JP2020129433A - 固体電解質部材、固体酸化物型燃料電池、水電解装置、水素ポンプ及び固体電解質部材の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】反りや割れが殆どない大型の固体電解質部材等の提供。【解決手段】アノード層12の一方の面に電解質層11が積層された構造を有するプロトン伝導性の固体電解質部材であって、電解質層11は、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含む層であり、アノード層12はNiO及び前記金属酸化物を含む層であり、前記金属酸化物は、式[1]で表される金属酸化物又は式[1]で表される金属酸化物の混合物もしくは固溶体であり、アノード層12と接する電解質層11の熱膨張率は、アノード層12の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である、固体電解質部材。AaBbMcO3−δ1式[1](AはBa、Ca又はSrからの一種以上の元素;BはCe又はZrからの一種以上の元素;MはY、Yb、Er、Ho、Tm、Gd、In又はScからの一種以上の元素;0.85≦a≦1;0.50≦b<1;c=1−b;δ1は酸素欠損量)【選択図】図1
Description
本発明は、固体電解質部材、固体酸化物型燃料電池、水電解装置、水素ポンプ及び固体電解質部材の製造方法に関する。
固体酸化物型燃料電池(Solid Oxide Fuel Cell;SOFC、以下「SOFC」とも記す)は、発電効率が高い、白金等の高価な触媒を必要としない、排熱を利用できるなどの利点を有するため、開発が盛んに進められている。
燃料電池は基本部分に、燃料極(アノード)/固体酸化物電解質/空気極(カソード)から構成される膜電極アセンブリもしくは膜電極複合体(Membrane Electrode Assembly:MEA)を備えている。さらに、燃料電池は、MEAの燃料極に接する燃料極集電体とその燃料極に水素等の燃料気体を供給する燃料極流路とを備え、燃料極に対をなす空気極側にも同様に、空気極に接する空気極集電体と、その空気極に空気を供給する空気流路とを備える。
燃料電池は基本部分に、燃料極(アノード)/固体酸化物電解質/空気極(カソード)から構成される膜電極アセンブリもしくは膜電極複合体(Membrane Electrode Assembly:MEA)を備えている。さらに、燃料電池は、MEAの燃料極に接する燃料極集電体とその燃料極に水素等の燃料気体を供給する燃料極流路とを備え、燃料極に対をなす空気極側にも同様に、空気極に接する空気極集電体と、その空気極に空気を供給する空気流路とを備える。
3価の元素をドープしたバリウムジルコネートは、高いプロトン伝導性を示す材料の中でもCO2やH2Oに対して比較的安定であることから、中温型燃料電池の固体電解質としての利用が期待されている。また、同様に3価の元素をドープしたバリウムセレートは、より高いプロトン伝導性を示す材料として知られている。
例えば、特開2001−307546号公報(特許文献1)には、燃料電池用のイオン伝導体として、式:BaZr1−x−yCexMyO3−p(Mは3価の置換元素、xおよびyはそれぞれ0よりも大きく1未満の数値、x+yは1未満、pは0よりも大きく1.5未満の数値)で表されるペロブスカイト型酸化物を用いることが記載されている。
例えば、特開2001−307546号公報(特許文献1)には、燃料電池用のイオン伝導体として、式:BaZr1−x−yCexMyO3−p(Mは3価の置換元素、xおよびyはそれぞれ0よりも大きく1未満の数値、x+yは1未満、pは0よりも大きく1.5未満の数値)で表されるペロブスカイト型酸化物を用いることが記載されている。
また、特開2007−197315号公報(特許文献2)には、燃料電池に用いられる混合イオン伝導体として、式:BadZr1−x−yCexM3 yO3−t(M3は3価の希土類元素、Bi、Ga、Sn、SbおよびInから選ばれる少なくとも1種の元素、dは0.98以上1以下、xは0.01以上0.5以下、yは0.01以上0.3以下、tは(2+y−2d)/2以上1.5未満)で表されるペロブスカイト型酸化物からなることを特徴とする混合イオン伝導体が記載されている。
特開2012−104308号公報(特許文献3)には、固体酸化物燃料電池部品製造方法において、電解質としてイットリア(Y2O3)を固溶したBaZrO3で組成式がBaZrxY1−xO3−δ(ただし、0.1<x<0.99、0.01<δ<0.5)を用いることが記載されている。
特開2012−104308号公報(特許文献3)には、固体酸化物燃料電池部品製造方法において、電解質としてイットリア(Y2O3)を固溶したBaZrO3で組成式がBaZrxY1−xO3−δ(ただし、0.1<x<0.99、0.01<δ<0.5)を用いることが記載されている。
上述のペロブスカイト型酸化物のなかでも、イットリウムをドープしたバリウムジルコネート(BZY)やイットリウムをドープしたバリウムセレート(BCY)は、700℃以下の温度域でも良好なプロトン伝導性を示すことから中温型燃料電池の固体電解質部材として期待されている。そこで本発明者等はBZYやBCYのようなペロブスカイト型酸化物を用いて、アノード層、電解質層、カソード層の順に積層された固体電解質部材を作製することを検討した。具体的には、まず、1000℃程度でアノード層材料を仮焼結してアノード層を形成し、続けてアノード層の表面の片側に電解質層材料を塗布して1450℃程度で共焼結を行ない、最後にカソード層材料を塗布して1050℃程度で焼結を行ない、積層型の固体電解質部材を作製した。
しかしながら、大型の固体電解質部材を製造しようとすると、共焼結後の降温時に、図6に示すように、アノード層62と電解質層61との積層体が反ったり、割れたりしてしまうという問題が見出された。この問題は、直径が20mm程度の小型の固体電解質部材の場合には特に問題とならないものの、例えば直径が100mm以上の大型の固体電解質部材を作製する場合に顕著であり、歩留まりが悪かった。
しかしながら、大型の固体電解質部材を製造しようとすると、共焼結後の降温時に、図6に示すように、アノード層62と電解質層61との積層体が反ったり、割れたりしてしまうという問題が見出された。この問題は、直径が20mm程度の小型の固体電解質部材の場合には特に問題とならないものの、例えば直径が100mm以上の大型の固体電解質部材を作製する場合に顕著であり、歩留まりが悪かった。
そこで本発明は、700℃程度以下の温度域でも高いプロトン伝導性を示し、かつ、反りや割れが殆どない大型の、アノード層と電解質層とが積層された固体電解質部材、及び当該固体電解質部材を効率よく製造することが可能な、アノード層と電解質層とが積層された固体電解質部材の製造方法を提供することを目的とする。
本発明の一態様に係る固体電解質部材は、
アノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有するプロトン伝導性の固体電解質部材であって、
前記電解質層は、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含む層であり、
前記アノード層はNiO及び前記金属酸化物を含む層であり、
前記金属酸化物は、下記式[1]で表される金属酸化物又は下記式[1]で表される金属酸化物の混合物もしくは固溶体であり、
前記アノード層と接する前記電解質層の熱膨張率は、前記アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である、
固体電解質部材、である。
AaBbMcO3−δ1 式[1]
(式中、Aはバリウム(Ba)、カルシウム(Ca)及びストロンチウム(Sr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Bはセリウム(Ce)及びジルコニウム(Zr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Mはイットリウム(Y)、イッテルビウム(Yb)、エルビウム(Er)、ホルミウム(Ho)、ツリウム(Tm)、ガドリニウム(Gd)、インジウム(In)及びスカンジウム(Sc)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示し、aは0.85≦a≦1を満たす数、bは0.50≦b<1を満たす数、cはc=1−bを満たす数、δ1は酸素欠損量である。)
アノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有するプロトン伝導性の固体電解質部材であって、
前記電解質層は、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含む層であり、
前記アノード層はNiO及び前記金属酸化物を含む層であり、
前記金属酸化物は、下記式[1]で表される金属酸化物又は下記式[1]で表される金属酸化物の混合物もしくは固溶体であり、
前記アノード層と接する前記電解質層の熱膨張率は、前記アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である、
固体電解質部材、である。
AaBbMcO3−δ1 式[1]
(式中、Aはバリウム(Ba)、カルシウム(Ca)及びストロンチウム(Sr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Bはセリウム(Ce)及びジルコニウム(Zr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Mはイットリウム(Y)、イッテルビウム(Yb)、エルビウム(Er)、ホルミウム(Ho)、ツリウム(Tm)、ガドリニウム(Gd)、インジウム(In)及びスカンジウム(Sc)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示し、aは0.85≦a≦1を満たす数、bは0.50≦b<1を満たす数、cはc=1−bを満たす数、δ1は酸素欠損量である。)
本発明の一態様に係る固体電解質部材の製造方法は、
上記の本発明の一態様に係る固体電解質部材、を製造する方法であって、
アノード層材料を成形し、仮焼結してアノード層を形成する、アノード層形成工程と、
前記アノード層の一方の面に電解質層材料を塗布して乾燥させる、電解質層塗布工程と、
前記電解質層材料が塗布された前記アノード層を焼結してアノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有する固体電解質部材を形成する焼結工程と、
を有し、
前記電解質層材料は、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含み、
前記アノード層材料は、NiO及び前記金属酸化物を含み、
前記金属酸化物は、下記式[1]で表される金属酸化物又は下記式[1]で表される金属酸化物の混合物もしくは固溶体であり、
前記アノード層と接する前記電解質層の熱膨張率は、前記アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である、
固体電解質部材の製造方法、である。
AaBbMcO3−δ1 式[1]
(式中、Aはバリウム(Ba)、カルシウム(Ca)及びストロンチウム(Sr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Bはセリウム(Ce)及びジルコニウム(Zr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Mはイットリウム(Y)、イッテルビウム(Yb)、エルビウム(Er)、ホルミウム(Ho)、ツリウム(Tm)、ガドリニウム(Gd)、インジウム(In)及びスカンジウム(Sc)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示し、aは0.85≦a≦1を満たす数、bは0.50≦b<1を満たす数、cはc=1−bを満たす数、δ1は酸素欠損量である。)
上記の本発明の一態様に係る固体電解質部材、を製造する方法であって、
アノード層材料を成形し、仮焼結してアノード層を形成する、アノード層形成工程と、
前記アノード層の一方の面に電解質層材料を塗布して乾燥させる、電解質層塗布工程と、
前記電解質層材料が塗布された前記アノード層を焼結してアノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有する固体電解質部材を形成する焼結工程と、
を有し、
前記電解質層材料は、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含み、
前記アノード層材料は、NiO及び前記金属酸化物を含み、
前記金属酸化物は、下記式[1]で表される金属酸化物又は下記式[1]で表される金属酸化物の混合物もしくは固溶体であり、
前記アノード層と接する前記電解質層の熱膨張率は、前記アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である、
固体電解質部材の製造方法、である。
AaBbMcO3−δ1 式[1]
(式中、Aはバリウム(Ba)、カルシウム(Ca)及びストロンチウム(Sr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Bはセリウム(Ce)及びジルコニウム(Zr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Mはイットリウム(Y)、イッテルビウム(Yb)、エルビウム(Er)、ホルミウム(Ho)、ツリウム(Tm)、ガドリニウム(Gd)、インジウム(In)及びスカンジウム(Sc)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示し、aは0.85≦a≦1を満たす数、bは0.50≦b<1を満たす数、cはc=1−bを満たす数、δ1は酸素欠損量である。)
