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JP2009047877A - Chip-on glass type display module and its mounting inspection method - Google Patents

Chip-on glass type display module and its mounting inspection method Download PDF

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JP2009047877A
JP2009047877A JP2007213353A JP2007213353A JP2009047877A JP 2009047877 A JP2009047877 A JP 2009047877A JP 2007213353 A JP2007213353 A JP 2007213353A JP 2007213353 A JP2007213353 A JP 2007213353A JP 2009047877 A JP2009047877 A JP 2009047877A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
driving
electrically connected
inspection
terminals
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2007213353A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshio Nakamura
芳夫 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Epson Imaging Devices Corp
Original Assignee
Epson Imaging Devices Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Epson Imaging Devices Corp filed Critical Epson Imaging Devices Corp
Priority to JP2007213353A priority Critical patent/JP2009047877A/en
Publication of JP2009047877A publication Critical patent/JP2009047877A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Liquid Crystal (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce man-hours by simultaneously performing mounting inspection of a driving IC and mounting inspection of an FPC in a COG type display module. <P>SOLUTION: The driving IC 13 includes first and second dummy terminals 13c1 and 13c2 electrically connected to each other in the inner part of the driving IC 13. A glass substrate 11 includes: first and second fixing electrodes 11c1 and 11c2 to which the first and the second dummy terminals 13c1 and 13c2 of the driving IC 13 are electrically connected, respectively; and third and fourth fixing electrodes 11e1 and 11e2 electrically connected to the first and the second fixing electrodes 11c1 and 11c2, respectively. The FPC 14 includes: third and fourth dummy terminals 14e1 and 14e2 electrically connected to the third and the fourth fixing electrodes 11e1 and 11e2, respectively; and first and second electrodes 14g1 and 14g2 for inspection electrically connected to the third and the fourth dummy terminals 14e1 and 14e2, respectively. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、駆動用ICとフレキシブルプリント基板を異方性導電材等によりガラス基板
に実装することにより、駆動用ICの端子への外部接続をフレキシブルプリント基板によ
り行うチップオングラス型表示モジュールにおいて、異方性導電材等による電気的な接続
の良否を検査することが可能なチップオングラス型表示モジュールおよびその実装検査方
法に関する。
The present invention provides a chip-on-glass display module in which a driving IC and a flexible printed circuit board are mounted on a glass substrate with an anisotropic conductive material, etc., and external connection to the terminals of the driving IC is performed by the flexible printed circuit board. The present invention relates to a chip-on-glass display module capable of inspecting the quality of electrical connection by an anisotropic conductive material or the like and a mounting inspection method thereof.

液晶表示パネルやELは軽量、薄型、低消費電力という特徴があり、多くの電子機器に
使用されている。これらの表示パネルは表示素子をガラス基板で挟持し、ガラス基板上に
表示素子を駆動するICとフレキシブルプリント基板を異方性導電材からなる突起状金属
電極(バンプ)により電気的に接続している。このフレキシブルプリント基板は電子機器
の表示用コントロール基板に接続され、表示用コントロール基板の出力信号がフレキシブ
ルプリント基板を介して駆動用ICの入力端子に入力され、駆動用ICの出力端子に接続
された表示素子がON/OFFする。このように、ICをガラス基板上に配設することを
チップオングラス(Chip On Glass)と称する。尚、駆動用ICをフレキシブルプリント
基板上に配設することは可能であるが、チップオングラスのほうが配線を簡略することが
できる。
Liquid crystal display panels and EL are characterized by light weight, thinness, and low power consumption, and are used in many electronic devices. In these display panels, a display element is sandwiched between glass substrates, and an IC for driving the display element and a flexible printed circuit board are electrically connected to the glass substrate by protruding metal electrodes (bumps) made of an anisotropic conductive material. Yes. This flexible printed circuit board is connected to the display control board of the electronic device, and the output signal of the display control board is input to the input terminal of the driving IC via the flexible printed circuit board and connected to the output terminal of the driving IC. The display element is turned ON / OFF. Thus, disposing the IC on the glass substrate is referred to as “Chip On Glass”. Although the driving IC can be disposed on the flexible printed circuit board, the chip-on-glass can simplify the wiring.

チップオングラスではガラス基板に駆動用ICとフレキシブルプリント基板をバンプで
電気的に接続するときに、圧力と熱を加える。この圧力と熱が不適切であると接続不良に
なる。この接続の良否の検査が必要である。しかしながら、駆動用ICの端子は駆動用I
Cとガラス基板の間に位置するために検査用のリードを直接駆動用ICの端子に接触させ
ることができない。
In chip-on-glass, pressure and heat are applied when the driving IC and the flexible printed circuit board are electrically connected to the glass substrate with bumps. Inadequate pressure and heat will result in poor connections. It is necessary to check the quality of this connection. However, the terminal of the driving IC is the driving I
Since it is located between C and the glass substrate, the inspection lead cannot be brought into direct contact with the terminal of the driving IC.

そこで、特許文献1の如く、一対のダミー端子を設けて通電検査(例えば、抵抗値の測
定)する方法が考えられた。図8は特許文献1の図3である。ガラス基板111に、駆動
用IC112とフレキシブルプリント基板113がバンプで電気的に接続されている。
Therefore, as in Patent Document 1, a method of providing a pair of dummy terminals and conducting an energization inspection (for example, measuring a resistance value) has been considered. FIG. 8 is FIG. 3 of Patent Document 1. In FIG. The driving IC 112 and the flexible printed circuit board 113 are electrically connected to the glass substrate 111 by bumps.

駆動用IC112には、互いに駆動用IC112内部で電気的に接続された2対のダミ
ー端子112a1,112a2,112b1,112b2が駆動用IC112の両端に設
けられ、夫々ガラス基板111のIC固着用電極111a1,111a2,111b1,
111b2にバンプで電気的に接続される。夫々のIC固着用電極111a1,111a
2,111b1,111b2はIC検査用電極111c1,111c2,111d1,1
11d2とパターン111e1,111e2,111f1,111f2により電気的に接
続される。
In the driving IC 112, two pairs of dummy terminals 112a1, 112a2, 112b1, and 112b2 that are electrically connected to each other inside the driving IC 112 are provided at both ends of the driving IC 112, and the IC fixing electrodes 111a1 of the glass substrate 111 are respectively provided. , 111a2, 111b1,
111b2 is electrically connected by a bump. Each of the IC fixing electrodes 111a1 and 111a
2, 111b1 and 111b2 are IC inspection electrodes 111c1, 111c2, 111d1, 1
11d2 and patterns 111e1, 111e2, 111f1, and 111f2 are electrically connected.

