JP2023027961A - 情報処理装置及び眼科検査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 被検眼の注目領域の視認性を向上する。【解決手段】 測定光が照射された被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た干渉光を用いて被検眼の断層画像を取得する情報処理装置であって、被検眼の断層画像を取得する画角として、第１の画角と第１の画角よりも狭い第２の画角とを含む複数の画角のうちいずれかが選択された場合に、選択された画角で被検眼において測定光を走査する走査手段を制御する制御手段と、第１の画角が選択された場合、第１の画角で取得された第１の断層画像を表示領域に表示させ、第２の画角が選択された場合、第２の画角で取得された第２の断層画像に含まれる部分画像であって第２の断層画像よりも被検眼における深さ方向の長さが短い部分画像を、表示領域に合わせるように表示させる表示制御手段と、を備える。【選択図】 図８

Description

本明細書に開示される技術は、情報処理装置及び眼科検査装置に関する。

光干渉断層計（ＯＣＴ；Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）などの断層画像撮影装置を用いると、被検眼内部の構造を三次元的に観察できる。ＯＣＴは、疾病の診断をより的確に行うために有用であることから眼科診療に広く用いられている。

ＯＣＴの種別として、例えば、広帯域な光源とマイケルソン干渉計を組み合わせたＴＤ－ＯＣＴ（Ｔｉｍｅ ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ）がある。ＴＤ－ＯＣＴは、参照ミラーの位置を一定速度で移動させ、参照光と信号アームで取得した後方散乱光との合波により得られる干渉光を計測することで、被検眼における深さ方向の反射光強度分布を得る。

ここで、ＴＤ－ＯＣＴでは参照ミラーの機械的な移動が必要であるため高速な画像取得が難しかった。そこで、より高速に画像を取得するＯＣＴの種別として、広帯域光源を用いて分光器を介して干渉光を取得するＳＤ－ＯＣＴ（Ｓｐｅｃｔｒａｌ ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ）が開発された。

さらに、高速で波長を掃引する波長掃引光源を用いて時間的に分光することで高周波の干渉光を検出可能なＳＳ－ＯＣＴ（Ｓｗｅｐｔ Ｓｏｕｒｃｅ ＯＣＴ）が開発された。ＳＳ－ＯＣＴを用いることで、被検眼の脈絡膜や強膜などの組織が含まれた広画角かつ高深さ範囲の断層画像を取得できる。

特許文献１には、広画角でかつ高深さ範囲の断層画像が取得された場合、断層画像を等倍に拡大することで層境界を視認しやすくする技術が開示されている。

特開２０２１－３７１７０号公報

ここで、特許文献１で開示されるような広画角でかつ高深さ範囲の断層画像だけでなく、開示される画角よりも狭い画角でかつ高深さ範囲の断層画像を取得する場合が考えられる。このとき、狭い画角で取得された断層画像が高深さ範囲であるにも関わらず、例えば、広い画角で取得された断層画像が表示される表示領域と同じ表示領域に合うように表示させると、被検眼の組織や網膜の層境界などの注目領域が深さ方向につぶれてしまうため視認しづらくなる場合があった。

狭い画角かつ高深さ範囲で取得された断層画像を表示領域に表示させる際に、特許文献１で開示されるように断層画像を単純に等倍に拡大させてしまうと、被検眼の深さ方向に交差する方向における断層画像の一部の領域が表示されなくなってしまう。

開示の技術の一つは、被検眼の注目領域の視認性を向上することを目的とする。

なお、前記目的に限らず、後述する発明を実施するための形態に示す各構成により導かれる作用効果であって、従来の技術によっては得られない作用効果を奏することも本件の他の目的の一つとして位置づけることができる。

本明細書に開示される技術は、
測定光が照射された被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た干渉光を用いて前記被検眼の断層画像を取得する情報処理装置であって、
前記被検眼の断層画像を取得する画角として、第１の画角と前記第１の画角よりも狭い第２の画角とを含む複数の画角のうちいずれかが選択された場合に、前記選択された画角で前記被検眼において前記測定光を走査する走査手段を制御する制御手段と、
前記第１の画角が選択された場合、前記第１の画角で取得された第１の断層画像を表示領域に表示させ、前記第２の画角が選択された場合、前記第２の画角で取得された第２の断層画像に含まれる部分画像であって前記第２の断層画像よりも被検眼における深さ方向の長さが短い部分画像を、前記表示領域に合わせるように表示させる表示制御手段と、
を備える。

本明細書に開示される技術によれば、被検眼の注目領域の視認性を向上することができる。

実施例１～４に係る眼科システムを説明する図である。 実施例１～４に係る眼科検査装置に含まれる測定光学系を説明する図である。 実施例１～４に係る断層画像の表示の一例を説明する図である。 実施例１～４に係る情報処理装置の概略的な構成を説明する図である。 実施例１に係る表示画面の一例を示す図である。 実施例１に係る表示画面の一例を示す図である。 実施例１に係る表示画面の一例を示す図である。 実施例１に係る情報処理装置の動作フローの一例を示す図である。 実施例２に係る表示画面の一例を示す図である。 実施例２に係る情報処理装置の動作フローの一例を示す図である。 実施例３に係る撮影画面の一例を示す図である。 実施例３に係る情報処理装置の動作フローの一例を示す図である。 実施例４に係る断層画像の表示の一例を説明する図である。 実施例４に係る情報処理装置の動作フローの一例を示す図である。

以下、本明細書に開示される技術を実施するための例示的な実施例を、図面を参照して説明する。なお、以下の実施例で説明する寸法、材料、形状、及び構成要素の相対的な位置等は任意であり、本明細書に開示される技術が適用される装置の構成又は様々な条件に応じて変更できる。

例えば、実施例に記載のＳＤ－ＯＣＴによって取得される断層画像の深さ方向の寸法は２ｍｍで記載されているが、２ｍｍに限定されない。また、実施例内で扱われる断層画像の被検眼における深さ方向の長さ（撮影深度）は、眼科検査装置の種別ごとに固定である場合を説明するが、１つの眼科検査装置によって複数の撮影深度で断層画像の取得ができる構成であってもよい。

また、図面において、同一であるか又は機能的に類似している要素を示すために図面間で同じ参照符号を用いる。また、各図面において説明上重要ではない構成要素、部材、処理の一部は省略して表示する場合がある。

＜実施例１＞
図１から図７を参照して、本実施例の眼科システム１０について説明する。眼科システム１０は、取得した断層画像の被検眼における深さ方向の長さと、断層画像を取得した断層画像撮影装置の種別とのいずれかに応じて、異なるスケールを適用して断層画像を表示することができる。

ここで、深さ方向が長い断層画像又はＳＳ－ＯＣＴによって取得された断層画像が選択された場合、断層画像の深さ方向における一部の領域のみ、すなわち部分画像を表示領域に合わせるように表示させるスケールで表示される。取得されたままの断層画像よりも深さ方向が短い部分画像を表示することで、断層画像が深さ方向につぶされることがなく、注目領域を視認しやすくすることができる。

断層画像撮影装置であるＯＣＴによって取得される断層画像の深さ方向の長さ（撮影深度）は、被検眼に照射される測定光の性質と、干渉光を受光するセンサの性質とに依存する。取得される断層画像の深さ方向の長さを変更するためには、光源の変更やサンプリング速度の変更などの光学系の構成の煩雑な変更及び調整が必要であるため、深さ方向の長さは変更不可である場合がある。本実施例では、取得した断層画像を後処理することによって、光学系の構成の煩雑な変更及び調整をすることなく注目領域を視認しやすく表示させることができる。

（システムの構成）
図１を参照して、眼科システム１０の構成の一例を説明する。図１は本実施例に係る眼科システム１０の構成を示す図である。図１に示すように、眼科システム１０は、情報処理装置の一例である眼科制御装置１１０が、インターフェースを介して断層画像撮影装置１００（ＯＣＴとも呼ばれる）、記憶部１２０、入力部１３０、表示部１４０と通信可能に接続されたシステムである。

断層画像撮影装置１００は、被検眼の断層画像を撮影する装置であり、測定光学系１０１、ステージ部１０２及びベース部１０３を備える。断層画像撮影装置１００として、波長掃引光源を用いて測定光が照射された被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た干渉光を用いて断層画像を取得する眼科検査装置であるＳＳ－ＯＣＴを説明する。

なお、後述するように眼科制御装置１１０は、眼科検査装置の別の一例であるＳＤ－ＯＣＴと接続可能に構成されてもよい。ＳＤ－ＯＣＴは分光器を介して干渉光を検出する。

測定光学系１０１は前眼観察像、被検眼のＳＬＯ眼底像、断層画像を取得するための光学系である。ステージ部１０２は、測定光学系１０１を前後左右に移動可能にする。

眼科制御装置１１０は、ステージ部１０２の制御、アライメント動作の制御、断層画像の再構成、画像の表示などを実行するコンピュータである。記憶部１２０は、断層撮像用のプログラム（撮影パターンなど）、患者情報、過去検査の撮影データや画像データ、計測データなどを記憶する。

