JP2005259606A - Thermionic emission filament - Google Patents
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Abstract
【課題】 フィラメントの劣化による変形及び断線を防止して長寿命化を実現し、長時間使用をしても安定した測定感度を維持でき、また、電離真空計に代表される測定器に利用する場合に、線径を細くして高抵抗としケーブルでの電圧降下を減らすことにより全体として低エネルギー化を図ることが可能な熱電子放出用フィラメントを提供することにある。
【解決手段】 フィラメント線材の母線となる発熱用の第1の金属としてのタングステンの表面に、酸化防止用の保護膜としての第2の金属としてのイリジウムをコーティングし、前記第2の金属の被膜の表面に熱電子出用のトリウム酸化物またはイットリウム金属酸化物をコーティングするようにする。
【選択図】 図1PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent deformation and disconnection due to filament deterioration and to extend the life, maintain stable measurement sensitivity even after long use, and to be used for a measuring instrument typified by an ionization vacuum gauge In this case, it is an object of the present invention to provide a thermionic emission filament capable of reducing the overall energy by reducing the wire diameter to a high resistance and reducing a voltage drop in the cable.
SOLUTION: The surface of tungsten as a first metal for heat generation to be a bus bar of a filament wire is coated with iridium as a second metal as a protective film for preventing oxidation, and the second metal film The surface is coated with thorium oxide or yttrium metal oxide for thermionic emission.
[Selection] Figure 1
Description
本発明は、真空中の気体分子を励起またはイオン化することにより真空中の圧力またはガス種の分圧を測定する測定器等に使用可能な熱電子放出用フィラメントに関する。 The present invention relates to a thermionic emission filament that can be used in a measuring instrument or the like that measures a pressure in a vacuum or a partial pressure of a gas species by exciting or ionizing gas molecules in a vacuum.
従来より、フィラメントを真空中に置き、これにフィラメント電流を通電して加熱し、高温状態にして熱電子を放出させることは行われており、このような用途の一つとして、前記フィラメントを使用して熱電子を放出し真空中の気体分子を励起またはイオン化することにより真空中の圧力またはガス種の分圧を測定する測定器として電離真空計がある。 Conventionally, a filament is placed in a vacuum, heated by applying a filament current to the filament, and then heated to a high temperature to emit thermoelectrons. One such application is using the filament. An ionization vacuum gauge is a measuring instrument that measures the pressure in a vacuum or the partial pressure of a gas species by emitting thermal electrons to excite or ionize gas molecules in the vacuum.
図2は、熱電子放出用フィラメントを用いた電離真空計のブロック図である。図2に示すように、熱電子放出用フィラメント20を使用した電離真空計は、熱電子放出用フィラメント20とグリッド3とイオンコレクタ5からなる測定子と、フィラメント通電回路10とエミッション検出制御回路11と高電圧印加回路12とイオン電流検出回路13とからなる制御部で構成される。
FIG. 2 is a block diagram of an ionization vacuum gauge using a thermionic emission filament. As shown in FIG. 2, the ionization vacuum gauge using the
フィラメント通電回路10はケーブル14を介して、熱電子放出用フィラメント20のフィラメント線材に電流を通電し、熱電子放出用フィラメント20を加熱する。エミッション検出制御回路11は、熱電子放出用フィラメント20から放出される電子電流を検出して、電子電流が常に一定値となる様に、熱電子放出用フィラメント20を通電加熱するフィラメント通電回路10から出力される通電電流電圧を制御している。
The
コイル状に形成されたグリッド3は、熱電子放出用フィラメント20に対してプラスの電位を与えて、熱電子放出用フィラメント20から放出される熱電子に気体をイオン化するのに十分なエネルギーを与えるためのものである。
The
針状の形状をなすイオンコレクタ5は、通常グラウンド電位、即ち0Vとなっている。この様な電位配置において、熱電子放出用フィラメント20が適切な温度に上昇すると電子のエネルギーが真空中に飛び出すために必要となる仕事関数の値を超え、熱電子は熱電子放出用フィラメント20の表面から放出される。放出された熱電子は電位の高いグリッド3が格子状となっているため、グリッド3にその大部分が直接飛び込むことは無く、様々な軌道を描いた後に最終的にこの電位の高い格子状のグリッド3に流れ込む。グリッド3に電子が流れ込む前に真空中の気体分子との衝突が起これば、気体分子はイオン化され、イオン化された気体分子はイオンコレクタ5に流れ込み、イオン電流検出回路13によりコレクタ電流を検出して、コレクタ電流から真空度を測定する。
The ion collector 5 having a needle shape is normally at a ground potential, that is, 0V. In such a potential arrangement, when the
特開平7−151816(特許文献1)はその一例が開示されている。 JP-A-7-151816 (Patent Document 1) discloses an example thereof.
