JP2851500B2 - 液晶表示装置 - Google Patents
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Description
る。さらに詳しくは、コントラストの高いマトリクス型
大容量強誘電性液晶表示装置に関する。
速応答、広視野角などの優れた特長を有しており、高精
細大表示容量の液晶表示装置への応用がさかんに研究さ
れている。強誘電性液晶セルは、図3で示すように、2
枚のガラス基板2a、2bが互いに対向して配置され、
ガラス基板2aの表面にはインジウム錫酸化物(以下I
TOと略称する)からなる透明な信号電極Sが複数本互
いに平行に配置され、その上はSiO2からなる透明な
絶縁膜3aが形成されている。信号電極Sと対向するも
う一方のガラス基板2bの表面にはITOからなる透明
な走査電極Lが信号電極Sと直交する向きに複数本互い
に平行に配置されており、その上はSiO 2からなる透
明な絶縁膜3bで被覆されている。各絶縁膜3a、3b
上にはラビング処理などの一軸配向処理が施された配向
膜4a、4bが形成される。配向膜の形成はポリイミド
膜、ナイロン膜、ポリビニルアルコール膜などの有機高
分子膜又はSiO2斜方蒸着膜などが用いられる。
行にラビングして行なわれる。この2枚のガラス基板2
a、2bは液晶注入口を残して封止剤5で貼り合わされ
る。配向膜4a、4bで挟まれる空間内に強誘電性液晶
(FLC)6を注入した後注入口は封止剤5で封止され
る。このようにして貼り合わせた2枚のガラス基板2
a、2bは、互いの偏光軸が直交するように配置した2
枚の偏光板7a、7bで挟まれる。
長軸方向と直行する方向に自発分極(Ps)9を持ち、
図3の透明電極SとLに印加される電圧から作られる電
界(E)10と自発分極(Ps)9のベクトル積に比例
した力を受けチルト角(θ)11’の2倍の頂角11を
持った円錐軌跡12の表面上を移動する。FLC分子8
には、この他に分子の長軸方向と短軸方向の誘電率の差
△εと電界(E)10の2乗に比例した力が働く。つま
りFLC分子8に働く力Fは F=K0×Ps×E+K1×△ε×E2 となる。そこで誘電異方性△εが負のFLCをパネルへ
封止すれば、FLC分子へ働く力は、ある電界以下では
誘電異方性△ε<0の効果による力より自発分極(P
s)9の効果による力が格段に大きくなるが、ある電界
以上では両者の効果による力は同じ程度になる。
24234等において報告されており、図5の様な電圧
−応答速度特性において最小値電圧を示すことが知られ
ている。この現象を利用したFLCパネルの駆動方法と
して、例えば特開昭62−56933や特開昭62−2
80824や特開平1−24234、あるいはThe “Jo
ers/Alvey ”Ferroelectric Multiplexing Scheme:(Fer
roelectrics Vol.122(1991)P63.)等がある。
lvey ”Ferroelectric Multiplexing Scheme による
と、高いコントラストが得られたと報告されているが、
実際に強誘電性液晶セルを作製してみると簡単には高コ
ントラストは得られないし、時には良好なスイッチング
も得られない。大きな原因としては、強誘電性液晶セル
の配向性がスイッチング挙動やコントラストに影響を与
えることが挙げられる。例えば、図6はセル厚2μmの
パラレルラビングの配向膜を有する強誘電性液晶セルに
負の誘電異方性を有する液晶SCE−8(メルク社製)
を注入したセルの配向状態を示す偏光顕微鏡観察図であ
るが、The“Joers/Alvey ”Ferroelectric Multiplexin
g Scheme で駆動したとき良好なコントラストを示す部
分aと5以下のコントラストしか示さない部分bとスイ
ッチングしない部分cが存在する。
なされたものであり、負の誘電異方性を有する強誘電性
液晶を用いて液晶パネル内全面にわたって良好なコント
ラストを得ることのできる液晶表示装置を提供しようと
するものである。
に、本発明による請求項1記載の強誘電性液晶表示装置
は、液晶セルの内面に一軸配向処理された配向膜および
