JP2850279B2 - クリーン搬送方法及び装置 - Google Patents
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Description
ィスク等の加工、組み立てに必要な被搬送物を汚染物質
のないクリーン状態で移送することが可能なクリーン搬
送方法及び装置に関する。
「クリーン搬送方法及び装置」では、光ミニディスク製
造工程や半導体製造工程において光ミニディスクや半導
体関連製品(半導体ウエハ等)を搬送する場合に、真空
装置と真空装置との間を真空クリーンボックスで移送す
ることが提案されている。
空装置との間を真空クリーンボックスで移送する場合の
工程を示す。これらの図において、1は真空クリーンボ
ックス、40は真空装置である。真空クリーンボックス
1は、一面に開閉口3を有する本体部2と、開閉口3を
気密に閉成するシャッター兼用蓋体部4とからなり、シ
ャッター兼用蓋体部4の閉成時に真空状態を維持できる
気密性を有していて真空排気手段及び移送手段を持たな
い構造である。シャッター兼用蓋体部4の上面には、光
ミニディスクや半導体関連製品等の被搬送物を支えるホ
ルダー22が取り付けられている。また、シャッター兼
用蓋体部4の背面(下面)には、後述する真空装置40
側の位置決めピン41が着脱自在に嵌合する位置合わせ
用凹部24が複数形成されている。
ス1で光ミニディスクや半導体関連製品等の被搬送物を
搬送するために真空処理装置に付加されるものであり、
真空排気手段を具備しているとともに、上面に開閉口4
2を有する気密容器43と、開閉操作ロッド44の先端
に固定されたシャッター45と、該シャッター45の上
面に固着されたスペーサブロック46と、該スペーサブ
ロック46の上面から突出するように当該スペーサブロ
ック46に固着された複数本の位置決めピン41とを有
している。前記開閉操作ロッド44は伸長又は縮動して
シャッター45を昇降させる機能を有する。また、位置
決めピン41は前記真空クリーンボックス1側のシャッ
ター兼用蓋体部4に形成された位置合わせ用凹部24に
それぞれ着脱自在に嵌合するようになっている。前記開
閉口42の開口縁部は、気密容器43に固着された連結
用ブロック47で構成されている。
のように真空クリーンボックス1が載置されていない状
態では、前記真空装置40の開閉口42はシャッター4
5で閉成されており、シャッター外面は通常の工場雰囲
気にさらされている。真空クリーンボックス1内の被搬
送物を真空装置40側に移したい場合、図8(B)のよ
うに真空装置40の開閉口42上に真空クリーンボック
ス1を載置する。その際、真空装置側位置決めピン41
を真空クリーンボックス側の位置合わせ用凹部24に嵌
合させる。真空クリーンボックス1を真空装置40に連
結した結果、連結用ブロック47の内側面(開閉口42
の内側面)、シャッター兼用蓋体部4及びシャッター4
5の上面等で囲まれた中間エリアSが気密な密閉空間と
なる。この中間エリアSは当初は大気圧であるから、真
空排気経路Uを介して真空装置40側の真空排気手段で
真空排気する。
空クリーンボックス1のシャッター兼用蓋体部4につい
ての内外圧力差は無くなるから、真空装置40側の開閉
操作ロッド44を縮動させ、シャッター45及びスペー
サブロック46を下降させれば、シャッター兼用蓋体部
4の自重及びホルダー22やホルダー22で保持された
被搬送物の重量が存在するため、図9(A)の如く、当
該シャッター兼用蓋体部4及び被搬送物を持つホルダー
22もシャッター45及びスペーサブロック46と一体
的に下降し、真空装置40内の空間と真空クリーンボッ
クス1内の空間とが連続してシャッター兼用蓋体部4及
び被搬送物は気密容器43内に引き込まれる。
リーンボックス1を分離する場合には、開閉操作ロッド
44を伸長させることで、図9(B)のように、再び連
結用ブロック47の内側面(開閉口42の内側面)、シ
ャッター兼用蓋体部4及びシャッター45の上面等で囲
まれた中間エリアSが気密な密閉空間Sとなる。そし
て、この中間エリアSを大気圧に戻し(リークし)、シ
ャッター兼用蓋体部4の下面に大気圧が加わるようにす
る。この結果、シャッター兼用蓋体部4の下面が中間エ
リアSの大気圧で押されるので本体部2とシャッター兼
用蓋体部4とが気密に一体化され、シャッター兼用蓋体
部4を位置決めピン41から支障無く外すことができる
状態となる。以後、本体部2とシャッター兼用蓋体部4
とが気密に一体化され、かつ被搬送物を収容したた真空
クリーンボックス1として任意の位置に搬送することが
できる。
9の構成は、真空クリーンボックス1のシャッター兼用
蓋体部4と真空装置40のシャッター45とが、同時に
開閉する機構となっているため、真空装置40の代わり
に大気圧で稼働する装置を使用することはできない(前
記密閉空間となった中間エリアSを真空排気しても、真
空クリーンボックス側シャッター兼用蓋体部4と装置側
シャッターとを同時に開けようとしたときに装置側から
大気圧が中間エリアSに入り、シャッター兼用蓋体部4
を開けることができない。)。従って、図8及び図9の
従来構成は、真空装置と真空装置との間を真空クリーン
ボックス1で移送する形態に限定されるが、このような
形態を使用する半導体等の製造工程は、非常に限られて
おり、真空クリーン搬送を利用できる範囲が狭い嫌いが
ある。
ー兼用蓋体部4と真空装置40のシャッター45とが、
同時に開閉するため、真空クリーンボックス1を長期間
放置して内部の真空度が下がっていると、真空クリーン
ボックス内の圧力と真空装置内の圧力(高真空)との差
が大きくなり、真空クリーンボックス1と真空装置40
の内部とを連通させたときに真空クリーンボックスや真
空装置内の粉塵が舞い上がってしまう問題がある。
及び移送手段を持たず、真空に保つ空間を必要最小限と
した真空クリーンボックスを用いて被搬送物を収納、保
管、もしくは移送する構成として、取り扱いを簡便と
し、しかも真空装置に限らずそれ以外の各種処理装置へ
の被搬送物の移送を可能として利用範囲の拡大を図った
クリーン搬送方法及び装置を提供することを目的とす
る。
に、本発明のクリーン搬送方法は、開閉口(3)及び開
口縁のフランジ部(6)を有する本体部(2)と前記フ
ランジ部(6)の端面に接して前記開閉口(3)を気密
に閉成するシャッター兼用蓋体部(4)とからなり、前
記シャツター兼用蓋体部(4)の閉成時に真空状態を維
持できる気密性を有していて前記シャッター兼用蓋体部
(4)は内外圧力差により閉成状態を保ち、真空排気手
段及び移送手段を持たない真空クリーンボックス(1)
と、シャッター(65)で開閉自在な開閉口(62)を
有するとともに閉成状態において前記シャッターは該開
閉口(62)の内側面の周縁部分に気密に対接するクリ
ーン装置とを用い、前記真空クリーンボックス(1)と
前記クリーン装置とを、前記シャッター兼用蓋体部
(4)及びシャッター(65)の閉成状態にて気密に結
合して、前記クリーン装置の開閉口(62)の外側面の
周縁部分に前記フランジ部(6)の端面を気密に対接さ
せ、前記シャッター兼用蓋体部(4)及び前記シャッタ
ー(65)が面する密閉空間を形成し、該密閉空間を真
空排気した後、前記シャッター兼用蓋体部(4)のみを
