JP3084982B2 - 半導体装置 - Google Patents
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Description
能付半導体素子を使用した半導体装置に関する。
用いた半導体装置が、インバータ装置,サーボ電動機用
駆動装置等のいわゆるパワーエレクトロニクスの分野に
広く適用されるようになってきている。図5は、カレン
トセンシング機能付半導体素子を用いた従来例の半導体
装置の要部の回路図である。
機能付半導体素子としてのIGBT(以降、センス機能
付IGBTと略称する。)であり、7は、センス機能付
IGBT6用の制御回路である。センス機能付IGBT
6は、一方の主電極としてのコレクタ用の端子6aと、
他方の主電極としてのエミッタ用の端子6bと、制御極
としてのゲート用の端子6cと、カレントセンシング部
6dの出力端子6eとを備え、制御回路7が出力する駆
動信号7aに従ってオン・オフ動作を行い、オン動作時
には端子6aから端子6bに向かうメイン電流6fを通
流させ、駆動信号7aがオフ信号に切り換わると、主電
流6fをオフする動作を行う。センス機能付IGBT6
に主電流6fが通流すると、カレントセンシング部6d
からはこの主電流6fに比例する値を有するセンシング
電流6gが流れ出し、このセンシング電流6gを出力端
子6eからセンス機能付IGBT6の外部に取り出すこ
とができる。
き、半導体基板61の一方の面に広い面積を持ってエミ
ッタ63が形成されており、このエミッタ63が形成さ
れた面に、ゲート64と、エミッタ63の面積に比較し
て充分狭い面積のカレントセンシング部6dも形成され
ている。なお、コレクタはこのエミッタ63が形成され
た面の反対側の面に形成されている。
センシング用抵抗器72と、必要に応じて設けられるゲ
ート抵抗器73と、主電流オフ指令回路74と、主電流
制限回路75とで構成されている。駆動回路71は、図
示しない前置制御回路装置から出力された動作指令信号
7bと主電流オフ指令回路74の出力する運転停止指令
信号7fを入力し、常時は信号7bに従ってセンス機能
付IGBT6をオン・オフする信号7aをゲート抵抗器
73を介して出力し、信号7fが入力された場合には信
号7bのいかんにかかわらず信号7aをセンス機能付I
GBT6をオフさせる信号に切換えて、センス機能付I
GBT6の他方の主電極と制御極の間の電圧をほぼ零に
することによりセンス機能付IGBT6をオフさせる回
路である。
値;Rs を有しており、センシング電流6gを通流させ
てセンシング電流6gに比例した、従って主電流6fに
比例した値となる検出電圧;V6 を生成する。主電流オ
フ指令回路74は、比較器741と、判定基準値である
基準電圧源742を備えており、基準電圧源742の電
圧;E1 は、正常時の主電流6fの値に対応する検出電
圧(V6 )の値よりも高い電圧値に選定されている。検
出電圧(V6 )の値が基準電圧(E1 )を超過すると、
主電流オフ指令回路74はセンス機能付IGBT4に過
大な電流が通流していると判定して信号7fを出力す
る。
タ751と、NPNトランジスタ751のコレクタにそ
のアノードが接続された定電圧ダイオード752とで構
成され、NPNトランジスタ751のベースには検出電
圧(V6 )が入力される。検出電圧(V6 )の値が基準
電圧(E1 )を越えて上昇してNPNトランジスタ75
1のしきい電圧;Vthを越えると、NPNトランジスタ
751はオンとなり、センス機能付IGBT6のゲート
64とエミッタ63間の電圧を定電圧ダイオード752
のツェナー電圧値に低減する。
されているので、駆動回路71で信号7bに従う信号7
aをセンス機能付IGBT6に出力する。オン信号であ
るハイレベル(以降、「H」と略称する。)の信号7a
を受け取ったセンス機能付IGBT6はオンして主電流
6fの図示しない負荷装置への供給を開始する。また、
オフ信号であるロウレベル(以降、「L」と略称す
る。)の信号7aを受け取ったセンス機能付IGBT6
