JP2005150541A - 照明光学装置、露光装置および露光方法 - Google Patents
照明光学装置、露光装置および露光方法 Download PDFInfo
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Abstract
【課題】 ハービングとしての平行平面板を用いることなく、たとえばエキシマレーザ光源から露光装置本体の入口に達する光束の位置ずれと角度ずれとを独立的に調整する。
【解決手段】 光源(1)と所定面(7a)との間の光路中に配置されたリレー光学系(5)と、リレー光学系に関して所定面と光学的に共役な中間位置(P1)またはその近傍に配置されて所定の軸線廻りに回転可能な第1反射部材(4)と、中間位置と光源との間の光路中において中間位置の共役位置(1a)から所定距離だけ間隔を隔てて配置されて所定の軸線廻りに回転可能な第2反射部材(2)とを備えている。また、中間位置と光源とを光学的にほぼ共役に配置するための第2リレー光学系(3)をさらに備えている。
【選択図】 図1
【解決手段】 光源(1)と所定面(7a)との間の光路中に配置されたリレー光学系(5)と、リレー光学系に関して所定面と光学的に共役な中間位置(P1)またはその近傍に配置されて所定の軸線廻りに回転可能な第1反射部材(4)と、中間位置と光源との間の光路中において中間位置の共役位置(1a)から所定距離だけ間隔を隔てて配置されて所定の軸線廻りに回転可能な第2反射部材(2)とを備えている。また、中間位置と光源とを光学的にほぼ共役に配置するための第2リレー光学系(3)をさらに備えている。
【選択図】 図1
Description
本発明は、照明光学装置、露光装置および露光方法に関し、特に半導体素子、撮像素子、液晶表示素子、薄膜磁気ヘッド等のマイクロデバイスをリソグラフィー工程で製造するための露光装置に関する。
この種の露光装置の本体は、全体的にかなり大きな装置であり、設置のための所要床面積は大きい。また、露光装置の光源として、たとえばKrFエキシマレーザ光源やArFエキシマレーザ光源が用いられるが、エキシマレーザ光源もかなり大きな装置である。したがって、特にエキシマレーザ光源を用いる露光装置では、光源装置を露光装置本体からある程度離間させて配置することが多い。
そこで、エキシマレーザ光源から供給される矩形状の平行光束を露光装置本体の入口(入射位置)まで導くための送光系としての照明光学装置が必要になる。ここで、露光装置本体の入口に達する光束の中心位置と露光装置本体の入口の中心位置とがほぼ一致するとともに、露光装置本体の入口に達する光束の中心軸線と照明光学装置の光軸とがほぼ一致しなければならない。
しかしながら、光源から射出される光束の光軸に対する角度が経時的に変動する場合がある。この場合、露光装置本体の入口に達する光束の中心が露光装置本体の入口の中心から位置ずれし、且つ露光装置本体の入口に達する光束の中心軸線が光軸に対して角度ずれすることになる。そこで、従来技術では、光路中に配置された平行平面板を所定の軸線廻りに回転させることにより光束を平行移動させて、露光装置本体の入口に達する光束の位置ずれを調整している。
また、光路中に配置された反射部材を所定の軸線廻りに回転させることにより、露光装置本体の入口に達する光束の位置ずれおよび角度ずれを調整している。すなわち、所定の軸線廻りに回転可能な平行平面板(ハービング)と所定の軸線廻りに回転可能な反射部材との協働作用により、露光装置本体の入口に達する光束の位置ずれと角度ずれとを独立的に調整している。
しかしながら、上述の従来技術では、露光装置本体の入口に達する光束の位置ずれを調整するのに必要な平行平面板の厚さが大きくなる傾向がある。その結果、ハービングとしての平行平面板を透過する際に、光の吸収に起因して光量損失が発生し易いという不都合があった。
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたものであり、ハービングとしての平行平面板を用いることなく、たとえばエキシマレーザ光源から露光装置本体の入口に達する光束の位置ずれと角度ずれとを独立的に調整することのできる照明光学装置を提供することを目的とする。また、本発明は、たとえばエキシマレーザ光源から露光装置本体の入口に達する光束の位置ずれと角度ずれとを独立的に調整する照明光学装置を用いて、所望の照明に基づいて良好な露光を行うことのできる露光装置および露光方法を提供することを目的とする。
前記課題を解決するために、本発明の第1形態では、光源から射出されたほぼ平行光束を所定面まで導く照明光学装置において、
