JP2009267335A - 太陽電池用基板および太陽電池 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】金属基板上に陽極酸化皮膜を有する太陽電池用基板であって、前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が10nm〜600nmである太陽電池用基板。
【選択図】なし
Description
しかしながら、軽量化を目的として、ガラス基板を薄くすると一層割れやすくなってしまうことから、割れにくくフレキシブルであり、しかもガラス基板よりも軽量化を図ることのできる基板材料の開発が要望されている。
(1)金属基板上に陽極酸化皮膜を有する太陽電池用基板であって、前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が10nm〜600nmであることを特徴とする太陽電池用基板。
(2)前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が25〜600nmである、(1)項に記載の太陽電池用基板。
(3)前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が60〜600nmである、(1)又は(2)項に記載の太陽電池用基板。
(4)前記金属基板が、アルミニウム、ジルコニウム、チタン、マグネシウム、ニオブ及びタンタルからなる群から選択される少なくとも1つの金属を含有する基板である、(1)〜(3)のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
(5)前記金属基板がアルミニウム基板である、(1)〜(4)のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
(6)前記陽極酸化皮膜に形成された細孔の構造がランダムである、(1)〜(5)のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
(7)前記陽極酸化皮膜が、前記金属基板の端面および両面に形成されている、(1)〜(6)のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
(9)前記半導体層が、銅(Cu)、銀(Ag)、インジウム(In)、ガリウム(Ga)、イオウ(S)、セレン(Se)及びテルル(Te)からなる群から選択される少なくとも1つの元素を含有してなる層である、(8)項に記載の太陽電池。
(10)(1)〜(7)のいずれか1項に記載の太陽電池用基板上に光電変換層を設けた太陽電池であって、前記光電変換層として、IVb族元素からなる半導体層、IIIb族元素とVb族元素とからなる半導体層、IIb族元素とVIb族元素とからなる半導体層、Ib族元素からなる層、IIb族元素からなる層、IVb族元素からなる層、及び/又はVIb族元素からなる層を含む、太陽電池。
また、従来、表面粗さが小さいと密着性も小さいが、陽極酸化によってできた細孔により、その上に成膜する金属層との接触面積が増えて、密着性が向上する。表面粗さが大きいと光電変換層の結晶性が劣化し、変換効率の低下を招くが、比較的に表面粗さが小さくすむため、光電変換層の結晶性が向上し、変換効率が低下しない。このようにして結晶性の良い成膜と強い密着性を両立できる。また、細孔構造がランダム構造である場合には、周期構造ができにくくなり、光学的な波長依存特性が出にくくなる。
本発明によれば、陽極酸化を用いて金属基板表面に絶縁性の酸化膜を形成することで、絶縁性を持ったフレキシブル基板が得られ、これを用いることで安価な太陽電池を提供することができる。また、本発明の太陽電池用基板は、密着性に優れ、光電変換層が剥がれにくい。
本発明においては、本陽極酸化処理を比較的高温で行うことにより、マイクロポアの配列を乱し、また、ポア径のばらつきを所定の範囲にすることが容易となる。また、処理時間によっても、ポア径のばらつきを制御することができる。
1)温度範囲5℃〜35℃、濃度範囲0.1mol/L〜0.2mol/Lである硫酸水溶液を電解液として、電圧10V〜30Vの範囲の電圧で、処理時間1分〜30分の範囲で陽極酸化処理を施す。平均ポア径10〜30nm、平均ポア周期40〜70nmのマイクロポアが形成される。
2)温度範囲5℃〜35℃、濃度範囲0.4mol/L〜0.6mol/Lである蓚酸水溶液を電解液として、電圧30V〜120Vの範囲の電圧で、処理時間5分〜2時間の範囲で陽極酸化処理を施す。平均ポア径40nm〜70nm、平均ポア周期120nm〜180nmのマイクロポアが形成される。
