JP2007256117A

JP2007256117A - プリント回路基板試験装置、プリント回路基板試験方法、プリント回路基板試験プログラム、プリント回路基板製造方法

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Publication number: JP2007256117A
Application number: JP2006081653A
Authority: JP
Inventors: Yasuo Mori; 康雄森
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 2006-03-23
Filing date: 2006-03-23
Publication date: 2007-10-04
Also published as: US20080218190A1; US7375539B2; US7486090B2; US20070224869A1

Abstract

【課題】本発明は、短時間で効率的に、プリント回路基板とアームとを並行に設定し、誤差をできるだけ小さくすることよって、確実に擬似故障を発生させ、プリント回路基板の試験を行うことを目的とする。
【解決手段】本発明に係るプリント回路基板試験装置は、プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定手段と、電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定する測定手段と、該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいてアームの傾斜を補正する補正手段と、該電子部品の位置情報を入力する入力手段と、該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置手段と、配置された該アームから該探針を突出し、試験を行うプリント回路基板試験手段とからなることを特徴とする。
【選択図】図１９

Description

本発明は、情報処理装置に搭載されたプリント回路基板において、擬似故障を発生させて行う試験に関するものであり、特に試験装置が有する探針の移動誤差を補正するものである。

従来、情報処理装置の試験は、情報処理装置に搭載されたプリント回路基板上の所定の部品などに探針を接触させ、擬似故障を発生させることによって行われていた。多くの情報処理装置には、複数のプリント回路基板が搭載されている。そして複数のプリント回路基板は、層状になって情報処理装置に搭載されている。プリント回路基板と他のプリント回路基板との間に探針を挿入して、プリント回路基板上の部品などに探針を接触させる。

しかしながら、プリント回路板間に挿入する探針は、長いリード線を有するため、効率よく情報処理装置の評価試験を行うことができない。

そこで、効率よく情報処理装置の評価試験を行うためのプリント回路基板試験装置が以下の特許文献に開示されている。
特願２００４−２３４８３７号公報特許文献１に記載のプリント回路基板試験装置は、情報処理装置に層状に搭載されたプリント回路基板に、効率よく擬似故障を発生させて、プリント回路基板の試験を行うものである。プリント回路基板と他のプリント回路基板との間に接地するためのガイドパネルを配置する。探針を設けたアームが試験対象となるプリント回路基板とガイドパネルとの間に挿入される。探針がプリント回路基板に設けられた所定のビア、ランドに接触すると共にガイドパネルに接地することによって、擬似故障を発生させて試験を行う。

上記特許文献１に記載の試験装置は、所定のビア、ランドの位置情報に基づいて、探針の位置制御を行って試験を行う。

図１は、従来技術におけるプリント回路板試験に関する概念図である。

プリント回路基板１０３には、電子部品１０８、１０９、１１０、１１１が搭載されている。ランド１０５もプリント回路基板１０３も設けられており、ランド１０５に探針を接触させて擬似故障を発生させる。該探針はアーム１０１に設けられており、アーム１０１から突出する構成となっている。

アーム１０１がランド１０５の位置情報に基づいて配置された後、探針がアーム１０１から突出してランド１０５に接触する。該探針がランド１０に接触すると、該探針が突出する方向と反対に相当するアーム１０１の面に設けられたコマが、該探針がランド１０５に接触した反圧によってガイドパネル１０４に接地して擬似故障が発生する。ここで該探針、コマは図示しておらず、プリント回路基板１０３とガイドパネル１０４は平行であるとする。

プリント回路基板試験を行う場合、アーム１０１とプリント回路基板１０３は平行であることが理想的である。

しかしながらアーム１０２がプリント回路基板１０３と平行でなく、アーム１０２とプリント回路基板１０３の間に傾斜角度θ１０６が存在する場合には、誤差δ１０７が生じてしまい、ランド１０５に正確に探針が接触できず、擬似故障を正確に発生させて試験を確実に行うことができない。

