JP2005141865A - 高密度記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【課題】 従来のマイクロメーターレベルの2値化情報記録手法を用いる記録媒体(メディア)の記憶容量の限界を越え、ナノスケールの2値化情報記録手法を開発する。
【解決手段】 シングルウォールカーボンナノチューブ中にフラーレンが連なって挿入されたフラーレン/カーボンナノチューブ複合体(ピーポッド)の、フラーレンの局所的結合部と非結合部の構造的差異を2値情報として記録する高密度記録媒体。
【選択図】 図1
【解決手段】 シングルウォールカーボンナノチューブ中にフラーレンが連なって挿入されたフラーレン/カーボンナノチューブ複合体(ピーポッド)の、フラーレンの局所的結合部と非結合部の構造的差異を2値情報として記録する高密度記録媒体。
【選択図】 図1
Description
本発明は、カーボンナノチューブ中に内包されたフラーレンのナノスケールの構造変化を利用した高密度記録媒体に関する。
近年、情報記録技術の向上に従い、磁気記録媒体、光磁気記録媒体、熱相変化媒体の記録密度は飛躍的に上がっている。例えば、CD−ROM、CD−R、CD−RW、DVD等の光ディスク記憶メディアや、MO、MD等の光磁気記憶メディアが実用化されている。
これらメディアは、材料の特性を生かし、デジタル情報として、”0”と”1”の2値情報を記憶している。具体的には、CR−ROM、DVD−ROMではピットの形成(ピット部・平坦部のレーザー光反射の違いを2値化)、CD−R、DVD−Rでは有機色素の熱変形(変形部・非変形部のレーザー光反射の違いを2値化)、CD−RW、DVD−RWでは、相変化(結晶部・アモルファス部のレーザー光反射の違いを2値化)、MO、MDでは、磁区変化(磁区の違いを2値化)している。
しかしながら、上記各記録媒体(メディア)においては、その2値化方法による記憶容量に限界がある。即ち、現状の2値化情報記録手法では、2値情報がマイクロメーターレベルである。例えば、CD−ROMでは、ピット:0.83μm、ピッチ:1.6μmであり、DVD−ROMでは、ピット:0.64μm、ピッチ:0.74μmである。
一方、カーボンナノチューブ(CNT)が様々な分野において有用な材料として期待されている。下記特許文献1及び特許文献2には、カーボンナノチューブ(CNT)の内部に種々の物質を内包させることが開示されている。具体的には、単層カーボンナノチューブの円筒内空隙に、金属内包フラーレン等の異物質が内包されたハイブリッド単層カーボンナノチューブである。
又、カーボンナノチューブを記録媒体として用いる試みもなされている。下記特許文献3には、カーボンナノチューブ内のフラーレンを帯電移動させることにより2値情報を記録することが開示されている。
特開2002−97009号公報
特開2002−97010号公報
特表2002−536782号公報
従来のマイクロメーターレベルの2値化情報記録手法を用いる記録媒体(メディア)の記憶容量の限界を越え、ナノスケールの2値化情報記録手法を開発する必要がある。
本発明者は、シングルウォールカーボンナノチューブ中にフラーレンが連なって挿入されたフラーレン/カーボンナノチューブ複合体(ピーポッド)の、各フラーレンの配列を構造的に変化させることにより、これをナノスケールの2値化情報記録手法とすることで上記課題を解決した。
即ち、第1に、本発明は、高密度記録媒体(メディア)の発明であり、シングルウォールカーボンナノチューブ中にフラーレンが連なって挿入されたフラーレン/カーボンナノチューブ複合体(ピーポッド)の、フラーレンの局所的結合部と非結合部の構造的差異を2値情報として記録する。
第2に、本発明は、2値情報記録方法の発明であり、シングルウォールカーボンナノチューブ(SWCNT)中にフラーレンが連なって挿入されたフラーレン/カーボンナノチューブ複合体(ピーポッド)に、該複合体を加熱した状態でエネルギー線を照射し、特定部位のフラーレンのみを結合させることにより、該結合部と非結合部の構造的差異を2値情報として記録するものである。
