JP2013545108A - 光学的検査デバイス及び光学的検査方法 - Google Patents
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Abstract
本発明は、構成部品(12)のために第1及び第2の検査領域を有する光学的検査デバイス(10)に関する。上記デバイスは、構成部品の各外側表面を光学的に獲得する画像化デバイス(22)を有する。上記画像化デバイスは、上記第1検査領域(POS B)においては構成部品の各外側表面の内の1つの外側表面の画像を獲得すべく、且つ、上記第2検査領域(POS C)においては構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を獲得するように構成される。上記検査デバイスは、構成部品用搬送器(14)を有する。上記構成部品用搬送器は、構成部品に対する保持デバイス(16)を有する。上記搬送器は、保持された構成部品を構成部品用経路(20)に沿い搬送するように構成される。上記構成部品用経路は、上記第1検査領域まで至り、該第1検査領域から上記第2検査領域まで至り、且つ、該第2検査領域から離間し得る。上記画像化デバイスは、上記第1検査領域において構成部品の1つの外側表面に対して指向されるように構成された画像獲得デバイス(24)と、上記第2検査領域からの構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を上記画像獲得デバイス内へと連結するように構成された画像連結デバイス(28)とを有する。上記構成部品用搬送器と一体的に、第1画像偏向デバイス(32)が移動され得る。上記構成部品用搬送器は、構成部品を上記構成部品用経路に沿い略連続的に搬送するように構成される。
Description
本明細書においては、構成部品(component)に対する光学的検査デバイス、及び、構成部品に対する光学的検査方法が記述される。該検査デバイスは、第1及び第2の検査領域を有する。
本明細書において構成部品とは、例えば、“チップ(chip)”又は“ダイ(die)”とも称される(電子的な)半導体構成部品である。斯かる構成部品は、例えば四角形(長方形又は正方形)などの略多角形の断面を有し、複数の周囲表面と、1つの前側表面及び1つの覆い面とを備えている。以下において、上記構成部品の各周囲表面、及び、2つの(下側及び上側の)覆い面は概略的に、外側表面と称される。上記構成部品はまた、4個とは異なる個数の周囲表面を有することもある。
所謂るピック・アンド・プレース・デバイスにおいて、各構成部品は、繋止ホルダにより拾い上げられると共に、引き続き、キャリヤ上に、又は、搬送用コンテナ内などへと降荷される。上記構成部品が降荷される前に、通常は、該構成部品の検査が行われる。この目的のためには、検査目的で構成部品の外側表面の画像を生成するために、該構成部品の1つ以上の外側表面の画像がカメラを用いて捕捉される。
斯かる繋止ホルダは、搬送の間、及び、例えば構成部品の下側の覆い面の画像の獲得の間において、該構成部品を確実に保持する。故に、特許文献1は、第1から第2の作業ステーションまで搬送される構成部品の表面の獲得のための光学的獲得デバイス、すなわち、上記構成部品の少なくとも1つの第1表面に向けて指向されたカメラ、及び、上記第1表面に対して短波の光線を発する光源を示している。上記構成部品の少なくとも1つの第2表面に対しては、第2の光源が長波の光線を発する。上記カメラは、上記各表面から反射された第1及び第2の光線を受信する。例えば、下側面と、合計で4個の外側表面とを備える平行六面体状の構成部品における場合と同様に、上記単一又は複数の第2表面は、単一又は複数の第1表面とは異なるように配向される。
更なる技術的背景は、特許文献2、特許文献3、特許文献4、特許文献5及び特許文献6から理解され得る。
構成部品に対する光学的検査デバイスは、1つの構成部品の異なるように配向された各外側表面を迅速に獲得し得ねばならず、且つ、種々の要件に対して容易に適合化されねばならない。
