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JP3030935B2 - Automatic wiring method for wiring equipment for surface mounting - Google Patents

Automatic wiring method for wiring equipment for surface mounting

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Publication number
JP3030935B2
JP3030935B2 JP3157322A JP15732291A JP3030935B2 JP 3030935 B2 JP3030935 B2 JP 3030935B2 JP 3157322 A JP3157322 A JP 3157322A JP 15732291 A JP15732291 A JP 15732291A JP 3030935 B2 JP3030935 B2 JP 3030935B2
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Japan
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pad
pin
wiring
component
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義和 市場
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NEC Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0005Apparatus or processes for manufacturing printed circuits for designing circuits by computer

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は表面実装対応配線装置に
関し、特にプリント基板の自動配線を行う表面実装対応
配線装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wiring device for surface mounting and, more particularly, to a wiring device for surface mounting which performs automatic wiring of a printed circuit board.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、表面実装部品を搭載したプリント
基板の検査を行うときには、部品搭載パッドに、ユニバ
ーサルプローブを当てて検査を行っていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, when inspecting a printed circuit board on which surface mount components are mounted, a universal probe is applied to a component mounting pad to perform the inspection.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の、表面
実装部品を搭載したプリント基板の配線方法では、表面
実装部品パッドピッチが微細化してくると、プリント基
板検査時に検査装置からプリント基板に突き当てるユニ
バーサルプローブが、そのままでは部品搭載パッドに当
てられなくなってきてしまい、プリント基板ごとに個別
治具を作成して検査を行わなければならなくなり、治具
の開発のために大きなコストがかかるという欠点を有し
ていた。
In the above-described conventional wiring method for a printed circuit board on which surface-mounted components are mounted, when the pad pitch of the surface-mounted components becomes finer, the inspection device pushes the printed circuit board into the printed circuit board during the inspection of the printed circuit board. The disadvantage is that the universal probe to be applied can no longer be applied to the component mounting pads as it is, and it is necessary to create and inspect individual jigs for each printed circuit board, which is a large cost for the development of jigs Had.