この構成により、検査用電極111c1と検査用電極111c2の接続検査を行うこと
により、駆動用IC112の左側のダミー端子112a1,112a2のバンプ接続を検
査し、検査用電極111d1と検査用電極111d2の接続検査を行うことにより、駆動
用IC112の右側のダミー端子112b1,112b2のバンプ接続を検査する。そし
て、両端とも良であれば、左右のダミー端子112a1,112a2,112b1,11
2b2の間に位置する複数の端子112g,112hの電気的な接続は良であると判定す
る。
With this configuration, by performing a connection inspection between the inspection electrode 111c1 and the inspection electrode 111c2, the bump connection of the left dummy terminals 112a1 and 112a2 of the driving IC 112 is inspected, and the connection between the inspection electrode 111d1 and the inspection electrode 111d2 is performed. By performing the inspection, the bump connection of the dummy terminals 112b1 and 112b2 on the right side of the driving IC 112 is inspected. If both ends are good, the left and right dummy terminals 112a1, 112a2, 112b1, 11
It is determined that the electrical connection of the plurality of terminals 112g and 112h located between 2b2 is good.

また、フレキシブルプリント基板についても、フレキシブルプリント基板内部で電気的
に接続された2対のダミー端子113i1,113i2,113j1,113j2が設け
られ、駆動用IC112と同様に、FPC検査用電極111k1,111k2,111m
1,111m2の接続検査を行うことにより、ダミー端子113i1,113i2,11
3j1,113j2の間にある正規の端子113nの電気的な接続の良否を判定する。こ
のようにして、互いに接続された一対の端子によりバンプでの接続を検査することができ
る。
特開2006−163012号公報
The flexible printed circuit board is also provided with two pairs of dummy terminals 113i1, 113i2, 113j1, and 113j2 that are electrically connected inside the flexible printed circuit board. Like the driving IC 112, the FPC inspection electrodes 111k1 and 111k2, respectively. 111m
By performing a connection inspection of 1,111 m2, dummy terminals 113i1, 113i2, 11
The quality of the electrical connection of the regular terminal 113n between 3j1 and 113j2 is determined. In this way, the connection at the bump can be inspected by the pair of terminals connected to each other.
JP 2006-163012 A

しかしながら、特許文献1では駆動用ICの実装検査とフレキシブルプリント基板の実
装検査が別々であり、検査に手間がかかった。また、駆動用ICの実装検査が2回、フレ
キシブルプリント基板の実装検査も2回の総計4回必要であった。そこで、これらの検査
工数を削減するよう要求があった。
However, in Patent Document 1, the mounting inspection of the driving IC and the mounting inspection of the flexible printed circuit board are separate, and the inspection takes time. In addition, a total of 4 mounting inspections for the driving IC and 2 mounting inspections for the flexible printed circuit board were required. Therefore, there has been a request to reduce these inspection man-hours.

本発明は、駆動用ICの実装検査とフレキシブルプリント基板の実装検査を同時に行っ
て検査工数を削減するものである。
The present invention reduces the number of inspection steps by simultaneously performing the mounting inspection of the driving IC and the mounting inspection of the flexible printed circuit board.

上記課題を解決するために、本発明の半透過型液晶表示パネルは、少なくとも一端側に
整列した端子を有する駆動用ICと、該駆動用ICの前記端子が電気的に接続される第1
電極と、該第1電極と電気的に接続される第2電極とを有するガラス基板と、前記第2電
極と電気的に接続される端子を有するフレキシブルプリント基板とを有するチップオング
ラス型表示モジュールであって、
前記駆動用ICは駆動用IC内部で互いに電気的に接続された第1、第2ダミー端子を
備え、前記ガラス基板は前記駆動用ICの第1、第2ダミー端子が電気的に夫々接続され
る第1、第2固着用電極と、該第1、第2固着用電極と電気的に接続される第3、第4固
着用電極とを備え、フレキシブルプリント基板は前記第3、第4固着用電極と電気的に接
続される第3、第4ダミー端子と、該第3、第4ダミー端子と電気的に接続される第1、
第2検査用電極とを備える。
In order to solve the above problems, a transflective liquid crystal display panel according to the present invention includes a driving IC having terminals aligned at least on one end side, and a first to which the terminals of the driving IC are electrically connected.
Chip-on-glass type display module comprising a glass substrate having an electrode, a second electrode electrically connected to the first electrode, and a flexible printed board having a terminal electrically connected to the second electrode Because
The driving IC includes first and second dummy terminals electrically connected to each other inside the driving IC, and the glass substrate is electrically connected to the first and second dummy terminals of the driving IC. First and second fixing electrodes and third and fourth fixing electrodes electrically connected to the first and second fixing electrodes, and the flexible printed circuit board includes the third and fourth fixing electrodes. Third and fourth dummy terminals electrically connected to the electrodes for use, and first and electrically connected to the third and fourth dummy terminals,
A second inspection electrode.

この構成の第1検査用電極と第2検査用電極間の通電を検査することにより、駆動用I
Cの実装検査とフレキシブルプリント基板の実装検査を同時に行うことができる。また、
本発明は駆動用ICの実装検査をフレキシブルプリント基板上の検査用電極で検査するも
のであり、この検査用電極を広くすることができる。これにより、非常に狭い駆動用IC
の出力端子であっても、そのバンプの実装検査を手動で行うことができる。
By inspecting the energization between the first inspection electrode and the second inspection electrode having this configuration, the driving I
C mounting inspection and flexible printed circuit board mounting inspection can be performed simultaneously. Also,
In the present invention, the mounting inspection of the driving IC is inspected with the inspection electrode on the flexible printed circuit board, and the inspection electrode can be widened. This makes the drive IC very narrow
Even for the output terminals, the mounting inspection of the bumps can be performed manually.

