JP2014176267A - Load control device - Google Patents
Load control device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014176267A JP2014176267A JP2013049510A JP2013049510A JP2014176267A JP 2014176267 A JP2014176267 A JP 2014176267A JP 2013049510 A JP2013049510 A JP 2013049510A JP 2013049510 A JP2013049510 A JP 2013049510A JP 2014176267 A JP2014176267 A JP 2014176267A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- varistor
- voltage
- diode
- load control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 42
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 39
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 claims abstract description 15
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 3
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H9/00—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection
- H02H9/04—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage
- H02H9/041—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage using a short-circuiting device
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H7/00—Emergency protective circuit arrangements specially adapted for specific types of electric machines or apparatus or for sectionalised protection of cable or line systems, and effecting automatic switching in the event of an undesired change from normal working conditions
- H02H7/22—Emergency protective circuit arrangements specially adapted for specific types of electric machines or apparatus or for sectionalised protection of cable or line systems, and effecting automatic switching in the event of an undesired change from normal working conditions for distribution gear, e.g. bus-bar systems; for switching devices
- H02H7/222—Emergency protective circuit arrangements specially adapted for specific types of electric machines or apparatus or for sectionalised protection of cable or line systems, and effecting automatic switching in the event of an undesired change from normal working conditions for distribution gear, e.g. bus-bar systems; for switching devices for switches
Landscapes
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Control Of Voltage And Current In General (AREA)
Abstract
【課題】雷サージに起因する半導体スイッチング素子のサージ破壊を抑制可能な負荷制御装置を提供する。
【解決手段】負荷制御装置10は、半導体スイッチング素子17を有する主開閉部1と、制御回路4と、保護回路5とを備える。保護回路5は、バリスタ回路18とダイオード回路8を有する。バリスタ回路18は、バリスタ7および第1コンデンサ6の並列回路を有する。ダイオード回路8は、第2コンデンサ9、第1ツェナーダイオード11および第2ツェナーダイオード12の直列回路を有する。第1ツェナーダイオード11のアノードは、第2コンデンサ9を介して第2ツェナーダイオード12のアノードに接続される。バリスタ回路18およびダイオード回路8は、主開閉部1に並列接続される。ダイオード回路8における雷サージに対する応答時間は、バリスタ7における前記雷サージに対する応答時間よりも短い。
【選択図】図1A load control device capable of suppressing a surge breakdown of a semiconductor switching element caused by a lightning surge is provided.
A load control device includes a main switching unit having a semiconductor switching element, a control circuit, and a protection circuit. The protection circuit 5 includes a varistor circuit 18 and a diode circuit 8. The varistor circuit 18 has a parallel circuit of the varistor 7 and the first capacitor 6. The diode circuit 8 has a series circuit of a second capacitor 9, a first Zener diode 11, and a second Zener diode 12. The anode of the first Zener diode 11 is connected to the anode of the second Zener diode 12 via the second capacitor 9. The varistor circuit 18 and the diode circuit 8 are connected to the main switching unit 1 in parallel. The response time to the lightning surge in the diode circuit 8 is shorter than the response time to the lightning surge in the varistor 7.
[Selection] Figure 1
Description
本発明は、負荷制御装置に関するものである。 The present invention relates to a load control device.
従来から、図8に示す構成を有する負荷制御装置60が提案されている(特許文献1)。
Conventionally, a
負荷制御装置60は、主開閉部61と、整流部62と、制御部63と、第1電源部64と、第2電源部71と、第3電源部65とを備えている。特許文献1には、負荷制御装置60が、交流電源69から負荷70への給電路に設けられている旨が記載されている。
The
主開閉部61は、負荷70に対して電源の供給を制御する。また、主開閉部61は、トランジスタ構造のスイッチ素子66を有している。制御部63は、上述の負荷制御装置60の全体を制御する。第1電源部64は、制御部63に安定した電源を供給する。第2電源部71は、負荷70への電力停止状態のときに第1電源部64へ電力を供給する。第3電源部65は、負荷70への電力供給が行われているときに第1電源部64へ電力を供給する。特許文献1には、制御部63が、主開閉部61を導通または非導通とさせる旨が記載されている。また、特許文献1には、主開閉部61に、バリスタ67が並列接続されている旨が記載されている。そして、特許文献1には、バリスタ67に、コンデンサ68が並列接続されている旨が記載されている。
The main opening /
負荷制御装置60では、バリスタ67を主開閉部61に並列接続しているので、例えば、負荷制御装置60に雷サージ電圧が印加されたとき、主開閉部61のスイッチ素子66に流れる雷サージ電流を、バリスタ67に分流することが可能となる。
In the
しかしながら、バリスタ67は、一般的に、雷サージに対する応答時間が1μs〜数μsである。このため、負荷制御装置60では、雷サージ電圧が印加されたとき、バリスタ67に雷サージ電流が分流する前に、スイッチ素子66がサージ破壊する可能性がある。
However, the
本発明は上記事由に鑑みて為されたものであり、その目的は、雷サージに起因する半導体スイッチング素子のサージ破壊を抑制可能な負荷制御装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above reasons, and an object thereof is to provide a load control device capable of suppressing surge breakdown of a semiconductor switching element caused by lightning surge.