【0004】本発明の目的は、プリント基板検査の際、
プリント基板ごとに個別の検査治具を作成しなくて済
み、コストを削減することができる表面実装対応配線装
置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a method for inspecting printed circuit boards.
An object of the present invention is to provide a surface-mountable wiring device that does not require an individual inspection jig for each printed circuit board and can reduce costs.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明の表面実装対応配
線装置における自動配線方法は、表面実装部品を搭載す
るプリント基板の配線を行う表面実装対応配線装置にお
ける自動配線方法において、 (A)回路図の論理接続情報と前記表面実装部品の配置
座標と前記表面実装部品のパッド及びランドの位置を定
義した部品ライブラリとを入力する情報入力手順、 (B)前記論理接続情報と前記表面実装部品のパッド及
びランド位置とより配線すべきピンペアを決定するピン
ペア決定手順、 (C)前記表面実装部品のパッドから引出したパターン
を内層へ引込むためのビアホールまでのパターン長の制
限値を指定するパターン長制限値指定手順、 (D)検査時にユニバーサルプローブを突き当てる設計
格子点を格子点の第1の配列に指定するプローブ突き当
て設計格子点指定手順、 (E)配線すべき前記ピンペアを取り出し、ピンが前記
表面実装部品のパッドか否かを調べる表面実装部品のパ
ッド判定手順、 (F)前記表面実装部品のパッド判定手順の判定の結
果、前記ピンが前記表面実装部品のパッドであるとき
は、前記表面実装部品のパッドのまわりに、前記表面実
装部品のパッドから引き出したパターンを層に引き込む
ためのビアを発生することができる領域を設定しビア発
生領域を限定するビア発生領域限定手順、 (G)前記ビア発生領域限定手順によって限定された領
域の中で前記格子点の第1の配列の倍数の格子点を前記
表面実装部品のパッドから引出しパターンを内層へ引込
むビアの可能格子点として第2の配列に指定し、ピンか
ら最も近くてかつ未使用のビアの可能格子点を前記第2
の配列より探索して前記表面実装部品のパッドから前記
ビアの可能格子点まで配線し、前記表面実装部品のパッ
ドから前記ビアの可能格子点まで配線したパターン長が
前記パターン長の制限値より短いか否かを判定し、前記
パターン長が前記パターン長の制限値より長いとき、再
度ピンから最も近くかつ未使用のビアの可能格子点を前
記第2の配列より探索して前記表面実装部品のパッドか
らビアの可能格子点まで再配線し、前記パターン長が前
記パターン長の制限値より短いとき、前記ビアの可能格
子点にビアを発生するビア発生手順、 (H)前記ピンペアの両端のピンについて処理したか否
かを調べ、処理してなければ前記表面実装部品のパッド
判定手順に戻る第1のピンペア処理確認手順、 (I)前記ピンペアの両端のピンについて処理が完了し
たら、スルーホールランド及び発生した前記ビアについ
て通常の配線処理を行う通常配線処理手順、 (J)全てのピンペアについて処理したかをチェック
し、処理してなければ前記表面実装部品のパッド判定手
順に戻る第2のピンペア処理確認手順、 (K)全ての配線パターンの配線データを外部ファイル
へ出力する配線パターン配線データ出力手順、 を備え、前記表面実装部品のパッド判定手順の判定結
果、前記ピンが前記表面実装部品のパッドでないとき前
記表面実装部品のパッド判定手順の次は前記第1のピン
ペア処理確認手順に進むように構成されている。
According to the present invention, there is provided an automatic wiring method for a surface-mountable wiring apparatus, the method comprising the steps of:
In kicking automatic wiring method, an information input procedure of inputting the component library defined logical connection information (A) Schematic and said surface mount component placement coordinates the position of the surface mounting component of the pads and lands, (B) pin pair determination procedure for determining the pin pair more to be wired with the pads and lands position of the surface mount component and the logical connection information, to a via hole for retracting the inner layer patterns drawn from Pas head of (C) the surface mount component (D) a probe abutment design grid point designating procedure for designating a design grid point to which a universal probe is abutted in the first array of grid points at the time of inspection, E) a step of taking out the pin pair to be wired and determining whether or not the pin is a pad of the surface mount component; F) forming a determination of the surface mounted component pads determination procedure
As a result, when the pin is a pad of the surface mount component
It is around said surface mount component pad, the surface real
A via generation area limiting procedure for setting an area in which a via for drawing a pattern drawn from a pad of an external component into a layer can be generated and limiting the via generation area; (G) limited by the via generation area limiting procedure Territory
Grid points of a multiple of the first array of grid points
Pull-out pattern from pad of surface mount component to inner layer
Designate the second array as a possible grid point of the via
The closest possible grid point of unused vias to the second
Search from the array of the above from the surface mount component pad
Wiring to possible grid points of vias
Pattern length from the ground to the possible grid point of the via
Determine whether the pattern length is shorter than the limit value,
When the pattern length is longer than the pattern length limit,
In front of possible grid point of unused and unused via closest to the pin
Searching from the second array to determine whether the pad is
Rewired to allow grid points Luo vias, when the pattern length is less than the limit value of the pattern length, via generation procedure for generating the vias allow grid points of the via, the pins at both ends of the (H) the pin pairs Investigate whether or not it has been treated, if not , the pad of the surface mount component
The first pin pair processing confirmation procedure Returns to the determination procedure, (I) wherein Once pin processing at both ends of the pin pair is completed, the normal routing processing procedure for normal routing processing for the through hole land and generated the via, (J Check if all pin pairs have been processed
If not, the pad judgment method of the surface mount component
Turn back that second pin pair processing confirmation procedure, (K) the wiring pattern wiring data output procedure wiring data output to an external file of all the wiring pattern includes a determination binding of the surface mounted component pads determination procedure
As a result, when the pin is not a pad of the surface mount component,
Following the pad determination procedure for the surface mount component is the first pin.
It is configured to proceed to a pair processing confirmation procedure .