また、前記駆動用ICの第1、第2ダミー端子を整列した端子の一端に隣接して配設し

さらに、前記駆動用ICは駆動用IC内部で互いに電気的に接続された第5、第6ダミ
ー端子を前記整列した端子の他端に隣接して配設し、前記ガラス基板は前記駆動用ICの
第5、第6ダミー端子が電気的に夫々接続される第5、第6固着用電極と、該第5、第6
固着用電極と電気的に接続される第7、第8固着用電極とを備え、フレキシブルプリント
基板は前記第7、第8固着用電極と電気的に接続される第7、第8ダミー端子と、該第7
、第8ダミー端子と電気的に接続される第3、第4検査用電極とを備える。
Also, the first and second dummy terminals of the driving IC are disposed adjacent to one end of the aligned terminals,
Further, the driving IC has fifth and sixth dummy terminals electrically connected to each other inside the driving IC, and is disposed adjacent to the other end of the aligned terminals, and the glass substrate is the driving IC. The fifth and sixth dummy terminals to which the fifth and sixth dummy terminals are electrically connected, respectively, and the fifth and sixth electrodes
A flexible printed circuit board having seventh and eighth dummy terminals electrically connected to the seventh and eighth fixing electrodes; and seventh and eighth fixing electrodes electrically connected to the fixing electrodes. , The seventh
And third and fourth inspection electrodes electrically connected to the eighth dummy terminal.

この構成の第1検査用電極と第2検査用電極間の通電を検査することにより、駆動用I
Cの一端の実装検査とフレキシブルプリント基板の一端の実装検査を同時に行うことがで
き、また、第3検査用電極と第4検査用電極間の通電を検査することにより、駆動用IC
の他端の実装検査とフレキシブルプリント基板の他端の実装検査を同時に行うことができ
る。これにより、駆動用ICとフレキシブルプリント基板の中間の正規の端子について実
装の良否を予測することができる。
By inspecting the energization between the first inspection electrode and the second inspection electrode having this configuration, the driving I
Mounting inspection of one end of C and mounting inspection of one end of the flexible printed circuit board can be performed at the same time, and the driving IC can be checked by inspecting the energization between the third inspection electrode and the fourth inspection electrode.
The mounting inspection of the other end of the flexible printed circuit board and the mounting inspection of the other end of the flexible printed circuit board can be performed simultaneously. As a result, it is possible to predict whether the mounting is good or not for the regular terminal between the driving IC and the flexible printed circuit board.

また、前記駆動用ICの第1、第2ダミー端子を整列した端子の両端に配設する。これ
により、1回の検査で、駆動用ICとフレキシブルプリント基板の両端の実装検査を同時
に行うことができる。
Further, the first and second dummy terminals of the driving IC are disposed at both ends of the aligned terminals. Thereby, the mounting inspection of both ends of the driving IC and the flexible printed circuit board can be simultaneously performed in one inspection.

また、前記駆動用ICの第1、第2ダミー端子をGNDラインで電気的に接続する。こ
れにより、露出した検査用電極によるノイズの発生を軽減することができる。
The first and second dummy terminals of the driving IC are electrically connected by a GND line. Thereby, generation | occurrence | production of the noise by the exposed electrode for a test | inspection can be reduced.

以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。但し、以下に示す実施形態は、本
発明の技術思想を具体化するためのチップオングラス型表示モジュールを例示するもので
あって、本発明をこのチップオングラス型表示モジュールに特定することを意図するもの
ではなく、特許請求の範囲に含まれるその他の実施形態のものも等しく適応し得るもので
ある。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. However, the embodiment shown below exemplifies a chip-on-glass display module for embodying the technical idea of the present invention, and is intended to specify the present invention as this chip-on-glass display module. And other embodiments within the scope of the claims are equally applicable.

図1は本発明の実施例1のチップオングラス型表示モジュールの要部を示す平面図であ
る。図2は図1の1つのIC近傍の拡大図である。図3は図2のA−A断面図である。図
4は図2の背面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a main part of a chip-on-glass display module according to Embodiment 1 of the present invention. FIG. 2 is an enlarged view of the vicinity of one IC in FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 4 is a rear view of FIG.

図1に示す如く、チップオングラス型表示モジュール1は液晶パネル11と、1つのゲ
ート駆動用IC12と3つのソース駆動用IC13,13,13と、フレキシブルプリン
ト基板14を有する。
As shown in FIG. 1, the chip-on-glass display module 1 includes a liquid crystal panel 11, one gate driving IC 12, three source driving ICs 13, 13, and 13, and a flexible printed board 14.

液晶パネル11は、図示しないが、表面方向の第1ガラス基板11aと裏面方向の第2
ガラス基板11bで液晶を挟持し、裏面方向のガラス基板11bに設けられた横方向のゲ
ートラインと縦方向のソースラインによってマトリクス状に配列された画素を有し、ゲー
トラインとソースラインに電圧を印加して夫々の画素の液晶の透過率を変化させることに
より画像を表示する。
Although not shown, the liquid crystal panel 11 includes a first glass substrate 11a in the front surface direction and a second glass surface in the rear surface direction.
The liquid crystal is sandwiched between the glass substrate 11b and pixels arranged in a matrix by horizontal gate lines and vertical source lines provided on the glass substrate 11b in the back surface direction, and voltage is applied to the gate lines and the source lines. An image is displayed by changing the transmittance of the liquid crystal of each pixel when applied.

ゲート駆動用IC12は少なくとも整列した複数の入力端子と複数の出力端子を有し、
入力端子に入力される入力信号に基づいて出力端子に接続されるゲートラインを選択的に
電圧印加する。ソース駆動用IC13も少なくとも複数の入力端子と複数の出力端子を有
し、入力端子に入力される入力信号に基づいて出力端子に接続されるソースラインを選択
的に電圧印加する。ゲート駆動用IC12とソース駆動用IC13は第2ガラス基板11
bの電極にバンプ15で電気的に接続される。
The gate driving IC 12 has at least a plurality of aligned input terminals and a plurality of output terminals,
A voltage is selectively applied to the gate line connected to the output terminal based on the input signal input to the input terminal. The source driving IC 13 also has at least a plurality of input terminals and a plurality of output terminals, and selectively applies a voltage to the source line connected to the output terminal based on an input signal input to the input terminal. The gate driving IC 12 and the source driving IC 13 are the second glass substrate 11.
It is electrically connected to the electrode b by a bump 15.