本発明の負荷制御装置は、交流電源から負荷への給電路に設ける主開閉部を備えた負荷制御装置であって、半導体スイッチング素子を有する前記主開閉部と、前記主開閉部のオンオフを制御する制御回路と、前記半導体スイッチング素子に過電圧が印加されるのを抑制する保護回路とを備え、前記保護回路は、バリスタ回路とダイオード回路とを有し、前記バリスタ回路は、バリスタおよび第1コンデンサの並列回路を有し、前記ダイオード回路は、第2コンデンサ、第1ツェナーダイオードおよび第2ツェナーダイオードの直列回路を有し、前記第1ツェナーダイオードのアノード側は、前記第2コンデンサを介して、前記第2ツェナーダイオードのアノード側に接続され、前記バリスタ回路および前記ダイオード回路の各々は、前記主開閉部に並列接続されており、前記ダイオード回路における雷サージに対する応答時間は、前記バリスタにおける前記雷サージに対する応答時間よりも短いことを特徴とする。 The load control device of the present invention is a load control device including a main switching unit provided in a power supply path from an AC power supply to a load, and controls the main switching unit having a semiconductor switching element and on / off of the main switching unit. A control circuit that suppresses application of an overvoltage to the semiconductor switching element, the protection circuit including a varistor circuit and a diode circuit, and the varistor circuit includes a varistor and a first capacitor. The diode circuit has a series circuit of a second capacitor, a first Zener diode, and a second Zener diode, and the anode side of the first Zener diode is connected via the second capacitor. The varistor circuit and the diode circuit are connected to the anode side of the second Zener diode, and Are connected in parallel to the parts, response time to lightning surges in the diode circuit being shorter than the response time for the lightning surge in the varistor.
この負荷制御装置において、前記第1ツェナーダイオードのツェナー電圧は、前記第2ツェナーダイオードのツェナー電圧と同じ大きさで、且つ、前記バリスタのバリスタ電圧よりも小さく、且つ、前記交流電源からの交流電圧の波高値よりも大きく、前記バリスタ電圧は、前記半導体スイッチング素子の耐圧よりも小さいことが好ましい。 In this load control device, the Zener voltage of the first Zener diode is the same as the Zener voltage of the second Zener diode, is smaller than the varistor voltage of the varistor, and is an AC voltage from the AC power source. Preferably, the varistor voltage is smaller than the withstand voltage of the semiconductor switching element.
この負荷制御装置において、前記第2コンデンサの静電容量は、前記第1ツェナーダイオードおよび前記第2ツェナーダイオードと前記第2コンデンサとで決まる時定数が、前記バリスタの前記応答時間よりも短くなるように、設定されることが好ましい。 In this load control device, the capacitance of the second capacitor is such that the time constant determined by the first Zener diode and the second Zener diode and the second capacitor is shorter than the response time of the varistor. Is preferably set.
本発明の負荷制御装置においては、雷サージに起因する半導体スイッチング素子のサージ破壊を抑制可能となる。 In the load control device of the present invention, the surge breakdown of the semiconductor switching element due to the lightning surge can be suppressed.
(実施形態1)
以下、本実施形態の負荷制御装置について、図1を参照しながら説明する。
(Embodiment 1)
Hereinafter, the load control device of the present embodiment will be described with reference to FIG.
本実施形態の負荷制御装置10は、交流電源20から負荷21への給電路に設ける主開閉部1を備えたものである。なお、交流電源20は、例えば、商用電源である。また、負荷21は、例えば、照明負荷である。また、主開閉部1は、上記給電路を開閉するものである。
