JP2662360B2 - セラミックスヒーターの製造方法及びセラミックスヒーター - Google Patents
セラミックスヒーターの製造方法及びセラミックスヒーターInfo
- Publication number
- JP2662360B2 JP2662360B2 JP18509893A JP18509893A JP2662360B2 JP 2662360 B2 JP2662360 B2 JP 2662360B2 JP 18509893 A JP18509893 A JP 18509893A JP 18509893 A JP18509893 A JP 18509893A JP 2662360 B2 JP2662360 B2 JP 2662360B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heating element
- resistance heating
- ceramic
- wound body
- ceramic heater
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims description 61
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 12
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 74
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 17
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 claims description 15
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 14
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 13
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 13
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 7
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 claims description 6
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 7
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 6
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000001513 hot isostatic pressing Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Surface Heating Bodies (AREA)
- Resistance Heating (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Description
置、エッチング装置等に使用できるセラミックスヒータ
ーの製造方法及びセラミックスヒーターに関するもので
ある。
しては、いわゆるステンレスヒーターや、間接加熱方式
のものが一般的であった。しかし、これらの熱源を用い
ると、ハロゲン系腐蝕性ガスの作用によってパーティク
ルが発生したり、熱効率が悪いといった問題があった。
こうした問題を解決するため、本発明者は、緻密質セラ
ミックスからなる円盤状基体の内部に、高融点金属から
なるワイヤーを埋設したセラミックスヒーターを提案し
た。このワイヤーは、円盤状基体内部で螺旋状に巻回さ
れており、かつこのワイヤーの両端に端子を接続する。
こうしたセラミックスヒーターは、特に半導体製造用と
して、優れた特性を備えていることが解った。
盤状のセラミックスヒーターにおいても、特に製造上の
理由から、幾つかの問題が生ずることが解った。即ち、
上記したようなセラミックスヒーターを製造するために
は、まず高融点金属のワイヤーないし線体を巻回して巻
回体を得、この線体の両端に端子(電極)を接着する。
一方、プレス成形機内にセラミックス粉体を仕込み、あ
る程度の硬さになるまで予備成形する。この際、予備成
形体の表面に、所定の平面的パターンに沿って連続的な
凹部ないし溝を設ける。そして、巻回体をこの凹部に収
容し、その上に更にセラミックス粉体を充填する。そし
て、セラミックス粉体を一軸加圧成形して円盤状成形体
を作製し、円盤状成形体をホットプレス焼結させる。
ターンに沿って予備成形体の上に配置する際には、手作
業で予備成形体の凹部に沿って巻回体を挿入していかな
ければならず、煩雑極まりない作業である。そして、こ
の際にどうしても位置ズレが発生したり、型崩れが生ず
る。この結果、焼結後のセラミックス基体の内部におい
ても、やはり抵抗発熱体の位置が一定せず、このため、
発熱量が密な部分と疎な部分とが発生する。この結果、
ヒーターの発熱面の温度にムラが発生するし、ヒーター
の加熱特性が一定しない。ヒーターの発熱面の温度にム
ラが発生すると、特に半導体製造装置用の場合には、半
導体膜の膜厚が不均一となり、半導体不良の原因となっ
てしまう。
ラミックス成形体へと埋設するのに際し、この埋設作業
を容易かつ短時間に行なえるようにし、また抵抗発熱体
