JP2012049431A - 固体撮像装置および電子機器 - Google Patents
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Abstract
【課題】OB領域を十分に遮光しつつも撮像領域とOB領域との境界部上方を平坦に保つことが可能で、これにより撮像特性を劣化させることなく、精度の良好な光学的黒レベルの基準信号を得ることが可能な固体撮像装置を提供する。
【解決手段】撮像領域aとその周辺領域bとに光電変換部3がマトリックス状に配置されている。光電変換部3の側方には、垂直転送電極27が垂直方向に配列されている。またこれらの垂直転送電極27を水平方向に接続する状態で、積層配線構造の第1層配線7および第2層配線9が配置されている。また特に周辺領域bにおいては、第1層配線7および第2層配線bが、光電変換部3を覆う遮光パターンとして設けられている。
【選択図】図2
【解決手段】撮像領域aとその周辺領域bとに光電変換部3がマトリックス状に配置されている。光電変換部3の側方には、垂直転送電極27が垂直方向に配列されている。またこれらの垂直転送電極27を水平方向に接続する状態で、積層配線構造の第1層配線7および第2層配線9が配置されている。また特に周辺領域bにおいては、第1層配線7および第2層配線bが、光電変換部3を覆う遮光パターンとして設けられている。
【選択図】図2
Description
本発明は固体撮像装置および電子機器に関し、特には光電変換部が配列されたセンサ領域内の周縁部に光電変換部を遮光した黒基準画素を有する固体撮像装置、およびこの固体撮像装置を有する電子機器に関する。
撮像領域に光電変換部をマトリックス状に配列してなる固体撮像装置には、撮像領域の周縁部分に遮光された光電変換部を配置したオプティカルブラック領域(以下、OB領域と記す)を設けている。OB領域の遮光には、光電変換部の脇に配置された転送電極やこれに接続された転送配線を覆う遮光膜が用いられており、この遮光膜には撮像領域における光電変換部上のみを露出させる画素開口が設けられている。
ところが、OB領域は、画素出力の黒レベル基準を決めるために確実に遮光しなければならないが、上述した遮光膜だけでは十分な遮光性が得られないことがわかっている。
そこで、OB領域のさらに外側に配置される周辺回路用の配線をOB領域の遮光に用いることで、OB領域の遮光性を確保している。
またこの他にも、導電性材料からなる遮光膜を、絶縁層を挟んで電気的に分離された2層構造とし、OB領域上のみを2重に遮光することで光学的黒レベルの基準信号のスミア電荷による影響を極力排除する構成が提案されている(以上、下記特許文献1参照)。
しかしながら、上述したような周辺回路用の配線をOB領域の遮光に用いる構成や、OB領域の遮光膜を2層構造とする構成では、OB領域の遮光性を確保できるものの、OB領域上層の層数が撮像領域上層の積層数よりも多くなる。このため、撮像領域およびOB領域を覆う平坦化絶縁膜には、これらの領域の境界部分に段差が生じる。このような境界部分の段差は、いわゆる額縁ムラと呼ばれる撮像特性の不具合を発生させる要因となる。
そこで本発明は、OB領域を十分に遮光しつつも撮像領域とOB領域との境界部上方を平坦に保つことが可能で、これにより撮像特性を劣化させることなく、精度の良好な光学的黒レベルの基準信号を得ることが可能な固体撮像装置を提供することを目的とする。
以上の目的を達成するための本発明の固体撮像装置は、撮像領域とその周辺領域とに光電変換部がマトリックス状に配置されている。光電変換部の側方には、転送電極が垂直方向に配列されている。またこれらの転送電極を水平方向に接続する状態で、積層配線構造の第1層配線および第2層配線が配置されている。また特に周辺領域においては、第1層配線および第2層配線が、光電変換部を覆う遮光パターンとして設けられている。また本発明は、上記構成の固体撮像装置を備えた電子機器でもある。
このような構成によれば、周辺領域の光電変換部が、第1層配線と第2層配線とからなる積層構造の遮光パターンによって十分に遮光される。また、この遮光パターンを構成する第1層配線および第2層配線は、転送電極を水平方向に接続するものであるため、撮像領域にも共通に配置される。このため、周辺領域と撮像領域との境界部上方の積層構造が同一になり、当該境界上部が平坦に保たれる。
以上説明したように本発明によれば、撮像領域の周辺領域において光電変換部を十分に遮光しつつも、撮像領域と周辺領域との境界部上方を平坦に保つことが可能である。これにより撮像領域の全域においての撮像特性を良好に維持しつつ、光電変換部が十分に遮光された周辺領域において精度の良好な光学的黒レベルの基準信号を得ることが可能になる。
以下本発明の実施の形態を図面に基づいて、次に示す順に実施の形態を説明する。
1.固体撮像装置の概略構成例
