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JP2004129419A - Operation method of inrush current prevention circuit and inrush current prevention circuit - Google Patents

Operation method of inrush current prevention circuit and inrush current prevention circuit Download PDF

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JP2004129419A
JP2004129419A JP2002291647A JP2002291647A JP2004129419A JP 2004129419 A JP2004129419 A JP 2004129419A JP 2002291647 A JP2002291647 A JP 2002291647A JP 2002291647 A JP2002291647 A JP 2002291647A JP 2004129419 A JP2004129419 A JP 2004129419A
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fet
voltage
time constant
circuit
inrush current
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Masashi Uchida
内田 雅司
Toshio Ozawa
小澤 俊雄
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SPC Electronics Corp
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SPC Electronics Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To control rush current to a specified value and to reduce the resistance value of an FET to a required value within a short time. <P>SOLUTION: A method of operating a rush current preventing circuit includes the steps of inserting the FET, in series with a load having capacitive characteristics, changing a gate voltage of the transistor by a time constant change voltage by a time constant circuit, and preventing the rush current, by gradually changing conducting current of the transistor by the change of the gate voltage of the transistor. In this method, the starting voltage of the time constant change voltage of the time constant circuit is substantially brought into agreement with a highest gate voltage which will not energize the FET. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、突入電流防止回路の動作方法および突入電流防止回路に関し、さらに詳細には、スイッチング電源などの電源装置における突入電流を防止するための突入電流防止回路の動作方法および突入電流防止回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、スイッチング電源などの電源装置における突入電流を防止するための回路として、種々の突入電流防止回路が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
【0003】
【特許文献1】
特開平11−353038号公報
図6には、こうした従来の突入電流防止回路の回路構成説明図が示されている。
【0004】
この図6に示す回路構成は、直流電源100と、スイッチ(SW)102と、容量性特性を持った負荷たる容量性負荷104と、突入電流防止回路106とを有して構成されている。
【0005】
ここで、容量性負荷104を示すにあたっては、容量成分と負荷成分とを分離し、容量成分(C)104aのみを負荷成分(LOAD)104bの外に並列に記して示している。
【0006】
また、突入電流防止回路106は、電源の入力ラインに容量性負荷104と直列に接続されたN型MOS−FET(以下、単に「FET」と称する。なお、「FET」は、「Field Effect Transistor(電界効果トランジスタ)」を意味する。)(Q1)106aと、FET106aのゲート電圧を充電電圧により制御するコンデンサ(C1)106bと、コンデンサ106bとでCR時定数回路を構成する抵抗(R1)106cと、放電抵抗である抵抗(R2)106dとを有して構成されている。
【0007】
ここで、この図6に示す回路構成において、突入電流防止回路106が設けられていないと仮定すると、容量性負荷104の容量成分104aの存在のために、電圧源の低い抵抗を通して突入電流が流れる。
【0008】
ところが、図6に示すように突入電流防止回路106が設けられていると、スイッチ102を入れた直後においては、FET106aは高抵抗であるので電流が流れることはないが、コンデンサ106bと抵抗106cとにより構成されるCR時定数回路の時定数で変化する時定数変化電圧により、FET106aのゲート電圧が変化して次第に高くなり、FET106aの抵抗が次第に小さくなる。これにより、FET106aの導通電流が変化して次第に大きくなり、徐々に容量性負荷104に電源電圧がかけることになって、電源投入時における突入電流が防止される。
【0009】
なお、抵抗106dは、FET106aのゲートに最終的にかかるゲート電圧を、抵抗106cとの分圧で決めるための抵抗である。
【0010】
しかしながら、上記したような従来の突入電流防止回路の回路構成においては、変化するFETのゲート電圧の極く一部の変化領域において、FETのドレイン−ソース間電流が大きく変化する。
【0011】
このため、時定数回路たるコンデンサと抵抗とにより構成されるCR時定数回路の時定数が十分に大きくないと、突入電流を規定値以下にできないという問題点があった。
【0012】
一方、こうした問題点を解決するために、時定数回路たるコンデンサと抵抗とにより構成されるCR時定数回路の時定数を十分に大きくすると、FETの抵抗値が必要な値に下がるまでに時間がかかりすぎるという新たな問題点を招来することとなっていた。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記したような従来の技術の種々の有する問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、突入電流を規定値に抑えることができるとともに、短時間のうちにFETの抵抗値を必要な値まで低下することを可能にした突入電流防止回路の動作方法および突入電流防止回路を提供しようとするものである。
【0014】
換言すれば、本発明の目的とするところは、従来の突入電流防止回路ならびにその動作方法を改良して、突入電流防止回路の収束時間を短縮化しようとするところにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明による突入電流防止回路の動作方法および突入電流防止回路は、従来の突入電流防止回路における時定数回路による時定数変化電圧の初期変化の段階では、FETが導通状態ではないことに鑑み、こうしたFETが導通状態ではない間の時定数変化電圧の変化をスキップして(飛ばして)、FETが導通しない最大の電圧を初期値として時定数変化電圧を変化させるようにしたものである。
【0016】