【0006】[0006]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0007】図1は、本発明の表面実装対応配線装置の
一実施例の動作の流れを示す流れ図である。
FIG. 1 is a flowchart showing an operation flow of an embodiment of a wiring device for surface mounting according to the present invention.

【0008】図1に示す本実施例の表面実装対応配線装
置は、回路図の論理接続情報と部品の配置座標と部品の
パッド及びランドの位置を定義した部品ライブラリとを
入力する情報入力手順1、論理接続情報と部品のパッド
及びランド位置とより配線しようとしている2箇所に離
れている部品ピンの組み合せであるピンペアを決定する
ピンペア決定手順2、表面実装部品の部品搭載パッドか
ら引出したパターンを内層へ引込むためのビアホールま
でのパターン長の制限値を指定するパターン長制限値指
定手順3、検査時にユニバーサルプローブを突き当てる
設計格子点を指定するプローブ突き当て設計格子点指定
手順4、配線すべきピンペアを取り出し、ピンが表面実
装部品のパッドか否かを調べる表面実装部品のパッド判
定手順5、表面実装部品のパッドのまわりに、パッドか
ら引き出したパターンを層に引き込むためのビアを発生
することができる領域を設定しビア発生領域を限定する
ビア発生領域限定手順6、パターン長がパターン長の制
限値より短いとき、ビアの可能格子点にビアを発生する
ビア発生手順7、ピンペアの両端のピンについて処理し
たか否かを調べるピンペア処理確認手順(第1のピンペ
ア処理確認手順)8、ピンペアの両端のピンについて処
理が完了したら、スルーホールランド及び発生した引込
みビアについて通常の配線処理を行う通常配線処理手順
9、全てのピンペアについて処理したかをチェックする
ピンペア処理確認手順(第2のピンペア処理確認手順)
10、全ての配線パターンの配線データを外部ファイル
へ出力する配線パターン配線データ出力手順11から構
成されている。
The wiring apparatus for surface mounting according to the present embodiment shown in FIG. 1 has an information input procedure 1 for inputting logical connection information of a circuit diagram, component arrangement coordinates, and a component library defining the positions of component pads and lands. A pin pair determination procedure 2 for determining a pin pair, which is a combination of component pins that are separated from the logical connection information, component pads and land positions and two locations to be wired more, and a pattern drawn from the component mounting pads of the surface mount component. Pattern length limit value designating step 3 for designating the pattern length limit value to the via hole to be drawn into the inner layer, probe abutment design lattice point designating step 4 for designating a design lattice point to which a universal probe is abutted during inspection, wiring should be performed Take out the pin pair and check whether the pin is a pad of the surface mount component. Via generation area limiting procedure 6 for setting a region where a via for drawing the pattern drawn from the pad into the layer can be generated and limiting the via generation area around the component pad, the pattern length is the pattern length limit value If shorter, a via generation procedure 7 for generating a via at a possible grid point of the via, a pin pair processing confirmation procedure (first pin pair processing confirmation procedure) 8 for checking whether or not the pins at both ends of the pin pair have been processed, and both ends of the pin pair Is completed, the normal wiring processing procedure 9 for performing normal wiring processing for through-hole lands and generated drop-in vias, a pin pair processing confirmation procedure for checking whether all pin pairs have been processed (second pin pair processing confirmation procedure)
10, a wiring pattern wiring data output procedure 11 for outputting wiring data of all wiring patterns to an external file.

【0009】次に、動作を説明する。Next, the operation will be described.

【0010】図2は、図1の表面実装対応配線装置の動
作の詳細を示す流れ図であり、図3は、図2とともに図
1の表面実装対応配線装置の動作の詳細を示す流れ図で
ある。以下の括弧内のステップは、上記図2及び図3の
ステップを示す。
FIG. 2 is a flowchart showing the details of the operation of the surface-mountable wiring device of FIG. 1, and FIG. 3 is a flowchart showing the details of the operation of the surface-mountable wiring device of FIG. The following steps in parentheses indicate the steps in FIGS. 2 and 3 described above.

