JP2020121374A - How to register the origin position of cutting equipment - Google Patents
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Abstract
【課題】チャックテーブルの保持面の高さにばらつきがあっても被加工物に対する高精度な切り込み深さを実現することを可能とすること。【解決手段】切削装置の原点位置登録方法は、チャックテーブルの保持面に所定の厚さのダイシングテープを保持するシート保持ステップST1と、チャックテーブルの複数のXY座標で、ダイシングテープの表面から切削ユニットをZ軸方向に所定量昇降させ、切削ブレードでダイシングテープを完全切断しない深さの切削痕を形成する切削痕形成ステップST2と、XY座標に対する複数の該切削痕の長さをカメラユニットで検出し、切削痕の長さと切削ブレードの外径とから切削痕の切り込み深さを算出し、切り込み深さとダイシングテープの厚さとから原点位置をXY座標に対応させて割り出して記憶する原点位置登録ステップST3と、を備える。【選択図】図4PROBLEM TO BE SOLVED: To realize a highly accurate cutting depth for a work piece even if the height of a holding surface of a chuck table varies. SOLUTION: A method of registering an origin position of a cutting device is to cut from the surface of a dying tape with a sheet holding step ST1 for holding a dying tape having a predetermined thickness on a holding surface of the chuck table and a plurality of XY coordinates of the chuck table. The unit is moved up and down by a predetermined amount in the Z-axis direction to form a cutting mark having a depth that does not completely cut the dicing tape with the cutting blade. Detect, calculate the cutting depth of the cutting mark from the length of the cutting mark and the outer diameter of the cutting blade, and calculate and store the origin position corresponding to the XY coordinates from the cutting depth and the thickness of the dicing tape. Step ST3 and. [Selection diagram] Fig. 4
Description
本発明は、切削装置の原点位置登録方法に関する。 The present invention relates to a method for registering an origin position of a cutting device.
半導体ウェーハ等の各種板状物をスピンドルに装着した切削ブレードで切削し、所望の深さの溝を形成したり分割したりする加工が知られている。たとえば、被加工物に所望の深さの溝を深さ精度良く形成する場合、被加工物の厚さ(高さ)に合わせて切削ブレードの高さを制御する技術が開発されている。 There is known a process of cutting various plate-like objects such as semiconductor wafers with a cutting blade mounted on a spindle to form or divide a groove having a desired depth. For example, in the case of forming a groove having a desired depth in a workpiece with high depth accuracy, a technique for controlling the height of a cutting blade according to the thickness (height) of the workpiece has been developed.
さらに精度を良くするには、切削ブレードの刃先とチャックテーブルの保持面との距離が正確に制御される必要がある。切削ブレードの先端(下端)とチャックテーブルの保持面とが接触する点を所謂原点位置として登録し(セットアップ)、そこからの距離(高さ)を制御することで切り込み深さを制御するのが一般的な切削装置の運用方法である。しかしながら、チャックテーブルは厚さばらつきや傾きがあるため、1箇所の原点位置を保持面全面に適用することは、切り込み深さの精度に誤差が生じてしまう。 To further improve the accuracy, it is necessary to accurately control the distance between the cutting edge of the cutting blade and the holding surface of the chuck table. The point where the tip (lower end) of the cutting blade contacts the holding surface of the chuck table is registered as the so-called origin position (setup), and the depth of cut is controlled by controlling the distance (height) from it. This is a general cutting machine operation method. However, since the chuck table has thickness variations and inclinations, applying one origin position to the entire holding surface causes an error in the cutting depth accuracy.
また、スピンドルを割り出し送り方向(Y軸方向)に移動させるユニットやチャックテーブルを加工送り方向(X軸方向)に移動させるユニットもその真直性にも限界があるため、非常に高い精度で切り込み深さを制御したい場合、チャックテーブル全面における原点位置を登録し、それに合わせてX,Y,Zの各軸の移動を補正させる必要がある。 In addition, since the unit that moves the spindle in the indexing feed direction (Y-axis direction) and the unit that moves the chuck table in the machining feed direction (X-axis direction) also have a limit on the straightness, the cutting depth can be very high. In order to control the height, it is necessary to register the origin position on the entire surface of the chuck table and correct the movement of each of the X, Y, and Z axes accordingly.
このために、本発明の出願人は、ウェーハの高さを測定しそれに基づいて切り込み深さを制御する加工装置を提案している(例えば、特許文献1参照)。 For this reason, the applicant of the present invention has proposed a processing apparatus that measures the height of a wafer and controls the cutting depth based on the height (see, for example, Patent Document 1).
前述した加工装置は、チャックテーブルの保持面の高さにばらつきがあっても被加工物に対する高精度な切り込み深さを実現することが求められている。 The above-described processing apparatus is required to realize a highly accurate cutting depth for the workpiece even if the height of the holding surface of the chuck table varies.
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、チャックテーブルの保持面の高さにばらつきがあっても被加工物に対する高精度な切り込み深さを実現することを可能とする切削装置の原点位置登録方法を提供することである。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to realize a highly accurate cutting depth for a workpiece even if the height of the holding surface of the chuck table varies. It is to provide a method of registering an origin position of a cutting device.
