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JP2018037545A - 半導体モジュール - Google Patents

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智幸 庄司
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Abstract

【課題】ヒートパイプがトップヒート状態になることを回避し、高い冷却効率を維持することができる半導体モジュールを提供する。【解決手段】半導体モジュール10は、電極板32内に埋設されているヒートパイプ33を備える。ヒートパイプ33は、積層方向(z軸方向)から見たときに、半導体素子SW1から半導体素子SW1の両側方に向けて一方向(x軸方向)に沿って伸びる部分を有する。伝熱部は、半導体素子SW1の一方の側方に設けられている第1低圧側伝熱部34と、半導体素子SW1の他方の側方に設けられている第2低圧側伝熱部36と、を有する。【選択図】図2

Description

本明細書が開示する技術は、冷却器上に搭載される半導体モジュールに関する。
特許文献1は、ヒートパイプを利用して半導体素子で発生した熱を冷却器に伝熱する半導体モジュールを開示する。ヒートパイプは、半導体素子上に配置されている電極板内に埋設されており、半導体素子の一方の側方に向けて半導体素子から伸びるように構成されている。ヒートパイプが埋設されている部分の電極板と冷却器の間に金属ブロックが設けられている。これにより、半導体素子で発生した熱は、ヒートパイプと金属ブロックを介して冷却器に伝熱される。ヒートパイプを利用することで、半導体素子で発生した熱を効率的に冷却器まで伝熱させることができる。
WO2011/064841
特許文献1の半導体モジュールでは、電極板内に埋設されているヒートパイプが、半導体素子の一方の側方にのみ向けて伸びるように構成されている。このような構成によると、半導体モジュールの姿勢によっては、半導体素子に対応したヒートパイプの一方の端部(高温部)が金属ブロックに対応したヒートパイプの端部(低温部)よりも高い位置となるトップヒート状態となり、冷却効率が低下する。本明細書は、トップヒート状態になることを回避し、高い冷却効率を維持することができる半導体モジュールを提供する。
本明細書が開示する半導体モジュールの一実施形態は、冷却器上に搭載して用いられる。半導体モジュールは、冷却器上に配置される半導体素子、半導体素子上に配置されている電極板、電極板内に埋設されているヒートパイプ、及び、電極板と冷却器の間に配置される伝熱部を備える。電極板は、冷却器と半導体素子と電極板が積層する積層方向から見たときに、半導体素子の一方の側方と他方の側方の間を少なくとも一方向に沿って半導体素子を超えて伸びている。電極板内に埋設されているヒートパイプは、積層方向から見たときに、半導体素子から半導体素子の両側方に向けて一方向に沿って伸びる部分を有する。伝熱部は、第1伝熱部と第2伝熱部を有する。第1伝熱部は、半導体素子の一方の側方において、電極板と冷却器の間に配置されており、電極板内のヒートパイプの熱を冷却器に伝熱するように構成されている。第2伝熱部は、半導体素子の他方の側方において、電極板と冷却器の間に配置されており、電極板内のヒートパイプの熱を冷却器に伝熱するように構成されている。この実施形態の半導体モジュールでは、電極板内に埋設されているヒートパイプが、積層方向から見たときに、半導体素子の両側方に向けて伸びるように構成されている。このため、この実施形態の半導体モジュールでは、例えば半導体モジュールの姿勢によって半導体素子の一方の側方側にあるヒートパイプの部分がトップヒート状態になっても、半導体素子の他方の側方側にあるヒートパイプの部分がトップヒート状態にならない。このように、この実施形態の半導体モジュールでは、ヒートパイプがトップヒート状態になることが回避される。したがって、この実施形態の半導体モジュールは、高い冷却効率を維持することができる。
