JP2006073841A - Inspection device of mounted substrate - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、たとえば実装機によって電子部品が実装された基板に対しその電子部品の実装状態を検査するようにした実装基板の検査装置に関する。 The present invention relates to a mounting board inspection apparatus in which a mounting state of an electronic component is inspected with respect to a board on which the electronic component is mounted by, for example, a mounting machine.
電子部品が実装された基板を検査する検査装置として、装置内に搬入された実装基板を撮像装置によって撮像し、その撮像データに基づいて基板上の電子部品の実装状態を検査するものが周知である。 As an inspection apparatus for inspecting a board on which an electronic component is mounted, an apparatus for imaging a mounting board carried into the apparatus with an imaging device and inspecting a mounting state of the electronic component on the board based on the imaging data is well known. is there.
このような検査装置においては、ハウジングに開閉自在にカバーが設けられており、このカバーを開放して装置内部の点検等を行うようにしているが、通常このカバーは閉止された状態で装置が稼働されるため、稼働中に装置内の動作を目視によって確認することはできなかった。 In such an inspection device, the housing is provided with a cover that can be opened and closed. The cover is opened so that the inside of the device can be inspected. Usually, the cover is closed and the device is closed. Since it was operated, it was impossible to visually confirm the operation in the apparatus during operation.
そこで、ハウジングに形成した窓孔にアクリル板等の窓材を嵌め込んで確認窓を形成し、装置稼働中に確認窓を介して装置内部を視認する方法が考えられる(特許文献1等)。
しかしながら、検査装置のハウジングに確認窓を形成する場合、アクリル板等の高価な窓材を別途取り付ける必要があるため、その分、部品点数が増加してコストの増大を招くという問題があった。 However, when the confirmation window is formed in the housing of the inspection apparatus, it is necessary to separately attach an expensive window material such as an acrylic plate, and there is a problem that the number of parts increases correspondingly and the cost increases.
この発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、コストの削減を図りつつ、稼働中に装置内を視認できる実装基板の検査装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a mounting board inspection apparatus that can visually recognize the inside of the apparatus during operation while reducing costs.
本発明は下記の手段を提供する。 The present invention provides the following means.
[1] ハウジングを有し、そのハウジング内に搬入される実装基板を検査するようにした実装基板の検査装置であって、
前記ハウジングに設けられた開口に開閉自在にカバーが設けられ、
前記カバーに貫通孔が設けられるとともに、その貫通孔がカバー閉止状態で前記ハウジングの外部から内部を視認するための覗き孔として形成されたことを特徴とする実装基板の検査装置。
[1] A mounting board inspection apparatus having a housing and inspecting a mounting board carried into the housing,
A cover is provided in the opening provided in the housing so as to be freely opened and closed,
A mounting board inspection apparatus, wherein a through hole is provided in the cover, and the through hole is formed as a peep hole for visually recognizing the inside from the outside of the housing when the cover is closed.
[2] 前記覗き孔が多数分散して形成されたことを特徴とする前項1に記載の実装基板の検査装置。 [2] The mounting board inspection apparatus according to [1], wherein a large number of the viewing holes are dispersed.
[3] 前記カバーは、閉止状態において前記ハウジングの上壁部に沿って配置されるとともに、その閉止状態において前方側が下方に傾斜する傾斜部を有し、
前記覗き孔が前記傾斜部に設けられたことを特徴とする前項1または2に記載の実装基板の検査装置。
[3] The cover is disposed along the upper wall portion of the housing in the closed state, and has an inclined portion whose front side is inclined downward in the closed state,
3. The mounting board inspection apparatus according to claim 1 or 2, wherein the peep hole is provided in the inclined portion.