は負荷装置への主電流6fの供給を停止する。信号7a
がオン信号である際に、何らかの理由で主電流6fの値
が増大して、カレントセンシング用抵抗器72の発生す
る検出電圧(V6 )の値が基準電圧(E1 )を超過する
と、これを主電流オフ指令回路74で検出して信号7f
を出力する。信号7fを入力した駆動回路71は、信号
7aを「L」信号に切換えて出力し、センス機能付IG
BT6を強制的にオフする。また、負荷装置等に短絡等
の事故が発生して主電流6fの値が短時間の間に急激に
増大したような場合には、主電流オフ指令回路74から
駆動回路71を経てセンス機能付IGBT6に伝達され
る信号伝達経路では、動作遅れが有り短絡電流の急激な
増大に追随することができないため、センス機能付IG
BT6等に過大な電流がこの遅れ時間の間流れ続けるこ
とがある。この場合には、応答速度の速い主電流制限回
路75により検出し、センス機能付IGBT6の主電流
6fを許容できる値にまで急速に低減し、前記遅れ時間
の間保持する。前記遅れ時間を経ると信号7fによる駆
動回路71のオフ動作により、センス機能付IGBT6
はオフとなる。これらにより、センス機能付IGBT6
およびその負荷装置等を保護し、システム全体としての
適切な運用を可能としている。
る半導体装置においては、主電流オフ指令回路74が信
号7fを出力する際の主電流6fの値,すなわち過大電
流検出レベルの値をIoc、この時のセンシング電流6g
の値をiocとし、センシング電流6gと主電流6fの間
の比率をNとすると、基準電圧(E1 )に関し次の関係
が成り立つ。
がオンする際の主電流6fの値,すなわち短絡電流検出
レベルをIsct 、この時のセンシング電流6gの値をi
sct とすると、しきい電圧(Vth)に関し次の関係が成
り立つ。
としきい電圧(Vth)とをいったん定めてしまうと、I
ocの値とIsct の値は共にカレントセンシング用抵抗器
72の持つ抵抗値;Rs により決められることととな
り、Iocの値とIsct の値とを独立に設定することは不
可能である。このために、例えばIocの値を大きい値に
して大きな主電流6fの値まで使用可能にしようとする
と、Isctの値が大きい値になってしまい、短絡電流が
流れた場合にセンス機能付IGBT6が破壊してしまう
との問題がある。
なされたものであり、その目的は、Iocの値とIsct の
値とを独立に設定することが可能な半導体装置を提供す
ることにある。
は、 1)カレントセンシング機能付半導体素子と、制御回路
を備え、前記カレントセンシング機能付半導体素子は、
一方の主電極と、他方の主電極と、制御極と、カレント
センシング部を備え、前記一方の主電極から前記他方の
主電極に向かう主電流の値が前記制御極に入力された信
号により制御され、しかもこの主電流の値に対応したセ
ンシング電流が前記カレントセンシング部から取り出さ
れるものであり、前記制御回路は、駆動回路と、カレン
トセンシング抵抗器と、主電流オフ指令回路と、主電流
制限回路を備え、前記カレントセンシング抵抗器は、前
記センシング電流を通流させてこのセンシング電流に比
例する検出電圧を生成するものであり、前記主電流オフ
指令回路は、前記検出電圧を入力し、あらかじめ定めら
れた設定値と比較し検出電圧が設定値を超過した場合に
前記駆動回路が出力する信号を前記主電流をオフする内
容に切り換えさせるオフ指令信号を出力するものであ
り、前記駆動回路は、前記カレントセンシング機能付半
導体素子の備える前記制御極に前記主電流の値を制御す
る信号を出力するとともに、前記主電流オフ指令回路か
らの信号を入力しこの信号が前記オフ指令信号となった
場合に前記主電流をオフする信号に切り換えて出力する
ものであり、前記主電流制限回路は、前記検出電圧を入
力し、前記検出電圧があらかじめ定められた設定値を超
過した場合には前記制御極と前記他方の主電極との間の
電圧を抑制する動作を行うものである、半導体装置にお
いて、 カレントセンシング機能付半導体素子は、複数のカレン
