JP2009005029A - Electronic circuit equipment - Google Patents
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Abstract
【課題】パルス幅を意図的に変化させるNRZ等の信号の伝送において、パルス幅のバラツキの低減を図り、さらにジッタの低減も図る。
【解決手段】2個のエッジ検出回路11,12と、2個の可変遅延回路13,14と、SRラッチ回路15とを備え、可変遅延回路13,14のそれぞれの入力にエッジ検出回路11,12の出力を接続し、SRラッチ回路のS入力およびR入力それぞれに可変遅延回路13,14の出力を接続する。前記SRラッチ回路15が、可変遅延回路13,14の出力のパルス終端側エッジを検出してセット/リセット動作を行う。
【選択図】図1In transmission of a signal such as NRZ in which the pulse width is intentionally changed, variation in pulse width is reduced, and jitter is further reduced.
Two edge detection circuits (11, 12), two variable delay circuits (13, 14), and an SR latch circuit (15) are provided, and the edge detection circuits (11, 11) are respectively input to the variable delay circuits (13, 14). 12 outputs are connected, and the outputs of the variable delay circuits 13, 14 are connected to the S input and R input of the SR latch circuit, respectively. The SR latch circuit 15 detects the pulse termination edge of the outputs of the variable delay circuits 13 and 14 and performs a set / reset operation.
[Selection] Figure 1
Description
本発明は、高速信号の生成もしくは信号波形整形等を行う電子回路装置に関するものである。 The present invention relates to an electronic circuit device that performs high-speed signal generation or signal waveform shaping.
パルス信号を用いた電子回路において、異なる複数の伝送系において同一のパルス信号を伝送するとき、その信号間に発生する位相または時間の期待値からのずれであるスキューを合せるために、可変遅延回路を介して伝送する必要が発生する場合がある。この可変遅延回路は、多段のインバータやゲート素子により構成することができるが、そのような構成の場合、その多段回路を通過した信号のパルス幅が各素子のバラツキにより広がったり狭まったりして一定しない場合が有る。 In an electronic circuit using a pulse signal, when transmitting the same pulse signal in a plurality of different transmission systems, a variable delay circuit is used to adjust a skew that is a deviation from an expected value of phase or time generated between the signals. May need to be transmitted over the network. This variable delay circuit can be composed of multi-stage inverters and gate elements. In such a configuration, the pulse width of the signal that has passed through the multi-stage circuit is constant because the pulse width of the variable widens or narrows due to variations in each element. There is a case not to do.
この問題を解決する方法として、入力信号のパルス幅に依存しない任意のパルス幅の生成を行うパルス整形回路が提案されている(例えば、特許文献1参照)。図20は、そのパルス整形回路の一例の構成を簡略化して示したものである。このパルス整形回路50は、立下りエッジを検出するエッジ検出回路51、可変遅延回路52、OR回路53、およびSR(セット・リセット型、以下同じ)ラッチ回路54から構成される。
As a method for solving this problem, a pulse shaping circuit that generates an arbitrary pulse width independent of the pulse width of an input signal has been proposed (for example, see Patent Document 1). FIG. 20 shows a simplified configuration of an example of the pulse shaping circuit. The
このパルス整形回路50では、入力信号の立下りに対応してエッジ検出回路51の出力がHレベルに立ち上がるときにSRラッチ回路54がセットされ、そのエッジ検出回路51の出力を可変遅延回路52で遅延した信号がHレベルに立ち上がるときにSRラッチ回路54がリセットされることにより、入力信号が所定のパルス幅の信号に整形されて、SRラッチ回路54から出力される。
しかし、図20に示したパルス整形回路50は、固定のパルス幅を有する信号(例えば、クロック信号と呼ばれる繰り返し型の単純な信号やRZ信号等)を出力する場合には使用できるが、パルス幅を意図的に変化させる信号(例えばNRZ信号)をこのパルス整形回路50に入力すると、意図している信号と異なる出力となってしまうという問題があった。
However, the
本発明の目的は、パルス幅を意図的に変化させる信号(例えばNRZ信号)の伝送においてもパルス幅のバラツキの低減を図り、さらにこれによりジッタ(位相ノイズ)の低減も図り、さらに高速信号の出力タイミング調整や出力パルス幅の調整を可能にした電子回路装置を提供することである。 An object of the present invention is to reduce variations in pulse width even in transmission of a signal (for example, an NRZ signal) that intentionally changes the pulse width, thereby further reducing jitter (phase noise) and further increasing the speed of a high-speed signal. It is an object of the present invention to provide an electronic circuit device that enables output timing adjustment and output pulse width adjustment.