開き、その後前記真空クリーンボックス(1)及び前記
シャッター(65)で囲まれた密閉空間内を前記クリー
ン装置内と同様のクリーン雰囲気としてから前記シャッ
ター(65)を開いて当該シャッター(65)及び前記
シャッター兼用蓋体部(4)を前記クリーン装置内部に
引き込むことを特徴としている。
口(3)及び開口縁のフランジ部(6)を有する本体部
(2)と前記フランジ部(6)の端面に接して前記開閉
口(3)を気密に閉成するシャッター兼用蓋体部(4)
とからなり、前記シャッター兼用蓋体部(4)の閉成時
に真空状態を維持できる気密性を有していて前記シャッ
ター兼用蓋体部(4)は内外圧力差により閉成状態を保
ち、真空排気手段及び移送手段を持たない真空クリーン
ボックス(1)と、前記シャッター兼用蓋体部(4)に
対して着説自在に係合する蓋受台(81)と、シャッタ
ー(65)と、前記蓋受台(81)及び前記シャッター
(65)を開閉駆動する開閉駆動手段と、前記シャッタ
ー(65)で開閉自在な開閉口(62)を有するととも
に閉成状態において前記シャッター(65)は該開閉口
(62)の内側面の周縁部分に気密に対接するクリーン
装置とを具備し、前記真空クリーンボックス(1)と前
記クリーン装置とは結合時に前記クリーン装置の開閉口
(62)の外側面の周縁部分に前記フランジ部(6)の
端面が気密に対接することで、前記シャッター兼用蓋体
部(4)及びシャッター(65)が面する気密な密閉空
間を構成し、前記シャッター(65)による前記クリー
ン装置の前記開閉口(62)を閉成状態としたままで、
前記シャッター兼用蓋体部(4)に係合している前記蓋
受台(81)を前記開閉駆動手段によって駆動して前記
シャッター兼用蓋体部(4)を開く如く構成している。
て相互の間隔が小さくなる向きに付勢されていてもよ
い。
部に着脱自在に嵌合する位置決めピンが取り付けられて
いてもよい。
を一定姿勢で支えるホルダーを取り付ける構成としても
よい。
ンな気体を循環させるためのフィルタ及び気体循環手段
を有していてもよい。
シャッター兼用蓋体部の開閉動作と真空クリーンボック
スが連結される装置側のシャッターの開閉動作のタイミ
ングを別にしており、被搬送物を移送するために真空ク
リーンボックスを、真空装置だけでなく、真空装置以外
の各種処理装置(大気圧で稼働する処理装置等)に連結
できる。
に真空クリーンボックスを合体させるための位置決め
は、真空クリーンボックスが真空排気手段及び移送手段
を持たない軽量コンパクトなものであるため極めて容易
であり、人手でも市販のロボット(クリーン対応でなく
ともよい)でも実行できる。
兼用蓋体部はクリーン装置のシャッター側に対し係合状
態としてクリーン装置側の開閉駆動手段により当該クリ
ーン装置内部に引き込まれるように構成しており、シャ
ッター兼用蓋体部上に半導体関連製品、光ディスク等の
加工、組み立てに必要な被搬送物を載せておくことで、
真空クリーンボックスとクリーン装置間の被搬送物の移
送が簡単に実行できる。
装置とを合体した際に形成される真空排気が必要な中間
エリアを最小限とすることができ、(真空クリーンボッ
クス本体部のフランジ部端面にシャッター兼用蓋体部が
接して当該真空クリーンボックス本体部を気密に閉じ、
クリーン装置の開閉口の外側面の周縁部分に前記フラン
ジ部端面が気密に対接し、該開閉口の内側面の周縁部分
にクリーン装置側シャッターが気密に対接して密閉空間
の中間エリアをなし、当該中間エリア内にシャッター兼
用蓋体部及びクリーン装置側シャッターを駆動するため
の機構を設ける必要が無いので)、真空クリーンボック
スの合体あるいは離脱に要する時間を短縮できる。
及び移送手段を持たない必要最小限の空間であり、充分
な気密性を保持することで真空維持時間を長くすること
ができる。また、被搬送物の保管は、真空クリーンボッ
クス内に収納したまましばらく放置しておくことも可能
であり、取り扱いが簡便な利点もある。
ッター兼用蓋体部を載置する蓋受台に対して相互の間隔
が小さくなる向きに付勢される構成とした場合、前記シ
ャッターと蓋受台の駆動に1個の開閉駆動手段を共用で
き、前記シャッターよりも前記蓋受台を先に引き込んで
前記シャッター兼用蓋体部を前記シャッターよりも先に
開くことができる。
在に嵌合する位置決めピンが前記蓋受台側に取り付けら
れている場合、クリーン装置内に引き込み後のシャッタ
ー兼用蓋体部の位置が正確に維持されるため、後工程で
の被搬送物のクリーン装置内の移送等を円滑に実行でき
る。
を一定姿勢で支えるホルダーが取り付けられている場
合、該ホルダーを利用して光ミニディスクや半導体ウエ
ハ等を整列状態で保持でき、真空クリーンボックス内で
の被搬送物の保持を確実に実行でき、また、クリーン装
置内における被搬送物の取り扱いに便利である。
ンな気体を循環させるためのフィルタ及び気体循環手段
を有している場合、前記クリーン装置内を適切なクリー
ン度に維持できる。
置の実施例を図面に従って説明する。
する。この図において、真空クリーンボックス1は、一
面に開閉口3を有する本体部2と、開閉口3を気密に閉
成するシャッター兼用蓋体部4とからなり、シャッター
兼用蓋体部4の閉成時に真空状態を維持できる気密性を
有していて真空排気手段及び移送手段を持たない構造で
ある。本体部2は、一面に開閉口3を有し、かつ開口縁
にフランジ部6を有する箱型部材5と、該箱型部材5の
上面の開口部7を密閉する透明部材8と、該透明部材8
を箱型部材5に固定する固定部材9とからなっている。
開口部7に設けられた透明部材8は覗き窓として機能
し、真空クリーンボックス1の内部を外部から透視でき
るようにしている。前記箱型部材5の透明部材当接面に
は溝10が形成され、該溝10に気密封止のためのOリ
ング11が配設されている。前記固定部材9は箱型部材
5に対しビス等で固定される。
(フランジ部6)端面への当接面には溝20が形成さ
れ、該溝20内に気密封止用のOリング21が配設され
ている。該シャッター兼用蓋体部4の上面には、被搬送
物としての半導体ウエハ30を支えるホルダー22が取
り付けられている。該ホルダー22は、半導体ウエハ3
0を多数等間隔で水平状態で取納できる構造となってい
る。なお、シャッター兼用蓋体部4の背面(下面)に
は、後述するクリーン装置側の位置決めピン61が着脱
自在に嵌合する位置合わせ用凹部24が複数形成されて
いる。
各種処理装置としてのクリーン装置60は、上面に開閉
口62を有する気密容器63と、該気密容器63の底部
の穴部86を貫通する中空昇降ロッド64の先端(上
端)に一体化もしくは固定されたシャッター65と、前
記中空昇降ロッド64の内周に摺動自在に挿入された開
閉操作ロッド80と、該開閉操作ロッド80の先端(上
端)に一体化もしくは固定された蓋受台(キャリア)8
1と、該蓋受台81の上面から突出するように当該蓋受
台81に固着された複数本の位置決めピン61とを有し
ている。
65を貫通するばね取付部材82が固着されており、該
ばね取付部材82の頭部と前記シャッター65の下面間
に圧縮ばね83が配設されている。この圧縮ばね83に
より、シャッター65は前記蓋受台81との間隔が狭ま
る向きに付勢される。
体圧シリンダ等の開閉駆動手段で昇降駆動されるように
なっている。
ンボックス1側のシャッター兼用蓋体部4に形成された