第3に、本発明は、2値情報を読み取る方法の発明であり、シングルウォールカーボンナノチューブ中にフラーレンが連なって挿入されたフラーレン/カーボンナノチューブ複合体(ピーポッド)の、フラーレンの局所的結合部と非結合部の構造的差異を2値情報として記録された高密度記録媒体から、該局所的結合部と非結合部の構造的差異を照射したエネルギー線の反射率で読み取るものである。
本発明において、シングルウォールカーボンナノチューブ中のフラーレンの局所的結合部と非結合部のナノスケールの構造的差異を2値情報として記録・読み取ることにより、従来のマイクロメーターレベルの2値化情報記録手法に比べて、ピット幅で約1000倍以上、ピッチ幅で約100倍以上、全体で約10万倍以上の高容量化が可能となる。
本発明の作用・原理を図面を用いて説明する。図1に、本発明の概要を模式的に示す。
シングルウォールカーボンナノチューブ(SWCNT)中にフラーレンが連なって挿入されたフラーレン/カーボンナノチューブ複合体(ピーポッド)を用意する(ピーポッド作製:図1(1))。
シングルウォールカーボンナノチューブ(SWCNT)中にフラーレンが連なって挿入されたフラーレン/カーボンナノチューブ複合体(ピーポッド)を用意する(ピーポッド作製:図1(1))。
該複合体を加熱した状態で電子線等のエネルギー線を局所的に照射することにより、隣接する2個のフラーレンが結合し、局所的なダブルウォールカーボンナノチューブ(DWCNT)を形成する(局所照射により特定部位のみフラーレンを結合する:図1(2))。局所照射は電子線やX線など、オーダーが1nm程度であること。また、照射処理は、ある温度下であれば、その構造はより安定的で、記憶精度の向上が期待できる。
生成した結合部をデジタルの”0”とし、エネルギー線を照射しなかった非結合部をデジタルの”1”とするか、又はその逆に定義することで、フラーレンの局所的結合部と非結合部の構造的差異を2値情報として記録するとともに、読み取りの際には、更なる結合を誘発するのを避けるため、先のエネルギー線よりも低いエネルギーのエネルギー線を照射し、その反射率で該局所的結合部と非結合部の構造的差異、即ち2値情報を読み取るものである(結合部と非結合部を2値情報(0又は1)として読み取る:図1(3))。読み取りは1nm程度の精度で、フラーレンの結合状態の差を明らかにアウトプットできるものであれば、特に問わない。
本発明に用いられるフラーレン/カーボンナノチューブ複合体(ピーポッド:CNT複合体)としては、CNTのチューブ内にC60を主体に構成されたフラーレン集合物を備えるものが好ましい。このようなCNT複合体は製造又は入手しやすい。また、フラーレン集合物を構成するフラーレンの形状の対称性が高いので、このフラーレン集合物から形状の均一性(直径等)の高い結合部を容易に生成させることができる。
本発明に使用するCNT複合体は、CNTと、そのCNTのチューブ内に収容・充填された複数のフラーレンとを含んで構成されている。これら複数のフラーレンは、CNTのチューブ内で鎖状に連なってフラーレン集合物を構成している。ここで「連なって」とは、複数のフラーレンが近接して並んでいることをいい、それらのフラーレン同士が物理的に接触している場合に限定されない。
ピーポッド構造を構成するフラーレン集合物としては、実質的にC60から構成されたものが代表的である。本発明においても、実質的にC60から構成されたフラーレン集合物を有するCNT複合体が好ましく用いられる。本発明は、C60以外のフラーレン、例えばC70、C82を含んで構成されたフラーレン集合物を有するCNT複合体も適用することができる。このようなフラーレン集合物としては、C60とC70とを含むフラーレンから構成されたフラーレン集合物、C60以外のフラーレン、例えばC70を主体とするフラーレン集合物等が例示される。また、このようなフラーレン集合物を構成するフラーレンの一部又は全部が、その内部に炭素以外の物質(金属原子等)を内包したフラーレンであってもよい。
なお、両末端の閉じたCNTを一種のフラーレンとみることもできるが、本発明で「フラーレン」とは、球状又はほぼ球状のフラーレンを指すものとする。但し、C100以下のフラーレンが好ましい。
このような構造のCNT複合体は、例えば以下のようにして作製することができる。まず、チューブ内が空の単層CNTを用意する。この単層CNTとしては、従来公知のアーク放電法、パルスレーザ蒸着法、熱分解法等により得られたもの等を特に限定なく用いることができる。
