[go: up one dir, main page]

JP2006237469A - プラズマcvd装置及びプラズマcvd方法 - Google Patents

プラズマcvd装置及びプラズマcvd方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2006237469A
JP2006237469A JP2005052969A JP2005052969A JP2006237469A JP 2006237469 A JP2006237469 A JP 2006237469A JP 2005052969 A JP2005052969 A JP 2005052969A JP 2005052969 A JP2005052969 A JP 2005052969A JP 2006237469 A JP2006237469 A JP 2006237469A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
plasma cvd
reaction chamber
loop antenna
plasma
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005052969A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Yoshimoto
昌広 吉本
Koji Taguchi
貢士 田口
Mitsuo Yamazaki
光生 山崎
Taku Iwade
卓 岩出
Masamitsu Yamashita
雅充 山下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SAKIGAKE HANDOTAI KK
Toray Engineering Co Ltd
Original Assignee
SAKIGAKE HANDOTAI KK
Toray Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SAKIGAKE HANDOTAI KK, Toray Engineering Co Ltd filed Critical SAKIGAKE HANDOTAI KK
Priority to JP2005052969A priority Critical patent/JP2006237469A/ja
Publication of JP2006237469A publication Critical patent/JP2006237469A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

【課題】大型基板への成膜をプラズマエネルギーの利用効率良く且つ低コストの装置構成で実現することのできるプラズマCVD装置及びプラズマCVD方法を提供すること。
【解決手段】排気系7を備えた反応室2と、該反応室2内に基板Kを保持するための基板保持台43と、薄膜を構成するための原料ガスを反応室2に導入するガス導入手段5,6と、反応室2内に設けられた絶縁性管状部材32を挿通しループ状に形成した導電性電極33からなるループアンテナATと、該ループアンテナATに高周波電流を供給するための電力供給手段10とを備える構成とする。
【選択図】 図2