The
負荷制御装置10は、上述の主開閉部1と、制御回路4と、保護回路5とを備えている。
The
主開閉部1は、2個の半導体スイッチング素子17,17を有している。半導体スイッチング素子17としては、例えば、エンハンスメント型(ノーマリオフ型)のnチャネルMOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)を用いることができる。本実施形態では、2個の半導体スイッチング素子17,17が、互いのソース電極同士を接続して逆直列接続されている。また、本実施形態では、各半導体スイッチング素子17の耐圧が、互いに等しくなるように設定されている。なお、本実施形態では、各半導体スイッチング素子17のソース電極同士を接続しているが、各半導体スイッチング素子17のドレイン電極同士を接続してもよい。また、本実施形態では、主開閉部1として、例えば、双方向半導体スイッチング素子を用いてもよい。双方向半導体スイッチング素子とは、2個の主端子と、これら2個の主端子間に流れる電流の向きを制御するための2個の制御端子とを備えたものである。また、本実施形態では、2個の半導体スイッチング素子17,17を逆直列接続しているが、2個の半導体スイッチング素子17,17を逆並列接続してもよい。
The
制御回路4は、主開閉部1と電気的に接続されている。具体的に説明すると、制御回路4は、各半導体スイッチング素子17のゲート電極と電気的に接続されている。
The
また、制御回路4は、主開閉部1のオンオフを制御する。制御回路4は、主開閉部1をオンさせることで上記給電路を閉成させる。また、制御回路4は、主開閉部1をオフさせることで上記給電路を開成させる。この制御回路4は、例えば、マイクロコンピュータに適宜のプログラムを搭載することにより構成することができる。プログラムは、例えば、マイクロコンピュータに予め設けられたメモリ(図示せず)に記憶されている。
Further, the
保護回路5は、各半導体スイッチング素子17に過電圧が印加されるのを抑制する。また、保護回路5は、バリスタ回路18と第1ダイオード回路8とを有している。
The
バリスタ回路18は、バリスタ7および第1コンデンサ6の並列回路を有している。また、バリスタ回路18は、主開閉部1に並列接続されている。
The
第1ダイオード回路8は、第2コンデンサ9と2個のツェナーダイオード11,12とを有している。なお、本実施形態では、ツェナーダイオード11およびツェナーダイオード12が、第1ツェナーダイオードおよび第2ツェナーダイオードを構成している。
The
また、第1ダイオード回路8は、第2コンデンサ9、第1ツェナーダイオード11および第2ツェナーダイオード12の直列回路を有している。
The
第1ツェナーダイオード11のアノード側は、第2コンデンサ9を介して、第2ツェナーダイオード12のアノード側に接続されている。本実施形態では、各ツェナーダイオード11,12のツェナー電圧が、互いに等しくなるように設定されている。
The anode side of the first Zener diode 11 is connected to the anode side of the second Zener
第1ダイオード回路8は、主開閉部1に並列接続されている。
The
また、負荷制御装置10は、整流平滑回路2と、電源回路3とを備えている。
The
整流平滑回路2は、交流電源20から負荷21への給電路に設けられる。この整流平滑回路2は、交流電源20からの交流電圧を整流および平滑する。整流平滑回路2は、例えば、4個のダイオードにより構成されたダイオードブリッジ(図示せず)と、平滑コンデンサ(図示せず)とで構成することができる。
The rectifying /
電源回路3は、整流平滑回路2と電気的に接続されている。また、電源回路3は、制御回路4と電気的に接続されている。
The
電源回路3は、整流平滑回路2により整流および平滑された直流電圧から所定の直流電圧を生成して制御回路4に供給する。電源回路3としては、例えば、DC/DCコンバータなどを用いることができる。
The
ところで、本実施形態の負荷制御装置10では、第1ダイオード回路8における雷サージに対する応答時間を、バリスタ7における雷サージに対する応答時間よりも短く設定してある。具体的に説明すると、負荷制御装置10では、各ツェナーダイオード11,12のツェナー電圧を、バリスタ7のバリスタ電圧よりも小さく、且つ、交流電源20からの交流電圧の波高値よりも大きく設定している。また、負荷制御装置10では、バリスタ7のバリスタ電圧を、各半導体スイッチング素子17の耐圧よりも小さく設定している。
By the way, in the
また、負荷制御装置10では、第2コンデンサ9の静電容量を、第1ツェナーダイオード11および第2ツェナーダイオード12と第2コンデンサ9とで決まる時定数が、バリスタ7における雷サージに対する応答時間よりも短くなるように、設定してある。
Further, in the
以下、本実施形態の負荷制御装置10において交流電源20からの交流電圧に雷サージ電圧が重畳されたときの動作について、図2に基づいて説明するが、各半導体スイッチング素子17がオフ状態であるものとして説明する。ここにおいて、図2は、交流電源20からの交流電圧に雷サージ電圧が重畳されたときに関し、回路シミュレータを用いて求めた負荷制御装置10の特性例を表している。また、図2中の左側の縦軸は、電圧値を表している。また、図2中の右側の縦軸は、電流値を表している。また、図2中の横軸は、交流電源20からの交流電圧に雷サージ電圧が重畳されたときからの時間を表している。また、図2中の(a)、(b)、(c)、(d)、(e)は、主開閉部1に印加された電圧、負荷21に流れる電流、主開閉部1に流れる電流、バリスタ7に流れる電流、第1ダイオード回路8に流れる電流をそれぞれ表している。また、上記回路シミュレータでは、IEC60669−2−1−1996に規定された規格に準じて、雷サージ電圧を、+1kVに設定している。また、上記回路シミュレータでは、交流電源20からの交流電圧に雷サージ電圧を重畳させる条件として、ノーマルモード印加としている。また、上記回路シミュレータでは、IEC60669−2−1−1996に規定された規格に準じて、交流電源20からの交流電圧(本実施形態では、200V)に雷サージ電圧を同期させる位相角を、+90°に設定している。また、上記回路シミュレータでは、雷サージ電圧の電圧波形の規約波頭長を、1.2μsに設定している。また、上記回路シミュレータでは、雷サージ電圧の電圧波形の規約波尾長を、50μsに設定している。また、上記回路シミュレータでは、図2中の0μsの時点で、交流電源20からの交流電圧に雷サージ電圧を重畳している。なお、規約波頭長および規約波尾長は、例えば、IEC61000−4−5−ED.2に定義されている。また、ノーマルモード印加については、例えば、IEC61000−4−5−ED.2に例示されている。
