[go: up one dir, main page]

JP2006332796A - 光検出装置 - Google Patents

光検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2006332796A
JP2006332796A JP2005149961A JP2005149961A JP2006332796A JP 2006332796 A JP2006332796 A JP 2006332796A JP 2005149961 A JP2005149961 A JP 2005149961A JP 2005149961 A JP2005149961 A JP 2005149961A JP 2006332796 A JP2006332796 A JP 2006332796A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
voltage value
time
switch
photodiode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005149961A
Other languages
English (en)
Inventor
Masanori Mizoguchi
真規 溝口
Yasuhiro Suzuki
保博 鈴木
Seiichiro Mizuno
誠一郎 水野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hamamatsu Photonics KK filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to JP2005149961A priority Critical patent/JP2006332796A/ja
Priority to PCT/JP2006/310247 priority patent/WO2006126539A1/ja
Publication of JP2006332796A publication Critical patent/JP2006332796A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

【課題】 オフセット誤差等を充分に除去することができる光検出装置を提供する。
【解決手段】 光検出装置1は、フォトダイオードPDm,n,スイッチSWm,n,積分回路12及びCDS回路13を備える。積分回路12は、フォトダイオードPDm,nからスイッチSWm,n及び配線Lを経て入力した電荷を容量素子Cに蓄積して、当該蓄積電荷量に応じた電圧値を出力する。CDS回路13は、クランプ用スイッチSWが開く基準時刻に積分回路12から出力される電圧値を基準電圧値とし、この基準時刻以降、積分回路12から出力される電圧値と基準電圧値との差に応じた電圧値を出力する。配線Lの容量値をCとし、容量素子Cの容量値をCと表し、積分回路12に含まれるアンプAのゲインバンド積をGBWとしたとき、スイッチSWが開いて積分回路12が電荷蓄積可能状態となる時刻から基準時刻までの時間Tは所定値以上である。
【選択図】 図2