前記光源と前記所定面との間の光路中に配置されたリレー光学系と、
前記リレー光学系に関して前記所定面と光学的に共役な中間位置またはその近傍に配置されて所定の軸線廻りに回転可能な第1反射部材と、
前記中間位置と前記光源との間の光路中において前記中間位置またはその共役位置から所定距離だけ間隔を隔てて配置されて所定の軸線廻りに回転可能な第2反射部材とを備えていることを特徴とする照明光学装置を提供する。
前記光源と前記所定面との間の光路中に配置されたリレー光学系と、
前記リレー光学系に関して前記所定面と光学的に共役な中間位置またはその近傍に配置されて所定の軸線廻りに回転可能な第1反射部材と、
前記中間位置と前記光源との間の光路中において前記中間位置またはその共役位置から所定距離だけ間隔を隔てて配置されて所定の軸線廻りに回転可能な第2反射部材とを備えていることを特徴とする照明光学装置を提供する。
第1形態の好ましい態様によれば、前記中間位置と前記光源とを光学的にほぼ共役に配置するための第2リレー光学系をさらに備えている。また、前記光源と前記所定面との間の光路中に配置されて、入射したほぼ平行光束の断面を一方向に拡大または縮小してほぼ平行光束の状態で射出するための第1整形光学系と、前記第1整形光学系と前記所定面との間の光路中に配置されて、入射したほぼ平行光束の断面を一方向に拡大または縮小してほぼ平行光束の状態で射出するための第2整形光学系とをさらに備え、前記第1整形光学系および前記第2整形光学系のうちの少なくとも一方は、前記照明光学装置の光軸を中心として回転可能に構成されていることが好ましい。
この場合、前記第1整形光学系および前記第2整形光学系のうちの少なくとも一方は、光路に対して挿脱自在に構成されている。また、前記第1整形光学系および前記第2整形光学系は、正の屈折力を有するシリンドリカルレンズと負の屈折力を有するシリンドリカルレンズとをそれぞれ有することが好ましい。また、前記第1整形光学系は、前記光源と前記第2リレー光学系との間の光路中に配置されて拡大倍率を有し、前記第2整形光学系は、前記第2リレー光学系と前記リレー光学系との間の光路中に配置されて縮小倍率を有することが好ましい。あるいは、前記第1整形光学系は、前記光源と前記第2リレー光学系との間の光路中に配置されて拡大倍率を有し、前記第2整形光学系は、前記第1整形光学系と前記第2リレー光学系との間の光路中に配置されて拡大倍率を有することが好ましい。
本発明の第2形態では、露光光を供給するための光源と、第1形態の照明光学装置とを備え、該照明光学装置を介した光でマスクを照明し、前記マスクのパターンを感光性基板上に露光することを特徴とする露光装置を提供する。
本発明の第3形態では、第1形態の照明光学装置を介した光源からの光でマスクを照明し、前記マスクのパターンを感光性基板上に露光することを特徴とする露光方法を提供する。
本発明の照明光学装置では、第1反射部材を回転駆動することにより、たとえば所定面としての露光装置本体の入口に達する平行光束の中心軸線の光軸に対する角度変化だけが発生する。一方、第2反射部材を回転駆動することにより、露光装置本体の入口に達する平行光束の中心の入口の中心に対する位置変化および露光装置本体の入口に達する平行光束の中心軸線の光軸に対する角度変化が発生する。すなわち、第1反射部材と第2反射部材との協働作用により、露光装置本体の入口に達する平行光束の位置ずれ角度ずれとを独立的に調整することができる。
こうして、本発明の照明光学装置では、ハービングとしての平行平面板を用いることなく、たとえばエキシマレーザ光源から露光装置本体の入口に達する光束の位置ずれと角度ずれとを独立的に調整することができる。また、本発明の露光装置および露光方法では、ハービングとしての平行平面板を用いることなく、たとえばエキシマレーザ光源から露光装置本体の入口に達する光束の位置ずれと角度ずれとを独立的に調整する照明光学装置を用いているので、所望の照明に基づいて良好な露光を行うことができ、ひいては良好なデバイスを製造することができる。
本発明の実施形態を、添付図面に基づいて説明する。
図1は、本発明の実施形態にかかる露光装置の構成を概略的に示す図である。図1を参照すると、本実施形態の露光装置は、露光光(照明光)を供給するための光源1として、たとえば248nmの波長の光を供給するKrFエキシマレーザ光源または193nmの波長の光を供給するArFエキシマレーザ光源を備えている。
図1は、本発明の実施形態にかかる露光装置の構成を概略的に示す図である。図1を参照すると、本実施形態の露光装置は、露光光(照明光)を供給するための光源1として、たとえば248nmの波長の光を供給するKrFエキシマレーザ光源または193nmの波長の光を供給するArFエキシマレーザ光源を備えている。
