JP2011047930A - 磁気抵抗効果素子およびセンサ - Google Patents
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Abstract
【課題】センサ用の磁気抵抗効果素子のピンド層の磁化方向をより変化しにくくすることによって、検知精度を高める。
【解決手段】外部から加わる磁気の変化を検知するセンサ用の磁気抵抗効果素子が、磁化方向が固定されたピンド層12と、磁化方向が外部磁界に応じて変化するフリー層14と、ピンド層12とフリー層14との間に設けられている中間層と、を含んでいる。ピンド層12は、固定された磁化方向に沿って長く延び、固定された磁化方向に直交する方向に短い平面形状を有している。さらに、ピンド層12は複数に分割された平面形状を有していることが好ましい。
【選択図】図11
【解決手段】外部から加わる磁気の変化を検知するセンサ用の磁気抵抗効果素子が、磁化方向が固定されたピンド層12と、磁化方向が外部磁界に応じて変化するフリー層14と、ピンド層12とフリー層14との間に設けられている中間層と、を含んでいる。ピンド層12は、固定された磁化方向に沿って長く延び、固定された磁化方向に直交する方向に短い平面形状を有している。さらに、ピンド層12は複数に分割された平面形状を有していることが好ましい。
【選択図】図11
Description
本発明は磁気抵抗効果素子およびセンサに関する。
従来、車両のハンドル(ステアリングホイール)の回転角度などを検知するために、磁気抵抗効果素子(MR(Magneto-resistance effect)素子)を用いたセンサが用いられることがある(特許文献1〜3および非特許文献1参照)。具体的には、例えばハンドルの軸に磁石が取り付けられ、その磁石に対向する位置に、複数のMR素子が互いに接続されて構成されたホイートストンブリッジを含む検知回路が固定されることによりセンサが構成されている。運転者がハンドルを切ると、ハンドルの軸に取り付けられた磁石が移動して、ホイートストンブリッジを構成するMR素子の各々に対する相対位置が変化する。そうすると、磁石が各MR素子に及ぼす磁力が変化するため、その磁力の変化に伴って各MR素子の抵抗値が変化する。そこで、各MR素子の抵抗値の変化を検知することによって磁石の移動方向や移動量を検知し、それに基づいて、ハンドルがどの方向に何度回転させられたかを知ることができる。このようなセンサによって検知されたハンドルの回転量に基づいて、操舵車軸の移動を補助するモータを駆動させるように制御することによって、小さな力で操舵を行えるいわゆるパワーステアリングが可能になる。
MR素子の一例としては、強磁性層と強磁性層の間に位置する中間層として非磁性層を有し、各層に対して平行にセンス電流を流す巨大磁気抵抗効果素子であるCIP−GMR(Current in Plane - Giant Magneto-resistance effect)素子や、GMR素子において各層に垂直にセンス電流を流すCPP(Current Perpendicular to Plane)−GMR素子や、中間層として非磁性層ではなく絶縁層を有し、各層に垂直にセンス電流を流すTMR(Tunnel Magneto-resistance effect)素子や、異方性磁気抵抗効果を利用するAMR(Anisotropic Magneto-resistance effect)素子が挙げられる。
一般的なGMR素子は、所望のサイズの柱状の形状であり、磁化方向が固定された強磁性層であるピンド層と、磁化方向が外部磁界に応じて変化する強磁性層であるフリー層で、非磁性の中間層を挟んだ構造を有している。また、一般的なTMR素子は、ピンド層とフリー層で、絶縁性の中間層(バリア層)を挟んだ構造を有している。これらのMR素子はスピンバルブ膜(SV膜)とも呼ばれる。MR素子の上下端部にはキャップ層と下地層がそれぞれ設けられており、このMR素子が上部電極層と下部電極層に挟まれている。CPP−GMR素子およびTMR素子の場合、各層に対して直交する方向にセンス電流が流される。GMR素子の一例が特許文献4に、TMR素子の一例が特許文献5にそれぞれ開示されている。
「TMR素子を用いた高感度地磁気センサーの開発」高太好 他 Journal of the Magnetics Society of Japan Vol.32, No.3, 2008 日本磁気学会発行
前記したように複数のMR素子を互いに接続することによってホイートストンブリッジを構成し、そのホイートストンブリッジを含む検知回路を、被検知部材(例えばハンドルの軸)に取り付けられた磁石と対向する位置に固定し、ホイートストンブリッジからの複数の出力電圧を測定するセンサにおいては、できるだけ高い検知精度が求められている。
このように高い検知精度を求める上で障害となるのは、ピンド層の磁化方向が外部磁界に応じて僅かに変化してしまうことや、フリー層の磁化方向が外部磁界に応じて敏感に変化しないことである。すなわち、ピンド層は、その本来の目的通りに、外部磁界の影響を受けず磁化方向が変化しないことが望まれ、フリー層は、その本来の目的通りに、微小な外部磁界を敏感に検知して磁化方向が変化することが望まれる。
そこで本発明の目的は、ピンド層の磁化方向をより変化しにくくすることによって検知精度を高めることができる、磁気抵抗効果素子とそれを用いたセンサを提供することにある。