Description

本発明は、プラズマ励起及び表面反応により薄膜を気相成長させるプラズマCVD装置及びプラズマCVD方法に関する。
液晶ディスプレイ用薄膜トランジスタ(TFT)や太陽電池などに用いられるシリコン窒化膜を形成する方法として、プラズマCVD(化学気相成長)法が広く採用されている。
図9は従来の基本的なプラズマCVD装置C1を示す斜視図である。図9に示すように、プラズマCVD装置C1は、排気系及び原料ガス導入部を備えた反応室91、反応室91内に設けられた基板保持台92、及び反応室91を捲回するコイル状アンテナ93などを備える。
プラズマCVD装置C1において成膜は次のように行う。すなわち、成膜対象となる基板Kを基板保持台92に載置した後、反応室91内を真空圧程度まで減圧し、続いて原料ガス導入部から原料ガスを導入し、基板Kをプロセスに応じた温度まで昇温させ、コイル状アンテナ93に電源94から高周波電流を供給することによりプラズマを励起して、このプラズマ中で原料ガスの分離、励起及び解離を行い、分解された粒子の結合を基板K上で行う。
ところで近年、より広い面積を持つ基板へ成膜できる技術の需要が高まっている。その理由の一つは、一枚の基板から産出されるデバイスの数を多くして生産性を高めるためであり、他の一つは、液晶ディスプレイや太陽電池が大型化する傾向が顕著となっているためである。基板の大型化に伴い、反応室を広くする必要があるが、上のプラズマCVD装置C1で反応室91を広くし、それに応じて捲回するコイル状アンテナ93の径も大きくした場合、十分且つ均一なプラズマ密度が得られないという問題が生じる。
そこで、このような問題に対処できるように、例えば図10のように反応室91の上壁に立体渦巻き形のコイル状アンテナ95を配置したプラズマCVD装置C2(特開平9−228056号公報)や、図11のように反応室91の上壁に平面渦巻き形のコイル状アンテナ96を配置し、このコイル状アンテナ96の中央部と端部に高周波電力を供給するプラズマCVD装置C3(特開平8−64395号公報)が提案されている。これらのプラズマCVD装置C2,C3では、それぞれ渦巻き形のコイル状アンテナ95,96を反応室91の上壁に配設することで上記問題を解決でき、広い反応室でも安定したプラズマ密度を得ることができる。
特開平9−228056号公報 特開平8−64395号公報
しかしながら、上述の特許文献1,2に記載のプラズマCVD装置C1,C2は、渦巻き形のコイル状アンテナ95,96を反応室91の上壁に配置しているため、反応室91の上壁によりプラズマが若干弱められると共に、最もプラズマ密度の高い領域であるアンテナ電極間領域が、基板Kにおける被成膜面から遠くに位置することになるため、プラズマエネルギーの利用効率が良くない。また、反応室91の上壁は、渦巻き形のコイル状アンテナ95,96の重さに耐え得る十分な強度を持つものとする必要がある。つまり基板の大型化に伴い反応室91の上壁の厚さを厚くする必要があり、プラズマエネルギーの利用効率が更に悪くなると共に、装置コストが高くつくという問題があった。
本発明は、上述の問題に鑑みてなされたものであり、大型基板への成膜をプラズマエネルギーの利用効率良く且つ低コストの装置構成で実現することのできるプラズマCVD装置及びプラズマCVD方法を提供することを課題とする。
上述の課題を解決するために、請求項1の発明は、排気系7を備えた反応室2と、該反応室2内に基板Kを保持するための基板保持台43と、薄膜を構成するための原料ガスを反応室2に導入するガス導入手段5,6と、反応室2内に設けられた絶縁性管状部材32を挿通しループ状に形成した導電性電極33からなるループアンテナATと、該ループアンテナATに高周波電流を供給するための電力供給手段10とを備えることを特徴とする。
請求項2の発明では、前記絶縁性管状部材32は、反応室2を貫通し且つ反応室2の内部に相互に間隔をあけた状態で平行に複数本並設され、前記導電性電極33は、複数本の絶縁性管状部材32のうち、隣り合う一方の絶縁性管状部材を挿通し、反応室2の側壁3aに沿設される共に、他方の絶縁性管状部材を挿通するように構成する。
請求項3の発明は、前記ループアンテナATを複数設けるように構成する。
請求項4の発明は、複数のループアンテナATを前記電力供給手段10に並列接続するように構成する。
請求項5の発明は、前記基板保持手段43に保持された基板Kにおける被成膜面の全域が前記ループアンテナATにおけるループ領域Sの近傍を通過するように、基板保持手段43とループアンテナATとの少なくとも一方を所定方向Xに移動可能とする第1駆動手段8を備える。
請求項6の発明は、成膜中に基板保持手段43とループアンテナATとの少なくとも一方を、前記基板保持手段43に保持された基板Kにおける被成膜面と前記ループアンテナにおけるループ領域Sとが平行を保持した状態で所定方向Xに往復移動可能とする第2駆動手段を備える。