光源1から−Y方向に沿って射出された矩形状(X方向に沿った一辺およびZ方向に沿った他辺を有する矩形状)の断面を有するほぼ平行光束は、反射部材2に入射する。反射部材2により−Z方向に反射(偏向)された平行光束は、リレー光学系3を介して、反射部材4に入射する。また、反射部材4により+X方向に反射された平行光束は、リレー光学系5を介して、反射部材6に入射する。さらに、反射部材6により+Z方向に反射された平行光束は、露光装置本体7の入口7aに達する。
このように、反射部材2、リレー光学系3、反射部材4、リレー光学系5、および反射部材6は、光源1から射出されたほぼ平行光束を露光装置本体7の入口7aまで導くための送光系としての照明光学装置を構成している。なお、反射部材2、反射部材4および反射部材6は、たとえば平面反射鏡または裏面反射鏡としての直角プリズムにより構成されている。また、反射部材2および反射部材4は、後述するように、所定の軸線廻りに回転可能にそれぞれ構成されている。
また、リレー光学系5(以下、「第1リレー光学系5」という)は、露光装置本体7の入口7aと中間点P1とを光学的に共役に配置している。そして、この中間点P1の位置に、反射部材4(以下、「第1反射部材4」という)の反射面が配置されている。また、リレー光学系3(以下、「第2リレー光学系3」という)は、光源1の出力部(レーザ射出面)1aと中間点P1とを光学的にほぼ共役に配置している。
露光装置本体7の内部へ導かれた光束は、照明光学系7bを介して、マスクMを照明する。照明光学系7bは、たとえば露光光の照度分布を均一化するためのオプティカルインテグレータ、マスクM上の照明領域を規定するための可変視野絞り(マスクブラインド)、オプティカルインテグレータを介して形成された二次光源からの光を集光して可変視野絞りへ導くためのコンデンサレンズ系などにより構成されている。
マスクMのパターンを透過した光束は、投影光学系PLを介して、感光性基板であるウェハW上にマスクパターンの像を形成する。こうして、投影光学系PLの光軸と直交する平面(XY平面)内においてウェハWを二次元的に駆動制御しながら一括露光またはスキャン露光を行うことにより、ウェハWの各露光領域にはマスクMのパターンが逐次露光される。
本実施形態では、所定の軸線廻りに回転可能な第1反射部材4および所定の軸線廻りに回転可能な反射部材2(以下、「第2反射部材2」という)をそれぞれ回転駆動することにより、露光装置本体7の入口7aに達する平行光束の中心の入口7aの中心に対する位置ずれと、露光装置本体7の入口7aに達する平行光束の中心軸線の光軸に対する角度ずれとを独立的に調整する。
図2は、本実施形態における光束の位置ずれおよび角度ずれの調整作用を説明する図である。図2では、図中破線で示す面Aが第1反射部材4の反射面(すなわち中間点P1)に対応し、図中破線で示す面Bが露光装置本体7の入口7aに対応している。したがって、第1反射部材4の反射面に対応する面Aと露光装置本体7の入口7aに対応する面Bとは、第1リレー光学系5を介して光学的に共役に配置されていることになる。
図2(a)を参照すると、第1反射部材4の反射面を所定の軸線廻りに回転させて光軸AXに対する光線の角度をθ1だけ変化させると、露光装置本体7の入口7aに達する光線の位置は不変であるが、露光装置本体7の入口7aに達する光線の光軸AXに対する光線の角度はθ3だけ変化することがわかる。ここで、第1リレー光学系5の倍率をmとすると、角度変化量θ1と角度変化量θ3との間には次の式(1)に示す関係が成立する。
θ3=θ1/m (1)
θ3=θ1/m (1)
一方、図2(b)を参照すると、第1反射部材4の反射面に対応する面Aから距離dだけ間隔を隔てた面A’に位置する反射面を所定の軸線廻りに回転させて光軸AXに対する光線の角度をθ2だけ変化させると、露光装置本体7の入口7aに達する光線の光軸AXに対する光線の角度が変化するだけでなく、露光装置本体7の入口7aに達する光線の位置もy3だけ変化することがわかる。ここで、位置変化量y3と角度変化量θ2との間には次の式(2)に示す関係が成立する。なお、式(2)において、y1は、面A’における光線の角度変化量θ2に起因して面Aにおいて発生する光線の位置変化量である。
y3=m・y1≒m・d・θ2 (2)
y3=m・y1≒m・d・θ2 (2)