プリント回路基板試験を正確に行うためには、アーム１０２とプリント回路基板１０３の傾斜角度θ１０６をできるだけ０に近づけなければならない。

そして現在、プリント回路基板１０３とアーム１０２とを平行にする作業は、目視で行われており、プリント回路基板１０３とアーム１０２とを平行に調整する作業に、多大の時間を費やしてしまっている。

本発明は、短時間で効率的に、プリント回路基板１０３とアーム１０２とを並行に設定し、誤差δ１０７をできるだけ０に近づけることによって、確実に擬似故障を発生させて、プリント回路基板１０３の試験を行うことを目的とする。

本実施例に係るプリント回路基板試験装置は、プリント回路基板に設けられた電子部品の検査を行うプリント回路基板試験装置において、プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定手段と、該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定手段と、該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正手段と、該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力手段と、該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置手段と、配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験手段とからなることを特徴とする。

また本実施例に係るプリント回路基板試験装置は、該プリント回路基板傾斜測定手段は、予め所定の距離だけ離れた２点からプリント回路基板までの距離を測定し、それらの距離の差を算出し、
該アーム傾斜測定手段は、該所定の距離だけ離れた２点からアームまでの距離を測定し、それらの距離の差を算出することを特徴とする付記１に記載のプリント回路基板試験装置。

また本実施例に係るプリント回路基板試験方法は、プリント回路基板に設けられた電子部品の検査を行うプリント回路基板試験方法において、プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定手順と、該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定手順と、該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正手順と、該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力手順と、該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置手順と、配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験手順とからなることを特徴とする。

また本実施例に係るプリント回路基板試験プログラムにおいて、プリント回路基板に設けられた電子部品の検査を行うプリント回路基板試験プログラムにおいて、プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定ステップと、該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定ステップと、該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正ステップと、該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力ステップと、該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置ステップと、配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験ステップとをコンピュータに実行させることを特徴とする。

さらに本実施例に係るプリント回路基板製造方法は、電子部品が設けられたプリント回路基板を製造するプリント回路基板製造方法において、プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定手順と、該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定手順と、
該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正手順と、該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力手順と、該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置手順と、配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験手順と、該試験を行った後、試験結果において、エラーを検出した場合には、該プリント回路基板を破棄する破棄手順とからなることを特徴とする。

本発明によれば、プリント回路基板とアームとの相対的な傾斜角度を効率よく調整することができ、短時間でかつ確実に、プリント回路基板の試験を行うことができる。

図１９は、本実施例に係るプリント回路基板試験装置１９０１のブロック図である。

プリント回路基板試験装置１９０１は、プリント回路基板傾斜測定手段１９０２、アーム傾斜測定手段１９０３、アーム傾斜補正手段１９０４、位置情報入力手段１９０５、アーム配置手段１９０６、プリント回路基板試験手段１９０７から構成される。

プリント回路基板傾斜測定手段１９０２は、プリント回路基板の相対的な傾斜を測定し、アーム傾斜測定手段１９０３は、アームの相対的な傾斜を測定する。本実施例では、プリント回路基板の相対的な傾斜とアームの相対的な傾斜は、アーム傾斜補正手段１９０４に格納される。プリント回路基板の相対的な傾斜とアームの相対的な傾斜はそれぞれ、プリント回路基板の傾斜情報とアームの傾斜情報としてアーム傾斜補正手段１９０４に格納される。

アーム傾斜補正手段１９０４は、プリント回路基板の傾斜情報とアームの傾斜情報を参照し、アームの傾斜を補正する。アーム傾斜補正手段１９０４は、プリント回路基板の傾斜情報とアームの傾斜情報が一致していないと判断した場合には、プリント回路基板の傾斜情報とアームの傾斜情報を一致させるための補正情報を算出し、該補正情報に基づいて、アームの傾斜を補正してアームの傾斜の補正処理を完了する。プリント回路基板の傾斜情報とアームの傾斜情報が一致している場合には、アーム傾斜補正手段１９０４は、アームの傾斜を新たに変化させずにアームの傾斜の補正処理を完了する。本実施例において、アーム傾斜補正手段１９０４は、該補正情報を算出した後、格納しておいたプリント回路基板の傾斜情報とアームの傾斜情報を削除する。

