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JP2834674B2 - MR type magnetic head and method of manufacturing the same - Google Patents

MR type magnetic head and method of manufacturing the same

Info

Publication number
JP2834674B2
JP2834674B2 JP6191349A JP19134994A JP2834674B2 JP 2834674 B2 JP2834674 B2 JP 2834674B2 JP 6191349 A JP6191349 A JP 6191349A JP 19134994 A JP19134994 A JP 19134994A JP 2834674 B2 JP2834674 B2 JP 2834674B2
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JP
Japan
Prior art keywords
layer
insulating
insulating layer
lead
magnetic head
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP6191349A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0836712A (en
Inventor
一彦 立川
敏男 梅原
剛 佐分
茂徳 鈴木
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FDK Corp
Original Assignee
FDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by FDK Corp filed Critical FDK Corp
Priority to JP6191349A priority Critical patent/JP2834674B2/en
Publication of JPH0836712A publication Critical patent/JPH0836712A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2834674B2 publication Critical patent/JP2834674B2/en
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、MR型磁気ヘッド及び
その製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an MR type magnetic head and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】MR型磁気ヘッドは、媒体摺動面に沿っ
て帯状にMR層をパターン形成すると共に、このMR層
に対して適切なバイアス磁界を与えるバイアス手段とを
付加して構成される。そして、このMR層に対してバイ
アス磁界に加えて媒体に記録された磁気信号の磁界が作
用すると、MR層の抵抗値がこれに作用する磁界の変化
と比例的に変化する。この抵抗値変化を検出することで
磁気信号を再生するようになっている。
2. Description of the Related Art An MR type magnetic head is formed by patterning an MR layer in a belt shape along a medium sliding surface and adding bias means for applying an appropriate bias magnetic field to the MR layer. . When a magnetic field of a magnetic signal recorded on the medium acts on the MR layer in addition to the bias magnetic field, the resistance of the MR layer changes in proportion to the change in the magnetic field acting on the MR layer. The magnetic signal is reproduced by detecting the change in the resistance value.

【0003】そして、係るMR型磁気ヘッドの一例とし
て、特開平3−125311号公報に開示されたよう
な、硬磁性横バイアス構造のものがある。具体的な構造
を示すと、図11に示すように、基板1の上にMR層2
を形成し、このMR層2に対して横バイアスを与えるた
めのリード層3をMR層2の側面との間で接合を図り、
係る接合面を介して電力供給,信号検出(データ読取
り)を行うようになっている。
As an example of such an MR type magnetic head, there is a hard magnetic lateral bias structure as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 3-125311. Specifically, as shown in FIG. 11, an MR layer 2 is formed on a substrate 1 as shown in FIG.
Is formed, and a lead layer 3 for applying a lateral bias to the MR layer 2 is bonded to a side surface of the MR layer 2.
Power supply and signal detection (data reading) are performed via such a joint surface.

【0004】また、図示の例ではMR層2の一方の側面
にリード層3を設けているが、図示省略するがMR層2
の反対側の側面にもリード層が接続されている。そし
て、図示するようにMR層2の側面は角度θで傾斜する
ようになっており、リード層3の先端Aは係る傾斜面
(側面)のどこか(或いはMR層2の上面)に位置す
る。そして、MR層2の側面下端から上記先端Aまでの
がMR層2とリード層3の接合面となり、換言すれば、
上記A地点から反対側のA地点(図示省略)までの間が
センス領域となる。
In the example shown in the figure, the lead layer 3 is provided on one side surface of the MR layer 2.
The lead layer is also connected to the side surface on the opposite side. As shown, the side surface of the MR layer 2 is inclined at an angle θ, and the tip A of the lead layer 3 is located somewhere on the inclined surface (side surface) (or the upper surface of the MR layer 2). . Then, a portion from the lower end of the side surface of the MR layer 2 to the tip A is a bonding surface between the MR layer 2 and the lead layer 3, in other words,
The area from the point A to the opposite point A (not shown) is a sense area.

【0005】なお、上記各層2,3は、図示するように
複数の材質からなる層を積層して形成される場合もあ
り、また単層からなる場合もある。そして、係る各層
2,3の上方を保護層4で覆うようになっている。
[0005] Each of the layers 2 and 3 may be formed by laminating layers made of a plurality of materials as shown in the figure, or may be formed of a single layer. The upper part of each of the layers 2 and 3 is covered with a protective layer 4.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来のMR型磁気ヘッドでは、製造プロセスの精度上
の問題から上記リード層3の先端Aの形成位置がずれて
しまう。すなわち、仮に図5に示す状態が最内側地点と
すると、例えば図中dに示す範囲内でばらついてしま
う。するとセンス領域も変動してしまい、設計通りの所
望の特性を得ることができなくなる。
However, in the above-mentioned conventional MR type magnetic head, the formation position of the tip A of the lead layer 3 is shifted due to a problem in the accuracy of the manufacturing process. That is, if the state shown in FIG. 5 is the innermost point, for example, the state varies within the range shown in d in the figure. Then, the sense region also fluctuates, and it becomes impossible to obtain desired characteristics as designed.

【0007】また、製造プロセス上の誤差は、上記リー
ド層3の製造時よりは小さいもののMR層2の製造時に
も僅かであるが各層の厚さや傾斜角θ等がばらつくこと
がある。すると、上記先端Aの位置は、MR層2とリー
ド層3の相対位置で決まるため、二重の製造誤差により
ばらつくので、そのばらつき量も大きくなる。
Although errors in the manufacturing process are smaller than in the case of manufacturing the lead layer 3 but are slight in the case of manufacturing the MR layer 2, the thickness of each layer and the inclination angle θ may vary. Then, since the position of the tip A is determined by the relative position of the MR layer 2 and the lead layer 3, it varies due to a double manufacturing error, and the amount of variation also increases.

【0008】さらに、MR層2の側面は、製造プロセス
の関係から、上端近傍の傾斜角度が上記角度θよりも小
さくてなだらかとなっているので、リード層3を製造す
る際の厚さ(図示の例ではCoCrPt層の厚さ)が変
動すると、先端Aの位置は大きく変動してしまい、上記
問題は顕著に現れる。
Further, the side surface of the MR layer 2 has a gradual inclination angle near the upper end smaller than the above-mentioned angle θ due to the manufacturing process. If the thickness of the CoCrPt layer varies in the example of (1), the position of the tip A greatly varies, and the above problem appears remarkably.