トセンシング部を備え、制御回路は、異なる前記カレン
トセンシング部からのセンシング電流を主電流オフ指令
回路および主電流制限回路のそれぞれに別個に入力する
ものであり、主電流制限回路はトランジスタと該トラン
ジスタの導通により前記制御極と前記他方の主電極との
間の電圧を抑制する手段からなるものであること、また 2)カレントセンシング機能付半導体素子と、制御回路
を備え、前記カレントセンシング機能付半導体素子は、
一方の主電極と、他方の主電極と、制御極と、カレント
センシング部を備え、前記一方の主電極から前記他方の
主電極に向かう主電流の値が前記制御極に入力された信
号により制御され、しかもこの主電流の値に対応したセ
ンシング電流が前記カレントセンシング部から取り出さ
れるものであり、前記制御回路は、駆動回路と、カレン
トセンシング抵抗器と、主電流オフ指令回路と、主電流
制限回路を備え、前記カレントセンシング抵抗器は、前
記センシング電流を通流させてこのセンシング電流に比
例する検出電圧を生成するものであり、前記主電流オフ
指令回路は、前記検出電圧を入力し、あらかじめ定めら
れた設定値と比較し検出電圧が設定値を超過した場合に
前記駆動回路が出力する信号を前記主電流をオフする内
容に切り換えさせるオフ指令信号を出力するものであ
り、前記駆動回路は、前記カレントセンシング機能付半
導体素子の備える前記制御極に前記主電流の値を制御す
る信号を出力するとともに、前記主電流オフ指令回路か
らの信号を入力しこの信号が前記オフ指令信号となった
場合に前記主電流をオフする信号に切り換えて出力する
ものであり、前記主電流制限回路は、前記検出電圧を入
力し、この検出電圧があらかじめ定められた設定値を超
過した場合には前記制御極と前記他方の主電極との間の
電圧を抑制する動作を行うものである、半導体装置にお
いて、 制御回路の有するカレントセンシング抵抗器は、互いに
直列接続された複数の単位抵抗器を備えることで、互い
に異なる値の複数の検出電圧を生成するものであり、制
御回路の有する主電流オフ指令回路と主電流制限回路
は、それぞれ異なる前記検出電圧を入力するものであ
り、主電流制限回路はトランジスタと該トランジスタの
導通により前記制御極と前記他方の主電極との間の電圧
を抑制する手段からなること、さらにまた3)前記1項
または2項記載の手段において、 カレントセンシング機能付半導体素子を並列接続する場
合に、異なる前記カレントセンシング機能付半導体素子
が備えるカレントセンシング部同志を相互に並列接続し
たうえで、前記両カレントセンシング部からのセンシン
グ電流の和のセンシング電流を制御回路に入力する構成
とすること、により達成される。
如きカレントセンシング機能付半導体素子に複数のカレ
ントセンシング部を備え、制御回路は、前記カレントセ
ンシング部からのそれぞれ異なるセンシング電流に対応
した信号を主電流オフ指令回路および主電流制限回路の
それぞれに別個に入力し、主電流制限回路はトランジス
タと該トランジスタの導通によりカレントセンシング機
能付半導体素子の制御極と他方の主電極との間の電圧を
抑制する手段からなる構成とすることにより、センシン
グ電流を通流しこのセンシング電流に比例する検出電圧
を生成するカレントセンシング用抵抗器を、それぞれの
センシング電流毎に設けて、それぞれのカレントセンシ
ング用抵抗器の抵抗値を独立して選定することができる
ことにより、Iocの値とIsct の値の独立した設定を可
能とすることができるようになる。
ンシング機能付半導体素子と駆動回路とで構成された制
御回路の有するカレントセンシング抵抗器を、互いに直
列接続された複数の単位抵抗器で構成し、互いに異なる
値の複数の検出電圧を生成するものであり、制御回路の
有する主電流オフ指令回路と主電流制限回路は、それぞ
れ異なる前記検出電圧を入力し、主電流制限回路はトラ
ンジスタと該トランジスタの導通によりカレントセンシ
ング機能付半導体素子の制御極と他方の主電極との間の
電圧を抑制する手段からなる構成とすることにより、そ