そして、アーム配置手段１９０６は、アーム傾斜補正手段１９０４より、アームの傾斜の補正が完了した旨の通知を受信した後、アーム配置手段１９０６は、プリント回路基板試験装置１９０１を基準位置に設定する。

試験実行者は、位置情報入力手段１９０５を用いて、試験対象となるビア、ランドの位置情報を入力する。アーム配置手段１９０６は、位置情報入力手段１９０５よりビア、ランドの位置情報を受信し、アームを所望の位置に配置する。

ここで該位置情報は、予め格納部等（図示せず）に格納しておき、アーム配置手段１９０６が、適宜呼び出す構成であっても構わない。また試験実行者が、プリント回路基板試験装置１９０１を基準位置に配置する構成であってもよい。

そして、プリント回路基板試験手段１９０７は、配置されたアームより探針を突出し、探針をビア、ランドに接触させて、擬似故障を発生させて試験を行う。

プリント回路基板の試験を行った後、試験結果において、エラーを検出した場合には、該エラーの発生した電子部品等の修復を行う。ここで試験結果において、エラーを検出した場合には、該エラーの発生した電子部品等もしくはプリント回路基板全体を破棄する構成であってもよい。

またプリント回路基板傾斜測定手段１９０２がプリント回路基板の相対的な傾斜を測定し、アーム傾斜測定手段１９０３がアームの相対的な傾斜を測定した後、図９に記載の操作部９０１を用いて、試験実行者がアームの傾斜を補正する構成であってもよい。この場合、プリント回路基板の傾斜情報とアームの傾斜情報は、プリント回路基板傾斜測定手段１９０２とアーム傾斜測定手段１９０３に格納される。試験実行者は、プリント回路基板の傾斜情報とアームの傾斜情報を参照して、アームの傾斜を操作部９０１を用いて補正する。

図２は、プリント回路基板１０３の傾斜の測定に関する概念図である。

まず、プリント回路基板試験を行う場合、プリント回路基板の傾斜を測定する。そのため、測定バー２０１がプリント回路基板１０３とガイドパネル１０４との間に配置される。測定バー２０１は、ガイドパネル１０４のプリント回路基板１０３と向かい合う表面に接触して配置され、さらにプリント回路基板とガイドパネル１０４との間より突出して配置される。そして測定バー２０１を固定するために、プリント回路基板１０３とガイドパネル１０４との間に、バルーン２０２を配置する。バルーン２０２には空気が注入され、バルーン２０２は、測定バー２０１をガイドパネル１０４に押し付け、固定する。

そして試験実行者は、所定の距離Ｄ２０８の間隔だけ離して、測定バー２０１の突出した部分の下に、距離測定器２０３、２０４を配置する。具体的には、例えば、試験実行者は、距離測定器２０３、２０４の距離Ｄ２０８を１０ｃｍに設定する。

距離測定器２０３、２０４は、それぞれ測定バー２０１との距離Ｌ２０６、Ｌ２０７を測定する。距離測定器２０３、２０４は、コントローラ２０５と接続されており、コントローラ２０５は距離Ｌ２０６と距離Ｌ２０７との差を計算する。コントローラ２０５は、計算した距離Ｌ２０６と距離Ｌ２０７との差をアーム傾斜補正手段１９０４へ送る。本実施例では、コントローラ２０５は、距離Ｌ２０６から距離Ｌ２０７を減算したもの（Ｌ２０６−Ｌ２０７）をアーム傾斜補正手段１９０４へ送る。