2.固体撮像装置の実施形態
3.電子機器の実施形態
1.固体撮像装置の概略構成例
2.固体撮像装置の実施形態
3.電子機器の実施形態
<1.固体撮像装置の概略構成例>
図1には、本発明が適用されるCCD固体撮像装置の概略構成の一例を示す。
図1には、本発明が適用されるCCD固体撮像装置の概略構成の一例を示す。
この図に示す固体撮像装置1は、例えば単結晶シリコンからなる半導体基板11の一表面側に光電変換部3がマトリックス状に配列されたセンサ領域11aと、このセンサ領域11aの周囲に配置された駆動領域11bとを有して構成される。
センサ領域11aには、例えばフォトダイオードからなる光電変換部3と共に、光電変換部3の側方において垂直方向に延設された垂直電荷転送部5、さらに垂直電荷転送部5を駆動するための第1層配線7および第2層配線9が設けられている。垂直電荷転送部5は、以降で詳細に説明するように、不純物領域からなる垂直転送路とその上部の垂直転送電極とで構成されており、隣接する光電変換部3からの信号電荷の読み出しと、読み出した信号電荷の垂直方向への転送を行う。第1層配線7および第2層配線9は、垂直電荷転送部5を構成する各垂直転送電極を水平方向に接続する状態で設けられている。
また特に本発明においては、各光電変換部3の上方に、後で説明する層内レンズやオンチップレンズ等のマイクロレンズが配置され、各光電変換部への集光率の向上が図られている。また層内レンズ−オンチップレンズ間には透明な白色フィルタや各色のカラーフィルタ等の光フィルタが分配配置され、特定の波長の光が選択されて入射される構成となっている。
一方、駆動領域11bには、垂直駆動回路12と、水平電荷転送部13と、水平駆動回路14と、出力回路15と、制御回路16、入出力端子17などを有して構成される。
垂直駆動回路12は、例えばシフトレジスタによって構成され、第1層配線7および第2層配線9を選択し、選択された第1層配線7および第2層配線9に垂直電荷転送部5を駆動するためのパルスを供給し、行単位で垂直電荷転送部5を駆動する。すなわち、垂直駆動回路12は、センサ領域11aの各光電変換部3から垂直電荷転送部5に行単位で信号電荷を読み出し、読み出した信号電荷を順次垂直方向に転送させる。
水平電荷転送部13は、垂直電荷転送部5と同様に不純物領域からなる水平転送路とその上部の水平転送電極とで構成されており、垂直電荷転送部5の最終段を構成する状態で水平方向に延設されている。この水平電荷転送部13は、垂直電荷転送部5からの信号電荷の水平方向への転送を行う。
水平駆動回路14は、例えばシフトレジスタによって構成され、水平走査パルスを順次出力することによって、水平電荷転送部13を駆動する。すなわち、水平駆動回路14は、垂直電荷転送部5から転送されてきた信号電荷を水平電荷転送部13に列毎に読み出し、読み出した信号電荷を順次垂直方向に転送させる。
出力回路15は、水平電荷転送部13において順次で転送された信号電荷を信号処理を行って出力する。例えば、バファリングだけする場合もあるし、黒レベル調整、列ばらつき補正、各種デジタル信号処理などが行われる場合もある。
制御回路16は、入力クロックと、動作モードなどを指令するデータを受け取り、また固体撮像装置1の内部情報などのデータを出力する。すなわち、制御回路16では、垂直同期信号、水平同期信号及びマスタクロックに基づいて、垂直駆動回路12、水平駆動回路14などの動作の基準となるクロック信号や制御信号を生成する。そして、これらの信号を垂直駆動回路12および水平駆動回路14等に入力する。
入出力端子17は、出力回路15および制御回路16に接続され、装置外部と信号のやりとりをする。
以上のように構成された固体撮像装置1において、センサ領域11aは、さらに撮像領域と周辺領域とに分けられている。撮像領域は、センサ領域11aの大部分を占める中央部分の領域であって、各光電変換部3が受光可能に構成されている。一方、周辺領域は、撮像領域の周辺部分に配置され、各光電変換部3が遮光されて受光が不可能に構成されている。本発明においては、次の実施形態で詳細に説明するように、このような周辺領域の遮光構造が特徴的である。
<2.固体撮像装置の実施形態>
図2は、本発明を適用した実施形態の固体撮像装置の構成を示す要部平面図および要部断面図であり、センサ領域11aにおける撮像領域aと周辺領域bと境界部周辺の図である。また図3〜図6には、図2に示す実施形態の固体撮像装置の構成を説明するために、固体撮像装置の各層の平面図を下層側から順に示し、さらに各平面図におけるA−A’断面図を合わせて示す。
図2は、本発明を適用した実施形態の固体撮像装置の構成を示す要部平面図および要部断面図であり、センサ領域11aにおける撮像領域aと周辺領域bと境界部周辺の図である。また図3〜図6には、図2に示す実施形態の固体撮像装置の構成を説明するために、固体撮像装置の各層の平面図を下層側から順に示し、さらに各平面図におけるA−A’断面図を合わせて示す。