上記発明によれば、700℃程度以下の温度域でも高いプロトン伝導性を示し、かつ、反りや割れが殆どない大型の固体電解質部材、及び当該固体電解質部材を効率よく製造することが可能な固体電解質部材の製造方法を提供することができる。
[本発明の実施形態の説明]
最初に本発明の実施態様を列記して説明する。
(1)本発明の一態様に係る固体電解質部材は、
アノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有するプロトン伝導性の固体電解質部材であって、
前記電解質層は、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含む層であり、
前記アノード層はNiO及び前記金属酸化物を含む層であり、
前記金属酸化物は、下記式[1]で表される金属酸化物又は下記式[1]で表される金属酸化物の混合物もしくは固溶体であり、
前記アノード層と接する前記電解質層の熱膨張率は、前記アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である、
固体電解質部材、である。
AaBbMcO3−δ1 式[1]
(式中、Aはバリウム(Ba)、カルシウム(Ca)及びストロンチウム(Sr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Bはセリウム(Ce)及びジルコニウム(Zr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Mはイットリウム(Y)、イッテルビウム(Yb)、エルビウム(Er)、ホルミウム(Ho)、ツリウム(Tm)、ガドリニウム(Gd)、インジウム(In)及びスカンジウム(Sc)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示し、aは0.85≦a≦1を満たす数、bは0.50≦b<1を満たす数、cはc=1−bを満たす数、δ1は酸素欠損量である。)
上記(1)に記載の発明の態様によれば、700℃程度以下の温度域でも高いプロトン伝導性を示し、かつ、反りや割れが殆どない大型の固体電解質部材を提供することができる。
なお、本発明において熱膨張率とは、X線回折測定法(X−ray Diffraction:XRD)によって測定される固体電解質部材の格子定数の、温度による変化率をいうものとする。
最初に本発明の実施態様を列記して説明する。
(1)本発明の一態様に係る固体電解質部材は、
アノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有するプロトン伝導性の固体電解質部材であって、
前記電解質層は、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含む層であり、
前記アノード層はNiO及び前記金属酸化物を含む層であり、
前記金属酸化物は、下記式[1]で表される金属酸化物又は下記式[1]で表される金属酸化物の混合物もしくは固溶体であり、
前記アノード層と接する前記電解質層の熱膨張率は、前記アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である、
固体電解質部材、である。
AaBbMcO3−δ1 式[1]
(式中、Aはバリウム(Ba)、カルシウム(Ca)及びストロンチウム(Sr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Bはセリウム(Ce)及びジルコニウム(Zr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Mはイットリウム(Y)、イッテルビウム(Yb)、エルビウム(Er)、ホルミウム(Ho)、ツリウム(Tm)、ガドリニウム(Gd)、インジウム(In)及びスカンジウム(Sc)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示し、aは0.85≦a≦1を満たす数、bは0.50≦b<1を満たす数、cはc=1−bを満たす数、δ1は酸素欠損量である。)
上記(1)に記載の発明の態様によれば、700℃程度以下の温度域でも高いプロトン伝導性を示し、かつ、反りや割れが殆どない大型の固体電解質部材を提供することができる。
なお、本発明において熱膨張率とは、X線回折測定法(X−ray Diffraction:XRD)によって測定される固体電解質部材の格子定数の、温度による変化率をいうものとする。
(2)上記(1)に記載の固体電解質部材は、
前記電解質層に含まれる金属酸化物が、BadZreCefY1−e−fO3−δ2(但し、dは0.85≦d≦1を満たす数、eは0≦e≦1を満たす数、fは0≦f≦1を満たす数、δ2は酸素欠損量であり、eとfは同時に0となることはない)であることが好ましい。
上記(2)に記載の発明の態様によれば、電解質層の熱膨張率とアノード層の熱膨張率との差がより小さく、歩留まりが高い固体電解質部材を提供することができる。
前記電解質層に含まれる金属酸化物が、BadZreCefY1−e−fO3−δ2(但し、dは0.85≦d≦1を満たす数、eは0≦e≦1を満たす数、fは0≦f≦1を満たす数、δ2は酸素欠損量であり、eとfは同時に0となることはない)であることが好ましい。
上記(2)に記載の発明の態様によれば、電解質層の熱膨張率とアノード層の熱膨張率との差がより小さく、歩留まりが高い固体電解質部材を提供することができる。
(3)上記(1)又は上記(2)に記載の固体電解質部材は、
前記電解質層が、二層以上の積層構造を有しており、かつ、前記アノード層と接する電解質層の熱膨張率は前記アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。
上記(3)に記載の発明の態様によれば、アノード層と接する電解質層の熱膨張率と、アノード層の熱膨張率との差がより小さく、歩留まりが高い固体電解質部材を提供することができる。
前記電解質層が、二層以上の積層構造を有しており、かつ、前記アノード層と接する電解質層の熱膨張率は前記アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。
上記(3)に記載の発明の態様によれば、アノード層と接する電解質層の熱膨張率と、アノード層の熱膨張率との差がより小さく、歩留まりが高い固体電解質部材を提供することができる。
(4)上記(1)から上記(3)のいずれか一項に記載の固体電解質部材は、
前記アノード層が、二層以上の積層構造を有しており、かつ、前記電解質層と接するアノード層の熱膨張率は前記電解質層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。
上記(4)に記載の発明の態様によれば、電解質層と接するアノード層の熱膨張率と、電解質層の熱膨張率との差がより小さく、歩留まりが高い固体電解質部材を提供することができる。
前記アノード層が、二層以上の積層構造を有しており、かつ、前記電解質層と接するアノード層の熱膨張率は前記電解質層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。
上記(4)に記載の発明の態様によれば、電解質層と接するアノード層の熱膨張率と、電解質層の熱膨張率との差がより小さく、歩留まりが高い固体電解質部材を提供することができる。
(5)上記(1)から上記(4)のいずれか一項に記載の固体電解質部材は、
前記電解質層が、第1電解質層と第2電解質層とが積層された構造を有しており、
前記第1電解質層に含まれる金属酸化物が、BagCehY1−hO3−δ3(但し、gは0.85≦g≦1を満たす数、hは0.50≦h≦0.99を満たす数、δ3は酸素欠損量である)であり、
前記第2電解質層に含まれる金属酸化物が、BaiZrjY1−jO3−δ4(但し、iは0.85≦i≦1を満たす数、jは0.50≦j≦0.99を満たす数、δ4は酸素欠損量である)であり、
前記第1電解質層が前記アノード層と接している、
ことが好ましい。
上記(5)に記載の発明の態様によれば、第1電解質層の熱膨張率とアノード層の熱膨張率との差がより小さく、歩留まりが高い固体電解質部材を提供することができる。
前記電解質層が、第1電解質層と第2電解質層とが積層された構造を有しており、
前記第1電解質層に含まれる金属酸化物が、BagCehY1−hO3−δ3(但し、gは0.85≦g≦1を満たす数、hは0.50≦h≦0.99を満たす数、δ3は酸素欠損量である)であり、
前記第2電解質層に含まれる金属酸化物が、BaiZrjY1−jO3−δ4(但し、iは0.85≦i≦1を満たす数、jは0.50≦j≦0.99を満たす数、δ4は酸素欠損量である)であり、
前記第1電解質層が前記アノード層と接している、
ことが好ましい。
上記(5)に記載の発明の態様によれば、第1電解質層の熱膨張率とアノード層の熱膨張率との差がより小さく、歩留まりが高い固体電解質部材を提供することができる。
(6)上記(1)から上記(4)のいずれか一項に記載の固体電解質部材は、
前記アノード層と接する前記電解質層に含まれる金属酸化物が、BakZrlCemY1−l−mO3−δ5(但し、kは0.85≦k≦1を満たす数、lは0<l≦1を満たす数、mは0<m≦1を満たす数、δ5は酸素欠損量である)であり、
前記電解質層と接する前記アノード層に含まれる金属酸化物が、BanZroY1−oO3−δ6(但し、nは0.85≦n≦1を満たす数、oは0.50≦o≦0.99を満たす数、δ6は酸素欠損量である)であり、
前記電解質層と接する前記アノード層における前記NiO含有率が、20質量%以上、80質量%以下であることが好ましい。
上記(6)に記載の発明の態様によれば、プロトン伝導性がより高く、かつ、歩留まりが高い固体電解質部材を提供することができる。
前記アノード層と接する前記電解質層に含まれる金属酸化物が、BakZrlCemY1−l−mO3−δ5(但し、kは0.85≦k≦1を満たす数、lは0<l≦1を満たす数、mは0<m≦1を満たす数、δ5は酸素欠損量である)であり、
前記電解質層と接する前記アノード層に含まれる金属酸化物が、BanZroY1−oO3−δ6(但し、nは0.85≦n≦1を満たす数、oは0.50≦o≦0.99を満たす数、δ6は酸素欠損量である)であり、
前記電解質層と接する前記アノード層における前記NiO含有率が、20質量%以上、80質量%以下であることが好ましい。
上記(6)に記載の発明の態様によれば、プロトン伝導性がより高く、かつ、歩留まりが高い固体電解質部材を提供することができる。
(7)上記(1)から上記(4)のいずれか一項に記載の固体電解質部材は、
前記アノード層と接する前記電解質層に含まれる前記金属酸化物と、前記電解質層に接する前記アノード層に含まれる前記金属酸化物が、BapZrqY1−qO3−δ7(但し、pは0.85≦p≦1を満たす数、qは0.50≦q≦0.99を満たす数、δ7は酸素欠損量である)であり、
前記電解質層と接する前記アノード層における前記NiOの含有率が、20質量%以上、80質量%以下である、
ことが好ましい。
上記(7)に記載の発明の態様によれば、プロトン伝導性がより高く、かつ、歩留まりが高い固体電解質部材を提供することができる。
前記アノード層と接する前記電解質層に含まれる前記金属酸化物と、前記電解質層に接する前記アノード層に含まれる前記金属酸化物が、BapZrqY1−qO3−δ7(但し、pは0.85≦p≦1を満たす数、qは0.50≦q≦0.99を満たす数、δ7は酸素欠損量である)であり、
前記電解質層と接する前記アノード層における前記NiOの含有率が、20質量%以上、80質量%以下である、
ことが好ましい。
上記(7)に記載の発明の態様によれば、プロトン伝導性がより高く、かつ、歩留まりが高い固体電解質部材を提供することができる。
(8)上記(1)から上記(7)のいずれか一項に記載の固体電解質部材は、
前記電解質層の厚みが5μm以上、100μm以下であることが好ましい。
上記(8)に記載の発明の態様によれば、プロトン伝導性が高く、かつ、強度が高く緻密な電解質層を有する固体電解質部材を提供することができる。
前記電解質層の厚みが5μm以上、100μm以下であることが好ましい。
上記(8)に記載の発明の態様によれば、プロトン伝導性が高く、かつ、強度が高く緻密な電解質層を有する固体電解質部材を提供することができる。
(9)上記(1)から上記(8)のいずれか一項に記載の固体電解質部材は、
前記アノード層と接する前記電解質層の熱膨張率と、前記電解質層に接する前記アノード層の熱膨張率との差が1.0×10−6K−1以内である、ことが好ましい。
上記(9)に記載の発明の態様によれば、電解質層の熱膨張率とアノード層の熱膨張率との差がより小さく、歩留まりがより高い固体電解質部材を提供することができる。
前記アノード層と接する前記電解質層の熱膨張率と、前記電解質層に接する前記アノード層の熱膨張率との差が1.0×10−6K−1以内である、ことが好ましい。
上記(9)に記載の発明の態様によれば、電解質層の熱膨張率とアノード層の熱膨張率との差がより小さく、歩留まりがより高い固体電解質部材を提供することができる。
(10)上記(1)から上記(9)のいずれか一項に記載の固体電解質部材は、
前記電解質層の、前記アノード層が積層されている側の面とは反対側の表面にカソード層が積層されていることが好ましい。
上記(10)に記載の発明の態様によれば、固体酸化物型燃料電池、水電解装置及び水素ポンプ等に利用可能な固体電解質部材を提供することができる。
前記電解質層の、前記アノード層が積層されている側の面とは反対側の表面にカソード層が積層されていることが好ましい。
上記(10)に記載の発明の態様によれば、固体酸化物型燃料電池、水電解装置及び水素ポンプ等に利用可能な固体電解質部材を提供することができる。