負の誘電異方性を有するカイラルスメクチックC液晶を
具備し、前記配向膜が前記カイラルスメクチックC液晶
を同じメモリ角のC1およびC2の2つのユニフォーム
配向に配向させうることを特徴とする。 さらに、本発明
による請求項2記載の強誘電性液晶表示装置は、液晶セ
ルの内面に一軸配向処理された配向膜および負の誘電異
方性を有するカイラルスメクチックC液晶を具備し、前
記配向膜が前記カイラルスメクチックC液晶をほぼ0°
の界面プレチルト角で配向させうることを特徴とする。
ように基板間での一軸配向処理の方法が同一である配向
(a) 、逆である配向(b) 、一方の基板にのみ一軸配向処
理を施す配向(c) がある。適当な一軸配向処理によって
液晶−基板界面の液晶分子を基板面より立ち上げること
ができ、プレチルトを発生させることができる。このプ
レチルトの発生方向は一軸配向処理の方向によって制御
でき、例えばラビング法の場合図7(b) のように逆向き
の処理を施した場合には、線状の欠陥が多数発生し、均
一配向が得られにくい。次に片側の基板だけに一軸配向
処理を施した場合について述べる。通常、強誘電性液晶
はINAC(Isotropic-Nematic-SmecticA-Smectic C)
相系列を有するが、ネマティック相で良好な配向を得る
ことがスメクチックC相で良好な配向を得るために重要
である。強誘電性液晶のネマティック相は螺旋を巻いて
おり、両側基板ともに一軸配向処理を施せば、均一なネ
マティック相での配向は得られ易いが、一方の基板で一
軸配向処理をなくしてしまうと、ネマティック相で捩れ
た配向になり、これを降温してスメクチックC相の状態
までもってきたとき、良好な配向が得られにくい。ま
た、ネマティック相の無い液晶を用いれば、この問題は
解決するが、スメクチックA相で細かいドメインが混在
した不均一な配向になり易い。
る一軸配向処理はラビングを同一方向に施す(パラレル
ラビング)などの処理によって得られるが、このセルに
INAC相系列を有する強誘電性液晶を組み合わせると
良好な配向が比較的簡単に得られる。しかし、なお、こ
れだけでは全面均一にするのは難しい。これが難しい原
因は2つある。ひとつはスメクチック層の折れ曲がりに
関するものである。強誘電性液晶が折れ曲がった層構造
(シェブロン層構造)を示すことはよく知られている。
図8に示すように、2つの領域が存在し、神辺らはこれ
をプレチルトとの関係からC1、C2と名付けている(F
erroelectrics Vol.114(1991)3.)。C2とC1は、それ
ぞれヘアピン欠陥とライトニング欠陥によって囲まれる
領域の配向とその外の領域の配向である。またこの層構
造は、プレチルトが存在しない場合にはラビングなどの
一軸配向処理の方向と関係づけられる。もう一つはユニ
フォーム(U)とツイスト(T)である。ユニフォーム
は消光位を示す配向、ツイストは消光位を示さない配向
である(Jpn.J.Appl.Phys.Vol.27(1988)1.)。本発明者ら
は、ハイプレチルト配向膜を用いたパラレルラビングの
強誘電性液晶セルにおいて、C1U(C1−ユニフォー
ム)、C1T(C1−ツイスト)、C2の3つの配向が
得られたことを報告している(Jpn.J.Appl.Phys.Vol.30
(1991)L1823.)。本発明者らは、更に詳細に検討した結
果、パラレルラビングの強誘電性液晶セルにおいては、
光学特性の異なるC1U、C1T、C2U(C2−ユニ
フォーム)、C2T(C2−ツイスト)の4つの配向状
態が存在することが分かった。図9にこれらの配向状態
の分子配向を示す。C1TとC2Tは消光位が無く、本
質的にコントラストの高い表示には向かず、C1U、C
2Uは消光位が存在するので、高コントラスト表示の可
能性がある。さらに、本発明者らが述べているのと同
様、C1UはC2Uよりも広いメモリ角を有しているの
で、より高いコントラストを実現できる可能性を持って
いる。
において得られる4つの配向状態について比較したとこ
ろ、C1TとC2Tは消光位がなく暗状態が黒くないた
め良好なコントラストが得られない。またC1U配向は
スイッチングしにくく、またスイッチングしても駆動時