また、本発明による突入電流防止回路の動作方法および突入電流防止回路は、時定数回路による時定数変化電圧の変化の最終段階においても、時定数変化電圧の変化速度が遅くならないようにするために、時定数回路による時定数変化電圧の最終到達電圧がFETのゲートに印加する最終電圧より大きくなるようにするとともに、FETのゲートに実際に印加される電圧は、FETのゲートに印加する最終電圧までとなるようにツェナーダイオードで制限するようにしたものである。
【0017】
また、本発明による突入電流防止回路の動作方法および突入電流防止回路は、FETの僅かなゲート電圧変化によりドレイン−ソース間電流が大きく変化する範囲において、当該ゲート電圧変化速度を抑えるようにするために、負帰還をかけるようにしたものである。
【0018】
即ち、本発明のうち請求項1に記載の発明は、容量性特性を持った負荷と直列にFETを挿入し、時定数回路による時定数変化電圧により上記FETのゲート電圧を変化させ、上記FETのゲート電圧の変化により上記FETの導通電流を次第に変化させることによって突入電流を防止する突入電流防止回路の動作方法において、上記時定数回路の時定数変化電圧の開始電圧を、上記FETが導通しない最大のゲート電圧と略一致させるようにしたものである。
【0019】
また、本発明のうち請求項2に記載の発明は、容量性特性を持った負荷と直列にFETを挿入し、時定数回路による時定数変化電圧により上記FETのゲート電圧を変化させ、上記FETのゲート電圧の変化により上記FETの導通電流を次第に変化させることによって突入電流を防止する突入電流防止回路において、上記時定数回路に直列に挿入した抵抗を有し、上記抵抗の抵抗値に応じて零でない一定値を開始電圧とする時定数変化電圧により、上記FETのゲート電圧を変化するようにしたものである。
【0020】
また、本発明のうち請求項3に記載の発明は、容量性特性を持った負荷と直列にFETを挿入し、時定数回路による時定数変化電圧により上記FETのゲート電圧を変化させ、上記FETのゲート電圧の変化により上記FETの導通電流を次第に変化させることによって突入電流を防止する突入電流防止回路において、上記FETのゲート電圧を制限するツェナーダイオードを有し、上記時定数回路の時定数変化電圧の最終到達電圧が上記FETのゲートに印加する最終電圧より大きくなるように、上記時定数回路を設定し、上記時定数回路の時定数変化電圧により変化する上記FETのゲート電圧を、上記ツェナーダイオードにより制限するようにしたものである。
【0021】
また、本発明のうち請求項4に記載の発明は、容量性特性を持った負荷と直列にFETを挿入し、時定数回路による時定数変化電圧により上記FETのゲート電圧を変化させ、上記FETのゲート電圧の変化により上記FETの導通電流を次第に変化させることによって突入電流を防止する突入電流防止回路の動作方法において、上記時定数回路の時定数変化電圧に、上記負荷にかかる電圧の変化速度に比例した電圧を加算するようにしたものである。
【0022】
また、本発明のうち請求項5に記載の発明は、容量性特性を持った負荷と直列にFETを挿入し、時定数回路による時定数変化電圧により上記FETのゲート電圧を変化させ、上記FETのゲート電圧の変化により上記FETの導通電流を次第に変化させることによって突入電流を防止する突入電流防止回路において、上記FETのドレイン電圧の変化速度を検出する微分回路を有し、上記微分回路が検出した上記FETのドレイン電圧の変化速度分を上記時定数回路による時定数変化電圧に加算して上記FETのゲートに負帰還するようにしたものである。
【0023】
また、本発明のうち請求項6に記載の発明は、本発明のうち請求項5に記載の発明において、上記微分回路はコンデンサと抵抗とを有して構成され、さらに、上記微分回路の上記抵抗に並列に挿入したダイオードを有し、上記ダイオードにより電源投入直後において上記コンデンサに必要な電圧を急速に充電するようにしたものである。
【0024】
【発明の実施の形態】
以下、添付の図面に基づいて、本発明による突入電流防止回路の動作方法および突入電流防止回路の実施の形態の一例を詳細に説明するものとする。
【0025】
まず、本発明による突入電流防止回路の動作方法の実施の形態の一例について説明するものとするが、この本発明による突入電流防止回路の動作方法の実施の形態の一例は、図6に示すような従来の突入電流防止回路を動作させる際にも用いることができるので、理解を容易にするために図6を参照しながら説明する。
【0026】
即ち、本発明による突入電流防止回路の動作方法は、図6に示すような容量性特性を持った負荷と直列にFETを挿入して、時定数回路による時定数変化電圧によりFETのゲート電圧を変化させることにより、FETの導通電流を次第に変化させて突入電流を防止する突入電流防止回路の動作方法であって、時定数回路の時定数変化電圧の開始電圧を、FETが導通しない最大のゲート電圧に略一致するようにしたものである。
【0027】
具体的には、図6に示すような突入電流防止回路106を動作させる際に、FET106aが導通しない最大のゲート電圧に、コンデンサ106bと抵抗106cとにより構成されるCR時定数回路による時定数変化電圧の開始電圧を略一致するようにしたものである。
【0028】
ここで、一般に市販されているような通常のFETは、ゲート電圧が1.5V以下ではドレイン−ソース間には全く電流が流れないように設定されている。従って、こうしたFETを突入電流防止回路106のFET106aとして用いる場合には、コンデンサ106bと抵抗106cとにより構成されるCR時定数回路の時定数で電圧(時定数変化電圧)が変化する際に、FET106aのゲート電圧が0から1.5Vまでの間は、FET106aのドレイン−ソース間には全く電流が流れないものであり、この間は突入電流を防止するためには全く機能していない。
【0029】
ところが、例えば、後述する図1に示すような回路構成を用いることにより、コンデンサ106bと抵抗106cとにより構成されるCR時定数回路の時定数変化電圧の開始電圧を、FET106aが導通しない最大のゲート電圧である1.5Vに一致させ、当該CR時定数回路の時定数変化電圧の変化が1.5Vを初期値として開始されるようにすると、突入電流を防止するためには機能していない無駄時間たる、上記した最初にFET106aのゲート電圧を0から1.5Vまで上げるための時間分だけ、突入電流防止時間を短縮することができるようになる。
【0030】
次に、図1を参照しながら、本発明による突入電流防止回路の実施の形態の一例について説明する。
【0031】
なお、本発明の実施の形態の一例を示す図1に示す回路構成において、図6に示す回路構成において用いた構成と同一または相当する構成については、図6において用いた符号と同一の符号を用いて示すことにより、その構成ならびに作用についての重複する説明は省略する。
【0032】
図1には、本発明による突入電流防止回路の実施の形態の一例による突入電流防止回路の回路構成説明図が示されている。
【0033】
この図1に示す突入電流防止回路10は、コンデンサ106bと抵抗106cとにより構成されるCR時定数回路に直列に接続された抵抗(Rs)12を備えている点において、図6に示す従来の突入電流防止回路106と異なっている。
【0034】
より詳細には、抵抗12は、直流電源100のマイナス側端子100aとCR時定数回路を構成するコンデンサ106bとの間に直列に接続されている。
【0035】
従って、図1に示す突入電流防止回路10には抵抗12が存在するために、FET106aのゲート電圧Vgの開始電圧Vsは、
Vs=E・Rs/(R1//R2) ・・・ 式(1)
となる。
【0036】
また、コンデンサ106bと抵抗106cとにより構成されるCR時定数回路のCR時定数τは、
τ=C1・(Rs+R1//R2) ・・・ 式(2)
となる。
【0037】
なお、上記した式(1)ならびに式(2)において、「E」は直流電源100の電源電圧を表し、「Rs」は抵抗12の抵抗値を表し、「R1//R2」は抵抗106cと抵抗106dとの並列抵抗値を表し、「C1」はコンデンサ106bの容量を表す。
【0038】
従って、上記した式(1)および式(2)を用いることにより、コンデンサ106bと抵抗106cとにより構成されるCR時定数回路における必要なCR時定数や、FET106aのゲート電圧の必要な開始電圧を決定することができる。
【0039】
従って、この図1に示す突入電流防止回路を用いれば、コンデンサ106bと抵抗106cとにより構成されるCR時定数回路の時定数変化電圧の初期値を零でない一定値(例えば、1.5Vである。)とすることができ、この時定数変化電圧によりFET106aのゲート電圧を変化させることが可能となる。
【0040】