(11)本発明の一態様に係る固体酸化物型燃料電池は、
上記(10)に記載の固体電解質部材を用いた固体酸化物型燃料電池である。
上記(11)に記載の発明の態様によれば、大型で、発電効率が高い固体酸化物型燃料電池を提供することができる。
上記(10)に記載の固体電解質部材を用いた固体酸化物型燃料電池である。
上記(11)に記載の発明の態様によれば、大型で、発電効率が高い固体酸化物型燃料電池を提供することができる。
(12)本発明の一態様に係る水電解装置は、
上記(10)に記載の固体電解質部材を用いた水電解装置である。
上記(12)に記載の発明の態様によれば、大型で、水素と酸素の生成効率が高い水電解装置を提供することができる。
上記(10)に記載の固体電解質部材を用いた水電解装置である。
上記(12)に記載の発明の態様によれば、大型で、水素と酸素の生成効率が高い水電解装置を提供することができる。
(13)本発明の一態様に係る水電解装置は、
上記(10)に記載の固体電解質部材を用いた水素ポンプである。
上記(13)に記載の発明の態様によれば、大型で、大量の水素イオンを移動させることが可能な水素ポンプを提供することができる。
上記(10)に記載の固体電解質部材を用いた水素ポンプである。
上記(13)に記載の発明の態様によれば、大型で、大量の水素イオンを移動させることが可能な水素ポンプを提供することができる。
(14)本発明の一態様に係る固体電解質部材の製造方法は、
上記(1)に記載の固体電解質部材、を製造する方法であって、
アノード層材料を成形し、仮焼結してアノード層を形成する、アノード層形成工程と、
前記アノード層の一方の面に電解質層材料を塗布して乾燥させる、電解質層塗布工程と、
前記電解質層材料が塗布された前記アノード層を焼結してアノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有する固体電解質部材を形成する焼結工程と、
を有し、
前記電解質層材料は、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含み、
前記アノード層材料は、NiO及び前記金属酸化物を含み、
前記金属酸化物は、下記式[1]で表される金属酸化物又は下記式[1]で表される金属酸化物の混合物もしくは固溶体であり、
前記アノード層と接する前記電解質層の熱膨張率は、前記アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である、
固体電解質部材の製造方法、である。
AaBbMcO3−δ1 式[1]
(式中、Aはバリウム(Ba)、カルシウム(Ca)及びストロンチウム(Sr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Bはセリウム(Ce)及びジルコニウム(Zr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Mはイットリウム(Y)、イッテルビウム(Yb)、エルビウム(Er)、ホルミウム(Ho)、ツリウム(Tm)、ガドリニウム(Gd)、インジウム(In)及びスカンジウム(Sc)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示し、aは0.85≦a≦1を満たす数、bは0.50≦b<1を満たす数、cはc=1−bを満たす数、δ1は酸素欠損量である。)
上記(14)に記載の発明の態様によれば、上記(1)に記載の固体電解質部材を製造することが可能な固体電解質部材の製造方法を提供することができる。
上記(1)に記載の固体電解質部材、を製造する方法であって、
アノード層材料を成形し、仮焼結してアノード層を形成する、アノード層形成工程と、
前記アノード層の一方の面に電解質層材料を塗布して乾燥させる、電解質層塗布工程と、
前記電解質層材料が塗布された前記アノード層を焼結してアノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有する固体電解質部材を形成する焼結工程と、
を有し、
前記電解質層材料は、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含み、
前記アノード層材料は、NiO及び前記金属酸化物を含み、
前記金属酸化物は、下記式[1]で表される金属酸化物又は下記式[1]で表される金属酸化物の混合物もしくは固溶体であり、
前記アノード層と接する前記電解質層の熱膨張率は、前記アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である、
固体電解質部材の製造方法、である。
AaBbMcO3−δ1 式[1]
(式中、Aはバリウム(Ba)、カルシウム(Ca)及びストロンチウム(Sr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Bはセリウム(Ce)及びジルコニウム(Zr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Mはイットリウム(Y)、イッテルビウム(Yb)、エルビウム(Er)、ホルミウム(Ho)、ツリウム(Tm)、ガドリニウム(Gd)、インジウム(In)及びスカンジウム(Sc)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示し、aは0.85≦a≦1を満たす数、bは0.50≦b<1を満たす数、cはc=1−bを満たす数、δ1は酸素欠損量である。)
上記(14)に記載の発明の態様によれば、上記(1)に記載の固体電解質部材を製造することが可能な固体電解質部材の製造方法を提供することができる。
[本発明の実施態様の詳細]
本発明の実施態様に係る固体電解質部材等の具体例を、以下に、より詳細に説明する。
なお、本発明はこれらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
本発明の実施態様に係る固体電解質部材等の具体例を、以下に、より詳細に説明する。
なお、本発明はこれらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
<固体電解質部材>
本発明の実施形態に係る固体電解質部材は、プロトン伝導性の固体電解質部材であり、アノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有する。電解質層は一層であってもよいし、組成の異なる複数の電解質層が積層されていてもよい。同様にアノード層も、一層であってもよいし、組成の異なる複数のアノード層が積層されていてもよい。また、固体電解質部材がカソード層を有する場合には、電解質層の、アノード層が積層されている側の面とは反対側の表面にカソード層が積層されていればよい。
本発明の実施形態に係る固体電解質部材において、アノード層と接触する電解質層の熱膨張率は、アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である。一般に、アノード層と電解質層とが積層した固体電解質部材は、アノード層の仮焼結体に電解質層を塗布し乾燥後に共焼結することによって製造される。本発明の実施形態に係る固体電解質部材は、電解質層とアノード層の熱膨張率の差が小さいことにより、共焼結の際に固体電解質部材が変形したり、電解質層とアノード層との界面において剥離やクラックが生じたりすることを抑制できる。なお、電解質層が複数層積層されている場合には、隣り合う電解質層同士の熱膨張率の差が2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。同様に、アノード層が複数層積層されている場合には、隣り合うアノード層同士の熱膨張率の差が2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。
本発明の実施形態に係る固体電解質部材は、プロトン伝導性の固体電解質部材であり、アノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有する。電解質層は一層であってもよいし、組成の異なる複数の電解質層が積層されていてもよい。同様にアノード層も、一層であってもよいし、組成の異なる複数のアノード層が積層されていてもよい。また、固体電解質部材がカソード層を有する場合には、電解質層の、アノード層が積層されている側の面とは反対側の表面にカソード層が積層されていればよい。
本発明の実施形態に係る固体電解質部材において、アノード層と接触する電解質層の熱膨張率は、アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である。一般に、アノード層と電解質層とが積層した固体電解質部材は、アノード層の仮焼結体に電解質層を塗布し乾燥後に共焼結することによって製造される。本発明の実施形態に係る固体電解質部材は、電解質層とアノード層の熱膨張率の差が小さいことにより、共焼結の際に固体電解質部材が変形したり、電解質層とアノード層との界面において剥離やクラックが生じたりすることを抑制できる。なお、電解質層が複数層積層されている場合には、隣り合う電解質層同士の熱膨張率の差が2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。同様に、アノード層が複数層積層されている場合には、隣り合うアノード層同士の熱膨張率の差が2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。
固体電解質部材の大きさは特に限定されるものではなく、直径が100mm程度の円形や、一辺の長さが100mm程度の矩形のものなど、所望の形状であってかつ大型のものとすることができる。従来の、アノード層と電解質層とが積層された固体電解質部材の場合には、直径が40mm程度以上の円形のものや、一辺の長さが40mm程度以上の矩形のものは製造時に変形や細かなクラックが生じてしまい非常に歩留まりが悪かった。これに対し、本発明の実施形態に係る固体電解質部材は、前述のように大型のものであっても歩留まりを高くすることができる。
(電解質層)
電解質層はペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含む層である。
ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物は、下記式[1]で表される金属酸化物や、下記式[1]で表される金属酸化物の混合物もしくは固溶体であればよい。
AaBbMcO3−δ1 式[1]
上記式[1]において、Aは、バリウム(Ba)、カルシウム(Ca)及びストロンチウム(Sr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示す。
上記式[1]において、Bは、セリウム(Ce)及びジルコニウム(Zr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示す。
上記式[1]において、Mは、イットリウム(Y)、イッテルビウム(Yb)、エルビウム(Er)、ホルミウム(Ho)、ツリウム(Tm)、ガドリニウム(Gd)、インジウム(In)及びスカンジウム(Sc)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示す。特に、Bがイットリウム(Y)である場合には、固体電解質部材のプロトン伝導性がより高くなる。
電解質層はペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含む層である。
ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物は、下記式[1]で表される金属酸化物や、下記式[1]で表される金属酸化物の混合物もしくは固溶体であればよい。
AaBbMcO3−δ1 式[1]
上記式[1]において、Aは、バリウム(Ba)、カルシウム(Ca)及びストロンチウム(Sr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示す。
上記式[1]において、Bは、セリウム(Ce)及びジルコニウム(Zr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示す。
上記式[1]において、Mは、イットリウム(Y)、イッテルビウム(Yb)、エルビウム(Er)、ホルミウム(Ho)、ツリウム(Tm)、ガドリニウム(Gd)、インジウム(In)及びスカンジウム(Sc)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示す。特に、Bがイットリウム(Y)である場合には、固体電解質部材のプロトン伝導性がより高くなる。
上記式[1]において、aは0.85≦a≦1を満たす数であればよく、0.88≦a≦0.98を満たす数であることがより好ましく0.90≦a≦0.97を満たす数であることが更に好ましい。aが0.85以上であることにより高いプロトン伝導性を発現する。また、aが1以下であることにより化学的安定性が向上する。
上記式[1]において、bは0.50≦b<1を満たす数であればよく、0.70≦b≦0.95を満たす数であることがより好ましく、0.75≦b≦0.90を満たす数であることが更に好ましい。bが0.50以上であることによりプロトン伝導を阻害する相の析出を抑制することができる。また、bが1未満であることにより、固体電解質部材の伝導性がより高くなる。
上記式[1]において、cはc=1−bを満たす数である。
上記式[1]において、δは酸素欠損量であり、a、bの数値及び雰囲気に応じて決まる。
前記金属酸化物は、前記式[1]で表される化合物のなかでもBadZreCefY1−e−fO3−δ2(但し、dは0.85≦d≦1を満たす数、eは0≦e≦1を満たす数、fは0≦f≦1を満たす数、δ2は酸素欠損量であり、eとfは同時に0となることはない)であることがより好ましい。
