JP2020072090A - ヒューズ抵抗組立体及びヒューズ抵抗組立体の製造方法 - Google Patents

Abstract

【課題】抵抗体とヒューズとを直列に接合させながらも、抵抗体とヒューズとの結合を堅固に保持させるヒューズ抵抗組立体及びその製造方法を提供すること。【解決手段】本発明によるヒューズ抵抗組立体１０は、抵抗ロッド、第１抵抗キャップ、第２抵抗キャップ、抵抗線及び抵抗リード線を含む抵抗体１００、及びヒューズロッド、第１ヒューズキャップ、第２ヒューズキャップ、過電流によって切られる可溶体、第１ヒューズリード線と第２ヒューズリード線を含むヒューズ２００を含み、抵抗ロッドは中空部を含み、第２抵抗キャップはキャップホールを含み、ヒューズ２００は、ヒューズロッド、第１ヒューズキャップ、第２ヒューズキャップ及び第１ヒューズリード線が、中空部とキャップホールに沿って挿入されるが、第１ヒューズリード線は折り曲げられて、一端が第１ヒューズキャップと接合され、他端が第２抵抗キャップに接合されたことを特徴とする。【選択図】図１

Description

本発明は、ヒューズ抵抗組立体に係り、より詳細には、抵抗体とヒューズとを接合したヒューズ抵抗組立体及びその製造方法に関する。

一般的に、テレビ、ビデオのような電子製品の電源入力端には、過電流の流入時に、回路を断線させて、回路の焼損及び基板の火災発生を予防するように、マイクロヒューズが設けられており、このマイクロヒューズは、過負荷などの異常時に、溶断特性によって回路遮断器として作用する。

このようなヒューズは、フュージブルエレメント層を成す材料であって、他の金属に比べて、固有比抵抗値は非常に低いながらも、温度係数と溶融点とが非常に高い銅を使用することにより、定格電流が１０Ａ以上に高電流化されても、安定して流すことができると共に、高電流以上の過電流によって、所定時間内に安定して溶断されるため、高電流を使用する大型ＴＶ、モニタなどの家電製品などに既存のヒューズの代わりに使われている。

ところが、従来のヒューズ抵抗組立体は、抵抗体とヒューズとが一列に連結されていて、その体積が大きく、また一列に連結されていることによって、外部衝撃によって抵抗体とヒューズとの結合が切られ易く、耐久性が脆弱であるという問題点がある。

本発明が解決しようとする課題は、抵抗体とヒューズとを直列に接合させながらも、抵抗体とヒューズとの結合を堅固に保持させるヒューズ抵抗組立体及びその製造方法を提供することである。

前記課題を解決するための本発明によるヒューズ抵抗組立体は、抵抗ロッド、前記抵抗ロッドの両端に位置する第１抵抗キャップ及び第２抵抗キャップ、前記第１抵抗キャップと前記第２抵抗キャップとを連結する抵抗線及び前記第１抵抗キャップに連結されている導電性の抵抗リード線を含む抵抗体；及びヒューズロッド、前記ヒューズロッドの両端に位置する第１ヒューズキャップ及び第２ヒューズキャップ、前記ヒューズロッドにコーティングされて、前記第１ヒューズキャップと前記第２ヒューズキャップとを電気的に連結し、過電流によって切られる可溶体、前記第１ヒューズキャップに連結されている導電性の第１ヒューズリード線、前記第２ヒューズキャップに連結されている導電性の第２ヒューズリード線を含むヒューズ；を含み、前記抵抗ロッドは、長手方向に一側が開放され、他側が閉鎖された中空部を含み、前記第２抵抗キャップは、前記中空部の中空断面と対応するキャップホールを含み、前記ヒューズは、前記ヒューズロッド、前記第１ヒューズキャップ、前記第２ヒューズキャップ及び前記第１ヒューズリード線が、前記中空部と前記キャップホールに沿って挿入されるが、前記第１ヒューズリード線は折り曲げられて、一端が前記第１ヒューズキャップと接合され、他端が前記第２抵抗キャップに接合されたことを特徴とする。

前記第１ヒューズリード線の他端は、前記第２抵抗キャップとスポット溶接、レーザ溶接及びソルダリングのうち少なくとも１つの方式によって接合されていることを特徴とする。

前記第１ヒューズリード線は、“Ｓ”字状の折曲構造を含み、前記“Ｓ”字状のリード線一端が、前記第１ヒューズキャップと接合され、前記“Ｓ”字状のリード線他端が、前記第２抵抗キャップと接合されていることを特徴とする。

