE
Rroc., adv. in Resist Techn. and Proc. 920(198
8), 67] が推奨されている。
【0006】その様な化合物は、ネガ型またはポジ型放
射感応性材料に使用されている。しかし、その様な光分
解性酸形成剤の使用には特定の欠点があり、各種の応用
分野における使用が著しく制限されている。例えば、オ
ニウム塩の多くは毒性である。それらの溶解性は多くの
溶剤において不十分であり、そのために塗布溶液の製造
に適した溶剤はほんの少数に限られている。さらに、オ
ニウム塩を使用すると異原子が導入されるが、それらの
異原子の中には好ましくないものがあり、特にマイクロ
平版印刷の処理を妨害することがあり、そのためにその
様な混合物を使用することにより好ましくない結果が生
じる。ハロゲン化合物、例えば(キノンジアジド)スル
ホニルクロリドは強いハロゲン化水素酸を形成するが、
これらの化合物は特定の基材上における耐性が非常に限
られており、この耐性は、基材と(a)の種類の化合物
を含む放射感応性層との間に中間層を導入することによ
って改良されてはいるが、このために好ましくない欠点
が増え、処理の再現性が低下している(DE−A 36
21376=US−A 4,840,867)。
射感応性材料に使用されている。しかし、その様な光分
解性酸形成剤の使用には特定の欠点があり、各種の応用
分野における使用が著しく制限されている。例えば、オ
ニウム塩の多くは毒性である。それらの溶解性は多くの
溶剤において不十分であり、そのために塗布溶液の製造
に適した溶剤はほんの少数に限られている。さらに、オ
ニウム塩を使用すると異原子が導入されるが、それらの
異原子の中には好ましくないものがあり、特にマイクロ
平版印刷の処理を妨害することがあり、そのためにその
様な混合物を使用することにより好ましくない結果が生
じる。ハロゲン化合物、例えば(キノンジアジド)スル
ホニルクロリドは強いハロゲン化水素酸を形成するが、
これらの化合物は特定の基材上における耐性が非常に限
られており、この耐性は、基材と(a)の種類の化合物
を含む放射感応性層との間に中間層を導入することによ
って改良されてはいるが、このために好ましくない欠点
が増え、処理の再現性が低下している(DE−A 36
21376=US−A 4,840,867)。
【0007】ハロゲン化水素酸を発生する他の化合物、
例えばビス−(EP−A 0137452=US−A
4,619,998/4,696,888)またはトリ
ストリクロロメチルトリアジンは、良好な酸形成効率を
備えてはいるが、一般的なレジスト溶剤における溶解性
が不十分であることが多く、その上、実際の処理条件で
感光層から滲み出ることが多く、そのために再現性のあ
る層形成が不可能になる。
例えばビス−(EP−A 0137452=US−A
4,619,998/4,696,888)またはトリ
ストリクロロメチルトリアジンは、良好な酸形成効率を
備えてはいるが、一般的なレジスト溶剤における溶解性
が不十分であることが多く、その上、実際の処理条件で
感光層から滲み出ることが多く、そのために再現性のあ
る層形成が不可能になる。
【0008】最近のF.M.ホウリアンら、SPIE
920,67(1988)の研究から、ポジ型系に関し
て、上記の酸形成剤に加えて、露光により移動傾向の低
いスルホン酸を形成するニトロベンジルトシレートを、
特定の酸に不安定なレジスト配合に使用できることが分
かっている。これらの結果から、その様な化合物を光硬
化性系にも使用できると考えられる。しかし、その様な
状況で達成される感度および感光性樹脂の熱安定性は不
十分である。
920,67(1988)の研究から、ポジ型系に関し
て、上記の酸形成剤に加えて、露光により移動傾向の低
いスルホン酸を形成するニトロベンジルトシレートを、
特定の酸に不安定なレジスト配合に使用できることが分
かっている。これらの結果から、その様な化合物を光硬
化性系にも使用できると考えられる。しかし、その様な
状況で達成される感度および感光性樹脂の熱安定性は不
十分である。
【0009】また、(ナフトキノン 2−ジアジド)−
4−スルホン酸エステル、オキシムスルホネート、1,
2−ジスルホン、ビススルホニルジアゾメタン(DE−
A3930086)およびスルホニルカルボニルジアゾ
メタン(DE−A 3030087)を含むレジスト配
合もすでに公知である。これらの化合物すべてに共通し
ているのは、活性線放射に対する量子収量が不十分なこ
とである。これらのレジスト配合は、波長248nmの放
射をかなりの程度吸収する。この波長の放射に対する感
度は、50〜100 mJ/cm2 の範囲にある。その様なレ
ジストでは、0.5μm 以下のオーダーの実用的な構造
は画像形成することができない。
4−スルホン酸エステル、オキシムスルホネート、1,
2−ジスルホン、ビススルホニルジアゾメタン(DE−
A3930086)およびスルホニルカルボニルジアゾ
メタン(DE−A 3030087)を含むレジスト配
合もすでに公知である。これらの化合物すべてに共通し
ているのは、活性線放射に対する量子収量が不十分なこ
とである。これらのレジスト配合は、波長248nmの放
射をかなりの程度吸収する。この波長の放射に対する感
度は、50〜100 mJ/cm2 の範囲にある。その様なレ
ジストでは、0.5μm 以下のオーダーの実用的な構造
は画像形成することができない。
【0010】この分野で広範囲な研究活動が行われてい
るにも関わらず、深UV領域(200〜300nm)にお
ける感度が高く、解像力が高く、短時間の照射でもb)
の種類の化合物を開裂させるのに十分な強度を有する酸
を十分な量で放出し、さらに、水性アルカリ中で現像で
き、実用上標準的な処理条件に十分な相容性を有する放
射感応性ネガ型記録材料を製造できる様な放射感応性混
合物は現在知られていない。
るにも関わらず、深UV領域(200〜300nm)にお
ける感度が高く、解像力が高く、短時間の照射でもb)
の種類の化合物を開裂させるのに十分な強度を有する酸
を十分な量で放出し、さらに、水性アルカリ中で現像で
き、実用上標準的な処理条件に十分な相容性を有する放
射感応性ネガ型記録材料を製造できる様な放射感応性混
合物は現在知られていない。
【0011】
【発明の解決すべき課題】そこで、本発明の目的は、酸
形成化合物を酸開裂性化合物と組み合わせた放射感応性
混合物であって、光分解により酸を形成する化合物が公
知のすべての基材上でできるだけ安定しており、照射に
より高効率で強酸を与え、一般的なレジスト溶剤への溶
解性が良好であり、感光層から滲み出ない放射感応性混
合物を提供することである。
形成化合物を酸開裂性化合物と組み合わせた放射感応性
混合物であって、光分解により酸を形成する化合物が公
知のすべての基材上でできるだけ安定しており、照射に
より高効率で強酸を与え、一般的なレジスト溶剤への溶
解性が良好であり、感光層から滲み出ない放射感応性混
合物を提供することである。
【0012】
【発明の解決するための手段】この目的は、a)活性線
放射に露出することにより強酸を形成する化合物、b)
酸により開裂し得る少なくとも1個のC−O−Cまたは
C−O−Si結合を含む化合物、およびc)水に不溶
で、アルカリ水溶液に可溶である、または少なくとも膨
潤し得る重合体結合剤を含む放射感応性混合物であっ
て、化合物a)が、式Iおよび/または式II
放射に露出することにより強酸を形成する化合物、b)
酸により開裂し得る少なくとも1個のC−O−Cまたは
C−O−Si結合を含む化合物、およびc)水に不溶
で、アルカリ水溶液に可溶である、または少なくとも膨
潤し得る重合体結合剤を含む放射感応性混合物であっ
て、化合物a)が、式Iおよび/または式II
【0013】
【化3】
【0014】
【化4】 (式中、Rは、所望によりさらに置換された(C1 〜C
10)アルキル、(C5 〜C10)シクロアルキル、(C6
〜C10)アリール、(C6 〜C10)アリール−(C1 〜
C10)アルキルまたは(C3 〜C9 )ヘテロアリール基
であり、R' は、所望により置換された(C1 〜C10)
アルキレン、(C6 〜C10)アリーレンまたは(C3 〜
C9 )ヘテロアリーレン基であり、nは1または2であ
る。)を有する、式R−SO3 HまたはR' (−SO3
H)2 のスルホン酸と2,4−ビストリクロロメチル−
6−(モノ−またはジヒドロキシフェニル)−1,3,
5−トリアジンのエステルでることを特徴とする、放射
感応性混合物により達成される。
10)アルキル、(C5 〜C10)シクロアルキル、(C6
〜C10)アリール、(C6 〜C10)アリール−(C1 〜
C10)アルキルまたは(C3 〜C9 )ヘテロアリール基
であり、R' は、所望により置換された(C1 〜C10)
アルキレン、(C6 〜C10)アリーレンまたは(C3 〜
C9 )ヘテロアリーレン基であり、nは1または2であ
る。)を有する、式R−SO3 HまたはR' (−SO3
H)2 のスルホン酸と2,4−ビストリクロロメチル−
6−(モノ−またはジヒドロキシフェニル)−1,3,
5−トリアジンのエステルでることを特徴とする、放射
感応性混合物により達成される。
【0015】n=2である場合、基Rは異なっていても
よい。
よい。
【0016】基Rは、(C1 〜C8 )アルキル、(C1
〜C8 )アルコキシ、(C1 〜C8)アルカノイル、
(C1 〜C8 )アルカノイルオキシ、(C6 〜C10)ア
リール、シアノおよびハロゲンからなるグループから選
択された少なくとも一つの置換基で置換されていてもよ
い。
〜C8 )アルコキシ、(C1 〜C8)アルカノイル、
(C1 〜C8 )アルカノイルオキシ、(C6 〜C10)ア
リール、シアノおよびハロゲンからなるグループから選
択された少なくとも一つの置換基で置換されていてもよ
い。
【0017】基RおよびR' は、所望により次の様な他
の置換基を含むこともできる、すなわち、メチル、エチ
ル、プロピル、イソプロピル、ブチル、ヘキシル、オク
チル、デシル、ドデシル、ヘキサデシル、オクタデシ
ル、10−カンフィル、クロロメチル、2−クロロエチ
ル、3−クロロプロピル、ジクロロメチル、トリクロロ
メチル、ジフルオロメチル、トリフルオロメチル、2,
2,2−トリフルオロエチル、1,1,2,3,3,
3,−ヘキサフルオロプロピル、ペルフルオロヘキシ
ル、トリメチルシリルメチル、メタンスルホニルメチ
ル、フェニル、ベンジル、4−アセタールフェニル、4
−アセタールアミノフェニル、2−、3−または4−ブ
ロモフェニル、2−、3−または4−クロロフェニル、
2−、3−または4−フルオロフェニル、4−ヨードフ
ェニル、2−、3−または4−メチルフェニル、4−エ
チルフェニル、4−プロピルフェニル、4−イソプロピ
ルフェニル、4−イソブチルフェニル、4−tert.
