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JP2996215B2 - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

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JP2996215B2
JP2996215B2 JP24046997A JP24046997A JP2996215B2 JP 2996215 B2 JP2996215 B2 JP 2996215B2 JP 24046997 A JP24046997 A JP 24046997A JP 24046997 A JP24046997 A JP 24046997A JP 2996215 B2 JP2996215 B2 JP 2996215B2
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JP
Japan
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lead
chip
rod
support base
terminal
Prior art date
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JP24046997A
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Japanese (ja)
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JPH1167966A (en
Inventor
武志 佐野
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Sanken Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanken Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Sanken Electric Co Ltd filed Critical Sanken Electric Co Ltd
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    • H10W72/07554
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、静電破壊防止手段
を有する発光ダイオード等の半導体装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device such as a light emitting diode having a means for preventing electrostatic breakdown.

【0002】[0002]

【従来の技術】図1に示すように、従来のGaN(窒化
ガリウム)半導体を使用した青色発光ダイオード1は、
発光ダイオードチップ(発光素子)2と、端子導体とし
て機能する第1及び第2のリード3、4と、包囲体とし
て機能する光透過性及び絶縁性を有する樹脂封止体5と
から成る。発光ダイオードチップ2は、図2に示すよう
にサファイア基板6と、この上にエピタキシャル成長さ
れたn型GaN領域7及びp型GaN領域8から成る半
導体基体9と、n型GaN領域7に接続された第1の電
極10と、p型GaN領域8に接続された第2の電極1
1とを備えている。図1の第1のリード3は、皿状支持
部(ヘッダ)12を有し、ここに接着剤13によって発
光ダイオードチップ2のサファイア基板6が固着されて
いる。発光ダイオードチップ2の第1の電極10は第1
のリード細線14によって第1のリード3の皿状支持部
12の上面に接続され、第2の電極11は第2のリード
4のポスト部15に第2のリード細線16で接続されて
いる。透明樹脂封止体5は、発光ダイオードチップ2、
皿状支持部12、ポスト部15、第1及び第2のリード
細線14、16を被覆するように形成されている。第1
及び第2のリード3、4の棒状部分は樹脂封止体5の底
面から互いに平行に導出されている。
2. Description of the Related Art As shown in FIG. 1, a conventional blue light emitting diode 1 using a GaN (gallium nitride) semiconductor is:
It comprises a light emitting diode chip (light emitting element) 2, first and second leads 3, 4 functioning as terminal conductors, and a light-transmitting and insulating resin sealing body 5 functioning as an enclosure. As shown in FIG. 2, the light emitting diode chip 2 is connected to a sapphire substrate 6, a semiconductor substrate 9 composed of an n-type GaN region 7 and a p-type GaN region 8 epitaxially grown thereon, and an n-type GaN region 7. First electrode 10 and second electrode 1 connected to p-type GaN region 8
1 is provided. The first lead 3 in FIG. 1 has a dish-shaped support portion (header) 12, to which the sapphire substrate 6 of the light emitting diode chip 2 is fixed by an adhesive 13. The first electrode 10 of the light emitting diode chip 2 is
The second electrode 11 is connected to the post portion 15 of the second lead 4 by a second thin lead wire 16. The transparent resin sealing body 5 includes the light emitting diode chip 2,
It is formed so as to cover the dish-shaped support part 12, the post part 15, and the first and second fine lead wires 14, 16. First
The rod-shaped portions of the second leads 3 and 4 are led out of the bottom surface of the resin sealing body 5 in parallel with each other.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、人体等の帯
電している物体がリード3又は4に接触することによっ
て発光ダイオード1のチップ2が静電破壊されることが
あった。これは発光ダイオードチップ2の互いに接近配
置されかつオープンになっている第1及び第2の電極1
0、11間に静電気の高電圧が印加され、結果として半
導体基体9のpn接合に高電圧が印加されるために生じ
る。この静電気による破壊は特にGaN発光ダイオード
において生じ易いが、別の半導体装置においても生じる
おそれがある。
By the way, when a charged object such as a human body comes into contact with the lead 3 or 4, the chip 2 of the light emitting diode 1 may be electrostatically damaged. This means that the first and second electrodes 1 of the light-emitting diode chip 2 are arranged close to each other and are open.
This occurs because a high voltage of static electricity is applied between 0 and 11, and as a result, a high voltage is applied to the pn junction of the semiconductor substrate 9. This destruction due to static electricity is particularly likely to occur in GaN light emitting diodes, but may also occur in other semiconductor devices.