請求項7の発明は、請求項1から請求項4のいずれかに記載のプラズマCVD装置1を用いたプラズマCVD方法であって、基板保持手段43上に基板Kを保持する基板保持ステップと、排気系7により反応室2を真空排気する排気ステップと、薄膜を構成するための原料ガスをガス導入手段5,6により反応室2に導入するガス導入ステップと、電力供給手段10によりループアンテナATに高周波電流を供給することにより原料ガスにプラズマエネルギーを与えるプラズマ励起ステップとを備えることを特徴とする。
請求項8の発明は、請求項5記載のプラズマCVD装置1を用いたプラズマCVD方法であって、基板保持手段43に基板Kを保持する基板保持ステップと、排気系7により反応室2を真空排気する排気ステップと、薄膜を構成するための原料ガスをガス導入手段5,6により反応室2に導入するガス導入ステップと、電力供給手段10によりループアンテナATに高周波電流を供給することにより原料ガスにプラズマエネルギーを与えるプラズマ励起ステップと、基板保持手段43に保持された基板Kにおける被成膜面の全域が前記ループアンテナATにおけるループ領域Sの近傍を通過するように、基板保持手段43とループアンテナATとの少なくとも一方を所定方向Xに移動させる第1駆動ステップとを備える。
請求項9の発明は、請求項6記載のプラズマCVD装置1Bを用いたプラズマCVD方法であって、基板保持手段43に基板Kを保持する基板保持ステップと、排気系7により反応室2を真空排気する排気ステップと、薄膜を構成するための原料ガスをガス導入手段5,6により反応室2に導入するガス導入ステップと、電力供給手段10によりループアンテナATに高周波電流を供給することにより原料ガスにプラズマエネルギーを与えるプラズマ励起ステップと、成膜中に基板保持手段43とループアンテナATとの少なくとも一方を、前記基板保持手段43に保持された基板Kにおける被成膜面と前記ループアンテナATにおけるループ領域SBとが平行を保持した状態で所定方向Xに往復移動させる往復駆動ステップとを備えることを特徴とする。
本発明によると、大型基板への成膜をプラズマエネルギーの利用効率良く且つ低コストの装置構成で実現することのできるプラズマCVD装置及びプラズマCVD方法を提供することができる。すなわち本発明によると、反応室2内に設けられた絶縁性管状部材32を挿通しループ状に形成した導電性電極33からなるループアンテナATを備える。ループアンテナATにおける最もプラズマ密度の高い領域であるループ領域Sが反応室2の内部にある。このループ領域Sと基板Kとの距離は比較的接近しており、しかも導電性電極33と反応室2内の空間とは絶縁性管状部材32の肉厚分で隔てられているのみである。このためプラズマエネルギーの利用効率が非常に良く、成膜時間の短縮化を図ることができる。またループアンテナATは、隣り合う絶縁性管状部材32に導電性電極33を挿通させるという簡単な構造であり、反応室2を更に大型化した場合でも絶縁性管状部材32をそれに応じて長くする程度でよいため装置コストが低くて済む。またループアンテナATの交換時には、反応室2を開けることなく絶縁性管状部材32から導電性電極33を抜き取ればよいので、操作が簡単でメンテナンス性に優れる。
また、各ループアンテナATは並列接続されているため、各ループアンテナAT間での位相のずれ等が発生せず、整合性のとれた均一なプラズマを発生させることができる。また、基板保持手段43に保持された基板Kにおける被成膜面の全域がループ領域Sの近傍を通過するように、基板保持手段43とループアンテナATとの少なくとも一方を所定方向Xに移動可能とすることにより、大型基板への成膜にも対応可能となる。
また、成膜中に基板保持手段43とループアンテナATとの少なくとも一方を、前記基板保持手段43に保持された基板Kにおける被成膜面とループ領域SBとが平行を保持した状態で所定方向Xに往復移動させることにより、基板Kにおける被成膜面の全域に亘ってプラズマが均一に照射され、ムラの少ない成膜を実現することができる。また、配置するループアンテナATを多数とすることにより、同時間帯に基板Kにおける被成膜面の全域に亘って高密度のプラズマを照射することが可能となる。したがって、広範囲の基板Kへの成膜を短いプラズマ照射時間で行うことができ、生産効率を向上させることができる。
〔第1実施形態〕
以下、添付図面を参照して、本発明に係るプラズマCVD装置及びプラズマCVD方法の第1実施形態について説明する。図1は本発明に係る第1実施形態のプラズマCVD装置1の正面概略図、図2は第1実施形態のプラズマCVD装置1の平面概略図、図3は第1実施形態のプラズマCVD装置1におけるプラズマ生成室3の斜視図である。