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の切削装置の原点位置登録方法は、被加工物を保持面で保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を切削するスピンドルに切削ブレードが装着された切削ユニットと、該チャックテーブルと該切削ユニットとを該保持面と平行なX軸方向へ相対的に移動させるX軸移動ユニットと、該チャックテーブルと該切削ユニットとを該保持面と平行で該X軸方向と直交するY軸方向へ相対的に移動させるY軸移動ユニットと、該チャックテーブルと該切削ユニットとを該保持面と直交するZ軸方向へ相対的に移動させるZ軸移動ユニットと、該保持面に保持された被加工物を撮影するカメラユニットと、該保持面と該切削ブレードの先端が接触する切削ユニットの該Z軸方向の高さを原点位置とし該保持面のXY座標に対応したそれぞれの該原点位置を登録する原点位置登録部と、該原点位置登録部に登録された情報に基づいて該切削ユニットの該Z軸方向の高さをXY座標に応じて補正する補正部と、を備える切削装置を用いた原点位置の登録方法であって、該チャックテーブルの保持面に所定の厚さのシートを保持するシート保持ステップと、該チャックテーブルの複数のXY座標で、該シートの表面から該切削ユニットを該Z軸方向に所定量昇降させ、該切削ブレードで該シートを完全切断しない深さの切削痕を形成する切削痕形成ステップと、XY座標に対する複数の該切削痕の長さを該カメラユニットで検出し、該切削痕の長さと該切削ブレードの外径とから該切削痕の切り込み深さを算出し、該切り込み深さと該シートの厚さとから該原点位置を該XY座標に対応させて割り出して記憶する原点位置登録ステップと、を備えることを特徴とする。 In order to solve the above-mentioned problems and to achieve the object, an origin position registration method for a cutting device according to the present invention provides a chuck table for holding a work piece on a holding surface and a work piece held by the chuck table. A cutting unit in which a cutting blade is attached to a spindle for cutting, an X-axis moving unit that relatively moves the chuck table and the cutting unit in the X-axis direction parallel to the holding surface, the chuck table, and the cutting unit. A Y-axis moving unit that relatively moves the unit in the Y-axis direction parallel to the holding surface and orthogonal to the X-axis direction, and the chuck table and the cutting unit in the Z-axis direction orthogonal to the holding surface. Z-axis moving unit for relatively moving, camera unit for photographing the workpiece held on the holding surface, and height in the Z-axis direction of the cutting unit where the holding surface and the tip of the cutting blade come into contact with each other. Is the origin position, and the origin position registration unit that registers each of the origin positions corresponding to the XY coordinates of the holding surface, and the height of the cutting unit in the Z-axis direction based on the information registered in the origin position registration unit. A sheet holding step of holding a sheet having a predetermined thickness on a holding surface of the chuck table, which is a method of registering an origin position using a cutting device including a correction unit that corrects the height according to XY coordinates. Forming cutting traces at a plurality of XY coordinates of the chuck table, by moving the cutting unit up and down in the Z-axis direction by a predetermined amount from the surface of the sheet to form cutting traces of a depth that does not completely cut the sheet with the cutting blade. Steps, the lengths of the plurality of cutting marks with respect to the XY coordinates are detected by the camera unit, the cutting depth of the cutting marks is calculated from the length of the cutting marks and the outer diameter of the cutting blade, and the cutting depth is calculated. And an origin position registration step of storing the origin position in association with the XY coordinates from the sheet thickness and the sheet thickness.
前記切削装置の原点位置登録方法において、該シートは、外周が環状のフレームに固定されているダイシングテープであり、該保持面は該ダイシングテープに覆われても良い。 In the origin position registration method of the cutting device, the sheet may be a dicing tape having an outer periphery fixed to an annular frame, and the holding surface may be covered with the dicing tape.
本発明は、チャックテーブルの保持面の高さにばらつきがあっても被加工物に対する高精度な切り込み深さを実現することを可能とすることができるという効果を奏する。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention has an effect that it is possible to realize a highly accurate cutting depth with respect to a workpiece even if the height of the holding surface of the chuck table varies.
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。 Modes (embodiments) for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited to the contents described in the embodiments below. Further, the constituent elements described below include those that can be easily conceived by those skilled in the art and those that are substantially the same. Furthermore, the configurations described below can be combined as appropriate. In addition, various omissions, substitutions, or changes in the configuration can be made without departing from the scope of the present invention.
〔実施形態1〕
本発明の実施形態1に係る切削装置の原点位置登録方法を図面に基いて説明する。図1は、実施形態1に係る切削装置の原点位置登録方法を実施する切削装置の構成例を示す斜視図である。図2は、図1に示された切削装置のZ軸方向位置検出ユニットの構成を模式的に示す図である。図3は、図1に示された切削装置の制御ユニットの原点位置登録部が原点位置を登録した情報を模式的に示す図である。
[Embodiment 1]
The origin position registration method of the cutting device according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing a configuration example of a cutting device that implements the origin position registration method of the cutting device according to the first embodiment. FIG. 2 is a diagram schematically showing the configuration of the Z-axis direction position detection unit of the cutting device shown in FIG. FIG. 3 is a diagram schematically showing information in which the origin position registration unit of the control unit of the cutting device shown in FIG. 1 registers the origin position.