にC2状態が混在した配向へと変化してしまうという欠
点がある。これに対してC2U状態が良好なコントラス
トを与えることを本発明者らは見いだした。
係があるが、プレチルト角はC2状態が発生し得る0°
〜15°の範囲が好ましい。プレチルトが高いときには
発明者らが報告しているように、C2状態は消光位を示
す1つの状態しかなく、これはむしろ好ましい。ただ、
プレチルトの増加と共にC2よりC1の方が発生し易く
なる傾向がある。一方、プレチルトが低いほうがC2が
発生し易いが、逆に低すぎるとC2Tが発生し易くなる
欠点もあり、そういう意味ではプレチルトの特に好まし
い範囲は5〜10°と言える。
の範囲に制御しても、必ずしも装置の表示面を一様にC
2状態に揃えることができるとは限らない。もしC1と
C2が混在した場合には、場所により表示特性が異な
り、非常に表示品位の悪いものとなってしまう。また、
表示装置の置かれる環境や、表示装置自身の熱源より発
生する熱による動作温度範囲の違いによっても配向状態
を制御することが困難になってくる。C1状態とC2状
態では安定に出現する温度範囲について異なる傾向があ
る。低温側については両者とも強誘電相の範囲と同じに
なるが、高温側についてはC1状態よりもC2状態の方
が狭く、温度が上昇するとC2状態はC1状態に変化し
やすくなる(Jpn.J.Appl.Phys.Vol.30(1991)L1823.)。こ
の場合には温度変化に対してC1とC2の混在が生じる
こととなり、非常に表示品位の悪いものとなってしま
う。そこで発明者はこの問題をも解決し、配向状態がC
1UであってもC2Uであっても、あるいは両者の混在
する場合でも関係無く、高コントラストで高品位の液晶
表示装置を実現する方法を見いだした。
ぼ0°とすることにより、C1UとC2Uの光学特性を
等価とすることができ、また、液晶分子のセル厚方向の
誘電率、自発分極を同様な分布とすることができ、電気
的にもC1UとC2Uを等価なものとすることができる
のである。これにより、前記、配向状態がC1Uであっ
てもC2Uであっても、あるいは両者の混在する場合で
も関係無く、高コントラストで高品位の強誘電性液晶表
示装置を実現することができる。
状態とC2U状態の分子配向状態を詳細に記すものであ
る。ここで縦軸のYは液晶セルのセル厚方向を表してお
り、dはセル厚である。d/2の厚さの部分はシェブロ
ン・インターフェースと呼ばれる部分で、ここでは液晶
分子は基板界面と平行に配向している。横軸ψは液晶分
子のツイスト角であり、液晶分子の基板投影とスメクチ
ック層法線のなす角である。その定義は図11に示す通
りである。図11でYは図10同様、セル厚方向を表
し、nは分子ダイレクタ、cは分子のc−ダイレクタ、
pは自発分極ベクトルを表している。θは分子チルト
角、δはスメクチック層の傾斜角、Φは分子の方位角で
あり、nXZは分子の基板投影である。図11(c)のψ
が図10の分子ツイスト角を表しており、特にシェブロ
ン・インターフェースにおける分子ツイスト角はψINと
して図10に示されている。図11(d)はプレチルト
の定義を表している。図10においてθapp.は見かけの
チルト角である。この分子ツイスト角の分布図図10は
ダイレクタ・プルファイルと呼ばれ、特にセル厚方向の
ダイレクタ・プルファイルはそのセルの光学特性を記述
するものである(Jpn.J.Appl.Phys.Vol.31(1992)852.)。
C1U、C2Uともプレチルトθpの変化によりダイレ
クタ・プルファイルが大きく変化するが、特にプレチル
トθp=0°のときには両者のダイレクタ・プルファイ
ルは等しく、C1UとC2Uの光学特性が等価であるこ
とがわかる。図12はプレチルト0°の場合のC1Uと
C2Uの配向状態を円錐奇跡の底面側から描いたもので
ある。図12で13は分子のc−ダイレクタであり、1
4の矢印は自発分極である。C1Uのaの部分とC2U
のa’の部分の誘電率分布、自発分極分布が等価であ
り、C1Uのbの部分とC2Uのb’の部分の誘電率分
布、自発分極分布が等価であることがわかる。
方法としては、磁場容量法、クリスタルローテーション
法などが知られているが、いずれもネマティック液晶分
