JP2011007552A - シンチレータパネル、放射線検出装置、及びシンチレータパネルの製造方法 - Google Patents
シンチレータパネル、放射線検出装置、及びシンチレータパネルの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011007552A JP2011007552A JP2009149746A JP2009149746A JP2011007552A JP 2011007552 A JP2011007552 A JP 2011007552A JP 2009149746 A JP2009149746 A JP 2009149746A JP 2009149746 A JP2009149746 A JP 2009149746A JP 2011007552 A JP2011007552 A JP 2011007552A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- scintillator panel
- partition wall
- scintillator
- wall structure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 41
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 73
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims abstract description 68
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 51
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 25
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 10
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 9
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims abstract description 9
- 239000000049 pigment Substances 0.000 claims abstract description 8
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 claims description 18
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims description 17
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 14
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 13
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 10
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 10
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 abstract description 9
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 59
- XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M caesium iodide Chemical compound [I-].[Cs+] XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 31
- 239000010408 film Substances 0.000 description 29
- 239000004106 carminic acid Substances 0.000 description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 9
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 9
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 9
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 9
- -1 silver halide Chemical class 0.000 description 7
- 150000003476 thallium compounds Chemical class 0.000 description 7
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 3
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 3
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- LYQFWZFBNBDLEO-UHFFFAOYSA-M caesium bromide Chemical compound [Br-].[Cs+] LYQFWZFBNBDLEO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 2
- 229920003207 poly(ethylene-2,6-naphthalate) Polymers 0.000 description 2
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000049 Carbon (fiber) Polymers 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 1
- 239000004697 Polyetherimide Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920010524 Syndiotactic polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 239000012190 activator Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 239000004917 carbon fiber Substances 0.000 description 1
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 1
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 1
- 229920002492 poly(sulfone) Polymers 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920001230 polyarylate Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920006289 polycarbonate film Polymers 0.000 description 1
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 1