れぞれの単位抵抗器から互いに異なる値の検出電圧を得
ることができるために、Iocの値とIsct の値の独立し
た設定を可能とすることができるようになる。
ンシング機能付半導体素子を並列接続する場合に、異な
るセンス機能付IGBTが備えるカレントセンシング部
同志を相互に並列接続したうえで、前記両カレントセン
シング部からのセンシング電流の和のセンシング電流を
制御回路に入力する構成とすることにより、各センシン
グ電流の和をカレントセンシング用抵抗器に通流し、こ
のカレントセンシング抵抗器の生成する検出電圧を主電
流オフ指令回路と主電流制限回路に供給することで、前
述の作用と共に、互いに並列接続されたセンス機能付I
GBTに通流する主電流値が同一にはならずあるばらつ
きを持っている場合であっても、個々のセンシング電流
の持つばらつきが平均化されることにより、カレントセ
ンシング用抵抗器に通流する各センシング電流の和の持
つばらつきが低減される。
説明する。実施例1;図1は、請求項1に対応する本発
明の一実施例による半導体装置の要部の回路図である。
図1において、図5に示した従来例の半導体装置と同一
部分には同じ符号を付し、その説明を省略する。
機能付半導体素子としてのセンス機能付IGBTであ
り、2は、センス機能付IGBT1用の制御回路であ
る。センス機能付IGBT1は、一方の主電極としての
コレクタ用の端子6aと、他方の主電極としてのエミッ
タ用の端子6bと、制御極としてのゲート用の端子6c
と、第1のカレントセンシング部1aの出力端子1b
と、第2のカレントセンシング部1cの出力端子1dと
を備え、制御回路2が出力する駆動信号7aに従ってオ
ン・オフ動作を行い、オン動作時には端子6aから端子
6bに向かう主電流6fを通流させ、駆動信号7aがオ
フ信号に切り換わると、主電流6fをオフする動作を行
う。センス機能付IGBT1に主電流6fが通流する
と、第1のカレントセンシング部1aからはこの主電流
6fに比例する値を有するセンシング電流1eが流れ出
し、このセンシング電流1eを出力端子1bからセンス
機能付IGBT1の外部に取り出すことができる。ま
た、第2のカレントセンシング部1cからは主電流6f
に比例する値を有するセンシング電流1fが流れ出し、
このセンシング電流1fを出力端子1dからセンス機能
付IGBT1の外部に取り出すことができる。
き、半導体基板11の一方の面に広い面積を持ってエミ
ッタ63が形成されており、このエミッタ63が形成さ
れた面に、ゲート64と、エミッタ63の面積に比較し
て充分狭い面積の第1のカレントセンシング部1aおよ
び第2のカレントセンシング部1bとが形成されてい
る。なお、コレクタはこのエミッタ63が形成された面
の反対側の面に形成されている。
回路7に対し、カレントセンシング用抵抗器72aを追
加して備えている。カレントセンシング用抵抗器72に
はセンシング電流1eを通流し、主電流6fに比例した
値となる検出電圧;V6 を生成させ、主電流オフ指令回
路74の備える比較器741に入力する。カレントセン
シング用抵抗器72aは抵抗値;Rsaを有しており、セ
ンシング電流1fを通流させてセンシング電流1fに比
例した、従って主電流6fに比例した値となる検出電
圧;V6aを生成する。この検出電圧(V6a)は、主電流
制限回路75の備えるNPNトランジスタ751のベー
スに入力される。検出電圧(V6a)の値がNPNトラン
ジスタ751のしきい電圧(Vth)を越えると、NPN
トランジスタ751はオンとなり、センス機能付IGB
T6のゲート64とエミッタ63間の電圧を定電圧ダイ
オード752のツェナー電圧値に低減する。
aがオン信号である際に、何らかの理由で主電流6fの
値が増大して過大電流検出レベル(Ioc)の値になる
と、カレントセンシング用抵抗器72の発生する検出電
圧(V6 )の値が基準電圧(E1 )になるので、これを
主電流オフ指令回路74で検出して信号7fを出力し、
駆動回路で信号7aを「L」信号に切換えて出力し、セ
ンス機能付IGBT6を強制的にオフする。また、負荷