この目的は、構成部品のために第1及び第2の検査領域を有する光学的検査デバイスにより達成される。上記デバイスは、構成部品の各外側表面を光学的に獲得する画像化デバイスを有する。この画像化デバイスは、上記第1検査領域においては構成部品の各外側表面の内の1つの外側表面の画像を獲得すべく、且つ、上記第2検査領域においては構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を獲得すべく設計される。上記検査デバイスは、構成部品用搬送器を有する。上記構成部品用搬送器は、構成部品に対する保持デバイスを有する。上記搬送器は、保持された構成部品を構成部品用経路に沿い搬送すべく設計される。上記構成部品用経路は、上記第1検査領域まで至り、該第1検査領域から上記第2検査領域まで至り、且つ、該第2検査領域から離間し得る。上記画像化デバイスは、上記第1検査領域において構成部品の1つの外側表面に対して指向されるべく設計された画像獲得デバイスと、上記第2検査領域からの構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を上記画像獲得デバイス内へと連結すべく設計された画像連結デバイスとを有する。上記構成部品用搬送器は、構成部品を上記構成部品用経路に沿い略連続的に又は間欠的に搬送すべく設計される。
上記においては第1及び第2の検査領域が定義されるが、このことは、時系列な順序又は順番(先ず第1検査領域における画像獲得、及び、その後の第2検査領域における画像獲得)を固定することを意図していない。寧ろ、逆の順番が、更に好適であり、且つ、想起もされ得る。
構成部品の単一又は複数の外側表面であって、上記第1検査領域において獲得される外側表面は、上記第2検査領域において獲得される上記構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面とは異なり得る。上記第1検査領域及び上記第2検査領域は、上記構成部品用経路に沿い、検査されるべき上記構成部品の側部長の少なくとも半分だけ、相互から離間され得る。代替的又は付加的に、上記2つの検査領域はまた、略々少なくとも、上記構成部品用搬送器と、検査されるべき構成部品とが接触する場所の寸法だけ、相互から離間されても良い。
この光学的検査デバイスの1つの態様は、上記構成部品用搬送器は構成部品と共に、実質的に停止することなく、上記第1検査領域から上記第2検査領域まで上記構成部品用経路を完結する、ということを実現する。そのようにする上で、移動の間、先ず、上記第1検査領域においては構成部品の1つ以上の外側表面が獲得されると共に、次に、上記第2検査領域においては、上記構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面が上記画像化デバイスにより光学的に獲得され、且つ、引き続き、画像処理方法により評価される。
この光学的検査デバイスの変更例は、上記第2検査領域における構成部品の画像とは別体的に上記第1検査領域において構成部品の画像を獲得するために、一台以上のカメラを有する、ということを実現する。空間的に局限された条件が存在し且つ/又はコストが重要であるときにのみ、(例えば2台などの)複数台のカメラと比較して一台のカメラが好適である。
上記光学的検査デバイスの変更例において、上記画像獲得デバイスはまた、上記第1検査領域において、第1光路に沿い、構成部品の1つの外側表面に対して指向されるべく設計されても良い。上記画像連結デバイスは、上記第2検査領域からの構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を、上記画像獲得デバイスに向けて指向された上記第1光路へと連結すべく設計され得る。この変更例は、両方の検査領域の画像が、一台のカメラを用いて獲得されることを許容する。
上記光学的検査デバイスの変更例において、上記画像化デバイスはまた、構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を上記画像連結デバイスへと偏向すべく設計された第1画像偏向デバイスを有しても良い。
この光学的検査デバイスの変更例において、上記第1画像偏向デバイスは、上記構成部品用搬送器と一体的に上記構成部品用経路に沿い移動可能である。上記構成部品用搬送器は、構成部品を拾い上げるべく、且つ、それが上記構成部品用経路に沿い搬送されつつあるときにそれを保持すべく、保持デバイスを有する。上記第1画像偏向デバイスは、上記保持デバイスに関して2つの位置の間で往復して移動可能とされ得る。第1位置において、上記第1画像偏向デバイスは、上記保持デバイスの領域から離間している。第2位置において、上記第1画像偏向デバイスは、構成部品の各外側表面の画像の獲得を可能とするために、上記保持デバイスの領域内に在る。上記第1画像偏向デバイスは上記保持デバイスから離間して移動可能であることから、構成部品の拾い上げ及び/又は降荷は、上記第1画像偏向デバイスにより阻害されない。