上記式[1]において、bは0.50≦b<1を満たす数であればよく、0.70≦b≦0.95を満たす数であることがより好ましく、0.75≦b≦0.90を満たす数であることが更に好ましい。bが0.50以上であることによりプロトン伝導を阻害する相の析出を抑制することができる。また、bが1未満であることにより、固体電解質部材の伝導性がより高くなる。
上記式[1]において、cはc=1−bを満たす数である。
上記式[1]において、δは酸素欠損量であり、a、bの数値及び雰囲気に応じて決まる。
前記金属酸化物は、前記式[1]で表される化合物のなかでもBadZreCefY1−e−fO3−δ2(但し、dは0.85≦d≦1を満たす数、eは0≦e≦1を満たす数、fは0≦f≦1を満たす数、δ2は酸素欠損量であり、eとfは同時に0となることはない)であることがより好ましい。
電解質層の厚みは特に限定されるものではなく、例えば、5μm以上、100μm以下程度とすればよい。電解質層の厚みを5μm以上とすることにより、強度を高くし、かつ、ガスリークが生じないようにすることができる。また、電解質層の厚みを100μm以下とすることにより、抵抗を小さくすることができる。これらの観点から、電解質層11の厚みは5μm以上、50μm以下であることがより好ましく、10μm以上、30μm以下であることが更に好ましい。
(アノード層)
アノード層はNiOとペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物とを含む層であればよい。ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物としては、電解質層において説明した前記式[1]で表される金属酸化物を用いることができる。
アノード層において、NiOと前記式[1]で表される金属酸化物との比率は特に限定されるものではない。例えば、強度を確保する観点からは、NiOと金属酸化物の質量比が5:5〜8:2程度であることが好ましく、電解質層との熱歪を緩和する観点からは、質量比で2:8〜5:5程度であることが好ましく、NiOと金属酸化物の反応性低減の観点からは、質量比で5:5であることが好ましい。総合的に判断すると、アノード層におけるNiOと金属酸化物との比率は質量比で6:4〜7:3程度であることがより好ましい。
アノード層の厚みは特に限定されるものではなく、例えば、200μm以上、1000μm以下程度とすればよい。アノード層の厚みを200μm以上とすることにより、強度を高くすることができる。また、アノード層の厚みを1000μm以下とすることにより抵抗を小さくすることができる。これらの観点から、アノード層の厚みは250μm以上、800μm以下であることがより好ましく、260μm以上、700μm以下であることが更に好ましい。
アノード層はNiOとペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物とを含む層であればよい。ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物としては、電解質層において説明した前記式[1]で表される金属酸化物を用いることができる。
アノード層において、NiOと前記式[1]で表される金属酸化物との比率は特に限定されるものではない。例えば、強度を確保する観点からは、NiOと金属酸化物の質量比が5:5〜8:2程度であることが好ましく、電解質層との熱歪を緩和する観点からは、質量比で2:8〜5:5程度であることが好ましく、NiOと金属酸化物の反応性低減の観点からは、質量比で5:5であることが好ましい。総合的に判断すると、アノード層におけるNiOと金属酸化物との比率は質量比で6:4〜7:3程度であることがより好ましい。
アノード層の厚みは特に限定されるものではなく、例えば、200μm以上、1000μm以下程度とすればよい。アノード層の厚みを200μm以上とすることにより、強度を高くすることができる。また、アノード層の厚みを1000μm以下とすることにより抵抗を小さくすることができる。これらの観点から、アノード層の厚みは250μm以上、800μm以下であることがより好ましく、260μm以上、700μm以下であることが更に好ましい。
(熱膨張率)
アノード層と接する電解質層の熱膨張率は、アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内であればよく、1.0×10−6K−1以内であることがより好ましく、0.7×10−6K−1以内であることが更に好ましい。電解質層の熱膨張率とアノード層の熱膨張率との差が小さいほど、固体電解質部材を製造する際に、固体電解質部材が変形したり、電解質層とアノード層の界面において剥離やクラックが生じたりすることを抑制できる。
アノード層と接する電解質層の熱膨張率は、アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内であればよく、1.0×10−6K−1以内であることがより好ましく、0.7×10−6K−1以内であることが更に好ましい。電解質層の熱膨張率とアノード層の熱膨張率との差が小さいほど、固体電解質部材を製造する際に、固体電解質部材が変形したり、電解質層とアノード層の界面において剥離やクラックが生じたりすることを抑制できる。
(カソード層)
本発明の実施形態に係る固体電解質部材がカソード層を有する場合には、電解質層の、アノード層が積層されている側の面とは反対側の表面にカソード層が積層されていればよい。
カソード層は、下記式[A]から下記式[D]のいずれかで表される金属酸化物からなる群より選択された少なくとも1種を含むことが好ましい。
(La1−x,Srx)(Co1−y,Mny)O3 式[A]
(La1−x,Srx)(Co1−y,Fey)O3 式[B]
(Ba1−x,Lax)(Co1−y,Fey)O3 式[C]
(Ba1−x,Srx)(Co1−y,Mny)O3 式[D]
式[A]から式[D]において、xは0≦x≦1を満たす数であり、yは0≦y≦1を満たす数である。
カソード層は三相界面を確保することができ、ガスの抜け道があるように構成されていればよい。
カソード層の厚みは、例えば、0.01μm以上、100μm程度であればよい。集電性を高くするという観点からは、カソード層の厚みは、0.05μm以上、50μm以下であることがより好ましく、0.1μm以上、20μm以下であることが更に好ましい。
本発明の実施形態に係る固体電解質部材がカソード層を有する場合には、電解質層の、アノード層が積層されている側の面とは反対側の表面にカソード層が積層されていればよい。
カソード層は、下記式[A]から下記式[D]のいずれかで表される金属酸化物からなる群より選択された少なくとも1種を含むことが好ましい。
(La1−x,Srx)(Co1−y,Mny)O3 式[A]
(La1−x,Srx)(Co1−y,Fey)O3 式[B]
(Ba1−x,Lax)(Co1−y,Fey)O3 式[C]
(Ba1−x,Srx)(Co1−y,Mny)O3 式[D]
式[A]から式[D]において、xは0≦x≦1を満たす数であり、yは0≦y≦1を満たす数である。
カソード層は三相界面を確保することができ、ガスの抜け道があるように構成されていればよい。
カソード層の厚みは、例えば、0.01μm以上、100μm程度であればよい。集電性を高くするという観点からは、カソード層の厚みは、0.05μm以上、50μm以下であることがより好ましく、0.1μm以上、20μm以下であることが更に好ましい。
以下に、本発明の各実施形態に係る固体電解質部材を詳述する。
−第1の実施形態−
図1に本発明の第1の実施形態に係る固体電解質部材の構造の一例の概略図を示す。
図1に示すように、本発明の第1の実施形態に係る固体電解質部材は、アノード層12の一方の面に電解質層11が積層された構造を有する。また、アノード層12と接する電解質層11の熱膨張率は、アノード層12の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である。
電解質層11とアノード層12の組成を適宜選択することにより、電解質層11の熱膨張率とアノード層12の熱膨張率の差を小さくすることができる。
電解質層11に含まれる金属酸化物とアノード層12に含まれる金属酸化物が共にBapZrqY1−qO3−δ7(但し、pは0.85≦p≦1を満たす数、qは0.50≦q≦0.99を満たす数、δ7は酸素欠損量である)である場合には、アノード層12におけるNiOの含有率は、20質量%以上、80質量%以下であることが好ましい。この場合にアノード層12におけるNiOの含有率は、アノード層12の熱膨張率と電解質層11の熱膨張率との差を小さくする観点からは、30質量%以上、50質量%以下とすることがより好ましく、30質量%以上、40質量%以下とすることが更に好ましい。
例えば、電解質層11がBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)によって構成されている場合には、電解質層11の熱膨張率は8.7×10−6K−1である。この場合には、例えば、アノード層12を、BaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で7:3となるようにすればよい。これにより、アノード層12の熱膨張率が10.3×10−6K−1となり、電解質層11の熱膨張率とアノード層12の熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。
また、電解質層11がBaZr0.4Ce0.4Y0.2O2.9(BZCY)によって構成されている場合には、電解質層11の熱膨張率は10.0×10−6K−1である。この場合には、例えば、アノード層12を、BaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で6:4となるようにすればよい。これにより、アノード層12の熱膨張率が10.8×10−6K−1となり、電解質層11の熱膨張率とアノード層12の熱膨張率との差を1.0×10−6K−1以内とすることができる。
−第1の実施形態−
図1に本発明の第1の実施形態に係る固体電解質部材の構造の一例の概略図を示す。
図1に示すように、本発明の第1の実施形態に係る固体電解質部材は、アノード層12の一方の面に電解質層11が積層された構造を有する。また、アノード層12と接する電解質層11の熱膨張率は、アノード層12の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である。
電解質層11とアノード層12の組成を適宜選択することにより、電解質層11の熱膨張率とアノード層12の熱膨張率の差を小さくすることができる。
電解質層11に含まれる金属酸化物とアノード層12に含まれる金属酸化物が共にBapZrqY1−qO3−δ7(但し、pは0.85≦p≦1を満たす数、qは0.50≦q≦0.99を満たす数、δ7は酸素欠損量である)である場合には、アノード層12におけるNiOの含有率は、20質量%以上、80質量%以下であることが好ましい。この場合にアノード層12におけるNiOの含有率は、アノード層12の熱膨張率と電解質層11の熱膨張率との差を小さくする観点からは、30質量%以上、50質量%以下とすることがより好ましく、30質量%以上、40質量%以下とすることが更に好ましい。
例えば、電解質層11がBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)によって構成されている場合には、電解質層11の熱膨張率は8.7×10−6K−1である。この場合には、例えば、アノード層12を、BaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で7:3となるようにすればよい。これにより、アノード層12の熱膨張率が10.3×10−6K−1となり、電解質層11の熱膨張率とアノード層12の熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。
また、電解質層11がBaZr0.4Ce0.4Y0.2O2.9(BZCY)によって構成されている場合には、電解質層11の熱膨張率は10.0×10−6K−1である。この場合には、例えば、アノード層12を、BaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で6:4となるようにすればよい。これにより、アノード層12の熱膨張率が10.8×10−6K−1となり、電解質層11の熱膨張率とアノード層12の熱膨張率との差を1.0×10−6K−1以内とすることができる。
また、第1の実施形態に係る固体電解質部材において、アノード層12と接する電解質層11に含まれる金属酸化物は、前記式[1]で表される金属酸化物のなかでも、BakZrlCemY1−l−mO3−δ5(但し、kは0.85≦k≦1を満たす数、lは0<l≦1を満たす数、mは0<m≦1を満たす数、δ5は酸素欠損量である)であることがより好ましい。この場合には、電解質層11と接するアノード層12に含まれる金属酸化物を、BanZroY1−oO3−δ6(但し、nは0.85≦n≦1を満たす数、oは0.50≦o≦0.99を満たす数、δ6は酸素欠損量である)とし、アノード層12におけるNiOの含有率を10質量%以上、80質量%以下とすることが好ましい。この場合にアノード層12におけるNiOの含有率は、アノード層12の熱膨張率と電解質層11の熱膨張率との差を小さくする観点からは、15質量%以上、70質量%以下とすることがより好ましく、30質量%以上、70質量%以下とすることが更に好ましい。
