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JP2007184375A - Device and method for chemically treating substrate - Google Patents

Device and method for chemically treating substrate Download PDF

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JP2007184375A JP2006000899A JP2006000899A JP2007184375A JP 2007184375 A JP2007184375 A JP 2007184375A JP 2006000899 A JP2006000899 A JP 2006000899A JP 2006000899 A JP2006000899 A JP 2006000899A JP 2007184375 A JP2007184375 A JP 2007184375A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device and a method for chemically treating a substrate, capable of preventing the generation of damages to the substrate, by chemically automatically treating the substrate and preventing adsorption of the mutual substrates. <P>SOLUTION: The substrates 16 are positioned one by one by a side groove formed to the sidewall of a carrier 12, and a positioning groove formed to a lower positioning member and housed in the carrier 12; and the carrier 12 housing the substrates 16 is gripped by a gripping means 13. The gripped carrier 12 is carried and charged to a treatment tank 11 housing a chemical treatment liquid 21, and the substrates 16 are dipped in the chemical treating liquid 21. The substrates 16 are dipped in the treatment liquid 21 for a fixed time and treated chemically, the carrier 12 is inclined and held by an angle θ, the carrier 12 is pulled up from the treating tank 11, as it is, left inclined, and the carrier 12 is returned to a horizontal state and is carried up to another treating tank. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、たとえばシリコンウエハなどの基板の化学処理装置および化学処理方法に関する。   The present invention relates to a chemical processing apparatus and a chemical processing method for a substrate such as a silicon wafer.

太陽電池セル、半導体デバイスなどの生産工程においては、シリコンウエハなどの基板をキャリアと呼ばれる収容搬送容器に収容し、キャリアに収容される基板を処理槽中の処理液に浸漬して、ウェットエッチング、洗浄などの化学処理が行われている。   In the production process of solar cells, semiconductor devices, etc., a substrate such as a silicon wafer is accommodated in an accommodating transport container called a carrier, the substrate accommodated in the carrier is immersed in a treatment liquid in a treatment tank, wet etching, Chemical processing such as cleaning is performed.

図11は従来のキャリア1の典型的な構成を示す斜視図であり、図12はキャリア1の長手方向に対して垂直な断面を見た図である。キャリア1は、複数の基板2が収容され、基板2を収容した状態で搬送すること、および化学処理することに用いられる収容搬送容器である。キャリア1は、1対の対向する右側壁部3と左側壁部4とを備え、長手方向の両端部において、右側壁部3と左側壁部4とが、略U字状の形状を有する部材からなる第1連結部5と第2連結部6とによってそれぞれ連結される。なお、右側壁部3と左側壁部4とが設けられる間隔は、後述する側溝9に処理対象とする基板2を挿入することができるように、基板2の寸法に整合される。   FIG. 11 is a perspective view showing a typical configuration of a conventional carrier 1, and FIG. 12 is a view of a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the carrier 1. The carrier 1 is a storage / container used for transporting a plurality of substrates 2, transporting the substrates 2 in a state of storing the substrates 2, and performing chemical treatment. The carrier 1 includes a pair of opposing right side wall 3 and left side wall 4, and the right side wall 3 and left side wall 4 have substantially U-shaped shapes at both ends in the longitudinal direction. The first connecting portion 5 and the second connecting portion 6 are connected to each other. In addition, the space | interval in which the right side wall part 3 and the left side wall part 4 are provided is matched with the dimension of the board | substrate 2 so that the board | substrate 2 made into a process target can be inserted in the side groove | channel 9 mentioned later.

また、キャリア1は、上下方向に化学処理液が流通できるように開口され、下開口部には、収容される基板2の落下を防ぎ、基板2を保持することができるように、第1連結部5と第2連結部6とを長手方向に連ねるようにして、右および左基板保持部7,8が右側壁部3と左側壁部4との下方にそれぞれ設けられる。   Further, the carrier 1 is opened so that the chemical treatment liquid can flow in the vertical direction, and the first opening is connected to the lower opening so that the substrate 2 accommodated can be prevented from falling and the substrate 2 can be held. The right and left substrate holding parts 7 and 8 are respectively provided below the right side wall part 3 and the left side wall part 4 so that the part 5 and the second connecting part 6 are connected in the longitudinal direction.

対向して設けられる1対の右および左側壁部3,4には、基板2を1枚ごとに位置決めするための側溝9が対向する位置にそれぞれ形成される。側溝9を総称する場合には、参照符号9で表し、右および左側壁部3,4に形成される側溝9をそれぞれ区別する場合、右側壁部3に形成される側溝9aには、アルファベットのaを付し、左側壁部4に形成される側溝9bには、アルファベットのbを付して表す。また、右および左側壁部3,4には、その上部に外方に約90度曲がるようにして張出す張出部3a,4aがそれぞれ形成される。これらの張出部3a,4aは、キャリア1を把持するとき、キャリア1の落下を確実に防止できるように形成される。   Side grooves 9 for positioning the substrates 2 one by one are formed on the pair of right and left side wall portions 3 and 4 which are provided so as to face each other. When the side grooves 9 are collectively referred to, the reference numeral 9 is used. When the side grooves 9 formed on the right and left side wall portions 3 and 4 are distinguished from each other, the side grooves 9a formed on the right side wall portion 3 The side groove 9b formed in the left side wall portion 4 is denoted by the letter b. In addition, the right and left side wall portions 3 and 4 are respectively formed with overhang portions 3a and 4a projecting so as to bend about 90 degrees outward. These overhang | projection parts 3a and 4a are formed so that the fall of the carrier 1 can be prevented reliably when the carrier 1 is gripped.

このようなキャリア1は、酸、アルカリなどの薬品に対する耐性を有するように、たとえばポリプロピレンまたはパーフルオロアルコキシ樹脂(略称PFA)などで形成される。平面から見た形状が矩形の基板2は、キャリア1の側溝9に1枚ずつ挿入され、下部を右および左基板保持部7,8によって保持される。側溝9は、予め定めるピッチで形成され、側溝9に挿入される基板2は、1枚ごとに側溝9によって位置決めされる。   Such a carrier 1 is formed of, for example, polypropylene or perfluoroalkoxy resin (abbreviated as PFA) so as to have resistance to chemicals such as acid and alkali. The substrates 2 having a rectangular shape when viewed from the plane are inserted one by one into the side groove 9 of the carrier 1, and the lower portions are held by the right and left substrate holding portions 7 and 8. The side grooves 9 are formed at a predetermined pitch, and the substrates 2 inserted into the side grooves 9 are positioned by the side grooves 9 one by one.

基板2の化学処理は、図11および図12に示すようなキャリア1に、基板2を側溝9に挿入してセットし、化学処理装置で、ウェットエッチング、洗浄、乾燥などの各処理を順次行なう。   In the chemical treatment of the substrate 2, the substrate 2 is inserted into the side groove 9 and set in the carrier 1 as shown in FIGS. 11 and 12, and each process such as wet etching, cleaning, and drying is sequentially performed in the chemical treatment apparatus. .

従来、基板の化学処理を行う工程には、人手を介する作業、たとえば洗浄が終了した基板がセットされているキャリアを人手によって把持して乾燥機へ装入するなどの作業があり、人手からの発塵によりキャリアおよび基板が汚染されるという問題があった。   Conventionally, the process of performing chemical processing of a substrate includes a manual operation, for example, a manual operation in which a carrier on which a substrate that has been cleaned is set is manually gripped and loaded into a dryer. There has been a problem that the carrier and the substrate are contaminated by dust generation.

この問題に対して、キャリアにキャリアホルダを設けるとともに、キャリアを把持するキャリア掴みを準備し、キャリアホルダを操作してキャリアをキャリアホルダから取出しまたは装着しやすい状態にし、該キャリアをキャリア掴みで把持するようにして、人手を介して取扱うにしても直接キャリアに触れることを避けることによって、人手による取扱いに起因するキャリアおよび基板の汚染を防止することが提案されている(特許文献1参照)。   To solve this problem, a carrier holder is provided on the carrier, a carrier grip for gripping the carrier is prepared, the carrier holder is operated to make it easy to remove or install the carrier, and the carrier is gripped by the carrier grip. Thus, it has been proposed to prevent the carrier and the substrate from being contaminated due to manual handling by avoiding direct contact with the carrier even when handled manually (see Patent Document 1).

しかしながら、ロボット化技術の進展に伴い、各種の把持装置、搬送装置等が開発されるに至ったことによって、キャリアを把持して化学処理液が収容される処理槽まで搬送し、キャリアを処理槽中に装入し、キャリアを処理槽から引上げ、キャリアを他の処理装置へ搬送する操作を各処理毎に繰返して基板の化学処理を行なうという工程は、一般的に自動化されるようになり、人手による汚染の問題に対処する特許文献1に開示される技術の有用性は低下している。   However, with the progress of robotization technology, various gripping devices, transport devices, and the like have been developed, so that the carrier is gripped and transported to the processing tank containing the chemical processing liquid, and the carrier is processed into the processing tank. The process of carrying out the chemical treatment of the substrate by repeating the operation of charging inside, pulling up the carrier from the treatment tank, and transporting the carrier to another treatment apparatus for each treatment has become generally automated, The usefulness of the technique disclosed in Patent Document 1 that addresses the problem of manual contamination is decreasing.

