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JP3066192B2 - 反射型アクティブマトリクス基板の製造方法 - Google Patents

反射型アクティブマトリクス基板の製造方法

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Publication number
JP3066192B2
JP3066192B2 JP4184084A JP18408492A JP3066192B2 JP 3066192 B2 JP3066192 B2 JP 3066192B2 JP 4184084 A JP4184084 A JP 4184084A JP 18408492 A JP18408492 A JP 18408492A JP 3066192 B2 JP3066192 B2 JP 3066192B2
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JP
Japan
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substrate
convex portion
electrode
forming
polymer resin
Prior art date
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JP4184084A
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English (en)
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JPH0627481A (ja
Inventor
精一 三ツ井
久和 中村
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=16147121&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP3066192(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP4184084A priority Critical patent/JP3066192B2/ja
Priority to TW087208836U priority patent/TW540747U/zh
Priority to US08/019,474 priority patent/US5418635A/en
Priority to EP93301220A priority patent/EP0557110B1/en
Priority to KR1019930002327A priority patent/KR100187329B1/ko
Priority to DE69314197T priority patent/DE69314197T2/de
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Publication of JP3066192B2 publication Critical patent/JP3066192B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、バックライトを使用し
ない反射型液晶表示装置などに用いられる反射型アクテ
ィブマトリクス基板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、ワードプロセッサ、ラップトップ
パソコン、ポケットテレビ等への液晶表示装置の応用が
急速に進展している。特に、液晶表示装置の中でも、外
部から入射した光を反射させて表示を行う反射型液晶表
示装置は、バックライトが不要であるため消費電力が低
く、薄型、軽量化が可能であるので注目されている。そ
のような反射型液晶表示装置には、従来よりTN(ツイ
ステッドネマティック)方式、STN(スーパーツイス
テッドネマティック)方式が用いられている。
【0003】しかし、これらの方式では、液晶表示装置
に添設される直線偏光子により必然的に自然光の光強度
の1/2が表示に利用されないため表示が暗くなる。そ
こで、自然光の全ての光線を有効に利用しようとする表
示モードが提案されている。その1つとして相転移型ゲ
スト・ホスト方式が挙げられる(D.L.Whitea
nd G.N.Taylor.J.Appl.Phy
s.45 47181974)。
【0004】この方式の表示モードを有する液晶表示装
置は、電界によるコレステッリク・ネマチック相転移現
象が利用され、直線偏光子等の偏光板を必要としない。
かかる液晶表示装置に更にマイクロカラーフイルタを組
み合わせた反射型マルチカラーディスプレイも提案され
ている(Tatsuo Uchida etc Pro
ceedings of the SID Vol.
29 157 1988)。
【0005】このような偏光板を必要としない表示モー