例えば、電解質層11がBaZr0.4Ce0.4Y0.2O2.9(BZCY44)によって構成されている場合には、電解質層11の熱膨張率は10.0×10−6K−1である。この場合には、例えば、アノード層12を、BaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で3:7となるようにすればよい。これにより、アノード層12の熱膨張率が12.3×10−6K−1となり、電解質層11の熱膨張率とアノード層12の熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。
例えば、電解質層11がBaZr0.4Ce0.4Y0.2O2.9(BZCY44)によって構成されている場合には、電解質層11の熱膨張率は10.0×10−6K−1である。この場合には、例えば、アノード層12を、BaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で3:7となるようにすればよい。これにより、アノード層12の熱膨張率が12.3×10−6K−1となり、電解質層11の熱膨張率とアノード層12の熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。
−第2の実施形態−
図2に本発明の第2の実施形態に係る固体電解質部材の構成の一例の概略図を示す。
図2に示すように、本発明の第2の実施形態に係る固体電解質部材は、アノード層22の一方の面に電解質層21が積層された構造を有しており、電解質層21は第1電解質層21aと第2電解質層21bとが積層された構造を有している。アノード層22と接する第1電解質層21aの熱膨張率は、アノード層22の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である。なお、第1電解質層21aの熱膨張率と第2電解質層21bの熱膨張率の差も2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。
第2の実施形態に係る固体電解質部材において、第1電解質層21aに含まれる金属酸化物は前記式[1]で表される金属酸化物のなかでも、BagCehY1−hO3−δ3(但し、gは0.85≦g≦1を満たす数、hは0.50≦h≦0.99を満たす数、δ3は酸素欠損量である)であることがより好ましい。また、第2電解質層21bに含まれる金属酸化物は前記式[1]で表される金属酸化物のなかでも、BaiZrjY1−jO3−δ4(但し、iは0.85≦i≦1を満たす数、jは0.50≦j≦0.99を満たす数、δ4は酸素欠損量である)であることがより好ましい。
例えば、第2電解質層21bがBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)によって構成されている場合には、第2電解質層21bの熱膨張率は8.7×10−6K−1である。また、第1電解質層21aがBaCe0.8Y0.2O2.9(BCY)によって構成されている場合には、第1電解質層21aの熱膨張率は11.2×10−6K−1である。この場合には、例えば、アノード層22を、BaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で3:7となるようにすればよい。これにより、アノード層22の熱膨張率が12.3×10−6K−1となり、第1電解質層21aの熱膨張率とアノード層22の熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。また、第1電解質層21aの熱膨張率と第2電解質層21bの熱膨張率との差も2.5×10−6K−1以内とすることができる。
図2に本発明の第2の実施形態に係る固体電解質部材の構成の一例の概略図を示す。
図2に示すように、本発明の第2の実施形態に係る固体電解質部材は、アノード層22の一方の面に電解質層21が積層された構造を有しており、電解質層21は第1電解質層21aと第2電解質層21bとが積層された構造を有している。アノード層22と接する第1電解質層21aの熱膨張率は、アノード層22の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である。なお、第1電解質層21aの熱膨張率と第2電解質層21bの熱膨張率の差も2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。
第2の実施形態に係る固体電解質部材において、第1電解質層21aに含まれる金属酸化物は前記式[1]で表される金属酸化物のなかでも、BagCehY1−hO3−δ3(但し、gは0.85≦g≦1を満たす数、hは0.50≦h≦0.99を満たす数、δ3は酸素欠損量である)であることがより好ましい。また、第2電解質層21bに含まれる金属酸化物は前記式[1]で表される金属酸化物のなかでも、BaiZrjY1−jO3−δ4(但し、iは0.85≦i≦1を満たす数、jは0.50≦j≦0.99を満たす数、δ4は酸素欠損量である)であることがより好ましい。
例えば、第2電解質層21bがBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)によって構成されている場合には、第2電解質層21bの熱膨張率は8.7×10−6K−1である。また、第1電解質層21aがBaCe0.8Y0.2O2.9(BCY)によって構成されている場合には、第1電解質層21aの熱膨張率は11.2×10−6K−1である。この場合には、例えば、アノード層22を、BaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で3:7となるようにすればよい。これにより、アノード層22の熱膨張率が12.3×10−6K−1となり、第1電解質層21aの熱膨張率とアノード層22の熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。また、第1電解質層21aの熱膨張率と第2電解質層21bの熱膨張率との差も2.5×10−6K−1以内とすることができる。
−第3の実施形態−
図3に本発明の第3の実施形態に係る固体電解質部材の構成の一例の概略図を示す。
図3に示すように、本発明の第3の実施形態に係る固体電解質部材は、アノード層32の一方の面に電解質層31が積層された構造を有しており、アノード層32は第1アノード層32aと第2アノード層32bとが積層された構造を有している。第1アノード層32aと接する電解質層31の熱膨張率は、第1アノード層32aの熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である。なお、第1アノード層32aの熱膨張率と第2アノード層32bの熱膨張率の差も2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。
例えば、電解質層31がBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)によって構成されている場合には、電解質層31の熱膨張率は8.7×10−6K−1である。この場合には、第1アノード層32aを、例えばBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で7:3となるようにすればよい。これにより、第1アノード層32aの熱膨張率が10.3×10−6K−1となり、電解質層31の熱膨張率と第1アノード層32aの熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。
また、第2アノード層32bを、例えばBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で3:7となるようにすることで、第2アノード層32bの熱膨張率が12.3×10−6K−1となり、第1アノード層32aの熱膨張率と第2アノード層32bの熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。
図3に本発明の第3の実施形態に係る固体電解質部材の構成の一例の概略図を示す。
図3に示すように、本発明の第3の実施形態に係る固体電解質部材は、アノード層32の一方の面に電解質層31が積層された構造を有しており、アノード層32は第1アノード層32aと第2アノード層32bとが積層された構造を有している。第1アノード層32aと接する電解質層31の熱膨張率は、第1アノード層32aの熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である。なお、第1アノード層32aの熱膨張率と第2アノード層32bの熱膨張率の差も2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。
例えば、電解質層31がBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)によって構成されている場合には、電解質層31の熱膨張率は8.7×10−6K−1である。この場合には、第1アノード層32aを、例えばBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で7:3となるようにすればよい。これにより、第1アノード層32aの熱膨張率が10.3×10−6K−1となり、電解質層31の熱膨張率と第1アノード層32aの熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。
また、第2アノード層32bを、例えばBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で3:7となるようにすることで、第2アノード層32bの熱膨張率が12.3×10−6K−1となり、第1アノード層32aの熱膨張率と第2アノード層32bの熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。
−第4の実施形態−
図4に本発明の第4の実施形態に係る固体電解質部材の構成の一例の概略図を示す。
図4に示すように、本発明の第4の実施形態に係る固体電解質部材は、アノード層42の一方の面に電解質層41が積層された構造を有しており、電解質層41は第1電解質層41aと第2電解質層41bとが積層された構造を有している。また、アノード層42は第1アノード層42aと第2アノード層42bとが積層された構造を有している。
第1アノード層42aと接する第1電解質層41aの熱膨張率は、第1アノード層42aの熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である。なお、第1電解質層41aの熱膨張率と第2電解質層41bの熱膨張率の差も2.5×10−6K−1以内であり、第1アノード層42aの熱膨張率と第2アノード層42bの熱膨張率の差も2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。
例えば、第2電解質層41bがBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)によって構成されている場合には、第2電解質層41bの熱膨張率は8.7×10−6K−1である。また、第1電解質層41aがBaZr0.4Ce0.4Y0.2O2.9(BZCY44)によって構成されている場合には、第1電解質層41aの熱膨張率は10.0×10−6K−1である。
この場合には、第1アノード層42aを、例えばBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で7:3となるようにすればよい。これにより、第1アノード層42aの熱膨張率が10.3×10−6K−1となり、電解質層41aの熱膨張率と第1アノード層42aの熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。
また、第2アノード層42bを、例えばBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で3:7となるようにすることで、第2アノード層42bの熱膨張率が12.3×10−6K−1となり、第1アノード層42aの熱膨張率と第2アノード層42bの熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。
図4に本発明の第4の実施形態に係る固体電解質部材の構成の一例の概略図を示す。
図4に示すように、本発明の第4の実施形態に係る固体電解質部材は、アノード層42の一方の面に電解質層41が積層された構造を有しており、電解質層41は第1電解質層41aと第2電解質層41bとが積層された構造を有している。また、アノード層42は第1アノード層42aと第2アノード層42bとが積層された構造を有している。
第1アノード層42aと接する第1電解質層41aの熱膨張率は、第1アノード層42aの熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である。なお、第1電解質層41aの熱膨張率と第2電解質層41bの熱膨張率の差も2.5×10−6K−1以内であり、第1アノード層42aの熱膨張率と第2アノード層42bの熱膨張率の差も2.5×10−6K−1以内であることが好ましい。
例えば、第2電解質層41bがBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)によって構成されている場合には、第2電解質層41bの熱膨張率は8.7×10−6K−1である。また、第1電解質層41aがBaZr0.4Ce0.4Y0.2O2.9(BZCY44)によって構成されている場合には、第1電解質層41aの熱膨張率は10.0×10−6K−1である。