装置等に短絡等の事故が発生して主電流6fの値が短時
間の間に急激に増大して短絡電流検出レベル(Isct )
の値になった場合には、検出電圧(V6a)の値がしきい
電圧(Vth)となり、検出電圧(V6a)を入力している
NPNトランジスタ751がオンすることにより、セン
ス機能付IGBT1の主電流6fを許容できる値にまで
急速に低減する。
)に関してはE1 =(Ioc/N)・Rs であり、しき
い電圧(Vth)に関してはVth=(Isct /N)・Rsa
である。カレントセンシング用抵抗器72,72aがそ
れぞれ独立しており、その抵抗値;Rsa,Rsaを独立し
て選定することができることにより、Iocの値とIsct
の値をそれぞれ独立して設定することが可能である。
ントセンシング用抵抗器72,72aの抵抗値;Rsa,
Rsaは異なる値であるとしてきたが、これに限定される
ものではなく、カレントセンシング用抵抗器72,72
aの抵抗値;Rsa,Rsaは同一値であってもよいもので
ある。実施例2;図3は、請求項2に対応する本発明の
一実施例による半導体装置の要部の回路図である。図3
において、図5に示した従来例の半導体装置と同一部分
には同じ符号を付し、その説明を省略する。
T6用の制御回路である。制御回路4は、図5に示した
従来例の制御回路7に対し、カレントセンシング用抵抗
器5を備えるようにしたものである。カレントセンシン
グ用抵抗器5は、それぞれ抵抗値;Rs51 と抵抗値;R
s52を持つ単位抵抗器51と単位抵抗器52とを互いに
直列接続して構成し、この単位抵抗器51,52の直列
接続回路に対し、センシング電流6gを通流させる回路
構成としている。単位抵抗器51には電圧(V51)が、
単位抵抗器52には電圧(V52)が生成される。電圧
(V51)は、主電流6fに比例した値の検出電圧;V5
であり、電圧(V51)と電圧(V52)の和は、主電流6
fに比例した値の検出電圧;V5aである。検出電圧(V
5 )は、主電流オフ指令回路74の備える比較器741
に入力され、検出電圧(V5a)は、主電流制限回路75
の備えるNPNトランジスタ751のベースに入力され
る。
aがオン信号である際に、何らかの理由で主電流6fの
値が増大して過大電流検出レベル(Ioc)の値になる
と、検出電圧(V5 )の値が基準電圧(E1 )になるの
で、これを主電流オフ指令回路74で検出して信号7f
を出力し、駆動回路で信号7aを「L」信号に切換えて
出力し、センス機能付IGBT6を強制的にオフする。
また、負荷装置等に短絡等の事故が発生して主電流6f
の値が短時間の間に急激に増大して短絡電流検出レベル
(Isct )の値になった場合には、検出電圧(V5a)の
値がしきい電圧(Vth)となり、検出電圧(V5a)を入
力しているNPNトランジスタ751がオンすることに
より、センス機能付IGBT6の主電流6fを許容でき
る値にまで急速に低減する。
)に関してはE1 =(Ioc/N)・Rs51 であり、し
きい電圧(Vth)に関してはVth=(Isct /N)・
(Rs51+Rs52 )であるので、基準電圧(E1 )に対
しては、単位抵抗器51が生成した電圧で、しきい電圧
(Vth)に対しては、単位抵抗器51と単位抵抗器52
との直列接続回路が生成した電圧で対応する。このため
に、Iocの値とIsct の値をそれぞれ独立して設定する
ことが可能である。
発明の一実施例による半導体装置の要部の回路図であ
る。図4において、図1に示した本発明の一実施例によ
る半導体装置、および図5に示した従来例の半導体装置
と同一部分には同じ符号を付し、その説明を省略する。
図4に示した本発明による半導体装置は、図1に示した
本発明の半導体装置に対し、センス機能付IGBT1を
2個備えている点が相違している。2個のセンス機能付
IGBT1は、それぞれの端子6aと端子6bとにより
主電流6fが互いに並列に分岐して通流するよう接続さ
れている。また、出力端子1bと出力端子1dも互いに
接続されたうえで、それぞれカレントセンシング用抵抗