近年、太陽電池セル、半導体デバイスなどの小型化および薄型化の要請に応じて、基板の厚さが薄型化される傾向にあり、基板の厚さが薄くなるのに伴って、基板同士が吸着し、基板2の損傷、破壊という問題が生じるに至っている。基板2が薄くなると、側溝9の溝幅に対して基板2の厚さが占める比率が小さくなるので、基板2と側溝9の壁面との間隔が大きくなり、側溝9内で基板2が揺動しやすくなる。また薄型化された基板2は、強度が低下して湾曲等の変形を生じやすくなる。このことによって、キャリア1の側溝9に挿入されている基板同士が、化学処理液の表面張力によって吸着し、吸着した基板同士が擦過して損傷または割れに至るという問題がある。特に、自動化された機器により、1つのキャリアから後工程への基板の搬送に用いるキャリアへ基板を移載するとき、基板に割れが発生しやすいという問題がある。   In recent years, there has been a tendency to reduce the thickness of substrates in response to demands for smaller and thinner solar cells, semiconductor devices, etc., and as substrates become thinner, the substrates are attracted to each other. However, the problem of damage and destruction of the substrate 2 has arisen. When the substrate 2 becomes thinner, the ratio of the thickness of the substrate 2 to the groove width of the side groove 9 becomes smaller, so the distance between the substrate 2 and the wall surface of the side groove 9 becomes larger, and the substrate 2 swings in the side groove 9. It becomes easy to do. Further, the thinned substrate 2 has a reduced strength and is likely to be deformed such as a curve. Accordingly, there is a problem that the substrates inserted in the side grooves 9 of the carrier 1 are adsorbed by the surface tension of the chemical treatment liquid, and the adsorbed substrates are rubbed to cause damage or cracking. In particular, when a substrate is transferred from one carrier to a carrier used for transporting the substrate to a subsequent process by an automated device, there is a problem that the substrate is likely to be cracked.

図13は基板が側溝内で位置ずれしている状態を示す側面から見た部分断面図であり、図14は隣合う基板同士が吸着している状態を示す上面図である。図13および図14に示すような基板の位置ずれおよび基板同士の吸着は、処理槽の化学処理液からキャリア1を引上げるとき、特に、化学処理液を用いる処理の最終処理となる洗浄処理から乾燥処理に移るときに発生しやすい。化学処理液を用いる処理から次の化学処理液を用いる処理へ移るときには、一旦吸着した基板2が、次の化学処理液中に浸漬されることによって、化学処理液中で離れ、吸着が解消されることが多い。   FIG. 13 is a partial cross-sectional view seen from a side surface showing a state where the substrates are displaced in the side grooves, and FIG. 14 is a top view showing a state where adjacent substrates are adsorbed. The positional deviation of the substrates and the adsorption of the substrates as shown in FIGS. 13 and 14 are caused when the carrier 1 is pulled up from the chemical treatment liquid in the treatment tank, particularly from the cleaning process that is the final process of the chemical treatment liquid. It tends to occur when moving to the drying process. When moving from the treatment using the chemical treatment liquid to the treatment using the next chemical treatment liquid, the substrate 2 once adsorbed is immersed in the next chemical treatment liquid, so that it is separated in the chemical treatment liquid and the adsorption is eliminated. Often.

基板2のサイズは、1枚の基板からの製品採取効率を向上させるために益々大型化する傾向にあるにも関わらず、基板2の厚さはサイズの大型化に応じて厚くなることがなく、むしろ前述のように、薄型化する傾向にあるので、基板2が一層変形しやすく、基板同士の吸着が生じやすいという状況にある。   Although the size of the substrate 2 tends to increase more and more in order to improve the efficiency of product collection from a single substrate, the thickness of the substrate 2 does not increase as the size increases. Rather, as described above, since there is a tendency to reduce the thickness, the substrate 2 is more easily deformed and the substrates are more likely to be attracted to each other.

基板同士の吸着を防止するために、キャリアの側溝を形成するピッチを大きくすることが考えられる。しかしながら、側溝形成ピッチを大きくすることによって、基板同士の吸着を防止することができるけれども、1個のキャリアで処理することのできる基板の枚数が減少し、生産効率が低下するので好ましくない。   In order to prevent the adsorption | suction between board | substrates, it is possible to enlarge the pitch which forms the side groove | channel of a carrier. However, although it is possible to prevent adsorption between the substrates by increasing the side groove formation pitch, it is not preferable because the number of substrates that can be processed with one carrier is reduced and the production efficiency is lowered.

このような問題に対処する従来技術として、処理槽の一側面を外方へ傾斜させ、この傾斜面に沿って基板を収容した治具を摺動させて引上げることが提案される(特許文献2参照)。特許文献2によれば、治具に収容される基板の向きおよび基板間の間隔の整列状態を整えながら処理槽すなわち処理液から引上げることができるので、基板を処理液から離液させる際に基板同士が吸着することを防止し、基板の損傷を防止できるとする。   As a conventional technique for coping with such a problem, it is proposed that one side surface of the processing tank is inclined outward, and a jig containing a substrate is slid along the inclined surface and pulled up (Patent Document). 2). According to Patent Document 2, the substrate can be pulled up from the processing tank, that is, the processing liquid while adjusting the orientation of the substrate accommodated in the jig and the interval between the substrates, so that the substrate can be separated from the processing liquid. It is assumed that the substrates can be prevented from adsorbing to each other and damage to the substrates can be prevented.

しかしながら、特許文献2に開示の技術には、以下のような問題がある。特許文献2では、基板の整列状態を整えながら治具を処理槽から引上げることに作業者の技量のばらつきがあるので、このばらつきを軽減することを目的としていることから、基本的に基板が収容される治具を処理槽から引上げる作業を、人手で行うことを前提としている。すなわち、特許文献2では、基板の化学処理が自動化されておらず、人手を介して基板を収容する治具の取扱いを行うので、基板が汚染されるという問題がある。   However, the technique disclosed in Patent Document 2 has the following problems. In Patent Document 2, since there is a variation in the skill of the operator in lifting up the jig from the processing tank while adjusting the alignment state of the substrate, the purpose is to reduce this variation. It is assumed that the operation of pulling up the stored jig from the processing tank is performed manually. That is, in Patent Document 2, chemical processing of a substrate is not automated, and a jig that accommodates the substrate is handled manually, so that there is a problem that the substrate is contaminated.

また、特許文献2では、最終的に基板を30度以上(好ましくは40度)傾斜させた状態で処理槽の液中から離液させている。前述のように、基板のサイズが大型化かつ薄型化する傾向にあり、この大型かつ薄型の基板を大きく傾斜させると、基板の変形量が極めて大きくなるので、治具に形成される突起の間隔で基板同士を整列させようとしても、基板同士が吸着するおそれを完全に払拭することができない。特許文献2の技術において、変形量が大きい基板同士の吸着を防止するには、突起間隔を大きくせざるを得ず、突起間隔を大きくすると1つの治具当りの基板処理枚数が減少して生産効率が低下するという問題がある。   Moreover, in patent document 2, it is made to lyse from the liquid of a processing tank in the state which inclined the board | substrate finally 30 degree | times or more (preferably 40 degree | times). As described above, the size of the substrate tends to increase in size and thickness, and if this large and thin substrate is tilted greatly, the amount of deformation of the substrate becomes extremely large. However, even if the substrates are to be aligned with each other, the possibility that the substrates are attracted to each other cannot be completely wiped out. In the technique of Patent Document 2, in order to prevent adsorption between substrates having a large amount of deformation, it is necessary to increase the protrusion interval. If the protrusion interval is increased, the number of processed substrates per jig is reduced and produced. There is a problem that efficiency decreases.

特開2003−77880号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2003-77880 特開2003−347262号公報JP 2003-347262 A

本発明の目的は、基板の化学処理を自動で行い、基板同士の吸着を防止して基板の損傷発生を防止することができる基板の化学処理装置および化学処理方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide a chemical processing apparatus and a chemical processing method for a substrate that can automatically perform chemical processing of the substrates, prevent adsorption between the substrates, and prevent the substrate from being damaged.

本発明は、複数の基板を化学処理する化学処理装置において、
化学処理液が収容される処理槽と、
複数の基板が収容され基板を収容した状態で化学処理および搬送に用いられる収容搬送容器であって、少なくとも1対の対向する側壁部を備え、対向する1対の側壁部には、基板を1枚ごとに位置決めするための側溝が対向する位置にそれぞれ形成され、上下方向に化学処理液が流通できるように開口され、下開口部には、側壁部に形成される側溝に対応するように基板を1枚ごとに位置決めすることができる下位置決め部材を有する収容搬送容器と、
基板が収容される収容搬送容器を把持する把持手段と、
把持手段に把持される収容搬送容器を傾斜させる傾斜手段と、
把持手段に把持される収容搬送容器を少なくとも2次元方向に移動させる搬送手段とを含むことを特徴とする基板の化学処理装置である。
The present invention provides a chemical processing apparatus for chemically processing a plurality of substrates,
A treatment tank containing a chemical treatment liquid;
A storage and transfer container used for chemical processing and transfer in a state where a plurality of substrates are stored and a substrate is stored. The storage and transfer container includes at least one pair of opposing side wall portions. Side grooves for positioning each sheet are formed at opposing positions, opened so that the chemical treatment liquid can flow in the vertical direction, and the lower opening has a substrate corresponding to the side grooves formed in the side wall. Storage container having a lower positioning member capable of positioning each sheet,
A gripping means for gripping a storage transport container in which a substrate is stored;
Inclining means for inclining the containing transport container gripped by the gripping means;
A substrate chemical processing apparatus comprising: a transporting unit configured to move at least a two-dimensional direction of an accommodation transporting container gripped by the gripping unit.