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 1
- 229920001601 polyetherimide Polymers 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052701 rubidium Inorganic materials 0.000 description 1
- IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N rubidium atom Chemical compound [Rb] IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- FVAUCKIRQBBSSJ-UHFFFAOYSA-M sodium iodide Chemical compound [Na+].[I-] FVAUCKIRQBBSSJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- GBECUEIQVRDUKB-UHFFFAOYSA-M thallium monochloride Chemical compound [Tl]Cl GBECUEIQVRDUKB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- PGAPATLGJSQQBU-UHFFFAOYSA-M thallium(i) bromide Chemical compound [Tl]Br PGAPATLGJSQQBU-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- CULOEOTWMUCRSJ-UHFFFAOYSA-M thallium(i) fluoride Chemical compound [Tl]F CULOEOTWMUCRSJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000005341 toughened glass Substances 0.000 description 1
- ILJSQTXMGCGYMG-UHFFFAOYSA-N triacetic acid Chemical compound CC(=O)CC(=O)CC(O)=O ILJSQTXMGCGYMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
【課題】大サイズの結像面上でも、放射線による発光光の取り出し効率に優れ、且つ、使用及び製造時に優れた平面性が安定して保持されるようにしたシンチレータパネル及びそのシンチレータパネルを装着した放射線検出装置とを提供する。
【解決手段】少なくとも、放射線透過性を有する平板状の基板と、該基板上に設けた放射線透過性を有し格子状の複数の画素の単位の区画を有する隔壁構造部と、前記各画素の区画に蛍光体を充填したシンチレータ層とを備えたシンチレータパネルであって、
前記隔壁構造部が顔料又はセラミック粉と低融点ガラスとの混合物であるガラスペーストからなり、前記隔壁構造部の熱膨張係数がそれを保持する前記第2の基板の熱膨張係数より10から45%低くしたシンチレータパネル及びそれを装着した放射線検出装置。
【選択図】図2
【解決手段】少なくとも、放射線透過性を有する平板状の基板と、該基板上に設けた放射線透過性を有し格子状の複数の画素の単位の区画を有する隔壁構造部と、前記各画素の区画に蛍光体を充填したシンチレータ層とを備えたシンチレータパネルであって、
前記隔壁構造部が顔料又はセラミック粉と低融点ガラスとの混合物であるガラスペーストからなり、前記隔壁構造部の熱膨張係数がそれを保持する前記第2の基板の熱膨張係数より10から45%低くしたシンチレータパネル及びそれを装着した放射線検出装置。
【選択図】図2
Description
本発明は、医療診断装置、非破壊検査機器等に用いられる放射線検出装置に関する。
従来、X線画像のような放射線画像は医療現場において病状の診断に広く用いられている。特に、増感紙−フィルム系による放射線画像は、長い歴史のなかで高感度化と高画質化が図られた結果、高い信頼性と優れたコストパフォーマンスを併せ持った撮像システムとして、今なお、世界中の医療現場で用いられている。しかしながらこれら画像情報はいわゆるアナログ画像情報であって、近年発展を続けているデジタル画像情報のような、自由な画像処理や瞬時の電送が出来ない。
そして、近年ではコンピューテッドラジオグラフィ(computed radiography:CR)やフラットパネル型の放射線ディテクタ(flat panel detector:FPD)等に代表されるデジタル方式の放射線検出装置が登場している。これらは、デジタルの放射線画像が直接得られ、陰極管や液晶パネル等の画像表示装置に画像を直接表示することが可能なので、必ずしも写真フィルム上への画像形成が必要なものではない。その結果、これらのデジタル方式のX線画像検出装置は、銀塩写真方式による画像形成の必要性を低減させ、病院や診療所での診断作業の利便性を大幅に向上させている。
X線画像のデジタル技術の一つとしてコンピューテッド・ラジオグラフィ(CR)が現在医療現場で受け入れられている。しかしながら鮮鋭性が十分でなく空間分解能も不十分であり、スクリーン・フィルムシステムの画質レベルには到達していない。そして、更に新たなデジタルX線画像技術として、薄膜トランジスタ(TFT)や電荷結合素子(CCD)を用いた平板X線検出装置(FPD)が開発されている。
平板X線検出装置(FPD)はCRより装置が小形化し、高線量での画質が優れているという特徴がある。しかし、一方ではTFTや回路自体の持つ電気ノイズのため、低線量の撮影においてS/N比が低下し十分な画質レベルに至っていない。
放射線を可視光に変換するために、放射線により発光する特性を有するX線蛍光体で作られたシンチレータパネルが使用されるが、低線量の撮影においてのSN比を向上するためには、発光効率の高いシンチレータパネルを使用することが必要になってくる。一般にシンチレータパネル発光効率は、シンチレータ層(蛍光体層)の厚さ、蛍光体のX線吸収係数によって決まるが、蛍光体層の厚さは厚くすればするほど、蛍光体層内での発光光の散乱が発生し、鮮鋭性は低下する。そのため、画質に必要な鮮鋭性を決めると、膜厚が決まる関係になっている。
なかでもヨウ化セシウム(CsI)はX線から可視光に対する変換率が比較的高く、蒸着によって容易に蛍光体を柱状結晶構造に形成出来るため、光ガイド効果により結晶内での発光光の散乱が抑えられ、蛍光体層の厚さを厚くすることが可能であった。しかし、横方向への可視光の散乱光を防ぐことは困難であった。
そこで、更なる光ガイド効果を向上させるために隔壁構造により発光光の散乱を抑制することが特許文献1及び2で開示されている。そこでは隔壁構造を作るのにシリコンウエハをエッチングする手段が採られているがシリコンウエハは最大10インチのインゴットからスライスして加工するのが限度であり、500mm角の大サイズのものを得ることはできなかった。強いてその大サイズのものを作るには10インチサイズのものを並べて作ることになるがその製作は精度上困難を極めることになる。
本発明は上記欠点を解消し、大サイズの結像面上に放射線を照射して発光光の取り出しを行うときの効率に優れ、且つ、使用及び製造時に優れた平面性が安定して保持され、輝度や鮮鋭性に優れたシンチレータパネル及びそれを装着した放射線検出装置を提供すること、及び大サイズの高精度のシンチレータパネルを製造することを課題にする。
この目的は次の技術手段の何れかによって達成される。
1.少なくとも放射線透過性を有する平板状の第1の基板と、該第1の基板の上に設けた放射線透過性を有し画素単位の複数の区画とした格子状の隔壁及び底部を有する隔壁構造部と、前記区画に蛍光体を充填したシンチレータ層とを備えたシンチレータパネルであって、
