[go: up one dir, main page]

JP2006140217A - 半導体モジュール - Google Patents

半導体モジュール Download PDF

Info

Publication number
JP2006140217A
JP2006140217A JP2004326638A JP2004326638A JP2006140217A JP 2006140217 A JP2006140217 A JP 2006140217A JP 2004326638 A JP2004326638 A JP 2004326638A JP 2004326638 A JP2004326638 A JP 2004326638A JP 2006140217 A JP2006140217 A JP 2006140217A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
current sensor
semiconductor module
electrode plate
disposed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2004326638A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Maekawa
剛 前川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Motor Corp filed Critical Toyota Motor Corp
Priority to JP2004326638A priority Critical patent/JP2006140217A/ja
Publication of JP2006140217A publication Critical patent/JP2006140217A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires

Landscapes

  • Control Of Ac Motors In General (AREA)

Abstract

【課題】 システムの小型化および低コスト化に寄与することができる半導体モジュールを提供する。
【解決手段】 上アームを構成するnpn型トランジスタQ1は、スペーサ66とともに正極電極板70および電極板72によって両側から挟み込まれ、下アームを構成するnpn型トランジスタQ2は、スペーサ68とともに出力電極板74および負極電極板76によって両側から挟み込まれる。電極板72と出力電極板74との間には、電極板72を出力電極板74と電気的に接続する導体78が配設される。電流センサ42は、導体78に配設され、上アームがオンしたとき、正極電極板70から出力電極板74に流れる電流を検出する。
【選択図】 図2

Description

この発明は、半導体モジュールに関し、特に、パワー半導体素子および電極を内蔵する半導体モジュールに関する。
特開2003−179203号公報(特許文献1)は、パワー半導体素子および電力配線が一体的にモールド成型された半導体モジュールを開示する。この半導体モジュールは、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)などのパワートランジスタ、これに逆並列に接続されるダイオード、および電力配線をモールド成型した主回路モジュールと、プリント基板化され、かつ、主回路モジュール上に直立して配設される駆動/制御回路とを備える(特許文献1参照)。
このような半導体モジュールは、パワートランジスタおよびこれに逆並列に接続されるダイオードをアーム単位として電力配線とともに1相分または多相分を一体的に成型できるので、組付性に優れるなどの利点を一般的に有している。
特開2003−179203号公報 特開2003−174766号公報 特開平1−214266号公報
上記のような半導体モジュールを実際に使用して電気負荷の駆動制御を行なうためには、半導体モジュールからの出力電流を検出し、その検出された出力電流に基づいて半導体モジュールの動作を制御する必要がある。
ここで、半導体モジュールからの出力電流を検出する電流センサは、半導体モジュールと電気負荷との間の電力経路上に配設されるのが一般的であるが、従来より、電流センサの搭載スペースの確保や、電流センサと半導体モジュールの制御回路との間に配線される信号ハーネスなどが、負荷駆動装置全体としての小型化や低コスト化を阻害するとして問題となっていた。
特に、近年大きく注目されているハイブリッド自動車(Hybrid Vehicle)や電気自動車(Electric Vehicle)などパワー半導体素子を用いた負荷駆動装置を搭載する車両においては、今後さらなる普及を図るためには徹底したシステムの小型化および低コスト化が必須であり、これらを達成するための課題の1つとして電流センサの配置構成が挙げられている。
上述した特開2003−179203号公報では、半導体モジュールを実際に使用する場合の電流センサの配置構成については考慮されておらず、上述した課題を解決することはできない。
そこで、この発明は、かかる課題を解決するためになされたものであり、その目的は、システムの小型化および低コスト化に寄与することができる半導体モジュールを提供することである。
この発明によれば、半導体モジュールは、半導体素子部と、半導体素子部を両側から挟み込むように設けられる第1および第2の電極と、第1の電極と同一平面上に配設され、出力端子に接続される第3の電極と、第2の電極と第3の電極との間に配設され、第2の電極を第3の電極と電気的に接続する導電部と、導電部に配設され、導電部に流される電流を検出する電流センサとを備える。
好ましくは、半導体モジュールは、第2の電極と同一平面上に配設される第4の電極と、第3および第4の電極に両側から挟み込まれるように設けられるもう1つの半導体素子部とをさらに備え、半導体素子部およびもう1つの半導体素子部は、それぞれ上アームおよび下アームを構成し、第1および第4の電極は、それぞれ正極電極および負極電極であり、第3の電極は、電気負荷へ電流を出力する出力電極である。
好ましくは、半導体モジュールは、半導体素子部、もう1つの半導体素子部、第1から第4の電極、導電部、および電流センサを固定封止するモールド樹脂をさらに備える。
好ましくは、電流センサは、導電部を取り囲むように配設される電磁コアと、電磁コアによって集磁された磁束を検出する磁気検出素子とを含む。
好ましくは、電流センサは、電流センサ回路基板と、電流センサ回路基板上に配設される電流センサ回路とをさらに含み、磁気検出素子は、電流センサ回路基板上に表面実装され、電流センサ回路基板は、磁気検出素子が電磁コアの開端部に位置するように配設される。
好ましくは、半導体モジュールは、第1および第3の電極を搭載する絶縁基板をさらに備え、電流センサは、磁気検出素子を動作させるための電流センサ回路をさらに含み、電流センサ回路は、絶縁基板上に配設される。
好ましくは、半導体モジュールは、半導体素子部およびもう1つの半導体素子部をそれぞれ駆動するための第1および第2の信号線と、電流センサからの検出信号を外部へ出力する第3の信号線とをさらに備え、第1から第3の信号線は、当該半導体モジュールの同一平面から外部に引出される。
また、この発明によれば、半導体モジュールは、半導体素子部と、半導体素子部を両側から挟み込むように設けられる第1および第2の電極と、第1の電極と同一平面上に配設され、出力端子に接続される第3の電極と、第2の電極と第3の電極との間に配設され、第2の電極を第3の電極と電気的に接続し、第2の電極と第3の電極との間に流される電流に応じた一定の電圧降下を生じさせる抵抗と、抵抗による電圧降下量および抵抗の大きさに基づいて抵抗に流される電流を測定する電流測定回路とを備える。
この発明による半導体モジュールにおいては、第2の電極と第3の電極との間に配設され、かつ、第2の電極を第3の電極と電気的に接続する導電部に流される電流を検出する電流センサが備えられる。すなわち、電流センサは、半導体モジュールに内蔵されるので、半導体モジュールと電気負荷との間の電力経路上に電流センサの搭載スペースを確保する必要はない。また、電流センサと半導体モジュールの制御回路との間の信号ハーネスが短距離化される。したがって、この発明によれば、システムの小型化に寄与することができ、さらに、システムの低コスト化に寄与することができる。
また、この発明による半導体モジュールによれば、モールド樹脂は、半導体素子部、もう1つの半導体素子部、第1から第4の電極、導電部、および電流センサを一体的に固定封止するので、耐震性および耐湿性に優れた半導体モジュールが実現される。
また、この発明による半導体モジュールによれば、電流を検出するための磁気検出素子は、電流センサ回路基板上に表面実装されるので、半導体モジュールに電流センサを組込む際の組付性に優れる。また、半導体モジュールの耐震性も向上する。
また、この発明による半導体モジュールによれば、電流センサ回路は、第1および第3の電極を搭載する絶縁基板上に配設されるので、電流センサ回路用に別途回路基板を設ける必要がなく、半導体モジュールの組付性が向上する。
また、この発明による半導体モジュールによれば、半導体素子部およびもう1つの半導体素子部をそれぞれ駆動するための第1および第2の信号線と、電流センサからの検出信号を外部へ出力する第3の信号線とが備えられ、第1から第3の信号線は、当該半導体モジュールの同一平面から外部に引出されるので、この半導体モジュールを用いて半導体装置を構成する際の組付性が向上する。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰返さない。
[実施の形態1]
図1は、この発明の実施の形態1による半導体モジュールが用いられる装置の一例として示されるモータ駆動装置の回路図である。図1を参照して、このモータ駆動装置10は、バッテリBと、インバータ20と、制御装置30と、モータジェネレータMGと、コンデンサCと、電源ラインPLと、接地ラインSLと、出力ラインUL,VL,WLと、電流センサ42,44,46とを備える。インバータ20は、電源ラインPLおよび接地ラインSLを介してバッテリBと接続される。また、インバータ20は、出力ラインUL,VL,WLを介して電気負荷であるモータジェネレータMGと接続される。
バッテリBは、直流電源であって、たとえば、ニッケル水素またはリチウムイオン等の二次電池からなる。バッテリBは、発生した直流電圧を電源ラインPLを介してインバータ20へ供給する。また、バッテリBは、電源ラインPLを介してインバータ20から受ける直流電圧によって充電される。コンデンサCは、電源ラインPLと接地ラインSLとの間に接続され、電圧変動に起因するバッテリBおよびインバータ20への影響を低減する。
モータジェネレータMGは、たとえば3相交流同期電動機であって、インバータ20から出力ラインUL,VL,WLを介して受ける交流電力によって駆動力を発生する。また、モータジェネレータMGは、回生制動時に交流電力を発電し、その発電した交流電力を出力ラインUL,VL,WLを介してインバータ20へ出力する。
インバータ20は、U相アーム22、V相アーム24およびW相アーム26を含む。U相アーム22、V相アーム24およびW相アーム26は、電源ラインPLと接地ラインSLとの間に並列に接続される。U相アーム22は、直列に接続されたnpn型トランジスタQ1,Q2からなり、V相アーム24は、直列に接続されたnpn型トランジスタQ3,Q4からなり、W相アーム26は、直列に接続されたnpn型トランジスタQ5,Q6からなる。各npn型トランジスタQ1〜Q6は、たとえばIGBTからなる。また、npn型トランジスタQ1〜Q6のコレクタ−エミッタ間には、エミッタ側からコレクタ側へ電流を流すダイオードD1〜D6がそれぞれ接続されている。そして、各相アームにおける各npn型トランジスタの接続点は、出力ラインUL,VL,WLを介してモータジェネレータMGのU,V,W各相コイルの反中性点側にそれぞれ接続される。
このインバータ20は、制御装置30からの制御信号に基づいて、バッテリBから電源ラインPLを介して受ける直流電圧を交流電圧に変換し、その変換した交流電圧をモータジェネレータMGへ出力する。これにより、モータジェネレータMGは、所望のトルクを発生するように駆動される。また、インバータ20は、制御装置30からの制御信号に基づいて、モータジェネレータMGによって回生発電された交流電圧を直流電圧に変換し、その変換した直流電圧を電源ラインPLへ出力する。
電流センサ42は、U相アーム22の上アームとU相アーム22の上下アームの接続点との間に配設され、U相アーム22から出力ラインULに流される電流を検出し、その検出値を制御装置30へ出力する。電流センサ44は、V相アーム24の上アームとV相アーム24の上下アームの接続点との間に配設され、V相アーム24から出力ラインVLに流される電流を検出し、その検出値を制御装置30へ出力する。電流センサ46は、W相アーム26の上アームとW相アーム26の上下アームの接続点との間に配設され、W相アーム26から出力ラインWLに流される電流を検出し、その検出値を制御装置30へ出力する。
制御装置30は、インバータ20の入力電圧ならびにモータジェネレータMGのモータ電流およびトルク指令値に基づいて、モータジェネレータMGを駆動するための制御信号を生成し、その生成した制御信号をインバータ20へ出力する。ここで、モータジェネレータMGのモータ電流は、上述した電流センサ42,44,46によって検出される。また、インバータ20の入力電圧は、図示されない電圧センサによって検出される。
このモータ駆動装置10においては、インバータ20におけるU相アーム22、V相アーム24およびW相アーム26の各々は、上アーム、下アーム、電源ラインPLに接続される正極電極、接地ラインSLに接続される負極電極、対応する出力ラインに接続される出力電極、および対応する電流センサがモールド樹脂により一体的に固定封止された半導体モジュールによって構成される。以下では、この半導体モジュールの構造について説明する。
図2は、図1に示したインバータ20の各相アームを構成する半導体モジュールの構成を示す断面図である。なお、インバータ20の各相アームの構成は、いずれも同じであるので、以下では、図1に示したインバータ20のU相アーム22を構成する半導体モジュールについて代表的に説明する。
図2を参照して、半導体モジュール52は、npn型トランジスタQ1,Q2と、スペーサ66,68と、図示されないダイオードD1,D2と、正極電極板70と、電極板72と、出力電極板74と、負極電極板76と、導体78と、電流センサ42と、モールド樹脂84とを含む。そして、半導体モジュール52は、絶縁板54,56によって両側から挟み込まれ、冷却器58,60によってさらに両側から挟み込まれることによって、両面から冷却される。
npn型トランジスタQ1は、エミッタ側が正極電極板70に固設され、正極電極板70と電気的に接続される。スペーサ66は、電流センサ42の配置スペースや図示されない制御信号線の配線スペースを確保するために設けられる。スペーサ66は、導体からなり、npn型トランジスタQ1のコレクタ部に固設され、その接合部と対向する側が電極板72に固設される。したがって、npn型トランジスタQ1は、電極板72とも電気的に接続される。
npn型トランジスタQ2は、エミッタ側が出力電極板74に固設され、出力電極板74と電気的に接続される。スペーサ68は、スペーサ66と同様に、電流センサ42の配置スペース等を確保するために設けられる。スペーサ68も、導体からなり、npn型トランジスタQ2のコレクタ部に固設され、その接合部と対向する側が負極電極板76に固設される。したがって、npn型トランジスタQ2は、負極電極板76とも電気的に接続される。
正極電極板70、電極板72、出力電極板74および負極電極板76は、たとえば銅などの高導電性かつ高伝熱性の金属部材からなる。正極電極板70および出力電極板74は、同一平面上に配設され、また、電極板72および負極電極板76は、正極電極板70および出力電極板74が配設される平面と略平行の同一平面上に配設される。そして、正極電極板70および電極板72は、npn型トランジスタQ1およびスペーサ66ならびに図示されないダイオードD1を両側から挟み込むように設けられ、出力電極板74および負極電極板76は、npn型トランジスタQ2およびスペーサ68ならびに図示されないダイオードD2を両側から挟み込むように設けられる。
導体78は、電極板72と出力電極板74との間に配設され、電極板72を出力電極板74と電気的に接続する。ここで、出力ラインULが接続される出力端子は、出力電極板74に設けられており、導体78が電極板72を出力電極板74と電気的に接続することによって、正極電極板72に供給される電流は、npn型トランジスタQ1、スペーサ66、電極板72、導体78および出力電極板74を介して出力ラインULへ流れる。
電流センサ42は、導体78の近傍に配設され、導体78に流れる電流を検出する。すなわち、電流センサ42は、上アームを構成するnpn型トランジスタQ1がオンしたとき、正極電極板70から出力電極板74に流される電流を検出する。言い換えると、電流センサ42は、インバータ20のU相アーム22から出力ラインULへ出力される出力電流を検出する。この電流センサ42の構成については、後ほど詳しく説明する。
モールド樹脂84は、上述したnpn型トランジスタQ1,Q2、スペーサ66,68、図示されないダイオードD1,D2、正極電極板70、電極板72、出力電極板74、負極電極板76、導体78、および電流センサ80を一体的に固定封止する。但し、正極電極板70および出力電極板74の絶縁板54と対向する面、ならびに電極板72および負極電極板76の絶縁板56と対向する面は、熱抵抗低減のため、モールド樹脂84によって覆われていない。
図3は、図2に示した電流センサ42の近傍を拡大して示す斜視図である。図3を参照して、電流センサ42は、集磁コア80と、磁気検出素子82と、センサ基板83とからなる。集磁コア80は、導体78の周囲を取り囲むように配設され、導体78に流される電流量に応じて導体78の周囲に発生する磁束を集磁する。
磁気検出素子82は、たとえばホール素子などからなる。磁気検出素子82は、集磁コア80によって集磁された磁束を検出し、その検出された磁束の大きさに応じた電圧を発生してリード線を介してセンサ基板83へ出力する。センサ基板83は、正極電極板70上に配設され、上面には図示されない信号処理回路が形成される。センサ基板83上に形成される信号処理回路は、磁気検出素子84からリード線を介して受ける電圧を電流検出信号に変換し、その変換した電流検出信号を電流センサ信号線86を介して外部へ出力する。
図4は、図2に示した半導体モジュール52の外形図である。図4を参照して、正極電極板70および出力電極板74は、同一平面に配設され、npn型トランジスタQ1,Q2(図示せず、以下同じ。)に接する面と対向する面は、モールド樹脂84によって覆われることなく、外部に露出している。正極電極板70には、電源ラインPLに接続される正極端子88が設けられ、出力電極板74には、出力ラインULに接続される出力端子90が設けられる。また、出力電極板70および出力電極板74が配設される面と対向する面に配設される図示されない負極電極板76には、接地ラインSLに接続される負極端子92が設けられる。
制御信号線94は、外部の制御装置30(図示せず、以下同じ。)からnpn型トランジスタQ1を駆動するための信号線であり、制御信号線96は、制御装置30からnpn型トランジスタQ2を駆動するための信号線である。電流センサ信号線86は、この半導体モジュール52に内蔵される電流センサ42からの電流検出信号を外部に取り出すための信号線である。そして、制御信号線94,96および電流センサ信号線86は、組付性を考慮して、半導体モジュール52の同一平面から外部へ引出されている。
以上のように、この実施の形態1による半導体モジュール52によれば、出力電流を検出する電流センサ42を内蔵しているので、従来、インバータ20とモータジェネレータMGとの間に配設されていた電流センサ42の搭載スペースを確保する必要はない。したがって、この半導体モジュール52を搭載するシステムの小型化に寄与することができる。また、電流センサ42と制御装置30との信号ハーネスも短距離化されるので、システムの低コスト化にも寄与することができる。
さらに、半導体モジュール52に内蔵される電流センサ42からの電流センサ信号線86は、上下アームを駆動するための制御信号線94,96と同一平面から引出されるので、この半導体モジュール52を用いてモータ駆動装置10を構成する際の組付性が向上する。また、さらに、この半導体モジュール52は、モールド樹脂84によって一体的に固定封止されているので、耐震性および耐湿性に優れる。
[実施の形態2]
実施の形態2による半導体モジュールは、実施の形態1による半導体モジュール52と電流センサの構成が異なる。実施の形態2による半導体モジュールのその他の構成は、実施の形態1による半導体モジュール52の構成と同じである。
図5は、この発明の実施の形態2による半導体モジュールに内蔵される電流センサの近傍を拡大して示す斜視図である。図5を参照して、この電流センサ42Aは、集磁コア80と、センサ基板98とからなる。センサ基板98は、いわゆる表面実装型デバイス(SMD:Surface−Mounted−Device)であり、ホール素子からなる磁気検出素子82Aがセンサ基板98上に配設されている。
そして、センサ基板98は、正極電極板70に設けられた嵌合部100に嵌合され、磁気検出素子82Aは、センサ基板98が嵌合部100に嵌合されたときに集磁コア80の開端部に配置されるように、センサ基板98上に配置される。
この実施の形態2によれば、半導体モジュールに内蔵される電流センサ42Aは、磁気検出素子がセンサ基板とリード線によって接続されるリード線型デバイスでなく、表面実装型デバイスによって構成されるので、電流センサの組付性に優れた半導体モジュールが実現される。また、半導体モジュールの耐震性も向上する。
[実施の形態3]
実施の形態3による半導体モジュールは、内蔵される電流センサがシャント抵抗によって構成される。
図6は、この発明の実施の形態3による半導体モジュールが適用されたU相アームの回路図である。なお、特に図示しないが、その他のV,W各相アームの回路図も同様である。図6を参照して、このU相アーム22Aは、npn型トランジスタQ1,Q2と、npn型トランジスタQ1,Q2にそれぞれ逆並列に接続されるダイオードD1,D2と、シャント抵抗102と、電流測定回路112とからなる。
シャント抵抗102は、npn型トランジスタQ1,Q2の間に配設され、シャント抵抗102とnpn型トランジスタQ2との接続点に出力ラインULが接続される。電流測定回路112は、シャント抵抗102による電圧降下を測定し、その測定した電圧降下値をシャント抵抗102の抵抗値で除算することによって、npn型トランジスタQ1から出力ラインULに流れる電流を算出する。
図7は、この発明の実施の形態3による半導体モジュールに内蔵される電流センサの概略構成図である。図7を参照して、この電流センサ42Bは、シャント抵抗102と、絶縁板103と、電圧引出線104と、センサ基板106と、ワイヤ108,110とからなる。シャント抵抗102は、出力電極板74に一端が接続され、電極板72(図示せず、以下同じ。)に他端が接続される。そして、シャント抵抗102は、npn型トランジスタQ1がオンしたとき、電極板72から出力電極板74へ電流を流すとともに、流れた電流に応じた電圧降下を生じさせる。
電圧引出線104は、極低抵抗の導体からなり、出力電極板74上に配設される絶縁板103と電極板72との間に設けられる。この電圧引出線104は、シャント抵抗102による電圧降下前の電圧を取り出すために設けられる。センサ基板106は、出力電極板74上に配設され、上面には、図6に示した電流測定回路112(図示せず、以下同じ。)が形成される。電流測定回路112は、シャント抵抗102における電圧降下に基づいてシャント抵抗102に流れる電流値を測定し、その測定値を電流センサ信号線86を介して外部へ出力する。
なお、この実施の形態3による半導体モジュールにおいては、シャント抵抗102が出力電極板74を電極板72と電気的に接続し、シャント抵抗102が電極板72から出力電極板74へ電流を流すので、この実施の形態3による半導体モジュールは、実施の形態1における導体78を備えていない。実施の形態3による半導体モジュールのその他の構成は、実施の形態1による半導体モジュール52の構成と同じである。
以上のように、この実施の形態3によれば、電流センサをシャント抵抗102によって構成したので、一般的に高価な集磁コアを備える必要がなく、低コスト化される。
[実施の形態4]
図8は、この発明の実施の形態4による半導体モジュールの構成を示す断面図であり、図9は、図8に示した半導体モジュールの平面図である。この図8,図9に示される半導体モジュールも、図1に示したインバータ20の各相アームを構成する。そして、インバータ20の各相アームの構成は、いずれも同じであるので、以下では、インバータ20のU相アーム22を構成する半導体モジュールについて代表的に説明する。なお、図8では、図9に示す断面VIII−VIIIが示されており、図9では、図8に示したスペーサ66,68、電極板72および負極電極板76は、図示されていない。
図8,図9を参照して、この実施の形態4による半導体モジュール52Aは、npn型トランジスタQ1,Q2と、スペーサ66,68と、ダイオードD1,D2と、パターン回路114,116と、絶縁基板118と、放熱板120と、電極板72と、負極電極板76と、導体78と、電流センサ42Cと、モールド樹脂84とを含む。
パターン回路114,116は、たとえば銅などの高導電性かつ高伝熱性の金属部材からなり、絶縁基板118上に形成される。パターン回路114は、ワイヤ128によって正極端子122に接続され、正極電極を構成する。パターン回路116は、ワイヤ130によって出力端子124に接続され、出力電極を構成する。
そして、npn型トランジスタQ1およびダイオードD1は、パターン回路114上に搭載され、npn型トランジスタQ2およびダイオードD2は、パターン回路116上に搭載される。導体78は、パターン回路116上に配設され、電極板72をパターン回路116と電気的に接続する。
絶縁基板118は、放熱板120上に配設され、パターン回路114,116を放熱板120と絶縁する。放熱板120は、熱伝導率の高い銅板やアルミ板からなり、この半導体モジュール52A内で発生した熱を冷却器58へ放熱する。
電流センサ42Cは、集磁コア80と、磁気検出素子82と、センサ回路部119とからなる。センサ回路部119は、絶縁基板118上であって、かつ、導体78の近傍に形成される。すなわち、電流センサ42Aのセンサ基板には、絶縁基板118の一部が用いられている。そして、センサ回路部119は、磁気検出素子82からリード線を介して受ける電圧を電流検出信号に変換し、その変換した電流検出信号をワイヤ132を介して端子126へ出力する。
この実施の形態4による半導体モジュール52Aにおいては、絶縁基板118が半導体モジュール52Aに内蔵されて一体的に成型されている。したがって、図8に示されるように、半導体モジュール52Aに冷却器58,60を組付ける際、半導体モジュール52Aと冷却器58との間に絶縁基板を挟み込む必要がない。そして、半導体モジュール、絶縁板および冷却器を重ね合わせて組付ける場合には、密着性や熱抵抗低減のために接触面にシリコングリスを塗布する必要があるところ、この半導体モジュール52Aを用いれば、実施の形態1による半導体モジュール52を用いた場合と比べて、シリコングリスを塗布する面が1面分削減される。
以上のように、この実施の形態4によれば、絶縁基板118を半導体モジュール52Aに内蔵して一体的に成型したので、半導体モジュール52Aに冷却器58,60を組付ける際の組付性が向上する。また、シリコングリスを塗布する面を削減できるので、この点からも半導体モジュール52Aに冷却器58,60を組付ける際の組付性が向上する。
さらに、放熱板120を半導体モジュール52Aの一面にわたって1枚で構成できるので、半導体モジュール52Aの組付性に優れ、また、半導体モジュール52Aを組付ける際の部品点数を削減できる。
なお、上記の各実施の形態においては、この発明による半導体モジュールの適用例としてインバータ20の各相アームに適用される場合が示されたが、この発明による半導体モジュールの適用範囲は、インバータに限られるものではなく、その他の半導体装置一般に及ぶものである。
また、この発明による半導体モジュールは、ハイブリッド自動車や電気自動車に好適である。ハイブリッド自動車は、従来のエンジンに加え、バッテリとインバータとインバータによって駆動されるモータとを動力源とする自動車である。また、電気自動車は、バッテリとインバータとインバータによって駆動されるモータとを動力源とする自動車である。このようなハイブリッド自動車や電気自動車においては、インバータやコンバータなどの電子部品において多数のパワー半導体素子が用いられる。そして、ハイブリッド自動車や電気自動車においては、装置の小型化や、低コスト化、高信頼性などが強く要求されるところ、この発明による半導体モジュールによれば、上述のように、車両システムの小型化および低コスト化に寄与し、また、耐震性や耐湿性が確保されることによって高信頼性を得ることができる。
なお、上記において、npn型トランジスタQ1およびダイオードD1は、「半導体素子部」を構成し、npn型トランジスタQ2およびダイオードD2は、「もう1つの半導体素子部」を構成する。また、正極電極板70、電極板72、出力電極板74および負極電極板76は、それぞれ「第1から第4の電極」を構成し、導体78は、「導電部」を構成する。さらに、制御信号線94,96は、それぞれ「第1および第2の信号線」を構成し、電流センサ信号線86は、「第3の信号線」を構成する。また、さらに、センサ基板98は、「電流センサ回路基板」を構成し、シャント抵抗102は、「抵抗」を構成する。
今回開示された実施の形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
この発明の実施の形態1による半導体モジュールが用いられる装置の一例として示されるモータ駆動装置の回路図である。 図1に示すインバータの各相アームを構成する半導体モジュールの構成を示す断面図である。 図2に示す電流センサの近傍を拡大して示す斜視図である。 図2に示す半導体モジュールの外形図である。 この発明の実施の形態2による半導体モジュールに内蔵される電流センサの近傍を拡大して示す斜視図である。 この発明の実施の形態3による半導体モジュールが適用されたU相アームの回路図である。 この発明の実施の形態3による半導体モジュールに内蔵される電流センサの概略構成図である。 この発明の実施の形態4による半導体モジュールの構成を示す断面図である。 図8に示す半導体モジュールの平面図である。
符号の説明
10 モータ駆動装置、20 インバータ、22 U相アーム、24 V相アーム、26 W相アーム、30 制御装置、42,42A〜42C,44,46 電流センサ、52,52A 半導体モジュール、54,56,118 絶縁基板、58,60 冷却器、66,68 スペーサ、70 正極電極板、72 電極板、74 出力電極板、76 負極電極板、78 導体、80 集磁コア、82,82A 磁気検出素子、83,98,106 センサ基板、84 モールド樹脂、86 電流センサ信号線、88,122 正極端子、90,124 出力端子、92 負極端子、94,96 制御信号線、100 嵌合部、102 シャント抵抗、103 絶縁板、104 電圧引出線、108,110,128,130,132 ワイヤ、112 電流測定回路、114,116 パターン回路、119 センサ回路部、120 放熱板、126 端子、B バッテリ、C コンデンサ、MG モータジェネレータ、PL 電源ライン、SL 接地ライン、UL,VL,WL 出力ライン、Q1〜Q6 npn型トランジスタ、D1〜D6 ダイオード。

Claims (8)

  1. 半導体素子部と、
    前記半導体素子部を両側から挟み込むように設けられる第1および第2の電極と、
    前記第1の電極と同一平面上に配設され、出力端子に接続される第3の電極と、
    前記第2の電極と前記第3の電極との間に配設され、前記第2の電極を前記第3の電極と電気的に接続する導電部と、
    前記導電部に配設され、前記導電部に流される電流を検出する電流センサとを備える半導体モジュール。
  2. 前記第2の電極と同一平面上に配設される第4の電極と、
    前記第3および第4の電極に両側から挟み込まれるように設けられるもう1つの半導体素子部とをさらに備え、
    前記半導体素子部および前記もう1つの半導体素子部は、それぞれ上アームおよび下アームを構成し、
    前記第1および第4の電極は、それぞれ正極電極および負極電極であり、
    前記第3の電極は、電気負荷へ電流を出力する出力電極である、請求項1に記載の半導体モジュール。
  3. 前記半導体素子部、前記もう1つの半導体素子部、前記第1から第4の電極、前記導電部、および前記電流センサを固定封止するモールド樹脂をさらに備える、請求項1または請求項2に記載の半導体モジュール。
  4. 前記電流センサは、
    前記導電部を取り囲むように配設される電磁コアと、
    前記電磁コアによって集磁された磁束を検出する磁気検出素子とを含む、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の半導体モジュール。
  5. 前記電流センサは、
    電流センサ回路基板と、
    前記電流センサ回路基板上に配設される電流センサ回路とをさらに含み、
    前記磁気検出素子は、前記電流センサ回路基板上に表面実装され、
    前記電流センサ回路基板は、前記磁気検出素子が前記電磁コアの開端部に位置するように配設される、請求項4に記載の半導体モジュール。
  6. 前記第1および第3の電極を搭載する絶縁基板をさらに備え、
    前記電流センサは、前記磁気検出素子を動作させるための電流センサ回路をさらに含み、
    前記電流センサ回路は、前記絶縁基板上に配設される、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の半導体モジュール。
  7. 前記半導体素子部および前記もう1つの半導体素子部をそれぞれ駆動するための第1および第2の信号線と、
    前記電流センサからの検出信号を外部へ出力する第3の信号線とをさらに備え、
    前記第1から第3の信号線は、当該半導体モジュールの同一平面から外部に引出される、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の半導体モジュール。
  8. 半導体素子部と、
    前記半導体素子部を両側から挟み込むように設けられる第1および第2の電極と、
    前記第1の電極と同一平面上に配設され、出力端子に接続される第3の電極と、
    前記第2の電極と前記第3の電極との間に配設され、前記第2の電極を前記第3の電極と電気的に接続し、前記第2の電極と前記第3の電極との間に流される電流に応じた一定の電圧降下を生じさせる抵抗と、
    前記抵抗による前記電圧降下量および前記抵抗の大きさに基づいて前記抵抗に流される電流を測定する電流測定回路とを備える半導体モジュール。
JP2004326638A 2004-11-10 2004-11-10 半導体モジュール Withdrawn JP2006140217A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004326638A JP2006140217A (ja) 2004-11-10 2004-11-10 半導体モジュール

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004326638A JP2006140217A (ja) 2004-11-10 2004-11-10 半導体モジュール

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006140217A true JP2006140217A (ja) 2006-06-01

Family

ID=36620862

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004326638A Withdrawn JP2006140217A (ja) 2004-11-10 2004-11-10 半導体モジュール

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006140217A (ja)

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008027935A (ja) * 2006-07-18 2008-02-07 Hitachi Ltd パワー半導体装置
JP2009049049A (ja) * 2007-08-13 2009-03-05 Sumitomo Electric Ind Ltd パワーモジュール及びパワードライブユニット
JP2009105178A (ja) * 2007-10-23 2009-05-14 Nichicon Corp パワー半導体ユニット
JP2010087111A (ja) * 2008-09-30 2010-04-15 Denso Corp 半導体装置およびそれを用いたインバータ回路
JP2010205960A (ja) * 2009-03-04 2010-09-16 Denso Corp 半導体モジュール
DE102011008952A1 (de) * 2011-01-19 2012-07-19 Texas Instruments Deutschland Gmbh Mehrchipmodul, Verfahren zum Betreiben desselben und DC/DC-Wandler
US8497572B2 (en) 2010-07-05 2013-07-30 Denso Corporation Semiconductor module and method of manufacturing the same
US9173329B2 (en) 2012-12-27 2015-10-27 Hyundai Motor Company Heat sink-integrated double-sided cooled power module
WO2016002184A1 (ja) * 2014-07-03 2016-01-07 株式会社デンソー 半導体装置
JP2018041949A (ja) * 2016-05-04 2018-03-15 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ ブリッジレッグ回路組立品およびフルブリッジ回路組立品
US10041979B2 (en) 2013-05-03 2018-08-07 Infineon Technologies Ag Method of sensing current flowing in a power module
CN108447845A (zh) * 2018-05-21 2018-08-24 臻驱科技(上海)有限公司 一种功率半导体模块衬底及功率半导体模块
WO2020100377A1 (ja) * 2018-11-16 2020-05-22 株式会社日立製作所 パワー半導体装置
DE102019122369A1 (de) * 2019-08-20 2021-02-25 Infineon Technologies Ag Leistungshalbleitermodul und verfahren zur herstellung eines leistungshalbleitermoduls
DE102016111248B4 (de) 2015-06-23 2021-12-16 Infineon Technologies Ag Leistungspackage mit integriertem Magnetfeldsensor
DE112011105802B4 (de) 2011-11-04 2022-07-21 Denso Corporation Leistungsmodul, elektrischer Leistungswandler und Elektrofahrzeug

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008027935A (ja) * 2006-07-18 2008-02-07 Hitachi Ltd パワー半導体装置
JP2009049049A (ja) * 2007-08-13 2009-03-05 Sumitomo Electric Ind Ltd パワーモジュール及びパワードライブユニット
JP2009105178A (ja) * 2007-10-23 2009-05-14 Nichicon Corp パワー半導体ユニット
JP2010087111A (ja) * 2008-09-30 2010-04-15 Denso Corp 半導体装置およびそれを用いたインバータ回路
JP2010205960A (ja) * 2009-03-04 2010-09-16 Denso Corp 半導体モジュール
US8497572B2 (en) 2010-07-05 2013-07-30 Denso Corporation Semiconductor module and method of manufacturing the same
US9711436B2 (en) 2011-01-19 2017-07-18 Texas Instruments Incorporated Multi chip module, method for operating the same and DC/DC converter
DE102011008952A1 (de) * 2011-01-19 2012-07-19 Texas Instruments Deutschland Gmbh Mehrchipmodul, Verfahren zum Betreiben desselben und DC/DC-Wandler
DE112011105802B4 (de) 2011-11-04 2022-07-21 Denso Corporation Leistungsmodul, elektrischer Leistungswandler und Elektrofahrzeug
US9173329B2 (en) 2012-12-27 2015-10-27 Hyundai Motor Company Heat sink-integrated double-sided cooled power module
DE102014106133B4 (de) * 2013-05-03 2020-12-10 Infineon Technologies Ag Leistungsmodul mit integriertem Stromsensor, Herstellungsverfahren dafür und Verfahren zum Erfassen von Strom, der in einem Leistungsmodul fließt
US10041979B2 (en) 2013-05-03 2018-08-07 Infineon Technologies Ag Method of sensing current flowing in a power module
US10027250B2 (en) 2014-07-03 2018-07-17 Denso Corporation Semiconductor device with power elements and current detection portion
DE112015003117B4 (de) 2014-07-03 2023-08-31 Denso Corporation Halbleitervorrichtung
US20170155341A1 (en) * 2014-07-03 2017-06-01 Denso Corporation Semiconductor device
JP2016015451A (ja) * 2014-07-03 2016-01-28 株式会社デンソー 半導体装置
WO2016002184A1 (ja) * 2014-07-03 2016-01-07 株式会社デンソー 半導体装置
DE102016111248B4 (de) 2015-06-23 2021-12-16 Infineon Technologies Ag Leistungspackage mit integriertem Magnetfeldsensor
JP2018041949A (ja) * 2016-05-04 2018-03-15 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ ブリッジレッグ回路組立品およびフルブリッジ回路組立品
JP7012453B2 (ja) 2016-05-04 2022-01-28 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ ブリッジレッグ回路組立品およびフルブリッジ回路組立品
CN108447845A (zh) * 2018-05-21 2018-08-24 臻驱科技(上海)有限公司 一种功率半导体模块衬底及功率半导体模块
JP2020087986A (ja) * 2018-11-16 2020-06-04 株式会社日立製作所 パワー半導体装置
CN113039642A (zh) * 2018-11-16 2021-06-25 株式会社日立制作所 功率半导体装置
JP7099938B2 (ja) 2018-11-16 2022-07-12 株式会社日立製作所 パワー半導体装置
WO2020100377A1 (ja) * 2018-11-16 2020-05-22 株式会社日立製作所 パワー半導体装置
DE102019122369A1 (de) * 2019-08-20 2021-02-25 Infineon Technologies Ag Leistungshalbleitermodul und verfahren zur herstellung eines leistungshalbleitermoduls

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102111082B (zh) 电力变换装置
JP4293246B2 (ja) 電力変換装置
US9054628B2 (en) Power inverter
CN103208930B (zh) 功率转换装置
CN103299532B (zh) 电力转换装置
US7978471B2 (en) Electric power conversion apparatus
JP5227532B2 (ja) インバータ回路用の半導体モジュール
US9159506B2 (en) Capacitor module and power conversion device
JP4436843B2 (ja) 電力変換装置
US8902623B2 (en) Power inverter
JP5244876B2 (ja) 電力変換装置および電動車両
US20120063187A1 (en) Inverter device
EP1881592A2 (en) Power converter
CN107408554B (zh) 电力转换装置
JP2006140217A (ja) 半導体モジュール
JP4538474B2 (ja) インバータ装置
JP2012249482A (ja) 電力変換装置
JP4055643B2 (ja) インバータ装置
JP2011135725A (ja) 電力変換装置
JP4452605B2 (ja) 半導体装置
JP2004063682A (ja) 半導体装置
WO2025150083A1 (ja) 電力変換装置
JP5917231B2 (ja) 電力変換装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070326

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20071207