−ブチルフェニル、4−tert.−アミルフェニル、
4−ヘキシルフェニル、4−メトキシフェニル、4−ブ
トキシフェニル、4−ヘキサデシルオキシフェニル、2
−、3−または4−トリフルオロメチルフェニル、2−
または4−トリフルオロメトキシフェニル、2−、3−
または4−ニトロフェニル、3−または4−カルボキシ
フェニル、2−メトキシカルボニルフェニル、4−テト
ラフルオロエトキシフェニル、β−スチリル、4−アセ
タールアミノ−3−クロロフェニル、4−アセタールア
ミノ−3−フルオロフェニル、3,5−ビストリフルオ
ロメチルフェニル、2,5−ビス(2,2,2−トリフ
ルオロエトキシ)フェニル、2,5−ジメチルフェニ
ル、2,4−、2,5−または3,4−ジメトキシフェ
ニル、2,4−ジイソプロピルフェニル、5−ブロモ−
2−メトキシフェニル、2−または3−クロロ−4−フ
ルオロフェニル、3−クロロ−2−メチルフェニル、3
−クロロ−4−メトキシフェニル、2−クロロ−6−メ
チルフェニル、2−クロロ−4−トリフルオロメチルフ
ェニル、5−クロロ−2−メトキシフェニル、5−フル
オロ−2−メチルフェニル、2,5−または3,4−ジ
ブロモフェニル、2,3−、2,4−または2,5−、
2,6−、3,4−または3,5−ジクロロフェニル、
2−(2,4−ジクロロフェノキシ)フェニル、4−
(2−クロロ−6−ニトロフェノキシ)フェニル、2,
4−または2,5−ジフルオロフェニル、3−カルボキ
シ−4−クロロフェニル、4−クロロ−3−ニトロフェ
ニル、2−メチル−5−ニトロフェニル、4−クロロ−
3−または2−クロロ−5−トリフルオロメチルフェニ
ル、4−(2,2−ジクロロシクロプロピル)フェニ
ル、2,4−ジニトロフェニル、4−ジメチルアミノ−
3−ニトロフェニル、2−ニトロ−4−トリフルオロメ
チルフェニル、2,4,6−トリメチルフェニル、2,
4,6−トリイソプロピルフェニル、2,3,4−、
2,4,5−または2,4,6−トリクロロフェニル、
4−クロロ−2,5−ジメチルフェニル、2,4−ジク
ロロ−5−メチルフェニル、3,5−ジクロロ−2−ヒ
ドロキシフェニル、3,5−ジクロロ−4−(4−ニト
ロフェノキシ)フェニル、4−(2−クロロ−4−ニト
ロフェノキシ)−3,5−ジクロロフェニル、4−ブロ
モ−2,5−ジフルオロフェニル、2,4−ジメチル−
3−ニトロフェニル、3,5−ジニトロ−4−メチルフ
ェニル、2,3,5,6−テトラメチルフェニル、4−
メトキシ−2,3,6−トリメチルフェニル、2,5−
ジブロモ−3,6−ジフルオロフェニル、2,3,4,
5,6−ペンタフルオロフェニル、1−または2−ナフ
チル、5−ジアゾ−6−オキソ−5,6−ジヒドロ−1
−ナフチル、6−ジアゾ−5−オキソ−5,6−ジヒド
ロ−1−ナフチル、5−ジアゾ−6−オキソ−5,6−
ジヒドロ−8−ナフチル、5−ジアゾ−3−メトキシ−
6−オキソ−5,6−ジヒドロ−8−ナフチル、5−ジ
メチルアミノ−1−ナフチル、1−アントラセニル、2
−アントラキノニル、8−キノリニル、2−チエニル、
5−クロロ−2−チエニル、4−ブロモ−2,5−ジク
ロロ−3−チエニル、4,5−ジブロモ−2−チエニ
ル、2,3−ジクロロ−5−チエニル、2−ブロモ−3
−クロロ−5−チエニル、3−ブロモ−2−クロロ−5
−チエニル、3−ブロモ−5−クロロ−2−チエニル、
2,5−ジクロロ−3−チエニル、2−(2−ピリジ
ル)−5−チエニル、5−クロロ−1,3−ジメチル−
4−ピラゾリル、3,5−ジメチル−4−イソキサゾリ
ル、2,4−ジメチル−5−チアゾリル、2−アセチル
アミノ−4−メチル−5−チアゾリル、または1,4−
ブチレン、2−オキソ−1,3−プロピレン、1,2−
または1,3−フェニレン、3−メチル−1,2−フェ
ニレン、2,4,6−トリメチル−1,3−フェニレ
ン、4,4' −ビフェニレン、4,4'−メチレンジフ
ェニレン、4,4' −オキシビフェニレン、1,5−ナ
フチレン、2−クロロ−3,5−チエニレン、2−(1
−メチル−5−トリフルオロメチル−3−ピラゾリル)
−3,5−チエニレン。
の置換基を含むこともできる、すなわち、メチル、エチ
ル、プロピル、イソプロピル、ブチル、ヘキシル、オク
チル、デシル、ドデシル、ヘキサデシル、オクタデシ
ル、10−カンフィル、クロロメチル、2−クロロエチ
ル、3−クロロプロピル、ジクロロメチル、トリクロロ
メチル、ジフルオロメチル、トリフルオロメチル、2,
2,2−トリフルオロエチル、1,1,2,3,3,
3,−ヘキサフルオロプロピル、ペルフルオロヘキシ
ル、トリメチルシリルメチル、メタンスルホニルメチ
ル、フェニル、ベンジル、4−アセタールフェニル、4
−アセタールアミノフェニル、2−、3−または4−ブ
ロモフェニル、2−、3−または4−クロロフェニル、
2−、3−または4−フルオロフェニル、4−ヨードフ
ェニル、2−、3−または4−メチルフェニル、4−エ
チルフェニル、4−プロピルフェニル、4−イソプロピ
ルフェニル、4−イソブチルフェニル、4−tert.
−ブチルフェニル、4−tert.−アミルフェニル、
4−ヘキシルフェニル、4−メトキシフェニル、4−ブ
トキシフェニル、4−ヘキサデシルオキシフェニル、2
−、3−または4−トリフルオロメチルフェニル、2−
または4−トリフルオロメトキシフェニル、2−、3−
または4−ニトロフェニル、3−または4−カルボキシ
フェニル、2−メトキシカルボニルフェニル、4−テト
ラフルオロエトキシフェニル、β−スチリル、4−アセ
タールアミノ−3−クロロフェニル、4−アセタールア
ミノ−3−フルオロフェニル、3,5−ビストリフルオ
ロメチルフェニル、2,5−ビス(2,2,2−トリフ
ルオロエトキシ)フェニル、2,5−ジメチルフェニ
ル、2,4−、2,5−または3,4−ジメトキシフェ
ニル、2,4−ジイソプロピルフェニル、5−ブロモ−
2−メトキシフェニル、2−または3−クロロ−4−フ
ルオロフェニル、3−クロロ−2−メチルフェニル、3
−クロロ−4−メトキシフェニル、2−クロロ−6−メ
チルフェニル、2−クロロ−4−トリフルオロメチルフ
ェニル、5−クロロ−2−メトキシフェニル、5−フル
オロ−2−メチルフェニル、2,5−または3,4−ジ
ブロモフェニル、2,3−、2,4−または2,5−、
2,6−、3,4−または3,5−ジクロロフェニル、
2−(2,4−ジクロロフェノキシ)フェニル、4−
(2−クロロ−6−ニトロフェノキシ)フェニル、2,
4−または2,5−ジフルオロフェニル、3−カルボキ
シ−4−クロロフェニル、4−クロロ−3−ニトロフェ
ニル、2−メチル−5−ニトロフェニル、4−クロロ−
3−または2−クロロ−5−トリフルオロメチルフェニ
ル、4−(2,2−ジクロロシクロプロピル)フェニ
ル、2,4−ジニトロフェニル、4−ジメチルアミノ−
3−ニトロフェニル、2−ニトロ−4−トリフルオロメ
チルフェニル、2,4,6−トリメチルフェニル、2,
4,6−トリイソプロピルフェニル、2,3,4−、
2,4,5−または2,4,6−トリクロロフェニル、
4−クロロ−2,5−ジメチルフェニル、2,4−ジク
ロロ−5−メチルフェニル、3,5−ジクロロ−2−ヒ
ドロキシフェニル、3,5−ジクロロ−4−(4−ニト
ロフェノキシ)フェニル、4−(2−クロロ−4−ニト
ロフェノキシ)−3,5−ジクロロフェニル、4−ブロ
モ−2,5−ジフルオロフェニル、2,4−ジメチル−
3−ニトロフェニル、3,5−ジニトロ−4−メチルフ
ェニル、2,3,5,6−テトラメチルフェニル、4−
メトキシ−2,3,6−トリメチルフェニル、2,5−
ジブロモ−3,6−ジフルオロフェニル、2,3,4,
5,6−ペンタフルオロフェニル、1−または2−ナフ
チル、5−ジアゾ−6−オキソ−5,6−ジヒドロ−1
−ナフチル、6−ジアゾ−5−オキソ−5,6−ジヒド
ロ−1−ナフチル、5−ジアゾ−6−オキソ−5,6−
ジヒドロ−8−ナフチル、5−ジアゾ−3−メトキシ−
6−オキソ−5,6−ジヒドロ−8−ナフチル、5−ジ
メチルアミノ−1−ナフチル、1−アントラセニル、2
−アントラキノニル、8−キノリニル、2−チエニル、
5−クロロ−2−チエニル、4−ブロモ−2,5−ジク
ロロ−3−チエニル、4,5−ジブロモ−2−チエニ
ル、2,3−ジクロロ−5−チエニル、2−ブロモ−3
−クロロ−5−チエニル、3−ブロモ−2−クロロ−5
−チエニル、3−ブロモ−5−クロロ−2−チエニル、
2,5−ジクロロ−3−チエニル、2−(2−ピリジ
ル)−5−チエニル、5−クロロ−1,3−ジメチル−
4−ピラゾリル、3,5−ジメチル−4−イソキサゾリ
ル、2,4−ジメチル−5−チアゾリル、2−アセチル
アミノ−4−メチル−5−チアゾリル、または1,4−
ブチレン、2−オキソ−1,3−プロピレン、1,2−
または1,3−フェニレン、3−メチル−1,2−フェ
ニレン、2,4,6−トリメチル−1,3−フェニレ
ン、4,4' −ビフェニレン、4,4'−メチレンジフ
ェニレン、4,4' −オキシビフェニレン、1,5−ナ
フチレン、2−クロロ−3,5−チエニレン、2−(1
−メチル−5−トリフルオロメチル−3−ピラゾリル)
−3,5−チエニレン。
【0018】芳香族ベンゼン環上の水酸基の位置に関し
て制限は無い、すなわち置換形態に応じたシアノフェニ
ル前駆物質を自由に選択することができる。
て制限は無い、すなわち置換形態に応じたシアノフェニ
ル前駆物質を自由に選択することができる。
【0019】式Iの化合物の中で、n=1の化合物が好
ましい。
ましい。
【0020】特殊な放射感応性混合物(n=2である場
合)では、エステル化の不完全な物質、すなわち、なお
遊離のフェノール性水酸基を含む物質を使用して、一般
的なレジスト溶剤における溶解性を向上させる、および
/または溶解速度条件を最適化することもできる。
合)では、エステル化の不完全な物質、すなわち、なお
遊離のフェノール性水酸基を含む物質を使用して、一般
的なレジスト溶剤における溶解性を向上させる、および
/または溶解速度条件を最適化することもできる。
【0021】本発明に係わる式R−SO3 HまたはR'
(−SO3 H)2 のスルホン酸と2,4−ビストリクロ
ロメチル−6−(モノ−またはジヒドロキシフェニル)
−1,3,5−トリアジンのエステルの製造はそれ自体
公知である。ここで使用する出発物質は、第一にシアノ
フェノールおよび相当するスルホニルクロリドである。
芳香族スルホン酸エステルの製造方法は、例えばF.ム
スにより、ホウベン−ワイル−ミュラー、「有機化学の
方法」、IX巻、633頁(およびそこに記載されてい
る参考文献)、ティーメ出版、第4版、シュツットガル
ト1955、およびS.パウレンコ、上記引用文献、E
11巻、1084頁、ティーメ出版、第1版、シュツッ
トガルト1985、および特許文献に多くの例を使用し
て説明されている。相当するスルホニル無水物も好適な
出発物質である(S.パウレンコ、上記引用文献、E1
1巻、1086頁、ティーメ出版、第1版、シュツット
ガルト1985、およびP.J.スタング、M.ハナッ
クおよびL.R.スブラマニアム、シンセシス、198
2、85参照)。これは特に、ペルフルオロアルキル基
により置換されたベンゼンスルホン酸無水物にあてはま
る。相当するシアノフェノールとスルホン酸R−SO3
Hのエステルからの、式R−SO3 HまたはR' (−S
O3 H)2 のスルホン酸と2,4−ビストリクロロメチ
ル−6−(モノ−またはジヒドロキシフェニル)−1,
3,5−トリアジンのエステルの製造はEP−A 01
37452と同様にして行なった。
(−SO3 H)2 のスルホン酸と2,4−ビストリクロ
ロメチル−6−(モノ−またはジヒドロキシフェニル)
−1,3,5−トリアジンのエステルの製造はそれ自体
公知である。ここで使用する出発物質は、第一にシアノ
フェノールおよび相当するスルホニルクロリドである。
芳香族スルホン酸エステルの製造方法は、例えばF.ム
スにより、ホウベン−ワイル−ミュラー、「有機化学の
方法」、IX巻、633頁(およびそこに記載されてい
る参考文献)、ティーメ出版、第4版、シュツットガル
ト1955、およびS.パウレンコ、上記引用文献、E
11巻、1084頁、ティーメ出版、第1版、シュツッ
トガルト1985、および特許文献に多くの例を使用し
て説明されている。相当するスルホニル無水物も好適な
出発物質である(S.パウレンコ、上記引用文献、E1
1巻、1086頁、ティーメ出版、第1版、シュツット