即ち、この図1に示す突入電流防止回路においては、コンデンサ106bと抵抗106cとにより構成されるCR時定数回路の時定数変化電圧の開始電圧(初期値)を、FETが導通しない最大のゲート電圧から開始することができるようになり、突入電流防止時間を短縮することが可能となる。
【0041】
次に、図2を参照しながら、本発明による突入電流防止回路の実施の形態の他の例について説明する。
【0042】
なお、本発明の実施の形態の他の例を示す図2に示す回路構成において、図1ならびに図6に示す回路構成において用いた構成と同一または相当する構成については、図1ならびに図6において用いた符号と同一の符号を用いて示すことにより、その構成ならびに作用についての重複する説明は省略する。
【0043】
図2には、本発明による突入電流防止回路の実施の形態の他の例による突入電流防止回路の回路構成説明図が示されている。
【0044】
この図2に示す突入電流防止回路20は、抵抗106dに置き換えてツェナーダイオード(CR1)22を接続している点において、図1に示す本発明による突入電流防止回路10と異なっている。
【0045】
ここで、コンデンサ106bと抵抗106cとにより構成されるCR時定数回路は、時定数変化電圧が最終到達電圧に近づくと電圧変化速度が遅くなり、最終到達電圧にはなかなか到達しない。そこで、このCR時定数回路の時定数を長くして時定数変化電圧の最終到達電圧を高くとるようにして、CR時定数回路の時定数変化電圧がFET106aのゲートに印加する最終電圧に至った時点で、当該時定数変化電圧の変化を制限することにより、必要な範囲での当該時定数変化電圧の変化速度を変えずに全体の突入電流防止時間を短くすることができる。
【0046】
図2は、CR時定数回路の時定数を長くして時定数変化電圧の最終到達電圧を高くとるようにして、CR時定数回路の時定数変化電圧がFET106aのゲートに印加する最終電圧に至った時点で、当該時定数変化電圧の変化を制限することにより、必要な範囲での当該時定数変化電圧の変化速度を変えずに全体の突入電流防止時間を短くすることを実現するための回路構成の一例を示している。
【0047】
即ち、図2に示す突入電流防止回路においては、コンデンサ106bと抵抗106cとにより構成されるCR時定数回路の時定数を図1の場合より大きくしており、また、ツェナーダイオード22によりFET106aに印加される電圧が制限される。
【0048】
具体的には、ツェナーダイオード22が電圧制限ダイオードとして機能して、CR時定数回路の時定数変化電圧がFET106aのゲートに印加する最終電圧に至った時点で、時定数変化電圧の変化を制限している。
【0049】
図3には、図1に示す突入電流防止回路10によるFET106aのゲート電圧の時間変化A(図3において一点鎖線Aにより示す。)、図2に示す突入電流防止回路20によるFET106aのゲート電圧の時間変化B(図3において実線Bにより示す。)、図2に示す突入電流防止回路20においてツェナーダイオード22を備えていない場合におけるFET106aのゲート電圧の時間変化C(図3において二点鎖線Cにより示す。)ならびに図6に示す突入電流防止回路106によるFET106aのゲート電圧の時間変化D(図3において破線Dにより示す。)を示すグラフが表されている。
【0050】
なお、図3に示すゲート電圧の時間変化のグラフは、図2に示す突入電流防止回路20においての、コンデンサ106bと抵抗106cとにより構成されるCR時定数回路の時定数変化電圧の開始電圧を、FET106aが導通しない最大のゲート電圧から開始させる場合を示している。
【0051】
この図3に示すゲート電圧の時間変化のグラフから明らかなように、「時間変化D→時間変化A→時間変化B」の順番で、時定数変化電圧の最終到達電圧へ到達する時間が短くなり、突入電流防止時間を短くすることができる。
【0052】
次に、図4を参照しながら、本発明による突入電流防止回路の実施の形態のさらに他の例について説明する。
【0053】
なお、本発明の実施の形態のさらに他の例を示す図4に示す回路構成において、図1、図2ならびに図6に示す回路構成において用いた構成と同一または相当する構成については、図1、図2ならびに図6において用いた符号と同一の符号を用いて示すことにより、その構成ならびに作用についての重複する説明は省略する。
【0054】
図4には、本発明による突入電流防止回路の実施の形態のさらに他の例による突入電流防止回路の回路構成説明図が示されている。
【0055】
この図4に示す突入電流防止回路30は、FET106aと、コンデンサ106bと、抵抗106cと、ツェナーダイオード22と、抵抗(R3)32とコンデンサ(C2)34とよりなる微分回路と、微分回路の抵抗32に並列に挿入されたダイオード(CR2)36とを有して構成されている。
【0056】
より詳細には、上記した突入電流防止回路30において、抵抗32ならびにコンデンサ34はFET106aのドレイン電圧の微分係数を引き出す微分回路であり、この微分回路で得られた微分係数電圧は、コンデンサ106bと抵抗106cとより得られるC1・R1時定数変化電圧に加算される。即ち、負荷電流が大きく増えるときには、FET106aのドレイン電圧が大きく下がり、FET106aのゲート電圧Vgが負の方向に下がる。そして、FET106aのゲート電圧Vgが下がると、FET106aの電流増加を抑えることになる。
【0057】
また、ダイオード36は、電源投入直後にコンデンサ34に充電する電流によりゲート電圧Vgが正に大きく振られることの無いようにするための保護ダイオードである。
【0058】
ここで、「従来の技術」の欄で説明したように、FET106aのドレイン−ソース間電流が大きく変化するのは、ゲート電圧の変化領域のうちの極く一部の領域においてである。一方、電源電流を規定値以下にするためには、FET106aのゲート電圧変化の時定数は充分に大きくなくてはならない。即ち、電源を投入した後に通常動作に入る前に、大きな突入電流防止時間を費やしてしまうものであった。
【0059】
このため、この図4に示す突入電流防止回路30においては、容量性負荷104に流れる電流を容量性負荷104にかかる電圧の変化速度から検出し、この電圧の大きさに従ってFET106aのドレイン−ソース間電流が小さくなるように負帰還をかけることにより、突入電流を規定値以下に抑えるようにしている。これにより、コンデンサ106bと抵抗106cとよりなる時定数回路の時定数を小さくすることができる。図4は、こうした動作、即ち、コンデンサ106bと抵抗106cとより得られるC1・R1時定数変化電圧に、容量性負荷104にかかる電圧の変化速度に比例した電圧を加算するという動作を実現するための回路構成の一例を示している。
【0060】
なお、図4に示す回路において、コンデンサの容量の大きさに関しては、一般に「コンデンサ(C)104a≫コンデンサ(C1)106b≫コンデンサ(C2)34」であるから、「1/C2:1/C1=(E−Vs):Vs」とすることで、時定数変化電圧の開始電圧をVsとすることができる。
【0061】
図5には、図4に示す突入電流防止回路30によるFET106aのゲート電圧の時間変化E(図5において実線Eにより示す。)ならびに図6に示す突入電流防止回路106によるFET106aのゲート電圧の時間変化D(図5において破線Dにより示す。)を示すグラフが表されている。
【0062】
なお、図5に示すゲート電圧の時間変化のグラフに示す図4に示す突入電流防止回路30においては、初めは時定数は小さな立ち上がりでゲート電圧Vgが上昇するが、ゲート電圧変化によりドレイン−ソース間電流が大きく変化する範囲になると負帰還がかかり、ゲート電圧Vgの上昇速度は下がり、最後は元の速度で上昇する。
【0063】
なお、上記した実施の形態は、以下の(1)乃至(2)に説明するように適宜に変形することができる。
【0064】
(1)上記した実施の形態においては、FETとしてN型MOS−FETを使用した場合について説明したが、本発明はこれに限られるものではないものであり、回路中の全ての電圧極性を反転してP型FETを使用するようにしてもよいことは勿論である。
【0065】
(2)上記した実施の形態ならびに上記(1)に示す変形例は、適宜に組み合わせるようにしてもよいことは勿論である。
【0066】
【発明の効果】
本発明は、以上説明したように構成されているので、比較的簡単な回路で必要な突入電流防止機能を発揮しながら短時間に完了することができるという優れた効果を奏する。
【0067】
即ち、本発明によれば、突入電流を規定値に抑えることができるとともに、短時間のうちにFETの抵抗値を必要な値まで低下することが可能になるという優れた効果を奏する。
【0068】