Hereinafter, the operation when the lightning surge voltage is superimposed on the AC voltage from the
本実施形態の負荷制御装置10では、例えば、雷サージ電圧が印加されたとき、図2に示すように、主開閉部1、第1ダイオード回路8、バリスタ7という順番で電流が流れる。具体的に説明すると、負荷制御装置10では、例えば、雷サージ電圧が印加されたとき、図2中の(a)に示すように、主開閉部1に印加された電圧(主開閉部1の両端電圧)が上昇する。これにより、負荷制御装置10では、主開閉部1の各半導体スイッチング素子17がオフ状態からオン状態となり、主開閉部1に電流(雷サージ電流)が流れる(図2中の(c)参照)。本実施形態では、+1kVの雷サージ電圧が印加されると、主開閉部1に印加された電圧が、略300V程度、上昇する。
In the
第1ダイオード回路8では、+1kVの雷サージ電圧が印加された場合、主開閉部1に印加された電圧が上昇すると、主開閉部1に流れる雷サージ電流に対して順方向である第2ツェナーダイオード12のツェナー電圧が、低下する。本実施形態では、主開閉部1に印加された電圧が上昇すると、第2ツェナーダイオード12のツェナー電圧が、1V程度、低下する。
In the
また、第1ダイオード回路8では、+1kVの雷サージ電圧が印加された場合、主開閉部1に印加された電圧が上昇すると、主開閉部1に流れる雷サージ電流に対して逆方向である第1ツェナーダイオード11の両端間に、主開閉部1の両端電圧が印加される。そして、第1ダイオード回路8では、主開閉部1の両端電圧が第1ツェナーダイオード11のツェナー電圧よりも大きくなったとき、第1ツェナーダイオード11に電流(ツェナー電流)が流れる(図2中の(e)参照)。これにより、本実施形態の負荷制御装置10では、主開閉部1に流れる雷サージ電流を、第1ダイオード回路8に分流することが可能となる。
Further, in the
また、第1ダイオード回路8では、第1ツェナーダイオード11にツェナー電流が流れると、第2コンデンサ9に電荷が蓄積され、第2コンデンサ9が充電される。そして、第1ダイオード回路8では、第2コンデンサ9が満充電されると、第1ツェナーダイオード11に流れるツェナー電流が、第2コンデンサ9が満充電された時のツェナー電流の電流値以上流れなくなる。なお、第1ツェナーダイオード11に流れるツェナー電流の波高値は、10Aである。また、第1ツェナーダイオード11に流れるツェナー電流の波高値は、第2コンデンサ9に蓄積される電荷量によって決まる。要するに、第1ツェナーダイオード11に流れるツェナー電流の波高値は、第2コンデンサ9の静電容量によって決まる。
In the
負荷制御装置10では、第2コンデンサ9の静電容量を、第1ダイオード回路8に流れる電流の電流値が規定値(本実施形態では、10A)以下となるように設定することによって、第1ダイオード回路8が故障するのを抑制することが可能となる。
In the
また、本実施形態の負荷制御装置10では、+1kVの雷サージ電圧が印加された場合、主開閉部1に印加された電圧が上昇すると、第1ツェナーダイオード11にツェナー電流が流れた後で、主開閉部1の両端電圧がバリスタ7のバリスタ電圧よりも大きくなったとき、バリスタ7に電流(バリスタ電流)が流れる(図2中の(d)参照)。これにより、本実施形態の負荷制御装置10では、主開閉部1に流れる雷サージ電流を、バリスタ回路18にも分流することが可能となる。
Further, in the
また、負荷制御装置10では、バリスタ7にバリスタ電流が流れると、バリスタ7のインピーダンスが、主開閉部1および第1ダイオード回路8それぞれのインピーダンスよりも小さくなる。これにより、負荷制御装置10では、主開閉部1に流れる雷サージ電流のほとんどを、バリスタ7に分流することが可能となる。よって、本実施形態の負荷制御装置10では、雷サージ電圧が印加されたとき、各半導体スイッチング素子17のサージ破壊(具体的には、アバランシェ破壊、または絶縁破壊)を抑制することが可能となる。
In the
また、負荷制御装置10では、第1ダイオード回路8における雷サージに対する応答時間を、バリスタ7における雷サージに対する応答時間よりも短くしている。これにより、負荷制御装置10では、例えば、雷サージ電圧が印加されたとき、バリスタ7が応答する前に、第1ダイオード回路8を応答させることが可能となる。よって、負荷制御装置10では、図8に示す構成を有する従来例の負荷制御装置60に比べて、各半導体スイッチング素子17のサージ破壊を抑制することが可能となる。
In the
また、負荷制御装置10では、各ツェナーダイオード11,12のツェナー電圧と、バリスタ7のバリスタ電圧とを、交流電源20からの交流電圧の波高値よりも大きく設定している。これにより、負荷制御装置10では、雷サージ電圧が印加されない場合、第1ダイオード回路8およびバリスタ回路18が誤って動作するのを防止することが可能となる。
In the
ここにおいて、負荷制御装置10では、−1kVの雷サージ電圧が印加された場合、主開閉部1に印加された電圧が上昇すると、第2ツェナーダイオード12の両端間に、主開閉部1の両端電圧が印加される。また、負荷制御装置10では、主開閉部1の両端電圧が第2ツェナーダイオード12のツェナー電圧よりも大きくなったとき、第2ツェナーダイオード12にツェナー電流が流れる。よって、本実施形態の負荷制御装置10では、−1kVの雷サージ電圧が印加された場合であっても、主開閉部1に流れる雷サージ電流を、第1ダイオード回路8に分流することが可能となる。
Here, in the