入力部１３０はコンピュータへの指示を行い、具体的にはキーボードとマウスから構成される。表示部１４０は、例えばモニターから成る。なおタッチパネルを使用する場合は、入力部１３０の一部または全てが表示部１４０に内蔵される。

（断層画像撮影装置の構成）
本実施例の断層画像撮影装置１００における測定光学系の構成について図２を用いて説明する。ここでは、ＳＳ－ＯＣＴの構成を例に説明する。

まず、測定光学系１０１の内部について説明する。断層画像撮影装置１００は、射出される光の周波数が掃引される波長掃引光源２１１と、干渉光を生成するＯＣＴ干渉部２２０と、干渉光を検出する検出部２３０と、干渉光に基づいて、被検体２００の眼底の情報を取得する眼科制御装置１１０とを有している。さらに、断層画像撮影装置１００は、測定アーム２５０と参照アーム２６０を有している。

なお、断層画像撮影装置１００は走査型検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ：以下、ＳＬＯ）用の光源２１２を備え、眼底からの反射光を得るためのＳＬＯ光学系２８０、前眼部撮影部２９０を有する構成であってもよい。また、断層画像撮影装置１００は、眼底を可視光によって照明し眼底正面画像を取得する眼底カメラの機能を有していてもよい。

なお、本実施例では被検体２００が人眼である例を説明するが、これに限るものではない。

ＯＣＴ干渉部２２０は、カプラ２２１、２２２を有している。まず、カプラ２２１は、波長掃引光源２１１から射出された光を眼底へ照射する測定光と参照光とに分岐する。この実施例において、分岐比は２：８程度であり、測定光：参照光＝２：８とする。

測定光は、測定アーム２５０を経由して被検体２００である眼底に照射される。より具体的には、測定アーム２５０に入射した照射光は、偏光コントローラ２５１で偏光状態を整えられた後、コリメータ２５２から空間光として射出される。その後、照射光は、Ｘ走査スキャナー２５３、レンズ２５４、２５５、Ｙ走査スキャナー２５６、ダイクロイックミラー２７３、レンズ２５７、フォーカスステージ２５９に固定されたフォーカスレンズ２５８、対物レンズ２７６を介して被検体２００の眼底に照射される。

なお、Ｘ走査スキャナー２５３、Ｙ走査スキャナー２５６は眼底を照射光で走査する機能を有する走査手段である。走査手段によって、測定光の眼底への照射位置が変えられる。また、ダイクロイックミラー１０３は、波長１０００ｎｍ～１１００ｎｍの光を反射し、それ以外の光を透過する特性を有する。

そして、眼底からの後方散乱光（反射光）は、再び上述の光学経路をたどり測定アーム２５０から射出される。そして、カプラ２２１を経由してカプラ２２２に入射する。前記の分岐比に従い、眼底からの戻り光の８割がカプラ２２２に導かれる。

一方、参照光は参照アーム２６０を経由し、カプラ２２２に入射する。より具体的には、参照アーム２６０に入射した参照光は、偏光コントローラ２６１で偏光状態を整えられた後、コリメータ２６２から空間光として射出される。その後、参照光は分散補償ガラス２６３、光路長調整光学系２６４、分散調整プリズムペア２６５を通り、コリメータレンズ２６６を介して光ファイバーに入射され、参照アーム２６０から射出されてカプラ２２２に入射する。

カプラ２２２で測定アーム２５０を経由した被検体２００の反射光と参照アーム２６０を通った光とが合波され干渉する。そして、その干渉光を検出部２３０で検出する。検出部２３０は、差動検出器２３１とＡ／Ｄ変換器２３２を有している。まず、検出部２３０では、カプラ２２２で干渉光を発生させた後すぐに分波された干渉光を差動検出器２３１で検出する。

そして、差動検出器２３１で電気信号に変換されたＯＣＴ干渉信号をＡ／Ｄ変換器２３２でデジタル信号に変換している。ここで、図２の断層画像撮影装置１００では、干渉光のサンプリングは、波長掃引光源２１１の中に組み込まれたｋクロック発生部が発信するｋクロック信号に基づいて等光周波数（等波数）間隔に行われる。Ａ／Ｄ変換器２３２が出力したデジタル信号は眼科制御装置１１０に送られる。

以上は、被検体２００のある１点における断層に関する情報の取得のプロセスであり、このように被検体の奥行き方向の断層に関する情報を取得することをＡ－ｓｃａｎと呼ぶ。また、Ａ－ｓｃａｎと直交する方向で被検体の断層に関する情報、すなわち２次元画像を取得するための走査方向をＢ－ｓｃａｎ、更にＡ－ｓｃａｎ、及びＢ－ｓｃａｎのいずれの走査方向とも直交する方向に走査することをＣ－ｓｃａｎと呼ぶ。

また、３次元断層像を取得する際に眼底面内に２次元ラスター走査する場合、高速な走査方向がＢ－ｓｃａｎ、Ｂ－ｓｃａｎをその直交方向に並べて走査する低速な走査方向をＣ－ｓｃａｎと呼ぶ。Ａ－ｓｃａｎ及びＢ－ｓｃａｎを行うことで２次元の断層像が得られ、Ａ－ｓｃａｎ、Ｂ－ｓｃａｎ及びＣ－ｓｃａｎを行うことで、３次元の断層像を得ることができる。Ｂ－ｓｃａｎ、Ｃ－ｓｃａｎは、上述したＸ走査スキャナー２５３、Ｙ走査スキャナー２５６により行われる。

なお、Ｘ走査スキャナー２５３、Ｙ走査スキャナー２５６は、それぞれ回転軸が互いに直交するよう配置された偏向ミラーで構成されている。Ｘ走査スキャナー２５３は、Ｘ軸方向の走査を行い、Ｙ走査スキャナー２５６は、Ｙ軸方向の走査を行う。Ｘ軸方向、Ｙ軸方向の各方向は、眼球の眼軸方向に対して垂直な方向で、互いに垂直な方向である。また、Ｂ－ｓｃａｎ、Ｃ－ｓｃａｎのようなライン走査方向と、Ｘ軸方向またはＹ軸方向とは、一致していなくてもよい。このため、Ｂ－ｓｃａｎ、Ｃ－ｓｃａｎのライン走査方向は、取得したい２次元の断層像あるいは３次元の断層像に応じて、適宜決めることができる。

ＳＬＯ光源２１２から射出された光はＳＬＯ光学系２８０を介して眼底へ照射される。より具体的にはＳＬＯ光学系２８０に入射した光は、コリメータ２８１から平行光として空間へ射出される。その後、穴あきミラー２７１の穴あき部を通過し、レンズ２８２を介し、Ｘ走査スキャナー２８３、レンズ２８４、２８５、Ｙ走査スキャナー２８６を介し、ダイクロイックミラー２７２に到達する。

なお、Ｘ走査スキャナー２８３、Ｙ走査スキャナー２８６は、ＳＬＯ用の走査手段の一例であり、共通のＸＹ走査スキャナーとしてＯＣＴ用のＸ走査スキャナー２５３、Ｙ走査スキャナー２５６の構成としても良い。ダイクロイックミラー２７２は、７６０ｎｍ～８００ｎｍを反射し、それ以外の光を透過する特性を有する。ダイクロイックミラー２７２にて反射された光は、ＯＣＴと同様の光路を経由し、被検体２００の眼底に到達する。

眼底に照射された測定光は、眼底で反射・散乱され、上述の光学経路をたどり穴あきミラー２７１に達する。穴あきミラー２７１で反射された光が、レンズ２８７を介し、アバランシェフォトダイオード（以下、ＡＰＤ）２８８で受光され、電気信号に変換されて、コンピュータ１１０に送られる。

ここで、穴あきミラー２７１の位置は、被検眼の瞳孔位置と共役となっており、眼底に照射された測定光が反射・散乱された光のうち、瞳孔周辺部を通った光が、穴あきミラー２７１によって反射される。

前眼部撮影部２９０は、波長８６０ｎｍの照明光を発するＬＥＤから成る照明光源２９５により前眼部を照明する。前眼部で反射された光は、対物レンズ２７６を介してダイクロイックミラー２７５に達する。ダイクロイックミラー２７５は、８２０ｎｍ～９２０ｎｍの光を反射し、それ以外の光を透過する特性を有する。ダイクロイックミラー１０５で反射された光は、レンズ２９１、２９２、２９３を介し、前眼部カメラ２９４で受光される。前眼部カメラ２９４で受光された光は電気信号に変換され、眼科制御装置１１０で受ける。