前述したように、第1反射部材4の反射面が配置されている中間点P1(面Aに対応)と光源1の出力部1aとは、第2リレー光学系3を介して光学的にほぼ共役に配置されている。したがって、中間点P1に対応する面Aから距離dだけ間隔を隔てた面A’に位置する反射面を所定の軸線廻りに回転させて光軸AXに対する光線の角度をθ2だけ変化させることは、中間点P1の共役位置(すなわち光源1の出力部1aまたはその近傍)から距離dだけ間隔を隔てて位置する第2反射部材2の反射面を所定の軸線廻りに回転させて光軸AXに対する光線の角度をθ2だけ変化させることと光学的に等価である。
このように、第1反射部材4を回転駆動することにより、露光装置本体7の入口7aに達する平行光束の中心軸線の光軸AXに対する角度変化だけが発生する。一方、第2反射部材2を回転駆動することにより、露光装置本体7の入口7aに達する平行光束の中心の入口7aの中心に対する位置変化および露光装置本体7の入口7aに達する平行光束の中心軸線の光軸AXに対する角度変化が発生する。すなわち、第1反射部材4と第2反射部材2との協働作用により、露光装置本体7の入口7aに達する平行光束の位置ずれ角度ずれとを独立的に調整することができる。
以上のように、本実施形態の照明光学装置では、ハービングとしての平行平面板を用いることなく、エキシマレーザ光源から露光装置本体の入口に達する光束の位置ずれと角度ずれとを独立的に調整することができる。その結果、本実施形態の照明光学装置では、ハービングにおける光吸収に起因する光量損失を回避することができる。また、本実施形態の露光装置では、ハービングとしての平行平面板を用いることなく、エキシマレーザ光源から露光装置本体の入口に達する光束の位置ずれと角度ずれとを独立的に調整する照明光学装置を用いて、所望の照明に基づいて良好な露光を行うことができる。
なお、上述の実施形態では、第1反射部材4と光源1とを第2リレー光学系3を介して光学的にほぼ共役に配置している。しかしながら、これに限定されることなく、第2リレー光学系3の配置を省略することもできる。ただし、この場合には、露光装置本体7の入口7aと光学的に共役な中間点P1から所要距離dだけ間隔を隔てて第2反射部材2の反射面を配置し、光源1と第2反射部材2との間の距離をできるだけ小さく抑えることが望ましい。
また、上述の実施形態において、典型的な露光装置の設計例によれば、中間点P1またはその共役位置(すなわち光源1の出力部1aの位置またはその近傍)からの第2反射部材2の反射面の距離dは、300mm以上であることが好ましい。距離dが300mmよりも小さいと、露光装置本体7の入口7aに達する光束の位置を変化させるのに必要な第2反射部材2の回転駆動量が大きくなり過ぎて、光束の位置ずれの調整制御が困難になってしまう。なお、第2反射部材2による光束の位置ずれの調整制御をさらに容易にするには、距離dを500mm以上に設定することが好ましい。
また、上述の実施形態において、典型的な露光装置の設計例によれば、中間点P1からの第1反射部材4の反射面の距離d1は、100mm以下であることが好ましい。距離d1が100mmよりも大きいと、第1反射部材4の回転駆動に伴って露光装置本体7の入口7aに達する光束の角度変化だけでなく位置変化も大きく発生し、光束の位置ずれおよび角度ずれの調整制御が複雑になってしまう。なお、第1反射部材4による光束の位置ずれの発生をさらに小さく抑えるには、距離d1を50mm以下に設定することが好ましい。
ところで、エキシマレーザ光源1から供給される平行光束の断面寸法は、メーカーやモデルにより異なる。一方、露光装置本体7の入口7aにおいて求められる断面寸法(ビームサイズ)は一定である。したがって、送光系としての照明光学装置では、ビームサイズの異なる複数タイプのエキシマレーザ光源1から供給される矩形状の平行光束を所望の断面寸法の平行光束に整形して露光装置本体7の入口7aまで導くことが必要になる。
そこで、図3の変形例に示すように、たとえば光源1と第2反射部材2との間の光路中に拡大倍率を有する第1整形光学系8を付設し、第2反射部材2と第1リレー光学系5との間の光路中に縮小倍率を有する第2整形光学系9を付設することが好ましい。図4を参照すると、第1整形光学系8は、その標準状態において、光源側から順に、XY平面内に負の屈折力を有し且つYZ平面内に無屈折力のシリンドリカルレンズ8aと、XY平面内に正の屈折力を有し且つYZ平面内に無屈折力のシリンドリカルレンズ8bとにより構成されている。