[4] 前記ハウジング内に、実装基板上の電子部品を撮像する撮像装置が設けられ、
前記カバーにおける前記撮像装置の設置位置を避けた領域に、前記覗き孔が設けられたことを特徴とする前項1〜3のいずれかに記載の実装基板の検査装置。
[4] An imaging device for imaging an electronic component on the mounting substrate is provided in the housing,
4. The mounting board inspection apparatus according to any one of the preceding
[5] 実装基板を所定の基板搬送ラインに沿って前記ハウジングの内部に搬入し、かつ前記ハウジングの外部に搬出する基板搬送手段が設けられ、
前記覗き孔が前記基板搬送手段による実装基板の搬送方向に沿って延びる長孔形状に形成されたことを特徴とする前項1〜4のいずれかに記載の実装基板の検査装置。
[5] There is provided board transfer means for carrying the mounting board into the housing along a predetermined board transfer line and carrying it out of the housing,
5. The mounting substrate inspection apparatus according to any one of the preceding
[6] 前記覗き孔が多数分散して形成され、
多数の覗き孔のうち中間部に位置する覗き孔が両側部に位置する覗き孔よりも大きく形成されたことを特徴とする前項1〜5のいずれかに記載の実装基板の検査装置。
[6] A large number of the viewing holes are dispersed,
6. The mounting board inspection apparatus according to any one of the preceding
[7] 前記ハウジング内にカバー閉止状態で点灯可能な照明装置が設けられたことを特徴とする前項1〜6のいずれかに記載の実装基板の検査装置。 [7] The mounting board inspection apparatus according to any one of [1] to [6], wherein an illumination device capable of being lit in a closed state is provided in the housing.
上記発明[1]にかかる実装基板の検査装置によると、装置稼働中であっても、カバーの覗き孔を通じて目視により装置内部を確認することができる。更に覗き孔を貫通孔により構成しているため、部品点数が増大せず、コストの削減を図ることができる。 According to the mounting board inspection apparatus according to the invention [1], the inside of the apparatus can be visually confirmed through the viewing hole of the cover even when the apparatus is in operation. Furthermore, since the peep hole is constituted by a through hole, the number of parts does not increase and the cost can be reduced.
上記発明[2]にかかる実装基板の検査装置によると、装置内部を広範囲にわたって視認することができる。 According to the mounting board inspection apparatus of the invention [2], the inside of the apparatus can be visually recognized over a wide range.
上記発明[3]にかかる実装基板の検査装置によると、視認性を一層向上させることができる。 According to the mounting board inspection apparatus of the invention [3], the visibility can be further improved.
上記発明[4]にかかる実装基板の検査装置によると、覗き孔から侵入する塵芥が撮像装置に付着するのを防止できる。 According to the mounting substrate inspection apparatus of the above invention [4], it is possible to prevent dust entering from the viewing hole from adhering to the imaging apparatus.
上記発明[5]にかかる実装基板の検査装置によると、視認性をより一層向上させることができる。 According to the mounting board inspection apparatus of the invention [5], the visibility can be further improved.
上記発明[6]にかかる実装基板の検査装置によると、カバー強度を確保しつつ、良好な視認性を得ることができる。 According to the mounting board inspection apparatus of the invention [6], good visibility can be obtained while ensuring the cover strength.
上記発明[7]にかかる実装基板の検査装置によると、視認性をなお一層向上させることができる。 According to the mounting board inspection apparatus of the invention [7], the visibility can be further improved.
図1は本発明の一実施形態にかかる実装基板の検査装置の正面図である。図2はその装置の側面断面図、図3〜5は実施形態の検査装置の内部構造を示すブロック図である。両図に示すように、この基板検査装置は、実装機によって電子部品が実装された実装基板Pの実装状態を検査するものであり、基板実装システムの基板搬送ラインに沿って配置されている。 FIG. 1 is a front view of a mounting board inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a side sectional view of the apparatus, and FIGS. 3 to 5 are block diagrams showing the internal structure of the inspection apparatus according to the embodiment. As shown in both figures, this board inspection apparatus inspects the mounting state of a mounting board P on which electronic components are mounted by a mounting machine, and is arranged along the board transport line of the board mounting system.