前記ヒューズロッド、前記第１ヒューズキャップ、前記第２ヒューズキャップ、及び前記可溶体を保護するためにコーティングされたヒューズ保護層；及び前記第１ヒューズリード線及び前記第２ヒューズリード線に流れる電流と外部構成要素との絶縁のためにコーティングされたヒューズ絶縁層；をさらに含むことを特徴とする。

前記可溶体は、前記ヒューズロッドの表面が錫成分でコーティングされ、前記可溶体の溶断時間の調整のためにトリミングパターンによってカッティングされていることを特徴とする。

前記トリミングパターンは、カッティングポイント数及びカッティング形状のうち少なくとも何れか１つを異ならせてカッティングされていることを特徴とする。

前記ヒューズが挿入された前記抵抗体の前記中空部を充填する充填層；及び前記充填層が充填された前記抵抗体を取り囲む保護チューブ；をさらに含むことを特徴とする。

前記他の課題を解決するための本発明によるヒューズ抵抗組立体の製造方法は、抵抗体及び前記抵抗体と接合されるヒューズを製造する段階；及び前記抵抗体の中空部内に前記ヒューズを挿入して、前記抵抗体と前記ヒューズとを直列に接合させる段階；を含み、前記ヒューズを製造する段階は、長手方向に形成されたヒューズロッドに可溶体をコーティングする段階；前記可溶体がコーティングされた前記ヒューズロッドの両端部に導電性を有する第１ヒューズキャップ及び第２ヒューズキャップを結合させる段階；前記第１ヒューズキャップの一端に導電性の第１ヒューズリード線を連結し、前記第２ヒューズキャップの一端に導電性の第２ヒューズリード線を連結する段階；前記ヒューズロッド、前記第１ヒューズキャップ、前記第２ヒューズキャップ、及び前記可溶体を保護するためにヒューズ保護層でコーティングする段階；及び前記第１ヒューズリード線及び前記第２ヒューズリード線に流れる電流と外部構成要素との絶縁のためにヒューズ絶縁層でコーティングする段階；を含むことを特徴とする。

前記抵抗体と前記ヒューズとを接合させる段階は、前記第１ヒューズリード線のうち、前記第１ヒューズキャップと接合された一端を１８０°の角度を有するように折り曲げる段階；前記ヒューズロッド、前記第１ヒューズキャップ、前記第２ヒューズキャップ及び前記折り曲げられた第１ヒューズリード線を前記中空部に挿入する段階；前記第１ヒューズリード線のうち、前記第２抵抗キャップと接合される他端を９０°以上に折り曲げて、前記第２抵抗キャップに接合させる段階；を含むことを特徴とする。

前記第１ヒューズリード線の他端と前記第２抵抗キャップとを接合させる段階は、前記第１ヒューズリード線と前記第２抵抗キャップとをスポット溶接、レーザ溶接及びソルダリングのうち少なくとも１つの方式を用いて接合させることを特徴とする。

前記ヒューズを製造する段階は、前記ヒューズロッドの両端部に前記第１ヒューズキャップ及び前記第２ヒューズキャップを結合させた後に、前記可溶体の溶断時間の調整のために前記可溶体をカッティングする段階をさらに含むことを特徴とする。

前記可溶体をカッティングする段階は、カッティングポイント数及びカッティング形状のうち少なくとも何れか１つを異ならせて、前記可溶体をカッティングすることを特徴とする。

前記抵抗体の中空部内に前記ヒューズを挿入して接合させた後に、前記ヒューズが挿入された前記抵抗体の前記中空部を、充填層を使用して充填する段階；及び前記充填層が充填された前記抵抗体に対して保護チューブを使用して取り囲む段階；を含むことを特徴とする。

本発明によれば、抵抗体とヒューズとを接合するが、ヒューズの構成要素であるヒューズロッド、第１ヒューズキャップ、第２ヒューズキャップ及び第１ヒューズリード線を抵抗体の中空部に挿入し、第１ヒューズリード線の一端が折り曲げられて第１ヒューズキャップと接合され、第１ヒューズリード線の他端が折り曲げられて第２抵抗キャップに接合されて、ヒューズが抵抗体内に挿入されながら、直列連結される構造を形成することにより、抵抗体とヒューズとで構成されたヒューズ抵抗組立体の体積を最小化させ、体積減少にも拘らず、ヒューズ抵抗組立体の耐久性を向上させうる。
また、ヒューズ内に形成された可溶体に対してトリミングパターンを形成することにより、ヒューズ抵抗組立体の過電流による溶断時間を適切に調節することができる。