換言すれば、本発明によれば、従来と比較すると、突入電流防止回路の収束時間を大幅に短縮化することができるという優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による突入電流防止回路の実施の形態の一例の回路構成説明図である。
【図2】本発明による突入電流防止回路の実施の形態の他の例の回路構成説明図である。
【図3】突入電流防止回路によるFETのゲート電圧の時間変化を示すグラフである。
【図4】本発明による突入電流防止回路の実施の形態の他の例の回路構成説明図である。
【図5】突入電流防止回路によるFETのゲート電圧の時間変化を示すグラフである。
【図6】従来の突入電流防止回路の回路構成説明図である。
【符号の説明】
10、20、30、106    突入電流防止回路
12    抵抗(Rs)
22    ツェナーダイオード(CR1)
32    抵抗(R3)
34    コンデンサ(C2)
36    ダイオード(CR2)
100    直流電源
100a   マイナス側端子
102    スイッチ(SW)
104    容量性負荷
104a   容量成分(C)
104b   負荷成分(LOAD)
106a   FET
106b   コンデンサ(C1)
106c   抵抗(R1)
106d   抵抗(R2)
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an inrush current prevention circuit operating method and an inrush current prevention circuit, and more particularly to an inrush current prevention circuit operation method and an inrush current prevention circuit for preventing an inrush current in a power supply device such as a switching power supply. .
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art Conventionally, various inrush current prevention circuits have been known as circuits for preventing an inrush current in a power supply device such as a switching power supply (for example, see Patent Document 1).
[0003]
[Patent Document 1]
FIG. 6 is an explanatory diagram of a circuit configuration of such a conventional inrush current prevention circuit.
[0004]
The circuit configuration shown in FIG. 6 includes a DC power supply 100, a switch (SW) 102, a capacitive load 104 as a load having a capacitive characteristic, and an inrush current prevention circuit 106.
[0005]
Here, in showing the capacitive load 104, the capacitive component and the load component are separated, and only the capacitive component (C) 104a is shown in parallel outside the load component (LOAD) 104b.
[0006]
The inrush current prevention circuit 106 is an N-type MOS-FET (hereinafter simply referred to as an “FET”) connected in series to the input line of the power supply and the capacitive load 104. The “FET” is a “Field Effect Transistor”. (Q1) 106a, a capacitor (C1) 106b that controls the gate voltage of the FET 106a by a charging voltage, and a resistor (R1) 106c that forms a CR time constant circuit with the capacitor 106b. And a resistor (R2) 106d that is a discharge resistor.
[0007]
Here, assuming that the inrush current prevention circuit 106 is not provided in the circuit configuration shown in FIG. 6, an inrush current flows through the low resistance of the voltage source due to the presence of the capacitive component 104a of the capacitive load 104. .
[0008]
However, if the inrush current prevention circuit 106 is provided as shown in FIG. 6, immediately after the switch 102 is turned on, no current flows since the FET 106a has a high resistance, but the capacitor 106b and the resistor 106c , The gate voltage of the FET 106a changes and gradually increases, and the resistance of the FET 106a gradually decreases. As a result, the conduction current of the FET 106a changes and gradually increases, and the power supply voltage is gradually applied to the capacitive load 104, thereby preventing an inrush current when the power is turned on.
[0009]
Note that the resistor 106d is a resistor for determining a gate voltage finally applied to the gate of the FET 106a by a voltage division with the resistor 106c.
[0010]
However, in the conventional circuit configuration of the inrush current prevention circuit as described above, the drain-source current of the FET greatly changes in a very small region where the gate voltage of the FET changes.
[0011]
For this reason, there is a problem that the inrush current cannot be reduced to a specified value or less unless the time constant of the CR time constant circuit constituted by the capacitor and the resistor, which is a time constant circuit, is not sufficiently large.