ドで、更に明るい表示を得る為には、あらゆる角度から
の入射光に対して表示画面に垂直な方向へ散乱する光の
強度を増加させる必要がある。そのためには反射板上の
反射特性を制御し、最適な反射特性を有する反射板を製
造することが必要になる。上述の反射型マルチカラーデ
ィスプレイを提案した文献では、絶縁性のガラス基板の
表面に形成される凹凸の形状を制御し、その凹凸となっ
たガラス基板上にAg等の金属薄膜を形成した反射板に
ついて記載されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記提
案の反射板は、ガラス基板の表面を研磨材によって傷付
けて凹凸形状とするので、均一な形状の凹凸部が形成さ
れず、形状の再現性が悪いという欠点がある。また、こ
のようなガラス基板を用いると、良好な反射特性を有す
る反射型液晶表示装置を安定して提供することができな
い。
【0007】そこで、本願出願人は上記欠点を改善すべ
く以下の反射板を提案している(特願平3−4573
号)。この反射板は、絶縁性基板に感光性樹脂を塗布し
てパターン化し、更に熱処理を行ってパターン部分の上
縁部を丸くなるように角落しを行い、その後、パターン
が形成された絶縁性基板の上に高分子樹脂を流して高分
子樹脂膜を形成し、この高分子樹脂膜の上に光反射機能
を有する反射薄膜を形成することにより作製される。
【0008】このようにして作製された反射板は、反射
薄膜の表面が滑らかであるため多重反射が少なく明るい
ものとなる。しかし、パターンの形成がない絶縁性基板
部分の上の反射薄膜が平坦となっていることがあり、場
合によっては波長依存性のある反射光が生じて干渉色が
発生するという問題があった。
【0009】本発明は、このような従来技術の問題を解
決すべくなされたものであり、波長依存性が少ない良好
な反射特性を有し、しかも再現性良く反射特性が得られ
反射型アクティブマトリクス基板の製造方法を提供す
ることを目的としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の反射型アクティ
ブマトリクス基板の製造方法は、絶縁性基板上に、光反
射機能を有する材料からなる絵素電極がマトリクス状に
配設され、該絵素電極の上表面が連続する波状に形成さ
れた反射型アクティブマトリクス基板の製造方法であっ
て、該絵素電極の形成箇所に少なくとも2以上の高さを
異ならせた凸部を形成する工程と、該凸部を形成した基
板の上に、連続した波状をした上表面を有する高分子樹
脂膜を形成する工程と、該高分子樹脂膜の上に光反射機
能を有する材料からなる絵素電極を形成する工程と、を
含むことを特徴としており、そのことにより上記目的が
達成される。本発明の反射型アクティブマトリクス基板
の製造方法は、絶縁性基板上に、光反射機能を有する材
料からなる絵素電極がマトリクス状に配設され、該絵素
電極の上表面が連続する波状に形成された反射型アクテ
ィブマトリクス基板の製造方法であって、該絵素電極の
形成箇所に少なくとも2以上の高さを異ならせた凸部を
高分子樹脂を用いて形成する工程と、該凸部を形成した
基板に加熱処理を施し、該凸部を形成する高分子樹脂を
軟化し、該凸部の角部を丸くする工程と、該凸部の上に
光反射機能を有する材料からなる絵素電極を形成する工
程と、を含むことを特徴としており、そのことにより上
記目的が達成される。本発明の反射型アクティブマトリ
クス基板の製造方法は、絶縁性基板上に、光反射機能を
有する材料からなる絵素電極がマトリクス状に配設さ
れ、該絵素電極の上表面が連続する波状に形成された反
射型アクティブマトリクス基板の製造方法であって、該
絵素電極の形成箇所に、少なくとも2以上の直径を異な
らせた円形がランダムに配置されたフォトマスクを用い
て、少なくとも2以上の高さを異ならせた凸部を光学的
に形成する工程と、該凸部の上に光反射機能を有する材
料からなる絵素電極を形成する工程と、を含むことを特
徴としており、そのことにより上記目的が達成される。
【0011】
【0012】
【0013】
【0014】
【作用】干渉光の発生は、図6により説明される。この
図は、ガラス基板側から光が入射し、その入射光が反射
膜で反射されてガラス基板から出射する状態を示してい
る。この場合において、干渉光の発生は、入射角θiで
入射した光が反射膜の凸部上と麓部で反射され、出射角
θoで出射する場合に起こると考えられる。そのときの
両光の光路差δは下記1式により表わされる。
【0015】 δ=Lsinθi+h(1/cosθi’+1/cosθo’)・n −{Lsineθo+h(tanθi’+tanθo’)sinθo} =L(sinθi−sinθo)+h{(1/cosθi’+1/cosθo ’)・n−(tanθi’+tanθo’)sinθo} …(1) 但し、θi’は反射膜の麓部での入射角 θo’は反射膜の麓部での出射角 Lは両光のガラス基板への入射点間の距離 hは両光が反射される反射膜の凸部の麓部に対する高さ nはガラス基板の屈折率 この1式は、θi=θo、θi’=θo’のときにのみ
計算できるから、このときθi=θo=θ、θi’=θ
