JP2022151614A - ネガ型感光性樹脂組成物、パターン形成方法、硬化被膜形成方法、層間絶縁膜、表面保護膜、及び電子部品 - Google Patents
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Abstract
Description
(A)ポリイミド構造、ポリアミド構造、ポリベンゾオキサゾール構造、ポリアミドイミド構造、それらの前駆体構造から選ばれる少なくとも1つ以上の構造が含まれるアルカリ可溶性樹脂と、
(B)環化重合してなる構造単位を有する高分子化合物と、
(C)光により酸を発生する化合物と、
(D)熱架橋剤と、
を含有するものであるネガ型感光性樹脂組成物を提供する。
(2)次いで加熱処理後、フォトマスクを介して波長190~500nmの高エネルギー線もしくは電子線で前記感光材皮膜を露光する工程、
(3)照射後、加熱処理を行った基板にアルカリ水溶液の現像液を用いて現像する工程、
を含むパターン形成方法を提供する。
(A)ポリイミド構造、ポリアミド構造、ポリベンゾオキサゾール構造、ポリアミドイミド構造、それらの前駆体構造から選ばれる少なくとも1つ以上の構造が含まれるアルカリ可溶性樹脂と、
(B)環化重合してなる構造単位を有する高分子化合物と、
(C)光により酸を発生する化合物と、
(D)熱架橋剤と、
を含有するものであるネガ型感光性樹脂組成物である。
本発明のネガ型感光性樹脂組成物について説明する。
(A)ポリイミド構造、ポリアミド構造、ポリベンゾオキサゾール構造、ポリアミドイミド構造、それらの前駆体構造から選ばれる少なくとも1つ以上の構造が含まれるアルカリ可溶性樹脂と、(B)環化重合してなる構造単位を有する高分子化合物と、(C)光により酸を発生する化合物と、(D)熱架橋剤と、を含有する。上記ネガ型感光性樹脂組成物は、アルカリ現像可能である。また、上記ネガ型感光性樹脂組成物は、上記(A)成分、(B)成分、(C)成分、(D)成分以外に、必要に応じて(E)塩基性化合物、(F)熱酸発生剤、(G)酸化防止剤、(H)シラン化合物などを更に含有することができる。以下、これら成分について詳細に説明する。
本発明で用いる(A)アルカリ可溶性樹脂は、ポリイミド構造、ポリアミド構造、ポリベンゾオキサゾール構造、ポリアミドイミド構造、それらの前駆体構造から選ばれる少なくとも1つ以上の構造が含まれる。上記樹脂(A)は、上記構造が含まれるアルカリ可溶性樹脂であれば特に限定されないが、下記一般式(8)及び/又は(9)で表される構造を含むものであることが好ましい。
X4の構造は1種でも2種以上の組み合わせでもよい。
本発明で用いる高分子化合物(B)は、環化重合してなる構造単位を有するものであれば特に限定されない。
は、特開2003-55362号公報、特開2005-8847号公報、特開2005-
18012号公報に開示されている。
位を有することが好ましい。
本発明に用いる(C)光により酸を発生する化合物(光酸発生剤)は、高エネルギー線照射により酸を発生する化合物であればいずれでもかまわない。好適な化合物としてはスルホニウム塩、ヨードニウム塩、スルホニルジアゾメタン、N-スルホニルオキシイミド型、ベンゾインスルホネート型、ピロガロールトリスルホネート型、ニトロベンジルスルホネート型、スルホン型、グリオキシム誘導体型酸発生剤等がある。以下に詳述するが、これらは単独或いは2種以上混合して用いることができる。
することもできる。
本発明に用いる(D)熱架橋剤は、上述の(B)成分以外の(A)成分と架橋する基を有した化合物であれば、いずれでもかまわない。ここで使用可能な架橋剤の具体例を列挙すると、メチロール基、アルコキシメチル基、アシロキシメチル基から選ばれる少なくとも一つの基で置換されたメラミン化合物、グアナミン化合物、グリコールウリル化合物又はウレア化合物、エポキシ化合物、オキセタン化合物、イソシアネート化合物、アジド化合物、アルケニルエーテル基などの2重結合を含む化合物、ベンジルアルコールを有する化合物等、特開平2-60941号公報、特開平2-99537号公報、特開平2-115238号公報記載のオキサゾリン系架橋剤等を挙げることができる。
キシプロピル)イソシアヌレート、トリメチロールメタントリグリシジルエーテル、トリ