【0004】そこで、本発明の目的は、容易に静電破壊
を防止することができる半導体装置を提供することにあ
る。
An object of the present invention is to provide a semiconductor device which can easily prevent electrostatic breakdown.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決し、上記
目的を達成するための本発明は、半導体チップと、前記
半導体チップに接続された少なくとも第1及び第2の端
子導体と、絶縁性包囲体とを備え、前記第1の端子導体
はチップ支持部とこのチップ支持部を外部に接続するた
めの棒状リード部とを有し、前記第2の端子導体は内部
リード細線接続部とこの内部リード細線接続部を外部に
接続するための棒状リード部とを有し、前記半導体チッ
プは前記チップ支持部に固着され、前記半導体チップと
前記第2 の端子導体の前記内部リード細線接続部との間
が内部リード細線で接続され、前記半導体チップと前記
第1の端子導体の前記チップ支持部と前記第2の端子導
体の前記内部リード細線接続部と前記内部リード細線と
前記第1及び第2の端子導体の前記棒状リード部の一部
とが前記前記包囲体で被覆され、前記第1及び第2の端
子導体の前記棒状リード部の少なくとも一部が前記包囲
体の外側に導出されている半導体装置において、前記第
1及び第2の端子導体の前記棒状リード部を支持するた
めの支持基体が設けられ、前記支持基体は溝又は孔を有
し、前記溝又は孔に前記第1及び第2の端子導体の前記
棒状リード部分が挿入され、前記支持基体は空気よりも
抵抗率の小さい抵抗性物質で形成され、前記第1及び第
2の端子導体の前記棒状リード部分間における前記支持
基体の抵抗値は50kΩ〜50MΩであり、前記支持基
体の少なくとも一部は前記包囲体で被覆されていること
を特徴とする半導体装置に係わるものである。なお、請
求項2に示すように第1及び第2の端子導体の棒状リ−
部分を挿入する支持基体に抵抗体層を設け、この抵抗
体層を第1及び第2の端子導体の棒状リ−ド部分に電気
的に接続することができる。なお、本発明における半導
体チップは、発光ダイオードチップ、絶縁ゲート電界効
果トランジスタを含むチップ等の静電破壊され易いチッ
プを意味する。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above problems and achieve the above object, the present invention provides a semiconductor chip, at least first and second terminal conductors connected to the semiconductor chip, And an enclosure, wherein the first terminal conductor
Is used to connect the chip support and this chip support to the outside.
And the second terminal conductor has an internal
Connect the lead wire connection and this internal lead wire connection to the outside.
A rod-shaped lead portion for connection.
The chip is fixed to the chip supporting portion, and the semiconductor chip is
Between the second terminal conductor and the internal lead thin wire connection portion
Are connected by an internal lead thin wire, and the semiconductor chip and the
The chip support portion of the first terminal conductor and the second terminal conductor
The internal lead thin wire connection portion of the body and the internal lead thin wire;
Part of the rod-shaped lead portion of the first and second terminal conductors
: It is coated with the said enclosure, in a semiconductor device in which at least a part of which is derived to the outside of said enclosure of said rod-shaped lead portion of the first and second terminal conductors, the first and second A support base for supporting the rod-shaped lead portion of the terminal conductor is provided, and the support base has a groove or a hole.
And the groove or hole is provided with the first and second terminal conductors.
A rod-shaped lead portion is inserted, the support base is formed of a resistive substance having a lower resistivity than air, and the resistance of the support base between the rod-shaped lead portions of the first and second terminal conductors is 50 kΩ to 50 kΩ. 50 MΩ, and the support
The present invention relates to a semiconductor device, wherein at least a part of a body is covered with the surrounding body . The first and second terminal conductors have rod-shaped leads.
A resistor layer is provided on the support base into which the lead portion is inserted, and this resistor layer can be electrically connected to the bar-shaped lead portions of the first and second terminal conductors. Note that the semiconductor chip in the present invention means a chip which is easily damaged by electrostatic discharge such as a light emitting diode chip and a chip including an insulated gate field effect transistor.