実施形態1に係る切削装置の原点位置登録方法は、図1に示す切削装置1が実施する。図1に示された切削装置1は、図1に示す被加工物200を切削(加工に相当する)する加工装置である。実施形態1では、被加工物200は、シリコン、サファイア、ガリウムなどを母材とする円板状の半導体ウェーハや光デバイスウェーハ等のウェーハである。被加工物200は、表面201に格子状に形成された複数の分割予定ライン202によって格子状に区画された領域にデバイス203が形成されている。
The origin position registration method of the cutting device according to the first embodiment is implemented by the cutting device 1 shown in FIG. The cutting device 1 shown in FIG. 1 is a processing device for cutting (corresponding to processing) the
また、本発明の被加工物200は、中央部が薄化され、外周部に厚肉部が形成された所謂TAIKO(登録商標)ウェーハでもよく、ウェーハの他に、樹脂により封止されたデバイスを複数有した矩形状のパッケージ基板、セラミックス基板、フェライト基板、又はニッケル及び鉄の少なくとも一方を含む基板等でも良い。実施形態1において、被加工物200は、裏面204が外周縁に環状のフレーム206が装着されたダイシングテープ205に貼着されて、環状のフレーム206に支持されている。
Further, the
図1に示された切削装置1は、被加工物200をチャックテーブル10で保持し分割予定ライン202に沿って切削ブレード21で切削する装置である。切削装置1は、図1に示すように、被加工物200を保持面11で吸引保持するチャックテーブル10と、チャックテーブル10に保持された被加工物200を切削するう切削ブレード21がスピンドル22に装着された切削ユニット20と、チャックテーブル10の保持面11で保持された被加工物200を撮影するカメラユニット30と、制御ユニット100とを備える。
The cutting device 1 shown in FIG. 1 is a device that holds a
また、切削装置1は、図1に示すように、チャックテーブル10と切削ユニット20とを保持面11と平行なX軸方向へ相対的に移動させるX軸移動ユニット40と、チャックテーブル10と切削ユニット20とを保持面11と平行でX軸方向と直交するY軸方向へ相対的に移動させるY軸移動ユニット50と、チャックテーブル10と切削ユニット20とを保持面11と直交するZ軸方向へ相対的に移動させるZ軸移動ユニット60とを少なくとも備える。切削装置1は、図1に示すように、切削ユニット20を2つ備えた、即ち、2スピンドルのダイサ、いわゆるフェイシングデュアルタイプの切削装置1である。
Further, as shown in FIG. 1, the cutting device 1 includes an
チャックテーブル10は、円盤形状であり、被加工物200を保持する保持面11がポーラスセラミック等から形成されている。また、チャックテーブル10は、X軸移動ユニットにより切削ユニット20の下方の加工領域と、切削ユニット20の下方から離間して被加工物200が搬入出される搬入出領域とに亘ってX軸移動ユニット40によりX軸方向に移動自在に設けられ、かつ回転駆動源によりZ軸方向と平行な軸心回りに回転自在に設けられている。チャックテーブル10は、図示しない真空吸引源と接続され、真空吸引源により吸引されることで、保持面11に載置された被加工物200を吸引、保持する。実施形態1では、チャックテーブル10は、ダイシングテープ205を介して被加工物200の裏面204側を吸引、保持する。また、チャックテーブル10の周囲には、図1に示すように、環状のフレーム206をクランプするクランプ部12が複数設けられている。
The chuck table 10 has a disk shape, and the
切削ユニット20は、チャックテーブル10に保持された被加工物200を切削する切削ブレード21を着脱自在に装着した切削手段である。切削ユニット20は、それぞれ、チャックテーブル10に保持された被加工物200に対して、Y軸移動ユニット50によりY軸方向に移動自在に設けられ、かつ、Z軸移動ユニット60によりZ軸方向に移動自在に設けられている。
The
一方の切削ユニット20は、図1に示すように、Y軸移動ユニット50、Z軸移動ユニット60などを介して、装置本体2から立設した門型の支持フレーム3の一方の柱部4に設けられている。他方の切削ユニット20は、図1に示すように、Y軸移動ユニット50、Z軸移動ユニット60などを介して、支持フレーム3の他方の柱部5に設けられている。なお、支持フレーム3は、柱部4,5の上端同士を水平梁6により連結している。
As shown in FIG. 1, one of the cutting
切削ユニット20は、Y軸移動ユニット50及びZ軸移動ユニット60により、チャックテーブル10の保持面11の任意の位置に切削ブレード21を位置付け可能となっている。切削ユニット20は、Y軸移動ユニット50及びZ軸移動ユニット60によりY軸方向及びZ軸方向に移動自在に設けられたスピンドルハウジング23と、スピンドルハウジング23に軸心回りに回転自在に設けられかつモータにより回転されるとともに先端に切削ブレード21が装着されるスピンドル22とを備える。
The cutting
カメラユニット30は、切削ユニット20と一体的に移動するように、切削ユニット20に固定されている。カメラユニット30は、チャックテーブル10に保持された切削前の被加工物200の分割すべき領域を撮影する撮像素子を備えている。撮像素子は、例えば、CCD(Charge-Coupled Device)撮像素子又はCMOS(Complementary MOS)撮像素子である。カメラユニット30は、チャックテーブル10に保持された被加工物200を撮影して、被加工物200と切削ブレード21との位置合わせを行なうアライメントを遂行するため等の画像を得、得た画像を制御ユニット100に出力する。
The
X軸移動ユニット40は、チャックテーブル10を加工送り方向であるX軸方向に移動させることで、チャックテーブル10と切削ユニット20とを相対的にX軸方向に沿って加工送りするものである。Y軸移動ユニット50は、切削ユニット20を割り出し送り方向であるY軸方向に移動させることで、チャックテーブル10と切削ユニット20とを相対的にY軸方向に沿って割り出し送りするものである。Z軸移動ユニット60は、切削ユニット20を切り込み送り方向であるZ軸方向に移動させることで、チャックテーブル10と切削ユニット20とを相対的にZ軸方向に沿って切り込み送りするものである。
The
X軸移動ユニット40、Y軸移動ユニット50及びZ軸移動ユニット60は、軸心回りに回転自在に設けられた周知のボールねじ51,61、ボールねじ51,61を軸心回りに回転させる周知のパルスモータ52,62及びチャックテーブル10又は切削ユニット20をX軸方向、Y軸方向又はZ軸方向に移動自在に支持する周知のガイドレール53,63を備える。
The