図1,2に示すように、本発明に係るプラズマCVD装置1は、反応室2、第1ガス導入タンク5、第2ガス導入タンク6、真空ポンプ7及び保持台駆動装置8などを備え、基板保持台43上に保持された基板Kにシリコン窒化膜の成膜を行う。なお、反応室2の横には、反応室2内に基板Kを搬入または搬出するための図示しないロボットが配設される。
反応室2は、ガラス等の絶縁材またはステンレス鋼若しくはアルミニウム等の金属材からなり、その正面視が略「凸」字形を呈する箱体である。そして遮蔽版9により上側のプラズマ生成室3と、下側の成膜室4とに仕切られる。遮蔽版9は例えば薄厚の金属製網であり、その表面には縦横等間隔に格子状の細かい網目(メッシュ)が多数形成される。
プラズマ生成室3は、図3に示すように直方体形状を呈し、ループアンテナATを2つ備える。ループアンテナATは、絶縁性管状部材32と導電性電極33とにより形成される。絶縁性管状部材32は、ガラス等の絶縁材からなる縦長の管状体であり、プラズマ生成室3を貫通し且つプラズマ生成室3の内部に相互に間隔をあけた状態で水平面に平行に4本並設される。具体的には、プラズマ生成室3におけるY方向に対向する各側壁3aに、それぞれ4つの管材取付穴31を等間隔且つ同一高さ位置となるように穿設し、各側壁3aの管材取付穴31に、絶縁性管状部材32の両端部を嵌着する。その際、固定部材やシール部材を用いることが好ましい。そして導電性電極33は、4本の絶縁性管状部材32のうち、隣り合う一方の絶縁性管状部材を挿通し、プラズマ生成室3の側壁3aに沿設される共に、他方の絶縁性管状部材を挿通するように構成する。
このように形成したループアンテナATは、高周波電流を供給する電源10に並列に接続される。高周波電流の周波数は13.56MHzであることが好ましい。ループアンテナATは、そのループ領域Sにおいて最も高密度のプラズマを発生する。なお、本明細書中でいう「ループ領域S」とは、ループアンテナATにおける対向する電極33を含み且つ電極33間に形成される平面領域のことである。
また、プラズマ生成室3は第1ガス導入口34を備える。第1ガス導入口34は、配管及びバルブ51を介して第1ガス導入タンク5と接続する。第1ガスとして、窒素源であるアンモニアガスまたは窒素ガスが用いられる。
成膜室4は、基板Kの搬入または搬出時に開放可能な扉(図示せず)、第2ガス導入口41及び排気口42を備える。第2ガス導入口41は、配管及びバルブ61を介して第2ガス導入タンク6と接続する。第2ガスとして、窒素源及びシリコン源であるヘキサメチルジシラザン(HMDS)ガスが用いられる。排気口42は、配管及びバルブ71を介して真空ポンプ7と接続する。また成膜室4は、その内部に基板保持台43を備える。
基板保持台43は、後端位置P1と前端位置P2との間をX方向にスライド可能に設けられると共に、基板Kを加熱するためのヒータ44を内蔵している。また基板保持台43には、基板Kを吸着保持するための多数の小径貫通孔がその肉厚方向に穿設されると共に、基板Kの受取りまたは引渡し時に該基板Kを昇降させるための複数本のリフトピンが出没可能に設けられる。保持台駆動装置8は、基板保持台43上に保持された基板Kにおける被成膜面の全域がループ領域Sの近傍を通過するように、基板保持台43をX方向に移動可能とする。ここで「ループ領域Sの近傍」とは、ループ領域Sと基板Kにおける被成膜面との距離が、ループ領域Sにおいて発生したプラズマにより基板Kが成膜可能となる範囲をいう。
次に、上のように構成されたプラズマCVD装置1の成膜動作について説明する。プラズマCVD装置1による成膜処理は、基板受取りステップ、基板保持ステップ、排気ステップ、ガス導入ステップ、昇温ステップ、プラズマ励起ステップ、保持台駆動ステップ及び基板引渡しステップからなる。
基板受取りステップにおいて、後端位置P1にある基板保持台43はリフトピンを上昇させ、ロボットから搬入された基板Kを受け取る。基板保持ステップにおいて、リフトピンが降下し、吸着穴に負圧を発生させることにより基板Kを基板保持台43上に吸着保持する。排気ステップにおいて、真空ポンプ7により反応室2内の圧力が約0.001torr以下になるまで減圧する。ガス導入ステップにおいて、バルブ51を開くことにより第1ガス導入口34からアンモニアガスまたは窒素ガスを導入する。それと同時にバルブ61を開くことにより第2ガス導入口41からHMDSガスを導入する。反応室2内の圧力が0.01〜10torr程度になった時点でバルブ51,61を閉じることによりこれらのガスの導入を停止する。昇温ステップにおいて、ヒータ44に通電することにより基板Kの温度をプロセスに応じた温度まで上昇させる。
