JP2021064701A - 基板洗浄装置及び基板洗浄方法 - Google Patents
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Abstract
Description
基板を回転させる基板回転部と、
前記基板の周縁部を洗浄するための周縁洗浄部材と、
前記周縁洗浄部材を前記基板回転軸に直交する方向で延びた周縁回転軸の周りで回転させる周縁回転部と、
前記周縁洗浄部材の前記基板の周縁部に対する位置を移動させる移動部と、
前記移動部を制御することで前記周縁洗浄部材の前記基板の周縁部に対する位置を移動させ、前記基板の周縁部の一方側の面を含む一方側周縁領域、側面を含む側面領域及び他方側の面を含む他方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄させる制御部と、
を備えてもよい。
前記制御部は、前記周縁洗浄部材が所定の時間だけ前記一方側周縁領域を洗浄し、その後で前記周縁洗浄部材が所定の時間だけ前記側面領域を洗浄し、その後で前記周縁洗浄部材が所定の時間だけ前記他方側周縁領域を洗浄するように制御する、又は前記周縁洗浄部材が所定の時間だけ前記他方側周縁領域を洗浄し、その後で前記周縁洗浄部材が所定の時間だけ前記側面領域を洗浄し、その後で前記周縁洗浄部材が所定の時間だけ前記一方側周縁領域を洗浄するように制御してもよい。
前記周縁洗浄部材に加わる力を検出する検出部を備え、
前記制御部が、前記検出部による検出結果に基づいて前記移動部の制御を行い、前記一方側周縁領域又は前記他方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力と、前記側面領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力が異なるように制御してもよい。
前記制御部は、前記一方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力と前記他方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力とは略同一となるように制御してもよい。
前記制御部は、前記一方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力及び前記他方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力は、前記側面領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力よりも大きくなるように制御してもよい。
基板を回転させる基板回転部と、
前記基板の周縁部を洗浄するための周縁洗浄部材と、
前記周縁洗浄部材を前記基板回転軸に直交する方向で延びた周縁回転軸の周りで回転させる周縁回転部と、
を備え、
前記周縁洗浄部材が、少なくとも前記基板の側面の一方側の一部及び周縁部の一方側の面に当接して洗浄する第一周縁洗浄部材と、少なくとも前記基板の側面の他方側の一部及び周縁部の他方側の面に当接して洗浄する第二周縁洗浄部材とを有する、又は少なくとも前記基板の側面に当接して洗浄する第三周縁洗浄部材と、少なくとも前記基板の周縁部の一方側の面に当接して洗浄する第四周縁洗浄部材と、少なくとも前記基板の周縁部の他方側の面に当接して洗浄する第五周縁洗浄部材とを有してもよい。
基板を回転させる基板回転部と、
前記基板に洗浄液を供給する基板洗浄液供給部と、
前記基板の周縁部を洗浄するための周縁洗浄部材と、
前記周縁洗浄部材を前記基板回転軸に直交する方向で延びた周縁回転軸の周りで回転させる周縁回転部と、
前記周縁洗浄部材を前記基板の周縁部から離間させた後で、前記基板回転部による前記基板の回転を停止させるように制御する制御部と、
を備えてもよい。
前記制御部は、前記周縁洗浄部材を前記基板の周縁部から離間させた後であって前記基板回転部による前記基板の回転を停止させる前に、前記基板洗浄液供給部からの洗浄液の供給を停止させるように制御してもよい。
前記制御部は、前記周縁洗浄部材を前記基板の周縁部から離間させる前に前記周縁回転部による前記周縁洗浄部材の回転を停止させるように制御してもよい。
前記基板はウェハからなり、
前記洗浄部材は前記ウェハの形状に合わせて側面が湾曲してもよい。
前記基板の中心部から周縁部に向かって、前記周縁洗浄部材と前記基板との接触箇所に対して洗浄液を供給する周縁洗浄液供給部を備えてもよい。
前記周縁洗浄部材の前記基板の中心部側に隔壁が設けられてもよい。
前記隔壁を有するカバー部材を備え、
前記カバー部材が前記周縁洗浄部材を覆ってもよい。
前記基板の中心部から周縁部に向かって、前記周縁洗浄部材と前記基板との接触領域に対して洗浄液を供給する周縁洗浄液供給部を備え、
前記カバー部材に前記周縁洗浄液供給部を取り付けるための取付部が設けられてもよい。