また、切削装置1は、チャックテーブル10のX軸方向の位置を検出するため図示しないX軸方向位置検出ユニットと、切削ユニット20のY軸方向の位置を検出するための図示しないY軸方向位置検出ユニットと、切削ユニット20のZ軸方向の位置を検出するための図2に示すZ軸方向位置検出ユニット70とを備える。X軸方向位置検出ユニット及びY軸方向位置検出ユニットは、X軸方向、又はY軸方向と平行なリニアスケールと、X軸移動ユニット40又はY軸移動ユニット50によりX軸方向又はY軸方向に移動自在に設けられリニアスケールの目盛を読み取る読み取りヘッドとにより構成することができる。X軸方向位置検出ユニット、及びY軸方向位置検出ユニットは、読み取りヘッドが読み取ったリニアスケールの目盛を示す情報をチャックテーブル10のX軸方向の位置、又は切削ユニット20のY軸方向の位置を示す情報として制御ユニット100に出力する。
Further, the cutting device 1 includes an X-axis direction position detection unit (not shown) for detecting the position of the chuck table 10 in the X-axis direction, and a Y-axis direction position (not shown) for detecting the position of the cutting
実施形態1において、Z軸方向位置検出ユニット70は、図2に示すように、Y軸移動ユニット50によりY軸方向に移動される移動テーブル54(図1に示す)等に取り付けられたリニアスケール71と、Z軸移動ユニット60により切削ユニット20と一体にZ軸方向に移動自在に設けられた読み取りヘッド72とを備える。リニアスケール71は、Z軸方向に複数設けられた目盛73を備える。読み取りヘッド72は、リニアスケール71の読み取りヘッド72が対向する目盛73を読み取る。Z軸方向位置検出ユニット70は、読み取りヘッド72が読み取ったリニアスケール71の目盛73を示す情報を切削ユニット20のZ軸方向の位置として検出し、制御ユニット100に出力する。また、本発明では、Z軸方向位置検出ユニット70は、ボールねじ61を軸心回りに回転させるパルスモータ62のパルス数で切削ユニット20のZ軸方向の位置を検出しても良い。
In the first embodiment, the Z-axis direction
また、切削装置1は、切削前後の被加工物200をZ軸方向に間隔をあけて複数収容するカセット81が上面に載置されかつカセット81をZ軸方向に昇降移動させるカセットエレベータ80と、切削後の被加工物200を洗浄する洗浄ユニット90と、カセット81とチャックテーブル10と洗浄ユニット90との間で被加工物200を搬送する図示しない搬送ユニットとを備える。搬送ユニットは、切削前の被加工物200をチャックテーブル10の保持面11の予め定められた所定の位置に搬送する。
Further, the cutting device 1 includes a
制御ユニット100は、切削装置1の上述した各ユニットをそれぞれ制御して、被加工物200に対する加工動作を切削装置1に実施させるものである。具体的には、制御ユニット100は、搬送ユニットに切削加工前の被加工物200をカセット81からチャックテーブル10の保持面11に搬送させる。制御ユニット100は、チャックテーブル10に被加工物200を吸引保持しクランプ部12に環状のフレーム206をクランプさせた後、X軸移動ユニット40にチャックテーブル10を移動させて、カメラユニット30にチャックテーブル10上の被加工物200を撮影させる。制御ユニット100は、被加工物200と切削ブレード21との位置合わせを行うアライメントを遂行し、チャックテーブル10と切削ユニット20の切削ブレード21とを分割予定ライン202に沿って相対的に移動させながら分割予定ライン202に切削ブレード21を切り込ませる。
The
制御ユニット100は、切削ブレード21が全ての分割予定ライン202に切り込ませた後、チャックテーブル10の吸引保持及びクランプ部12のクランプを解除し、搬送ユニットにチャックテーブル10上の被加工物200を洗浄ユニット90に搬送させる。制御ユニット100は、洗浄ユニット90に被加工物200を洗浄させ、搬送ユニットに洗浄ユニット90から被加工物200をカセット81まで搬送させる。
The
制御ユニット100は、CPU(central processing unit)のようなマイクロプロセッサを有する演算処理装置と、ROM(read only memory)又はRAM(random access memory)のようなメモリを有する記憶装置と、入出力インターフェース装置とを有するコンピュータである。制御ユニット100の演算処理装置は、記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理を実施して、切削装置1を制御するための制御信号を、入出力インターフェース装置を介して切削装置1の上述した各ユニットに出力する。
The
また、制御ユニット100は、加工動作の状態やカメラユニット30が撮像した画像などを表示する図示しない表示ユニットと、オペレータが加工内容情報などを登録する際に用いる入力ユニットとが接続されている。加工内容情報は、記憶装置に記憶される。加工内容情報は、切削ブレード21を各分割予定ライン202に切り込ませる時の切削ブレード21の切刃の刃先の保持面11からのZ軸方向の高さが含まれる。表示ユニットは、液晶表示装置などにより構成される。入力ユニットは、表示ユニットの表示画面に設けられたタッチパネル又はキーボード等の外部入力装置等により構成される。
Further, the
また、制御ユニット100は、原点位置登録部101と、補正部102とを備える。原点位置登録部101は、保持面11のXY座標に対応したそれぞれの切削ユニット20のZ軸方向の原点位置302の情報300(図3に示す)を登録するものである。なお、原点位置302とは、保持面11と切削ブレード21の刃先の先端が接触する切削ユニット20のZ軸方向の高さであり、即ち、保持面11のZ軸方向の高さを示す位置である。実施形態1では、原点位置302とは、保持面11と切削ブレード21の刃先の先端が接触する時に、Z軸方向位置検出ユニット70が検出する切削ユニット20のZ軸方向の位置に対応したものでもある。
The
また、保持面11のXY座標とは、保持面11の予め定められた位置からのX軸方向及びY軸方向の距離で定められる保持面11上の座標である。原点位置登録部101は、保持面11の予め定められかつ互いに異なる複数の位置301それぞれの原点位置302とXY座標とが登録されている。即ち、原点位置登録部101は、図3に示すように、各位置301それぞれのXY座標と、各位置301の原点位置302とを1対1で対応付けた情報300を登録する。
The XY coordinates of the holding
なお、実施形態1では、保持面11の中心の位置301(以下、符号301−1で示す)のXY座標と、位置301−1の原点位置302(以下、符号302−1で示す)とを対応付けている。実施形態1では、保持面11の位置301−1からY軸方向に第1の距離離れた位置301(以下、符号301−2,301−3で示す)それぞれのXY座標と、各位置301−2,301−3ぞれぞれの原点位置302(以下、符号302−2,302−3で示す)とを対応付けている。実施形態1では、保持面11の位置301−1からY軸方向に第1の距離よりも長い第2の距離離れた位置301(以下、符号301−4,301−5で示す)それぞれのXY座標と、各位置301−4,301−5ぞれぞれの原点位置302(以下、符号302−4,302−5で示す)とを対応付けている。実施形態1では、保持面11の位置301−1からX軸方向に第1の距離と第2の距離との双方と異なる第3の距離離れた位置301(以下、符号301−6,301−7で示す)それぞれのXY座標と、各位置301−6,301−7ぞれぞれの原点位置302(以下、符号302−6,302−7で示す)とを対応付けている。