これらの2つのシリンドリカルレンズ8aおよび8bは、それぞれ光軸AX方向に固定されている。また、第1整形光学系8は、光軸AXを中心として回転可能に構成され、図4に示す標準状態と、この標準状態から光軸AXを中心として90度だけ回転された回転状態との間で切換え可能に構成されている。したがって、第1整形光学系8の回転状態では、シリンドリカルレンズ8aはYZ平面内に負の屈折力を有し且つXY平面内に無屈折力になり、シリンドリカルレンズ8bはYZ平面内に正の屈折力を有し且つXY平面内に無屈折力になる。
一方、図5を参照すると、第2整形光学系9は、その標準状態において、光源側から順に、XY平面内に正の屈折力を有し且つXZ平面内に無屈折力のシリンドリカルレンズ9aと、XY平面内に負の屈折力を有し且つXZ平面内に無屈折力のシリンドリカルレンズ9bとにより構成されている。これらの2つのシリンドリカルレンズ9aおよび9bは、それぞれ光軸AX方向に固定されている。また、第2整形光学系9は、光路に対して挿脱自在に構成され、図5に示すように光路中に設定された標準状態と、光路から退避した退避状態との間で切換え可能に構成されている。
以下、具体的な数値例にしたがって、第1整形光学系8および第2整形光学系9の作用を具体的に説明する。数値例において、第1タイプのエキシマレーザ光源1A(不図示)から射出される矩形状の平行光束のX方向に沿った断面寸法Dxが18mmであり、Z方向に沿った断面寸法Dzが3mmであるものとする。また、第2タイプのエキシマレーザ光源1B(不図示)から射出される矩形状の平行光束のX方向に沿った断面寸法DxおよびZ方向に沿った断面寸法Dzがともに12mmであるものとする。また、第1リレー光学系5および第2リレー光学系3は、ともに等倍系であるものとする。
さらに、露光装置本体7の入口7aのX方向に沿った断面寸法dxが18mmであり、Y方向に沿った断面寸法dyが5mmであるものとする。ここで、エキシマレーザ光源1Aまたは1Bから射出される矩形状の平行光束のX方向が露光装置本体7の入口7aのX方向に光学的に対応し、エキシマレーザ光源1Aまたは1Bから射出される矩形状の平行光束のZ方向が露光装置本体7の入口7aのY方向に光学的に対応している。
同様に、第1整形光学系8を介して整形された矩形状の平行光束のX方向が露光装置本体7の入口7aのX方向に光学的に対応し、第1整形光学系8を介して整形された矩形状の平行光束のZ方向が露光装置本体7の入口7aのY方向に光学的に対応している。一方、第2整形光学系9を介して整形された矩形状の平行光束のZ方向が露光装置本体7の入口7aのX方向に光学的に対応し、第2整形光学系9を介して整形された矩形状の平行光束のY方向が露光装置本体7の入口7aのY方向に光学的に対応している。さらに、第1整形光学系8は1.5の拡大倍率を有し、第2整形光学系9は1/(2.4)の縮小倍率を有するものとする。
数値例では、光源1として第1タイプのエキシマレーザ光源1Aを用いる場合、第1整形光学系8を回転状態(図4に示す標準状態から光軸AXを中心として90度だけ回転させた状態)に設定し、第2整形光学系9を光路から退避させた退避状態に設定する。その結果、第1整形光学系8および第2整形光学系9を介して整形されて第1リレー光学系5に入射する平行光束のZ方向に沿った断面寸法D’zおよびY方向に沿った断面寸法D’yは、それぞれ次の式(3)および(4)で表わされる。
D’z=Dx=18mm (3)
D’y=Dz×1.5=3×1.5=4.5mm (4)
D’z=Dx=18mm (3)
D’y=Dz×1.5=3×1.5=4.5mm (4)
また、光源1として第2タイプのエキシマレーザ光源1Bを用いる場合、第1整形光学系8を図4に示す標準状態に設定し、第2整形光学系9を図5に示すように光路中に設定された標準状態に設定する。その結果、第1整形光学系8および第2整形光学系9を介して整形されて第1リレー光学系5に入射する平行光束のZ方向に沿った断面寸法D’zおよびY方向に沿った断面寸法D’yは、それぞれ次の式(5)および(6)で表わされる。
D’z=Dx×1.5=12×1.5=18mm (5)
D’y=Dz×1/(2.4)=12×1/(2.4)=5mm (6)
D’z=Dx×1.5=12×1.5=18mm (5)
D’y=Dz×1/(2.4)=12×1/(2.4)=5mm (6)
上述したように、第1リレー光学系5および第2リレー光学系3はともに等倍系であり、第1リレー光学系5に入射する平行光束のZ方向およびY方向が露光装置本体7の入口7aのX方向およびY方向にそれぞれ光学的に対応している。したがって、光源1として第1タイプのエキシマレーザ光源1Aを用いる場合、露光装置本体7の入口7aに達する平行光束のX方向に沿った断面寸法D”xおよびY方向に沿った断面寸法D”yは、それぞれ次の式(7)および(8)で表わされる。
