JP2006292846A - 液晶パネルおよびその製造方法 - Google Patents

Abstract

【課題】共通電極信号経路の不具合を、可能な限り前工程で検出し、早期にフィードバックして効率のよい製造をする。
【解決手段】 共通電極２１Ａの一部を、共通電極信号経路の不具合を検出するための共通配線検査電極２１ａとして、液晶注入口３１の幅領域内に収まるように、パネル分断面まで帯状に延設して形成している。基板貼り合わせ直後に、共通配線検査電極２１ａと共通信号入力端子１１との間の抵抗値を測定して、共通電極信号経路の不具合を検出した後、検査結果が良品であれば、液晶注入後に液晶注入口３１を樹脂封止し、その封止樹脂により共通配線検査電極２１ａ上を覆うようにする。
【選択図】 図１

Description

本発明は、例えばテレビジョン装置、モニタ装置および携帯電話装置の表示部などに用いられる液晶表示装置や、光量を調整可能とするブラインド機能を持つ窓装置などに用いられ、例えばアクティブマトリクス型液晶パネルなどの液晶パネルおよびその製造方法に関する。

従来、アクティブマトリクス型液晶パネルでは、液晶層を挟んで対向配置される一対の基板のうちの一方の素子側基板（ＴＦＴ側基板）において、複数のソース配線およびゲート配線が互いに交差するように設けられ、これらの両配線で囲まれた矩形状の領域毎に、画素電極と、この画素電極を選択駆動するスイッチング素子としてのＴＦＴなどのアクティブ素子とが設けられている。さらに、必要に応じて、ゲート配線と平行に補助容量配線などが設けられていることもある。他方の対向基板（ＣＦ側基板）には、各画素電極と対向するように共通電極が設けられ、カラー表示を行う場合には、Ｒ、Ｇ、Ｂなどの各色層やブラックマトリクスを有するカラーフィルタ（ＣＦ）が設けられている。

この場合に、ＴＦＴ側基板のゲート配線に供給されるゲート信号によって各ＴＦＴを選択的にＯＮ・ＯＦＦさせて画素電極にソース配線から映像信号を供給し、各画素電極と共通電極との間に挟持された各液晶層部分に所定の表示電圧をそれぞれ印加することによって、文字や図形などの画像が表示される。

この共通電極に信号を供給するための共通信号入力端子および共通信号配線は、一般に、ＴＦＴ側基板側に設けられており、ＴＦＴ側基板に設けられた共通信号配線と、ＣＦ側基板に設けられた共通電極とは、コモン転移と呼ばれる方法により、導電性部材を介して電気的に接続されている。

図５は、従来の液晶パネルの要部構成例を示す平面図である。

図５において、従来の液晶パネル１００は、複数のソース配線、これらに交差する複数のゲート配線、各画素領域毎のＴＦＴおよび画素電極などが設けられたＴＦＴ側基板１０と、ＣＦおよび共通電極２１などが設けられたＣＦ側基板２０とが所定の間隔を空けて対向配置され、周囲がシール材３０により貼り合わせられている。

ＴＦＴ側基板１０には共通信号入力端子１１および、これに接続されたＴＦＴ側共通信号配線１２が設けられており、そのＴＦＴ側共通信号配線１２と、ＣＦ側基板２０に設けられた共通電極２１とは、コモン転移による導電性部材１３により電気的に接続されている。シール材３０の一部には開口部として液晶注入口３１が設けられており、両基板１０，２０の間隙に液晶が液晶注入口３１から注入された後、封止樹脂３２によって液晶注入口３１が樹脂封止されている。

さらに、ＴＦＴ側基板１０に設けられたソース配線、ゲート配線、補助容量配線、コモン配線および検査配線などの少なくともいずれかが、パネル分断時に信号非入力側分断面から突出するため、静電気対策、電気性腐食対策および保護などの目的で、その配線突出部分上に樹脂材料が塗布されている液晶パネルもある。この事例を図６に示している。

図６は、従来の他の液晶パネルの要部構成例を示す平面図である。なお、図６では、図５の部材と同様の作用効果を奏する部材には同一の符号を付してその説明を省略する。

図６において、液晶パネル１０１では、ＴＦＴ側基板１０において、ソースドライバ１４が設けられている信号入力側と反対側の分断面（信号非入力側分断面）に、複数本のソース信号線１５が突出しており、その部分に樹脂材料１６が塗布されてソース配線１５の突出先端部上が覆われて保護されている。

また、従来の液晶パネルにおいて、液晶注入口付近に一対の電極を設け、これに電圧を印加しながら液晶を注入することにより、焼き付きや表示むらのない液晶パネルを作製するというものが特許文献１に開示されている。
特開平６−３３１９９５号公報