In the first embodiment, the XY coordinates of the
なお、本明細書では、保持面11の各位置301同士を区別しない場合には、符号301を用い、各位置301同士を区別する際には、符号301−1,301−2,301−3,301−4,301−5,301−6,301−7を用いる。保持面11の各位置301−1,301−2,301−3,301−4,301−5,301−6,301−7のXY座標は、予め定められ、記憶装置に記憶されている。また、本明細書は、保持面11の各位置301の原点位置302同士を区別しない場合には、符号302を用い、各原点位置302同士を区別する際には、符号302−1,302−2,302−3,302−4,302−5,302−6,302−7を用いる。また、実施形態1において、各原点位置302−1,302−2,302−3,302−4,302−5,302−6,302−7は、各位置301−1,301−2,301−3,301−4,301−5,301−6,301−7のうちいずれかの位置301の原点位置302を零とし、いずれかの位置301の原点位置302からのZ軸方向の距離で定められる。実施形態1では、各原点位置302−1,302−2,302−3,302−4,302−5,302−6,302−7は、位置301−1の原点位置302−1を零とし、位置301−1の原点位置302−1からのZ軸方向の距離で定められる。実施形態1では、例えば、原点位置302が原点位置302−1よりも上方である場合には、原点位置302−2からのプラスの距離(例えば、+1μm等)で定められ、原点位置302が原点位置302−1よりも下方である場合には、原点位置302−2からのマイナスの距離(例えば、−1μm等)で定められる。
In this specification,
補正部102は、原点位置登録部101に登録された図3に示す情報300に基づいて、被加工物200に切削ブレード21を切り込ませる時の切削ユニット20のZ軸方向の高さをXY座標に応じて補正するものである。即ち、補正部102は、切削ブレード21を各分割予定ライン202に切り込ませる時に、原点位置登録部101に登録された図3に示す情報300に基づいて、Z軸移動ユニット60を制御して、記憶装置に予め記憶された切削ブレード21の切刃の刃先の保持面11からのZ軸方向の高さとなるように、切削ユニット20のZ軸方向の高さを調整するものである。補正部102は、切削ブレード21が分割予定ライン202に切り込んでいる位置のXY座標を算出する。補正部102は、原点位置登録部101に登録された図3に示す情報300に基づいて、切削ブレード21が分割予定ライン202に切り込んでいる位置の原点位置302を算出し、算出した原点位置302に基づいて、Z軸移動ユニット60を制御して、記憶装置に予め記憶された切削ブレード21の切刃の刃先の保持面11からのZ軸方向の高さとなるように、切削ユニット20のZ軸方向の高さを調整する。
Based on the
例えば、補正部102は、図3に示す情報300に基づいて、切削ブレード21が分割予定ライン202に切り込んでいる位置の原点位置302が原点位置302−1よりも上方に位置すると、切削ブレード21が分割予定ライン202に切り込んでいる位置の原点位置302の原点位置302−1からのZ軸方向の距離分、切削ユニット20を上昇させる。補正部102は、図3に示す情報300に基づいて、切削ブレード21が分割予定ライン202に切り込んでいる位置の原点位置302が原点位置302−1よりも下方に位置すると、切削ブレード21が分割予定ライン202に切り込んでいる位置の原点位置302の原点位置302−1からのZ軸方向の距離分、切削ユニット20を下降させる。
For example, when the
原点位置登録部101の機能は、情報300を記憶装置が記憶することにより実現される。補正部102の機能は、制御ユニット100の演算処理装置が記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理を実施することにより実現される。
The function of the origin position registration unit 101 is realized by storing the
次に、本明細書は、切削装置1の制御ユニット100の原点位置登録部101に各位置301の原点位置302を登録する方法、即ち、実施形態1に係る切削装置の原点位置登録方法を説明する。図4は、実施形態1に係る切削装置の原点位置登録方法の流れを示すフローチャートである。図5は、図4に示された切削装置の原点位置登録方法の切削痕形成ステップを一部断面で模式的に示す側面図である。図6は、図4に示された切削装置の原点位置登録方法の切削痕形成ステップ中の切削ブレードと切削痕等を模式的に示すダイシングテープの断面図である。図7は、図4に示された切削装置の原点位置登録方法の切削痕形成ステップ後のダイシングテープの平面図である。図8は、図4に示された切削装置の原点位置登録方法の原点位置登録ステップにおいて登録された情報の一例を示す図である。
Next, the present specification describes a method of registering the
切削装置の原点位置登録方法は、図1に示された切削装置1を用いた原点位置302の登録方法であって、図4に示すように、シート保持ステップST1と、切削痕形成ステップST2と、原点位置登録ステップST3とを備える。切削装置の原点位置登録方法では、まず、オペレータが、シートであるダイシングテープ205の厚さ205−1(図5及び図6に示し、特許請求の範囲に記載された所定の厚さに相当する)を示す情報及び切削ブレード21の外径R(図5及び図6に示す)を示す情報を制御ユニット100に登録し、外周縁に環状のフレーム206が貼着されたダイシングテープ205をカセット81に収容して、カセット81をカセットエレベータ80の上面に設置する。その後、制御ユニット100が、オペレータからの原点位置302の登録動作の開始指示を受け付けると、切削装置の原点位置登録方法は、シート保持ステップST1から順に実施される。
The method of registering the origin position of the cutting device is a method of registering the
シート保持ステップST1は、保持面11にダイシングテープ205を保持するステップである。即ち、実施形態1では、特許請求の範囲に記載されたシートは、外周縁が環状のフレーム206に貼着されて固定されたダイシングテープ205である。なお、実施形態1において、ダイシングテープ205の厚さ205−1のばらつき(最大の厚さ205−1と最小の厚さ205−1との差)は、チャックテーブル10の保持面11程度の面積では、1μm以下である。シート保持ステップST1では、切削装置1の制御ユニット100は、搬送ユニットにカセット81に収容されかつ外周縁に環状のフレーム206が貼着されたダイシングテープ205をチャックテーブル10の保持面11の予め定められた所定の位置に搬送させる。
The sheet holding step ST1 is a step of holding the dicing