【0006】[0006]

【発明の効果】各請求項の発明によれば、次の効果を得
ることができる。 (イ) 第1及び第2の端子導体の棒状リ−ド部を支持
する支持基体又はこの上の抵抗体層によって静電気のエ
ネルギのバイパスを形成するので、半導体チップから離
れた位置で静電気のエネルギを消費することができ、半
導体チップの静電気からの保護を良好に達成することが
できる。 (ロ) 支持基体に溝又は孔を設けて棒状リ−ドを支持
するので、棒状リ−ド部を安定的に支持することができ
る。 (ハ) 支持基体又は抵抗体層の棒状リ−ド部の相互間
の抵抗値を50kΩ〜50MΩの範囲に設定したので、
支持基体又は抵抗体層は、リ−ク電流チエック等の特性
測定を実質的に妨害しない。
According to the present invention, the following effects can be obtained.
Can be (A) Supporting the rod-shaped leads of the first and second terminal conductors
Static electricity by the supporting substrate or the resistor layer
It forms a bypass for energy and is separated from the semiconductor chip.
Energy can be consumed in
Good protection of conductive chips from static electricity can be achieved.
it can. (B) Support rod-shaped leads by providing grooves or holes in the support base
Therefore, the rod-shaped lead can be stably supported.
You. (C) between the rod-shaped leads of the supporting base or the resistor layer;
Was set in the range of 50 kΩ to 50 MΩ,
The supporting substrate or resistor layer has characteristics such as leakage current check.
Does not substantially interfere with measurement.

【0007】[0007]

【実施形態及び実施例】次に、本発明の実施形態及び実
施例を図3〜図6を参照して説明する。但し、第1の実
施例を示す図3及び第2の実施例を示す図5において図
1及び図2と実質的に同一の部分には同一の符号を付し
てその説明を省略する。
Embodiments and Examples Next, embodiments and examples of the present invention will be described with reference to FIGS. However, the real and Oite FIGS. 1 and 2 in FIG. 5 identical parts shown Figure 3 and the second embodiment shows the first embodiment and their description is omitted with the same reference numerals .

【0008】[0008]

【第1の実施例】図3に示す第1の実施例の発光ダイオ
ード1aは、半導体チップとしての発光ダイオードチッ
プ2、第1及び第2の端子導体としての金属製棒状リー
ド3、4、包囲体としての光透過性樹脂封止体5、及び
第1及び第2の金属リード細線14、16を図1の発光
ダイオード1と同様に有する他に、本発明に従う抵抗性
支持基体17を有している。
First Embodiment A light-emitting diode 1a according to a first embodiment shown in FIG. 3 includes a light-emitting diode chip 2 as a semiconductor chip, metal rod-shaped leads 3, 4 as first and second terminal conductors, and an enclosure. In addition to the light-transmitting resin sealing body 5 as a body and the first and second thin metal lead wires 14 and 16 as in the light-emitting diode 1 of FIG. ing.

【0009】抵抗性支持基体17は、図4に示すように
第1及び第2の溝18、19を有し、ここに第1及び第
2のリード3、4が嵌合されている。また、第1及び第
2のリード3、4のフランジ状部3a、4aの底面が抵
抗性支持基体17の上面に当接し、棒状部分が支持基体
17の溝18、19に挿入されている。これにより、抵
抗性支持基体17は第1及び第2のリード3、4を機械
的に支持し、且つ第1及び第2のリード3、4間を電気
的に接続している。
As shown in FIG. 4, the resistive support base 17 has first and second grooves 18 and 19 into which first and second leads 3 and 4 are fitted. Further, the bottom surfaces of the flange portions 3a, 4a of the first and second leads 3, 4 abut against the upper surface of the resistive support base 17, and the rod-shaped portions are inserted into the grooves 18, 19 of the support base 17. Accordingly, the resistive support base 17 mechanically supports the first and second leads 3 and 4 and electrically connects the first and second leads 3 and 4.