本発明による一実施形態のヒューズ抵抗組立体の断面図である。 図１に示された抵抗体の斜視図である。 図１に示された抵抗体の断面図である。 図１に示されたヒューズの斜視図である。 図１に示されたヒューズの断面図である。 本発明による可溶体の皮膜カッティングによるトリミングパターンを例示する参照図である。 カッティングポイント数による溶断時間を比較する一実施形態の参照図である。 カッティング形状のうち、ポイント状による溶断時間を比較する一実施形態の参照図である。 カッティング形状のうち、ライン状による溶断時間を比較するさらに他の実施形態の参照図である。 本発明によるヒューズ抵抗組立体の製造方法を説明するフローチャートである。 ヒューズ抵抗組立体の製造過程を説明する実際的な動作過程を例示する参照図である。 ヒューズ抵抗組立体の製造過程を説明する実際的な動作過程を例示する参照図である。 図８に示されたヒューズを製造する段階を説明する一実施形態のフローチャートである。 図８に示された抵抗体とヒューズとを直列に結合させる段階を説明する一実施形態のフローチャートである。 第１ヒューズリード線の一端及び他端での折曲状態を例示する参照図である。

本発明に関する説明は、構造的ないし機能的説明のための実施形態に過ぎないので、本発明の権利範囲は、本文に説明された実施形態によって制限されるものと解釈されてはならない。すなわち、実施形態は、多様な変更が可能であり、さまざまな形態を有するので、本発明の権利範囲は、技術的思想を実現することができる均等物を含むものと理解しなければならない。

ある構成要素が、他の構成要素に「連結されて」いるという記載は、その他の構成要素に直接連結されることもあり、中間に他の構成要素が存在していることも可能であるということを理解しなければならない。一方、ある構成要素が、他の構成要素に「直接連結されて」いるという記載は、中間に他の構成要素が存在しないものと理解しなければならない。

ここで使われるあらゆる用語は、特に定義しない限り、当業者によって、一般的に理解されるものと同じ意味を有する。一般的に使われる辞書に定義されている用語は、関連技術の文脈上有する意味と一致するものと解釈されなければならず、本発明で明白に定義しない限り、理想的や過度に形式的な意味を有するものと解釈されない。

図１は、本発明による一実施形態のヒューズ抵抗組立体１０を示す断面図である。

図１を参照すれば、ヒューズ抵抗組立体１０は、抵抗体１００及びヒューズ２００を含む。

抵抗体１００は、導電性の抵抗成分を含み、突入電流を制限する機能を担う。

抵抗体１００は、抵抗ロッド、抵抗ロッドの両端に位置する第１抵抗キャップ及び第２抵抗キャップ、前記第１抵抗キャップと第２抵抗キャップとを連結する抵抗線及び第１抵抗キャップに連結されている導電性の抵抗リード線を含む。

図２Ａは、図１に示された抵抗体１００の斜視図であり、図２Ｂは、図１に示された抵抗体１００の断面図である。

図２Ａ及び図２Ｂを参照すれば、抵抗体１００は、抵抗ロッド１１０、第１抵抗キャップ１２０、第２抵抗キャップ１３０、抵抗線１４０、抵抗リード線１５０を含みうる。

抵抗ロッド１１０は、円柱または角柱などを有する形状を含み、セラミック材質で構成することができる。抵抗ロッド１１０は、長手方向に形成された中空部１１０−１を含んでいる。中空部１１０−１は、抵抗ロッド１１０の一側が開放され、他側が閉鎖されて、一定深さまでホールが形成された構造を有する。図２Ａの場合に、中空部１１０−１の長手方向に垂直な中空断面は、円形であることを図示しているが、これは、例示的なものに過ぎず、多角形（例えば、四角形、五角形、六角形、八角形など）の断面形状でもあり得る。

第１抵抗キャップ１２０は、抵抗ロッド１１０の一端に挿設されうる。このために、第１抵抗キャップ１２０は、筒状構造（例えば、円筒状構造、角筒状構造）の一端が閉鎖されているキャップ形態であり得る。第１抵抗キャップ１２０は、導電性を有する。

第２抵抗キャップ１３０も、抵抗ロッド１１０の他端に挿設されうる。このために、第２抵抗キャップ１３０は、筒状構造（例えば、円筒状構造、角筒状構造）を有するキャップ形態であり得る。特に、第２抵抗キャップ１３０は、抵抗ロッド１１０で中空部１１０−１の中空断面と対応するキャップホール１３０−１を含んでいる。ここで、キャップホール１３０−１は、第１抵抗キャップ１２０とは異なって、第２抵抗キャップ１３０に抵抗ロッド１１０が挿入されても、後述するヒューズ２００が挿入されるように貫通されたホール構造を有する。キャップホール１３０−１の断面構造は、抵抗ロッド１１０の中空断面と一致するように、円形または多角形であり得る。第２抵抗キャップ１３０も、第１抵抗キャップ１２０と同様に導電性を有する。