【0011】図1において、まず情報入力手順1によ
り、回路図の論理接続情報をネットリストの形で入力し
(ステップ21)、次にプリント基板上に搭載する部品
の配置座標を入力する(ステップ22)。また、各部品
のパッド及びランドの位置を定義した部品ライブラリを
入力し、パッド及びランドを配線領域中に展開する(ス
テップ23)。
In FIG. 1, first, logical connection information of a circuit diagram is input in the form of a netlist in an information input procedure 1 (step 21), and then the arrangement coordinates of components mounted on a printed circuit board are input (step 21). 22). Further, a component library defining the positions of the pads and lands of each component is input, and the pads and lands are developed in the wiring area (step 23).

【0012】次に、ピンペア決定手順2により、論理接
続情報と部品のパッド及びランド位置より配線すべきピ
ンペアを決定する(ステップ24)。
Next, a pin pair to be wired is determined from the logical connection information and the pad and land positions of the component by the pin pair determination procedure 2 (step 24).

【0013】次に、パターン長制限値指定手順3によ
り、表面実装部品の部品搭載パッドから引出したパター
ンを内層へ引込むためのビアホールまでのパターン長の
制限値を“r”として指定しておく(ステップ25)。
検査装置のユニバーサルプローブを用いる場合、任意の
位置にユニバーサルプローブ全てを当てることは困難で
あり、通常50mil格子点または100mil格子点
に限定される場合が多いので、ここではパターン長の制
限値を“r”とする。次に、プローブ突き当て設計格子
点指定手順4により、ユニバーサルプローブを突き当て
たい設計格子点を配列A(Xi,Yi)に指定する(ス
テップ26)。そして、図4に検査装置のユニバーサル
プローブを突き当てる格子点の例を示し、図5に配列A
(Xi,Yi)の例を示す。
Next, in the pattern length limit value specifying procedure 3, the limit value of the pattern length up to the via hole for drawing the pattern drawn from the component mounting pad of the surface mount component into the inner layer is specified as "r" ( Step 25).
When the universal probe of the inspection apparatus is used, it is difficult to apply all the universal probes to an arbitrary position, and in many cases, the universal probe is usually limited to 50 mil grid points or 100 mil grid points. r ". Next, a design lattice point to which the universal probe is to be struck is designated to the array A (Xi, Yi) by the probe abutment design lattice point designation procedure 4 (step 26). FIG. 4 shows an example of grid points at which the universal probe of the inspection device is abutted, and FIG.
An example of (Xi, Yi) is shown.