この場合には、第1アノード層42aを、例えばBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で7:3となるようにすればよい。これにより、第1アノード層42aの熱膨張率が10.3×10−6K−1となり、電解質層41aの熱膨張率と第1アノード層42aの熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。
また、第2アノード層42bを、例えばBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)とNiOとの比率が質量比で3:7となるようにすることで、第2アノード層42bの熱膨張率が12.3×10−6K−1となり、第1アノード層42aの熱膨張率と第2アノード層42bの熱膨張率との差を2.5×10−6K−1以内とすることができる。
−第5の実施形態−
図5に本発明の第5の実施形態に係る固体電解質部材の構成の一例の概略図を示す。
図5に示すように本発明の第5の実施形態に係る固体電解質部材は、アノード層52の一方の面に電解質層51が積層されており、更に、電解質層51の、アノード層52が積層されている側の面とは反対側の表面にカソード層53が積層された構造を有している。電解質層51の熱膨張率とアノード層52の熱膨張率の差は2.5×10−6K−1以内であればよい。
図5に本発明の第5の実施形態に係る固体電解質部材の構成の一例の概略図を示す。
図5に示すように本発明の第5の実施形態に係る固体電解質部材は、アノード層52の一方の面に電解質層51が積層されており、更に、電解質層51の、アノード層52が積層されている側の面とは反対側の表面にカソード層53が積層された構造を有している。電解質層51の熱膨張率とアノード層52の熱膨張率の差は2.5×10−6K−1以内であればよい。
<固体酸化物型燃料電池>
本発明の一実施形態に係る固体酸化物型燃料電池は、前述の本発明の一実施形態に係る固体電解質部材を用いるものであり、その他の構成は従来の固体酸化物型燃料電池の構成と同様にすればよい。前述のように本発明の実施形態に係る固体電解質部材は従来の固体電解質部材に比べて大型化することが可能である。このため、大型の本発明の実施形態に係る固体電解質部材を用いることで、発電効率が高い固体酸化物型燃料電池を提供することができる。
本発明の一実施形態に係る固体酸化物型燃料電池は、前述の本発明の一実施形態に係る固体電解質部材を用いるものであり、その他の構成は従来の固体酸化物型燃料電池の構成と同様にすればよい。前述のように本発明の実施形態に係る固体電解質部材は従来の固体電解質部材に比べて大型化することが可能である。このため、大型の本発明の実施形態に係る固体電解質部材を用いることで、発電効率が高い固体酸化物型燃料電池を提供することができる。
<水電解装置>
本発明の一実施形態に係る水電解装置は、前述の本発明の一実施形態に係る固体電解質部材を用いるものであり、その他の構成は従来の、水に電圧をかけて水素と酸素に電気分解する水電解装置の構成と同様にすればよい。大型の本発明の実施形態に係る固体電解質部材を用いることで、水素と酸素の生成効率が高い水電解装置を提供することができる。
本発明の一実施形態に係る水電解装置は、前述の本発明の一実施形態に係る固体電解質部材を用いるものであり、その他の構成は従来の、水に電圧をかけて水素と酸素に電気分解する水電解装置の構成と同様にすればよい。大型の本発明の実施形態に係る固体電解質部材を用いることで、水素と酸素の生成効率が高い水電解装置を提供することができる。
<水素ポンプ>
本発明の一実施形態に係る水素ポンプは、前述の本発明の一実施形態に係る固体電解質部材を用いるものであり、その他の構成は従来の、固体電解質に電圧をかけて水素イオンを一方から他方へと移動させる水素ポンプの構成と同様にすればよい。大型の本発明の実施形態に係る固体電解質部材を用いることで、大量の水素イオンを移動させることが可能な水素ポンプを提供することができる。
本発明の一実施形態に係る水素ポンプは、前述の本発明の一実施形態に係る固体電解質部材を用いるものであり、その他の構成は従来の、固体電解質に電圧をかけて水素イオンを一方から他方へと移動させる水素ポンプの構成と同様にすればよい。大型の本発明の実施形態に係る固体電解質部材を用いることで、大量の水素イオンを移動させることが可能な水素ポンプを提供することができる。
<固体電解質部材の製造方法>
本発明の一実施形態に係る固体電解質部材の製造方法は、アノード層形成工程と、電解質層塗布工程と、焼結工程と、を有し、更に必要に応じてカソード層形工程を有する。
以下に各工程を詳述する。
本発明の一実施形態に係る固体電解質部材の製造方法は、アノード層形成工程と、電解質層塗布工程と、焼結工程と、を有し、更に必要に応じてカソード層形工程を有する。
以下に各工程を詳述する。
(アノード層形成工程)
アノード層形成工程は、アノード層材料を混合してから成形し、その後に仮焼結する工程である。
アノード層材料は、NiOとペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物とを含むものであればよい。ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物としては、上記の、本発明の実施形態に係る固体電解質部材において説明した前記式[1]で表される金属酸化物と同じものを用いればよい。アノード層材料においてNiOと金属酸化物との混合比は、強度を確保する観点からは、質量比で5:5〜8:2程度とすることが好ましく、電解質との熱歪を緩和する観点からは、質量比で2:8〜5:5程度とすることが好ましく、NiOと金属酸化物の反応性低減の観点からは、質量比で5:5とすることが好ましい。総合的に判断すると、質量比で6:4〜7:3程度とすることがより好ましい。
アノード層形成工程は、アノード層材料を混合してから成形し、その後に仮焼結する工程である。
アノード層材料は、NiOとペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物とを含むものであればよい。ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物としては、上記の、本発明の実施形態に係る固体電解質部材において説明した前記式[1]で表される金属酸化物と同じものを用いればよい。アノード層材料においてNiOと金属酸化物との混合比は、強度を確保する観点からは、質量比で5:5〜8:2程度とすることが好ましく、電解質との熱歪を緩和する観点からは、質量比で2:8〜5:5程度とすることが好ましく、NiOと金属酸化物の反応性低減の観点からは、質量比で5:5とすることが好ましい。総合的に判断すると、質量比で6:4〜7:3程度とすることがより好ましい。
アノード層材料を成形する方法は特に限定されず、例えば、一軸成形やグリーンシート等により行なえばよい。成形する形状も特に限定されず、直径が100mm程度の円形のものや、一辺の長さが100mm程度の矩形ものなど、所望の形状とすればよい。
また、アノード層材料は、強度を確保しつつ、NiOを還元しやすくし、抵抗を小さくするという観点から、厚みが200μm以上、1000μm以下程度となるように成形することが好ましく、250μm以上、800μm以下とすることがより好ましく、260μm以上、700μm以下とすることが更に好ましい。
仮焼結する温度は800℃以上、1400℃以下程度とすればよく、より好ましくは900℃以上、1300℃以下程度、更に好ましく1000℃以上、1200℃以下程度である。
また、仮焼結する雰囲気は、大気、酸素雰囲気等であればよい。
また、アノード層材料は、強度を確保しつつ、NiOを還元しやすくし、抵抗を小さくするという観点から、厚みが200μm以上、1000μm以下程度となるように成形することが好ましく、250μm以上、800μm以下とすることがより好ましく、260μm以上、700μm以下とすることが更に好ましい。
仮焼結する温度は800℃以上、1400℃以下程度とすればよく、より好ましくは900℃以上、1300℃以下程度、更に好ましく1000℃以上、1200℃以下程度である。
また、仮焼結する雰囲気は、大気、酸素雰囲気等であればよい。
アノード層を複数のアノード層が積層された構造とする場合には、上記のようにして形成したアノード層(仮焼結体)の一方の面に、組成が異なるアノード層材料を塗布して乾燥させればよい。アノード層材料を塗布する方法は特に限定されず、例えば、スクリーン印刷やスパッタリング等によって行なえばよい。
アノード層材料は、最終的に形成されるアノード層の厚みが200μm以上、1000μm以下程度、より好ましくは250μm以上、800μm以下程度、更に好ましくは260μm以上、700μm以下程度となるように成形したり、仮焼結体に塗布したりすればよい。
アノード層材料は、最終的に形成されるアノード層の厚みが200μm以上、1000μm以下程度、より好ましくは250μm以上、800μm以下程度、更に好ましくは260μm以上、700μm以下程度となるように成形したり、仮焼結体に塗布したりすればよい。
(電解質層塗布工程)
電解質層塗布工程は、アノード層の一方の面に電解質層材料を塗布して乾燥させる工程である。アノード層が複数のアノード層の積層体である場合には、電解質層の熱膨張率により近いアノード層の側に電解質層材料を塗布すればよい。
電解質層材料は、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含むものであればよい。ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物としては、上記の、本発明の実施形態に係る固体電解質部材において説明した前記式[1]で表される金属酸化物と同じものを用いることができる。
電解質層材料の塗布方法は特に限定されず、例えば、スクリーン印刷やグリーンシート等によって行なえばよい。
電解質層を複数の電解質層が積層された構造とする場合には、上記のようにして電解質層材料を塗布して乾燥させた後に、組成が異なる電解質層材料を更に塗布して乾燥させればよい。
電解質層材料は、最終的に形成される電解質層の厚みが5μm以上、100μm以下程度、より好ましくは5μm以上、50μm以下程度、更に好ましくは10μm以上、30μm以下程度となるように塗布すればよい。
電解質層塗布工程は、アノード層の一方の面に電解質層材料を塗布して乾燥させる工程である。アノード層が複数のアノード層の積層体である場合には、電解質層の熱膨張率により近いアノード層の側に電解質層材料を塗布すればよい。
電解質層材料は、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含むものであればよい。ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物としては、上記の、本発明の実施形態に係る固体電解質部材において説明した前記式[1]で表される金属酸化物と同じものを用いることができる。
電解質層材料の塗布方法は特に限定されず、例えば、スクリーン印刷やグリーンシート等によって行なえばよい。
電解質層を複数の電解質層が積層された構造とする場合には、上記のようにして電解質層材料を塗布して乾燥させた後に、組成が異なる電解質層材料を更に塗布して乾燥させればよい。
電解質層材料は、最終的に形成される電解質層の厚みが5μm以上、100μm以下程度、より好ましくは5μm以上、50μm以下程度、更に好ましくは10μm以上、30μm以下程度となるように塗布すればよい。
(焼結工程)
焼結工程は、アノード層の表面に電解質層が塗布された積層体を焼結して、アノード層と電解質層とが積層された固体電解質部材を形成する工程である。
従来の固体電解質部材の製造方法では、前述の図6に示すように、アノード層62の熱膨張率と電解質層61の熱膨張率が大きく異なるため、大型の固体電解質部材を製造しようとすると、アノード層62と電解質層61との間の熱歪が大きくなって割れやヒビが発生したり、変形が生じたりしてしまっていた。
本発明の実施形態に係る固体電解質部材の製造方法では、アノード層と接する電解質層の熱膨張率とアノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内であり熱歪が小さいため、焼結時に変形や割れ、ヒビを発生させずに大型の固体電解質部材を製造することができる。
焼結する温度は1100℃以上、1600℃以下程度とすればよく、より好ましくは1200℃以上、1550℃以下程度、更に好ましくは1250℃以上、1500℃以下程度である。
また、焼結する雰囲気は、大気、酸素雰囲気等であればよい。
焼結工程は、アノード層の表面に電解質層が塗布された積層体を焼結して、アノード層と電解質層とが積層された固体電解質部材を形成する工程である。
従来の固体電解質部材の製造方法では、前述の図6に示すように、アノード層62の熱膨張率と電解質層61の熱膨張率が大きく異なるため、大型の固体電解質部材を製造しようとすると、アノード層62と電解質層61との間の熱歪が大きくなって割れやヒビが発生したり、変形が生じたりしてしまっていた。
本発明の実施形態に係る固体電解質部材の製造方法では、アノード層と接する電解質層の熱膨張率とアノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内であり熱歪が小さいため、焼結時に変形や割れ、ヒビを発生させずに大型の固体電解質部材を製造することができる。
焼結する温度は1100℃以上、1600℃以下程度とすればよく、より好ましくは1200℃以上、1550℃以下程度、更に好ましくは1250℃以上、1500℃以下程度である。
また、焼結する雰囲気は、大気、酸素雰囲気等であればよい。
(カソード層形成工程)
上記のようにして得られる固体電解質部材にカソード層を形成する場合には、電解質層のアノード層が形成された面とは反対側の表面にカソード層材料を塗布して焼結すればよい。