メチロールプロパントリグリシジルエーテル、トリエチロールエタントリグリシジルエー
テルなどが例示される。
メチルフェノール、2,5-ジメチルフェノール、3,4-ジメチルフェノール、3,5
-ジメチルフェノール、2,4-ジメチルフェノール、2,6-ジメチルフェノール、2
,3,5-トリメチルフェノール、3,4,5-トリメチルフェノール、2-t-ブチル
フェノール、3-t-ブチルフェノール、4-t-ブチルフェノール、2-フェニルフェ
ノール、3-フェニルフェノール、4-フェニルフェノール、3,5-ジフェニルフェノ
ール、2-ナフチルフェノール、3-ナフチルフェノール、4-ナフチルフェノール、4
-トリチルフェノール、レゾルシノール、2-メチルレゾルシノール、4-メチルレゾル
シノール、5-メチルレゾルシノール、カテコール、4-t-ブチルカテコール、2-メ
トキシフェノール、3-メトキシフェノール、2-プロピルフェノール、3-プロピルフ
ェノール、4-プロピルフェノール、2-イソプロピルフェノール、3-イソプロピルフ
ェノール、4-イソプロピルフェノール、2-メトキシ-5-メチルフェノール、2-t
-ブチル-5-メチルフェノール、ピロガロール、チモール、イソチモール、4,4’-
(9H-フルオレン-9-イリデン)ビスフェノール、2,2’ジメチル-4,4’-(
9H-フルオレン-9-イリデン)ビスフェノール、2,2’ジアリル-4,4’-(9
H-フルオレン-9-イリデン)ビスフェノール、2,2’ジフルオロ-4,4’-(9
H-フルオレン-9-イリデン)ビスフェノール、2,2’ジフェニル-4,4’-(9
H-フルオレン-9-イリデン)ビスフェノール、2,2’ジメトキシ-4,4’-(9
H-フルオレン-9-イリデン)ビスフェノール、2,3,2’,3’-テトラヒドロ-
(1,1’)-スピロビインデン-6,6’-ジオール、3,3,3’,3’-テトラメ
チル-2,3,2’,3’-テトラヒドロ-(1,1’)-スピロビインデン-6,6’
-ジオール、3,3,3’,3’,4,4’-ヘキサメチル-2,3,2’,3’-テト
ラヒドロ-(1,1’)-スピロビインデン-6,6’-ジオール、2,3,2’,3’
-テトラヒドロ-(1,1’)-スピロビインデン-5,5’-ジオール、5,5’-ジ
メチル-3,3,3’,3’-テトラメチル-2,3,2’,3’-テトラヒドロ-(1
,1’)-スピロビインデン-6,6’-ジオールのヒドロキシ基をグリシジルエーテル
化したもの、あるいは前記フェノール性化合物のノボラック樹脂のヒドロキシ基をグリシ
ジルエーテル化したものが挙げられる。
チルメラミン、ヘキサメチロールメラミンの1~6個のメチロール基がメトキシメチル化
した化合物又はその混合物、ヘキサメトキシエチルメラミン、ヘキサアシロキシメチルメ
ラミン、ヘキサメチロールメラミンのメチロール基の1~6個がアシロキシメチル化した
化合物又はその混合物が挙げられる。グアナミン化合物としては、テトラメチロールグア
ナミン、テトラメトキシメチルグアナミン、テトラメチロールグアナミンの1~4個のメ
チロール基がメトキシメチル化した化合物又はその混合物、テトラメトキシエチルグアナ
ミン、テトラアシロキシグアナミン、テトラメチロールグアナミンの1~4個のメチロー
ル基がアシロキシメチル化した化合物又はその混合物が挙げられる。グリコールウリル化
合物としては、テトラメチロールグリコールウリル、テトラメトキシグリコールウリル、
テトラメトキシメチルグリコールウリル、テトラメチロールグリコールウリルのメチロー
ル基の1~4個がメトキシメチル化した化合物又はその混合物、テトラメチロールグリコ
ールウリルのメチロール基の1~4個がアシロキシメチル化した化合物又はその混合物が
挙げられる。ウレア化合物としてはテトラメチロールウレア、テトラメトキシメチルウレ
ア、テトラメチロールウレアの1~4個のメチロール基がメトキシメチル化した化合物又
はその混合物、テトラメトキシエチルウレアなどが挙げられる。
シアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、シクロヘキサンジイソシアネート等が挙
げられ、アジド化合物としては、1,1’-ビフェニル-4,4’-ビスアジド、4,4