フレキシブルプリント基板14はゲート駆動用IC12の入力端子とソース駆動用IC
13の入力端子を外部のコントロール基板50に接続するものである。フレキシブルプリ
ント基板14は複数のパターン14aを有し、その両端は第1端子14bと第2端子(図
示せず。)を有し、第1端子14bは整列する。第1端子14bは液晶パネル11のパタ
ーンにバンプ15で電気的に接続される。これにより、第1端子14bがゲート駆動用I
C12の入力端子とソース駆動用IC13の入力端子に電気的に接続される。第2端子は
外部のコントロール基板50のコネクタ51に接続される。
The flexible printed circuit board 14 includes an input terminal of the gate driving IC 12 and a source driving IC.
13 input terminals are connected to an external control board 50. The flexible printed board 14 has a plurality of patterns 14a, both ends of which have a first terminal 14b and a second terminal (not shown), and the first terminals 14b are aligned. The first terminals 14 b are electrically connected to the pattern of the liquid crystal panel 11 by bumps 15. As a result, the first terminal 14b becomes the gate driving I.
It is electrically connected to the input terminal of C12 and the input terminal of the source driving IC 13. The second terminal is connected to the connector 51 of the external control board 50.

この構成により、外部のコントロール基板50からの出力がゲート駆動用IC12とソ
ース駆動用IC13に入力され、ゲート駆動用IC12が選択されたゲートラインに電圧
を印加し、ソース駆動用IC13が選択されたソースラインに電圧を印加する。この選択
されたゲートラインとソースラインに該当する画素の透過率が変化して画像を表示するこ
とになる。
With this configuration, the output from the external control board 50 is input to the gate driving IC 12 and the source driving IC 13, and the gate driving IC 12 applies a voltage to the selected gate line, and the source driving IC 13 is selected. Apply voltage to the source line. The transmittance of the pixels corresponding to the selected gate line and source line changes to display an image.

上述のごとく、ゲート駆動用IC12、ソース駆動用IC13とフレキシブルプリント
基板14はガラス基板のパターンにバンプ15で固着される。このバンプ15は異方性導
電材からなる突起状金属電極であり、FC(Flip Chip)やBGA(Ball Grid Array)な
どのバンプ15(BUMP)付き端子をパターンの電極に当接させ、所定の圧力と所定の
熱を加えて端子を電極に電気的に接続するものである。バンプ15は絶縁性樹脂に導電性
粒子が分散したものである。ゲート駆動用IC12、ソース駆動用IC13とフレキシブ
ルプリント基板14の端子は長く整列しており、その両端に加えられる圧力と熱が異なる
ことがある。特に、斜めになったときは圧力が異なり、両端の接続の抵抗が異なって、不
良となる。したがって、バンプ15で接続した部分の実装検査が必要であるが、接続部分
は隠れた状態であるので、直接検査器具のリードを端子に接触させることはできない。
As described above, the gate driving IC 12, the source driving IC 13 and the flexible printed circuit board 14 are fixed to the glass substrate pattern with the bumps 15. The bump 15 is a projecting metal electrode made of an anisotropic conductive material, and a terminal with a bump 15 (BUMP) such as FC (Flip Chip) or BGA (Ball Grid Array) is brought into contact with the electrode of the pattern. A terminal is electrically connected to an electrode by applying pressure and predetermined heat. The bump 15 is a conductive particle dispersed in an insulating resin. The terminals of the gate driving IC 12, the source driving IC 13 and the flexible printed circuit board 14 are long aligned, and the pressure and heat applied to both ends of the terminals may be different. In particular, when inclined, the pressure is different, and the resistance of the connection at both ends is different, resulting in a failure. Therefore, mounting inspection of the part connected by the bump 15 is necessary, but since the connection part is in a hidden state, the lead of the inspection instrument cannot be brought into direct contact with the terminal.

本発明は端子の接続を少ない工数で抵抗値測定などの通電検査するものであり、これを
説明する。図2〜図4に示す如く、ソース駆動用IC13の整列した入力端子13aの両
端に夫々1対のIC入力ダミー端子13c1,13c2,13d1,13d2を備える。
また、フレキシブルプリント基板14の整列した複数の第1端子14bの両端に夫々1対
のFPCダミー端子14e1,14e2,14f1,14f2を設ける。また、フレキシ
ブルプリント基板14に検査用電極14g1,14g2,14h1,14h2を設け、夫
々ダミーパターン14i1,14i2,14j1,14j2でFPCダミー端子14e1
,14e2,14f1,14f2と電気的に接続する。検査用電極14g1,14g2,
14h1,14h2は、図3に示す如く、FPCダミー端子14e1,14e2,14f
1,14f2とは反対側の面に露出する。
In the present invention, the connection of terminals is inspected for energization such as resistance measurement with less man-hours, and this will be described. 2 to 4, a pair of IC input dummy terminals 13c1, 13c2, 13d1, and 13d2 are provided at both ends of the aligned input terminals 13a of the source driving IC 13, respectively.
A pair of FPC dummy terminals 14e1, 14e2, 14f1, and 14f2 are provided at both ends of the plurality of first terminals 14b arranged on the flexible printed circuit board 14, respectively. Further, inspection electrodes 14g1, 14g2, 14h1, and 14h2 are provided on the flexible printed circuit board 14, and the FPC dummy terminals 14e1 are formed by dummy patterns 14i1, 14i2, 14j1, and 14j2, respectively.
, 14e2, 14f1, and 14f2. Inspection electrodes 14g1, 14g2,
14h1, 14h2 are FPC dummy terminals 14e1, 14e2, 14f as shown in FIG.
It is exposed on the surface opposite to 1,14f2.

IC入力ダミー端子13c1,13c2,13d1,13d2がバンプ15で接続され
るIC固着用電極11c1,11c2,11d1,11d2と、FPCダミー端子14e
1,14e2,14f1,14f2がバンプ15で接続されるFPC固着用電極11e1
,11e2,11f1,11f2を両端に備えたダミーパターン11i1,11i2,1
1j1,11j2を液晶パネル11に設ける。
IC input dummy terminals 13c1, 13c2, 13d1, and 13d2 are connected by bumps 15 to IC fixing electrodes 11c1, 11c2, 11d1, and 11d2, and an FPC dummy terminal 14e.
FPC fixing electrode 11e1 in which 1,14e2,14f1,14f2 are connected by a bump 15
, 11e2, 11f1, 11f2 at both ends, dummy patterns 11i1, 11i2, 1
1j1 and 11j2 are provided on the liquid crystal panel 11.