前記基板の中心部から周縁部に向かって、前記周縁洗浄部材と前記基板との接触領域に対して洗浄液を供給する周縁洗浄液供給部を備え、
前記カバー部材に前記周縁洗浄液供給部から供給される洗浄液を排出する排出口が設けられてもよい。
前記周縁洗浄部材を洗浄するための周縁洗浄機構を備えてもよい。
前記周縁洗浄機構は、前記周縁洗浄部材に当接可能な接触部材、前記周縁洗浄部材に洗浄液を供給する洗浄液供給部材及び前記周縁洗浄部材を吸引する吸引部材のいずれか1つを有してもよい。
前記制御部は、前記周縁洗浄部材が前記基板の周縁部を洗浄していない時間に前記周縁洗浄機構が前記周縁洗浄部材を洗浄するように制御してもよい。
前記制御部は、前記周縁洗浄部材が前記基板の周縁部を洗浄している時間と前記周縁洗浄機構が前記周縁洗浄部材を洗浄する時間とが少なくとも一部で重複するように制御してもよい。
前記周縁回転部によって回転されるペンユニットを備え、
前記周縁洗浄部材はペンユニットの先端に設けられてもよい。
前記基板の一方側の面又は他方側の面に当接して洗浄する基板洗浄部材を備え、
前記制御部は、前記基板洗浄部材が前記基板の一方側の面又は他方側の面を洗浄する時間と前記周縁洗浄部材が前記基板の周縁部を洗浄する時間とが少なくとも一部で重複するように制御してもよい。
基板回転部によって基板を回転させる工程と、
周縁回転部によって周縁洗浄部材を前記基板回転軸に直交する方向で延びた周縁回転軸の周りで回転させ、前記周縁洗浄部材によって前記基板の周縁部を洗浄する工程と、
を備え、
前記基板の周縁部を洗浄する工程において、移動部によって前記周縁洗浄部材の前記基板の周縁部に対する位置を移動させ、前記基板の周縁部の一方側の面を含む一方側周縁領域、側面を含む側面領域及び他方側の面を含む他方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄してもよい。
基板回転部によって基板を回転させる工程と、
基板洗浄液供給部によって前記基板に洗浄液を供給する工程と、
周縁回転部によって周縁洗浄部材を前記基板回転軸に直交する方向で延びた周縁回転軸の周りで回転させ、前記周縁洗浄部材によって前記基板の周縁部を洗浄する工程と、
を備え、
前記周縁洗浄部材を前記基板の周縁部から離間させた後で、前記基板回転部による前記基板の回転を停止させてもよい。
《構成》
基板洗浄装置等を含む基板処理装置の実施の形態について説明する。本実施の形態の基板洗浄装置を用いた基板洗浄方法、基板洗浄装置を生成するためにインストールされるプログラムや、当該プログラムを記憶したUSB、DVD等からなる記憶媒体も本実施の形態により提供される。
次に、上述した構成からなる本実施の形態による効果であって、未だ説明していないものを中心に説明する。「構成」で記載されていない場合であっても、「効果」で説明するあらゆる構成を本件発明において採用することができる。
次に第2の実施の形態について説明する。
次に、本発明の第3の実施の形態について説明する。
上記各実施の形態において、以下のような変形例を採用することもできる。
前述したように、周縁洗浄部材10は円柱形状となってもよいが、図18及び図19に示すように、周縁洗浄部材10はウェハの形状に合わせて側面が湾曲している形状となってもよい。「ウェハの形状に合わせて側面が湾曲している形状となる」というのは、ウェハの一方側(例えば上方側)から見たときに(法線方向に沿って見たときに)、ウェハの曲率半径に対応する曲率半径を洗浄部材の側面が有していることを意味している。ここで曲率半径が対応するというのは、両者の曲率半径の差が大きい方の5%以内であることを意味している。つまりウェハの曲率半径R1に洗浄部材の側面の曲率半径R2が対応しているというのは、R1≧R2の場合にはR1−R2≦R1×0.05であることを意味し、R1<R2の場合にはR2−R1≦R2×0.05であることを意味している。
図20及び図21に示すように、周縁回転部40によって回転されるペンユニット160が設けられ、周縁洗浄部材10aがペンユニット160の先端に設けられる態様を採用してもよい。図21に示すように、ペンユニット160が移動することで周縁洗浄部材10の基板Wの周縁部に対する位置が移動してもよい(第1の実施の形態も参照)。
図22(a)に示すように、周縁洗浄部材10を基板Wの法線方向に沿って見た場合(例えば上方から見た場合)、基板Wの回転方向上流側の部分が回転方向下流側の部分と比較して凹みが大きい態様となってもよい。図22で示す態様で説明すると、周縁洗浄部材10を基板Wの法線方向に沿って見た場合、基板Wの図22の下方側に位置する回転方向上流側の部分が図22の上方側に位置する回転方向下流側の部分と比較して凹みが大きい態様となっている。
Claims (23)
- 基板を回転させる基板回転部と、
前記基板の周縁部を洗浄するための周縁洗浄部材と、
前記周縁洗浄部材を前記基板回転軸に直交する方向で延びた周縁回転軸の周りで回転させる周縁回転部と、
前記周縁洗浄部材の前記基板の周縁部に対する位置を移動させる移動部と、