ガルト1985、およびP.J.スタング、M.ハナッ
クおよびL.R.スブラマニアム、シンセシス、198
2、85参照)。これは特に、ペルフルオロアルキル基
により置換されたベンゼンスルホン酸無水物にあてはま
る。相当するシアノフェノールとスルホン酸R−SO3
Hのエステルからの、式R−SO3 HまたはR' (−S
O3 H)2 のスルホン酸と2,4−ビストリクロロメチ
ル−6−(モノ−またはジヒドロキシフェニル)−1,
3,5−トリアジンのエステルの製造はEP−A 01
37452と同様にして行なった。
【0022】本発明に係わる放射感応性混合物は、広い
スペクトル領域に渡って感度が著しく高い。実際の条件
下で処理する際、一般的なレジスト溶剤における溶解性
に関して、および層からの放射感応性成分a)の蒸発に
関して、何の制限も観察されていない。
スペクトル領域に渡って感度が著しく高い。実際の条件
下で処理する際、一般的なレジスト溶剤における溶解性
に関して、および層からの放射感応性成分a)の蒸発に
関して、何の制限も観察されていない。
【0023】この放射感応性混合物は、熱安定性が高
く、原画の最も微細な構造をも精確に再現することがで
きる。
く、原画の最も微細な構造をも精確に再現することがで
きる。
【0024】驚くべきことに、本発明に係わる混合物を
照射する際の量子収量は、2,4−ビストリクロロメチ
ル−1,3,5−トリアジンを含む公知の混合物を照射
する際の量子収量よりも高い。このより高い酸形成効率
は、照射の際にハロゲン化水素酸のみならず、(程度は
より低いが)スルホン酸も形成され、本発明に係わる混
合物の感度増加に貢献していることを示している。した
がって、とりわけ、照射の際に、架橋すべき区域におい
て容易に溶解し得る開裂生成物(フェノールおよびスル
ホン酸)が形成されるので、一般式Iの本発明に係わる
酸形成剤のネガ型混合物における適性は明らかではなか
った。
照射する際の量子収量は、2,4−ビストリクロロメチ
ル−1,3,5−トリアジンを含む公知の混合物を照射
する際の量子収量よりも高い。このより高い酸形成効率
は、照射の際にハロゲン化水素酸のみならず、(程度は
より低いが)スルホン酸も形成され、本発明に係わる混
合物の感度増加に貢献していることを示している。した
がって、とりわけ、照射の際に、架橋すべき区域におい
て容易に溶解し得る開裂生成物(フェノールおよびスル
ホン酸)が形成されるので、一般式Iの本発明に係わる
酸形成剤のネガ型混合物における適性は明らかではなか
った。
【0025】本発明に係わるポジ型放射感応性混合物
は、高い熱安定性およびプラズマエッチング耐性のみな
らず、半ミクロン程度の、また場合によっては半ミクロ
ン未満の程度まで解像できる優れた平版印刷特性を示
す。画像を映す様に露光し、現像した後、マスクに忠実
な画像が得られる。レジスト部分は急な側面を有する。
照射された区域では、レジスト層が完全に除去される、
すなわち層の残留物が基材上に残らない。光分解の際に
形成された酸がレジスト成分b)を効果的に開裂させ、
それによって高感度の、ポジ型混合物を製造できる。
は、高い熱安定性およびプラズマエッチング耐性のみな
らず、半ミクロン程度の、また場合によっては半ミクロ
ン未満の程度まで解像できる優れた平版印刷特性を示
す。画像を映す様に露光し、現像した後、マスクに忠実
な画像が得られる。レジスト部分は急な側面を有する。
照射された区域では、レジスト層が完全に除去される、
すなわち層の残留物が基材上に残らない。光分解の際に
形成された酸がレジスト成分b)を効果的に開裂させ、
それによって高感度の、ポジ型混合物を製造できる。
【0026】本発明に係わる混合物により製造された記
録材料は、驚くべきことに、最も厳しい必要条件をも満
たす画像形成を行うことができ、さらに驚くべきことに
は、コントラストおよび解像力をも改良する。例えば、
本発明に係わる混合物により、高エネルギーUV2放射
(例えば248nm)用の高感度ポジ型フォトレジストを
製造できる。
録材料は、驚くべきことに、最も厳しい必要条件をも満
たす画像形成を行うことができ、さらに驚くべきことに
は、コントラストおよび解像力をも改良する。例えば、
本発明に係わる混合物により、高エネルギーUV2放射
(例えば248nm)用の高感度ポジ型フォトレジストを
製造できる。
【0027】本発明に係わる混合物は広いスペクトル領
域に渡って感応性を示すので、画像を映す様に照射する
のに一般な活性線放射を使用できる。ここでは、活性線
放射とは、エネルギーが少なくとも短波長可視光線のエ
ネルギーに相当する放射のことである。この場合、19
0〜450nm、好ましくは200〜400nm、特に好ま
しくは200〜300nmの領域のUV放射、および電子
線またはX線が特に好適である。本発明に係わる放射感
応性混合物では、式R−SO3 HまたはR' (−SO3
H)2 のスルホン酸と、照射により酸を形成する2,4
−ビストリクロロメチル−6−(モノ−またはジヒドロ
キシフェニル)−1,3,5−トリアジンのエステル
は、個別に、または他の酸形成剤と組み合わせて使用す
ることができる。
域に渡って感応性を示すので、画像を映す様に照射する
のに一般な活性線放射を使用できる。ここでは、活性線
放射とは、エネルギーが少なくとも短波長可視光線のエ
ネルギーに相当する放射のことである。この場合、19
0〜450nm、好ましくは200〜400nm、特に好ま
しくは200〜300nmの領域のUV放射、および電子
線またはX線が特に好適である。本発明に係わる放射感
応性混合物では、式R−SO3 HまたはR' (−SO3
H)2 のスルホン酸と、照射により酸を形成する2,4
−ビストリクロロメチル−6−(モノ−またはジヒドロ
キシフェニル)−1,3,5−トリアジンのエステル
は、個別に、または他の酸形成剤と組み合わせて使用す
ることができる。
【0028】さらに、a)の種類の化合物は、ハロゲン
化合物、特にすでに公知のトリクロロメチルトリアジン
誘導体またはトリクロロメチルオキサジアゾール誘導
体、オニウム塩、1,2−ジスルホン、o−(キノンジ
アジド)スルホニルクロリドまたは有機金属/有機ハロ
ゲンの組合わせと併用することができる。しかし、ビス
(スルホニル)ジアゾメタンおよびスルホニルカルボニ
ルジアゾメタンとの混合物も好適である。しかし、その
様な混合物では上記の欠点が現れることがある。
化合物、特にすでに公知のトリクロロメチルトリアジン
誘導体またはトリクロロメチルオキサジアゾール誘導
体、オニウム塩、1,2−ジスルホン、o−(キノンジ
アジド)スルホニルクロリドまたは有機金属/有機ハロ
ゲンの組合わせと併用することができる。しかし、ビス
(スルホニル)ジアゾメタンおよびスルホニルカルボニ
ルジアゾメタンとの混合物も好適である。しかし、その
様な混合物では上記の欠点が現れることがある。
【0029】本発明に係わる混合物中の、式R−SO3
HまたはR' (−SO3 H)2 のスルホン酸と2,4−
ビストリクロロメチル−6−(モノ−またはジヒドロキ
シフェニル)−1,3,5−トリアジンのエステルの含
有量は、混合物中の固体の総重量に対して、一般的に
0.25〜15重量%、好ましくは0.5〜5重量%で
ある。
HまたはR' (−SO3 H)2 のスルホン酸と2,4−
ビストリクロロメチル−6−(モノ−またはジヒドロキ
シフェニル)−1,3,5−トリアジンのエステルの含
有量は、混合物中の固体の総重量に対して、一般的に
0.25〜15重量%、好ましくは0.5〜5重量%で
ある。
【0030】特に、下記の化合物が、本発明に係わる放
射感応性混合物中の酸により開裂し得る化合物として好
適であることが分かっている。 (a)少なくとも一つのオルトカルボン酸エステル基お
よび/またはカルボン酸アミドアセタール基を有し、ま
た、重合体の性質をも有し、該基が主鎖中、または側鎖
中に存在し得る様な化合物、(b)主鎖中に反復するア
セタールおよび/またはケタール基を含むオリゴマー性
または重合体性化合物、(c)少なくとも一つのエノー
ルエーテル基またはN−アシルイミノカーボネート基を
含む化合物、(d)β−ケトエステルまたはβ−ケトア
ミドの環状アセタールまたはケタール、(e)シリルエ
ーテル基を有する化合物、(f)シリルエノールエーテ
ル基を有する化合物、(g)現像剤中で0.1〜100
g/lの溶解度を有する、アルデヒドまたはケトンのモノ
アセタールおよびモノケタール、(h)第三級アルコー
ル系のエーテル、(i)アルコール成分が第三級アルコ
ール、アリルアルコールまたはベンジルアルコールであ
る、カルボン酸エステルおよび炭酸エステル、および
(j)N,O−アセタール、特にN,O−ポリアセター
ル。
射感応性混合物中の酸により開裂し得る化合物として好
適であることが分かっている。 (a)少なくとも一つのオルトカルボン酸エステル基お
よび/またはカルボン酸アミドアセタール基を有し、ま
た、重合体の性質をも有し、該基が主鎖中、または側鎖
中に存在し得る様な化合物、(b)主鎖中に反復するア
セタールおよび/またはケタール基を含むオリゴマー性
または重合体性化合物、(c)少なくとも一つのエノー
ルエーテル基またはN−アシルイミノカーボネート基を
含む化合物、(d)β−ケトエステルまたはβ−ケトア
ミドの環状アセタールまたはケタール、(e)シリルエ
ーテル基を有する化合物、(f)シリルエノールエーテ
ル基を有する化合物、(g)現像剤中で0.1〜100
g/lの溶解度を有する、アルデヒドまたはケトンのモノ
アセタールおよびモノケタール、(h)第三級アルコー
ル系のエーテル、(i)アルコール成分が第三級アルコ
ール、アリルアルコールまたはベンジルアルコールであ
る、カルボン酸エステルおよび炭酸エステル、および
(j)N,O−アセタール、特にN,O−ポリアセター
ル。
【0031】酸により開裂し得る化合物はすでに上に簡
単に説明した。前記種類(a)の酸により開裂し得る化
合物は、DE−A 2610842および292863
6に放射感応性混合物の成分として包括的に説明されて
いる。種類(b)の化合物を含む混合物は、DE−A
2306248および2718254に記載されてい
る。種類(c)の化合物は、EP−A 0006626
および0006627に記載されている。種類(d)の
化合物は、EP−A 0202196に、種類(e)の
化合物は、DE−A 3544165および36012
64に記載されている。種類(f)の化合物はDE−A
3730785および3730783に、種類(g)
の化合物はDE−A 3730787に開示されてい
る。種類(h)の化合物は、例えばUS−A 4,60
3,101に、種類(i)の化合物は、例えばUS−A
4,491,628に、およびJ.M.フレシェト
ら、J.イメージングSci.、59〜64(198
6)に記載されている。種類(j)の化合物は未公開の
独国特許出願P4112968.7に記載されている。
単に説明した。前記種類(a)の酸により開裂し得る化
合物は、DE−A 2610842および292863
6に放射感応性混合物の成分として包括的に説明されて
いる。種類(b)の化合物を含む混合物は、DE−A
2306248および2718254に記載されてい
る。種類(c)の化合物は、EP−A 0006626
および0006627に記載されている。種類(d)の
化合物は、EP−A 0202196に、種類(e)の
化合物は、DE−A 3544165および36012
64に記載されている。種類(f)の化合物はDE−A
3730785および3730783に、種類(g)
の化合物はDE−A 3730787に開示されてい
る。種類(h)の化合物は、例えばUS−A 4,60
3,101に、種類(i)の化合物は、例えばUS−A
4,491,628に、およびJ.M.フレシェト
ら、J.イメージングSci.、59〜64(198
6)に記載されている。種類(j)の化合物は未公開の
独国特許出願P4112968.7に記載されている。
【0032】上記の酸により開裂し得る化合物の混合物
を使用することもできる。しかし、上記の種類のただ一
つに分類される、酸により開裂し得る化合物が好まし
く、特に酸により開裂し得る少なくとも一つのC−O−
C結合を有する化合物、すなわち種類(a)、(b)、
(g)、(i)および(j)に属する化合物が特に好ま
しい。種類(b)の中では、重合体アセタールを選ぶべ
