JP2004006724A - 半導体装置およびその製造方法、電気光学装置、液晶表示装置、電子機器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数の第2基板(21)をタイル状に配置することでより大型化する。第2基板(21)として、両面配線や多層配線のプリント基板やフレキシブルプリント回路を用いる。複数の第2基板(21)はそれぞれ独立に駆動し、複数の第2基板(21)を互いに重ね合い、重ね合う部分に駆動回路(23)を配置する。また、複数の第2基板(21)を互いに重ね合い、重ね合う部分で互いの回路を接続する。
【選択図】 図4
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、基板に形成した薄膜チップを剥離し、これを他の基板に転写して半導体装置を組み立てる剥離転写技術を使用した半導体装置や電気光学装置に関する。また、半導体装置及び電気光学装置の製造方法に関する。
【0002】
【背景技術】
半導体装置、例えば、液晶表示装置や有機EL表示装置等の電気光学装置では、薄膜トランジスタや有機エレクトロルミネッセンス(EL)素子等の一定の機能を果たす機能素子と、これ等機能素子間の配線や支持基板を含む表示パネルを備えている。ここで、電気光学装置とは、電気的作用によって発光あるいは外部からの光の状態を変化させる電気光学素子を備えた装置一般をいい、自ら光を発するものと外部からの光の通過を制御するもの双方を含む。例えば、電気光学素子としては、液晶素子、電気泳動粒子が分散した分散媒体を有する電気泳動素子、EL(エレクトロルミネッセンス)素子、電界の印加により発生した電子を発光板に当てて発光させる電子放出素子が挙げられ、これを備えた表示装置等を電気光学装置という。
【0003】
通常、電気光学装置の表示パネルにおける機能素子の占める面積の割合は全体の一部分であり、配線、電極、支持基板等がその殆どを占めている。しかし、所望の性能の機能素子を作成するために高度で複雑な製造プロセスが必要とされる。表示パネル等を製造する場合には、支持基板、機能素子、配線等を一連のプロセスによって形成するので複雑な製造プロセスは不可避的であり、一般的に、製造コストは高額になる傾向がある。
【0004】
もし、機能素子と、配線や支持基板とを別個に作成し、配線や支持基板上の必要とされる部分にだけ機能素子を配置することができれば、全体として平均すれば、この表示パネル(大面積の半導体装置)の製造コストを低減することが可能である。製造システムとして見れば、半導体装置や電気光学装置の製造コストを低減することが期待できる。
【0005】
また、機能素子を大型の基板に逐次転写配置することによって大画面の電気光学装置等のように極めて大型の半導体装置を製造することも可能となる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、被転写対象として大型の基板を用いた場合、転写対象の素子チップと該基板との位置決めを正確に行うことは案外に難しい。この一因として、被転写対象の基板が大型であると当該基板の伸縮が大きくなることが挙げられる。特に、プリント基板やフレキシブルプリント回路では、当該基板の伸縮が大きい。また、被転写対象の基板が大型になると関連する製造装置も大型化する必要が生じる。基板が大型になると製造時のハンドリングも難しくなる。
【0007】
よって、本発明は、剥離転写技術を使用して大型の基板の半導体装置や電気光学装置を製造することを容易にする技術を提供することを目的とする。
【0008】
また、本発明は、この技術を使用した半導体装置や電気光学装置を提供する際の、素子チップと第2基板の位置決めや製造時のハンドリングを容易にするために、小型の第2基板を用いながら、大型の半導体装置の製造を可能とすることを目的とする。
【0009】
また、本発明は、剥離転写技術を使用して大型の基板の半導体装置、電気光学装置、電子機器等を製造する製造方法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため本発明は、第1基板上で回路素子などとしての機能を果たす機能素子を形成し、この機能素子を1つ以上含む素子チップを剥離して第2基板上へ転写することにより、又は、上記素子チップを第1基板から剥離して第3基板上へ転写し、更に第3基板から上記素子チップを第2基板上へ転写することにより第2基板に回路を形成してなる半導体装置(あるいは電気光学装置)において、第2の基板をタイル上に複数配置して接続し、当該装置をより大型化することを特徴とする。