上述した従来の液晶パネル１００または１０１において、ＴＦＴ側基板１０の共通信号入力端子１１からＴＦＴ側共通信号配線１２、コモン転移による導電性部材１３、ＣＦ側基板２０の共通電極２１までの共通電極信号経路に、例えば共通信号配線の不導通や高抵抗による不具合が生じると、パネル点灯不良やクロストークなどの表示不良が生じる。

このような共通電極信号経路の不具合が生じる要因のうち、液晶パネル１００または１０１に起因すると考えられるものとしては、
（１）コモン転移１３の不良
（２）ＣＦ側基板２０に設けられた共通電極２１の面抵抗が高いこと
（３）ＴＦＴ側基板１０に設けられたＴＦＴ側共通信号配線１２の抵抗が高いこと
の３つが挙げられる。

このような（１）〜（３）の共通電極信号経路の不具合は、設計要因または製造工程要因で起こる不具合であり、機種毎またはロット毎で、ほぼ全数に不具合を生じる場合が多い。したがって、例えば、モジュールの点灯検査で不具合が発見された場合、実装部材やそれに関わる時間を含め、多大な損害が生じる。このため、可能な限り、前工程で不具合を検出し、早期にフィードバックすることが重要である。

しかしながら、従来の液晶パネル１００または１０１の製造において、コモン転移抵抗を管理することは困難であり、ＴＦＴ側共通信号配線１２の不導通や高抵抗による不良は、液晶パネル１００または１０１およびその実装モジュールの点灯検査によってのみ検出されている。

なお、特許文献１の液晶パネルでは、前述したように、液晶注入口付近に一対の電極を設け、これに電圧を印加しながら液晶を注入することにより、焼き付きや表示むらのない液晶パネルを作製するというものであって、本発明とは全く目的およびその作用効果が異なり技術思想が全く異なっている。

本発明は、上記従来の問題を解決するもので、共通電極信号経路の不具合を、可能な限り前工程で検出することにより、早期にフィードバックできて効率の良い製造をすることができる液晶パネルおよびその製造方法を提供することを目的とする。

本発明の液晶パネルの製造方法は、液晶を間に挟んで対向配置される一対の基板のうちの一方の基板側に共通電極が設けられた液晶パネルの製造方法において、該共通電極は、少なくともその一部が、共通電極信号経路の不具合検出用の共通配線検査電極として、パネル分断面または、測定先端部が外部から接触可能な位置まで延設されており、該一対の基板の貼り合わせ工程の後に、該共通配線検査電極と、該共通電極に信号を供給するための他方の基板側の共通信号入力端子との間の抵抗値または信号遅延量を測定することによって、該共通電極信号経路の不具合を検出する工程を有し、そのことにより上記目的が達成される。

また、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法における共通電極信号経路は、前記共通信号入力端子から共通信号配線を介して前記一対の基板間のコモン転移部さらに前記共通電極から共通配線検査電極までの経路である。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法における共通配線検査電極を、液晶注入口の樹脂封止領域内に収まるように延設する。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法において、前記不具合検出結果が良品である場合に、液晶注入口から液晶を基板間隙に注入する工程と、前記共通配線検査電極の一部または全部上を覆うように該液晶注入口を樹脂封止する工程とを更に有する。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法において、静電気対策、電気性腐食対策および保護の少なくともいずれかの目的で前記パネル分断面に樹脂材料を塗布する際に、前記共通電極の少なくとも一部を、前記共通配線検査電極として、該樹脂材料の塗布領域内に収まるように、該パネル分断面またはその近傍位置まで延設する。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法における樹脂材料を、信号非入力側分断面の配線と共に前記共通配線検査電極上を覆うように塗布する。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法における配線は、前記他方の基板に設けられたゲート配線、ソース配線、補助容量配線、コモン配線および検査配線の少なくともいずれかである。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法において、前記不具合の検出結果が良品である場合に、前記共通配線検査電極の一部または全部上を覆うように前記樹脂材料の塗布を行う工程を更に有する。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法における共通配線検査電極下に、前記一方の基板の共通電極自体の不具合を検出するための検査用ダミーパターンを形成する。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法における検査用ダミーパターンを、前記一方の基板に設けるカラーフィルタ材料によって形成する。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法において、前記共通配線検査電極が設けられた前記一方の基板の端部を、これに対向する前記他方の基板の端部よりも突出させた状態で前記一対の基板を貼り合わせる。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法における抵抗値は、信号抵抗値であるインピーダンスの値または直流抵抗値である。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法において、前記共通電極信号経路の不具合を検出する工程は、前記一対の基板の貼り合わせ工程の直後に行う。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法において、前記共通電極信号経路の不具合を検出する工程は、前記基板貼り合わせ工程後であって前記共通配線検査電極保護用の樹脂塗布工程前に行う。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルの製造方法において、前記共通電極信号経路の不具合を検出する工程は、前記基板貼り合わせ工程後であって液晶注入口の樹脂封止工程後に行う。