本発明の、外部から加わる磁気の変化を検知するセンサ用の磁気抵抗効果素子は、磁化方向が固定されたピンド層と、磁化方向が外部磁界に応じて変化するフリー層と、ピンド層とフリー層との間に設けられている中間層と、を含み、ピンド層は、固定された磁化方向に沿って長く延び、固定された磁化方向に直交する方向に短い平面形状を有していることを特徴とする。
また、本発明の、もう1つのセンサ用の磁気抵抗効果素子は、磁化方向が固定されたピンド層と、磁化方向が外部磁界に応じて変化するフリー層と、ピンド層とフリー層との間に設けられている中間層と、を含み、ピンド層は複数に分割された平面形状を有していることを特徴とする。この場合にも、複数に分割されたピンド層は、固定された磁化方向に沿って長く延び、固定された磁化方向に直交する方向に短い平面形状をそれぞれ有していることが好ましい。
ピンド層は、固定された磁化方向に沿う長さが、固定された磁化方向に直交する方向の長さの3倍以上である平面形状を有していることが好ましい。また、フリー層は円形の平面形状を有していることが好ましい。
フリー層の平面的に見たときの総面積は、ピンド層の、平面的に見てフリー層と重なる部分の面積よりも大きいことが好ましい。特にフリー層が円形であって、フリー層の総面積が、ピンド層の平面的に見たときの総面積よりも大きいことがより好ましい。中間層は、TMR素子の場合には絶縁性、GMR素子の場合には非磁性層であり、絶縁性かつ非磁性であってもよい。
本発明のセンサは、前記したいずれかの構成の磁気抵抗効果素子を複数個含み、複数の磁気抵抗効果素子が互いに接続されて構成されたホイートストンブリッジを含む検知回路と、検知回路に対向する位置に設けられた磁石と、を有し、磁石から磁気抵抗効果素子のフリー層へ及ぼされる磁力の変化に伴う磁気抵抗効果素子の抵抗値の変化を検知することによって、磁石と検知回路の相対位置の変化を検知することができる。そして、磁石が被検知部材に取り付けられており、検知回路が磁石に対向する位置に固定され、磁気抵抗効果素子の抵抗値の変化を検知することによって、被検知部材の角度の変化を検知することができるようになっていてもよい。
本発明によると、磁気抵抗効果素子のピンド層の磁化方向が外部磁界の影響を受けて変化するおそれを小さくすることができ、センサの検知誤差を小さくして精度を高めることができる。
以下、本発明の実施の形態について説明する。
まず、本発明に係るセンサ、すなわち、被検知部材の角度を検知するセンサの一例の全体構成について説明する。図1に概略的に示すように、車両のハンドル(ステアリングホイール)1の軸1aの一部に磁石(永久磁石)2が取り付けられている。そして、この磁石2と対向する位置において、検知回路3が図示しない取付部材に固定されている。主にこの磁石2と検知回路3によってセンサが構成されている。検知回路3は、図示しない制御回路を介してモータ4に接続されており、モータ4のピニオン4aが、操舵車軸5に取り付けられているギア5aと連結されている。操舵車軸5は、ハンドル1の軸1aに連結されている。
検知回路3の構成が図2に模式的に示されている。この検知回路3は、2つのホイートストンブリッジ3a,3bを有する。図2に示す回路図上では、各ホイートストンブリッジ3a,3bは、それぞれ4つの磁気抵抗効果素子(MR素子)6が四角形の4辺に配置されている。この四角形の点A1が電源7に接続され、点A1に対向する点A2が接地されている。また、2つの点A3,A4が電圧計8に接続されて点A3と点A4の間の電位差(以下「出力電圧」と言う)が検出される。この出力電圧に基づいて、処理回路9が各MR素子6の抵抗値の変化を検知する。なお、各素子等の配置に関する本明細書中の説明は、図2に示す回路図上でのレイアウトに関するものである。各素子等の、基板(図示せず)上での実際の実装位置は、これらの説明や図2によって限定されるものではなく、任意に変更可能である。
次に、各ホイートストンブリッジ3a,3b内の各MR素子6の構成を説明する。図3に示すように、MR素子6は、下地層10、反強磁性層11、ピンド層12、中間層13、フリー層14、およびキャップ層15が、この順番で積層された構成を有している。図3に示す例では、ピンド層12は、非磁性層12bを、それぞれ強磁性体からなるアウター層12aとインナー層12cとで挟んだ構成である。アウター層12aは反強磁性層11に接するように設けられ、インナー層12cは中間層13に接するように設けられている。このMR素子6は、基板16上で下部電極層17と上部電極層18との間に挟まれており、各層に直交する方向にセンス電流が流される。
MR素子6の各層の材料と厚さの一例を表1に示す。ただし、各層の材料と厚さは以下の例に限定されるわけではなく、任意に変更可能である。また、下地層10、反強磁性層11、キャップ層15は適宜に省略することもできる。
下地層10は、その材料として、反強磁性層11とピンド層12のアウター層12aとの交換結合が良好になる組み合わせが選ばれる。下地層10は、例えば厚さ1.5nmのTa膜と厚さ2nmのRu膜の積層膜で構成されている。
反強磁性層11は、ピンド層12の磁化方向を固定する役割を果たすものであり、例えば厚さ7nmのIrMn膜で構成されている。