’-メチリデンビスアジド、4,4’-オキシビスアジドが挙げられる。
トリエチレングリコールジビニルエーテル、1,2-プロパンジオールジビニルエーテル
、1,4-ブタンジオールジビニルエーテル、テトラメチレングリコールジビニルエーテ
ル、ネオペンチルグリコールジビニルエーテル、トリメチロールプロパントリビニルエー
テル、ヘキサンジオールジビニルエーテル、1,4-シクロヘキサンジオールジビニルエ
ーテル、ペンタエリスリトールトリビニルエーテル、ペンタエリスリトールテトラビニル
エーテル、ソルビトールテトラビニルエーテル、ソルビトールペンタビニルエーテル、ト
リメチロールプロパントリビニルエーテルなどが挙げられる。
2005-146038号公報、特開2005-290052号公報、特開2006-1
99790号公報、特開2006-273748号公報に記載の環状エポキシ化合物、特
開2006-348252号公報に記載の環に結合したオキシラン環を有する架橋剤、特
開2008-24920号公報に示されるデンドリマー、ハイパーブランチポリマーをベ
ースとするエポキシ架橋剤、特開2001-310937号公報に記載のヒドロキシ基と
オキセタニル基の両方を有する架橋剤、特許3824286号公報にはヒドロキシ基とエ
ポキシ基の両方を有する架橋剤が挙げられる。
易い。エポキシ基にオキセタニル基を組み合わせることによってカチオン重合の反応性が
格段に向上することが報告されている。
本発明のネガ型感光性樹脂組成物は、必須成分である上記(A)成分、(B)成分、(C)成分、(D)成分に加え、更に、(E)塩基性化合物を含むものとすることができる。(E)成分の塩基性化合物は、光酸発生剤より発生する酸がレジスト膜中に拡散する際の拡散速度を抑制することができる化合物が適している。このような塩基性化合物の配合により、レジスト膜中での酸の拡散速度が抑制され、解像度の向上、露光後の感度変化の抑制や、基板や環境依存性を少なくし、露光余裕度やパターンプロファイル等を向上することができる。
本発明のネガ型感光性樹脂組成物は、さらに、(F)熱によって酸を発生する化合物(熱酸発生剤)を含むものとすることができる。(F)成分の熱によって酸を発生する化合物は、上記のパターン形成後施される温度100~300℃において加熱、後硬化する工程において、熱的に(A)成分と(B)成分、および(D)成分の架橋反応を促す目的で加えることができる。
本発明のネガ型感光性樹脂組成物は、更に、(G)成分の酸化防止剤を含むものとすることができる。(G)成分の酸化防止剤を含有することで、(A)成分の脂肪族基やフェノール性水酸基の酸化劣化を抑制する。また、金属材料への防錆作用により、外部からの水分や光酸発生剤、熱酸発生剤などによる金属酸化やそれに伴う密着低下や剥離を抑制することができる。
本発明のネガ型感光性樹脂組成物は、更に、(H)成分のシラン化合物を含むものとすることができる。(H)成分のシラン化合物を含有することで、金属材料に対する密着性を向上するだけでなく、熱衝撃試験や高温高湿試験といった信頼性試験における硬化膜の剥離を抑制することができる。
また、本発明のネガ型感光性樹脂組成物において、(A)成分、(B)成分、(C)成分、(D)成分、(E)成分、(F)成分、(G)成分及び(H)成分以外の成分をさらに含有してもよい。その他の成分としては、例えば、(I)溶解阻止剤、(J)界面活性剤及び(K)溶剤等を挙げることができる。下記に例示する化合物等を好適に用いることができる。ただし、これらに限るものではない。
本発明は、以下の工程を含むパターン形成方法を提供する。
(1)上記ネガ型感光性樹脂組成物を基板上に塗布し、感光材皮膜を形成する工程、
(2)次いで加熱処理後、フォトマスクを介して波長190~500nmの高エネルギー線もしくは電子線で上記感光材皮膜を露光する工程、
(3)照射後、加熱処理を行った基板にアルカリ水溶液の現像液を用いて現像する工程。
また、上記パターン形成方法により得られたパターン形成された被膜をオーブンやホットプレートを用いて、温度100~300℃、好ましくは150~300℃、さらに好ましくは180~250℃において加熱、後硬化することで硬化被膜を形成することができる。後硬化温度が100~300℃であれば、ネガ型感光性樹脂組成物の皮膜の架橋密度を上げ、残存する揮発成分を除去でき、基板に対する密着力、耐熱性や強度、さらに電気特性の観点から好ましい。そして、後硬化時間は10分間~10時間とすることができる。