また本発明は、傾斜手段が把持手段に把持される収容搬送容器を傾斜させる角度は、1度〜10度であることを特徴とする。   In addition, the present invention is characterized in that the angle at which the tilting means tilts the storage container held by the gripping means is 1 to 10 degrees.

また本発明は、収容搬送容器が有する下位置決め部材は、
細長く延びる棒状部材であり、棒状部材の外周に、側壁部に形成される側溝に対応するように複数の位置決め溝が形成され、該位置決め溝に基板を載置させることによって位置決めすることを特徴とする。
In the present invention, the lower positioning member included in the storage transport container is
It is an elongated rod-like member, and a plurality of positioning grooves are formed on the outer periphery of the rod-like member so as to correspond to side grooves formed in the side wall portion, and positioning is performed by placing a substrate in the positioning groove. To do.

また本発明は、下位置決め部材は、
側壁部に形成される側溝の中心に対して位置決め溝の中心が、複数の基板が収容搬送容器内に収容されて配列される方向においてずれを有するように収容搬送容器に設けられることを特徴とする。
In the present invention, the lower positioning member is
The center of the positioning groove with respect to the center of the side groove formed in the side wall portion is provided in the storage and transport container so as to have a deviation in the direction in which the plurality of substrates are stored and arranged in the storage and transport container. To do.

本発明は、複数の基板を化学処理する化学処理方法において、
少なくとも1対の対向する側壁部を備え、対向する1対の側壁部には、基板を1枚ごとに位置決めするための側溝が対向する位置にそれぞれ形成され、上下方向に化学処理液が流通できるように開口され、下開口部には、側壁部に形成される側溝に対応するように基板を1枚ごとに位置決めすることができる下位置決め部材を有する収容搬送容器に、複数の基板を収容する工程と、
基板が収容される収容搬送容器を把持する工程と、
把持される収容搬送容器を、化学処理液が収容される処理槽まで搬送して処理槽の中へ装入し、収容搬送容器に収容される基板を化学処理液に浸漬する工程と、
処理槽の中で収容搬送容器を傾斜させる工程と、
収容搬送容器を処理槽から引上げる工程と、
収容搬送容器を他の処理槽まで搬送する工程とを含むことを特徴とする基板の化学処理方法である。
The present invention relates to a chemical treatment method for chemically treating a plurality of substrates,
At least one pair of opposing side wall portions is provided, and side grooves for positioning the substrates one by one are formed in the opposing pair of side wall portions, respectively, so that the chemical treatment liquid can flow in the vertical direction. The plurality of substrates are accommodated in an accommodation transport container having a lower positioning member capable of positioning the substrates one by one so as to correspond to the side grooves formed in the side wall portions in the lower opening portion. Process,
A step of gripping a container transport container in which a substrate is stored;
The step of transporting the holding and transporting container to the processing tank in which the chemical processing liquid is stored and charging it into the processing tank, and immersing the substrate stored in the storing and transporting container in the chemical processing liquid;
A step of tilting the storage and transfer container in the treatment tank;
A process of pulling up the storage container from the processing tank;
And a step of transporting the container transport container to another processing tank.

また本発明は、処理槽の中で収容搬送容器を傾斜させる工程では、収容搬送容器の傾斜角度が、1度〜10度になるように傾斜させることを特徴とする。   Further, the present invention is characterized in that, in the step of tilting the storage and transfer container in the treatment tank, the tilt angle of the storage and transfer container is tilted to 1 degree to 10 degrees.

また本発明は、処理槽の中で収容搬送容器を傾斜させる工程では、収容搬送容器が傾斜された状態で保持されることを特徴とする。   Moreover, this invention is characterized by hold | maintaining in the state in which the accommodation conveyance container was inclined in the process which inclines an accommodation conveyance container in a processing tank.

また本発明は、収容搬送容器を他の処理槽まで搬送する工程では、収容搬送容器の傾斜を回復して収容搬送容器を水平に保持することを特徴とする。   Further, the present invention is characterized in that, in the step of transporting the storage and transport container to another processing tank, the storage and transport container is held horizontally by recovering the inclination of the storage and transport container.

本発明によれば、化学処理装置は、化学処理液が収容される処理槽と、1対の対向する側壁部と上下に開口部と下開口部に設けられて側壁部に形成される側溝に対応するように基板を1枚ごとに位置決めする下位置決め部材とを有して基板を収容する収容搬送容器と、収容搬送容器を把持する把持手段と、把持手段に把持される収容搬送容器を傾斜させる傾斜手段と、把持手段に把持される収容搬送容器を少なくとも2次元方向に移動させる搬送手段とを含んで構成される。   According to the present invention, the chemical processing apparatus includes a processing tank in which a chemical processing solution is stored, a pair of opposing side wall portions, and a side groove formed on the side wall portion provided in the upper and lower openings and the lower opening. Correspondingly having a lower positioning member for positioning the substrates one by one, the accommodating transport container for accommodating the substrates, the gripping means for gripping the accommodating transport container, and the accommodating transport container gripped by the gripping means are inclined. And tilting means to be moved, and conveying means for moving at least a two-dimensional direction of the containing and conveying container held by the holding means.

このように構成される化学処理装置は、人手を介することなく自動で基板の化学処理を行うことができる。また化学処理装置は、把持手段に把持される収容搬送容器を傾斜手段で傾斜させて処理液中から引上げることによって、収容搬送容器に収容される基板を、一定の方向に揃って傾斜させることができるので、基板同士の整列状態を整え、化学処理時に収容搬送容器に収容される基板同士が吸着することを防止できる。基板同士の吸着を防止することによって、基板同士の擦過による損傷、特に、自動化された機器により、1つのキャリアから後工程への基板の搬送に用いるキャリアへ基板を移載するときの基板の割れ発生を防止することができる。したがって、基板の歩留が向上して材料コストが低減され、コストダウンが実現される。   The chemical processing apparatus configured as described above can automatically perform chemical processing of a substrate without human intervention. The chemical processing apparatus tilts the substrate accommodated in the accommodating transport container in a fixed direction by tilting the accommodating transport container gripped by the gripping means with the tilting means and pulling it up from the processing liquid. Therefore, the alignment state of the substrates can be adjusted, and the substrates accommodated in the accommodation transport container during the chemical treatment can be prevented from being adsorbed. By preventing adsorption between substrates, damage due to abrasion between substrates, especially cracking of a substrate when transferring a substrate from one carrier to a carrier used for transporting the substrate to a subsequent process by automated equipment Occurrence can be prevented. Therefore, the yield of the substrate is improved, the material cost is reduced, and the cost is reduced.

また本発明によれば、傾斜手段が把持手段に把持される収容搬送容器を傾斜させる角度は、1度〜10度である。このことによって、収容搬送容器に収容される基板が過度に傾斜されることがなくなるので、大型かつ薄型であり、また変形しやすい基板であったとしても、基板の変形を抑えることができ、基板同士の吸着を確実に防止できる。   Moreover, according to this invention, the angle which makes the inclination conveyance means incline the accommodation conveyance container hold | gripped by the holding means is 1 degree-10 degree | times. As a result, the substrate accommodated in the accommodating transport container is not excessively inclined, so that even if the substrate is large and thin and easily deformed, the deformation of the substrate can be suppressed. Adsorption between each other can be reliably prevented.

また本発明によれば、収容搬送容器が有する下位置決め部材は、細長く延びる棒状部材であり、その外周に側壁部に形成される側溝に対応するように複数の位置決め溝が形成され、該位置決め溝に基板を載置させることによって位置決めする。このように簡素な構造にすることによって下位置決め部材の作製が容易になり、また基板下部における位置決めを簡単に行うことができる。   Further, according to the present invention, the lower positioning member included in the storage and conveyance container is an elongated rod-like member, and a plurality of positioning grooves are formed on the outer periphery so as to correspond to the side grooves formed in the side wall portion, and the positioning grooves The substrate is positioned by placing it on the substrate. Such a simple structure facilitates the production of the lower positioning member, and allows easy positioning at the lower portion of the substrate.

また本発明によれば、下位置決め部材は、側壁部に形成される側溝の中心に対して位置決め溝の中心が、基板の配列方向においてずれを有するように収容搬送容器に設けられる。側溝と位置決め溝とがずれを有することによって、基板を側溝と位置決め溝とで位置決めするだけで、基板が一定の方向に傾きを有して配列するようになるので、基板同士の吸着を一層確実に防止することができる。   Further, according to the present invention, the lower positioning member is provided in the receiving and transporting container so that the center of the positioning groove is displaced in the arrangement direction of the substrates with respect to the center of the side groove formed in the side wall portion. Since the side grooves and the positioning grooves are misaligned, the substrates are arranged with an inclination in a certain direction only by positioning the substrates with the side grooves and the positioning grooves, so that the adsorption between the substrates is further ensured. Can be prevented.