前記隔壁構造部の材料が顔料又はセラミック粉と低融点ガラスとの混合物であるガラスペーストであり、前記隔壁構造部の熱膨張係数がそれを保持する前記第1の基板の熱膨張係数より10から45%低いことを特徴とするシンチレータパネル。
前記隔壁構造部の材料が顔料又はセラミック粉と低融点ガラスとの混合物であるガラスペーストであり、前記隔壁構造部の熱膨張係数がそれを保持する前記第1の基板の熱膨張係数より10から45%低いことを特徴とするシンチレータパネル。
2.前記隔壁構造部の前記底部は、前記第1の基板の上にスクリーン印刷により前記ガラスペーストを所定の膜厚で塗工して乾燥する工程により得られ、
前記隔壁構造部の前記隔壁は、前記底部の上に、スクリーン印刷により所定の大きさの開口と所定の壁幅に囲まれた画素を縦方向と横方向に所定ピッチで配置させた格子状のパターンを塗布する工程及び乾燥する工程を複数回繰り返した後、空気中で焼成を行って得られることを特徴とする1に記載のシンチレータパネル。
前記隔壁構造部の前記隔壁は、前記底部の上に、スクリーン印刷により所定の大きさの開口と所定の壁幅に囲まれた画素を縦方向と横方向に所定ピッチで配置させた格子状のパターンを塗布する工程及び乾燥する工程を複数回繰り返した後、空気中で焼成を行って得られることを特徴とする1に記載のシンチレータパネル。
3.1又は2に記載のシンチレータパネルと、
該シンチレータパネルのシンチレータ層に近接して設けた光電変換素子層を第2の基板の上に有する出力基板とを備え、前記シンチレータ層と光電変換素子層は対応する画素が互いに重なるように配置されることを特徴とする放射線検出装置。
該シンチレータパネルのシンチレータ層に近接して設けた光電変換素子層を第2の基板の上に有する出力基板とを備え、前記シンチレータ層と光電変換素子層は対応する画素が互いに重なるように配置されることを特徴とする放射線検出装置。
4.入射した放射線を可視光に変換するシンチレータパネルの製造方法であって、
少なくとも放射線透過性を有する平板状の第1の基板上に、スクリーン印刷により顔料又はセラミック粉と低融点ガラスとの混合物であるガラスペーストを所定の膜厚で塗工して乾燥させて隔壁構造部の底部を形成する第1工程と、
前記ガラスペーストを形成した前記底部の上に、スクリーン印刷により所定の大きさの開口と所定の壁幅に囲まれた画素を縦方向と横方向に所定ピッチで配置させた格子状のパターンを塗布する工程及び、これを乾燥する工程を繰り返して行って、所定の高さとした格子状の前記隔壁構造部の隔壁を形成する第2工程と、
前記第1の基板と前記隔壁構造部を空気中で焼成する第3工程と、
前記隔壁構造部に蛍光体を充填する第4工程と、から製造されることを特徴とするシンチレータパネルの製造方法。
少なくとも放射線透過性を有する平板状の第1の基板上に、スクリーン印刷により顔料又はセラミック粉と低融点ガラスとの混合物であるガラスペーストを所定の膜厚で塗工して乾燥させて隔壁構造部の底部を形成する第1工程と、
前記ガラスペーストを形成した前記底部の上に、スクリーン印刷により所定の大きさの開口と所定の壁幅に囲まれた画素を縦方向と横方向に所定ピッチで配置させた格子状のパターンを塗布する工程及び、これを乾燥する工程を繰り返して行って、所定の高さとした格子状の前記隔壁構造部の隔壁を形成する第2工程と、
前記第1の基板と前記隔壁構造部を空気中で焼成する第3工程と、
前記隔壁構造部に蛍光体を充填する第4工程と、から製造されることを特徴とするシンチレータパネルの製造方法。
5.前記隔壁構造部の熱膨張係数が前記第1の基板の熱膨張係数より10から45%低いように各材質が選択されていることを特徴とする4に記載のシンチレータパネルの製造方法。
顔料又はセラミック粉と低融点ガラスとの混合物であるガラスペーストからなる隔壁構造部の熱膨張係数と、前記隔壁構造部を保持する第1の基板の熱膨張係数との差を規定した本発明により、大サイズのシンチレータパネルも容易に得られるようになった。そして反り等の歪みを起こすことなく輝度や鮮鋭性に優れた画像が得られるシンチレータパネル及びそれを装着した放射線検出装置が提供できるようになった。
以下、上記図1〜図4を用いて本発明を実施するための最良の形態について説明するが、本発明はこれらに限定されない。本発明における放射線検出装置100はシンチレータ層5を有するシンチレータパネル10とそれに近接した光電変換素子層20bを有する出力基板20と電源部54によって撮像パネル51を構成しているが、それらについて順次説明する。
(シンチレータ層)
シンチレータ層5(「蛍光体層」ともいう。)は、放射線の照射により、蛍光を発するシンチレータ(蛍光体)から成る層である。先ず本発明のシンチレータパネルについて説明する。
シンチレータ層5(「蛍光体層」ともいう。)は、放射線の照射により、蛍光を発するシンチレータ(蛍光体)から成る層である。先ず本発明のシンチレータパネルについて説明する。
即ち、シンチレータ層5とは、X線等の入射された放射線のエネルギーを吸収して、波長が300nmから800nmの電磁波、すなわち、可視光線を中心に紫外光から赤外光にわたる電磁波(光)を発光する蛍光体をいう。蛍光体として例えば柱状結晶を用いる場合、柱状結晶の柱径は2.0〜20μmが好ましく、3.0〜15μmがより好ましい。またシンチレータ層5の膜厚は100〜1000μmであることが好ましく、より好ましくは120〜800μm、特に好ましくは140〜600μmである。
本発明においては、シンチレータ層5を複数の各画素の領域に等分割して各領域の蛍光体量の充填率の変動係数を50%以下にしてある。今までは充填率の変動係数は小さければ小さいほど好ましく20%以下、更には10%以下、より好ましくは5%以下であることを狙っていたが、本発明ではそれを緩めることが可能になっている。即ち、柱状結晶の方式を採らない本発明では、変動係数が緩められても、高い輝度や鮮鋭性が保持され、さらに温度変動に伴う画像欠陥の発生も防止できて好ましい状態になる。
また、シンチレータ層5の充填率は70〜90%であることが好ましく、より好ましくは72〜88%、特に好ましくは75〜85%である。ここで充填率とはシンチレータ層5の実際の質量を、理論密度と見かけの体積で割った値をさす。
(シンチレータ層を形成する材料としての蛍光体)
シンチレータ層5を形成する材料としては、種々の公知の蛍光体材料を使用することができる。特に、X線から可視光に対する変換率が比較的高く、蛍光体の結晶による反射率が高く光ガイド効果により発光光の散乱が抑えられ、シンチレータ層5(蛍光体層)の厚さを厚くすることが可能であることから、CsIが好ましい。
シンチレータ層5を形成する材料としては、種々の公知の蛍光体材料を使用することができる。特に、X線から可視光に対する変換率が比較的高く、蛍光体の結晶による反射率が高く光ガイド効果により発光光の散乱が抑えられ、シンチレータ層5(蛍光体層)の厚さを厚くすることが可能であることから、CsIが好ましい。
但し、CsIのみでは発光効率がまだ低いために、各種の賦活剤が添加される。例えば、特公昭54−35060号の如く、CsIとヨウ化ナトリウム(NaI)を任意のモル比で混合したものが挙げられる。また、例えば特開2001−59899号公報に開示されているようなCsIを蒸着で、インジウム(In)、タリウム(Tl)、リチウム(Li)、カリウム(K)、ルビジウム(Rb)、ナトリウム(Na)などの賦活物質を含有するCsIが好ましい。
また、タリウムを含有するCsIのシンチレータ層を形成するための、原材料としては、1種類以上のタリウム化合物を含む添加剤とヨウ化セシウムとが、好ましく用いられる。タリウム賦活ヨウ化セシウム(CsI:Tl)は400nmから750nmまでの広い発光波長をもつことから好ましい。