前記移動部を制御することで前記周縁洗浄部材の前記基板の周縁部に対する位置を移動させ、前記基板の周縁部の一方側の面を含む一方側周縁領域、側面を含む側面領域及び他方側の面を含む他方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄させる制御部と、
を備える基板洗浄装置。 - 前記制御部は、前記周縁洗浄部材が所定の時間だけ前記一方側周縁領域を洗浄し、その後で前記周縁洗浄部材が所定の時間だけ前記側面領域を洗浄し、その後で前記周縁洗浄部材が所定の時間だけ前記他方側周縁領域を洗浄するように制御する、又は前記周縁洗浄部材が所定の時間だけ前記他方側周縁領域を洗浄し、その後で前記周縁洗浄部材が所定の時間だけ前記側面領域を洗浄し、その後で前記周縁洗浄部材が所定の時間だけ前記一方側周縁領域を洗浄するように制御する請求項1に記載の基板洗浄装置。
- 前記周縁洗浄部材に加わる力を検出する検出部を備え、
前記制御部は、前記検出部による検出結果に基づいて前記移動部の制御を行い、前記一方側周縁領域又は前記他方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力と、前記側面領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力が異なるように制御する、請求項1又は2に記載の基板洗浄装置。 - 前記制御部は、前記一方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力と前記他方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力とは略同一となるように制御する、請求項3に記載の基板洗浄装置。
- 前記制御部は、前記一方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力及び前記他方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力は、前記側面領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する際に前記周縁洗浄部材に加わる力よりも大きくなるように制御する、請求項3又は4に記載の基板洗浄装置。
- 基板を回転させる基板回転部と、
前記基板の周縁部を洗浄するための周縁洗浄部材と、
前記周縁洗浄部材を前記基板回転軸に直交する方向で延びた周縁回転軸の周りで回転させる周縁回転部と、
を備え、
前記周縁洗浄部材は、少なくとも前記基板の側面の一方側の一部及び周縁部の一方側の面に当接して洗浄する第一周縁洗浄部材と、少なくとも前記基板の側面の他方側の一部及び周縁部の他方側の面に当接して洗浄する第二周縁洗浄部材とを有する、又は少なくとも前記基板の側面に当接して洗浄する第三周縁洗浄部材と、少なくとも前記基板の周縁部の一方側の面に当接して洗浄する第四周縁洗浄部材と、少なくとも前記基板の周縁部の他方側の面に当接して洗浄する第五周縁洗浄部材とを有する基板洗浄装置。 - 基板を回転させる基板回転部と、
前記基板に洗浄液を供給する基板洗浄液供給部と、
前記基板の周縁部を洗浄するための周縁洗浄部材と、
前記周縁洗浄部材を前記基板回転軸に直交する方向で延びた周縁回転軸の周りで回転させる周縁回転部と、
前記周縁洗浄部材を前記基板の周縁部から離間させた後で、前記基板回転部による前記基板の回転を停止させるように制御する制御部と、
を備える基板洗浄装置。 - 前記制御部は、前記周縁洗浄部材を前記基板の周縁部から離間させた後であって前記基板回転部による前記基板の回転を停止させる前に、前記基板洗浄液供給部からの洗浄液の供給を停止させるように制御する請求項7に記載の基板洗浄装置。
- 前記制御部は、前記周縁洗浄部材を前記基板の周縁部から離間させる前に前記周縁回転部による前記周縁洗浄部材の回転を停止させるように制御する請求項7又は8のいずれかに記載の基板洗浄装置。
- 前記基板はウェハからなり、
前記洗浄部材は前記ウェハの形状に合わせて側面が湾曲している請求項1乃至9のいずれか1項に記載の基板洗浄装置。 - 前記基板の中心部から周縁部に向かって、前記周縁洗浄部材と前記基板との接触箇所に対して洗浄液を供給する周縁洗浄液供給部を備える請求項1乃至10のいずれか1項に記載の基板洗浄装置。
- 前記周縁洗浄部材の前記基板の中心部側に隔壁が設けられる、請求項1乃至11のいずれか1項に記載の基板洗浄装置。
- 前記隔壁を有するカバー部材を備え、
前記カバー部材が前記周縁洗浄部材を覆う請求項12に記載の基板洗浄装置。 - 前記基板の中心部から周縁部に向かって、前記周縁洗浄部材と前記基板との接触領域に対して洗浄液を供給する周縁洗浄液供給部を備え、
前記カバー部材に前記周縁洗浄液供給部を取り付けるための取付部が設けられている請求項13に記載の基板洗浄装置。 - 前記基板の中心部から周縁部に向かって、前記周縁洗浄部材と前記基板との接触領域に対して洗浄液を供給する周縁洗浄液供給部を備え、