【0014】次に、表面実装部品のパッド判定手順5に
より、配線すべきピンペアを取り出し、ピンが表面実装
部品のパッドか否かを調べ(ステップ27)、もしピン
が表面実装部品のパッドであるなら、ビア発生領域限定
手順6により、表面実装部品のパッドのまわりに、パッ
ドから引き出したパターンを内層に引き込むためのビア
を発生することができる領域Bを設定し、ビア発生領域
を限定する(ステップ28)。そして、ビア発生手順7
により、領域Bの中で、ユニバーサルプローブの突き当
て可能ポイントを納めた配列A(Xi,Yi)の倍数で
ある格子点を、表面実装部品のパッドからの引き出しパ
ターンを内層に引き込むビア可能格子点として配列C
(Xi,Yi)に入れておく(ステップ29)。図6に
領域B内のユニバーサルプローブを突き当てることが可
能な格子点の例を示す。次に、ピンから最も近くてかつ
未使用のビア可能格子点dを配列C(Xi,Yi)より
探索し(ステップ30)、ピン搭載パッドからこのビア
の可能格子点dまで配線する(ステップ31)。そし
て、そのパターン長が許容引出しパターン長“r”より
短いか否かを判定し(ステップ32)し、もし長けれ
ば、ステップ30へ戻り、別のビアの可能格子点を配列
C(Xi,Yi)より探索し再配線を行う。パターン長
が許容引出しパターン長“r”より短いとき、ビアの可
能格子点dにビアを発生する(ステップ33)。
Next, a pin pair to be wired is taken out by the pad mounting procedure 5 of the surface mounting component, and it is checked whether or not the pin is a pad of the surface mounting component (step 27). If the pin is a pad of the surface mounting component. Then, in the via generation area limiting procedure 6, an area B where a via for drawing a pattern drawn from the pad into the inner layer is set around the pad of the surface mount component, and the via generation area is limited ( Step 28). Then, via generation procedure 7
In the area B, the grid points that are multiples of the array A (Xi, Yi) containing the universal probe abuttable points are converted into via-capable grid points that pull out the drawing pattern from the pad of the surface mount component into the inner layer. As array C
(Xi, Yi) (step 29). FIG. 6 shows an example of a grid point at which the universal probe in the area B can be abutted. Next, an unused via possible grid point d closest to the pin is searched from the array C (Xi, Yi) (step 30), and wiring is performed from the pin mounting pad to the via possible grid point d (step 31). ). Then, it is determined whether or not the pattern length is shorter than the allowable drawing pattern length "r" (step 32). If the pattern length is longer, the process returns to step 30, and the possible grid points of another via are arranged in the array C (Xi, Yi). ) Search and re-wire. When the pattern length is shorter than the allowable drawing pattern length "r", a via is generated at the possible grid point d of the via (step 33).

【0015】ステップ27で、ピンペアのピンがスルー
ホールランドであったらステップ34まで進む。ステッ
プ34で、ピンペア処理確認手順8により、ピンペアの
両端のピンについて処理したか否かを調べ、処理してい
なければ、ステップ27へ戻り、もう一方のピンについ
て処理を行う。
In step 27, if the pin of the pin pair is a through-hole land, the process proceeds to step 34. In step 34, it is checked whether or not the pins at both ends of the pin pair have been processed by the pin pair processing confirmation procedure 8. If not, the process returns to step 27 and the other pins are processed.

【0016】ピンペアの両端のピンについて処理が完了
したら、次に、通常配線処理手順9により、スルーホー
ルランドもしくは発生した引込みビアをピンペアの配線
すべき2つの対象点として通常の配線処理を行う(ステ
ップ35)。次に、ピンペア処理確認手順10により、
以上の処理を全てのピンペアについて処理したかをチェ
ックし(ステップ36)、処理していなければステップ
27に戻りステップ27以下の処理を続行する。
When the processing on the pins at both ends of the pin pair is completed, the normal wiring processing is then performed by the normal wiring processing procedure 9 using the through-hole land or the generated lead-in via as two target points to be wired in the pin pair ( Step 35). Next, according to the pin pair processing confirmation procedure 10,
It is checked whether the above process has been performed for all pin pairs (step 36). If not, the process returns to step 27 and the processes from step 27 onward are continued.

【0017】上記処理が終了したら、配線パターン配線
データ出力手順11により、全ての配線パターンの配線
データを外部ファイルへ出力する(ステップ37)。以
上の処理により発生した引き出しパターンビアの例を図
7に示す。
When the above processing is completed, the wiring data of all the wiring patterns is output to the external file by the wiring pattern wiring data output procedure 11 (step 37). FIG. 7 shows an example of a lead pattern via generated by the above processing.

【0018】[0018]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の表面実装
対応配線装置は、検査装置のユニバーサルプローブを突
き当てられる位置に表面実装部品パッドから引出したパ
ターンの内層引込みビアを設けることにより、プリント
基板検査の際、プリント基板ごとに個別の検査治具を作
成しなくて済み、コストを削減することができるという
効果を有している。
As described above, the wiring device for surface mounting according to the present invention provides a printed wiring by providing an inner layer drawing via of a pattern drawn from a surface mounting component pad at a position where a universal probe of an inspection device can be abutted. At the time of board inspection, there is no need to create an individual inspection jig for each printed board, which has the effect of reducing costs.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の表面実装対応配線装置の一実施例の動
作を示す流れ図である。
FIG. 1 is a flowchart showing an operation of an embodiment of a wiring device for surface mounting according to the present invention.