【0010】抵抗性支持基体17は、微細な導電性粒子
が混入されたエポキシ系の樹脂の板状体から成り、弱い
導電性を有している。この抵抗性支持基体17の第1及
び第2のリード3、4間の抵抗値は約3MΩである。な
お、抵抗性支持基体17の抵抗率は空気及び樹脂封止体
5の抵抗率よりも小さい。また、第1及び第2のリード
3、4間の抵抗性支持基体17の抵抗値は第1及び第2
のリード3、4間の樹脂封止体5の抵抗値よりも小さ
い。
The resistive support base 17 is made of a plate-like body of an epoxy resin mixed with fine conductive particles and has weak conductivity. The resistance value between the first and second leads 3 and 4 of the resistive support base 17 is about 3 MΩ. Note that the resistivity of the resistive support base 17 is lower than the resistivity of the air and the resin sealing body 5. The resistance value of the resistive support base 17 between the first and second leads 3 and 4 is equal to the first and second leads.
Is smaller than the resistance value of the resin sealing body 5 between the leads 3 and 4.

【0011】抵抗性支持基体17は樹脂封止体5に埋設
され、この抵抗性支持基体17の下面を覆う樹脂封止体
5から第1及び第2のリード3、4が外部に導出されて
いる。なお、抵抗性支持基体17の下面を樹脂封止体5
で被覆しない構造とすることもできる。
The resistive support base 17 is embedded in the resin sealing body 5, and the first and second leads 3 and 4 are led out from the resin sealing body 5 covering the lower surface of the resistive support base 17. I have. Note that the lower surface of the resistive support base 17 is
It is also possible to adopt a structure that is not covered with.

【0012】図3の発光ダイオードを製造する時には、
抵抗性支持基体17の第1及び第2の溝18、19に第
1及び第2のリード3、4を挿入する。なお、第1及び
第2のリ−ド3、4は複数の発光ダイオ−ドを実質的に
同時に形成するためにリ−ドフレ−ム構成になっている
ので、このリ−ドフレ−ムにおける第1及び第2のリ−
ド3、4に支持基体17を嵌合させる。次に、周知のダ
イボンディング方法とワイヤボンディング方法によっ
て、発光ダイオードチップ2のヘッダ12への固着と、
リード細線14、16の接続を行う。続いて、この発光
ダイオード組立体を成形金型内に配置して、周知のモー
ルディング方法によって樹脂封止体5を形成して発光ダ
イオード1aを完成させる。
When manufacturing the light emitting diode of FIG. 3,
The first and second leads 3 and 4 are inserted into the first and second grooves 18 and 19 of the resistive support base 17. Since the first and second leads 3 and 4 have a lead frame structure for forming a plurality of light emitting diodes substantially simultaneously, the first and second leads 3 and 4 have the same structure. 1st and 2nd lead
The support base 17 is fitted to the hands 3 and 4. Next, the light emitting diode chip 2 is fixed to the header 12 by a known die bonding method and a wire bonding method.
The connection of the lead wires 14 and 16 is performed. Subsequently, the light emitting diode assembly is arranged in a molding die, and a resin sealing body 5 is formed by a well-known molding method to complete the light emitting diode 1a.