ピンド層12は磁性層として形成され、前述したように、アウター層12aと、非磁性層12bと、インナー層12cとがこの順番に積層された構成を有する。本実施形態では、アウター層12aは、反強磁性層11によって外部磁界に対して磁化方向が固定されている。アウター層12aは、例えば厚さ2nmのCoFe膜で構成されている。非磁性層12bは、例えば厚さ0.8nmのRu膜で構成されている。インナー層12cは、例えば厚さ2.5nmのCoFe膜で構成されている。このような積層構造のピンド層12(シンセティックピンド層)では、アウター層12aとインナー層12cとの磁気モーメントが互いに相殺され、全体としての漏れ磁界が抑制されるとともに、インナー層12cの磁化方向が強固に固定される。ただし、単層構造のピンド層12を有する構成にすることも可能である。なお、本発明は、このピンド層12について従来にない構成や形状を採用することを主要な特徴としており、その点については後述する。
中間層13は、例えば厚さ0.5nmのAl2O3膜で構成されている。本実施形態のMR素子6はトンネル磁気抵抗効果を発揮するTMR素子であり、そのため中間層13は絶縁層である。ただし、本発明のMR素子6はTMR素子に限られず、GMR素子であってもよく、GMR素子の場合には中間層13として非磁性層が形成される。
フリー層14は、外部磁界に応じて磁化方向が変化する。本実施形態のフリー層14は、例えば厚さ1nmのCoFe膜と厚さ3nmのNiFe膜の積層膜で構成されている。
キャップ層15は、MR素子6の劣化防止のために設けられ、例えば厚さ4nmのTa膜で構成されている。
このMR素子6を挟む下部電極層17および上部電極層18は、例えばCu膜からなる。
このMR素子6では、ピンド層12の固定された磁化方向と、外部磁界に応じて変化するフリー層14の磁化方向との相対関係によって抵抗値が変化する。検知回路3のホイートストンブリッジ3a,3bでは、図2に示す回路図上において四角形の隣り合う辺に位置するMR素子6のピンド層12同士が、互いに反対向きの磁化方向を有しており、図2に示す回路図上において四角形の中心を挟んで対向するMR素子6のピンド層12同士が同じ磁化方向を有している。これらの磁化方向は、図2に矢印でそれぞれ示されている。そして、ホイートストンブリッジ3aとホイートストンブリッジ3bは、互いに対応する位置にある各MR素子6のピンド層12の磁化方向が、90度回転している。
このような構成において、例えば、図示しているように図2の右向きの外部磁界19が検知回路3に加わった場合には、ホイートストンブリッジ3aの4つのMR素子6の抵抗は全て等しくなるので、出力電圧は0になる。一方、ホイートストンブリッジ3bの4つのMR素子6の抵抗は最大または最小になるため、出力電圧は最大値になる。そして、この外部磁界19の向きが、矢印で示されている方向から(例えば反時計回りに)変化するにつれて、両ホイートストンブリッジ3a,3bの出力電圧は変化する。外部磁界19の角度の変化に対する出力電圧の変化をグラフで表すと、図示しないが、ホイートストンブリッジ3aでは正弦曲線で表され、ホイートストンブリッジ3bでは余弦曲線で表される。従って、両ホイートストンブリッジ3a,3bの出力電圧をそれぞれ測定すると、外部磁界19の向き(角度)がわかる。従って、その外部磁界19の向きから、検知回路3の各MR素子6に及ぼす磁石2(図1参照)の位置(回転角度)を求めることができる。
以上説明したように、検知回路3と磁石2とによって角度センサが構成されている。具体的には、図1に示すように、運転者がハンドル1を切ると、軸1aに取り付けられた磁石2が移動して、この磁石2から検知回路3の両ホイートストンブリッジ3a,3bの各MR素子6のフリー層14に及ぼされる磁界19の向きが変化する。それによって、各MR素子6の抵抗値がそれぞれ変化し、両ホイートストンブリッジ3a,3bの出力電圧が変化する。この両ホイートストンブリッジ3a,3bの出力電圧の変化を電圧計8が検出して処理回路9が演算することによって、磁石2の位置が求められ、それによってハンドル1の回転角度が求められる。そして、その回転角度に応じてモータ4が作動させられてピニオン4aおよびギア5aを介して操舵車軸5が回転させられる。このモータ4による車軸5の回転が、使用者がハンドル1を切ることによる操舵の補助として作用し、小さな力で操舵が行えるいわゆるパワーステアリングが実現する。
以上説明したMR素子6を含むセンサにおいて、本発明者は、従来の精度向上の妨げとなる1つの要因として、ピンド層12の磁化方向が外部磁界の影響を受けて変化する場合があることに着目した。前記したMR素子6を含むセンサによる検知は、固定されたピンド層12の磁化方向に対する、外部磁界19の影響により変化したフリー層14の磁化方向の相対関係に基づくものであり、ピンド層12の磁化方向が、フリー層14の磁化方向と同様に外部磁界に応じて僅かでも変化すると、検知精度が大幅に低下する。そこで、ピンド層12の磁化方向が、外部磁界の影響を受けず変化しないようにするために、以下の構成を採用した。
本発明者は、ピンド層12の磁化方向を変化しにくくする方策として、ピンド層12の平面形状に着目した。そして、所望の磁化方向に沿って長く延びてその磁化方向に直交する方向に短い細長い平面形状であるときに磁化方向が変化しにくいことを見出した。これを実証するために、様々なMR素子6を作製してホイートストンブリッジ3a,3bを含む検知回路3を構成し、対向する磁石2に対する相対角度を実測しながら、検知回路3によって求められた検知結果と比較して角度の誤差を求めた。その結果を図4に示している。なお、このときの外部磁界19は300Oe(約23900A/m)であった。
