[go: up one dir, main page]

JP2008042501A - Electronic circuit equipment - Google Patents

Electronic circuit equipment Download PDF

Info

Publication number
JP2008042501A
JP2008042501A JP2006213815A JP2006213815A JP2008042501A JP 2008042501 A JP2008042501 A JP 2008042501A JP 2006213815 A JP2006213815 A JP 2006213815A JP 2006213815 A JP2006213815 A JP 2006213815A JP 2008042501 A JP2008042501 A JP 2008042501A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
input
edge detection
output
variable delay
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006213815A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomoaki Kawamura
智明 川村
Yusuke Otomo
祐輔 大友
Jun Terada
純 寺田
Minoru Togashi
稔 富樫
Kazuyoshi Nishimura
和好 西村
Atsuyuki Honda
篤幸 本多
Sanehiro Toyoda
修弘 豊田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTT Electronics Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
NTT Electronics Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NTT Electronics Corp, Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical NTT Electronics Corp
Priority to JP2006213815A priority Critical patent/JP2008042501A/en
Publication of JP2008042501A publication Critical patent/JP2008042501A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Pulse Circuits (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

【課題】パルス幅を意図的に変化させるNRZ等の信号の伝送において、パルス幅のバラツキの低減を図り、さらにジッタの低減も図った電子回路装置を提供する。
【解決手段】2個のエッジ検出回路11,12と、2個の可変遅延回路13,14と、SRラッチ回路15とを備え、可変遅延回路13,14のそれぞれの入力にエッジ検出回路11,12の出力を接続し、SRラッチ回路のS入力およびR入力それぞれに可変遅延回路13,14の出力を接続する。
【選択図】図1
The present invention provides an electronic circuit device capable of reducing variations in pulse width and further reducing jitter in transmission of a signal such as NRZ that intentionally changes the pulse width.
Two edge detection circuits (11, 12), two variable delay circuits (13, 14), and an SR latch circuit (15) are provided. 12 outputs are connected, and the outputs of the variable delay circuits 13, 14 are connected to the S input and R input of the SR latch circuit, respectively.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、高速信号の生成もしくは信号波形整形等を行う電子回路装置に関するものである。   The present invention relates to an electronic circuit device that performs high-speed signal generation or signal waveform shaping.

パルス信号を用いた電子回路において、異なる複数の伝送系において同一のパルス信号を伝送するとき、その信号間に発生する位相または時間の期待値からのずれであるスキューを合せるために、可変遅延回路を介して伝送する必要が発生する場合がある。この可変遅延回路は、多段のインバータやゲート素子により構成することができるが、そのような構成の場合、多段回路を通過したパルスの幅が各素子のバラツキにより広がったり狭まったりして一定しない場合が有る。   In an electronic circuit using a pulse signal, when transmitting the same pulse signal in a plurality of different transmission systems, a variable delay circuit is used to adjust a skew that is a deviation from an expected value of phase or time generated between the signals. May need to be transmitted over the network. This variable delay circuit can be composed of multi-stage inverters and gate elements, but in such a case, the width of the pulse that has passed through the multi-stage circuit is not constant because it spreads or narrows due to variations in each element. There is.

この問題を解決する方法として、入力パルスのパルス幅に依存しない任意のパルス幅の生成を行うパルス整形回路が提案されている(例えば、特許文献1参照)。図10は、そのパルス整形回路40の構成を簡略化して示したものである。この回路は、立下りエッジを検出するエッジ検出回路41、可変遅延回路42、OR回路43、およびSR(セット・リセット型、以下)ラッチ回路44から構成される。   As a method for solving this problem, a pulse shaping circuit that generates an arbitrary pulse width independent of the pulse width of an input pulse has been proposed (for example, see Patent Document 1). FIG. 10 shows a simplified configuration of the pulse shaping circuit 40. This circuit includes an edge detection circuit 41 that detects a falling edge, a variable delay circuit 42, an OR circuit 43, and an SR (set / reset type, hereinafter) latch circuit 44.

このパルス整形回路40では、入力信号の立下り対応してエッジ検出回路41の出力がハイレベルに立ち上がるときにSRラッチ回路44がセットされ、そのエッジ検出回路41の出力を可変遅延回路42で遅延した信号がハイレベルに立ち上がるときにSRラッチ回路44がリセットされることにより、入力信号が所定のパルス幅の信号に整形されてSRラッチ回路44から出力される。
特許第3653115号公報
In this pulse shaping circuit 40, the SR latch circuit 44 is set when the output of the edge detection circuit 41 rises to a high level in response to the fall of the input signal, and the output of the edge detection circuit 41 is delayed by the variable delay circuit 42. When the received signal rises to the high level, the SR latch circuit 44 is reset, so that the input signal is shaped into a signal having a predetermined pulse width and output from the SR latch circuit 44.
Japanese Patent No. 3653115

しかし、図10に示したパルス整形回路は、固定のパルス幅を有する信号(例えば、クロック信号と呼ばれる繰り返し型の単純な信号やRZ信号等)を出力する場合には使用できるが、パルス幅を意図的に変化させる信号(例えばNRZ信号)をこのパルス整形回路に入力すると、意図している信号と異なる出力となってしまうという問題がある。   However, the pulse shaping circuit shown in FIG. 10 can be used when outputting a signal having a fixed pulse width (for example, a repetitive simple signal called a clock signal or an RZ signal). When a signal that is intentionally changed (for example, an NRZ signal) is input to the pulse shaping circuit, there is a problem that the output is different from the intended signal.

本発明の目的は、パルス幅を意図的に変化させる信号(例えばNRZ信号)の伝送においても、パルス幅のバラツキの低減を図り、さらにこれによりジッタ(位相ノイズ)の低減も図った電子回路装置を提供することである。   An object of the present invention is to reduce the variation in pulse width even in transmission of a signal (for example, an NRZ signal) that intentionally changes the pulse width, and to thereby reduce jitter (phase noise). Is to provide.