本実施例において、距離測定器２０３、２０４は、以下の方法により距離Ｌ２０６、Ｌ２０７を測定する。距離測定器２０３、２０４は、測定バー２０１へ当てる光を発する発光器、測定バーに当たり返って来る光を受光する受光器、発光器が発した光を受光器が受光するまでの時間を測定する時間測定器を有している。そして発光器が光を発し、測定バーに当たって反射して返ってきた光を受光器が受光する。発光器が発した光を受光器が受光するまでの時間を時間測定器が測り、測定した時間に基づいて距離Ｌ２０６、２０７を算出する。

また本実施例では、プリント回路基板傾斜測定手段１９０２とアーム傾斜測定手段１９０３は、ハード的には、同じものであって、距離測定器２０３、２０４とコントローラ２０５から構成されるものである。

距離測定器２０３、２０４は、距離測定器固定板１５０１（図１５に記載）の上に配置されており、距離測定器固定板１５０１と測定バー２０１が平行である場合には、距離Ｌ２０６と距離Ｌ２０７との差（Ｌ２０６−Ｌ２０７）は０となる。また距離測定器固定板１５０１と測定バー２０１が平行でない場合、例えば図４の場合には、距離Ｌ４０１と距離Ｌ４０２との差（Ｌ４０１−Ｌ４０２）は、０でなくなる。

図３は、アーム３０１の傾斜の測定に関する概念図である。

次に、Ｌ２０６−Ｌ２０７を測定したプリント回路基板１０３とガイドパネル１０４の間にアーム３０１を挿入する。

そして試験実行者は、所定の距離Ｄ２０８の間隔だけ離して、アーム３０１のプリント回路基板１０３とガイドパネル１０４の間から突出した部分の下に、距離測定器２０３、２０４を配置する。

距離測定器２０３、２０４は、それぞれアーム３０１との距離Ｌ３０２、Ｌ３０３を測定する。コントローラ２０５は距離Ｌ３０２と距離Ｌ３０３との差を計算する。コントローラ２０５は、計算した距離Ｌ３０２と距離Ｌ３０３との差をアーム傾斜補正手段１９０４へ送る。本実施例では、コントローラ２０５は、距離Ｌ３０２から距離Ｌ３０３を減算したもの（Ｌ３０２−Ｌ３０３）をアーム傾斜補正手段１９０４へ送る。

距離測定器２０３、２０４は、距離測定器固定板１５０１の上に配置されている。距離測定器固定板１５０１の傾斜は固定されており、距離Ｌ２０６、Ｌ２０７を測定したときと距離Ｌ３０２、Ｌ３０３を測定したときの距離測定器固定板１５０１の傾斜は同じである。距離測定器固定板１５０１とアーム３０１が平行である場合には、Ｌ３０２−Ｌ３０３は０となる。また距離測定器固定板１５０１とアーム３０１が平行でない場合、例えば図５の場合には、Ｌ５０１−Ｌ５０２は０でなくなる。距離Ｌ４０１、Ｌ４０２を測定したときと距離Ｌ５０１、Ｌ５０２を測定したときの距離測定器固定板１５０１の傾斜は同じである。

図６は、アーム３０１を所定の傾斜に補正するアーム傾斜手段１９０４の側面に関する模式図である。また図７は、アーム３０１を所定の傾斜に補正するアーム傾斜手段１９０４の上面に関する模式図である。また図８は、アーム３０１を所定の傾斜に補正するアーム傾斜手段１９０４の背面に関する模式図である。

アクチュエータ６０１、６０２、７０１は、基準板６０３の上に設けられており、傾斜調整部６０５、６０６、８０１を上下に駆動する。またアクチュエータ６０１、６０２、７０１は、図７に示すように、基準版６０３上に、それぞれのアクチュエータ６０１、６０２、７０１を頂点にして三角形状に配置されている。