本発明によれば、収容搬送容器を傾斜させて処理液中から引上げ、収容搬送容器に収容される基板を、一定の方向に揃って傾斜させて基板同士の整列状態を整え、基板同士が吸着することを防止できる基板の化学処理方法を実現することができる。基板同士の吸着が防止されることによって、基板同士の擦過による損傷を防止し、基板の歩留を向上して材料コストを低減し、コストダウンを実現することができる。   According to the present invention, the accommodation transport container is tilted and pulled out from the processing liquid, and the substrates accommodated in the storage transport container are tilted in a certain direction so as to align the substrates, and the substrates are adsorbed. It is possible to realize a chemical processing method for a substrate that can prevent this. By preventing adsorption between the substrates, damage due to abrasion between the substrates can be prevented, the yield of the substrates can be improved, the material cost can be reduced, and the cost can be reduced.

また本発明によれば、処理槽の中で収容搬送容器を傾斜させる工程では、収容搬送容器の傾斜角度が1度〜10度になるように傾斜させる。このことによって、収容搬送容器に収容される基板が過度に傾斜されることがなくなるので、大型かつ薄型であり、また変形しやすい基板であったとしても、基板の変形を抑えることができ、基板同士の吸着を確実に防止できる。   According to the present invention, in the step of tilting the storage transport container in the processing tank, the storage transport container is tilted so that the tilt angle of the storage transport container is 1 degree to 10 degrees. As a result, the substrate accommodated in the accommodating transport container is not excessively inclined, so that even if the substrate is large and thin and easily deformed, the deformation of the substrate can be suppressed. Adsorption between each other can be reliably prevented.

また本発明によれば、処理槽の中で収容搬送容器を傾斜させた状態で保持することによって、収容搬送容器に収容される基板に自重を作用させ、基板が一定方向に確実に傾斜した整列状態を実現した後、収容搬送容器を引上げることができる。   Further, according to the present invention, by holding the storage container in the processing tank in an inclined state, the substrate is accommodated in the storage container so that its own weight acts on the substrate and the substrate is surely inclined in a certain direction. After realizing the state, the container container can be pulled up.

また本発明によれば、収容搬送容器を他の処理槽まで搬送する工程では、収容搬送容器の傾斜を回復して収容搬送容器を水平に保持する。このように、収容搬送容器を水平に保ちながら次の処理に用いる処理槽まで搬送し、次処理へ投入することによって、収容搬送容器が水平状態で汎用される処理槽の形状を変更することなく使用することができる。   According to the present invention, in the step of transporting the storage transport container to another processing tank, the tilt of the storage transport container is recovered and the storage transport container is held horizontally. In this way, without changing the shape of the processing tank that is widely used in the horizontal state, the container is transported to the processing tank used for the next processing while being kept horizontal, and is put into the next processing. Can be used.

図1は本発明の実施の一形態である基板の化学処理装置10の構成を一部断面にて示す側面図であり、図2は図1に示す基板の化学処理装置10を一部断面にて示す正面図である。基板の化学処理装置10(以後、単に化学処理装置10と呼ぶ)は、処理槽11と、収容搬送容器12と、把持手段13と、傾斜手段14と、搬送手段15とを含んで構成される。化学処理装置10は、複数の基板16を化学処理することに用いられる。   FIG. 1 is a side view showing a configuration of a substrate chemical processing apparatus 10 according to an embodiment of the present invention in a partial cross section, and FIG. 2 is a partial cross section of the substrate chemical processing apparatus 10 shown in FIG. FIG. A substrate chemical processing apparatus 10 (hereinafter simply referred to as a chemical processing apparatus 10) includes a processing tank 11, a storage and transfer container 12, a gripping means 13, a tilting means 14, and a transfer means 15. . The chemical processing apparatus 10 is used for chemically processing a plurality of substrates 16.

基板16としては、太陽電池セルに用いられるシリコンウエハ、半導体デバイスに用いられるシリコンウエハやガリウムヒ素ウエハ、また液晶表示素子に用いられるガラス基板などが挙げられる。本実施形態では、太陽電池セルに用いられるシリコンウエハについて例示する。基板16であるシリコンウエハは、平面から見た形状が矩形であり、その寸法について一例を示すと、100mm角、厚さ100μmである。   Examples of the substrate 16 include silicon wafers used for solar cells, silicon wafers and gallium arsenide wafers used for semiconductor devices, and glass substrates used for liquid crystal display elements. In the present embodiment, a silicon wafer used for a solar battery cell is illustrated. The silicon wafer as the substrate 16 has a rectangular shape when viewed from above, and its dimensions are 100 mm square and 100 μm thick.

処理槽11は、たとえば塩化ビニルなどによって形成され、外形が直方体形状を有し、4つの側面部11a,11b,11c,11dと、1つの底面部11eとを有し、上面のみ開口される中空の容器であり、その内部に化学処理液21を収容する。化学処理液21として、たとえば酸の溶液、アルカリの溶液、現像液、純水、純水にたとえば二酸化炭素(CO)を溶解した機能水などが挙げられる。すなわち、本明細書において、化学処理とは、ウェットエッチング、現像、洗浄などを含む広い意味で用いられる。 The treatment tank 11 is formed of, for example, vinyl chloride and has a rectangular parallelepiped shape. The treatment tank 11 has four side surfaces 11a, 11b, 11c, and 11d, and one bottom surface 11e. The chemical treatment liquid 21 is accommodated in the container. Examples of the chemical treatment liquid 21 include an acid solution, an alkali solution, a developer, pure water, and functional water obtained by dissolving carbon dioxide (CO 2 ) in pure water. That is, in this specification, chemical treatment is used in a broad sense including wet etching, development, cleaning, and the like.

図3は、収容搬送容器12の構成を示す斜視図である。収容搬送容器12は、複数のシリコンウエハ16を収容し、シリコンウエハ16を収容した状態で化学処理および搬送することに用いられる。このような収容搬送容器12は、一般的にキャリアと呼ばれるので、以後、ここでも収容搬送容器12をキャリアと呼ぶ。本実施形態のキャリア12は、前述の図11に示すキャリア1に類似するので、対応する部分については同一の参照符号を付し、説明を簡略化または省略することがある。   FIG. 3 is a perspective view showing the configuration of the storage and transport container 12. The accommodating / conveying container 12 accommodates a plurality of silicon wafers 16 and is used for chemical processing and conveying in a state where the silicon wafers 16 are accommodated. Since such a storage container 12 is generally referred to as a carrier, the storage container 12 is also referred to as a carrier hereinafter. Since the carrier 12 of this embodiment is similar to the carrier 1 shown in FIG. 11 described above, the corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and the description may be simplified or omitted.

キャリア12において注目すべきは、化学処理液21を上下に流通させるために形成される開口のうち下開口部に、右および左側壁部3,4にそれぞれ形成される側溝9a,9bに対応するように、シリコンウエハ16を1枚ごとに位置決めすることができる下位置決め部材17a,17bが設けられることである。右基板保持部7に接し、右基板保持部7よりもキャリア12の内方側に、キャリア12の長手方向に延びて設けられる下位置決め部材を右下位置決め部材17aと呼び、左基板保持部8に接し、左基板保持部8よりもキャリア12の内方側に、キャリア12の長手方向に延びて設けられる下位置決め部材を左下位置決め部材17bと呼ぶ。なお、下位置決め部材を総称する場合は、参照符号17で表す。   It should be noted that the carrier 12 corresponds to the side grooves 9a and 9b formed in the right and left side walls 3 and 4 respectively in the lower opening of the openings formed for flowing the chemical treatment liquid 21 up and down. Thus, the lower positioning members 17a and 17b that can position the silicon wafers 16 one by one are provided. A lower positioning member provided in contact with the right substrate holding portion 7 and extending in the longitudinal direction of the carrier 12 on the inner side of the carrier 12 than the right substrate holding portion 7 is referred to as a lower right positioning member 17a. A lower positioning member provided in contact with the left substrate holding portion 8 and inward of the carrier 12 and extending in the longitudinal direction of the carrier 12 is referred to as a lower left positioning member 17b. Note that the lower positioning member is collectively referred to by reference numeral 17.

図4は下位置決め部材17の構成を示す側面図であり、図5は図4に示す下位置決め部材17の正面図である。右および左下位置決め部材17a,17bは、同一に構成されるので、図4および図5では、一方の下位置決め部材17のみについて構成を示す。   4 is a side view showing the configuration of the lower positioning member 17, and FIG. 5 is a front view of the lower positioning member 17 shown in FIG. Since the right and lower left positioning members 17a and 17b are configured identically, FIGS. 4 and 5 show the configuration of only one lower positioning member 17. FIG.

下位置決め部材17は、たとえばポリプロピレン製またはPFA製の細長く延びる丸棒部材である。下位置決め部材17には、丸棒の外周に、キャリア12の側壁部3,4に形成される側溝9に対応するように、複数の位置決め溝18が形成される。ここで、側壁部3,4に形成される側溝9に対応するようにとは、側溝9が形成されるピッチと、位置決め溝18が形成されるピッチとが同じになるようにとの意味である。   The lower positioning member 17 is an elongated round bar member made of, for example, polypropylene or PFA. In the lower positioning member 17, a plurality of positioning grooves 18 are formed on the outer periphery of the round bar so as to correspond to the side grooves 9 formed in the side wall portions 3 and 4 of the carrier 12. Here, to correspond to the side grooves 9 formed in the side wall portions 3 and 4 means that the pitch at which the side grooves 9 are formed and the pitch at which the positioning grooves 18 are formed are the same. is there.