内部固視灯２２５は、内部固視灯用表示部２２６、レンズ２２７で構成される。内部固視灯用表示部２２６として複数の発光ダイオード（ＬＤ）がマトリックス状に配置されたものを用いる。発光ダイオードの点灯位置は、撮影したい部位に合わせて変更される。内部固視灯用表示部２２６からの光は、レンズ２２７を介し、被検眼に導かれる。内部固視灯用表示部２２６から射出される光は５２０ｎｍで、設定した所望のパターンが表示される。

眼科制御装置１１０はデジタル信号に変換した干渉信号を信号処理することで、断層画像を取得する。さらに、モーションコントラストデータを解析することで血管造影画像を取得してもよい。同様に、眼科制御装置１１０は、ＡＰＤ２８８から送られてくるデジタル信号に変換されたＳＬＯの眼底信号を処理し、ＳＬＯ画像を計算する。また、前眼部カメラ２９４から送られてくる信号を処理し、前眼部画像を構成する。

続いて、信号処理の結果得られた眼底および前眼部の情報が表示部１４０によって表示される。

ここではＳＳ－ＯＣＴを例に断層画像撮影装置１００の光学系を説明したが、ＳＤ－ＯＣＴなど他の構成の断層画像撮影装置を用いることも可能である。

（断層画像の表示）
次に図３を参照して、深さ方向の長さが異なる断層画像を同じ大きさの表示領域に配置することによる、表示上の見え方の違いを説明する。図３は異なる種別の断層画像撮影装置であるＳＤ－ＯＣＴとＳＳ－ＯＣＴとから得られるそれぞれの断層画像と、それぞれの断層画像全体を同じ大きさの表示領域に表示したときの画像との表示の例を示す。

図３（ａ）は、ＳＤ－ＯＣＴで被検眼２００の眼底を撮影した断層画像３００であり、断層画像３００には網膜層３０１が映し出される。正常眼では一般的に、ＳＤ－ＯＣＴで取得された断層画像には、網膜色素上皮以下の脈絡部分からの戻り光が減衰して脈絡膜部分の途中部分３０２までが描出された画像となる。

図３（ｃ）は、ＳＳ－ＯＣＴによって被検眼２００の眼底を撮影した断層画像３２０である。高深さ範囲で断層画像を取得可能なＳＳ－ＯＣＴで撮影することで、断層画像３２０に網膜及び脈絡膜を含む領域３２１を映し出すことが可能である。

断層画像３００又は３２０が表示部に表示される場合、選択されたスケールに基づいて画像の大きさが変更される。例えば、深さ方向と横方向の１ピクセルの長さが同じになるスケール（Ｒｅａｌスケール）や、表示領域に合わせるように画像の深さ方向と横方向とをそれぞれ拡大・縮小し表示するスケール（Ｆｉｔスケール）など、選択されるスケールの種類に合わせて画像の縦横比を変更されてもよい。

Ｆｉｔスケールで断層画像３００と３２０とを同じ大きさの表示領域に表示した場合、元の画像の縦横比の違いのため表示される網膜の見え方が異なってしまう。図３（ｂ）はＳＤ－ＯＣＴによって取得される断層画像を表示した断層画像３１０である。一方、図３（ｄ）に示されるように、ＳＳ－ＯＣＴによって取得される断層画像を表示した断層画像３３０では、深さ方向につぶされて注目領域の１つである網膜部分の視認性が低下する。

（眼科制御装置の構成）
次に図４を参照して、情報処理装置の一例である眼科制御装置１１０の構成を説明する。図４は眼科制御装置１１０の構成を概略的に示す。眼科制御装置１１０は断層画像撮影装置１００及び入力部１３０、表示部１４０と接続されており、撮影制御部４１０、画像取得部４２０、記憶部１２０、表示制御部４３０が設けられている。

情報処理装置の一例である眼科制御装置１１０は、例えば、パーソナルコンピュータ、タブレット端末、携帯端末などのいずれかであってよい。また、眼科検査装置が本明細書に開示される情報処理装置の機能を実現する構成であってもよい。開示される情報処理装置の機能が、情報処理装置と眼科検査装置とを含む複数の装置が通信可能に接続された眼科システムによって実現されてもよい。なお、情報処理装置は眼科検査装置に専用の情報処理装置に限らず、例えばＣＴやＭＲＩなどの眼科以外の検査装置と接続可能であってもよい。

撮影制御部４１０は、断層画像撮影装置１００を制御することで、撮影アライメントの調整や撮影の実施、撮影された前眼観察像・ＳＬＯ眼底像や断層画像の信号データの取得などを行う。また、撮影された断層画像の撮影パターン、撮影アライメントパラメータ、ＳＬＯ眼底像などを記憶部１２０に格納する。

さらに撮影制御部４１０は、画像取得部４２０を介して断層画像撮影装置１００により撮影された断層画像の信号データから信号処理により断層画像を生成し、記憶部１２０に格納する。なお、撮影アライメント時に取得する信号データは記憶部１２０には格納せずプレビュー画像として表示制御部４１０に送られる。

また画像取得部４２０は撮影されたデータがＯＣＴＡ方式の撮影パターンの場合は、同一位置を走査した断層画像からモーションコントラスト画像を生成し、生成した断層画像と共に記憶部１２０に格納する。また、画像取得部４２０は、取得した断層画像の層境界を解析して解析結果も断層画像と共に記憶部１２０に保存する。

表示制御部４３０は、撮影画像装置１００から撮影制御部４１０を介して取得した、撮影アライメントを行うための前眼観察像やＳＬＯ眼底像、断層画像のプレビュー表示や取得された断層画像、ＳＬＯ眼底像を、表示部１４０に表示させる。ここで、表示部１４０は、例えばディスプレイやプロジェクターなどのいずれかであってよい。なお、表示部１４０は眼科制御装置１１０と直接接続されていなくてもよく、例えば、眼科システムに含まれるいずれかの情報処理装置と有線又は無線の通信接続によって接続可能に構成されていればよい。

また、表示制御部４３０は、ユーザが入力部１３０を介して入力された内容に基づいて表示部１４０の表示変更や撮影制御部４１０への指示を行う。入力部１３０は、例えば、マウスやキーボード、タッチペンなどの少なくともいずれかである。また、入力部１３０と表示部１４０の両方の機能を備えるタッチパネルディスプレイを用いる構成であってもよい。

さらに、表示制御部４３０は、記憶部１２０に保存された断層画像やＳＬＯ眼底像のいずれかをユーザが入力部１３０によって選択する指示に応じて、選択された画像を表示部１４０に表示する。

記憶部１２０は、患者情報（患者の氏名、年齢、性別など）と、撮影した断層画像撮影装置１１０の装置情報（機種の名前、ＯＣＴの種別など）を保持する。さらに記憶部１２０は、撮影した断層画像やモーションコントラスト画像、ＳＬＯ画像、撮影パターン情報（左右眼、撮影サイズ、撮影形式、Ｘ軸方向のスキャン数、Ｙ軸方向のスキャン数、同一位置の繰り返し走査回数など）、撮影アライメントパラメータ情報（固視灯位置、撮影位置、ＳＬＯとＯＣＴのフォーカス値、Ｃ－Ｇａｔｅ位置など）やユーザが設定したパラメータ（輝度コントラスト調整値、写損の判定など）を保持する。

また、取得手段の一例である画像取得部４２０が取得する画像は、撮影制御部４１０によって取得される画像だけでなく、システムの外部に保存されているデータを取り込んだものも含まれる。その場合は画像だけではなく、被検眼の情報、装置情報、撮影パターン情報、撮影アライメントパラメータ情報、ユーザが設定したパラメータ全ての情報及び解析結果も一緒に取得され、記憶部１２０で記憶される。なお、取り込んだデータの状態が古い場合や解析結果に破損がある場合などは、古い情報の更新や取り込んだ眼科システム１０が持つ解析内容での再解析をして、記憶部１２０に記憶させる。

（本実施例に係る表示画面及び拡大表示画面）
図５と図６を参照して、本実施例の表示制御部４３０が断層画像をレポートとして表示部１４０に表示させる際の表示について説明する。図５は、レポートの一例である表示画面５００であり、記憶部１２０に保存された断層画像と断層画像に付随する情報とを表示する。

ここで、断層画像に付随する情報として、測定光を走査するスキャンモードと、左右眼と、検査日時と、患者情報との少なくとも一つを表示させてもよい。表示部に表示させる情報が多く断層画像を表示させる表示領域が限られる場合においても、断層画像の深さ方向の長さに応じてスケールを変更することで、注目領域を視認しやすくすることができる。

また、表示画面５００は、不図示の患者画面で患者を選択する指示に応じて、選択された患者の被検眼の断層画像を表示してもよい。

図６は、拡大表示画面６００であり、断層画像の１つを拡大表示する。拡大表示画面６００は、表示画面５００で表示された断層画像の１つから拡大表示画面６００に遷移することで表示される。