本発明の液晶パネルは、液晶を間に挟んで対向配置される一対の基板のうちの一方の基板側に共通電極が設けられた液晶パネルにおいて、該共通電極が、少なくともその一部を、共通電極信号経路の不具合検出用の共通配線検査電極として、パネル分断面または、該一対の基板の貼り合わせ後に測定先端部が接触可能な位置まで延設されており、そのことにより上記目的が達成される。

また、好ましくは、本発明の液晶パネルにおける共通配線検査電極は、液晶注入口の樹脂封止領域内に収まるように延設されている。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルにおける液晶注入口が封止される封止樹脂により前記共通配線検査電極の一部または全部上を覆っている。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルにおける静電気対策、電気性腐食対策または保護などの目的でパネル分断面上に塗布される樹脂材料により前記共通配線検査電極上を覆っている。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルにおける樹脂材料が信号非入力側分断面の配線と共に前記共通配線検査電極上を覆っている。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルにおける配線は、前記他方の基板に設けられたゲート配線、ソース配線、補助容量配線、コモン配線および検査配線の少なくともいずれかである。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルにおける共通配線検査電極の領域内に、前記共通電極自体の不具合を検出するための検査用ダミーパターンが該共通配線検査電極下に設けられている。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルにおける検査用ダミーパターンは、前記一方の基板に設けるカラーフィルタ材料によって形成されている。

さらに、好ましくは、本発明の液晶パネルにおいて、前記共通配線検査電極が設けられた前記一方の基板の端部が、これに対向する前記他方の基板の端部よりも突出している。

上記構成により、以下、本発明の作用を説明する。

本発明にあっては、液晶パネルの製造において、一方の基板（例えばＣＦ基板）側に設けられた共通電極の一部をパネル分断面または、測定端部が接触可能な位置まで延設させて、共通配線検査電極として用いる。一対の基板の貼り合わせ工程の直後に、その共通配線検査電極と、共通電極に信号を供給するための他方の基板側の共通信号入力端子との間の抵抗値を測定することによって、共通電極信号経路の不具合を検出する工程を有している。

これにより、
（１）コモン転移の不良
（２）ＣＦ側基板に設けられた共通電極の面抵抗が高いこと
（３）ＴＦＴ側基板に設けられた共通信号配線の抵抗が高いこと
などによって生じる共通電極信号経路の不具合を、従来のように点灯検査を待たずとも、基板の貼り合わせ直後に早期発見することが可能となる。このように、共通電極信号経路の不具合を、可能な限り前工程で検出することにより、早期にフィードバックできて効率の良い製造を行うことが可能となる。

また、液晶パネルにおいて、パネル分断面にパネル内の配線と繋がる導電性材料が突出していると、
（ａ）静電気などによって高電圧がかかる状況になった場合に内部素子が破壊されること
（ｂ）その突出した導電性材料が液晶パネルの導電性部分と接触することによって、信号配線などとリークし、信号不良が発生すること
（ｃ）電気的または化学的腐食が発生し、その進行によってパネル内の配線不良が生じ、点灯不具合が起こることなどの不具合が生じる。

そこで、共通配線検査電極を液晶注入口の領域内に設けることによって、樹脂封止時に封止樹脂により共通配線検査電極上も覆われて、共通配線検査電極は電気的または化学的に外部との干渉がなくなるため、腐食などによる不具合や後工程での２次的不具合をも抑止することが可能となる。

また、静電気対策、電気性腐食対策または保護などの目的でパネル分断面に樹脂材料が塗布されている場合には、この共通配線検査電極を樹脂塗布領域内に設けることによっても、塗布される樹脂材料により共通配線検査電極上が覆われて、共通配線検査電極は電気的または化学的に外部との干渉がなくなるため、腐食などによる不具合や後工程での２次的不具合を抑止することが可能となる。

さらに、例えば共通電極をＣＦ（カラーフィルタ）上に形成する場合、ＣＦの色層間に生じる段差などによって、導電材料のカバレッジ不良が起こり、電極抵抗が大きくなる場合がある。そこで、電極抵抗が大きくなると想定される箇所に対応して検査用ダミーパターンを設けておくことによって、ＣＦ段差による共通電極抵抗の異常をより感度よく検出することが可能となる。現在、共通電極の面抵抗検査は接触式で行われているため、非破壊検査が困難な状況であり、基板状態で生産品そのものを測定することができないため、このような検査用ダミーパターンの重要性は大きい。