o’=θ’とすると、光路差δは下記2式として表され
る。
【0016】 δ=h{2n/cosθ’−2tanθ’・sinθ} …(2) 一方、任意の波長λ1とλ2を考慮すると、δ/λ1=m
±1/2(mは整数)のとき弱め合い、δ/λ2=m の
とき強め合う。よって、下記3式が成り立つ。
【0017】 δ(1/λ1−1/λ2)=1/2…(3) この3式は、下記4式としても表される。
【0018】 δ=(λ1・λ2)/2・(λ2−λ1)…(4) したがって、上記2式と4式とにより、高さhは下記5
式で表される。
【0019】 h=1/2・{(λ1・λ2)/(λ2−λ1)} ・{cosθ’/(2n−2sinθ’・sinθ)}…(5) 以上のことより、本願発明者らは、干渉色を無くすため
には反射膜の反射面を連続する波状に形成すればよいこ
とを知見した。
【0020】そこで、本発明は、このような反射膜を形
成する方法として、少くとも2以上で高さが異なる凸部
を板状のベース部材の上に形成し、更に、その凸部を有
するベース部材の上に高分子樹脂膜を作成し、その上に
光反射機能を有する材料で反射薄膜を形成するようにし
た。
【0021】このようにして形成される反射薄膜をアク
ティブマトリクス基板の絵素電極に適用すると、その絵
素電極は反射面が連続する波状となっているので、反射
した光の干渉がなくなる。また、凸部をフォトマスクを
用いて光学的に形成する場合は、光照射条件を同一にす
ると再現性よく凸部の形成が可能となる。
【0022】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を用いて
詳細に説明する。
【0023】図1は本発明アクティブマトリクス基板の
一実施例の平面図を示し、図2は図1のA−A線に於け
る断面図を示す。この反射型アクティブマトリクス基板
20は、絶縁性基板であるガラス基板11の上に、走査
線としての複数のゲートバスライン22及び信号線とし
てのソースバスライン24が相互に交差して設けられて
いる。各ゲートバスライン22及び各ソースバスライン
24によって囲まれた矩形状の領域内には光反射機能を
有する絵素電極19が配置されている。各絵素電極19
が配置された領域内の隅部には、ゲートバスライン22
から絵素電極19に向かって延設されたゲート電極23
が分岐されており、ゲート電極23の先端部分にスイッ
チング素子として薄膜トランジスタ(TFT)21が形
成されている。上記ゲート電極23はTFT21の一部
を構成する。
【0024】ソースバスライン24からは絵素電極19
に向かって延出するソース電極25が配置されており、
ソース電極25の先端部がゲート電極23上に絶縁状態
で重畳されて、各TFT21の一部を構成する。ゲート
電極23の上には、ソース電極25とは間隔を空け、か
つ、ゲート電極23とは絶縁状態で重畳してTFT21
のドレイン電極26が設けられており、ドレイン電極2
6が絵素電極19にそれぞれ電気的に接続されている。
【0025】TFT21は、図2に示すように、ガラス
基板11の上に形成された上記ゲート電極23の上方に
配設されている。ゲート電極23は、ガラス基板11の
全体に積層されたゲート絶縁膜11aによって覆われ、
ゲート絶縁膜11aの上には、ゲート電極23の上方を
覆うように半導体層27が積層されている。この半導体
層27上の両端部を覆って一対のコンタクト層28、2
8が形成層され、一方のコンタクト層28の上に上記ソ
ース電極25が、他方のコンタクト層28の上に上記ド
レイン電極26が形成されている。
【0026】一方、上述した光反射機能を有する絵素電
極19の下には、ガラス基板11の上に交互に形成した
高さの高い凸部14a及び高さの低い凸部14bと、こ
れら凸部14a及び14bの上に形成された高分子樹脂
膜15とが存在する。この高分子樹脂膜15の上表面
は、上述した凸部14a及び14bの存在により、連続
する波状となっている。高分子樹脂膜15は、絵素電極
19の下方だけでなくガラス基板11のほぼ全面にわた
って形成されており、材質としては本実施例では例え
ば、東京応化社製のOFPR−800を使用している。
上記凸部14a及び14bの上に存在し、上表面が連続
する波状となっている高分子樹脂膜15部分の上に、上
述した絵素電極19が形成され、この絵素電極19は光
反射機能を有する、例えばAlにより形成されている。
なお、絵素電極19はコンタクトホール29を介してド
レイン電極26と電気的に接続されている。
【0027】次に、上記反射型アクティブマトリクス基
板の要部である絵素電極19の形成方法を図3に基づい
て説明する。
【0028】まず、図3(a)に示すように、ガラス基
板11の上に、光感光性樹脂からなるレジスト膜12を
スピンコート方式により形成する。本実施例では、ガラ
ス基板11としては、例えばコーニング社製の商品名が
7059である厚さ1.1mmのものを用いた。また、
レジスト膜12としては、高分子樹脂膜15と同一の材
料である上述したOFPR−800の光感光性樹脂を、
好ましくは500r.p.m.から3000r.p.