以下の説明において、ピンド層12の形状について述べる場合には、アウター層12aと非磁性層12bとインナー層12cの全てを同じ形状に形成していることを意味する。さらに、詳述しないが、ピンド層12に接する層の一部も同様の形状に形成されている場合があってもよい。そして、図5,6,7,8,10,11では、見やすくするために、MR素子6のうちのピンド層12とフリー層14のみを抜き出して図示しており、他の層は全て図示省略している。
まず、各MR素子6のフリー層14の平面形状を直径0.6μmの円形とし、絶縁性の中間層13の平面形状を、フリー層14と実質的に同じ形状にした。そして、このフリー層14に中間層13を介して対向するピンド層12の平面形状を、直径0.6μmの円形にした場合(図5参照)の角度誤差を求め、図4に円形状のドットでプロットした。
そして、フリー層14および中間層13の平面形状は前記した例と同様に直径0.6μmの円形にして、ピンド層12の平面形状を、幅と長さが2μm(縦横比が1対1)の正方形にした場合(図6(a)参照)と、幅が2μmで長さが4μm(縦横比が2対1)の長方形にした場合(図6(b)参照)と、幅が2μmで長さが6μm(縦横比が3対1)の長方形にした場合(図6(c)参照)の角度誤差を求め、図4に菱形状のドットでプロットした。なお、図6(a)〜(c)に示す例において、フリー層14の直径とピンド層12の幅の比は0.6対2、すなわち1対約3.3である。
また、フリー層14および中間層13の平面形状はそのままで、ピンド層12の平面形状を、幅と長さが1.2μm(縦横比が1対1)の正方形にした場合(図7(a)参照)と、幅が1.2μmで長さが3.6μm(縦横比が3対1)の長方形にした場合(図7(b)参照)と、幅が1.2μmで長さが6μm(縦横比が5対1)の長方形にした場合(図7(c)参照)の角度誤差を求め、図4に四角形状のドットでプロットした。なお、このときのフリー層14の直径とピンド層12の幅の比は0.6対1.2、すなわち1対2である。
さらに、フリー層14の平面形状を直径1.2μmの円形とし、絶縁性の中間層13の平面形状をフリー層14と実質的に同じ形状にし、ピンド層12の平面形状を、幅と長さが2μm(縦横比が1対1)の正方形にした場合(図8(a)参照)と、幅が2μmで長さが4μm(縦横比が2対1)の長方形にした場合(図8(b)参照)と、幅が2μmで長さが6μm(縦横比が3対1)の長方形にした場合(図8(c)参照)と、幅が2μmで長さが10μm(縦横比が5対1)の長方形にした場合(図8(d)参照)の角度誤差を求め、図4に三角形状のドットでプロットした。なお、このときのフリー層14の直径とピンド層12の幅の比は1.2対2、すなわち、1対約1.67である。
なお、以上の例、および後述する例の全てにおいて、ピンド層12の縦方向、すなわち長手方向が、そのピンド層12の磁化方向と平行でそれと同じ向きまたは反対向きになるようにした。従って、ホイートストンブリッジ3a内のMR素子6のピンド層12の長手方向と、ホイートストンブリッジ3b内のMR素子6のピンド層12の長手方向は、互いに90度回転した向きになっている。
図4に示されている結果を見ると、ピンド層12がより細長い形状になるほど角度誤差が小さくなる傾向がある。図6〜8に示すようにピンド層12はフリー層14よりも大きくフリー層14の外側にはみ出しており、このはみ出している部分はトンネル効果には寄与しないが、図4から明らかなように角度誤差の低減に寄与している。この点について考察すると、ピンド層12の長手方向に沿う磁化方向が、長手方向に直交する細い幅方向に向くように回転移動することは容易ではないことが一因であろうと思われる。そうすると、磁化方向と平行な長手方向の長さと、それに直交する幅方向の長さとの比が大きければ大きいほど、磁化方向が回転しにくくなると考えられる。そして、図4には、ピンド層12の幅が同一の場合には長手方向の長さが長いほど角度誤差が小さく、ピンド層12の長手方向の長さが同一の場合には幅方向の長さが短いほど角度誤差が小さいことが明示されている。特に、ピンド層12の固定された磁化方向に沿う長さである長手方向の長さが、その固定された磁化方向に直交する方向(幅方向)の長さの3倍以上である時に、角度誤差がかなり小さくなることがわかる。
ここでフリー層14について考察すると、フリー層14はピンド層12とは逆に、外部磁界の影響を受けて磁化方向が鋭敏に移動(回転)することが好ましい。そうすると、フリー層14を、長方形ではなく正方形、より好ましくは円形の平面形状に形成すると、磁化方向が外部磁界19の影響によってあらゆる方向に自在に回転しやすくなることがわかる。従って、ピンド層12はできるだけ細長い平面形状に形成して、その磁化方向を回転しにくくし、フリー層14は正方形や円形(または長円形)の平面形状に形成して、その磁化方向を回転し易くすることが、角度誤差の低減のために効果的であることがわかる。