この構成により、フレキシブルプリント基板14の検査用電極14g1と検査用電極1
4g2間は、フレキシブルプリント基板14のFPCダミー端子14e1と第2ガラス基
板11bのFPC固着用電極11e1間のバンプ15、並びに第2ガラス基板11bのI
C固着用電極11c1とソース駆動用IC13のIC入力ダミー端子13c1間のバンプ
15、並びにソース駆動用IC13のIC入力ダミー端子13c2と第2ガラス基板11
bのIC入力ダミー端子11c2間のバンプ15、並びに第2ガラス基板11bのFPC
固着用電極11e2とフレキシブルプリント基板14のFPCダミー端子14e2間のバ
ンプ15、の4つのバンプ15を介して接続される。
With this configuration, the inspection electrode 14g1 and the inspection electrode 1 of the flexible printed circuit board 14 are provided.
Between 4g2, the bump 15 between the FPC dummy terminal 14e1 of the flexible printed circuit board 14 and the FPC fixing electrode 11e1 of the second glass substrate 11b, and the I of the second glass substrate 11b.
The bump 15 between the C fixing electrode 11c1 and the IC input dummy terminal 13c1 of the source driving IC 13, and the IC input dummy terminal 13c2 of the source driving IC 13 and the second glass substrate 11
b, the bump 15 between the IC input dummy terminals 11c2, and the FPC of the second glass substrate 11b.
The fixing electrode 11e2 and the FPC dummy terminal 14e2 of the flexible printed circuit board 14 are connected via four bumps 15 including a bump 15 between the fixing electrode 11e2.

これにより、フレキシブルプリント基板14の検査用電極14g1と検査用電極14g
2間の導通検査をすることにより、ソース駆動用IC13の入力端子13a側の一端側(
図2の左端側)のバンプ15での接続検査と、フレキシブルプリント基板14の第1端子
14aの一端側(図2の左端側)のバンプ15での実装検査を同時に行うことができる。
Thereby, the inspection electrode 14g1 and the inspection electrode 14g of the flexible printed circuit board 14 are provided.
By conducting a continuity test between the two, one end side of the source driving IC 13 on the input terminal 13a side (
The connection inspection at the bump 15 on the left end side in FIG. 2 and the mounting inspection on the bump 15 on the one end side (left end side in FIG. 2) of the first terminal 14a of the flexible printed circuit board 14 can be performed simultaneously.

同様に、フレキシブルプリント基板14の検査用電極14h1と検査用電極14h2間
は、フレキシブルプリント基板14のFPCダミー端子14f1と第2ガラス基板11b
のFPC固着用電極11f1間のバンプ15、並びに第2ガラス基板11bのIC固着用
電極11d1とソース駆動用IC13のIC入力ダミー端子13d1間のバンプ15、並
びにソース駆動用IC13のIC入力ダミー端子13d2と第2ガラス基板11bのIC
入力ダミー端子11d2間のバンプ15、並びに第2ガラス基板11bのFPC固着用電
極11f2とフレキシブルプリント基板14のFPCダミー端子14f2間のバンプ15
、の4つのバンプ15を介して接続される。
Similarly, between the inspection electrode 14h1 and the inspection electrode 14h2 of the flexible printed circuit board 14, the FPC dummy terminal 14f1 of the flexible printed circuit board 14 and the second glass substrate 11b.
The bump 15 between the FPC fixing electrode 11f1 and the bump 15 between the IC fixing electrode 11d1 of the second glass substrate 11b and the IC input dummy terminal 13d1 of the source driving IC 13 and the IC input dummy terminal 13d2 of the source driving IC 13 IC of the second glass substrate 11b
Bumps 15 between the input dummy terminals 11d2 and bumps 15 between the FPC fixing electrodes 11f2 of the second glass substrate 11b and the FPC dummy terminals 14f2 of the flexible printed board 14
The four bumps 15 are connected.

これにより、フレキシブルプリント基板14の検査用電極14h1と検査用電極14h
2間の通電検査をすることにより、ソース駆動用IC13の入力端子13a側の他端側(
図2の右端側)のバンプ15での実装検査と、フレキシブルプリント基板14の第1端子
14aの他端側(図2の右端側)のバンプ15での実装検査を同時に行うことができる。
As a result, the inspection electrode 14h1 and the inspection electrode 14h of the flexible printed circuit board 14 are obtained.
2, the other end of the source driving IC 13 on the input terminal 13a side (
The mounting inspection on the bump 15 on the right end side in FIG. 2 and the mounting inspection on the bump 15 on the other end side (right end side in FIG. 2) of the first terminal 14a of the flexible printed circuit board 14 can be performed simultaneously.

そして、この2つの検査を行うことにより、IC入力ダミー端子11c2とIC入力ダ
ミー端子11d2の間に位置するソース駆動用IC13の入力端子13aのバンプ接続の
状態、及びFPCダミー端子14e2とFPCダミー端子14f2の間に位置するフレキ
シブルプリント基板14の第1端子14aのバンプ15での接続の状態を予測することが
できる。このように少ない検査工数で駆動ICとフレキシブルプリント基板のバンプ15
での実装検査を行うことができる。
By performing these two inspections, the bump connection state of the input terminal 13a of the source driving IC 13 located between the IC input dummy terminal 11c2 and the IC input dummy terminal 11d2, and the FPC dummy terminal 14e2 and the FPC dummy terminal The connection state of the first terminal 14a of the flexible printed circuit board 14 located between 14f2 at the bump 15 can be predicted. The drive IC and the bump 15 of the flexible printed circuit board with such a small inspection man-hour
It is possible to perform mounting inspection at

尚、チップオングラス型表示モジュール1は全ての駆動用IC(ゲート駆動用IC12
と3つのソース駆動用IC13)について、夫々上述の通電検査の構成を備える。
Note that the chip-on-glass display module 1 includes all driving ICs (gate driving ICs 12
And the three source driving ICs 13) are provided with the above-described configuration of energization inspection.

図5は本発明の実施例2の要部を示す平面図である。図5は実施例1の図2を変更した
ものであり、図2との相違点を説明する。図1の構成と同様の図5の構成には図1と同一
の参照番号を付す。
FIG. 5 is a plan view showing the main part of the second embodiment of the present invention. FIG. 5 is a modification of FIG. 2 of the first embodiment. Differences from FIG. 2 will be described. The same reference numerals as those in FIG. 1 are assigned to the configurations in FIG. 5 that are the same as those in FIG.

