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JP2004534362A - 導電体製造のための低温方法および組成物 - Google Patents

導電体製造のための低温方法および組成物 Download PDF

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JP2004534362A JP2003509466A JP2003509466A JP2004534362A JP 2004534362 A JP2004534362 A JP 2004534362A JP 2003509466 A JP2003509466 A JP 2003509466A JP 2003509466 A JP2003509466 A JP 2003509466A JP 2004534362 A JP2004534362 A JP 2004534362A
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Abstract

反応性有機媒体(ROM)中の、特定の性質を有する粉末または粉末群の物質の組成物。これらの組成物は、従来の任意の印刷工程により塗布され、温度感受性電子基板上に導電体のパターンを形成しうる。前記パターンは、基板への損傷を回避しうるほど低い温度で、熱により数秒で硬化し、純金属導電体を形成しうる。

Description

【技術分野】
【0001】
発明の背景
1.発明の分野
本発明は、印刷回路板および半導体のような電子部品の導電体に適用され得る組成物に関するもので、特に450℃未満の温度で適用され、固体導電体に変換されうる組成物に関するものである。
【背景技術】
【0002】
2.関連技術
印刷回路製造工程の一般的な方法は、不要な銅をエッチングすることにより導電体を形成するというサブトラクティブ(subtractive)またはセミアディティブ(semi−additive)工程である。完全なアディティブ工程は、前記サブトラクティブまたはセミアディティブ工程より多くの利点を有しうる。完全なアディティブ工程を印刷回路製造に用いる際の第一の問題は、ポリマーベースの回路板に適した十分に低い硬化温度での高い導電性を必要とすることである。他の主な問題は、好ましくは通常のハンダ付けによって、アディティブトレースへの接続を形成することである。現在の技術としては、劣った導電性および劣ったハンダ付け特性をもつトレースを生じる、硬化温度の低い導電性エポキシおよび過渡的液相(transient liquid phase)材料、または良好な導電性および良好なハンダ付け特性を有するトレースを生じるが、セラミック基板に限られる高温厚膜インクがある。これらの小さく、高価でかつ特殊化された基板は、650℃超、および通常は850℃超の温度における厚膜インクの焼結に耐えることが要求される。250〜350℃のポリマーベースの基板上以外で、厚膜インクの性能を再現しうる方法によれば、270億ドル規模の硬質回路板産業、および25億ドル規模の軟質回路板産業において、世界的に広くこの技術が適用されうる。
【0003】
「厚膜」技術によって、セラミック基板上にハイブリッド回路を製造することが慣例的に実施されてきた(R.W.ヴェスト(R.W.Vest)、「電子セラミックス」、R.ブレッケンリッジ(R.Breckenridge)等、1991年)。導電体パターンは、厚膜ペーストまたはインクをセラミック基板上にシルクスクリーニング、またはステンシル印刷し、それらを850℃〜1100℃の温度で焼成して金属含有インクを金属に還元することによって形成される。このようなインクの例は、銀−パラジウム組成物であり、これは近年、ワング、ドハーティー、フブナー(Wang,Dougherty,Huebner)およびペピン(Pepin)、J.Am.Ceram.Soc.77(12),3051−72(1994年)によってまとめられている。厚膜インクは、一般に、金属粉末、無機ガラス結合剤、並びにポリマー結合剤および溶媒からなる媒体を含む。前記媒体によれば、スクリーン印刷における精度が向上し、前記媒体は一般に、低揮発性の溶媒に溶解した、エチルセルロース、水素化ロジン、またはポリアクリル酸系化合物のようなポリマーからなる。
【0004】
一般的な溶媒は、テルピネオール、ジブチルカルビトール、並びに様々なグリコールエーテルおよびエステルである。前記インクは、スクリーン印刷によりセラミック基板に塗布され、溶媒を除去するために乾燥され、並びにポリマー結合剤を分解させるため、および金属と無機ガラス結合剤とを融着させるために、通常はベルト式加熱炉中で熱処理される。ガラス相により、通常はアルミナである基板への結合が提供され、金属により、導電性が提供される。導電体は一般に、ガラス層と金属層との交互の縞状の断面を有する。ガラスはセラミックの界面で、金属は空気の界面で濃縮される傾向がある。導電性は、通常、バルク金属の半分から4分の1である。
【0005】
多くの厚膜組成物は、スクリーン特性(screenability)および金属粉末の分散安定性を改善させるために界面活性剤を含む。多くの場合、これらの界面活性剤はカルボン酸の石鹸のような金属有機化合物である。これらは、比較的低い温度で分解し、焼成された導電体において有用な機能を発揮する金属またはその酸化物を積層させうるという点で有用である。
【0006】
J.T.アンダーソン、V.K.NagesdhおよびR.C.ルビー(R.C.Ruby)の1991年12月10日発行の米国特許第5,071,826号および1994年8月16日発行の米国特許第5,338,507号は、超伝導酸化物の混合物に銀ネオデカノエートを添加することを開示しており、ここで前記ネオデカノエートは300℃で金属に分解し、超伝導微粒子が銀で被覆される。被覆された前記微粒子は、次いで600〜800℃で焼結および酸化され、強度および臨界電流が増加した酸化超伝導体が製造される。
【0007】
有機金属チタネートの分解により、チタネートを厚膜導電体へ添加することは、1983年5月3日発行の、K.M.ネアー(K.M.Nair)による米国特許第4,381,945号に開示されている。
【0008】
1986年7月8日発行の、J.M.ブラウンロウ(J.M.Brownlow)による米国特許第4,599,277号は、有機金属化合物を厚膜インクに添加して金属の焼きしまり温度を上昇させて、850〜950℃というセラミック基板の焼きしまり温度にあわせることを開示しているが、低温で導電体をポリマー回路へ塗布するためには、逆の工程が必要とされる。
【0009】
トリトンX100(TritonX100)のような界面活性剤に加えて、銀フレーク、ガラスフリット、およびカルボン酸の石鹸である銀樹脂酸塩を含む、従来の厚膜ペースト組成物は、M.N.Nguyen等による1991年12月24日発行の米国特許第5,075,262号、および1993年2月2日発行の米国特許第5,183,784号で開示された。その目的は、印刷の後の予備乾燥工程を省略することであり、前記樹脂酸塩は、350〜450℃で半導体ダイがセラミック基板へ結合する際に、接着を促進し、クラックおよび空隙を極小化すると考えられる。V.K.NageshおよびR.M.フルラス(R.M.Fulrath)による1978年12月19日の米国特許第4,130,671号は、低温で分解し、上記アンダーソンの超伝導体と同様の銀被覆ガラス粒子を生じる、ガラスフリットおよび銀樹脂酸塩の類似の組成物を開示している。前記粒子は、樹脂酸塩の分解の前または後に基板に塗布され、500〜700℃の酸化雰囲気下で焼成されて、金属被覆ガラス粒子の導電体を生じる。
【0010】
樹脂酸塩を用いない、有機媒体中のガラスおよび金属粉末の、さらに他の従来の厚膜組成物は、米国特許第5,250,229号および第5,378,408号に記載されている。
【0011】
厚膜工程の低温での類似の工程を作成するためには、多くのポリマーが耐えうる最上限の温度である450℃未満の温度で操作できるように、積層した金属を融着および凝集させるための新しいメカニズムを見出すことが必要である。従来の厚膜インクにおいて広く使用されている無機ガラス粉末結合剤を、この用途に用いることは不可能である。なぜなら、前記結合剤は十分低い温度では溶融せず、ガラスが金属またはポリマー基板に接着しえないためである。
【0012】