1種類以上のタリウム化合物を含有する添加剤のタリウム化合物としては、種々のタリウム化合物(+Iと+IIIの酸化数の化合物)を使用することができる。
好ましいタリウム化合物は、臭化タリウム(TlBr)、塩化タリウム(TlCl)、又はフッ化タリウム(TlF,TlF3)等である。
また、タリウム化合物の融点は、発光効率の面から、400〜700℃の範囲内にあることが好ましい。なお、融点とは、常温常圧下における融点である。
また、タリウム化合物の分子量は206〜300の範囲内にあることが好ましい。
シンチレータ層において、当該添加剤の含有量は目的性能等に応じて、最適量にすることが望ましいが、ヨウ化セシウムの含有量に対して、0.01〜20モル%であるのが好ましく、0.05〜5モル%であるのがより好ましい。
本発明においては、上記したCsI:Tl以外にも各種のものが利用可能である。
即ち、CsIの他に、CsBr、Gd2O2S、Ba(Br,F,I)等が挙げられるが、これに限定はされない。
また、本発明の大きな特色としては、放射線透過性の高い第1の基板1上に隔壁構造部5Aを設けることにより、複数の画素の単位に底部5Bと隔壁5Cで区画化された隔壁構造部5Aに蛍光体が充填され、シンチレータ層5が形成されて高性能のシンチレータパネル10が作成される。また、第2の基板20d上にフォトセンサとTFTからなる画素が2次元状に形成された出力層20c及び光電変換素子層20bを形成した光電変換を行う出力基板20が設けられている。そして、シンチレータパネル10の出光面と光電変換素子層20bは出力基板20の隔膜20aを介して接着あるいは密着させることで放射線検出装置100として活用させることが可能になる。第2の基板20d上にフォトセンサとTFTからなる画素が2次元状に形成された出力層20c及び光電変換素子層20bを形成している。これら各層の互いに対応する画素は放射線検出装置100に設けた縦横の規制ガイド(図示せず)に直接接触して固定させるため、良好な重なりが安定して保持される。
(シンチレータパネルの基盤としての放射線透過性を有する第1の基板)
本発明に係る放射線透過性を有する第1の基板1は、シンチレータ層5を担持可能な板状体であり、各種のガラス、高分子材料、金属等を用いることができる。
本発明に係る放射線透過性を有する第1の基板1は、シンチレータ層5を担持可能な板状体であり、各種のガラス、高分子材料、金属等を用いることができる。
例えば、石英、ホウ珪酸ガラス、化学的強化ガラスなどの板ガラス、サファイア、チッ化珪素、炭化珪素などのセラミック基板、シリコン、ゲルマニウム、ガリウム砒素、ガリウム燐、ガリウム窒素など半導体基板、又、セルロースアセテートフィルム、ポリエステルフィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリアミドフィルム、ポリイミドフィルム、トリアセテートフィルム、ポリカーボネートフィルム、炭素繊維強化樹脂シート等の高分子フィルム(プラスチックフィルム)、アルミニウムシート、鉄シート、銅シート等の金属シート或いは該金属酸化物の被覆層を有する金属シートなどを用いることができる。板ガラス材のように弾性率が高く熱膨張計数が安定した材料が好ましい。
なお、「弾性率」とは、引張試験機を用い、JIS−C2318に準拠したサンプルの標線が示すひずみと、それに対応する応力が直線的な関係を示す領域において、ひずみ量に対する応力の傾きを求めたものである。これがヤング率と呼ばれる値であり、本発明では、かかるヤング率を弾性率と定義する。
本発明に用いられる第1の基板1は、上記のように120℃での弾性率(E120)が1000N/mm2〜6000N/mm2であることが好ましい。より好ましくは1200N/mm2〜5000N/mm2である。
具体的には、ポリエチレンナフタレート(E120=4100N/mm2)、ポリエチレンテレフタレート(E120=1500N/mm2)、ポリブチレンナフタレート(E120=1600N/mm2)、ポリカーボネート(E120=1700N/mm2)、シンジオタクチックポリスチレン(E120=2200N/mm2)、ポリエーテルイミド(E120=1900N/mm2)、ポリアリレート(E120=1700N/mm2)、ポリスルホン(E120=1800N/mm2)、ポリエーテルスルホン(E120=1700N/mm2)等からなる高分子フィルムが挙げられる。
これらは単独で用いてもよく積層あるいは混合して用いてもよい。中でも、特に好ましい高分子フィルムとしては、上述のように、ポリイミド又はポリエチレンナフタレートを含有する高分子フィルムが好ましい。
(シンチレータパネルの作製方法)
本発明のシンチレータパネル10を作製する方法についての実施の形態例について、図を参照しながら説明する。なお、前述のように、図1はシンチレータパネル10や出力基板20で構成される撮像パネル51を装着した放射線検出装置100の概略層構成を示す断面図である。図2は、図1の拡大断面図であり、図3は、図2のシンチレータパネル部分の平面図である。図4は本発明の放射線検出装置の概略斜視図である。
本発明のシンチレータパネル10を作製する方法についての実施の形態例について、図を参照しながら説明する。なお、前述のように、図1はシンチレータパネル10や出力基板20で構成される撮像パネル51を装着した放射線検出装置100の概略層構成を示す断面図である。図2は、図1の拡大断面図であり、図3は、図2のシンチレータパネル部分の平面図である。図4は本発明の放射線検出装置の概略斜視図である。
放射線透過性を有する平板状の第1の基板1上に顔料又はセラミックス粉と低融点ガラス粉との混合物であるガラスペーストをスクリーン印刷により所定厚さで塗工を行い、それを乾燥して隔壁構造の底部5Bを形成する(第1工程)。その後、前記ガラスペーストを縦横の画素単位の所定のピッチと所定の大きさの開口と所定厚さに格子状に、画素数で決まる大きさの格子状のパターンを用いて塗布を行い、続いて乾燥も行う。それを複数回繰り返して所定高さの隔壁とする(第2工程)。その後、550℃の空気中で焼成を行い、基板1上に底部5Bと隔壁5Cを有する隔壁構造部5Aが形成される(第3工程)。また、隔壁構造部5Aの熱膨張係数がそれを保持する前記第1の基板1の熱膨張係数より10から45%低いように各材質が選択されている。そしてその隔壁構造部5Aに、前述のように蛍光体を充填してシンチレータ層5が形成されシンチレータパネル10が作製される(第4工程)。
このような製造方法により、平面性が安定して保持され輝度や鮮鋭性に優れた大サイズ(例えば500mm角)のシンチレータパネルを製造することが可能となる。
(放射線検出装置)
さて、第2の基板20d上に、フォトセンサとTFTから成り画素が2次元状に配設された出力層20c及び光電変換素子層20bが形成され、出力基板20が構成されている。そして、シンチレータパネル10の出光面と光電変換素子層20bは出力基板20の隔膜20aを介して接着あるいは密着させることで放射線検出装置100が形成される。そしてこれら各層の格子状に配置された光電変換素子の画素の大きさ及びピッチは、シンチレータパネルの画素の大きさ及びピッチと一致させており、互いに対応して重ねられ安定して作動するようにしてある。
さて、第2の基板20d上に、フォトセンサとTFTから成り画素が2次元状に配設された出力層20c及び光電変換素子層20bが形成され、出力基板20が構成されている。そして、シンチレータパネル10の出光面と光電変換素子層20bは出力基板20の隔膜20aを介して接着あるいは密着させることで放射線検出装置100が形成される。そしてこれら各層の格子状に配置された光電変換素子の画素の大きさ及びピッチは、シンチレータパネルの画素の大きさ及びピッチと一致させており、互いに対応して重ねられ安定して作動するようにしてある。
次に実施例を挙げて本発明の効果について説明する。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