上記目的を達成するために、請求項1にかかる発明の電子回路装置は、SRラッチ回路と、第1および第2の可変遅延回路と、第1および第2のエッジ検出回路を備え、前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第1の可変遅延回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第2の可変入力回路の出力を接続したことを特徴とす。
請求項2にかかる発明は、SRラッチ回路と、第1および第2の可変遅延回路と、第1、第2、第3および第4のエッジ検出回路を備え、前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力を前記第3のエッジ検出回路の入力を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力を前記第4のエッジ検出回路の入力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第3のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第4のエッジ検出回路の出力を接続したことを特徴とする。
請求項3にかかる発明は、請求項1又は2に記載の電子回路装置において、前記第1および第2の可変遅延回路の一方を削除し、該削除部分を短絡したことを特徴とする。
請求項4にかかる発明は、請求項1、2又は3に記載の電子回路装置において、前記第1のエッジ検出回路に入力する信号を論理反転した信号を前記第2のエッジ検出回路の入力に入力することを特徴とする。
請求項5にかかる発明は、請求項2又は4に記載の電子回路装置において、前記第1のエッジ検出回路と前記第1の可変遅延回路または前記第2のエッジ検出回路と前記第2の可変遅延回路を削除し、該削除部分を短絡したことを特徴とする。
請求項6にかかる発明は、請求項1、2、3、4又は5に記載の電子回路装置において、前記第1および第2のエッジ検出回路が、前記第1および第2のエッジ検出回路入力される信号の最小パルス幅よりも小さなパルス幅の信号を出力することを特徴とする。
請求項7にかかる発明は、請求項2、3、4、5又は6に記載の電子回路装置において、前記第3および第4のエッジ検出回路が、前記第3および第4のエッジ検出回路に入力される信号の最小パルス幅よりも小さなパルス幅の信号を出力することを特徴とする。
To achieve the above object, an electronic circuit device according to a first aspect of the present invention includes an SR latch circuit, first and second variable delay circuits, and first and second edge detection circuits, The output of the first edge detection circuit is connected to the input of one variable delay circuit, the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second variable delay circuit, and S of the SR latch circuit The output of the first variable delay circuit is connected to the input, and the output of the second variable input circuit is connected to the R input of the SR latch circuit.
The invention according to claim 2 includes an SR latch circuit, first and second variable delay circuits, and first, second, third and fourth edge detection circuits, wherein the first variable delay circuit includes: The output of the first edge detection circuit is connected to the input, the output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second variable delay circuit, and the output of the first variable delay circuit is connected to the first variable delay circuit. The input of the third edge detection circuit, the output of the second variable delay circuit is connected to the input of the fourth edge detection circuit, and the S input of the SR latch circuit is connected to the S input of the third edge detection circuit. An output is connected, and an output of the fourth edge detection circuit is connected to an R input of the SR latch circuit.
According to a third aspect of the present invention, in the electronic circuit device according to the first or second aspect, one of the first and second variable delay circuits is deleted, and the deleted portion is short-circuited.
According to a fourth aspect of the present invention, in the electronic circuit device according to the first, second, or third aspect, a signal obtained by logically inverting a signal input to the first edge detection circuit is input to the second edge detection circuit. It is characterized by inputting.
According to a fifth aspect of the present invention, in the electronic circuit device according to the second or fourth aspect, the first edge detection circuit and the first variable delay circuit or the second edge detection circuit and the second variable The delay circuit is deleted, and the deleted portion is short-circuited.
According to a sixth aspect of the present invention, in the electronic circuit device according to the first, second, third, fourth or fifth aspect, the first and second edge detection circuit inputs are the first and second edge detection circuit inputs. A signal having a pulse width smaller than the minimum pulse width of the signal to be output is output.
The invention according to claim 7 is the electronic circuit device according to claim 2, 3, 4, 5 or 6, wherein the third and fourth edge detection circuits are replaced with the third and fourth edge detection circuits. A signal having a pulse width smaller than the minimum pulse width of the input signal is output.

本発明によれば、NRZ信号用のパルス整形回路を実現することが可能であり、パルス整形回路の出力ジッタを低減することも可能である。また、第1および第2の可変遅延回路の遅延量の差を保ったまま両方の遅延量を変化させることにより、電子回路装置を可変遅延回路として使用することが可能である。さらに、第3および第4のエッジ検出回路を使用するときは、パルス整形回路の出力パルスのパルス幅の最小値の制限を緩和することが可能である。   According to the present invention, a pulse shaping circuit for an NRZ signal can be realized, and output jitter of the pulse shaping circuit can be reduced. In addition, the electronic circuit device can be used as a variable delay circuit by changing both delay amounts while maintaining the difference between the delay amounts of the first and second variable delay circuits. Further, when the third and fourth edge detection circuits are used, it is possible to relax the limitation on the minimum value of the pulse width of the output pulse of the pulse shaping circuit.

以下、図面をもとに本発明の実施例を説明する。なお、すべての図面において共通する部分には同一の番号を割り当て、重複説明を避ける。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In addition, the same number is assigned to the common part in all drawings, and duplication description is avoided.