以下、図2に示した固体撮像装置の詳細を、図3〜6を用いて下層側から順に説明する。尚、図1を用いて説明した構成要素と同一の構成要素には、同一の符号を付して説明を行う。また、絶縁膜は、断面図のみに図示し、平面図への図示は省略している。
先ず図3に示すように、例えばp型の半導体基板11におけるセンサ領域11aの表面側には、センサ領域11aの全面にわたってマトリックス状に光電変換部3が配列されている。光電変換部3は、n型の不純物層からなる。光電変換部3の一方側の側方には、間隔を有して垂直方向にわたって垂直転送路21が設けられている。垂直転送路21は、n型の不純物層からなる。光電変換部3と垂直転送路21との間の間隔は、光電変換部3の電荷を垂直転送路21に読み出すためのチャネル領域となる。
また光電変換部3を挟んで垂直転送路21と反対側の側方、および光電変換部3を垂直方向に挟持する位置には、光電変換部3を3方向から囲む状態で素子分離23が設けられている。素子分離23は、p型の不純物層からなり、光電変換部3および垂直転送路21に接して配置されている。
以上の光電変換部3、垂直転送路21および素子分離23は、例えばイオン注入とその後の熱処理とによって形成されている。
次に、図4に示すように、表面層に光電変換部3、垂直転送路21、および素子分離23が設けられた半導体基板11上には、ゲート絶縁膜25を介して垂直転送電極27が設けられている。垂直転送電極27は、垂直転送路21と共に垂直電荷転送部5を構成するものであり、垂直転送路21上に垂直方向にわたって配列されている。垂直方向に配列された各垂直転送電極27は、それぞれ絶縁された状態で配列さており、垂直転送路21よりも広い幅でパターニングされている。また、水平方向に並んで配列された垂直転送電極27同士であれば、図示したように素子分離23の上方において連結させて連続パターンとしても良く、連結させなくても良い。以上のような垂直転送電極27は、例えばポリシリコンで構成され、ポリシリコン膜をパターニングすることによって形成される。
以上までの層構成において、各構成要素のパターンはセンサ領域11aの全域で同様であって、撮像領域aと周辺領域bとで差はなく、次の層からのパターンが特徴的である。
すなわち図5に示すように、垂直転送電極27が設けられた半導体基板11上には、層間絶縁膜29を介して、第1層配線7、および第1層配線7と同一層で構成された第1遮光マスク7aが設けられている。
第1層配線7は、次に説明する第2層配線と共に垂直転送電極27を駆動するためのものである。このような第1層配線7のうちの1つの配線形態は、垂直方向に配列された光電変換部3−光電変換部3間の素子分離23上において水平方向(行方向)に延設され、例えば水平方向の偶数行に配置された垂直転送電極27同士を接続する状態で配線されている。
また各第1層配線7の他の配線形態は、例えば水平方向の奇数行に配置された垂直転送電極27を、次に説明する第2層配線によって接続するため、奇数行に配置された垂直転送電極27上に電極パッド形状で設けられている。尚、断面図は、水平方向の奇数行に配置された垂直転送電極27部分の断面に相当する。
以上のような各形態の第1層配線7は、層間絶縁膜29に設けられた接続孔を介して、各垂直転送電極27に接続されている。
そして特に本実施形態では、以上のように配線された各第1層配線7が、撮像領域aにおいては各光電変換部3を開口する形状であるのに対して、周辺領域bにおいては光電変換部3を遮光する遮光パターンとして設けられていることが特徴的である。
ここで、撮像領域aの周辺に設けられる周辺領域bのうち、撮像領域aの水平方向に隣接して配置される領域は、光学的黒レベルの基準信号を得るためのOB領域b1として設けられている。このようなOB領域b1には、光電変換部3上を覆う遮光ターンとして第1層配線7が配置されているのである。またOB領域b1においては、第1層配線7がそれぞれが独立してパターニングされる一方、光電変換部3に対して十分な遮光状態を確保するために、狭い間隔で配置されることが好ましい。
一方、撮像領域aの周辺に設けられる周辺領域bのうち、撮像領域aおよびOB領域b1の垂直方向に隣接して配置される領域は、撮像領域aの断面構造を周端部まで均一に保つために配置された遮光領域b2として設けられている。このような遮光領域b2においては、光電変換部3はダミーとして配置さるため、電荷の読み出しを行う必要はない。したがって、この遮光領域b2には、第1層配線7と同一層で構成された第1遮光マスク7aが、垂直転送電極27に接続されることなく配置されているのである。このような第1遮光マスク7aは、フローティング状態にあるため、グランドに接続された状態で設けられることとする。尚、第1遮光マスク7aは、グランドに接続されていれば、垂直転送電極27に接続されていても良い。