D”x=D’z=18mm (7)
D”y=D’y=4.5mm (8)
D”x=D’z=18mm (7)
D”y=D’y=4.5mm (8)
同様に、光源1として第2タイプのエキシマレーザ光源1Bを用いる場合、露光装置本体7の入口7aに達する平行光束のX方向に沿った断面寸法D”xおよびY方向に沿った断面寸法D”yは、それぞれ次の式(9)および(10)で表わされる。
D”x=D’z=18mm (9)
D”y=D’y=5mm (10)
D”x=D’z=18mm (9)
D”y=D’y=5mm (10)
なお、露光装置本体7の入口7aに達する平行光束のX方向に沿った断面寸法D”xまたはY方向に沿った断面寸法D”yが露光装置本体7の入口7aのX方向に沿った断面寸法dx(=18mm)またはY方向に沿った断面寸法dy(=5mm)よりも大きくなると、露光装置本体7の入口7aにおいて光量損失が発生することになる。また、露光装置本体7の入口7aに達する平行光束のX方向に沿った断面寸法D”xおよびY方向に沿った断面寸法D”yが露光装置本体7の入口7aのX方向に沿った断面寸法dxおよびY方向に沿った断面寸法dyよりも小さくなり過ぎると、光束のエネルギ密度が大きくなって光学部材がレーザ照射を受けて損傷し易くなる。
したがって、露光装置本体7の入口7aに達する平行光束の断面寸法D”xおよびD”yは、露光装置本体7の入口7aの断面寸法dxおよびdyとほぼ一致するか、あるいは断面寸法dxおよびdyよりも僅かに小さいことが望ましい。上述の数値例では、第1タイプのエキシマレーザ光源1Aを用いる場合、光束の断面寸法D”xが入口7aの断面寸法dxと一致し、光束の断面寸法D”yが入口7aの断面寸法dyよりも僅かに小さくなっている。また、第2タイプのエキシマレーザ光源1Bを用いる場合、光束の断面寸法D”xおよびD”yが入口7aの断面寸法dxおよびdyと一致している。
このように、図3の変形例では、2つの固定シリンドリカルレンズ8a,8bからなる第1整形光学系8を光軸AX廻りに回転させたり、2つの固定シリンドリカルレンズ9a,9bからなる第2整形光学系9を光路に対して挿脱させたりするだけで、ビームサイズの全く異なる2つのタイプのエキシマレーザ光源1A,1Bから供給される矩形状の平行光束をほぼ所望の断面寸法の平行光束に整形して露光装置本体7の入口7aまで導くことができる。
なお、上述の変形例では、第1整形光学系8を光軸AX廻りに回転可能に構成し、第2整形光学系9を光路に対して挿脱可能に構成している。しかしながら、これに限定されることなく、双方の整形光学系を光軸廻りに回転可能に構成したり、少なくとも一方を光路に対して挿脱自在に構成したりすることにより、ビームサイズの可変能力を高めることができる。
また、上述の変形例では、第1整形光学系8が拡大倍率を有し、第2整形光学系9が縮小倍率を有するが、これに限定されることなく、各整形光学系の倍率の大きさについては様々な変形例が可能である。ただし、第1整形光学系8が拡大倍率を有し、第2整形光学系9が縮小倍率を有する場合には、図3の変形例に示すように、第1整形光学系8を光源1と第2反射部材2との間の光路中に配置し、第2整形光学系9を第1反射部材4と第1リレー光学系5との間の光路中に配置することが好ましい。この構成により、第2リレー光学系3を通過する光束のエネルギ密度を緩和して第2リレー光学系3中の光学部材のレーザ照射による損傷を抑えることができる。なお、2つの整形光学系がともに拡大倍率を有する場合には、2つの整形光学系を分離することなく、光源1と第2反射部材2との間の光路中に1つの整形部として配置することが好ましい。
上述の実施形態にかかる露光装置では、照明光学装置によってマスク(レチクル)を照明し(照明工程)、投影光学系を用いてマスクに形成された転写用のパターンを感光性基板に露光する(露光工程)ことにより、マイクロデバイス(半導体素子、撮像素子、液晶表示素子、薄膜磁気ヘッド等)を製造することができる。以下、上述の実施形態の露光装置を用いて感光性基板としてのウェハ等に所定の回路パターンを形成することによって、マイクロデバイスとしての半導体デバイスを得る際の手法の一例につき図6のフローチャートを参照して説明する。