この検査装置は、床に接する3つの脚部材と、脚部材が支える不図示の基台となるフレームを備え、フレームにはボルトでそれぞれ脱着可能に取り付けられている複数のパネルによりハウジング1が形成されている。ハウジング1内において内部コンベア2が基板搬送ラインX1(図3参照)に沿ってフレーム上に設けられている。図3〜5に示すように、内部コンベア2は、水平面内において搬送ラインX1に対し直交するY軸方向(前後方向)に沿って移動自在に構成されている。すなわち内部コンベア2は、Y軸方向に沿って配置される一対のレール22にレール長さ方向に沿ってスライド移動自在に取り付けられる。更に内部コンベア2は、Y軸方向に沿って配置されるボールねじ23に螺着されており、モータ24の駆動によってボールねじ23が回転駆動されることにより、内部コンベア2がY軸方向に移動されるよう構成されている。こうして内部コンベア2は、搬送ラインX1上と、ハウジング1内の後部(奥部)との間をY軸方向に沿って移動できるよう構成されている。
This inspection apparatus includes three leg members that are in contact with the floor and a frame that is a base (not shown) supported by the leg members, and a
また内部コンベア2の両側における搬送ラインX1上には、コンベアカバー11,12で覆われた、それぞれ不図示の搬入コンベア、搬出コンベアが設けられている。ハウジング1には搬入コンベア、搬出コンベアがそれぞれ貫通する不図示の開口が設けられている。そして搬送ラインX1上に内部コンベア2が配置された状態においては、ハウジング1の外部から実装基板Pが搬入コンベアによって内部コンベア2上に搬送されるとともに、内部コンベア2上の基板Pが内部コンベア2及び搬出コンベアによってハウジング1の外部に搬出されるよう構成されている。
In addition, on the transport line X1 on both sides of the
ハウジング1内における内部コンベア2の後方(奥部)には、撮像装置としてのカメラ3が配置されている。このカメラ3は、搬送ラインX1と平行なX軸方向に沿って移動自在に構成されている。すなわちカメラ3を支持する支持部材31は、X軸方向に沿って配置される一対のレール32にレール長さ方向に沿ってスライド自在に取り付けられている。更にカメラ支持部材31には、X軸方向に沿って配置されるボールねじ33に螺着されており、モータ34の駆動によってボールねじ33が回転駆動されることにより、カメラ3がX軸方向に移動されるよう構成されている。
A
またカメラ支持部材31には、カメラ3による撮像領域を照明するための照明装置35が設けられている。
The
図1,2に示すように、ハウジング1の上壁部には、上方に向けて開放する開口15が設けられている。ハウジング1における開口15の後端には、カバー5の後端が回転自在に軸支されている。そして図2の想像線に示すようにカバー5を後端部を支点に上方へ回転させることによって、ハウジング1の開口15が開放されて、装置内部が開口15を介して外部に開放されるとともに、同図の実線に示すようにカバー5を後端部を支点に下方へ回転させることによって、ハウジング1の開口15が閉塞されて、装置内部が密閉されるよう構成されている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the upper wall portion of the
このカバー5は、その後部を除く主領域が傾斜部50として形成されている。この傾斜部50は、カバー閉止状態において前方側が下方に傾斜するように配置されている。
In the
更にカバー5の傾斜部50には、その前半部領域に多数の覗き孔6が縦方向(Y軸方向)及び横方向(X軸方向)に所定間隔おきに並列配置に形成されている。この覗き孔6は、カバー5の所要領域をくり抜いた貫通孔によって形成されるものであって、横方向(X軸方向)に長い長孔形状を有している。また多数の覗き孔6のうちX軸方向の両端に配置される覗き孔6は、中間に配置される覗き孔6に対し長さ寸法が小さく形成されている。
Further, in the
図2に示すようにカバー5の裏面側における傾斜部50の上部には、照明装置7が設けられるとともに、ハウジング1の前面には、ハウジング前面位置における作業者Mの存在を検知する作業者検知用センサ71が設けられている。そしてセンサ71からの出力信号に基づいて照明装置7の駆動が制御される。つまり作業者Mがハウジング1の前面位置に近づいて存在が検知されると、照明装置7が点灯されるとともに、作業者Mがハウジング1の前面側から遠ざかると、照明装置7が消灯されるよう構成されている。
As shown in FIG. 2, an
なお図1及び図2に示すように、検査装置の前面側には、検査に関連した各種の情報等を検査装置に入力するためのキーボード等の入力装置81や、各種の情報等を表示するCRTモニター等の表示装置82が設けられている。
As shown in FIGS. 1 and 2, an