図1は本発明にかかる実施例1の電子回路装置10Aの構成を示す図である。この電子回路装置10Aは、第1のエッジ検出回路11と、第2のエッジ検出回路12と、第1の可変遅延回路13と、第2の可変遅延回路14と、SRラッチ回路15を備え、前記第1の可変遅延回路13の入力に前記第1のエッジ検出回路11の出力11aを接続し、前記第2の可変遅延回路14の入力に前記第2のエッジ検出回路12の出力12aを接続し、前記SRラッチ回路15のS(セット、以下同じ)入力に前記第1の可変遅延回路13の出力13aを接続し、前記SRラッチ回路15のR(リセット、以下同じ)入力に前記第2の可変遅延回路14の出力14aを接続することを特徴としている。   FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of an electronic circuit device 10A according to a first embodiment of the present invention. The electronic circuit device 10A includes a first edge detection circuit 11, a second edge detection circuit 12, a first variable delay circuit 13, a second variable delay circuit 14, and an SR latch circuit 15. The output 11a of the first edge detection circuit 11 is connected to the input of the first variable delay circuit 13, and the output 12a of the second edge detection circuit 12 is connected to the input of the second variable delay circuit 14. The output 13a of the first variable delay circuit 13 is connected to the S (set, the same hereinafter) input of the SR latch circuit 15, and the second (reset, same hereinafter) input of the SR latch circuit 15 is connected to the second input. The output 14a of the variable delay circuit 14 is connected.

第1のエッジ検出回路11は、信号入力A1のエッジ(立ち上がりもしくは立下り)を検出し、そのエッジのタイミングの情報を予め定められたパルス幅のパルス信号の出力タイミングとして、出力11aから出力する。第2のエッジ検出回路12は、信号入力A2のエッジ(立ち上がりもしくは立下り)を検出し、そのエッジのタイミングの情報を予め定められたパルス幅のパルス信号の出力タイミングとして、出力12aから出力する。   The first edge detection circuit 11 detects the edge (rising or falling) of the signal input A1, and outputs the timing information of the edge from the output 11a as the output timing of a pulse signal having a predetermined pulse width. . The second edge detection circuit 12 detects the edge (rising or falling) of the signal input A2, and outputs the timing information of the edge from the output 12a as the output timing of a pulse signal having a predetermined pulse width. .

第1の可変遅延回路13は、第1のエッジ検出回路11から入力された信号を、遅延量設定入力B1により設定される遅延量だけ遅延させて、出力13aから出力する。第2の可変遅延回路14は、第2のエッジ検出回路12から入力された信号を、遅延量設定入力B2により設定される遅延量だけ遅延させて、出力14aから出力する。   The first variable delay circuit 13 delays the signal input from the first edge detection circuit 11 by the delay amount set by the delay amount setting input B1, and outputs it from the output 13a. The second variable delay circuit 14 delays the signal input from the second edge detection circuit 12 by the delay amount set by the delay amount setting input B2, and outputs the delayed signal from the output 14a.

SRラッチ回路15は、S入力にハイレベルの信号が入力された時にハイレベルを、R入力にハイレベルの信号が入力された時にロウレベルを、出力Qからそれぞれ出力する。   The SR latch circuit 15 outputs a high level from the output Q when a high level signal is input to the S input, and a low level when a high level signal is input to the R input.

図2は、この電子回路装置10AをNRZ信号用のパルス整形回路として使用する場合のタイミングチャートである。ここでは、第1および第2のエッジ検出回路11,12が立上りエッジを検出する場合を説明する。NRZ信号用のパルス整形回路として使用する場合、信号入力A2には信号入力A1の信号を論理反転した信号を入力する。   FIG. 2 is a timing chart when the electronic circuit device 10A is used as a pulse shaping circuit for an NRZ signal. Here, a case where the first and second edge detection circuits 11 and 12 detect a rising edge will be described. When used as a pulse shaping circuit for the NRZ signal, a signal obtained by logically inverting the signal of the signal input A1 is input to the signal input A2.

図2に示すように、第1および第2の可変遅延回路13,14の遅延量の設定により、SRラッチ回路15の出力Qの立ち上がりタイミングと立下りタイミングを自由に設定することができる。ここでは、第1の可変遅延回路13で遅延時間t2を、第2の可変遅延回路14で遅延時間t3を、それぞれ設定している。t1は入力A1,A2の信号の時間差である。   As shown in FIG. 2, the rising timing and falling timing of the output Q of the SR latch circuit 15 can be freely set by setting the delay amounts of the first and second variable delay circuits 13 and 14. Here, the delay time t2 is set by the first variable delay circuit 13, and the delay time t3 is set by the second variable delay circuit 14, respectively. t1 is the time difference between the signals of the inputs A1 and A2.

なお、以上の機能は、第1のエッジ検出回路11と第1の可変遅延回路13の配置を入れ替え、さらに、第2のエッジ検出回路12と第2の可変遅延回路14の配置を入れ替えた構成でも実現可能であるが、そのような構成では以下のような問題が有る。   The above function is a configuration in which the arrangement of the first edge detection circuit 11 and the first variable delay circuit 13 is exchanged, and the arrangement of the second edge detection circuit 12 and the second variable delay circuit 14 is exchanged. However, it is feasible, but such a configuration has the following problems.

図3に、第1のエッジ検出回路11および第2のエッジ検出回路12の入力を第1の可変遅延回路13および第2の可変遅延回路14の出力13a,14aに接続し、第1のエッジ検出回路11および第2のエッジ検出回路12の出力11a,12aをSRラッチ回路15のS入力、R入力に接続した電子回路装置10Bの構成を示し、図4Aおよび図4Bに、これをNRZ信号用のパルス整形回路として使用する場合のタイミングチャートを示す。   In FIG. 3, the inputs of the first edge detection circuit 11 and the second edge detection circuit 12 are connected to the outputs 13a and 14a of the first variable delay circuit 13 and the second variable delay circuit 14, and the first edge is detected. The configuration of an electronic circuit device 10B in which the outputs 11a and 12a of the detection circuit 11 and the second edge detection circuit 12 are connected to the S input and the R input of the SR latch circuit 15 is shown. 2 is a timing chart when used as a pulse shaping circuit.