この目的のための他のアプローチが開示されている。最も一般的なものは、有機マトリックス中に金属粉末(通常は銀粉末である)を混和することにより、導電性のインクまたはペーストを製造することであり、いわゆる“ポリマー厚膜”材料である。これは主要産業であり、中でもアブレティック、エイアイティー、ホクリカ、エム−テック、サーモセット、エポキシテクノロジー(Ablestik,AIT,Hokurika,M−Tech,Thermoset,Epoxy Technology)およびフェロー(Ferro)などから製品が入手可能である。これらの材料は回路板に印刷することが可能で、良好な接着性を有する。この技術の適用例は、K.ドレイファック(K.Dreyfack)(エレクトロニクス52(17),2E−4E,1979年)による論説において、硬質および軟質回路に用いるこのタイプの、ソシエテ デ プロデュイ アンデュストリエル ITT(Societie des Produits Industrielles ITT)の、銀およびグラファイトベースの導電体のシルクスクリーニングについての説明がなされている。このアプローチの一つの問題は、有機マトリックス中の粉末粒子間のランダムな接触によりインクが伝導し、導電性が劣ることである。抵抗の一般的な値は、これは導電性の逆数であるが、バルクの銀の1.59マイクロオームcm、および高温厚膜導電体の3〜6マイクロオームcmに対して、40〜60マイクロオームcmである。さらなる障害は、導電性が時間によって一定ではないということである。トレースが加熱されおよび冷却されると、そして特にトレースが湿気や他の環境的な影響を受けると、導電性は、ランダムに生成し壊れやすい個々の金属粒子間の偶発的な接触に依存する。ポリマー厚膜材料におけるその他の主要な問題は、その有機物含量によりハンダ付けができないことである。
【0013】
一般的な樹脂結合銅粉末導電体は、1977年6月の日本国特許出願第52−68507号で開示されている。R.E.シーガー(R.E.Seeger)およびN.H.モーガン(N.H.Morgan)による1988年10月4日発行の米国特許第4,775,439号は、ポリマー厚膜のより複雑なアプローチを開示している。この概念によれば、金属粉末および結合剤を基板に塗布し、乾燥させる。次に、導電体を定位置に保持するために基板上に薄板状に付着しているポリマーフィルムによって、そのトレースを被覆する。これによっても、バルク金属に匹敵する導電性を得るという問題は解決されない。
【0014】
バルクの導電性は、様々な基板上で金属有機化合物を分解させることによって、低温でも達成されている。これらは、R.W.ヴェスト(R.W.Vest)、E.P.トゥイーデル(E.P.Tweedell)およびR.C.ブキャナン(R.C.Buchanan)、インターナショナル ジャーナル オブ ハイブリッド マイクロエレクトロニクス(Int.J.of Hybrid Microelectronics)6,261−267,1983年によって説明されているような、インクジェット印刷に応用されうる。ヴェスト等は、いわゆるMOD(有機金属分解;Metallo−Organic Decomposition)技術を数年にわたって研究し続けた。この研究の最も関連のある態様は「ハイブリッドマイクロ回路のためのMODインクを用いた液状インクジェット印刷」テング、K.F.(Teng,K.F.)およびヴェスト、R.W.(Vest,R.W.)、IEEEトランスアクション オン コンポーネンツ、ハイブリッド アンド マニュファクチュアリング テクノロジー(IEEE Trans actions on Components,Hybrid and Manufacturing Technology),12(4),545−549,1987年にまとめられている。この著者等は、銀および金導電体、並びに誘電体および抵抗体を印刷することに関する彼らの研究を説明している。MOD化合物は、金属および雰囲気に応じて、低温できれいに分解して金属を金属原子またはその酸化物として凝結させる、純粋な合成金属有機化合物である。貴金属、銀、金、および白金群は、空気中で分解して金属膜となる。有機部分は、低温で容易に分解する弱い結合を提供するヘテロ原子を介して金属と結合している。金および白金に対してアミン結合を有する場合と同様に、カルボン酸−金属石鹸におけるように、酸素結合も好ましいことがわかっている。
【0015】
ヴェスト等は、銀ネオデカノエートおよび金アミン2−エチルヘキサノエートのような石鹸のキシレン溶液をインクジェット印刷することによるセラミック基板および珪素の金属化を研究した。申し分のない解像度(0.003インチまたは75ミクロン)のイメージが得られたが、分解後の層の厚さが1ミクロン未満と極端に薄かったため、導電性は低かった。パートナーシップス リミテッドによる、エポキシガラス回路板上での銀ネオデカノエート溶液を用いた予備実験により、良好に接着した導電体がポリマー基板上に形成されうることが示された。またもや、それらは非常に薄く、導電性が不十分であるという難点があった。より多くのMOD化合物を添加することで、より厚くなるのではなく、より幅のあるトレースを生じることが見出された。前記MOD化合物は、分解する前に溶融し、無秩序に表面上に広がる。溶融により、分解後に金属がよく硬化して付着するため(これは望ましいことであるが)、そしてMOD化合物の中には実際に室温で液状であるものもあるため、これは避け難い問題である。この問題に対する可能な解決方法は、多くの層を印刷することにより厚さを増大させることであり、これはヴェスト等が金属化シリコン太陽電池に適していることを見出したものだが、これによれば我々が目的とする回路の単一経路での生産量が減少する。
【0016】
類似の材料および技術が、薄膜金属化およびシードコーティングに適用されるために用いられており、これらは次いでハンダまたは電気メッキを用いて仕上げられる。その例としては、B.D.ガリガー(B.D.Gallegher)による1987年5月17日発行の米国特許第4,650,108号;P.H.Nguyenによる1989年2月28日発行の米国特許第4,808,274号;M.G.ファームストーン(M.G.Firmstone)およびA.リンドレイ(A.Lindley)による1991年10月22日発行の米国特許第5,059,242号;および、T.アサノ,S.ミズグチおよびT.イシカワによる1992年12月22日発行の米国特許第5,173,330号が挙げられる。薄膜は単独では十分な導電性を提供できない。
【0017】
抵抗性の問題を回避するための創造的な試みが、C.W.エイチェルバーガー(C.W.Eichelberger)による1984年12月11日発行の米国特許第4,487,811号に記載されている。前記特許は、溶液中のより貴な(noble)金属により付着層において金属を置換反応させる、例えば銅で鉄を置換させる、ことにより、導電性を増大させることが記載されている。これを行う工程において、粒子間の接触は、置換金属のより大きい容積、およびその固有の導電性により改善される。7.5マイクロオームcmの抵抗率が達成され、これは厚膜インクの性能がないことを除いては、銀被覆エポキシよりも実質的に優れている。
【0018】
導電性エポキシ配合物は一般的にハンダ付けできないが、この置換反応によれば、この材料はハンダ付けできるため、ポリマーインクのさらに他の問題が解決された。ハンダ付け特性に対するその他のアプローチが、F.セント.ジョンおよびW.マーティンによる1985年10月22日発行の米国特許第4,548,879号に開示されている。ニッケル粉末を、10またはそれより多い炭素原子を有する飽和モノカルボン酸で被覆した。被覆された粉末を、酢酸ブチルカルビトール媒体中で、ノボラックエポキシ樹脂と混合し、エポキシガラス板上にシルクスクリーニングした。165℃で硬化させた後、溶融ハンダ中へ溶解させ浸積させることにより、導電性トレースをハンダで被覆し、一方で被覆されていないニッケル粉末を用いて形成されたトレースはハンダ付けされなかった。この工程による導電性の改善については記載されていない。
【0019】
1980年1月29日発行の米国特許第4,186,244号の「新規の銀粉末組成物」、および1984年7月31日発行の米国特許第4,463,030号の「新規の銀粉末組成物の形成方法」(ともにR.J.デファイエス(R.J.Deffeyes)およびH.W.アームストロングによるものである)に銀粉末が開示されている。前記銀粉末は、飽和長鎖カルボン酸(ステアリン酸、パルミチン酸)または不飽和長鎖カルボン酸(オレイン酸、リノール酸)のいずれかの存在下で、乾燥銀オキサレートが分解することにより生成した。前記酸は金属粉末と反応し、表面に保護被膜を形成し、粒子をサブミクロンサイズに限定する。過剰の酸を除去するために前記粒子を洗浄し、エチルセルロースポリマー結合剤およびパイン油溶媒からなる、等重量の従来の厚膜媒体と混合した。
【0020】
得られたインクをセラミックまたはポリイミド基板上に塗布し、被覆粉末を、1オーム/平方の所定の導電性、これは数百または数千平方長のトレースを有する実際の回路には十分ではない、を有する銀導電体に変換するために、空気中で30〜90秒間、250℃まで加熱した。この塗膜は、溶剤なしでもハンダ付けできると考えられるが、これは、残留した酸が溶剤として作用しているとすれば信憑性がある。溶融ハンダ浴における浸出に対して耐性があると述べられているが、これは、ハンダに対する銀の周知の溶解性によれば予想されなかったことである。
【0021】
多少類似した銀フレーク材料が、グランディ オブ ジョンソン アンド マテイ(Grundy of Johnson and Matthey)による1989年8月22日発行の米国4,859,241号によって特許されている。前記フレークは、有機溶媒中で銀ステアリン酸界面活性剤と共に銀粉末を粉砕することにより調製され、安定性に優れるガラス充填インク組成物を提供する、銀ステアリン酸被覆銀フレークが製造される。これは安定な銀の粉末およびフレークを調製するための一般的な方法である。
【0022】