実施例2は、実施例1の左端のIC入力ダミー端子13c2、FPCダミー端子14e
2、検査用電極14g2、ダミーパターン14i2、IC固着用電極11c2、FPC固
着用電極11e2、ダミーパターン11i2と、右端のIC入力ダミー端子13d2、F
PCダミー端子14f2、検査用電極14h2、ダミーパターン14j2、IC固着用電
極11d2、FPC固着用電極11f2、ダミーパターン11j2を削除する。そして、
左端となるIC入力ダミー端子13c1と右端となるIC入力ダミー端子13d1をIC
内部で電気的に接続する。IC入力ダミー端子13c1とIC入力ダミー端子13d1は
ICのGNDを介して接続する。
In the second embodiment, the leftmost IC input dummy terminal 13c2 and the FPC dummy terminal 14e of the first embodiment are used.
2, inspection electrode 14g2, dummy pattern 14i2, IC fixing electrode 11c2, FPC fixing electrode 11e2, dummy pattern 11i2, and rightmost IC input dummy terminal 13d2, F
The PC dummy terminal 14f2, the inspection electrode 14h2, the dummy pattern 14j2, the IC fixing electrode 11d2, the FPC fixing electrode 11f2, and the dummy pattern 11j2 are deleted. And
The IC input dummy terminal 13c1 at the left end and the IC input dummy terminal 13d1 at the right end are connected to the IC.
Electrical connection inside. The IC input dummy terminal 13c1 and the IC input dummy terminal 13d1 are connected via the GND of the IC.

上記構成により、フレキシブルプリント基板14の検査用電極14g1と検査用電極1
4h1間は、フレキシブルプリント基板14のFPCダミー端子14e1と第2ガラス基
板11bのFPC固着用電極11e1間のバンプ15、並びに第2ガラス基板11bのI
C固着用電極11c1とソース駆動用IC13のIC入力ダミー端子13c1間のバンプ
15、並びにソース駆動用IC13のIC入力ダミー端子13d1と第2ガラス基板11
bのIC入力ダミー端子11d1間のバンプ15、並びに第2ガラス基板11bのFPC
固着用電極11f1とフレキシブルプリント基板14のFPCダミー端子14f1間のバ
ンプ15、の4つのバンプ15を介して接続される。
With the above configuration, the inspection electrode 14g1 and the inspection electrode 1 of the flexible printed circuit board 14 are provided.
Between 4h1, the bump 15 between the FPC dummy terminal 14e1 of the flexible printed circuit board 14 and the FPC fixing electrode 11e1 of the second glass substrate 11b, and the I of the second glass substrate 11b.
The bump 15 between the C fixing electrode 11c1 and the IC input dummy terminal 13c1 of the source driving IC 13, and the IC input dummy terminal 13d1 of the source driving IC 13 and the second glass substrate 11
bump 15 between the IC input dummy terminals 11d1, and the FPC of the second glass substrate 11b
The fixing electrodes 11f1 and the bumps 15 between the FPC dummy terminals 14f1 of the flexible printed circuit board 14 are connected via four bumps 15.

これにより、フレキシブルプリント基板14の検査用電極14g1と検査用電極14h
1間の通電検査をすることにより、ソース駆動用IC13の両端のバンプ15での実装検
査と、フレキシブルプリント基板14の両端のバンプ15での実装検査を1回の検査で行
うことができる。また、ICの略中央にあるGNDを両端のIC入力ダミー端子13c1
とIC入力ダミー端子13d1まで延長することになり、ノイズの発生を低減させること
ができる。
As a result, the inspection electrode 14g1 and the inspection electrode 14h of the flexible printed circuit board 14 are obtained.
By conducting the current-inspection between the two, the mounting inspection at the bumps 15 at both ends of the source driving IC 13 and the mounting inspection at the bumps 15 at both ends of the flexible printed circuit board 14 can be performed in one inspection. Also, GND at the center of the IC is connected to the IC input dummy terminals 13c1 at both ends.
And the IC input dummy terminal 13d1 are extended, and noise generation can be reduced.

図6は本発明の実施例3の要部を示す平面図である。図6は実施例2の図5を変更した
ものであり、図5との相違点を説明する。図5の構成と同様の図6の構成には図5と同一
の参照番号を付す。
FIG. 6 is a plan view showing a main part of the third embodiment of the present invention. FIG. 6 is a modification of FIG. 5 of the second embodiment. Differences from FIG. 5 will be described. 6 that is the same as the configuration in FIG. 5 is assigned the same reference numeral as in FIG.

実施例3は、ソース駆動用IC13の複数の入力端子13aの右端がGNDの入力端子
13a1になっている。このために、右端のGNDの入力端子13a1と電気的に接続さ
れるフレキシブルプリント基板14のパターン14k1に検査用電極14m1を設けて、
これを実施例2の検査用電極14h1の代わりとする。
In the third embodiment, the right ends of the plurality of input terminals 13a of the source driving IC 13 are GND input terminals 13a1. For this purpose, an inspection electrode 14m1 is provided on the pattern 14k1 of the flexible printed circuit board 14 electrically connected to the input terminal 13a1 of the rightmost GND.
This is used in place of the inspection electrode 14h1 of the second embodiment.

このように、既存の端子の端がGNDであれば、端部にダミー端子やパターンを追加す
ることなく、ノイズの発生が少ないバンプ15での実装検査を行うことができる。
As described above, when the end of the existing terminal is GND, the mounting inspection with the bump 15 with less noise generation can be performed without adding a dummy terminal or a pattern to the end.

図7は本発明の実施例4の要部を示す平面図である。図7は実施例2の図5を変更した
ものであり、図5との相違点を説明する。図5の構成と同様の図7の構成には図5と同一
の参照番号を付す。
FIG. 7 is a plan view showing an essential part of Embodiment 4 of the present invention. FIG. 7 is a modification of FIG. 5 of the second embodiment. Differences from FIG. 5 will be described. The same reference numerals as those in FIG. 5 are assigned to the configurations in FIG. 7 that are the same as those in FIG.

実施例4は、ソース駆動用IC13の整列した複数の出力端子13bの両端にIC出力
ダミー端子13p1,13q1を設ける。ソース駆動用IC13内部で、IC出力ダミー
端子13p1とIC入力ダミー端子13c1を電気的に接続し、IC出力ダミー端子13
q1とIC入力ダミー端子13d1を電気的に接続する。
In the fourth embodiment, IC output dummy terminals 13p1 and 13q1 are provided at both ends of a plurality of output terminals 13b in which the source driving ICs 13 are aligned. In the source driving IC 13, the IC output dummy terminal 13 p 1 and the IC input dummy terminal 13 c 1 are electrically connected, and the IC output dummy terminal 13 is connected.
q1 and the IC input dummy terminal 13d1 are electrically connected.