熱電子放出用フィラメント20としては、母線であるフィラメント線材をイリジウムで構成するものが現在よく知られている。イリジウムは、化学反応性が非常に低く安定した性質を有する金属であるため、母線であるフィラメント線材をイリジウムによって構成したフィラメント20は、真空中に残存する酸素と反応し難く、変質による断線を防止でき、フィラメント寿命が長いという利点があるからである。
As the
しかしながら、母線であるフィラメント線材をイリジウムで構成する場合、イリジウムは、化学反応性が低く安定した性質を有しているもののその融点が2727Kであり、母線であるフィラメント線材をイリジウムで構成した熱電子放出用フィラメント20を約1500乃至1600Kの温度で長時間動作させると、熱電子放出用フィラメント20が変形を起こしてしまう。このような変形が起きると、例えば、電離真空計では熱電子放出用フィラメント20から放出される電子がグリッド3に到達する迄の電子軌道が変化するため、真空計として重要な測定の感度が変化するという問題があった。
However, when the filament wire that is the bus bar is made of iridium, iridium has a low chemical reactivity and a stable property, but its melting point is 2727K, and the thermoelectron that the filament wire that is the bus bar is made of iridium. When the
このため熱電子放出用フィラメント20を長時間動作させても変形が少ない熱電子放出用フィラメントが求められている。
Therefore, there is a demand for a thermoelectron emission filament that is less deformed even when the
また、測定器の低パワー化については、熱電子放出用フィラメント20の抵抗値を高くして、熱電子放出用フィラメント20とケーブルで消費される電力を低減することが有効である。けだし、熱電子放出用フィラメント20での抵抗値が高くなれば、電流値が減少し、ケーブルで消費される電力、即ち、電圧降下が低くなる。
In order to reduce the power of the measuring instrument, it is effective to increase the resistance value of the
しかしながら、前記の通り、フィラメント線材の母線をイリジウムで構成した熱電子放出用フィラメント20には変形するという問題があるため、線径を細くすればするほど変形しやすくなり、測定感度の安定性を維持することができなくなるという問題がある。
However, as described above, since the
そこで、本発明は、従来の熱電子放出用フィラメントの欠点に鑑みてなされたものであり、すなわち、イリジウムの化学反応性が低く安定性に優れた性質を活かして、フィラメントの長寿命化を図るとともに、フィラメントの変形を防止して長期間安定した測定感度を維持することができる。さらに、線材の線径を細くして高抵抗とし、ケーブルでの電圧降下を減らすことにより全体として低エネルギー化が図れる電離真空計等に利用可能な熱電子放出用フィラメントを提供することを目的とする。 Therefore, the present invention has been made in view of the drawbacks of conventional thermionic emission filaments, that is, by taking advantage of the low chemical reactivity of iridium and excellent stability, the life of the filament is extended. At the same time, it is possible to prevent the filament from being deformed and maintain a stable measurement sensitivity for a long time. Furthermore, it is intended to provide a thermionic emission filament that can be used for an ionization vacuum gauge and the like that can reduce the overall energy by reducing the voltage drop in the cable by reducing the wire diameter of the wire and increasing the resistance. To do.
本発明による熱電子放出用フィラメントは、フィラメントを加熱して熱電子を放出する熱電子放出用フィラメントであって、フィラメント線材の母線となる第1の金属の表面に、第2の金属をコーティングし、前記第2の金属の被膜の表面に金属酸化物をコーティングしたものである。ここで、フィラメント線材の母線とは、フィラメントの線材としての構造を支える芯となる部分である。また、本発明による熱電子放出用フィラメントの前記第1の金属は、タングステン、タンタルまたはモリブデンからなるものである。また、本発明による熱電子放出用フィラメントの前記第2の金属は、イリジウムからなるものである。また、本発明による熱電子放出用フィラメントの前記金属酸化物は、トリウム酸化物またはイットリウム酸化物からなるものである。また、本発明による熱電子放出用フィラメントの前記第1の金属は、融点が前記第2の金属の融点よりも高いものである。また、本発明による熱電子放出用フィラメントの前記金属酸化物は、前記第2の金属の表面に熱電子を発生する領域のみコーティングしたものである。 The filament for thermoelectron emission according to the present invention is a filament for thermoelectron emission for heating a filament to emit thermoelectrons, and coating the second metal on the surface of the first metal that becomes the bus bar of the filament wire. The surface of the second metal film is coated with a metal oxide. Here, the bus | bath of a filament wire is a part used as the core which supports the structure as a filament wire. The first metal of the thermionic emission filament according to the present invention is made of tungsten, tantalum or molybdenum. The second metal of the thermoelectron emitting filament according to the present invention is made of iridium. The metal oxide of the thermoelectron emission filament according to the present invention is made of thorium oxide or yttrium oxide. In addition, the first metal of the thermoelectron emission filament according to the present invention has a melting point higher than that of the second metal. Further, the metal oxide of the thermoelectron emitting filament according to the present invention is obtained by coating the surface of the second metal only in a region where thermoelectrons are generated.