またアクチュエータ６０１、６０２、７０１は、図９に記載の操作部９０１と接続されており、試験実行者は、操作部９０１を用いて、アクチュエータ６０１、６０２、７０１を操作することができる。

傾斜調整ステージ６０４は、基準板６０３と傾斜調整板６０７を接続し、傾斜調整部６０５、６０６、８０１の３点支持によって、調整する傾斜調整板６０７の傾斜を保持する。

アーム制御部６０８は、プリント回路基板の試験を行う場合に、アーム３０１に設けられた探針（図示せず）を押し出すなどの制御を行うものであって、傾斜調整板６０７に固定されている。

アーム３０１は、探針制御部６０８に固定されており、傾斜調整板６０７が傾くことによって、アーム３０１も傾き、移動することできる。操作部９０１の操作は、アーム３０１の傾斜を監視しながら行われ、アクチュエータ６０１、６０２、７０１は、傾斜調整部６０５、６０６、８０１を上下に駆動する。

図９は、操作部９０１の模式図である。

図１０は、操作部９０１の上面に関する模式図である。

操作部９０１には、ジョイスティック９０２が設けられている。試験実行者は、ジョイスティック９０２をＸ軸方向、Ｙ軸方向に動かすことができる。

アーム傾斜補正手段１９０４が図６に記載の状態の場合、試験実行者が図１０に記載の矢印１００１の方向にジョイスティック９０２を操作すると、アーム傾斜補正手段１９０４は、図１１に記載するようにアーム３０１が配置される。同様にして、アーム傾斜補正手段１９０４が図６に記載の状態の場合、試験実行者が図１０に記載の矢印１００２の方向にジョイスティック９０２を操作すると、アーム傾斜補正手段１９０４は、図１２に記載するようにアーム３０１が配置される。アーム傾斜補正手段１９０４が図６に記載の状態の場合、試験実行者が図１０に記載の矢印１００３の方向にジョイスティック９０２を操作すると、アーム傾斜補正手段１９０４は、図１３に記載するようにアーム３０１が配置される。アーム傾斜補正手段１９０４が図６に記載の状態の場合、試験実行者が図１０に記載の矢印１００４の方向にジョイスティック９０２を操作すると、アーム傾斜補正手段１９０４は、図１４に記載するようにアーム３０１が配置される。

図１１は、ジョイスティック９０２を１００１方向に操作した場合のアーム傾斜補正手段１９０４に関する模式図である。

試験実行者が図１０に記載の矢印１００１の方向にジョイスティック９０２を操作すると、操作部９０１に接続されているアクチュエータ６０１は、傾斜調整部６０５を上方向に駆動し、アクチュエータ６０２、７０１は、傾斜調整部６０６、８０１を下方向に駆動する。本実施例では、矢印１００１の方向にジョイスティック９０２を操作した場合には、アクチュエータ６０２、７０１は、傾斜調整部６０６、８０１を下方向に同じ距離だけ駆動する。

図１２は、ジョイスティック９０２を１００２方向に操作した場合のアーム傾斜補正手段１９０４に関する模式図である。

試験実行者が図１０に記載の矢印１００２の方向にジョイスティック９０２を操作すると、操作部９０１に接続されているアクチュエータ６０１は、傾斜調整部６０５を下方向に駆動し、アクチュエータ６０２、７０１は、傾斜調整部６０６、８０１を上方向に駆動する。本実施例では、矢印１００１の方向にジョイスティック９０２を操作した場合には、アクチュエータ６０２、７０１は、傾斜調整部６０６、８０１を上方向に同じ距離だけ駆動する。

図１３は、ジョイスティック９０２を１００３方向に操作した場合のアーム傾斜補正手段１９０４に関する模式図である。

試験実行者が図１０に記載の矢印１００３の方向にジョイスティック９０２を操作すると、操作部９０１に接続されているアクチュエータ６０１は、傾斜調整部６０５を駆動せずその場所で保ち、アクチュエータ６０２は、傾斜調整部６０６を下方向に駆動し、アクチュエータ７０１は、傾斜調整部８０１を上方向に駆動する。