3)温度範囲5℃〜35℃、濃度範囲0.01mol/L〜2mol/Lであるコハク酸水溶液を電解液として電圧120V〜240Vの範囲の電圧で、処理時間0.5〜12時間の範囲で陽極酸化処理を施す。平均ポア径100nm〜150nm、平均ポア周期300nm〜600nmのマイクロポアが形成される。
上記の混酸を作製することで、10〜150nmの任意のポア周期に可変できる。
ポア径は、燐酸に浸漬することで、ポア周期までの任意の大きさに拡大できる。
マイクロポアの平均ポア径、平均ポア周期を、SEM表面写真を画像解析することにより測定する。
ポア径に応じてFE-SEM(Field Emission Type Scanning Electron Microscope)にて1〜15万倍に調整して撮影したSEM写真(傾斜0度)より、隣接したポアの中心間隔を30箇所測定し、その平均値を平均ポア周期とする。
ポア径はポアの輪郭を透明なOHPシートに概ね100個、写し取った後、市販画像解析ソフト(商品名:Image Factory Asahi-Hi-Tech co.Ltd製)にて等価円直径に近似して、得られた値を平均ポア径とした。画像解析ソフトは同様の機能を有するものであれば、代替使用することができる。しかし、2値化を行う際の閾値設定の任意性を極力排除する為、OHPシート等の透明シートに写した形状を画像解析対象とすることが好ましい。
以下の実施例では、住友軽金属(株)製 FS003材、面積3cm角のアルミニウム材を使用した。
3cm角のアルミニウム基板を硫酸(濃度170g/l)、温度35℃、直流電圧13Vで陽極酸化を行い平均細孔径21nm、平均隣接細孔中心間距離45nmの陽極酸化アルミナ基板を作製した。一部の基板は、浸漬時間を変えて、細孔径を25nmにした。
また、シュウ酸(濃度0.5M)、温度16℃、直流電圧40Vで陽極酸化を行い平均細孔径56nm、平均隣接細孔中心間距離150nmの陽極酸化アルミナ基板を作製した。一部の基板は、浸漬時間を変えて、細孔径を60nmにした。
陽極酸化アルミナの膜厚は、すべて3μm以上の膜厚にし、アルミニウム基板両面を均等に陽極酸化した。
その後、120℃の基板温度でMoをスパッタ成膜し、520℃に昇温し、室温に下げた。その際に、アルミニウム、アルミナ、Moの熱膨張率が異なることに起因する応力がかかり密着性の弱いMo膜が剥離することを利用し、剥離率の評価を実施した。結果を図1に示す。
図1から明らかなように、細孔を施すことで剥離率が小さくなることがわかった。細孔径25nm以上になると、剥離率が2%以下にまで小さくなる。これは、細孔内部および、壁面に一部Moが成膜されることで、アルミナとMo層の接触面積が増え、密着性が向上したことによると考えられる。
さらに、60nm以上になると、剥離率がゼロになり、より強固な密着性をえることができた。
実施例1と同様の条件で基板の片面に厚さ10μmの陽極酸化膜を設けた後、スパッタ法によって膜厚0.4μmのMo薄膜を形成し、支持体サンプルを作製したところ、陽極酸化層にひび割れ、剥がれが生じた。
基板として、実施例1で用いたシュウ酸細孔径60nmの条件で基板の両面に陽極酸化膜を形成した陽極酸化アルミニウム基板を用いた。この陽極酸化アルミニウム基板上に、RFスパッタリング(高周波スパッタリング)によって、Mo層を形成した後、RFスパッタリングによって、NaF層を形成し、更にRFスパッタリングによって、Mo層を形成した。このようにして堆積したMo/NaF/Mo多層膜の厚みは約1.0μmの厚さであった。前記Mo上にCuInGaSe2薄膜を真空容器内部で堆積した。CuInGaSe2薄膜の堆積は、真空容器1内部にCuInGaSe2の主成分であるCuの蒸着源、Inの蒸着源、Gaの蒸着源、およびSeの蒸着源を用意し、真空度約10-7Torrのもとで、Cu、In、Ga、およびSeの蒸着源ルツボを加熱し、各元素を蒸発させた。その際、ルツボの温度は適宜調節した。CuInGaSe2薄膜は、以下に示すように2層構成とした。すなわち、1層目はInとGaの合計の原子組成に対してCuの原子組成が過剰になるように膜を形成し、続く2層目はCuの原子組成に対してInとGaの合計の原子組成が過剰になるように膜を形成した2層構造である。基板温度は550℃で一定とした。1層目を約2μm蒸着した。この際、原子組成比はCu/(In+Ga)=約1.0〜1.2であった。次に2層目を約1μm蒸着し、最終的な原子組成比がCu/(In+Ga)=0.8〜0.9になるよう蒸着した。
次に、MOCVD法により、透明導電膜として、約200nmの厚さのAl添加ZnO膜を堆積した。
最後に、取り出し電極として、Alを蒸着法で形成し、太陽電池を作製した。