器72あるいはカレントセンシング用抵抗器72aに接
続されている。
トセンシング用抵抗器72には2個のセンス機能付IG
BT1からのセンシング電流1eの和が通流し、2個の
センス機能付IGBT1のそれぞれの主電流6fの和に
比例した値となる検出電圧(V6 )を生成させる。ま
た、カレントセンシング用抵抗器72aには2個のセン
ス機能付IGBT1からのセンシング電流1fの和が通
流し、2個のセンス機能付IGBT1のそれぞれの主電
流6fの和に比例した値となる検出電圧(V6a)を生成
させる。なお、検出電圧(V6 )および検出電圧(V6
a)の役割は図1に示した半導体装置の場合と同一であ
る。
回路74が信号7fを出力する際の主電流6fの値を、
一方のセンス機能付IGBT1についてはIoca、他方
のセンス機能付IGBT1についてはIocbとし、ま
た、主電流制限回路75のNPNトランジスタ751が
オンする際の主電流6fの値を、一方のセンス機能付I
GBT1についてはIsct a、他方のセンス機能付IG
BT1についてはIsctbとすると、基準電圧(E1 )
に関してはE1 =〔(Ioca+Ioc b)/N〕・Rs で
あり、しきい電圧(Vth)に関してはVth=〔(Isct
a+Isct b)/N〕・Rsaである。
付IGBT1に通流する主電流6fの値が同一にはなら
ずあるばらつきを持っている場合であっても、個々のセ
ンシング電流1e,1fの持つばらつきが平均化される
ことにより、カレントセンシング用抵抗器72,72a
に通流する各センシング電流の和の持つばらつきは低減
されることとなる。
ス機能付IGBT1の並列接続される個数は2個である
としてきたが、これに限定されるものではなく、センス
機能付IGBT1の並列接続される個数は3個以上であ
ってもよいものである。また、実施例3における今まで
の説明では、センス機能付IGBTは複数のカレントセ
ンシング部を備えたものであり、カレントセンシング用
抵抗器はそれぞれのカレントセンシング部からのセンシ
ング電流に対応させて備えるとしてきたが、これに限定
されるものではなく、例えば、センス機能付IGBTの
備えるカレントセンシング部は1個であり、カレントセ
ンシング用抵抗器も1個のみであってもよいものであ
る。
センシング機能付半導体素子はセンス機能付IGBTで
あるとしてきたが、これに限定されるものではなく、例
えば、カレントセンシング機能付のMOSFETであっ
てもよいものである。
グ機能付半導体素子に複数のカレントセンシング部を備
え、制御回路は、前記カレントセンシング部からのそれ
ぞれ異なるセンシング電流に対応した信号を主電流オフ
指令回路および主電流制限回路のそれぞれに入力し、主
電流制限回路はトランジスタと該トランジスタの導通に
よりカレントセンシング機能付半導体素子の制御極と他
方の主電極との間の電圧を抑制する手段からなる構成と
することにより、あるいは、カレントセンシング機能付
半導体素子と駆動回路とで構成された制御回路の有する
カレントセンシング抵抗器を、互いに直列接続された複
数の単位抵抗器で構成し、互いに異なる値の複数の検出
電圧を生成するものであり、制御回路の有する主電流オ
フ指令回路と主電流制限回路は、それぞれ異なる前記検
出電圧を入力し、主電流制限回路はトランジスタと該ト
ランジスタの導通によりカレントセンシング機能付半導
体素子の制御極と他方の主電極との間の電圧を抑制する
手段からなる構成とすることにより、カレントセンシン
グ機能付半導体素子のIocの値とIsct の値とをそれぞ
れ独立して設定することが可能となることになり、半導
体素子をIocの値を大きい値にして大きな主電流値まで
の使用を可能になしえ、その際、Isct の値を半導体素
子の短絡電流耐量以内の値に設定することで、短絡電流
による半導体素子が破壊する問題を解消することができ
る。
並列接続する場合に、異なる半導体素子が備えるカレン
トセンシング部同志を相互に並列接続したうえで、前記
両カレントセンシング部からのセンシング電流の和のセ