プラズマ励起ステップにおいて、電源10からループアンテナATに高周波電流を流す。これにより、ループアンテナATにおけるループ領域S及びその周辺にプラズマが発生する。保持台駆動ステップにおいて、保持台駆動装置8により基板保持台43を後端位置P1から前端位置P2まで等速度で駆動する。その際、基板KはループアンテナATにおけるループ領域Sの直下を通過するときに最も高密度のプラズマを受け、基板Kの移動に伴い基板Kの表面には、その上流(図中左側)から下流に向けて順次表面反応が行われ、シリコン窒化膜が形成されていく。
基板保持台43が前端位置P2に到達すると、基板保持台43の進行方向が反転し、後端位置P1まで等速度で走行する。この間も成膜が行われる。基板保持台43が後端位置P1に到達すると、基板保持台43が停止すると共に、ループアンテナATへの高周波電流の供給を停止する。基板引渡しステップにおいて、基板Kの吸着を解放しリフトピンを上昇させる。ロボットは、基板保持台43から上昇した成膜済みの基板Kを受け取り、反応室2の外部へ搬出した後、新しい基板Kを反応室2に搬入し、上と同様な動作で成膜処理を行う。
プラズマCVD装置1によると、反応室2内に設けられた絶縁性管状部材32を挿通しループ状に形成した導電性電極33からなるループアンテナATを備える。このループアンテナATにおける最もプラズマ密度の高い領域であるループ領域Sが反応室2内にある。このループ領域Sと基板Kとの距離は比較的接近しており、しかも導電性電極33と反応室2内の空間とは絶縁性管状部材32の肉厚分で隔てられているのみである。このためプラズマエネルギーの利用効率が非常に良く、成膜時間の短縮化を図ることができる。そして基板保持台43上に保持された基板Kが、ループアンテナATにおけるループ領域Sの下方近傍を通過するように、基板保持台43をX方向に走行させることにより、大型基板への成膜にも対応可能としている。
またループアンテナATは、隣り合う絶縁性管状部材32に導電性電極33を挿通させるという簡単な構造であり、反応室2を更に大型化した場合でも絶縁性管状部材32をそれに応じて長くする程度でよいため装置コストが低くて済む。またループアンテナATの交換時には、反応室2を開けることなく絶縁性管状部材32から導電性電極33を抜き取ればよいので、操作が簡単でメンテナンス性に優れる。また各ループアンテナATは並列接続されているため、各ループアンテナAT間での位相のずれ等が発生せず、整合性のとれた均一なプラズマを発生させることができる。更に、窒素源及びシリコン源のガスとしてヘキサメチルジシラザンガスを使用しているため、爆発の心配がなく安全性に優れる。
〔第2実施形態〕
図4は本発明に係る第2実施形態のプラズマCVD装置1Bの正面概略図、図5は本発明に係る第2実施形態のプラズマCVD装置1Bの平面概略図である。図4,5に示すように、本発明に係る第2実施形態のプラズマCVD装置1Bは、第1実施形態のプラズマCVD装置1の反応室2、基板保持台43及び保持台駆動装置8に代えて、それぞれ反応室2B、基板保持台43B及び保持台駆動装置8Bを備える。それ以外の構成については、第1実施形態のプラズマCVD装置1の構成とほぼ同様である。
プラズマCVD装置1Bにおける反応室2Bは、正面視が長方形の箱体であり、遮蔽版9Bにより上側のプラズマ生成室3Bと、下側の成膜室4とに仕切られる。プラズマ生成室3Bは、ガラス等の絶縁材またはステンレス鋼若しくはアルミニウム等の金属材からなる。そしてプラズマCVD装置1のプラズマ生成室3よりもX方向の長さが十分に長い直方体形状を呈し、プラズマCVD装置1のループアンテナATと同様なループアンテナATBを5つ備える。このように形成したループアンテナATBは、高周波電流を供給する電源10に並列に接続される。高周波電流の周波数は13.56MHzであることが好ましい。基板保持台43Bは、プラズマCVD装置1の基板保持台43に比べてX方向の長さが長い。また成膜の対象となる基板K1も基板Kに比べてX方向の長さが長い。
次に、プラズマCVD装置1Bの成膜動作について説明する。プラズマCVD装置1Bによる成膜処理は、基板受取りステップ、基板保持ステップ、排気ステップ、ガス導入ステップ、昇温ステップ、プラズマ励起ステップ、保持台往復駆動ステップ及び基板引渡しステップからなる。
基板受取りステップからプラズマ励起ステップまで、プラズマCVD装置1の成膜動作と同様な動作を行う。プラズマ励起ステップにおいて、5つのループアンテナATBからそれぞれのループ領域S及びその周辺に発生したプラズマは、基板K1における被成膜面の全域に亘って照射される。このためプラズマCVD装置1と異なり、基板保持台43をX方向に走行させることなくシリコン窒化膜を形成することができ、成膜時間をより一層短縮化できる。