上記画像獲得デバイスは上記第2検査領域において、上記構成部品用搬送器に対して静止的である第2画像偏向デバイスを有し得る。
この場合、上記第1及び第2の画像偏向デバイスの両方が、1つ以上のミラー、光学的プリズム、レンズなどを有し得る。
上記画像獲得デバイスは上記第2検査領域において、該第2検査領域からの構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を、上記カメラ又は画像連結デバイス上へと焦点合わせする画像焦点合わせデバイスを有し得る。上記画像焦点合わせデバイスは、1つ以上のミラー、光学的プリズム、レンズなどであり得る。
上記光学的検査デバイスは、両方の検査領域において、夫々、第1及び第2の光源機構を備え得る。この場合、上記第1光源機構は、上記構成部品の少なくとも1つの区画を照明すべく第1波長範囲を有する光を発すべく設計され得る。上記第2光源機構は、上記構成部品の少なくとも1つの区画を照明すべく第2波長範囲を有する光を発すべく設計され得る。
上記第2光源機構の光の上記波長範囲は、少なくとも部分的に、上記第1光源機構の光の上記波長範囲とは異なり得る。但し、上記第2光源機構の光の上記波長範囲は、上記第1光源機構の光の上記波長範囲に対応しても良い。故に、上記第1光源機構の光は赤色とされ得ると共に、上記第2光源機構の光は青色とされ得る。但し、逆の割当て、又は、別の波長の組み合わせ(例えば、赤外及び可視光)も選択され得る。
この光学的検査デバイスの変更例は、上記2つの光源機構は各々、構成部品の各外側表面が短時間の閃光により照明され得るように、上記構成部品を備えた上記構成部品用搬送器が夫々の第1又は第2の検査領域に載置された瞬間に制御機構により短時間的に投入される、ということを実現する。
上記構成部品用搬送器は、上記構成部品用経路に沿い約0.1m/s〜約5m/sの速度にて構成部品を搬送すべく設計され得ると共に、該構成部品用搬送器は1つの箇所に5ms以下だけ留まる。好適には、構成部品を備えた上記構成部品用搬送器は、上記構成部品用経路に沿い停止せずに、連続的に移動する。好適な変更例において、上記構成部品用搬送器は定常的に移動している。特定の場合のみにおいて、例えば、2つの異なる照明特性を有する同一側面の2枚の写真を撮るために、上記構成部品用搬送器は1つの箇所にて停止することが適切であり得る。この場合には、滞留時間もまた、5msより長くされ得る。
第1及び第2の検査領域において構成部品を光学的に検査する方法は、以下の各段階を有する:構成部品用搬送器の保持デバイスを用いて構成部品を拾い上げる段階;上記保持デバイスに保持された構成部品を、構成部品用経路に沿い上記第1検査領域まで搬送する段階;上記第1検査領域において画像化デバイスを用い、構成部品の各外側表面の内の少なくとも1つの外側表面の画像を光学的に獲得する段階;上記保持デバイスに保持された構成部品を上記構成部品用経路に沿い上記第1検査領域から上記第2検査領域まで搬送する段階;上記第2検査領域において画像化デバイスを用い、構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を光学的に獲得する段階;及び、上記保持デバイスに保持された構成部品を上記構成部品用経路に沿い上記第1検査領域から離間して上記第2検査領域まで搬送する段階;且つ、上記構成部品用搬送器は、上記構成部品用経路に沿い構成部品を略連続的に搬送する。
この方法において、上記画像化デバイスの画像獲得デバイスは上記第1検査領域において構成部品の1つの外側表面に対して指向され得ると共に、構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像は、上記第2検査領域から画像連結デバイスにより上記画像獲得デバイス内へと連結され得る。
上記画像獲得デバイスは、一台以上のカメラを使用し、上記第2検査領域における構成部品の画像とは別体的に、上記第1検査領域における構成部品の画像を獲得し得る。
上記画像獲得デバイスは上記第1検査領域において第1光路に沿い構成部品の1つの外側表面に対して指向され得ると共に、上記画像連結デバイスは、上記第2検査領域からの構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を、上記画像獲得デバイスに向けて指向された上記第1光路内へと連結し得る。