IC出力ダミー端子13p1,13q1に対向する第2ガラス基板11bの位置にIC
固定用電極11p1,11q1を設け、IC固定用電極11p1とIC固定用電極11q
1をダミーパターン11r1で電気的に接続する。
IC is located at the position of the second glass substrate 11b facing the IC output dummy terminals 13p1 and 13q1.
The fixing electrodes 11p1 and 11q1 are provided, and the IC fixing electrode 11p1 and the IC fixing electrode 11q are provided.
1 are electrically connected by a dummy pattern 11r1.

上記構成により、フレキシブルプリント基板14の検査用電極14g1と検査用電極1
4h1間は、フレキシブルプリント基板14のFPCダミー端子14e1と第2ガラス基
板11bのFPC固着用電極11e1間のバンプ15、並びに第2ガラス基板11bのI
C固着用電極11c1とソース駆動用IC13のIC入力ダミー端子13c1間のバンプ
15、並びにソース駆動用IC13のIC出力ダミー端子13p1と第2ガラス基板11
bのIC固定用電極11p1間のバンプ15、並びに第2ガラス基板11bのIC固着用
電極11q1とソース駆動用IC13のIC出力ダミー端子13q1間のバンプ15、並
びにソース駆動用IC13のIC入力ダミー端子13d1と第2ガラス基板11bのIC
入力ダミー端子11d1間のバンプ15、並びに第2ガラス基板11bのFPC固着用電
極11f1とフレキシブルプリント基板14のFPCダミー端子14f1間のバンプ15
、の4つのバンプ15を介して接続される。
With the above configuration, the inspection electrode 14g1 and the inspection electrode 1 of the flexible printed circuit board 14 are provided.
Between 4h1, the bump 15 between the FPC dummy terminal 14e1 of the flexible printed circuit board 14 and the FPC fixing electrode 11e1 of the second glass substrate 11b, and the I of the second glass substrate 11b.
The bump 15 between the C fixing electrode 11c1 and the IC input dummy terminal 13c1 of the source driving IC 13, and the IC output dummy terminal 13p1 of the source driving IC 13 and the second glass substrate 11
b, the bump 15 between the IC fixing electrodes 11p1, the bump 15 between the IC fixing electrode 11q1 of the second glass substrate 11b and the IC output dummy terminal 13q1 of the source driving IC 13, and the IC input dummy terminal of the source driving IC 13. IC of 13d1 and second glass substrate 11b
Bumps 15 between the input dummy terminals 11d1 and bumps 15 between the FPC fixing electrodes 11f1 of the second glass substrate 11b and the FPC dummy terminals 14f1 of the flexible printed board 14
The four bumps 15 are connected.

これにより、フレキシブルプリント基板14の検査用電極14g1と検査用電極14h
1間の通電検査をすることにより、ソース駆動用IC13の入力端子13aと出力端子1
3bの両端のバンプ15での実装検査と、フレキシブルプリント基板14の両端のバンプ
15での実装検査を1回の検査で行うことができる。
As a result, the inspection electrode 14g1 and the inspection electrode 14h of the flexible printed circuit board 14 are obtained.
By conducting an energization inspection between the input terminal 13a and the output terminal 1 of the source driving IC 13
The mounting inspection at the bumps 15 at both ends of 3b and the mounting inspection at the bumps 15 at both ends of the flexible printed circuit board 14 can be performed by one inspection.

また、検査用電極14g1,14h1を図5よりも広くして、通電検査用のリードを手
動で検査用電極14g1,14h1に接触できるようにする。本発明は駆動用ICの実装
検査をフレキシブルプリント基板上の検査用電極で検査するものであり、この検査用電極
を広くすることができる。これにより、非常に狭い駆動用ICの出力端子13bであって
も、そのバンプの実装検査を手動で行うことができる。
In addition, the inspection electrodes 14g1 and 14h1 are made wider than those in FIG. 5 so that the current-carrying inspection leads can be manually contacted with the inspection electrodes 14g1 and 14h1. In the present invention, the mounting inspection of the driving IC is inspected with the inspection electrode on the flexible printed circuit board, and the inspection electrode can be widened. Thereby, even if it is the output terminal 13b of very narrow drive IC, the mounting inspection of the bump can be performed manually.

本発明のチップオングラス型表示モジュールの要部の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the principal part of the chip-on-glass type display module of this invention. 図1のソース駆動用IC部分を示す部分拡大図である。It is the elements on larger scale which show the IC part for a source drive of FIG. 図2のA−A断面図である。It is AA sectional drawing of FIG. 図2の背面部である。It is a back surface part of FIG. 実施例2におけるソース駆動用IC部分を示す部分拡大図である。FIG. 10 is a partial enlarged view showing a source driving IC portion in Embodiment 2. 実施例3におけるソース駆動用IC部分を示す部分拡大図である。FIG. 10 is a partial enlarged view showing a source driving IC portion in Embodiment 3. 実施例4におけるソース駆動用IC部分を示す部分拡大図である。FIG. 10 is a partial enlarged view showing a source driving IC portion in Embodiment 4. 従来例を示す平面図である。It is a top view which shows a prior art example.

符号の説明Explanation of symbols

1 チップオングラス型表示モジュール
11 液晶パネル
11b 第2ガラス基板
11c1,11c2,11d1,11d2,11p1,11q1 IC固着用電極(液
晶パネル)
11e1,11e2,11f1,11f2 FPC固着用電極(液晶パネル)
11i1,11i2,11j1,11j2,11r1 ダミーパターン(液晶パネル)
12 ゲート駆動用IC
13 ソース駆動用IC
13a 入力端子(ソース駆動用IC)
13b 出力端子(ソース駆動用IC)
13c1,13c2,13d1,13d2 IC入力ダミー端子(ソース駆動用IC)
13p1,13q1 IC出力ダミー端子(ソース駆動用IC)
14 フレキシブルプリント基板
14a 第1端子
14e1,14e2,14f1,14f2 FPCダミー端子
14g1,14g2,14h1,14h2,14m1 検査用電極
14i1,14i2,14j1,14j2 ダミーパターン
15 バンプ
50 コントロール基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Chip on glass type display module 11 Liquid crystal panel 11b 2nd glass substrate 11c1, 11c2, 11d1, 11d2, 11p1, 11q1 IC fixation electrode (liquid crystal panel)
11e1, 11e2, 11f1, 11f2 FPC fixing electrode (liquid crystal panel)
11i1, 11i2, 11j1, 11j2, 11r1 dummy pattern (liquid crystal panel)
12 Gate drive IC
13 Source drive IC
13a Input terminal (source drive IC)
13b Output terminal (source drive IC)
13c1, 13c2, 13d1, 13d2 IC input dummy terminal (source driving IC)
13p1, 13q1 IC output dummy terminal (source drive IC)
14 flexible printed circuit board 14a first terminal 14e1, 14e2, 14f1, 14f2 FPC dummy terminal 14g1, 14g2, 14h1, 14h2, 14m1 inspection electrode 14i1, 14i2, 14j1, 14j2 dummy pattern 15 bump 50 control board