シート保持ステップST1では、制御ユニット100は、チャックテーブル10の保持面11にダイシングテープ205を吸引保持させるとともに、クランプ部12に環状のフレーム206をクランプさせる。実施形態1において、シート保持ステップST1では、チャックテーブル10の保持面11は、ダイシングテープ205により覆われているとともに、保持面11にダイシングテープ205を密着させる。すると、ダイシングテープ205の表面である上面305−2の高さは、保持面11の高さに倣うこととなる。切削装置の原点位置登録方法は、切削痕形成ステップST2に進む。
In the sheet holding step ST1, the
切削痕形成ステップST2は、チャックテーブル10の保持面11の複数のXY座標で定められる各位置301上で、ダイシングテープ205の上面205−2からいずれか一方の切削ユニット20をZ軸方向に所定量昇降させ、切削ブレード21でダイシングテープ205を完全切断しない切り込み深さH(図6に示す)の切削痕400を形成するステップである。切削痕形成ステップST2では、制御ユニット100は、X軸移動ユニット40にチャックテーブル10を加工領域に向かって移動させて、保持面11の各位置301上のダイシングテープ205に切削ブレード21を切り込ませ、保持面11の各位置301上のダイシングテープ205に切削痕400を形成する。このように、実施形態1に係る切削装置の原点位置登録方法は、被加工物200の通常の切削加工で用いるダイシングテープ205に切削痕400を形成する。
In the cutting trace forming step ST2, one of the cutting
切削痕形成ステップST2において、各位置301上のダイシングテープ205に切削痕400を形成する際には、制御ユニット100は、各移動ユニット40,50,60等を制御して、スピンドル22により回転された切削ブレード21を各位置301上でかつZ軸方向の高さが保持面11から予め定められた所定の高さとなる位置に位置付ける。切削痕形成ステップST2において、各位置301上のダイシングテープ205に切削痕400を形成する際には、制御ユニット100は、Z軸移動ユニット60等を制御して、切削ブレード21を刃先の先端がダイシングテープ205の厚さ方向の中央まで切り込む予め定められた所定の移動量下降させて、図5中に点線及び実線、図6に示すように、切削ブレード21の刃先の先端をダイシングテープ205の厚さ方向の中央まで切り込ませた後、上昇させる。
In the cutting trace forming step ST2, when the cutting
即ち、切削ブレード21の刃先の先端がダイシングテープ205の厚さ方向の中央まで切り込んで切削痕400が形成された時の切削ブレード21の軸心21−1のZ軸方向の高さ(図6に示す)は、予め定められている。こうして、切削痕形成ステップST2では、制御ユニット100は、保持面11の各位置301上のダイシングテープ205に順に切削痕400を形成する。切削痕形成ステップST2では、図7に示すように、保持面11の全ての位置301上のダイシングテープ205に切削痕400を形成すると、原点位置登録ステップST3に進む。
That is, the height of the axial center 21-1 of the
原点位置登録ステップST3は、XY座標で定められた各位置301に形成された複数の切削痕400のX軸方向の長さD(図6に示す)をカメラユニット30で検出し、切削痕400のX軸方向の長さDと切削ブレード21の外径Rとから切削痕400のダイシングテープ205の上面205−2からの切り込み深さHを算出する。原点位置登録ステップST3は、算出した切り込み深さHとダイシングテープ205の厚さ205−1とから各位置301の原点位置302をXY座標に対応させて割り出して、原点位置登録部101に記憶するステップである。
In the origin position registration step ST3, the
原点位置登録ステップST3では、制御ユニット100は、チャックテーブル10の保持面11の各位置301の原点位置302を算出し、算出した原点位置302を各位置301のXY座標と対応付けて、前述した情報300を生成し、生成した情報300を原点位置登録部101に登録する。原点位置登録ステップST3において、制御ユニット100は、各位置301の原点位置302を算出する際には、各位置301上に形成された切削痕400をカメラユニット30で撮影し、撮影した画像から各切削痕400のX軸方向の長さDを算出して記憶する。
In the origin position registration step ST3, the
また、原点位置登録ステップST3では、予め切削ブレード21の外径R及びダイシングテープ205の厚さ205−1を示す情報を記憶しているために、切削ブレード21の外径をRとすると、下記の式1に基づいて、制御ユニット100は、各位置301上の切削痕400を形成した時の切削ブレード21の軸心21−1とダイシングテープ205の上面205−2との距離Z(図6に示す)を算出する。
Further, in the origin position registration step ST3, information indicating the outer diameter R of the
Z={(R/2)2−(D/2)2}1/2・・・式1 Z={(R/2) 2- (D/2) 2 } 1/2 ...Equation 1
原点位置登録ステップST3では、制御ユニット100は、下記の式2に基づいて、各位置301上の切削痕400の切り込み深さHを算出する。
In the origin position registration step ST3, the
H=(R/2)−Z・・・式2
H=(R/2)-Z...
原点位置登録ステップST3では、制御ユニット100は、算出した距離Z、切り込み深さH、予め定められた切削痕400が形成された時の切削ブレード21の軸心21−1のZ軸方向の高さ、及び予め記憶したダイシングテープ205の厚さ205−1を示す情報に基づいて、チャックテーブル10の保持面11の各位置301の原点位置302を算出する。実施形態1において、原点位置登録ステップST3では、制御ユニット100は、算出した各位置301の原点位置302のうち最も上方に位置する原点位置302と最も下方に位置する原点位置302との差を算出し、算出した差が、予め定められた許容値以下であるか否かを判定する。原点位置登録ステップST3では、制御ユニット100は、最も上方に位置する原点位置302と最も下方に位置する原点位置302との差が予め定められた許容値を超えていると判定すると、表示ユニット等でオペレータにチャックテーブル10の保持面11の精度が被加工物200の切削加工に適しない旨を報知する。
In the origin position registration step ST3, the
原点位置登録ステップST3では、制御ユニット100は、最も上方に位置する原点位置302と最も下方に位置する原点位置302との差が予め定められた許容値以下であると判定すると、各位置301の算出した原点位置302を各位置301のXY座標と対応付けて、図8に示す情報300を生成し、生成した情報300を原点位置登録部101に登録する。また、実施形態1では、図8に示す情報300において、各位置301の原点位置302を、位置301−1の原点位置302−1を零とし、位置301−1の原点位置302−1からのZ軸方向の距離で定める。
In the origin position registration step ST3, when the