保持台往復駆動ステップにおいて、保持台駆動装置8Bは、成膜中に基板保持台43Bを+X方向と−X方向とに交互に小振幅で往復駆動する。これにより、基板K1における被成膜面の全域に亘ってプラズマが均一に照射され、ムラの少ない成膜を実現することができる。なお、これに加えて基板保持台43Bを+Y方向と−Y方向とに交互に小振幅で往復駆動してもよい。これにより、ムラを少なくすることができるという上述の効果を更に高めることができる。なお、保持台往復駆動ステップにおける往復移動動作をプラズマCVD装置1における成膜中に行うようにすることも可能である。
この往復動作を所定時間行った後、基板保持台43Bの往復駆動を停止し、基板引渡しステップにおいて、基板K1の吸着を解放しリフトピンを上げる。そして基板保持台43Bから上昇した成膜済みの基板K1をロボットハンドが受け取る。その後、基板保持台43Bに新しい基板を供給し、上と同様な動作で成膜処理を行う。
プラズマCVD装置1Bにおいては、配置するループアンテナATBを多数とすることにより、同時間帯に基板K1の全面に亘って高密度のプラズマを照射することが可能となる。したがって、広範囲の基板K1への成膜を短いプラズマ照射時間で行うことができ、生産効率を向上させることができる。
〔ループアンテナの変形例〕
ループアンテナの平面視形状は、上に示したような配置以外にも種々の形状に変更することができる。例えば、図6のように、反応室2のX方向に平行に配置した絶縁性管状部材321をY方向に複数段並べる配置とし、その絶縁性管状部材321を導電性電極331が挿通する形態や、図7のように、反応室2のY方向に3本平行に配置した絶縁性管状部材322を導電性電極332が挿通する形態や、図8のように、反応室2の内部に絶縁性管状部材323の全体が設けられ、この絶縁性管状部材323を導電性電極333が挿通する形態などである。
以上、本発明の実施の形態について説明を行ったが、上に開示した実施の形態は、あくまで例示であって、本発明の範囲はこれら実施の形態に限定されるものではない。本発明の範囲は、特許請求の範囲の記載によって示され、更に特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更を含むことが意図される。
例えば、プラズマCVD装置1,1Bにおいては、それぞれループアンテナAT,ATBを固定しておき、基板保持台43,43Bを移動させる形態としたが、基板保持台43,43Bを固定しておき、ループアンテナAT,ATBを移動させる形態若しくはループアンテナAT,ATBの取り付けられた反応室2,2Bを移動させる形態、または基板保持台43,43BとループアンテナAT,ATB若しくはループアンテナAT,ATBの取り付けられた反応室2,2Bとの両方を移動させる形態とすることも可能である。
また、上述のプラズマCVD装置1,1Bでは、基板保持台43,43Bにより基板Kを水平に保持し、ループ領域S,SBが水平となるようにループアンテナAT,ATBを構成したが、基板保持台43,43Bに代えて基板Kの端部を挟持する挟持手段により基板Kを垂直に保持し、ループ領域S,SBが垂直となるようにループアンテナAT,ATBを構成してもよい。また、上述のプラズマCVD装置1,1Bでは、基板保持台43,43Bの上方にループアンテナAT,ATBを配置したが、基板保持台43,43Bの下方にループアンテナAT,ATBを配置し、基板保持台43,43Bが基板Kにおける被成膜面を鉛直方向下向きに保持可能とする構成としてもよい。この構成とした場合は、発生したパーティクルが落下するので被成膜面へのパーティクルの堆積を大幅に減らすことができる。
その他、プラズマCVD装置1,1Bにおける反応室の形状、材質、ループアンテナの本数、導入するガスの種類、設定圧力などは、本発明の主旨に沿って適宜変更することができる。
本発明に係る第1実施形態のプラズマCVD装置の正面概略図である。 第1実施形態のプラズマCVD装置の平面概略図である。 第1実施形態のプラズマCVD装置におけるプラズマ生成室の斜視図である。 第2実施形態のプラズマCVD装置の正面概略図である。 第2実施形態のプラズマCVD装置の平面概略図である。 ループアンテナの変形例を示す図である。 ループアンテナの変形例を示す図である。 ループアンテナの変形例を示す図である。 従来のプラズマCVD装置を示す斜視図である。 従来のプラズマCVD装置を示す斜視図である。 従来のプラズマCVD装置を示す斜視図である。
符号の説明
1 プラズマCVD装置
1B プラズマCVD装置
2 反応室
3a 側壁
5 第1ガス導入タンク(ガス導入手段)
6 第2ガス導入タンク(ガス導入手段)
7 真空ポンプ(排気系)
8 保持台駆動装置(第1駆動手段)
8B 保持台駆動装置(第2駆動手段)
10 電源(電力供給手段)
32 絶縁性管状部材
33 導電性電極
43 基板保持台(基板保持手段)
43B 基板保持台(基板保持手段)
AT ループアンテナ
ATBループアンテナ
S ループ領域
SB ループ領域
K 基板
K1 基板
X 方向(所定方向)