きで、種類(g)の酸により開裂し得る化合物では、特
にアルデヒドまたはケトン成分が150℃を超える、好
ましくは200℃を超える沸点を有する化合物を選ぶべ
きである。種類(j)のN,O−ポリアセタールが特に
好ましい。
を使用することもできる。しかし、上記の種類のただ一
つに分類される、酸により開裂し得る化合物が好まし
く、特に酸により開裂し得る少なくとも一つのC−O−
C結合を有する化合物、すなわち種類(a)、(b)、
(g)、(i)および(j)に属する化合物が特に好ま
しい。種類(b)の中では、重合体アセタールを選ぶべ
きで、種類(g)の酸により開裂し得る化合物では、特
にアルデヒドまたはケトン成分が150℃を超える、好
ましくは200℃を超える沸点を有する化合物を選ぶべ
きである。種類(j)のN,O−ポリアセタールが特に
好ましい。
【0033】化合物b)または化合物b)の組合わせの
比率は、放射感応性混合物中の固体成分の総重量に対し
て1〜50重量%、好ましくは10〜40重量%であ
る。
比率は、放射感応性混合物中の固体成分の総重量に対し
て1〜50重量%、好ましくは10〜40重量%であ
る。
【0034】本発明に係わる放射感応性混合物は、さら
に少なくとも一つの、水には不溶であるが、アルカリ水
溶液には可溶、もしくは少なくとも膨潤し得る重合体結
合剤c)を含む。この結合剤は、本発明に係わる放射感
応性混合物の他の成分と良好な相容性を有し、特にでき
るだけ低い特性吸収、すなわち高い透明度を、190〜
300nmの波長領域で有するのが特徴である。原則的に
光活性成分としてナフトキノンジアジドとの組合わせで
使用される、ノボラック縮合樹脂系の結合剤はこの条件
に適合しない。ノボラック縮合樹脂は、画像を露光した
後、未露光区域において水性アルカリ現像剤への溶解度
が低下するが、照射に望ましい短波長領域における、そ
れらの特性吸収は高すぎる。
に少なくとも一つの、水には不溶であるが、アルカリ水
溶液には可溶、もしくは少なくとも膨潤し得る重合体結
合剤c)を含む。この結合剤は、本発明に係わる放射感
応性混合物の他の成分と良好な相容性を有し、特にでき
るだけ低い特性吸収、すなわち高い透明度を、190〜
300nmの波長領域で有するのが特徴である。原則的に
光活性成分としてナフトキノンジアジドとの組合わせで
使用される、ノボラック縮合樹脂系の結合剤はこの条件
に適合しない。ノボラック縮合樹脂は、画像を露光した
後、未露光区域において水性アルカリ現像剤への溶解度
が低下するが、照射に望ましい短波長領域における、そ
れらの特性吸収は高すぎる。
【0035】しかし、ノボラック縮合樹脂は、結合剤と
して適した透明度の高い他の樹脂との混合物として使用
できる。この場合、混合比は、主としてノボラック樹脂
と混合する結合剤の性質により左右される。特に重要な
ファクターは、上記の波長領域における結合剤の特性吸
収および放射感応性混合物の他の成分との混合性であ
る。しかし、一般に、本発明に係わる放射感応性混合物
の結合剤は、30重量%までの、特に20重量%までの
ノボラック縮合樹脂を含むことができる。 好適な結合
剤は、p−ヒドロキシスチレンおよびそのアルキル誘導
体、例えば3−メチル−4−ヒドロキシスチレンの単独
重合体または共重合体、および他のビニルフェノール、
例えば3−ヒドロキシスチレンの、またはアクリル酸と
フェノール基を含む芳香族化合物とのエステルまたはア
ミドの単独重合体または共重合体である。スチレン、
(メタ)アクリル酸メチル、等の重合性化合物をコモノ
マーとして使用できる。
して適した透明度の高い他の樹脂との混合物として使用
できる。この場合、混合比は、主としてノボラック樹脂
と混合する結合剤の性質により左右される。特に重要な
ファクターは、上記の波長領域における結合剤の特性吸
収および放射感応性混合物の他の成分との混合性であ
る。しかし、一般に、本発明に係わる放射感応性混合物
の結合剤は、30重量%までの、特に20重量%までの
ノボラック縮合樹脂を含むことができる。 好適な結合
剤は、p−ヒドロキシスチレンおよびそのアルキル誘導
体、例えば3−メチル−4−ヒドロキシスチレンの単独
重合体または共重合体、および他のビニルフェノール、
例えば3−ヒドロキシスチレンの、またはアクリル酸と
フェノール基を含む芳香族化合物とのエステルまたはア
ミドの単独重合体または共重合体である。スチレン、
(メタ)アクリル酸メチル、等の重合性化合物をコモノ
マーとして使用できる。
【0036】ケイ素を含むビニルモノマー、例えばビニ
ルトリメチルシランを結合剤の製造に使用すると、プラ
ズマ耐性を高めた混合物が得られる。これらの結合剤の
透明度は問題とする領域において一般に高いので、画像
形成を改善することができる。
ルトリメチルシランを結合剤の製造に使用すると、プラ
ズマ耐性を高めた混合物が得られる。これらの結合剤の
透明度は問題とする領域において一般に高いので、画像
形成を改善することができる。
【0037】マレイミドの単独重合体または共重合体も
同じく効果的に使用できる。これらの結合剤も上記の波
長領域で高い透明度を発揮する。ここでも、好ましいコ
モノマーは、スチレン、置換したスチレン、ビニルエー
テル、ビニルエステル、ビニルシリル化合物または(メ
タ)アクリル酸エステルである。
同じく効果的に使用できる。これらの結合剤も上記の波
長領域で高い透明度を発揮する。ここでも、好ましいコ
モノマーは、スチレン、置換したスチレン、ビニルエー
テル、ビニルエステル、ビニルシリル化合物または(メ
タ)アクリル酸エステルである。
【0038】最後に、スチレンの共重合体を、水性アル
カリ溶液における溶解性を増加させるコモノマーと共に
使用することも可能である。これには、例えば、無水マ
レイン酸およびマレイン酸半エステルが含まれる。
カリ溶液における溶解性を増加させるコモノマーと共に
使用することも可能である。これには、例えば、無水マ
レイン酸およびマレイン酸半エステルが含まれる。
【0039】これらの結合剤は、放射感応性混合物の光
学的品質を損なわなければ、互いに混合できる。しか
し、結合剤の混合物は好ましくない。
学的品質を損なわなければ、互いに混合できる。しか
し、結合剤の混合物は好ましくない。
【0040】結合剤の含有量は、一般的に放射感応性混
合物の固体成分の総重量に対して、40〜95重量%、
特に50〜90重量%である。
合物の固体成分の総重量に対して、40〜95重量%、
特に50〜90重量%である。
【0041】結合剤または結合剤の組合わせの、波長2
48nmの放射に対する吸収は、好ましくは0.35未
満、特に好ましくは0.25μm -1未満である。
48nmの放射に対する吸収は、好ましくは0.35未
満、特に好ましくは0.25μm -1未満である。
【0042】結合剤または結合剤の組合わせのガラス転
位温度は、少なくとも120℃程度が有利である。
位温度は、少なくとも120℃程度が有利である。
【0043】所望により、染料、顔料、可塑剤、湿潤
剤、および流動調整剤、およびポリグリコールおよびセ
ルロースエーテル、例えばエチルセルロースを本発明に
係わる放射感応性混合物に加えて、可撓性、密着性およ
び光沢などの特性を改良することができる。
剤、および流動調整剤、およびポリグリコールおよびセ
ルロースエーテル、例えばエチルセルロースを本発明に
係わる放射感応性混合物に加えて、可撓性、密着性およ
び光沢などの特性を改良することができる。
【0044】基材に塗布する場合、本発明に係わる放射
感応性混合物を溶剤または溶剤の組合わせ中に溶解させ
るのが好ましい。最終的には、溶剤の選択は、使用する
塗布方法、望ましい層の厚さ、および乾燥条件によって
決まる。また、溶剤は使用する条件下で他の層成分に対
して化学的に中性でなければならない。特に好適な溶剤
および被覆方法は、未公開独国特許出願P411297
1.7に包括的に記載されており、ここにも同様に適用
できる。
感応性混合物を溶剤または溶剤の組合わせ中に溶解させ
るのが好ましい。最終的には、溶剤の選択は、使用する
塗布方法、望ましい層の厚さ、および乾燥条件によって
決まる。また、溶剤は使用する条件下で他の層成分に対
して化学的に中性でなければならない。特に好適な溶剤
および被覆方法は、未公開独国特許出願P411297
1.7に包括的に記載されており、ここにも同様に適用
できる。
【0045】上記の溶剤で調製した溶液は、原則的に、
5〜60重量%、好ましくは50重量%までの固形分を
含む。
5〜60重量%、好ましくは50重量%までの固形分を
含む。
【0046】最後に、本発明は、本質的に基材、および
その基材上に配置した、本発明に係わる放射感応性混合
物を含む放射感応性層からなる放射感応性記録材料にも
関する。
その基材上に配置した、本発明に係わる放射感応性混合
物を含む放射感応性層からなる放射感応性記録材料にも
関する。
【0047】好適な基材としては、キャパシター、半導
体、多層プリント回路または集積回路を構成または製造
できるあらゆる材料を使用できる。所望により、密着促
進剤を使用する。光機械的記録層を製造するための未公
開独国特許出願P4112971.7に開示されてい
る、基材、密着促進剤および基礎材料は、ここでも同様
に適用できる。
体、多層プリント回路または集積回路を構成または製造
できるあらゆる材料を使用できる。所望により、密着促
進剤を使用する。光機械的記録層を製造するための未公
開独国特許出願P4112971.7に開示されてい
る、基材、密着促進剤および基礎材料は、ここでも同様
に適用できる。
【0048】本発明に係わる記録材料は、活性線放射で
画像を映す様に露光する。好適な放射源も、上記の文献
に包括的に記載されており、ここでもそれにしたがって
使用される。
画像を映す様に露光する。好適な放射源も、上記の文献
に包括的に記載されており、ここでもそれにしたがって
使用される。
【0049】感光性層の厚さはその応用分野によって異
なるが、一般的には0.1〜100μm 、好ましくは
0.5〜10μm 、特に好ましくは約1.0μm であ
る。
なるが、一般的には0.1〜100μm 、好ましくは
0.5〜10μm 、特に好ましくは約1.0μm であ
る。
【0050】本発明は、さらに放射感応性記録材料の製
造方法にも関する。P4112971.7に記載する内
容は、放射感応性混合物を基材に塗布する工程、並びに
現像剤として好適な水溶液、現像した層構造の後硬化、
および平版印刷方法を使用した集積回路または個々の電
気モジュールの製造における、本発明に係わる放射感応
性混合物の使用にも適用される。
造方法にも関する。P4112971.7に記載する内
容は、放射感応性混合物を基材に塗布する工程、並びに
現像剤として好適な水溶液、現像した層構造の後硬化、
および平版印刷方法を使用した集積回路または個々の電
気モジュールの製造における、本発明に係わる放射感応
性混合物の使用にも適用される。
【0051】本発明に係わる放射感応性混合物は、特に
190〜300nmの波長の光で照射する場合に高い感光
性を示す。この混合物は、望ましい波長領域で著しく高
い透明性性を示すので、公知の混合物で可能な構造より
も微細な構造を得ることができる。そのため、現像され
たレジスト層は、その後に続く処理工程のためのマスク
として役立つ。これらの工程の例としては、層支持体の
エッチング、層支持体内へのイオン移植、あるいは層支
持体上へ金属または他の物質を被覆する工程がある。
190〜300nmの波長の光で照射する場合に高い感光
性を示す。この混合物は、望ましい波長領域で著しく高
い透明性性を示すので、公知の混合物で可能な構造より
も微細な構造を得ることができる。そのため、現像され
たレジスト層は、その後に続く処理工程のためのマスク
として役立つ。これらの工程の例としては、層支持体の
エッチング、層支持体内へのイオン移植、あるいは層支
持体上へ金属または他の物質を被覆する工程がある。
【0052】
【実施例】下記の実施例により本発明を説明するが、本
発明を制限するものではない。以下の実施例において、
pbw は重量部を、pbv は体積部を表す。pbw とpbv の関
係は、gとcm3 の関係と同じである。調製実施例1 第1段階: 25.0pbw の4−シアノフェノールおよ
び31.2pbw のトリエチルアミンを200pbw のテト
ラヒドロフランに溶解させ、5℃に冷却する。攪拌し、
温度を一定に維持しながら、39.8pbw のp−トルエ