Description

本発明は、入射光強度に応じた電圧値を出力する光検出装置に関するものである。
光検出装置は、入射光強度に応じた量の電荷を発生するフォトダイオードと、このフォトダイオードで発生した電荷を蓄積して当該蓄積電荷量に応じた電圧値を出力する積分回路と、を備えている。また、光検出装置は、積分回路の出力電圧値に含まれるオフセット誤差およびスイッチングノイズ(以下では両者を併せて「オフセット誤差等」という。)を除去するために、CDS(CorrelatedDouble Sampling、相関二重サンプリング)回路を更に備える場合がある(例えば特許文献1を参照)。このCDS回路は、基準時刻に積分回路から出力される電圧値を基準電圧値とし、この基準時刻以降、積分回路から出力される電圧値と基準電圧値との差に応じた電圧値を出力する。
また、光検出装置は、複数のフォトダイオードが1次元状または2次元状に配列されている場合には、1次元画像または2次元画像を撮像することができる。このような光検出装置では、1つのフォトダイオードに対して1組の積分回路およびCDS回路が設けられてもよいが、その場合には全体の回路規模が大きくなる。そこで、全体の回路規模を小さくするために、複数のフォトダイオードに対して1組の積分回路およびCDS回路が設けられることが望ましい。
例えば、M×N個のフォトダイオードがM行N列に2次元配列されている場合、各行のN個のフォトダイオードに対して1組の積分回路およびCDS回路が設けられる。すなわち、全体でM組の積分回路およびCDS回路が設けられる。そして、各行について、N個のフォトダイオードそれぞれが順次に積分回路に接続されて、N個のフォトダイオードそれぞれへの入射光の強度に応じた電圧値が順次にCDS回路から出力される。
特開平8−331459号公報
ところが、上記のような光検出装置において、積分回路の出力電圧値に含まれるオフセット誤差等を除去するCDS回路を備えているにも拘らず、そのオフセット誤差等の除去が不充分である場合があった。
本発明は、上記問題点を解消する為になされたものであり、オフセット誤差等を充分に除去することができる光検出装置を提供することを目的とする。
本発明に係る光検出装置は、(1) 入射光強度に応じた量の電荷を発生するフォトダイオードと、(2) フォトダイオードと配線との間に設けられ、閉じているときに、フォトダイオードで発生した電荷を配線へ出力するスイッチと、(3)配線に入力端が接続されたアンプと、このアンプの入力端と出力端との間に並列的に設けられた容量素子およびリセット用スイッチとを含み、リセット用スイッチが開いているときに、フォトダイオードで発生しスイッチおよび配線を経て入力した電荷を容量素子に蓄積し、容量素子に蓄積されている電荷の量に応じた電圧値を出力する積分回路と、(4)基準時刻に積分回路から出力される電圧値を基準電圧値とし、基準時刻以降、積分回路から出力される電圧値と基準電圧値との差に応じた信号値を出力するCDS回路と、(5) スイッチ,積分回路およびCDS回路それぞれの動作を制御する制御部と、を備えることを特徴とする。更に、本発明に係る光検出装置に含まれる制御部は、配線の容量値をCとし、容量素子の容量値をCとし、アンプのゲインバンド積をGBWとし、リセット用スイッチが開いて積分回路が電荷蓄積可能状態となる時刻から基準時刻までの時間をTとしたときに、これらのパラメータの間に下記(1)式の関係式が成り立つように制御を行うことを特徴とする。
Figure 2006332796
この光検出装置では、積分回路は、リセット用スイッチが閉じることにより、容量素子が放電されて出力電圧値が初期化され、その後にリセット用スイッチが開くことにより、入力する電荷を容量素子に蓄積することができる電荷蓄積可能状態となる。リセット用スイッチが開いているときに、フォトダイオードとともに設けられているスイッチが閉じると、該フォトダイオードで発生して当該接合容量部に蓄積されていた電荷は、スイッチおよび配線を経て積分回路に入力して積分回路の容量素子に蓄積され、この容量素子に蓄積されている電荷の量に応じた電圧値が積分回路からCDS回路へ出力される。そして、CDS回路では、基準時刻に積分回路から出力される電圧値が基準電圧値とされて、この基準時刻以降、積分回路から出力される電圧値と基準電圧値との差に応じた信号値がCDS回路から出力される。このとき、上記(1)式の関係式が満たされるような制御が制御部により行われることにより、積分回路の出力電圧値に含まれるオフセット誤差等がCDS回路により充分に除去されて、そのオフセット誤差等が除去された信号値がCDS回路から出力され得る。
また、本発明に係る光検出装置は、複数組のフォトダイオードおよびスイッチに対して1組の積分回路およびCDS回路が設けられているのが好適である。この場合、複数のスイッチが順次に閉じることで、複数のフォトダイオードが順次に積分回路に接続される。各フォトダイオードは一定周期で積分回路に接続される期間を有し、前回の接続期間から今回の接続期間までの間に発生し該フォトダイオードの接合容量部に蓄積されていた電荷はスイッチおよび配線を経て積分回路へ入力される。この光検出装置は、上記(1)式の関係式が満たされるような制御が制御部により行われることにより、オフセット誤差等が除去されてS/N比が優れた1次元画像または2次元画像を撮像することができ、また、全体の回路規模を小さくすることができる。
本発明に係る光検出方法は、(1) 入射光強度に応じた量の電荷を発生するフォトダイオードと、(2) フォトダイオードと配線との間に設けられ、閉じているときに、フォトダイオードで発生した電荷を配線へ出力するスイッチと、(3)配線に入力端が接続されたアンプと、このアンプの入力端と出力端との間に並列的に設けられた容量素子およびリセット用スイッチとを含み、リセット用スイッチが開いているときに、フォトダイオードで発生しスイッチおよび配線を経て入力した電荷を容量素子に蓄積し、容量素子に蓄積されている電荷の量に応じた電圧値を出力する積分回路と、(4)基準時刻に積分回路から出力される電圧値を基準電圧値とし、基準時刻以降、積分回路から出力される電圧値と基準電圧値との差に応じた信号値を出力するCDS回路と、を備える光検出装置を用いて光検出をする方法である。そして、本発明に係る光検出方法は、配線の容量値をCとし、容量素子の容量値をCとし、アンプのゲインバンド積をGBWとし、リセット用スイッチが開いて積分回路が電荷蓄積可能状態となる時刻から基準時刻までの時間をTとしたときに、これらのパラメータの間に上記(1)式の関係式が成り立つように制御を行って光検出をすることを特徴とする。
本発明によれば、オフセット誤差等を充分に除去することができる。
以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための最良の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
(第1実施形態)
先ず、本発明に係る光検出装置および光検出方法の第1実施形態について説明する。図1は、第1実施形態に係る光検出装置1の構成図である。この図に示される光検出装置1は、2次元画像を撮像することができるものであって、光検出部11、M個の積分回路12〜12、M個のCDS回路13〜13、M個の保持回路14〜14、AD変換回路15および制御部19を備える。ここで、M,Nそれぞれは2以上の整数である。また、以下に現れるmは1以上M以下の任意の整数であり、nは1以上N以下の任意の整数である。M個の積分回路12〜12は共通の構成を有している。M個のCDS回路13〜13は共通の構成を有している。また、M個の保持回路14〜14は共通の構成を有している。
光検出部11は、M×N個のフォトダイオードPD1,1〜PDM,NおよびM×N個のスイッチSW1,1〜SWM,Nを含み、フォトダイオードPDm,nおよびスイッチSWm,nを組として、これらがM行N列に2次元配列されている。各フォトダイオードPDm,nは第m行第n列に位置している。また、各フォトダイオードPDm,nは、入射光強度に応じた量の電荷を発生するものであって、スイッチSWm,nを介して配線Lに接続されている。