先ず、図6のステップ301において、1ロットのウェハ上に金属膜が蒸着される。次のステップ302において、そのlロットのウェハ上の金属膜上にフォトレジストが塗布される。その後、ステップ303において、上述の実施形態の露光装置を用いて、マスク上のパターンの像がその投影光学系を介して、その1ロットのウェハ上の各ショット領域に順次露光転写される。その後、ステップ304において、その1ロットのウェハ上のフォトレジストの現像が行われた後、ステップ305において、その1ロットのウェハ上でレジストパターンをマスクとしてエッチングを行うことによって、マスク上のパターンに対応する回路パターンが、各ウェハ上の各ショット領域に形成される。その後、更に上のレイヤの回路パターンの形成等を行うことによって、半導体素子等のデバイスが製造される。上述の半導体デバイス製造方法によれば、極めて微細な回路パターンを有する半導体デバイスをスループット良く得ることができる。
また、上述の実施形態の露光装置では、プレート(ガラス基板)上に所定のパターン(回路パターン、電極パターン等)を形成することによって、マイクロデバイスとしての液晶表示素子を得ることもできる。以下、図7のフローチャートを参照して、このときの手法の一例につき説明する。図7において、パターン形成工程401では、上述の実施形態の露光装置を用いてマスクのパターンを感光性基板(レジストが塗布されたガラス基板等)に転写露光する、所謂光リソグラフィー工程が実行される。この光リソグラフィー工程によって、感光性基板上には多数の電極等を含む所定パターンが形成される。その後、露光された基板は、現像工程、エッチング工程、レジスト剥離工程等の各工程を経ることによって、基板上に所定のパターンが形成され、次のカラーフィルター形成工程402へ移行する。
次に、カラーフィルター形成工程402では、R(Red)、G(Green)、B(Blue)に対応した3つのドットの組がマトリックス状に多数配列されたり、またはR、G、Bの3本のストライプのフィルターの組を複数水平走査線方向に配列したカラーフィルターを形成する。そして、カラーフィルター形成工程402の後に、セル組み立て工程403が実行される。セル組み立て工程403では、パターン形成工程401にて得られた所定パターンを有する基板、およびカラーフィルター形成工程402にて得られたカラーフィルター等を用いて液晶パネル(液晶セル)を組み立てる。
セル組み立て工程403では、例えば、パターン形成工程401にて得られた所定パターンを有する基板とカラーフィルター形成工程402にて得られたカラーフィルターとの間に液晶を注入して、液晶パネル(液晶セル)を製造する。その後、モジュール組み立て工程404にて、組み立てられた液晶パネル(液晶セル)の表示動作を行わせる電気回路、バックライト等の各部品を取り付けて液晶表示素子として完成させる。上述の液晶表示素子の製造方法によれば、極めて微細な回路パターンを有する液晶表示素子をスループット良く得ることができる。
なお、上述の実施形態では、光源としてKrFエキシマレーザ光源やArFエキシマレーザ光源を用いているが、これに限定されることなく、平行光束を供給する他の適当な光源に対して本発明を適用することもできる。また、上述の実施形態では、光源から供給される平行光束を露光装置本体の入口まで導く照明光学装置を例にとって本発明を説明したが、光源から射出されたほぼ平行光束を所定面まで導くための一般的な照明光学装置に本発明を適用することができることは明らかである。
1 光源
2 第2反射部材
3 第2リレー光学系
4 第1反射部材
5 第1リレー光学系
7 露光装置本体
7a 露光装置本体の入口
7b 照明光学系
8 第1整形光学系
9 第2整形光学系
M マスク
PL 投影光学系
W ウェハ
2 第2反射部材
3 第2リレー光学系
4 第1反射部材
5 第1リレー光学系
7 露光装置本体
7a 露光装置本体の入口
7b 照明光学系
8 第1整形光学系
9 第2整形光学系
M マスク
PL 投影光学系
W ウェハ
Claims (9)
- 光源から射出されたほぼ平行光束を所定面まで導く照明光学装置において、
前記光源と前記所定面との間の光路中に配置されたリレー光学系と、
前記リレー光学系に関して前記所定面と光学的に共役な中間位置またはその近傍に配置されて所定の軸線廻りに回転可能な第1反射部材と、
前記中間位置と前記光源との間の光路中において前記中間位置またはその共役位置から所定距離だけ間隔を隔てて配置されて所定の軸線廻りに回転可能な第2反射部材とを備えていることを特徴とする照明光学装置。 - 前記中間位置と前記光源とを光学的にほぼ共役に配置するための第2リレー光学系をさらに備えていることを特徴とする請求項1に記載の照明光学装置。