ンスルホニルクロリドを50pbw のテトラヒドロフラン
に溶解させた溶液を滴下して加える。この混合物を室温
に戻し、さらに2時間攪拌し、次いで1000pbv の蒸
留水中に攪拌しながら加える。pH2〜3に酸性化した
後、沈殿物を吸引濾別し、中性になるまで水洗し、乾燥
させる。結晶性の物質をイソプロパノールから再結晶さ
せる。53pbw の4−(トルエン−4−スルホニルオキ
シ)ベンゾニトリル(白色結晶、融点85℃)が得られ
る。 第2段階: 13.6pbw の上記の化合物を43.4pb
w の除湿したトリクロロアセトニトリルに溶解させ、
2.7pbw の臭化アルミニウムを加える。乾燥した塩化
水素ガスをこの混合物中に24〜30℃で飽和に達する
まで通す。固化して行く混合物を室温で24時間放置す
る。次いで、その混合物を400pbw の塩化メチレン中
に入れ、各100pbw の水で2回洗浄する。有機相を除
湿し、濾過し、蒸発させる。残留物をエタノールから再
結晶化させる。23.5pbw の2,4−ビストリクロロ
メチル−6−[4−(トルエン−4−スルホニルオキ
シ)フェニル]−1,3,5−トリアジン(白色結晶、
融点156℃)が得られる。調製実施例2 第1段階: 25.0pbw の4−シアノフェノールおよ
び31.2pbw のトリエチルアミンを200pbw のテト
ラヒドロフランに溶解させ、5℃に冷却する。攪拌し、
温度を一定に維持しながら、23.3pbw のメタンスル
ホニルクロリドを50pbw のテトラヒドロフランに溶解
させた溶液を滴下して加える。この混合物を室温に戻
し、さらに2時間攪拌し、次いで1000pbv の蒸留水
中に攪拌しながら加える。pH2〜3に酸性化した後、沈
殿物を吸引濾別し、中性になるまで水洗し、乾燥させ
る。結晶性の物質をイソプロパノールから再結晶させ
る。35pbw の4−メタンスルホニルオキシベンゾニト
リル(白色結晶、融点93℃)が得られる。 第2段階: 9.8pbw の上記の化合物を43.4pbw
の除湿したトリクロロアセトニトリルに溶解させ、2.
7pbw の臭化アルミニウムを加える。乾燥した塩化水素
ガスをこの混合物中に24〜30℃で飽和に達するまで
通す。固化して行く混合物を室温で24時間放置する。
その混合物を400pbw の塩化メチレン中に入れ、各1
00pbw の水で2回洗浄する。有機相を除湿し、濾過
し、蒸発させる。残留物をエタノールから再結晶化させ
る。13.8pbw の2,4−ビストリクロロメチル−6
−(4−メタンスルホニルオキシフェニル)−1,3,
5−トリアジン(白色結晶、融点142℃)が得られ
る。調製実施例3 第1段階: 11.9pbw の4−シアノフェノールおよ
び15.0pbw のトリエチルアミンを120pbw のテト
ラヒドロフランに溶解させ、0℃に冷却する。攪拌し、
温度を一定に維持しながら、22.6pbw のナフタレン
−2−スルホニルクロリドを50pbw のテトラヒドロフ
ランに溶解させた溶液を滴下して加える。この混合物を
室温に戻し、さらに2時間攪拌し、次いで1000pbv
の蒸留水中に攪拌しながら加える。pH2〜3に酸性化し
た後、沈殿物を吸引濾別し、中性になるまで水洗し、乾
燥させる。結晶性の物質をイソプロパノールから再結晶
させる。25.3pbw の4−(ナフタレン−2−スルホ
ニルオキシ)ベンゾニトリル(白色結晶、融点112
℃)が得られる。 第2段階: 23.2pbw の上記の化合物を65.0pb
w の除湿したトリクロロアセトニトリルに溶解させ、
4.0pbw の臭化アルミニウムを加える。乾燥した塩化
水素ガスをこの混合物中に24〜30℃で飽和に達する
まで通す。固化して行く混合物を室温で24時間放置す
る。次いで、その混合物を400pbw の塩化メチレン中
に入れ、各100pbw の水で2回洗浄する。有機相を除
湿し、濾過し、蒸発させる。残留物を酢酸エチルから再
結晶化させる。32.5pbw の2,4−ビストリクロロ
メチル−6−[4−(ナフタレン−2−スルホニルオキ
シ)フェニル]−1,3,5−トリアジン(白色結晶、
融点175℃)が得られる。調製実施例4 第1段階: 6.0pbw の4−シアノフェノールおよび
7.5pbw のトリエチルアミンを200pbw のテトラヒ
ドロフランに溶解させ、5℃に冷却する。攪拌し、温度
を一定に維持しながら、10.3pbw の4−メトキシベ
ンゼンスルホニルクロリドを50pbw のテトラヒドロフ
ランに溶解させた溶液を滴下して加える。この混合物を
室温に戻し、さらに2時間攪拌し、次いで1000pbv
の蒸留水中に攪拌しながら加える。pH2〜3に酸性化し
た後、沈殿物を吸引濾別し、中性になるまで水洗し、乾
燥させる。結晶性の物質をイソプロパノールから再結晶
させる。13pbw の4−(4−メトキシベンゼンスルホ
ニルオキシ)ベンゾニトリル(白色結晶、融点128
℃)が得られる。 第2段階: 11.6pbw の上記の化合物を35.0pb
w の除湿したトリクロロアセトニトリルに溶解させ、
2.5pbw の臭化アルミニウムを加える。乾燥した塩化
水素ガスをこの混合物中に24〜30℃で飽和に達する
まで通す。固化して行く混合物を室温で24時間放置す
る。その混合物を300pbw の塩化メチレン中に入れ、
各100pbw の水で2回洗浄する。有機相を除湿し、濾
過し、蒸発させる。残留物を酢酸エチルから再結晶化さ
せる。16.8pbw の2,4−ビストリクロロメチル−
6−[4−(4−メトキシベンゼンスルホニルオキシ)
フェニル]−1,3,5−トリアジン(白色結晶、融点
168℃)が得られる。調製実施例5 第1段階: 4.0pbw の3−シアノフェノールおよび
5.1pbw のトリエチルアミンを100pbw のテトラヒ
ドロフランに溶解させ、5℃に冷却する。攪拌し、温度
を一定に維持しながら、10.0pbw の2,4,6−ト
リイソプロピルベンゼンスルホニルクロリドを50pbw
のテトラヒドロフランに溶解させた溶液を滴下して加え
る。この混合物を室温に戻し、さらに2時間攪拌し、次
いで1000pbv の蒸留水中に攪拌しながら加える。pH
2〜3に酸性化した後、沈殿物を吸引濾別し、中性にな
るまで水洗し、乾燥させる。結晶性の物質をイソプロパ
ノールから再結晶させる。12pbw の3−(2,4,6
−トリイソプロピルベンゼンスルホニルオキシ)ベンゾ
ニトリル(白色結晶、融点70℃)が得られる。 第2段階: 11.5pbw の上記の化合物を26.0pb
w の除湿したトリクロロアセトニトリルに溶解させ、
2.0pbw の臭化アルミニウムを加える。乾燥した塩化
水素ガスをこの混合物中に24〜30℃で飽和に達する
まで通す。固化して行く混合物を室温で24時間放置す
る。その混合物を200pbw の塩化メチレン中に入れ、
各100pbw の水で2回洗浄する。有機相を除湿し、濾
過し、蒸発させる。残留物を酢酸エチルから再結晶化さ
せる。10.5pbw の2,4−ビストリクロロメチル−
6−[3−(2,4,6−トリイソプロピルベンゼンス
ルホニルオキシ)フェニル]−1,3,5−トリアジン
(白色結晶、融点156℃)が得られる。調製実施例6 第1段階: 11.9pbw の2−シアノフェノールおよ
び15.2pbw のトリエチルアミンを100pbw のテト
ラヒドロフランに溶解させ、5℃に冷却する。攪拌し、
温度を一定に維持しながら、11.4pbw のメタンスル
ホニルクロリドを50pbw のテトラヒドロフランに溶解
させた溶液を滴下して加える。この混合物を室温に戻
し、さらに2時間攪拌し、次いで1000pbv の蒸留水
中に攪拌しながら加える。pH2〜3に酸性化した後、沈
殿物を吸引濾別し、中性になるまで水洗し、乾燥させ
る。結晶性の物質をイソプロパノールから再結晶させ
る。13.5pbw の2−メタンスルホニルオキシベンゾ
ニトリル(白色結晶、融点58℃)が得られる。 第2段階: 12.8pbw の上記の化合物を56.6pb
w の除湿したトリクロロアセトニトリルに溶解させ、
2.0pbw の臭化アルミニウムを加える。乾燥した塩化
水素ガスをこの混合物中に24〜30℃で飽和に達する
まで通す。固化して行く混合物を室温で24時間放置す
る。その混合物を200pbw の塩化メチレン中に入れ、
各100pbw の水で2回洗浄する。有機相を除湿し、濾
過し、蒸発させる。残留物をイソプロパノールから再結
晶化させる。15.7pbw の2,4−ビストリクロロメ
チル−6−[2−メタンスルホニルオキシフェニル)−
1,3,5−トリアジン(白色結晶、融点86℃)が得
られる。調製実施例7〜13 これまでに記載した実施例と同様にして調製した、式I
の他の化合物を開示する。化合物の数が多いので、下記
の表に、幾つかの代表的な化合物を選択し、式Iで可能
な変形に関連して特徴を示す。分析値として、硫黄およ
び塩素の含有量を定量して示す。表1 No. 位置*) R M.p. 元素分析 [℃] %Cl %S 計算値 実測値 計算値 実測値 7 パラ −C6 H5 140 38.8 38.2 5.8 5.3 8 パラ -2,4,5-(Cl) 3 -C6 H 2 190 49.0 49.0 4.9 5.2 9 パラ −4−Cl−C6 H4 150 42.6 43.1 5.5 5.4 10 パラ −4−Br−C6 H4 148 33.9 34.2 5.1 5.2 11 メタ −4−CH3 −C6 H4 162 37.8 38.1 5.7 6.0 12 メタ −CH3 120 43.8 48.5 6.6 5.9 13 オルト −4−CH3 −C6 H4 86 37.8 39.4 5.7 6.1 *)ベンゼン環上の2,4−ビストリクロロメタン−1,
3,5−トリアジン−6−イル基の位置に対して 式R−SO3 HまたはR' (−SO3 H)2 のスルホン
酸と2,4−ビストリクロロメチル−6−(モノ−また
はジヒドロキシフェニル)−1,3,5−トリアジンの
他のエステルも同様にして調製できる。
発明を制限するものではない。以下の実施例において、
pbw は重量部を、pbv は体積部を表す。pbw とpbv の関
係は、gとcm3 の関係と同じである。調製実施例1 第1段階: 25.0pbw の4−シアノフェノールおよ
び31.2pbw のトリエチルアミンを200pbw のテト
ラヒドロフランに溶解させ、5℃に冷却する。攪拌し、
温度を一定に維持しながら、39.8pbw のp−トルエ
ンスルホニルクロリドを50pbw のテトラヒドロフラン
に溶解させた溶液を滴下して加える。この混合物を室温
に戻し、さらに2時間攪拌し、次いで1000pbv の蒸
留水中に攪拌しながら加える。pH2〜3に酸性化した
後、沈殿物を吸引濾別し、中性になるまで水洗し、乾燥
させる。結晶性の物質をイソプロパノールから再結晶さ
せる。53pbw の4−(トルエン−4−スルホニルオキ
シ)ベンゾニトリル(白色結晶、融点85℃)が得られ
る。 第2段階: 13.6pbw の上記の化合物を43.4pb
w の除湿したトリクロロアセトニトリルに溶解させ、
2.7pbw の臭化アルミニウムを加える。乾燥した塩化
水素ガスをこの混合物中に24〜30℃で飽和に達する
まで通す。固化して行く混合物を室温で24時間放置す
る。次いで、その混合物を400pbw の塩化メチレン中
に入れ、各100pbw の水で2回洗浄する。有機相を除
湿し、濾過し、蒸発させる。残留物をエタノールから再
結晶化させる。23.5pbw の2,4−ビストリクロロ
メチル−6−[4−(トルエン−4−スルホニルオキ
シ)フェニル]−1,3,5−トリアジン(白色結晶、
融点156℃)が得られる。調製実施例2 第1段階: 25.0pbw の4−シアノフェノールおよ
び31.2pbw のトリエチルアミンを200pbw のテト
ラヒドロフランに溶解させ、5℃に冷却する。攪拌し、
温度を一定に維持しながら、23.3pbw のメタンスル
ホニルクロリドを50pbw のテトラヒドロフランに溶解
させた溶液を滴下して加える。この混合物を室温に戻
し、さらに2時間攪拌し、次いで1000pbv の蒸留水
中に攪拌しながら加える。pH2〜3に酸性化した後、沈
殿物を吸引濾別し、中性になるまで水洗し、乾燥させ
る。結晶性の物質をイソプロパノールから再結晶させ
る。35pbw の4−メタンスルホニルオキシベンゾニト
リル(白色結晶、融点93℃)が得られる。 第2段階: 9.8pbw の上記の化合物を43.4pbw
の除湿したトリクロロアセトニトリルに溶解させ、2.