実施形態1に係る切削装置の原点位置登録方法は、通常の被加工物200の切削加工で用いるダイシングテープ205に切削ブレード21でZ軸方向から切り込ませた切削痕400を形成し、切削痕400の長さDと切削ブレード21の外径Rとダイシングテープ205の厚さ205−1から、保持面11の各位置301の切削ブレード21の刃先の先端と接触するZ軸方向の原点位置302を割り出す。これにより、実施形態1に係る切削装置の原点位置登録方法は、保持面11の複数の位置301それぞれの原点位置302を割り出し、高精度な切り込み深さを実現する補正値の算出に利用できる。その結果、実施形態1に係る切削装置の原点位置登録方法は、チャックテーブル10の保持面11の高さにばらつきがあっても被加工物200に対する高精度な切り込み深さを実現することを可能とすることができるという効果を奏する。
The method for registering the origin position of the cutting device according to the first embodiment forms a cutting
また、実施形態1に係る切削装置の原点位置登録方法は、切削ユニット20の切削ブレード21を保持面11の各位置301上のダイシングテープ205に実際に切り込ませて、原点位置302を割り出す。これにより、割り出された原点位置302は、各移動ユニット40,50,60のローリング等の機械的な誤差を含むこととなる。その結果、実施形態1に係る切削装置の原点位置登録方法は、登録した情報300に基づいて補正部102が補正しながら被加工物200を切削加工することにより、各移動ユニット40,50,60のローリング等の機械的な誤差の範囲よりも高精度に被加工物200を加工することができる。
In addition, in the origin position registration method of the cutting device according to the first embodiment, the
実施形態1に係る切削装置の原点位置登録方法は、被加工物200の加工工程で身近にありながら、チャックテーブル10の保持面11程度の面積では厚さ205−1のばらつきが1μm以下のダイシングテープ205を利用して、保持面11の各位置301の原点位置302を登録するために、コストがかからないという効果もある。
The method for registering the origin position of the cutting device according to the first embodiment is a dicing process in which the thickness 205-1 of the chuck table 10 has a variation of 1 μm or less in the area close to the holding
なお、本発明は、上記実施形態及び変形例に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。本発明は、各切削ユニット20の切削ブレード21を各位置301上のダイシングテープ205に切り込ませて、各切削ユニット20毎に図3に示す情報300を生成して、原点位置登録部101に登録しても良い。この場合、登録された各情報300の原点位置302は、対応する切削ユニット20を移動させる移動ユニット50,60のローリング等の機械的な誤差を含むこととなり、高精度に被加工物200を加工することができる。
The present invention is not limited to the above-mentioned embodiments and modifications. That is, various modifications can be made without departing from the gist of the present invention. In the present invention, the
1 切削装置
10 チャックテーブル
11 保持面
20 切削ユニット
21 切削ブレード
22 スピンドル
30 カメラユニット
40 X軸移動ユニット
50 Y軸移動ユニット
60 Z軸移動ユニット
101 原点位置登録部
102 補正部
200 被加工物
205 ダイシングテープ(シート)
205−1 厚さ(所定の厚さ)
205−2 上面(表面)
206 環状のフレーム
300 情報
302,302−1,302−2,302−3,302−4,302−5,302−6,302−7 原点位置
400 切削痕
H 切り込み深さ(深さ)
D 長さ
R 外径
ST1 シート保持ステップ
ST2 切削痕形成ステップ
ST3 原点位置登録ステップ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
205-1 Thickness (predetermined thickness)
205-2 Top surface (front surface)
206
D Length R Outer diameter ST1 Sheet holding step ST2 Cutting trace forming step ST3 Origin position registration step
Claims (2)
該チャックテーブルの保持面に所定の厚さのシートを保持するシート保持ステップと、
該チャックテーブルの複数のXY座標で、該シートの表面から該切削ユニットを該Z軸方向に所定量昇降させ、該切削ブレードで該シートを完全切断しない深さの切削痕を形成する切削痕形成ステップと、
XY座標に対する複数の該切削痕の長さを該カメラユニットで検出し、該切削痕の長さと該切削ブレードの外径とから該切削痕の切り込み深さを算出し、該切り込み深さと該シートの厚さとから該原点位置を該XY座標に対応させて割り出して記憶する原点位置登録ステップと、を備える切削装置の原点位置登録方法。 A chuck table for holding a work piece on a holding surface, a cutting unit in which a cutting blade is attached to a spindle for cutting the work piece held on the chuck table, the chuck table and the cutting unit. And an X-axis moving unit that relatively moves in the X-axis direction that is parallel to the Y-axis that relatively moves the chuck table and the cutting unit in the Y-axis direction that is parallel to the holding surface and that is orthogonal to the X-axis direction. An axis moving unit, a Z-axis moving unit that relatively moves the chuck table and the cutting unit in a Z-axis direction orthogonal to the holding surface, and a camera unit that photographs the