請求項1にかかる発明の電子回路装置は、SRラッチ回路と、第1および第2の可変遅延回路と、第1および第2のエッジ検出回路を備え、前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第1の可変遅延回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第2の可変遅延回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路が、前記第1および第2の可変遅延回路の出力のパルス終端側エッジを検出してセット/リセット動作を行うようにしたことを特徴とする。
請求項2にかかる発明の電子回路装置は、SRラッチ回路と、第1および第2の可変遅延回路と、第1、第2、第3および第4のエッジ検出回路を備え、前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力に前記第3のエッジ検出回路の入力を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力に前記第4のエッジ検出回路の入力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第3のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第4のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第3エッジ検出回路が前記第1の可変遅延回路の出力のパルス終端側エッジを検出してパルスを出力し、前記第4エッジ検出回路が前記第2の可変遅延回路の出力のパルス終端側エッジを検出してパルスを出力するようにしたことを特徴とする。
請求項3にかかる発明の電子回路装置は、SRラッチ回路と、第1および第2の可変遅延回路と、第1および第2のエッジ検出回路と、第1および第2の極性切替回路とを備え、前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力に前記第1の極性切替回路を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力に前記第2の極性切替回路を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第1の極性切替回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第2の極性切替回路の出力を接続したことを特徴とする。
請求項4にかかる発明の電子回路装置は、SRラッチ回路と、第1および第2の可変遅延回路と、第1および第2のエッジ検出回路と、第1および第2の極性切替回路とを備え、前記第1の極性切替回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の極性切替回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の極性切替回路の出力に前記第1の可変遅延回路の入力を接続し、前記第2の極性切替回路の出力に前記第2の可変遅延回路の入力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力に前記SRラッチ回路のS入力を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力に前記SRラッチ回路のR入力を接続したことを特徴とする。
請求項5にかかる発明の電子回路装置は、SRラッチ回路と、第1および第2の可変遅延回路と、第1、第2、第3および第4のエッジ検出回路と、第1および第2の極性切替回路を備え、前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力に前記第1の極性切替回路の入力を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力に前記第2の極性切替回路の入力を接続し、前記第1の極性切替回路の出力に前記第3のエッジ検出回路の入力を接続し、前記第2の極性切替回路の出力を前記第4のエッジ検出回路の入力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第3のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第4のエッジ検出回路の出力を接続したことを特徴とする。
請求項6にかかる発明の電子回路装置は、SRラッチ回路と、第1および第2の可変遅延回路と、第1、第2、第3および第4のエッジ検出回路を備え、前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力に前記第3のエッジ検出回路の入力を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力に前記第4のエッジ検出回路の入力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第3のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第4のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第3エッジ検出回路が前記第1の可変遅延回路の出力のパルス終端側エッジ又はパルス始端側側エッジを検出してパルスを出力するよう切替可能であり、前記第4エッジ検出回路が前記第2の可変遅延回路の出力のパルス終端側エッジ又はパルス始端側側エッジを検出してパルスを出力するよう切替可能であることを特徴とする。
請求項7にかかる発明の電子回路装置は、SRラッチ回路と、第1および第2の可変遅延回路と、第1、第2、第3および第4のエッジ検出回路と、第1および第2の極性切替回路を備え、前記第1の極性切替回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の極性切替回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の極性切替回路の出力に前記第1の可変遅延回路の入力を接続し、前記第2の極性切替回路の出力に前記第2の可変遅延回路の入力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力に前記第3のエッジ検出回路の入力を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力に前記第4のエッジ検出回路の入力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第3のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第4のエッジ検出回路の出力を接続したことを特徴とする。
請求項8にかかる発明は、請求項1乃至7のいずれか1つに記載の電子回路装置において、前記第1および第2の可変遅延回路の一方を削除し、該削除部分を短絡したことを特徴とする。
請求項9にかかる発明は、請求項1乃至8のいずれか1つに記載の電子回路装置において、前記第1のエッジ検出回路に入力する信号を論理反転した信号を前記第2のエッジ検出回路の入力に入力することを特徴とする。
請求項10にかかる発明は、請求項2、3、5又は6に記載の電子回路装置において、前記第1のエッジ検出回路と前記第1の可変遅延回路または前記第2のエッジ検出回路と前記第2の可変遅延回路を削除し、該削除部分を短絡したことを特徴とする。
請求項11にかかる発明は、請求項1、3又は4に記載の電子回路装置において、前記第1および第2のエッジ検出回路が、前記第1および第2のエッジ検出回路に入力される信号の最小パルス幅よりも小さなパルス幅の信号を出力することを特徴とする。
請求項12にかかる発明は、請求項2、5、6又は7に記載の電子回路装置において、前記第3および第4のエッジ検出回路が、前記第3および第4のエッジ検出回路に入力される信号の最小パルス幅よりも小さなパルス幅の信号を出力することを特徴とする。
An electronic circuit device according to a first aspect of the present invention includes an SR latch circuit, first and second variable delay circuits, and first and second edge detection circuits, and is input to the first variable delay circuit. The output of the first edge detection circuit is connected, the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second variable delay circuit, and the first variable delay is connected to the S input of the SR latch circuit. The output of the second variable delay circuit is connected to the R input of the SR latch circuit, and the SR latch circuit is connected to the pulse termination side of the outputs of the first and second variable delay circuits. An edge is detected and a set / reset operation is performed.
An electronic circuit device according to a second aspect of the present invention includes an SR latch circuit, first and second variable delay circuits, and first, second, third, and fourth edge detection circuits, and the first The output of the first edge detection circuit is connected to the input of the variable delay circuit, the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second variable delay circuit, and the output of the first variable delay circuit The input of the third edge detection circuit is connected to the output, the input of the fourth edge detection circuit is connected to the output of the second variable delay circuit, and the third input is connected to the S input of the SR latch circuit. The output of the edge detection circuit is connected, the output of the fourth edge detection circuit is connected to the R input of the SR latch circuit, and the third edge detection circuit is connected to the pulse termination side of the output of the first variable delay circuit. Detecting an edge and outputting a pulse, the fourth edge Detection circuit is characterized in that so as to output a pulse by detecting a pulse termination side edge of the output of said second variable delay circuit.
An electronic circuit device according to a third aspect of the present invention includes an SR latch circuit, first and second variable delay circuits, first and second edge detection circuits, and first and second polarity switching circuits. The output of the first edge detection circuit is connected to the input of the first variable delay circuit, the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second variable delay circuit, and The first polarity switching circuit is connected to the output of one variable delay circuit, the second polarity switching circuit is connected to the output of the second variable delay circuit, and the second input is connected to the S input of the SR latch circuit. The output of the first polarity switching circuit is connected, and the output of the second polarity switching circuit is connected to the R input of the SR latch circuit.
An electronic circuit device according to a fourth aspect of the present invention includes an SR latch circuit, first and second variable delay circuits, first and second edge detection circuits, and first and second polarity switching circuits. The output of the first edge detection circuit is connected to the input of the first polarity switching circuit, the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second polarity switching circuit, The input of the first variable delay circuit is connected to the output of the first polarity switching circuit, the input of the second variable delay circuit is connected to the output of the second polarity switching circuit, and the first variable delay circuit The S input of the SR latch circuit is connected to the output of the circuit, and the R input of the SR latch circuit is connected to the output of the second variable delay circuit.
An electronic circuit device according to a fifth aspect of the present invention includes an SR latch circuit, first and second variable delay circuits, first, second, third and fourth edge detection circuits, first and second Polarity switching circuit, the output of the first edge detection circuit is connected to the input of the first variable delay circuit, and the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second variable delay circuit Connecting the input of the first polarity switching circuit to the output of the first variable delay circuit, connecting the input of the second polarity switching circuit to the output of the second variable delay circuit, and The input of the third edge detection circuit is connected to the output of the first polarity switching circuit, the output of the second polarity switching circuit is connected to the input of the fourth edge detection circuit, and the SR latch circuit The SR input is connected to the output of the third edge detection circuit, and the SR ladder is connected. Characterized in that connects the output of said fourth edge detection circuit to the R input of the circuit.