【0009】本発明は、上記した背景に鑑みてなされた
もので、その目的とするところは、上記した問題点を解
決し、MR層とリード層の接合範囲を正確に(設計通り
に)形成でき、その結果センス領域を精度よく決定する
ことができ、安定したばらつきのない特性を得ることの
できるMR型磁気ヘッド及びその製造方法を提供するこ
とにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above background, and has as its object to solve the above-mentioned problems and to accurately form (as designed) a bonding range between an MR layer and a lead layer. Accordingly, it is an object of the present invention to provide an MR type magnetic head capable of accurately determining a sense region and obtaining stable characteristics without variation, and a method of manufacturing the same.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため、本発明に係るMR型磁気ヘッドでは、基板上に直
接または所定層の上に配置したMR層と、前記MR層の
側面で接合されるように、前記基板上の所定位置に形成
した導電性を有する金属材からなるリード層と、前記M
R層と前記リード層の表面を覆う保護層とを備えたMR
型磁気ヘッドにおいて、前記MR層の上面に、その全面
を覆う所定厚さの絶縁層を設けて、前記MR層の側面と
前記絶縁層の側面を連続させ、前記MR層の側面と、前
記絶縁層の側面はともに傾斜面となるとともに、前記M
R層の側面の傾斜角度θと、前記絶縁層の側面のうち、
前記MRとの接続側部分の傾斜角度を等しくし、かつ、
前記絶縁層の側面の上方側の傾斜角度を、前記MR層の
側面の傾斜角度θより小さくなるように構成し、前記リ
ード層を、前記MR層の側面に加え、前記絶縁層の少な
くとも側面とも接合させるように構成した(請求項
1)。
In order to achieve the above object, in an MR type magnetic head according to the present invention, an MR layer disposed directly on a substrate or on a predetermined layer is joined to a side surface of the MR layer. A lead layer made of a conductive metal material formed at a predetermined position on the substrate;
MR having an R layer and a protective layer covering the surface of the lead layer
In the type magnetic head, an insulating layer having a predetermined thickness is provided on the upper surface of the MR layer so as to cover the entire surface thereof, and the side surface of the MR layer and the side surface of the insulating layer are continuous with each other. Both side surfaces of the layer are inclined surfaces, and the M
Of the inclination angle θ of the side surface of the R layer and the side surface of the insulating layer,
The inclination angle of the connection side portion with the MR is made equal, and
The inclination angle of the upper side of the side surface of the insulating layer is configured to be smaller than the inclination angle θ of the side surface of the MR layer, and the lead layer is added to the side surface of the MR layer. It was configured to be joined (claim 1).

【0011】そして、上記構成のMR型磁気ヘッドを製
造するための製造方法では、基板上に直接または間接的
に所定数の磁気抵抗効果を有するMR材料を配置し、前
記MR材料の上に絶縁材料を配置し、次いで、前記MR
材料と前記絶縁材料に対して露光現像し、不要部分を除
去することにより、前記MR材料と前記絶縁材料の側面
が連続する傾斜面となるとともに、その各材料の側面の
傾斜角度が、前記MR材料から前記絶縁材料の途中まで
を同一傾斜角度θで、前記絶縁材料の上方側の傾斜角度
を前記同一傾斜角度θよりも小さくなるような所定形状
に成形してMR層並びに絶縁層を形成し、次いで、少な
くとも前記MR層と前記絶縁層の側面に接合させるよう
に導電性を有する金属材からなるリード層を前記基板上
に形成し、その後、前記絶縁層並びに前記リード層の露
出面を保護層で被覆するようにした。
In the manufacturing method for manufacturing the MR type magnetic head having the above structure, a predetermined number of MR materials having a magnetoresistance effect are directly or indirectly disposed on a substrate, and an insulating material is provided on the MR material. Place material and then MR
By exposing and developing the material and the insulating material to remove unnecessary portions, the side surfaces of the MR material and the insulating material become continuous inclined surfaces, and the inclination angle of the side surface of each material is reduced by the MR angle. The MR layer and the insulating layer are formed by molding the material from the material to the middle of the insulating material into a predetermined shape such that the angle of inclination on the upper side of the insulating material is smaller than the same angle of inclination θ. Next, a lead layer made of a conductive metal material is formed on the substrate so as to be bonded to at least the side surfaces of the MR layer and the insulating layer, and thereafter, the exposed surfaces of the insulating layer and the lead layer are protected. Layer.

【0012】また、上記した目的を達成するためのMR
型磁気ヘッドの別の構成としては基板上に直接または所
定層の上に配置したMR層と、前記MR層の側面及び上
面で接合されるように、前記基板上の所定位置に形成し
た導電性を有する金属材からなるリード層と、前記MR
層と前記リード層の表面を覆う保護層とを備えたMR型
磁気ヘッドにおいて、前記MR層の上に、そのMR層の
上面両側端が所定寸法だけ露出するように所定厚さの絶
縁層を設け、前記リード層を、前記MR層の側面,露出
する上面、並びに、前記補助絶縁層の少なくとも側面と
接合させるようにしてなるMR型磁気ヘッド。
Further, an MR for achieving the above object is provided.
Another configuration of the type magnetic head includes an MR layer disposed directly on a substrate or on a predetermined layer, and a conductive layer formed at a predetermined position on the substrate so as to be joined on the side and top surfaces of the MR layer. A lead layer made of a metal material having
In an MR type magnetic head including a layer and a protective layer covering the surface of the lead layer, an insulating layer having a predetermined thickness is formed on the MR layer such that both side edges of the upper surface of the MR layer are exposed by predetermined dimensions. An MR type magnetic head, wherein the lead layer is bonded to a side surface of the MR layer, an exposed upper surface, and at least a side surface of the auxiliary insulating layer.

【0013】そして、かかる構成のMR型磁気ヘッドを
製造するための製造方法では、基板上に直接または間接
的に所定数の磁気抵抗効果を有するMR材料を配置し、
前記MR材料の上に絶縁材料を配置する。この時、それ
らMR材料及び絶縁材料を積層配置後に少なくとも2回
の露光現像処理及びエッチング処理を行ったり、或い
は、各材料を形成するごとに露光現像処理及びエッチン
グ処理を行うことのいずれかの処理を行い、形状寸法の
異なるMR層、絶縁層を形成する。次いで、少なくとも
前記MR層と前記絶縁層の側面及び前記MR層の上面両
端の露出部位に接合させるように導電性を有する金属材
からなるリード層を前記基板上に形成し、その後、前記
絶縁層並びに前記リード層の露出面を保護層で被覆する
ことにより製造するようにした。
In the manufacturing method for manufacturing the MR type magnetic head having such a configuration, a predetermined number of MR materials having a magnetoresistive effect are arranged directly or indirectly on a substrate.
An insulating material is disposed on the MR material. At this time, at least two times of the exposure and development processing and the etching processing are performed after the MR material and the insulating material are stacked and arranged, or the exposure and development processing and the etching processing are performed each time each material is formed. To form MR layers and insulating layers having different shapes and dimensions. Next, a lead layer made of a conductive metal material is formed on the substrate so as to be bonded to at least the side surfaces of the MR layer and the insulating layer and the exposed portions at both ends of the upper surface of the MR layer. Further, the lead layer is manufactured by covering the exposed surface with a protective layer.