Claims (9)

  1. 排気系を備えた反応室と、該反応室内に基板を保持するための基板保持手段と、薄膜を構成するための原料ガスを反応室に導入するガス導入手段と、反応室内に設けられた絶縁性管状部材を挿通しループ状に形成した導電性電極からなるループアンテナと、該ループアンテナに高周波電流を供給するための電力供給手段とを備えることを特徴とするプラズマCVD装置。
  2. 前記絶縁性管状部材は、反応室を貫通し且つ反応室の内部に相互に間隔をあけた状態で平行に複数本並設され、前記導電性電極は、複数本の絶縁性管状部材のうち、隣り合う一方の絶縁性管状部材を挿通し、反応室の側壁に沿設される共に、他方の絶縁性管状部材を挿通するように構成した請求項1記載のプラズマCVD装置。
  3. 前記ループアンテナを複数設けるように構成した請求項1または請求項2記載のプラズマCVD装置。
  4. 複数のループアンテナを前記電力供給手段に並列接続するように構成した請求項1から請求項3のいずれかに記載のプラズマCVD装置。
  5. 前記基板保持手段に保持された基板における被成膜面の全域が前記ループアンテナにおけるループ領域の近傍を通過するように、基板保持手段とループアンテナとの少なくとも一方を所定方向に移動可能とする第1駆動手段を備える請求項1から請求項4のいずれかに記載のプラズマCVD装置。
  6. 成膜中に基板保持手段とループアンテナとの少なくとも一方を、前記基板保持手段に保持された基板における被成膜面と前記ループアンテナにおけるループ領域とが平行を保持した状態で所定方向に往復移動可能とする第2駆動手段を備える請求項1から請求項5のいずれかに記載のプラズマCVD装置。
  7. 請求項1から請求項4のいずれかに記載のプラズマCVD装置を用いたプラズマCVD方法であって、基板保持手段に基板を保持する基板保持ステップと、排気系により反応室を真空排気する排気ステップと、薄膜を構成するための原料ガスをガス導入手段により反応室に導入するガス導入ステップと、電力供給手段によりループアンテナに高周波電流を供給することにより原料ガスにプラズマエネルギーを与えるプラズマ励起ステップとを備えることを特徴とするプラズマCVD方法。
  8. 請求項5記載のプラズマCVD装置を用いたプラズマCVD方法であって、基板保持手段に基板を保持する基板保持ステップと、排気系により反応室を真空排気する排気ステップと、薄膜を構成するための原料ガスをガス導入手段により反応室に導入するガス導入ステップと、電力供給手段によりループアンテナに高周波電流を供給することにより原料ガスにプラズマエネルギーを与えるプラズマ励起ステップと、基板保持手段に保持された基板における被成膜面の全域が前記ループアンテナにおけるループ領域の近傍を通過するように、基板保持手段とループアンテナとの少なくとも一方を所定方向に移動させる第1駆動ステップとを備えることを特徴とするプラズマCVD方法。
  9. 請求項6記載のプラズマCVD装置を用いたプラズマCVD方法であって、基板保持手段に基板を保持する基板保持ステップと、排気系により反応室を真空排気する排気ステップと、薄膜を構成するための原料ガスをガス導入手段により反応室に導入するガス導入ステップと、電力供給手段によりループアンテナに高周波電流を供給することにより原料ガスにプラズマエネルギーを与えるプラズマ励起ステップと、成膜中に基板保持手段とループアンテナとの少なくとも一方を、前記基板保持手段に保持された基板における被成膜面と前記ループアンテナにおけるループ領域とが平行を保持した状態で所定方向に往復移動させる往復駆動ステップとを備えることを特徴とするプラズマCVD方法。
JP2005052969A 2005-02-28 2005-02-28 プラズマcvd装置及びプラズマcvd方法 Pending JP2006237469A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005052969A JP2006237469A (ja) 2005-02-28 2005-02-28 プラズマcvd装置及びプラズマcvd方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005052969A JP2006237469A (ja) 2005-02-28 2005-02-28 プラズマcvd装置及びプラズマcvd方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006237469A true JP2006237469A (ja) 2006-09-07