位置決め溝18は、断面形状がV字状に、丸棒の外周を一周するようにして形成される。なお、本実施形態では、下位置決め部材17は、その両端部付近に位置決め溝18が形成されない適当長さの溝未形成部19を有する。下位置決め部材17の両端部の端面20の中心部には、下位置決め部材17をキャリア12に装着するための装着穴21が形成される。装着穴21の内面には、めねじが刻設される。   The positioning groove 18 has a V-shaped cross section and is formed so as to go around the outer periphery of the round bar. In the present embodiment, the lower positioning member 17 has a groove-unformed portion 19 having an appropriate length in which the positioning groove 18 is not formed in the vicinity of both end portions thereof. A mounting hole 21 for mounting the lower positioning member 17 to the carrier 12 is formed at the center of the end surface 20 at both ends of the lower positioning member 17. A female screw is engraved on the inner surface of the mounting hole 21.

下位置決め部材17は、その長さLが右および左基板保持部7,8とほぼ同じ長さ、すなわち第1連結部5と第2連結部6との間に挿入可能な長さに形成され、前述のように、
右および左基板保持部7,8にそれぞれ接し、基板保持部7,8よりもキャリア12の内方側に装着される。下位置決め部材17は、第1および第2連結部5,6に形成される貫通孔を挿通し、下位置決め部材17の装着穴21に螺合されるおねじ部材22によって、キャリア12に固定される。
The lower positioning member 17 is formed to have a length L that is substantially the same as that of the right and left substrate holding parts 7, 8, that is, a length that can be inserted between the first connecting part 5 and the second connecting part 6. ,Like above-mentioned,
The right and left substrate holders 7 and 8 are in contact with each other and are mounted on the inner side of the carrier 12 with respect to the substrate holders 7 and 8. The lower positioning member 17 is fixed to the carrier 12 by a male screw member 22 inserted through the through holes formed in the first and second connecting portions 5 and 6 and screwed into the mounting hole 21 of the lower positioning member 17. The

下位置決め部材17は、キャリア12に装着固定されるに際し、側壁部3,4に形成される側溝9の中心に対して位置決め溝18の中心が、複数のシリコンウエハ16がキャリア12内に収容されて配列される方向においてずれを有するように設けられる。   When the lower positioning member 17 is mounted and fixed to the carrier 12, the center of the positioning groove 18 is accommodated in the carrier 12 with respect to the center of the side groove 9 formed in the side walls 3 and 4. Are provided so as to have a deviation in the arrangement direction.

図6はキャリア12に収容されるシリコンウエハ16の状態を長手方向に垂直な断面から見た図であり、図7はキャリア12に収容されるシリコンウエハ16の状態を側面から見た図であり、図8はキャリア12に収容されるシリコンウエハ16の状態を上面から見た図である。以下、図6〜図8を参照し、キャリア12に収容されるシリコンウエハ16の位置決めと、側溝9と位置決め溝18とのずれについて説明する。   6 is a view of the state of the silicon wafer 16 accommodated in the carrier 12 as viewed from a cross section perpendicular to the longitudinal direction, and FIG. 7 is a view of the state of the silicon wafer 16 accommodated in the carrier 12 as viewed from the side. FIG. 8 is a view of the state of the silicon wafer 16 accommodated in the carrier 12 as seen from above. Hereinafter, the positioning of the silicon wafer 16 accommodated in the carrier 12 and the shift between the side groove 9 and the positioning groove 18 will be described with reference to FIGS.

1枚のシリコンウエハ16は、その側端部が右および左側壁部3,4に対向して形成される1対の側溝9a,9bに挿入され、その下端部が下位置決め部材17の位置決め溝18上に載置されることによって、キャリア12内に収容され位置決めされる。シリコンウエハ16は、右および左側壁部3,4にそれぞれ形成される右および左側溝9a,9bと、右および左下位置決め部材17a,17bに形成される位置決め溝18との4箇所で、矩形の4辺のうち3辺を位置決めされる。したがって、シリコンウエハ16は、キャリア12内に収容されるとき、安定的に位置決めされ、その揺動が抑制される。   One silicon wafer 16 is inserted into a pair of side grooves 9 a and 9 b formed with its side end portions facing the right and left side wall portions 3 and 4, and its lower end portion is a positioning groove of the lower positioning member 17. By being placed on 18, it is accommodated and positioned in the carrier 12. The silicon wafer 16 has a rectangular shape at four locations including right and left grooves 9a and 9b formed in the right and left wall portions 3 and 4, respectively, and positioning grooves 18 formed in the right and lower left positioning members 17a and 17b. Three of the four sides are positioned. Therefore, when the silicon wafer 16 is accommodated in the carrier 12, the silicon wafer 16 is stably positioned and its swing is suppressed.

さらに、図7に示すように、側溝9の中心と位置決め溝18の中心とが、複数のシリコンウエハ16の配列方向にずれδを有するように、下位置決め部材17がキャリア12に装着されるので、複数のシリコンウエハ16は、その配列される方向の一方の側に同じように傾いた整列状態に整えられて収容される。このように、シリコンウエハ16を同一方向に傾いた整列状態に整え、安定的に位置決めして揺動を抑えることによって、化学処理工程を通じて隣合うシリコンウエハ同士の間隔を保つことが可能になる。   Further, as shown in FIG. 7, the lower positioning member 17 is mounted on the carrier 12 so that the center of the side groove 9 and the center of the positioning groove 18 have a deviation δ in the arrangement direction of the plurality of silicon wafers 16. The plurality of silicon wafers 16 are accommodated after being aligned in the same inclined manner on one side in the arrangement direction. Thus, by arranging the silicon wafers 16 in an aligned state inclined in the same direction, and stably positioning them to suppress swinging, it is possible to keep the distance between adjacent silicon wafers through the chemical treatment process.

図1および図2に戻って、把持手段13、傾斜手段14および搬送手段15について説明する。把持手段13は、フック部材25と、フック部材25が装着される回転支持部材26と、回転支持部材26をその軸まわりに角変位駆動させる角変位駆動手段27とを含んで構成される。   Returning to FIGS. 1 and 2, the gripping means 13, the tilting means 14, and the conveying means 15 will be described. The gripping means 13 includes a hook member 25, a rotation support member 26 to which the hook member 25 is mounted, and an angular displacement drive means 27 that drives the rotation support member 26 to be angularly displaced about its axis.

フック部材25は、J字状の形状を有する金属製の部材であり、本実施形態では4個設けられる。回転支持部材26は、金属製の丸棒であり、本実施形態では2本設けられる。2個のフック部材25は、1本の回転支持部材26の遊端部26aから予め定める距離を有する位置に、キャリア12の長手方向の長さ未満の間隔を有するように離隔し、J字状の曲り部が同じ方向を向くようにして、回転支持部材26に装着される。もう1本の回転支持部材26には、J字状のフック部材25の曲り部が、先の回転支持部材26の場合と逆の向きになるようにして装着される。なお、フック部材25と回転支持部材26とは、同じ素材で一体形成されてもよい。   The hook members 25 are metal members having a J-shape, and four hook members 25 are provided in this embodiment. The rotation support member 26 is a metal round bar, and two are provided in this embodiment. The two hook members 25 are separated at a position having a predetermined distance from the free end portion 26a of one rotation support member 26 so as to have an interval less than the length in the longitudinal direction of the carrier 12, and are J-shaped. Are attached to the rotation support member 26 so that the bent portions thereof face in the same direction. The other rotation support member 26 is mounted so that the bent portion of the J-shaped hook member 25 is in the opposite direction to that of the previous rotation support member 26. The hook member 25 and the rotation support member 26 may be integrally formed of the same material.

回転支持部材26に上記のように2個のフック部材25がそれぞれ装着された部材が1対準備され、2本の回転支持部材26は、回転支持部材同士が平行になるように、かつ回転支持部材26に装着されるフック部材25の曲り部が互いに内方に向うようにして、角変位駆動手段27に装着される。角変位駆動手段27は、たとえば歯車列と電動機とによって構成され。電動機の回転駆動力を歯車列で回転支持部材26に伝達して回転支持部材26を角変位駆動させる。2本の回転支持部材26は、それぞれに対向するようにして設けられるフック部材25の曲り部同士が、近づくようにまた遠ざかるように、角変位駆動手段27によって、矢符28にて示す軸まわりの方向に角変位駆動される。   As described above, a pair of members each having the two hook members 25 mounted thereon is prepared on the rotation support member 26. The two rotation support members 26 support the rotation support members so that the rotation support members are parallel to each other. The hook member 25 attached to the member 26 is attached to the angular displacement driving means 27 so that the bent portions thereof face inward. The angular displacement driving means 27 is constituted by, for example, a gear train and an electric motor. The rotation driving force of the electric motor is transmitted to the rotation support member 26 through a gear train, and the rotation support member 26 is angularly driven. The two rotation support members 26 are rotated around the axis indicated by the arrow 28 by the angular displacement drive means 27 so that the bent portions of the hook members 25 provided so as to face each other are moved closer to and away from each other. The angular displacement is driven in the direction of.