位置合わせ用凹部24にそれぞれ着脱自在に嵌合可能で
ある。
3に固着された連結用ブロック67で構成され、該連結
用ブロック67の肉厚は前記シャッター兼用蓋体部4及
び蓋受台81の肉厚の和よりも充分大きく設定されてい
る。連結用ブロック67の気密容器対接面には溝68が
形成され、該溝68内に気密封止用のOリング69が配
設されている。同様に、連結用ブロック67の真空クリ
ーンボックス側フランジ部6への対接面には溝70が形
成され、該溝70内に気密封止用のOリング71が配設
されている。シャッター65の連結用ブロック67への
対接面には、溝75が形成され、ここに気密封止用のO
リング76が配設されている。
くシャッター65内周に形成された溝84に気密封止用
(ダストシール用)Oリング85が配設されている。前
記気密容器63底部の中空昇降ロッド64が貫通する穴
部86にも溝87が形成され、ここに気密封止用(ダス
トシール用)Oリング88が配設されている。
方式クリーンシステムを内蔵しており、図2のように、
ファンフィルタ(粉塵除去用フィルタと気体循環手段と
しての送風用ファンとを組み合わせたもの)90で浮遊
粉塵の無いクリーンな気体(例えば空気、窒素ガス等)
を気密容器63等からなる密閉空間に図2矢印の如く循
環させている。また、真空クリーンボックス1をクリー
ン装置60に連結、合体したときに、連結用ブロック6
7の内側面(開閉口62の内側面)とシャッター兼用蓋
体部4及びフランジ部6の下面とシャッター65の上面
とで囲まれた中間エリアSが気密な密閉空間となるが、
この中間エリアSを真空排気することができるように、
連結用ブロック67には横方向に貫通する排気経路Uが
形成されている。さらに、クリーン装置は、排気経路U
を通して中間エリアSを真空排気するために真空ポンプ
等の真空排気手段を具備するとともに、気密容器63内
に引き込まれた半導体ウエハ30を各種処理部分に移送
するための移送手段等を具備している。なお、89は気
密容器63及びこれと隣接する気密容器間に設けられた
開口、95は気体をファンフィルタ90に戻すクリーン
循環ダクトである。
ボックス1の合体前状態では、真空クリーンボックス1
は予め別の真空チェンジャーにより内部が真空状態(例
えば、粉塵を大幅に少なくするために真空度0.1Torr
以下が好ましい)にされシャッター兼用蓋体部4で内部
が密閉されて搬送される。真空クリーンボックス1内部
の高真空と、外部の大気圧との圧力差によりシャッター
兼用蓋体部4が開閉口3側に押されて開閉口3を確実に
気密シールでき、シャッター兼用蓋体部4が動いてしま
うこともなく、被搬送物としての半導体ウエハ30を収
容した状態で真空クリーンボックス1を搬送可能であ
る。
ス1が載置されていない状態では、クリーン装置60の
開閉口62はシャッター65で閉成されており、シャッ
ター外面は通常の工場雰囲気にさらされている。
0との連結は、真空クリーンボックス1のシャッター兼
用蓋体部4を下向きにして、図1及び図3(B)のよう
に、クリーン装置60の開閉口62の開口縁部を構成す
る連結用ブロック67上にフランジ部6を当接させて載
置することによって行う。この際、クリーン装置側の蓋
受台81の位置決めピン61を真空クリーンボックス側
の位置合わせ用凹部24に嵌合させる。また、フランジ
部6を図示しない押え金具で連結用ブロック67側に押
えておく。また、クリーン装置60側のシャッター65
は、開閉操作ロッド80が上昇状態にあることで圧縮ば
ね83の力で上昇方向に付勢され、開閉口62の開口縁
部を構成する連結用ブロック67の内面に当接して開閉
口62を気密シールしている。
リーン装置60に連結した結果、連結用ブロック67の
内側面(開閉口62の内側面)とシャッター兼用蓋体部
4及びフランジ部6の下面とシャッター65の上面とで
囲まれた中間エリアSは気密な密閉空間となる。すなわ
ち、密閉空間となった中間エリアSにシャッター兼用蓋
体部4及びシャッター65が面する。この中間エリアS
は当初は大気圧であるから、排気経路Uを介してクリー
ン装置60側の真空排気手段で真空排気する(例えば、
真空度0.1Torr以下)。このとき、図3(A)で通常
の工場雰囲気にさらされていた蓋受台81やシャッター
65の上面等の粉塵は同時に排出されることになる。
空クリーンボックス1のシャッター兼用蓋体部4につい
ての内外圧力差は無くなるから、クリーン装置60側の
開閉操作ロッド80を僅かに下げ、蓋受台81を下降さ
せれば、シャッター兼用蓋体部4の自重及びホルダー2
2や半導体ウエハ30の重量が存在するため、図3
(C)の如く、当該シャッター兼用蓋体部4及び半導体
ウエハ30も蓋受台81と一体的に下降し、真空クリー
ンボックス1内の空間と中間エリアSとが連通(連続)
状態となる。但し、蓋受台81が僅かに下降した状態で
は依然としてシャッター65は圧縮ばね83で上方に付
勢されているため、クリーン装置60の開閉口62を気
密シールしている。
気は、真空クリーンボックス1の放置日数等を考慮して
当該真空クリーンボックス1内の真空度に近い真空度と
なるようにひとまず実施して、真空クリーンボックス1
内部と中間エリアSとの間の差圧が少ない状態でシャッ
ター兼用蓋体部4を開いて浮遊粉塵が舞い上がるのを防
止し、さらに中間エリアSと真空クリーンボックス1が
連通した状態で高い真空度(例えば真空度0.1Torr以
下)にまで真空排気してもよい。
通してクリーン装置60から内部のクリーンな気体(空
気、窒素等)を中間エリアS及び真空クリーンボックス
1に入れ(リークし)、シャッター65の上下面の圧力
を実質的に等しくしてから、開閉操作ロッド80及びこ
れに従動する昇降ロッド64を大きく引き込む(下降さ
せる)。この結果、図4(A)のようにシャッター65
は大きく開いてクリーン装置60内の空間と真空クリー
ンボックス1内の空間とが連通(連続)し、シャッター
兼用蓋体部4の自重及びホルダー22やこれで保持され
た半導体ウエハ30の重量が存在するため、シャッター
兼用蓋体部4は蓋受台81上に載置された状態でこれと
ともにクリーン装置60内に引き込まれる。図4(A)
の状態で、ホルダー22より半導体ウエハ30が取り出
され、必要な処理(例えば大気圧中での処理)を行う。
に戻されたら、図4(B)のように、開閉操作ロッド8
0及びこれに従動する昇降ロッド64を上昇させ、シャ
ッター65で装置側開閉口62を閉じる(但し、シャッ
ター兼用蓋体部4は開いた状態)。この状態で排気経路
Uを通して中間エリアS及び真空クリーンボックス1内
を真空排気する(例えば浮遊粉塵が充分少なくなるよう
に真空度0.1Torr以下)。
及びこれと一体の蓋受台81を更に上昇させてシャッタ
ー兼用蓋体部4を閉じ、クリーン装置60内と同じ雰囲
気の気体を排気経路Uを通してシャッター兼用蓋体部4
及びシャッター65等で挟まれた密閉空間となっている
中間エリアSに入れる(リークする)。この結果、真空
クリーンボックス1のシャッター兼用蓋体部4の下面が
中間エリアSの大気圧で押されるので本体部2とシャッ
ター兼用蓋体部4とが気密に一体化され、シャッター兼
用蓋体部4を蓋受台81上の位置決めピン61から支障
無く外すことができる状態となる。以後、本体部2とシ