図１４は、ジョイスティック９０２を１００４方向に操作した場合のアーム傾斜補正手段１９０４に関する模式図である。

試験実行者が図１０に記載の矢印１００４の方向にジョイスティック９０２を操作すると、操作部９０１に接続されているアクチュエータ６０１は、傾斜調整部６０５を駆動せずその場所で保ち、アクチュエータ６０２は、傾斜調整部６０６を上方向に駆動し、アクチュエータ７０１は、傾斜調整部８０１を下方向に駆動する。

図１５は、傾斜測定器１５００の模式図である。

上記に記載したように、本実施例では、プリント回路基板傾斜測定手段１９０２とアーム傾斜測定手段１９０３はハード的に同一のものである。そのため以下、プリント回路基板傾斜測定手段１９０２とアーム傾斜測定手段１９０３を総称して、傾斜測定器１５００と呼ぶ。

距離測定器２０３、２０４は、距離Ｄの間隔だけ離して、距離測定器固定板１５０１上に配置されている。距離Ｄは、所望の距離に変更することが可能である。

距離測定器固定板１５０１は、回転ステージ１５０２に接続されており、距離測定器固定板１５０１と回転ステージ１５０２の積層方向を軸方向として３６０度回転することができる。

回転ステージ１５０３の距離測定器固定板１５０１の固定された面と反対の面には、半回転部１５０４と接続された軸１５０３が接続されている。半回転部１５０４は、１８０度回転することができ、矢印１５０８方向に９０度回転すると、傾斜測定器１５００は、図１６に記載するように、変形する。

ステージ１５０５上に該半回転部１５０４は固定されており、半回転部１５０４が固定された面と反対の面に軸１５０６が固定されている。軸１５０６は、ステージ１５０７と接続されており、ステージ１５０７上にはコントローラ２０５が配置されている。図１６に記載の形状になっている傾斜測定器１５００において、回転ステージ１５０２を矢印１６０１の方向に９０度回転すると、傾斜測定器１５００は、図１７に記載するように変形する。

図１８は、コントローラ２０５の模式図である。

コントローラ２０５には表示部１８０１が設けられており、距離測定器２０３が測定した距離と距離測定器２０４が測定した距離との差が表示される。コントローラ２０５はアーム傾斜補正手段１９０４に接続されており、算出したプリント回路基板の傾斜情報とアームの傾斜情報をアーム傾斜補正手段１９０４に送る。

図２０は、本実施例に係るアームの傾斜補正に関する処理フローチャートである。

まず試験実行者は、プリント回路基板に並行であって、プリント回路基板の下に配置されたガイドパネルに測定バーを固定する（ステップＳ２００１）。測定バーは、ガイドパネルのプリント回路基板１０３と向かい合う表面に接触して配置され、さらにプリント回路基板とガイドパネル１０４との間より突出して配置される。

傾斜測定器１５００を用いて、測定バーの２点における距離測定器２０３、２０４と測定バーとの距離を測定して測定バーの傾斜情報を算出する（ステップＳ２００２）。ガイドパネルとプリント回路基板は、ほぼ平行に配置されているため、算出した測定バーの傾斜情報をプリント回路基板の傾斜情報をみなす。

プリント回路基板の傾斜を求めた後、試験実行者は、測定バーをガイドパネルから取り除く。そして測定バーを取り除いた後、試験実行者は、プリント回路基板とガイドパネルの間にアームを挿入する（ステップＳ２００３）。

傾斜測定器１５００を用いて、アームの２点における距離測定器２０３、２０４とアームとの距離を測定してアームの傾斜情報を算出する（ステップＳ２００４）。

アームの傾斜情報とプリント回路基板の傾斜情報は、アーム傾斜補正手段１９０４に格納される。アーム傾斜補正手段１９０４は、プリント回路基板の傾斜情報とアームの傾斜情報を参照し、アームの傾斜を補正する（ステップＳ２００５）。