より複雑なアプローチが、発明者であるアキラアカマツにより、後に松下電器工業株式会社により放棄された、日本国特許出願公開昭59−167,906号公報に開示されている。ここでは、乳酸溶液中の乳酸銀のような銀の有機酸塩を、ホルマリンまたはヒドロキノンを用いて、部分的に還元することにより粉末を得た。この前還元は、好ましくは20〜30%の塩について行われる。この際、さらに銀粉末またはフレークが添加されうる。この混合物をスクリーン印刷し、好ましくは300〜350℃で好ましくは30〜60分間、UV放射および熱を同時に適用することにより硬化させる。UVなしでは、低温で硬化せず、熱なしでは、約10ミクロンの厚さの全体にわたって硬化するわけではないということがわかった。
【0023】
本発明の混合物は、微粉末成分が別個に調製され、最終混合物について他の要求がなされる心配なく最適なナノ粉末が調製されうることにより、アカマツの混合物とは区別されうる。また、本発明の反応性有機媒体によれば、アカマツにより規定されたものよりもずっと短い時間で、ずっと低い温度で、熱のみにより混合物が硬化しうる。
【0024】
追加の電子回路を製造するのに用いられる他の種類の材料としては、「オーメット(Ormet)」という商標でトラナガテクノロジーズ(Toranaga Technologies)により開発された、過渡的液相材料(Transient Liquid Phase materials)がある。これらの材料およびこれらの用途は、P.ガンジー(P.Gandhi)サーキットワールド(Circuit World)23(1),1999年10月号,p.43〜46、およびロバーツ,E.;プロシーディング オブ ネプコン ウエスト’96(Proceeding of NEPCON W EST’96),3,1748〜1752,1996年に記載されている。前記材料は、粉末化したハンダおよびポリマー結合剤、および粉末化した銀または銅の導電体の混合物からなる。これらは導電性エポキシと同様に印刷されるが、加熱されるとハンダは溶融して導電体と合金を形成し、溶融金属のネットワークをつくる。さらに220℃付近にまで10分間加熱し、導電体をポリマー基板に接着させるためのポリマー結合剤を硬化させる。あるいは、基板上に接着層を設けることが、1996年7月23日発行の米国特許第5,538,789号、および1996年10月15日発行の米国特許第5,565,267号においてトラナガテクノロジーズのM.A.ケイポート(M.A.Capote)およびM.G.トッド(M.G.Todd)により開示されている。
【0025】
一般的なオーメット組成物は、20〜30マイクロオーム−cmの範囲の電気抵抗を示し、ポリマー結合剤が存在するために前記組成物のハンダ付け特性に関する問題も提起される。
【0026】
上記の材料または混合物のうち、硬化して、従来のポリマーベースの回路板基材と適合するために要求される、350℃以下、好ましくは300℃以下、さらに好ましくは275℃未満の硬化温度を有しつつ従来の厚膜インクに匹敵する導電性を有する、良好に接着し、良く硬化した金属導電体となりうる組成物を提供するという目的を達成できるものはない。これらの材料のうち、危険な産業廃棄物を生成せず、単純な工程で迅速に生産しうる新しい技術により、回路板産業に衝撃を与えうるものはなかった。この低温性能を提供する新たなアプローチが必要とされている。
【発明の開示】
【0027】
発明の要約
本発明は、印刷可能な組成物、およびそれらを温度感受性基板に塗布し、基板が耐えうる温度で硬化させて高導電性のトレースとする方法を提供する。これらの組成物の必須の構成成分は、特定の性質を有する金属粉末混合物、および、それにおいて金属粉末混合物の固形導電体への硬化が起こる、反応性有機媒体(Reactive Organic Medium;ROM)である。
【0028】
前記金属粉末混合物は、1種以上のタイプの金属粉末からなる:1)およそ50μm以下の好ましい直径を有し、直径に対する厚さの比が2未満である金属粉末、および2)いかなる度合いにも凝集しない、平均直径が約600nm未満のコロイド状または半コロイド状の金属粉末。
【0029】
前記ROMは、対応する金属に容易に分解しうる任意の金属有機化合物、または金属と反応してこのような金属有機化合物を生成しうる有機化合物から構成されうる。その例は、金属石鹸および対応する脂肪酸である。他の例は、金属アミンおよび金属メルカプト化合物、ならびにそれらの対応するアミノおよび硫化物の前駆体である。
【0030】
これらの組成物の構成成分は、適切な比率で量り分け、適切な精度が要求される場合には、追加の界面活性剤または粘度調節剤と混合し、3ロールの粉砕器で共に粉砕して、均一な、印刷可能な組成物を得る。
【0031】
前記組成物は、任意の従来の印刷技術を用いて基板上に印刷される。スクリーン印刷およびステンシリングは、高解像度で比較的少数の硬質基板に適している。グラビア印刷、活版印刷、およびオフセット印刷は、軟質基板上での高レートの生産に適している。インクジェット印刷および静電印刷は、印刷イメージを直接コンピューター制御できるというさらなる利点を有する。これにより、CAD(Computer Aided Design)ファイルから回路が直接印刷され、特定の工程を省略することが可能となる。必要であれば、コード化またはプロトタイプ化のために、各回路は異なっていてもよい。同様の目的は、コンピューター制御された計算分配器具を用いる、より低レートの生産によっても達成されうる。この器具は、表面上で針を動かし、ポンプまたは加圧シリンジにより供給された印刷組成物を分配することでドットまたはラインを形成する。
【0032】
これらの組成物が塗布されうる基板は、硬質の、ガラス繊維強化エポキシ積層板、軟質回路用のポリイミドフィルム、ポリマーベースの他の電子部品、金属パッドおよび半導体部品を含む。前記組成物は、大部分のエポキシ表面に対して自然に接着するが、2000年11月7日に発行された米国特許第6,153,348号に記載されているようなバリア/接着塗膜が有利である。ポリイミドフィルムへ良好に接着するには、塗膜の存在が必要である。FEPテフロン(FEP Teflon)(登録商標)およびガラス転移点の低いポリイミド塗膜が、これを満足することが知られている。
【0033】
金属へ接着するには、ハンダ付けに要求されるのと同様のきれいな金属表面が必要である。ROM中の酸成分は、接着を促進させるための溶剤として作用する。金属パッドのメッキまたは錫メッキもまた有効である。銅パッド上には有機ハンダ保護剤を使用することが有効である。半導体への接着には、組成物に適した金属化が必要である。
【0034】
前記組成物は、短い時間、熱にさらされることによって硬化する。この時間は、基板が安全にさらされうるような温度によって変化するが、組成物が可能なかぎりの導電性を獲得するためには1分未満であり、場合によっては、その温度で10秒未満である。
【0035】
銀および金は空気中で硬化されうる。銅および他の非貴金属は、保護された雰囲気を必要とする。約10ppm以下の酸素を含む窒素が銅組成物の加工に適していることが知られている。硬化工程中に水蒸気を添加することは、その前後を問わず、銅組成物の硬化において有用であることが知られている。
【0036】
本発明の組成物は、任意の簡便な印刷技術によって、温度感受性基板上の、導電体を必要とするところにのみ、選択的に塗布されうる。これらはスクリーン印刷、ステンシリング、グラビア印刷、活版(フレキソ)印刷、オフセット印刷、インクジェット印刷、および静電印刷、並びに複写を含む。予期せぬことに、これらの組成物は、加熱により、従来の冶金焼結工程で必要とされた温度より数百度低い温度で数秒で硬化され、よく硬化して、良好に接着した、純金属の導電性トレースとなることがわかった。これは従来の技術に比べ、より速い速度で、より低コストで印刷回路を製造する全く新しい性能である。危険な産業廃棄物を生じるという、従来のフォトリソグラフィ、メッキおよびエッチング工程の特徴は、完全に排除される。
【0037】
図面の簡単な説明
以下の図面を参照することにより、本発明の好ましい実施態様を詳細に説明するが、この際:
図1aは、本発明の銀組成物についての電気抵抗対時間のプロットである。
【0038】
図1bは、本発明の銅組成物についての電気抵抗対時間のプロットである。
【0039】
図2は、本発明の銅トレースの電気抵抗の、硬化雰囲気の酸素含量に対するプロットである。
【0040】
図3は、本発明の銅トレースの電気抵抗の、硬化雰囲気の湿気含量に対するプロットである。
【0041】
図4aは、本発明の組成物および方法の、軟質回路上のパッチ製造への応用を示す模式図である。
【0042】
図4bは、本発明の組成物および方法の、回路トレースの製造とそれらへの構成成分の取付けとを同時に行うことへの応用を示す模式図である。
【0043】
図4cは、本発明の組成物および方法の、光定義誘電性材料(photodefined dielectric materials)により現像される導電性トレースを、簡便にかつ迅速に金属化させるハイブリッド技術への応用の説明である。
【0044】
図5aは、本発明の組成物および方法による、内層の製造方法を示す模式図である。
【0045】
図5bは、本発明の組成物および方法による、完成多層回路の製造方法を示す模式図である。