電力変換装置の回路構成の概要を示す。 半導体モジュールのうちのU相アームの要部断面図を模式的に示す。 U相アームの第1構造体の分解斜視図を模式的に示す。 電極板内に埋設されているヒートパイプのレイアウトの一例を示す。 電極板内に埋設されているヒートパイプのレイアウトの他の一例を示す。
以下、本明細書で開示される技術の特徴を整理する。なお、以下に記載する技術要素は、それぞれ独立した技術要素であって、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。
本明細書が開示する半導体モジュールの一実施形態は、冷却器上に搭載して用いられる。半導体モジュールは、例えば直流電圧を変圧して出力するコンバータ、直流電圧と交流電圧の間で変換して出力するインバータを構成するために用いられる。半導体モジュールは、冷却器上に配置される半導体素子、半導体素子上に配置されている電極板、電極板内に埋設されているヒートパイプ、及び、電極板と冷却器の間に配置される伝熱部を備えていてもよい。半導体素子の半導体材料は特に限定されないが、一例では、シリコン(Si)、炭化珪素(SiC)又は窒化ガリウム(GaN)が例示される。半導体素子の種類は特に限定されないが、一例では、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)が例示される。また、半導体素子は、スイッチング素子と還流ダイオードが一体化したチップとして構成されていてもよい。電極板は、冷却器と半導体素子と電極板が積層する積層方向から見たときに、半導体素子の一方の側方と他方の側方の間を少なくとも一方向に沿って半導体素子を超えて伸びている。電極板内に埋設されているヒートパイプは、積層方向から見たときに、半導体素子から半導体素子の両側方に向けて一方向に沿って伸びる部分を有する。ヒートパイプの種類は特に限定されないが、一例では、自励振動を利用するタイプ、毛細管現象を利用するタイプが例示される。伝熱部は、第1伝熱部と第2伝熱部を有する。第1伝熱部は、半導体素子の一方の側方において、電極板と冷却器の間に配置されており、電極板内のヒートパイプの熱を冷却器に伝熱するように構成されている。第2伝熱部は、半導体素子の他方の側方において、電極板と冷却器の間に配置されており、電極板内のヒートパイプの熱を冷却器に伝熱するように構成されている。
上記実施形態の半導体モジュールでは、第1伝熱部と第2伝熱部はそれぞれ、金属ブロックを有していてもよい。これにより、ヒートパイプの熱を冷却器に効率的に伝熱することができる。
上記実施形態の半導体モジュールでは、ヒートパイプが、積層方向から見たときに、半導体素子の一方の側方と他方の側方の間を一方向に沿って半導体素子を超えて連続して伸びるように構成されていてもよい。あるいは、上記実施形態の半導体モジュールでは、ヒートパイプが第1ヒートパイプと第2ヒートパイプを有していてもよい。第1ヒートパイプは、積層方向から見たときに、半導体素子から半導体素子の一方の側方に向けて一方向に沿って伸びるように構成されている。第2ヒートパイプは、積層方向から見たときに、半導体素子から半導体素子の他方の側方に向けて一方向に沿って伸びるように構成されている。いずれの実施形態の半導体モジュールにおいても、ヒートパイプがトップヒート状態になることが回避される。
図1に示されるように、半導体モジュール10は、直流電源11と交流モータ13の間に接続されたインバータ回路を構成する。半導体モジュール10は、直流電源11から供給される直流電圧をスイッチングすることにより、その直流電圧を交流電圧に変換して交流モータ13に供給する。
半導体モジュール10は、直流電源の低圧側端子11Nに接続可能に構成されている低圧側配線14Nと、直流電源11の高圧側端子11Pに接続可能に構成されている高圧側配線14Pと、低圧側配線14Nと高圧側配線14Pの間で並列に接続されている3つの相アーム10U,10V,10Wを備える。