【図2】図1の表面実装対応配線装置の動作の詳細を示
す流れ図である。
FIG. 2 is a flowchart showing details of the operation of the wiring device for surface mounting of FIG. 1;

【図3】図2とともに図1の表面実装対応配線装置の動
作の詳細を示す流れ図である。
3 is a flowchart showing details of the operation of the wiring device for surface mounting shown in FIG. 1 together with FIG. 2;

【図4】検査装置のユニバーサルプローブを突き当てる
格子点の一例を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of grid points at which a universal probe of an inspection device is abutted.

【図5】配列A(Xi,Yi)の一例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing an example of an array A (Xi, Yi).

【図6】領域Bとユニバーサルプローブを突き当てるこ
とが可能な格子点の一例を示す図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a grid point at which a universal probe can be brought into contact with a region B;

【図7】本実施例の表面実装対応配線装置により発生し
た引出しパターンビアの一例を示す図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a lead pattern via generated by the wiring device for surface mounting according to the embodiment;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 情報入力手順 2 ピンペア決定手順 3 パターン長制限値指定手順 4 プローブ突き当て設計格子点指定手順 5 表面実装部品のパッド判定手順 6 ビア発生領域限定手順 7 ビア発生手順 8 第1のピンペア処理確認手順 9 通常配線処理手順 10 第2のピンペア処理確認手順 11 配線パターン配線データ出力手順 1 Information input procedure 2 Pin pair determination procedure 3 Pattern length limit value specification procedure 4 Probe abutment design grid point specification procedure 5 Surface mounting component pad determination procedure 6 Via generation area limitation procedure 7 Via generation procedure 8 First pin pair processing confirmation procedure 9 Normal wiring processing procedure 10 Second pin pair processing confirmation procedure 11 Wiring pattern wiring data output procedure