信号入力A1およびその論理反転信号である信号入力A2の最小パルス幅が十分に大きい時には、図4Aに示すように、第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aの信号の論理振幅(通常の電子回路装置では、電圧振幅)の部分的な減少等の信号劣化がほとんど発生しないため、SRラッチ回路15へ入力される信号は、図2の場合と同様な信号となる。このため、SRラッチ回路の出力Qの立ち上がりタイミングと立下りタイミングは図2の場合と同じになる。   When the minimum pulse width of the signal input A1 and the signal input A2 which is the logical inversion signal thereof is sufficiently large, as shown in FIG. 4A, the signals of the outputs 13a and 14a of the first and second variable delay circuits 13 and 14 are output. Since signal degradation such as a partial decrease in logical amplitude (or voltage amplitude in a normal electronic circuit device) hardly occurs, the signal input to the SR latch circuit 15 is the same signal as in FIG. For this reason, the rising timing and falling timing of the output Q of the SR latch circuit are the same as those in FIG.

しかし、信号入力A1およびその論理反転信号である信号入力A2の最小パルス幅がある程度まで小さくなると、図4Bに示すように、第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aの信号の論理振幅の部分的な減少が発生し、その結果、SRラッチ回路15へ入力される第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aの信号の立ち上がりのタイミングが、図2の場合と異なってくる。なお、図4Bでは正規な場合の波形を破線で示した。   However, when the minimum pulse width of the signal input A1 and the signal input A2 that is the logical inversion signal thereof is reduced to some extent, as shown in FIG. 4B, the outputs 13a and 14a of the first and second variable delay circuits 13 and 14 are output. A partial decrease in the logical amplitude of the signal occurs. As a result, the rising timing of the signals 11a and 12a of the first and second edge detection circuits 11 and 12 input to the SR latch circuit 15 is shown in FIG. It differs from the case of 2. In FIG. 4B, the waveform in the normal case is indicated by a broken line.

その結果、SRラッチ回路15の出力Qの立ち上がりタイミングと立下りタイミングも図2の場合と異なるものとなる。このタイミングのずれの大きさは、図4Bに示しているように、一定の大きさにはならない。従って、SRラッチ回路15の出力Qのパルス幅が設定通りにならない。なお、このSRラッチ回路15の出力Qのようなタイミングずれを一般的にジッタ(位相ノイズ)と呼んでいる。   As a result, the rising timing and falling timing of the output Q of the SR latch circuit 15 are also different from those in FIG. As shown in FIG. 4B, the magnitude of this timing deviation does not become a constant magnitude. Therefore, the pulse width of the output Q of the SR latch circuit 15 does not become as set. Note that a timing shift such as the output Q of the SR latch circuit 15 is generally called jitter (phase noise).

一方、図1の電子回路装置10AをNRZ信号用のパルス整形回路として使用し、図4Bと同様な信号入力を入力した場合のタイミングチャートを図5に示す。第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力11a,12aのパルス幅は入力信号(A1およびA2)のパルス幅に依存しない。   On the other hand, FIG. 5 shows a timing chart when the electronic circuit device 10A of FIG. 1 is used as a pulse shaping circuit for an NRZ signal and a signal input similar to FIG. 4B is input. The pulse widths of the outputs 11a and 12a of the first and second edge detection circuits 11 and 12 do not depend on the pulse widths of the input signals (A1 and A2).

図5に示すように、第1および第2の可変遅延回路13,14の出力13a,14aの信号の論理振幅が減少する場合はあるが、すべてのパルスで同様に論理振幅が減少し、その結果、SRラッチ回路15の出力Qのパルス幅は設定した値とほぼ同じ値となる。つまり、SRラッチ回路15の出力Qのジッタは図4Bの場合より小さくなる。   As shown in FIG. 5, there are cases where the logical amplitude of the signals 13a and 14a of the first and second variable delay circuits 13 and 14 decreases, but the logical amplitude decreases in the same manner for all pulses. As a result, the pulse width of the output Q of the SR latch circuit 15 is almost the same as the set value. That is, the jitter of the output Q of the SR latch circuit 15 is smaller than that in the case of FIG. 4B.

以上から、実施例1の電子回路装置10Aによれば、NRZ信号用のパルス整形回路を実現することが可能であり、パルス整形回路の出力ジッタを低減することも可能である。また、図2および図5のタイミングチャートに示すように、第1の可変遅延回路13の遅延量の設定値と第2の可変遅延回路14の遅延量の設定値の差を保ったまま、両方の設定値を変化させることにより、図1の電子回路装置10Aを可変遅延回路として使用することが可能である。   As described above, according to the electronic circuit device 10A of the first embodiment, it is possible to realize a pulse shaping circuit for an NRZ signal and to reduce output jitter of the pulse shaping circuit. Further, as shown in the timing charts of FIGS. 2 and 5, both while maintaining the difference between the delay amount setting value of the first variable delay circuit 13 and the delay amount setting value of the second variable delay circuit 14. It is possible to use the electronic circuit device 10A of FIG. 1 as a variable delay circuit by changing the set value.