【0014】[0014]

【作用】第1の発明(請求項1,2)では、リード層
は、MR層とその上に形成された絶縁層の側面と接続す
る。ところで絶縁層とリード層との接合面では、当然の
ことながら電力供給や信号検出は行われない。従って、
電力供給並びに信号検出が行われる実際の経路・接合面
は、リード層とMR層との接合面となり、その上端はM
R層と絶縁層との境界となる。従って、製造誤差等から
リード層の先端位置がばらついたとしても、センス領域
を決定するMR層との接合面の上端位置は変わらない。
よって、センス領域は、MR層と絶縁層の製造時の誤差
のみに影響を受け、しかも、係る誤差はリード層の製造
時の誤差に比べて非常に小さいので、結局センス領域の
幅は、精度よく(設計通りに)決定されることになる。
そして、MR層と絶縁層を同時に形成した場合に、上方
は緩やかになる(傾斜角度θ′が小さい(MR層の傾斜
角度θに比べて))。そこで、図3,図4に示すように
絶縁層の途中で傾斜角度が緩やかになる屈曲点Cが生じ
るようにすると、MR層の側面の傾斜角度θは、その全
体に渡って急峻となる。したがって、たとえ各層の厚さ
が設計通りにならなくても、屈曲点Cよりも上にMR層
と絶縁層の境界Sがある場合(傾斜角度θ′は小さい)
に比べて、境界Sの位置(センス領域を決定する横方向
の存在位置)は大きく変動しない。したがって、境界S
の位置の精度出しが正確に行え、センス領域を一定にす
ることができる。
According to the first invention (claims 1 and 2), the lead layer is connected to the MR layer and the side surface of the insulating layer formed thereon. By the way, power supply and signal detection are not naturally performed on the joint surface between the insulating layer and the lead layer. Therefore,
The actual path / junction surface where power supply and signal detection are performed is the junction surface between the lead layer and the MR layer.
The boundary between the R layer and the insulating layer. Therefore, even if the tip position of the lead layer varies due to a manufacturing error or the like, the upper end position of the bonding surface with the MR layer that determines the sense region does not change.
Therefore, the sense region is affected only by errors in manufacturing the MR layer and the insulating layer, and the error is very small as compared with the error in manufacturing the lead layer. It will be well determined (as designed).
When the MR layer and the insulating layer are formed at the same time, the upper portion becomes gentle (the inclination angle θ ′ is small (compared to the inclination angle θ of the MR layer)). Therefore, as shown in FIGS. 3 and 4, when a bending point C where the inclination angle becomes gentle occurs in the middle of the insulating layer, the inclination angle θ of the side surface of the MR layer becomes steep over the whole. Therefore, even if the thickness of each layer is not as designed, there is a boundary S between the MR layer and the insulating layer above the bending point C (the inclination angle θ ′ is small).
The position of the boundary S (existing position in the horizontal direction that determines the sense area) does not greatly change. Therefore, the boundary S
The accuracy of the position can be accurately determined, and the sensing area can be made constant.

【0015】また、第2の発明(請求項3,4)では、
リード層とMR層の接合は、上記と同様にMR層の側面
はもちろん、露出したMR層の上面両端部位とも接合さ
れることになる。よって、センス領域は、リード層の先
端位置に関係なく、絶縁層とMR層の接触面幅となる。
そして絶縁層は、露光現像処理を経てエッチングを行う
ことにより正確に形成することができるので、やはり、
センス領域の幅は精度良く決定される。
In the second invention (claims 3 and 4),
As described above, the lead layer and the MR layer are joined not only to the side surfaces of the MR layer but also to both end portions of the exposed upper surface of the MR layer. Therefore, the sensing area has the contact surface width between the insulating layer and the MR layer regardless of the position of the tip of the lead layer.
Then, the insulating layer can be accurately formed by performing etching after exposure and development processing.
The width of the sense region is accurately determined.

【0016】[0016]

【実施例】以下、本発明に係るMR型磁気ヘッド及びそ
の製造方法の好適な実施例を添付図面を参照にして詳述
する。図1は本発明に係るMR型磁気ヘッドの第1実施
例を示している。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of an MR type magnetic head and a method for manufacturing the same according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 shows a first embodiment of an MR type magnetic head according to the present invention.

【0017】同図に示すように、アルチック,フェライ
ト等から構成される基板10の上に直接または所定の層
を介して間接的に所定形状のMR層11を配置する。こ
のMR層11は、その側面が傾斜する傾斜面(傾斜角
θ)となっている(図示の例も従来例と同様に片側のみ
表示しており、図示省略した部分は中心から線対称にな
っている)。
As shown in FIG. 1, an MR layer 11 having a predetermined shape is disposed directly or indirectly via a predetermined layer on a substrate 10 made of AlTiC, ferrite or the like. The MR layer 11 has an inclined surface (inclination angle θ) in which the side surface is inclined (in the illustrated example, only one side is shown as in the conventional example, and the omitted portion is line-symmetric from the center. ing).

【0018】そして、本例ではMR層11を複数の磁気
抵抗効果材料(MR材料)を積層することにより形成し
ている。すなわち、基板の上にFeNiRhからなる第
1MR層12を設け、その上にTaからなる第2MR層
13を設けさらにその上にFeNiからなる第3MR層
14を設けている。なお、本例ではこのように各材料を
所定の順で積層形成したが、積層する順番はこの例に限
られず、また使用する材料や積層する層数も任意であ
り、単層でも良い。
In this embodiment, the MR layer 11 is formed by laminating a plurality of magnetoresistive materials (MR materials). That is, a first MR layer 12 made of FeNiRh is provided on a substrate, a second MR layer 13 made of Ta is provided thereon, and a third MR layer 14 made of FeNi is provided thereon. In this example, the respective materials are laminated in a predetermined order as described above. However, the order of lamination is not limited to this example, and the materials to be used and the number of layers to be laminated are arbitrary, and a single layer may be used.

【0019】ここで本発明では、上記MR層11の上
方、すなわち、第3MR層14の上面全面を覆うように
して絶縁層15を設けている。この絶縁層15は、本例
ではAl2 3 を用いて構成している。さらに、MR層
11の側面と絶縁層15の側面とは、連続して傾斜面と
なっており、より具体的には、絶縁層15の側面の途中
からなだらかな傾斜面となっている。なお、係るなだら
かな傾斜面は、後述する製造プロセスからの要請からで
あり、MR層11と絶縁層15とを同時に露光現像等の
所定の処理を行い形成したためである。すなわち、上方
から所定距離だけなだらかな曲面となるので、絶縁層1
5の厚さを適宜制御することにより、なだらかになる屈
曲点を絶縁層15中に配置するようにしている。換言す
れば、MR層11の側面部分は急峻な傾斜面(傾斜角
θ)を維持するように形成される。
Here, in the present invention, the insulating layer 15 is provided so as to cover the MR layer 11, that is, the entire upper surface of the third MR layer 14. This insulating layer 15 is made of Al 2 O 3 in this example. Further, the side surface of the MR layer 11 and the side surface of the insulating layer 15 are continuously inclined surfaces, and more specifically, a gentle inclined surface from the middle of the side surface of the insulating layer 15. The gentle slope is due to a request from a manufacturing process described later, and is because the MR layer 11 and the insulating layer 15 are simultaneously formed by performing a predetermined process such as exposure and development. That is, the insulating layer 1 has a curved surface that is gently curved by a predetermined distance from above.
By appropriately controlling the thickness of 5, a gentle bending point is arranged in the insulating layer 15. In other words, the side surface of the MR layer 11 is formed so as to maintain a steep inclined surface (inclination angle θ).