An electronic circuit device according to a sixth aspect of the present invention includes an SR latch circuit, first and second variable delay circuits, and first, second, third, and fourth edge detection circuits. The output of the first edge detection circuit is connected to the input of the variable delay circuit, the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second variable delay circuit, and the output of the first variable delay circuit The input of the third edge detection circuit is connected to the output, the input of the fourth edge detection circuit is connected to the output of the second variable delay circuit, and the third input is connected to the S input of the SR latch circuit. The output of the edge detection circuit is connected, the output of the fourth edge detection circuit is connected to the R input of the SR latch circuit, and the third edge detection circuit is connected to the pulse termination side of the output of the first variable delay circuit. Detect pulse by detecting edge or edge of pulse start side The output can be switched to output, and the fourth edge detection circuit can be switched to detect a pulse termination side edge or a pulse start side edge of the output of the second variable delay circuit and output a pulse. Features.
An electronic circuit device according to a seventh aspect of the present invention includes an SR latch circuit, first and second variable delay circuits, first, second, third and fourth edge detection circuits, first and second The polarity switching circuit, the output of the first edge detection circuit is connected to the input of the first polarity switching circuit, and the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second polarity switching circuit. Connecting the input of the first variable delay circuit to the output of the first polarity switching circuit, connecting the input of the second variable delay circuit to the output of the second polarity switching circuit, and An input of the third edge detection circuit is connected to an output of the first variable delay circuit, an input of the fourth edge detection circuit is connected to an output of the second variable delay circuit, and the SR latch circuit The SR input is connected to the output of the third edge detection circuit, and the SR ladder is connected. Characterized in that connects the output of said fourth edge detection circuit to the R input of the circuit.
The invention according to claim 8 is the electronic circuit device according to any one of
The invention according to
The invention according to claim 10 is the electronic circuit device according to
According to an eleventh aspect of the present invention, in the electronic circuit device according to the first, third, or fourth aspect, the signals input to the first and second edge detection circuits by the first and second edge detection circuits. A signal having a pulse width smaller than the minimum pulse width is output.
According to a twelfth aspect of the present invention, in the electronic circuit device according to the second, fifth, sixth, or seventh aspect, the third and fourth edge detection circuits are input to the third and fourth edge detection circuits. A signal having a pulse width smaller than the minimum pulse width of the output signal is output.
本発明によれば、パルス幅を意図的に変化させる信号(例えばNRZ信号)の伝送においても、パルス幅のバラツキを低減でき、また、ジッタ(位相ノイズ)も低減でき、さらに、高速信号の出力タイミング調整や出力パルス幅の調整も可能になる。 According to the present invention, even in the transmission of a signal (for example, an NRZ signal) that intentionally changes the pulse width, variations in pulse width can be reduced, jitter (phase noise) can be reduced, and high-speed signal output can be performed. Timing adjustment and output pulse width adjustment are also possible.
以下、図面をもとに本発明の実施形態を説明する。なお、すべての図面において共通する部分には同一の番号を割り当て、重複説明を避ける。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, the same number is assigned to the common part in all drawings, and duplication description is avoided.
<実施例1>
図1は本発明による実施例1の電子回路装置10Aの構成を示す図である。この電子回路装置10Aは、第1のエッジ検出回路11と、第2のエッジ検出回路12と、第1の可変遅延回路13と、第2の可変遅延回路14と、SRラッチ回路15を備える。そして、第1の可変遅延回路13の入力に第1のエッジ検出回路11の出力11aを接続し、第2の可変遅延回路14の入力に第2のエッジ検出回路12の出力12aを接続し、SRラッチ回路15のS(セット、以下同じ)入力に第1の可変遅延回路13の出力13aを接続し、SRラッチ回路15のR(リセット、以下同じ)入力に第2の可変入力回路14の出力14aを接続している。