フック部材25同士が遠ざかるように回転支持部材26を角変位移動させ、フック部材25の曲り部が、キャリア12の側壁部3,4の張出部3a,4aよりも下の部分に位置するように、かつキャリア12がフック部材25同士の間になるように、把持手段13とキャリア12との位置関係を定める。次に、対向するフック部材25の曲り部同士を近づけるように回転支持部材26を角変位移動させることによって、フック部材25がキャリア12を側壁部3,4で把持することができる。把持手段13がキャリア12を把持するとき、キャリア12の張出部3a,4aが、フック部材25の曲り部に引掛かるので、把持されるキャリア12がフック部材25からずれ落ちることがない。上記と逆の動作をすることによって、キャリア12を把持手段13から解放することができる。   The rotation support member 26 is angularly displaced so that the hook members 25 move away from each other, and the bent portion of the hook member 25 is positioned below the overhang portions 3 a and 4 a of the side wall portions 3 and 4 of the carrier 12. In addition, the positional relationship between the gripping means 13 and the carrier 12 is determined so that the carrier 12 is between the hook members 25. Next, the hook member 25 can grip the carrier 12 with the side walls 3 and 4 by angularly moving the rotation support member 26 so that the bent portions of the opposing hook members 25 are brought closer to each other. When the gripping means 13 grips the carrier 12, the overhang portions 3 a and 4 a of the carrier 12 are hooked on the bent portion of the hook member 25, so that the gripped carrier 12 does not fall off the hook member 25. The carrier 12 can be released from the gripping means 13 by performing the reverse operation.

傾斜手段14は、上記のフック部材25と、回転支持部材26と、回転支持部材26を水平面に対して傾斜させるように傾動する傾動手段29とを含んで構成される。したがって、本実施形態では、把持手段13と傾斜手段14とは、組合されて、キャリア12を把持し、把持するキャリアを傾斜させる1つの手段を構成する。傾動手段29は、たとえば歯車列と電動機とによって構成され、電動機の回転駆動力を歯車列で回転支持部材26に伝達して回転支持部材26を水平面に対して角度θ傾斜させることによって、把持手段13に把持されるキャリア12の長手方向を水平面に対して角度θ傾斜させる。このとき、キャリア12に収容されるシリコンウエハ16は、その平面部分が鉛直面に対して角度θ傾斜される。   The tilting means 14 includes the hook member 25, the rotation support member 26, and the tilting means 29 that tilts the rotation support member 26 so as to tilt with respect to the horizontal plane. Therefore, in the present embodiment, the gripping means 13 and the tilting means 14 are combined to constitute one means for gripping the carrier 12 and tilting the gripped carrier. The tilting means 29 is constituted by, for example, a gear train and an electric motor, and the gripping means is transmitted by transmitting the rotational driving force of the electric motor to the rotation support member 26 by the gear train and inclining the rotation support member 26 with respect to the horizontal plane by an angle θ. The longitudinal direction of the carrier 12 gripped by 13 is inclined at an angle θ with respect to the horizontal plane. At this time, the silicon wafer 16 accommodated in the carrier 12 is inclined at an angle θ with respect to the vertical plane.

キャリア12を傾斜させる角度θは、好ましくは1度以上、10度以下の範囲で選択される。1度以上、10度以下とすることによって、キャリア12に収容されるシリコンウエハ16が過度に傾斜されることがなく、大型かつ薄型であり、また変形しやすいシリコンウエハ16であったとしても、シリコンウエハ16の変形が抑えられ、シリコンウエハ16同士の吸着が確実に防止される。   The angle θ for inclining the carrier 12 is preferably selected in the range of 1 to 10 degrees. Even if the silicon wafer 16 accommodated in the carrier 12 is not excessively inclined by being set to 1 degree or more and 10 degrees or less, even if the silicon wafer 16 is large and thin, and easily deforms, The deformation of the silicon wafer 16 is suppressed, and the adsorption of the silicon wafers 16 is reliably prevented.

傾斜角度θが1度未満では、シリコンウエハ16を傾斜方向に整列させる作用を充分に発現することができず、化学処理時におけるシリコンウエハ16同士の吸着を確実に防止することができない。一方、傾斜角度θが10度を超えると、大きいサイズのシリコンウエハ16では、自重作用による変形が大きくなり、シリコンウエハ16が損傷するおそれがある。   When the inclination angle θ is less than 1 degree, the effect of aligning the silicon wafers 16 in the inclination direction cannot be fully exhibited, and the adsorption of the silicon wafers 16 during chemical processing cannot be reliably prevented. On the other hand, when the tilt angle θ exceeds 10 degrees, the large-size silicon wafer 16 is greatly deformed by its own weight, and the silicon wafer 16 may be damaged.

搬送手段15は、走行動作部31と上下動作部32とを含んで構成され、本実施形態では、鉛直面の1つであるX−Z平面内で2次元方向に移動可能に構成される。ここで、X方向は、水平面内のうち、把持手段13に把持されるキャリア12の短手方向に平行な方向である。Y方向は、水平面内においてX方向に垂直な方向、すなわち把持手段13に把持されるキャリア12の長手方向である。Z方向は、鉛直方向である。   The conveying means 15 includes a traveling operation unit 31 and an up / down operation unit 32. In the present embodiment, the conveyance unit 15 is configured to be movable in a two-dimensional direction within an XZ plane that is one of vertical surfaces. Here, the X direction is a direction parallel to the short direction of the carrier 12 held by the holding means 13 in the horizontal plane. The Y direction is the direction perpendicular to the X direction in the horizontal plane, that is, the longitudinal direction of the carrier 12 gripped by the gripping means 13. The Z direction is the vertical direction.

走行動作部31は、化学処理装置10が設けられる領域の天井部33に設けられ、X方向に走行移動可能に構成される。この走行動作は、たとえば天井部33に設けられるラックと、走行動作部31に設けられるピニオンとピニオンがその出力軸に接続される電動機とによって実現される。   The traveling operation unit 31 is provided on the ceiling portion 33 in the area where the chemical treatment apparatus 10 is provided, and is configured to be capable of traveling in the X direction. This traveling operation is realized by, for example, a rack provided in the ceiling portion 33 and a pinion provided in the traveling operation unit 31 and an electric motor in which the pinion is connected to an output shaft thereof.

上下動作部32は、走行動作部31と、把持手段13および傾斜手段14の角変位駆動手段27および傾動手段29とを連結し、角変位駆動手段27および傾動手段29をZ方向に移動させるべく上下動可能に構成される。この上下動作は、たとえばボールねじと電動機との組合せによって実現できる。ボールねじのナットを角変位駆動手段27および傾動手段29に装着し、ナットに螺合するボールねじのねじ軸を電動機で回転駆動させることによって、角変位駆動手段27および傾動手段29、すなわち把持手段13に把持されるキャリア12をZ方向に上下動させることができる。   The vertical motion unit 32 connects the travel motion unit 31 with the angular displacement driving unit 27 and the tilting unit 29 of the gripping unit 13 and the tilting unit 14 so as to move the angular displacement driving unit 27 and the tilting unit 29 in the Z direction. It can be moved up and down. This up / down motion can be realized by a combination of a ball screw and an electric motor, for example. A ball screw nut is mounted on the angular displacement driving means 27 and the tilting means 29, and the screw shaft of the ball screw screwed to the nut is rotationally driven by an electric motor, whereby the angular displacement driving means 27 and the tilting means 29, that is, the gripping means. The carrier 12 held by 13 can be moved up and down in the Z direction.

このように、搬送手段15は、上下動作部32によって把持手段13に把持されるキャリア12を、処理槽11に収容される処理液21中に浸漬し、また処理液21から引上げることができ、走行動作部31によって把持手段13に把持されるキャリア12を他の処理槽まで搬送することができる。   As described above, the conveying unit 15 can immerse the carrier 12 held by the holding unit 13 by the vertical movement unit 32 in the processing liquid 21 accommodated in the processing tank 11 and pull it up from the processing liquid 21. The carrier 12 gripped by the gripping means 13 by the traveling operation unit 31 can be transported to another processing tank.

なお、搬送手段15は、Y方向にも移動可能、すなわちX−Y−Z3次元方向に移動可能に構成されてもよく、さらに上下動作部32をその軸線まわりに回転移動させることができるように構成されてもよい。   The conveying means 15 may be configured to be movable in the Y direction, that is, movable in the XYZ three-dimensional direction, and further, the vertical movement unit 32 can be rotated around its axis. It may be configured.

図9は、化学処理装置10を用いてシリコンウエハ16の化学処理を行う方法を説明するフローチャートである。図9では、シリコンウエハ16を、処理槽11に収容されるたとえば純水に浸漬して洗浄処理する場合について例示する。   FIG. 9 is a flowchart for explaining a method of performing chemical processing on the silicon wafer 16 using the chemical processing apparatus 10. FIG. 9 illustrates a case where the silicon wafer 16 is cleaned by being immersed in, for example, pure water stored in the processing tank 11.

図9のフローチャートに示すような処理方法は、自動化することが可能であり、中央処理装置(CPU)が搭載される処理回路、たとえばマイクロコンピュータに、化学処理装置10の動作各部を接続し、化学処理装置10を動作制御するために予め準備されるプログラムに従ってマイクロコンピュータが制御することによって実現できる。以下、図9を参照してシリコンウエハ16の化学処理方法について説明する。   The processing method as shown in the flowchart of FIG. 9 can be automated, and each part of the operation of the chemical processing apparatus 10 is connected to a processing circuit, such as a microcomputer, on which a central processing unit (CPU) is mounted. This can be realized by the microcomputer controlling in accordance with a program prepared in advance for controlling the operation of the processing apparatus 10. Hereinafter, a chemical processing method of the silicon wafer 16 will be described with reference to FIG.