本実施形態の検査装置においては、以下のような動作が行われて、電子部品が実装された基板Pの検査が行われる。なお動作中(装置稼働中)において、ハウジング1のカバー5は閉塞されている。
In the inspection apparatus of the present embodiment, the following operation is performed to inspect the substrate P on which electronic components are mounted. During operation (during operation of the apparatus), the
まず実装基板Pが搬入コンベア及び内部コンベア2によって、内部コンベア2上の所定位置まで搬送された後、内部コンベア2がY軸方向に沿って後方に移動し、コンベア2上の基板Pがカメラ3に対応する位置(検査位置)に配置される。
First, after the mounting board P is transported to a predetermined position on the
続いて、カメラ3によって基板P上が分割撮像される。この撮像処理時には、カメラ3がX軸方向に適宜移動するとともに、内部コンベア2がY軸方向に適宜移動することにより、カメラ3及び基板Pが相対的に順次移動しつつ、カメラ3によって順次撮像されて、基板P上の所要領域全域が撮像される。こうして撮像された際の撮像データに基づいて、基板P上における電子部品の実装状態が検査される。
Subsequently, the
撮像処理が完了されると、内部コンベア2がY軸方向に沿って前方に移動し、搬送ラインX1に対応する位置に配置される。その後、内部コンベア2及び搬出コンベアによって基板Pがハウジング1の外部に搬出される。
When the imaging process is completed, the
一方、装置稼働中において、作業者Mが装置内部の動作を確認する場合、作業者Mは検査装置の前面側に立って、そこからカバー5に設けられた覗き孔6を通じて目視により装置内部を確認するものである。このように装置稼働中であっても、装置内部の動作を目視によって確実に確認することができる。
On the other hand, when the operator M confirms the operation inside the apparatus while the apparatus is in operation, the operator M stands on the front side of the inspection apparatus and visually observes the inside of the apparatus through the
更に本実施形態では、装置前面にセンサ71を設けて、作業者Mが検査装置に近づいた際には、ハウジング1内の照明装置7が点灯するように構成しているため、作業者Mが覗き孔6を介して検査装置内部を視認する際には、照明装置7の点灯によって装置内部が照明されて十分な明るさが得られる。従って、目視によって装置内部の動作状況を確実に把握することができる。
Further, in the present embodiment, the
なお本発明においては、照明装置7の制御を、必ずしも上記のようなセンサ71に基づいて行う必要がなく、例えば検査装置前面に点灯スイッチを設けて、作業者Mがそのスイッチを手動操作することによって、照明装置7の点灯及び消灯を行うようにしても良い。更にカバー5の開閉を検知するセンサを設けて、そのセンサからの信号に基づいて、カバー5が閉止した状態では照明装置7を点灯させ、開放した状態では消灯させるように制御しても良い。
In the present invention, it is not always necessary to control the
また本実施形態においては、覗き孔6を基板Pの搬送方向(X軸方向)に沿って延びる長孔形状に形成しているため、基板Pの動きを目で追い易くなり、動作確認をより確実に行うことができる。
In this embodiment, since the peeping
更に多数の覗き孔6のうち両側の覗き孔6を小さく形成しているため、カバー5の孔6による開口面積を少なくすることができ、カバー5の強度を十分に確保することができる。なお多数の覗き孔6のうち中間の覗き孔6は大きく形成しているため、その中間の覗き孔6を介して装置中間の主要部を確実に視認することができ、良好な視認性(見え易さ)を維持することができる。
Further, since the peep holes 6 on both sides among the
また本実施形態においては、覗き孔6を貫通孔により形成するものであるため、アクリル板等の窓材を用いる場合と異なり、部品点数が増大することがなく、コストの削減を図ることができる。
Further, in the present embodiment, since the