(実施例1)
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ10.5%低い熱膨張係数3.4×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aが形成された。
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ10.5%低い熱膨張係数3.4×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aが形成された。
その後、CsI:Tl(CsI:TlI=1:0.3mol%)を隔壁構造部5Aの空孔体積に見合う量だけ充填し、650℃で焼成し、シンチレータパネル10−1を得た。
(実施例2)
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ31.6%低い熱膨張係数2.6×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aが形成された。
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ31.6%低い熱膨張係数2.6×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aが形成された。
その後、CsI:Tl(CsI:TlI=1:0.3mol%)を隔壁構造部5Aの空孔体積に見合う量だけ充填し、650℃で焼成し、シンチレータパネル10−2を得た。
(実施例3)
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ44.7%低い熱膨張係数2.1×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ44.7%低い熱膨張係数2.1×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
その後、CsI:Tl(CsI:TlI=1:0.3mol%)を隔壁構造部5Aの空孔体積に見合う量だけ充填し、650℃で焼成し、シンチレータパネル10−3を得た。
(比較例1)
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ5.0%低い熱膨張係数3.6×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ5.0%低い熱膨張係数3.6×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
その後、CsI:Tl(CsI:TlI=1:0.3mol%)を隔壁構造部5Aの空孔体積に見合う量だけ充填し、650℃で焼成し、シンチレータパネル10−比較1を得た。
(比較例2)
熱膨張係数が3.3×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ9.0%低い熱膨張係数3.0×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
熱膨張係数が3.3×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ9.0%低い熱膨張係数3.0×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
その後、CsI:Tl(CsI:TlI=1:0.3mol%)を隔壁構造部5Aの空孔体積に見合う量だけ充填し、650℃で焼成し、シンチレータパネル10−比較2を得た。
(比較例3)
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ9.7%低い熱膨張係数3.43×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ9.7%低い熱膨張係数3.43×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
その後、CsI:Tl(CsI:TlI=1:0.3mol%)を隔壁構造部5Aの空孔体積に見合う量だけ充填し、650℃で焼成し、シンチレータパネル10−比較3を得た。
(比較例4)
熱膨張係数が3.9×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ46%低い熱膨張係数2.1×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
熱膨張係数が3.9×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ46%低い熱膨張係数2.1×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
その後、CsI:Tl(CsI:TlI=1:0.3mol%)を隔壁構造部5Aの空孔体積に見合う量だけ充填し、650℃で焼成し、シンチレータパネル10−比較4を得た。
(比較例5)
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ47%低い熱膨張係数2.0×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ47%低い熱膨張係数2.0×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
その後、CsI:Tl(CsI:TlI=1:0.3mol%)を隔壁構造部5Aの空孔体積に見合う量だけ充填し、650℃で焼成し、シンチレータパネル10−比較5を得た。
(比較例6)
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ50%低い熱膨張係数1.9×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
熱膨張係数が3.8×10−6[1/K]、500mm×500mmの第1の基板1としてのガラス基板(日本電気硝子社製OA−10)を用いた。その第1の基板1に較べ50%低い熱膨張係数1.9×10−6[1/K]のガラスペーストをスクリーン印刷により30μmの膜厚で塗工して乾燥させ、隔壁構造部5Aの底部5Bを形成した。その後、縦横のピッチ165μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記ガラスペーストをスクリーン印刷により、膜厚40μmでの塗工及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、開口長さ130μm×130μm、隔壁高さ450μmで、所定の画素数に見合う大きさとして500mm×500mmの隔壁構造部5Aを形成した。
その後、CsI:Tl(CsI:TlI=1:0.3mol%)を隔壁構造部5Aの空孔体積に見合う量だけ充填し、650℃で焼成し、シンチレータパネル10−比較6を得た。
尚、本発明の実施例及び比較例で用いたガラスペーストは、顔料又はセラミック粉と低融点ガラスとの混合物であり、その調合によりその熱膨張係数を広い範囲で変化させることが可能である。また、第1の基板1として用いた前記ガラス基板の熱膨張係数の値も変化可能である。
また、隔壁構造部5Aの熱膨張係数の測定は、隔壁構造部5Aを構成するガラスペーストを乾燥プレスし、その後550℃の焼成で円柱状のサンプルを作製する。そして熱膨張係数の測定は熱膨張係数測定器(TMA)を用いて50〜350℃で行う。
(評価方法)