[0012]
On the other hand, if the time constant of the CR time constant circuit composed of a capacitor and a resistor, which is a time constant circuit, is sufficiently increased to solve such a problem, it takes time for the resistance value of the FET to drop to a required value. This has led to a new problem of being too expensive.
[0013]
[Problems to be solved by the invention]
The present invention has been made in view of the above-mentioned various problems of the related art, and an object of the present invention is to reduce the inrush current to a specified value and to reduce the inrush current in a short time. An object of the present invention is to provide an operation method of an inrush current prevention circuit and an inrush current prevention circuit that enable the resistance value of an FET to be reduced to a required value.
[0014]
In other words, an object of the present invention is to improve the conventional inrush current prevention circuit and its operation method to shorten the convergence time of the inrush current prevention circuit.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, an operation method of an inrush current prevention circuit according to the present invention and an inrush current prevention circuit are provided in a conventional inrush current prevention circuit. In view of the fact that the FET is not in the conductive state, the change of the time constant changing voltage while the FET is not in the conductive state is skipped (skipped), and the time constant changing voltage is changed with the maximum voltage at which the FET does not conduct as the initial value. It was made.
[0016]
Further, the operation method of the inrush current prevention circuit and the inrush current prevention circuit according to the present invention are designed to prevent the time constant change voltage from changing at the final stage of the change of the time constant change voltage by the time constant circuit. The final voltage of the time constant change voltage by the time constant circuit is set to be higher than the final voltage applied to the gate of the FET, and the voltage actually applied to the gate of the FET is the final voltage applied to the gate of the FET. It is made to limit by the Zener diode so that it becomes.
[0017]
Further, the operation method of the inrush current prevention circuit and the inrush current prevention circuit according to the present invention suppress the gate voltage change speed in a range where the drain-source current greatly changes due to a slight gate voltage change of the FET. In addition, a negative feedback is applied.
[0018]
That is, according to the invention of claim 1 of the present invention, an FET is inserted in series with a load having a capacitive characteristic, and the gate voltage of the FET is changed by a time constant changing voltage by a time constant circuit. In the operation method of the inrush current prevention circuit for preventing the inrush current by gradually changing the conduction current of the FET by the change of the gate voltage of the FET, the FET does not conduct the start voltage of the time constant change voltage of the time constant circuit. This is made to substantially match the maximum gate voltage.
[0019]
The invention according to claim 2 of the present invention is characterized in that an FET is inserted in series with a load having a capacitive characteristic, and a gate voltage of the FET is changed by a time constant change voltage by a time constant circuit. In the inrush current prevention circuit for preventing the inrush current by gradually changing the conduction current of the FET due to the change of the gate voltage, the resistor has a resistor inserted in series with the time constant circuit, according to the resistance value of the resistor The gate voltage of the FET is changed by a time constant change voltage having a non-zero constant value as a start voltage.
[0020]
According to a third aspect of the present invention, an FET is inserted in series with a load having a capacitive characteristic, and the gate voltage of the FET is changed by a time constant changing voltage by a time constant circuit. A rush current prevention circuit for preventing an inrush current by gradually changing a conduction current of the FET by a change in a gate voltage of the FET, having a Zener diode for limiting a gate voltage of the FET, and changing a time constant of the time constant circuit. The time constant circuit is set so that the final voltage of the voltage is higher than the final voltage applied to the gate of the FET, and the gate voltage of the FET, which changes according to the time constant changing voltage of the time constant circuit, is This is limited by a diode.
[0021]
According to a fourth aspect of the present invention, an FET is inserted in series with a load having a capacitive characteristic, and the gate voltage of the FET is changed by a time constant changing voltage by a time constant circuit. In the operation method of the inrush current prevention circuit for preventing the inrush current by gradually changing the conduction current of the FET by the change of the gate voltage of the FET, the change rate of the voltage applied to the load to the time constant change voltage of the time constant circuit Is added.
[0022]
According to a fifth aspect of the present invention, an FET is inserted in series with a load having a capacitive characteristic, and a gate voltage of the FET is changed by a time constant change voltage by a time constant circuit. A rush current prevention circuit for preventing a rush current by gradually changing a conduction current of the FET according to a change in a gate voltage of the FET, including a differentiation circuit for detecting a change speed of a drain voltage of the FET, wherein the differentiation circuit detects The change rate of the drain voltage of the FET described above is added to the time constant change voltage by the time constant circuit, and negative feedback is provided to the gate of the FET.
[0023]
In the invention according to claim 6 of the present invention, in the invention according to claim 5 of the present invention, the differentiating circuit includes a capacitor and a resistor. It has a diode inserted in parallel with a resistor, and the diode rapidly charges the capacitor with a necessary voltage immediately after power is turned on.
[0024]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, an example of an embodiment of an inrush current prevention circuit and an inrush current prevention circuit according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
[0025]
First, an example of an embodiment of an operation method of an inrush current prevention circuit according to the present invention will be described. An example of an embodiment of an operation method of the inrush current prevention circuit according to the present invention is as shown in FIG. Since the present invention can be used when operating a conventional inrush current prevention circuit, it will be described with reference to FIG. 6 to facilitate understanding.
[0026]
That is, in the method of operating the inrush current prevention circuit according to the present invention, the FET is inserted in series with a load having a capacitive characteristic as shown in FIG. A method of operating an inrush current prevention circuit that gradually changes a conduction current of an FET to prevent an inrush current by changing the start voltage of a time constant change voltage of a time constant circuit to a maximum gate at which the FET does not conduct. This is made to substantially match the voltage.
[0027]
Specifically, when the inrush current prevention circuit 106 as shown in FIG. 6 is operated, the maximum gate voltage at which the FET 106a does not conduct is changed to the time constant change by the CR time constant circuit constituted by the capacitor 106b and the resistor 106c. The start voltages of the voltages are made to substantially match.
[0028]
Here, an ordinary FET, which is generally commercially available, is set such that no current flows between the drain and the source at a gate voltage of 1.5 V or less. Therefore, when such an FET is used as the FET 106a of the inrush current prevention circuit 106, when the voltage (time constant change voltage) changes according to the time constant of the CR time constant circuit constituted by the capacitor 106b and the resistor 106c. No current flows between the drain and the source of the FET 106a at all when the gate voltage of the FET 106a is 0 to 1.5 V, and during this period, it does not function at all to prevent an inrush current.