<Example 1>
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an
第1のエッジ検出回路11は、信号入力A1のエッジ(立ち上がりもしくは立下り)を検出し、そのエッジのタイミングの情報を予め定められたパルス幅のパルス信号の出力タイミングとして、出力11aから出力する。第2のエッジ検出回路12は、信号入力A2のエッジ(立ち上がりもしくは立下り)を検出し、そのエッジのタイミングの情報を予め定められたパルス幅のパルス信号の出力タイミングとして、出力12aから出力する。
The first
第1の可変遅延回路13は、第1のエッジ検出回路11から入力された信号を、遅延量設定入力B1により設定される遅延量だけ遅延させて、出力13aからする。第2の可変遅延回路14は、第2のエッジ検出回路12から入力された信号を、遅延量設定入力B2により設定される遅延量だけ遅延させて、出力14aから出力する。
The first
SRラッチ回路15は、第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aのパルス終端側エッジを検出してセット/リセット動作を行う。ここで、第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aの終端側エッジとは、各出力13a,14aがHレベルからLレベルに変化するエッジ(立下りエッジ)のことである。SRラッチ回路15はS入力がHレベルからLレベルに変化した時にHレベルを、R入力がHレベルからLレベルに変化した時にLレベルを、それぞれ出力Qから出力する。
The
図2に、この電子回路装置10AをNRZ信号用のパルス整形回路として使用する場合のタイミングチャートを示す。ただし、第1および第2のエッジ検出回路11,12は、ここでは入力A1,A2の立上りエッジを検出するものとする。また、NRZ信号用のパルス整形回路として使用する場合、信号入力A2には信号入力A1の信号を論理反転した信号を入力する。
FIG. 2 shows a timing chart when the
図2に示すように、第1および第2の可変遅延回路13,14の遅延量の設定により、SRラッチ回路15の出力Qの立ち上がりタイミングと立下りタイミングを自由に設定することができる。ここでは、第1の可変遅延回路13で遅延時間t2を、第2の可変遅延回路14で遅延時間t3を、それぞれ設定している。t1は入力A1,A2の信号の時間差である。
As shown in FIG. 2, the rising timing and falling timing of the output Q of the
なお、以上の機能は、第1のエッジ検出回路11と第1の可変遅延回路13の配置を入れ替え、さらに、第2のエッジ検出回路12と第2の可変遅延回路14の配置を入れ替えた構成でも実現可能であるが、そのような構成では以下のような問題が有る。
The above function is a configuration in which the arrangement of the first
図3に、第1および第2のエッジ検出回路11,12を第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aに接続し、第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aをSRラッチ回路15のS入力、R入力に接続した電子回路装置10Bを示す。また、図4Aおよび図4Bに、これをNRZ信号用のパルス整形回路として使用する場合のタイミングチャートを示す。
In FIG. 3, the first and second
信号入力A1およびその論理反転信号である信号入力A2の最小パルス幅が十分に大きい時には、図4Aに示すように、第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aの信号の論理振幅(通常の電子回路装置では、電圧振幅)の部分的な減少等の信号劣化がほとんど発生しないため、SRラッチ回路15へ入力される信号は、図2の場合と同様な信号となる。
When the minimum pulse width of the signal input A1 and the signal input A2 which is the logical inversion signal thereof is sufficiently large, as shown in FIG. 4A, the signals of the
しかし、信号入力A1およびその論理反転信号である信号入力A2の最小パルス幅がある程度まで小さくなると、図4B(図4Aとは時間軸のスケールを拡大させている。)に示すように、第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aの信号の論理振幅の部分的な減少が発生し、その結果、SRラッチ回路15へ入力される第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aの信号の立下りのタイミングが、図2の場合と異なってくる。なお、図4Bの破線は正規な場合の波形を示す。
However, when the minimum pulse width of the signal input A1 and the signal input A2 that is the logical inversion signal thereof is reduced to some extent, as shown in FIG. 4B (the scale of the time axis is expanded from that in FIG. 4A), the first The first and second
その結果、SRラッチ回路15の出力Qの立ち上がりタイミングと立下りタイミングも図2の場合と異なるものとなる。このタイミングのずれの大きさは、図4Bに示しているように、一定の大きさにはならない。従って、SRラッチ回路15の出力Qのパルス幅が設定通りにならない。なお、このSRラッチ回路15の出力Qのようなタイミングずれを一般的にジッタ(位相ノイズ)と呼んでいる。
As a result, the rising timing and falling timing of the output Q of the
一方、図1の電子回路装置10AをNRZ信号用のパルス整形回路として使用し、図4Bと同様な信号入力を入力した場合のタイミングチャートを図5(図2とは時間軸のスケールを拡大している。)に示す。第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aのパルス幅は入力信号(A1およびA2)のパルス幅に依存しない。
On the other hand, when the
図5に示すように、第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aの信号の論理振幅が減少する場合はあるが、すべてのパルスで同様に論理振幅が減少し、その結果、SRラッチ回路15の出力Qのパルス幅は設定した値とほぼ同じ値となる。つまりSRラッチ回路15の出力Qのジッタは図4Bの場合より小さくなる。
As shown in FIG. 5, there are cases where the logical amplitude of the
以上から、実施例1の電子回路装置10AによればNRZ信号用のパルス整形回路を実現することが可能であり、パルス整形回路の出力ジッタを低減することも可能である。また、図2および図5のタイミングチャートに示すように、第1の可変遅延回路13の遅延量の設定値t2と第2の可変遅延回路14の遅延量の設定値t3の差を保ったまま、両方の設定値t2,t3を変化させることにより、図1の電子回路装置10Aを可変遅延回路として使用することが可能である。
From the above, according to the
<実施例2>
図6は、本発明による実施例2の電子回路装置10Cの構成を示す図である。この電子回路装置10Cは、第1のエッジ検出回路11と、第2のエッジ検出回路12と、第1の可変遅延回路13と、第2の可変遅延回路14と、第3のエッジ検出回路16と、第2のエッジ検出回路17と、SRラッチ回路15’を備える。そして、第1の可変遅延回路13の入力に記第1のエッジ検出回路11の出力11aを接続し、第2の可変遅延回路14の入力に第2のエッジ検出回路12の出力12aを接続し、第1の可変遅延回路13の出力13aに第3のエッジ検出回路16の入力を接続し、第2の可変遅延回路14の出力14aに第4のエッジ検出回路17の入力を接続し、SRラッチ回路15’のS入力に第3のエッジ検出回路16の出力16aを接続し、SRラッチ回路15’のR入力に第4のエッジ検出回路17の出力17aを接続している。
<Example 2>
FIG. 6 is a diagram showing a configuration of an
SRラッチ回路15’は実施例1の電子回路装置10Aにおけるものと異なり、第1および第2のエッジ検出回路16,17の出力16a,17aのパルス始端側側エッジを検出してセット/リセット動作を行う。ここで、出力16a,17aの始端側側エッジとは、各出力16a,17aがLレベルからHレベルに変化するエッジ(立上りエッジ)のことである。SRラッチ回路15’はS入力がLレベルからHレベルに変化した時にHレベルを、R入力がLレベルからHレベルに変化した時にLレベルを、それぞれ出力Qから出力する。
The SR latch circuit 15 'is different from that in the