上記画像連結デバイスに対しては、第1画像偏向デバイスを用いて、構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像が偏向され得る。
上記第1画像偏向デバイスは、上記構成部品用搬送器と一体的に上記構成部品用経路に沿い移動され得る。
上記画像化デバイスの、上記第2検査領域における画像焦点合わせデバイスは、上記第2検査領域からの構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を、上記複数台のカメラ又は一台のカメラ又は上記画像連結デバイスの内の1つ上へと焦点合わせし得る。
上記第1検査領域においては上記構成部品の少なくとも1つの区画を照明すべく第1波長範囲を有する光が発せられる得ると共に、上記第2検査領域においては上記構成部品の少なくとも1つの区画を照明すべく第2波長範囲を有する光が発せられ得る。この場合、上記第2光源機構の光の上記波長範囲は、少なくとも部分的に、上記第1光源機構の光の上記波長範囲とは異なり得るか、又は、上記第2光源機構の光の上記波長範囲は、上記第1光源機構の光の上記波長範囲に対応し得る。
上記光源機構は、上記カメラと、上記画像連結デバイス、すなわち、例えばミラーとの間に位置し得る。上記光源機構は、画像化されるべき構成部品の各領域に対して直接的に指向されることも可能である。
上記2つの光源機構は各々、構成部品の各外側表面が短時間の閃光により照明され得るように、上記構成部品を備えた上記構成部品用搬送器が移動経路に沿い移動し且つそのようにする上で夫々の第1又は第2の検査領域に載置された瞬間に制御機構により短時間的に投入され得る。
この場合に上記構成部品用搬送器は、上記構成部品用経路に沿い約0.1m/s〜約5m/sの速度にて構成部品を搬送し得、該構成部品用搬送器は好適には、1つの箇所に5ms以下だけ留まる。上記構成部品用搬送器を上記構成部品用経路に沿い停止させることは全く望まれないが、極端な場合には、そのことが、優れた画像品質に繋がり得る。斯かる場合には、上記構成部品用搬送器を上記構成部品用経路に沿い停止させ且つ構成部品の画像を獲得することが望ましく又は適切であり得る。
当業者であれば、添付図面に対して参照が為される以下の説明から、更なる特徴、特性、利点、及び、可能的な改変が明らかとなろう。添付図面において、各図は、構成部品に対する光学的検査デバイスを概略的に示し、該検査デバイスは第1及び第2の検査領域を有している。
図1は、構成部品12に対する光学的検査デバイス10を示している。この光学的検査デバイス10は、構成部品12に対する保持デバイス16を有する構成部品用搬送器14を有している。本明細書において示される変更例において、構成部品12に対する保持デバイス16は、制御デバイスECUにより制御される吸引ピペットである。構成部品用搬送器14は、拾い上げ位置POS Aにては上記吸引ピペットを用いて基板18から構成部品12を拾い上げ、それを構成部品用経路20に沿い第1検査領域POS Bへと搬送し、該第1検査領域POS Bから第2検査領域POS Cへと搬送し、且つ、該第2検査領域POS Cから離れて降荷領域POS Dへと搬送すべく設計される。
構成部品12を光学的検査のために上記第1及び第2の検査領域へともたらすために、それはまず、構成部品用搬送器14の保持デバイス16により拾い上げられ、且つ、構成部品用経路20に沿い第1検査領域POS Bへともたらされる。
図2は、構成部品12が構成部品用経路20に沿い搬送されつつあるときに、該構成部品が第1検査領域POS Bにおいて画像化デバイス22により如何にして光学的に獲得されるかを示している。更に厳密には、第1検査領域POS Bにおいて、各外側表面の内の1つの外側表面、すなわち、本明細書においては構成部品12の下側の覆い面12aの画像が獲得される。画像化デバイス22は、第2検査領域POS Cにおける構成部品12の画像とは別体的に第1検査領域POS Bにおける構成部品12の画像を獲得するために、カメラを備えた画像獲得デバイス24を有している。該画像獲得デバイス24は、第1検査領域POS Bにおいて、第1光路26に沿い、構成部品12の1つの外側表面12a、すなわち下側の覆い面に向けて指向される。