【0011】
この構成によれば、素子チップと第2基板の位置決めや製造時のハンドリングを容易にするために、小型の第2基板を用いながら、大型の半導体装置(あるいは電気光学装置)の製造が可能となる。
【0012】
また、本発明は、上記半導体装置において、複数の第2基板にそれぞれ形成された各回路は各基板毎に独立に駆動される。また、各基板もそれぞれ独立に駆動することが可能である。
【0013】
この構成によれば、第2基板の回路や第2基板自体の、配線遅延や時定数増大を気にすることなく、複数の第2基板を確実に駆動できる。
【0014】
また、本発明は、上記半導体装置において、第2基板の素子チップを転写するのとは反対側に駆動回路を配置することを特徴とする。
【0015】
また、本発明は、上記半導体装置において、第2基板をフレキシブルプリント回路で形成し、複数の第2基板の少なくとも一部を互いに重ね合い、重ね合う部分に駆動回路を配置することを特徴とする。
【0016】
これらの構成によれば、第2基板の素子チップを転写する側を有効に利用することができる。
【0017】
また、本発明は、上記半導体装置において、複数の第2基板上の回路を互いに接続することを特徴とする。
【0018】
この構成によれば、第2基板毎に駆動回路を設ける必要がないので、製造コスト低減や使用時信頼性向上が実現可能となる。
【0019】
また、本発明は、上記半導体装置において、タイル状に配置した第2基板を1つの第4基板に貼りつけ、第2基板上の回路同士を第4基板の配線(あるいは接続手段)を介して接続することを特徴とする。
【0020】
また、本発明は、上記半導体装置において、タイル状に配置される複数の第2基板に複数の第4基板を貼りつけ、互いに隣接する第2基板の回路同士を第4基板の配線(あるいは接続手段)を介して接続することを特徴とする。
【0021】
また、本発明は、上記半導体装置において、第2基板をフレキシブルプリント回路で形成し、複数の第2基板同士の少なくとも一部を互いに重ね合せ、重なり合う部分で互いの回路を接続することを特徴とする。
【0022】
また、本発明は、上記半導体装置において、1種類の第2基板を互いに重ね合せ、重なり合う部分で互いの回路を接続することを特徴とする。
【0023】
また、本発明は、上記半導体装置において、第2基板をフレキシブルプリント回路で形成し、第1の種類の第2基板と第2の種類の第2基板とを交互に重ね合せ、第1の種類の第2基板の素子チップを転写する側と、第2の種類の第2基板の素子チップを転写するのとは反対側で、互いの回路を接続することを特徴とする。
【0024】
また、本発明は、上記半導体装置において、フレキシブル基板を第1及び第2のフレキシブルプリント回路基板で形成し、第1及び第2のフレキシブルプリント回路基板を交互に配置すると共に、第2のフレキシブルプリント回路基板の両側をそれぞれ隣接する第1のフレキシブルプリント回路基板に乗り上げるように重ね合わせて両基板の回路同士を接続することを特徴とする。
【0025】
また、本発明は、上記半導体装置において、異方性導電材料により、複数の第2基板上の回路を互いに接続することを特徴とする。
【0026】
また、本発明は、上記半導体装置において、ワイヤボンディングにより、複数の第2基板上の回路を互いに接続することを特徴とする。
【0027】
また、本発明は、上記半導体装置において、インクジェット(液滴吐出)方式により導電性材料を吐出して配線を形成し、複数の第2基板上の回路を互いに接続することを特徴とする。
【0028】
また、本発明は、上記半導体装置において、インクジェット方式により絶縁材などの埋設材料を吐出して複数配置された第2基板相互間の溝や隙間を埋め、その後にインクジェット方式により導電性材料を吐出して配線を形成し、互いに隣接する第2基板上の回路同士を接続することを特徴とする。
【0029】
また、本発明は、上記半導体装置において、インクジェット方式により撥液材料を吐出して撥液線(線状の撥液膜)を形成し、その後インクジェット方式により導電性材料を吐出して配線を形成し、互いに隣接する第2基板の回路同士を接続することを特徴とする。
【0030】
また、本発明は、上記半導体装置において、光インターコネクトにより、複数の第2基板上の回路を互いに接続する、あるいは互いに隣接する第2基板の回路同士を接続することを特徴とする。
【0031】