第3のエッジ検出回路16は、第1の可変遅延回路13の出力13aの終端側エッジを検出し、そのエッジのタイミングの情報を予め定められたパルス幅のパルス信号の出力タイミングとして、出力16aから出力する。第4のエッジ検出回路17は、第2の可変遅延回路14の出力14aの終端側エッジを検出し、そのエッジのタイミングの情報を予め定められたパルス幅のパルス信号の出力タイミングとして、出力17aから出力する。
The third
図7に、この電子回路装置10CをNRZ信号用のパルス整形回路として使用する場合のタイミングチャートを示す。NRZ信号用のパルス整形回路として使用する場合、信号入力A2には信号入力A1の信号を論理反転した信号を入力する。
FIG. 7 shows a timing chart when the
図7に示すように、第1および第2の可変遅延回路13,14の遅延量の設定により、SRラッチ回路15’の出力Qの立ち上がりタイミングと立下りタイミングを自由に設定することができる。また、第1および第2の可変遅延回路13,14の入力に第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aを接続する構成としていることにより、図1の電子回路装置10Aと同様に、SRラッチ回路15’の出力Qのジッタを低減することが可能である。
As shown in FIG. 7, the rising timing and falling timing of the output Q of the
なお、この図6の電子回路装置10Cを図1の電子回路装置10Aと比較した場合、図6の電子回路装置10Cは、第3および第4のエッジ検出回路16,17が搭載されていることにより、以下の利点がある。通常、SRラッチ回路は、S入力とR入力に同時にHレベルの信号が入力されると正常な動作ができないという問題が有る。従って、SRラッチ回路に入力されるパルスの幅はできるだけ小さい方が良い。このため、図1の電子回路装置10Aにおいては、第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aのパルス幅を入力パルスの最小パルス幅よりも小さくすることが好ましい。
When the
しかし、図1の電子回路装置10Aにおいては、第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aのパルス幅を極端に小さくすると、第1および第2の可変遅延回路13,14を介することにより、SRラッチ回路15に入力されるパルスの論理振幅が極端に小さくなり、そのために、SRラッチ回路15が正常動作できなくなる場合が有る。
However, in the
一方、図6の電子回路装置10Cにおいては、第3および第4のエッジ検出回路16,17とSRラッチ回路15’の間には可変遅延回路が挿入されていないため、第3のおよび第4のエッジ検出回路16,17の出力16a,17aのパルス幅を図1の電子回路装置10Aにおける第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aのパルス幅より小さくすることができる。つまり、SRラッチ回路15’に入力されるパルスの幅をより小さく(入力最小パルス幅より小さく)することが可能である。なお、SRラッチ回路15’に入力されるパルスの幅をより小さくできるということは、SRラッチ回路15’に入力されるS入力とR入力のタイミングの差の最小値、すなわち、SRラッチ回路15’の出力Qの出力パルスのパルス幅の最小値をより小さくできるということである。
On the other hand, in the
以上から、実施例2の電子回路装置10Cによれば、NRZ信号用のパルス整形回路を実現することが可能であり、パルス整形回路の出力ジッタを低減することも可能である。また、パルス整形回路の出力パルスのパルス幅の最小値の制限を緩和することが可能である。さらに、図7のタイミングチャートに示すように、第1の可変遅延回路13の遅延量の設定値t2と第2の可変遅延回路14の遅延量の設定値t3の差を保ったまま、両方の設定値を変化させることにより、この電子回路装置10Cを可変遅延回路として使用することが可能である。
As described above, according to the
図8は、本発明の実施例1,2の電子回路装置10A,10Cに適用可能なエッジ検出回路11,12,16,17の構成例を示すブロック図である。図8(a)は立上りエッジ検出用のエッジ検出回路30Aであり、インバータ31、遅延回路32およびAND回路33で構成されている。また、図8(b)は立下りエッジ検出用のエッジ検出回路30Bであり、インバータ34、遅延回路35およびAND回路36で構成されている。これらのエッジ検出回路30A,30Bの出力パルスのパルス幅は、遅延回路32,35の遅延量により決定される。これらのエッジ検出回路30A,30Bを使用する場合、入力される信号の最小パルス幅をT秒とすると、遅延回路32,35の遅延量をT秒より小さくする必要がある。なお、高速信号の場合、入力される信号の最小パルス幅は100ps以下となる場合がある。
FIG. 8 is a block diagram showing a configuration example of the
図9は、本発明の実施例1,2の電子回路装置10A,10Cに適用可能な可変遅延回路13,14の構成例を示す図である。図9(a)は異なった遅延時間が設定できるようにした可変遅延回路40Aであり、異なる遅延時間が設定された遅延回路41,42および信号選択回路33で構成されている。また、図9(b)は所定量遅延させるか遅延させないかを選択できるようにした可変遅延回路40Bであり、遅延回路44および信号選択回路45で構成されている。なお、これらの遅延回路を複数個縦列接続して、任意の遅延回路出力を選択可能にしたものを可変遅延回路として使用することも可能である。
FIG. 9 is a diagram illustrating a configuration example of the
<実施例3>
ところで、ここまでの説明では、第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aのジッタが考慮されていない。すなわち、第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aの終端側エッジのジッタが無視できるくらい小さい場合は、以上に説明したような効果が得られる。
<Example 3>
By the way, in the description so far, the jitters of the
しかし、第1および第2のエッジ検出回路11,12を、例えば図8のようなエッジ検出回路30Aで構成した場合、エッジ検出回路30Aの出力の終端側エッジのジッタは始端側エッジのジッタよりも大きくなる。その理由は、遅延回路32を通ってAND回路33に入力される信号のジッタが、遅延回路32を通らずにAND回路33に入力される信号のジッタより大きくなるためである。
However, when the first and second
従って、第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aのジッタ特性によっては、第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aの終端側エッジでSRラッチ回路15(もしくは第3および第4のエッジ検出回路16,17)を動作させずに、第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aの始端側エッジでSRラッチ回路15(もしくは第3および第4のエッジ検出回路16,17)を動作させた方が、SRラッチ回路15の出力Qのジッタが小さくなる場合もある。
Therefore, depending on the jitter characteristics of the
この点を考慮すると、第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aの終端側エッジか始端側エッジかどちらかを選択して、SRラッチ回路15(もしくは第3および第4のエッジ検出回路16,17)を動作させる回路を追加することにより、電子回路装置の製造後に、よりジッタの小さい条件を選択して使用することが可能となる。
In consideration of this point, the SR latch circuit 15 (or the third and fourth) is selected by selecting either the termination side edge or the start side edge of the
この選択を行う回路を追加した電子回路装置10Dの構成は、例えば、図10のような構成となる。図10において、18,19はインバータ、20,21は信号選択回路である。インバータ18と信号選択回路20は第1の極性切替回路を構成し、インバータ19と信号選択回路21は第2の極性切替回路を構成する。
The configuration of the
図11に、インバータ18,19の出力をSRラッチ回路15に入力するように選択設定入力C1およびC2を入力した場合の具体的な動作例を示す(電子回路装置10Dが実施例1の電子回路装置10Aと同様に動作する場合の例である)。第1の可変遅延回路13の出力13aがLレベルからHレベルに変化した時に、SRラッチ回路15のS入力がHレベルからLレベルに変化するので、その時点でSRラッチ回路15の出力QはHレベルを出力する。一方、第2の可変遅延回路14の出力14aがLレベルからHレベルに変化した時に、SRラッチ回路15のR入力がHレベルからLレベルに変化するので、その時点でSRラッチ回路15の出力QはLレベルを出力する。