抵抗線１４０は、抵抗ロッド１１０の表面を螺旋状に取り囲みながら、第１抵抗キャップ１２０及び第２抵抗キャップ１３０を連結するための線である。このような、抵抗線１４０は、過電流によって発熱する抵抗成分を含む。抵抗線１４０の一端は、第１抵抗キャップ１２０の一側に接合されており、抵抗線１４０の他端は、第２抵抗キャップ１３０の一側に接合されている。

抵抗リード線１５０は、第１抵抗キャップ１２０の外側に接合されている。抵抗リード線１５０は、第１抵抗キャップ１２０とスポット溶接、レーザ溶接、ソルダリングなどの方式で接合される。抵抗体１００は、従来とは異なって、抵抗リード線１５０を１つだけ備えている。

ヒューズ２００は、熱や過電流により回路連結を遮断する機能を担う。このような、ヒューズ２００は、ヒューズロッド、前記ヒューズロッドの両端に位置する第１ヒューズキャップ及び第２ヒューズキャップ、前記ヒューズロッドにコーティングされて、前記第１ヒューズキャップと前記第２ヒューズキャップとを電気的に連結し、過電流によって切られる可溶体、前記第１ヒューズキャップに連結されている導電性の第１ヒューズリード線、前記第２ヒューズキャップに連結されている導電性の第２ヒューズリード線を含む。このような、ヒューズ２００は、ヒューズロッド、前記第１ヒューズキャップ、前記第２ヒューズキャップ及び前記第１ヒューズリード線が、前記中空部と前記キャップホールに沿って挿入されている。

図３Ａは、図１に示されたヒューズ２００の斜視図であり、図３Ｂは、図１に示されたヒューズ２００の断面図である。

図３Ａ及び図３Ｂを参照すれば、ヒューズ２００は、ヒューズロッド２１０、可溶体２２０、第１ヒューズキャップ２３０、第２ヒューズキャップ２４０、第１ヒューズリード線２５０、第２ヒューズリード線２６０、ヒューズ保護層（図示せず）及びヒューズ絶縁層（図示せず）を含みうる。

ヒューズロッド２１０は、円柱または角柱などを有する形状を含み、セラミック材質で構成することができる。

可溶体２２０は、ヒューズロッド２１０の表面に導電性皮膜が形成されたものであって、ニッケル合金または銅合金からなるメッキ層にフュージブルエレメント（Ｆｕｓｉｂｌｅ Ｅｌｅｍｅｎｔ）層として錫層が形成されうる。

可溶体２２０は、当該表面に所望の抵抗値に合わせてトリミング（ｔｒｉｍｍｉｎｇ）と呼ばれる皮膜カッティングを行って、トリミングパターンを形成しうる。皮膜カッティングは、レーザカッティングまたはダイヤモンドカッティングを通じてなされうる。

トリミングパターンは、カッティングポイント数及びカッティング形状のうち少なくとも何れか１つを異ならせてカッティングされたものである。この際、カッティング形状は、ポイント状、直線状または螺旋状であり、これらが組み合わせられた形態でもあり得る。

図４は、本発明による可溶体２２０の皮膜カッティングによるトリミングパターンを例示する参照図である。図４の（ａ）は、ポイント状のトリミングパターンを例示し、図４の（ｂ）は、ライン状のトリミングパターンを例示する。

トリミングパターンは、カッティングポイント数またはカッティング形状の差によって、過電流による可溶体２２０の溶断時間に差をもたらしうる。トリミングパターンによる可溶体２２０の溶断時間の差は、次の図５ないし図７を参照して説明する。

図５は、カッティングポイント数による溶断時間を比較する一実施形態の参照図であり、図６は、カッティング形状のうち、ポイント状による溶断時間を比較する一実施形態の参照図であり、図７は、カッティング形状のうち、ライン状による溶断時間を比較するさらに他の実施形態の参照図である。

図５を参照すれば、皮膜カッティングのためのカッティングポイント数が増加するにつれて、溶断時間が徐々に減少することを確認することができる。また、図６を参照すれば、皮膜カッティングのためのカッティング形状のうち、カッティングポイントが長手方向に増加するにつれて、溶断時間が減少することを確認することができる。また、図７を参照すれば、皮膜カッティングのためのカッティング形状のうち、直線状または螺旋状のライン長が増加するにつれて、溶断時間が減少することを確認することができる。したがって、設計目的によって可溶体２２０のトリミングパターンを選択することにより、ヒューズ２００の過電流に対する溶断時間を調整することができる。

第１ヒューズキャップ２３０及び第２ヒューズキャップ２４０は、可溶体２２０が形成されたヒューズロッド２１０の両先端にそれぞれ挿設されうる。このために、第１ヒューズキャップ２３０及び第２ヒューズキャップ２４０は、それぞれ筒状構造（例えば、円筒状構造、角筒状構造）であって、一端が閉鎖されているキャップ形態であり得る。