m.のスピンコート方式で形成している。本実施例では
1500r.p.m.で30秒スピンコートし、レジス
ト膜12の厚さは2.5μmとした。
【0029】次に、レジスト膜12が形成されたガラス
基板11を、例えば90℃で30分プリベークする。続
いて、図4に示すように、例えば板体13cに2種類の
円形のパターン孔13a、13bが形成されているフォ
トマスク13を使用し、このフォトマスク13を、図3
(b)に示すようにレジスト膜12の上方に配置して、
このフォトマスク13の上方から図の矢印で示すように
露光する。なお、本実施例のフォトマスク13は、直径
5μmの円形をしたパターン孔13aと、直径3μmの
円形をしたパターン孔13bとがランダムに配置されて
おり、相互に近接するパターン孔の間隔は、少なくとも
2μm以上離隔されている。但し、余り離隔し過ぎる
と、高分子樹脂膜15の上表面が連続する波状となり難
い。
【0030】次に、例えば東京応化社製のNMD−3か
らなる濃度2.38%の現像液を使用して現像を行う。
これにより、図3(c)に示すように、ガラス基板11
の一方の表面に、高さの異なる微細な凸部14a′、1
4b′が多数個形成される。これら凸部14a′、14
b′は上縁が角張っている。本実施例では、直径5μm
のパターン孔13aによって高さ2.48μmの凸部1
4aが形成され、直径3μmのパターン孔13bによっ
て高さ1.64μmの凸部14bが形成された。これら
の凸部14a′、14b′の高さは、パターン孔13
a、13bの大きさ、露光時間、現像時間によって変化
させることが可能であり、パターン孔13a、13bの
大きさとしても、上述のサイズに限定されない。
【0031】次に、図3(d)に示すように、凸部14
a′、14b′を形成したガラス基板11を200℃で
1時間加熱して熱処理を行う。これによって、図3
(c)に示したように上端部に角部を有する現像された
ままの凸部14a′、14b′を軟化させて、前記角部
が丸くなった、つまり角落しされた断面略円形状の凸部
14a、14bを形成する。
【0032】次に、図3(e)に示すように、熱処理が
済んだガラス基板11の上に、高分子樹脂をスピンコー
トして高分子樹脂膜15を形成する。高分子樹脂として
は、上述したOFPR−800を使用し、好ましくは1
000r.p.m.〜3000r.p.m.でスピンコ
ートする。本実施例では、2000r.p.m.でスピ
ンコートした。これにより、凸部14a、14bの形成
がないガラス基板11の上の部分が平坦であっても、上
表面が連続する波状をした高分子樹脂膜15が形成され
る。
【0033】最後に、この高分子樹脂膜15の上の所定
箇所にAlからなる絵素電極19を、例えばスパッタリ
ングすることにより形成した。絵素電極19に使用する
に適した材料としては、Alの他に、光反射機能を有す
るNi、Cr、Ag等を挙げることができ、絵素電極1
9の厚さとしては、0.01〜1.0μm程度が適して
いる。
【0034】このようにして形成された光反射機能を有
する絵素電極19は、上述したように高分子樹脂膜15
がその上表面を連続する波状となして形成されているの
で、同様に上表面が連続する波状となる。
【0035】ところで、上表面が連続する波状となった
光反射機能を有する絵素電極19からの反射光の波長依
存性を図5に示すようにして測定した。その測定条件と
して被測定側は、実際の液晶表示装置における絵素電極
19の使用状態を想定した構成となっている。具体的に
は、ガラス基板として、実際の液晶層に対する屈折率と
ほぼ等しくなる屈折率が1.5のガラス製のダミーガラ
ス18を使用し、このダミーガラス18を、絵素電極1
9が形成されたアクティブマトリクス基板の上に、屈折
率が1.5である紫外線硬化接着剤17を用いて接着し
た状態となしている。
【0036】一方、測定側は、上記ダミーガラス18上
の法線m1に対して、入射角θiで入射光L1’が入射
するように光源L1を配し、また法線m2に対して受光
角θoの方向に反射する一定角度の光を捉えるべくフォ
トマルチメータL2を配している。よって、フォトマル
チメータL2は、入射光L1’が入射角θiでダミーガ
ラス18に入射して反射された散乱光のうち、受光角θ
oで反射する散乱光L2’の強度を捉える。本実施例で
は、光源L1から発せられた光がダミーガラス18の表
面で反射される正反射光をフォトマルチメータL2が捉
えるのを避けるために、θi=30°、θi=20°の条
件で測定した。
【0037】なお、比較のために、図7(a)に示すよ
うに形成した絵素電極19a(比較例1)及び図7
(b)に示すように形成した絵素電極19b(比較例
2)に対しても測定を行った。比較例1の絵素電極19
aは、角落しされた凸部14a、14bの上に高分子樹
脂膜を省略して直接に形成されており、凸部14a、1
4bの上方部分を除いて平坦部16aが存在する。比較
例2の絵素電極19bは、上端に角のある凸部14
a′、14b′の上に、間に高分子樹脂膜15を介して
形成されており、凸部14a′、14b′の上方部分が
略平坦に形成されている。両絵素電極19aと19b
は、共にAlを使用している。
【0038】図8は本実施例の反射光の波長依存性を示
し、図9(a)及び(b)は比較例1及び比較例2の反
射光の反射特性を示す。各図は、横軸に波長をとり、縦
軸に反射率をとっている。これらの図より理解されるよ
うに、いずれの比較例も反射率に波長依存性を帯びてお