Family

ID=37044752

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005052969A Pending JP2006237469A (ja) 2005-02-28 2005-02-28 プラズマcvd装置及びプラズマcvd方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006237469A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006261508A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd プラズマcvd装置
JP2012023167A (ja) * 2010-07-14 2012-02-02 Nagano Japan Radio Co 容量可変型コンデンサ、非接触電力伝送用アンテナ装置、送電装置、受電装置および非接触電力伝送システム
EP2544223A1 (en) 2010-03-03 2013-01-09 Mitsui Engineering & Shipbuilding Co., Ltd. Thin film forming apparatus
WO2021260261A1 (en) * 2020-06-26 2021-12-30 Picosun Oy Substrate processing apparatus and method

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11317299A (ja) * 1998-02-17 1999-11-16 Toshiba Corp 高周波放電方法及びその装置並びに高周波処理装置
JP2004143592A (ja) * 2002-10-04 2004-05-20 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 薄膜形成方法及び装置並びに太陽電池の製造方法及び装置並びに太陽電池
JP2004281230A (ja) * 2003-03-14 2004-10-07 Ebara Corp ビーム源及びビーム処理装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11317299A (ja) * 1998-02-17 1999-11-16 Toshiba Corp 高周波放電方法及びその装置並びに高周波処理装置
JP2004143592A (ja) * 2002-10-04 2004-05-20 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 薄膜形成方法及び装置並びに太陽電池の製造方法及び装置並びに太陽電池
JP2004281230A (ja) * 2003-03-14 2004-10-07 Ebara Corp ビーム源及びビーム処理装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006261508A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd プラズマcvd装置
JP4594770B2 (ja) * 2005-03-18 2010-12-08 三井造船株式会社 プラズマcvd装置
EP2544223A1 (en) 2010-03-03 2013-01-09 Mitsui Engineering & Shipbuilding Co., Ltd. Thin film forming apparatus
JP2012023167A (ja) * 2010-07-14 2012-02-02 Nagano Japan Radio Co 容量可変型コンデンサ、非接触電力伝送用アンテナ装置、送電装置、受電装置および非接触電力伝送システム
WO2021260261A1 (en) * 2020-06-26 2021-12-30 Picosun Oy Substrate processing apparatus and method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103354202B (zh) 等离子处理装置
CN102839360B (zh) 批量式处理装置
KR20140068116A (ko) 선형­타입 대형­면적 플라즈마 반응기 내의 균일한 프로세스를 위한 가스 전달 및 분배
JP2016174159A (ja) 成膜装置
KR102035833B1 (ko) 처리 모듈
JP5443127B2 (ja) プラズマ処理装置
CN104620353A (zh) 处理腔室及基板处理装置
EP2251898A1 (en) Atomic layer deposition apparatus and atomic layer deposition method
CN102421938B (zh) 表面波等离子体cvd设备以及成膜方法
JP5377749B2 (ja) プラズマ生成装置
KR101388224B1 (ko) 다이렉트 플라즈마 형성 증착장치
JP2006237469A (ja) プラズマcvd装置及びプラズマcvd方法
US8916000B2 (en) System and method for producing carbon nanotubes
JP4850762B2 (ja) 成膜方法
KR101413981B1 (ko) 플라즈마 발생장치 및 이를 포함하는 박막증착장치
CN101855707B (zh) 等离子处理装置
JP2016529390A (ja) 原子層堆積反応器における基板ウェブトラックの形成
KR101932344B1 (ko) 고밀도 박막증착을 위한 플라즈마 소스의 배기구조
KR101634694B1 (ko) 멀티형 증착 장치 및 방법
KR20070014698A (ko) 다중 안테나가 구비된 플라즈마 처리장치
JP2005048273A (ja) Cvd装置
KR100872874B1 (ko) 탄소나노튜브 합성 장비의 보트 이송 장치
KR20100008052A (ko) 화학기상증착 장치
CN112853321A (zh) 一种ald加工设备以及加工方法
CN112853322A (zh) 一种ald加工设备以及加工方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080121

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100628

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20100701

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A02 Decision of refusal

Effective date: 20101021

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02