更に本実施形態においては、カバー5に小さい覗き孔6を多数分散して形成するものであるため、検査装置内を広範囲にわたって視認することができ、動作確認をより正確に行うことができる上更に、カバー5の強度低下をより確実に防止することができる。
Further, in the present embodiment, since a large number of
また本実施形態においては、カバー5の前半部に覗き孔6を形成しているため、カバー5の後方に配置されるカメラ3の上方に覗き孔6が配置されることはなく、カメラ3の上方がカバー5によって確実に閉塞されている。このためゴミや埃等の塵芥が覗き孔6を通って検査装置内に侵入したとしても、その塵芥がカメラ3に降りかかるようなことはない。従って検査装置の主要部品としてのカメラ3に塵芥が付着せず、検査精度を高度に維持することができる。
In this embodiment, since the
更に本実施形態においては、カバー5の前側領域に前方に傾斜する傾斜部50を設けてその傾斜部50に覗き孔6を形成しているため、検査装置の前面に作業者Mが立った状態で覗き孔6から覗き込んだ際に、作業者Mの視線Liが覗き孔6を障害なくスムーズ通過するようになり、装置内部の視認性をより向上させることができる。
Furthermore, in this embodiment, since the
図7はこの発明の第1変形例を示す検査装置のカバー周辺を示す斜視図である。同図に示すように、この検査装置においては、ハウジング1のカバー5における傾斜部50の前半領域に、矩形状(正方形)の覗き孔6aが縦横並列配置に形成されている。更に各覗き孔6aは、両側に向かうに従ってサイズが小さくするように形成されている。その他の構成は、上記実施形態と同様である。
FIG. 7 is a perspective view showing the periphery of the cover of the inspection apparatus showing the first modification of the present invention. As shown in the figure, in this inspection apparatus, rectangular (square) peep holes 6 a are formed in a vertical and horizontal parallel arrangement in the front half region of the
この検査装置においても、上記と同様に同様の効果を得ることができる。 This inspection apparatus can also obtain the same effect as described above.
図8はこの発明の第2変形例を示す検査装置のカバー周辺を示す斜視図である。同図に示すように、この検査装置においては、ハウジング1のカバー5における傾斜部50の前半領域に、円形の覗き孔6bが縦横並列配置に形成されている。更に各覗き孔6bは、上方(後方)に向かうに従ってサイズが次第に大きくなるように形成されている。その他の構成は、上記実施形態と同様である。
FIG. 8 is a perspective view showing the periphery of the cover of the inspection apparatus showing the second modification of the present invention. As shown in the figure, in this inspection apparatus,
この検査装置においては、上記と同様に同様の効果を得ることができる上更に、後方(上方)側の覗き孔6bが大きく形成されているため、その大きい覗き孔6bを介して装置内の奥部(後方部)をより確実に視認することができ、視認性を更に向上させることができる。
In this inspection apparatus, the same effect as described above can be obtained, and further, the rear (upper)
なお言うまでもなく、本発明において、覗き孔6の形状や大きさ、形成数や形成位置は上記実施形態や変形例のものに限られるものではない。 Needless to say, in the present invention, the shape, size, number and position of the peep holes 6 are not limited to those of the above-described embodiments and modifications.
例えば多数の覗き孔の形状や大きさを均一に形成する場合には、孔形成を効率良く行うことができるため、コストを削減することができる。 For example, when the shape and size of a large number of peep holes are formed uniformly, the holes can be formed efficiently, and the cost can be reduced.