本願発明者らは、図3に示す構成を有する比較例の負荷制御装置30を考えた。なお、負荷制御装置30は、負荷制御装置10における第1ダイオード回路8を備えていない点のみが、負荷制御装置10と相違する。
The inventors of the present application have considered a
また、本願発明者らは、図4に示すように、雷サージを擬似的に発生する雷サージ試験機31を用いて、負荷制御装置30に雷サージ電圧を印加する雷サージ試験を行った。なお、上述の雷サージ試験では、IEC60669−2−1−1996に規定された規格に準じて、雷サージ電圧を+1kVに設定している。また、上述の雷サージ試験では、交流電源20からの交流電圧に雷サージ電圧を重畳する方法として、ノーマルモード印加を用いている。また、上述の雷サージ試験では、IEC60669−2−1−1996に規定された規格に準じて、交流電源20からの交流電圧に雷サージ電圧を同期させる位相角を+90°に設定している。
In addition, as shown in FIG. 4, the inventors of the present application performed a lightning surge test in which a lightning surge voltage is applied to the
また、本願発明者らは、上述の雷サージ試験における負荷制御装置30の特性例を、図5に表している。ここにおいて、図5中の(f)、(g)、(h)、(i)は、主開閉部1に印加された電圧、負荷21に流れる電流、バリスタ7に流れる電流、主開閉部1に流れる電流をそれぞれ表している。また、上述の雷サージ試験では、図5中の0μsの時点で、交流電源20からの交流電圧(本実施形態では、200V)に雷サージ電圧を重畳している。
In addition, the inventors of the present application show a characteristic example of the
比較例の負荷制御装置30では、雷サージ試験機31により雷サージ電圧が印加されると、図5に示すように、主開閉部1、バリスタ7という順番で電流が流れる。また、負荷制御装置30では、主開閉部1に流れる雷サージ電流を、バリスタ7に分流することが可能となっている。
In the
しかしながら、比較例の負荷制御装置30では、雷サージ電圧が印加されたとき、主開閉部1に流れる雷サージ電流が、図5中の(i)に示すように、負荷制御装置10における主開閉部1に流れる雷サージ電流(図2中の(c)参照)に比べて、大きくなる。
However, in the
これに対して、本実施形態の負荷制御装置10では、第1ダイオード回路8を主開閉部1に並列接続している。また、負荷制御装置10では、第1ダイオード回路8における雷サージに対する応答時間を、バリスタ7における雷サージに対する応答時間よりも短くしている。これにより、本実施形態の負荷制御装置10では、雷サージ電圧が印加されたとき、主開閉部1に流れる雷サージ電流を、図2中の(c)に示すように、負荷制御装置30における主開閉部1に流れる雷サージ電流(図5中の(i)参照)に比べて、小さくすることが可能となる。よって、負荷制御装置10では、比較例の負荷制御装置30に比べて、各半導体スイッチング素子17のサージ破壊を抑制することが可能となる。
In contrast, in the
また、負荷制御装置10では、第1ダイオード回路8のサージ耐量を確保するために、主開閉部1に流れる雷サージ電流が第1ダイオード回路8に分流される時間を、数μs程度に設定してある。本実施形態では、主開閉部1に流れる雷サージ電流が第1ダイオード回路8に分流される時間を、第1ダイオード回路8のインピーダンスにより設定している。具体的に説明すると、本実施形態では、主開閉部1に流れる雷サージ電流が第1ダイオード回路8に分流される時間を、第1ダイオード回路8の時定数(第2コンデンサ9の静電容量と、各ツェナーダイオード11,12の合成抵抗との積)により設定している。
Further, in the
なお、本実施形態では、半導体スイッチング素子17として、MOSFETを用いているが、これを特に限定するものではなく、例えば、JFET(Junction Field Effect Transistor)、HFET(Heterojunction Field Effect Transistor)などを用いてもよい。また、本実施形態では、負荷21として、照明負荷を用いているが、これを特に限定するものではない。また、本実施形態では、第1ダイオード回路8における3個の素子を、第1ツェナーダイオード11、第2コンデンサ9、第2ツェナーダイオード12の順序で構成しているが、この順序を特に限定するものではない。
In the present embodiment, a MOSFET is used as the
以上説明した本実施形態の負荷制御装置10は、交流電源20から負荷21への給電路に設ける主開閉部1を備えたものである。負荷制御装置10は、半導体スイッチング素子17を有する主開閉部1と、主開閉部1のオンオフを制御する制御回路4と、半導体スイッチング素子17に過電圧が印加されるのを抑制する保護回路5とを備えている。保護回路5は、バリスタ回路18とダイオード回路(第1ダイオード回路)8とを有している。バリスタ回路18は、バリスタ7および第1コンデンサ6の並列回路を有している。ダイオード回路8は、第2コンデンサ9、第1ツェナーダイオード11および第2ツェナーダイオード12の直列回路を有している。第1ツェナーダイオード11のアノード側は、第2コンデンサ9を介して、第2ツェナーダイオード12のアノード側に接続されている。バリスタ回路18およびダイオード回路8の各々は、主開閉部1に並列接続されている。ダイオード回路8における雷サージに対する応答時間は、バリスタ7における雷サージに対する応答時間よりも短い。これにより、本実施形態の負荷制御装置10では、図8に示す構成を有する従来例の負荷制御装置60に比べて、各半導体スイッチング素子17のサージ破壊を抑制することが可能となる。
The
(実施形態2)
本実施形態の負荷制御装置10の基本構成は、実施形態1と同じであり、図6に示すように、保護回路5が、第2ダイオード回路13を備えている点などが実施形態1と相違する。なお、本実施形態では、実施形態1と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を適宜省略する。