【0046】
発明の詳細な説明
本発明の組成物は、金属粉末混合物および反応性有機媒体(ROM)からなる。これらの組成物は、温度感受性基板に適用でき、基板に損傷を与えない温度で熱所視することにより硬化し、良く硬化した、良好に接着した回路トレースとなりうる。本発明の組成物は、問題となっている金属のバルク抵抗のたった2〜3倍の抵抗を有する、良く硬化した導電体への変換がそれ以上の温度で起こるような臨界温度を示す。導電性は、従来のセラミック基板上の厚膜組成物において、従来の高温金属粉末焼結により得られるものと等しい。注目すべきことに、この硬化工程は、従来厚膜技術において用いられていた温度よりも400〜500℃低い温度で、さらに、焼結に必要とされるものより桁違いに短い時間内で起こる。
【0047】
適している金属としては、銅、銀、金、亜鉛、カドミウム、パラジウム、イリジウム、ルテニウム、オスミウム、ロジウム、白金、マンガン、バナジウム、ニオブ、鉄、コバルト、ニッケル、クロム、モリブデン、タングステン、レニウム、インジウム、錫、アンチモン、鉛、ビスマス、およびこれらの混合物が挙げられる。
【0048】
一実施態様によれば、金属粉末混合物は、1または2以上の、金属粉末およびコロイド状または半コロイド状金属粉末を含有し、この際、組成物は、約70〜90重量%の金属粉末混合物を含み、残りは反応性有機媒体および適当な印刷特性を得るための流動性調節剤(rheology modifier)である。
【0049】
予期せぬことに、ほぼ球状の金属粉末を含有する混合物は、1999年3月16日に発行された、米国特許第5,882,722号(および1998年8月37日付けの、PCT特許出願WO98/37133号)において好ましい成分として開示されている金属フレークを添加しなくとも、硬化により満足できる電気トレースとなりうることがわかった。前記金属粉末は、0.1〜10ミクロンの外径を有し、好ましくは、約0.05〜0.5μm、0.5〜2μm、および2〜10μmといった1または2以上の粒径範囲を有し、そして好ましくは実質的に球形である。所望の粒径および純度を得るためには、化学沈殿により初期粉末を製造する。
【0050】
本発明の組成物において、前記金属粉末は種々の機能を発揮する。より大きい粒子は、他の成分をともに有する印刷画像において骨格構造を形成し、混合物を硬化させるための加熱の際に解像度が低下するのを防止する。
【0051】
本発明の金属粉末混合物の他の成分は、300nm未満の直径を有するコロイド状または半コロイド状粉末(ナノ粉末)である。前記コロイド状または半コロイド状粉末は、前記金属粉末混合物の全重量に対し約10〜50重量%、好ましくは25〜40重量%存在する。これらの粉末の第1の機能は、組成物を硬化させてほぼ固体の純金属導電体とする温度を低下させることである。金属ナノ粉末の存在は、銀を用いたこの低温工程を進行させるのに役立ち、銅組成物を硬化させるのに不可欠であることがわかっている。前記金属ナノ粉末は、個別粒子として存在することが重要である。この小さな金属粒子は、開骨格構造(open skeletal structure)を有する凝集体に凝集する傾向がある。
【0052】
コロイド金属の所望の程度の分散を達成し、かつ保存するためには、粒子が凝集しないように粒子を安定化させることが必要である。銀粒子の場合には、粒子の表面を被覆して金属と金属との接触を防ぐ界面活性剤の存在によって安定化された。前記粒子がフォーメーションから最終的な硬化への安定化を促進する環境にさらされうるため、これは粉末製造手段としての化学沈殿に有利である。
【0053】
反応性有機媒体(ROM)は、良く硬化した導電体を形成するために金属粉末混合物が共に接着する環境を提供する。多くの種類の有機化合物はROMとして機能しうる。それらが共有し、それらを効果的にする一般的な特徴は、それらがヘテロ原子を経由した金属との結合を有し、または形成しうることである。前記ヘテロ原子は、酸素、窒素、硫黄、リン、砒素、セレン、および他の非金属原子であってもよく、好ましくは酸素、窒素または硫黄である。この結合は、有機部分を共に保持するための結合より弱く、熱的に分解して金属を付着させうる。多くの場合、その反応は可逆的であり、このため、以下に模式的に示すように、酸または他の有機残基が金属有機化合物を再形成するために金属と反応することができる;
【0054】
【化1】
Figure 2004534362
【0055】
ここで、Rは反応性有機化合物であり、Mは金属である。
このような化合物の例は、カルボン酸の石鹸であり、この際、前記ヘテロ原子は酸素であり;アミノ化合物であり、この際、前記ヘテロ原子は窒素であり;およびメルカプト化合物であり、この際、前記ヘテロ原子は硫黄である。
【0056】
好ましいROM成分の具体例は、カルボン酸並びに、銀および銅を有する、ネオデカン酸および2−エチルヘキサン酸の対応する金属石鹸であり、例えば、下記式で表される銀ネオデカノエート:
【0057】
【化2】
Figure 2004534362
【0058】
および、下記式で表される、銀2−エチルヘキサノエート;
【0059】
【化3】
Figure 2004534362
【0060】
が挙げられる。
銅は2価であるため、1分子あたり2つの酸基を有することを除いては、対応する銅化合物についても同様である。
【0061】
これらのROM組成物は、周知の方法によって製造されうる。上記の全ての化合物は、比較的低温でそれぞれの金属へ分解することが可能である。銀ネオデカノエートおよび銀2−エチルヘキサノエート(銀オクトエート)については、その分解温度は200〜250℃の間である。対応する銅化合物については、その分解温度は300〜315℃の間であるが、場合によっては、銅ROMとナノ粉末との相互作用により、硬化温度が実質的に低下しうる。銅および銀化合物は、同じ温度で対応する酸から再形成されうるため、上記のように、その反応は可逆的である。
【0062】
場合によっては、本発明の組成物の印刷特性を改善するために、周知の流動性向上化合物(rheology−enhancing compounds)を添加するのが簡便である。アルファ−テルピネオールは、スクリーン印刷を容易にするため、銅および銀組成物の粘度を減少させるために用いられている。アルファ−テルピネオールはまた、不飽和環に結合したOH基の酸性により、硬化反応に関与する。成分および添加剤を選択することによって、15センチポイズの粘性を有する液体インクから固形粉末へと及ぶ各種の印刷可能な組成物が形成されうることがわかっている。
【0063】
本発明の組成物は、スクリーニング、ステンシリング、グラビア印刷、ディスペンジング、インクジェット印刷により、および乾燥粉末組成物またはトナーを用いて接着パターンを被膜することにより塗布されている。従来の厚膜ペーストの塗布に使用されたようなスクリーン印刷は、評価用サンプルを調製するために最も広く使用されている。およそ500ポイズの粘度を有する組成物は、ゴムスキージーによって、その中に所望の導電体パターンの光定義オープンイメージを有する微細なスクリーンを通過する。この方法によって達成される解像度は、およそ125ミクロン(5ミル)のラインアンドスペースであり、ただしプロダクションスクリーンプリンターは、50ミクロンもの微細なパターンを達成しうる。50ミクロンまでの厚さを有する導電体トレースを印刷したが、テストパターンのほとんどが12ミクロン付近の厚さで、これは0.37オンス/平方フィートの銅と等しい。
【0064】
基板
好ましい基板は、硬質印刷配線板用のFR−4ガラス繊維強化エポキシ積層板、および軟質回路用の被覆ポリイミドフィルムのようなポリマーベース基板である。多くの場合、接着性を向上させ、硬化工程における基板の成分による干渉を防止するために、接着および遮蔽層が基板上に用いられる。このような接着/遮蔽層およびこれらの使用は、ここに参照により組み込まれる、2000年11月7日付けの米国特許第6143,356号(2001年2月15日付けのWO01/10572号に対応)に開示されている。有機接着層は、熱可塑性または熱硬化性のいずれであってもよい。デュポン(DuPont)カプトン(Kapton)(登録商標)KJフィルムは、220〜350℃の温度範囲で軟化して本組成物を接着しうるガラス転移点の低いポリイミドの表面塗膜を有する。ポリアミン酸塗膜は、これらの組成物により金属化し、形成された導電体を絶縁し接着させるポリイミド誘電体に硬化しうる。フォトイメージ可能なエポキシ−アクリレート表面により、硬化後の接着性が向上しうる。デュポンのピラリン(Pyralin)のようなフォトイメージ可能なポリイミドは、銅に対する接着性を向上させ、本発明の銅混合物にちょうど適する硬化条件を有する。
【0065】
金属有機分解性化合物のみを含む銀組成物は、銀メッキもしくは錫メッキされた、またはベンゾトリアジンのような有機ハンダ防護剤で保護された銅表面に接着しうる。ネオデカン酸または他の酸を含有する銀組成物もまた、裸銅に接着しうる。酸を含有する銅化合物は、裸銅によく接着しうる。
【0066】
硬化のための硬化工程および臨界温度