ンシング電流を制御回路に入力する構成とすることによ
り、各センシング電流の和をカレントセンシング用抵抗
器に通流し、このカレントセンシング抵抗器の生成する
検出電圧を主電流オフ指令回路と主電流制限回路に供給
することで、に前述した作用・効果と共に、互いに並
列接続された半導体素子に通流する主電流の値が同一に
はならずあるばらつきを持っている場合であっても、個
々のセンシング電流の持つばらつきが平均化されること
により、カレントセンシング用抵抗器に通流する各セン
シング電流の和の持つばらつきが低減される。これによ
り、主電流オフ指令回路や主電流制限回路が動作する際
の主電流の総和値を大きくすることができたり、一部の
半導体素子に過大な短絡電流が流れてしまう等の問題が
解消されるとの効果を奏する。
導体装置の要部の回路図
体素子の構造を示す平面図
導体装置の要部の回路図
導体装置の要部の回路図
体素子の構造を示す平面図
T) 1e センシング電流 1f センシング電流 2 制御回路 4 制御回路 5 カレントセンシング抵抗器 51 単位抵抗器 52 単位抵抗器 6 カレントセンシング機能付半導体素子(IGB
T) 6f 主電流 71 駆動回路 72 カレントセンシング抵抗器 72a カレントセンシング抵抗器 74 主電流オフ指令回路 75 主電流制限回路 751 NPNトランジスタ V6 検出電圧 V6 a 検出電圧
Claims (3)
- 【請求項1】カレントセンシング機能付半導体素子と、
制御回路を備え、 前記カレントセンシング機能付半導体素子は、一方の主
電極と、他方の主電極と、制御極と、カレントセンシン
グ部を備え、 前記一方の主電極から前記他方の主電極に向かう主電流
の値が前記制御極に入力された信号により制御され、し
かもこの主電流の値に対応したセンシング電流が前記カ
レントセンシング部から取り出されるものであり、 前記制御回路は、駆動回路と、カレントセンシング抵抗
器と、主電流オフ指令回路と、主電流制限回路を備え、前記カレントセンシング抵抗器は、前記センシング電流
を通流させてこのセンシング電流に比例する検出電圧を
生成するものであり、 前記主電流オフ指令回路は、前記検出電圧を入力し、あ
らかじめ定められた設定値と比較し検出電圧が設定値を
超過した場合に前記駆動回路が出力する信号を前記主電
流をオフする内容に切り換えさせるオフ指令信号を出力
するものであり、 前記駆動回路は、前記カレントセンシング機能付半導体
素子の備える前記制御極に前記主電流の値を制御する信
号を出力するとともに、前記主電流オフ指令回路からの
信号を入力しこの信号が前記オフ指令信号となった場合
に前記主電流をオフする信号に切り換えて出力するもの
であり、 前記主電流制限回路は、前記検出電圧を入力し、前記検
出電圧があらかじめ定められた設定値を超過した場合に
は前記制御極と前記他方の主電極との間の電圧を抑制す
る動作を行うものである、 半導体装置において、 カレントセンシング機能付半導体素子は、複数のカレン
トセンシング部を備え、 制御回路は、異なる前記カレントセンシング部からのセ
ンシング電流に対応した信号を主電流オフ指令回路およ
び主電流制限回路のそれぞれに別個に入力するものであ
り、主電流制限回路はトランジスタと該トランジスタの
導通により前記制御極と前記他方の主電極との間の電圧
を抑制する手段からなることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】カレントセンシング機能付半導体素子と、
制御回路を備え、 前記カレントセンシング機能付半導体素子は、一方の主
電極と、他方の主電極と、制御極と、カレントセンシン
グ部を備え、 前記一方の主電極から前記他方の主電極に向かう主電流
の値が前記制御極に入力された信号により制御され、し
かもこの主電流の値に対応したセンシング電流が前記カ
レントセンシング部から取り出されるものであり、 前記制御回路は、駆動回路と、カレントセンシング抵抗
器と、主電流オフ指令回路と、主電流制限回路を備え、 前記カレントセンシング抵抗器は、前記センシング電流