ャッター兼用蓋体部4とが気密に一体化され、かつ半導
体ウエハを収容したた真空クリーンボックス1として任
意の位置に搬送することができる。
を得ることができる。
を開閉するシャッター兼用蓋体部4の開閉動作と、クリ
ーン装置60の開閉口62を開閉するシャッター65の
開閉動作とを異なるタイミングで実行可能とすること
で、真空クリーンボックス1を真空装置間の被搬送物
(本実施例では半導体ウエハを例示)の移送のみなら
ず、真空装置(例えばスパッタ装置、ドライエッチング
装置、CVD装置等)から大気圧中での各種処理を行う
クリーン装置60(例えば露光器、酸化装置、拡散装
置、検査器等)へ、あるいはクリーン装置60から真空
装置への被搬送物の移送に使用することができ、更には
クリーン装置間の移送にも利用できる。この結果、利用
範囲の拡大を図るとともに、真空が不要な工程や作業は
大気圧中のクリーンな工程や作業としてクリーン化に要
する費用の低減を図ることもできる。
ファンフィルタ90で浮遊粉塵を除去したクリーンな気
体を循環させる自己循環方式クリーンシステムを内蔵し
ている。この自己循環方式クリーンシステムは、従来の
クリーンルームと異なり、人間を作業空間から締め出
し、作業空間だけをクリーンな空間とするためにフィル
タを利用して粉塵を除去しており、クリーンな空間は必
要最小限とすることができる。
ックス1を連結したときの中間エリアSを、被搬送物の
移し変えの前に真空排気するが、このとき中間エリアS
内の粉塵も排出される。このため、クリーン装置60の
開閉口62やシャッター65が通常の工場雰囲気中にさ
らされる条件下でも使用可能である。
が長期間の放置で下がった場合でも、クリーン装置60
に真空クリーンボックス1を連結したときの中間エリア
Sの真空排気を真空クリーンボックス1内の真空度と同
程度とすることで、真空クリーンボックス1と中間エリ
アS間の差圧を無くし、シャッター兼用蓋体部4を開い
たときの差圧に起因する粉塵の舞い上がりを防止するこ
とができる。
昇降ロッド64の先端にシャッター65を一体化もしく
は固定し、前記中空昇降ロッド64の内周に摺動自在に
挿入された開閉操作ロッド80の先端に蓋受台81を一
体化もしくは固定し、前記蓋受台81の下面に前記シャ
ッター65を貫通するばね取付部材82を固着し、該ば
ね取付部材82の頭部と前記シャッター65の下面間に
圧縮ばね83を配設し、この圧縮ばね83により、シャ
ッター65を前記蓋受台81との間隔が狭まる向きに付
勢した構成としたので、開閉操作ロッド80を昇降させ
る1個の駆動源によって、シャッター兼用蓋体部4及び
シャッター65を異なるタイミングで開閉操作できる。
このため、シャッター兼用蓋体部4及びシャッター65
にそれぞれ独立した駆動源を用いる場合に比べて構成の
簡略化を図ることができる。
0が大気圧中での処理を行うものであったが、クリーン
装置60の代わりに真空装置を用いることもできる。こ
の場合、図3(C)の気体を中間エリアSにリークする
工程等を省略すればよい。
す。この場合、酸化、拡散、LP−CVD装置等のクリ
ーン処理装置100に、真空クリーンボックス1を2個
連結、合体できるローディングユニット110が付加さ
れている。
乃至図4の第1実施例におけるクリーン装置60と実質
的に同様の構成であり、密閉空間中にファンフィルタ9
0で浮遊粉塵を除去したクリーンな気体を送り出し、ク
リーン循環ダクト111でファンフィルタ90に戻して
循環させる自己循環方式クリーンシステムを内蔵してい
るとともに、真空クリーンボックス1のシャッター兼用
蓋体部4を受ける蓋受台81、装置側開閉口を開閉する
シャッター65、さらにはこれらを昇降駆動する機構、
またシャッター兼用蓋体部4及びシャッター65が面す
る中間エリアSを真空排気するための真空排気手段を具
備している(図中、図1と同一又は相当部分には同一符
号を付した。)
ユニット110の内部と連続するクリーンに封止された
内部領域を有し、やはり密閉空間中にファンフィルタ1
01で浮遊粉塵を除去したクリーンな気体を送り出し、
クリーン循環ダクト103でファンフィルタ101に戻
して循環させる自己循環方式クリーンシステムを内蔵し
ている。さらに、クリーン処理装置100内には移送手
段としてのロボットアーム102が設置されている。こ
のロボットアーム102は、ローディングユニット11
0内部に引き込まれたシャッター兼用蓋体部4上のホル
ダー22から被搬送物としての半導体ウエハ30を当該
クリーン処理装置100内に搬入する動作及び半導体ウ
エハ30をホルダー22に戻す動作を行うものである。
ックス1を連結することを想定していないクリーン処理
装置100であってもローディングユニット110を付
加することで、真空クリーンボックス1による被搬送物
の搬送が可能となる。
ーンルーム120内に設置された検査器121,12
2,123に真空クリーンボックス1から被搬送物とし
ての半導体ウエハを搬入する工程を示している。この図
において、クリーンルーム120の側壁外側に接してロ
ーディングユニット130が設置されており、ローディ
ングユニット130に連続するクリーンな空間を持つク
リーンユニット131がクリーンルーム120の側壁内
側に設けられている。ローディングユニット130は第
2実施例のローディングユニット110と同様の構造で
ある。なお、124は無人搬送車、125は検査後の半
導体ウエハを選別するためのストッカー、132はクリ
ーンルームや各種クリーン装置内で半導体ウエハを多数
保管して移送するためのマガジンである。
ット130上に連結、合体された真空クリーンボックス
1から半導体ウエハがローディングユニット130内に
引き込まれ、内部の移送手段によりクリーンユニット1
31内に搬入され、さらに半導体ウエハはクリーンユニ
ット131上のマガジン132に移される。マガジン1
32は無人搬送車124で所定の検査器121,12
2,123に運ばれ、ここでマガジン132内の半導体
ウエハは所定の検査を受け、検査結果に応じて選別され
て無人搬送車124によってストッカー125の特定選
別位置に仕分けられる。
が、本発明はこれに限定されることなく請求項の記載の
範囲内において各種の変形、変更が可能なことは当業者
には自明であろう。
真空クリーンボックス側のシャッター兼用蓋体部の開閉
動作と真空クリーンボックスが連結される装置側のシャ
ッターの開閉動作のタイミングを別にしており、被搬送
物を移送するために真空クリーンボックスを、真空装置
だけでなく、真空装置以外の各種処理装置に連結可能
で、さらに、真空クリーンボックスによってクリーンル
ームとクリーンルーム間の移送も可能である。
に真空クリーンボックスを合体させるための位置決め
は、真空クリーンボックスが真空排気手段及び移送手段
を持たない軽量コンパクトなものであるため極めて容易
である。
兼用蓋体部はクリーン装置側のシャッター側に対し係合
状態としてクリーン装置側の開閉駆動手段により当該ク
リーン装置内部に引き込まれるように構成しており、シ
ャッター兼用蓋体部上に半導体関連製品、光ディスク等
の加工、組み立てに必要な被搬送物を載せておくこと
で、真空クリーンボックスとクリーン装置間の被搬送物
の移送が簡単に実行できる。
装置とを合体した際に形成される真空排気が必要な中間