[0029]
However, for example, by using a circuit configuration as shown in FIG. 1 described below, the starting voltage of the time constant changing voltage of the CR time constant circuit constituted by the capacitor 106b and the resistor 106c is changed to the maximum gate voltage at which the FET 106a does not conduct. If the voltage is made equal to 1.5 V, and the change in the time constant changing voltage of the CR time constant circuit is started with 1.5 V as an initial value, a wasteful function that does not function to prevent an inrush current is generated. The rush current prevention time can be shortened by the time required to raise the gate voltage of the FET 106a from 0 to 1.5 V at first.
[0030]
Next, an example of an embodiment of an inrush current prevention circuit according to the present invention will be described with reference to FIG.
[0031]
Note that, in the circuit configuration shown in FIG. 1 illustrating an example of an embodiment of the present invention, the same reference numerals as those used in FIG. 6 denote the same or corresponding components as those used in the circuit configuration shown in FIG. By using and showing, the overlapping description of the configuration and operation is omitted.
[0032]
FIG. 1 is an explanatory diagram of a circuit configuration of an inrush current prevention circuit according to an example of an embodiment of an inrush current prevention circuit according to the present invention.
[0033]
The inrush current prevention circuit 10 shown in FIG. 1 includes a resistor (Rs) 12 connected in series to a CR time constant circuit composed of a capacitor 106b and a resistor 106c. This is different from the inrush current prevention circuit 106.
[0034]
More specifically, the resistor 12 is connected in series between the negative terminal 100a of the DC power supply 100 and the capacitor 106b constituting the CR time constant circuit.
[0035]
Therefore, since the inrush current prevention circuit 10 shown in FIG. 1 includes the resistor 12, the starting voltage Vs of the gate voltage Vg of the FET 106a becomes
Vs = E · Rs / (R1 // R2) Equation (1)
It becomes.
[0036]
The CR time constant τ of the CR time constant circuit constituted by the capacitor 106b and the resistor 106c is
τ = C1 · (Rs + R1 // R2) Equation (2)
It becomes.
[0037]
In the above equations (1) and (2), “E” represents the power supply voltage of the DC power supply 100, “Rs” represents the resistance value of the resistor 12, and “R1 // R2” represents the resistance 106c. It represents a parallel resistance value with the resistor 106d, and "C1" represents the capacitance of the capacitor 106b.
[0038]
Therefore, by using the above equations (1) and (2), the necessary CR time constant in the CR time constant circuit constituted by the capacitor 106b and the resistor 106c and the required starting voltage of the gate voltage of the FET 106a are determined. Can be determined.
[0039]
Therefore, if the inrush current prevention circuit shown in FIG. 1 is used, the initial value of the time constant change voltage of the CR time constant circuit constituted by the capacitor 106b and the resistor 106c is a non-zero constant value (for example, 1.5 V). ), And it is possible to change the gate voltage of the FET 106a by this time constant change voltage.
[0040]
That is, in the inrush current prevention circuit shown in FIG. 1, the starting voltage (initial value) of the time constant change voltage of the CR time constant circuit constituted by the capacitor 106b and the resistor 106c is set to the maximum gate voltage at which the FET does not conduct. , And the time for preventing inrush current can be shortened.
[0041]
Next, another embodiment of the inrush current prevention circuit according to the present invention will be described with reference to FIG.
[0042]
In addition, in the circuit configuration shown in FIG. 2 showing another example of the embodiment of the present invention, the same or equivalent configuration as the configuration used in the circuit configuration shown in FIG. 1 and FIG. By using the same reference numerals as those used, redundant description of the configuration and operation will be omitted.
[0043]
FIG. 2 is a circuit diagram illustrating an inrush current prevention circuit according to another embodiment of the inrush current prevention circuit according to the present invention.
[0044]
The inrush current prevention circuit 20 shown in FIG. 2 is different from the inrush current prevention circuit 10 according to the present invention shown in FIG. 1 in that a zener diode (CR1) 22 is connected instead of the resistor 106d.
[0045]
Here, in the CR time constant circuit constituted by the capacitor 106b and the resistor 106c, when the time constant change voltage approaches the final attained voltage, the voltage change speed becomes slow, and the final attained voltage is not easily reached. Therefore, the time constant of the CR time constant circuit is increased to increase the final attained voltage of the time constant change voltage, and the time constant change voltage of the CR time constant circuit reaches the final voltage applied to the gate of the FET 106a. By limiting the change in the time constant change voltage at the time, the entire inrush current prevention time can be shortened without changing the change speed of the time constant change voltage in a necessary range.
[0046]
FIG. 2 shows that the time constant of the CR time constant circuit is increased to increase the final attained voltage of the time constant change voltage so that the time constant change voltage of the CR time constant circuit reaches the final voltage applied to the gate of the FET 106a. At the point in time, a circuit for realizing that the inrush current prevention time can be shortened without changing the change speed of the time constant change voltage in a necessary range by limiting the change of the time constant change voltage. 1 shows an example of a configuration.
[0047]
That is, in the rush current prevention circuit shown in FIG. 2, the time constant of the CR time constant circuit constituted by the capacitor 106b and the resistor 106c is made larger than that in FIG. 1, and the Zener diode 22 applies the time constant to the FET 106a. Voltage is limited.
[0048]
Specifically, the Zener diode 22 functions as a voltage limiting diode, and limits the change in the time constant change voltage when the time constant change voltage of the CR time constant circuit reaches the final voltage applied to the gate of the FET 106a. ing.
[0049]
FIG. 3 shows a time change A of the gate voltage of the FET 106a by the rush current prevention circuit 10 shown in FIG. 1 (indicated by a dashed line A in FIG. 3), and the change of the gate voltage of the FET 106a by the rush current prevention circuit 20 shown in FIG. A time change B (shown by a solid line B in FIG. 3) and a time change C of the gate voltage of the FET 106a when the inrush current prevention circuit 20 shown in FIG. 2 does not include the Zener diode 22 (shown by a two-dot chain line C in FIG. 3). 6 and a graph showing a time change D (shown by a broken line D in FIG. 3) of the gate voltage of the FET 106a by the rush current prevention circuit 106 shown in FIG.
[0050]
Note that the graph of the time change of the gate voltage shown in FIG. 3 shows the start voltage of the time constant change voltage of the CR time constant circuit composed of the capacitor 106b and the resistor 106c in the inrush current prevention circuit 20 shown in FIG. , Starting from the maximum gate voltage at which the FET 106a does not conduct.