このようにして得られた硬化被膜は、基板との密着性、耐熱性、電気特性、機械的強度及びアルカリ性剥離液等に対する薬品耐性に優れ、それを保護用被膜とした半導体素子の信頼性にも優れ、特に温度サイクル試験の際のクラック発生を防止でき、電気・電子部品、半導体素子等の保護用被膜(層間絶縁膜あるいは表面保護膜)として好適に用いられる。
実施例等に制限されるものではない。なお、重量平均分子量(Mw)はGPCによるポリ
スチレン換算重量平均分子量を示す。
撹拌機、温度計を具備した1Lのフラスコ内に2,2―ビス(3―アミノ―4―ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(6FAP)30g(81.9mmol)、4-アミノフェノール(PAP)0.9g(8.6mmol)、N-メチル-2-ピロリドン125gを加え、室温で撹拌し溶解した。次に室温下、3,3’,4,4’-オキシジフタル酸二無水物(s-ODPA)26.7g(86.2mmol)、をN-メチル-2-ピロリドン270gに溶解した溶液を滴下し、滴下終了後室温下3時間撹拌した。その後、この反応液にキシレン40gを加え、170℃で生成する水を系外へ除きながら3時間加熱還流を行った。室温まで冷却後、この反応液を超純水2Lの撹拌下に滴下し、析出物をろ別し、適宜水洗後、40℃で48時間減圧乾燥することにより、ポリイミド樹脂(A1)を得た。この重合体の分子量をGPCにより測定すると、ポリスチレン換算で重量平均分子量35,000であった。
合成例1において2,2―ビス(3―アミノ―4―ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(6FAP)30g(81.9mmol)を2,2―ビス(3―アミノ―4―ヒドロキシフェニル)プロパン(BAP)21.2g(81.9mmol)に代え、それ以外は同様の処方でポリイミド樹脂(A2)を得た。この重合体の分子量をGPCにより測定すると、ポリスチレン換算で重量平均分子量34,000であった。
撹拌機、温度計を具備した500mlのフラスコ内に2,2―ビス(3―アミノ―4―ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(6FAP)28.5g(77.8mmol)、4-アミノフェノール(PAP)0.9g(8.2mmol)、N-メチル-2-ピロリドン118gを加え、室温で撹拌し溶解した。次に室温下、3,3’,4,4’-オキシジフタル酸二無水物(s-ODPA)19.0g(61.4mmol)、をN-メチル-2-ピロリドン192gに溶解した溶液を滴下し、滴下終了後室温下3時間撹拌した。その後、この反応液にキシレン40gを加え、170℃で生成する水を系外へ除きながら3時間加熱還流を行った。室温まで冷却後、ピリジン3.2g(41.0mmol)を加え、セバシン酸ジクロライド(DC-1)4.9g(20.5mmol)を5℃以下に保つように滴下した。滴下終了後、室温まで戻し、この反応液を超純水2Lの撹拌下に滴下し、析出物をろ別し、適宜水洗後、40℃で48時間減圧乾燥することにより、ポリアミドイミド樹脂(A3)を得た。この重合体の分子量をGPCにより測定すると、ポリスチレン換算で重量平均分子量35,000であった。
撹拌機、温度計を具備した500mlのフラスコ内に2,2―ビス(3―アミノ―4―ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(6FAP)28.5g(77.8mmol)、4-アミノフェノール(PAP)0.9g(8.2mmol)、N-メチル-2-ピロリドン118gを加え、室温で撹拌し溶解した。次にピリジン13.0g(163.8mmol)を加え、セバシン酸ジクロライド(DC-1)19.6g(81.9mmol)を5℃以下に保つように滴下した。滴下終了後、室温まで戻し、この反応液を超純水2Lの撹拌下に滴下し、析出物をろ別し、適宜水洗後、40℃で48時間減圧乾燥することにより、ポリアミド樹脂(A4)を得た。この重合体の分子量をGPCにより測定すると、ポリスチレン換算で重量平均分子量38,000であった。