また、図4中の菱形と四角形と三角形のドットを対比すると、フリー層14の直径が同一であればピンド層12の幅が小さい方が角度誤差は小さく、ピンド層12の幅が同一であればフリー層14の直径が大きい方が角度誤差は小さい傾向がある。そこで、これらの点を確認するための測定を行った。具体的には、図6(c)に示すようにフリー層14の平面形状を直径0.6μmの円形とし、ピンド層12の平面形状を幅が2μmで長さが6μm(縦横比が3対1)の長方形にした場合の、外部磁界19と角度誤差との関係を求め、図9に実線で示している。そして、図10に示すようにフリー層14の平面形状を直径5μmの円形とし、ピンド層12の平面形状を幅が2μmで長さが6μm(縦横比が3対1)の長方形にした場合の、外部磁界19と角度誤差との関係を求め、図9に2点鎖線で示している。この実線と2点鎖線とを対比すると、ピンド層12の平面形状が同一の場合に、フリー層14の平面形状が大きい方が、角度誤差が小さいことがわかる。この傾向は、特に外部磁界19の強度があまり小さくも大きくもない中程度の場合に顕著である。
さらに、図11に示すようにフリー層14の平面形状を直径5μmの円形とし、ピンド層12として、幅が2μmで長さが6μm(縦横比が3対1)の長方形を幅方向に3分割した場合、すなわち、幅が約0.67μmで長さが6μmの長方形を幅方向に3つ並べた場合の、外部磁界19と角度誤差との関係を求め、図9に点線で示している。3つに分割されたピンド層12の分割片同士の間はそれぞれ絶縁層で埋められている。
図9の点線と2点鎖線とを対比すると、フリー層14の平面形状が同一で、ピンド層12の平面的な総面積が同一である場合に、ピンド層12の平面形状が単一の長方形である構成よりも、その長方形が幅方向に複数に分割されている構成の方が、角度誤差が小さいことがわかる。この傾向は、特に外部磁界19の強度が比較的大きい場合に顕著である。そして、ピンド層12が幅方向に複数に分割された平面形状を有する構成であると、特に外部磁界19の強度が比較的大きい場合に、外部磁界の強度に応じた角度誤差の変動が小さくなるという傾向があるので、広い範囲の外部磁界に対して用いることができる。また、ピンド層12が幅方向に複数に分割された平面形状を有する構成であると、誤差の補正も容易に行える。また、図10,11に示す例では、フリー層14が比較的大面積であるため、外部磁界19に敏感に反応し易く検知精度が高くなる。
なお、本実施形態ではMR素子6としてTMR素子を用いているので、ピンド層12が幅方向に完全に分離されていて構わない。もしもMR素子6としてGMR素子を用いる場合には、分割された長方形がどこか一部で互いに連結されて導通していることが望ましい。その場合、連結個所がフリー層14と重なる位置にある必要はなく、フリー層14から離れた位置で連結されていてもよい。
以上の説明では、図2に示す回路図上においてホイートストンブリッジ3a,3bの四角形の各辺に1つずつMR素子6が配置されているとして説明したが、図示しないが、各辺に、複数のMR素子6が直列に接続された素子群をそれぞれ配置するようにしてもよい。その場合、各素子群を1つのMR素子6と同等に取り扱って検知を行えばよく、個々のMR素子6に加わる電圧が小さくなるため過電流による破壊の危険性が小さくなり、また各MR素子6ごとの特性のばらつきを平均化して誤差を小さくすることができるという利点がある。
具体例を挙げて詳細に説明したように、本発明によると、ピンド層12が細長い平面形状を有し、特に長手方向がピンド層12の固定された磁化方向と平行であると、外部磁界19の影響を受けず磁化方向が移動しない信頼性が高くなる。さらに、このピンド層12の長手方向の長さとそれに直交する幅方向の長さの比(縦横比)が大きいほど角度誤差が小さくなる。すなわち、長手方向の長さは長いほど好ましく、幅方向の長さは短いほど好ましい。また、ピンド層12の総面積が同一である場合には、単一の細長い形状(例えば長方形または長円形)に形成されているよりも、細長い形状(例えば長方形または長円形)が複数に分割された構成である方が好ましい。
一方、フリー層14は、平面形状が円形であって大面積であると、磁化方向があらゆる方向およびあらゆる角度に自在に容易に回転でき、外部磁界19に敏感に反応できるため、検知精度が高くなる。具体的には、フリー層14の平面形状が長円形等である場合、フリー層14の平面的に見たときの総面積が、ピンド層12の、平面的に見てフリー層14と重なる部分の面積よりも大きいことが好ましい。さらに、フリー層14の平面形状が円形であって、フリー層14の総面積が、ピンド層12の平面的に見たときの総面積よりも大きいとより好ましい。
本発明のMR素子6を含むセンサは、図1に示すように車両のハンドルの回転角度を毛位置するためのものに限られず、あらゆる被検知部材の位置や角度を検知するために使用可能である。
1 ハンドル(ステアリングホイール)
1a 軸
2 磁石(永久磁石)
3 検知回路
3a,3b ホイートストンブリッジ
4 モータ
4a ピニオン
5 操舵車軸
5a ギア
6 磁気抵抗効果素子(MR素子)
7 電源
8 電圧計
9 処理回路
10 下地層
11 反強磁性層
12 ピンド層
12a アウター層
12b 非磁性層
12c インナー層
13 中間層
14 フリー層
15 キャップ層
16 基板
17 下部電極層
18 上部電極層
19 外部磁界
A1〜A4 点
1a 軸
2 磁石(永久磁石)
3 検知回路
3a,3b ホイートストンブリッジ
4 モータ
4a ピニオン
5 操舵車軸
5a ギア
6 磁気抵抗効果素子(MR素子)
7 電源
8 電圧計
9 処理回路
10 下地層
11 反強磁性層
12 ピンド層
12a アウター層
12b 非磁性層
12c インナー層
13 中間層
14 フリー層
15 キャップ層
16 基板
17 下部電極層
18 上部電極層
19 外部磁界
A1〜A4 点
Claims (10)