金属有機分解性化合物またはそれが生成する元となる酸が、上記の金属粉末またはフレークおよびコロイド状金属粉末成分と混合され、適当な基板上に比較的薄い層として印刷され、そして前記金属有機分解性化合物の分解温度よりも高い臨界温度まで加熱されると、反応が起こり、緩く凝集していた金属成分が突然硬化し、電気抵抗が著しく低下したほぼ固体状の金属トレースとなる。前記トレースを臨界温度よりも高い温度に加熱すると、電気抵抗がとても急速に減少し、付着物の機械的凝集強度が劇的に上昇し、付着物の外観が変化する。
【0067】
種々の時間、臨界温度よりも高い温度に加熱されたトレースの電気抵抗を、銀については図1aに、銅については図1bに、到達した最高温度をパラメータとして示す。高温では、数秒で抵抗が劇的に減少することがわかる。バルク金属の融点の半分未満の温度における、ほとんど硬化していない金属粒子からほぼ固体状の金属へのこのとても急速な変換が、本発明の特徴である。銀では銅よりも低い温度で反応が起こる。銀の漸近抵抗(asymptotic resistivity)は、バルクの銀の約2倍である。銅については、バルクの約3倍である。
【0068】
金属粉末存在下での金属有機分解の化学
硬化を促進する本発明の組成物のROMと金属粉末成分との間で、驚くべき反応が起こると考えられている。その証拠は2つある:
1)金属粉末の固体状の金属導電体への硬化が極端に速い。
【0069】
2)金属粉末の固体状の金属導電体への硬化が、粉末金属産業および厚膜電子産業において実施されているような、金属粉末から固体状の金属物を形成するための従来の焼結よりも、かなり低い温度で起こる。
【0070】
図1aおよび図1bに示す結果は、従来の焼結または従来の厚膜技術によっては得られなかったものである。焼結は、初期の粒子圧縮体が固形金属体へ転移されるまで、バルク固体拡散(bulk solid diffusion)によって成長するネックが、接触している粒子間で生成する、時間−温度工程である。バルク拡散の活性化エネルギーは、銅、銀、および金で45〜60Kcal/モル(180〜250J/モル)程度である。銅は通常、数トン/平方インチの圧力で、650〜900℃で焼結され、焼結時間は数分から数時間の範囲である(粉末冶金ハンドブック(Handbook of Powder Metallurgy),ヘンリー,H.ハウスナー編集(Henry H.Hausner,Ed,.)、ケミカルパブリッシング株式会社(Chemical Publishing Co,Inc.NY,NY),p164〜167,(1973))。325℃での焼結速度は、通常の厚膜焼結温度である850℃よりも7×10だけ低くなることが予想される。850℃での10分の工程は325℃では1300年かかるだろう。
【0071】
微細に粉砕された金属粉末はバルク金属より高い表面エネルギーを有し、金属粉末が加工されるROM環境下では、金属間の接触および硬化を阻害する表面層が金属粉末にはないのかもしれない。
【0072】
貴金属の表面エネルギーは以下の通りである;
【0073】
【表1】
Figure 2004534362
【0074】
(2次元−表面の化学(Chemistry in Two Dimension−Surface),G.A.Somorj ai,コーネル大学出版(Cornell University,Press)(1981))
銅については、バルク固体を超えた10nmの粒子の過剰な表面エネルギーは、250,000J/モルのバルク拡散のための活性化エネルギーと比較して、たった6800J/モルである。コロイド状金属でさえ、バルク拡散によって硬化するのに十分な表面エネルギーを有しうるとは思われない。
【0075】
表面拡散は、バルク拡散に比べてより低い温度で生じることが知られている。転移温度は表面拡散が迅速である温度よりも高く、この温度は経験上、ケルビン温度で融点の約1/3であることが見出されている(薄膜積層;基礎と実践(Thin film Deposition;Principles and Practices)D.L.スミス,マグローヒル1995 p170)。銀については、この転移温度は138℃であり、このため、硬化が起こることが観察される温度では表面拡散が機能する。しかし、表面工程により、本発明の組成物において金属のバルクを構成する比較的大きな粒子が、どのように結合しうるかを想像することは困難である。
【0076】
これらの知見に対する別の説明は、ROM−金属粉末混合物において、そのとき凝集する新しい金属粒子の沈殿によるのではなく、むしろ:
【0077】
【化4】
Figure 2004534362
【0078】
により粒子が共に結合し、前から存在する金属粒子上に金属有機化合物が直接分解するというものである。金属有機分解物を凝集させるための充分な面積が提供されるほど大きい一方で、有効な金属有機化合物を用いて、金属粒子が共に結合して固体状の付着物となりうるほど小さい、最適な金属の表面積対体積比が存在するようである。前から存在する前もって存在していた金属は、確かに固定骨格を提供し、分解中の、付着金属のひけおよび溶融したROMの拡散を防止しており、さもなければ、鮮明度が低下し、接着性が低下し、さらにトレースが破壊してしまう。
【0079】
本発明の組成物に添加されるコロイド状粒子は、
【0080】
【化5】
Figure 2004534362
【0081】
によってさらなる金属有機物の源となり、「化学溶接」工程により金属粒子を硬化させるために、ROMが表面エネルギーの高い粒子および端(edge)から、低い表面領域の割れ目や表面に金属を輸送しうるメカニズムを提供するのかもしれない。
【0082】
印刷回路板上に高品質の固体金属回路トレースを印刷する性能が、長年にわたって当業者により模索されてきた。この実験は上記に要約されている。オーメット過渡的液相技術は一つのアプローチである。最も広く行き渡っているのは、銀含有および炭素含有エポキシをベースとしたいわゆるポリマー厚膜技術である。これらの方法のうち、本発明の方法により提供される、簡便で迅速な印刷および加熱サイクルにおいて、従来の高温厚膜材料をベースとしたものと等しいトレースを製造しうるものはなかった。
【0083】
金および銀の元素金属は、金属有機成分が分解する温度では安定形であるため、金の混合物および銀の混合物は双方とも、空気中で加熱されうる。しかし銅は、空気中における分解による安定な産物である酸化銅の生成を防止するため、保護雰囲気を使用することが必要である。図2に示すように、約50未満、最も好ましくは10体積ppm未満の酸素を含む窒素雰囲気が適していることがわかった。図3に示すように、約3%の量の水蒸気を添加すると、得られる付着物の導電性を改善するのに有効であることが示された。
【0084】
本発明の組成物を用いた印刷工程
ポリマー厚膜およびポリマーの金属化
ポリマー厚膜技術においては、印刷可能な混合物を作製するために、ポリマー接着剤中に炭素または金属の粉末またはフレークの混合物を使用するが、主にエポキシである。これらはポリマー基板に塗布され、厚膜インクおよびペーストが高温でセラミックおよびガラス基板に塗布されるのと同じ方法で、導電体パターンを作製するために、176℃までの温度で硬化される。
【0085】
ポリマー金属化は、デスクトップコンピューターの筐体のようなポリマー部品上に導電体層を作製するために使用されるが、通常は電気的遮蔽のためである。そのうえ、炭素または金属粒子は、塗料または他の有機塗膜材料中に懸濁される。
【0086】
一般に、炭素塗膜は金属ベースの塗膜よりも実質的に導電性が低い。50〜60マイクロオーム−cmという低い抵抗率を有する銀フレーク含有エポキシが最適である。金属含有エポキシが達成しうる導電性が十分ではない応用例がある。さらに、従来のポリマー厚膜材料は、導電性が付与される原因となる個々の銀フレーク間の偶発的な接触の抵抗が変化するため、長期間にわたり安定とは限らない。かかる劣化においては、機械的応力、熱膨張および腐食がその原因となりうる。
【0087】
本発明は、ポリマーベースの基板が耐えうる温度で硬化することができ、一方で純金属に匹敵し、最適なポリマー厚膜より少なくとも10倍大きい導電性を提供しうる、従来のポリマー厚膜組成物に代わる手段を提供する。
【0088】
本発明の組成物は、任意の従来の印刷工程によって、接着剤被覆ポリマー基板へ塗布されうる。
【0089】
印刷可能な金属化化合物の利点は、金属箔を用いる場合には不可能であり、スパッタリングした、または積層した金属では非常に難しい、3次元物質が金属化されうるということである。
【0090】
フレキシブル回路パッチ
多くの場合、間違いを修正するため、変更を実施するため、または完全な多層回路の製造費をかけずにデザインを完成させるために、現存する印刷回路に回路トレースを加えることが望ましい。これは、通常そうであるように、特にトレースが他のトレースと交差している場合には、従来の手段により行うことは難しい。本発明は、ほとんどのフレキシブルおよびリジッド印刷回路上の最終被膜として使用されるポリマー被膜層またはハンダマスク上に、追加のトレースを印刷するための、簡便で安価な方法を提供する。露出した金属端子パッドを結合している追加の回路トレースは、ポリマー表面に印刷され、ポリマー成分が耐え得る温度で加熱することにより硬化して、固体金属となる。この方法はまた、回路のアセンブリを完成させる目的で、新規の金属パッドを製造し、および従来のパッドに構成成分を接着させるために用いられうる。高い解像度を有する導電体トレースを定義するためにフォトレジストが用いられ、導電体それ自身が、本発明の混合物を印刷し加熱することにより導入される、ハイブリッド技術が用いられうる。その工程を図4aに模式的に示す。