以上の第1層配線7および第1遮光マスク7aは、金属材料のような遮光性と導電性に優れた導電性材料で構成され、例えば窒化チタン(TiN)、チタン(Ti)、タングステン(W)の積層膜をパターニングすることによって形成される。
次に図6に示すように、第1層配線7および第1遮光マスク7aが設けられた半導体基板11上には、層間絶縁膜31を介して、第2層配線9、および第2層配線9と同一層で構成された第2遮光マスク9aが設けられている。
第2層配線9は、第1層配線7と共に垂直転送電極27を駆動するためのものである。このような第2層配線9の配線形態は、垂直方向に配列された光電変換部3間の素子分離23上において第1層配線7上に配線され、さらに光電変換部3間において、奇数行に配置された各垂直転送電極27上に向かって垂直方向(列方向)に延設されている。そして例えば水平方向の奇数行に配置された垂直転送電極27同士を接続する状態で配線されている。
以上の第2層配線9は、層間絶縁膜31に設けられた接続孔を介して、奇数行に配置された第1層配線7に接続され、さらに第1層配線7を介して奇数行に配置された各垂直転送電極27に接続されている。
そして特に本実施形態では、以上のように配線された第2層配線9が、撮像領域aにおいては光電変換部3を開口する形状であるのに対して、周辺領域bのOB領域b1においては光電変換部3を遮光する遮光パターンとして設けられていることが特徴的である。またOB領域b1においては、第1層配線7のパターン間の上部を覆うと共に、第1層配線7と十分な重なりを持って第2層配線9が設けられており、これによってOB領域b1が十分に遮光されていることとする。尚、第1層配線7と第2層配線9との重なりによって発生する寄生容量を防止するためには、第1層配線7のパターン間の上部のみを覆い、第1層配線7で遮光されない部分のみを第2層配線9で遮光するように、第2層配線9をパターン形成しても良い。
一方、周辺領域bのうち、撮像領域aの垂直方向に隣接して配置される遮光領域b2においては、第2層配線9と同一層で構成された第2遮光マスク9aが、第1遮光マスク7aおよび垂直転送電極27に接続されることなく配置されているのである。このような第2遮光マスク9aは、フローティング状態にあるため、グランドに接続された状態で設けられることとする。尚、第2遮光マスク9aは、グランドに接続されていれば、第1遮光マスク7aや垂直転送電極27に接続されていても良い。尚、第1遮光マスク7aと第2遮光マスク9aとの重なりによって発生する寄生容量を防止するためには、遮光領域bには、第1遮光マスク7aまたは第2遮光マスク9aの一方のみを設けても良い。
以上の第2層配線9および第2遮光マスク9aは、金属材料のような遮光性と導電性に優れた導電性材料で構成され、例えば窒化チタン(TiN)、チタン(Ti)、タングステン(W)の積層膜をパターニングすることによって形成される。
その後は図2に示すように、第2層配線9および第2遮光マスク9aが設けられた半導体基板11上には、層間絶縁膜33を介して遮光膜35が設けられている。この遮光膜35は、撮像領域aに配列された光電変換部3上のみを個々に露出させる複数のセンサ開口35aを備えている。このような遮光膜35は、例えばタングステン(W)のような遮光性の良好な材料を用いて構成されている。
またこの遮光膜35上には、平坦化絶縁膜37が設けられ、平坦化絶縁膜37上には、撮像領域aに配列された各光電変換部3に光を集光するためのマイクロレンズ39が配置され、固体撮像装置1が構成されている。
以上のような構成の固体撮像装置1においては、周辺領域bのうちの特にOB領域b1に配置された光電変換部3は、撮像領域aにも配置されている第1層配線7および第2層配線9の積層構造からなる遮光パターンによって十分に遮光される。したがって、OB領域b1の光電変換部3から読み出した信号電荷は、精度の良好な光学的黒レベルの基準信号として用いることが可能である。
また、周辺領域bのうちの遮光領域b2に配置された光電変換部3も、第1層配線7および第2層配線9と同一層からなる第1遮光マスク7aおよび第2遮光マスク9aの積層構造によって遮光されている。つまり、周辺領域bは、撮像領域aに対して、特別な遮光層を追加することなく、撮像領域aと同一の層構成によって遮光されているもである。
以上から、OB領域b1および遮光領域b2を含む周辺領域bと、遮光されない光電変換部3が配置された撮像領域aとで、半導体基板11の上方の積層構造が同一となる。これにより、撮像領域aと周辺領域bとを覆う平坦化絶縁膜37の表面において、撮像領域a−周辺領域bの境界部に対応する部分に段差が発生することはない。