FIG. 11 shows a specific operation example when the selection setting inputs C1 and C2 are input so that the outputs of the
<実施例4>
図12は図10の電子回路装置10Dと同等な電子回路装置10Eを異なる構成で構成したもうひとつの例である。ここでは、第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aと、第1および第2の可変遅延回路13,14の入力との間に、インバータ18,19、信号選択回路20,21からなる回路を挿入している。インバータ18と信号選択回路20は第1の極性切替回路を構成し、インバータ19と信号選択回路21は第2の極性切替回路を構成する。
<Example 4>
FIG. 12 shows another example in which an
図13に、インバータ18,19の出力を可変遅延回路13,14に入力するように選択設定入力C1およびC2を入力した場合の具体的な動作例を示す。エッジ検出回路11の出力11aがLレベルからHレベルに変化した時に、信号選択回路20の出力20aがHレベルからLレベルに変化し、遅延時間の経過後に可変遅延回路13の出力13aがHレベルからLレベルに変化すると、その時点でSRラッチ回路15の出力QはHレベルを出力する。一方、エッジ検出回路11の出力12aがLレベルからHレベルに変化した時に、信号選択回路21の出力21aがHレベルからLレベルに変化し、遅延時間の経過後に可変遅延回路14の出力14aがHレベルからLレベルに変化すると、その時点でSRラッチ回路15の出力QはLレベルを出力する。
FIG. 13 shows a specific operation example when the selection setting inputs C1 and C2 are input so that the outputs of the
<実施例5>
図14は第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aの終端側エッジか始端側エッジかどちらかを選択して、第3および第4のエッジ検出回路16,17を動作させる回路を追加した場合の電子回路装置10Fの構成例である。ここでは、第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aと、第3および第4のエッジ検出回路16,17の入力との間に、インバータ18,19、信号選択回路20,21からなる回路を挿入している。インバータ18と信号選択回路20は第1の極性切替回路を構成し、インバータ19と信号選択回路21は第2の極性切替回路を構成する。
<Example 5>
FIG. 14 operates the third and fourth
図15に、電子回路装置10Fのインバータ18,19の出力を第3および第4のエッジ検出回路16,17に入力するように選択設定入力C1およびC2を入力した場合の具体的な動作例を示す(電子回路装置10Eが実施例2の電子回路装置10Cと同様に動作する場合の例である)。第1の可変遅延回路13の出力13aがLレベルからHレベルの変化した時に、第3のエッジ検出回路16の入力がHレベルからLレベルに変化するので、そのタイミングで第3のエッジ検出回路16がパルスを出力する。同様に第2の可変遅延回路14の出力14aがLレベルからHレベルの変化した時に、第4のエッジ検出回路17の入力がHレベルからLレベルに変化するので、そのタイミングで第4のエッジ検出回路17がパルスを出力する。
FIG. 15 shows a specific operation example when selection setting inputs C1 and C2 are input so that the outputs of the
図16はエッジ検出回路30Cを示す図であり、図8に示した立上り用のエッジ検出回路30Aの出力と立下り用のエッジ検出回路30Bの出力を信号選択回路37で選択可能としたものである。このエッジ検出回路30Cを、図6の電子回路装置10C内の第3および第4のエッジ検出回路16,17とそれぞれ置き換えて構成すると、図14の電子回路装置10Fと同等な回路を構成され、同等に動作する。
FIG. 16 is a diagram showing an
<実施例6>
図17は図14の電子回路装置10Eと同等な電子回路装置10Gを異なる構成で構成したもうひとつの例である。ここでは、第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aと、第1および第2の可変遅延回路13,14の入力との間に、インバータ18,19、信号選択回路20,21からなる回路を挿入している。インバータ18と信号選択回路20は第1の極性切替回路を構成し、インバータ19と信号選択回路21は第2の極性切替回路を構成する。
<Example 6>
FIG. 17 shows another example in which an
図18に、図17の電子回路装置10Gにおいて、インバータ17,18の出力を第1および第2の可変遅延回路13,14に入力するように選択設定入力C1およびC2を入力した場合の具体的な動作例を示す(電子回路装置10Fが実施例2の電子回路装置10Cと同様に動作する場合の例である)。第1のエッジ検出回路11の出力11aがLレベルからHレベルの変化した時に、第1の可変遅延回路13の出力13aがHレベルからLレベルに変化する。同様に第2のエッジ検出回路12の出力14aがLレベルからHレベルの変化した時に、第2の可変遅延回路14の出力14aがHレベルからLレベルに変化する。
FIG. 18 shows a specific example of the case where the selection setting inputs C1 and C2 are input so that the outputs of the
以上に説明したように、実施例5,6の電子回路装置10F,10Gでは、第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aのジッタを考慮すると、パルスの終端側エッジか始端側エッジかどちらかを選択してSRラッチ回路15(もしくは第3および第4のエッジ検出回路16,17)を動作させる回路を追加することにより、電子回路装置の製造後に、よりジッタの小さい条件を選択して使用することが可能となる。
As described above, in the
ただし、パルスの終端側エッジのジッタが始端側エッジより小さくなるようなことが起こらないのであれば、このような選択を行うための回路は不要となるので、パルスの終端側エッジのジッタが始端側エッジより小さくなる例の説明を追加する。 However, if the jitter at the end edge of the pulse does not become smaller than that at the start edge, a circuit for making such a selection is not necessary, so the jitter at the end edge of the pulse is not A description of an example that becomes smaller than the side edge is added.
実施例1の電子回路装置10Aが、図5のタイミシグチャートのような動作となる場合の第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aにおけるジッタを検討する。図5のタイミングチャートでは、第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aの波形を直線で近似しているが、実際の波形は図19のような波形となる。すなわち、立ち上がり/立下りともに、先頭部の傾き(の絶対値)が最も大きく、後方にゆくに従って徐々に傾き(の絶対値)が小さくなる。また、可変遅延回路13,14の特性によっては、理想的なLレベルまで戻るためにはかなり長い時間を要する場合がある。この理想的なLレベルまで戻るまでの時間をTfとする(図19(a))と、パルスの間隔がTfより小さい場合、理想的なLレベルまで戻る前に次のパルスが立ち上がることになる。
Consider the jitter at the
このように、パルス間隔が短い場合の波形と間隔が長い場合の波形を比較すると、パルスが立ち上がり始める時点での出力電圧(電位)が異なり、その電位差の分だけ波形がずれることになる。この波形のずれによるジッタは論理判定閾値における波形の傾き(の絶対値)にほぼ反比例する。 As described above, when the waveform when the pulse interval is short is compared with the waveform when the pulse interval is long, the output voltage (potential) when the pulse starts to rise is different, and the waveform is shifted by the potential difference. The jitter due to this waveform shift is almost inversely proportional to the slope (absolute value) of the waveform at the logic judgment threshold.