図6は、本発明による実施例2の電子回路装置10Cの構成を示す図である。この電子回路装置10Cは、第1のエッジ検出回路11と、第2のエッジ検出回路12と、第1の可変遅延回路13と、第2の可変遅延回路14と、第3のエッジ検出回路16と、第2のエッジ検出回路17と、SRラッチ回路15を備え、前記第1の可変遅延回路13の入力に前記第1のエッジ検出回路11の出力11aを接続し、前記第2の可変遅延回路14の入力に前記第2のエッジ検出回路12の出力12aを接続し、前記第1の可変遅延回路13の出力13aに前記第3のエッジ検出回路16の入力を接続し、前記第2の可変遅延回路14の出力14aに前記第4のエッジ検出回路17の入力を接続し、前記SRラッチ回路15のS入力に前記第3のエッジ検出回路16の出力16aを接続し、前記SRラッチ回路15のR入力に前記第4のエッジ検出回路17の出力17aを接続することを特徴としている。   FIG. 6 is a diagram showing a configuration of an electronic circuit device 10C according to the second embodiment of the present invention. The electronic circuit device 10 </ b> C includes a first edge detection circuit 11, a second edge detection circuit 12, a first variable delay circuit 13, a second variable delay circuit 14, and a third edge detection circuit 16. And the second edge detection circuit 17 and the SR latch circuit 15, the output 11 a of the first edge detection circuit 11 is connected to the input of the first variable delay circuit 13, and the second variable delay The output 12a of the second edge detection circuit 12 is connected to the input of the circuit 14, the input of the third edge detection circuit 16 is connected to the output 13a of the first variable delay circuit 13, and the second The input of the fourth edge detection circuit 17 is connected to the output 14a of the variable delay circuit 14, the output 16a of the third edge detection circuit 16 is connected to the S input of the SR latch circuit 15, and the SR latch circuit 15 R inputs It is characterized by connecting the serial output 17a of the fourth edge detection circuit 17.

第1および第2のエッジ検出回路11,12、ならびにSRラッチ回路15は実施例1の電子回路装置10Aにおけるものと同じである。第3のエッジ検出回路16は、第1の可変遅延回路13の出力13aのエッジ(立ち上がりもしくは立下り)を検出し、そのエッジのタイミングの情報を予め定められたパルス幅のパルス信号の出力タイミングとして、出力16aから出力する。第4のエッジ検出回路17は、第2の可変遅延回路14の出力14aのエッジ(立ち上がりもしくは立下り)を検出し、そのエッジのタイミングの情報を予め定められたパルス幅のパルス信号の出力タイミングとして、出力17aから出力する。   The first and second edge detection circuits 11 and 12 and the SR latch circuit 15 are the same as those in the electronic circuit device 10A of the first embodiment. The third edge detection circuit 16 detects an edge (rising or falling) of the output 13a of the first variable delay circuit 13, and outputs the timing information of the edge as a pulse signal output timing having a predetermined pulse width. Is output from the output 16a. The fourth edge detection circuit 17 detects the edge (rising or falling) of the output 14a of the second variable delay circuit 14, and outputs the timing information of the edge as a pulse signal output timing having a predetermined pulse width. Is output from the output 17a.

図7は、この電子回路装置10CをNRZ信号用のパルス整形回路として使用する場合のタイミングチャートである。ここでは、第1乃至第4のエッジ検出回路11,12,16,17が立上りエッジを検出する場合を説明する。NRZ信号用のパルス整形回路として使用する場合、信号入力A2には信号入力A1の信号を論理反転した信号を入力する。   FIG. 7 is a timing chart when the electronic circuit device 10C is used as a pulse shaping circuit for an NRZ signal. Here, a case where the first to fourth edge detection circuits 11, 12, 16, and 17 detect a rising edge will be described. When used as a pulse shaping circuit for the NRZ signal, a signal obtained by logically inverting the signal of the signal input A1 is input to the signal input A2.

図7に示すように、第1および第2の可変遅延回路13,14の遅延量の設定により、SRラッチ回路15の出力Qの立ち上がりタイミングと立下りタイミングを自由に設定することができる。また、第1および第2の可変遅延回路13,14の入力に第1および第2のエッジ検出回路11,12を接続する構成としていることにより、図1の電子回路装置10Aと同様に、SRラッチ回路15の出力Qのジッタを低減することが可能である。   As shown in FIG. 7, the rising timing and falling timing of the output Q of the SR latch circuit 15 can be freely set by setting the delay amounts of the first and second variable delay circuits 13 and 14. In addition, since the first and second edge detection circuits 11 and 12 are connected to the inputs of the first and second variable delay circuits 13 and 14, SR is the same as in the electronic circuit device 10A of FIG. It is possible to reduce the jitter of the output Q of the latch circuit 15.

なお、図1の電子回路装置10Aと比較した場合、図6の電子回路装置10Cは、第3および第4のエッジ検出回路16,17が搭載されていることにより、以下の利点がある。通常、SRラッチ回路は、S入力とR入力に同時にハイレベルの信号が入力されると正常な動作ができないという問題が有る。従って、SRラッチ回路15に入力されるパルスの幅はできるだけ小さい方が良い。   Compared with the electronic circuit device 10A of FIG. 1, the electronic circuit device 10C of FIG. 6 has the following advantages because the third and fourth edge detection circuits 16 and 17 are mounted. Usually, the SR latch circuit has a problem that it cannot operate normally when a high level signal is simultaneously input to the S input and the R input. Therefore, the pulse width input to the SR latch circuit 15 should be as small as possible.

しかし、図1の電子回路装置10Aにおいては、エッジ検出回路11,12の出力パルス幅を極端に小さくすると、可変遅延回路13,14を介することにより、SRラッチ回路15に入力されるパルスの論理振幅が極端に小さくなり、そのために、SRラッチ回路15が正常動作できなくなる場合が有る。   However, in the electronic circuit device 10A of FIG. 1, if the output pulse width of the edge detection circuits 11 and 12 is extremely small, the logic of the pulses input to the SR latch circuit 15 via the variable delay circuits 13 and 14 is achieved. The amplitude becomes extremely small, which may cause the SR latch circuit 15 to be unable to operate normally.