これにより周辺領域bとの境界部を含む撮像領域aの全域において、撮像特性を良好に維持することが可能である。つまり、撮像領域aにおける周辺領域bとの境界付近における平坦化絶縁膜37の段差上にマイクロレンズが配置され、集光特性が劣化する等の不具合が発生することが防止され、撮像領域aのより広い範囲で良好な撮像特性を確保することが可能になるのである。
また、以上のように撮像領域aの全域においての撮像特性を良好に維持できることから、撮像領域aにおける周辺領域bとの境界部にダミー領域を設定する場合、撮像領域aに占めるダミー領域を狭くして、有効画素領域を拡大することができる。尚、ダミー領域とは、画像表示に直接寄与しない光電変換部3が配置された領域である。
以上より本実施形態で説明した固体撮像装置1によれば、撮像領域aの全域においての撮像特性を良好に維持しつつ、光電変換部3が十分に遮光された周辺領域b(OB領域b1)において精度の良好な光学的黒レベルの基準信号を得ることが可能になる。
<3.電子機器の実施形態>
上述の実施形態で説明した本発明に係る固体撮像装置は、例えばデジタルカメラやビデオカメラ等のカメラシステムや、撮像機能を有する携帯電話、あるいは撮像機能を備えた他の機器、などの電子機器に適用することができる。
上述の実施形態で説明した本発明に係る固体撮像装置は、例えばデジタルカメラやビデオカメラ等のカメラシステムや、撮像機能を有する携帯電話、あるいは撮像機能を備えた他の機器、などの電子機器に適用することができる。
図7には、本発明に係る電子機器の一例として、固体撮像装置を適用したカメラの構成図を示す。本実施形態例に係るカメラは、静止画像又は動画撮影可能なビデオカメラを例としたものである。本実施形態例のカメラ91は、固体撮像装置1と、固体撮像装置1の受光センサ部に入射光を導く光学系93と、シャッタ装置94と、固体撮像装置1を駆動する駆動回路95と、固体撮像装置1の出力信号を処理する信号処理回路96とを有する。
固体撮像装置1は、上述した実施形態の構成のものが適用される。光学系(光学レンズ)93は、被写体からの像光(入射光)を固体撮像装置1の撮像面上に結像させる。これにより、固体撮像装置1内に、一定期間信号電荷が蓄積される。光学系93は、複数の光学レンズから構成された光学レンズ系としてもよい。シャッタ装置94は、固体撮像装置1への光照射期間及び遮光期間を制御する。駆動回路95は、固体撮像装置1の転送動作及びシャッタ装置94のシャッタ動作を制御する駆動信号を供給する。駆動回路95から供給される駆動信号(タイミング信号)により、固体撮像装置1の信号転送を行う。信号処理回路96は、各種の信号処理を行う。信号処理が行われた映像信号は、メモリなどの記憶媒体に記憶され、或いは、モニタに出力される。
以上説明した本実施形態に係る電子機器によれば、撮像領域aの全域においての撮像特性を良好に維持しつつ、精度の良好な光学的黒レベルの基準信号を得ることが可能な固体撮像装置1を用いたことにより、高画質な画像を得ることが可能になる。
1…固体撮像装置、3…光電変換部、7…第1層配線、9…第2層配線、7a…第1遮光マスク、9a…第2遮光マスク、27…垂直転送電極(転送電極)、35…遮光膜、35a…センサ開口、37…平坦化絶縁膜、39…マイクロレンズ、91…電子機器、93…光学系、96…信号処理回路、a…撮像領域、b…周辺領域
Claims (6)
- 撮像領域とその周辺領域とにマトリックス状に配置された光電変換部と、
前記光電変換部の側方において垂直方向に配列された転送電極と、
前記転送電極を水平方向に接続する状態で配置された積層配線構造の第1層配線および第2層配線とを備え、
前記周辺領域においては、前記第1層配線および第2層配線が前記光電変換部を覆う遮光パターンとして設けられている
固体撮像装置。 - 前記周辺領域においては、前記第1層配線のパターン間の上部を覆う状態で、前記第2層配線が設けられている
請求項1記載の固体撮像装置。 - 前記周辺領域には、前記第1層配線または第2層配線と同一の層で構成された遮光マスクが、当該第1層配線および第2層配線と絶縁された状態で前記光電変換部上に設けられている
請求項2に記載の固体撮像装置。 - 前記遮光マスクは、グランドに接続されている
請求項3記載の固体撮像装置。 - 前記第1層配線および第2層配線が設けられた前記撮像領域および周辺領域上には、
前記撮像領域に配置された前記光電変換部の上方を露出するセンサ開口を有する遮光膜と、
前記撮像領域および周辺領域を覆う平坦化絶縁膜と、
前記光電変換部に対応して前記平坦化絶縁膜上に配列されたマイクロレンズとが、
この順に設けられた
請求項1〜4の何れかに記載の固体撮像装置。 - 固体撮像装置と、
前記固体撮像装置の撮像領域に入射光を導く光学系と、
前記固体撮像装置の出力信号を処理する信号処理回路とを備え、
前記固体撮像装置は、
前記撮像領域とその周辺領域とにマトリックス状に配置された光電変換部と、
前記光電変換部の側方において垂直方向に配列された転送電極と、