第１ヒューズリード線２５０及び第２ヒューズリード線２６０は、それぞれ第１ヒューズキャップ２３０及び第２ヒューズキャップ２４０の外側に接合されている。第１ヒューズリード線２５０及び第２ヒューズリード線２６０は、それぞれ第１ヒューズキャップ２３０及び第２ヒューズキャップ２４０とスポット溶接、レーザ溶接、ソルダリングなどの方式で接合される。第１ヒューズリード線２５０及び第２ヒューズリード線２６０は、それぞれ電気伝導性を有する。

一方、図３Ａ及び図３Ｂに示したように、第１ヒューズリード線２５０の一端（Ａ）は、折り曲げられた状態で第１ヒューズキャップ２３０の一側に接合されており、第１ヒューズリード線２５０の他端（Ｂ）も、折り曲げられた状態で第２抵抗キャップ１３０の一側に接合されている。第１ヒューズリード線２５０が２回にわたって“Ｓ”字状に折り曲げられていることは、ヒューズ２００が抵抗体１００を構成する抵抗ロッド１１０の中空部１１０−１と第２抵抗キャップ１３０のキャップホール１３０−１に沿って挿入されながらも、抵抗体１００と直列連結されるための構造を形成するためである。第１ヒューズリード線２５０は、“Ｓ”字状の折曲構造を含むことにより、“Ｓ”字状のリード線一端が第１ヒューズキャップ２３０と接合され、“Ｓ”字状のリード線他端が第２抵抗キャップ１３０と接合されている。この際、ヒューズ２００は、抵抗体１００と直列連結されるために、第１ヒューズリード線２５０の他端が第２抵抗キャップ１３０とスポット溶接、レーザ溶接及びソルダリングのうち少なくとも１つの方式によって接合される。

ヒューズ保護層は、可溶体２２０が形成されたヒューズロッド２１０、第１ヒューズキャップ２３０、及び第２ヒューズキャップ２４０をコーティングする。これにより、ヒューズ保護層は、可溶体２２０の皮膜を保護し、第１ヒューズキャップ２３０、及び第２ヒューズキャップ２４０の表面を保護する。また、ヒューズ保護層は、抵抗体１００との絶縁のための絶縁機能を有する。

ヒューズ絶縁層は、第１ヒューズキャップ２３０及び第２ヒューズキャップ２４０にそれぞれ結合された第１ヒューズリード線２５０及び第２ヒューズリード線２６０を取り囲む。ヒューズ絶縁層は、第１ヒューズリード線２５０及び第２ヒューズリード線２６０に流れる電流と外部構成要素との絶縁のために第１ヒューズリード線２５０及び第２ヒューズリード線２６０をコーティングする。但し、第１ヒューズリード線２５０と第２抵抗キャップ１３０とが接合される部分では、ヒューズ絶縁層のコーティングが排除される。

ヒューズ抵抗組立体１０は、ヒューズ２００が接合された抵抗体１００を保護するために充填層（図示せず）で取り囲む。すなわち、ヒューズ２００が抵抗体１００に挿入された状態で、抵抗体１００の中空部１１０−１を充填層で充填する。このような充填層は、抵抗体１００の中空部１１０−１に挿入されたヒューズ２００と抵抗体１００との間の空き空間を満たし、また、抵抗体１００の外部を取り囲む。ここで、充填層は、エポキシ材質またはシリコン材質の充填層であり得る。

また、ヒューズ抵抗組立体１０は、充填層が充填された抵抗体１００及び／または充填層を保護するために保護チューブ（図示せず）を含みうる。保護チューブは、抵抗体１００を取り囲む充填層を取り囲むことにより、外部（他の部品など）との絶縁のための機能も担う。

図８は、本発明によるヒューズ抵抗組立体の製造方法を説明するフローチャートである。図９Ａ及び図９Ｂは、ヒューズ抵抗組立体の製造過程を説明する実際的な動作過程を例示する参照図である。

まず、抵抗体及び前記抵抗体と接合されるヒューズを製造する（ステップＳ３００）。

抵抗体は、前述した図２Ａ及び図２Ｂに示したように、抵抗ロッド、第１抵抗キャップ、第２抵抗キャップ、抵抗線、抵抗リード線を含みうる。抵抗体は、セラミック材質の抵抗ロッドを製造した後に、抵抗ロッドの長手方向に一定深さまで中空部を形成する。次いで、抵抗リード線を第１抵抗キャップに接合させた後に、抵抗リード線が接合された第１抵抗キャップと第２抵抗キャップとを抵抗ロッドの両先端に結合させる。この際、結合される第２抵抗キャップは、抵抗ロッドで中空部の中空断面と対応するキャップホールを含んでいる。次いで、抵抗線を使用して抵抗ロッドの表面を螺旋状に取り囲みながら、第１抵抗キャップと第２抵抗キャップとを連結する。