表示画面５００は検査選択リスト表示領域５１０と選択検査内容表示領域５２０を持つ。検査選択リスト表示領域５１０では、記憶部１２０に保存されている検査データが、１撮影を１検査としてリスト状に並べられる。検査は検査日時、撮影機種、左右眼の単位でグルーピングされ、グルーピングされた中の検査は検査日時のうち撮影時間順に並べられる。このとき、検査日時のうち撮影日は降順で撮影時間は昇順で並べられる。

また、検査選択リスト表示領域５１０は他にも撮影パターンごとにグルーピングする表示に切り替えることもできる。検査選択リスト表示領域５１０内に表示された検査から１つを選択検査５１１としてユーザが選択することで、選択検査５１１の断層画像、撮影パターン情報などの検査情報が記憶部１２０から読みだされて、選択検査内容表示領域５２０に表示される。

選択検査内容表示領域５２０では、１検査表示、左右眼表示、過去検査比較などの目的別の検査表示レイアウトが指定でき、選択されている検査表示レイアウトに応じた画像および検査情報が表示される。選択検査内容表示領域５２０では画像を表示する領域としてＳＬＯ眼底像表示領域５２１や断層画像表示領域５２２がある。

ＳＬＯ眼底像表示領域５２１には、選択検査５１１のＳＬＯ画像が表示され、断層画像表示領域５２２で表示される断層画像の位置や方向がＳＬＯ画像上に示される。断層画像表示領域５２２は、選択検査５１１の断層画像の少なくとも１つが表示でき、ＳＬＯ眼底像表示領域５２１で示した位置と方向に対応した断層画像が表示される。また、断層画像表示領域５２２上には断層画像の深さ方向とＸ軸方向それぞれの実寸を示すスケールが表示される。

なお、眼底上の特定の領域内を等間隔にスキャンすることで行われる３Ｄ撮影など複数の断層画像を扱う検査では、総断層画像数と表示されている断層画像が何枚目かを示す数字が断層画像表示領域５２２上に表示される。この場合、断層画像はＳＬＯ眼底像表示領域５２１や断層画像表示領域５２２上のマウススクロールやマウスクリックなどで表示する断層画像を変更できる。表示する断層画像を変更する指示に応じて、ＳＬＯ眼底像表示領域５２１上で示される断層画像の位置及び断層画像表示領域５２２上で示される何枚目の断層画像かを示す数字が変更される。

拡大表示画面６００は、断層画像表示領域５２２においてダブルクリック、不図示の右クリックメニューまたは不図示の拡大用ボタンといった拡大画面の表示操作によって表示される。拡大表示画面６００は拡大断層画像表示領域６１０と断層画像操作領域６２０を持つ。

拡大断層画像表示領域６１０は断層画像表示領域５２２よりも広い領域を持ち、断層画像表示領域５２２に表示されていた断層画像が表示される。断層画像操作領域６２０は、断層画像スケール選択領域６２１を持ち、拡大断層画像表示領域６１０の断層画像のスケールを変更することができる。拡大表示画面６００が表示された時のスケールは断層画像表示領域５２２の拡大画面表示操作を行った時と同じ縦横比（Ｄｅｆａｕｌｔスケール）で表示され、断層画像スケール選択領域６２１で選択したスケールに応じて拡大断層画像表示領域６１０に表示される断層画像が変更される。

（本実施例に係るＳＳ－ＯＣＴで撮影された断層画像の表示フロー）
次に図７を参照して本実施例に係るＳＳ－ＯＣＴで撮影された断層画像を表示するフローについて説明する。図７は本実施例に係る断層画像表示のための動作のフローチャートを示す。

ＳＳ－ＯＣＴで撮影された深さ方向が長い断層画像を同じ表示領域に合わせるように表示させた場合、ＳＤ－ＯＣＴで撮影された深さ方向の短い断層画像と比べると網膜部分が薄く表示される。そこで、断層画像を撮影した断層画像撮影装置１００の種別と断層画像の深さ方向の長さとのいずれかに応じて、表示制御部４３０がスケールを変更することにより、深さ方向の長さが異なる断層画像を取得した場合でも視認性の高い断層画像を断層画像表示領域５２２に表示する。

具体的には、ステップＳ７０１で、ユーザは表示画面５００に表示させる対象の検査を選択し、表示制御部４３０は記憶部１２０から選択された検査で取得された断層画像を読み込む。このとき、断層画像が撮影された断層画像撮影装置１００の装置情報や撮影パターン情報も記憶部１２０から取得する。

ステップＳ７０２では、表示制御部４３０がステップＳ７０１で同時に取得した装置情報から、ＳＤ－ＯＣＴやＳＳ－ＯＣＴといった断層画像を撮影した断層画像撮影装置１００の種別を確認する。

ステップＳ７０３では、ステップＳ７０２で確認した断層画像撮影装置１００の種別に基づいて、表示制御部４３０が断層画像を表示するスケールを決定する。ここでは断層画像撮影装置１００の種別がＳＤ－ＯＣＴだった場合は、断層画像表示領域５２２に断層画像全体を合わせるように表示するＦｉｔスケールが選択される。断層画像撮影装置１００の種別がＳＳ－ＯＣＴだった場合は、断層画像全体を表示させるのではなく、ＳＤ－ＯＣＴのＦｉｔスケール時の深さ方向の長さである２ｍｍと同じ長さの部分画像を断層画像表示領域５２２に合わせるように表示する、２ｍｍ Ｄｅｐｔｈスケールが選択される。

なお、取得された断層画像の深さ方向の長さをステップＳ７０２において確認し、ステップＳ７０３において断層画像の深さ方向の長さに応じて断層画像を表示させるスケールを決定してもよい。このとき、断層画像の深さ方向の長さが所定の長さ、例えば２ｍｍ以下である場合は断層画像全体を断層画像表示領域５２２に合わせるように表示させる。また、断層画像の深さ方向の長さが所定の長さ、例えば２ｍｍより長い場合はもとの断層画像よりも深さ方向の長さが短い部分画像を断層画像表示領域５２２に合わせるように表示させる。

ここで、断層画像を表示させるスケールを切り替える深さ方向の長さの基準として、一般的なＳＤ－ＯＣＴで撮影される断層画像の深さ範囲の長さである２ｍｍを説明したが、これに限られない。また、上述のスケールの設定はデフォルトで行いユーザの操作によって後からスケールを変更する構成や、ユーザがスケールを予め設定可能な構成にしてもよい。

ステップＳ７０４では、表示制御部４３０がステップＳ７０２で読み込んだ断層画像の横方向及び深さ方向それぞれの実寸長を取得する。横の実寸は撮影パターン情報の撮影サイズから取得し、深さ方向の実寸は装置情報と共に保存されている場合は装置情報から取得しても、ステップＳ７０２で確認した断層画像撮影装置１００の種別から固定の値として割り当ててもよい。また、断層画像のオリジナルサイズで１ピクセルが示す実寸長及び断層画像のピクセル数を画像情報として取得して算出してもよい。

ステップＳ７０５では、表示制御部４３０が断層画像表示領域５２２のサイズを確認する。

ステップＳ７０６では、表示制御部４３０がステップＳ７０３からステップＳ７０５までで確認したスケール、断層画像の実寸長と表示領域のサイズから、断層画像の横方向及び深さ方向それぞれで拡大縮小倍率を算出する。Ｆｉｔスケールの場合は、式１のようにそれぞれの倍率Ｒｘ、Ｒｚを求める。

ここで、Ｔｘ、Ｔｚは記憶部１２０に保存されているオリジナルの断層画像の横方向及び深さ方向のピクセル数を示している。また、Ａｘ、Ａｚは断層画像表示領域５２２の縦横のピクセル数を示している。２ｍｍ Ｄｅｐｔｈスケールの場合は、式２のように深さ方向で２ｍｍのピクセル数が表示領域のピクセル数になるように倍率Ｒｘ、Ｒｚを求める。

ここで、Ｔｘ、ＴｚとＡｘ、Ａｚは式１と同様にオリジナルの断層画像の横方向及び深さ方向のピクセル数と断層画像表示領域５２２の横方向及び深さ方向のピクセル数を示す。ＳｔｚはステップＳ７０４で求めた断層画像の深さ方向の実寸長を示す。Ｓａｚは断層画像表示領域５２２で表示する実寸長を示し、ここでは２ｍｍとなる。

ここで、Ｒｚが１以上の場合には、断層画像の深さ方向が拡大される。深さ方向が拡大される場合、断層画像のうち表示領域に入らない部分が生じる。このため、部分画像が対応する断層画像の位置を移動し、移動した先の部分画像に表示を更新させるための指示を受け付けるスクロールバーを設ける。断層画像表示領域５２２内にスクロールバーが表示される場合、Ａｘはスクロールバー分のピクセル数を除いた値で算出する。なお、スクロールバーを設けずに、断層画像の表示領域に入らない部分をトリミングする構成にしてもよい。