各積分回路12は、配線Lに入力端が接続されており、この配線Lを経て入力した電荷を蓄積して、当該蓄積電荷量に応じた電圧値をCDS回路13へ出力する。各CDS回路13は、基準時刻に積分回路12から出力される電圧値を基準電圧値とし、この基準時刻以降、積分回路12から出力される電圧値と基準電圧値との差に応じた電圧値を保持回路14へ出力する。各保持回路14は、所定時刻にCDS回路13から出力される電圧値を保持し、その保持した電圧値をAD変換回路15へ出力する。
AD変換回路15は、M個の保持回路14〜14それぞれから順次に出力される電圧値を入力し、その電圧値(アナログ値)をデジタル値に変換して、そのデジタル値を出力する。制御部19は、光検出部11に含まれるM×N個のスイッチSW1,1〜SWM,N,M個の積分回路12〜12,M個のCDS回路13〜13,M個の保持回路14〜14およびAD変換回路15それぞれの動作を制御する。
図2は、第1実施形態に係る光検出装置1に含まれるフォトダイオードPDm,n,スイッチSWm,n,積分回路12およびCDS回路13の回路図である。なお、この図には、光検出部11に含まれるM×N個のフォトダイオードPD1,1〜PDM,NおよびM×N個のスイッチSW1,1〜SWM,Nのうち、第m行第n列に位置するフォトダイオードPDm,nおよびスイッチSWm,nが代表して示されている。
各積分回路12は、アンプA,容量素子Cおよびリセット用スイッチSWを備える。アンプAの非反転入力端子は所定電圧値が入力され、アンプAの反転入力端子は配線Lと接続されている。また、容量素子Cおよびリセット用スイッチSWは、互いに並列的に接続されて、アンプAの反転入力端子と出力端子との間に設けられている。積分回路12は、リセット用スイッチSWが開いているときには、フォトダイオードPDm,nで発生しスイッチSWm,nおよび配線Lを経て入力した電荷を容量素子Cに蓄積し、容量素子Cに蓄積されている電荷の量に応じた電圧値を出力する。一方、積分回路12は、リセット用スイッチSWが閉じることにより、容量素子Cが放電されて、出力電圧値が初期化される。
各CDS回路13は、アンプA,帰還容量素子C31,結合容量素子C32およびクランプ用スイッチSWを備える。アンプAの非反転入力端子は所定電圧値が入力され、アンプAの反転入力端子は結合容量素子C32を介して積分回路12の出力端に接続されている。また、帰還容量素子C31およびクランプ用スイッチSWは、互いに並列的に接続されて、アンプAの反転入力端子と出力端子との間に設けられている。CDS回路13は、クランプ用スイッチSWが開く時刻(基準時刻)に積分回路12から出力される電圧値を基準電圧値とし、この基準時刻以降、積分回路12から出力される電圧値の変動分に応じた量の電荷を帰還容量素子C31に蓄積することで、積分回路12から出力される電圧値と基準電圧値との差に応じた電圧値を保持回路14へ出力する。
ここで、スイッチSWm,nと積分回路12との間の配線Lの容量値をCとし、積分回路12に含まれる容量素子Cの容量値をCと表し、積分回路12に含まれるアンプAのゲインバンド積をGBWとする。積分回路12に含まれるアンプAの入力トランジスタのトランスコンダクタンスをgとし、このアンプAの内部位相補償容量値をCとする。また、積分回路12に含まれるリセット用スイッチSWが開いて積分回路12が電荷蓄積可能状態となる時刻から、CDS回路13に含まれるクランプ用スイッチSWが開く基準時刻までの時間をTとする。このとき、第1実施形態では、制御部19は、これらのパラメータの間に下記(2)式の関係式が成り立つように制御を行う。
Figure 2006332796
次に、第1実施形態に係る光検出装置1の動作について説明する。以下に説明する動作は、制御部19による制御の下に行われる。図3は、第1実施形態に係る光検出装置1の動作を説明するタイミングチャートである。この図には、第1実施形態の動作として、(a) 積分回路12に含まれるリセット用スイッチSWの開閉、(b) CDS回路13に含まれるクランプ用スイッチSWの開閉、(c) フォトダイオードPDm,nに対応して設けられているスイッチSWm,nの開閉、(d) 積分回路12からの出力電圧値、および、(e) CDS回路13からの出力電圧値、が示されている。また、比較例(上記(2)式の関係式が満たされない場合)の動作として、(f) CDS回路13に含まれるクランプ用スイッチSWの開閉、(g) 積分回路12からの出力電圧値、および、(h) CDS回路13からの出力電圧値、が示されている。
第1実施形態では、図3(a)〜(e)に示されるように動作する。すなわち、時刻t11から時刻t12までの期間、積分回路12に含まれるリセット用スイッチSWが閉じていて、容量素子Cが放電され、積分回路12からの出力電圧値が初期化される。時刻t11から時刻t14までの期間、CDS回路13に含まれるクランプ用スイッチSWが閉じていて、帰還容量素子C31が放電され、CDS回路13からの出力電圧値が初期化される。また、時刻t15から一定期間、スイッチSWm,nが閉じて、フォトダイオードPDm,nで発生し該フォトダイオードPDm,nの接合容量部に蓄積されていた電荷は、スイッチSWm,nおよび配線Lを経て積分回路12へ入力される。
ここで、各時刻の前後関係については「t11<t12<t14<t15」である。積分回路12が電荷蓄積可能状態となる時刻は、リセット用スイッチSWが開く時刻t12である。CDS回路13が基準電圧値を取り込む基準時刻は、クランプ用スイッチSWが開く時刻t14である。そして、第1実施形態では、時刻t12から時刻t14までの時間T(=t14−t12)は、上記(2)式の関係式を満たす。
時刻t12から時刻t15までの期間、積分回路12は、リセット用スイッチSWが開いているので電荷蓄積可能状態となっているものの、スイッチSWm,nが開いているのでフォトダイオードPDm,nから電荷が入力することはなく、容量素子Cには電荷が蓄積されていない。しかし、積分回路12からの出力電圧値は、時刻t12後に単調に変化していき、やがて時刻t14前の或る時刻に略一定電圧値(すなわち、オフセット電圧値)に達する。積分回路12からの出力電圧値がオフセット電圧値に達する時間は、上記(2a)式の右辺で表される。
時刻t14にクランプ用スイッチSWが開くと、その時刻t14(基準時刻)に積分回路12から出力されているオフセット電圧値が基準電圧値としてCDS回路13により取り込まれる。そして、この基準時刻t14以降、積分回路12から出力される電圧値の変動分に応じた量の電荷がCDS回路13の帰還容量素子C31に蓄積され、積分回路12から出力される電圧値と基準電圧値との差に応じた電圧値がCDS回路13から出力される。
時刻t15にスイッチSWm,nが閉じると、フォトダイオードPDm,nで発生し該フォトダイオードPDm,nの接合容量部に蓄積されていた電荷は、スイッチSWm,nおよび配線Lを経て積分回路12へ入力して、積分回路12の容量素子Cに蓄積される。そして、積分回路12から出力される電圧値は、容量素子Cに蓄積された電荷の量に応じた信号電圧値とオフセット電圧値とが重畳されたものとなる。また、CDS回路13から出力される電圧値は、積分回路12から出力される信号電圧値とオフセット電圧値とが重畳されたものと、基準時刻t14に積分回路12から出力されてCDS回路13に取り込まれたオフセット電圧値(基準電圧値)と、の差に応じたものとなる。したがって、CDS回路13から出力される電圧値は、オフセット誤差等が除去されたものとなる。
時刻t15より後の或る時刻にCDS回路13から出力される電圧値は保持回路14により保持される。M個の保持回路14〜14それぞれに保持された電圧値は、順次にAD変換回路15へ出力されて、AD変換回路15によりAD変換される。
以上のようにして第n列のM個のフォトダイオードPD1,n〜PDM,nについての並列的な処理が終わると、次の列のM個のフォトダイオードPD1,n+1〜PDM,n+1についての並列的な処理が同様に行われる。このようにして、各列のM個のフォトダイオードPD1,n〜PDM,nについての処理が繰り返し行われる。