Claims (5)

少なくとも一端側に整列した端子を有する駆動用ICと、該駆動用ICの前記端子が電
気的に接続される第1電極と、該第1電極と電気的に接続される第2電極とを有するガラ
ス基板と、前記第2電極と電気的に接続される端子を有するフレキシブルプリント基板と
を有するチップオングラス型表示モジュールであって、
前記駆動用ICは駆動用IC内部で互いに電気的に接続された第1、第2ダミー端子を
備え、前記ガラス基板は前記駆動用ICの第1、第2ダミー端子が電気的に夫々接続され
る第1、第2固着用電極と、該第1、第2固着用電極と電気的に接続される第3、第4固
着用電極とを備え、フレキシブルプリント基板は前記第3、第4固着用電極と電気的に接
続される第3、第4ダミー端子と、該第3、第4ダミー端子と電気的に接続される第1、
第2検査用電極とを備えることを特徴とするチップオングラス型表示モジュール。
A driving IC having terminals aligned at least on one end side; a first electrode to which the terminal of the driving IC is electrically connected; and a second electrode to be electrically connected to the first electrode. A chip-on-glass type display module having a glass substrate and a flexible printed circuit board having a terminal electrically connected to the second electrode,
The driving IC includes first and second dummy terminals electrically connected to each other inside the driving IC, and the glass substrate is electrically connected to the first and second dummy terminals of the driving IC. First and second fixing electrodes and third and fourth fixing electrodes electrically connected to the first and second fixing electrodes, and the flexible printed circuit board includes the third and fourth fixing electrodes. Third and fourth dummy terminals electrically connected to the electrodes for use, and first and electrically connected to the third and fourth dummy terminals,
A chip-on-glass display module comprising a second inspection electrode.
前記駆動用ICの第1、第2ダミー端子を整列した端子の一端に隣接して配設し、
さらに、前記駆動用ICは駆動用IC内部で互いに電気的に接続された第5、第6ダミ
ー端子を前記整列した端子の他端に隣接して配設し、前記ガラス基板は前記駆動用ICの
第5、第6ダミー端子が電気的に夫々接続される第5、第6固着用電極と、該第5、第6
固着用電極と電気的に接続される第7、第8固着用電極とを備え、フレキシブルプリント
基板は前記第7、第8固着用電極と電気的に接続される第7、第8ダミー端子と、該第7
、第8ダミー端子と電気的に接続される第3、第4検査用電極とを備えることを特徴とす
る請求項1に記載のチップオングラス型表示モジュール。
Arranging the first and second dummy terminals of the driving IC adjacent to one end of the aligned terminals;
Further, the driving IC has fifth and sixth dummy terminals electrically connected to each other inside the driving IC, and is disposed adjacent to the other end of the aligned terminals, and the glass substrate is the driving IC. The fifth and sixth dummy terminals to which the fifth and sixth dummy terminals are electrically connected, respectively, and the fifth and sixth electrodes
A flexible printed circuit board having seventh and eighth dummy terminals electrically connected to the seventh and eighth fixing electrodes; and seventh and eighth fixing electrodes electrically connected to the fixing electrodes. , The seventh
The chip-on-glass display module according to claim 1, further comprising third and fourth inspection electrodes electrically connected to the eighth dummy terminal.
前記駆動用ICの第1、第2ダミー端子を整列した端子の両端に配設したことを特徴と
する請求項1に記載のチップオングラス型表示モジュール。
2. The chip-on-glass display module according to claim 1, wherein the first and second dummy terminals of the driving IC are disposed at both ends of the aligned terminals.
前記駆動用ICの第1、第2ダミー端子をGNDラインで電気的に接続したことを特徴
とする請求項3に記載のチップオングラス型表示モジュール。
4. The chip-on-glass display module according to claim 3, wherein the first and second dummy terminals of the driving IC are electrically connected by a GND line.
少なくとも一端側に整列した端子を有する駆動用ICと、該駆動用ICの前記端子が電
気的に接続される第1電極と、該第1電極と電気的に接続される第2電極とを有するガラ
ス基板と、前記第2電極と電気的に接続される端子を有するフレキシブルプリント基板と
を有するチップオングラス型表示モジュールであって、
前記駆動用ICは駆動用IC内部で互いに電気的に接続された第1、第2ダミー端子を
備え、前記ガラス基板は前記駆動用ICの第1、第2ダミー端子が電気的に夫々接続され
る第1、第2固着用電極と、該第1、第2固着用電極と電気的に接続される第3、第4固
着用電極とを備え、フレキシブルプリント基板は前記第3、第4固着用電極と電気的に接
続される第3、第4ダミー端子と、該第3、第4ダミー端子と電気的に接続される第1、
第2検査用電極とを備え、
前記第1、第2検査用電極間の通電検査を行うことを特徴とするチップオングラス型表
示モジュールの実装検査方法。
A driving IC having terminals aligned at least on one end side; a first electrode to which the terminal of the driving IC is electrically connected; and a second electrode to be electrically connected to the first electrode. A chip-on-glass type display module having a glass substrate and a flexible printed circuit board having a terminal electrically connected to the second electrode,
The driving IC includes first and second dummy terminals electrically connected to each other inside the driving IC, and the glass substrate is electrically connected to the first and second dummy terminals of the driving IC. First and second fixing electrodes and third and fourth fixing electrodes electrically connected to the first and second fixing electrodes, and the flexible printed circuit board includes the third and fourth fixing electrodes. Third and fourth dummy terminals electrically connected to the electrodes for use, and first and electrically connected to the third and fourth dummy terminals,
A second inspection electrode;
A mounting inspection method for a chip-on-glass type display module, wherein an energization inspection is performed between the first and second inspection electrodes.
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