エリアを最小限とすることができ、(真空クリーンボッ
クス本体部のフランジ部端面にシャッター兼用蓋体部が
接して当該真空クリーンボックス本体部を気密に閉じ、
クリーン装置の開閉口の外側面の周縁部分に前記フラン
ジ部端面が気密に対接し、該開閉口の内側面の周縁部分
にクリーン装置側シャツターが気密に対接して密閉空間
の中間エリアを構成するため、及び当該中間エリア内に
シャッター兼用蓋体部及びクリーン装置側シャッターを
駆動するための機構を設ける必要が無いので)、真空ク
リーンボックスの合体あるいは離脱に要する時間を短縮
できる。
クリーン装置の開閉口周辺やシャッター上の粉塵を同時
に排出でき、真空クリーンボックスが連結されるクリー
ン装置を通常の工場雰囲気中に配置することができる。
置されて内部の真空度が低下している場合、前記中間エ
リアの真空度もそれに対応させることで両者の差圧の無
くして、真空クリーンボックスのシャッター兼用蓋体部
を開いたときに前記差圧に起因して粉塵が舞い上がる不
都合を防止することも可能になる。
実施例を示す正断面図である。
ーンシステムを示す斜視図である。
る。
る。
作説明図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 開閉口(3)及び開口縁のフランジ部
(6)を有する本体部(2)と前記フランジ部(6)の
端面に接して前記開閉口(3)を気密に閉成するシャッ
ター兼用蓋体部(4)とからなり、前記シャッター兼用
蓋体部(4)の閉成時に真空状態を維持できる気密性を
有していて前記シャッター兼用蓋体部(4)は内外圧力
差により閉成状態を保ち、真空排気手段及び移送手段を
持たない真空クリーンボックス(1)と、シャッター
(65)で開閉自在な開閉口(62)を有するとともに
閉成状態において前記シャッターは該開閉口(62)の
内側面の周縁部分に気密に対接するクリーン装置とを用
い、前記真空クリーンボックス(1)と前記クリーン装
置とを、前記シャッター兼用蓋体部(4)及びシャッタ
ー(65)の閉成状態にて気密に結合して、前記クリー
ン装置の開閉口(62)の外側面の周縁部分に前記フラ
ンジ部(6)の端面を気密に対接させ、前記シャッター
兼用蓋体部(4)及び前記シャッター(65)が面する
密閉空間を形成し、該密閉空間を真空排気した後、前記
シャッター兼用蓋体部(4)のみを開き、その後前記真
空クリーンボックス(1)及び前記シャッター(65)
で囲まれた密閉空間内を前記クリーン装置内と同様のク
リーン雰囲気としてから前記シャッター(65)を開い
て当該シャッター(65)及び前記シャッター兼用蓋体
部(4)を前記クリーン装置内部に引き込むことを特徴
とするクリーン搬送方法。 - 【請求項2】 開閉口(3)及び開口縁のフランジ部
(6)を有する本体部(2)と前記フランジ部(6)の
端面に接して前記開閉口(3)を気密に閉成するシャッ
ター兼用蓋体部(4)とからなり、前記シャッター兼用
蓋体部(4)の閉成時に真空状態を維持できる気密性を
有していて前記シャッター兼用蓋体部(4)は内外圧力
差により閉成状態を保ち、真空排気手段及び移送手段を
持たない真空クリーンボックス(1)と、 前記シャッター兼用蓋体部(4)に対して着脱自在に係
合する蓋受台(81)と、シャッター(65)と、前記
蓋受台(81)及び前記シャッター(65)を開閉駆動
する開閉駆動手段と、前記シャッター(65)で開閉自
在な開閉口(62)を有するとともに閉成状態において
前記シャッター(65)は該開閉口(62)の内側面の
周縁部分に気密に対接するクリーン装置とを具備し、 前記真空クリーンボックス(1)と前記クリーン装置と
は結合時に前記クリーン装置の開閉口(62)の外側面
の周縁部分に前記フランジ部(6)の端面が気密に対接
することで、前記シャッター兼用蓋体部(4)及びシャ
ッター(65)が面する気密な密閉空間を構成し、前記
シャッター(65)による前記クリーン装置の前記開閉
口(62)を閉成状態としたままで、前記シャッター兼
用蓋体部(4)に係合している前記蓋受台(81)を前
記開閉駆動手段によって駆動して前記シャッター兼用蓋
体部(4)を開く如く構成したことを特徴とするクリー
ン搬送装置。 - 【請求項3】 前記シャッターは前記蓋受台に対して相
互の間隔が小さくなる向きに付勢されている請求項2記
載のクリーン搬送装置。 - 【請求項4】 前記蓋受台側には前記シャッター兼用蓋
体部に着脱自在に嵌合する位置決めピンが取り付けられ
ている請求項2又は3記載のクリーン搬送装置。 - 【請求項5】 前記シャッター兼用蓋体部上には被搬送
物を一定姿勢で支えるホルダーが取り付けられている請
求項2,3又は4記載のクリーン搬送装置。 - 【請求項6】 前記クリーン装置は、密閉空間内にクリ
ーンな気体を循環させるためのフィルタ及び気体循環手
段を有している請求項2,3,4又は5記載のクリーン
搬送装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6047734A JP2850279B2 (ja) | 1994-02-22 | 1994-02-22 | クリーン搬送方法及び装置 |
US08/391,609 US5730573A (en) | 1994-02-22 | 1995-02-21 | Clean transfer method and apparatus therefor |
US09/047,283 US6062808A (en) | 1994-02-22 | 1998-03-24 | Clean transfer method and apparatus therefor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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---|---|---|---|
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Country Status (2)
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---|---|
US (2) | US5730573A (ja) |
JP (1) | JP2850279B2 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6338604B1 (en) | 1999-08-11 | 2002-01-15 | Tdk Corporation | Lid latch mechanism for clean box |
US6390145B1 (en) | 1999-06-23 | 2002-05-21 | Tdk Corporation | Container and method for sealing the container |
US6561894B1 (en) | 1999-04-19 | 2003-05-13 | Tdk Corporation | Clean box, clean transfer method and apparatus therefor |