また、論理判定閾値における波形の傾きを、パルスの立ち上がりと立下りで比較した場合、立ち上がり先頭部の傾きと立下り先頭部の傾きの絶対値が同じだとすると、立下りの方が短時間で論理判定閾値に達するので、論理判定閾値における立下りの傾き(の絶対値)は立ちあがりの傾き(の絶対値)より大きくなる(図19(b)参照)。 In addition, when comparing the slope of the waveform at the logic judgment threshold at the rise and fall of the pulse, if the absolute value of the slope of the leading edge of the rising edge and the slope of the leading edge of the falling edge is the same, the falling edge is logical in a shorter time. Since the determination threshold is reached, the falling slope (absolute value) in the logical determination threshold is larger than the rising slope (absolute value) (see FIG. 19B).
従って、電子回路装置の特性が、以上の説明の前提条件をほぼ満たしている場合、論理判定閾値におけるパルスの立下りの傾き(の絶対値)が、立ち上がりの傾き(の絶対値)より大きくなり、その傾き(の絶対値)にほぼ反比例するジッタは、パルスの立下りの方が立ち上がりより小さくなるのである。 Therefore, when the characteristics of the electronic circuit device substantially satisfy the preconditions described above, the slope (absolute value) of the pulse fall at the logic determination threshold value is larger than the slope (absolute value) of the rise. The jitter that is almost inversely proportional to the slope (the absolute value thereof) is such that the falling edge of the pulse is smaller than the rising edge.
<他の実施例>
なお、以上に説明した電子回路装置10A,10C,10D,10E,10F,10Gにおいて、第1の可変遅延回路13もしくは第2の可変遅延回路14を削除して、該削除部分を短絡した構成でも同様な効果が得られる。また、電子回路装置10C,10D,10Fにおいて、第1のエッジ検出回路11と第1の可変遅延回路13もしくは第2のエッジ検出回路12と第2の可変遅延回路14を削除して、該削除部分を短絡した構成でも同様な効果が得られる。さらに、RZ信号等を入力する場合には、信号入力A2に信号入力A1と同じ信号を入力して使用することが可能である。
<Other embodiments>
In the
10A,10B,10C,10D,10E,10F、10G:電子回路装置、11,12:エッジ検出回路、13,14:可変遅延回路、15:SRラッチ回路、16,17:エッジ検出回路、18,19:インバータ、20,21:信号選択回路
30A,30B、30C:エッジ検出回路、31:インバータ、32:遅延回路、33:AND回路、34:インバータ、35:遅延回路、36:AND回路、37:信号選択回路
40A,40B:可変遅延回路、41,42:遅延回路、43:信号選択回路、44:遅延回路、45:信号選択回路
50:電子回路装置、51:エッジ検出回路、52:可変遅延回路、53:OR回路、54:SRラッチ回路
10A, 10B, 10C, 10D, 10E, 10F, 10G: electronic circuit device, 11, 12: edge detection circuit, 13, 14: variable delay circuit, 15: SR latch circuit, 16, 17: edge detection circuit, 18, 19: inverter, 20, 21:
Claims (12)
前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第1の可変遅延回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第2の可変遅延回路の出力を接続し、
前記SRラッチ回路が、前記第1および第2の可変遅延回路の出力のパルス終端側エッジを検出してセット/リセット動作を行うようにしたことを特徴とする電子回路装置。 An SR latch circuit; first and second variable delay circuits; and first and second edge detection circuits;
The SR latch circuit connects the output of the first edge detection circuit to the input of the first variable delay circuit, connects the output of the second edge detection circuit to the input of the second variable delay circuit, and An output of the first variable delay circuit is connected to an S input of the second latch circuit, an output of the second variable delay circuit is connected to an R input of the SR latch circuit,
An electronic circuit device, wherein the SR latch circuit detects a pulse termination side edge of the outputs of the first and second variable delay circuits and performs a set / reset operation.
前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力に前記第3のエッジ検出回路の入力を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力に前記第4のエッジ検出回路の入力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第3のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第4のエッジ検出回路の出力を接続し、
前記第3エッジ検出回路が前記第1の可変遅延回路の出力のパルス終端側エッジを検出してパルスを出力し、前記第4エッジ検出回路が前記第2の可変遅延回路の出力のパルス終端側エッジを検出してパルスを出力するようにしたことを特徴とする電子回路装置。 An SR latch circuit; first and second variable delay circuits; and first, second, third and fourth edge detection circuits,
The output of the first edge detection circuit is connected to the input of the first variable delay circuit, the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second variable delay circuit, and the first The input of the third edge detection circuit is connected to the output of the variable delay circuit, the input of the fourth edge detection circuit is connected to the output of the second variable delay circuit, and the S input of the SR latch circuit. Connecting the output of the third edge detection circuit, connecting the output of the fourth edge detection circuit to the R input of the SR latch circuit;
The third edge detection circuit detects a pulse termination side edge of the output of the first variable delay circuit and outputs a pulse, and the fourth edge detection circuit outputs a pulse termination side of the output of the second variable delay circuit An electronic circuit device characterized in that an edge is detected and a pulse is output.
前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力に前記第1の極性切替回路を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力に前記第2の極性切替回路を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第1の極性切替回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第2の極性切替回路の出力を接続したことを特徴とする電子回路装置。 An SR latch circuit; first and second variable delay circuits; first and second edge detection circuits; and first and second polarity switching circuits;
The output of the first edge detection circuit is connected to the input of the first variable delay circuit, the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second variable delay circuit, and the first The first polarity switching circuit is connected to the output of the variable delay circuit, the second polarity switching circuit is connected to the output of the second variable delay circuit, and the first input to the S input of the SR latch circuit. An electronic circuit device comprising: an output of a polarity switching circuit connected; and an output of the second polarity switching circuit connected to an R input of the SR latch circuit.