また上記実施形態においては、カバーの所要部分を切り抜いて(くり抜いて)覗き孔を形成するようにしているが、それだけに限られず、本発明においては例えば図9に示すように、カバー5の所要部分を切り倒して(折り曲げて)覗き孔6を形成するようにしても良い。この構成においては、カバー5の裏面側における覗き孔6の下縁部に装置内部に向けて水平に延びる折り曲げ片60が形成される。この折り曲げ片60は、対応する覗き孔6の下側に水平に配置されるため、覗き孔6から侵入する塵芥は折り曲げ片60に受け止められることにより装置内部に侵入するのを確実に防止することができる。
Further, in the above embodiment, a required portion of the cover is cut out (cut out) to form a peephole. However, the present invention is not limited to this, and in the present invention, for example, as shown in FIG. The
なお折り曲げ片60を形成するに際しては、折り曲げ片60の先端を、塵芥の侵入を防止できる程度に切断するようにしても良い。すなわち図9に示すように、押し曲げ片60は、対応する覗き孔6の上端縁を通過する垂直線Lzよりも、先端側(装置内方側)の部分を切断するようにしても良い。この場合には、塵芥の侵入を有効に防止しつつ、良好な視認性を確保することができる。
When forming the
また上記実施形態においては、カメラをX軸方向にのみ移動するように構成しているが、それだけに限られず、本発明においては、カメラをX軸及びY軸方向に共に移動するよう構成して、撮像処理時には、基板を固定しておいて、カメラをXY軸方向に移動させるようにしても良い。 In the above embodiment, the camera is configured to move only in the X-axis direction. However, the present invention is not limited to this, and in the present invention, the camera is configured to move together in the X-axis and Y-axis directions. During the imaging process, the substrate may be fixed and the camera may be moved in the XY axis direction.
1 ハウジング
2 内部コンベア(基板搬送手段)
15 開口
3 カメラ(撮像装置)
5 カバー
50 傾斜部
6,6a,6b 覗き孔
7 照明装置
P プリント基板(実装基板)
X1 基板搬送ライン
1
15
5 Cover 50
X1 Board transfer line
Claims (7)
前記ハウジングに設けられた開口に開閉自在にカバーが設けられ、
前記カバーに貫通孔が設けられるとともに、その貫通孔がカバー閉止状態で前記ハウジングの外部から内部を視認するための覗き孔として形成されたことを特徴とする実装基板の検査装置。 A mounting board inspection apparatus having a housing and inspecting a mounting board carried into the housing,
A cover is provided in the opening provided in the housing so as to be freely opened and closed,
A mounting board inspection apparatus, wherein a through hole is provided in the cover, and the through hole is formed as a peep hole for visually recognizing the inside from the outside of the housing when the cover is closed.
前記覗き孔が前記傾斜部に設けられたことを特徴とする請求項1または2に記載の実装基板の検査装置。 The cover is disposed along the upper wall portion of the housing in the closed state, and has an inclined portion whose front side is inclined downward in the closed state,
The mounting board inspection apparatus according to claim 1, wherein the peep hole is provided in the inclined portion.
前記カバーにおける前記撮像装置の設置位置を避けた領域に、前記覗き孔が設けられたことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の実装基板の検査装置。 An imaging device for imaging an electronic component on the mounting substrate is provided in the housing,
The mounting substrate inspection apparatus according to claim 1, wherein the peep hole is provided in an area of the cover that avoids the installation position of the imaging device.
前記覗き孔が前記基板搬送手段による実装基板の搬送方向に沿って延びる長孔形状に形成されたことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の実装基板の検査装置。 A substrate carrying means for carrying the mounting board into the housing along a predetermined board carrying line and carrying it out of the housing is provided,
5. The mounting board inspection apparatus according to claim 1, wherein the peep hole is formed in a long hole shape extending along a direction of carrying the mounting board by the board carrying means.
多数の覗き孔のうち中間部に位置する覗き孔が両側部に位置する覗き孔よりも大きく形成されたことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の実装基板の検査装置。 A large number of the viewing holes are dispersed,
6. The mounting board inspection apparatus according to claim 1, wherein a peep hole located at an intermediate portion among a plurality of peep holes is formed larger than a peep hole located at both sides.
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