【0091】
熱処理工程は、ハンダ付けにとても類似した条件下で、類似の装置により行われる。交差トレースの硬化および構成成分の取り付けを組み合わせることにより、さらなるコストの節約が実現されうる。これは、図4bに示すように、構成成分を回路上に取り付けるための取り付けパッド上にさらなる材料を印刷し、印刷またはディッピングにより、構成成分を、必要であれば追加の材料を前記構成成分自体に添加して、硬化していない材料上に設置し、そして、追加のトレースを硬化および接着させると同時に、構成成分を回路に接着させる目的で、アセンブリを熱処理することにより達成される。
【0092】
高解像度回路トレースの最終段階を達成するために、現在開示されている技術は、ハイブリッド技術を形成する目的で、図4cに示すように、光感受性材料と組み合わされうる。光感受性レジストまたはハンダマスクは、回路表面に塗布され、非常に繊細でありうる、導電体トレースの所望のパターンに露光される。そのネガティブイメージは、通常の方法で現像され、重合しなかった、露光されなかった材料を洗い流す。本発明の混合物は、印刷またはドクターブレーディングによって、回路トレースへ塗布される。上記のように、構成成分は、必要であればこの段階で設置されて回路トレースを形成し、同時に、回路を形成する。回路はオーブン中で加熱処理され、混合物は硬化し、レジストまたはハンダマスクは完全に重合して、不融性かつ不溶性の誘電体となる。完成した回路を保護するために、ハンダマスクまたはポッティング化合物のさらなる層が、通常の方法により塗布されうる。
【0093】
印刷回路内層
現在の印刷回路のほとんどは、二つの表面上の構成成分用の取り付けパッド、および薄い内層上の回路接続のバルクを有する多層構造である。前記内層は、多層回路を完成させるために、二つの表面層間にラミネートされる。内層は、外層並びに従来の片面、両面印刷配線盤と同様の技術により製造される。内層基板は、従来のガラス繊維強化エポキシFR−4材料と類似しているが、ずっと薄い。シングルストランドのガラスが、左右に横切り、そして電位ショート回路パスとして作用することを回避するためには、通常、ガラス繊維の二つの層を使用するということによりその最小値は規定され、約0.004インチの厚さである。エポキシガラスは、エッチングおよび/またはメッキにより導電体を製造するために、片面または両面が銅箔によりラミネートされる。
【0094】
内層を完成させるために、銅クラッド基板を、乾燥フィルムレジストに積層し、または液状レジストで被覆する。次いで、通常はアクリル−エポキシ混合物であるレジストを部分的に重合させるために、紫外線に露光させる。ネガティブイメージを現像するために、弱い腐食剤または溶媒により洗浄し、露光していないレジストを除去する。次いで、強い腐食剤により除去されたレジストによって保護されていた回路トレースを残すために、露光された銅をエッチングすることにより、イメージを回路に変換させる。代わりの方法としては、露光された銅上に銅を、続けて錫−鉛エッチレジストを電気メッキし、ポリマーレジストを除去し、さらに、保護されていないオリジナルの銅箔をエッチングにより除去するというものである。
【0095】
完成した内層は積層され、この積層体は、外側に外層を有し、さらにB−ステージエポキシ樹脂を含浸させた2層のガラスクロスである「プリプレグ」インターリービングシートを有する。次にその積層体は、通常400psi、350°Fで1時間、ラミネーティングプレスにより硬化する。連行空気を除去し、品質を改善するために、真空プレスがよく用いられる。
【0096】
内層の製造は、時間を消費し、費用が高い工程であるように見える。レジストは、平方フィートにつき約1.00ドルかかり、ラミネート工程は、露光と同様に厄介である。基板にラミネートされる銅箔のコストは、平方フィートにつき3ドル程度であり、その多くはエッチングにより除去される。現像段階は、時間を消費し、危険な廃棄物を生じる。エッチング段階には、レジスト除去工程と同様の問題がある。コストに加算されるが個別に説明されていない、膨大な中間リンスおよび洗浄工程が存在する。アメリカ合衆国の業界全体における平均的な層数は約7層である。多層回路の多くは、20またはそれ以上の層を有する。内層の製造が主要な費用であるように見える。アメリカ合衆国における製造の総計は、年間あたり、内層で10億平方フィートである。
【0097】
本発明の組成物および方法は、非常に迅速かつ経済的に内層を製造しうる、単純な印刷および加熱技術により、この複雑さに取って代わる。内層の材料は、イメージを回路導体に変換させるために、簡便に除去され、印刷され、そしてオーブン中で熱処理される。印刷された層は、次いで、通常の方法によりラミネートされる。
【0098】
さらに大規模に節約し、製造速度を向上させるため、導電体パターンは、図5aに示すように、高解像度である点以外は新聞を印刷するのと同様に、ロータリープレスにより基板の連続したウェブに塗布される。この応用としてグラビア印刷が用いられうる。オフセット印刷もまた非常に高い解像度を達成しうる。高速度のインクジェット印刷および静電印刷も候補である。印刷段階に続いて、回路をオーブン中で、やはり連続ウェブとして硬化させる。この概念を実現するためには、これらの混合物が数秒で硬化し、固体金属となる能力が重要である。工程時間が長くなると、プレスに比べてオーブンが不相応に大きくなり、高速印刷の速度の利点のほとんどが浪費される。
【0099】
次いで、各層は切り放され、通常の方法によりラミネートされる。長い期間、非常に多くの量を製造するためには、単一のオーブン中で硬化し、おそらくフライ上でダイをサイズに切断する前にラミネートされる内層を同時に反転させる多層ロータリープレスをさらに用いて、新聞類似体を押し出す。層間の空気を追い出し積層体を接着させるために、ラミネーションは、熱い、硬化した内層を熱いプリプレグを用いて挟み、それらをロール間で加圧することにより行われる。冷却後、それぞれの回路をつくるために積層体を切り離す。さらに費用のかからないアプローチは、プリプレグを用いずに積層体をラミネートするために、片面内層の裏面上に接着剤を用いるというものである。この工程は、図5bに模式的に示す。
【0100】
ダイレクトチップアタッチおよびTAB接着
現在、電子パッケージング技術の最先端は、集積回路(IC)の印刷配線板(PWB)への直接取り付けである。ICをパッケージングする従来法においては、それらをセラミックまたはプラスチックチップ担体へ固定し、IC上の個々の入力/出力パッドを金属リードフレーム上の個々のピンにワイヤーボンディングする。次いで、ICをプラスチックまたはセラミックに入れ、保護のために蓋で覆う。リードはフレームから分離し、ソケットへの挿入のために、またはPWB上のパッドに直接ハンダ付けされるために、折り曲げられて成型される(表面取り付け技術)。
【0101】
これらのパッケージおよびワイヤーの接着操作は費用が高く、パッケージされた半導体はICそれ自身の数倍の時間がかかる。より小さい装置およびより低いコストのための強い圧力を受けて、パッケージを除去し、PWBに直接ICを結合する強い動機がある。中間段階は、次にPWBに接着されうるリードフレームへICを接着させることにより、パッケージおよびワイヤーボンディング操作に取って代わる。問題となるリードフレームは、連続ポリイミドテープ上に金属ラミネートをエッチングすることにより製造されるため、この技術はテープ自動接着(TAB:Tape Automated Bonding)と称される。
【0102】
いくつかのチップオンボード(COB)直接取り付けは、PWB上のパッドにICをワイヤーボンディングすることにより行われるが、これは、形式的で信頼できる反面、費用が高く時間を消費する。TAB接着およびより進んだCOB適用は、双方ともに、添加された金属をIC上のパッドに「バンピング(bumping)」すること、およびテープまたはPWB上の対になったパッドに、そのバンプをハンダ付けすることにより接着される仲間である。バンピング工程それ自体は、フォトリソグラフィ技術を用いて真空下で多数の金属層を積層することにより行われるため、時間を消費し、費用が高い。50ミクロン(0.002インチ)のラインアンドスペースを有するサブトラクティブエッチング技術の分離能にあるため、テープまたは回路パッドの調製は費用がかかる。そのテープはさらに加工され、非常に微細に残っているポリマー、およびそれぞれがパッドに結合しうるICの方向を指しているもろい金属フィンガーが除去される。単一の操作で、ICがPWBまたはポリイミドテープ上のトレースに一組に接着されうる技術によれば、極めて単純化され、コストが削減されうる。本発明の組成物は、同時にかつ確実に作製された全ての配線を有する基板にICを固定するための結合剤として作用する目的で、ICおよび/またはポリマーベースの基板に塗布されうる。
【0103】