り、干渉色が生じる欠点があるのに対し、本実施例では
反射率に波長依存性はほとんど認められず良好な白色を
している。なお、上述した条件で測定しているので、得
られた結果は、絵素電極19の表面と実際の液晶層との
境界に於ける反射特性と等価である。
【0039】なお、フォトマスク13のパターン孔13
a、13bの形状は、本実施例では円形としているが、
他の形でもよく、例えば長方形、楕円、ストライプ等任
意の形状であってもよい。
【0040】上記実施例では2つの高さが異なる凸部1
4aと14bとを形成しているが、本発明はこれに限ら
ず、3つ以上で高さが異なる凸部を形成してもよい。
【0041】本発明において、凸部の高さを2以上で変
化させているのは、以下の理由に依る。つまり、同じ高
さであると、隣合う2つの凸部の上に形成された絵素電
極の上表面において反射される光が干渉を起こし易くな
るからである。よって、本発明においては、凸部の高さ
を種々異なるようにすると、より波長依存性を無くする
ことができる。
【0042】但し、図1に示すように絵素電極19をゲ
ートバスライン22の一部やソースバスライン24の一
部に重畳して形成する場合、その重畳される絵素電極1
9のエッジ部には凸部を形成しない構成とするのが好ま
しい。そのようにすることにより絵素電極19のパター
ニング不良を無くすことが可能となる。また、そのよう
にすることによりゲートバスライン22及びソースバス
ライン24に対して絵素電極19を重畳して形成でき、
絵素電極19とゲートバスライン22との間隔や、絵素
電極19とソースバスライン24との間隔を無くするこ
とができるので、絵素電極19の面積を大きくできる利
点がある。絵素電極19の面積を大きくできると表示画
面の開口率が大きくなり、明るい表示が可能となる。し
かし、絶縁不良が問題となる時には、重畳部分には凸部
を形成しないのが好ましい。
【0043】なお、上記実施例では感光性樹脂材料とし
て東京応化社製のOFPR−800を用いているが、本
発明はこれに限るものではなく、ネガ型、ポジ型に拘ら
ず、露光プロセスを用いてパターニングできる感光性樹
脂材料であればよい。例えば、東京応化社製のOMR−
83、OMR−85、ONNR−20、OFPR−2、
OFPR−830、又はOFPR−500であってもよ
く、或はShipley社製のTF−20、1300−
27、又は1400−27であってもよい。更に、東レ
社製のフォトニース、積水ファインケミカル社製のRW
101、日本化薬社製のR101、R633等であって
もよい。
【0044】図10は、上記反射型アクティブマトリク
ス基板20を使用した反射型液晶表示装置10の一実施
例を示す。この反射型液晶表示装置10は、反射型アク
ティブマトリクス基板20に対向して対向基板30が設
けられ、これら基板20と30との間には、7μmのス
ペーサを混入した接着性シール剤をスクリーン印刷して
形成された液晶封止層(図示せず)にてシールされて液
晶層34が形成されている。
【0045】上記対向基板30は、ガラス基板33の上
に形成された絶縁性の補色カラーフィルタ板31と、こ
の補色カラーフィルタ板31の全面にITO(Indi
umTin Oxide)が厚み100nmで形成され
た透明電極32と、液晶配向膜33とが形成されてい
る。この液晶配向膜33は反射型アクティブマトリクス
基板20の液晶層34側の内面にも形成されている。
【0046】上記反射型アクティブマトリクス基板20
と対向基板30とは、それぞれの所定表面に液晶配向膜
33を塗布し、その後焼成することにより形成される。
また、液晶層34は液晶封止層を形成した後、真空脱気
することにより封入される。液晶層34には、例えば黒
色色素を混入したゲストホスト液晶であるメルク社製の
商品名がZL12327の液晶に、メルク社製の商品名
がS811である光学活性物質を4.5%混入したもの
を用いた。
【0047】かかる構成の反射型液晶表示装置10は、
絵素電極と対向電極とに電圧を印加した場合において、
角度30°で入射した光に対するガラス基板の法線方向
の反射率は約20%で、コントラスト比は5であり、ま
た干渉色は認められず、良好な白色表示が得られた。
【0048】本実施例の反射型液晶表示装置10では、
反射型のアクティブマトリクス基板20の絵素電極19
を形成した面が、液晶層34の側に面して配されている
ので視差が無くなり、良好な表示画面が得られる。
【0049】また、本実施例では反射型アクティブマト
リクス基板20の絵素電極19が液晶層34側、すなわ
ち液晶層34にほぼ隣接する位置に配されている構成と
なるので、凸部14a、14bの高さはセルの厚みより
小さくなし、また凸部14a、14bの傾斜角度は液晶
層34の配向を乱さない程度に緩やかにするのが望まし
い。
【0050】更に、絶縁性基板としては本実施例ではガ
ラス基板11を用いたが、Si基板のように不透明基板
でも同様な効果が発揮される。この場合には、回路をガ
ラス基板11上に集積できるメリットがある。
【0051】なお、前記実施例では表示モードとして相
転移型ゲスト・ホストモードを取り上げたがこれに限定
されない。例えば、2層式ゲスト・ホストの様な他の光
吸収モード、高分子分散型LCDのような、光散乱型表
示モード、強誘電性LCDで、使用される複屈折表示モ
ードなど、本発明に係わる反射型アクティブマトリクス
基板20及びその製造方法への適用は可能である。