- 外部から加わる磁気の変化を検知するセンサ用の磁気抵抗効果素子において、
磁化方向が固定されたピンド層と、磁化方向が外部磁界に応じて変化するフリー層と、前記ピンド層と前記フリー層との間に設けられている中間層と、を含み、
前記ピンド層は、前記固定された磁化方向に沿って長く延び、前記固定された磁化方向に直交する方向に短い平面形状を有していることを特徴とする、磁気抵抗効果素子。 - 外部から加わる磁気の変化を検知するセンサ用の磁気抵抗効果素子において、
磁化方向が固定されたピンド層と、磁化方向が外部磁界に応じて変化するフリー層と、前記ピンド層と前記フリー層との間に設けられている中間層と、を含み、
前記ピンド層は複数に分割された平面形状を有していることを特徴とする、磁気抵抗効果素子。 - 複数に分割された前記ピンド層は、前記固定された磁化方向に沿って長く延び、前記固定された磁化方向に直交する方向に短い平面形状をそれぞれ有している、請求項2に記載の磁気抵抗効果素子。
- 前記ピンド層は、前記固定された磁化方向に沿う長さが、前記固定された磁化方向に直交する方向の長さの3倍以上である平面形状を有している、請求項1から3のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果素子。
- 前記フリー層は円形の平面形状を有している、請求項1から4のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果素子。
- 前記フリー層の平面的に見たときの総面積は、前記ピンド層の、平面的に見て前記フリー層と重なる部分の面積よりも大きい、請求項1から5のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果素子。
- 前記フリー層の前記総面積は、前記ピンド層の平面的に見たときの総面積よりも大きい、請求項6に記載の磁気抵抗効果素子。
- 前記中間層は絶縁性、または非磁性、または絶縁性かつ非磁性である、請求項1から7のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果素子。
- 請求項1から8のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果素子を複数個含み、該複数の磁気抵抗効果素子が互いに接続されて構成されたホイートストンブリッジを含む検知回路と、前記検知回路に対向する位置に設けられた磁石と、を有し、
前記磁石から前記磁気抵抗効果素子の前記フリー層へ及ぼされる磁力の変化に伴う前記磁気抵抗効果素子の抵抗値の変化を検知することによって、前記磁石と前記検知回路の相対位置の変化を検知することができるセンサ。 - 前記磁石が被検知部材に取り付けられており、前記検知回路が前記磁石に対向する位置に固定され、前記磁気抵抗効果素子の抵抗値の変化を検知することによって、前記被検知部材の角度の変化を検知することができる、請求項9に記載のセンサ。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11415644B2 (en) | 2018-01-17 | 2022-08-16 | Alps Alpine Co., Ltd. | Magnetic detector and method for producing the same |
US11476413B2 (en) | 2017-12-26 | 2022-10-18 | Alps Alpine Co., Ltd. | Tunnel magnetoresistance effect device and magnetic device using same |
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Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011141969A1 (ja) * | 2010-05-14 | 2011-11-17 | 株式会社日立製作所 | 磁界角計測装置およびこれを用いた回転角計測装置 |
CN102280574B (zh) * | 2011-01-07 | 2014-04-16 | 江苏多维科技有限公司 | 薄膜磁电阻传感元件、多个传感元件的组合及与该组合耦合的电子装置 |
US9459835B2 (en) * | 2014-01-15 | 2016-10-04 | HGST Netherlands B.V. | Random number generator by superparamagnetism |
JP2015179779A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 株式会社東芝 | 歪検出素子、圧力センサ、マイクロフォン、血圧センサ及びタッチパネル |
US10658222B2 (en) | 2015-01-16 | 2020-05-19 | Lam Research Corporation | Moveable edge coupling ring for edge process control during semiconductor wafer processing |
US10809320B2 (en) | 2015-04-29 | 2020-10-20 | Everspin Technologies, Inc. | Magnetic field sensor with increased SNR |