さらに、共通電極が形成されている側の一方の基板の少なくとも一部を、他方の基板と比較してパネル分断面が外側に突出するように配置することにより、一方の基板の共通配線検査電極部分が他方の基板（ＴＦＴ側基板）から外側に突出されているため、検査プローブなどの測定端部の接触可能な位置から、測定端部がより接触させやすい位置になって、抵抗値測定検査がより容易になって正確な測定にもなる。

このようにして製造された液晶パネルは、抵抗値測定検査で用いた共通配線検査電極が樹脂材料により覆われているので、腐食などによる不具合や後工程での２次的不具合をも抑止することが可能であり、より品質の良い液晶パネルを得ることが可能となる。また、コモン転移抵抗を工程管理すれば、最適設計が可能となり、高品位・高信頼性を有する液晶パネルを得ることが可能となる。

以上により、本発明によれば、液晶パネルの製造工程において、従来のように点灯検査を待たずに、基板貼り合わせ直後に共通電極信号経路の不具合を検出することができるため、設計または製造工程への早期フィードバックができて、効率の良い製造を行うことができ、かつ、共通電極信号経路の不具合による損害を最小限に抑えることができる。

また、抵抗値測定検査で用いた共通配線検査電極が樹脂材料により覆われているため、腐食などによる不具合や後工程での２次的不具合をも抑止することができて、より品質の良い液晶パネルを得ることができる。また、コモン転移抵抗を工程管理することによって、最適設計が可能となって、高品位・高信頼性を有する液晶パネルを作製することができる。

以下に、本発明の液晶パネルおよびその製造方法の実施形態１〜３について、図面を参照しながら詳細に説明する。
（実施形態１）
図１は、本発明の実施形態１に係る液晶パネルの製造方法について説明するための要部構成例を示す平面図である。

図１において、液晶パネル１００Ａは、複数のソース配線および、これらに交差する複数のゲート配線を有すると共に、両配線に囲まれた画素領域毎に、ソース配線に接続されたスイッチング素子としてのＴＦＴおよびこれに接続された画素電極を有するＴＦＴ側基板１０（他方の基板）と、ＣＦおよび共通電極２１Ａなどが設けられたＣＦ側基板２０Ａ（一方の基板）とが所定の間隔を空けて対向配置され、周囲がシール材３０により貼り合わされている。

さらに、ＴＦＴ側基板１０には共通信号入力端子１１および、これが接続された共通信号配線１２が設けられており、その共通信号配線１２と、ＣＦ側基板２０Ａに設けられた共通電極２１Ａとは、コモン転移による導電性部材１３により電気的に接続されている。シール材３０の一部には、液晶注入口３１が設けられており、液晶注入口３１から両基板１０，２０Ａの間隙に液晶が注入された後に、液晶注入口３１が封止樹脂材料によって樹脂封止される。

本実施形態１では、ＣＦ側基板２０Ａに共通電極２１Ａを形成する際に、その一部を、共通電極信号経路の抵抗値測定用の共通配線検査電極２１ａとして、パネル分断面、または、液晶注入口３１の樹脂封止領域内、検査プローブなどの測定先端部が接触可能な位置まで延設する。ここでは、液晶注入口３１の中央部分を通って端面部分（パネル分断面）まで共通電極２１Ａから所定幅で延設された共通配線検査電極２１ａが設けられている。

一対の基板の貼り合わせ工程の直後に、共通配線検査電極２１ａと共通信号入力端子１１との間の抵抗値を、例えば針状の検査プローブを用いて実測することによって、共通電極信号経路の抵抗値を測定する。共通電極信号経路として、ＴＦＴ側基板１０上の共通信号入力端子１１〜共通信号配線１２〜コモン転移による導電部材１３〜ＣＦ側基板２０Ａ上の共通電極２１Ａ〜共通配線検査電極２１ａの抵抗値は、事前のシミュレーションにより、例えば共通電極信号経路の全配線で５００Ωというように算出しておく。このシミュレーション値と実測値とを比較して、例えば数十ｋΩから百ｋΩなど、数オーダー高いレベル（例えば１００倍）の抵抗値が検出された場合に、共通電極信号経路の不具合が検出されたものとして、その液晶パネル１００Ａを不良品とする。これを測定者が判断しても良いが、自動的に比較器を介して比較させて良品か否かを判定させるようにしてもよい。