一方、ヒューズは、前述した図３Ａ及び図３Ｂに示したように、ヒューズロッド、可溶体、第１ヒューズキャップ、第２ヒューズキャップ、第１ヒューズリード線、第２ヒューズリード線、ヒューズ保護層及びヒューズ絶縁層を含みうる。

図１０は、図８に示されたヒューズを製造する段階を説明する一実施形態のフローチャートである。

まず、長手方向に形成されたヒューズロッドに可溶体をコーティングする（ステップＳ４００）。ヒューズロッドの表面のニッケル合金または銅合金からなるメッキ層にフュージブルエレメント層として錫層が形成されうる。

Ｓ４００段階後に、メッキ層が形成されたヒューズロッドの両端部に導電性を有する一対の第１ヒューズキャップ及び第２ヒューズキャップをそれぞれ結合する（ステップＳ４０２）。ヒューズキャップのそれぞれは、筒状構造（例えば、円筒状構造、角筒状構造）の一端が閉鎖されているキャップ形態であり得る。

Ｓ４０２段階後に、ヒューズの溶断時間の調整のために可溶体をカッティングする（ステップＳ４０４）。前記可溶体をカッティングする段階は、トリミングパターンによってカッティングポイント数及びカッティング形状のうち少なくとも何れか１つを異ならせて、前記メッキ層をカッティングすることができる。この際、カッティング形状は、ポイント状、直線状及び螺旋状のうち少なくとも１つであるか、これらの組み合わせであり得る。カッティングポイント数またはカッティング形状の差によるトリミングパターンによって、過電流によるメッキ層の溶断時間に差が発生する。但し、Ｓ４０２段階は、必須的な段階ではなく、可溶体にトリミングパターンを形成することなしに、Ｓ４０２段階後にＳ４０６段階に進行することもできる。

Ｓ４０４段階後に、前記第１ヒューズキャップの一端に導電性の第１ヒューズリード線を連結し、前記第２ヒューズキャップの一端に導電性の第２ヒューズリード線を連結する（ステップＳ４０６）。第１ヒューズリード線と第２ヒューズリード線は、それぞれ第１ヒューズキャップと第２ヒューズキャップとにスポット溶接、レーザ溶接、ソルダリングなどの方式で接合される。

Ｓ４０６段階後に、ヒューズを構成するヒューズロッド、第１ヒューズキャップ、第２ヒューズキャップ、及び可溶体を保護するためにヒューズ保護層でコーティングする（ステップＳ４０８）。ヒューズ保護階は、可溶体の皮膜を保護し、第１ヒューズキャップ及び第２ヒューズキャップの表面を保護し、抵抗体とヒューズとを絶縁する。

Ｓ４０８段階後に、第１ヒューズリード線及び第２ヒューズリード線に流れる電流と外部構成要素との絶縁のためにヒューズ絶縁層をコーティングする（ステップＳ４１０）。ヒューズ絶縁層は、第１ヒューズリード線及び第２ヒューズリード線に流れる電流と外部構成要素（例えば、抵抗体）とを絶縁する。

再び、Ｓ３００段階後に、前記抵抗体の中空部内に前記ヒューズを挿入して、前記抵抗体と前記ヒューズとを直列に結合させる（ステップＳ３０２）。前記抵抗体と前記ヒューズとを接合させる段階は、前記抵抗体と前記ヒューズとをスポット溶接、レーザ溶接及びソルダリングのうち少なくとも１つの方式を用いて接合させることができる。

図１１は、図８に示された抵抗体とヒューズとを直列に結合させる段階を説明する一実施形態のフローチャートである。

前記第１ヒューズリード線のうち、前記第１ヒューズキャップと接合された一端が１８０°の角度を有するように折り曲げられる（ステップＳ５００）。図１２は、第１ヒューズリード線の一端及び他端での折曲状態を例示する参照図である。図１２を参照すれば、第１ヒューズキャップと接合された一端（Ａ）が最初の第１ヒューズキャップと接合された角度で１８０°ほど折り曲げられた状態を例示している。すなわち、第１ヒューズリード線の一端（Ａ）が、“Ｕ”字状に折り曲げられて第１ヒューズキャップと接合されている。但し、折り曲げられる角度は、例示的なものであり、１８０°を基準に折り曲げられる角度は増減しうる。