その単層CNTの末端(先端)を開口させる。例えば、酸化雰囲気で加熱する(燃焼処理)、硝酸等の酸化性を有する酸を作用させる(酸処理)等の酸化処理を施すことによって、単層CNTの末端を選択的に開口させることができる。
末端の開口した単層CNTとフラーレンとを所定の条件で共存させる。これにより、単層CNTのチューブ内にフラーレンを挿入(充填)する。例えば、末端の開口した単層CNTとフラーレンとを350〜600℃(好ましくは400〜500℃)の温度で1時間以上、典型的には1〜48時間共存させるとよい。チューブ内に収容されたフラーレンは、通常は通なってフラーレン集合物を構成する。このようにしてCNT複合体が作製される。あるいは、電子線照射等により末端及び/又は壁面にダメージを与えた単層CNTをフラーレンと共存させることによってもCNT複合体を得ることができる。
CNT複合体を構成する単層CNT(外管)は、その直径が概ね0.8〜2nmの範囲にあることが好ましい。このようなサイズの単層CNTは製造又は入手が容易である。直径が概ね1〜1.8nmの範囲にある単層CNTが特に好ましい。この場合には、単層CNTの内部にフラーレン、(特にC60)が充填されやすいので、CNT複合体の作製が容易である。また、後述する電子線照射工程において、欠陥の少ないフラーレン結合部を生成しやすい。なお、ここでCNTの「直径」とは、CNTの壁面の厚みの中央部分についての値をいう。かかる直径は、例えば透過型電子顕微鏡(TEM)を用いて測定することができる。
本発明では、CNT複合体を加熱した状態で、電子線等のエネルギー線を照射する。このように加熱した状態で電子線照射を行うと、室温で電子線を照射した場合に比べて、電子線から受けたダメージ(欠陥)の回復が促進される。これにより、電子線照射による外管の損傷を抑え(補修し)つつ、フラーレン集合物から結合部を生成させる反応を促進させる。その結果、熱エネルギー又は電子線によるエネルギーのいずれか一方のみを供給した場合に比べて、より低い温度域で、又はより短時間で、欠陥の少ないCNT記録媒体を製造することができる。
電子線照射時の温度は、常温を超える温度であって、例えば60〜1000℃の範囲とすることができ、好ましくは80〜700℃、より好ましくは100〜500℃の範囲である。電子線照射時の温度が上記範囲より高過ぎる(例えば、1000℃を超える高温域である)と、この高温によって、電子線照射によって生じたダメージを回復させる効果よりも、カーボンを拡散させる効果のほうが過剰に大きく発現することがある。その結果、上記温度範囲で電子線を照射した場台に比べて、フラーレン結合部の製造効率が低くなりがちである。また、電子線照射時の温度を過剰に高くすることはエネルギー効率の点からも好ましくない。一方、電子線照射時の温度が上記範囲より低過ぎると、フラーレン結合部の生成速度が低下したり、電子線照射により生じたダメージ(欠陥)を回復させる効果が少なくなったりする場合がある。
CNT複合体に照射する電子線の加速電圧は、例えば80kV以上、典型的には80〜250kVとすることができ、100kV以上、典型的には100〜225kVとすることが好ましい。特に好ましい加速電圧は100〜200kVの範囲である。加速電圧が低過ぎると、フラーレン集合物からフラーレン結合部を生成させる効果が少なくなる。加速電圧が高過ぎると、電子線照射により与えられるダメージが、加熱した状態で照射することによるダメージ回復促進効果を超えて大きくなるおそれがある。
CNT複合体への電子線の照射量は、例えば10〜2000C/cm2/minの範囲とすることができ、好ましい範囲は50〜1000C/cm2/min、より好ましい範囲は100〜500C/cm2/minである。かかる照射量で、例えば5秒〜2時間程度の電子線照射を行うとよい。好ましい照射時間は、15秒〜1時間の範囲であり、より好ましい範囲は30秒〜30分である。
CNT複合体に電子線を照射する装置としては、例えば日本電子製の機種名JEM−2010を用いことができる。
本発明では、熱エネルギーと電子線によるエネルギーとをバランスよく供給することにより、それらのエネルギーの相乗効果によって、フラーレン結合部の生成効率及びその品質(欠陥の少なさ、形状の均一性等)を顕著に向上させることができる。そのような好ましいエネルギー供結条件の組合せとしては、電子線照射時の温度がほぼ80〜700℃、より好ましくは200〜500℃の範囲であり、かつ、照射する電子線の電子線の加速電圧がほぼ80〜250kV、より好ましくは100〜200kVの範囲である組み含わせが例示される。