第m行についてみると、N個のスイッチSWm,1〜SWm,Nが順次に閉じることで、N個のフォトダイオードPDm,1〜PDm,Nが順次に積分回路12に接続される。各フォトダイオードPDm,nは一定周期で積分回路12に接続される期間を有し、前回の接続期間から今回の接続期間までの間に発生し該フォトダイオードPDm,nの接合容量部に蓄積されていた電荷はスイッチSWm,nおよび配線Lを経て積分回路12へ入力される。
したがって、この光検出装置1は、上記(2)式の関係式が満たされるような制御が制御部19により行われることにより、オフセット誤差等が除去されてS/N比が優れた1次元画像または2次元画像を撮像することができ、また、全体の回路規模を小さくすることができる。
一方、比較例(上記(2)式の関係式が満たされない場合)では、図3(f)〜(h)に示されるように動作する。すなわち、第1実施形態の場合と異なり、この比較例の場合の動作では、時刻t12より後であって時刻t14より前の時刻t13に、CDS回路13に含まれるクランプ用スイッチSWが開く。リセット用スイッチSWが開いて積分回路12が電荷蓄積可能状態となる時刻t12から、クランプ用スイッチSWが開いてCDS回路13が基準電圧値を取り込む基準時刻t13まで、その間の時間T(=t13−t12)は、上記(2)式の関係式を満たさない。
比較例では、積分回路12から出力される電圧値は、クランプ用スイッチSWが開いてCDS回路13が基準電圧値を取り込んだ基準時刻t13以降も、暫くの間は単調に変化していき、やがて或る時刻に略一定電圧値(すなわち、オフセット電圧値)に達する。すなわち、基準時刻t13にCDS回路13に取り込まれた基準電圧値は、オフセット電圧値ではなく、オフセット電圧値から残存オフセット電圧値が差し引かれたものとなる。また、この基準時刻t13以降の積分回路12からの出力電圧値の変動分は、容量素子Cに蓄積された電荷の量に応じた信号電圧値と残存オフセット電圧値とが重畳されたものとなる。したがって、スイッチSWm,nが閉じる時刻t15以降にCDS回路13から出力される電圧値は、信号電圧値と残存オフセット電圧値とが重畳されたものに応じたものであって、オフセット除去等が不完全なものとなる。
比較例と対比することで判るように、第1実施形態では、積分回路12に含まれるリセット用スイッチSWが開いて積分回路12が電荷蓄積可能状態となる時刻t12から、CDS回路13に含まれるクランプ用スイッチSWが開く基準時刻t14までの時間Tが、上記(2)式の関係式を満たすことにより、CDS回路13から出力される電圧値は、オフセット誤差等が充分に除去されたものとなる。
(第2実施形態)
次に、本発明に係る光検出装置および光検出方法の第2実施形態について説明する。図4は、第2実施形態に係る光検出装置2の回路図である。この図に示される光検出装置2は、フォトダイオードPD,スイッチSW,積分回路22,CDS回路23、AD変換回路27および制御部29を備えており、スイッチSWと積分回路22の入力端とは配線Lにより接続されている。フォトダイオードPD,スイッチSWおよび積分回路22それぞれの構成は、第1実施形態の場合と同様である。CDS回路23は、第1保持回路24、第2保持回路24、第1電圧フォロワ回路25、第2電圧フォロワ回路25、差動変換回路26、スイッチSW81およびスイッチSW82を含む。
第1保持回路24と第2保持回路24とは共通の構成を有している。第1保持回路24および第2保持回路24それぞれの入力端は積分回路22の出力端に接続されている。第1保持回路24は、アンプA,容量素子CおよびスイッチSW40〜SW42を含む。アンプAの非反転入力端子は所定電圧値が入力されている。アンプAの反転入力端子は、容量素子Cと接続され、また、この容量素子CおよびスイッチSW40を介して積分回路22の出力端と接続されている。スイッチSW41は、アンプAの反転入力端子と出力端子との間に設けられている。また、スイッチSW42は、容量素子CとスイッチSW40との接続点と、アンプAの出力端子との間に、設けられている。第2保持回路24の構成についても同様である。
第1保持回路24は、スイッチSW40が閉状態から開状態に転じることで、そのときに積分回路22から出力されている電圧値を保持し、その後、スイッチSW41が閉状態から開状態に転じ、また、スイッチSW42が開状態から閉状態に転じることで、これ以降、その保持している電圧値を出力する。第2保持回路24の動作についても同様である。ただし、第1保持回路24と第2保持回路24とは互いに異なるタイミングで動作する。すなわち、第1保持回路24は、積分回路22から出力されるオフセット電圧値を保持するよう、スイッチSW40〜SW42が開閉動作する。また、第2保持回路24は、積分回路22から出力されるオフセット電圧値が重畳された信号電圧値を保持するよう、スイッチSW40〜SW42が開閉動作する。
第1電圧フォロワ回路25と第2電圧フォロワ回路25とは共通の構成を有している。第1電圧フォロワ回路25の入力端はスイッチSW81を介して第1保持回路24の出力端に接続され、第2電圧フォロワ回路25の入力端はスイッチSW82を介して第2保持回路24の出力端に接続されている。第1電圧フォロワ回路25は、アンプの非反転入力端子がスイッチSW81と接続され、該アンプの反転入力端子と出力端子とが互いに直接に接続されており、高入力インピーダンスおよび低出力インピーダンスを有し、理想的には増幅率1の増幅回路である。第2電圧フォロワ回路25についても同様である。
差動変換回路26は、アンプおよび4個の抵抗器R〜Rを含む。該アンプは、非反転入力端子、反転入力端子、非反転出力端子および反転出力端子を有する。アンプの非反転入力端子は、抵抗器Rを介して第1電圧フォロワ回路25の出力端に接続され、抵抗器Rを介してアンプの反転出力端子に接続されている。また、アンプの反転入力端子は、抵抗器Rを介して第2電圧フォロワ回路25の出力端に接続され、抵抗器Rを介してアンプの非反転出力端子と接続されている。この差動変換回路26は、第1電圧フォロワ回路25および第2電圧フォロワ回路25それぞれから出力される電圧値を入力し、これら2つの入力電圧値の差に応じた電圧値を差動信号として出力する。AD変換回路27は、差動変換回路26から出力された電圧値を入力し、その電圧値(アナログ値)をデジタル値に変換して、そのデジタル値を出力する。
制御部29は、フォトダイオードPDとともに設けられるスイッチSW、積分回路22に含まれるリセット用スイッチSW、保持回路24,24それぞれに含まれるスイッチSW40〜SW42、AD変換回路27およびスイッチSW81,SW82それぞれの動作を制御する。この第2実施形態においても、配線Lの容量値をCとし、積分回路22に含まれる容量素子Cの容量値をCと表し、積分回路22に含まれるアンプAのゲインバンド積をGBWとし、このアンプAの入力トランジスタのトランスコンダクタンスをgとし、このアンプAの内部位相補償容量値をCとし、リセット用スイッチSWが開いて積分回路22が電荷蓄積可能状態となる時刻から基準時刻までの時間をTとしたときに、制御部29は、上記(2)式の関係式が成り立つように制御を行う。ただし、この第2実施形態では、CDS回路23が基準電圧値を取り込む基準時刻は、第1保持回路24においてスイッチSW40が閉状態から開状態に転じる時刻となる。
この第2実施形態においては、CDS回路23は、積分回路22から出力されるオフセット電圧値を第1保持回路24により保持するとともに、積分回路22から出力されるオフセット電圧値が重畳された信号電圧値を第2保持回路24により保持することにより、第1保持回路24および第2保持回路24それぞれにより保持された電圧値の差(すなわち、オフセット誤差が除去された信号電圧値)を差動信号として差動変換回路26から出力することができる。また、AD変換回路27は、この差動変換回路26から出力される差動信号としての信号電圧値をデジタル値に変換して、そのデジタル値を出力することができる。