【0052】上記実施例ではスイッチング素子としてT
FT21を用いているが、本発明はこれに限らず、他の
スイッチング素子、例えばMIM(Metal−Ins
ulater−Metal)素子、ダイオード、バリス
タ等を用いたアクティブマトリクス基板にも適用でき
る。
【0053】
【発明の効果】以上詳述したように本発明にあっては、
反射機能を有する絵素電極が連続する波状に形成されて
いるので、波長依存性を少なくでき、これにより干渉色
のない良好な白色面を有する表示ができる。また、凸部
をフォトマスクを用いて光学的手法により形成すると、
凸部を再現性よく形成でき、これにより得られる絵素電
極の上表面も再現性のよいものとなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施例の反射型アクティブマトリクス基板を
示す平面図。
【図2】図1のA−A線に於ける断面図。
【図3】図1の絵素電極の形成工程を示す断面図。
【図4】本実施例の反射型アクティブマトリクス基板を
製造する際に用いるフォトマスクを示す平面図。
【図5】光反射機能を有する絵素電極の反射特性の測定
方法を示す図。
【図6】光干渉の発生を示す概念図。
【図7】比較例1及び比較例2の絵素電極の断面図。
【図8】本実施例の絵素電極における波長依存性を示す
図。
【図9】比較例1、比較例2の絵素電極における波長依
存性を示す図。
【図10】本実施例に係る反射型液晶表示装置を示す断
面図。
【符号の説明】
10 反射型液晶表示装置 11 ガラス基板 12 レジスト膜 13 フォトマスク 13a パターン孔 13b パターン孔 14a′、14b′ 角のある凸部 14a、14b 角落しされた凸部 15 高分子樹脂膜 19 絵素電極 20 反射型アクティブマトリクス基板 21 TFT(薄膜トランジスタ) 22 ゲートバスライン 23 ゲート電極 24 ソースバスライン 25 ソース電極 26 ドレイン電極 27 半導体層 28 コンタクト層 29 コンタクトホール 30 対向電極 31 補色カラーフィルタ板 32 透明電極 33 液晶配向膜 34 液晶層
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−136085(JP,A) 特開 昭57−70585(JP,A) 特開 昭58−2821(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02F 1/1343 G02F 1/136

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁性基板上に、光反射機能を有する材
    料からなる絵素電極がマトリクス状に配設され、該絵素
    電極の上表面が連続する波状に形成された反射型アクテ
    ィブマトリクス基板の製造方法であって、 該絵素電極の形成箇所に少なくとも2以上の高さを異な
    らせた凸部を形成する工程と、 該凸部を形成した基板の上に、連続した波状をした上表
    面を有する高分子樹脂膜を形成する工程と、 該高分子樹脂膜の上に光反射機能を有する材料からなる
    絵素電極を形成する工程と、 を含む反射型アクティブマトリクス基板の製造方法。
  2. 【請求項2】 絶縁性基板上に、光反射機能を有する材
    料からなる絵素電極がマトリクス状に配設され、該絵素
    電極の上表面が連続する波状に形成された反射型アクテ
    ィブマトリクス基板の製造方法であって、 該絵素電極の形成箇所に少なくとも2以上の高さを異な
    らせた凸部を高分子樹脂を用いて形成する工程と、 該凸部を形成した基板に加熱処理を施し、該凸部を形成
    する高分子樹脂を軟化し、該凸部の角部を丸くする工程
    と、 該凸部の上に光反射機能を有する材料からなる絵素電極
    を形成する工程と、 を含む反射型アクティブマトリクス基板の製造方法。
  3. 【請求項3】 絶縁性基板上に、光反射機能を有する材
    料からなる絵素電極がマトリクス状に配設され、該絵素
    電極の上表面が連続する波状に形成された反射型アクテ
    ィブマトリクス基板の製造方法であって、 該絵素電極の形成箇所に、少なくとも2以上の直径を異
    ならせた円形がランダムに配置されたフォトマスクを用
    いて、少なくとも2以上の高さを異ならせた凸部を光学
    的に形成する工程と、 該凸部の上に光反射機能を有する材料からなる絵素電極
    を形成する工程と、 を含む反射型アクティブマトリクス基板の製造方法。
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KR1019930002327A KR100187329B1 (ko) 1992-02-19 1993-02-19 반사형 기판, 그의 제조 방법 및 그를 사용한 액정 표시 장치
EP93301220A EP0557110B1 (en) 1992-02-19 1993-02-19 A reflective substrate, a method for producing the same, and a liquid crystal display device using the same