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 表面実装部品を搭載するプリント基板の
配線を行う表面実装対応配線装置における自動配線方法
において、 (A)回路図の論理接続情報と前記表面実装部品の配置
座標と前記表面実装部品のパッド及びランドの位置を定
義した部品ライブラリとを入力する情報入力手順、 (B)前記論理接続情報と前記表面実装部品のパッド及
びランド位置とより配線すべきピンペアを決定するピン
ペア決定手順、 (C)前記表面実装部品のパッドから引出したパターン
を内層へ引込むためのビアホールまでのパターン長の制
限値を指定するパターン長制限値指定手順、 (D)検査時にユニバーサルプローブを突き当てる設計
格子点を格子点の第1の配列に指定するプローブ突き当
て設計格子点指定手順、 (E)配線すべき前記ピンペアを取り出し、ピンが前記
表面実装部品のパッドか否かを調べる表面実装部品のパ
ッド判定手順、 (F)前記表面実装部品のパッド判定手順の判定の結
果、前記ピンが前記表面実装部品のパッドであるとき
は、前記表面実装部品のパッドのまわりに、前記表面実
装部品のパッドから引き出したパターンを層に引き込む
ためのビアを発生することができる領域を設定しビア発
生領域を限定するビア発生領域限定手順、 (G)前記ビア発生領域限定手順によって限定された領
域の中で前記格子点の第1の配列の倍数の格子点を前記
表面実装部品のパッドから引出しパターンを内層へ引込
むビアの可能格子点として第2の配列に指定し、ピンか
ら最も近くてかつ未使用のビアの可能格子点を前記第2
の配列より探索して前記表面実装部品のパッドから前記
ビアの可能格子点まで配線し、前記表面実装部品のパッ
ドから前記ビアの可能格子点まで配線したパターン長が
前記パターン長の制限値より短いか否かを判定し、前記
パターン長が前記パターン長の制限値より長いとき、再
度ピンから最も近くかつ未使用のビアの可能格子点を前
記第2の配列より探索して前記表面実装部品のパッドか
らビアの可能格子点まで再配線し、前記パターン長が前
記パターン長の制限値より短いとき、前記ビアの可能格
子点にビアを発生するビア発生手順、 (H)前記ピンペアの両端のピンについて処理したか否
かを調べ、処理してなけ れば前記表面実装部品のパッド
判定手順に戻る第1のピンペア処理確認手順、 (I)前記ピンペアの両端のピンについて処理が完了し
たら、スルーホールランド及び発生した前記ビアについ
て通常の配線処理を行う通常配線処理手順、 (J)全てのピンペアについて処理したかをチェック
し、処理してなければ前記表面実装部品のパッド判定手
順に戻る第2のピンペア処理確認手順、 (K)全ての配線パターンの配線データを外部ファイル
へ出力する配線パターン配線データ出力手順、 を備え、前記表面実装部品のパッド判定手順の判定結
果、前記ピンが前記表面実装部品のパッドでないとき前
記表面実装部品のパッド判定手順の次は前記第1のピン
ペア処理確認手順に進むことを特徴とする表面実装対応
配線装置における自動配線方法
An automatic wiring method in a surface-mountable wiring apparatus for wiring a printed circuit board on which a surface-mounted component is mounted, comprising: (A) logical connection information of a circuit diagram, and arrangement coordinates of the surface-mounted component; An information input procedure for inputting a component library defining the positions of the pads and lands of the surface mount component; (B) a pin pair for determining a pin pair to be wired based on the logical connection information and the pad and land positions of the surface mount component decision procedure, (C) the surface mounting component of the path Tsu pattern length limiting value specified procedure the drawer patterns from de specifying the pattern length limit until the via hole for retracting the inner layer, the universal probe (D) during inspection probe abutment design grid points specified procedure to specify the design grid points in the first array of grid points butting, the pin pairs to be wired (E) Extraction, a surface mounted component pads determination procedures pin check whether the pad of the surface mount component, (F) forming a determination of the surface mounted component pads determination procedure
As a result, when the pin is a pad of the surface mount component
It is around said surface mount component pad, the surface real
A via generation area limiting procedure for setting an area in which a via for drawing a pattern drawn from a pad of an external component into a layer can be generated and limiting the via generation area; (G) limited by the via generation area limiting procedure Territory
Grid points of a multiple of the first array of grid points
Pull-out pattern from pad of surface mount component to inner layer
Designate the second array as a possible grid point of the via
The closest possible grid point of unused vias to the second
Search from the array of the above from the surface mount component pad
Wiring to possible grid points of vias
Pattern length from the ground to the possible grid point of the via
Determine whether the pattern length is shorter than the limit value,
When the pattern length is longer than the pattern length limit,
In front of possible grid point of unused and unused via closest to the pin
Searching from the second array to determine whether the pad is
Rewired to allow grid points Luo vias, when the pattern length is less than the limit value of the pattern length, via generation procedure for generating the vias allow grid points of the via, the pins at both ends of the (H) the pin pairs examine whether processed, the surface mounting component of the pad if Re cry treated
The first pin pair processing confirmation procedure Returns to the determination procedure, (I) wherein Once pin processing at both ends of the pin pair is completed, the normal routing processing procedure for normal routing processing for the through hole land and generated the via, (J Check if all pin pairs have been processed
If not, the pad judgment method of the surface mount component
Turn back that second pin pair processing confirmation procedure, (K) the wiring pattern wiring data output procedure wiring data output to an external file of all the wiring pattern includes a determination binding of the surface mounted component pads determination procedure
As a result, when the pin is not a pad of the surface mount component,
Following the pad determination procedure for the surface mount component is the first pin.
An automatic wiring method in a wiring device for surface mounting, characterized by proceeding to a pair processing confirmation procedure .
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