[0051]
As is clear from the graph of the time change of the gate voltage shown in FIG. 3, the time required to reach the final attained voltage of the time constant change voltage is shortened in the order of “time change D → time change A → time change B”. In addition, the rush current prevention time can be shortened.
[0052]
Next, still another example of the embodiment of the inrush current prevention circuit according to the present invention will be described with reference to FIG.
[0053]
In the circuit configuration shown in FIG. 4 showing still another example of the embodiment of the present invention, the same or corresponding configurations as those used in the circuit configurations shown in FIG. 1, FIG. 2 and FIG. 2 and FIG. 6, the same reference numerals are used to omit redundant description of the configuration and operation.
[0054]
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a circuit configuration of an inrush current prevention circuit according to still another embodiment of the inrush current prevention circuit according to the present invention.
[0055]
The inrush current prevention circuit 30 shown in FIG. 4 includes a FET 106a, a capacitor 106b, a resistor 106c, a Zener diode 22, a differential circuit including a resistor (R3) 32 and a capacitor (C2) 34, and a resistance of the differential circuit. 32 and a diode (CR2) 36 inserted in parallel.
[0056]
More specifically, in the inrush current prevention circuit 30 described above, the resistor 32 and the capacitor 34 are differentiating circuits for deriving the differential coefficient of the drain voltage of the FET 106a. 106c and is added to the C1 · R1 time constant change voltage obtained from this. That is, when the load current increases significantly, the drain voltage of the FET 106a greatly decreases, and the gate voltage Vg of the FET 106a decreases in the negative direction. When the gate voltage Vg of the FET 106a decreases, an increase in the current of the FET 106a is suppressed.
[0057]
Further, the diode 36 is a protection diode for preventing the gate voltage Vg from fluctuating positively by the current charging the capacitor 34 immediately after the power is turned on.
[0058]
Here, as described in the section of "Prior Art", the drain-source current of the FET 106a largely changes in only a part of the change region of the gate voltage. On the other hand, in order to make the power supply current equal to or less than the specified value, the time constant of the change in the gate voltage of the FET 106a must be sufficiently large. That is, a large inrush current prevention time is required before the normal operation is started after the power is turned on.
[0059]
For this reason, in the rush current prevention circuit 30 shown in FIG. By applying negative feedback so as to reduce the current, the inrush current is suppressed to a specified value or less. Thus, the time constant of the time constant circuit including the capacitor 106b and the resistor 106c can be reduced. FIG. 4 shows such an operation, that is, an operation of adding a voltage proportional to a change speed of the voltage applied to the capacitive load 104 to a C1 · R1 time constant change voltage obtained from the capacitor 106b and the resistor 106c. 1 shows an example of the circuit configuration.
[0060]
In the circuit shown in FIG. 4, since the capacitance of the capacitor is generally “capacitor (C) 104a≫capacitor (C1) 106b≫capacitor (C2) 34”, “1 / C2: 1 / C1 = (E−Vs): Vs ”, the start voltage of the time constant change voltage can be set to Vs.
[0061]
FIG. 5 shows a time change E (shown by a solid line E in FIG. 5) of the gate voltage of the FET 106a by the inrush current prevention circuit 30 shown in FIG. 4 and a time of the gate voltage of the FET 106a by the inrush current prevention circuit 106 shown in FIG. A graph showing a change D (indicated by a broken line D in FIG. 5) is shown.
[0062]
In the rush current prevention circuit 30 shown in FIG. 4 shown in the graph of the time change of the gate voltage shown in FIG. 5, the gate voltage Vg rises at the beginning with a small time constant, but the drain-source is changed due to the gate voltage change. In the range where the inter-current greatly changes, negative feedback is applied, and the rising speed of the gate voltage Vg decreases, and finally increases at the original speed.
[0063]
The above-described embodiment can be appropriately modified as described in the following (1) and (2).
[0064]
(1) In the above embodiment, the case where the N-type MOS-FET is used as the FET has been described. However, the present invention is not limited to this, and all the voltage polarities in the circuit are inverted. Of course, a P-type FET may be used.
[0065]
(2) Needless to say, the above-described embodiment and the modification shown in (1) may be appropriately combined.
[0066]
【The invention's effect】
Since the present invention is configured as described above, it has an excellent effect that it can be completed in a short time while exhibiting a necessary inrush current preventing function with a relatively simple circuit.
[0067]
That is, according to the present invention, there is an excellent effect that the rush current can be suppressed to the specified value and the resistance value of the FET can be reduced to a required value in a short time.
[0068]
In other words, according to the present invention, there is an excellent effect that the convergence time of the inrush current prevention circuit can be significantly reduced as compared with the related art.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory diagram of a circuit configuration of an example of an embodiment of an inrush current prevention circuit according to the present invention.
FIG. 2 is an explanatory diagram of a circuit configuration of another example of the inrush current prevention circuit according to the embodiment of the present invention;
FIG. 3 is a graph showing a time change of a gate voltage of an FET by an inrush current prevention circuit.
FIG. 4 is an explanatory diagram of a circuit configuration of another example of the inrush current prevention circuit according to the embodiment of the present invention;
FIG. 5 is a graph showing a time change of a gate voltage of an FET by an inrush current prevention circuit.
FIG. 6 is an explanatory diagram of a circuit configuration of a conventional inrush current prevention circuit.
[Explanation of symbols]
10, 20, 30, 106 Inrush current prevention circuit 12 Resistance (Rs)
22 Zener diode (CR1)
32 resistance (R3)
34 Capacitor (C2)
36 Diode (CR2)
100 DC power supply 100a Negative terminal 102 Switch (SW)
104 capacitive load 104a capacitive component (C)
104b Load component (LOAD)
106a FET
106b Capacitor (C1)
106c resistance (R1)
106d resistance (R2)

Claims (6)

容量性特性を持った負荷と直列にFETを挿入し、時定数回路による時定数変化電圧により前記FETのゲート電圧を変化させ、前記FETのゲート電圧の変化により前記FETの導通電流を次第に変化させることによって突入電流を防止する突入電流防止回路の動作方法において、
前記時定数回路の時定数変化電圧の開始電圧を、前記FETが導通しない最大のゲート電圧と略一致させた
突入電流防止回路の動作方法
An FET is inserted in series with a load having a capacitive characteristic, the gate voltage of the FET is changed by a time constant change voltage by a time constant circuit, and the conduction current of the FET is gradually changed by a change in the gate voltage of the FET. In the operation method of the inrush current prevention circuit that prevents the inrush current by
Method of operating an inrush current prevention circuit in which a start voltage of a time constant change voltage of the time constant circuit is substantially equal to a maximum gate voltage at which the FET does not conduct.