【0013】第1の実施例の発光ダイオード1aは、次
の効果を有する。 (イ) 第1及び第2のリード3、4の相互間に弱い導
電性の抵抗性支持基体17が介在するので、第1及び第
2のリード3、4間に静電気が印加されても、その電気
エネルギが抵抗性支持基体17にバイパスし、ダイオー
ドチップ2の電極10、11間にダイオードチップ2を
破壊するようなエネルギが加わらず、ダイオードチップ
2を静電気から保護できる。 (ロ) 抵抗性支持基体17は、約3MΩの抵抗値を有
するので、ここを通るリーク電流は発光ダイオード1a
のリーク電流チェック等の特性測定上もしくは使用上に
おいて実質的に問題にならないレベルである。例えば、
3Vでリーク電流をチェックする場合において抵抗性支
持基体17には3V/3MΩ=1μAの電流が流れるの
みであり、リーク電流チェックの上限値が5μAである
とすれば、抵抗性支持基体17の電流はさほど問題にな
らない。 (ハ) 支持基体17を設けることによって第1及び第
2のリ−ド3、4の機械的安定性が向上する。
The light emitting diode 1a of the first embodiment has the following effects. (B) Since the weak conductive resistive support base 17 is interposed between the first and second leads 3 and 4, even if static electricity is applied between the first and second leads 3 and 4, The electric energy is bypassed to the resistive support base 17 and the diode chip 2 can be protected from static electricity without applying any energy between the electrodes 10 and 11 of the diode chip 2 to destroy the diode chip 2. (B) Since the resistance supporting base 17 has a resistance value of about 3 MΩ, the leakage current passing therethrough is the light emitting diode 1a.
This is a level that does not substantially cause a problem in characteristic measurement such as a leak current check or in use. For example,
When checking the leak current at 3 V, only a current of 3 V / 3 MΩ = 1 μA flows through the resistive support base 17. If the upper limit of the leak current check is 5 μA, the current of the resistive support base 17 is It doesn't matter much. (C) By providing the support base 17, the mechanical stability of the first and second leads 3, 4 is improved.

【0014】図に示す第の実施例の発光ダイオ−ド
1cは、図3の発光ダイオ−ド1aの一部を変形した他
は図3と同一に構成したものである。図の支持基体1
7bは、幾何学的形状において図3の支持基体17と同
一であるが、導電性物質は含まず、絶縁材料であるセラ
ミックから成る。この絶縁性支持基体17bの表面には
抵抗体層20が設けられている。この抵抗体層20は導
電性粒子を樹脂に混入したものを塗布して形成したもの
であり、第1及び第2の3、4に電気的に接続されてい
る。なお、電気的接続を確実に達成するために第1及び
第2のリ−ド3、4と抵抗体層20とを導電性接着剤で
結合させることができる。リ−ド3、4間の抵抗体層2
0の抵抗値は約3MΩである。この第2の実施例によっ
ても、第1の実施例と同一の効果を得ることができる。
The light emitting diode 1c of the second embodiment shown in FIG. 5 has the same configuration as that of FIG. 3 except that a part of the light emitting diode 1a of FIG. 3 is modified. The support base of Figure 5 1
7b is identical in geometry to the support base 17 of FIG. 3, but does not contain a conductive substance and is made of an insulating material ceramic. A resistor layer 20 is provided on the surface of the insulating support base 17b. The resistor layer 20 is formed by applying a mixture of conductive particles to a resin, and is electrically connected to the first and second 3 and 4. The first and second leads 3 and 4 and the resistor layer 20 can be connected to each other with a conductive adhesive in order to surely achieve the electrical connection. Resistor layer 2 between leads 3 and 4
A resistance value of 0 is about 3 MΩ. According to the second embodiment, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.

【0015】[0015]