不良品の液晶パネル１００Ａは、即座に不具合が生じた原因を解析して、前工程にフィードバックすることができる。これにより、共通電極信号経路の不具合による損害を最小限に留めることが可能となる。

この抵抗値の測定後は、良品の液晶パネル１００Ａについては、液晶注入口３１の封止を封止樹脂により行って、その封止樹脂で共通配線検査電極２１ａ上を露出することなく覆うことができる。このため、共通配線検査電極２１ａは封止樹脂により外部との電気的または化学的干渉がなくなって、その後の腐食による不具合や後工程での２次的接触による不具合を防ぐことができる。
（実施形態２）
本実施形態２では、共通配線検査電極２１ａの配置領域に、一方の基板の共通電極２１Ａ自体の不具合を検出するための検査用ダミーパターンをカラーフィルタ材料によって形成する場合について説明する。

上記実施形態１の液晶パネル１００Ａにおいて、共通電極２１Ａに不良が生じる要因として、
（１）共通電極２１Ａを構成するＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ Ｔｉｎ Ｏｘｉｄｅ）の面抵抗値が高いこと、
（２）ＣＦ段差によりＩＴＯの段切れが起こり、抵抗値が高くなっていること
などが挙げられる。

図２（ａ）に示すように、共通電極２１Ａの下部には、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色層２２や額縁部などにブラックマトリクス２３を有するＣＦ２４が設けられており、各色層２２間に生じる段差などにより導電材料のカバレッジ不良が生じて電極抵抗が大きくなることがある。

そこで、図２（ｂ）に示すように、共通配線検査電極２１ａの形成部に、ＣＦ２４の材料によって、上記（２）の要因で抵抗値が大きくなると想定される箇所（不良が起こりやすい箇所）に対応する検査用ダミーパターンとして、各色層２２ａ，２２ｂおよびブラックマトリクス２３ａ，２３ｂを設けておくことによって、共通電極２１Ａの抵抗異常をより感度よく検出することができる。つまり、不良が起こり易い箇所のパターンが共通配線検査電極２１ａにも含まれていると、段切れなどの不良が生じた場合に、上記シミュレーション抵抗値と実測抵抗値に、より多くの抵抗差が生じて共通電極２１Ａの抵抗異常をより容易かつ確実に検出できる。
（実施形態３）
上記実施形態１では、共通電極２１Ａの一部を、検査プローブなどの測定先端部が接触可能な共通配線検査電極２１ａとして、パネル分断面（またはプローブ測定端部が外部から接触可能な位置）まで所定幅の帯状に延設し、基板貼り合わせ工程の直後に、共通配線検査電極２１ａと共通信号入力端子１１間の抵抗値を測定する工程と、抵抗値測定結果（不具合検出結果）が良品である場合に、液晶注入後、共通配線検査電極２１ａの一部または全部上を覆うように液晶注入口３１を樹脂封止する工程とを有するように構成したが、本実施形態３では、共通電極２１Ａの一部を、検査プローブなどの測定先端部が接触可能な共通配線検査電極２１ａとして、パネル分断面（またはプローブ測定端部が外部から接触可能な位置）まで所定幅の帯状に延設し、基板貼り合わせ工程の直後に、共通配線検査電極２１ａと共通信号入力端子１１間の抵抗値を測定する工程と、抵抗値測定結果（不具合検出結果）が良品である場合に、共通配線検査電極２１ａの一部または全部上を覆うように、配線（ゲート配線、ソース配線、補助容量配線、コモン配線および検査配線の少なくともいずれか）が露出した信号非入力側分断面（パネル分断面）上に樹脂材料を塗布する工程とを有する場合である。

図３は、本発明の実施形態３に係る液晶パネルの製造方法について説明するための平面図である。

図３において、本実施形態３の液晶パネル１０１Ａは、ＴＦＴ側基板１０において、ソースドライバ１４が設けられている信号入力側と反対側のパネル分断面（信号非入力側分断面）に、複数のソース信号線１５が突出している。その端面部分には、静電気対策、電気性腐食対策および保護などの目的で樹脂材料１６Ａが塗布されて、複数のソース配線１５の突出先端部分上がその樹脂材料１６Ａで覆われる。

本実施形態３の液晶パネル１０１Ａでは、ＣＦ側基板２０Ｂに共通電極２１Ｂを形成する際に、その一部を、検査プローブの測定先端部が接触可能な共通配線検査電極２１ｂとして、樹脂塗布領域内に収まるように、パネル分断面またはその近傍位置まで所定幅で帯状に延設している。