前記シンチレータパネル10−1、10−2、10−3、10−比較1、10−比較2、10−比較3、10−比較4、10−比較5、10−比較6を、図4の斜視図に示すPaxScan2520(Varian社製FPD)にセットして放射線検出装置101〜109を作製した。そして12bitの出力データにより、シンチレータパネルの反り、鮮鋭性、輝度を、下記の方法で評価した。このとき、光電変換素子層の配置領域は四角形の形状とし、その大きさが前記各実施例の資料10−1、10−2、10−3及び比較例の資料10−比較1、10−比較2、10−比較3、10−比較4、10−比較5、10−比較6の大きさになるように調整した。
前記シンチレータパネル10−1、10−2、10−3、10−比較1、10−比較2、10−比較3、10−比較4、10−比較5、10−比較6を、図4の斜視図に示すPaxScan2520(Varian社製FPD)にセットして放射線検出装置101〜109を作製した。そして12bitの出力データにより、シンチレータパネルの反り、鮮鋭性、輝度を、下記の方法で評価した。このとき、光電変換素子層の配置領域は四角形の形状とし、その大きさが前記各実施例の資料10−1、10−2、10−3及び比較例の資料10−比較1、10−比較2、10−比較3、10−比較4、10−比較5、10−比較6の大きさになるように調整した。
(シンチレータパネルの反りの測定)
反りの測定方法として、ASTM(アメリカ材料試験協会)規定の一点支持法を用いた。
反りの測定方法として、ASTM(アメリカ材料試験協会)規定の一点支持法を用いた。
(発光輝度の測定)
管電圧80kVpのX線を各試料の裏側(蛍光体層が形成されてない面)から照射し、蛍光体層から照射された光の発光量をPaxScan2520で検出測定し、その測定値を瞬時発光輝度(感度)として表1に記した。但し表1中、輝度を示す値は、試料10−比較1の輝度を1.00としたときの相対値である。
管電圧80kVpのX線を各試料の裏側(蛍光体層が形成されてない面)から照射し、蛍光体層から照射された光の発光量をPaxScan2520で検出測定し、その測定値を瞬時発光輝度(感度)として表1に記した。但し表1中、輝度を示す値は、試料10−比較1の輝度を1.00としたときの相対値である。
(MTFの算出)
鉛製のMTFチャートを通して管電圧80kVpのX線を各試料の裏側(蛍光体層が形成されてない面)から照射し、画像データをPaxScan2520で検出し、ハードディスクに記録した。その後ハードディスク上の記録をコンピュータで分析して当該ハードディスクに記録されたX線像の変調伝達関数MTF(Modulation transfer Function)を算出した。その算出結果(空間周波数1サイクル/mmにおけるMTF値(%))を表1に示す。MTF値が高い程鮮鋭性に優れている。
鉛製のMTFチャートを通して管電圧80kVpのX線を各試料の裏側(蛍光体層が形成されてない面)から照射し、画像データをPaxScan2520で検出し、ハードディスクに記録した。その後ハードディスク上の記録をコンピュータで分析して当該ハードディスクに記録されたX線像の変調伝達関数MTF(Modulation transfer Function)を算出した。その算出結果(空間周波数1サイクル/mmにおけるMTF値(%))を表1に示す。MTF値が高い程鮮鋭性に優れている。
(総合評価)
◎:上記各評価項目において全く問題なし
○:上記評価項目のうち、輝度又はMTFがやや劣るも実用上問題なし
△:実用上やや問題有り
×:隔壁構造の反りが大きく実用不可
◎:上記各評価項目において全く問題なし
○:上記評価項目のうち、輝度又はMTFがやや劣るも実用上問題なし
△:実用上やや問題有り
×:隔壁構造の反りが大きく実用不可
表1に示した結果から明らかなように、シンチレータパネルの実施例10−1、10−2、10−3及び比較例10−比較3、10−比較4は隔壁構造部5Aの反りが少ないことが分かる。更に、そのシンチレータパネルを装着した放射線検出装置103〜107は発光輝度を高水準に維持した状態でMTFが高く鮮鋭性が優れていることが分かる。したがって、隔壁構造部5Aの熱膨張係数を、その基板層である第1の基板1の膨張係数よりも10%〜45%低く選定した物性の材質にして展開した本発明は優れた効果を有することが分かる。
1 第1の基板
5 シンチレータ層
5A 隔壁構造部
5B 底部
5C 隔壁
10 シンチレータパネル
20 出力基板
20a 出力基板の隔膜
20b 光電変換素子層
20c 出力層
20d 第2の基板
51 撮像パネル
54 電源部
100 放射線検出装置
5 シンチレータ層
5A 隔壁構造部
5B 底部
5C 隔壁
10 シンチレータパネル
20 出力基板
20a 出力基板の隔膜
20b 光電変換素子層
20c 出力層
20d 第2の基板
51 撮像パネル
54 電源部
100 放射線検出装置
Claims (5)
- 少なくとも放射線透過性を有する平板状の第1の基板と、該第1の基板の上に設けた放射線透過性を有し画素単位の複数の区画とした格子状の隔壁及び底部を有する隔壁構造部と、前記区画に蛍光体を充填したシンチレータ層とを備えたシンチレータパネルであって、
前記隔壁構造部の材料が顔料又はセラミック粉と低融点ガラスとの混合物であるガラスペーストであり、前記隔壁構造部の熱膨張係数がそれを保持する前記第1の基板の熱膨張係数より10から45%低いことを特徴とするシンチレータパネル。 - 前記隔壁構造部の前記底部は、前記第1の基板の上にスクリーン印刷により前記ガラスペーストを所定の膜厚で塗工して乾燥する工程により得られ、
前記隔壁構造部の前記隔壁は、前記底部の上に、スクリーン印刷により所定の大きさの開口と所定の壁幅に囲まれた画素を縦方向と横方向に所定ピッチで配置させた格子状のパターンを塗布する工程及び乾燥する工程を複数回繰り返した後、空気中で焼成を行って得られることを特徴とする請求項1に記載のシンチレータパネル。 - 請求項1又は2に記載のシンチレータパネルと、
該シンチレータパネルのシンチレータ層に近接して設けた光電変換素子層を第2の基板の上に有する出力基板とを備え、前記シンチレータ層と光電変換素子層は対応する画素が互いに重なるように配置されることを特徴とする放射線検出装置。 - 入射した放射線を可視光に変換するシンチレータパネルの製造方法であって、
少なくとも放射線透過性を有する平板状の第1の基板上に、スクリーン印刷により顔料又はセラミック粉と低融点ガラスとの混合物であるガラスペーストを所定の膜厚で塗工して乾燥させて隔壁構造部の底部を形成する第1工程と、
前記ガラスペーストを形成した前記底部の上に、スクリーン印刷により所定の大きさの開口と所定の壁幅に囲まれた画素を縦方向と横方向に所定ピッチで配置させた格子状のパターンを塗布する工程及び、これを乾燥する工程を繰り返して行って、所定の高さとした格子状の前記隔壁構造部の隔壁を形成する第2工程と、
前記第1の基板と前記隔壁構造部を空気中で焼成する第3工程と、
前記隔壁構造部に蛍光体を充填する第4工程と、から製造されることを特徴とするシンチレータパネルの製造方法。 - 前記隔壁構造部の熱膨張係数が前記第1の基板の熱膨張係数より10から45%低いように各材質が選択されていることを特徴とする請求項4に記載のシンチレータパネルの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009149746A JP2011007552A (ja) | 2009-06-24 | 2009-06-24 | シンチレータパネル、放射線検出装置、及びシンチレータパネルの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009149746A JP2011007552A (ja) | 2009-06-24 | 2009-06-24 | シンチレータパネル、放射線検出装置、及びシンチレータパネルの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011007552A true JP2011007552A (ja) | 2011-01-13 |