【変形例】本発明は上述の実施例に限定されるものでな
く、例えば次の変形が可能なものである。 (1) 第1及び第2の端子導体としての第1及び第2
のリード3、4間の抵抗性支持基体17の抵抗値及び図
の第1及び第2のリ−ド3、4間の抵抗体層20の抵
抗値を必要に応じて変えることができる。この抵抗値を
50kΩ〜50MΩの範囲に入る値にすると、静電破壊
防止の効果が得られる。なお、チップ2のリーク電流チ
ェックを妨害しないようにするためには、上記抵抗値を
1〜5MΩの範囲にすることが望ましい。(2) GaN発光ダイオード以外の発光ダイオード又
は絶縁ゲート型電界効果トランジスタ等の別の半導体装
置にも本発明を適用することができる。(3) 図3及び図の支持基体17、17bの溝1
8、19を貫通孔に変えることができる。(4) 図3において、支持基体17を導電性(抵抗
性)を有する酸化物焼結体とすることができる。(5) 図3において、支持基体17の第1及び第2の
リ−ド3、4に対する接触部分に導体層を設け、第1及
び第2のリ−ド3、4に対する電気的接続を確実に達成
することができる。(6)の抵抗体層20の代りに断面積の小さい極
めて薄い導体層を設けることができる。
[Modifications] The present invention is not limited to the above-described embodiment, and for example, the following modifications are possible. (1) First and second terminals as first and second terminal conductors
Resistance Ne及 beauty view of a resistive support base 17 between leads 3 and 4
5 The first and second re of - the resistance value of the resistor layer 20 between the de 3,4 can be varied as required. By setting the resistance to a value within the range of 50 kΩ to 50 MΩ, an effect of preventing electrostatic breakdown can be obtained. In order to prevent the leakage current check of the chip 2 from being disturbed, it is desirable that the resistance value be in a range of 1 to 5 MΩ. (2) The present invention can be applied to other semiconductor devices such as a light emitting diode other than a GaN light emitting diode or an insulated gate field effect transistor. (3) Groove 1 of support bases 17 and 17b in FIGS. 3 and 5
8, 19 can be changed to through holes. (4) In FIG. 3, the support base 17 can be an oxide sintered body having conductivity (resistance). (5) In FIG. 3, a conductive layer is provided at a contact portion of the support base 17 with the first and second leads 3 and 4, to ensure electrical connection to the first and second leads 3 and 4. Can be achieved. (6) can be provided a small very thin conductive layer of the cross-sectional area instead of the resistor layer 20 in FIG.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】従来の発光ダイオードを示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a conventional light emitting diode.

【図2】図1のダイオードチップを拡大して示す断面図
である。
FIG. 2 is an enlarged sectional view showing the diode chip of FIG. 1;

【図3】本発明の第1の実施例の発光ダイオードを示す
断面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing a light emitting diode according to a first embodiment of the present invention.

【図4】図3の支持基体を示す平面図である。FIG. 4 is a plan view showing the support base of FIG. 3;

【図5】本発明の第2の実施例の発光ダイオードを示す
断面図である。
FIG. 5 is a sectional view showing a light emitting diode according to a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 発光ダイオードチップ 3、4 リード 5 光透過性樹脂封止体 17、17a 抵抗性支持基体 2 light emitting diode chip 3, 4 lead 5 light transmitting resin sealing body 17, 17a resistive support base