これらの構成によれば、複数の第2基板上の回路を互いに接続する具体的な方法が与えられる。特に、タイル状に配置される複数の第2基板を1つの第4基板に貼りつけ、第2基板相互の回路同士を第4基板の配線を介して接続することで、第4基板により半導体装置の強度が向上する。また、第2基板を曲げる必要がないので、より確実に、複数の第2基板上の回路を互いに接続することができる。この場合、複数の第2基板を、複数の第4基板に貼り付け、互いに隣接する第2基板の回路同士を第4基板の配線を介して接続してもよい。また、フレキシブルプリント回路基板は、1つの種類のものを互いに重ね合わせるのであれば、1種類の第2基板を用意するだけでよい。また、異方性導電材料により複数の第2基板上の回路を互いに接続すれば、より簡単に、複数の第2基板上の回路を互いに接続することができる。また、光インターコネクトにより、互いに隣接する第2基板の回路同士を接続すれば、電気的に接続する必要がないので、より確実な接続が保証できる。
【0032】
また、本発明は、上記半導体装置において、隣接する第2基板にそれぞれ相補的な凸凹部を形成し、当該凹凸部同士の嵌め合わせを繰り返すことによってタイル状配置とすることを特徴とする。
【0033】
この構成によれば、第2基板を自己整合的に正確に配置することができる。
【0034】
また、本発明は、上記に記載の半導体装置において、機能素子が薄膜トランジスタであることを特徴とする。
【0035】
また、本発明は、上記に記載の半導体装置において、機能素子が有機エレクトロルミネッセンス素子であることを特徴とする。
【0036】
また、本発明は、上記半導体装置において、第4基板上に有機エレクトロルミネッセンス素子を備えることを特徴とする。
【0037】
これらの構成によれば、機能素子が薄膜トランジスタや有機エレクトロルミネッセンス素子である、又は、第4基板上に有機エレクトロルミネッセンス素子を備える半導体装置において、素子チップと第2基板の位置決めや製造時のハンドリングを容易にするために、小型の第2基板を用いながら、大型の半導体装置の製造が可能となる。
【0038】
また本発明は、上記の半導体装置において、素子チップの剥離や転写に、レーザー照射を用いることを特徴とする。
【0039】
この方法によれば、本発明で用いる剥離や転写が、難なく可能となる。
【0040】
また本発明は、上記いずれかの半導体装置を備えてなることを特徴とする電気光学装置である。
【0041】
この構成によれば、一般に、より大型化の要請が強い電気光学装置に対して、素子チップと第2基板の位置決めや製造時のハンドリングを容易にするために、小型の第2基板を用いながら、大型の電気光学装置の製造が可能となる。電気光学装置には、液晶表示装置、有機EL表示装置、電気泳動素子が含まれる。
【0042】
また、本発明は上述の電気光学装置を表示部として用いる電子機器である。ここで、電子機器にはビデオカメラ、テレビ、大型スクリーン、携帯電話機、パーソナルコンピュータ、携帯型情報端末装置(いわゆるPDA)、その他各種のものが含まれる。
【0043】
また、本発明の液晶表示装置は、支持基板と、上記支持基板上に画面の単位表示領域を構成する単位表示パネルを複数配列してなる液晶表示パネルと、上記単位表示パネルの画素素子群を駆動する駆動回路と、上記駆動回路を制御するドライバICと、を備える。
【0044】
かかる構成とすることによって、大画面の液晶表示装置を構成することができる。
【0045】
好ましくは、上記駆動回路は、上記液晶表示パネルの外周に形成されて液晶を封止するシール部、又は上記単位表示パネル相互間の境界領域に形成されて上記液晶の保持空間を確保するスペーサ部に配置されてなる。それにより、回路の設置による表示領域の減少を回避する。
【0046】
好ましくは、上記支持基板に各単位表示パネルへの信号配線を担う配線層が形成され、この配線層を利用して前記ドライバICから各駆動回路への信号が供給される。
【0047】
また、本発明の電気光学装置は、支持基板と、上記支持基板上に画面の単位表示領域を構成する単位表示パネルを複数配列してなる表示パネルと、上記単位表示パネルの画素素子群を駆動する駆動回路と、上記駆動回路を制御するドライバICと、を備える。
【0048】
かかる構成とすることによって大画面の電気光学装置を得ることができる。
【0049】
好ましくは、上記支持基板に各単位表示パネルへの信号配線を担う配線層が形成され、この配線層を利用して上記ドライバICから各駆動回路への信号が供給される。