容量性特性を持った負荷と直列にFETを挿入し、時定数回路による時定数変化電圧により前記FETのゲート電圧を変化させ、前記FETのゲート電圧の変化により前記FETの導通電流を次第に変化させることによって突入電流を防止する突入電流防止回路において、
前記時定数回路に直列に挿入した抵抗を有し、
前記抵抗の抵抗値に応じて零でない一定値を開始電圧とする時定数変化電圧により、前記FETのゲート電圧を変化する
突入電流防止回路。
An FET is inserted in series with a load having a capacitive characteristic, the gate voltage of the FET is changed by a time constant change voltage by a time constant circuit, and the conduction current of the FET is gradually changed by a change in the gate voltage of the FET. Inrush current prevention circuit that prevents inrush current by
Having a resistor inserted in series with the time constant circuit,
An inrush current prevention circuit for changing a gate voltage of the FET by a time constant changing voltage having a fixed value other than zero as a starting voltage according to a resistance value of the resistor.
容量性特性を持った負荷と直列にFETを挿入し、時定数回路による時定数変化電圧により前記FETのゲート電圧を変化させ、前記FETのゲート電圧の変化により前記FETの導通電流を次第に変化させることによって突入電流を防止する突入電流防止回路において、
前記FETのゲート電圧を制限するツェナーダイオードを有し、
前記時定数回路の時定数変化電圧の最終到達電圧が前記FETのゲートに印加する最終電圧より大きくなるように、前記時定数回路を設定し、
前記時定数回路の時定数変化電圧により変化する前記FETのゲート電圧を、前記ツェナーダイオードにより制限する
突入電流防止回路。
An FET is inserted in series with a load having a capacitive characteristic, the gate voltage of the FET is changed by a time constant change voltage by a time constant circuit, and the conduction current of the FET is gradually changed by a change in the gate voltage of the FET. Inrush current prevention circuit that prevents inrush current by
A Zener diode for limiting a gate voltage of the FET,
The time constant circuit is set such that the final voltage of the time constant change voltage of the time constant circuit is higher than the final voltage applied to the gate of the FET,
An inrush current prevention circuit for limiting a gate voltage of the FET, which changes according to a time constant change voltage of the time constant circuit, by the Zener diode.
容量性特性を持った負荷と直列にFETを挿入し、時定数回路による時定数変化電圧により前記FETのゲート電圧を変化させ、前記FETのゲート電圧の変化により前記FETの導通電流を次第に変化させることによって突入電流を防止する突入電流防止回路の動作方法において、
前記時定数回路の時定数変化電圧に、前記負荷にかかる電圧の変化速度に比例した電圧を加算する
突入電流防止回路の動作方法
An FET is inserted in series with a load having a capacitive characteristic, the gate voltage of the FET is changed by a time constant change voltage by a time constant circuit, and the conduction current of the FET is gradually changed by a change in the gate voltage of the FET. In the operation method of the inrush current prevention circuit that prevents the inrush current by
Method of operating an inrush current prevention circuit for adding a voltage proportional to a change rate of a voltage applied to a load to a time constant change voltage of the time constant circuit
容量性特性を持った負荷と直列にFETを挿入し、時定数回路による時定数変化電圧により前記FETのゲート電圧を変化させ、前記FETのゲート電圧の変化により前記FETの導通電流を次第に変化させることによって突入電流を防止する突入電流防止回路において、
前記FETのドレイン電圧の変化速度を検出する微分回路を有し、
前記微分回路が検出した前記FETのドレイン電圧の変化速度分を前記時定数回路による時定数変化電圧に加算して前記FETのゲートに負帰還する
突入電流防止回路。
An FET is inserted in series with a load having a capacitive characteristic, the gate voltage of the FET is changed by a time constant change voltage by a time constant circuit, and the conduction current of the FET is gradually changed by a change in the gate voltage of the FET. Inrush current prevention circuit that prevents inrush current by
A differential circuit for detecting a change speed of the drain voltage of the FET,
An inrush current prevention circuit that adds a change rate of a drain voltage of the FET detected by the differentiating circuit to a time constant change voltage by the time constant circuit and negatively feeds back to a gate of the FET.
請求項5に記載の突入電流防止回路において、
前記微分回路はコンデンサと抵抗とを有して構成され、
さらに、
前記微分回路の前記抵抗に並列に挿入したダイオードを有し、
前記ダイオードにより電源投入直後において前記コンデンサに必要な電圧を急速に充電する
突入電流防止回路。
The inrush current prevention circuit according to claim 5,
The differentiating circuit includes a capacitor and a resistor,
further,
Having a diode inserted in parallel with the resistor of the differentiation circuit,
An inrush current prevention circuit for rapidly charging a voltage required for the capacitor immediately after power-on by the diode;
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006201386A (en) * 2005-01-19 2006-08-03 Seiko Epson Corp Image forming apparatus
JP2007215300A (en) * 2006-02-08 2007-08-23 Toshiba Tec Corp Power supply
US7274179B2 (en) 2005-06-27 2007-09-25 Alps Electric Co., Ltd. Inrush current preventing circuit
JP2009225540A (en) * 2008-03-14 2009-10-01 Nec Computertechno Ltd Power supply apparatus and its control method
KR200469552Y1 (en) * 2011-10-20 2013-10-17 에릭슨 엘지 주식회사 Apparatus for preventing in-rush current
US9167658B2 (en) 2012-07-12 2015-10-20 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Light emitting element lighting device and lighting fixture using same

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006201386A (en) * 2005-01-19 2006-08-03 Seiko Epson Corp Image forming apparatus
US7274179B2 (en) 2005-06-27 2007-09-25 Alps Electric Co., Ltd. Inrush current preventing circuit
JP2007215300A (en) * 2006-02-08 2007-08-23 Toshiba Tec Corp Power supply
JP2009225540A (en) * 2008-03-14 2009-10-01 Nec Computertechno Ltd Power supply apparatus and its control method
KR200469552Y1 (en) * 2011-10-20 2013-10-17 에릭슨 엘지 주식회사 Apparatus for preventing in-rush current
US9167658B2 (en) 2012-07-12 2015-10-20 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Light emitting element lighting device and lighting fixture using same

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