7pbw の臭化アルミニウムを加える。乾燥した塩化水素
ガスをこの混合物中に24〜30℃で飽和に達するまで
通す。固化して行く混合物を室温で24時間放置する。
その混合物を400pbw の塩化メチレン中に入れ、各1
00pbw の水で2回洗浄する。有機相を除湿し、濾過
し、蒸発させる。残留物をエタノールから再結晶化させ
る。13.8pbw の2,4−ビストリクロロメチル−6
−(4−メタンスルホニルオキシフェニル)−1,3,
5−トリアジン(白色結晶、融点142℃)が得られ
る。調製実施例3 第1段階: 11.9pbw の4−シアノフェノールおよ
び15.0pbw のトリエチルアミンを120pbw のテト
ラヒドロフランに溶解させ、0℃に冷却する。攪拌し、
温度を一定に維持しながら、22.6pbw のナフタレン
−2−スルホニルクロリドを50pbw のテトラヒドロフ
ランに溶解させた溶液を滴下して加える。この混合物を
室温に戻し、さらに2時間攪拌し、次いで1000pbv
の蒸留水中に攪拌しながら加える。pH2〜3に酸性化し
た後、沈殿物を吸引濾別し、中性になるまで水洗し、乾
燥させる。結晶性の物質をイソプロパノールから再結晶
させる。25.3pbw の4−(ナフタレン−2−スルホ
ニルオキシ)ベンゾニトリル(白色結晶、融点112
℃)が得られる。 第2段階: 23.2pbw の上記の化合物を65.0pb
w の除湿したトリクロロアセトニトリルに溶解させ、
4.0pbw の臭化アルミニウムを加える。乾燥した塩化
水素ガスをこの混合物中に24〜30℃で飽和に達する
まで通す。固化して行く混合物を室温で24時間放置す
る。次いで、その混合物を400pbw の塩化メチレン中
に入れ、各100pbw の水で2回洗浄する。有機相を除
湿し、濾過し、蒸発させる。残留物を酢酸エチルから再
結晶化させる。32.5pbw の2,4−ビストリクロロ
メチル−6−[4−(ナフタレン−2−スルホニルオキ
シ)フェニル]−1,3,5−トリアジン(白色結晶、
融点175℃)が得られる。調製実施例4 第1段階: 6.0pbw の4−シアノフェノールおよび
7.5pbw のトリエチルアミンを200pbw のテトラヒ
ドロフランに溶解させ、5℃に冷却する。攪拌し、温度
を一定に維持しながら、10.3pbw の4−メトキシベ
ンゼンスルホニルクロリドを50pbw のテトラヒドロフ
ランに溶解させた溶液を滴下して加える。この混合物を
室温に戻し、さらに2時間攪拌し、次いで1000pbv
の蒸留水中に攪拌しながら加える。pH2〜3に酸性化し
た後、沈殿物を吸引濾別し、中性になるまで水洗し、乾
燥させる。結晶性の物質をイソプロパノールから再結晶
させる。13pbw の4−(4−メトキシベンゼンスルホ
ニルオキシ)ベンゾニトリル(白色結晶、融点128
℃)が得られる。 第2段階: 11.6pbw の上記の化合物を35.0pb
w の除湿したトリクロロアセトニトリルに溶解させ、
2.5pbw の臭化アルミニウムを加える。乾燥した塩化
水素ガスをこの混合物中に24〜30℃で飽和に達する
まで通す。固化して行く混合物を室温で24時間放置す
る。その混合物を300pbw の塩化メチレン中に入れ、
各100pbw の水で2回洗浄する。有機相を除湿し、濾
過し、蒸発させる。残留物を酢酸エチルから再結晶化さ
せる。16.8pbw の2,4−ビストリクロロメチル−
6−[4−(4−メトキシベンゼンスルホニルオキシ)
フェニル]−1,3,5−トリアジン(白色結晶、融点
168℃)が得られる。調製実施例5 第1段階: 4.0pbw の3−シアノフェノールおよび
5.1pbw のトリエチルアミンを100pbw のテトラヒ
ドロフランに溶解させ、5℃に冷却する。攪拌し、温度
を一定に維持しながら、10.0pbw の2,4,6−ト
リイソプロピルベンゼンスルホニルクロリドを50pbw
のテトラヒドロフランに溶解させた溶液を滴下して加え
る。この混合物を室温に戻し、さらに2時間攪拌し、次
いで1000pbv の蒸留水中に攪拌しながら加える。pH
2〜3に酸性化した後、沈殿物を吸引濾別し、中性にな
るまで水洗し、乾燥させる。結晶性の物質をイソプロパ
ノールから再結晶させる。12pbw の3−(2,4,6
−トリイソプロピルベンゼンスルホニルオキシ)ベンゾ
ニトリル(白色結晶、融点70℃)が得られる。 第2段階: 11.5pbw の上記の化合物を26.0pb
w の除湿したトリクロロアセトニトリルに溶解させ、
2.0pbw の臭化アルミニウムを加える。乾燥した塩化
水素ガスをこの混合物中に24〜30℃で飽和に達する
まで通す。固化して行く混合物を室温で24時間放置す
る。その混合物を200pbw の塩化メチレン中に入れ、
各100pbw の水で2回洗浄する。有機相を除湿し、濾
過し、蒸発させる。残留物を酢酸エチルから再結晶化さ
せる。10.5pbw の2,4−ビストリクロロメチル−
6−[3−(2,4,6−トリイソプロピルベンゼンス
ルホニルオキシ)フェニル]−1,3,5−トリアジン
(白色結晶、融点156℃)が得られる。調製実施例6 第1段階: 11.9pbw の2−シアノフェノールおよ
び15.2pbw のトリエチルアミンを100pbw のテト
ラヒドロフランに溶解させ、5℃に冷却する。攪拌し、
温度を一定に維持しながら、11.4pbw のメタンスル
ホニルクロリドを50pbw のテトラヒドロフランに溶解
させた溶液を滴下して加える。この混合物を室温に戻
し、さらに2時間攪拌し、次いで1000pbv の蒸留水
中に攪拌しながら加える。pH2〜3に酸性化した後、沈
殿物を吸引濾別し、中性になるまで水洗し、乾燥させ
る。結晶性の物質をイソプロパノールから再結晶させ
る。13.5pbw の2−メタンスルホニルオキシベンゾ
ニトリル(白色結晶、融点58℃)が得られる。 第2段階: 12.8pbw の上記の化合物を56.6pb
w の除湿したトリクロロアセトニトリルに溶解させ、
2.0pbw の臭化アルミニウムを加える。乾燥した塩化
水素ガスをこの混合物中に24〜30℃で飽和に達する
まで通す。固化して行く混合物を室温で24時間放置す
る。その混合物を200pbw の塩化メチレン中に入れ、
各100pbw の水で2回洗浄する。有機相を除湿し、濾
過し、蒸発させる。残留物をイソプロパノールから再結
晶化させる。15.7pbw の2,4−ビストリクロロメ
チル−6−[2−メタンスルホニルオキシフェニル)−
1,3,5−トリアジン(白色結晶、融点86℃)が得
られる。調製実施例7〜13 これまでに記載した実施例と同様にして調製した、式I
の他の化合物を開示する。化合物の数が多いので、下記
の表に、幾つかの代表的な化合物を選択し、式Iで可能
な変形に関連して特徴を示す。分析値として、硫黄およ
び塩素の含有量を定量して示す。表1 No. 位置*) R M.p. 元素分析 [℃] %Cl %S 計算値 実測値 計算値 実測値 7 パラ −C6 H5 140 38.8 38.2 5.8 5.3 8 パラ -2,4,5-(Cl) 3 -C6 H 2 190 49.0 49.0 4.9 5.2 9 パラ −4−Cl−C6 H4 150 42.6 43.1 5.5 5.4 10 パラ −4−Br−C6 H4 148 33.9 34.2 5.1 5.2 11 メタ −4−CH3 −C6 H4 162 37.8 38.1 5.7 6.0 12 メタ −CH3 120 43.8 48.5 6.6 5.9 13 オルト −4−CH3 −C6 H4 86 37.8 39.4 5.7 6.1 *)ベンゼン環上の2,4−ビストリクロロメタン−1,
3,5−トリアジン−6−イル基の位置に対して 式R−SO3 HまたはR' (−SO3 H)2 のスルホン
酸と2,4−ビストリクロロメチル−6−(モノ−また
はジヒドロキシフェニル)−1,3,5−トリアジンの
他のエステルも同様にして調製できる。
【0053】式R−SO3 HまたはR' (−SO3 H)
2 のスルホン酸と2,4−ビストリクロロメチル−6−
(モノ−またはジヒドロキシフェニル)−1,3,5−
トリアジンのエステルは、 1H高磁界核共鳴スペクト
ル、元素分析、およびIR分光分析により分析し、その
物質内に遊離の水酸基が存在しないことを立証した。応用実施例1〜5 実施例1〜5により、本発明に係わる混合物のマイクロ
平版印刷における記録材料に対する適性を確認する。先
行技術に対する本発明に係わる混合物の優越性を、比較
実施例6および7により確認する。実施例1 下記の組成を有する塗布溶液を調製した。4.5pbw
の、軟化範囲が約155℃で、平均分子量が約28,0
00[ゲル浸透クロマトグラフィー(GPC)により測
定]の、3−メチル−4−ヒドロキシスチレンの単独重
合体、3.0pbw の、未公開独国特許出願P41129
68.7の調製実施例1に準じてベンズアルデヒドジメ
チルアセタールおよびウレタンアルコール(炭酸エチレ
ンおよびN−プロピルアミンから調製)から調製した
N,O−ポリアセタール、および0.15pbw の、調製
実施例1による2,4−ビストリクロロメチル−6−
[4−(トルエン−4−スルホニルオキシ)フェニル]
−1,3,5−トリアジンを42pbw の、プロピレング
リコールモノメチルエーテルアセテートに溶解する。
2 のスルホン酸と2,4−ビストリクロロメチル−6−
(モノ−またはジヒドロキシフェニル)−1,3,5−
トリアジンのエステルは、 1H高磁界核共鳴スペクト
ル、元素分析、およびIR分光分析により分析し、その
物質内に遊離の水酸基が存在しないことを立証した。応用実施例1〜5 実施例1〜5により、本発明に係わる混合物のマイクロ
平版印刷における記録材料に対する適性を確認する。先
行技術に対する本発明に係わる混合物の優越性を、比較
実施例6および7により確認する。実施例1 下記の組成を有する塗布溶液を調製した。4.5pbw
の、軟化範囲が約155℃で、平均分子量が約28,0
00[ゲル浸透クロマトグラフィー(GPC)により測
定]の、3−メチル−4−ヒドロキシスチレンの単独重
合体、3.0pbw の、未公開独国特許出願P41129
68.7の調製実施例1に準じてベンズアルデヒドジメ
チルアセタールおよびウレタンアルコール(炭酸エチレ
ンおよびN−プロピルアミンから調製)から調製した
N,O−ポリアセタール、および0.15pbw の、調製
実施例1による2,4−ビストリクロロメチル−6−
[4−(トルエン−4−スルホニルオキシ)フェニル]
−1,3,5−トリアジンを42pbw の、プロピレング
リコールモノメチルエーテルアセテートに溶解する。
【0054】この塗布溶液を、細孔径0.2μm のフィ
ルターを通して濾過し、密着促進剤(ヘキサメチルジシ
ラザン)で処理したウエーハーに回転塗布した。この工
程で、回転速度は、ホットプレート上で130℃で1分
間乾燥した後、約1.07μm の層厚が得られる様に選
択した。
ルターを通して濾過し、密着促進剤(ヘキサメチルジシ
ラザン)で処理したウエーハーに回転塗布した。この工
程で、回転速度は、ホットプレート上で130℃で1分
間乾燥した後、約1.07μm の層厚が得られる様に選
択した。
【0055】この記録材料を原画の下で、KrF−エキ
シマレーザー(248nm)の放射で3.8 mJ/cm2 のエ
ネルギーで画像を映す様に露光し、次いでホットプレー
ト上、50℃で1分間露光後の焼き付けを行った。
シマレーザー(248nm)の放射で3.8 mJ/cm2 のエ
ネルギーで画像を映す様に露光し、次いでホットプレー
ト上、50℃で1分間露光後の焼き付けを行った。
【0056】この記録材料を0.27Nの水酸化テトラ
メチルアンモニウム水溶液で現像した。
メチルアンモニウム水溶液で現像した。
【0057】30秒間の現像後、急なレジスト側面を有
する、マスクの欠陥の無い画像が得られ、0.35μm
の構造も精確に解像された。走査電子顕微鏡により、レ
ジスト輪郭の側面が基材表面に対して事実上垂直である
ことが確認された。
する、マスクの欠陥の無い画像が得られ、0.35μm
の構造も精確に解像された。走査電子顕微鏡により、レ
ジスト輪郭の側面が基材表面に対して事実上垂直である
ことが確認された。
【0058】実施例2〜5に記載する放射感応性記録材