一方、図6の電子回路装置10Cにおいては、第3および第4のエッジ検出回路16,17とSRラッチ回路15の間には可変遅延回路が挿入されていないため、第3および第4のエッジ検出回路16,17の出力のパルス幅を、図1の電子回路装置10Aの第1および第2のエッジ検出回路11,12の出力パルス幅より小さくすることができる。つまり、SRラッチ回路15に入力されるパルスの幅をより小さくすることが可能であり、その際の論理振幅を低下させないようにすることも可能である。SRラッチ回路15に入力されるパルスの幅をより小さくできるということは、SRラッチ回路15に入力されるS入力とR入力のタイミングの差の最小値、すなわち、SRラッチ回路15の出力Qパルスのパルス幅の最小値をより小さくできるということである。   On the other hand, in the electronic circuit device 10C of FIG. 6, since the variable delay circuit is not inserted between the third and fourth edge detection circuits 16, 17 and the SR latch circuit 15, the third and fourth edges The output pulse width of the detection circuits 16 and 17 can be made smaller than the output pulse width of the first and second edge detection circuits 11 and 12 of the electronic circuit device 10A of FIG. That is, the width of the pulse input to the SR latch circuit 15 can be further reduced, and the logical amplitude at that time can be prevented from being lowered. The fact that the pulse width inputted to the SR latch circuit 15 can be made smaller means that the minimum value of the timing difference between the S input and the R input inputted to the SR latch circuit 15, that is, the output Q pulse of the SR latch circuit 15. This means that the minimum value of the pulse width can be made smaller.

以上から、実施例2の電子回路装置10Cによれば、NRZ信号用のパルス整形回路を実現することが可能であり、パルス整形回路の出力ジッタを低減することも可能である。さらに、パルス整形回路の出力パルスのパルス幅の最小値の制限を緩和することが可能である。また、図7のタイミングチャートに示すように、第1の可変遅延回路13の遅延量の設定値と第2の可変遅延回路14の遅延量の設定値の差を保ったまま、両方の設定値を変化させることにより、この電子回路装置10Cを可変遅延回路として使用することが可能である。   As described above, according to the electronic circuit device 10C of the second embodiment, it is possible to realize a pulse shaping circuit for an NRZ signal and to reduce output jitter of the pulse shaping circuit. Furthermore, it is possible to relax the restriction on the minimum value of the pulse width of the output pulse of the pulse shaping circuit. Further, as shown in the timing chart of FIG. 7, both set values are maintained while maintaining the difference between the set value of the delay amount of the first variable delay circuit 13 and the set value of the delay amount of the second variable delay circuit 14. It is possible to use the electronic circuit device 10C as a variable delay circuit by changing.

図8は、本発明の実施例1,2の電子回路装置10A,10Cに適用可能なエッジ検出回路11,12,16,17の構成例を示すブロック図である。図8(a)は立上りエッジ検出用のエッジ検出回路20Aであり、インバータ21、遅延回路22およびAND回路23で構成されている。また、図8(b)は立下りエッジ検出用エッジ検出回路20Bであり、インバータ24、遅延回路25およびAND回路26で構成されている。これらのエッジ検出回路20A,20Bの出力パルスのパルス幅は、遅延回路22,25の遅延量により決定される。これらのエッジ検出回路20A,20Bを使用する場合、入力される信号の最小パルス幅をT秒とすると、遅延回路22,25の遅延量をT秒より小さくする必要がある。なお、高速信号の場合、入力される信号の最小パルス幅は100ps以下となる場合がある。   FIG. 8 is a block diagram showing a configuration example of the edge detection circuits 11, 12, 16, and 17 applicable to the electronic circuit devices 10A and 10C according to the first and second embodiments of the present invention. FIG. 8A shows an edge detection circuit 20A for detecting a rising edge, which is composed of an inverter 21, a delay circuit 22, and an AND circuit 23. FIG. 8B shows a falling edge detection edge detection circuit 20B, which includes an inverter 24, a delay circuit 25, and an AND circuit 26. The pulse widths of the output pulses of these edge detection circuits 20A and 20B are determined by the delay amounts of the delay circuits 22 and 25. When these edge detection circuits 20A and 20B are used, if the minimum pulse width of the input signal is T seconds, the delay amounts of the delay circuits 22 and 25 need to be smaller than T seconds. In the case of a high-speed signal, the minimum pulse width of the input signal may be 100 ps or less.

図9は、本発明の実施例1,2の電子回路装置10A,10Cに適用可能な可変遅延回路13,14の構成例を示す図である。図9(a)は異なった遅延時間が設定できるようにした可変遅延回路30Aであり、異なる遅延時間が設定された遅延回路31,32および信号選択回路33で構成されている。また、図9(b)は所定量遅延させるか遅延させないかを選択できるようにした可変遅延回路30Bであり、遅延回路34および信号選択回路35で構成されている。   FIG. 9 is a diagram illustrating a configuration example of the variable delay circuits 13 and 14 applicable to the electronic circuit devices 10A and 10C according to the first and second embodiments of the present invention. FIG. 9A shows a variable delay circuit 30A in which different delay times can be set. The variable delay circuit 30A includes delay circuits 31 and 32 and a signal selection circuit 33 in which different delay times are set. FIG. 9B shows a variable delay circuit 30B that can select whether to delay by a predetermined amount or not, and includes a delay circuit 34 and a signal selection circuit 35.