次に、以上述べたプリント回路基板試験装置の実施形態から抽出される技術的思想を請求項の記載形式に準じて付記として列挙する。本発明に係る技術的思想は上位概念から下位概念まで、様々なレベルやバリエーションにより把握できるものであり、以下の付記に本発明が限定されるものではない。

（付記１）プリント回路基板に設けられた電子部品の検査を行うプリント回路基板試験装置において、
プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定手段と、
該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定手段と、
該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正手段と、
該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力手段と、
該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置手段と、
配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験手段と、
からなることを特徴とするプリント回路基板試験装置。

（付記２）該プリント回路基板傾斜測定手段は、予め所定の距離だけ離れた２点からプリント回路基板までの距離を測定し、それらの距離の差を算出し、
該アーム傾斜測定手段は、該所定の距離だけ離れた２点からアームまでの距離を測定し、それらの距離の差を算出することを特徴とする付記１に記載のプリント回路基板試験装置。

（付記３）プリント回路基板に設けられた電子部品の検査を行うプリント回路基板試験装置において、
該プリント回路基板と平行に導電性のガイドパネルが設けられており、該ガイドパネルに測定バーを固定して、該測定バーの傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定手段と、
該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定手段と、
該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正手段と、
該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力手段と、
該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置手段と、
配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験手段と
からなることを特徴とするプリント回路基板試験装置。

（付記４）該プリント回路基板傾斜測定手段は、予め所定の距離だけ離れた２点から該測定バーまでの距離を測定し、それらの距離の差を算出し、
該アーム傾斜測定手段は、該所定の距離だけ離れた２点からアームまでの距離を測定し、それらの距離の差を算出することを特徴とする付記３に記載のプリント回路基板試験装置。

（付記５）該アーム傾斜補正手段は、該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜が同じであるか否かを判断し、該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜が同じでないと判断した場合には、該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜を一致させるための補正情報を算出すること特徴とする付記１または２に記載のプリント回路基板試験装置。

（付記６）該アーム傾斜補正手段は、該アームが固定された傾斜調整板を有しており、該傾斜調整板を３点支持により、該傾斜調整板の傾斜を調整し、該アームの傾斜を補正することを特徴とする付記１または２に記載プリント回路基板試験装置。

（付記７）プリント回路基板に設けられた電子部品の検査を行うプリント回路基板試験方法において、
プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定手順と、
該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定手順と、
該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正手順と、
該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力手順と、
該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置手順と、
配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験手順と
からなることを特徴とするプリント回路基板試験方法。

（付記８）プリント回路基板に設けられた電子部品の検査を行うプリント回路基板試験プログラムにおいて、
プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定ステップと、
該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定ステップと、
該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正ステップと、
該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力ステップと、
該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置ステップと、
配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験ステップと
をコンピュータに実行させることを特徴とするプリント回路基板試験プログラム。

（付記９）電子部品が設けられたプリント回路基板を製造するプリント回路基板製造方法において、
プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定手順と、
該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定手順と、
該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正手順と、
該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力手順と、
該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置手順と、
配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験手順と、
該試験を行った後、試験結果において、エラーを検出した場合には、該エラーの発生した電子部品を修復する修復手順と、
からなることを特徴とするプリント回路基板製造方法。

（付記１０）電子部品が設けられたプリント回路基板を製造するプリント回路基板製造方法において、
プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定手順と、
該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定手順と、
該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正手順と、
該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力手順と、
該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置手順と、
配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験手順と、
該試験を行った後、試験結果において、エラーを検出した場合には、該プリント回路基板を破棄する破棄手順と、
からなることを特徴とするプリント回路基板製造方法。