料からも急なレジスト側面を有する、マスクの欠陥の無
い画像が得られ、0.40μm 未満の大きさの構造も精
確に解像された。レジストの側面は、すべての場合で、
基材表面に対してほとんど垂直であった。実施例2 下記の組成を有する塗布溶液を使用して感光性記録材料
を調製した。4.5pbw の、平均分子量30,000
(GPC)の、スチレン/p−ヒドロキシスチレンの共
重合体(モル比75:25)、3.0pbw の、DE−A
3730787の調製実施例1に準じて調製した、テ
レフタルジアルデヒド テトラメチル アセタールおよ
び2−フェノキシエタノールから調製したO,O−ポリ
アセタール、および0.1pbw の、調製実施例7による
2,4−ビストリクロロメチル−6−(4−(ベンゼン
スルホニルオキシフェニル)−1,3,5−トリアジン
を42pbw の、プロピレングリコールモノメチルエーテ
ルアセテートに溶解する。
料からも急なレジスト側面を有する、マスクの欠陥の無
い画像が得られ、0.40μm 未満の大きさの構造も精
確に解像された。レジストの側面は、すべての場合で、
基材表面に対してほとんど垂直であった。実施例2 下記の組成を有する塗布溶液を使用して感光性記録材料
を調製した。4.5pbw の、平均分子量30,000
(GPC)の、スチレン/p−ヒドロキシスチレンの共
重合体(モル比75:25)、3.0pbw の、DE−A
3730787の調製実施例1に準じて調製した、テ
レフタルジアルデヒド テトラメチル アセタールおよ
び2−フェノキシエタノールから調製したO,O−ポリ
アセタール、および0.1pbw の、調製実施例7による
2,4−ビストリクロロメチル−6−(4−(ベンゼン
スルホニルオキシフェニル)−1,3,5−トリアジン
を42pbw の、プロピレングリコールモノメチルエーテ
ルアセテートに溶解する。
【0059】塗布、乾燥、および現像の条件は実施例1
に準じる(露光後焼き付け75℃/45秒間) 記録材料は原画の下で、キセノン−水銀蒸気ランプから
のUV放射で、260nm(干渉フィルターを使用)で
4.6 mJ/cm2 のエネルギーで画像を映す様に露光し、
50秒間現像した。実施例3 実施例1による塗布溶液を使用してウエハーを調製した
が、そこで使用した0.15pbw の2,4−ビストリク
ロロメチル−6−[4−(トルエン−4−スルホニルオ
キシ)フェニル]−1,3,5−トリアジンの代わり
に、0.075pbw の、調製実施例4により調製した
2,4−ビストリクロロメチル−6−[4−(4−メト
キシベンゼンスルホニルオキシ)フェニル]−1,3,
5−トリアジンを使用した。次いで、このウエハーを、
5.7 mJ/cm2 のエネルギー(KrF−エキシマレーザ
ー)で画像を映す様に露光した。露光後焼き付け(60
℃/1分間)の後、実施例1と同様に現像を行なった
が、露光した区域は40秒間以内に残留物を残さずに除
去された。実施例4 下記の組成を有する塗布溶液を調製した。7.0pbw
の、軟化範囲が約155℃で、平均分子量が26,00
0(GPC)の、3−メチル−4−ヒドロキシスチレン
/4−ヒドロキシスチレンの共重合体、3.0pbw の、
未公開独国特許出願P4112968.7の調製実施例
2に準じて3,4−メチレンジオキシベンズアルデヒド
ジメチルアセタールおよびウレタンアルコール(エチレ
ンオキシドおよびN−ヘキシルアミンから調製)から調
製したN,O−ポリアセタール、および0.25pbw
の、調製実施例2による2,4−ビストリクロロメチル
−6−(4−メタンスルホニルオキシフェニル)−1,
3,5−トリアジンを42pbw の、プロピレングリコー
ルモノメチルエーテルアセテートに溶解する。
に準じる(露光後焼き付け75℃/45秒間) 記録材料は原画の下で、キセノン−水銀蒸気ランプから
のUV放射で、260nm(干渉フィルターを使用)で
4.6 mJ/cm2 のエネルギーで画像を映す様に露光し、
50秒間現像した。実施例3 実施例1による塗布溶液を使用してウエハーを調製した
が、そこで使用した0.15pbw の2,4−ビストリク
ロロメチル−6−[4−(トルエン−4−スルホニルオ
キシ)フェニル]−1,3,5−トリアジンの代わり
に、0.075pbw の、調製実施例4により調製した
2,4−ビストリクロロメチル−6−[4−(4−メト
キシベンゼンスルホニルオキシ)フェニル]−1,3,
5−トリアジンを使用した。次いで、このウエハーを、
5.7 mJ/cm2 のエネルギー(KrF−エキシマレーザ
ー)で画像を映す様に露光した。露光後焼き付け(60
℃/1分間)の後、実施例1と同様に現像を行なった
が、露光した区域は40秒間以内に残留物を残さずに除
去された。実施例4 下記の組成を有する塗布溶液を調製した。7.0pbw
の、軟化範囲が約155℃で、平均分子量が26,00
0(GPC)の、3−メチル−4−ヒドロキシスチレン
/4−ヒドロキシスチレンの共重合体、3.0pbw の、
未公開独国特許出願P4112968.7の調製実施例
2に準じて3,4−メチレンジオキシベンズアルデヒド
ジメチルアセタールおよびウレタンアルコール(エチレ
ンオキシドおよびN−ヘキシルアミンから調製)から調
製したN,O−ポリアセタール、および0.25pbw
の、調製実施例2による2,4−ビストリクロロメチル
−6−(4−メタンスルホニルオキシフェニル)−1,
3,5−トリアジンを42pbw の、プロピレングリコー
ルモノメチルエーテルアセテートに溶解する。
【0060】実施例1に記載する様にして、この溶液を
前処理し、回転塗布し、乾燥し(120℃で1分間)、
この記録材料を原画の下で、3.4 mJ/cm2 (キセノン
−水銀蒸気ランプ)のエネルギーで画像を映す様に露光
した。露光後焼き付け(60℃で1分間)の後、実施例
1と同様に現像したが、露光区域は50秒間以内に残留
物を残さずに除去された。
前処理し、回転塗布し、乾燥し(120℃で1分間)、
この記録材料を原画の下で、3.4 mJ/cm2 (キセノン
−水銀蒸気ランプ)のエネルギーで画像を映す様に露光
した。露光後焼き付け(60℃で1分間)の後、実施例
1と同様に現像したが、露光区域は50秒間以内に残留
物を残さずに除去された。
【0061】実施例5 実施例1に記載する様にして、実施例4に記載する様な
塗布溶液を使用してウエハーを調製したが、そこに使用
されている3.0pbw のN,O−ポリアセタールの代わ
りに、2.0pbw の、DE−A 3,730,787の
調製実施例1に準じて調製した、ベンズアルデヒド ジ
メチル アセタールおよび3−フェニルプロパノールか
ら調製したO,O−アセタールを使用した。次いで、こ
のウエハーを4.3 mJ/cm2 (キセノン−水銀蒸気ラン
プ)のエネルギーで画像を映す様に露光した。露光後焼
き付け(70℃で1分間)の後、現像を実施例1と同様
に行ったが、露光区域は70秒間以内に残留物を残さず
に除去された。
塗布溶液を使用してウエハーを調製したが、そこに使用
されている3.0pbw のN,O−ポリアセタールの代わ
りに、2.0pbw の、DE−A 3,730,787の
調製実施例1に準じて調製した、ベンズアルデヒド ジ
メチル アセタールおよび3−フェニルプロパノールか
ら調製したO,O−アセタールを使用した。次いで、こ
のウエハーを4.3 mJ/cm2 (キセノン−水銀蒸気ラン
プ)のエネルギーで画像を映す様に露光した。露光後焼
き付け(70℃で1分間)の後、現像を実施例1と同様
に行ったが、露光区域は70秒間以内に残留物を残さず
に除去された。
【0062】実施例6および7(比較例) 実施例4のレジスト配合を、そこに使用されている酸形
成化合物を、同量の2,4−ビストリクロロメチル−6
−(4−メトキシ−1−ナフチル)−1,3,5−トリ
アジン(DE−A 2718259の表2中の光反応開
始剤No. 3)またはそのDE−Aに規定されている方法
により調製した4,6,4' ,6' −テトラキストリク
ロロメチル−2,2' −p−フェニレンビス−1−1,
3,5−トリアジンで置き換えた。
成化合物を、同量の2,4−ビストリクロロメチル−6
−(4−メトキシ−1−ナフチル)−1,3,5−トリ
アジン(DE−A 2718259の表2中の光反応開
始剤No. 3)またはそのDE−Aに規定されている方法
により調製した4,6,4' ,6' −テトラキストリク
ロロメチル−2,2' −p−フェニレンビス−1−1,
3,5−トリアジンで置き換えた。
【0063】実施例6に記載する組成物に相当する塗布
溶液を調製すべく試みたが、酸形成化合物が実施例6に
規定する濃度ではレジスト溶剤に対する溶解性が不十分
であるために成功しなかった。光活性酸形成剤の濃度を
著しく下げることによってのみ均質な塗布溶液が得られ
た。しかし、これらのレジスト配合は、本発明に係わる
混合物と比較して感度が著しく低かった(>10 mJ/cm
2 )。
溶液を調製すべく試みたが、酸形成化合物が実施例6に
規定する濃度ではレジスト溶剤に対する溶解性が不十分
であるために成功しなかった。光活性酸形成剤の濃度を
著しく下げることによってのみ均質な塗布溶液が得られ
た。しかし、これらのレジスト配合は、本発明に係わる
混合物と比較して感度が著しく低かった(>10 mJ/cm
2 )。
【0064】被覆ウエハー(実施例7に記載する塗布溶
液で被覆した)に対する様々な照射実験により、感光性
に著しい差のあることが分かった。これらの感度の変動
は、±5%〜±10%のオーダーであった。乾燥工程
(軟焼き付け)(その後の露光は行なわずに)の前後に
HPLC(高圧液体クロマトグラフィー)を使用して塗
布溶液を分析した結果、かなりの量の酸形成化合物が層
から蒸発したことが分かった。この挙動のために、実際
の処理に必要な感光性の調整が事実上不可能である。本
発明に係わる放射感応性混合物の比較試験では、その様
な挙動はいずれの場合も観察されなかった。
液で被覆した)に対する様々な照射実験により、感光性
に著しい差のあることが分かった。これらの感度の変動
は、±5%〜±10%のオーダーであった。乾燥工程
(軟焼き付け)(その後の露光は行なわずに)の前後に
HPLC(高圧液体クロマトグラフィー)を使用して塗
布溶液を分析した結果、かなりの量の酸形成化合物が層
から蒸発したことが分かった。この挙動のために、実際
の処理に必要な感光性の調整が事実上不可能である。本
発明に係わる放射感応性混合物の比較試験では、その様
な挙動はいずれの場合も観察されなかった。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 クラウス‐イェルゲン、プルツィビラ ドイツ連邦共和国フランクフルト、ア ム、マイン、1、ベートーベンシュトラ ーセ、19 (56)参考文献 特開 昭53−133428(JP,A) 特開 昭61−166543(JP,A) 特開 昭61−169837(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G03F 7/039 G03F 7/004
Claims (8)
- 【請求項1】a)活性線放射に露出することにより強酸
を形成する化合物、 b)酸により開裂し得る少なくとも1個のC−O−Cま
たはC−O−Si結合を含む化合物、および c)水に不溶で、アルカリ水溶液に可溶である、または
少なくとも膨潤し得る重合体結合剤を含むポジ型放射感
応性混合物であって、化合物a)が、式Iおよび/また
は式II 【化1】 【化2】 (式中、Rは、所望によりさらに置換された(C1 〜C
10)アルキル、(C5 〜C10)シクロアルキル、(C6
〜C10)アリール、(C6 〜C10)アリール−(C1 〜
C10)アルキルまたは(C3 〜C9 )ヘテロアリール基
であり、R' は、所望により置換された(C1 〜C10)
アルキレン、(C6 〜C10)アリーレンまたは(C3 〜
C9 )ヘテロアリーレン基であり、nは1または2であ
る。)を有する、式R−SO3 HまたはR' (−SO3
H)2 のスルホン酸と2,4−ビストリクロロメチル−
6−(モノ−またはジヒドロキシフェニル)−1,3,
5−トリアジンのエステルであることを特徴とする、ポ
ジ型放射感応性混合物。 - 【請求項2】2,4−ビストリクロロメチル−6−ジヒ