画像化デバイス22は、本明細書においてはダイクロイック・ミラーの形態で構成される画像連結デバイス28を有している。画像連結デバイス28は、構成部品12の各外側表面の内の幾つかの外側表面、此処では外側表面12b、12c、12d、12eの画像を、第2検査領域POS Cから、画像獲得デバイス24に向けて指向された第1光路26内へと連結すべく設計される。この目的のために、上記ダイクロイック・ミラーは、第1光路26に対して斜めに(此処では約45°の角度にて)傾けられる。
上記ダイクロイック・ミラーは、光スペクトルの一部分のみを反射すると共に、光スペクトルの残部を透過させる。そのようにする上で、それは、波長に従い入射光を分離する。此処で使用されるべきミラーはダイクロイックとされ得るが、他の変更例もまた可能である。重要なことは、画像連結デバイス28が、光の一部分のみを透過させ且つ光の他の部分を反射することである。ダイクロイック・ミラーは、約2の係数だけ発光効率を最適化し、カメラによる画像獲得を容易にする。
構成部品用経路20に沿い第1検査領域POS Bを通過する構成部品12は、第1検査領域POS Bにおいて第1光源機構30により照明される。第1光源機構30は、上記ダイクロイック・ミラーが第1光路26に沿い画像獲得デバイス24へと透過させる光スペクトルにより、構成部品12を照射する。故に、図2に概略的に示されたように、画像獲得デバイス24は構成部品12の画像を捕捉し得る。図2aは、第1検査領域POS Bにおいて獲得された構成部品12の外側表面、すなわち下側の覆い面12aの実際の画像を示している。
構成部品12を光学的検査のために上記第1検査領域から第2検査領域POS Cまでもたらすために、それは構成部品用搬送器14の保持デバイス16により構成部品用経路20に沿い第2検査領域POS Cまでもたらされる。
図3は、構成部品12が構成部品用経路20に沿い搬送されつつあるときに、該構成部品が第2検査領域POS Cにおいて画像化デバイス22により如何にして光学的に獲得されるかを示している。更に厳密には、第2検査領域POS Cにおいては、構成部品12の外側表面12b、12c、12d、12eの画像が獲得される。
第2検査領域POS Cにおいて、該第2検査領域POS Cにおける構成部品12の画像は、第1検査領域POS Bにおける構成部品12の画像とは別体的に獲得される。
この目的のために、上記光学的検査デバイスの画像獲得デバイスは、構成部品用経路20に沿い構成部品用搬送器14と共に移動可能な第1画像偏向デバイス32を有する。第1画像偏向デバイス32は此処では、構成部品用搬送器14の保持デバイス16の周縁部に沿い該保持デバイス16を囲繞する様式で配置された4個のミラー32a、32b、32c、32dにより形成される。この目的のために、第1画像偏向デバイス32の4個のミラー32a、32b、32c、32dは、構成部品12の外側表面12b、12c、12d、12eに対して斜めに(此処では約45°の角度にて)傾けられる(図3bも参照)。第1画像偏向デバイス32は、構成部品用搬送器14の保持デバイス16に対し、(各図において上側の)第1位置と、(各図において下側の)第2位置との間で変位可能である。この目的のために、第1画像偏向デバイス32は構成部品用搬送器14に対し、長手方向における2つの線形アクチュエータ34a、34bを介して接続される。第1の縮動された位置において、第1画像偏向デバイス32は、拾い上げ位置POS Aにおいて構成部品12が基板18から円滑に拾い上げられ得るような程度まで、構成部品用搬送器14の保持デバイス16から離間して変位される。第2の前進された位置において、第1画像偏向デバイス32は、保持デバイス16により保持された構成部品12の(周囲)外側表面12b、12c、12d、12eが該第1画像偏向デバイス32により囲繞されるような程度まで、構成部品用搬送器14の保持デバイス16に対して変位される。
第2検査領域POS Cにおいては、保持デバイス16により保持された構成部品12の(周囲)外側表面12b、12c、12d、12eを、上記ダイクロイック・ミラーが反射する光スペクトルにより照明する第2光源機構38が配置される。第2検査領域POS Cにおいては更に、構成部品用搬送器14に対して静止的であるミラーの形態の第2画像偏向デバイス36が載置される。この第2画像偏向デバイス36は、第1画像偏向デバイス32から到来する光を、画像連結デバイス28のダイクロイック・ミラー上へと偏向する。上記ダイクロイック・ミラーは上記光を、第1光路26に沿い画像獲得デバイス24に向けて反射する。