なお、1組のフォトダイオードPDおよびスイッチSWに対して1組の積分回路22およびCDS回路23が設けられていてもよいし、第1実施形態の場合と同様に複数組のフォトダイオードPDおよびスイッチSWに対して1組の積分回路22およびCDS回路23が設けられていてもよい。また、1つの積分回路22に対して1つのCDS回路23が設けられてもよいし、複数の積分回路22に対して1つのCDS回路23が設けられてもよい。後者の場合には、各積分回路22の後段にスイッチが設けられて、このスイッチにより、各積分回路22から出力される電圧値が順次にCDS回路23に入力される。
また、CDS回路23内においても、1組の保持回路24,24に対して1組の電圧フォロワ回路25,25、差動変換回路26およびAD変換回路27が設けられてもよいし、複数組の保持回路24,24に対して1組の電圧フォロワ回路25,25、差動変換回路26およびAD変換回路27が設けられてもよい。前者の場合には、スイッチSW81,SW82は不要である(または、常に閉じている)。後者の場合には、各組の保持回路24,24の後段に設けられたスイッチSW81,SW82により、各組の保持回路24,24から出力される電圧値が順次に電圧フォロワ回路25,25に入力される。
次に、第2実施形態に係る光検出装置2の動作について説明する。以下に説明する動作は、制御部29による制御の下に行われる。図5は、第2実施形態に係る光検出装置2の動作を説明するタイミングチャートである。なお、フォトダイオードPD,スイッチSW,積分回路22,保持回路24,24、電圧フォロワ回路25,25、差動変換回路26およびAD変換回路27それぞれが1つずつ設けられているものとし、スイッチSW81,SW82は常に閉じているものとして、光検出装置2の動作について説明する。
この図には、(a) 積分回路22に含まれるリセット用スイッチSWの開閉、(b1)〜(b3) 第1保持回路24に含まれるスイッチSW40〜SW42それぞれの開閉、(c1)〜(c3) 第2保持回路24に含まれるスイッチSW40〜SW42それぞれの開閉、(d) フォトダイオードPDとともに設けられているスイッチSWの開閉、および、(e)積分回路22からの出力電圧値、が示されている。
時刻t21から時刻t22までの期間、積分回路22に含まれるリセット用スイッチSWが閉じていて、容量素子Cが放電され、積分回路22からの出力電圧値が初期化される。第1保持回路24において、時刻t21にスイッチSW40が閉じ、時刻t21後にスイッチSW41が閉じ、時刻t23にスイッチSW40が開き、時刻t23後にスイッチSW41が開き、時刻t24にスイッチSW42が閉じ、時刻t27にスイッチSW42が開く。第2保持回路24において、時刻t21にスイッチSW40が閉じ、時刻t21後にスイッチSW41が閉じ、時刻t25にスイッチSW40が開き、時刻t25後にスイッチSW41が開き、時刻t26にスイッチSW42が閉じ、時刻t27にスイッチSW42が開く。また、時刻t24から一定期間、スイッチSWが閉じて、フォトダイオードPDで発生し該フォトダイオードPDの接合容量部に蓄積されていた電荷は、スイッチSWおよび配線Lを経て積分回路22へ入力される。
ここで、各時刻の前後関係については「t21<t22<t23<t24<t25<t26<t27」である。積分回路22が電荷蓄積可能状態となる時刻は、リセット用スイッチSWが開く時刻t22である。CDS回路23が基準電圧値を取り込む基準時刻は、第1保持回路24に含まれるスイッチSW40が開く時刻t23である。そして、第2実施形態では、時刻t22から時刻t23までの時間T(=t23−t22)は、上記(2)式の関係式を満たす。
時刻t22から時刻t24までの期間、積分回路22は、リセット用スイッチSWが開いているので電荷蓄積可能状態となっているものの、スイッチSWが開いているのでフォトダイオードPDから電荷が入力することはなく、容量素子Cには電荷が蓄積されていない。しかし、積分回路22からの出力電圧値は、時刻t22後に単調に変化していき、やがて時刻t23前の或る時刻に略一定電圧値(すなわち、オフセット電圧値)に達する。積分回路22からの出力電圧値がオフセット電圧値に達する時間は、上記(2a)式の右辺で表される。
第1保持回路24において、時刻t23にスイッチSW40が開き、時刻t23後にスイッチSW41が開き、時刻t24にスイッチSW42が閉じると、時刻t23における積分回路22の出力電圧値に応じた電圧値(基準電圧値)が第1保持回路24により保持され、時刻t24以降、その保持された電圧値が第1保持回路24から出力される。この出力される電圧値は、積分回路22から出力されるオフセット電圧値を表す。
時刻t24から一定期間、スイッチSWが閉じて、フォトダイオードPDで発生し該フォトダイオードPDの接合容量部に蓄積されていた電荷は、スイッチSWおよび配線Lを経て積分回路22へ入力して、積分回路22の容量素子Cに蓄積される。そして、積分回路22から出力される電圧値は、容量素子Cに蓄積された電荷の量に応じた信号電圧値とオフセット電圧値とが重畳されたものとなる。
第2保持回路24において、時刻t25にスイッチSW40が開き、時刻t25後にスイッチSW41が開き、時刻t26にスイッチSW42が閉じると、時刻t25における積分回路22の出力電圧値に応じた電圧値が第2保持回路24により保持され、時刻t26以降、その保持された電圧値が第2保持回路24から出力される。この出力される電圧値は、積分回路22から出力されるオフセット電圧値が重畳された信号電圧値を表す。
そして、第1保持回路24および第2保持回路24それぞれのスイッチSW42が共に閉じている時刻t26から時刻t27までの期間、第1保持回路24から出力された電圧値は、第1電圧フォロワ回路25を経て差動変換回路26に入力され、また、第2保持回路24から出力された電圧値は、第2電圧フォロワ回路25を経て差動変換回路26に入力される。差動変換回路26では、これら2つの入力電圧値の差に応じた電圧値が差動信号として出力される。この出力される電圧値は、オフセット誤差等が除去された信号電圧値を表す。さらに、この差動変換回路26から出力された電圧値は、AD変換回路27によりデジタル値に変換されて、そのデジタル値が出力される。
第2実施形態では、積分回路22に含まれるリセット用スイッチSWが開いて積分回路22が電荷蓄積可能状態となる時刻t22から、CDS回路23に含まれる第1保持回路24のスイッチSW40が開く基準時刻t23までの時間Tが、上記(2)式の関係式を満たすことにより、CDS回路23から出力される電圧値は、オフセット誤差が充分に除去されたものとなる。
(変形例)
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、各実施形態における積分回路は、容量値が固定である容量素子に替えて、容量値が可変である容量部を有していてもよく、このようにすることにより、光検出のダイナミックレンジを大きくすることができる。この場合には、可変容量部の最小容量値Cに対して上記(2)式が成り立つように時間Tを設定してもよいし、また、可変容量部の各容量値Cに対して上記(2)式が成り立つように時間Tを調整してもよい。
また、CDS回路の具体的な構成は、上記実施形態で説明したものに限られず、様々なものが可能である。CDS回路が何れの構成を有する場合であっても、積分回路が電荷蓄積可能状態となる時刻から、CDS回路が基準電圧値を取り込む基準時刻までの時間Tが、上記(2)式を満たすようにすればよい。
第1実施形態に係る光検出装置1の構成図である。 第1実施形態に係る光検出装置1に含まれるフォトダイオードPDm,n,スイッチSWm,n,積分回路12およびCDS回路13の回路図である。 第1実施形態に係る光検出装置1の動作を説明するタイミングチャートである。 第2実施形態に係る光検出装置2の回路図である。 第2実施形態に係る光検出装置2の動作を説明するタイミングチャートである。
符号の説明
1,2…光検出装置、11…光検出部、12…積分回路、13…CDS回路、14…保持回路、15…AD変換回路、19…制御部、22…積分回路、23…CDS回路、24…保持回路、25…電圧フォロワ回路、26…差動変換回路、27…AD変換回路、29…制御部、A…アンプ、C…容量素子、L…配線、PD…フォトダイオード、R…抵抗器、SW…スイッチ。