US10651015B2 (en) | 2016-02-12 | 2020-05-12 | Lam Research Corporation | Variable depth edge ring for etch uniformity control |
WO2017208674A1 (ja) * | 2016-06-02 | 2017-12-07 | 株式会社コガネイ | 位置検出装置およびアクチュエータ |
WO2019103722A1 (en) | 2017-11-21 | 2019-05-31 | Lam Research Corporation | Bottom and middle edge rings |
JP7136146B2 (ja) * | 2020-02-28 | 2022-09-13 | Tdk株式会社 | 位置検出装置とこれを用いた位置検出システム及びステアリングシステム |
DE102021201042B3 (de) | 2021-02-04 | 2022-01-27 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Magnetfeldsensorvorrichtung und Verfahren zum Herstellen einer Magnetfeldsensorvorrichtung |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11126933A (ja) * | 1997-10-23 | 1999-05-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 磁気抵抗効果素子 |
JP2003008101A (ja) * | 2001-06-20 | 2003-01-10 | Ricoh Co Ltd | トンネル磁気抵抗効果素子及びこの素子を用いた方位検知システム |
JP2003298145A (ja) * | 2002-03-29 | 2003-10-17 | Toshiba Corp | 磁気抵抗効果素子および磁気メモリ装置 |
JP2005180942A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-07-07 | Alps Electric Co Ltd | 角度検出センサ |
JP2006019383A (ja) * | 2004-06-30 | 2006-01-19 | Tdk Corp | 磁気検出素子およびその形成方法 |
JP2008039782A (ja) * | 2006-08-01 | 2008-02-21 | Magic Technologies Inc | Gmrセンサストライプ、gmrセンサストライプアレイおよびそれらの形成方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07119619B2 (ja) | 1990-04-20 | 1995-12-20 | ヤマハ株式会社 | 角度センサ |
US5561368A (en) * | 1994-11-04 | 1996-10-01 | International Business Machines Corporation | Bridge circuit magnetic field sensor having spin valve magnetoresistive elements formed on common substrate |
EP0877398B1 (en) * | 1997-05-09 | 2003-12-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic element and magnetic head and magnetic memory device using thereof |
JP2001102659A (ja) | 1999-01-04 | 2001-04-13 | Yamaha Corp | 磁気抵抗素子 |
DE10255327A1 (de) * | 2002-11-27 | 2004-06-24 | Robert Bosch Gmbh | Magnetoresistives Sensorelement und Verfahren zur Reduktion des Winkelfehlers eines magnetoresistiven Sensorelements |
JP2004221298A (ja) * | 2003-01-15 | 2004-08-05 | Alps Electric Co Ltd | 磁気検出素子 |
JP2006029792A (ja) | 2004-07-12 | 2006-02-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 異方性磁気抵抗素子及びこれを用いた回転角度検出装置 |
JP4693450B2 (ja) * | 2005-03-22 | 2011-06-01 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子および磁気メモリ |
JP4504273B2 (ja) * | 2005-07-06 | 2010-07-14 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子および磁気メモリ |