【0020】そして、上記MR層11と絶縁層15の両
側面と接合するように、基板10上の所定位置にリード
層16を設けている。このリード層16は、硬磁性バイ
アス層(特開平3−125311号公報等参照)とも称
されるもので、MR層11の側面と接続し、電気的及び
磁気的連続性を発揮するように構成される。そして、使
用する材料としては導通性を有する金属材が用いられ、
特にCoCr,CoPt,CoCrPt等のメタラジを
用いると良い。そして、このリード層も所定の金属材を
単層で使用したり、或いは複数積層して構成しても良
い。
A lead layer 16 is provided at a predetermined position on the substrate 10 so as to be joined to both sides of the MR layer 11 and the insulating layer 15. The lead layer 16 is also called a hard magnetic bias layer (see Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-125311, etc.), and is connected to the side surface of the MR layer 11 so as to exhibit electrical and magnetic continuity. Is done. And, as a material to be used, a metal material having conductivity is used,
In particular, it is preferable to use metallurgy such as CoCr, CoPt, and CoCrPt. Also, this lead layer may be configured by using a predetermined metal material as a single layer or by laminating a plurality of layers.

【0021】本例では、CoCrPtからなる第1リー
ド層17を基本とし、さらにその上側にTaからなる第
2リード層18,Wからなる第3リード層19並びにT
aからなる第4リード層20を順次積層することにより
形成する。また、タングステン(W)に替えて金など用
いることもできる。このリード層16の厚さは、所望量
のバイアス・フラックスを与えるように決定される。
In this embodiment, the first lead layer 17 made of CoCrPt is used as a base, and the second lead layer 18 made of Ta, the third lead layer 19 made of W, and
The fourth lead layer 20 made of a is sequentially laminated. Further, gold or the like can be used instead of tungsten (W). The thickness of the lead layer 16 is determined so as to provide a desired amount of bias flux.

【0022】そして、このリード層16(第1リード層
17)が、上記MR層11,絶縁層15の側面と直接接
続されるのであるが、さらに、本例ではリード層16の
先端Aが、絶縁層15の上面にまで達するように形成さ
れる。さらに、上記構成の絶縁層15とリード層16の
露出面にAl2 3 からなる保護層21を形成し、各層
15,16を覆うようにしている。
The lead layer 16 (first lead layer 17) is directly connected to the side surfaces of the MR layer 11 and the insulating layer 15. In this embodiment, the tip A of the lead layer 16 is It is formed so as to reach the upper surface of the insulating layer 15. Further, a protective layer 21 made of Al 2 O 3 is formed on the exposed surfaces of the insulating layer 15 and the lead layer 16 having the above-described configuration so as to cover the layers 15 and 16.

【0023】係る構成にすることにより、製造誤差等か
らリード層16の先端位置Aが、領域dの範囲内でばら
ついたとしても、センス領域を決定するMR層11との
接合面の上端位置は、MR層11と絶縁層15の境界S
で一定となる。
With such a configuration, even if the leading end position A of the lead layer 16 varies within the range of the region d due to a manufacturing error or the like, the upper end position of the bonding surface with the MR layer 11 that determines the sense region is not changed. , Boundary S between MR layer 11 and insulating layer 15
Is constant.

【0024】次に本発明に係るMR型磁気ヘッドの製造
方法の一実施例について説明する。まず図2に示すよう
に基板10の上面に、その全面に渡ってFeNiRh膜
12′,Ta膜13′,FeNi膜14′並びにAl2
3 膜15′を、その順でそれぞれ所定厚さに積層形成
する。そして各膜12′〜15′は、例えばスパッタ等
によりその膜厚を制御しつつ製造することができる。
Next, an embodiment of a method of manufacturing an MR type magnetic head according to the present invention will be described. First, as shown in FIG. 2, the FeNiRh film 12 ', the Ta film 13', the FeNi film 14 'and the Al 2
The O 3 films 15 ′ are laminated in a predetermined thickness in this order. Each of the films 12 'to 15' can be manufactured while controlling its thickness by, for example, sputtering.

【0025】次いで、所定のマスク等を用いて露光現像
し、不要部分を除去することにより、図3に示すように
側面が連続する傾斜面となるMR層11(第1MR層1
2,第2MR層13,第3MR層14)及び絶縁層15
を形成する。このように、MR層11と絶縁層15を同
時に形成するようにしたため、図3に示すように絶縁層
15の途中で傾斜角度が緩やかになる屈曲点Cが生じ
る。これを模式化すると、図4に示すように、MR層1
1と絶縁層15の境界Sよりも上記屈曲点Cが上方に位
置する。よって、MR層11の側面の傾斜角度θは、そ
の全体に渡って急峻となる。したがって、たとえ各層の
厚さが設計通りにならなくても、屈曲点Cよりも上に境
界Sがある場合(傾斜角度θ′は小さい)に比べて、境
界Sの位置(センス領域を決定する横方向の存在位置)
は大きく変動しない。したがって、境界Sの位置の精度
出しが正確に行え、センス領域を一定にすることができ
る。
Next, by performing exposure and development using a predetermined mask or the like and removing unnecessary portions, the MR layer 11 (first MR layer 1) having an inclined surface having continuous side surfaces as shown in FIG.
2, the second MR layer 13, the third MR layer 14) and the insulating layer 15
To form As described above, since the MR layer 11 and the insulating layer 15 are formed at the same time, a bending point C where the inclination angle becomes gentle occurs in the middle of the insulating layer 15 as shown in FIG. When this is schematically illustrated, as shown in FIG.
The bending point C is located above the boundary S between the first insulating layer 15 and the insulating layer 15. Therefore, the inclination angle θ of the side surface of the MR layer 11 becomes steep over the entirety. Therefore, even if the thickness of each layer is not as designed, the position of the boundary S (the sensing area is determined) as compared with the case where the boundary S exists above the bending point C (the inclination angle θ ′ is small). Lateral position)
Does not fluctuate significantly. Therefore, the accuracy of the position of the boundary S can be accurately determined, and the sense area can be made constant.