Claims (3)

  1. 入射光強度に応じた量の電荷を発生するフォトダイオードと、
    前記フォトダイオードと配線との間に設けられ、閉じているときに、前記フォトダイオードで発生した電荷を配線へ出力するスイッチと、
    前記配線に入力端が接続されたアンプと、このアンプの入力端と出力端との間に並列的に設けられた容量素子およびリセット用スイッチとを含み、前記リセット用スイッチが開いているときに、前記フォトダイオードで発生し前記スイッチおよび前記配線を経て入力した電荷を前記容量素子に蓄積し、前記容量素子に蓄積されている電荷の量に応じた電圧値を出力する積分回路と、
    基準時刻に前記積分回路から出力される電圧値を基準電圧値とし、前記基準時刻以降、前記積分回路から出力される電圧値と前記基準電圧値との差に応じた信号値を出力するCDS回路と、
    前記スイッチ,前記積分回路および前記CDS回路それぞれの動作を制御する制御部と、
    を備え、
    前記制御部は、前記配線の容量値をCとし、前記容量素子の容量値をCとし、前記アンプのゲインバンド積をGBWとし、前記リセット用スイッチが開いて前記積分回路が電荷蓄積可能状態となる時刻から前記基準時刻までの時間をTとしたときに、これらのパラメータの間に
    Figure 2006332796