US6641349B1 (en) | 1999-04-30 | 2003-11-04 | Tdk Corporation | Clean box, clean transfer method and system |
JP2004531069A (ja) * | 2001-06-19 | 2004-10-07 | ブルックス オートメーション インコーポレイテッド | 基板を移送するためのシステム |
US7360985B2 (en) | 2002-12-30 | 2008-04-22 | Tdk Corporation | Wafer processing apparatus including clean box stopping mechanism |
US7537425B2 (en) | 2002-12-30 | 2009-05-26 | Tdk Corporation | Wafer processing apparatus having dust proof function |
US7607880B2 (en) | 2000-08-31 | 2009-10-27 | Tdk Corporation | Wafer processing apparatus having dust proof function |
US7674083B2 (en) | 2003-05-15 | 2010-03-09 | Tdk Corporation | Clean device with clean box-opening/closing device |
Families Citing this family (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6833035B1 (en) | 1994-04-28 | 2004-12-21 | Semitool, Inc. | Semiconductor processing system with wafer container docking and loading station |
US6712577B2 (en) * | 1994-04-28 | 2004-03-30 | Semitool, Inc. | Automated semiconductor processing system |
JP3796782B2 (ja) * | 1995-11-13 | 2006-07-12 | アシスト シンコー株式会社 | 機械的インターフェイス装置 |
US5746434A (en) * | 1996-07-09 | 1998-05-05 | Lam Research Corporation | Chamber interfacing O-rings and method for implementing same |
DE59805566D1 (de) * | 1997-04-11 | 2002-10-24 | Leybold Systems Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Be- und Entladen einer evakuierbaren Behandlungskammer |
US6157866A (en) | 1997-06-19 | 2000-12-05 | Advanced Micro Devices, Inc. | Automated material handling system for a manufacturing facility divided into separate fabrication areas |
US5924833A (en) * | 1997-06-19 | 1999-07-20 | Advanced Micro Devices, Inc. | Automated wafer transfer system |
JPH1159829A (ja) * | 1997-08-08 | 1999-03-02 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体ウェハカセット搬送装置、半導体ウェハカセット搬送装置で用いられるストッカ、ならびに半導体ウェハカセット搬送装置で用いられるストッカ入庫作業制御方法、ストッカ出庫作業制御方法、自動搬送車制御方法、およびストッカ在庫照合方法 |
WO1999012190A2 (en) * | 1997-09-03 | 1999-03-11 | Novus Corporation | Sealed capsule opening and unloading system |
JP3167970B2 (ja) | 1997-10-13 | 2001-05-21 | ティーディーケイ株式会社 | クリーンボックス、クリーン搬送方法及び装置 |
JP3417821B2 (ja) | 1997-11-17 | 2003-06-16 | ティーディーケイ株式会社 | クリーンボックス、クリーン搬送方法及び装置 |
US6168364B1 (en) | 1999-04-19 | 2001-01-02 | Tdk Corporation | Vacuum clean box, clean transfer method and apparatus therefor |
JP3954287B2 (ja) * | 1999-06-28 | 2007-08-08 | 東京エレクトロン株式会社 | ウェハキャリア用蓋体の着脱装置 |
JP3635061B2 (ja) * | 1999-07-14 | 2005-03-30 | 東京エレクトロン株式会社 | 被処理体収容ボックスの開閉蓋の開閉装置及び被処理体の処理システム |
US6734950B2 (en) * | 2000-06-13 | 2004-05-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Load-lock chamber and exposure apparatus using the same |
US8163251B2 (en) * | 2001-09-10 | 2012-04-24 | Py Daniel C | Transfer port and method for transferring sterile items |
KR100922051B1 (ko) * | 2002-04-12 | 2009-10-19 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 반도체 처리 장치에 있어서의 포트 구조 |
SG115630A1 (en) * | 2003-03-11 | 2005-10-28 | Asml Netherlands Bv | Temperature conditioned load lock, lithographic apparatus comprising such a load lock and method of manufacturing a substrate with such a load lock |
SG115631A1 (en) * | 2003-03-11 | 2005-10-28 | Asml Netherlands Bv | Lithographic projection assembly, load lock and method for transferring objects |