【0026】次に、従来と同様の方法により、MR層1
1の側面,絶縁層15の側面及び上面の所定部位と接続
するようにリード層16を形成し、さらにそれらの上面
を覆うように保護層を設けることにより、図1に示すよ
うなMR型磁気ヘッドが製造される。そして、リード層
16の形成時に、たとえリード層16の先端Aの位置出
し精度が悪くてもセンス領域には影響を与えない。換言
すれば、製造誤差を比較的ラフに管理しても所望特性の
MR型磁気ヘッドを製造することができる。
Next, the MR layer 1 is formed in the same manner as in the prior art.
A lead layer 16 is formed so as to be connected to predetermined portions of the side surface of the insulating layer 15 and the side surface and upper surface of the insulating layer 15, and a protective layer is further provided so as to cover those upper surfaces. A head is manufactured. When the lead layer 16 is formed, even if the positioning accuracy of the leading end A of the lead layer 16 is low, it does not affect the sense region. In other words, an MR type magnetic head having desired characteristics can be manufactured even if manufacturing errors are managed relatively roughly.

【0027】図5は本発明に係るMR型磁気ヘッドの第
2実施例を示している。同図に示すように、アルチッ
ク,フェライト等から構成される基板25の上に直接ま
たは所定の層を介して間接的に所定形状のMR層26を
配置する。本図では、模式的に記載しているが、このM
R層26も上記した第1実施例のMR層11と同様に所
定の複数層から構成されている。
FIG. 5 shows a second embodiment of the MR type magnetic head according to the present invention. As shown in the figure, an MR layer 26 having a predetermined shape is disposed directly or indirectly via a predetermined layer on a substrate 25 made of AlTiC, ferrite or the like. In this drawing, although schematically illustrated, this M
The R layer 26 is also composed of a predetermined plurality of layers, like the MR layer 11 of the first embodiment.

【0028】このMR層26の上面の所定部位を覆うよ
うにして絶縁層27を設けている。この絶縁層26は、
本例でもAl2O3を用いて構成しているが、第1実施
例と同様にこれに限ることはない。ここで本実施例で
は、第1実施例ではMR層11の上面前面を覆うように
して絶縁層15を形成したのに対し、MR層26の上面
の両側端26aが所定寸法tだけ露出するように形成し
ている点で異なる。
An insulating layer 27 is provided so as to cover a predetermined portion of the upper surface of the MR layer 26. This insulating layer 26
Although this embodiment is also configured using Al2O3, it is not limited to this as in the first embodiment. Here, in the present embodiment, the insulating layer 15 is formed so as to cover the front surface of the upper surface of the MR layer 11 in the first embodiment, but both sides 26a of the upper surface of the MR layer 26 are exposed by a predetermined dimension t. In that it is formed in

【0029】そして、本例でも上記MR層26と絶縁層
27の両側面26b,27aと接合するように、基板2
5上の所定位置にリード層28を設けているが、上記し
たようにMR層26の上面両側端26aが露出している
ため、リード層28はそのMR層26の上面両側端26
aとも接合される。さらに、製造誤差によりリード層2
8の先端位置がばらつくことを考慮し、絶縁層27の上
面両端27bとも接合させている。
Also in this example, the substrate 2 is bonded so that the MR layer 26 and the side surfaces 26b and 27a of the insulating layer 27 are joined.
5, the lead layer 28 is provided at a predetermined position on the upper surface 5 of the MR layer 26. As described above, the upper surface both ends 26a of the MR layer 26 are exposed.
a. Further, due to manufacturing errors, the lead layer 2
In consideration of variations in the position of the tip of 8, the upper end 27 b of the insulating layer 27 is also joined.

【0030】なお、このリード層28も上記第1実施例
と同様に複数から構成しても良く、或いは単層から構成
しても良い。そして、さらに、上記構成の絶縁層27と
リード層28の露出面にAl2 3 からなる保護層(図
示省略する)を形成し、各層27,28を覆うようにし
ている。
The lead layer 28 may be composed of a plurality of layers as in the first embodiment, or may be composed of a single layer. Further, a protective layer (not shown) made of Al 2 O 3 is formed on the exposed surfaces of the insulating layer 27 and the lead layer 28 having the above-described configuration so as to cover the layers 27 and 28.

【0031】係る構成にすることにより、製造誤差等か
らリード層28の先端位置がばらついたとしても、セン
ス領域は絶縁層27の底面の長さとなり、一定となる。
そして、この絶縁層27の底面の長さは、後述する製造
各種のプロセスにより、正確に製造することができる。
With this configuration, even if the position of the leading end of the lead layer 28 varies due to a manufacturing error or the like, the length of the sensing region becomes the length of the bottom surface of the insulating layer 27 and becomes constant.
The length of the bottom surface of the insulating layer 27 can be accurately manufactured by various manufacturing processes described later.

【0032】次に上記した第2実施例のMR型磁気ヘッ
ドを製造するための本発明に係るMR型磁気ヘッドの製
造方法について説明する。まず図6(A)に示すように
基板25の上面に、その全面に渡って所定厚さのMR膜
26′を形成し、そのMR膜26′の上に絶縁膜27′
を形成する。そして各膜は、例えばスパッタ等によりそ
の膜厚を制御しつつ製造される。
Next, a method of manufacturing an MR type magnetic head according to the present invention for manufacturing the MR type magnetic head of the second embodiment will be described. First, as shown in FIG. 6A, an MR film 26 'having a predetermined thickness is formed on the entire surface of the substrate 25, and an insulating film 27' is formed on the MR film 26 '.
To form Each film is manufactured by controlling its thickness by, for example, sputtering.

【0033】次いで、絶縁膜27′の上面全面にレジス
トを塗布後、所定のマスク等を用いて露光現像し、不要
部分を除去することにより、同図(B)に示すように所
定長さのレジスト30を形成する。このレジスト30の
底面の長さは、上記のセンス領域の長さと等しくしてい
る。
Next, after a resist is applied to the entire upper surface of the insulating film 27 ', exposure and development are performed using a predetermined mask or the like, and unnecessary portions are removed, so that a predetermined length as shown in FIG. A resist 30 is formed. The length of the bottom surface of the resist 30 is equal to the length of the sense region.

【0034】次いで、所定のエッチングを行う。する
と、レジスト30に覆われていない絶縁膜27′が除去
される。また、この時レジスト30も所定厚さだけ除去
される。これにより、同図(C)に示すように、レジス
ト30′に覆われた部分だけ残り、絶縁層27となる。
Next, predetermined etching is performed. Then, the insulating film 27 'not covered with the resist 30 is removed. At this time, the resist 30 is also removed by a predetermined thickness. As a result, only the portion covered by the resist 30 'remains as shown in FIG.