子に対してのみ有効な手法であり、カイラルスメクチッ
クC相に代表される強誘電相でのプレチルトを直接測定
することはできなかった。しかしながら、Jpn.J.Appl.P
hys.Vol.31(1992)852.あるいはJ.Phys.D:Appl.Phys.24
(1991)338. に示されるように、液晶分子のチルト角と
スメクチック層の傾斜角とセルのメモリ角の関係より、
カイラルスメクチックC相でのプレチルトを求めること
ができる。特にプレチルトθp=0°の場合には、C1
UとC2Uのメモリ角が等しい、すなわちジクザグ欠陥
を挟んだ両側のメモリ角が等しいことから簡単に確認す
ることができる。この方法により多種類の配向処理法に
ついてカイラルスメクチックC相でのプレチルトを測定
したところ、従来のネマティック液晶に対して測定され
たプレチルトが15°以下である配向処理法について
は、ネマティック液晶相のプレチルトが0°でなくとも
カイラルスメクチックC相でのプレチルトが0°となる
可能性があり、上記、負の誘電異方性を有する強誘電性
液晶を用いた場合、高コントラストで高品位の表示を達
成できることも見いだされた。
tric Multiplexing Scheme を用いることが出来るのは
勿論であるが、より好ましい駆動法は部分書き換えが出
来る駆動法であり、この強誘電性液晶素子を用いて20
00×2000ラインなどの大表示容量のディスプレイ
を作製するには好ましい駆動法(例えば、特願平3−2
93179号)である。
ぞれ一対のガラス基板上に塗布し、ラビングした。当該
一対の基板をセル厚50μmでラビング方向が反平行と
なるように貼り合わせ、これにネマティック液晶E−8
(メルク社製)を注入し、磁場容量法によってプレチル
ト角を測定した。測定値は表1に示す。
のガラス基板上にSiO2絶縁膜を形成し、次いで、表
1の6種の配向膜をそれぞれ塗布し、ラビングした。当
該一対の基板をセル厚2μmで、ラビング方向が平行と
なるように貼り合わせた。作製した6種類の液晶セルに
強誘電性液晶SCE−8(メルク社製)を注入した。各
強誘電性液晶セルの配向状態は、ジグザグ欠陥とラビン
グ方向の関係およびその消光性から決定し、表1に示し
た。複数の配向が記してある場合は、配向状態が混在す
ることを表している。また、各セルのメモリ角を測定
し、表1に示した。メモリ角は無電界時の消光位間の1
/2の角度である。
形を用いて電圧−メモリパルス幅の関係を測定した。結
果を図1に示す。図1で縦軸のMPWはMemoryPulse Wi
dthの略でメモリパルス幅を表している。図1の電圧−
メモリパルス幅特性では、PSI−A−2001とPS
I−A−X009のC1U部分以外、つまり全てのセル
のC2U部分とPSI−A−S495のC1U部分では
明確なメモリパルス幅が最小になる電圧(Vmin)が存
在する。
幅特性にあわせて駆動すると、C2Uのみを示すPSI
−X−S012、PSI−X−S014、PSI−A−
2101では全面積において均一なスイッチングを示
し、コントラスト30以上という品質の高い表示が得ら
れた。C1Uのみを示すPSI−A−2001のセルで
は明確なVminが存在しないため、高コントラスト表示
はできなかった。C1U、C2Uの現在するPSI−A
−X009のセルではC2U部分は高コントラストな表
示が行えたが、C1U部分に明確なVminが存在しない
ため、駆動条件が異なり、またC1U、C2U部分のメ
モリ角が違うためセル全体では不均一な表示しかできな
かった。同じようにC1UとC2Uが混在するPSI−
A−S495のセルではC1UとC2Uの電圧−メモリ
パルス幅特性がほぼ等しく、同条件で駆動することがで
き、メモリ角も等しいので、セル全面で高コントラス
ト、高品質の表示を達成できた。この場合のC1UとC
2Uの電圧−メモリパルス幅特性が、図2の様に縦軸に
C1Uのメモリパルス幅とC2Uのメモリパルス幅の比
をとってみると、ほぼ等価であることがよくわかる。
製)に変更して同様に実験した。配向はC1U、C2U
混在であった。この配向膜はネマティック液晶にたいし
てはプレチルト6°であったが、C1UとC2Uのメモ