本発明による熱電子放出用フィラメントによれば、例えば耐熱性に優れた金属であるタングステンをフィラメント線材の母線とし、タングステンの表面を化学反応性の低い金属であるイリジウムでコーティングして保護膜を設ける構造にしているため、熱電子放出用フィラメントを加熱をしても、タングステンが直接酸素ガス等と触れず劣化による断線を防止することができ、長寿命化を図ることが可能である。 According to the thermionic emission filament of the present invention, for example, tungsten, which is a metal having excellent heat resistance, is used as a bus bar of the filament wire, and the surface of tungsten is coated with iridium, which is a metal having low chemical reactivity, to provide a protective film. Since the structure is employed, even if the thermoelectron emission filament is heated, tungsten is not in direct contact with oxygen gas or the like, so that disconnection due to deterioration can be prevented and a long life can be achieved.
また、本発明による熱電子放出用フィラメントによれば、前記のように長時間の発熱によっても変形し難く断線を防止できるので、電離真空計に代表される測定器に利用する場合に、線径を細くして高抵抗とし、ケーブルでの電圧降下を減らすことにより全体として低エネルギー化を図ることが可能である。 Further, according to the thermionic emission filament according to the present invention, since it is difficult to be deformed even by long-time heat generation as described above and disconnection can be prevented, the wire diameter is used when used in a measuring instrument typified by an ionization vacuum gauge. It is possible to reduce the overall energy by reducing the voltage to a high resistance and reducing the voltage drop in the cable.
以下、本発明による熱電子放出用フィラメントの実施の形態について図1を参照して説明する。図1(a)は、本発明による熱電子放出用フィラメントの中心軸に沿った断面図、(b)は、フィラメントの径方向の断面図である。 Hereinafter, an embodiment of a thermionic emission filament according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1A is a cross-sectional view along the central axis of a thermionic emission filament according to the present invention, and FIG. 1B is a cross-sectional view in the radial direction of the filament.
図1に示すように、熱電子放出用フィラメント1は母線である第1の金属(フィラメント線材)1aと、フィラメント線材1aの表面に金属被膜を形成する第2の金属1bと、第2の金属1bの表面に熱電子放出用の金属酸化物1cとで構成されている。
As shown in FIG. 1, the
母線となるフィラメント線材1aは、熱電子を放出する熱電子放出用の金属酸化物1cを加熱するためのものである。また、熱電子放出用フィラメント1の構造を支える部分でもあり、長時間使用による加熱などにより変形しないことが必要である。フィラメント線材1aには、フィラメント線材1aの構造を支えるものとして耐熱性が高いタングステン、タンタルまたはモリブデンが使用されている。
The filament wire 1a serving as a bus bar is for heating the metal oxide 1c for thermionic emission that emits thermionic electrons. Moreover, it is also a part which supports the structure of the
フィラメント線材1aとしてのタングステンの融点は3655Kであり、タンタルの融点は3219Kであり、また、モリブデンの融点は2883Kであり、いずれも高融点金属である。 Tungsten as the filament wire 1a has a melting point of 3655K, tantalum has a melting point of 3219K, and molybdenum has a melting point of 2883K, both of which are refractory metals.
タングステン、タンタルまたはモリブデンはいずれも耐熱性の高い金属ではあるが、フィラメントとして使用する高温度条件では酸素ガス等と容易に結合するので、酸化物として放出されて劣化し断線に至ってしまう。この断線を防ぐため、その表面にイリジウムの被膜をスパッタリング法等により形成する。イリジウムは、前記の通り、化学反応性が非常に低く、酸素ガス等と反応を起こし難いため、酸化防止等の保護膜として使用している。イリジウムの融点は2727Kであり、母線となるフィラメント線材1aとしてのタングステン、タンタルおよびモリブデンの各融点よりも低くなっている。なお、母線となるフィラメント線材1aの表面にコーティングするイリジウムの被膜は、1μm程度の厚さを有するようにするのが好適であるが、保護膜1bは、タングステン等が外気と接しないためのものであり、イリジウムの被膜厚を1μm以下にしてもよい。 Tungsten, tantalum, and molybdenum are all metals with high heat resistance, but easily bond with oxygen gas or the like under high temperature conditions used as filaments, so that they are released as oxides and deteriorate, leading to disconnection. In order to prevent this disconnection, an iridium film is formed on the surface by sputtering or the like. As described above, iridium has a very low chemical reactivity and hardly reacts with oxygen gas or the like. Therefore, iridium is used as a protective film for preventing oxidation. The melting point of iridium is 2727K, which is lower than the melting points of tungsten, tantalum and molybdenum as the filament wire 1a serving as the bus bar. It is preferable that the iridium coating on the surface of the filament wire 1a serving as a bus has a thickness of about 1 μm, but the protective film 1b is for preventing tungsten or the like from coming into contact with the outside air. The film thickness of iridium may be 1 μm or less.
