JP2019007840A - 三次元測定ユニット及び測定プローブの識別方法 - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 315
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 252
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 25
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 111
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 32
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 claims description 25
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract description 8
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 9
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 8
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
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- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
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- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/20—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring contours or curvatures, e.g. determining profile
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- G01B5/004—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
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- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
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- G06F21/00—Security arrangements for protecting computers, components thereof, programs or data against unauthorised activity
- G06F21/70—Protecting specific internal or peripheral components, in which the protection of a component leads to protection of the entire computer
- G06F21/71—Protecting specific internal or peripheral components, in which the protection of a component leads to protection of the entire computer to assure secure computing or processing of information
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Abstract
Description
200…三次元測定装置本体
210…定盤
220…駆動機構
221…ビーム支持体
222…ビーム
223…コラム
224…スピンドル
225…プローブヘッド
300、301…測定プローブ
302、303…プローブ本体
304、305…スタイラスモジュール
304A、305A…フランジ部
304B、305B…ステム部
304C、305C…測定子
320…懸架機構
322…測定ユニット
323、324…アナログセンサ
325…ADC
330、331…第1識別コード
332…通信ユニット
333、434A、434B…処理部
334、433、433A、433B…通信部
335…記憶部
336…較正情報
340…第2識別コード
342、344、346…固有情報
400…処理装置
420…セレクタユニット
422…判定部
424、424A、424B、424C、432、432A、432B…リレー部
426、426A、426B、426C…設定部
430、440…プローブ信号処理I/F部
430A…マスタI/F部
430B…スレーブI/F部
431、431A、431B…第1判定部
435、435A、435B…後段判定部
436A、436B…プローブ信号処理部
437A、437B…I/F制御部
441…第2判定部
450…処理本体部
500…モーションコントローラ
600…ホストコンピュータ
AO…デコード指令信号
CN…コネクタ
HC…制御担当信号
MC…特定コード
PS…プローブ信号
W…被測定物
Claims (16)
- 測定プローブと、該測定プローブの出力に基づいて被測定物の形状座標を演算する処理装置と、を備える三次元測定ユニットにおいて、
前記測定プローブは第1識別コードを有し、
前記処理装置は、
該測定プローブから出力される該第1識別コードが特定コードと適合するかどうかの判定を行う第1判定部と、
該第1判定部で該第1識別コードが該特定コードと適合し且つ前記測定プローブが更に第2識別コードを有した際には、該測定プローブから出力される該第2識別コードを特定して該測定プローブを識別する後段判定部と、を備える
ことを特徴とする三次元測定ユニット。 - 請求項1において、
前記処理装置は、更に、前記第1識別コードが前記特定コードと適合しない際には、前記第1識別コードの特定を行い、前記測定プローブを識別する第2判定部を備える
ことを特徴とする三次元測定ユニット。 - 請求項2において、
前記処理装置は、更に、前記第1識別コードが前記特定コードと適合する際には前記第1判定部に該第1識別コードを出力し、該第1識別コードが該特定コードと適合しない際には前記第2判定部に該第1識別コードを出力するセレクタユニットを備える