リ角は等しく7°であり、強誘電相での実際のプレチル
トは0°であった。電圧−メモリパルス幅特性は図1
(c)PSI−A−S495と同様にC1U、C2Uが
ほぼ同じものであった。このセルはPSI−A−S49
5と同様にC1UとC2Uを同じ条件で駆動することが
でき、メモリ角が等しいので高コントラストで均一な表
示を得ることができた。
Uのみを示すPSI−X−S012、PSI−X−S0
14、PSI−A−2101のセルでは温度上昇に伴い
C1U状態が発生した。この場合のC1U状態はC2U
状態とは電圧−メモリパルス幅特性、メモリ角とも異な
り、温度変化を補償するように駆動条件を検討してみた
が実施例1のPSI−A−X009のように均一性がな
くなり、高品質の表示がえられなくなった。
PSI−A−S495とPSI−A−2301のセル
は、温度上昇に伴いC1U状態の割合が室温よりも多く
なったが、C1U状態とC2U状態の電圧−メモリパル
ス幅、メモリ角は同様な温度変化をするので、駆動電
圧、駆動パルス幅等の駆動条件を調整することにより広
い温度範囲に渡って高コントラスト、均一で高品質の表
示を行うことができた。
e 1〜6に示す組成の材料に置き換えるほかは実施例1
〜2と同様にして、強誘電性液晶セルを作製した。PS
I−A−S495とPSI−A−2301のセルは、C
1UとC2Uのメモリ角が等しく、広い温度範囲でC1
UとC2Uの電圧−メモリパルス幅、メモリ角は同様な
温度変化をするので、駆動電圧、駆動パルス幅等の駆動
条件を調整することにより広い温度範囲に渡って高コン
トラスト、均一で高品質の表示を行うことができた。そ
の他のセルでは、PSI−A−2001はC1Uだけを
示し高コントラスト表示が得られなかった。また、PS
I−A−X009のセルではC1U、C2Uが混在し、
C2U部分は高コントラストな表示が行えたが、C1U
部分に明確なVminが存在しないため、駆動条件が異な
り、また、C1U、C2U部分のメモリ角が違うためセ
ル全体では不均一な表示しかできなかった。さらにPS
I−X−S012、PSI−X−S014、PSI−A
−2101のセルでは室温でC2Uのみを示したが、温
度上昇に伴いC1Uが発生した。この場合のC1U状態
はC2U状態とは電圧−メモリパルス幅特性、メモリ角
とも異なり、温度変化を補償するように駆動条件を検討
してみたが実施例1のPSI−A−X009のように均
一性がなくなり、高品質の表示が得られなくなった。
づつ混合したもの)
ストの大容量表示の強誘電性液晶表示装置を得ることが
できる。
圧−パルス幅特性の図である。
圧−パルス幅特性の図である。
状態説明図である。
答速度特性の図である。
鏡観察の図である。
明図である。
における液晶配向の説明図である。
液晶配向の説明図である。
である。
図である。
電圧−メモリパルス幅の特性の図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 液晶セルの内面に一軸配向処理された配
向膜および負の誘電異方性を有するカイラルスメクチッ
クC液晶を具備し、前記配向膜が前記カイラルスメクチ
ックC液晶を同じメモリ角のC1およびC2の2つのユ
ニフォーム配向に配向させうることを特徴とする強誘電
性液晶表示装置。 - 【請求項2】 液晶セルの内面に一軸配向処理された配
向膜および負の誘電異方性を有するカイラルスメクチッ
クC液晶を具備し、前記配向膜が前記カイラルスメクチ
ックC液晶をほぼ0°の界面プレチルト角で配向させう
ることを特徴とする強誘電性液晶表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32696092A JP2851500B2 (ja) | 1992-12-07 | 1992-12-07 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32696092A JP2851500B2 (ja) | 1992-12-07 | 1992-12-07 | 液晶表示装置 |
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