前記第1の極性切替回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の極性切替回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の極性切替回路の出力に前記第1の可変遅延回路の入力を接続し、前記第2の極性切替回路の出力に前記第2の可変遅延回路の入力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力に前記SRラッチ回路のS入力を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力に前記SRラッチ回路のR入力を接続したことを特徴とする電子回路装置。 An SR latch circuit; first and second variable delay circuits; first and second edge detection circuits; and first and second polarity switching circuits;
The output of the first edge detection circuit is connected to the input of the first polarity switching circuit, the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second polarity switching circuit, and the first The input of the first variable delay circuit is connected to the output of the polarity switching circuit, the input of the second variable delay circuit is connected to the output of the second polarity switching circuit, and the output of the first variable delay circuit An electronic circuit device comprising: an S input of the SR latch circuit connected to an output; and an R input of the SR latch circuit connected to an output of the second variable delay circuit.
前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力に前記第1の極性切替回路の入力を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力に前記第2の極性切替回路の入力を接続し、前記第1の極性切替回路の出力に前記第3のエッジ検出回路の入力を接続し、前記第2の極性切替回路の出力を前記第4のエッジ検出回路の入力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第3のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第4のエッジ検出回路の出力を接続したことを特徴とする電子回路装置。 An SR latch circuit; first and second variable delay circuits; first, second, third and fourth edge detection circuits; and first and second polarity switching circuits;
The output of the first edge detection circuit is connected to the input of the first variable delay circuit, the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second variable delay circuit, and the first The input of the first polarity switching circuit is connected to the output of the variable delay circuit, the input of the second polarity switching circuit is connected to the output of the second variable delay circuit, and the output of the first polarity switching circuit The output of the third edge detection circuit is connected to the output, the output of the second polarity switching circuit is connected to the input of the fourth edge detection circuit, and the third input is connected to the S input of the SR latch circuit. An electronic circuit device comprising: an output of an edge detection circuit connected; and an output of the fourth edge detection circuit connected to an R input of the SR latch circuit.
前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力に前記第3のエッジ検出回路の入力を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力に前記第4のエッジ検出回路の入力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第3のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第4のエッジ検出回路の出力を接続し、
前記第3エッジ検出回路が前記第1の可変遅延回路の出力のパルス終端側エッジ又はパルス始端側側エッジを検出してパルスを出力するよう切替可能であり、前記第4エッジ検出回路が前記第2の可変遅延回路の出力のパルス終端側エッジ又はパルス始端側側エッジを検出してパルスを出力するよう切替可能であることを特徴とする電子回路装置。 An SR latch circuit; first and second variable delay circuits; and first, second, third and fourth edge detection circuits,
The output of the first edge detection circuit is connected to the input of the first variable delay circuit, the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second variable delay circuit, and the first The input of the third edge detection circuit is connected to the output of the variable delay circuit, the input of the fourth edge detection circuit is connected to the output of the second variable delay circuit, and the S input of the SR latch circuit. Connecting the output of the third edge detection circuit, connecting the output of the fourth edge detection circuit to the R input of the SR latch circuit;
The third edge detection circuit is switchable to detect a pulse termination side edge or a pulse start side edge of the output of the first variable delay circuit and output a pulse, and the fourth edge detection circuit is configured to output the pulse. 2. An electronic circuit device capable of being switched to output a pulse upon detecting a pulse end side edge or a pulse start side edge of the output of the two variable delay circuits.
前記第1の極性切替回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の極性切替回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の極性切替回路の出力に前記第1の可変遅延回路の入力を接続し、前記第2の極性切替回路の出力に前記第2の可変遅延回路の入力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力に前記第3のエッジ検出回路の入力を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力に前記第4のエッジ検出回路の入力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第3のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第4のエッジ検出回路の出力を接続したことを特徴とする電子回路装置。 An SR latch circuit; first and second variable delay circuits; first, second, third and fourth edge detection circuits; and first and second polarity switching circuits;
The output of the first edge detection circuit is connected to the input of the first polarity switching circuit, the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second polarity switching circuit, and the first The input of the first variable delay circuit is connected to the output of the polarity switching circuit, the input of the second variable delay circuit is connected to the output of the second polarity switching circuit, and the output of the first variable delay circuit The input of the third edge detection circuit is connected to the output, the input of the fourth edge detection circuit is connected to the output of the second variable delay circuit, and the third input is connected to the S input of the SR latch circuit. An electronic circuit device comprising: an output of an edge detection circuit connected; and an output of the fourth edge detection circuit connected to an R input of the SR latch circuit.
前記第1および第2の可変遅延回路の一方を削除し、該削除部分を短絡したことを特徴とする電子回路装置。 The electronic circuit device according to any one of claims 1 to 7,
One of the first and second variable delay circuits is deleted, and the deleted portion is short-circuited.
前記第1のエッジ検出回路に入力する信号を論理反転した信号を前記第2のエッジ検出回路の入力に入力することを特徴とする電子回路装置。 The electronic circuit device according to any one of claims 1 to 8,
An electronic circuit device, wherein a signal obtained by logically inverting a signal input to the first edge detection circuit is input to an input of the second edge detection circuit.
前記第1のエッジ検出回路と前記第1の可変遅延回路または前記第2のエッジ検出回路と前記第2の可変遅延回路を削除し、該削除部分を短絡したことを特徴とする電子回路装置。 The electronic circuit device according to claim 2, 3, 5 or 6,
An electronic circuit device, wherein the first edge detection circuit and the first variable delay circuit or the second edge detection circuit and the second variable delay circuit are deleted, and the deleted portion is short-circuited.
前記第1および第2のエッジ検出回路が、前記第1および第2のエッジ検出回路に入力される信号の最小パルス幅よりも小さなパルス幅の信号を出力することを特徴とする電子回路装置。 The electronic circuit device according to claim 1, 3 or 4,
The electronic circuit device, wherein the first and second edge detection circuits output a signal having a pulse width smaller than a minimum pulse width of a signal input to the first and second edge detection circuits.
前記第3および第4のエッジ検出回路が、前記第3および第4のエッジ検出回路に入力される信号の最小パルス幅よりも小さなパルス幅の信号を出力することを特徴とする電子回路装置。 The electronic circuit device according to claim 2, 5, 6, or 7,
The electronic circuit device, wherein the third and fourth edge detection circuits output a signal having a pulse width smaller than a minimum pulse width of a signal input to the third and fourth edge detection circuits.
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