なお、以上に説明した実施例1の電子回路装置10Aにおいて、第1の可変遅延回路13もしくは第2の可変遅延回路14を削除して、該削除部分を短絡した構成でも同様な効果が得られる。また、実施例2の電子回路装置10Cにおいて、第1のエッジ検出回路11と第1の可変遅延回路13もしくは第2のエッジ検出回路12と第2の可変遅延回路14を削除して、該削除部分を短絡した構成でも同様な効果が得られる。さらに、RZ信号等を入力する場合には、信号入力A2に信号入力A1と同じ信号を入力して使用することが可能である。   In the electronic circuit device 10A according to the first embodiment described above, the same effect can be obtained even when the first variable delay circuit 13 or the second variable delay circuit 14 is deleted and the deleted portion is short-circuited. . Further, in the electronic circuit device 10C according to the second embodiment, the first edge detection circuit 11 and the first variable delay circuit 13 or the second edge detection circuit 12 and the second variable delay circuit 14 are deleted, and the deletion is performed. A similar effect can be obtained even in a configuration in which the portions are short-circuited. Further, when an RZ signal or the like is input, it is possible to input the same signal as the signal input A1 to the signal input A2.

本発明の実施例1の電子回路装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the electronic circuit apparatus of Example 1 of this invention. 図1の電子回路装置の動作を示すタイミングチャートである。2 is a timing chart illustrating an operation of the electronic circuit device of FIG. 1. 図1の電子回路装置の変形例の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the modification of the electronic circuit device of FIG. 図3の電子回路装置への入力信号の最小パルス幅が十分大きい場合の動作を示すタイミングチャートである。4 is a timing chart showing an operation when a minimum pulse width of an input signal to the electronic circuit device of FIG. 3 is sufficiently large. 図3の電子回路装置への入力信号の最小パルス幅が小さい場合の動作を示すタイミングチャートである。4 is a timing chart showing an operation when a minimum pulse width of an input signal to the electronic circuit device of FIG. 3 is small. 図1の電子回路装置への入力信号の最小パルス幅が小さい場合の動作を示すタイミングチャートである。2 is a timing chart showing an operation when a minimum pulse width of an input signal to the electronic circuit device of FIG. 1 is small. 本発明の実施例2の電子回路装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the electronic circuit apparatus of Example 2 of this invention. 図6の電子回路装置の動作を示すタイミングチャートである。7 is a timing chart showing an operation of the electronic circuit device of FIG. 6. 本発明の電子回路装置に適用可能なエッジ検出回路の構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structural example of the edge detection circuit applicable to the electronic circuit apparatus of this invention. 本発明の電子回路装置に適用可能な可変遅延回路の構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structural example of the variable delay circuit applicable to the electronic circuit apparatus of this invention. 従来のパルス整形回路の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the conventional pulse shaping circuit.

符号の説明Explanation of symbols

A1,A2:信号入力、B1,B2:遅延量設定入力、Q:信号出力
10A,10B,10C:電子回路装置、11,12:エッジ検出回路、13,14:可変遅延回路、15:SRラッチ回路、,16,17:エッジ検出回路 20A,20B:エッジ検出回路、21:インバータ、22:遅延回路、23:AND回路、24:インバータ、25:遅延回路、26:AND回路
30A,30B:可変遅延回路、31,32:遅延回路、33:信号選択回路、34:遅延回路、35:信号選択回路
40:パルス整形回路、41:エッジ検出回路、42:可変遅延回路、43:OR回路、44:SRラッチ回路
A1, A2: signal input, B1, B2: delay amount setting input, Q: signal output 10A, 10B, 10C: electronic circuit device, 11, 12: edge detection circuit, 13, 14: variable delay circuit, 15: SR latch Circuit, 16, 17: Edge detection circuit 20A, 20B: Edge detection circuit, 21: Inverter, 22: Delay circuit, 23: AND circuit, 24: Inverter, 25: Delay circuit, 26: AND circuit 30A, 30B: Variable Delay circuit 31, 32: Delay circuit 33: Signal selection circuit 34: Delay circuit 35: Signal selection circuit 40: Pulse shaping circuit 41: Edge detection circuit 42: Variable delay circuit 43: OR circuit 44 : SR latch circuit

Claims (7)