(Embodiment 2)
The basic configuration of the
第2ダイオード回路13は、第3コンデンサ14と、2個のツェナーダイオード15,16とを有している。なお、本実施形態では、ツェナーダイオード15およびツェナーダイオード16が、第3ツェナーダイオードおよび第4ツェナーダイオードを構成している。
The
また、第2ダイオード回路13は、第3コンデンサ14、第3ツェナーダイオード15および第4ツェナーダイオード16の直列回路を有している。
The
第3ツェナーダイオード15のアノード側は、第3コンデンサ14を介して、第4ツェナーダイオード16のアノード側に接続されている。本実施形態では、各ツェナーダイオード15,16のツェナー電圧が、互いに等しくなるように設定されている。
The anode side of the
第2ダイオード回路13は、主開閉部1に並列接続されている。
The
本実施形態の負荷制御装置10では、各ツェナーダイオード15,16のツェナー電圧を、バリスタ7のバリスタ電圧よりも小さく、且つ、交流電源20からの交流電圧の波高値よりも大きく設定してある。
In the
また、負荷制御装置10では、第2ダイオード回路13における雷サージに対する応答時間を、第1ダイオード回路8における雷サージに対する応答時間よりも短く設定してある。具体的に説明すると、負荷制御装置10では、第3ツェナーダイオード15および第4ツェナーダイオード16のツェナー電圧を、第1ツェナーダイオード11および第2ツェナーダイオード12のツェナー電圧よりも小さく設定してある。
In the
以下、本実施形態の負荷制御装置10において交流電源20からの交流電圧に雷サージ電圧が重畳されたときの動作について、図7に基づいて説明するが、各半導体スイッチング素子17がオフ状態であるものとして説明する。また、以下では、第2ダイオード回路13の動作が、第1ダイオード回路8の動作と同じであるため、負荷制御装置10において交流電源20からの交流電圧に雷サージ電圧が重畳されたときの動作を簡単に説明する。ここにおいて、図7は、交流電源20からの交流電圧に雷サージ電圧が重畳されたときに関し、回路シミュレータを用いて求めた負荷制御装置10の特性例を表している。また、図7中の左側の縦軸は、電圧値を表している。また、図7中の右側の縦軸は、電流値を表している。また、図7中の横軸は、交流電源20からの交流電圧に雷サージ電圧が重畳されたときからの時間を表している。また、図7中の(j)、(k)、(l)、(m)、(n)、(o)は、主開閉部1に印加された電圧、負荷21に流れる電流、バリスタ7に流れる電流、主開閉部1に流れる電流、第2ダイオード回路13に流れる電流、第1ダイオード回路8に流れる電流をそれぞれ表している。また、上記回路シミュレータでは、IEC60669−2−1−1996に規定された規格に準じて、雷サージ電圧を、+1kVに設定している。また、上記回路シミュレータでは、交流電源20からの交流電圧に雷サージ電圧を重畳させる条件として、ノーマルモード印加としている。また、上記回路シミュレータでは、IEC60669−2−1−1996に規定された規格に準じて、交流電源20からの交流電圧(本実施形態では、200V)に雷サージ電圧を同期させる位相角を、+90°に設定している。また、上記回路シミュレータでは、雷サージ電圧の電圧波形の規約波頭長を、1.2μsに設定している。また、上記回路シミュレータでは、雷サージ電圧の電圧波形の規約波尾長を、50μsに設定している。また、上記回路シミュレータでは、図7中の0μsの時点で、交流電源20からの交流電圧に雷サージ電圧を重畳している。
Hereinafter, the operation when the lightning surge voltage is superimposed on the AC voltage from the
本実施形態の負荷制御装置10では、例えば、雷サージ電圧が印加されたとき、図7に示すように、主開閉部1、第2ダイオード回路13、第1ダイオード回路8、バリスタ7という順番で電流が流れる。具体的に説明すると、負荷制御装置10では、例えば、雷サージ電圧が印加されたとき、図7中の(j)に示すように、主開閉部1に印加された電圧(主開閉部1の両端電圧)が上昇する。これにより、負荷制御装置10では、主開閉部1の各半導体スイッチング素子17がオフ状態からオン状態となり、主開閉部1に雷サージ電流が流れる(図7中の(m)参照)。本実施形態では、+1kVの雷サージ電圧が印加されると、主開閉部1に印加された電圧が、略300V程度、上昇する。
In the
また、負荷制御装置10では、第2ダイオード回路13における雷サージに対する応答時間を、第1ダイオード回路8における雷サージに対する応答時間よりも短く設定しているので、主開閉部1に印加された電圧が上昇すると、主開閉部1に流れる雷サージ電流が、第2ダイオード回路13に分流する(図7中の(n)参照)。本実施形態では、主開閉部1に流れる雷サージ電流が第2ダイオード回路13に分流される時間を、1μs未満に設定してある。
In the
また、負荷制御装置10では、第2ダイオード回路13に電流が流れると、第3コンデンサ14に電荷が蓄積され、第3コンデンサ14が充電される。そして、負荷制御装置10では、第3コンデンサ14が満充電されると、第2ダイオード回路13に流れる電流が、第3コンデンサ14が満充電された時の電流の電流値以上流れなくなる。
Further, in the
また、負荷制御装置10では、第1ダイオード回路8における雷サージに対する応答時間を、第2ダイオード回路13における雷サージに対する応答時間よりも長く、且つ、バリスタ7における雷サージに対する応答時間よりも短く設定しているので、主開閉部1に流れる雷サージ電流が、第1ダイオード回路8にも分流する(図7中の(o)参照)。
In the