IC上のパッドは、かつてはほとんど全てがアルミニウムでつくられていたが、これはシリコン半導体に適しており、良好な導電体で、エバポレーションまたはスパッタリングにより簡便かつ経済的に塗布される。アルミニウムは、アルミニウム表面を酸化および腐食から保護する、非常に強固な自然の酸化物により、接着させるのが容易ではない。確実に接着させるために、ワイヤーボンディングおよびチップバンピングはこの障害を克服しなければならない。ワイヤーボンディングの場合、通常は超音波撹拌により機械的に酸化物被膜を破壊し、金をアルミニウムに冷間溶接することによって、接続は0.001インチ直径の金ワイヤーの末端上に形成された球につくられる。チップバンピングの場合、チタニウム−タングステン合金のような中間接着金属の層がスパッタリングにより積層され、アルミニウムと接触し、シリコンに有害なバンプの材料からそれを隔離する。銅またはハンダバンプ材料に加えて、他の層が添加される。これら全ての操作においてはフォトリソグラフィによるマスキングが必要であり、極めて高価である。多くの場合には、チップをその後の工程から保護する目的で、パッド以外の全てを被覆することによりチップの表面にポリイミド絶縁層が塗布される。
【0104】
つい最近、1997年のIBMによる紹介、IBM Research Magazine,Vol.35,No.4(1997)に従って、チップ上への最終的な金属化のために銅の金属化がますます用いられている。この応用における銅の利点は、アルミニウムよりも優れた導電性であるが、チップを簡便にかつ低コストでバンプし接着させるために、本発明の混合物を用いることも可能である。
【0105】
以下に、本発明の組成物をチップに塗布するための2つの方法を示す:
方法1
1)組成物を、硬化後に所望のバンプ高さが得られる厚さで、銅パッド上に印刷する。
【0106】
2)組成物を硬化させて、固体金属バンプを製造する。
【0107】
方法2
1)現在行われているように、フォトパターン化されたポリイミドまたは他の誘電絶縁層をチップ表面に添加する。
【0108】
2)組成物にスクイージをかけるか、または組成物を印刷して、バンプを製造する。
【0109】
3)従来通りに硬化させる。
【0110】
4)表面を化学的−機械的に研磨して、平坦化させ、過剰の金属を除去する。
【0111】
本発明の組成物は、任意の簡便な印刷工程によって、ICに塗布されうる。スクリーン印刷導電体イメージによる試験がされている。混合物は、ステンシリングおよびインクジェット印刷によってもまた塗布されている。グラビア印刷は、直接およびオフセットの双方とも、微細なラインイメージを作製するのに用いられうる。オフセットおよびリソグラフィ法も用いられうる。
【0112】
本発明のバンプされたチップは、金属回路トレースに適合するポリイミドテープまたはPWBのいずれかに取り付けられなければならない。このようなトレースは、高い解像度を有する簡便な印刷および加熱工程による本発明の方法により製造されうる。ICに適用できないポリマーフィルムに対しては、さらなる印刷工程が適用される。特に、静電的な方法(ゼログラフィー)が可能であり、インクジェット印刷と同様に、CADファイルから直接、導電体パターンを起こすことが可能である。これにより、デザインにおいて、並びに小規模の製造および在庫管理において、多大な柔軟性が提供される。
【0113】
可能である最高の解像度はフォトリソグラフィ技術によって提供され、誘電体が鮮明にパターン化され、本発明の組成物が溝に印刷されまたはドクターブレードにより塗布されるハイブリッド技術は、TABおよび直接取り付け用の非常に微細な導電体パターンを作製するための、非常に信頼性が高く確実な方法である。
【0114】
次に最も高い解像度は、数ミクロンの粒子直径を有する液状トナー懸濁液を用いた静電印刷により提供されうる。S.P.シュミット(S.P.Schmidt)等の「イメージング材料便覧」、第5章、pp227−252、A.S.ダイモンド編集(A.S.Daimond,Ed.),マーセル デッカー(Marcel Dekker,NY))。
【0115】
ICおよび基板の印刷に続いて、結合工程は種々の方法で実行されうる。
【0116】
1)接触面の両方のセットは硬化され、追加の組成物はその上に印刷され、ハンダ付けと同様に再加熱されうる。(ハンダはまた、現在行われているように使用されるが、本発明の組成物は、フラックスの除去段階を必要とせず、および敏感な半導体接触面に外来の金属を導入しないという利点により、優れた解決策を提供する。)
2)接触面の一つのセットは加熱処理され、他方は接着を達成するための再加熱の前に、前記第一のセットに印刷および接着されうる。
【0117】
3)接触面の一つのセットのみが印刷され、他の構成成分は、塗布および接着を同時に達成するための加熱処理前に前記第一のセットに接着される。
【0118】
印刷に続き、オーブン中で加熱することによりイメージを金属に転換させる。
【実施例】
【0119】
下記の実施例により、好ましい組成物の個々の構成成分およびそれらを塗布するための条件が、所望の結果を提供するためにどのように機能するかが示される。この実施例は、本発明の特徴をさらに説明するためのものであり、添付の特許請求の範囲のみにより定義される本発明の範囲を制限するものとして解釈されるべきではない。
【0120】
実施例1
52重量部の、325メッシュ球状銅粉末(セラック(Cerac)C−1241と、30重量部の、2〜3μm球状銅粉末(セラックC−1229)と、8重量部の、ヒドラジン水和物を用いてエチレングリコール中の酢酸銅を還元することにより調製された(周知のグリコール合成)約0.1μmの平均直径を有するコロイド状銅粉末と、10重量部の、ネオデカン酸(エクソンケミカル プライムグレード(Exxon Chemical Prime Grade))と、の混合物を調製した。前記混合物を、窒素グローブボックス中で合わせて、手動で混合した。前記混合物を、空気中でロール粉砕し、均一なインクを調製した。前記インクを、空気中、室温で、デュポン カプトン(登録商標)ELJ誘電体基板上にスクリーン印刷した。N−HO−H雰囲気中、ベルト炉のホットゾーンで330℃で6〜10分間、トレースを加熱処理した。
【0121】
加熱後、構成成分を手で触ると乾燥しており、有機成分は完全に除去されていた。IPC試験法2.5.13により測定した光沢のある銅回路の電気抵抗は、バルクの銅が0.15g−Ω/mであるのに対して、0.41g−Ω/mであった。基板に対する銅の接着強さを測定するために、スコッチテープを回路トレースに貼付し、すぐに90°の角度で剥がした。テープにより金属は除去されなかった。
【0122】
実施例2
72重量部の、2〜3μmの直径を有する球状銅粉末(セラックC−1229と、16重量部の、ヒドラジン水和物を用いてエチレングリコール中の酢酸銅を還元することにより調製された約0.1μmの平均直径を有するコロイド状銅粉末と、12重量部の、ネオデカン酸(エクソンケミカル プライムグレード(Exxon Chemical Prime Grade))と、の混合物を調製した。前記混合物を、グローブボックス中で合わせて、手動で混合した。前記混合物を、空気中でロール粉砕し、均一なインクを調製した。前記インクを、空気中、室温で、デュポン カプトン(登録商標)ELJ誘電体基板上にスクリーン印刷した。N−HO−H雰囲気中、ベルト炉のホットゾーンで330℃で6〜10分間、トレースを加熱処理した。
【0123】
加熱後、構成成分を手で触ると乾燥しており、有機成分は完全に除去されていた。IPC試験法2.5.13により測定した光沢のある銅回路の電気抵抗は、0.47g−Ω/mであった。基板に対する銅の接着強さを測定するために、スコッチテープを回路トレースに貼付し、すぐに90°の角度で剥がした。テープにより金属は除去されなかった。
【0124】
実施例3
57重量部の、0.5μmの直径を有する球状銅粉末(カナディアン エレクトロニック パウダーズ コーポレイション セントローレンス ケベック、カナダ、Cu−0500)と、23重量部の、ヒドラジン水和物を用いてエチレングリコール中の酢酸銅を還元することにより調製された約0.1μmの平均直径を有するコロイド状銅粉末と、20重量部の、ネオデカン酸(エクソンケミカル プライムグレード(Exxon Chemical Prime Grade))と、の混合物を調製した。前記混合物を、グローブボックス中で合わせて、手動で混合した。前記混合物を、空気中でロール粉砕し、均一なインクを調製した。前記インクを、空気中、室温で、デュポン カプトン(登録商標)ELJ誘電体基板上にスクリーン印刷した。N−HO−H雰囲気中、ベルト炉のホットゾーンで330℃で6〜10分間、トレースを加熱処理した。
【0125】
加熱後、構成成分を手で触ると乾燥しており、有機成分は完全に除去されていた。IPC試験法2.5.13により測定した光沢のある銅回路の電気抵抗は、0.47g−Ω/mであった。基板に対する銅の接着強さを測定するために、スコッチテープを回路トレースに貼付し、すぐに90°の角度で剥がした。テープにより金属は除去されなかった。
【0126】
実施例4