前記カバー部材に前記周縁洗浄液供給部から供給される洗浄液を排出する排出口が設けられる請求項13又は14に記載の基板洗浄装置。 - 前記周縁洗浄部材を洗浄するための周縁洗浄機構を備える請求項1乃至15のいずれか1項に記載の基板洗浄装置。
- 前記周縁洗浄機構は、前記周縁洗浄部材に当接可能な接触部材、前記周縁洗浄部材に洗浄液を供給する洗浄液供給部材及び前記周縁洗浄部材を吸引する吸引部材のいずれか1つを有する請求項16に記載の基板洗浄装置。
- 前記制御部は、前記周縁洗浄部材が前記基板の周縁部を洗浄していない時間に前記周縁洗浄機構が前記周縁洗浄部材を洗浄するように制御する請求項16又は17に記載の基板洗浄装置。
- 前記制御部は、前記周縁洗浄部材が前記基板の周縁部を洗浄している時間と前記周縁洗浄機構が前記周縁洗浄部材を洗浄する時間とが少なくとも一部で重複するように制御する請求項16又は17に記載の基板洗浄装置。
- 前記周縁回転部によって回転されるペンユニットを備え、
前記周縁洗浄部材はペンユニットの先端に設けられる請求項1乃至19のいずれか1項に記載の基板洗浄装置。 - 前記基板の一方側の面又は他方側の面に当接して洗浄する基板洗浄部材を備え、
前記制御部は、前記基板洗浄部材が前記基板の一方側の面又は他方側の面を洗浄する時間と前記周縁洗浄部材が前記基板の周縁部を洗浄する時間とが少なくとも一部で重複するように制御する請求項1乃至20のいずれか1項に記載の基板洗浄装置。 - 基板回転部によって基板を回転させる工程と、
周縁回転部によって周縁洗浄部材を前記基板回転軸に直交する方向で延びた周縁回転軸の周りで回転させ、前記周縁洗浄部材によって前記基板の周縁部を洗浄する工程と、
を備え、
前記基板の周縁部を洗浄する工程において、移動部によって前記周縁洗浄部材の前記基板の周縁部に対する位置を移動させ、前記基板の周縁部の一方側の面を含む一方側周縁領域、側面を含む側面領域及び他方側の面を含む他方側周縁領域を前記周縁洗浄部材によって洗浄する基板洗浄方法。 - 基板回転部によって基板を回転させる工程と、
基板洗浄液供給部によって前記基板に洗浄液を供給する工程と、
周縁回転部によって周縁洗浄部材を前記基板回転軸に直交する方向で延びた周縁回転軸の周りで回転させ、前記周縁洗浄部材によって前記基板の周縁部を洗浄する工程と、
を備え、
前記周縁洗浄部材を前記基板の周縁部から離間させた後で、前記基板回転部による前記基板の回転を停止させる基板洗浄方法。
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---|---|---|---|---|
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Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115910754A (zh) * | 2022-12-30 | 2023-04-04 | 西安奕斯伟材料科技有限公司 | 一种用于硅片边缘的清洗方法和装置 |
CN116153803B (zh) * | 2023-04-23 | 2023-07-14 | 苏州晶睿半导体科技有限公司 | 一种带有清理结构的半导体晶圆测试台及方法 |
Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0645302A (ja) * | 1992-07-24 | 1994-02-18 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JPH10125640A (ja) * | 1996-10-23 | 1998-05-15 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置および基板処理方法 |
JPH10261605A (ja) * | 1997-03-18 | 1998-09-29 | Toshiba Corp | 半導体処理装置 |
JP2001212528A (ja) * | 2000-02-04 | 2001-08-07 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 洗浄装置 |
JP2006278592A (ja) * | 2005-03-29 | 2006-10-12 | Tokyo Electron Ltd | 基板洗浄方法及び基板洗浄装置 |
JP2007273608A (ja) * | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP2008084934A (ja) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Mitsumi Electric Co Ltd | 半導体基板の洗浄方法 |