- 前記光源と前記所定面との間の光路中に配置されて、入射したほぼ平行光束の断面を一方向に拡大または縮小してほぼ平行光束の状態で射出するための第1整形光学系と、前記第1整形光学系と前記所定面との間の光路中に配置されて、入射したほぼ平行光束の断面を一方向に拡大または縮小してほぼ平行光束の状態で射出するための第2整形光学系とをさらに備え、前記第1整形光学系および前記第2整形光学系のうちの少なくとも一方は、前記照明光学装置の光軸を中心として回転可能に構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の照明光学装置。
- 前記第1整形光学系および前記第2整形光学系のうちの少なくとも一方は、光路に対して挿脱自在に構成されていることを特徴とする請求項3に記載の照明光学装置。
- 前記第1整形光学系および前記第2整形光学系は、正の屈折力を有するシリンドリカルレンズと負の屈折力を有するシリンドリカルレンズとをそれぞれ有することを特徴とする請求項3または4に記載の照明光学装置。
- 前記第1整形光学系は、前記光源と前記第2リレー光学系との間の光路中に配置されて拡大倍率を有し、
前記第2整形光学系は、前記第2リレー光学系と前記リレー光学系との間の光路中に配置されて縮小倍率を有することを特徴とする請求項3乃至5のいずれか1項に記載の照明光学装置。 - 前記第1整形光学系は、前記光源と前記第2リレー光学系との間の光路中に配置されて拡大倍率を有し、
前記第2整形光学系は、前記第1整形光学系と前記第2リレー光学系との間の光路中に配置されて拡大倍率を有することを特徴とする請求項3乃至5のいずれか1項に記載の照明光学装置。 - 露光光を供給するための光源と、請求項1乃至7のいずれか1項に記載の照明光学装置とを備え、該照明光学装置を介した光でマスクを照明し、前記マスクのパターンを感光性基板上に露光することを特徴とする露光装置。
- 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の照明光学装置を介した光源からの光でマスクを照明し、前記マスクのパターンを感光性基板上に露光することを特徴とする露光方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003388304A JP2005150541A (ja) | 2003-11-18 | 2003-11-18 | 照明光学装置、露光装置および露光方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2005150541A true JP2005150541A (ja) | 2005-06-09 |
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ID=34695422
Family Applications (1)
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JP2003388304A Pending JP2005150541A (ja) | 2003-11-18 | 2003-11-18 | 照明光学装置、露光装置および露光方法 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008270571A (ja) * | 2007-04-20 | 2008-11-06 | Canon Inc | 照明光学装置、引き回し光学系、露光装置及びデバイス製造方法 |
US8149380B2 (en) | 2007-10-10 | 2012-04-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure apparatus and correction apparatus |
JP2014511574A (ja) * | 2011-02-28 | 2014-05-15 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明系 |
-
2003
- 2003-11-18 JP JP2003388304A patent/JP2005150541A/ja active Pending
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US9280055B2 (en) | 2011-02-28 | 2016-03-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Illumination system of a microlithographic projection exposure apparatus |
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