    なる関係式が成り立つように制御を行う、
    ことを特徴とする光検出装置。
  2. 複数組の前記フォトダイオードおよび前記スイッチに対して1組の前記積分回路および前記CDS回路が設けられていることを特徴とする請求項1記載の光検出装置。
  3. 入射光強度に応じた量の電荷を発生するフォトダイオードと、
    前記フォトダイオードと配線との間に設けられ、閉じているときに、前記フォトダイオードで発生した電荷を配線へ出力するスイッチと、
    前記配線に入力端が接続されたアンプと、このアンプの入力端と出力端との間に並列的に設けられた容量素子およびリセット用スイッチとを含み、前記リセット用スイッチが開いているときに、前記フォトダイオードで発生し前記スイッチおよび前記配線を経て入力した電荷を前記容量素子に蓄積し、前記容量素子に蓄積されている電荷の量に応じた電圧値を出力する積分回路と、
    基準時刻に前記積分回路から出力される電圧値を基準電圧値とし、前記基準時刻以降、前記積分回路から出力される電圧値と前記基準電圧値との差に応じた信号値を出力するCDS回路と、
    を備える光検出装置を用いて光検出をする方法であって、
    前記配線の容量値をCとし、前記容量素子の容量値をCとし、前記アンプのゲインバンド積をGBWとし、前記リセット用スイッチが開いて前記積分回路が電荷蓄積可能状態となる時刻から前記基準時刻までの時間をTとしたときに、これらのパラメータの間に
    Figure 2006332796