前記転送電極を水平方向に接続する状態で配置された積層配線構造の第1層配線および第2層配線とを備え、
前記周辺領域においては、前記第1層配線および第2層配線が前記光電変換部を覆う遮光パターンとして設けられている
電子機器。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010192057A JP2012049431A (ja) | 2010-08-30 | 2010-08-30 | 固体撮像装置および電子機器 |
TW100127611A TWI472022B (zh) | 2010-08-30 | 2011-08-03 | Solid-state imaging devices and electronic machines |
US13/137,365 US8901696B2 (en) | 2010-08-30 | 2011-08-09 | Solid-state imaging device and electronic apparatus |
CN2011102428975A CN102386193A (zh) | 2010-08-30 | 2011-08-23 | 固态成像装置和电子设备 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010192057A JP2012049431A (ja) | 2010-08-30 | 2010-08-30 | 固体撮像装置および電子機器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012049431A true JP2012049431A (ja) | 2012-03-08 |
Family
ID=45696004
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010192057A Pending JP2012049431A (ja) | 2010-08-30 | 2010-08-30 | 固体撮像装置および電子機器 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8901696B2 (ja) |
JP (1) | JP2012049431A (ja) |
CN (1) | CN102386193A (ja) |
TW (1) | TWI472022B (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2021019058A (ja) * | 2019-07-18 | 2021-02-15 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置および機器 |
CN110429091B (zh) * | 2019-07-29 | 2023-03-03 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 一种具有挡光结构的全局像元结构及形成方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001298175A (ja) * | 2000-04-12 | 2001-10-26 | Toshiba Corp | 撮像システム |
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-
2010
- 2010-08-30 JP JP2010192057A patent/JP2012049431A/ja active Pending
-
2011
- 2011-08-03 TW TW100127611A patent/TWI472022B/zh not_active IP Right Cessation
- 2011-08-09 US US13/137,365 patent/US8901696B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2011-08-23 CN CN2011102428975A patent/CN102386193A/zh active Pending
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201214689A (en) | 2012-04-01 |
US8901696B2 (en) | 2014-12-02 |
TWI472022B (zh) | 2015-02-01 |
CN102386193A (zh) | 2012-03-21 |
US20120049305A1 (en) | 2012-03-01 |
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