スタートでは、化学処理装置10が動作可能な状態であり、処理対象であるシリコンウエハ16、キャリア12および処理槽11中に収容される化学処理液21として純水が準備される。   At the start, the chemical processing apparatus 10 is in an operable state, and pure water is prepared as the chemical processing liquid 21 accommodated in the silicon wafer 16 to be processed, the carrier 12 and the processing tank 11.

ステップs1では、キャリア12にシリコンウエハ16を挿入し、側溝9と位置決め溝18とで、1枚ずつ位置決めする。このキャリア12に対するシリコンウエハ16の挿入は、たとえば自動移載機によって行うことができる。図10は、シリコンウエハ16を収容するキャリア12が準備されている状態を示す図である。シリコンウエハ16が収容されるキャリア12は、たとえば第1仮置台35の上に載置される。   In step s1, the silicon wafer 16 is inserted into the carrier 12, and the side grooves 9 and the positioning grooves 18 are positioned one by one. The silicon wafer 16 can be inserted into the carrier 12 by, for example, an automatic transfer machine. FIG. 10 is a diagram illustrating a state in which the carrier 12 that accommodates the silicon wafer 16 is prepared. The carrier 12 in which the silicon wafer 16 is accommodated is placed on the first temporary placement table 35, for example.

ステップs2では、搬送手段15の走行動作部31を動作させて、把持手段13および傾斜手段14を第1仮置台35上に載置されるキャリア12の上方まで搬送し、上下動作部32で把持手段13の上下位置を調整し、把持手段13でキャリア12を把持する。ステップs3では、把持手段13で把持されるキャリア12を、搬送手段15の走行動作部31の動作によって、処理槽11の上方位置まで搬送する。   In step s 2, the travel operation unit 31 of the transport unit 15 is operated to transport the gripping unit 13 and the tilting unit 14 to above the carrier 12 placed on the first temporary mounting table 35 and grip it by the vertical operation unit 32. The vertical position of the means 13 is adjusted, and the carrier 12 is gripped by the gripping means 13. In step s 3, the carrier 12 gripped by the gripping means 13 is transported to the upper position of the processing tank 11 by the operation of the traveling operation unit 31 of the transporting means 15.

ステップs4では、搬送手段15の上下動作部32を動作させて把持手段13に把持されるキャリア12を下降させ、キャリア12を純水21の中へ浸漬する。ステップs5では、把持手段13を動作させてキャリア12を処理槽11中でリリースする。すなわち、キャリア12はフリーの状態で純水中に浸漬される。   In step s 4, the vertical movement unit 32 of the conveying unit 15 is operated to lower the carrier 12 held by the holding unit 13, and the carrier 12 is immersed in the pure water 21. In step s5, the gripping means 13 is operated to release the carrier 12 in the processing tank 11. That is, the carrier 12 is immersed in pure water in a free state.

ステップs6では、所定時間経過したか否かが判定される。ここで所定時間とは、シリコンウエハ16を洗浄するために必要な時間である。シリコンウエハ16の洗浄に要する時間(基準時間)は、洗浄の予備試験を行うことによって求めることができ、シリコンウエハ16のサイズや前工程に応じて定められる。このような基準時間は、メモリに格納しておくことができる。したがって、メモリから基準時間を読出し、キャリア12を純水21の中に浸漬してからマイクロコンピュータのクロック部がカウントする時間と比較することによって、ステップs6の判定をすることができる。   In step s6, it is determined whether or not a predetermined time has elapsed. Here, the predetermined time is a time required for cleaning the silicon wafer 16. The time required for cleaning the silicon wafer 16 (reference time) can be obtained by performing a preliminary cleaning test, and is determined according to the size of the silicon wafer 16 and the previous process. Such a reference time can be stored in a memory. Therefore, the determination of step s6 can be made by reading the reference time from the memory and comparing it with the time counted by the clock unit of the microcomputer after the carrier 12 is immersed in the pure water 21.

所定時間が経過していないとき、ステップs6の経時動作を繰返し、所定時間が経過したとき、ステップs7へ進む。ステップs7では、把持手段13を動作させて、純水21中のキャリア12を再び把持する。   When the predetermined time has not elapsed, the time-lapse operation of step s6 is repeated, and when the predetermined time has elapsed, the process proceeds to step s7. In step s7, the gripping means 13 is operated to grip the carrier 12 in the pure water 21 again.

ステップs8では、傾斜手段14を動作させて、キャリア12をたとえば5度傾斜させ、傾斜させた状態で保持する。キャリア12を長手方向に角度θだけ傾斜させることによって、側溝9と位置決め溝18とで位置決めされてキャリア12に収容されるシリコンウエハ16は、自重が作用することによって、傾斜の下方に向かって一様に片寄った形で側溝9と位置決め溝18とによって一層確実に整列させられる。このように、複数のシリコンウエハ16が同一方向に片寄る形で整列することによって、隣合うシリコンウエハ16同士の間隔が確実に保たれるので、隣合うシリコンウエハ16同士が吸着することを防止できる。   In step s8, the tilting means 14 is operated to tilt the carrier 12 by, for example, 5 degrees and hold it in a tilted state. By tilting the carrier 12 by an angle θ in the longitudinal direction, the silicon wafer 16 positioned by the side groove 9 and the positioning groove 18 and accommodated in the carrier 12 is moved downward by a downward force due to its own weight. In this way, the side grooves 9 and the positioning grooves 18 can be more reliably aligned in a biased form. As described above, by aligning the plurality of silicon wafers 16 so as to be offset in the same direction, the distance between the adjacent silicon wafers 16 is reliably maintained, so that the adjacent silicon wafers 16 can be prevented from being adsorbed. .

ステップs9では、搬送手段15の上下動作部32を動作させて把持手段13に把持されるキャリア12を上昇させ、キャリア12を純水21から引上げる。このように、キャリア12を角度θ傾斜させたままで純水21から引上げることによって、複数のシリコンウエハ16を同一方向に片寄る形で整列させ、隣合うシリコンウエハ16同士の間隔を確実に保ったまま、純水21を水切りすることができるので、隣合うシリコンウエハ16同士が吸着することを防止できる。   In step s 9, the vertical movement unit 32 of the transport unit 15 is operated to raise the carrier 12 gripped by the gripping unit 13, and the carrier 12 is pulled up from the pure water 21. As described above, the carrier 12 is pulled up from the pure water 21 while being inclined at the angle θ, thereby aligning the plurality of silicon wafers 16 so as to be offset in the same direction, and reliably keeping the distance between the adjacent silicon wafers 16. Since the pure water 21 can be drained as it is, the adjoining silicon wafers 16 can be prevented from being adsorbed.

ステップs10では、傾斜手段14を動作させて把持手段13に把持されるキャリア12の傾斜を回復して水平に保持する。ステップs11では、搬送手段15の走行動作部31を動作させて、把持手段13に把持されるキャリア12が、X方向に搬送されて一旦第2仮置台36上に載置され、他の搬送手段によって他の処理槽たとえば乾燥処理槽まで搬送され、一通りの化学処理が終了する。   In step s10, the tilting means 14 is operated to recover the tilt of the carrier 12 gripped by the gripping means 13 and hold it horizontally. In step s11, the traveling operation unit 31 of the transport unit 15 is operated so that the carrier 12 gripped by the grip unit 13 is transported in the X direction and once placed on the second temporary placement table 36, and another transport unit. Is transferred to another processing tank, for example, a drying processing tank, and one chemical process is completed.

なお、処理槽11における処理が、洗浄ではなく、たとえばウェットエッチングであるような場合、処理槽11から引上げられたキャリア12は、搬送手段15によって他の処理槽11Aまたは処理槽11Bまで搬送され、洗浄などの他の化学処理に供される。   When the treatment in the treatment tank 11 is not cleaning but wet etching, for example, the carrier 12 pulled up from the treatment tank 11 is conveyed to another treatment tank 11A or a treatment tank 11B by the conveyance means 15, It is subjected to other chemical treatments such as washing.

以上に述べたように、本実施形態では、基板としてシリコンウエハを例示するけれども、これに限定されることなく、基板は、ガリウムヒ素ウエハまたはガラス基板などであってもよい。また、下位置決め部材17は、丸棒形状であるけれども、これに限定されることなく、その他の棒状たとえば角棒形状であってもよく、また楕円棒形状であってもよい。また、位置決め溝は、下位置決め部材の全周にわたって形成されるけれども、これに限定されることなく、上側の半周部分に形成されてもよく、また上側の1/3周部分に形成されてもよい。また、位置決め溝の断面は、V字状に形成されるけれども、これに限定されることなく、U字状であってもよく、また凹溝であってもよい。ただし、基板下部の位置決め精度の観点からは断面がV字状であることが好ましい。   As described above, in this embodiment, a silicon wafer is exemplified as the substrate, but the substrate is not limited to this, and the substrate may be a gallium arsenide wafer or a glass substrate. Further, the lower positioning member 17 has a round bar shape, but is not limited thereto, and may have another bar shape such as a square bar shape or an elliptical bar shape. Moreover, although the positioning groove is formed over the entire circumference of the lower positioning member, the positioning groove is not limited to this, and may be formed in the upper half-circumferential part, or may be formed in the upper 1/3 circumferential part. Good. Moreover, although the cross section of the positioning groove is formed in a V shape, it is not limited to this and may be a U shape or a concave groove. However, it is preferable that the cross section is V-shaped from the viewpoint of positioning accuracy of the lower part of the substrate.