DE69314197T DE69314197T2 (de) 1992-02-19 1993-02-19 Reflektierendes Substrat, Verfahren zu seiner Herstellung und Flüssigkristall-Anzeigevorrichtung, die dieses benutzt

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Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2912176B2 (ja) * 1994-12-28 1999-06-28 日本電気株式会社 反射型液晶表示装置
JP2990046B2 (ja) 1995-08-16 1999-12-13 日本電気株式会社 反射型液晶表示装置及びその製造方法
JPH09292504A (ja) 1996-02-27 1997-11-11 Sharp Corp 反射板及びその作製方法及びその反射板を用いた反射型液晶表示装置
KR100460060B1 (ko) * 1996-06-29 2005-05-19 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 반사형기판,그의제조방법및이를적용한반사형액정표시장치
JP3149793B2 (ja) * 1996-07-22 2001-03-26 日本電気株式会社 反射型液晶表示装置及びその製造方法
JP3213242B2 (ja) 1996-10-23 2001-10-02 シャープ株式会社 反射板、反射型液晶表示装置およびその製造方法
US6175399B1 (en) 1997-02-10 2001-01-16 Sharp Kabushiki Kaisha Reflective type liquid crystal display device having a diffusion layer of phase separated liquid crystal and polymer
JP3270821B2 (ja) 1997-03-12 2002-04-02 シャープ株式会社 反射型液晶表示装置およびその製造方法
KR100502793B1 (ko) * 1997-09-25 2005-10-21 삼성전자주식회사 유기절연막을이용한다중영역수직배향비틀린네마틱액정표시장치용기판및이를포함하는액정표시장치
US6295109B1 (en) 1997-12-26 2001-09-25 Sharp Kabushiki Kaisha LCD with plurality of pixels having reflective and transmissive regions
JP3019831B2 (ja) * 1998-03-11 2000-03-13 日本電気株式会社 反射型液晶表示装置及びその製造方法
JP3471246B2 (ja) * 1999-03-29 2003-12-02 シャープ株式会社 液晶表示装置の製造方法
JP3334676B2 (ja) * 1999-05-26 2002-10-15 松下電器産業株式会社 液晶表示装置
KR100407413B1 (ko) 1999-07-19 2003-11-28 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤 반사판 및 그 제조방법, 및 반사판을 구비한 반사형표시소자 및 그 제조방법
WO2001029585A1 (fr) 1999-10-21 2001-04-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Plaque reflechissante, procede de fabrication de ladite plaque, element d'affichage, et dispositif d'affichage
JP2001194662A (ja) 2000-01-14 2001-07-19 Nec Corp 反射型液晶表示装置及びその製造方法
JP3626652B2 (ja) 2000-01-21 2005-03-09 日本電気株式会社 反射型液晶表示装置及びその製造方法
TWI293703B (en) 2000-02-16 2008-02-21 Toshiba Matsushita Display Tec shaped member, reflector, and reflective-type display element, and method of producing reflector
US6900084B1 (en) * 2000-05-09 2005-05-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having a display device
US7215393B2 (en) 2000-07-28 2007-05-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Reflective plate and display device using the plate
JP3904828B2 (ja) 2000-12-07 2007-04-11 株式会社日立製作所 液晶表示装置
JP2002258272A (ja) * 2001-02-28 2002-09-11 Nec Corp 反射板並びに反射型液晶表示装置
JP3753673B2 (ja) * 2001-06-20 2006-03-08 セイコーエプソン株式会社 液晶表示装置の製造方法