ステップＳ７０７では、表示制御部４３０がＳ７０６で求めた倍率で拡大・縮小された断層画像を生成する。ニアレストネイバー法やバイリニア法、バイキュービック法、機械学習による超解像などによって補間を行うことで、拡大・縮小された断層画像が生成される。

ステップＳ７０８では、Ｓ７０６で求めた倍率が１以上の場合、表示領域に表示される部分画像の被検眼における位置を決定する。デフォルト位置として断層画像のうち中央が部分画像として表示される位置を指定することが望ましい。また、断層画像を解析することにより層境界が求められている場合、網膜が部分画像の中央部に表示されるように位置を指定してもよい。

なお、３Ｄ撮影で撮影された断層画像の場合は断層画像毎で網膜の位置が異なるため、中央にあたる断層画像又は黄斑中心や乳頭中心を通る断層画像の網膜が中央部に来る位置を指定してもよい。また、断層画像毎に網膜が中央部に配置される位置を指定してもよい。さらに、断層画像内でも網膜の高さが異なるため、網膜の最も低い部分が中央となる位置ではなく断層画像表示領域５２２の底部よりも少し上に位置するよう指定することで、断層画像内の網膜全体が断層画像表示領域５２２内に表示できる。

ステップＳ７０９では、表示制御部４３０が断層画像表示領域５２２内に、ステップＳ７０７で生成した断層画像をステップＳ７０８で指定した位置で表示する。このとき、断層画像表示領域５２２に表示される断層画像の被検眼における深さ方向の位置をユーザの指示に応じて変更可能なようにスクロールバーを表示させてもよい。すなわち、スクロールバーを操作することで、部分画像として表示される被検眼の位置をデフォルト位置から変更し、部分画像の表示を異なる部分画像の表示に更新する構成であってもよい。

上述した本実施例によれば、例えばＳＳ－ＯＣＴで撮影された、深さ方向に長い断層画像を表示領域に表示させる場合においても注目領域を視認しやすくなる。また、網膜部分を大きく見せるために、ユーザが操作して断層画像のスケールを変更したり拡大表示画面６００を表示したりする必要がなくなり、ユーザビリティが向上する。

なお、ＳＤ－ＯＣＴで撮影された断層画像を拡大表示画面６００の拡大断層画像表示領域６１０上でＦｉｔスケール表示することで、断層画像を大きく表示する場合がある。ＳＳ－ＯＣＴで撮影された断層画像で同様の表示を行う場合においても、断層画像スケール選択領域６２１の２ｍｍ Ｄｅｐｔｈスケールを選択することで、図６（ｂ）のように、ＳＤ－ＯＣＴのＦｉｔスケール表示と同じ見た目で表示することができる。

また、Ｓ７０２からＳ７０３では断層画像撮影装置１００の種別から表示スケールを設定したが、予め検査毎に指定の初期表示スケールを紐づけておき、その情報を使用してスケールを決定することもできる。例えば、撮影パターンを作成する際に、検査の情報として初期表示スケールが設定できるようにすることで紐づけることができる。

断層画像撮影装置１００がＳＳ－ＯＣＴなどの広画角・高深達の断層画像を撮影する種別だった場合にのみ２ｍｍ Ｄｅｐｔｈスケールが設定することができるようにしてもよい。また、狭画角の撮影パターンの時は２ｍｍ Ｄｅｐｔｈを初期状態にすることで、撮影する前に狭画角と広画角の撮影毎で表示を含めた検査条件を設定することができる。

なお、検査毎ではなく断層画像を表示するに狭画角の断層画像の時、自動的に２ｍｍ Ｄｅｐｔｈスケールが設定されてもよい。この場合、予め設定された撮影画角以下のものを狭画角断層画像と指定することで切り替えることができる。

また、断層画像撮影装置１００の種別に関わらず、表示制御部４３０が取得した断層画像の深さ方向の長さに応じてスケールを設定する構成であってもよい。例えば、断層画像の深さ方向の長さが一定の長さより長い場合、断層画像の一部の領域のみを表示させ、断層画像の深さ方向の長さが一定の長さ以下である場合、断層画像の全体を表示させてもよい。具体的には、断層画像の深さ方向の長さが２ｍｍを超える場合は、深さ方向の長さが２ｍｍの領域のみを表示させ、断層画像の深さ方向の長さが２ｍｍ以下である場合は、断層画像の全体を表示させてもよい。なお、表示スケールを切り替える境界は適宜設定できる。

加えて、本実施例ではステップＳ７０４で深さ方向の長さを取得し、ステップＳ７０６でその長さを用いて倍率を求めたが、表示上の１ピクセル当たりの実寸サイズが同じになるよう揃える方法であればこれに限らない。例えば、各断層画像撮影装置の撮影深度が無い場合でも、１ピクセル同士の大きさの比率が求められる場合は、式２のＳｔａ／Ｓｔｚに比率を置き換えることで、倍率を求めることができる。

今回は、狭画角で撮影された検査で表示する場合に、２ｍｍ Ｄｅｐｔｈスケールで表示する方法を述べたが、広画角撮影時でも２ｍｍ Ｄｅｐｔｈスケールでの表示ができてよい。その場合、深さ方向だけでなくＸ軸方向もＳＤ－ＯＣＴの画角に合わせたスケールに拡大表示する構成にしてもよい。広画角の俯瞰的な断層画像の表示と狭画角の従来と同様のＳＤ－ＯＣＴと同じ断層画像の表示両方を切り替えて表示することで診断効率が向上する。

さらに、実施例内では撮影深度が長い断層画像撮影装置の種別をＳＳ－ＯＣＴ、撮影深度が短い断層画像撮影装置の種別をＳＤ－ＯＣＴで記載したが、撮影深度が長いＳＤ－ＯＣＴと撮影深度が短いＳＤ－ＯＣＴとを用いてもよい。

＜実施例２＞
本実施例では、複数の検査を同時に表示可能な構成において、比較先の検査を撮影した断層画像撮影装置１００の種別が異なる場合に比較元の検査に応じたスケールを決定する例について説明する。表示される複数の検査として、検査選択リスト表示領域５１０で選択した選択検査５１１以外にも、選択検査５１１との比較対象として選択される検査がある。その場合、比較する検査が異なる種別の断層画像撮影装置１００によって行われたものであっても、断層画像の見え方は同じであることが望ましい。

なお、本実施例では、異なる種別の断層画像撮影装置で撮影された複数の断層画像の表示においても、断層構造の縦横比が似た状態で表示されることを同じ見た目であると表現するが、厳密に同じ見た目でなくてもよく、目視による断層構造の比較が行いやすい状態であればよい。

（本実施例に係る断層画像比較表示画面）
図８を参照して本実施例の表示制御部４３０が表示する複数の異なる検査を並べて表示する画面の例を説明する。図８は記憶部１２０に保存されている断層画像を含む検査を２つ並べて表示する断層画像比較表示画面８００である。

断層画像表示画面８００は表示画面５００と同様に検査選択リスト表示領域８１０と選択検査内容表示領域８２０を持ち、検査選択リスト表示領域８１０から選択検査８１１を選び、選択検査内容表示領域８２０に表示させる。なお、記憶部１２０に保存された検査に複数種別の断層画像撮影装置１００で撮影した検査が混ざっている場合は、断層画像撮影装置１００の種別や機種名、もしくは種別や機種名を示すアイコンや記号を表示してもよい。

検査選択リスト表示領域８１０に表示する選択検査内容表示領域８２０では、左右眼比較や過去検査比較などの比較レポートを指定することで、複数の検査を表示することができる。比較レポートには選択検査表示領域８２３と比較先検査表示領域８２２を表示することができ、それぞれで撮影日時、左右眼、断層画像撮影装置１００の種別などの検査情報、ＳＬＯ眼底画像、断層画像を表示することができる。

選択検査表示領域８２３には検査選択リスト表示領域８１０から選択した選択検査８１１の検査情報と画像が表示される。比較先検査表示領域８２２では、過去に撮影された同一の撮影パターンの検査が表示される。比較対象とする検査はユーザによって指定することができ、比較検査選択ボタン８２１を選択することで、不図示の比較対象検査選択画面から１つ以上の過去検査を指定することで、比較先検査表示領域８２２に並べて表示することができる。なお、初期表示として選択検査８１１に最も近い過去の同一撮影パターン検査を自動的に表示してもよい。

（本実施例に係る異なる断層画像撮影装置で撮影された比較先画像の表示フロー）
図９を参照して本実施例に係る比較先画像がＳＳ－ＯＣＴの断層画像で、比較元画像がＳＤ－ＯＣＴの断層画像として、断層画像を並べて表示する場合の断層画像の表示フローについて説明する。図９は本実施例に係る比較先断層画像表示のための動作のフローチャートを示す。