の埋設位置のズレを防止することである。
の線体を巻回してなる巻回体を、所定の平面的パターン
に保持し、次いで前記高融点金属の1次再結晶開始温度
以下で非酸化性雰囲気下に巻回体を熱処理して抵抗発熱
体を得、この抵抗発熱体をセラミックス成形体の内部に
埋設し、次いでこのセラミックス成形体を焼結させるこ
とにより、セラミックス基体とこのセラミックス基体の
内部に所定の平面的パターンに沿って埋設された抵抗発
熱体とを備えたセラミックスヒーターを得る、セラミッ
クスヒーターの製造方法に係るものである。
のセラミックス基体の内部に所定の平面的パターンに沿
って埋設された抵抗発熱体とを備えたセラミックスヒー
ターであって、この抵抗発熱体が、高融点金属の線体を
巻回してなる巻回体を所定の平面的パターンに沿って保
持しつつ前記高融点金属の1次再結晶開始温度以下で非
酸化性雰囲気下で熱処理して得た抵抗発熱体である、セ
ラミックスヒーターに係るものである。
ず、高融点金属の線体を巻回し、例えば図1(a)に示
すような形状の巻回体1を得る。本例では、線体を螺旋
形状に巻回した巻回体1を用いたが、この螺旋の幅方向
形状は、円形、楕円形、四辺形等の形状とすることがで
きる。また、図1(a)の段階では、巻回体1の螺旋形
の長さ方向にみたピッチは比較的小さい。
ンに保持する。この手段としては、任意の方法を採用す
ることができるが、このパターンに沿って型に設けられ
た溝内に収容することが望ましい。この段階では、大別
して2つの方法がある。第一の方法では、何らかの治具
を用いて、図1(b)に示すような平面的パターンの被
処理巻回体2を作製する。本例で作製したパターンは、
二ゾーン加熱ヒーター用のものである。即ち、三個の円
柱状端子3のうち、一つは被処理巻回体2の外側の末端
に結合され、一つは巻回体2の内側末端に結合され、残
りの一つはこれらの間に結合されている。そして、被処
理巻回体2において、最外周部分2aは螺旋のピッチが
密であり、最外周部分2aとこの内側の端子3との間の
中間部分2bは螺旋のピッチが疎であり、内周部分2c
は螺旋のピッチが比較的密である。
準備する。型4の表面側には、幅方向断面が略長方形の
溝4aが形成されている。溝4aの平面的パターンは、
被処理巻回体2と同じパターンにしておく。そして、図
1(b)の被処理巻回体2を、溝4a内に収容する。
を引き延ばした後、型4の溝4aに順次収容していき、
これによって被処理巻回体2を溝4a内で形成する。第
二の方法によれば、第一の方法にくらべて、被処理巻回
体2を前記治具から型4へと移送する手間は省くことが
できる。しかし一方、型4は後述の熱処理に供されるも
のであるので、前記治具よりも高コストである。第一の
方法によれば、高コストの型4の稼働率が、第二の方法
よりも高くなる。
の1次再結晶開始温度以下で非酸化性雰囲気下に被処理
巻回体2を熱処理し、抵抗発熱体を得る。そして、この
抵抗発熱体をセラミックス成形体の内部に埋設し、次い
で、このセラミックス成形体を焼結させる。この段階
で、本実施例では、以下の方法によった。
クス成形体の作製手順を模式的に示す断面図である。ま
ず、下型6Aの上(枠5の内側)にセラミックス粉体を
充填し、一旦プレス成形して予備成形体7を得る。端子
がおさまる穴をあけ、予備成形体7の上に抵抗発熱体12
を設置し、この際端子3が抵抗発熱体12の下にくるよう
にする。抵抗発熱体12の上にセラミックス粉体8を充填
する。次いで、図3(c)に示すように、上型6Bと下
型6Aとでセラミックス粉体を一軸加圧成形し、セラミ
ックス成形体9を得る。次いで、図3(d)に示すよう
に、下型6Aを上昇させてセラミックス成形体9を取り
出す。
てセラミックスを緻密化させ、円盤状のセラミックス基
体とする。このセラミックス基体の背面側を研削加工
し、セラミックスヒーターを得る。セラミックス成形体
9は、ホットプレス法で焼結するのが最も好ましいが、
常圧焼結、あるいは常圧で予備焼結させた後にホットア
イソスタティックプレス法で焼結させてもよい。
を溝4a内に収容して熱処理しているので、抵抗発熱体
の平面的パターンに保形性が付与される。このため、抵
抗発熱体12を予備成形体7上へと設置する際に、抵抗発
熱体を簡単に、短時間に移送することができるようにな
った。上記のような巻回体2は三次元的に変形するの
で、従来は、この平面的パターンを保持しつつ予備成形
体7上に設置することは、非常に難しい作業であった。
しかも、抵抗発熱体12の設置時及び設置後においても、
抵抗発熱体12の埋設位置のズレが少なくなり、これによ
り、セラミックスヒーターの発熱面の均熱性も向上し
た。
2を熱処理することにより、被処理巻回体2の劣化や変
質を抑制できる。
ては、窒化珪素、窒化アルミニウム、サイアロン等を例
示できる。本発明者の研究によると、このうち窒化珪素
を使うとヒーターの耐熱衝撃性が高い。また、窒化アル
ミニウムを使うと、ハロゲン系腐蝕性ガスに対して、高
い耐蝕効果が得られる。抵抗発熱体12を構成する高融点
金属としては、タングステン、モリブデン、白金や、こ
れらの合金が好ましい。
点金属の1次再結晶開始温度以下の温度で、熱処理す
る。熱処理温度が2次再結晶開始温度を超えると、抵抗
発熱体12が脆くなるからである。
度と強度との関係を図4に示す。熱処理温度が約1200℃
を超えると、引張り強度の低下が始まっている。従っ
て、1200℃近辺が1次再結晶開始温度であると考えられ
る。1500℃近辺では、1次再結晶がほぼ完了している。