JP3575764B2 (ja) * 2003-03-18 2004-10-13 シャープ株式会社 液晶表示装置の製造方法
JP4067097B2 (ja) * 2003-03-18 2008-03-26 シャープ株式会社 液晶表示装置の製造方法
JP4215690B2 (ja) 2004-07-29 2009-01-28 Nec液晶テクノロジー株式会社 液晶表示装置及びその設計方法
JP4480599B2 (ja) 2005-02-14 2010-06-16 Nec液晶テクノロジー株式会社 反射板、その製造方法及び液晶表示装置
JP2007310407A (ja) * 2007-06-27 2007-11-29 Sony Corp 反射板の製造方法及び表示装置

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56156865A (en) * 1980-05-08 1981-12-03 Suwa Seikosha Kk Liquid crystal display unit
JPS5767982A (en) * 1980-10-15 1982-04-24 Suwa Seikosha Kk Liquid crystal display unit
JPS5770585A (en) * 1980-10-20 1982-05-01 Suwa Seikosha Kk Active matrix board
JPS5774726A (en) * 1980-10-28 1982-05-11 Seiko Epson Corp Active matrix substrate for liquid crystal display
JPS5774776A (en) * 1980-10-28 1982-05-11 Suwa Seikosha Kk Active matrix board
JPS5786880A (en) * 1980-11-20 1982-05-31 Suwa Seikosha Kk Active matrix substrate
JPS5794777A (en) * 1980-12-04 1982-06-12 Suwa Seikosha Kk Liquid crystal display
JPS5794779A (en) * 1980-12-05 1982-06-12 Suwa Seikosha Kk Formation of light scattering surface
JPS5794718A (en) * 1980-12-05 1982-06-12 Seiko Epson Corp Liquid crystal display device
JPS5796316A (en) * 1980-12-08 1982-06-15 Seiko Epson Corp Liquid crystal display device
JPS5799680A (en) * 1980-12-11 1982-06-21 Suwa Seikosha Kk Liquid crystal display and manufacture thereof
JPS57120977A (en) * 1981-01-21 1982-07-28 Seiko Instr & Electronics Guest/host type liquid crystal display panel
JPS58100174A (ja) * 1981-12-10 1983-06-14 株式会社東芝 液晶表示装置の製造方法
JPS58116575A (ja) * 1981-12-29 1983-07-11 セイコーエプソン株式会社 半導体基板上への散乱性反射面の製造方法
JPS58127970A (ja) * 1982-01-26 1983-07-30 セイコーエプソン株式会社 画像表示素子
JPS58130380A (ja) * 1982-01-29 1983-08-03 セイコーインスツルメンツ株式会社 液晶表示装置
JPS58136085A (ja) * 1982-02-08 1983-08-12 セイコーインスツルメンツ株式会社 表示用半導体装置
JPS58158682A (ja) * 1982-03-16 1983-09-20 セイコーエプソン株式会社 散乱性反射面の製造方法
JPS58192075A (ja) * 1982-05-06 1983-11-09 セイコーエプソン株式会社 液晶パネル
JPS5917582A (ja) * 1982-07-20 1984-01-28 セイコーエプソン株式会社 半導体装置の製造方法
JPS5917581A (ja) * 1982-07-20 1984-01-28 セイコーエプソン株式会社 表示パネル
JPS5940684A (ja) * 1982-08-31 1984-03-06 セイコーエプソン株式会社 表示パネル
JPS5971081A (ja) * 1982-10-18 1984-04-21 株式会社東芝 液晶表示装置及びその製造方法
JPS59100488A (ja) * 1982-11-30 1984-06-09 セイコーエプソン株式会社 表示パネル
JPH0618908A (ja) * 1992-07-02 1994-01-28 Ricoh Co Ltd 液晶表示装置

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