U相アーム10Uは、低圧側配線14Nと高圧側配線14Pの間で直列に接続された第1スイッチング素子SW1と第2スイッチング素子SW2を有しており、第1スイッチング素子SW1には第1還流ダイオードD1が並列に接続されており、第2スイッチング素子SW2には第2還流ダイオードD2が並列に接続されている。U相出力配線Uoutの一端が第1スイッチング素子SW1と第2スイッチング素子SW2の接続点に接続されており、U相出力配線Uoutの他端が交流モータ13に接続されている。
V相アーム10Vは、低圧側配線14Nと高圧側配線14Pの間で直列に接続された第3スイッチング素子SW3と第4スイッチング素子SW4を有しており、第3スイッチング素子SW3には第3還流ダイオードD3が並列に接続されており、第4スイッチング素子SW4には第4還流ダイオードD4が並列に接続されている。V相出力配線Voutの一端が第3スイッチング素子SW3と第4スイッチング素子SW4の接続点に接続されており、V相出力配線Voutの他端が交流モータ13に接続されている。
W相アーム10Wは、低圧側配線14Nと高圧側配線14Pの間で直列に接続された第5スイッチング素子SW5と第6スイッチング素子SW6を有しており、第5スイッチング素子SW5には第5還流ダイオードD5が並列に接続されており、第6スイッチング素子SW6には第6還流ダイオードD6が並列に接続されている。W相出力配線Woutの一端が第5スイッチング素子SW5と第6スイッチング素子SW6の接続点に接続されており、W相出力配線Woutの他端が交流モータ13に接続されている。一例として、本実施例では、スイッチング素子SW1〜6にはMOSFETが用いられており、還流ダイオードD1〜6にはショットキーダイオードが用いられている。
以下、U相アーム10Uの形態を詳細に説明するが、他のV相アーム10VとW相アーム10Wも同様の形態を備えている。例えば、半導体モジュール10は、以下で説明するU相アーム10Uと同様のものを3つ用意し、それらを縦方向に積層して構成してもよく、それらを面方向に並べて構成してもよい。あるいは、半導体モジュール10は、各相アームの低圧側(下側)の半導体素子(SW1,3,5とD1,3,5)を面方向に並べた構造体と高圧側(上側)の半導体素子(SW1,3,5とD1,3,5)を面方向に並べた構造体を用意し、これらを積層して構成してもよい。半導体モジュール10は、以下で説明する基本ユニットの技術を利用して様々な形態に構築することができる。なお、以下では、第1スイッチング素子SW1と第1還流ダイオードD1が一体化したチップとして構成されており、第2スイッチング素子SW2と第2還流ダイオードD2も一体化したチップとして構成されている例を説明する。以下では、第1スイッチング素子SW1と第1還流ダイオードD1が一体化したチップを第1スイッチング素子SW1として記載し、第2スイッチング素子SW2と第2還流ダイオードD2が一体化したチップを第2スイッチング素子SW2として記載する。
図2に示されるように、U相アーム10Uは、第1構造体10Uaと第2構造体10Ubを備える。第1構造体10Uaは、U相アーム10Uのうちの低圧側(下側)に対応する。第2構造体10Ubは、U相アーム10Uのうちの高圧側(上側)に対応する。第1構造体10Uaと第2構造体10Ubは、一対の冷却器22の間に配置されているとともに、絶縁介挿板26を間において対向するように配置されている。絶縁介挿板26は、第1構造体10Uaと第2構造体10Ubの間で挟持されている。絶縁介挿板26を挟持するための力は、例えば、一対の冷却器22に形成されたボルト貫通孔(図示省略)を貫通するボルトをナットを用いて螺合することによって生成してもよい。絶縁介挿板26の材料には、一例として酸化シリコンが用いられてもよい。第1構造体10Uaと第2構造体10Ubは、一方をy軸周りに180度回転させると分かるように、共通の形態を備えていることを特徴とする。