異なる断層画像撮影装置１００の種別で撮影した断層画像を並べて表示する場合、同一の撮影パターンで撮影しても、深さ方向となる縦の解像度や撮影される断層画像の実寸長が異なるため、深さ方向には異なる厚みで断層画像が表示される。そのため、表示制御部４３０は比較元と比較先の断層画像撮影装置１００の種別及び比較元のスケールに合わせて比較先の断層画像のスケールを設定することで、断層画像撮影装置１００の種別が異なる場合でも同じ見た目で断層画像を並べて表示する。

具体的には、ステップＳ９０１で表示制御部４３０はユーザが選択した検査または初期表示の比較先検査として選ばれた検査の断層画像及び検査情報を記憶部１２０から取得する。ステップＳ９０２で、表示制御部４３０は比較元となる選択検査８１１とステップＳ９０１で選択した比較先検査の断層画像撮影装置１００の種別を確認する。

ステップＳ９０３で、表示制御部４３０はＳ９０２で確認した種別と比較元の断層画像が表示しているスケールを元に比較先検査の断層画像のスケールを決定する。比較元検査と比較先検査で同じ断層画像撮影装置１００の種別だった場合は、同一のスケールを選択する。比較元検査と比較先検査で異なる断層画像撮影装置１００の種別だった場合は、比較元検査のスケールに応じて、比較先検査と比較元検査の断層画像の１ピクセルの実寸長が縦横それぞれで同じになるようにスケールを決定する。

例えば、比較元検査がＳＤ－ＯＣＴで撮影された検査で断層画像がＦｉｔスケールで表示されている時に、比較先検査がＳＳ－ＯＣＴで撮影された検査の場合は、断層画像表示領域がＳＤ－ＯＣＴの深さ方向の長さと同じ長さになる２ｍｍ Ｄｅｐｔｈスケールを選択する。また、比較元検査がＳＳ－ＯＣＴで撮影された検査で断層画像が２ｍｍ Ｄｅｐｔｈスケールで表示されている時に、比較先検査がＳＤ－ＯＣＴの場合はＦｉｔスケールで選択し、比較元検査のＳＳ－ＯＣＴの断層画像がＦｉｔスケールで表示されている時は、比較先検査のＳＤ－ＯＣＴの断層画像は５ｍｍ Ｄｅｐｔｈスケールが選択される。

ステップＳ９０４からステップＳ９０９にかけて、ステップＳ９０３で設定したスケールで比較先検査の断層画像を比較先検査表示領域８２２に表示する。表示方法はステップＳ７０４からステップＳ７０９と同じである。なお、ステップＳ９０８のスクロールバーの位置においては、比較元検査の断層画像の層境界の情報をもとに、同じ位置になるように設定してもよい。

上述した本実施例によれば、断層画像撮影装置１００の種別が異なる断層画像を比較表示する際に、複数の断層画像を同じ見た目で表示することができる。これにより、ユーザ操作することで表示を調整することなく、断層画像撮影装置１００の種別の異なる複数の断層画像を同じ見た目で観察ができ非常に好ましかった。

なおここでは、撮影サイズが同じ場合に限定したがこれに限らない。撮影サイズが異なる検査が選択された場合でも、ステップＳ９０６からステップＳ９０８で、断層画像の横方向も式２の深さ方向と同様の拡大縮小率を算出して断層画像をリスケールし、比較元の断層画像と同じ位置になるようにスクロールバーの位置を決定することで、同じ見た目で表示することができる。

また、本実施例では比較先の検査を表示する時のフローについて述べたが、比較元の表示スケールを変更した場合でも、スケールの種別を変更後のスケールでステップＳ９０２からステップＳ９０９を行うことで、比較先の断層画像の表示を同じ見た目にすることができる。さらには、比較先の表示スケールを変更した場合も、ステップＳ９０２からステップＳ９０９のフローを比較元と比較先を入れ替えて実施することで、比較元の断層画像の表示を同じ見た目にすることができる。

加えて、本実施例では断層画像撮影装置の種別が異なる断層画像として、ＳＳ－ＯＣＴとＳＤ－ＯＣＴの断層画像の比較を記載したが、これに限らない。ＳＤ－ＯＣＴの中でも、長い撮影深度のＳＤ－ＯＣＴと短い撮影深度のＳＤ－ＯＣＴそれぞれの断層画像を並べて表示する場合も、それぞれの撮影深度と比較元の断層画像の表示スケールの種別をもとに、比較先の断層画像のスケールを選定することで、複数の断層画像を同じ見た目で表示することができる。

＜実施例３＞
本実施例では、広画角で高深達な断層画像撮影装置１００で撮影を行う時に、狭画角の断層画像を撮影する時の断層画像のプレビュー表示の例について説明する。ＳＳ－ＯＣＴなどの広画角で高深達な断層画像撮影装置１００において、ＳＤ－ＯＣＴと同じ撮影パターンを用いた撮影を行う時、ＳＤ－ＯＣＴの撮影と同じ見た目で撮影できることが望ましい。

なお、本実施例では、異なる種別の断層画像撮影装置で撮影された複数の断層画像の表示においても、断層構造の縦横比が似た状態で表示されることを同じ見た目であると表現するが、厳密に同じ見た目でなくてもよく、目視による断層構造の比較が行いやすい状態であればよい。

（本実施例に係る断層画像比較表示画面）
図１０を参照して本実施例の表示制御部４３０が表示する、断層画像を撮影する撮影画面の例を説明する。図１０は断層画像撮影装置１００から撮影制御部４１０を介して断層画像を撮影し、取得するための断層画像撮影画面１０００である。

断層画像撮影画面１０００は撮影パターン表示領域１０１０と撮影プレビュー表示領域１０２０を持つ。撮影パターン表示領域１０１０では左右眼や調整モード、スキャンモード、固視灯の種別等が示される。なお、ユーザはマウス等の入力部１３０を使って、スキャンモードや固視灯の種別を変更することができる。

撮影プレビュー表示領域１０２０は、前眼プレビュー表示部１０２１、ＳＬＯプレビュー表示部１０２２、断層プレビュー表示領域１０２３を持ち、断層画像撮影装置１００から取得される前眼プレビュー画像、ＳＬＯプレビュー画像、断層プレビュー画像をそれぞれの表示部にライブ画像としてリアルタイムに表示する。ＳＬＯプレビュー表示部１０２０では、断層画像の撮影パターン及び固視灯位置をＳＬＯプレビュー画像上に表示する。

またユーザは入力部１３０を介して断層画像の撮影パターンのサイズや位置及び固視灯位置を変更することができる。撮影パターンが変更された場合、撮影制御部４１０は変更に合わせて断層画像撮影装置１００の断層プレビュー画像の取得内容が変更され、変更後の断層プレビュー画像が断層プレビュー表示部１０２３に映し出される。

（本実施例に係るＳＳ－ＯＣＴで狭画角撮影する時の断層画像の表示フロー）
図１１を用いて本実施例に係るＳＳ－ＯＣＴのように広画角かつ高深さ範囲の断層画像を取得可能な断層画像撮影装置１００で、ＳＤ－ＯＣＴと同じような狭画角の撮影を行う際の断層画像の表示フローについて説明する。図１１は本実施例に係るＳＳ－ＯＣＴの撮影で狭画角撮影時の断層画像表示のための動作のフローチャートを示す。

ＳＳ－ＯＣＴで狭画角の断層画像を撮影する場合、断層プレビュー表示領域１０２３には、狭画角で深さ方向が長く網膜部分が薄くなった断層画像が表示される。ここで、表示制御部４３０が狭画角撮影時に断層プレビュー画像のスケールを変更することで、ＳＳ－ＯＣＴでの撮影においてもＳＤ－ＯＣＴでの断層プレビュー画像と同じ見た目で断層プレビュー画像を表示することができる。

具体的には、ステップＳ１１０１でユーザは入力部１３０を介して撮影パターン表示領域１０１０上で撮影パターンを選択する。なお、撮影パターンの選択後にＳＬＯプレビュー表示上で撮影パターンのサイズを変更することもできる。

ステップＳ１１０２では、表示制御部４３０がステップＳ１１０１で指定された撮影パターンの狭画角かどうかの判定を行う。例えば、画角がＳＤ－ＯＣＴの撮影画角である１０ｍｍ以下の場合は狭画角として判定する。

ステップＳ１１０３では、表示制御部４３０がステップＳ１１０２の判定結果からスケールを決定する。狭画角の場合は２ｍｍ Ｄｅｐｔｈスケールに設定し、狭画角でない場合はＦｉｔスケール表示を設定する。すなわち、狭画角で撮影された断層画像を表示させる場合には、断層画像のうち深さ方向の長さが短い部分画像を表示させる。このとき、縦横でそれぞれ撮影するＣｒｏｓｓ撮影パターンの場合、それぞれで画角が異なる場合があるが、それぞれで狭画角の判定を行ってスケールを設定してもよいし、１つでも狭画角が判定された場合は全て狭画角でのスケールに統一して設定してもよい。