workpiece held on the holding surface. And an origin position registration unit for registering each origin position corresponding to the XY coordinates of the holding surface with the height of the cutting unit in contact with the holding surface and the tip of the cutting blade in the Z-axis direction as the origin position. And a correction unit that corrects the height of the cutting unit in the Z-axis direction according to the XY coordinates based on the information registered in the origin position registration unit. There
A sheet holding step of holding a sheet having a predetermined thickness on the holding surface of the chuck table;
Forming cutting traces at a plurality of XY coordinates of the chuck table, by moving the cutting unit up and down in the Z-axis direction by a predetermined amount from the surface of the sheet to form cutting traces of a depth that does not completely cut the sheet with the cutting blade. Steps,
The camera unit detects the lengths of the plurality of cutting marks with respect to the XY coordinates, calculates the cutting depth of the cutting marks from the length of the cutting marks and the outer diameter of the cutting blade, and the cutting depth and the sheet. The origin position registration method of the cutting apparatus, the origin position registration step of storing the origin position in association with the XY coordinates based on the thickness of the origin.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019014695A JP2020121374A (en) | 2019-01-30 | 2019-01-30 | How to register the origin position of cutting equipment |
KR1020190176123A KR20200094635A (en) | 2019-01-30 | 2019-12-27 | Original position registering method for cutting apparatus |
TW109101903A TWI810429B (en) | 2019-01-30 | 2020-01-20 | How to register the origin position of the cutting device |
CN202010069055.3A CN111497047B (en) | 2019-01-30 | 2020-01-21 | Origin position registration method for cutting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2019014695A JP2020121374A (en) | 2019-01-30 | 2019-01-30 | How to register the origin position of cutting equipment |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020121374A true JP2020121374A (en) | 2020-08-13 |
Family
ID=71867502
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019014695A Pending JP2020121374A (en) | 2019-01-30 | 2019-01-30 | How to register the origin position of cutting equipment |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2020121374A (en) |
KR (1) | KR20200094635A (en) |
CN (1) | CN111497047B (en) |
TW (1) | TWI810429B (en) |
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2019
- 2019-01-30 JP JP2019014695A patent/JP2020121374A/en active Pending
- 2019-12-27 KR KR1020190176123A patent/KR20200094635A/en not_active Ceased
-
2020
- 2020-01-20 TW TW109101903A patent/TWI810429B/en active
- 2020-01-21 CN CN202010069055.3A patent/CN111497047B/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN111497047A (en) | 2020-08-07 |
KR20200094635A (en) | 2020-08-07 |
TW202029413A (en) | 2020-08-01 |
CN111497047B (en) | 2024-03-15 |
TWI810429B (en) | 2023-08-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20211111 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220825 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
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