このようにフラーレン結合部と非結合部が直列に収容された形状のCNTは、CNT複合体がほぼ70〜250℃、より好ましくは100〜200℃まで加熱された状態で、加速電圧80〜150kV、より好ましくは100〜130kVの電子線を照射することにより好適に生成され得る。この時の電子線密度は0.5〜5×10−11A/cm2、より好ましくは1〜3×10−11A/cm2の範囲とすることが好ましい。
[CNT複合体の製造例]
平均直径約1.5nmの単層CNT複合体に酸処理を施してその先端を開口させた。先端を開口させた単層CNTとC60とを混合し、真空中(減圧度;1.0×10−3Pa)にて450℃に24時間保持した。その結果物を透過型電子顕微鏡(TEM)にて50万倍で観察したところ、図2(a)に示すTEM写真のように単層CNTの内部にフラーレンC60が充填されていた。これらのC60は連なってフラーレン集合物を構成していた。このようにして、C60を主体とするフラーレン集合物がCNTに収容されたCNT複合体を作製した。
[フラーレンの結合]
上記により作製したCNT複合体を、減圧度1.0×10−3Paの真空中にて400℃に1時間保持(予備加熱)した後、同条件(同温度及び減圧度)にて加速電圧約120kVの電子線を約5分間照射した(電子線の照射量;約200〜250C/cm2/min)。この時の電子線密度は約3〜5×10−11A/cm2である。この加熱・電子線照射処理物を上記条件のTEMで観察した。その結果、図2(b)に示すTEM写真のように、2個のフラーレン分子が結合した部位と1個のフラーレン分子が独立した部位が存在した。
平均直径約1.5nmの単層CNT複合体に酸処理を施してその先端を開口させた。先端を開口させた単層CNTとC60とを混合し、真空中(減圧度;1.0×10−3Pa)にて450℃に24時間保持した。その結果物を透過型電子顕微鏡(TEM)にて50万倍で観察したところ、図2(a)に示すTEM写真のように単層CNTの内部にフラーレンC60が充填されていた。これらのC60は連なってフラーレン集合物を構成していた。このようにして、C60を主体とするフラーレン集合物がCNTに収容されたCNT複合体を作製した。
[フラーレンの結合]
上記により作製したCNT複合体を、減圧度1.0×10−3Paの真空中にて400℃に1時間保持(予備加熱)した後、同条件(同温度及び減圧度)にて加速電圧約120kVの電子線を約5分間照射した(電子線の照射量;約200〜250C/cm2/min)。この時の電子線密度は約3〜5×10−11A/cm2である。この加熱・電子線照射処理物を上記条件のTEMで観察した。その結果、図2(b)に示すTEM写真のように、2個のフラーレン分子が結合した部位と1個のフラーレン分子が独立した部位が存在した。
本発明は、カーボンナノチューブ中にフラーレンを挿入したピーポッド構造を利用したナノスケールの高密度記録媒体であって、従来の記録媒体に比べて各段に高容量とすることが出来る。この結果、様々な分野での応用が期待される。
Claims (3)
- シングルウォールカーボンナノチューブ中にフラーレンが連なって挿入されたフラーレン/カーボンナノチューブ複合体(ピーポッド)の、フラーレンの局所的結合部と非結合部の構造的差異を2値情報として記録する高密度記録媒体。
- シングルウォールカーボンナノチューブ中にフラーレンが連なって挿入されたフラーレン/カーボンナノチューブ複合体(ピーポッド)に、該複合体を加熱した状態でエネルギー線を照射し、特定部位のフラーレンのみを結合させ、該結合部と非結合部の構造的差異を2値情報として記録する方法。
- シングルウォールカーボンナノチューブ中にフラーレンが連なって挿入されたフラーレン/カーボンナノチューブ複合体(ピーポッド)の、フラーレンの局所的結合部と非結合部の構造的差異を2値情報として記録された高密度記録媒体から、該局所的結合部と非結合部の構造的差異を照射したエネルギー線の反射率で読み取る方法。
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