ステップＳ１１０４では、表示制御部４３０が断層画像撮影装置１００から取得される断層プレビュー画像の縦横の実寸長の確認をする。横方向の実寸長はステップ１１０１で設定した撮影パターンから、深さ方向の実寸長は断層画像撮影装置１００の情報として予め記憶しているか、断層画像撮影装置１００と通信して取得した情報を使用する。

ステップＳ１１０５では、表示制御部４３０が断層プレビュー表示領域１０２３の縦横のピクセル数を確認する。

ステップＳ１１０６では、表示制御部４３０が断層画像取得装置１００から取得される断層プレビュー画像の縦横のピクセル数を確認する。断層プレビュー画像の縦横のピクセル数は断層画像撮影装置１００の情報として予め記憶しているか、断層画像撮影装置１００と通信して取得した情報を使用する。

ステップＳ１１０７では、表示制御部４３０がステップＳ１１０３からステップＳ１１０６までで確認したスケール、断層プレビュー画像の実寸と表示領域のサイズ及び断層プレビュー画像のサイズから、断層プレビュー画像の縦横それぞれで拡大縮小倍率を算出する。算出手法はステップＳ７０６と同じ方法となる。

ステップＳ１１０８では、断層画像撮影装置１００から撮影制御部４１０が画像取得部４２０を介して断層プレビュー画像を取得し、表示制御部４３０に渡す。

ステップＳ１１０９では、表示制御部４３０がＳ１１０７で求めた倍率で拡大・縮小された断層画像を生成する。ニアレストネイバー法やバイリニア法、バイキュービック法、機械学習による超解像などによって補間を行うことで、拡大・縮小された断層画像が生成される。

ステップＳ１１１０では、Ｓ１１０７で求めた倍率が１以上の時、断層プレビュー画像のデフォルト位置を決定する。デフォルト位置として断層画像の中央が部分画像として表示される位置を指定する。なお断層画像は深さ方向に暗くなる傾向があるため、狭画角で網膜がはみ出ない範囲で明るい部分で撮影できる位置を設定してもよい。また、脈絡膜観察モードなど、撮影する対象によって位置が変更されてもよい。

なお、断層画像撮影装置１００が断層画像を映し出す位置を自動的に決定する機能を持つ場合は、断層画像を映し出す位置が初期表示位置と合うようにしてもよいし、現在断層プレビュー表示領域１０２３が表示している位置にあうようにしてもよい。

ステップＳ１１１１では、表示制御部４３０が断層プレビュー表示領域１０２３内に、ステップＳ１１０９で生成した断層プレビュー画像をステップＳ１１１０で指定した位置で表示する。

表示制御部は断層プレビュー画像を断層画像撮影装置１００から撮影制御部４１０及び画像取得部４２０を介して動画として連続して取得する間は、ステップ１１０９からＳ１１１１を繰り返す。その間、ステップＳ１１１０での表示位置は前の状態を維持する。ユーザによって表示位置が変更された場合も、変更後の位置を維持して断層プレビュー画像を表示する。

上述した本実施例によれば、ＳＳ－ＯＣＴなどの深さ方向に長い断層画像を取得する断層画像撮影装置１００の断層プレビュー表示を、ＳＤ－ＯＣＴで撮影する時と同じ見た目で表示することができる。これにより、被検眼の注目領域、例えば網膜の視認性を向上できる。

さらに、狭画角判定時に、ＳＤ－ＯＣＴと同じＳＬＯプレビュー画像の範囲にＳＬＯプレビュー画像を拡大して表示することで、撮影パターンの位置調整などがより精度高く実施できるようになりユーザビリティが向上する。

なお、ステップＳ１１０２で撮影パターンの画角から狭画角の判定を行ったが、ステップＳ１１０１で選択する撮影パターンに予め狭画角のモードかどうかを設定しておき、設定によって判定する方法でもよい。

＜実施例４＞
本実施例の眼科システム１０は、眼科検査装置の一例である断層画像撮影装置１００によって取得される断層画像の画角に応じて、異なるスケールを適用して断層画像を表示することができる。

ここで、狭い画角で撮影された断層画像が選択された場合、断層画像の深さ方向における一部の領域のみ、すなわち部分画像を表示領域に表示するスケールで表示される。取得されたままの断層画像よりも深さ方向が短い部分画像を表示することで、注目領域、例えば網膜を視認しやすくすることができる。

断層画像撮影装置であるＯＣＴによって取得される断層画像の深さ方向の長さ（撮影深度）は、被検眼に照射される測定光の性質と、干渉光を受光するセンサの性質とに依存する。取得される断層画像の深さ方向の長さを変更するためには、光源の変更やサンプリング速度の変更などの光学系の構成の煩雑な変更及び調整が必要であるため、深さ方向の長さは変更不可である場合がある。本実施例では、取得した断層画像を後処理することによって、光学系の構成の煩雑な変更及び調整をすることなく注目領域を視認しやすく表示させることができる。

装置構成は実施例１～３と同様であるため、説明を省略する。

図１２を用いて、断層画像撮影装置１００によって広角と狭角とを切り替えて撮影を行う場合の断層画像の表示について説明する。

断層画像撮影装置１００、例えばＳＳ－ＯＣＴを用いることで、図１２（ａ）のような広画角かつ高深さ範囲の断層画像を撮影することが可能である。広画角かつ高深さ範囲の断層画像を取得することで、広い範囲の網膜を観察し黄斑部から離れた位置における異常を発見することができる。

ここで、より狭い画角で断層画像を取得することで、広画角の断層画像よりも横方向の解像度の高い断層画像を取得する場合が考えられる。このとき、図１２（ａ）の断層画像が表示される表示領域と同じ表示領域に、狭い画角かつ高深さ範囲の断層画像の全体を表示すると、深さ方向がつぶれてしまい、注目領域の一例である網膜が視認しづらくなる場合がある。

本実施例では、図１２（ｂ）のように取得されたままの断層画像よりも深さ方向が短い部分画像を表示する。このとき、スクロールバー等によるユーザの指示に応じて、部分画像として表示されない領域を新たに表示させる構成であってもよい。また、部分画像として表示されない領域は予めトリミング処理する構成であってもよい。

図１３を用いて、断層画像撮影装置１００を制御して断層画像を取得し、断層画像の画角に応じて表示スケールを異ならせるための動作フローを説明する。

ステップＳ１３０１において、ユーザは撮影を行う撮影パターンの選択・変更を行う。撮影パターンは、画角を含む。撮影パターンとして、他にも、左右眼、撮影サイズ、撮影形式、Ｘ軸方向のスキャン数、Ｙ軸方向のスキャン数、同一位置の繰り返し走査回数などの設定を行ってもよい。

ステップＳ１３０２において、断層画像撮影装置１００を制御し、Ｓ１３０１で設定された撮影パターンに基づく断層画像の取得を行う。続いて、ステップＳ１３０３において取得された断層画像の画角を確認する。このとき、断層画像に紐づけられた画角の情報を確認してもよいし、断層画像撮影装置１００に設定された断層画像の画角を確認してもよい。

ステップＳ１３０４において、画角に応じた断層画像の表示スケールの決定を行う。このとき、狭い画角で撮影された断層画像が選択された場合、断層画像の深さ方向における一部の領域のみ、すなわち部分画像を表示領域に表示するスケールで表示させる。また、広い画角で撮影された断層画像が選択された場合は画像の全体を表示領域に表示させるスケールで表示させる。例えば、狭い画角の場合は２ｍｍ Ｄｅｐｔｈ、広い画角の場合はＦｉｔスケールのように設定してもよい。

ステップＳ１３０５～Ｓ１３１０での画像処理及び表示の動作フローは、実施例１と同様であるため説明を省略する。

なお、断層画像を表示させるレポートとして、図１２のように異なる画角で取得された複数の断層画像を並べて表示させてもよいし、同じ画角の断層像のみを表示させてもよい。そのほかの複数の断層画像を表示させる場合の表示方法は実施例１と同様であるため、説明を省略する。

＜その他の実施例＞
本明細書の実施例１～４は適宜組み合わせて実施されてもよい。

また、本明細書に開示される技術は、上述した様々な実施例の１以上の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。コンピュータは、１つ又は複数のプロセッサ若しくは回路を有し、コンピュータ実行可能命令を読み出し実行するために、分離した複数のコンピュータ又は分離した複数のプロセッサ若しくは回路のネットワークを含みうる。