そして、熱処理温度が約2000℃〜約2200℃の領域で、再
び引張り強度が著しく減少している。これから、2次再
結晶開始温度は、約2000℃であると考えられる。実際
に、熱処理後の金属組織を観察すると、熱処理温度が21
50℃の場合には、繊維組織が切れて2次再結晶が起こっ
ている。熱処理温度が2350℃の場合には、2次再結晶組
織のみであり、2次再結晶が完了している。
高い方が良く、かつ熱処理による劣化や変質は最小限に
止める必要がある。この意味で、上記熱処理は、高融点
金属の1次再結晶開始温度以下で行なうことが好まし
い。また、抵抗発熱体12に保形性を付与するために、上
記熱処理は、 800℃以上の温度で行なうことが好まし
い。 高融点金属がタングステンである場合は、上記熱
処理を 800℃〜900℃で行なうと、充分な保形性が得ら
れ、かつ抵抗発熱体の劣化も生じない。
を熱処理する。こうした非酸化性雰囲気としては、10-3
torr以下の真空、水素雰囲気、窒素、アルゴンなどの不
活性ガス雰囲気が含まれる。
って変質、劣化の生じにくいものを用いる。具体的に
は、アルミナ、炭化珪素、窒化珪素等のセラミックス
や、ステンレス、ニッケル、タングステンなどの高融点
金属が好ましい。
る。図1、図2に示したような方法で、巻回体2を熱処
理し、図3に示したような方法で円盤状セラミックス成
形体を作製し、これを焼結させて8インチ用の円盤状セ
ラミックスヒーターを得た。ただし、型4は高純度アル
ミナセラミックスで成形した。また、被処理巻回体2を
熱処理するときの雰囲気は、表1に示すものとし、ま
た、熱処理温度を、表1に示すように変更した。熱処理
時間は1時間とした。セラミックス成形体9の材質とし
ては窒化珪素粉末を用い、巻回体1の材質としてはタン
グステン線を用いた。このタングステン線の太さはφ0.
5mm とし、巻回のピッチは2.5mm とした。
表面状態及び脆化の有無を確認した。また、抵抗発熱体
を型4から予備成形体の上へと移送し、載置した。そし
て、図3に示すようにして成形し、更に焼結した後、セ
ラミックス基体中における抵抗発熱体の位置をX線で調
べ、目的位置からの位置ズレを測定し、表1に示した。
また、上記熱処理を行なわなかった場合についても、上
記と同様の測定を行なった。これらの結果を表1に示
す。
熱体の位置ズレが大きく、かつ発熱面の均熱性が損なわ
れていた。本発明により、これらの点は大きく改善され
ていた。しかも、本発明により抵抗発熱体を熱処理する
と、予備成形体7上への抵抗発熱体の設置を、容易かつ
短時間に行なえることを確認した。
ンに沿って型に設けられた溝内に、巻回体を収容し、こ
の巻回体を構成する高融点金属の1次再結晶開始温度以
下の温度で巻回体を熱処理しているので、抵抗発熱体の
平面的パターンに保形性が付与される。このため、抵抗
発熱体をセラミックス成形体内に埋設する際に、抵抗発
熱体を簡単に、短時間に移送することができるようにな
った。上記のような巻回体は三次元的に変形するので、
従来は、この平面的パターンを保持しつつセラミックス
成形体内に埋設することは、非常に難しい作業であっ
た。しかも、抵抗発熱体の埋設時及び埋設後において
も、抵抗発熱体の埋設位置のズレが少なくなり、これに
より、セラミックスヒーターの発熱面の均熱性も向上し
た。また、非酸化性雰囲気下に巻回体を熱処理すること
により、巻回体の劣化や変質を抑制できる 。
(b)は、被処理巻回体2を模式的に示す平面図であ
る。
4の溝4aに被処理巻回体2を収容した状態を示す平面
図である。
セラミックス成形体9の作製手順を模式的に示す断面図
である。
を示すグラフである。
型、4a 溝、7 予備成形体、9 円盤状セラミック
ス成形体、12 抵抗発熱体
Claims (2)
- 【請求項1】 高融点金属の線体を巻回してなる巻回体
を、所定の平面的パターンに保持し、次いで前記高融点
金属の1次再結晶開始温度以下で非酸化性雰囲気下に巻
回体を熱処理して抵抗発熱体を得、この抵抗発熱体をセ
ラミックス成形体の内部に埋設し、次いでこのセラミッ
クス成形体を焼結させることにより、セラミックス基体
とこのセラミックス基体の内部に所定の平面的パターン
に沿って埋設された抵抗発熱体とを備えたセラミックス
ヒーターを得る、セラミックスヒーターの製造方法。 - 【請求項2】 セラミックス基体とこのセラミックス基
体の内部に所定の平面的パターンに沿って埋設された抵
抗発熱体とを備えたセラミックスヒーターであって、こ
の抵抗発熱体が、高融点金属の線体を巻回してなる巻回
体を所定の平面的パターンに沿って保持しつつ前記高融
点金属の1次再結晶開始温度以下で非酸化性雰囲気下で
熱処理して得た抵抗発熱体である、セラミックスヒータ
ー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18509893A JP2662360B2 (ja) | 1993-07-27 | 1993-07-27 | セラミックスヒーターの製造方法及びセラミックスヒーター |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18509893A JP2662360B2 (ja) | 1993-07-27 | 1993-07-27 | セラミックスヒーターの製造方法及びセラミックスヒーター |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0745360A JPH0745360A (ja) | 1995-02-14 |