一対の基板１０，２０Ｂの貼り合わせ直後に、共通配線検査電極２１ｂと共通信号入力端子１１との間の抵抗値を、例えば針状の検査プローブを用いて抵抗値を実測することによって測定する。ＴＦＴ側基板１０上の共通信号入力端子１１〜共通信号配線１２〜コモン転移による導電部材１３〜ＣＦ側基板２０Ｂ上の共通電極２１Ｂ〜共通配線検査電極２１ｂの抵抗値は、事前のシミュレーションにより、例えば全配線で５００Ωというように算出しておく。このシミュレーション値と実測値とを比較して、例えば数十ｋΩから百ｋΩなど、数オーダ高いレベル（例えば１００倍）の抵抗値が検出された場合に、共通電極信号経路に不具合が検出されたものとして、その液晶パネル１０１Ａを不良品とする。

不良品の液晶パネル１０１Ａは、即座に不具合が生じた原因を解析して、前工程にフィードバックすることができる。これにより、共通電極信号経路の不具合による損害を最小限に留めることが可能となる。

この抵抗値の測定後は、良品の液晶パネル１０１Ａについては、複数のソース配線１５の先端部分が露出した端面に対して樹脂材料１６Ａを塗布して、この樹脂材料１６Ａによって複数のソース配線１５と共に共通配線検査電極２１ｂ上を覆うことができる。このため、外部との電気的または化学的干渉がなくなり、腐食による不具合や後工程での２次的接触による不具合を防ぐことができる。

さらに、不具合検出結果（抵抗値測定結果）が良品である場合に、液晶注入口３１から液晶を注入した後に、液晶注入口３１を封止樹脂によって樹脂封止することにより、液晶パネル１０１Ａを製造する。

なお、本実施形態３では、液晶パネル１０１Ａのパネル分断面から突出している配線は、ソース配線１５に限らず、ゲート配線、補助容量配線、コモン配線および検査配線などのいずれであってもよい。

また、本実施形態３においても、図２（ｂ）に示したような検査用ダミーパターンを形成することによって、上記実施形態２の場合と同様に、ＣＦ段差による共通電極２１Ｂの段切れによる高抵抗不良を容易かつ確実に検出することができる。

以上により、上記実施形態１〜３によれば、共通電極２１Ａまたは２１Ｂの少なくとも一部を、共通電極信号経路の不具合を検出するための共通配線検査電極２１ａまたは２１ｂとして、液晶注入口３１の幅領域内や端面樹脂塗布領域内に収まるように、パネル分断面またはその近傍まで帯状に延設して形成している。基板貼り合わせ直後に、共通配線検査電極２１ａまたは２１ｂ〜共通信号入力端子１１間の抵抗値を測定して、共通電極信号経路の不具合を検出した後、検査結果が良品であれば、液晶注入後に液晶注入口３１を樹脂封止し、その封止樹脂３２または樹脂材料１６Ａにより共通配線検査電極２１ａ上を覆うようにする。これによって、共通電極信号経路の不具合を、可能な限り前工程で検出できて、早期にフィードバックすることができる。

また、ＣＦの各色層間に生じる段差などによって、導電材料のカバレッジ不良が起こり、電極抵抗が大きくなる場合があるが、電極抵抗が大きくなると想定される箇所に対応して検査用ダミーパターンを設けておくことによって、ＣＦ段差による共通電極抵抗の異常をより感度よく検出することができる。

このようにして製造された液晶パネル１００Ａまたは１０１Ａは、抵抗値測定検査で用いた共通配線検査電極２１ａまたは２１ｂが封止樹脂３２または樹脂材料１６Ａにより覆われているので、腐食などによる不具合や後工程での２次的不具合も抑制できる。また、コモン転移抵抗を工程管理すれば、最適設計が可能となり、高品位・高信頼性を有する液晶パネル１００Ａまたは１０１Ａを得ることができる。

なお、上記実施形態１〜３において、図４に示すように、ＣＦ側基板２０Ａまたは２０Ｂの端面側の少なくとも一部を、ＴＦＴ側基板１０の端面と比較して突出して配置することにより、共通配線検査電極２１ａまたは２１ｂに検査プローブがより接触し易くなり、共通配線検査電極２１ａまたは２１ｂ〜共通信号入力端子１１間の抵抗値測定がより容易で正確なものになる。

このように、一方の基板（ＣＦ側基板２０Ａまたは２０Ｂ）の共通配線検査電極２１ａまたは２１ｂが他方の基板（ＴＦＴ側基板１０）から外側に突出されているため、検査プローブなどの測定先端部の接触可能な位置から、その測定先端部がより接触させやすい位置になって、抵抗値測定検査がより容易になって正確な測定を行うことができる。