TWI234692B (en) * | 2003-03-11 | 2005-06-21 | Asml Netherlands Bv | Lithographic projection assembly, handling apparatus for handling substrates and method of handling a substrate |
SG115629A1 (en) | 2003-03-11 | 2005-10-28 | Asml Netherlands Bv | Method and apparatus for maintaining a machine part |
US7123344B2 (en) * | 2003-09-29 | 2006-10-17 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
KR20050067751A (ko) * | 2003-12-29 | 2005-07-05 | 동부아남반도체 주식회사 | 로드락 챔버의 엘리베이터 회전장치 및 그 회전방법 |
FR2865314B1 (fr) * | 2004-01-20 | 2006-04-28 | Cit Alcatel | Station de controle et de purge de mini-environnement |
FR2902235B1 (fr) * | 2006-06-09 | 2008-10-31 | Alcatel Sa | Dispositif de transport, de stockage et de transfert de substrats |
FR2915831B1 (fr) * | 2007-05-04 | 2009-09-25 | Alcatel Lucent Sas | Interface d'enceinte de transport |
WO2008151095A2 (en) * | 2007-05-30 | 2008-12-11 | Blueshift Technologies, Inc. | Vacuum substrate storage |
US8424703B2 (en) | 2008-05-01 | 2013-04-23 | Brooks Automation, Inc. | Substrate container sealing via movable magnets |
JP5134495B2 (ja) * | 2008-10-16 | 2013-01-30 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置及び処理方法 |
JP5516968B2 (ja) | 2010-06-08 | 2014-06-11 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 連結搬送システム |
JP5794497B2 (ja) | 2010-06-08 | 2015-10-14 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 連結システム |
JP5958081B2 (ja) * | 2012-05-25 | 2016-07-27 | Tdk株式会社 | 収容容器の蓋取り外し方法 |
US10347516B2 (en) * | 2014-11-11 | 2019-07-09 | Applied Materials, Inc. | Substrate transfer chamber |
US9564350B1 (en) * | 2015-09-18 | 2017-02-07 | Globalfoundries Inc. | Method and apparatus for storing and transporting semiconductor wafers in a vacuum pod |
DE102016119888B3 (de) * | 2016-10-19 | 2018-03-08 | Asys Automatic Systems Gmbh & Co. Kg | Arbeitseinheit zur Umsetzung von Substraten |
KR101890160B1 (ko) * | 2016-11-23 | 2018-08-21 | 주식회사 에스에프에이 | 반송대차 메인트 리프터 |
CN108742382A (zh) * | 2018-08-27 | 2018-11-06 | 江苏康枫美医疗器械科技有限公司 | 一种护士站用桌面清洁装置 |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4534389A (en) * | 1984-03-29 | 1985-08-13 | Hewlett-Packard Company | Interlocking door latch for dockable interface for integrated circuit processing |
US4674939A (en) * | 1984-07-30 | 1987-06-23 | Asyst Technologies | Sealed standard interface apparatus |
JPS61107735A (ja) * | 1984-10-31 | 1986-05-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 物品搬送装置 |
US4943457A (en) * | 1985-10-24 | 1990-07-24 | Texas Instruments Incorporated | Vacuum slice carrier |
US4687542A (en) * | 1985-10-24 | 1987-08-18 | Texas Instruments Incorporated | Vacuum processing system |
US4842680A (en) * | 1985-10-24 | 1989-06-27 | Texas Instruments Incorporated | Advanced vacuum processor |
US4966519A (en) * | 1985-10-24 | 1990-10-30 | Texas Instruments Incorporated | Integrated circuit processing system |
US4746256A (en) * | 1986-03-13 | 1988-05-24 | Roboptek, Inc. | Apparatus for handling sensitive material such as semiconductor wafers |
JPS62290616A (ja) * | 1986-06-05 | 1987-12-17 | Tokyo Electron Ltd | ウエハ搬送機構 |
DE3776118D1 (de) * | 1986-12-22 | 1992-02-27 | Siemens Ag | Transportbehaelter mit austauschbarem, zweiteiligem innenbehaelter. |