Family
ID=43564408
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009149746A Pending JP2011007552A (ja) | 2009-06-24 | 2009-06-24 | シンチレータパネル、放射線検出装置、及びシンチレータパネルの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2011007552A (ja) |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0487359A (ja) * | 1990-07-31 | 1992-03-19 | Sanyo Electric Co Ltd | 混成集積回路装置 |
WO2012161304A1 (ja) | 2011-05-26 | 2012-11-29 | 東レ株式会社 | シンチレータパネルおよびシンチレータパネルの製造方法 |
JP2014029314A (ja) * | 2012-06-25 | 2014-02-13 | Sony Corp | 放射線検出器及びその製造方法 |
WO2014054422A1 (ja) | 2012-10-03 | 2014-04-10 | 東レ株式会社 | シンチレータパネルおよびシンチレータパネルの製造方法 |
WO2014069284A1 (ja) | 2012-11-01 | 2014-05-08 | 東レ株式会社 | 放射線検出装置およびその製造方法 |
WO2014077178A1 (ja) | 2012-11-16 | 2014-05-22 | 東レ株式会社 | シンチレータパネル |
WO2014080941A1 (ja) | 2012-11-26 | 2014-05-30 | 東レ株式会社 | シンチレータパネルおよびその製造方法 |
WO2014080816A1 (ja) | 2012-11-26 | 2014-05-30 | 東レ株式会社 | シンチレータパネルおよびシンチレータパネルの製造方法 |
JP2015086118A (ja) * | 2013-10-31 | 2015-05-07 | 日本山村硝子株式会社 | 隔壁形成用ガラス組成物 |
WO2015068686A1 (ja) | 2013-11-06 | 2015-05-14 | 東レ株式会社 | 立体構造物の製造方法、シンチレータパネルの製造方法、立体構造物及びシンチレータパネル |
WO2015076150A1 (ja) | 2013-11-20 | 2015-05-28 | 東レ株式会社 | シンチレータパネル |
JP2016050873A (ja) * | 2014-09-01 | 2016-04-11 | コニカミノルタ株式会社 | シンチレータパネル及び放射線検出器ならびにシンチレータパネルの製造方法及び放射線検出器の製造方法 |
KR101621387B1 (ko) | 2014-06-13 | 2016-05-16 | 조선내화 주식회사 | X-선 디지털 촬영 장치용 형광판 및 이를 포함하는 x-선 검출기 |
KR20160099220A (ko) * | 2015-02-12 | 2016-08-22 | 한국광기술원 | 집광 광학계를 이용한 엑스레이 디텍터 |
KR20170010352A (ko) | 2014-05-30 | 2017-01-31 | 도레이 카부시키가이샤 | 신틸레이터 패널, 방사선 화상 검출 장치 및 그 제조 방법 |
KR20170039659A (ko) | 2014-08-08 | 2017-04-11 | 도레이 카부시키가이샤 | 신틸레이터 패널 및 방사선 검출기 |
KR20180136430A (ko) | 2016-04-27 | 2018-12-24 | 도레이 카부시키가이샤 | 신틸레이터 패널 및 그 제조 방법, 및 방사선 검출 장치 |
WO2022024860A1 (ja) * | 2020-07-31 | 2022-02-03 | 東レ株式会社 | シンチレータパネル、それを用いた放射線検出器、ラインカメラおよび放射線検査装置ならびにそれを用いたインライン検査方法および検査方法 |
-
2009
- 2009-06-24 JP JP2009149746A patent/JP2011007552A/ja active Pending
Cited By (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0487359A (ja) * | 1990-07-31 | 1992-03-19 | Sanyo Electric Co Ltd | 混成集積回路装置 |
WO2012161304A1 (ja) | 2011-05-26 | 2012-11-29 | 東レ株式会社 | シンチレータパネルおよびシンチレータパネルの製造方法 |
US9177683B2 (en) | 2011-05-26 | 2015-11-03 | Toray Industries, Inc. | Scintillator panel and method for manufacturing scintillator panel |
JP2014029314A (ja) * | 2012-06-25 | 2014-02-13 | Sony Corp | 放射線検出器及びその製造方法 |
WO2014054422A1 (ja) | 2012-10-03 | 2014-04-10 | 東レ株式会社 | シンチレータパネルおよびシンチレータパネルの製造方法 |
US9684082B2 (en) | 2012-10-03 | 2017-06-20 | Toray Industries, Inc. | Scintillator panel and method for manufacturing scintillator panel |
WO2014069284A1 (ja) | 2012-11-01 | 2014-05-08 | 東レ株式会社 | 放射線検出装置およびその製造方法 |
KR20150085809A (ko) | 2012-11-16 | 2015-07-24 | 도레이 카부시키가이샤 | 신틸레이터 패널 |
WO2014077178A1 (ja) | 2012-11-16 | 2014-05-22 | 東レ株式会社 | シンチレータパネル |
US9564253B2 (en) | 2012-11-16 | 2017-02-07 | Toray Industries, Inc. | Scintillator panel |
US9632185B2 (en) | 2012-11-26 | 2017-04-25 | Toray Industries, Inc. | Scintillator panel and method for manufacturing the same |
WO2014080816A1 (ja) | 2012-11-26 | 2014-05-30 | 東レ株式会社 | シンチレータパネルおよびシンチレータパネルの製造方法 |
KR20150090040A (ko) | 2012-11-26 | 2015-08-05 | 도레이 카부시키가이샤 | 신틸레이터 패널 및 그 제조 방법 |
US9791576B2 (en) | 2012-11-26 | 2017-10-17 | Toray Industries, Inc. | Scintillator panel and method for manufacturing scintillator panel |
WO2014080941A1 (ja) | 2012-11-26 | 2014-05-30 | 東レ株式会社 | シンチレータパネルおよびその製造方法 |