11重量部の、325メッシュ球状銅粉末(セラック(Cerac)C−1241)と、31重量部の、2〜3μm球状銅粉末(セラックC−1229)と、12重量部の、0.5μm球状Cu粉末(カナディアン エレクトロニック パウダーズ コーポレイション セントローレンス ケベック、カナダ、Cu−0500)と、26重量部の、ヒドラジン水和物を用いてエチレングリコール中の酢酸銅を還元することにより調製された約0.1μmの平均直径を有するコロイド状銅粉末と、20重量部の、ネオデカン酸(エクソンケミカル プライムグレード(Exxon Chemical Prime Grade))と、の混合物を調製した。
【0127】
前記混合物を、窒素グローブボックス中で合わせて、手動で混合した。前記混合物を、空気中でロール粉砕し、均一なインクを調製した。前記インクを、空気中、室温で、デュポン カプトン(登録商標)ELJ誘電体基板上にスクリーン印刷した。N−HO−H雰囲気中、ベルト炉のホットゾーンで330℃で6〜10分間、トレースを加熱処理した。
【0128】
加熱後、構成成分を手で触ると乾燥しており、有機成分は完全に除去されていた。光沢のある銅回路の電気抵抗(IPC TM 2.5.13)を測定すると、0.45g−Ω/mであった。基板に対する銅の接着強さを測定するために、スコッチテープを回路トレースに貼付し、すぐに90°の角度で剥がした。テープにより金属は除去されなかった。
【0129】
実施例5
25.0gの、球状銀粉末(テクニック,インコーポレイテッド(Technic,Inc.)、0.6ミクロンの平均直径)と、3.1gの、アンモニウムネオデカノエートおよび硝酸銀から合成された銀ネオデカノエートと、5.4gの、ネオデカン酸(エクソンケミカル プライムグレード(Exxon Chemical Prime Grade))と、を有する混合物を、2−ロールミル中で30分間粉砕した。
【0130】
得られた銀インクを用いて、デュポン カプトン(登録商標)Hポリイミド基板上に、600のスクエアサーペンタイン(square serpentine)テストパターンをスクリーン印刷した。サンプルを、空気雰囲気中でリフロー炉中を通過させ、18分超の時間をかけて、240℃まで加熱した。得られた23.7cmの長さの銀トレースは、2.35Ωの抵抗を有していた。デクタック(Dektak)IIA側面計を用いて、トレースの断面積を測定したところ、1×10−4cmであった。抵抗は、バルクの銀が1.59μΩ−cmであるのに対して、9.9μΩ−cmまたは3.9mΩ/sq/milと算出された。
【図面の簡単な説明】
【0131】
【図1a】図1aは、本発明の銀組成物についての電気抵抗対時間のプロットである。
【図1b】図1bは、本発明の銅組成物についての電気抵抗対時間のプロットである。
【図2】図2は、本発明の銅トレースの電気抵抗の、硬化雰囲気の酸素含量に対するプロットである。
【図3】図3は、本発明の銅トレースの電気抵抗の、硬化雰囲気の湿気含量に対するプロットである。
【図4a】図4aは、本発明の組成物および方法の、軟質回路上のパッチ製造への応用を示す模式図である。
【図4b】図4bは、本発明の組成物および方法の、回路トレースの製造とそれらへの構成成分の取付けとを同時に行うことへの応用を示す模式図である。
【図4c】図4cは、本発明の組成物および方法の、光定義誘電性材料(photodefined dielectric materials)により現像される導電性トレースを、簡便にかつ迅速に金属化させるハイブリッド技術への応用の説明である。
【図5a】図5aは、本発明の組成物および方法による、内層の製造方法を示す模式図である。
【図5b】図5bは、本発明の組成物および方法による、完成多層回路の製造方法を示す模式図である。

Claims (22)

  1. 基板上に塗布され、オーブン中で加熱されて、約450℃未満の温度で硬化し、固体純金属導電体となりうる、反応性有機媒体および金属粉末混合物を含む物質の組成物。
  2. 前記反応性有機媒体は、金属有機分解性化合物、前記金属粉末混合物と反応して前記金属有機分解性化合物を生じうる反応性化合物、およびこれらの混合物からなる群から選択される、請求項1に記載の組成物。
  3. 前記反応性有機媒体は、各々が異なる分解温度を有する1以上の反応性有機化合物から構成され、前記反応性有機媒体は、前記反応性有機化合物のそれぞれと異なる分解温度を有する、請求項1に記載の組成物。
  4. 前記金属粉末混合物は、約0.3μm未満の平均直径を有するコロイド状金属粒子から構成される、請求項1に記載の組成物。
  5. 前記金属粉末混合物は、0.3〜1.0μmの平均粒子径を有する微細な金属粉末から構成される、請求項1に記載の組成物。
  6. 前記金属粉末混合物は、50〜85重量%の、約0.3〜1.0μmの直径を有する金属粉末と、15〜50重量%の、約0.3μm未満の平均直径を有するコロイド状金属粒子とから構成される、請求項1に記載の組成物。
  7. 前記金属粉末混合物は、50〜85重量%の、1〜10μmの直径を有する金属粉末と、15〜50重量%の、0.3μm未満の平均直径を有するコロイド状金属粒子とから構成される、請求項1に記載の組成物。
  8. 前記金属粉末混合物は、50〜85重量%の、2〜50μmの直径を有する金属粉末と、15〜50重量%の、0.3μm未満の平均直径を有するコロイド状金属粒子とから構成される、請求項1に記載の組成物。
  9. 前記金属粉末混合物は、
    約50重量%の、1〜10の直径を有する金属粉末;
    約30重量%の、0.3〜1.0μmの直径を有する金属粉末;および
    約20重量%の、0.3μm未満の平均直径を有するコロイド状金属粒子
    から構成される、請求項1に記載の組成物。
  10. 前記金属粉末混合物は、
    約50重量%の、2〜50μmの直径を有する金属粉末;
    約30重量%の、1〜10μmの直径を有する金属粉末;および
    約20重量%の、0.6μm未満の平均直径を有するコロイド状金属粒子
    から構成される、請求項1に記載の組成物。
  11. 前記金属粉末混合物は、
    約15重量%の、2〜50μmの直径を有する金属粉末;
    約40重量%の、1〜10μmの直径を有する金属粉末;
    約15重量%の、0.3〜1.0μmの直径を有する金属粉末;および
    約30重量%の、0.3μm未満の平均直径を有するコロイド状金属粒子
    から構成される、請求項1に記載の組成物。
  12. 前記金属は、銅、銀、金、亜鉛、カドミウム、パラジウム、イリジウム、ルテニウム、オスミウム、ロジウム、白金、マンガン、バナジウム、ニオブ、鉄、コバルト、ニッケル、クロム、モリブデン、タングステン、レニウム、インジウム、錫、アンチモン、鉛、ビスマスおよびこれらの混合物からなる群から選択される、請求項1に記載の組成物。
  13. 段階:
    A)導電体前駆体を、パターンとして基板上に塗布すること;
    B)パターン化された前記前駆体を有する前記基板を、オーブン中で約450℃未満の臨界温度まで約5分未満の間加熱すること;を含み、
    この際、塗布された前記導電体前駆体のパターンは、硬化して接着した純金属導電体に変換し、
    さらに前記導電体前駆体は、反応性有機媒体および金属粉末混合物を含む、
    基板上の固体純金属導電体の製造方法。
  14. 前記導電体前駆体は、スクリーン印刷、ステンシル印刷、グラビア印刷、凸版印刷、オフセット印刷、リソグラフィ印刷、ディスペンシング、ドクターブレーディング、インクジェット印刷、ゼログラフィ複写および静電印刷からなる群から選択される技術により前記基板上に塗布される、請求項13に記載の方法。
  15. 前記導電性前駆体は、銅ベースの組成物であり、オーブン雰囲気は、20体積ppm未満の酸素を含む窒素である、請求項13に記載の方法。
  16. 前記導電体前駆体が加熱される期間である、段階B)の間、窒素に対して約5モル%の水蒸気が添加されるが、この加熱段階の前後には添加されない、請求項13に記載の方法。
  17. 前記基板は、温度感受性ポリマーを含有する、請求項13に記載の方法。
  18. 前記基板は、温度感受性半導体を含有する、請求項13に記載の方法。
  19. 前記導電体前駆体は、導電体間に電気接続を形成するために、金属導電体および誘電性絶縁体に塗布される、請求項13に記載の方法。
  20. 前記導電体前駆体は、段階A)において、導電体となるべきチャンネルを規定するためにフォトリソグラフィによりパターン化されたフォトイメージ可能な誘電性材料に塗布され、これにより、ドクターブレーディングまたは印刷により前記チャンネルは前記導電体前駆体により満たされ、
    さらに、段階B)の加熱により、前記誘電性材料を架橋させると同時に、塗布された前記導電性前駆体のパターンを硬化させる、請求項13に記載の方法。
  21. 前記導電体前駆体は、段階A)において、基板材料の連続ウェブに塗布され、段階B)において、オーブン中で連続ウェブとして硬化し、さらに、段階:
    C)前記基板材料の連続ウェブを切断して最終製品とすること
    を含む、請求項13に記載の方法。
  22. 前記導電体前駆体は、半導体素子に塗布され、前記半導体表面上に導電性トレースおよびバンプが作製される、請求項13に記載の方法。
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