第1構造体10Uaと第2構造体10Ubはいずれも、絶縁基板24を有する。絶縁基板24は、例えば、アルミニウムの金属層24aと窒化アルミニウムの絶縁層24bとアルミニウムの回路層24cが冷却器22の表面からこの順で積層された絶縁基板である。
第1構造体10Uaは、第1出力バスバーUout1、低圧側バスバー10N、第1スイッチング素子SW1、低圧側電極板32、低圧側ヒートパイプ33、第1低圧側伝熱部34、第2低圧側伝熱部36及び低圧側支持部38を備える。
第1出力バスバーUout1は、絶縁基板24上に設けられており、x軸に長手方向を有する概ね平板形状である(図3参照)。第1出力バスバーUout1は、絶縁基板24の回路層24cの表面にロウ付けによって固定されている。第1出力バスバーUout1は、第1スイッチング素子SW1のドレイン電極及びアノード電極に接続されているとともに(図3参照)、U相出力配線Uout(図1参照)に電気的に接続される。第1出力バスバーUout1と第1スイッチング素子SW1は、はんだを介して接続されている。
低圧側バスバー10Nは、絶縁基板24上に設けられており、x軸に長手方向を有する概ね平板形状である(図3参照)。低圧側バスバー10Nは、絶縁基板24の回路層24cの表面にロウ付けによって固定されている。低圧側バスバー10Nは、第1低圧側伝熱部34及び低圧側電極板32を介して第1スイッチング素子SW1のソース電極及びカソード電極に電気的に接続されているとともに、低圧側配線14N(図1参照)に電気的に接続される。
第1出力バスバーUout1と低圧側バスバー10Nは、x軸方向において、絶縁基板24から反対向きに延出している。第1出力バスバーUout1と低圧側バスバー10Nの材料には、一例として銅(Cu)が用いられてもよい。なお、第1スイッチング素子SW1のゲート電極用のバスバーの図示は省略されているが、他のバスバーとの干渉を避けるために、他のバスバーとは異なる方向(この例では、y軸方向)に沿って絶縁基板24から延出するように設けられるのが望ましい。
低圧側電極板32は、第1スイッチング素子SW1上に設けられており、積層方向(z軸方向)から見たときに、第1スイッチング素子SW1の一方の側方と他方の側方の間をx軸方向に沿って第1スイッチング素子SW1を超えて伸びている。低圧側電極板32と第1スイッチング素子SW1は、はんだを介して接続されている。
低圧側ヒートパイプ33は、低圧側電極板32内に埋設されており、自励振動式ヒートパイプである。この例に代えて、低圧側ヒートパイプ33は、毛細管現象を利用するウィック式ヒートパイプであってもよい。低圧側ヒートパイプ33は、積層方向(z軸方向)から見たときに、第1スイッチング素子SW1から第1スイッチング素子SW1の両側方に向けてx軸方向に沿って伸びる部分を有する。
図4Aに示されるように、低圧側ヒートパイプ33は、積層方向(z軸方向)から見たときに、第1スイッチング素子SW1の一方の側方と他方の側方の間をx軸方向に沿って第1スイッチング素子SW1を超えて連続して伸びるように構成されている。低圧側ヒートパイプ33は、x軸方向に沿って往復するように構成されている熱媒体路を有しており、この熱媒体路がx軸方向に沿って伸びる複数の直線部分を有する。熱媒体路には、作動液が封入されており、この作動液が振動して熱輸送を行う。第1スイッチング素子SW1は、低圧側ヒートパイプ33の中央位置、即ち、熱媒体路の複数の直線部分の中央位置に配置されている。この例に代えて、図4Bに示されるように、低圧側ヒートパイプ33は、第1ヒートパイプ33aと第2ヒートパイプ33bを有していてもよい。第1ヒートパイプ33aは、積層方向(z軸方向)から見たときに、第1スイッチング素子SW1から第1スイッチング素子SW1の一方の側方(図示左側)に向けてx軸方向に沿って伸びるように構成されている。第2ヒートパイプ33bは、積層方向(z軸方向)から見たときに、第1スイッチング素子SW1から第1スイッチング素子SW1の他方の側方(図示右側)に向けてx軸方向に沿って伸びるように構成されている。この例では、第1スイッチング素子SW1は、第1ヒートパイプ33aの一方の端部に対応して配置されるとともに、第2ヒートパイプ33bの一方の端部にも対応して配置されている。