上記画像獲得デバイスは、第2検査領域POS Cにおいて、レンズ機構40の形態の画像焦点合わせデバイスを有する。レンズ機構40は、作動用駆動器42を有すると共に、該レンズ機構は、構成部品12の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像であって第2画像偏向デバイス36から到来する画像を、第2検査領域POS Cから、画像連結デバイス28のダイクロイック・ミラー、又は、下流の画像獲得デバイス24上へと焦点合わせする。第2光源機構38は、保持デバイス16により保持された構成部品12の(周囲)外側表面12b、12c、12d、12eが照明されるように配向されることから、構成部品12の下側の覆い面12aは実用的には、第2検査領域POS Cにおいて獲得されない。このことは、保持デバイス16により保持された構成部品12の(周囲)外側表面12b、12c、12d、12eの実際の画像であって第2検査領域POS Cにおいて獲得された実際の画像を示す図3aにおいても視認され得る。
上記の2つの光源機構は各々、構成部品12を備えた構成部品用搬送器が夫々の第1及び第2の検査領域に載置された瞬間において制御機構ECUにより短時間的に投入される。この目的のために、上記の2つの検査領域においては、(更には示されない)位置センサが載置され得る。これに対して代替的に、上記構成部品用搬送器の駆動器に対しても連結された制御機構ECUは、上記構成部品用搬送器が2つの検査領域における適切な位置に載置された時点を決定すべく上記駆動器の駆動信号を評価することで、構成部品の各外側表面を短時間の閃光により照明し得る。
この配置構成においては、光スペクトルとして、上記第1光源機構は赤色光を発し、且つ、上記第2光源機構は青色光を発する。
構成部品用搬送器14は、(拾い上げの後で)拾い上げ位置POS Aから(降荷の前における)降荷領域POS Dまで停止せずに、例えば約1.5〜2m/s(例えば約1.75m/s)の速度にて構成部品12を搬送する。コンパクトである全体的配置構成の故に、上記第1及び第2の検査領域は(第1画像の捕捉の位置と、第2画像の捕捉の位置との間において、例えば35mmなど、約20mm〜50mmにて)相互に対して非常に接近して位置し得る。故に、制御機構ECUは、上記第1光源機構の約20ms後に、上記第2光源機構を起動する。故に本配置構成は、夫々の画像獲得条件に対する視野の最適な設計態様を許容する。この目的のために、上記第1検査領域においては、概略的に、評価のためには更に重要である構成部品の下側の外側表面が、上記第2検査領域において獲得されるべき各(周囲)外側表面よりも大きく表現され得る。全体的に、第1検査領域POS Bにおいて、画像獲得は構成部品の下側の外側表面に対して最適に適合化され、且つ、第2検査領域POS Cにおいて、画像獲得は構成部品の各(周囲)外側表面に対して最適に適合化される。上記2つの検査領域において画像獲得が行われる間、構成部品用搬送器14は停止せずに各構成部品12を構成部品用経路20に沿い搬送し得ることから、スループットは、習用の配置構成と比べて相当に増大され得る。
図4は、構成部品用経路20の終端における降荷領域POS Dにて、所謂るインデクサにおいて構成部品12が如何に降荷されるかを示している。この目的のために、降荷領域POS Dへの搬送の間に第1画像偏向デバイス32は、上記インデクサにおいて構成部品12が阻害されずに吸引ピペットにより降荷され得るような程度まで、構成部品用搬送器14の保持デバイス16から第1の縮動位置まで離間変位される。
Claims (23)
- 構成部品(12)のために第1検査領域(POS B)及び第2検査領域(POS C)を有する光学的検査デバイスであって、該光学的検査デバイスは、
構成部品(12)の各外側表面(12a、12b、12c、12d、12e)を光学的に獲得する画像化デバイス(22)であって、前記第1検査領域(POS B)においては構成部品(12)の各外側表面の内の1つの外側表面の画像を獲得すべく、且つ、前記第2検査領域(POS C)においては構成部品(12)の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を獲得するように構成されている画像化デバイス(22)と、
構成部品(12)に対する保持デバイスを有すると共に、保持された構成部品(12)を構成部品用経路(20)に沿い搬送するように構成された構成部品用搬送器(14)と、を有し、