撹拌機、温度計を具備した3Lのフラスコ内に3,3’,4,4’-オキシジフタル酸二無水物(s-ODPA)100g(322mmol)、トリエチルアミン65.2g(644mmol)、N,N-ジメチル-4-アミノピリジン39.3g(322mmol)、γ-ブチロラクトン400gを加え、室温で撹拌しているところにヒドロキシエチルメタクリレート(HEMA)83.8g(644mmol)を滴下後、室温下で24時間撹拌した。その後、氷冷下10%塩酸水溶液370gを滴下し反応を停止させた。反応液に、4-メチル-2-ペンタノン800gを加え有機層を分取した後、水600gで6回洗浄した。得られた有機層の溶媒を留去し、テトラカルボン酸ジエステル化合物(X-1)を180g得た。
撹拌機、温度計を具備した1Lのフラスコ内に(X-1)57.1g(100mmol)、N-メチル-2-ピロリドン228gを加え、室温で撹拌し溶解した。次に氷冷下、塩化チオニル24.4g(205mmol)を反応溶液温度が10℃以下を保つように滴下し、滴下終了後氷冷下で2時間撹拌した。続いて2,2―ビス(3―アミノ―4―ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(6FAP)34.8g(95mmol)、4-アミノフェノール(PAP)1.1g(10mmol)、ピリジン32.4g(410mmol)をN-メチル-2-ピロリドン144gで溶解した溶液を氷冷下で反応溶液温度が10℃以下を保つように滴下した。滴下終了後、室温まで戻し、この反応液を水3Lの撹拌下に滴下し、析出物をろ別し、適宜水洗後、40℃で48時間減圧乾燥することにより、ポリイミド前駆体(A5)を得た。この重合体の分子量をGPCにより測定すると、ポリスチレン換算で重量平均分子量36,000であった。
[合成例]
架橋性の高分子化合物(高分子添加剤)として、各々のモノマーを組み合わせてテトラヒドロフラン溶媒下で共重合反応を行い、ヘキサンに晶出、乾燥し、以下に示す組成の高分子化合物(ポリマーB1~B14、比較ポリマーC1、C2)を得た。得られた高分子化合物の組成は1H-NMR、分子量はゲルパーミエーションクロマトグラフにより確認した。
上記合成例1~合成例6で合成したアルカリ可溶性樹脂(A1)~(A5)70質量部、合成例7~合成例22で合成した架橋性の高分子化合物(B1)~(B14)、(C1)、(C2)30質量部の割合にしたものをベース樹脂として使用して、表1に記載した組成と配合量で、樹脂換算20質量%の樹脂組成物を調製した。その後、撹拌、混合、溶解した後、テフロン(登録商標)製1.0μmフィルターで精密濾過を行ってネガ型感光性樹脂組成物を得た。表中溶剤のPGMEAはプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、GBLはγ―ブチロラクトンを示す。
オキセタン樹脂:東亜合成(株)社製 OXT-121
ヒンダートフェノール系酸化防止剤:住友化学(株)社製 スミライザー GA-80
アミノシランカップリング剤:信越化学工業(株)社製 KBM-573
フッ素系界面活性剤:OMNOVA社製 PF-6320
上記の感光性樹脂組成物1~20、比較感光性樹脂組成物1、2をヘキサメチルシラザン処理したシリコン基板上へ5mLディスペンスした後に基板を回転することによって、即ち、スピンコート法によって、パターン形成後に施す後硬化の加熱後に膜厚が2μmとなるように塗布した。即ち、後硬化工程後、膜厚が減少することを予め検討し、後硬化後の仕上がり膜厚が2μmとなるように塗布時の回転数を調整した。
上記の感光性樹脂組成物1~20、比較感光性樹脂組成物1、2をアルミ基板上へ硬化後の仕上がり膜厚が10μmとなるようにスピンコートした。次に、ホットプレート上100℃、4分間のプリベークを施し、感光性樹脂膜を得た。
上記パターン形成と同じ手順で、上記の感光性樹脂組成物1~20、比較感光性樹脂組成物1、2を用いて、SiN基板上へ硬化後の仕上がり膜厚5μmとなるように、1cm角の正方形パターンをi線露光し、基板上、全面に格子状になるようパターンを得た。なお露光量は、上記LSパターン評価で求めた最小パターンが形成できた露光量とした。また、プリベークは100℃、4分間、及びPEBは、110℃、4分間の処理を行った。また現像は、1分間のパドル現像を未露光部の塗布膜が溶解するまでとし、規定回数行った。