JP2662360B2 true JP2662360B2 (ja) | 1997-10-08 |
Family
ID=16164820
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18509893A Expired - Lifetime JP2662360B2 (ja) | 1993-07-27 | 1993-07-27 | セラミックスヒーターの製造方法及びセラミックスヒーター |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2662360B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4865968B2 (ja) * | 2001-08-28 | 2012-02-01 | 株式会社ジェイ・エム・エス | 接触型加熱エレメント |
JP2007066542A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Kyocera Corp | ヒータおよびウェハ加熱装置ならびにこのヒータの製造方法 |
-
1993
- 1993-07-27 JP JP18509893A patent/JP2662360B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0745360A (ja) | 1995-02-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2647799B2 (ja) | セラミックスヒーター及びその製造方法 | |
JP5174582B2 (ja) | 接合構造体 | |
JP4531004B2 (ja) | 加熱装置 | |
EP1507442B1 (en) | Method of manufacturing electrical resistance heating element | |
US6225606B1 (en) | Ceramic heater | |
JP5341049B2 (ja) | セラミックス焼結体の製造方法、セラミックス焼結体およびセラミックスヒータ | |
KR100672802B1 (ko) | 기판 가열 장치 및 그 제조 방법 | |
JP2005343733A (ja) | 電極内蔵焼結体の製造方法 | |
JP2006128603A (ja) | セラミックス部材及びその製造方法 | |
JP2009173537A (ja) | 高純度・低比抵抗の静電チャック | |
KR20190142384A (ko) | 웨이퍼 지지대 | |
US20050082274A1 (en) | Substrate heater and fabrication method for the same | |
JP3642746B2 (ja) | セラミックスヒータ | |
JP2662360B2 (ja) | セラミックスヒーターの製造方法及びセラミックスヒーター | |
JP2779310B2 (ja) | セラミックスヒーター | |
JP5185025B2 (ja) | セラミックス部材 | |
JP3011528B2 (ja) | 半導体加熱用セラミックスヒーター及びその製造方法 | |
JP4703442B2 (ja) | 基板加熱装置 | |
EP0823410A1 (en) | Ceramic joint body and process for manufacturing the same | |
JP2003100580A (ja) | 半導体処理装置 | |
JP7249827B2 (ja) | 電極埋設部材の製造方法 | |
JP3022133B2 (ja) | セラミックスヒーター | |
JPH11233239A (ja) | セラミックスヒーター又はセラミックスグロープラグ及びそれらの製造方法 | |
JP4199604B2 (ja) | 窒化アルミニウムのセラミックスヒータ | |
JP2831925B2 (ja) | セラミックスヒーターの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970513 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080613 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090613 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100613 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100613 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110613 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120613 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130613 Year of fee payment: 16 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140613 Year of fee payment: 17 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |