JP2006120675A - 照明光学装置、露光装置、および露光方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 光源(1)からの光束を所定の光強度分布の光束に変換する回折光学素子(3)と、回折光学素子と被照射面(M)との間に配置されて回折光学素子からの光束に基づいて照明瞳面に実質的な面光源を形成するオプティカルインテグレータ(8)と、回折光学素子とオプティカルインテグレータとの間に配置されて実質的な面光源の大きさおよび形状を変化させる整形光学系(4,6,7)と、整形光学系の光路中において回折光学素子と実質的にフーリエ変換の関係にある位置に配置されて回折光学素子からの0次光が照明光路に沿って進行するのを阻止する阻止手段とを備えている。
【選択図】 図1
Description
前記光源からの光束を所定の光強度分布の光束に変換するための回折光学素子と、
前記回折光学素子と前記被照射面との間の光路中に配置されて、前記回折光学素子からの光束に基づいて照明瞳面に実質的な面光源を形成するためのオプティカルインテグレータと、
前記回折光学素子と前記オプティカルインテグレータとの間の光路中に配置されて前記実質的な面光源の大きさおよび形状を変化させるための整形光学系と、
前記整形光学系の光路中において前記回折光学素子と実質的にフーリエ変換の関係にある位置に配置されて、前記回折光学素子からの0次光が照明光路に沿って進行するのを阻止するための阻止手段とを備えていることを特徴とする照明光学装置を提供する。
図1は、本発明の実施形態にかかる露光装置の構成を概略的に示す図である。図1において、感光性基板であるウェハWの法線方向に沿ってZ軸を、ウェハWの面内において図1の紙面に平行な方向にY軸を、ウェハWの面内において図1の紙面に垂直な方向にX軸をそれぞれ設定している。
3 回折光学素子
4 アフォーカルレンズ(リレー光学系)
6 円錐アキシコン系
6a,6b プリズム部材
6aa,6ba 拡散領域(または遮光領域)
7 ズームレンズ(変倍光学系)
8 マイクロフライアイレンズ
9 コンデンサー光学系
10 マスクブラインド
11 結像光学系
M マスク
MS マスクステージ
PL 投影光学系
W ウェハ
WS ウェハステージ
Claims (9)
- 光源からの光束により被照射面を照明する照明光学装置において、
前記光源からの光束を所定の光強度分布の光束に変換するための回折光学素子と、
前記回折光学素子と前記被照射面との間の光路中に配置されて、前記回折光学素子からの光束に基づいて照明瞳面に実質的な面光源を形成するためのオプティカルインテグレータと、
前記回折光学素子と前記オプティカルインテグレータとの間の光路中に配置されて前記実質的な面光源の大きさおよび形状を変化させるための整形光学系と、
前記整形光学系の光路中において前記回折光学素子と実質的にフーリエ変換の関係にある位置に配置されて、前記回折光学素子からの0次光が照明光路に沿って進行するのを阻止するための阻止手段とを備えていることを特徴とする照明光学装置。 - 前記整形光学系は、リレー光学系と、該リレー光学系と前記オプティカルインテグレータとの間の光路中に配置された変倍光学系とを有し、
前記阻止手段は、前記リレー光学系の瞳位置またはその近傍に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の照明光学装置。 - 前記阻止手段と前記回折光学素子との間の光路中に配置される光学部材は固定されていることを特徴とする請求項1または2に記載の照明光学装置。
- 前記阻止手段は、入射する前記0次光を実質的に散乱させるための拡散領域を有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の照明光学装置。
- 前記阻止手段は、入射する前記0次光を実質的に遮るための遮光領域を有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の照明光学装置。
- 前記リレー光学系の光路中には、凹状断面の屈折面を有する第1プリズムと、該第1プリズムの前記凹状断面の屈折面とほぼ相補的に形成された凸状断面の屈折面を有する第2プリズムとが配置され、前記第1プリズムと前記第2プリズムとの間隔は可変に構成され、
前記第1プリズムおよび前記第2プリズムのうちの少なくとも一方には、前記拡散領域または前記遮光領域が設けられていることを特徴とする請求項5に記載の照明光学装置。 - 前記屈折面は、前記照明光学装置の光軸を中心とする円錐体の側面に対応する形状を有することを特徴とする請求項6に記載の照明光学装置。
- マスクを照明するための請求項1乃至7のいずれか1項に記載の照明光学装置を備え、前記マスクのパターンを感光性基板上に露光することを特徴とする露光装置。
- 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の照明光学装置を用いてマスクを照明する照明工程と、
前記マスクのパターンを感光性基板上に露光する露光工程とを含むことを特徴とする露光方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014145982A (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-14 | Toshiba Corp | 光学装置、固体撮像装置及び光学装置の製造方法 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101320216B (zh) * | 2008-06-18 | 2010-06-09 | 上海微电子装备有限公司 | 一种微光刻照明光瞳的整形结构 |
JP2010109242A (ja) * | 2008-10-31 | 2010-05-13 | Canon Inc | 照明光学系及び露光装置 |
CN102495536B (zh) * | 2011-12-30 | 2015-08-05 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 光刻机 |
CN103293863B (zh) * | 2012-02-24 | 2015-11-18 | 上海微电子装备有限公司 | 一种光刻照明系统 |
CN102937778B (zh) * | 2012-11-20 | 2015-04-22 | 北京理工大学 | 一种确定光刻照明系统中各元件之间匹配关系的方法 |
JP6168822B2 (ja) * | 2013-04-04 | 2017-07-26 | オリンパス株式会社 | パターン照射装置 |
CN103399414B (zh) * | 2013-07-22 | 2016-04-13 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 消除衍射光学元件零级衍射光斑的方法 |
CN104154495B (zh) * | 2014-05-20 | 2017-12-15 | 广州市浩洋电子股份有限公司 | 混合型光学积分器组件及其光学系统 |
KR102280355B1 (ko) | 2014-11-14 | 2021-07-21 | 가부시키가이샤 니콘 | 조형 장치 및 조형 방법 |
CN111112618B (zh) * | 2014-11-14 | 2022-09-16 | 株式会社尼康 | 造形装置及造形方法 |
EP3603853A4 (en) | 2017-03-31 | 2020-12-23 | Nikon Corporation | MODELING SYSTEM AND MODELING PROCESS |
JP7393944B2 (ja) | 2017-03-31 | 2023-12-07 | 株式会社ニコン | 処理方法及び処理システム |
US11300524B1 (en) * | 2021-01-06 | 2022-04-12 | Kla Corporation | Pupil-plane beam scanning for metrology |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05160002A (ja) * | 1991-03-05 | 1993-06-25 | Hitachi Ltd | 露光方法及びその装置並びに露光方式並びにマスク回路パターン検査方式 |
JPH08203801A (ja) * | 1995-01-23 | 1996-08-09 | Nikon Corp | 投影露光装置 |
JP2001176766A (ja) * | 1998-10-29 | 2001-06-29 | Nikon Corp | 照明装置及び投影露光装置 |
JP2001284240A (ja) * | 2000-04-03 | 2001-10-12 | Canon Inc | 照明光学系、および該照明光学系を備えた投影露光装置と該投影露光装置によるデバイスの製造方法 |
JP2001338861A (ja) * | 2000-05-26 | 2001-12-07 | Nikon Corp | 照明光学装置並びに露光装置及び方法 |
JP2002158157A (ja) * | 2000-11-17 | 2002-05-31 | Nikon Corp | 照明光学装置および露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法 |
JP2004207735A (ja) * | 2002-12-23 | 2004-07-22 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
JP2005243904A (ja) * | 2004-02-26 | 2005-09-08 | Nikon Corp | 照明光学装置、露光装置及び露光方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0486316B1 (en) | 1990-11-15 | 2000-04-19 | Nikon Corporation | Projection exposure method and apparatus |
JPH06124873A (ja) | 1992-10-09 | 1994-05-06 | Canon Inc | 液浸式投影露光装置 |
DE4301574B4 (de) | 1993-01-21 | 2004-07-08 | Bernhard Prof. Dr. Lau | Vorrichtung zur Beobachtung des Augenhintergrundes, insbesondere Ophthalmoskop |
US6285443B1 (en) | 1993-12-13 | 2001-09-04 | Carl-Zeiss-Stiftung | Illuminating arrangement for a projection microlithographic apparatus |
JP3747566B2 (ja) | 1997-04-23 | 2006-02-22 | 株式会社ニコン | 液浸型露光装置 |
US6741394B1 (en) | 1998-03-12 | 2004-05-25 | Nikon Corporation | Optical integrator, illumination optical apparatus, exposure apparatus and observation apparatus |
AU2747999A (en) | 1998-03-26 | 1999-10-18 | Nikon Corporation | Projection exposure method and system |
US6563567B1 (en) | 1998-12-17 | 2003-05-13 | Nikon Corporation | Method and apparatus for illuminating a surface using a projection imaging apparatus |
DE10062579A1 (de) | 1999-12-15 | 2001-06-21 | Nikon Corp | Optischer Integrierer,optische Beleuchtungseinrichtung, Photolithographie-Belichtungseinrichtung,und Beobachtungseinrichtung |
US8154686B2 (en) * | 2004-01-20 | 2012-04-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Directional backlight, a multiple view display and a multi-direction display |
DE102004040535A1 (de) | 2004-08-20 | 2006-02-23 | Carl Zeiss Ag | Polarisationsselektiv geblazetes diffraktives optisches Element |
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05160002A (ja) * | 1991-03-05 | 1993-06-25 | Hitachi Ltd | 露光方法及びその装置並びに露光方式並びにマスク回路パターン検査方式 |
JPH08203801A (ja) * | 1995-01-23 | 1996-08-09 | Nikon Corp | 投影露光装置 |
JP2001176766A (ja) * | 1998-10-29 | 2001-06-29 | Nikon Corp | 照明装置及び投影露光装置 |
JP2001284240A (ja) * | 2000-04-03 | 2001-10-12 | Canon Inc | 照明光学系、および該照明光学系を備えた投影露光装置と該投影露光装置によるデバイスの製造方法 |
JP2001338861A (ja) * | 2000-05-26 | 2001-12-07 | Nikon Corp | 照明光学装置並びに露光装置及び方法 |
JP2002158157A (ja) * | 2000-11-17 | 2002-05-31 | Nikon Corp | 照明光学装置および露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法 |
JP2004207735A (ja) * | 2002-12-23 | 2004-07-22 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
JP2005243904A (ja) * | 2004-02-26 | 2005-09-08 | Nikon Corp | 照明光学装置、露光装置及び露光方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014145982A (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-14 | Toshiba Corp | 光学装置、固体撮像装置及び光学装置の製造方法 |
Also Published As
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