図2及び図3に示されるように、第1低圧側伝熱部34は、金属材料を角柱状に形成した金属ブロックで構成されており、第1スイッチング素子SW1の一方の側方において、低圧側電極板32と低圧側バスバー10Nの間、即ち、低圧側電極板32と冷却器22の間に配置されている。第1低圧側伝熱部34は、積層方向(z軸方向)から見たときに、低圧側電極板32に埋設されている低圧側ヒートパイプ33と重複する位置関係に配置されている(図4A,4B参照)。これにより、第1低圧側伝熱部34は、低圧側電極板32に埋設されている低圧側ヒートパイプ33の熱を冷却器22に伝熱するように構成されている。第1低圧側伝熱部34は、低圧側バスバー10Nと低圧側電極板32の各々に、はんだを介して接続されている。第1低圧側伝熱部34は、低電気抵抗で高熱伝導な材料を用いて構成されている。第1低圧側伝熱部34の材料は、一例として銅(Cu)が用いられてもよい。
図2及び図3に示されるように、第2低圧側伝熱部36は、金属材料を角柱状に形成した金属ブロックで構成されており、第1スイッチング素子SW1の他方の側方において、低圧側電極板32と絶縁層24bの間、即ち、低圧側電極板32と冷却器22の間に配置されている。第2低圧側伝熱部36は、第1出力バスバーUout1と回路層24cに形成されている貫通孔内に配置されており、第1出力バスバーUout1と回路層24cから電気的に絶縁されている。第2低圧側伝熱部36は、積層方向(z軸方向)から見たときに、低圧側電極板32に埋設されている低圧側ヒートパイプ33と重複する位置関係に配置されている(図4A,4B参照)。これにより、第2低圧側伝熱部36は、低圧側電極板32に埋設されている低圧側ヒートパイプ33の熱を冷却器22に伝熱するように構成されている。第2低圧側伝熱部36は、低圧側電極板32と絶縁層24bの各々に、はんだを介して接続されている。第2低圧側伝熱部36は、高熱伝導な材料を用いて構成されている。第2低圧側伝熱部36の材料は、一例として銅(Cu)が用いられてもよい。
図2及び図3に示されるように、低圧側支持部38は、金属材料を角柱状に形成した金属ブロックで構成されており、第1スイッチング素子SW1の他方の側方において、第1出力バスバーUout1と絶縁介挿板26の間に配置されている。低圧側支持部38は、一対の冷却器22内の第1構造体10Uaの位置を安定させるために設けられている。
図2に示されるように、第2構造体10Ubは、第2出力バスバーUout2、高圧側バスバー10P、第2スイッチング素子SW2、高圧側電極板42、高圧側ヒートパイプ43、第1高圧側伝熱部44、第2高圧側伝熱部46及び高圧側支持部48を備える。上記したように、第1構造体10Uaと第2構造体10Ubは共通形態であり、第2構造体10Ubの第2出力バスバーUout2と高圧側バスバー10Pと第2スイッチング素子SW2と高圧側電極板42と高圧側ヒートパイプ43と第1高圧側伝熱部44と第2高圧側伝熱部46と高圧側支持部48はそれぞれ、第1構造体10Uaの低圧側バスバー10Nと第1出力バスバーUout1と第1スイッチング素子SW1と低圧側電極板32と低圧側ヒートパイプ33と第1低圧側伝熱部34と第2低圧側伝熱部36と低圧側支持部38に対応する。第2構造体10Ubでは、第2出力バスバーUout2がU相出力配線Uout(図1参照)に電気的に接続され、高圧側バスバー10Pが高圧側配線14P(図1参照)に電気的に接続される。
U相アーム10Uはさらに、導電体部28を備える。導電体部28は、第1構造体10Uaの第1出力バスバーUout1と第2構造体10Ubの第2出力バスバーUout2の間に設けられており、第1出力バスバーUout1と第2出力バスバーUout2を電気的に接続する。一例では、導電体部28には、発砲金属が用いられている。
次に、U相アーム10Uの特徴を列記する。