【0035】その後、レジストリムーブ処理を行い、図
7(A)に示すように、MR膜26′の表面所定位置に
所定の寸法形状の絶縁層27が露出配置された状態にな
る。この状態で、絶縁層27及び露出したMR膜26′
の表面を覆うようにレジストを塗布すると共に露光現像
処理して不要部分を除去することにより、同図(B)に
示すように、絶縁層27を覆うと共に、MR膜26′の
上面の一部を覆うレジスト31を形成する。なお、係る
レジスト31とMR膜26′との接触幅は、最終的なM
R層26の上面両端26aの露出幅t(図5参照)に一
致させている。次いで、2回目のエッチングを行い、レ
ジスト31に覆われていないMR膜26′を除去するこ
とにより、同図(C)に示すように、上面が所定厚さ除
去されて肉薄になったレジスト31′の下に覆われてい
たMR膜が残り、MR層26が形成される。
Thereafter, a registry move process is performed, and as shown in FIG. 7A, the insulating layer 27 having a predetermined size and shape is exposed at a predetermined position on the surface of the MR film 26 '. In this state, the insulating layer 27 and the exposed MR film 26 '
By applying a resist so as to cover the surface of the substrate and exposing and developing to remove unnecessary portions, the insulating layer 27 is covered and a part of the upper surface of the MR film 26 'as shown in FIG. Is formed to cover the resist. Note that the contact width between the resist 31 and the MR film 26 'is the final M width.
The exposure width t (see FIG. 5) of both ends 26a of the upper surface of the R layer 26 is matched. Next, a second etching is performed to remove the MR film 26 'which is not covered with the resist 31, so that the upper surface is removed by a predetermined thickness to reduce the thickness of the resist 31 as shown in FIG. ', The MR film covered under remains, and an MR layer 26 is formed.

【0036】以後、残ったレジスト31′をリムーブ処
理した後、従来と同様の方法により、MR層26の側面
及び上面の両端部,絶縁層15の側面及び上面の両端部
と接合するようにリード層を形成し、さらにそれらの上
面を覆うように保護層を設けることにより、図5に示す
ようなMR型磁気ヘッドが製造される。
Thereafter, after the remaining resist 31 'is removed, the leads are joined so as to be joined to both sides of the side surface and the top surface of the MR layer 26 and both ends of the side surface and the top surface of the insulating layer 15 in the same manner as in the prior art. By forming layers and further providing a protective layer so as to cover their upper surfaces, an MR type magnetic head as shown in FIG. 5 is manufactured.

【0037】そして、この方法によれば、1回目の露光
現像処理により形成されたレジスト30の幅がそのまま
センス領域の幅となり、露光現像により形成されるレジ
ストパターンは正確に寸法出しができるため、結局セン
ス領域の幅は正確に設定することができる。そして、リ
ード層の形成時に、たとえその先端の位置出し精度が悪
くても、センス領域には影響を与えず、製造誤差を比較
的ラフに管理しても所望特性のMR型磁気ヘッドを製造
することができる。
According to this method, the width of the resist 30 formed by the first exposure and development processing becomes the width of the sense area as it is, and the size of the resist pattern formed by exposure and development can be accurately determined. After all, the width of the sense region can be set accurately. When the lead layer is formed, even if the positioning accuracy of the tip is poor, it does not affect the sensing area, and an MR type magnetic head having desired characteristics can be manufactured even if manufacturing errors are managed relatively roughly. be able to.

【0038】図8,図9は図5に示す構成のMR型磁気
ヘッドを製造するための別の方法を示している。上記し
た図6,図7に示す方法では、MR膜,絶縁膜を積層形
成後、2回に渡ってフォトリソグラフィ技術,エッチン
グを行い、絶縁膜とMR膜の除去する部分(大きさ)を
異ならせることによりMR層の上面両端を露出させるよ
うにしたが、本例では、所定形状寸法の各層を順次形成
しながら積層している。
FIGS. 8 and 9 show another method for manufacturing the MR type magnetic head having the structure shown in FIG. In the method shown in FIGS. 6 and 7 described above, after the MR film and the insulating film are stacked, photolithography and etching are performed twice, and if the portions (sizes) of the insulating film and the MR film to be removed are different. In this example, both ends of the upper surface of the MR layer are exposed. However, in this example, the layers are stacked while sequentially forming layers of a predetermined shape and size.

【0039】すなわち、図8(A)に示すように、まず
基板25の上面に、その全面に渡って所定厚さのMR膜
26′を形成する。そして、そのMR膜26′の上面全
面にレジストを塗布後、所定のマスク等を用いて露光現
像し、不要部分を除去することにより、同図(B)に示
すように所定長さのレジスト32を形成する。このレジ
スト32の底面の長さは、最終的に形成されるMR層の
上面の幅と等しくしている。
That is, as shown in FIG. 8A, first, an MR film 26 'having a predetermined thickness is formed on the upper surface of the substrate 25 over the entire surface. Then, after applying a resist on the entire upper surface of the MR film 26 ', exposure and development are performed using a predetermined mask or the like, and unnecessary portions are removed, thereby forming a resist 32 having a predetermined length as shown in FIG. To form The length of the bottom surface of the resist 32 is equal to the width of the top surface of the finally formed MR layer.

【0040】次いで、所定のエッチングを行う。する
と、レジスト32に覆われていないMR膜26′が除去
される。また、この時レジスト32も所定厚さだけ除去
される。これにより、同図(C)に示すように、レジス
ト32′に覆われた部分だけ残り、MR層26となる。
その後、レジストリムーブ処理を行い、同図(D)に示
すように、基板25の上面所定位置に、最終製品と同一
寸法形状のMR膜26が露出配置された状態になる。
Next, predetermined etching is performed. Then, the MR film 26 'not covered with the resist 32 is removed. At this time, the resist 32 is also removed by a predetermined thickness. As a result, only the portion covered with the resist 32 'remains as shown in FIG.
Thereafter, a registry move process is performed, and an MR film 26 having the same size and shape as the final product is exposed and arranged at a predetermined position on the upper surface of the substrate 25 as shown in FIG.

【0041】この状態で、MR層26及び露出した基板
25の表面を覆うように絶縁膜27′をスパッタなどに
より形成する(図9(A))。そして、その絶縁膜2
7′の上面全面にレジストを塗布すると共に露光現像処
理して不要部分を除去することにより、同図(B)に示
すように、絶縁膜27′の上面の一部を覆うレジスト3
3を形成する。なお、このレジスト33の底面の幅は、
最終製品に置ける絶縁層の幅すなわちセンス領域の幅と
等しくしている。
In this state, an insulating film 27 'is formed by sputtering or the like so as to cover the MR layer 26 and the exposed surface of the substrate 25 (FIG. 9A). And the insulating film 2
By applying a resist to the entire upper surface of 7 'and exposing and developing to remove unnecessary portions, a resist 3 covering a part of the upper surface of the insulating film 27' as shown in FIG.
Form 3 The width of the bottom surface of the resist 33 is
The width of the insulating layer in the final product, that is, the width of the sense region is made equal.

【0042】次いで、エッチングを行い、レジスト33
に覆われていない絶縁膜27′を除去することにより、
同図(C)に示すように、上面が所定厚さ除去されて肉
薄になったレジスト33′の下に覆われていた絶縁膜が
残り、絶縁層27が形成される。
Next, etching is performed to form a resist 33.
By removing the insulating film 27 'not covered with
As shown in FIG. 4C, the insulating film covered by the thinned resist 33 'whose upper surface has been removed by a predetermined thickness remains, and the insulating layer 27 is formed.