基板として、実施例3と同様の条件で基板の両面に陽極酸化膜を形成した陽極酸化アルミニウム基板を用いた。この陽極酸化アルミニウム基板上に、RFスパッタリング(高周波スパッタリング)によって、Mo層を形成した後、RFスパッタリングによって、NaF層を形成し、更にRFスパッタリングによって、Mo層を形成した。このようにして堆積したMo/NaF/Mo多層膜の厚みは約1.0μmの厚さであった。
前記Mo上にCuInGaSe2薄膜を真空容器内部で堆積した。初めに、Ga/(In+Ga)原子組成比が約0.30になるように、In、Ga、Seの各蒸発源からの蒸着レートを制御して、基板温度400℃でIn、Ga、およびSeからなる薄膜を堆積させた。次に、Cu、Seの各蒸発源から蒸着レートを制御して、基板温度550℃でCu、Seからなる膜を堆積させた。最後にIn、Ga、Seの各蒸発源から蒸着レートを制御して、基板温度550℃でIn、Ga、Seからなる薄膜を堆積させた。このようにして得られたCuInGaSe2膜の厚みは約2.0μmであった。
次に、MOCVD法により、透明導電膜として、約200nmの厚さのAl添加ZnO膜を堆積した。
最後に、取り出し電極として、Alを蒸着法で形成し、太陽電池を作製した。
基板として、実施例3と同様の条件で基板の両面に陽極酸化膜を形成した陽極酸化アルミニウム基板を用いた。この陽極酸化アルミニウム基板上に、RFスパッタリング(高周波スパッタリング)によって、Mo層を形成した後、RFスパッタリングによって、NaF層を形成し、更にRFスパッタリングによって、Mo層を形成した。このようにして堆積したMo/NaF/Mo多層膜の厚みは約1.0μmの厚さであった。
前記Mo上に、スパッタ法によりCu−Ga合金とIn金属をターゲットして、Cu−Ga膜とIn膜の積層膜を形成した。ここで、Cu−Ga合金のGa含有率は30原子%である。スパッタ法は、Arガス雰囲気中で行った。
次に、このCu−Ga膜とIn膜を積層した基板を電気炉の中に入れて、1体積%のH2Seガスを含んだ雰囲気中で約520℃に加熱して熱処理を行った。この処理によって、CuInGaSe2薄膜が形成された。得られた、CuInGaSe2膜の厚みは約2.0μmであった。
次に、MOCVD法により、透明導電膜として、約200nmの厚さのAl添加ZnO膜を堆積した。
最後に、取り出し電極として、Alを蒸着法で形成し、太陽電池を作製した。
Claims (10)
- 金属基板上に陽極酸化皮膜を有する太陽電池用基板であって、前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が10nm〜600nmであることを特徴とする太陽電池用基板。
- 前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が25〜600nmである、請求項1記載の太陽電池用基板。
- 前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が60〜600nmである、請求項1又は2に記載の太陽電池用基板。
- 前記金属基板が、アルミニウム、ジルコニウム、チタン、マグネシウム、ニオブ及びタンタルからなる群から選択される少なくとも1つの金属を含有する基板である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
- 前記金属基板がアルミニウム基板である、請求項1〜4のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
- 前記陽極酸化皮膜に形成された細孔の構造がランダムである、請求項1〜5のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
- 前記陽極酸化皮膜が、前記金属基板の端面および両面に形成されている、請求項1〜6のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
- 請求項1〜7のいずれか1項に記載の太陽電池用基板上に光電変換層を設けた太陽電池であって、前記光電変換層が、Ib族元素とIIIb族元素とVIb族元素とからなる半導体層を含む、太陽電池。
- 前記半導体層が、銅(Cu)、銀(Ag)、インジウム(In)、ガリウム(Ga)、イオウ(S)、セレン(Se)及びテルル(Te)からなる群から選択される少なくとも1つの元素を含有してなる層である、請求項8記載の太陽電池。
- 請求項1〜7のいずれか1項に記載の太陽電池用基板上に光電変換層を設けた太陽電池であって、前記光電変換層として、IVb族元素からなる半導体層、IIIb族元素とVb族元素とからなる半導体層、IIb族元素とVIb族元素とからなる半導体層、Ib族元素からなる層、IIb族元素からなる層、IVb族元素からなる層、及び/又はVIb族元素からなる層を含む、太陽電池。
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