JPS63271951A (ja) * | 1987-04-28 | 1988-11-09 | Nippon Signal Co Ltd:The | ウエ−ハ搬送装置 |
JPH01186621A (ja) * | 1987-07-16 | 1989-07-26 | Texas Instr Inc <Ti> | 処理装置及び方法 |
JPS6464335A (en) * | 1987-09-04 | 1989-03-10 | Toshiba Corp | Wafer handling device |
JP2545591B2 (ja) * | 1988-09-30 | 1996-10-23 | 国際電気株式会社 | ウェーハ処理装置 |
JP3069575B2 (ja) * | 1990-03-09 | 2000-07-24 | 東京エレクトロン株式会社 | 縦型熱処理装置 |
US5137063A (en) * | 1990-02-05 | 1992-08-11 | Texas Instruments Incorporated | Vented vacuum semiconductor wafer cassette |
JP2876250B2 (ja) * | 1990-09-27 | 1999-03-31 | 東京エレクトロン株式会社 | 縦型熱処理装置 |
US5169272A (en) * | 1990-11-01 | 1992-12-08 | Asyst Technologies, Inc. | Method and apparatus for transferring articles between two controlled environments |
JPH0555344A (ja) * | 1991-08-27 | 1993-03-05 | Nec Corp | 半導体ウエハー収納カセツト保管容器と半導体ウエハー処理装置とのインターフエースシステム |
JP3277550B2 (ja) * | 1992-05-21 | 2002-04-22 | 神鋼電機株式会社 | 可搬式密閉コンテナ用ガスパージユニット |
JP3252456B2 (ja) * | 1992-07-29 | 2002-02-04 | 神鋼電機株式会社 | 密閉コンテナのガスパージ方法およびその装置 |
JP3252457B2 (ja) * | 1992-07-29 | 2002-02-04 | 神鋼電機株式会社 | 可搬式密閉容器のガスパージ方法 |
KR100302012B1 (ko) * | 1992-11-06 | 2001-11-30 | 조셉 제이. 스위니 | 미소-환경 콘테이너 연결방법 및 미소-환경 로드 로크 |
KR100303075B1 (ko) * | 1992-11-06 | 2001-11-30 | 조셉 제이. 스위니 | 집적회로 웨이퍼 이송 방법 및 장치 |
US5378107A (en) * | 1993-04-01 | 1995-01-03 | Applied Materials, Inc. | Controlled environment enclosure and mechanical interface |
-
1994
- 1994-02-22 JP JP6047734A patent/JP2850279B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-02-21 US US08/391,609 patent/US5730573A/en not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-03-24 US US09/047,283 patent/US6062808A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6561894B1 (en) | 1999-04-19 | 2003-05-13 | Tdk Corporation | Clean box, clean transfer method and apparatus therefor |
US6641349B1 (en) | 1999-04-30 | 2003-11-04 | Tdk Corporation | Clean box, clean transfer method and system |
US6390145B1 (en) | 1999-06-23 | 2002-05-21 | Tdk Corporation | Container and method for sealing the container |
US6338604B1 (en) | 1999-08-11 | 2002-01-15 | Tdk Corporation | Lid latch mechanism for clean box |
US7607880B2 (en) | 2000-08-31 | 2009-10-27 | Tdk Corporation | Wafer processing apparatus having dust proof function |
US7670095B2 (en) | 2000-08-31 | 2010-03-02 | Tdk Corporation | Wafer processing apparatus having dust proof function |
JP2004531069A (ja) * | 2001-06-19 | 2004-10-07 | ブルックス オートメーション インコーポレイテッド | 基板を移送するためのシステム |
US7360985B2 (en) | 2002-12-30 | 2008-04-22 | Tdk Corporation | Wafer processing apparatus including clean box stopping mechanism |
US7537425B2 (en) | 2002-12-30 | 2009-05-26 | Tdk Corporation | Wafer processing apparatus having dust proof function |
US7614840B2 (en) | 2002-12-30 | 2009-11-10 | Tdk Corporation | Wafer processing apparatus having dust proof function |
US7674083B2 (en) | 2003-05-15 | 2010-03-09 | Tdk Corporation | Clean device with clean box-opening/closing device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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US5730573A (en) | 1998-03-24 |
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