JP4810275B2 (ja) * | 2006-03-30 | 2011-11-09 | アルプス電気株式会社 | 磁気スイッチ |
JP4385156B2 (ja) * | 2006-07-27 | 2009-12-16 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | Ccp−cpp型巨大磁気抵抗素子 |
JP2008112841A (ja) * | 2006-10-30 | 2008-05-15 | Tdk Corp | 磁気抵抗効果素子、薄膜磁気ヘッド、基体、ウェハ、ヘッドジンバルアセンブリ、ハードディスク装置 |
JP4991322B2 (ja) * | 2006-10-30 | 2012-08-01 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | Gmr素子を用いた変位センサ,gmr素子を用いた角度検出センサ及びそれらに用いる半導体装置 |
US7869166B2 (en) * | 2007-02-20 | 2011-01-11 | Tdk Corporation | Thin film magnetic head having a bias magnetic layer provided with antiferromagnetic layer and a pinned layer provided with hard magnetic layer |
JP5013100B2 (ja) * | 2007-12-21 | 2012-08-29 | 国立大学法人秋田大学 | 磁気記録媒体及びその製造方法ならびに磁気ディスク装置 |
US7994597B2 (en) * | 2009-03-13 | 2011-08-09 | Magic Technologies, Inc. | MRAM with coupling valve switching |
-
2010
- 2010-07-28 JP JP2010169246A patent/JP2011047930A/ja active Pending
- 2010-07-28 EP EP10171143A patent/EP2284553B1/en active Active
- 2010-07-29 US US12/845,992 patent/US8786280B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11126933A (ja) * | 1997-10-23 | 1999-05-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 磁気抵抗効果素子 |
JP2003008101A (ja) * | 2001-06-20 | 2003-01-10 | Ricoh Co Ltd | トンネル磁気抵抗効果素子及びこの素子を用いた方位検知システム |
JP2003298145A (ja) * | 2002-03-29 | 2003-10-17 | Toshiba Corp | 磁気抵抗効果素子および磁気メモリ装置 |
JP2005180942A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-07-07 | Alps Electric Co Ltd | 角度検出センサ |
JP2006019383A (ja) * | 2004-06-30 | 2006-01-19 | Tdk Corp | 磁気検出素子およびその形成方法 |
JP2008039782A (ja) * | 2006-08-01 | 2008-02-21 | Magic Technologies Inc | Gmrセンサストライプ、gmrセンサストライプアレイおよびそれらの形成方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11476413B2 (en) | 2017-12-26 | 2022-10-18 | Alps Alpine Co., Ltd. | Tunnel magnetoresistance effect device and magnetic device using same |
US11578996B2 (en) | 2017-12-26 | 2023-02-14 | Alps Alpine Co., Ltd. | Position detection element and position detection apparatus using same |
US11415644B2 (en) | 2018-01-17 | 2022-08-16 | Alps Alpine Co., Ltd. | Magnetic detector and method for producing the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8786280B2 (en) | 2014-07-22 |
US20110025322A1 (en) | 2011-02-03 |
EP2284553B1 (en) | 2012-06-20 |
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