カソード層材料は、上記の、本発明の実施形態に係る固体電解質部材において説明したカソード層に含まれる金属酸化物(前記式[A]から前記式[D]のいずれかで表される金属酸化物からなる群より選択された少なくとも1種)を含むものであればよい。
カソード層材料の塗布方法は特に限定されず、例えば、スクリーン印刷やスパッタリング等によって行なえばよい。
カソード層材料は、最終的に形成されるカソード層の集電性を高くするという観点から、厚みが0.01μm以上、100μm以下程度、より好ましくは0.05μm以上、50μm以下程度、更に好ましくは0.1μm以上、20μm以下程度となるように塗布すればよい。
焼結する温度は800℃以上、1300℃以下程度とすればよく、より好ましくは900℃以上、1200℃以下程度、更に好ましくは1000℃以上、1100℃以下程度である。
また、焼結する雰囲気は、大気、酸素雰囲気等であればよい。
上記のようにして得られる固体電解質部材にカソード層を形成する場合には、電解質層のアノード層が形成された面とは反対側の表面にカソード層材料を塗布して焼結すればよい。
カソード層材料は、上記の、本発明の実施形態に係る固体電解質部材において説明したカソード層に含まれる金属酸化物(前記式[A]から前記式[D]のいずれかで表される金属酸化物からなる群より選択された少なくとも1種)を含むものであればよい。
カソード層材料の塗布方法は特に限定されず、例えば、スクリーン印刷やスパッタリング等によって行なえばよい。
カソード層材料は、最終的に形成されるカソード層の集電性を高くするという観点から、厚みが0.01μm以上、100μm以下程度、より好ましくは0.05μm以上、50μm以下程度、更に好ましくは0.1μm以上、20μm以下程度となるように塗布すればよい。
焼結する温度は800℃以上、1300℃以下程度とすればよく、より好ましくは900℃以上、1200℃以下程度、更に好ましくは1000℃以上、1100℃以下程度である。
また、焼結する雰囲気は、大気、酸素雰囲気等であればよい。
以下、実施例に基づいて本発明をより詳細に説明するが、これらの実施例は例示であって、本発明の固体電解質部材等はこれらに限定されるものではない。本発明の範囲は特許請求の範囲の記載によって示され、特許請求の範囲の記載と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
[実施例1]
以下のようにして、アノード層の一方の面に第1電解質層と第2電解質層とが積層された構造を有する固体電解質部材No.1を作製した。
(アノード層形成工程)
アノード層材料としては、NiO粉末と、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物(前記式[1]で表される金属酸化物)のBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)粉末と、を用いた。NiO粉末とBZY粉末との質量比は7:3となるようにした。前記アノード層材料を、イソプロパノールを溶媒としてボールミルで混合し、乾燥させた。乾燥後のアノード層材料を、直径100mmの円形で厚さが500μmとなるように一軸成形した。この成形品を大気下、1000℃で仮焼結してアノード層を作製した。
(電解質層塗布工程)
電解質層塗布工程は、まずアノード層の一方の面に第1電解質層材料を塗布して乾燥させ、続いて第1電解質層材料による層の表面に第2電解質層材料を塗布して乾燥させることにより行った。
−第1電解質層材料の塗布−
第1電解質層を形成するための第1電解質層材料としては、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物(前記式[1]で表される金属酸化物)のBaCe0.8Y0.2O2.9(BCY)粉末を用いた。前記第1電解質層材料を、バインダーのエチルセルロース(エトキシ化度約49%)と、溶媒のαテルピネオールと混合してペースト状にした。この第1電解質層材料のペーストを、スクリーン印刷により前記アノード層の一方の面に塗布した。続いて、800℃に加熱して乾燥させ、バインダーと溶媒を除去することにより第1電解質層材料による層を形成した。第1電解質層材料による層の厚みは、10μmとなるようにした。
−第2電解質層材料の塗布−
第2電解質層を形成するための第2電解質層材料としては、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物(前記式[1]で表される金属酸化物)のBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)粉末を用いた。前記第2電解質層材料を、バインダーのエチルセルロース(エトキシ化度約49%)と、溶媒のαテルピネオールと混合してペースト状にした。この第2電解質層材料のペーストをスクリーン印刷により前記第1電解質層材料による層の表面に塗布した。続いて、800℃に加熱して乾燥させ、バインダーと溶媒を除去することにより第2電解質層材料による層を形成した。第2電解質層材料による層の厚みは、10μmとなるようにした。
(焼結工程)
アノード層の一方の面に第1電解質層材料による層と第2電解質層材料による層が形成された積層体を大気下、1450℃で焼結した。これにより、アノード層の一方の面に第1電解質層と第2電解質層とが積層された構造を有する固体電解質部材No.1が得られた。
以下のようにして、アノード層の一方の面に第1電解質層と第2電解質層とが積層された構造を有する固体電解質部材No.1を作製した。
(アノード層形成工程)
アノード層材料としては、NiO粉末と、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物(前記式[1]で表される金属酸化物)のBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)粉末と、を用いた。NiO粉末とBZY粉末との質量比は7:3となるようにした。前記アノード層材料を、イソプロパノールを溶媒としてボールミルで混合し、乾燥させた。乾燥後のアノード層材料を、直径100mmの円形で厚さが500μmとなるように一軸成形した。この成形品を大気下、1000℃で仮焼結してアノード層を作製した。
(電解質層塗布工程)
電解質層塗布工程は、まずアノード層の一方の面に第1電解質層材料を塗布して乾燥させ、続いて第1電解質層材料による層の表面に第2電解質層材料を塗布して乾燥させることにより行った。
−第1電解質層材料の塗布−
第1電解質層を形成するための第1電解質層材料としては、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物(前記式[1]で表される金属酸化物)のBaCe0.8Y0.2O2.9(BCY)粉末を用いた。前記第1電解質層材料を、バインダーのエチルセルロース(エトキシ化度約49%)と、溶媒のαテルピネオールと混合してペースト状にした。この第1電解質層材料のペーストを、スクリーン印刷により前記アノード層の一方の面に塗布した。続いて、800℃に加熱して乾燥させ、バインダーと溶媒を除去することにより第1電解質層材料による層を形成した。第1電解質層材料による層の厚みは、10μmとなるようにした。
−第2電解質層材料の塗布−
第2電解質層を形成するための第2電解質層材料としては、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物(前記式[1]で表される金属酸化物)のBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)粉末を用いた。前記第2電解質層材料を、バインダーのエチルセルロース(エトキシ化度約49%)と、溶媒のαテルピネオールと混合してペースト状にした。この第2電解質層材料のペーストをスクリーン印刷により前記第1電解質層材料による層の表面に塗布した。続いて、800℃に加熱して乾燥させ、バインダーと溶媒を除去することにより第2電解質層材料による層を形成した。第2電解質層材料による層の厚みは、10μmとなるようにした。
(焼結工程)
アノード層の一方の面に第1電解質層材料による層と第2電解質層材料による層が形成された積層体を大気下、1450℃で焼結した。これにより、アノード層の一方の面に第1電解質層と第2電解質層とが積層された構造を有する固体電解質部材No.1が得られた。
[比較例1]
以下のようにして、アノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有する固体電解質部材No.Aを作製した。
(アノード層形成工程)
実施例1と同様に、NiO粉末とBZY粉末とを質量比が7:3となるように混合したアノード層材料を成形後に仮焼結してアノード層を作製した。
(電解質層塗布工程)
電解質層を形成するための電解質層材料としては、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物(前記式[1]で表される金属酸化物)のBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)粉末を用いた。前記電解質層材料を、バインダーのエチルセルロース(エトキシ化度約49%)と、溶媒のαテルピネオールと混合してペースト状にした。この電解質層材料のペーストをスクリーン印刷により前記アノード層の一方の面に塗布した。続いて、800℃に加熱して乾燥させ、バインダーと溶媒を除去することにより電解質層材料による層を形成した。電解質層材料による層の厚みは、20μmとなるようにした。
(焼結工程)
アノード層の一方の面に電解質層材料による層が形成された積層体を大気下、1450℃で焼結した。これにより、アノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有する固体電解質部材No.Aが得られた。
以下のようにして、アノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有する固体電解質部材No.Aを作製した。
(アノード層形成工程)
実施例1と同様に、NiO粉末とBZY粉末とを質量比が7:3となるように混合したアノード層材料を成形後に仮焼結してアノード層を作製した。
(電解質層塗布工程)
電解質層を形成するための電解質層材料としては、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物(前記式[1]で表される金属酸化物)のBaZr0.8Y0.2O2.9(BZY)粉末を用いた。前記電解質層材料を、バインダーのエチルセルロース(エトキシ化度約49%)と、溶媒のαテルピネオールと混合してペースト状にした。この電解質層材料のペーストをスクリーン印刷により前記アノード層の一方の面に塗布した。続いて、800℃に加熱して乾燥させ、バインダーと溶媒を除去することにより電解質層材料による層を形成した。電解質層材料による層の厚みは、20μmとなるようにした。
(焼結工程)
アノード層の一方の面に電解質層材料による層が形成された積層体を大気下、1450℃で焼結した。これにより、アノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有する固体電解質部材No.Aが得られた。
<評価>
(歩留まり)
実施例1の固体電解質部材No.1と、比較例1の固体電解質部材No.Aをそれぞれ30個作製し、割れやヒビの発生の有無を調べた。
その結果、実施例1の固体電解質部材No.1では1個が割れ、3個にヒビが発生しており、歩留まりは87%であった。また、比較例1の固体電解質部材No.Aは8個が割れ、12個にヒビが発生しており、歩留まりは33%であった。
結果を表1に示す
(歩留まり)
実施例1の固体電解質部材No.1と、比較例1の固体電解質部材No.Aをそれぞれ30個作製し、割れやヒビの発生の有無を調べた。
その結果、実施例1の固体電解質部材No.1では1個が割れ、3個にヒビが発生しており、歩留まりは87%であった。また、比較例1の固体電解質部材No.Aは8個が割れ、12個にヒビが発生しており、歩留まりは33%であった。
結果を表1に示す
(変形の度合い)
製造段階で割れやヒビが発生しなかった実施例1の固体電解質部材No.1と、比較例1の固体電解質部材No.Aについて、変形(反り)の度合いを調べた。各固体電解質部材の反りは、図6に示すように、平板に静置した固体電解質部材の一番低い部分の高さと一番高い部分の高さの差hを測定することにより評価した。
その結果、実施例1の固体電解質部材No.1はいずれも反りが0.5mmから0.6mmの範囲内であった。これに対し、比較例1の固体電解質部材No.Aはいずれも反りが1.0mmから1.1mmの範囲内であった。
反りが1.0mm以下の固体電解質部材を良好な固体電解質部材としての合格ラインとすると、実施例1の固体電解質部材No.1は26個全てが合格であり、比較例1の固体電解質部材No.Aは7個が合格であった。
結果を表1に示す。
製造段階で割れやヒビが発生しなかった実施例1の固体電解質部材No.1と、比較例1の固体電解質部材No.Aについて、変形(反り)の度合いを調べた。各固体電解質部材の反りは、図6に示すように、平板に静置した固体電解質部材の一番低い部分の高さと一番高い部分の高さの差hを測定することにより評価した。
その結果、実施例1の固体電解質部材No.1はいずれも反りが0.5mmから0.6mmの範囲内であった。これに対し、比較例1の固体電解質部材No.Aはいずれも反りが1.0mmから1.1mmの範囲内であった。
反りが1.0mm以下の固体電解質部材を良好な固体電解質部材としての合格ラインとすると、実施例1の固体電解質部材No.1は26個全てが合格であり、比較例1の固体電解質部材No.Aは7個が合格であった。
結果を表1に示す。
(熱膨張率)
固体電解質部材No.1と固体電解質部材No.Aの各層の熱膨張率を、リガク社製のX線回折装置(RAD―RX型)によって、150℃/minで昇温し、所定の温度で30分保持することによって測定した。