JP2008277518A (ja) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板洗浄装置および基板洗浄方法 |
JP2009088244A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Tokyo Electron Ltd | 基板クリーニング装置、基板処理装置、基板クリーニング方法、基板処理方法及び記憶媒体 |
JP2009536457A (ja) * | 2006-05-05 | 2009-10-08 | ラム リサーチ コーポレーション | 孤立ベベルエッジ洗浄用の方法及び装置 |
JP2010254550A (ja) * | 2009-03-04 | 2010-11-11 | Siltronic Ag | エピタキシャル被覆されたシリコンウェハ及びエピタキシャル被覆されたシリコンウェハの製造方法 |
JP2011103394A (ja) * | 2009-11-11 | 2011-05-26 | Seiwa Kogyo Kk | 基板処理装置 |
US20150235858A1 (en) * | 2014-02-17 | 2015-08-20 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Wafer back-side polishing system and method for integrated circuit device manufacturing processes |
JP2018113393A (ja) * | 2017-01-13 | 2018-07-19 | 株式会社ディスコ | ウエーハ洗浄装置 |
JP2020031181A (ja) * | 2018-08-24 | 2020-02-27 | 株式会社荏原製作所 | 基板処理装置、基板処理方法、及び基板処理装置を制御する方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを格納した記憶媒体 |
JP2020043157A (ja) * | 2018-09-07 | 2020-03-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法、および記憶媒体 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5937469A (en) * | 1996-12-03 | 1999-08-17 | Intel Corporation | Apparatus for mechanically cleaning the edges of wafers |
US5901399A (en) * | 1996-12-30 | 1999-05-11 | Intel Corporation | Flexible-leaf substrate edge cleaning apparatus |
JP4177505B2 (ja) | 1999-02-23 | 2008-11-05 | 日本写真印刷株式会社 | タッチ入力方式液晶ディスプレイ装置 |
US6439245B1 (en) * | 2000-06-30 | 2002-08-27 | Lam Research Corporation | Method for transferring wafers from a conveyor system to a wafer processing station |
JP2002052370A (ja) | 2000-08-09 | 2002-02-19 | Ebara Corp | 基板洗浄装置 |
KR100436361B1 (ko) * | 2000-12-15 | 2004-06-18 | (주)케이.씨.텍 | 기판 가장자리를 세정하기 위한 장치 |
US20050172430A1 (en) * | 2003-10-28 | 2005-08-11 | Joseph Yudovsky | Wafer edge cleaning |
JP4522329B2 (ja) * | 2005-06-24 | 2010-08-11 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
KR100916687B1 (ko) * | 2006-03-30 | 2009-09-11 | 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 | 기판처리장치 및 기판처리방법 |
JP4928343B2 (ja) * | 2007-04-27 | 2012-05-09 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
JP6312976B2 (ja) * | 2012-06-12 | 2018-04-18 | Sumco Techxiv株式会社 | 半導体ウェーハの製造方法 |