4…支持台、 5…つかみ、 6…引張方向。
Claims (14)
- ネガ型感光性樹脂組成物であって、
(A)ポリイミド構造、ポリアミド構造、ポリベンゾオキサゾール構造、ポリアミドイミド構造、それらの前駆体構造から選ばれる少なくとも1つ以上の構造が含まれるアルカリ可溶性樹脂と、
(B)環化重合してなる構造単位を有する高分子化合物と、
(C)光により酸を発生する化合物と、
(D)熱架橋剤と、
を含有するものであることを特徴とするネガ型感光性樹脂組成物。 - 前記(B)成分が更に下記一般式(5)又は(5’)で表される構造単位を含むアルカリ可溶性の高分子化合物であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のネガ型感光性樹脂組成物。
- 前記(B)成分が更に下記一般式(6)で表される構造単位及び、下記一般式(α)で示される構造単位のどちらか一方又は、その両方を含む架橋性の高分子化合物であることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載のネガ型感光性樹脂組成物。
- 前記(B)成分が更に下記一般式(7)で表される構造単位を含む架橋型アルカリ可溶性高分子化合物であることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のネガ型感光性樹脂組成物。
- 前記(B)成分が、下記一般式(3)、下記一般式(5)、下記一般式(6)又は下記一般式(α)のいずれか又はその両方、及び下記一般式(7)で示される構造単位を含む架橋型アルカリ可溶性高分子化合物であることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか一項に記載のネガ型感光性樹脂組成物。
- 前記(D)成分が、ホルムアルデヒド又はホルムアルデヒド-アルコールにより変性されたアミノ縮合物、1分子中に平均して2個以上のメチロール基又はアルコキシメチロール基を有するフェノール化合物、から選ばれる1種又は2種以上の架橋剤を含むものであることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか一項に記載のネガ型感光性樹脂組成物。
- 前記(A)成分100質量部に対し、前記(B)成分を10~100質量部含有するものであることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか一項に記載のネガ型感光性樹脂組成物。
- 更に(E)塩基性化合物、(F)熱酸発生剤、(G)酸化防止剤、(H)シラン化合物のうち1種以上を含有するものであることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか一項に記載のネガ型感光性樹脂組成物。
- (1)請求項1から請求項9のいずれか一項に記載のネガ型感光性樹脂組成物を基板上に塗布し、感光材皮膜を形成する工程、
(2)次いで加熱処理後、フォトマスクを介して波長190~500nmの高エネルギー線もしくは電子線で前記感光材皮膜を露光する工程、
(3)照射後、加熱処理を行った基板にアルカリ水溶液の現像液を用いて現像する工程、
を含むことを特徴とするパターン形成方法。 - 請求項10に記載のパターン形成方法により得られたパターン形成された被膜を、温度100~300℃において加熱、後硬化する工程を含むことを特徴とする硬化被膜形成方法。
- 請求項1から請求項9のいずれか一項に記載のネガ型感光性樹脂組成物が硬化してなる硬化被膜からなるものであることを特徴とする層間絶縁膜。
- 請求項1から請求項9のいずれか一項に記載のネガ型感光性樹脂組成物が硬化してなる硬化被膜からなるものであることを特徴とする表面保護膜。
- 請求項12に記載の層間絶縁膜又は請求項13に記載の表面保護膜を有するものであることを特徴とする電子部品。
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