以上述べたように、母線であるフィラメント線材1aのタングステン、タンタルまたはモリブデンの表面にイリジウム(第2の金属1b)をスパッタリング法等によりコーティングすることにより、長時間の発熱により生ずる劣化による変形を防止でき、フィラメント線材1aのタングステン、タンタルまたはモリブデンが酸素ガス等と結合して化学反応を起こすことがないため、長時間使用することができる。また、フィラメント線材1aとしてのタングステン、タンタルまたはモリブデンは、十分な耐熱性を有しているため、フィラメント線材1aの線径を細くすることにより、高抵抗の熱電子放出用フィラメントを構成することができ、ケーブル14(図2に示す)に流れる電流値を低く抑えることができる。従ってケーブル部での電圧降下が小さくなるため、電離真空計に代表される測定器に使用する場合に、低エネルギー化を図ることができる。なお、フィラメント線材1aの直径は、0.1mmから0.2mmの径を有するようにするのが好適であるが、かかる範囲に限定されるものではない。 As described above, iridium (second metal 1b) is coated on the surface of tungsten, tantalum or molybdenum of the filament wire 1a, which is the bus bar, by a sputtering method or the like, thereby preventing deformation due to deterioration caused by long-time heat generation. In addition, since tungsten, tantalum, or molybdenum of the filament wire 1a does not cause a chemical reaction by being combined with oxygen gas or the like, it can be used for a long time. Further, since tungsten, tantalum or molybdenum as the filament wire 1a has sufficient heat resistance, it is possible to form a high-resistance thermionic emission filament by reducing the wire diameter of the filament wire 1a. The current value flowing through the cable 14 (shown in FIG. 2) can be kept low. Therefore, since the voltage drop in the cable portion is reduced, the energy can be reduced when used in a measuring instrument represented by an ionization vacuum gauge. In addition, although it is suitable for the diameter of the filament wire 1a to have a diameter of 0.1 mm to 0.2 mm, it is not limited to this range.
また、本発明による熱電子放出用フィラメント1のイリジウム(第2の金属1b)の表面には、熱電子を放出する金属酸化物1cがコーティングされている。熱電子放出用の金属酸化物1cにはトリウム酸化物またはイットリウム酸化物が使用される。トリウム酸化物またはイットリウム酸化物は、約1500K〜1600Kの温度で所要の熱電子を放出することが可能な材料である。
Further, the surface of iridium (second metal 1b) of the
また、本発明による熱電子放出用フィラメント1は、フィラメント上で熱電子放出を行う範囲のみ金属酸化物1cをコーティングすることにより、金属酸化物1cをコーティングしない箇所からは熱電子が放出されないため、フィラメント上に熱電子遮蔽のための被膜をコーティングする必要がない。
Moreover, since the
なお、以上説明した熱電子放出用フィラメント1の形状はU字型としているが、全体形状は本質的な問題ではなく、熱電子放出用フィラメント1の形状は線状であっても、コイル巻き状であっても良い。
Although the shape of the
以上のことから、本発明の熱電子放出用フィラメント1によれば、耐熱性に優れたタングステンをフィラメント線材の母線としているので、電離真空計に使用すれば加熱によって変形することはなく、長期間使用をしても熱電子がグリッド3に至るまでの軌道に大きな差異は生じず、安定した測定感度を維持することが可能である。
As described above, according to the
また、本発明の熱電子放出用フィラメント1によれば、線径を細くし高抵抗とすることによりケーブル14での電圧降下を減らすことができるので、全体として低エネルギー化が図ることができる。
Further, according to the
1 本発明による熱電子放出用フィラメント
1a 第1の金属(フィラメント線材)
1b 第2の金属(保護膜)
1c 金属酸化物(電子放出用コーティング酸化物)
3 グリッド
5 イオンコレクタ
10 フラメント通電回路
11 エミッション検出制御回路
12 高電圧印加回路
13 イオン電流検出回路
14 ケーブル
20 従来の熱電子放出用フィラメント
1 Thermionic emission filament 1a of the present invention The first metal (filament wire)
1b Second metal (protective film)
1c Metal oxide (coating oxide for electron emission)
3 Grid 5
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