Ｓ５００段階後に、前記ヒューズロッド、前記第１ヒューズキャップ、前記第２ヒューズキャップ及び前記折り曲げられた第１ヒューズリード線を前記中空部に挿入させる（ステップＳ５０２）。前記ヒューズロッド、前記第１ヒューズキャップ、前記第２ヒューズキャップ及び前記折り曲げられた第１ヒューズリード線が抵抗キャップの中空部内に挿入されるためには、中空部の中空断面がヒューズを構成する前記の構成要素を含みうる程度の断面積を有さなければならず、ヒューズを構成する第１ヒューズキャップ、前記第２ヒューズキャップ及び前記折り曲げられた第１ヒューズリード線の全体外形がいずれも挿入される程度の中空部の深さが確保されなければならない。

Ｓ５０２段階後に、前記第１ヒューズリード線のうち、前記第２抵抗キャップと接合される他端を９０°以上に折り曲げて、前記第２抵抗キャップに接合させる（ステップＳ５０４）。図１２を参照すれば、第１ヒューズリード線の他端（Ｂ）は、９０°以上折り曲げられた状態を例示している。すなわち、第１ヒューズリード線の他端（Ｂ）は、“コ”字状に折り曲げられて第２抵抗キャップと接合されている。但し、折り曲げられた角度は、例示的なことであり、９０°を基準に折り曲げられる角度が増減されうる。第１ヒューズリード線の他端と第２抵抗キャップは、スポット溶接、レーザ溶接及びソルダリングのうち少なくとも１つの方式を用いて接合させる。

再び、Ｓ３０２段階後に、ヒューズが挿入された抵抗体の中空部を充填層で充填し、また、前記充填層で前記抵抗体外部を取り囲む（ステップＳ３０４）。充填層は、抵抗体の中空部に挿入されたヒューズと抵抗体との間の空き空間を満たし、また、抵抗体の外部を取り囲む。ここで、充填層は、エポキシ材質またはシリコン材質の充填層を使用することができる。

Ｓ３０４段階後に、充填層で充填された抵抗体に対して保護チューブを使用して取り囲む（ステップＳ３０６）。保護チューブは、抵抗体の中空部に充填されるか、抵抗体の外部を取り囲む充填層の損傷を防止するために、充填層を取り囲む。保護チューブは、射出方式によるモールディングまたはチューブを利用したモールディングを通じて形成されうる。

以上、本発明の望ましい実施形態について図示し、説明したが、本発明は、前述した特定の実施形態に限定されず、特許請求の範囲で請求する本発明の要旨を外れずに、当業者によって多様な変形実施が可能であるということはいうまでもなく、このような変形実施は、本発明の技術的思想や展望から個別的に理解されてはならない。

１０：ヒューズ抵抗組立体
１００：抵抗体
１１０：抵抗ロッド
１２０：第１抵抗キャップ
１３０：第２抵抗キャップ
１４０：抵抗線
１５０：抵抗リード線
２００：ヒューズ
２１０：ヒューズロッド
２２０：可溶体
２３０：第１ヒューズキャップ
２４０：第２ヒューズキャップ
２５０：第１ヒューズリード線
２６０：第２ヒューズリード線

Claims (13)