JP6140439B2 (ja) * | 2012-12-27 | 2017-05-31 | 株式会社荏原製作所 | 研磨装置、及び研磨方法 |
JP6877221B2 (ja) | 2017-04-05 | 2021-05-26 | 株式会社荏原製作所 | 基板洗浄装置、基板洗浄方法および基板洗浄装置の制御方法 |
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Patent Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0645302A (ja) * | 1992-07-24 | 1994-02-18 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JPH10125640A (ja) * | 1996-10-23 | 1998-05-15 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置および基板処理方法 |
JPH10261605A (ja) * | 1997-03-18 | 1998-09-29 | Toshiba Corp | 半導体処理装置 |
JP2001212528A (ja) * | 2000-02-04 | 2001-08-07 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 洗浄装置 |
JP2006278592A (ja) * | 2005-03-29 | 2006-10-12 | Tokyo Electron Ltd | 基板洗浄方法及び基板洗浄装置 |
JP2007273608A (ja) * | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP2009536457A (ja) * | 2006-05-05 | 2009-10-08 | ラム リサーチ コーポレーション | 孤立ベベルエッジ洗浄用の方法及び装置 |
JP2008084934A (ja) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Mitsumi Electric Co Ltd | 半導体基板の洗浄方法 |
JP2008277518A (ja) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板洗浄装置および基板洗浄方法 |
JP2009088244A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Tokyo Electron Ltd | 基板クリーニング装置、基板処理装置、基板クリーニング方法、基板処理方法及び記憶媒体 |
JP2010254550A (ja) * | 2009-03-04 | 2010-11-11 | Siltronic Ag | エピタキシャル被覆されたシリコンウェハ及びエピタキシャル被覆されたシリコンウェハの製造方法 |
JP2011103394A (ja) * | 2009-11-11 | 2011-05-26 | Seiwa Kogyo Kk | 基板処理装置 |
US20150235858A1 (en) * | 2014-02-17 | 2015-08-20 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Wafer back-side polishing system and method for integrated circuit device manufacturing processes |
JP2018113393A (ja) * | 2017-01-13 | 2018-07-19 | 株式会社ディスコ | ウエーハ洗浄装置 |
JP2020031181A (ja) * | 2018-08-24 | 2020-02-27 | 株式会社荏原製作所 | 基板処理装置、基板処理方法、及び基板処理装置を制御する方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを格納した記憶媒体 |
JP2020043157A (ja) * | 2018-09-07 | 2020-03-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法、および記憶媒体 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7619897B2 (ja) | 2021-06-16 | 2025-01-22 | 株式会社荏原製作所 | 基板支持機構、基板洗浄装置及び基板処理方法 |
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