【0043】以後、残ったレジスト33′をリムーブ処
理して除去した後、従来と同様の方法により、MR層2
6の側面及び上面の両端部,絶縁層27の側面及び上面
の両端部と接合するようにリード層を形成し、さらにそ
れらの上面を覆う保護層を形成する図5に示すようなM
R型磁気ヘッドが製造される。
After that, the remaining resist 33 'is removed by a removing process, and then the MR layer 2 is formed in the same manner as in the prior art.
6, a lead layer is formed so as to be joined to both end portions of the side and top surfaces of the insulating layer 27 and both end portions of the side surface and the top surface of the insulating layer 27, and a protective layer covering these upper surfaces is formed as shown in FIG.
An R-type magnetic head is manufactured.

【0044】図10は、図5に示す構成のMR型磁気ヘ
ッドを製造するためのさらに別の方法を示している。ま
ず、上記した図8(A)〜(D)に示す処理を行い、基
板25の上に所定寸法形状のMR層26を形成する。次
いで、その露出する表面前面にレジストを塗布すると共
に、露光現像処理をし、塗布したレジストの所定部位を
除去する。この時、上記とは逆に絶縁層形成部分に対応
するレジスト34を逆テーパ状に除去する(図10
(A)参照)。
FIG. 10 shows still another method for manufacturing the MR type magnetic head having the structure shown in FIG. First, the processing shown in FIGS. 8A to 8D is performed to form an MR layer 26 having a predetermined shape on the substrate 25. Next, a resist is applied to the front surface of the exposed surface and exposed and developed to remove a predetermined portion of the applied resist. At this time, the resist 34 corresponding to the portion where the insulating layer is to be formed is removed in a reverse taper shape (FIG. 10).
(A)).

【0045】次いで、露出面前面にスパッタなどにより
絶縁膜27′を形成する(同図(B)参照)。その後リ
フトオフを行い、レジスト34を剥離させ、MR層26
の上面に直接スパッタされた絶縁膜のみ残り、絶縁層2
7が形成される(同図(C)参照)。
Next, an insulating film 27 'is formed on the front surface of the exposed surface by sputtering or the like (see FIG. 3B). After that, lift-off is performed, the resist 34 is peeled off, and the MR layer 26 is removed.
Only the insulating film directly sputtered on the upper surface of the
7 is formed (see FIG. 3C).

【0046】以後、従来と同様の方法により、MR層2
6の側面及び上面の両端部,絶縁層27の側面及び上面
の両端部と接合するようにリード層を形成し、さらにそ
れらの上面を覆う保護層を形成する図5に示すようなM
R型磁気ヘッドが製造される。
Thereafter, the MR layer 2 is formed in the same manner as in the prior art.
6, a lead layer is formed so as to be joined to both end portions of the side and top surfaces of the insulating layer 27 and both end portions of the side surface and the top surface of the insulating layer 27, and a protective layer covering these upper surfaces is formed as shown in FIG.
An R-type magnetic head is manufactured.

【0047】[0047]

【発明の効果】以上のように、本発明に係るMR型磁気
ヘッド及びその製造方法では、電力供給並びに信号検出
が行われる実際の実質的な接合面は、リード層の全面を
覆うように絶縁層を配置した場合には、リード層とMR
層の側面との接合面であり、また、MR層の上面両端を
露出させた場合には、MR層の側面及び露出した上面と
の接合面となり、その上端はMR層と絶縁層との境界と
なる。
As described above, in the MR type magnetic head and the method of manufacturing the same according to the present invention, the actual bonding surface where power supply and signal detection are performed is insulated so as to cover the entire surface of the lead layer. When the layers are arranged, the lead layer and the MR
When the upper surface of the MR layer is exposed at both ends, the upper surface of the MR layer becomes a bonding surface between the side surface and the exposed upper surface, and the upper end is a boundary between the MR layer and the insulating layer. Becomes

【0048】従って、製造誤差等からリード層の先端位
置がばらついたとしても、センス領域を決定するMR層
との接合面の上端位置は変わらないので、MR層とリー
ド層の接合範囲を正確に(設計通りに)形成でき、その
結果センス領域を精度よく決定することができる。よっ
て、安定したばらつきのない特性を得ることができる。
Therefore, even if the leading end position of the lead layer varies due to a manufacturing error or the like, the upper end position of the joining surface with the MR layer that determines the sense region does not change, so that the joining range between the MR layer and the lead layer can be accurately determined. (As designed), so that the sense region can be determined with high accuracy. Therefore, stable characteristics without variation can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るMR型磁気ヘッドの第1実施例を
示す部分断面図である。
FIG. 1 is a partial sectional view showing a first embodiment of an MR type magnetic head according to the present invention.

【図2】本発明に係るMR型磁気ヘッドの製造方法の第
1実施例を説明するための工程図の1つである。
FIG. 2 is one of process charts for explaining a first embodiment of a method of manufacturing an MR type magnetic head according to the present invention.

【図3】本実施例の作用・効果を説明するための模式図
である。
FIG. 3 is a schematic diagram for explaining the operation and effect of the present embodiment.

【図4】本実施例の作用・効果を説明するための模式図
である。
FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the operation and effect of the present embodiment.

【図5】本発明に係るMR型磁気ヘッドの第2実施例を
示す部分断面図である。
FIG. 5 is a partial sectional view showing a second embodiment of the MR type magnetic head according to the present invention.

【図6】本発明に係るMR型磁気ヘッドの製造方法の第
2実施例を説明するための工程図の1つである。
FIG. 6 is one of the process charts for explaining a second embodiment of the method of manufacturing the MR type magnetic head according to the present invention.

【図7】本発明に係るMR型磁気ヘッドの製造方法の第
2実施例を説明するための工程図の1つである。
FIG. 7 is one of process charts for explaining a second embodiment of the method of manufacturing the MR type magnetic head according to the present invention.

【図8】本発明に係るMR型磁気ヘッドの製造方法の第
2実施例の別の例を説明するための工程図の1つであ
る。
FIG. 8 is one of the process diagrams for explaining another example of the second embodiment of the method of manufacturing the MR type magnetic head according to the present invention.

【図9】本発明に係るMR型磁気ヘッドの製造方法の第
2実施例の別の例を説明するための工程図の1つであ
る。
FIG. 9 is one of the process charts for explaining another example of the second embodiment of the method of manufacturing the MR type magnetic head according to the present invention.

【図10】本発明に係るMR型磁気ヘッドの製造方法の
第2実施例のさらに別の例を説明するための工程図の1
つである。
FIG. 10 is a process chart for explaining still another example of the second embodiment of the method of manufacturing the MR type magnetic head according to the present invention;
One.