ドロキシフェニル−1,3,5−トリアジンがスルホン
酸R−SO3 Hにより完全にエステル化されていること
を特徴とする、請求項1に記載するポジ型放射感応性混
合物。 - 【請求項3】基Rが、(C1 〜C8 )アルキル、(C1
〜C8 )アルコキシ、(C1 〜C8)アルカノイル、
(C1 〜C8 )アルカノイルオキシ、(C6 〜C10)ア
リール、シアノまたはハロゲンからなるグループから選
択された少なくとも一つの置換基により置換されている
ことを特徴とする、請求項1または2に記載するポジ型
放射感応性混合物。 - 【請求項4】化合物a)の比率が、混合物中の固体の総
重量の0.25〜15重量%、好ましくは0.5〜5重
量%であることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか
1項に記載するポジ型放射感応性混合物。 - 【請求項5】酸により開裂し得る少なくとも1個のC−
O−CまたはC−O−Si結合を含む化合物b)の比率
が、混合物中の固体の総重量の1〜50重量%、好まし
くは10〜40重量%であることを特徴とする、請求項
1〜4のいずれか1項に記載するポジ型放射感応性混合
物。 - 【請求項6】結合剤c)の吸収が、波長248nmの放射
に対して、0.35μm -1未満、好ましくは0.25μ
m -1未満であることを特徴とする、請求項1〜5のいず
れか1項に記載するポジ型放射感応性混合物。 - 【請求項7】化合物c)の比率が、混合物中の固体の総
重量の40〜95重量%、好ましくは50〜90重量%
であることを特徴とする、請求項1〜6のいずれか1項
に記載するポジ型放射感応性混合物。 - 【請求項8】基材および放射感応性層からなるポジ型放
射感応性記録材料であって、その層が請求項1〜7のい
ずれか1項に記載する放射硬化性混合物からなることを
特徴とする記録材料。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4120173A DE4120173A1 (de) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | Positiv arbeitendes strahlungsempfindliches gemisch und damit hergestelltes strahlungsempfindliches aufzeichnungsmaterial |
DE4120173.6 | 1991-06-19 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06148891A JPH06148891A (ja) | 1994-05-27 |
JP3086070B2 true JP3086070B2 (ja) | 2000-09-11 |
Family
ID=6434255
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04159786A Expired - Fee Related JP3086070B2 (ja) | 1991-06-19 | 1992-06-18 | ポジ型放射感応性混合物およびそれによって製造した放射感応性記録材料 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5364734A (ja) |
EP (1) | EP0519299B1 (ja) |
JP (1) | JP3086070B2 (ja) |
KR (1) | KR930001009A (ja) |
DE (2) | DE4120173A1 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4222968A1 (de) * | 1992-07-13 | 1994-01-20 | Hoechst Ag | Positiv-arbeitendes strahlungsempfindliches Gemisch und damit hergestelltes Aufzeichnungsmaterial |
DE4306152A1 (de) * | 1993-02-27 | 1994-09-01 | Hoechst Ag | Positiv arbeitendes strahlungsempfindliches Gemisch und damit hergestelltes Aufzeichnungsmaterial |
DE4402363C2 (de) * | 1994-01-27 | 1995-08-17 | Kunststoff Maschinen Handelsge | Verfahren zur chromatotropischen LASER-Beschriftung von Kunststoffen |
JP3549592B2 (ja) * | 1994-11-02 | 2004-08-04 | クラリアント インターナショナル リミテッド | 放射線感応性組成物 |
US5561029A (en) * | 1995-04-28 | 1996-10-01 | Polaroid Corporation | Low-volatility, substituted 2-phenyl-4,6-bis (halomethyl)-1,3,5-triazine for lithographic printing plates |
JPH0990621A (ja) * | 1995-09-21 | 1997-04-04 | Canon Inc | レジスト組成物、同組成物を用いるパターン形成方法、および半導体デバイスの製造方法 |
US6174646B1 (en) * | 1997-10-21 | 2001-01-16 | Konica Corporation | Image forming method |
US20070202186A1 (en) | 2006-02-22 | 2007-08-30 | Iscience Interventional Corporation | Apparatus and formulations for suprachoroidal drug delivery |
WO2007131050A2 (en) * | 2006-05-02 | 2007-11-15 | Georgia Tech Research Corporation | Method for drug delivery to ocular tissue using microneedle |
US8197435B2 (en) * | 2006-05-02 | 2012-06-12 | Emory University | Methods and devices for drug delivery to ocular tissue using microneedle |
WO2012051575A2 (en) | 2010-10-15 | 2012-04-19 | Iscience Interventional Corporation | Device for ocular access |
KR20150083117A (ko) | 2012-11-08 | 2015-07-16 | 클리어사이드 바이오메디컬, 인코포레이드 | 인간 대상체에서 안구 질병을 치료하기 위한 방법 및 장치 |
AU2014259694B2 (en) | 2013-05-03 | 2018-11-08 | Clearside Biomedical, Inc. | Apparatus and methods for ocular injection |
US10390901B2 (en) | 2016-02-10 | 2019-08-27 | Clearside Biomedical, Inc. | Ocular injection kit, packaging, and methods of use |
EP3452165A1 (en) | 2016-05-02 | 2019-03-13 | Clearside Biomedical, Inc. | Systems and methods for ocular drug delivery |
IL305537B2 (en) | 2016-08-12 | 2025-02-01 | Clearside Biomedical Inc | Devices and methods for adjusting the insertion depth of a needle for administering a drug |
WO2018204515A1 (en) | 2017-05-02 | 2018-11-08 | Georgia Tech Research Corporation | Targeted drug delivery methods using a microneedle |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3779778A (en) * | 1972-02-09 | 1973-12-18 | Minnesota Mining & Mfg | Photosolubilizable compositions and elements |
US4189323A (en) * | 1977-04-25 | 1980-02-19 | Hoechst Aktiengesellschaft | Radiation-sensitive copying composition |
DE2718259C2 (de) * | 1977-04-25 | 1982-11-25 | Hoechst Ag, 6000 Frankfurt | Strahlungsempfindliches Gemisch |
DE3144480A1 (de) * | 1981-11-09 | 1983-05-19 | Hoechst Ag, 6230 Frankfurt | Lichtempfindliches gemisch und daraus hergestelltes lichtempfindliches kopiermaterial |
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-
1991
- 1991-06-19 DE DE4120173A patent/DE4120173A1/de not_active Withdrawn
-
1992
- 1992-06-09 US US07/895,649 patent/US5364734A/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-06-09 EP EP92109653A patent/EP0519299B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1992-06-09 DE DE59209732T patent/DE59209732D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-06-18 KR KR1019920010562A patent/KR930001009A/ko not_active Application Discontinuation
- 1992-06-18 JP JP04159786A patent/JP3086070B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE59209732D1 (de) | 1999-09-16 |
JPH06148891A (ja) | 1994-05-27 |
DE4120173A1 (de) | 1992-12-24 |
EP0519299A1 (de) | 1992-12-23 |
EP0519299B1 (de) | 1999-08-11 |
KR930001009A (ko) | 1993-01-16 |
US5364734A (en) | 1994-11-15 |
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