また、負荷制御装置10では、第1ダイオード回路8に電流が流れた後で、主開閉部1の両端電圧がバリスタ7のバリスタ電圧よりも大きくなったとき、主開閉部1に流れる雷サージ電流が、バリスタ回路18にも分流する(図7中の(l)参照)。そして、負荷制御装置10では、バリスタ7にバリスタ電流が流れると、バリスタ7のインピーダンスが、主開閉部1および各ダイオード回路8,13それぞれのインピーダンスよりも小さくなる。これにより、負荷制御装置10では、主開閉部1に流れる雷サージ電流のほとんどを、バリスタ7に分流することが可能となる。よって、本実施形態の負荷制御装置10では、雷サージ電圧が印加されたとき、主開閉部1に流れる雷サージ電流を、バリスタ7により吸収することが可能となるので、各半導体スイッチング素子17のサージ破壊を抑制することが可能となる。
Further, in the
本実施形態の負荷制御装置10では、第2ダイオード回路13における雷サージに対する応答時間を、第1ダイオード回路8における雷サージに対する応答時間よりも短く設定しているので、例えば、雷サージ電圧が印加されたとき、第1ダイオード回路8が応答する前に、第2ダイオード回路18を応答させることが可能となる。これにより、負荷制御装置10では、実施形態1に比べて、各半導体スイッチング素子17のサージ破壊をより抑制することが可能となる。
In the
また、負荷制御装置10では、各ツェナーダイオード15,16のツェナー電圧を、交流電源20からの交流電圧の波高値よりも大きく設定しているので、雷サージ電圧が印加されない場合、第2ダイオード回路13が誤って動作するのを防止することが可能となる。
Moreover, in the
ここにおいて、本実施形態では、第3ツェナーダイオード15および第4ツェナーダイオード16のツェナー電圧を、第1ツェナーダイオード11および第2ツェナーダイオード12のツェナー電圧よりも小さく設定しているが、これに限らず、第1ツェナーダイオード11および第2ツェナーダイオード12のツェナー電圧と同じ大きさに設定してもよい。ただし、各ツェナーダイオード11,12,15,16のツェナー電圧は、各ダイオード回路8,13における雷サージに対する応答時間を、バリスタ7における雷サージに対する応答時間よりも短くするために、バリスタ7のバリスタ電圧よりも小さく、且つ、交流電源20からの交流電圧の波高値よりも大きく設定する必要がある。
Here, in this embodiment, the Zener voltages of the
以上説明した本実施形態の負荷制御装置10では、保護回路5が、バリスタ回路18と、2個のダイオード回路8,13とを有している。また、負荷制御装置10では、第2ダイオード回路13を、主開閉部1に並列接続している。また、負荷制御装置10では、第2ダイオード回路13における雷サージに対する応答時間を、第1ダイオード回路8における雷サージに対する応答時間よりも短く設定している。これにより、本実施形態の負荷制御装置10では、例えば、雷サージ電圧が印加されたとき、第1ダイオード回路8が応答する前に、第2ダイオード回路18を応答させることが可能となる。よって、負荷制御装置10では、実施形態1に比べて、各半導体スイッチング素子17のサージ破壊をより抑制することが可能となる。
In the
また、本実施形態の負荷制御装置10では、保護回路5が、2個のダイオード回路8,13を有し、第2ダイオード回路13における雷サージに対する応答時間を、第1ダイオード回路8における雷サージに対する応答時間よりも短く設定している。これにより、本実施形態の負荷制御装置10では、実施形態1に比べて、各半導体スイッチ素子17のサージ破壊をより抑制しながらも、保護回路5のサージ破壊を抑制することが可能となる。なお、本実施形態では、ダイオード回路の個数を、2個としているが、これに限らず、3個以上であってもよい。
Further, in the
1 主開閉部
4 制御回路
5 保護回路
6 第1コンデンサ
7 バリスタ
8 第1ダイオード回路(ダイオード回路)
9 第2コンデンサ
10 負荷制御装置
11 第1ツェナーダイオード
12 第2ツェナーダイオード
17 半導体スイッチング素子
18 バリスタ回路
20 交流電源
21 負荷
DESCRIPTION OF
9
Claims (3)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013049510A JP2014176267A (en) | 2013-03-12 | 2013-03-12 | Load control device |
PCT/JP2014/001221 WO2014141634A1 (en) | 2013-03-12 | 2014-03-05 | Load controller |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013049510A JP2014176267A (en) | 2013-03-12 | 2013-03-12 | Load control device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014176267A true JP2014176267A (en) | 2014-09-22 |
Family
ID=51536314
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013049510A Pending JP2014176267A (en) | 2013-03-12 | 2013-03-12 | Load control device |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2014176267A (en) |
WO (1) | WO2014141634A1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015141119A1 (en) * | 2014-03-18 | 2015-09-24 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Load control device |
JP6296409B1 (en) * | 2017-10-26 | 2018-03-20 | 株式会社コンド電機 | Surge protection device |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05207647A (en) * | 1990-07-20 | 1993-08-13 | Nippon Denki Gijutsu Joho Syst Kaihatsu Kk | Surge absorbing circuit |