なお、上記実施形態１〜３では、共通電極配線の電気特性評価を抵抗測定により行うように構成したが、この測定抵抗は、信号の抵抗測定であって、信号抵抗や交流抵抗を含むインピーダンスや直流抵抗の測定である。このように、上記実施形態１〜３では、抵抗値の測定検査がもっとも簡略で効果的であるため、所定配線の抵抗検査により共通電極配線の異常を検知するという一例を挙げて説明している。一方、液晶パネルでは、正常に表示駆動させるために、与えられた信号に対して、遅延（なまり）が少なくなるように各配線が設計されている。この信号遅延は、主に配線の抵抗成分と容量成分とから発生する（インピーダンスから発生する）。この観点から、別の共通電極配線の電気特性評価例として、共通信号入力端子から検査信号を与え、共通配線検査電極からの信号遅延量を測定する直接的な検査方法もある。

また、上記実施形態１〜３では、その抵抗値測定タイミング（検査タイミング）が基板貼り合わせ工程直後としたが、これに限らず、注入口部以外の箇所に共通配線検査電極を設けるパターンにおいては、基板貼り合わせ工程直後以外のタイミングで共通配線検査をすることが可能である。基板貼り合わせ工程後であって、樹脂塗布により共通配線検査電極が保護されるまでのタイミングで（工程内で）共通配線検査をすればよい。不具合の早期発見という意味では基板貼り合わせ直後がもっとも効果的ではあるが、一方で、基板貼り合わせ工程後の液晶の注入・封止工程前の段階では、表示面内に不純物が混入する可能性があり、パネルとしては不安定な状態であるため、この共通配線検査工程は、基板貼り合わせ工程直後ではなく、その後の液晶注入口封止完了後の方が良い場合がある。

以上のように、本発明の好ましい実施形態１〜３を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態１〜３に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態１〜３の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。

本発明は、例えばテレビジョン装置、モニタ装置および携帯電話装置の表示部などに用いられる液晶表示装置や、光量を調整可能とするブラインド機能を持つ窓装置などに用いられ、例えばアクティブマトリクス型液晶パネルなどの液晶パネルおよびその製造方法の分野において、基板貼り合わせ直後に共通電極信号経路の不具合を検出することができるため、設計または製造工程への早期フィードバックが可能となり、共通電極信号経路の不具合による損害を最小限に抑えることができる。また、コモン転移抵抗を工程管理することによって、最適設計が可能となり、高品位・高信頼性を有する液晶パネルを作製することができる。

本発明の実施形態１に係る液晶パネルの要部構成例を示す平面図である。 （ａ）は、図１に点線で囲んだＡ部の拡大平面図、（ｂ）は本発明の実施形態２に係る液晶パネルのＡ部の拡大平面図である。 本発明の実施形態３に係る液晶パネルの要部構成例を示す平面図である。 図３の液晶パネルの部分拡大断面図である。 従来の液晶パネルの要部構成例を示す平面図である。 従来の液晶パネルの他の要部構成例を示す平面図である。

符号の説明

１０ ＴＦＴ側基板
１１ 共通信号入力端子
１２ 共通信号配線
１３ コモン転移による導電部材
１４ ソースドライバ
１５ ソース配線
１６Ａ 樹脂材料
２０Ａ，２０Ｂ ＣＦ側基板（一方の基板）
２１Ａ，２１Ｂ 共通電極
２１ａ、２１ｂ 共通配線検査電極
２２ ＣＦの色層
２２ａ、２２ｂ ＣＦの色層材料で形成された検査用ダミーパターン
２３ ブラックマトリクス
２３ａ、２３ｂ ブラックマトリクス材料で形成された検査用ダミーパターン
２４ ＣＦ
３０ シール材
３１ 液晶注入口
３２ 封止樹脂
１００Ａ，１０１Ａ 液晶パネル

Claims (24)