(1)U相アーム10Uでは、電極板32,42内に埋設されているヒートパイプ33,43が、積層方向(z軸方向)から見たときに、スイッチング素子SW1,SW2の両側方に向けて伸びるように構成されている(図4A,4B参照)。このため、U相アーム10Uでは、例えばU相アーム10Uの姿勢がy軸周りに傾斜することによってスイッチング素子SW1,SW2の一方の側方側にあるヒートパイプ33,43の部分がトップヒート状態になっても、スイッチング素子SW1,SW2の他方の側方側にあるヒートパイプ33,43の部分がトップヒート状態にならない。このように、U相アーム10Uでは、ヒートパイプ33,43がトップヒート状態になることが回避される。U相アーム10Uは、高い冷却効率を維持することができる。
(2)上記したように、U相アーム10Uでは、第1構造体10Uaと第2構造体10Ubが共通形態であることを特徴としている。このため、1種類の基本ユニットである構造体10Ua,10Ubを用意しておけば、U相アーム10Uを構築することができ、さらに、V相アーム10V及びW相アーム10Wも同様に構築することができる。すなわち、本実施例の技術によると、1種類の基本ユニットである構造体10Ua,10Ubを用意しておけば、半導体モジュール10を構築することができる。半導体モジュール10は、部品点数が少ない簡素な構成であると評価できる。
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
10:半導体モジュール
10N:低圧側バスバー
10P:高圧側バスバー
10U:U相アーム
10V:V相アーム
10W:W相アーム
10Ua:第1構造体
10Ub:第2構造体
22:冷却器
24:絶縁基板
26:絶縁介挿板
28:導電体部
32,42:電極板
33,43:ヒートパイプ
34,44:第1伝熱部
36,46:第2伝熱部
38,48:支持部

Claims (4)

  1. 冷却器上に搭載される半導体モジュールであって、
    冷却器上に配置される半導体素子と、
    前記半導体素子上に配置されている電極板と、
    前記電極板内に埋設されているヒートパイプと、
    前記電極板と前記冷却器の間に配置される伝熱部と、を備えており、
    前記電極板は、前記冷却器と前記半導体素子と前記電極板が積層する積層方向から見たときに、前記半導体素子の一方の側方と他方の側方の間を少なくとも一方向に沿って前記半導体素子を超えて伸びており、
    前記電極板内に埋設されている前記ヒートパイプは、前記積層方向から見たときに、前記半導体素子から前記半導体素子の両側方に向けて前記一方向に沿って伸びる部分を有しており、
    前記伝熱部は、
    前記半導体素子の前記一方の側方において、前記電極板と前記冷却器の間に配置されており、前記電極板内の前記ヒートパイプの熱を前記冷却器に伝熱するように構成されている第1伝熱部と、
    前記半導体素子の前記他方の側方において、前記電極板と前記冷却器の間に配置されており、前記電極板内の前記ヒートパイプの熱を前記冷却器に伝熱するように構成されている第2伝熱部と、を有する、半導体モジュール。
  2. 前記第1伝熱部と前記第2伝熱部はそれぞれ、金属ブロックを有する、請求項1に記載の半導体モジュール。
  3. 前記ヒートパイプは、前記積層方向から見たときに、前記半導体素子の前記一方の側方と前記他方の側方の間を前記一方向に沿って前記半導体素子を超えて連続して伸びるように構成されている、請求項1又は2に記載の半導体モジュール。
  4. 前記ヒートパイプは、
    前記積層方向から見たときに、前記半導体素子から前記半導体素子の前記一方の側方に向けて前記一方向に沿って伸びるように構成されている第1ヒートパイプと、
    前記積層方向から見たときに、前記半導体素子から前記半導体素子の前記他方の側方に向けて前記一方向に沿って伸びるように構成されている第2ヒートパイプと、を有する、請求項1又は2に記載の半導体モジュール。
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