前記画像化デバイス(22)は、前記第1検査領域(POS B)において構成部品(12)の1つの外側表面(12a)に対して指向されるように構成された画像獲得デバイス(24)と、前記第2検査領域(POS C)からの構成部品(12)の各外側表面の内の幾つかの外側表面(12b、12c、12d、12e)の画像を前記画像獲得デバイス(24)内へと連結するように構成された画像連結デバイス(28)とを有し、且つ、
前記構成部品用搬送器(14)は、構成部品を前記構成部品用経路(20)に沿い略連続的に搬送するように構成される光学的検査デバイス。 - 前記画像獲得デバイス(24)が、前記第2検査領域(POS C)における構成部品(12)の画像とは別体的に前記第1検査領域(POS B)において構成部品(12)の画像を獲得するために、1つ又は複数のカメラを有する請求項1に記載の光学的検査デバイス。
- 前記画像獲得デバイス(24)が、前記第1検査領域(POS B)において、第1光路(26)に沿い、構成部品(12)の1つの外側表面(12a)に対して指向されるように構成され、且つ、前記画像連結デバイス(28)が、前記第2検査領域(POS C)からの構成部品(12)の各外側表面の内の幾つかの外側表面(12b、12c、12d、12e)の画像を、前記画像獲得デバイス(24)に向けて指向された前記第1光路(26)へと連結するように構成される請求項1又は2に記載の光学的検査デバイス。
- 前記画像化デバイス(22)が、構成部品(12)の各外側表面の内の幾つかの外側表面(12b、12c、12d、12e)の画像を前記画像連結デバイス(28)へと偏向するように構成された第1画像偏向デバイス(32)を有す請求項3に記載の光学的検査デバイス。
- 前記第1画像偏向デバイス(32)が、前記構成部品用搬送器(14)と一体的に前記構成部品用経路(20)に沿い移動可能であり、前記構成部品用経路(20)が、好適には、少なくとも前記第1検査領域(POS B)まで、該第1検査領域(POS B)から前記第2検査領域(POS C)まで、及び、該第2検査領域(POS C)から離間して延在する請求項4に記載の光学的検査デバイス。
- 前記画像化デバイス(22)が、前記第2検査領域(POS C)において、第2の静止的な画像偏向デバイス(36)を有し、これに対して前記構成部品用搬送器(14)が移動可能である請求項1から5のいずれか一項に記載の光学的検査デバイス。
- 前記画像化デバイス(22)が、前記第2検査領域(POS C)において、該第2検査領域(POS C)からの構成部品(12)の各外側表面の内の幾つかの外側表面(12b、12c、12d、12e)の画像を、前記カメラ(24)又は前記画像連結デバイス(28)上へと焦点合わせする画像焦点合わせデバイス(40)を有する請求項1から6のいずれか一項に記載の光学的検査デバイス。
- 第1検査領域(POS B)及び第2検査領域(POS C)の両方において、第1光源機構(30)及び第2光源機構(38)を有する請求項1から7のいずれか一項に記載の光学的検査デバイス。
- 前記第1光源機構(30)が、前記構成部品(12)の少なくとも1つの区画を照明すべく第1波長範囲を有する光を発するように構成され、且つ、
前記第2光源機構(38)が、前記構成部品(12)の少なくとも1つの区画を照明すべく第2波長範囲を有する光を発するように構成される請求項1から8のいずれか一項に記載の光学的検査デバイス。 - 前記第2光源機構(38)の光の前記第2波長範囲が、少なくとも部分的に、前記第1光源機構(30)の光の前記第1波長範囲とは異なる請求項1から9のいずれか一項に記載の光学的検査デバイス。
- 前記第2光源機構(38)の光の前記第2波長範囲が、前記第1光源機構(30)の光の前記第1波長範囲に対応する請求項1から10のいずれか一項に記載の光学的検査デバイス。
- 前記第1光源機構(30)及び前記第2光源機構(38)の各々が、構成部品の各外側表面が短時間の閃光により照明され得るように、前記構成部品(12)を備えた前記構成部品用搬送器(14)が夫々の第1検査領域(POS B)又は第2検査領域(POS C)に載置された瞬間に制御機構(ECU)によって短時間的に投入される請求項1から11のいずれか一項に記載の光学的検査デバイス。
- 前記構成部品用搬送器(14)が、前記構成部品用経路(20)に沿い約0.1m/s〜約5m/sの速度にて構成部品を搬送するように構成され、該構成部品用搬送器(14)が、1つの箇所に5ms以下だけ留まる請求項1から12のいずれか一項に記載の光学的検査デバイス。