1. 抵抗ロッド、前記抵抗ロッドの両端に位置する第１抵抗キャップ及び第２抵抗キャップ、前記第１抵抗キャップと前記第２抵抗キャップとを連結する抵抗線及び前記第１抵抗キャップに連結されている導電性の抵抗リード線を含む抵抗体と
   ヒューズロッド、前記ヒューズロッドの両端に位置する第１ヒューズキャップ及び第２ヒューズキャップ、前記ヒューズロッドにコーティングされて、前記第１ヒューズキャップと前記第２ヒューズキャップとを電気的に連結し、過電流によって切られる可溶体、前記第１ヒューズキャップに連結されている導電性の第１ヒューズリード線、前記第２ヒューズキャップに連結されている導電性の第２ヒューズリード線を含むヒューズと、を含み、
   前記抵抗ロッドは、長手方向に一側が開放され、他側が閉鎖された中空部を含み、
   前記第２抵抗キャップは、前記中空部の中空断面と対応するキャップホールを含み、
   前記ヒューズは、前記ヒューズロッド、前記第１ヒューズキャップ、前記第２ヒューズキャップ及び前記第１ヒューズリード線が、前記中空部と前記キャップホールに沿って挿入されるが、前記第１ヒューズリード線は折り曲げられて、一端が前記第１ヒューズキャップと接合され、他端が前記第２抵抗キャップに接合されていることを特徴とするヒューズ抵抗組立体。
2. 前記第１ヒューズリード線の他端は、前記第２抵抗キャップとスポット溶接、レーザ溶接及びソルダリングのうち少なくとも１つの方式によって接合されていることを特徴とする請求項１に記載のヒューズ抵抗組立体。
3. 前記第１ヒューズリード線は、“Ｓ”字状の折曲構造を含み、前記“Ｓ”字状のリード線一端が、前記第１ヒューズキャップと接合され、前記“Ｓ”字状のリード線他端が、前記第２抵抗キャップと接合されていることを特徴とする請求項１に記載のヒューズ抵抗組立体。
4. 前記ヒューズロッド、前記第１ヒューズキャップ、前記第２ヒューズキャップ、及び前記可溶体を保護するためにコーティングされたヒューズ保護層と、
   前記第１ヒューズリード線及び前記第２ヒューズリード線に流れる電流と外部構成要素との絶縁のためにコーティングされたヒューズ絶縁層と、をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載のヒューズ抵抗組立体。
5. 前記可溶体は、前記ヒューズロッドの表面が錫成分でコーティングされ、
   前記可溶体の溶断時間の調整のためにトリミングパターンによってカッティングされていることを特徴とする請求項１に記載のヒューズ抵抗組立体。
6. 前記トリミングパターンは、カッティングポイント数及びカッティング形状のうち少なくとも何れか１つを異ならせてカッティングされていることを特徴とする請求項５に記載のヒューズ抵抗組立体。
7. 前記ヒューズが挿入された前記抵抗体の前記中空部を充填する充填層と、
   前記充填層が充填された前記抵抗体を取り囲む保護チューブと、をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載のヒューズ抵抗組立体。
8. 抵抗体及び前記抵抗体と接合されるヒューズを製造する段階と、
   前記抵抗体の中空部内に前記ヒューズを挿入して、前記抵抗体と前記ヒューズとを直列に接合させる段階と、を含み、
   前記ヒューズを製造する段階は、長手方向に形成されたヒューズロッドに可溶体をコーティングする段階と、
   前記可溶体がコーティングされた前記ヒューズロッドの両端部に導電性を有する第１ヒューズキャップ及び第２ヒューズキャップを結合させる段階と、
   前記第１ヒューズキャップの一端に導電性の第１ヒューズリード線を連結し、前記第２ヒューズキャップの一端に導電性の第２ヒューズリード線を連結する段階と、
   前記ヒューズロッド、前記第１ヒューズキャップ、前記第２ヒューズキャップ、及び前記可溶体を保護するためにヒューズ保護層でコーティングする段階と、
   前記第１ヒューズリード線及び前記第２ヒューズリード線に流れる電流と外部構成要素との絶縁のためにヒューズ絶縁層でコーティングする段階と、を含むことを特徴とするヒューズ抵抗組立体の製造方法。
9. 前記抵抗体と前記ヒューズとを接合させる段階は、前記第１ヒューズリード線のうち、前記第１ヒューズキャップと接合された一端を１８０°の角度を有するように折り曲げる段階と、
   前記ヒューズロッド、前記第１ヒューズキャップ、前記第２ヒューズキャップ及び前記折り曲げられた第１ヒューズリード線を前記中空部に挿入する段階と、
   前記第１ヒューズリード線のうち、第２抵抗キャップと接合される他端を９０°以上に折り曲げて、前記第２抵抗キャップに接合させる段階と、を含むことを特徴とする請求項８に記載のヒューズ抵抗組立体の製造方法。
10. 前記第１ヒューズリード線の他端と第２抵抗キャップとを接合させる段階は、前記第１ヒューズリード線と前記第２抵抗キャップとをスポット溶接、レーザ溶接及びソルダリングのうち少なくとも１つの方式を用いて接合させることを特徴とする請求項８に記載のヒューズ抵抗組立体の製造方法。
11. 前記ヒューズを製造する段階は、前記ヒューズロッドの両端部に前記第１ヒューズキャップ及び前記第２ヒューズキャップを結合させた後に、前記可溶体の溶断時間の調整のために前記可溶体をカッティングする段階をさらに含むことを特徴とする請求項１０に記載のヒューズ抵抗組立体の製造方法。
12. 前記可溶体をカッティングする段階は、カッティングポイント数及びカッティング形状のうち少なくとも何れか１つを異ならせて、前記可溶体をカッティングすることを特徴とする請求項１１に記載のヒューズ抵抗組立体の製造方法。
13. 前記抵抗体の中空部内に前記ヒューズを挿入して接合させた後に、前記ヒューズが挿入された前記抵抗体の前記中空部を、充填層を使用して充填する段階と、
    前記充填層で充填された前記抵抗体に対して保護チューブを使用して取り囲む段階と、をさらに含むことを特徴とする請求項８に記載のヒューズ抵抗組立体の製造方法。