【図11】従来のMR型磁気ヘッドの一例を示す部分断
面図である。
FIG. 11 is a partial sectional view showing an example of a conventional MR type magnetic head.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10,25 基板 11,26 MR層 15,27 絶縁層 16,28 リード層 10, 25 substrate 11, 26 MR layer 15, 27 insulating layer 16, 28 lead layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 茂徳 東京都港区新橋5丁目36番11号 富士電 気化学株式会社内 (56)参考文献 特開 平3−125311(JP,A) 特開 平4−143914(JP,A) 特開 平7−254113(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G11B 5/31 G11B 5/39──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Shigenori Suzuki 5-36-11 Shimbashi, Minato-ku, Tokyo Inside Fuji Electric Chemical Co., Ltd. (56) References JP-A-3-125311 (JP, A) JP-A JP-A-4-143914 (JP, A) JP-A-7-254113 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) G11B 5/31 G11B 5/39

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基板上に直接または所定層の上に配置し
たMR層と、 前記MR層の側面で接合されるように、前記基板上の所
定位置に形成した導電性を有する金属材からなるリード
層と、 前記MR層と前記リード層の表面を覆う保護層とを備え
たMR型磁気ヘッドにおいて、 前記MR層の上面に、その全面を覆う所定厚さの絶縁層
を設けて、前記MR層の側面と前記絶縁層の側面を連続
させ、 前記MR層の側面と、前記絶縁層の側面はともに傾斜面
となるとともに、前記MR層の側面の傾斜角度θと、前
記絶縁層の側面のうち、前記MRとの接続側部分の傾斜
角度を等しくし、かつ、前記絶縁層の側面の上方側の傾
斜角度を、前記MR層の側面の傾斜角度θより小さくな
るように構成し、 前記リード層を、前記MR層の側面に加え、前記絶縁層
の少なくとも側面とも接合させるようにしてなるMR型
磁気ヘッド。
1. An MR layer disposed directly on a substrate or on a predetermined layer, and a conductive metal material formed at a predetermined position on the substrate so as to be joined at a side surface of the MR layer. An MR type magnetic head comprising: a lead layer; a protective layer covering the surface of the MR layer; and a protective layer covering the surface of the lead layer. The side surface of the layer and the side surface of the insulating layer are made continuous, and the side surface of the MR layer and the side surface of the insulating layer are both inclined surfaces, the inclination angle θ of the side surface of the MR layer, and the side surface of the insulating layer. Wherein the inclination angle of the connection side portion with the MR is made equal, and the inclination angle of the upper side of the side surface of the insulating layer is smaller than the inclination angle θ of the side surface of the MR layer; Adding a layer to the sides of the MR layer; An MR type magnetic head which is also joined to at least the side surface of the layer.
【請求項2】 基板上に直接または間接的に所定数の磁
気抵抗効果を有するMR材料を配置し、 前記MR材料の上に絶縁材料を配置し、 次いで、前記MR材料と前記絶縁材料に対して露光現像
し、不要部分を除去することにより、前記MR材料と前
記絶縁材料の側面が連続する傾斜面となるとともに、そ
の各材料の側面の傾斜角度が、前記MR材料から前記絶
縁材料の途中までを同一傾斜角度θで、前記絶縁材料の
上方側の傾斜角度を前記同一傾斜角度θよりも小さくな
るような所定形状に成形してMR層並びに絶縁層を形成
し、 次いで、少なくとも前記MR層と前記絶縁層の側面に接
合させるように導電性を有する金属材からなるリード層
を前記基板上に形成し、 その後、前記絶縁層並びに前記リード層の露出面を保護
層で被覆するようにしたMR型磁気ヘッドの製造方法。
2. An MR material having a predetermined number of magnetoresistive effects is disposed directly or indirectly on a substrate, and an insulating material is disposed on the MR material. Exposure and development to remove unnecessary parts, the side surfaces of the MR material and the insulating material become continuous inclined surfaces, and the inclination angles of the side surfaces of the respective materials change from the MR material to the middle of the insulating material. And forming an MR layer and an insulating layer by forming the upper layer of the insulating material into a predetermined shape that is smaller than the same tilt angle θ at the same tilt angle θ. And forming a lead layer made of a conductive metal material on the substrate so as to be bonded to the side surface of the insulating layer, and then covering the insulating layer and the exposed surface of the lead layer with a protective layer. Production method of the MR magnetic head.
【請求項3】 基板上に直接または所定層の上に配置し
たMR層と、 前記MR層の側面及び上面で接合されるように、前記基
板上の所定位置に形成した導電性を有する金属材からな
るリード層と、 前記MR層と前記リード層の表面を覆う保護層とを備え
たMR型磁気ヘッドにおいて、 前記MR層の上に、そのMR層の上面両側端が所定寸法
だけ露出するように所定厚さの絶縁層を設け、 前記リード層を、前記MR層の側面,露出する上面、並
びに、前記絶縁層の少なくとも側面と接合させるように
してなるMR型磁気ヘッド。
3. An MR layer disposed directly on a substrate or on a predetermined layer, and a conductive metal material formed at a predetermined position on the substrate so as to be joined at side surfaces and an upper surface of the MR layer. And a protective layer covering the surface of the MR layer and the MR layer, wherein both side edges of the upper surface of the MR layer are exposed on the MR layer by a predetermined dimension. An MR type magnetic head, wherein an insulating layer having a predetermined thickness is provided, and the lead layer is bonded to a side surface of the MR layer, an exposed upper surface, and at least a side surface of the insulating layer.
【請求項4】 基板上に直接または間接的に所定数の磁
気抵抗効果を有するMR材料を配置し、 前記MR材料の上に絶縁材料を配置し、 前記MR材料及び絶縁材料を積層配置後に少なくとも2
回の露光現像処理及びエッチング処理を行うか、または
各材料を形成するごとに露光現像処理及びエッチング処
理を行うことにより、形状寸法の異なるMR層、絶縁層
を形成し、 次いで、少なくとも前記MR層と前記絶縁層の側面及び
前記MR層の上面両端の露出部位に接合させるように導
電性を有する金属材からなるリード層を前記基板上に形
成し、 その後、前記絶縁層並びに前記リード層の露出面を保護
層で被覆するようにしたMR型磁気ヘッドの製造方法。
4. An MR material having a predetermined number of magnetoresistive effects is disposed directly or indirectly on a substrate, an insulating material is disposed on the MR material, and at least after the MR material and the insulating material are stacked and disposed, 2
By performing exposure and development processing and etching processing twice or by performing exposure and development processing and etching processing each time each material is formed, an MR layer and an insulating layer having different shapes and dimensions are formed. Then, at least the MR layer And forming a lead layer made of a conductive metal material on the substrate so as to be bonded to side surfaces of the insulating layer and exposed portions at both ends of the upper surface of the MR layer, and thereafter, exposing the insulating layer and the lead layer. A method for manufacturing an MR type magnetic head in which a surface is covered with a protective layer.
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