従来技術におけるプリント回路板試験に関する概念図である。プリント回路基板１０３の傾斜の測定に関する概念図である。アーム３０１の傾斜の測定に関する概念図である。プリント回路基板１０３の傾斜の測定に関する概念図である。アーム３０１の傾斜の測定に関する概念図である。アーム配置手段１９０６の側面に関する模式図である。アーム配置手段１９０６の上面に関する模式図である。アーム配置手段１９０６の背面に関する模式図である。操作部９０１の模式図である。操作部９０１の上面に関する模式図である。ジョイスティック９０２を１００１方向に操作した場合のアーム傾斜補正手段１９０４に関する模式図である。ジョイスティック９０２を１００２方向に操作した場合のアーム傾斜補正手段１９０４に関する模式図である。ジョイスティック９０２を１００３方向に操作した場合のアーム傾斜補正手段１９０４に関する模式図である。ジョイスティック９０２を１００４方向に操作した場合のアーム傾斜補正手段１９０４に関する模式図である。傾斜測定器１５００の模式図である。傾斜測定器１５００の模式図である。傾斜測定器１５００の模式図である。コントローラ２０５の模式図である。本実施例に係るプリント回路基板試験装置１９０１のブロック図である。本実施例に係るアームの傾斜補正に関する処理フローチャートである。

符号の説明

１０１…アーム
１０２…アーム
１０３…プリント回路基板
１０４…ガイドパネル
１０５…ランド
２０１…測定バー
２０２…バルーン
２０３…距離測定器
２０４…距離測定器
２０５…コントローラ
３０１…アーム
９０１…操作部
１９０１…プリント回路基板試験装置
１９０２…プリント回路基板傾斜測定手段
１９０３…アーム傾斜測定手段
１９０４…アーム傾斜補正手段
１９０５…位置情報入力手段
１９０６…アーム配置手段
１９０７…プリント回路基板試験手段

Claims

プリント回路基板に設けられた電子部品の検査を行うプリント回路基板試験装置において、
プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定手段と、
該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定手段と、
該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正手段と、
該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力手段と、
該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置手段と、
配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験手段と、
からなることを特徴とするプリント回路基板試験装置。
該プリント回路基板傾斜測定手段は、予め所定の距離だけ離れた２点からプリント回路基板までの距離を測定し、それらの距離の差を算出し、
該アーム傾斜測定手段は、該所定の距離だけ離れた２点からアームまでの距離を測定し、それらの距離の差を算出することを特徴とする請求項１に記載のプリント回路基板試験装置。
プリント回路基板に設けられた電子部品の検査を行うプリント回路基板試験方法において、
プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定手順と、
該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定手順と、
該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正手順と、
該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力手順と、
該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置手順と、
配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験手順と
からなることを特徴とするプリント回路基板試験方法。
プリント回路基板に設けられた電子部品の検査を行うプリント回路基板試験プログラムにおいて、
プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定ステップと、
該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定ステップと、
該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正ステップと、
該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力ステップと、
該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置ステップと、
配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験ステップと
をコンピュータに実行させることを特徴とするプリント回路基板試験プログラム。
電子部品が設けられたプリント回路基板を製造するプリント回路基板製造方法において、
プリント回路基板の傾斜を測定するプリント回路基板傾斜測定手順と、
該電子部品に接触して検査する探針を有するアームの傾斜を測定するアーム傾斜測定手順と、
該プリント回路基板の傾斜と該アームの傾斜に基づいて、アームの傾斜を補正するアーム傾斜補正手順と、
該電子部品の位置情報を入力する位置情報入力手順と、
該位置情報に従って該アームを所定の位置に配置するアーム配置手順と、
配置された該アームから該探針を突出し、該探針を該電子部品に接触させて、擬似故障を発生させて試験を行うプリント回路基板試験手順と、
該試験を行った後、試験結果において、エラーを検出した場合には、該プリント回路基板を破棄する破棄手順と、
からなることを特徴とするプリント回路基板製造方法。