本発明の実施の一形態である基板の化学処理装置10の構成を一部断面にて示す側面図である。It is a side view which shows the structure of the chemical processing apparatus 10 of the board | substrate which is one Embodiment of this invention in a partial cross section. 図1に示す基板の化学処理装置10を一部断面にて示す正面図である。It is a front view which shows the chemical processing apparatus 10 of the board | substrate shown in FIG. 1 in a partial cross section. 収容搬送容器12の構成を示す斜視図である。FIG. 6 is a perspective view showing a configuration of a storage transport container 12. 下位置決め部材17の構成を示す側面図である。4 is a side view showing a configuration of a lower positioning member 17. FIG. 図4に示す下位置決め部材17の正面図である。It is a front view of the lower positioning member 17 shown in FIG. キャリア12に収容されるシリコンウエハ16の状態を長手方向に垂直な断面から見た図である。It is the figure which looked at the state of the silicon wafer 16 accommodated in the carrier 12 from the cross section perpendicular | vertical to a longitudinal direction. キャリア12に収容されるシリコンウエハ16の状態を側面から見た図である。It is the figure which looked at the state of the silicon wafer 16 accommodated in the carrier 12 from the side. キャリア12に収容されるシリコンウエハ16の状態を上面から見た図である。It is the figure which looked at the state of the silicon wafer 16 accommodated in the carrier 12 from the upper surface. 化学処理装置10を用いてシリコンウエハ16の化学処理を行う方法を説明するフローチャートである。4 is a flowchart illustrating a method for performing chemical processing on a silicon wafer 16 using the chemical processing apparatus 10. シリコンウエハ16を収容するキャリア12が準備されている状態を示す図である。It is a figure which shows the state by which the carrier 12 which accommodates the silicon wafer 16 is prepared. 従来のキャリア1の典型的な構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the typical structure of the conventional carrier 1. FIG. キャリア1の長手方向に対して垂直な断面を見た図である。FIG. 3 is a view of a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the carrier 1. 基板が側溝内で位置ずれしている状態を示す側面から見た部分断面図である。It is the fragmentary sectional view seen from the side which shows the state which the board | substrate has shifted in the side groove | channel. 隣合う基板同士が吸着している状態を示す上面図である。It is a top view which shows the state which the adjacent board | substrates adsorb | suck.

符号の説明Explanation of symbols

1,12 キャリア
2,16 基板
3 右側壁部
4 左側壁部
5,6 連結部
7,8 基板保持部
9 側溝
10 化学処理装置
11 処理槽
13 把持手段
14 傾斜手段
15 搬送手段
17 下位置決め部材
18 位置決め溝
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,12 Carrier 2,16 Board | substrate 3 Right side wall part 4 Left side wall part 5,6 Connection part 7,8 Substrate holding | maintenance part 9 Side groove 10 Chemical processing apparatus 11 Processing tank 13 Holding means 14 Inclining means 15 Conveying means 17 Lower positioning member 18 Positioning groove

Claims (8)

複数の基板を化学処理する化学処理装置において、
化学処理液が収容される処理槽と、
複数の基板が収容され基板を収容した状態で化学処理および搬送に用いられる収容搬送容器であって、少なくとも1対の対向する側壁部を備え、対向する1対の側壁部には、基板を1枚ごとに位置決めするための側溝が対向する位置にそれぞれ形成され、上下方向に化学処理液が流通できるように開口され、下開口部には、側壁部に形成される側溝に対応するように基板を1枚ごとに位置決めすることができる下位置決め部材を有する収容搬送容器と、
基板が収容される収容搬送容器を把持する把持手段と、
把持手段に把持される収容搬送容器を傾斜させる傾斜手段と、
把持手段に把持される収容搬送容器を少なくとも2次元方向に移動させる搬送手段とを含むことを特徴とする基板の化学処理装置。
In a chemical processing apparatus that chemically processes a plurality of substrates,
A treatment tank containing a chemical treatment liquid;
A storage and transfer container used for chemical processing and transfer in a state where a plurality of substrates are stored and a substrate is stored. The storage and transfer container includes at least one pair of opposing side wall portions. Side grooves for positioning each sheet are formed at opposing positions, opened so that the chemical treatment liquid can flow in the vertical direction, and the lower opening has a substrate corresponding to the side grooves formed in the side wall. Storage container having a lower positioning member capable of positioning each sheet,
A gripping means for gripping a storage transport container in which a substrate is stored;
Inclining means for inclining the containing transport container gripped by the gripping means;
A substrate chemical processing apparatus, comprising: a transport unit that moves at least a two-dimensional direction of an accommodation transport container gripped by the grip unit.
傾斜手段が把持手段に把持される収容搬送容器を傾斜させる角度は、1度〜10度であることを特徴とする請求項1記載の基板の化学処理装置。   2. The chemical processing apparatus for a substrate according to claim 1, wherein the tilting means tilts the storage container held by the gripping means in an angle of 1 to 10 degrees. 収容搬送容器が有する下位置決め部材は、
細長く延びる棒状部材であり、棒状部材の外周に、側壁部に形成される側溝に対応するように複数の位置決め溝が形成され、該位置決め溝に基板を載置させることによって位置決めすることを特徴とする請求項1または2記載の基板の化学処理装置。
The lower positioning member of the receiving and transporting container is
It is an elongated rod-like member, and a plurality of positioning grooves are formed on the outer periphery of the rod-like member so as to correspond to side grooves formed in the side wall portion, and positioning is performed by placing a substrate in the positioning groove. The substrate chemical processing apparatus according to claim 1 or 2.
下位置決め部材は、
側壁部に形成される側溝の中心に対して位置決め溝の中心が、複数の基板が収容搬送容器内に収容されて配列される方向においてずれを有するように収容搬送容器に設けられることを特徴とする請求項3記載の基板の化学処理装置。
The lower positioning member
The center of the positioning groove with respect to the center of the side groove formed in the side wall portion is provided in the storage and transport container so as to have a deviation in the direction in which the plurality of substrates are stored and arranged in the storage and transport container. The substrate chemical processing apparatus according to claim 3.
複数の基板を化学処理する化学処理方法において、
少なくとも1対の対向する側壁部を備え、対向する1対の側壁部には、基板を1枚ごとに位置決めするための側溝が対向する位置にそれぞれ形成され、上下方向に化学処理液が流通できるように開口され、下開口部には、側壁部に形成される側溝に対応するように基板を1枚ごとに位置決めすることができる下位置決め部材を有する収容搬送容器に、複数の基板を収容する工程と、
基板が収容される収容搬送容器を把持する工程と、
把持される収容搬送容器を、化学処理液が収容される処理槽まで搬送して処理槽の中へ装入し、収容搬送容器に収容される基板を化学処理液に浸漬する工程と、
処理槽の中で収容搬送容器を傾斜させる工程と、
収容搬送容器を処理槽から引上げる工程と、
収容搬送容器を他の処理槽まで搬送する工程とを含むことを特徴とする基板の化学処理方法。
In a chemical processing method for chemically processing a plurality of substrates,
At least one pair of opposing side wall portions is provided, and side grooves for positioning the substrates one by one are formed in the opposing pair of side wall portions, respectively, so that the chemical treatment liquid can flow in the vertical direction. The plurality of substrates are accommodated in an accommodation transport container having a lower positioning member capable of positioning the substrates one by one so as to correspond to the side grooves formed in the side wall portions in the lower opening portion. Process,
A step of gripping a container transport container in which a substrate is stored;
The step of transporting the holding and transporting container to the processing tank in which the chemical processing liquid is stored and charging it into the processing tank, and immersing the substrate stored in the storing and transporting container in the chemical processing liquid;
A step of tilting the storage and transfer container in the treatment tank;
A process of pulling up the storage container from the processing tank;
And a step of transporting the containing transport container to another processing tank.
処理槽の中で収容搬送容器を傾斜させる工程では、
収容搬送容器の傾斜角度が、1度〜10度になるように傾斜させることを特徴とする請求項5記載の基板の化学処理方法。
In the process of tilting the storage container in the treatment tank,
6. The method for chemical treatment of a substrate according to claim 5, wherein the inclination angle of the containing transport container is inclined so as to be 1 to 10 degrees.
処理槽の中で収容搬送容器を傾斜させる工程では、
収容搬送容器が傾斜された状態で保持されることを特徴とする請求項5または6記載の基板の化学処理方法。
In the process of tilting the storage container in the treatment tank,
The substrate chemical processing method according to claim 5 or 6, wherein the storage container is held in an inclined state.
収容搬送容器を他の処理槽まで搬送する工程では、
収容搬送容器の傾斜を回復して収容搬送容器を水平に保持することを特徴とする請求項5〜7のいずれか1つに記載の基板の化学処理方法。
In the process of transporting the storage transport container to another processing tank,
8. The chemical treatment method for a substrate according to claim 5, wherein the accommodation conveyance container is restored to be inclined to hold the accommodation conveyance container horizontally.
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