JP5704258B2 (ja) * | 2012-11-26 | 2015-04-22 | 東レ株式会社 | シンチレータパネルおよびシンチレータパネルの製造方法 |
JP2015086118A (ja) * | 2013-10-31 | 2015-05-07 | 日本山村硝子株式会社 | 隔壁形成用ガラス組成物 |
WO2015068686A1 (ja) | 2013-11-06 | 2015-05-14 | 東レ株式会社 | 立体構造物の製造方法、シンチレータパネルの製造方法、立体構造物及びシンチレータパネル |
US10132937B2 (en) | 2013-11-06 | 2018-11-20 | Toray Industries, Inc. | Method for manufacturing three-dimensional structure, method for manufacturing scintillator panel, three-dimensional structure, and scintillator panel |
KR20160078958A (ko) | 2013-11-06 | 2016-07-05 | 도레이 카부시키가이샤 | 입체 구조물의 제조 방법, 신틸레이터 패널의 제조 방법, 입체 구조물 및 신틸레이터 패널 |
US10176902B2 (en) | 2013-11-20 | 2019-01-08 | Toray Industries, Inc. | Scintillator panel |
KR20160088295A (ko) | 2013-11-20 | 2016-07-25 | 도레이 카부시키가이샤 | 신틸레이터 패널 |
WO2015076150A1 (ja) | 2013-11-20 | 2015-05-28 | 東レ株式会社 | シンチレータパネル |
KR20170010352A (ko) | 2014-05-30 | 2017-01-31 | 도레이 카부시키가이샤 | 신틸레이터 패널, 방사선 화상 검출 장치 및 그 제조 방법 |
US10042060B2 (en) | 2014-05-30 | 2018-08-07 | Toray Industries, Inc. | Scintillator panel, radiographic image detection device, and method for manufacturing same |
KR101621387B1 (ko) | 2014-06-13 | 2016-05-16 | 조선내화 주식회사 | X-선 디지털 촬영 장치용 형광판 및 이를 포함하는 x-선 검출기 |
KR20170039659A (ko) | 2014-08-08 | 2017-04-11 | 도레이 카부시키가이샤 | 신틸레이터 패널 및 방사선 검출기 |
US10580547B2 (en) | 2014-08-08 | 2020-03-03 | Toray Industries, Inc. | Scintillator panel and radiation detector |
JP2016050873A (ja) * | 2014-09-01 | 2016-04-11 | コニカミノルタ株式会社 | シンチレータパネル及び放射線検出器ならびにシンチレータパネルの製造方法及び放射線検出器の製造方法 |
KR101668183B1 (ko) | 2015-02-12 | 2016-10-20 | 한국광기술원 | 집광 광학계를 이용한 엑스레이 디텍터 |
KR20160099220A (ko) * | 2015-02-12 | 2016-08-22 | 한국광기술원 | 집광 광학계를 이용한 엑스레이 디텍터 |
KR20180136430A (ko) | 2016-04-27 | 2018-12-24 | 도레이 카부시키가이샤 | 신틸레이터 패널 및 그 제조 방법, 및 방사선 검출 장치 |
US10741298B2 (en) | 2016-04-27 | 2020-08-11 | Toray Industries, Inc. | Scintillator panel and production method for same, and radiation detection apparatus |
WO2022024860A1 (ja) * | 2020-07-31 | 2022-02-03 | 東レ株式会社 | シンチレータパネル、それを用いた放射線検出器、ラインカメラおよび放射線検査装置ならびにそれを用いたインライン検査方法および検査方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2011007552A (ja) | シンチレータパネル、放射線検出装置、及びシンチレータパネルの製造方法 | |
JP2011021924A (ja) | シンチレータパネル、放射線検出装置、及びシンチレータパネルの製造方法 | |
US20200237324A1 (en) | Anti-scatter grid for radiation detector | |
US7482602B2 (en) | Scintillator plate for radiation and production method of the same | |
JP5353886B2 (ja) | 放射線シンチレータおよび放射線画像検出器 | |
JP5499706B2 (ja) | シンチレータパネル | |
CA2771063A1 (en) | Multi-element x-ray detector, its rear-earth luminescent materials, production of multi-element scintillator and detector in general | |
JP2008209124A (ja) | シンチレータパネル | |
US9418768B2 (en) | Radiographic image conversion panel and radiographic image detector | |
JP2011257339A (ja) | 放射線画像検出装置 | |
JP2008122275A (ja) | シンチレータパネル、その製造方法及び放射線イメージセンサ | |
TW202045683A (zh) | 閃爍器面板及使用其之x射線檢測器及x射線透視裝置 | |
JP2007212218A (ja) | シンチレータプレート | |
JP2011232197A (ja) | シンチレータパネル及び放射線画像検出装置 | |
Hell et al. | The evolution of scintillating medical detectors | |
US7372045B2 (en) | Scintillator plate for radiation | |
JP2007205970A (ja) | シンチレータプレート | |
JP2004317300A (ja) | 放射線平面検出器及びその製造方法 | |
JP2008224357A (ja) | シンチレータプレート | |
JP2019060821A (ja) | X線タルボ撮影用パネル | |
WO2010137384A1 (ja) | 放射線検出装置及びその製造方法 | |
JP2012058170A (ja) | シンチレータパネル | |
JP2010127628A (ja) | シンチレータパネルおよび放射線検出装置 | |
JP5493577B2 (ja) | 放射線画像検出装置 | |
JP2007211199A (ja) | 放射線用シンチレータプレート及びその製造方法 |