JP3954213B2 (en) * | 1998-08-26 | 2007-08-08 | 株式会社コトヴェール | Overvoltage protection circuit |
JP5314413B2 (en) * | 2008-12-22 | 2013-10-16 | パナソニック株式会社 | Load control device |
-
2013
- 2013-03-12 JP JP2013049510A patent/JP2014176267A/en active Pending
-
2014
- 2014-03-05 WO PCT/JP2014/001221 patent/WO2014141634A1/en active Application Filing
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015141119A1 (en) * | 2014-03-18 | 2015-09-24 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Load control device |
JP6296409B1 (en) * | 2017-10-26 | 2018-03-20 | 株式会社コンド電機 | Surge protection device |
JP2019079742A (en) * | 2017-10-26 | 2019-05-23 | 株式会社コンド電機 | Surge protection apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2014141634A1 (en) | 2014-09-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8971002B1 (en) | System and method of providing isolated power to gate driving circuits in solid state fault current limiters | |
US9985432B2 (en) | Circuit for protection against overvoltages | |
US20170302169A1 (en) | Power converting device | |
US10027220B2 (en) | Interleaved power supplies and corresponding control methods | |
EP2804278B1 (en) | Self-power circuit for protecting relay | |
JP4983523B2 (en) | Power supply circuit and earth leakage circuit breaker using the power supply circuit | |
US9337721B2 (en) | Correction circuit limiting inrush current | |
EP3038223B1 (en) | Load driving circuit | |
US8670253B2 (en) | Converter protecting components against overvoltages | |
JP5126241B2 (en) | Overvoltage protection circuit and overvoltage protection method | |
TWI431882B (en) | Electric shock protection device | |
CN105098705B (en) | A kind of earth leakage protective device | |
JP2014176267A (en) | Load control device | |
WO2015141119A1 (en) | Load control device | |
KR102703415B1 (en) | Circuit for protecting against overcurrent and power conversion system using the same | |
JP5929424B2 (en) | LED lighting device and lighting device using the same | |
JP2016101034A (en) | Overvoltage protection circuit and electrical equipment with the same | |
CN108141030B (en) | Protect circuit | |
JP6319456B2 (en) | Earth leakage breaker | |
RU2551438C2 (en) | Combined overvoltage protection device recording number of responses and controlling network parameters | |
JP2019068639A (en) | Discharge device | |
US10474172B2 (en) | Current limiter for AC load | |
JP6808764B2 (en) | Power supply device for protective relay | |
JP6901509B2 (en) | Impedance reduction device, power supply device, power supply, impedance reduction method and impedance reduction processing program | |
JP6242004B2 (en) | Switching power supply |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20141006 |