このとき、プロセッサ又は回路は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）、マイクロプロセッシングユニット（ＭＰＵ）、グラフィクスプロセッシングユニット（ＧＰＵ）、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、又はフィールドプログラマブルゲートウェイ（ＦＰＧＡ）を含みうる。また、プロセッサ又は回路は、デジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）、データフロープロセッサ（ＤＦＰ）、又はニューラルプロセッシングユニット（ＮＰＵ）を含みうる。

Claims (19)

1. 測定光が照射された被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た干渉光を用いて前記被検眼の断層画像を取得する情報処理装置であって、
   前記被検眼の断層画像を取得する画角として、第１の画角と前記第１の画角よりも狭い第２の画角とを含む複数の画角のうちいずれかが選択された場合に、前記選択された画角で前記被検眼において前記測定光を走査する走査手段を制御する制御手段と、
   前記第１の画角が選択された場合、前記第１の画角で取得された第１の断層画像を表示領域に表示させ、前記第２の画角が選択された場合、前記第２の画角で取得された第２の断層画像に含まれる部分画像であって前記第２の断層画像よりも被検眼における深さ方向の長さが短い部分画像を、前記表示領域に合わせるように表示させる表示制御手段と、
   を備える情報処理装置。
2. 測定光が照射された被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た干渉光を用いて前記被検眼の断層画像を取得する情報処理装置であって、
   前記被検眼の第１の断層画像と前記第１の断層画像の前記被検眼における深さ方向の長さよりも深さ方向の長さが長い第２の断層画像とを含む複数の断層画像のうち少なくとも一つを選択するユーザの指示に応じて、前記選択された断層画像を取得する取得手段と、
   前記第１の断層画像が選択された場合、前記第１の断層画像を表示領域に表示させ、前記第２の断層画像が選択された場合、前記第２の断層画像に含まれる部分画像であって前記第２の断層画像よりも被検眼における深さ方向の長さが短い部分画像を前記表示領域に合わせるように表示させる表示制御手段と、
   を備える情報処理装置。
3. 前記測定光は波長掃引光源によって照射される請求項１又は２に記載の情報処理装置。
4. 分光器を介して取得される干渉光を用いるＳＤ－ＯＣＴによって取得される第１の断層画像と、波長掃引光源によって測定光が照射された被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た干渉光を用いて前記被検眼の断層画像を取得するＳＳ－ＯＣＴによって取得される第２の断層画像とのうち少なくとも１つを選択するユーザの指示に応じて、前記選択された断層画像を取得する取得手段と、
   前記第１の断層画像が選択された場合、前記第１の断層画像を表示領域に表示させ、前記第２の断層画像が選択された場合、前記第２の断層画像に含まれる部分画像であって前記第２の断層画像よりも前記被検眼における深さ方向の長さが短い部分画像を前記表示領域に合わせるように表示させる表示制御手段と、
   を備える情報処理装置。
5. 前記表示制御手段は、前記第２の断層画像における前記部分画像の表示を、前記部分画像とは異なる部分画像の表示にユーザの指示に応じて更新する請求項１乃至４のいずれか１項に記載の情報処理装置。
6. 前記表示制御手段は、前記第２の断層画像を解析することで得られる層境界の情報を用いて得られた前記部分画像を、前記表示領域に合わせるように表示させる請求項１乃至５のいずれか１項に記載の情報処理装置。
7. 前記表示制御手段は、前記第１の断層画像と前記第２の断層画像との少なくとも１つをレポートとして表示部に表示させ、前記被検眼に測定光を走査するスキャンモードと、左右眼と、検査日時と、患者情報との少なくとも一つを前記表示部にさらに表示させる請求項１乃至６のいずれか１項に記載の情報処理装置。
8. 前記表示制御手段は、前記第１の断層画像と前記第２の断層画像とを含む複数の断層画像のうち少なくとも２つを比較元画像と比較先画像として選択するユーザの指示に応じて、前記比較元画像と前記比較先画像との表示される領域の被検眼における深さ方向の長さが同じになるように、前記比較元画像と前記比較先画像とを前記表示部に並べて表示させる請求項１乃至７のいずれか１項に記載の情報処理装置。
9. 前記表示制御手段は、前記第１の断層画像と前記部分画像とのうち少なくとも１つをライブ画像として前記表示部に表示させる請求項１乃至８のいずれか１項に記載の情報処理装置。
10. 前記表示制御手段は、前記被検眼の正面画像をライブ画像として前記表示部にさらに表示させる請求項９に記載の情報処理装置。
11. 前記被検眼の断層画像として、前記被検眼の眼底の断層画像を取得する請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の情報処理装置。
12. 請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の情報処理装置と、前記干渉光を検出する検出手段を備える眼科検査装置とが、通信可能に接続された眼科システム。
13. 測定光が照射された被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た干渉光を用いて前記被検眼の断層画像を取得する眼科検査装置であって、
    前記被検眼の断層画像を取得する画角として、第１の画角と前記第１の画角よりも狭い第２の画角とを含む複数の画角のうちいずれかが選択された場合に、前記選択された画角で前記被検眼において前記測定光を走査する走査手段を制御する制御手段と、
    前記第１の画角が選択された場合、前記第１の画角で取得された第１の断層画像を表示領域に表示させ、前記第２の画角が選択された場合、前記第２の画角で取得された第２の断層画像に含まれる部分画像であって前記第２の断層画像よりも被検眼における深さ方向の長さが短い部分画像を、前記表示領域に合わせるように表示させる表示制御手段と、
    を備える眼科検査装置。
14. 前記第１の画角で前記第１の断層画像を取得する際と、前記第２の画角で前記第２の断層画像を取得する際とにおいて、取得される断層画像の前記被検眼における深さ方向の長さを変更不可に構成された請求項１３に記載の眼科検査装置。
15. 測定光が照射された被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た干渉光を用いて前記被検眼の断層画像を取得する眼科検査装置であって、
    前記被検眼の第１の断層画像と前記第１の断層画像の被検眼における深さ方向の長さよりも深さ方向の長さが長い第２の断層画像とを含む複数の断層画像のうち少なくとも一つを選択するユーザの指示に応じて、前記選択された断層画像を取得する取得手段と、
    前記第１の断層画像が選択された場合、前記第１の断層画像を表示領域に表示させ、前記第２の断層画像が選択された場合、前記第２の断層画像に含まれる部分画像であって前記第２の断層画像よりも被検眼における深さ方向の長さが短い部分画像を前記表示領域に合わせるように表示させる表示制御手段と、
    を備える眼科検査装置。
16. 測定光が照射された被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た干渉光を用いて前記被検眼の断層画像を取得する眼科検査装置の制御方法であって、
    前記被検眼の断層画像を取得する画角として、第１の画角と前記第１の画角よりも狭い第２の画角とを含む複数の画角のうちいずれかが選択された場合に、前記選択された画角で前記被検眼において前記測定光を走査する走査手段を制御する工程と、
    前記第１の画角が選択された場合、前記第１の画角で取得された第１の断層画像を表示領域に表示させ、前記第２の画角が選択された場合、前記第２の画角で取得された第２の断層画像に含まれる部分画像であって前記第２の断層画像よりも被検眼における深さ方向の長さが短い部分画像を、前記表示領域に合わせるように表示させる工程と、
    を含む眼科検査装置の制御方法。
17. 測定光が照射された被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た干渉光を用いて前記被検眼の断層画像を取得する眼科検査装置の制御方法であって、
    前記被検眼の第１の断層画像と前記第１の断層画像の被検眼における深さ方向の長さよりも深さ方向の長さが長い第２の断層画像とを含む複数の断層画像のうち少なくとも一つを選択するユーザの指示に応じて、前記選択された断層画像を取得する工程と、
    前記第１の断層画像が選択された場合、前記第１の断層画像を表示領域に表示させ、前記第２の断層画像が選択された場合、前記第２の断層画像に含まれる部分画像であって前記第２の断層画像よりも被検眼における深さ方向の長さが短い部分画像を前記表示領域に合わせるように表示させる工程と、
    を含む眼科検査装置の制御方法。
18. 分光器を介して取得される干渉光を用いるＳＤ－ＯＣＴによって取得される第１の断層画像と、波長掃引光源によって測定光が照射された被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た干渉光を用いて前記被検眼の断層画像を取得するＳＳ－ＯＣＴによって取得される第２の断層画像とのうち少なくとも１つを選択するユーザの指示に応じて、前記選択された断層画像を取得する工程と、
    前記第１の断層画像が選択された場合、前記第１の断層画像を表示領域に表示させ、前記第２の断層画像が選択された場合、前記第２の断層画像に含まれる部分画像であって前記第２の断層画像よりも前記被検眼における深さ方向の長さが短い部分画像を前記表示領域に合わせるように表示させる工程と、
    を含む情報処理装置の制御方法。
19. 請求項１６乃至１８のいずれか１項に記載の制御方法をコンピュータに実行させるプログラム。

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