を通流させてこのセンシング電流に比例する検出電圧を
生成するものであり、 前記主電流オフ指令回路は、前記検出電圧を入力し、あ
らかじめ定められた設定値と比較し検出電圧が設定値を
超過した場合に前記駆動回路が出力する信号を前記主電
流をオフする内容に切り換えさせるオフ指令信号を出力
するものであり、前記駆動回路は、前記カレントセンシ
ング機能付半導体素子の備える前記制御極に前記主電流
の値を制御する信号を出力するとともに、前記主電流オ
フ指令回路からの信号を入力しこの信号が前記オフ指令
信号となった場合に前記主電流をオフする信号に切り換
えて出力するものであり、 前記主電流制限回路は、前記検出電圧を入力し、この検
出電圧があらかじめ定められた設定値を超過した場合に
は前記制御極と前記他方の主電極との間の電圧を抑制す
る動作を行うものである、 半導体装置において、 制御回路の有するカレントセンシング抵抗器は、互いに
直列接続された複数の単位抵抗器を備えることで、互い
に異なる値の複数の検出電圧を生成するものであり、 制御回路の有する主電流オフ指令回路と主電流制限回路
は、それぞれ異なる前記検出電圧を入力するものであ
り、主電流制限回路はトランジスタと該トランジスタの
導通により前記制御極と前記他方の主電極との間の電圧
を抑制する手段か らなることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項3】請求項1または請求項2記載の半導体装置
において、 カレントセンシング機能付半導体素子を並列接続する場
合に、異なる前記カレントセンシング機能付半導体素子
が備えるカレントセンシング部同志を相互に並列接続し
たうえで、前記両カレントセンシング部からのセンシン
グ電流の和のセンシング電流を制御回路に入力するもの
である、 ことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04313825A JP3084982B2 (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | 半導体装置 |
EP93309339A EP0599605A3 (en) | 1992-11-25 | 1993-11-23 | Semiconductor device with a strop sensor function. |
US08/156,585 US5396117A (en) | 1992-11-25 | 1993-11-23 | Semiconductor device with independent over-current and short-circuit protection |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04313825A JP3084982B2 (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06164344A JPH06164344A (ja) | 1994-06-10 |
JP3084982B2 true JP3084982B2 (ja) | 2000-09-04 |
Family
ID=18045969
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04313825A Expired - Fee Related JP3084982B2 (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | 半導体装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5396117A (ja) |
EP (1) | EP0599605A3 (ja) |
JP (1) | JP3084982B2 (ja) |
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