その結果、固体電解質部材No.1は、アノード層の熱膨張率が12.3×10−6K−1であり、第1電解質層の熱膨張率が11.2×10−6K−1であり、第2電解質層の熱膨張率が8.7×10−6K−1であった。各層の熱膨張率の差を2.5×10−6K−1以内にすることができていたため、歩留まりが高く、変形も小さくすることができていたと考えられる。
一方、固体電解質部材No.Aは、アノード層の熱膨張率が12.3×10−6K−1であり、電解質層の熱膨張率が8.7×10−6K−1であった。アノード層の熱膨張率と電解質層の熱膨張率の差を2.5×10−6K−1以内にすることができていなかったため、歩留まりが低く、変形も大きかったと考えられる。
固体電解質部材No.1と固体電解質部材No.Aの各層の熱膨張率を、リガク社製のX線回折装置(RAD―RX型)によって、150℃/minで昇温し、所定の温度で30分保持することによって測定した。
その結果、固体電解質部材No.1は、アノード層の熱膨張率が12.3×10−6K−1であり、第1電解質層の熱膨張率が11.2×10−6K−1であり、第2電解質層の熱膨張率が8.7×10−6K−1であった。各層の熱膨張率の差を2.5×10−6K−1以内にすることができていたため、歩留まりが高く、変形も小さくすることができていたと考えられる。
一方、固体電解質部材No.Aは、アノード層の熱膨張率が12.3×10−6K−1であり、電解質層の熱膨張率が8.7×10−6K−1であった。アノード層の熱膨張率と電解質層の熱膨張率の差を2.5×10−6K−1以内にすることができていなかったため、歩留まりが低く、変形も大きかったと考えられる。
[実施例2]
実施例1で得た固体電解質部材No.1のうち、前記評価で合格ラインに達した3個の固体電解質部材No.1の第2電解質層の表面に、以下のようにしてカソード層を形成して固体電解質部材No.2を作製した。
(カソード層の形成)
カソード層材料としては、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物(前記式[B]で表される金属酸化物)のLSCF6428(La0.6Sr0.4Co0.2Fe0.8O3−δ;δは酸素欠損量)粉末を用いた。
カソード層材料をスクリーン印刷により固体電解質部材No.1の第2電解質層の表面に塗布した。カソード層材料の厚みは20μmとなるようにした。
カソード層材料を塗布した積層体を大気下、1000℃で焼結した。
これにより、電解質層(第1電解質層と第2電解質層の積層体)がアノード層とカソード層とによって挟まれた構造を有する固体電解質部材No.2が得られた。
実施例1で得た固体電解質部材No.1のうち、前記評価で合格ラインに達した3個の固体電解質部材No.1の第2電解質層の表面に、以下のようにしてカソード層を形成して固体電解質部材No.2を作製した。
(カソード層の形成)
カソード層材料としては、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物(前記式[B]で表される金属酸化物)のLSCF6428(La0.6Sr0.4Co0.2Fe0.8O3−δ;δは酸素欠損量)粉末を用いた。
カソード層材料をスクリーン印刷により固体電解質部材No.1の第2電解質層の表面に塗布した。カソード層材料の厚みは20μmとなるようにした。
カソード層材料を塗布した積層体を大気下、1000℃で焼結した。
これにより、電解質層(第1電解質層と第2電解質層の積層体)がアノード層とカソード層とによって挟まれた構造を有する固体電解質部材No.2が得られた。
[比較例2]
実施例2において用いた固体電解質部材No.1の替わりに、前記評価で合格ラインに達した3個の固体電解質部材No.Aを用いた以外は実施例2と同様にして、電解質層がアノード層とカソード層とによって挟まれた構造を有する固体電解質部材No.Bを作製した。
実施例2において用いた固体電解質部材No.1の替わりに、前記評価で合格ラインに達した3個の固体電解質部材No.Aを用いた以外は実施例2と同様にして、電解質層がアノード層とカソード層とによって挟まれた構造を有する固体電解質部材No.Bを作製した。
<評価>
(発電評価)
実施例2の固体電解質部材No.2と、比較例2の固体電解質部材No.Bについて発電評価を行なった。3個の固体電解質部材No.2の開回路電圧(OCV:Open Circuit Voltage)の平均は1.082Vであった。これに対し、3個の固体電解質部材No.BのOCVの平均は1.030Vであった。結果を表2に示す。
固体電解質部材No.2はミクロなクラックがより少ないため、固体電解質部材No.BよりもOCVが高くなっていたと考えられる。
なお、発電評価はサンプル温度が600℃でアノードに水素100%ガス0.3L/minを、カソードに空気0.9L/minを用いることにより行なった。
(発電評価)
実施例2の固体電解質部材No.2と、比較例2の固体電解質部材No.Bについて発電評価を行なった。3個の固体電解質部材No.2の開回路電圧(OCV:Open Circuit Voltage)の平均は1.082Vであった。これに対し、3個の固体電解質部材No.BのOCVの平均は1.030Vであった。結果を表2に示す。
固体電解質部材No.2はミクロなクラックがより少ないため、固体電解質部材No.BよりもOCVが高くなっていたと考えられる。
なお、発電評価はサンプル温度が600℃でアノードに水素100%ガス0.3L/minを、カソードに空気0.9L/minを用いることにより行なった。
11 電解質層
12 アノード層
21 電解質層
21a 第1電解質層
21b 第2電解質層
22 アノード層
31 電解質層
32 アノード層
32a 第1アノード層
32b 第2アノード層
41 電解質層
41a 第1電解質層
41b 第2電解質層
42 アノード層
42a 第1アノード層
42b 第2アノード層
51 電解質層
52 アノード層
53 カソード層
61 電解質層
62 アノード層
64 敷板
12 アノード層
21 電解質層
21a 第1電解質層
21b 第2電解質層
22 アノード層
31 電解質層
32 アノード層
32a 第1アノード層
32b 第2アノード層
41 電解質層
41a 第1電解質層
41b 第2電解質層
42 アノード層
42a 第1アノード層
42b 第2アノード層
51 電解質層
52 アノード層
53 カソード層
61 電解質層
62 アノード層
64 敷板
Claims (14)
- アノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有するプロトン伝導性の固体電解質部材であって、
前記電解質層は、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含む層であり、
前記アノード層はNiO及び前記金属酸化物を含む層であり、
前記金属酸化物は、下記式[1]で表される金属酸化物又は下記式[1]で表される金属酸化物の混合物もしくは固溶体であり、
前記アノード層と接する前記電解質層の熱膨張率は、前記アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である、
固体電解質部材。
AaBbMcO3−δ1 式[1]
(式中、Aはバリウム(Ba)、カルシウム(Ca)及びストロンチウム(Sr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Bはセリウム(Ce)及びジルコニウム(Zr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Mはイットリウム(Y)、イッテルビウム(Yb)、エルビウム(Er)、ホルミウム(Ho)、ツリウム(Tm)、ガドリニウム(Gd)、インジウム(In)及びスカンジウム(Sc)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示し、aは0.85≦a≦1を満たす数、bは0.50≦b<1を満たす数、cはc=1−bを満たす数、δ1は酸素欠損量である。) - 前記電解質層に含まれる金属酸化物は、BadZreCefY1−e−fO3−δ2(但し、dは0.85≦d≦1を満たす数、eは0≦e≦1を満たす数、fは0≦f≦1を満たす数、δ2は酸素欠損量であり、eとfは同時に0となることはない)である、請求項1に記載の固体電解質部材。
- 前記電解質層は、二層以上の積層構造を有しており、かつ、前記アノード層と接する電解質層の熱膨張率は前記アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である、請求項1又は請求項2に記載の固体電解質部材。
- 前記アノード層は、二層以上の積層構造を有しており、かつ、前記電解質層と接するアノード層の熱膨張率は前記電解質層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である、請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の固体電解質部材。
- 前記電解質層は、第1電解質層と第2電解質層とが積層された構造を有しており、
前記第1電解質層に含まれる金属酸化物は、BagCehY1−hO3−δ3(但し、gは0.85≦g≦1を満たす数、hは0.50≦h≦0.99を満たす数、δ3は酸素欠損量である)であり、
前記第2電解質層に含まれる金属酸化物は、BaiZrjY1−jO3−δ4(但し、iは0.85≦i≦1を満たす数、jは0.50≦j≦0.99を満たす数、δ4は酸素欠損量である)であり、
前記第1電解質層は前記アノード層と接している、
請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の固体電解質部材。 - 前記アノード層と接する前記電解質層に含まれる金属酸化物は、BakZrlCemY1−l−mO3−δ5(但し、kは0.85≦k≦1を満たす数、lは0<l≦1を満たす数、mは0<m≦1を満たす数、δ5は酸素欠損量である)であり、
前記電解質層と接する前記アノード層に含まれる金属酸化物は、BanZroY1−oO3−δ6(但し、nは0.85≦n≦1を満たす数、oは0.50≦o≦0.99を満たす数、δ6は酸素欠損量である)であり、
前記電解質層と接する前記アノード層における前記NiO含有率は、20質量%以上、80質量%以下である、
請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の固体電解質部材。 - 前記アノード層と接する前記電解質層に含まれる前記金属酸化物と、前記電解質層に接する前記アノード層に含まれる前記金属酸化物は、BapZrqY1−qO3−δ7(但し、pは0.85≦p≦1を満たす数、qは0.50≦q≦0.99を満たす数、δ7は酸素欠損量である)であり、
前記電解質層と接する前記アノード層における前記NiOの含有率は、20質量%以上、80質量%以下である、
請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の固体電解質部材。 - 前記電解質層の厚みが5μm以上、100μm以下である、請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の固体電解質部材。
- 前記アノード層と接する前記電解質層の熱膨張率と、前記電解質層に接する前記アノード層の熱膨張率との差が1.0×10−6K−1以内である、請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の固体電解質部材。
- 前記電解質層の、前記アノード層が積層されている側の面とは反対側の表面にカソード層が積層されている、請求項1から請求項9のいずれか一項に記載の固体電解質部材。
- 請求項10に記載の固体電解質部材を用いた固体酸化物型燃料電池。
- 請求項10に記載の固体電解質部材を用いた水電解装置。
- 請求項10に記載の固体電解質部材を用いた水素ポンプ。
- 請求項1に記載の固体電解質部材、を製造する方法であって、
アノード層材料を成形し、仮焼結してアノード層を形成する、アノード層形成工程と、
前記アノード層の一方の面に電解質層材料を塗布して乾燥させる、電解質層塗布工程と、
前記電解質層材料が塗布された前記アノード層を焼結してアノード層の一方の面に電解質層が積層された構造を有する固体電解質部材を形成する焼結工程と、
を有し、
前記電解質層材料は、ペロブスカイト型結晶構造を有する金属酸化物を含み、
前記アノード層材料は、NiO及び前記金属酸化物を含み、
前記金属酸化物は、下記式[1]で表される金属酸化物又は下記式[1]で表される金属酸化物の混合物もしくは固溶体であり、
前記アノード層と接する前記電解質層の熱膨張率は、前記アノード層の熱膨張率との差が2.5×10−6K−1以内である、
固体電解質部材の製造方法。
AaBbMcO3−δ1 式[1]
(式中、Aはバリウム(Ba)、カルシウム(Ca)及びストロンチウム(Sr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Bはセリウム(Ce)及びジルコニウム(Zr)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素、Mはイットリウム(Y)、イッテルビウム(Yb)、エルビウム(Er)、ホルミウム(Ho)、ツリウム(Tm)、ガドリニウム(Gd)、インジウム(In)及びスカンジウム(Sc)からなる群より選ばれた少なくとも1種の元素を示し、aは0.85≦a≦1を満たす数、bは0.50≦b<1を満たす数、cはc=1−bを満たす数、δ1は酸素欠損量である。)
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