1. 液晶を間に挟んで対向配置される一対の基板のうちの一方の基板側に共通電極が設けられた液晶パネルの製造方法において、
   該共通電極は、少なくともその一部が、共通電極信号経路の不具合検出用の共通配線検査電極として、パネル分断面または、測定先端部が外部から接触可能な位置まで延設されており、
   該一対の基板の貼り合わせ工程の後に、該共通配線検査電極と、該共通電極に信号を供給するための他方の基板側の共通信号入力端子との間の抵抗値または信号遅延量を測定することによって、該共通電極信号経路の不具合を検出する工程を有する液晶パネルの製造方法。
2. 前記共通電極信号経路は、前記共通信号入力端子から共通信号配線を介して前記一対の基板間のコモン転移部さらに前記共通電極から共通配線検査電極までの経路である請求項１に記載の液晶パネルの製造方法。
3. 前記共通配線検査電極を、液晶注入口の樹脂封止領域内に収まるように延設する請求項１または２に記載の液晶パネルの製造方法。
4. 前記不具合検出結果が良品である場合に、液晶注入口から液晶を基板間隙に注入する工程と、前記共通配線検査電極の一部または全部上を覆うように該液晶注入口を樹脂封止する工程とを更に有する請求項１または３に記載の液晶パネルの製造方法。
5. 静電気対策、電気性腐食対策および保護の少なくともいずれかの目的で前記パネル分断面に樹脂材料を塗布する際に、前記共通電極の少なくとも一部を、前記共通配線検査電極として、該樹脂材料の塗布領域内に収まるように、該パネル分断面またはその近傍位置まで延設する請求項１に記載の液晶パネルの製造方法。
6. 前記樹脂材料を、信号非入力側分断面の配線と共に前記共通配線検査電極上を覆うように塗布する請求項５に記載の液晶パネルの製造方法。
7. 前記配線は、前記他方の基板に設けられたゲート配線、ソース配線、補助容量配線、コモン配線および検査配線の少なくともいずれかである請求項６に記載の液晶パネルの製造方法。
8. 前記不具合の検出結果が良品である場合に、前記共通配線検査電極の一部または全部上を覆うように前記樹脂材料の塗布を行う工程を更に有する請求項５〜７のいずれかに記載の液晶パネルの製造方法。
9. 前記共通配線検査電極下に、前記一方の基板の共通電極自体の不具合を検出するための検査用ダミーパターンを形成する請求項１〜３、５および８のいずれかに記載の液晶パネルの製造方法。
10. 前記検査用ダミーパターンを、前記一方の基板に設けるカラーフィルタ材料によって形成する請求項９に記載の液晶パネルの製造方法。
11. 前記共通配線検査電極が設けられた前記一方の基板の端部を、これに対向する前記他方の基板の端部よりも突出させた状態で前記一対の基板を貼り合わせる請求項１に記載の液晶パネルの製造方法。
12. 前記抵抗値は、信号抵抗値であるインピーダンスの値または直流抵抗値である請求項１に記載の液晶パネルの製造方法。
13. 前記共通電極信号経路の不具合を検出する工程は、前記一対の基板の貼り合わせ工程の直後に行う請求項１に記載の液晶パネルの製造方法。
14. 前記共通電極信号経路の不具合を検出する工程は、前記基板貼り合わせ工程後であって前記共通配線検査電極の保護用の樹脂塗布工程前に行う請求項１に記載の液晶パネルの製造方法。
15. 前記共通電極信号経路の不具合を検出する工程は、前記基板貼り合わせ工程後であって液晶注入口の樹脂封止工程後に行う請求項１に記載の液晶パネルの製造方法。
16. 液晶を間に挟んで対向配置される一対の基板のうちの一方の基板側に共通電極が設けられた液晶パネルにおいて、
    該共通電極が、少なくともその一部を、共通電極信号経路の不具合検出用の共通配線検査電極として、パネル分断面または、該一対の基板の貼り合わせ後に測定先端部が接触可能な位置まで延設されている液晶パネル。
17. 前記共通配線検査電極は、液晶注入口の樹脂封止領域内に収まるように延設されている請求項１６に記載の液晶パネル。
18. 前記液晶注入口が封止される封止樹脂により前記共通配線検査電極の一部または全部上を覆っている請求項１６に記載の液晶パネル。
19. 静電気対策、電気性腐食対策または保護などの目的でパネル分断面上に塗布される樹脂材料により前記共通配線検査電極上を覆っている請求項１６に記載の液晶パネル。
20. 前記樹脂材料が信号非入力側分断面の配線と共に前記共通配線検査電極上を覆っている請求項１９に記載の液晶パネル。
21. 前記配線は、前記他方の基板に設けられたゲート配線、ソース配線、補助容量配線、コモン配線および検査配線の少なくともいずれかである請求項２０に記載の液晶パネル。
22. 前記共通配線検査電極下に、前記共通電極自体の不具合を検出するための検査用ダミーパターンが設けられている請求項１６に記載の液晶パネル。
23. 前記検査用ダミーパターンは、前記一方の基板に設けるカラーフィルタ材料によって形成されている請求項２２に記載の液晶パネル。
24. 前記共通配線検査電極が設けられた前記一方の基板の端部が、これに対向する前記他方の基板の端部よりも突出している請求項１６に記載の液晶パネル。

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