- 第1検査領域及び第2検査領域において構成部品を光学的に検査する方法であって、該方法は、
構成部品用搬送器の保持デバイスを用いて構成部品を拾い上げる段階と、
前記保持デバイスに保持された構成部品を、構成部品用経路に沿い前記第1検査領域まで搬送する段階と、
前記第1検査領域において画像化デバイスを用い、構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の内の少なくとも1つの外側表面の画像を光学的に獲得する段階と、
前記保持デバイスに保持された構成部品を前記構成部品用経路に沿い前記第1検査領域から前記第2検査領域まで搬送する段階と、
前記第2検査領域において画像化デバイスを用い、構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を光学的に獲得する段階と、
前記保持デバイスに保持された構成部品を前記構成部品用経路に沿い前記第1検査領域から離間して前記第2検査領域まで搬送する段階とを有し、
前記構成部品用搬送器は、前記構成部品用経路に沿い構成部品を略連続的に搬送する、方法。 - 前記画像化デバイスの画像獲得デバイスが、前記第1検査領域において構成部品の1つの外側表面に対して指向され、且つ、構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像が、前記第2検査領域から画像連結デバイスにより前記画像獲得デバイス内へと連結される請求項14記載の方法。
- 前記画像獲得デバイスが、1つ又は複数のカメラを使用し、前記第2検査領域における構成部品の画像とは別体的に、前記第1検査領域における構成部品の画像を獲得する請求項14又は15に記載の方法。
- 前記画像獲得デバイスが、前記第1検査領域において第1光路に沿い構成部品の1つの外側表面に対して指向され、且つ、前記画像連結デバイスが、前記第2検査領域からの構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を、前記画像獲得デバイスに向けて指向された前記第1光路内へと連結する請求項14から16のいずれか一項に記載の方法。
- 前記画像連結デバイスに対しては、第1画像偏向デバイスを用いて、構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像が偏向される請求項14から17のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第1画像偏向デバイスが、前記構成部品用搬送器と一体的に前記構成部品用経路に沿い移動される請求項14から18のいずれか一項に記載の方法。
- 前記画像化デバイスの、又は、前記第2検査領域における前記画像獲得デバイスの、画像焦点合わせデバイスが、前記第2検査領域からの構成部品の各外側表面の内の幾つかの外側表面の画像を、前記複数のカメラ又は1つのカメラ又は前記画像連結デバイスの内の1つ上へと焦点合わせする請求項14から19のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第1検査領域においては前記構成部品の少なくとも1つの区画を照明すべく第1波長範囲を有する光が発せられると共に、前記第2検査領域においては前記構成部品の少なくとも1つの区画を照明すべく第2波長範囲を有する光が発せられ、且つ、第2光源機構の光の前記第2波長範囲は、少なくとも部分的に、第1光源機構の光の前記第1波長範囲とは異なり、又は、前記第2光源機構の光の前記第2波長範囲は、前記第1光源機構の光の前記第1波長範囲に対応する請求項14から20のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第1光源機構及び前記第2光源機構の各々が、構成部品の各外側表面が短時間の閃光により照明され得るように、前記構成部品を備えた前記構成部品用搬送器が夫々の第1検査領域又は第2検査領域に載置された瞬間に制御機構により短時間的に投入される請求項14から21のいずれか一項に記載の方法。
- 前記構成部品用搬送器が、前記構成部品用経路に沿い約0.1m/s〜約5m/sの速度にて構成部品を搬送し、該構成部品用搬送器が、好適には、1つの箇所に5ms以下だけ留まる請求項14から21のいずれか一項に記載の方法。
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