ことを特徴とする三次元測定ユニット。 - 請求項1乃至3のいずれかにおいて、
前記第1識別コードは、前記測定プローブからアナログデータとして出力される
ことを特徴とする三次元測定ユニット。 - 請求項1乃至4のいずれかにおいて、
前記第2識別コードは、前記測定プローブからデジタルデータとして出力される
ことを特徴とする三次元測定ユニット。 - 請求項1乃至5のいずれかにおいて、
前記処理装置は、前記第1判定部で前記第1識別コードが前記特定コードと適合した際には、前記測定プローブに前記第2識別コードの出力要求を送信し、該測定プローブから該第2識別コードを出力させる通信部を備える
ことを特徴とする三次元測定ユニット。 - 請求項1乃至6のいずれかにおいて、
前記測定プローブは、前記被測定物を検出する測定子を有するスタイラスモジュールと、該スタイラスモジュールを支持するプローブ本体と、を備え、
前記第2識別コードは、前記プローブ本体の固有情報と前記スタイラスモジュールの固有情報とを備える
ことを特徴とする三次元測定ユニット。 - 請求項7において、
前記固有情報はそれぞれ、全体並びに個別要素の種類、形状、重さ、及び重心のうちの少なくとも1つの情報を有する
ことを特徴とする三次元測定ユニット。 - 請求項8において、更に、
前記固有情報はそれぞれ、製造元情報を有する
ことを特徴とする三次元測定ユニット。 - 請求項7乃至9のいずれかにおいて、
前記プローブ本体の前記固有情報は、該プローブ本体が複数のモジュールに分離可能とされている場合には、更に、該複数のモジュールに関する情報を有する
ことを特徴とする三次元測定ユニット。 - 請求項7乃至10のいずれかにおいて、
前記スタイラスモジュールの前記固有情報は、該スタイラスモジュールが前記測定子を支持するステム部を備える場合には、更に、該ステム部に関する情報を有する
ことを特徴とする三次元測定ユニット。 - 請求項1乃至11のいずれかにおいて、
更に、前記測定プローブの較正情報を記憶する記憶部を備え、
前記処理装置は、識別された前記測定プローブに対応する前記較正情報を該記憶部から読み出し、該較正情報を用いて前記形状座標の演算を行う
ことを特徴とする三次元測定ユニット。 - 請求項1乃至12のいずれかにおいて、
前記処理装置は、識別される前記測定プローブの数に対応する数の前記後段判定部を備える
ことを特徴とする三次元測定ユニット。 - 測定プローブの出力に基づいて被測定物の形状座標を演算する三次元測定ユニットにおける測定プローブの識別方法において、
前記測定プローブから出力される該測定プローブの有する第1識別コードが特定コードと適合するかどうかの判定を行う工程と、
該判定により該第1識別コードが該特定コードと適合し且つ前記測定プローブが更に第2識別コードを有した際には、該測定プローブから出力される該第2識別コードを特定して該測定プローブを識別する工程と、
を含む
ことを特徴とする測定プローブの識別方法。 - 請求項14において、
更に、前記判定により前記第1識別コードが前記特定コードと適合しない際には、前記第1識別コードの特定を行うことで前記測定プローブを識別する工程を含む
ことを特徴とする測定プローブの識別方法。 - 請求項14または15において、
前記判定により前記第1識別コードが前記特定コードと適合した際には、前記測定プローブに前記第2識別コードの出力要求をし、該測定プローブから該第2識別コードを出力させる工程を含む
ことを特徴とする測定プローブの識別方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017123763A JP6491698B2 (ja) | 2017-06-23 | 2017-06-23 | 三次元測定ユニット及び測定プローブの識別方法 |
US16/013,467 US10788312B2 (en) | 2017-06-23 | 2018-06-20 | Coordinate measuring unit and method for recognizing measuring probe |
EP18179009.8A EP3418683B1 (en) | 2017-06-23 | 2018-06-21 | Coordinate measuring unit and method for recognizing measuring probe |
CN201810654941.5A CN109115139B (zh) | 2017-06-23 | 2018-06-22 | 三维测量单元和测量探测器的识别方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017123763A JP6491698B2 (ja) | 2017-06-23 | 2017-06-23 | 三次元測定ユニット及び測定プローブの識別方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019007840A true JP2019007840A (ja) | 2019-01-17 |
JP6491698B2 JP6491698B2 (ja) | 2019-03-27 |
Family
ID=62748797
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017123763A Active JP6491698B2 (ja) | 2017-06-23 | 2017-06-23 | 三次元測定ユニット及び測定プローブの識別方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10788312B2 (ja) |
EP (1) | EP3418683B1 (ja) |
JP (1) | JP6491698B2 (ja) |
CN (1) | CN109115139B (ja) |
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Date | Code | Title | Description |
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A975 | Report on accelerated examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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