SRラッチ回路と、第1および第2の可変遅延回路と、第1および第2のエッジ検出回路を備え、前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第1の可変遅延回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第2の可変入力回路の出力を接続したことを特徴とする電子回路装置。   An SR latch circuit, first and second variable delay circuits, and first and second edge detection circuits are provided, and an output of the first edge detection circuit is connected to an input of the first variable delay circuit. The output of the second edge detection circuit is connected to the input of the second variable delay circuit, the output of the first variable delay circuit is connected to the S input of the SR latch circuit, and the SR latch circuit An electronic circuit device, wherein an output of the second variable input circuit is connected to an R input. SRラッチ回路と、第1および第2の可変遅延回路と、第1、第2、第3および第4のエッジ検出回路を備え、前記第1の可変遅延回路の入力に前記第1のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第2の可変遅延回路の入力に前記第2のエッジ検出回路の出力を接続し、前記第1の可変遅延回路の出力を前記第3のエッジ検出回路の入力を接続し、前記第2の可変遅延回路の出力を前記第4のエッジ検出回路の入力を接続し、前記SRラッチ回路のS入力に前記第3のエッジ検出回路の出力を接続し、前記SRラッチ回路のR入力に前記第4のエッジ検出回路の出力を接続したことを特徴とする電子回路装置。   An SR latch circuit; first and second variable delay circuits; and first, second, third, and fourth edge detection circuits, wherein the first edge detection is input to the first variable delay circuit. An output of the circuit is connected, an output of the second edge detection circuit is connected to an input of the second variable delay circuit, and an output of the first variable delay circuit is connected to an input of the third edge detection circuit. An output of the second variable delay circuit is connected to an input of the fourth edge detection circuit; an output of the third edge detection circuit is connected to an S input of the SR latch circuit; An electronic circuit device, wherein an output of the fourth edge detection circuit is connected to an R input of the circuit. 請求項1又は2に記載の電子回路装置において、
前記第1および第2の可変遅延回路の一方を削除し、該削除部分を短絡したことを特徴とする電子回路装置。
The electronic circuit device according to claim 1 or 2,
One of the first and second variable delay circuits is deleted, and the deleted portion is short-circuited.
請求項1、2又は3に記載の電子回路装置において、
前記第1のエッジ検出回路に入力する信号を論理反転した信号を前記第2のエッジ検出回路の入力に入力することを特徴とする電子回路装置。
The electronic circuit device according to claim 1, 2, or 3,
An electronic circuit device, wherein a signal obtained by logically inverting a signal input to the first edge detection circuit is input to an input of the second edge detection circuit.
請求項2又は4に記載の電子回路装置において、
前記第1のエッジ検出回路と前記第1の可変遅延回路または前記第2のエッジ検出回路と前記第2の可変遅延回路を削除し、該削除部分を短絡したことを特徴とする電子回路装置。
The electronic circuit device according to claim 2 or 4,
An electronic circuit device, wherein the first edge detection circuit and the first variable delay circuit or the second edge detection circuit and the second variable delay circuit are deleted, and the deleted portion is short-circuited.
請求項1、2、3、4又は5に記載の電子回路装置において、
前記第1および第2のエッジ検出回路が、前記第1および第2のエッジ検出回路入力される信号の最小パルス幅よりも小さなパルス幅の信号を出力することを特徴とする電子回路装置。
The electronic circuit device according to claim 1, 2, 3, 4 or 5,
The electronic circuit device, wherein the first and second edge detection circuits output a signal having a pulse width smaller than a minimum pulse width of a signal input to the first and second edge detection circuits.
請求項2、3、4、5又は6に記載の電子回路装置において、
前記第3および第4のエッジ検出回路が、前記第3および第4のエッジ検出回路に入力される信号の最小パルス幅よりも小さなパルス幅の信号を出力することを特徴とする電子回路装置。
The electronic circuit device according to claim 2, 3, 4, 5 or 6,
The electronic circuit device, wherein the third and fourth edge detection circuits output a signal having a pulse width smaller than a minimum pulse width of a signal input to the third and fourth edge detection circuits.
JP2006213815A 2006-08-04 2006-08-04 Electronic circuit equipment Pending JP2008042501A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006213815A JP2008042501A (en) 2006-08-04 2006-08-04 Electronic circuit equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006213815A JP2008042501A (en) 2006-08-04 2006-08-04 Electronic circuit equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008042501A true JP2008042501A (en) 2008-02-21

Family

ID=39177041

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006213815A Pending JP2008042501A (en) 2006-08-04 2006-08-04 Electronic circuit equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008042501A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009005029A (en) * 2007-06-20 2009-01-08 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Electronic circuit equipment
JP2011055261A (en) * 2009-09-02 2011-03-17 Nec Corp Power source interface, receiving circuit, integrated circuit, and signal transmitting method

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06202756A (en) * 1992-05-08 1994-07-22 Cyrix Corp Stable clock generation circuit provided with clock multiplication circuit
US5638016A (en) * 1995-04-18 1997-06-10 Cyrix Corporation Adjustable duty cycle clock generator
JP2000049578A (en) * 1998-07-30 2000-02-18 Nec Yamagata Ltd Delay circuit
JP2002050959A (en) * 2000-06-07 2002-02-15 Samsung Electronics Co Ltd Delay locked loop circuit having duty cycle correction function and delay locked method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06202756A (en) * 1992-05-08 1994-07-22 Cyrix Corp Stable clock generation circuit provided with clock multiplication circuit
US5638016A (en) * 1995-04-18 1997-06-10 Cyrix Corporation Adjustable duty cycle clock generator
JP2000049578A (en) * 1998-07-30 2000-02-18 Nec Yamagata Ltd Delay circuit
JP2002050959A (en) * 2000-06-07 2002-02-15 Samsung Electronics Co Ltd Delay locked loop circuit having duty cycle correction function and delay locked method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009005029A (en) * 2007-06-20 2009-01-08 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Electronic circuit equipment
JP2011055261A (en) * 2009-09-02 2011-03-17 Nec Corp Power source interface, receiving circuit, integrated circuit, and signal transmitting method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9824731B2 (en) Data reading circuit
JP4388571B2 (en) High-speed clock detection circuit
JP3815209B2 (en) Generation of pulse signal from clock signal
KR101172270B1 (en) Duty-cycle correction in a delay-locked loop
JP5491454B2 (en) Parallel-serial conversion circuit
JP2001211057A (en) Input filter stage of data stream and filtering method of data stream
US7991097B2 (en) Method and apparatus for adjusting serial data signal
JP2008042501A (en) Electronic circuit equipment
JP2009005029A (en) Electronic circuit equipment
US8311173B2 (en) Frame pulse signal latch circuit and phase adjustment method
US9094183B2 (en) Circuits for receiving data
US7130367B1 (en) Digital delay lock loop for setup and hold time enhancement
US7400178B2 (en) Data output clock selection circuit for quad-data rate interface
JP5633132B2 (en) Data transmission system and method, data transmitting apparatus and receiving apparatus
JPH1093403A (en) Noise removing bus receiver
US7952948B2 (en) Semiconductor memory apparatus
JP4753800B2 (en) CDR circuit
JP7712138B2 (en) Device
US20230195681A1 (en) Circuits and techniques for enhanced spi daisychain
JP7169781B2 (en) Signal processing apparatus and method
JP5007376B2 (en) Noise removal circuit
JP2001344041A (en) Method for supplying clock and circuit for the same
KR100652006B1 (en) Logic circuit
KR100630747B1 (en) Semiconductor memory device and driving method thereof
JP4934980B2 (en) Bus receiver circuit and noise removing method used for the bus receiver circuit

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081017

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20081017

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20081017

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110422

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110518

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110630

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120207