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 半導体チップと、前記半導体チップに接
続された少なくとも第1及び第2の端子導体と、絶縁性
包囲体とを備え、前記第1の端子導体はチップ支持部と
このチップ支持部を外部に接続するための棒状リード部
とを有し、前記第2の端子導体は内部リード細線接続部
とこの内部リード細線接続部を外部に接続するための棒
状リード部とを有し、前記半導体チップは前記チップ支
持部に固着され、前記半導体チップと前記第2の端子導
体の前記内部リード細線接続部との間が内部リード細線
で接続され、前記半導体チップと前記第1の端子導体の
前記チップ支持部と前記第2の端子導体の前記内部リー
ド細線接続部と前記内部リード細線と前記第1及び第2
の端子導体の前記棒状リード部の一部とが前記前記包囲
体で被覆され、前記第1及び第2の端子導体の前記棒状
リード部の少なくとも一部が前記包囲体の外側に導出
れている半導体装置において、 前記第1及び第2の端子導体の前記棒状リード部を支持
するための支持基体が設けられ、前記支持基体は溝又は孔を有し、前記溝又は孔に前記第
1及び第2の端子導体の前記棒状リード部分が挿入され
前記支持基体は空気よりも抵抗率の小さい抵抗性物質で
形成され、 前記第1及び第2の端子導体の前記棒状リード部分間に
おける前記支持基体の抵抗値は50kΩ〜50MΩであ
り、前記支持基体の少なくとも一部は前記包囲体で被覆され
ている ことを特徴とする半導体装置。
1. A semiconductor device comprising: a semiconductor chip; at least first and second terminal conductors connected to the semiconductor chip; and an insulating enclosure, wherein the first terminal conductor includes a chip supporting portion.
A rod-shaped lead for connecting this chip support to the outside
And the second terminal conductor has an internal lead thin wire connection portion.
And a rod for connecting this internal lead thin wire connection to the outside
And the semiconductor chip has a chip support.
The semiconductor chip and the second terminal conductor.
Between the internal lead wire connection portion of the body and the internal lead wire
Connected between the semiconductor chip and the first terminal conductor.
The chip supporting portion and the internal lead of the second terminal conductor;
Wire connection portion, the internal lead wire, and the first and second wires.
A part of the rod-shaped lead portion of the terminal conductor
The rods of the first and second terminal conductors covered with a body
In the semiconductor device at least a portion of the lead portion is derived is <br/> is outside of said enclosure, supporting base for supporting is provided a rod-shaped lead portion of the first and second terminal conductors The support base has a groove or a hole, and the groove or the hole has the
The support base 1 and the bar lead portion of the second terminal conductor is inserted is formed with a small resistive material having resistivity than air, the between the rod-shaped lead portions of said first and second terminal conductors The resistance value of the support base is 50 kΩ to 50 MΩ, and at least a part of the support base is covered with the enclosure.
Wherein a is.
【請求項2】半導体チップと、前記半導体チップに接続
された少なくとも第1及び第2の端子導体と、絶縁性包
囲体とを備え、前記第1の端子導体はチップ支持部とこ
のチップ支持部を外部に接続するための棒状リード部と
を有し、前記第2の端子導体は内部リード細線接続部と
この内部リード細線接続部を外部に接続するための棒状
リード部とを有し、前記半導体チップは前記チップ支持
部に固着され、前記半導体チップと前記第2の端子導体
の前記内部リード細線接続部と の間が内部リード細線で
接続され、前記半導体チップと前記第1の端子導体の前
記チップ支持部と前記第2の端子導体の前記内部リード
細線接続部と前記内部リード細線と前記第1及び第2の
端子導体の前記棒状リード部の一部とが前記前記包囲体
で被覆され、前記第1及び第2の端子導体の前記棒状リ
ード部の少なくとも一部が前記包囲体の外側に導出され
ている半導体装置において、 前記第1及び第2の端子導体の前記棒状リード部を支持
するための支持基体が設けられ、前記支持基体は溝又は孔を有し、前記溝又は孔に前記第
1及び第2の端子導体の前記棒状リード部が挿入され
記支持基体の少なくとも一部が前記包囲体で被覆され、 前記支持基体は絶縁性物質から成り、 前記支持基体に抵抗体層が形成され、 前記抵抗体層は前記第1及び第2の端子導体の前記棒状
リード部に電気的に接続され、 前記第1及び第2の端子導の前記棒状リード部間の前記
抵抗体層の抵抗値が50kΩ〜50MΩであることを特
徴とする半導体装置。
2. A semiconductor device comprising: a semiconductor chip; at least first and second terminal conductors connected to the semiconductor chip; and an insulating enclosure, wherein the first terminal conductor is a chip support.
A rod-shaped lead for connecting the chip support of the
Wherein the second terminal conductor has an internal lead thin wire connection portion.
A rod shape for connecting this internal lead wire connection to the outside
A lead portion, wherein the semiconductor chip supports the chip.
The semiconductor chip and the second terminal conductor
Between the internal lead thin wire connection portion and the internal lead thin wire
Connected and in front of the semiconductor chip and the first terminal conductor
The chip support and the inner lead of the second terminal conductor
A thin wire connecting portion, the inner lead thin wire, and the first and second wires;
A part of the rod-shaped lead portion of the terminal conductor is the enclosure
And the rod-shaped ribs of the first and second terminal conductors.
In the semiconductor device in which at least a portion of the over de portion is led out to the outside of said enclosure, supporting base for supporting the rod-shaped lead portion of the first and second terminal conductors are provided, the support base Has a groove or hole, and the groove or hole has the
The rod-shaped lead portions of the first and second terminal conductors are inserted , and at least a part of the support base is covered with the enclosure. The support base is made of an insulating material, and a resistor layer is formed on the support base. The resistor layer is formed in the rod shape of the first and second terminal conductors.
It is electrically connected to the lead portion, wherein a resistance value of the resistor layer between the bar-shaped lead portions of the first and second terminals electrically is 50Keiomega~50emuomega.
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