    なる関係式が成り立つように制御を行って光検出をする、
    ことを特徴とする光検出方法。

JP2005149961A 2005-05-23 2005-05-23 光検出装置 Pending JP2006332796A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005149961A JP2006332796A (ja) 2005-05-23 2005-05-23 光検出装置
PCT/JP2006/310247 WO2006126539A1 (ja) 2005-05-23 2006-05-23 光検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005149961A JP2006332796A (ja) 2005-05-23 2005-05-23 光検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006332796A true JP2006332796A (ja) 2006-12-07

Family

ID=37451964

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005149961A Pending JP2006332796A (ja) 2005-05-23 2005-05-23 光検出装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2006332796A (ja)
WO (1) WO2006126539A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008029840A1 (en) * 2006-09-06 2008-03-13 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector
JP2016021445A (ja) * 2014-07-11 2016-02-04 キヤノン株式会社 光電変換装置、および、撮像システム
WO2018088478A1 (ja) 2016-11-11 2018-05-17 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置
JP2018133784A (ja) * 2017-02-17 2018-08-23 キヤノン株式会社 光電変換装置
WO2019216242A1 (ja) 2018-05-10 2019-11-14 浜松ホトニクス株式会社 裏面入射型半導体光検出装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06189199A (ja) * 1992-12-21 1994-07-08 Olympus Optical Co Ltd 固体撮像装置
JPH08331459A (ja) * 1995-06-02 1996-12-13 Hamamatsu Photonics Kk 固体撮像装置
JPH11103420A (ja) * 1997-09-26 1999-04-13 Sony Corp 固体撮像素子およびその駆動方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06189199A (ja) * 1992-12-21 1994-07-08 Olympus Optical Co Ltd 固体撮像装置
JPH08331459A (ja) * 1995-06-02 1996-12-13 Hamamatsu Photonics Kk 固体撮像装置
JPH11103420A (ja) * 1997-09-26 1999-04-13 Sony Corp 固体撮像素子およびその駆動方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008029840A1 (en) * 2006-09-06 2008-03-13 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector
US8017901B2 (en) 2006-09-06 2011-09-13 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector
JP2016021445A (ja) * 2014-07-11 2016-02-04 キヤノン株式会社 光電変換装置、および、撮像システム
WO2018088478A1 (ja) 2016-11-11 2018-05-17 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置
KR20190078624A (ko) 2016-11-11 2019-07-04 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 광 검출 장치
US11183608B2 (en) 2016-11-11 2021-11-23 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetecting device with weak light signal detection and low power consumption
JP2018133784A (ja) * 2017-02-17 2018-08-23 キヤノン株式会社 光電変換装置
WO2019216242A1 (ja) 2018-05-10 2019-11-14 浜松ホトニクス株式会社 裏面入射型半導体光検出装置
US11508770B2 (en) 2018-05-10 2022-11-22 Hamamatsu Photonics K.K. Back-illuminated semiconductor light detecting device

Also Published As

Publication number Publication date
WO2006126539A1 (ja) 2006-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5177981B2 (ja) 光検出装置
JP4837501B2 (ja) Ad変換回路および光検出装置
JP5620693B2 (ja) 固体撮像装置およびその駆動方法、カメラ
JP5288965B2 (ja) 固体撮像装置及びその駆動方法
CN107925735B (zh) 图像处理电路和摄像器件
EP2832090B1 (en) Cmos image sensors implementing full frame digital correlated double sampling with global shutter
JP4315032B2 (ja) 固体撮像装置および固体撮像装置の駆動方法
US9661249B2 (en) Image capturing apparatus and image capturing system with variable gain
CN103002228A (zh) 固态成像装置和用于驱动固态成像装置的方法
CN105706361B (zh) 适用于cmos成像传感器的放大器
JP5093768B2 (ja) 信号読み出し回路
KR20190021664A (ko) 고해상도 및 고속의 투-스텝 싱글-슬롭 비교 장치 및 그에 따른 씨모스 이미지 센서
JP4781985B2 (ja) 固体撮像装置
WO2006126539A1 (ja) 光検出装置
JP4928068B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム
TWI751849B (zh) 影像感測裝置
JP2018098698A (ja) 撮像素子
CN207215291U (zh) 一种全差分红外焦平面阵列读出电路
JP4890955B2 (ja) 固体撮像装置
JP2004200792A (ja) 光検出装置
JP6179718B2 (ja) サンプルホールド回路
JP5854652B2 (ja) 撮像装置
JP5019655B2 (ja) 光電変換装置及び撮像装置
JP2008011297A (ja) 撮像装置及び増幅回路
JP2011087125A (ja) 固体撮像素子

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080501

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101124

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110906