【0050】
また、本発明の液晶表示装置(電気光学装置)は、支持基板と、上記支持基板上に画面の単位表示領域を構成する単位表示パネルを複数配列してなる液晶表示パネルと、上記液晶表示パネルの外周に形成されて液晶を封止するシール部又は単位表示パネル相互間の境界領域に形成されて液晶の保持空間を確保するスペーサ部に配置されて前記単位表示パネルの画素素子群を駆動する駆動回路と、を備える。
【0051】
かかる構成とすることによって、全体画面の一部の表示を担う単位表示パネルを組み合わせて大型の表示装置(大画面)を形成することを可能とする。また、液晶の封止領域やスペーサ領域を駆動回路(駆動チップ)の配置場所とすることによって画像形成に使用されないシール等部分の有効活用がなされ、液晶表示パネルの開口効率が低下することを防止することが出来る。
【0052】
好ましくは、上記支持基板に各単位表示パネルへの信号配線を担う配線層が形成され、この配線層を利用して画面全体の画像を制御するドライバICから各駆動回路への信号が供給される。それにより、大型(液晶)表示パネルの信号配線を確保することが出来る。
【0053】
好ましくは、上記単位表示パネルが、第1基板上に回路素子としての機能を果たす機能素子を形成し、この機能素子を1つ以上含む素子チップを剥離して第2基板上へ転写することにより、又は、上記素子チップを上記第1基板から剥離して第3基板に転写し、さらに上記第3基板から上記素子チップを上記第2基板上へ転写することにより該第2の基板に回路を形成してなる。
【0054】
かかる構成とすることによって剥離転写技術による素子チップ基板によって単位表示パネルを構成することができる。
【0055】
また、本発明の半導体装置の製造方法は、第1基板に剥離層を介して薄膜素子又は薄膜回路を含む回路チップを形成する転写基板形成工程と、上記第1基板に形成した回路チップを剥離して直接に又は第3基板への転写を介して第2基板に転写する剥離転写工程と、上記回路チップが転写された第2基板を下地基板上にタイル状に複数配列する第2基板配列工程と、を含む。
【0056】
かかる構成によれば、回路チップと第2基板の位置決めや製造時のハンドリングを容易にするために相対的に小型の第2基板を用いながら、大型の半導体装置(あるいは電気光学装置)の製造が可能となる。
【0057】
好ましくは、上記第2基板配列工程は、更に、上記タイル状に複数配列された第2基板のうち互いに隣接する第2基板同士を上記下地基板に形成された配線によって電気的に接続する接続工程、を含む。
【0058】
かかる構成とすることによって、第2基板同士を電気的に接続することが可能となる。
【0059】
好ましくは、上記第2基板配列工程は、更に、上記タイル状に複数配列された第2基板のうち互いに隣接する第2基板同士の少なくとも一部を重ね合せ、この重ね合わせた部分で隣接する第2基板相互の電気的接続を行う接続工程、を含む。
【0060】
かかる構成とすることによって、重ね合わせ部分で第2基板同士を電気的に接続することが可能となる。
【0061】
また、本発明の半導体装置の製造方法は、第1基板に剥離層を介して薄膜素子又は薄膜回路を含む回路チップを形成する転写基板形成工程と、上記第1基板に形成した回路チップを剥離して直接に又は第3基板への転写を介して第2基板に転写する剥離転写工程と、上記回路チップが転写された第2基板をタイル状に複数配列すると共に、配列された第2基板同士の境界上に該境界を跨ぐ第4の基板を配置し、この第4基板を介して互いに隣接する第2基板同士を電気的に接続する第2基板配列工程と、を含む。
【0062】
かかる構成としても隣接する第2基板同士を電気的に接続することが可能となる。
【0063】
好ましくは、上記第2基板同士の電気的接続を異方性導電膜を介して行う。それにより、比較的簡単に基板間を接続することが可能となる。
【0064】
好ましくは、上記第2基板をフレキシブルプリント回路で形成する。それにより、基板同士の重ね合わせが容易となる。
【0065】
また、半導体装置の製造方法は、第1基板に剥離層を介して薄膜素子又は薄膜回路を含む回路チップを形成する転写基板形成工程と、上記第1基板に形成した回路チップを剥離して直接に又は第3基板への転写を介して第2基板に転写する剥離転写工程と、上記回路チップが転写された第2基板をタイル状に複数配列する第2基板配列工程と、配列された上記第2基板上にインクジェット方式により配線を形成し、上記第2基板相互を電気的に接続する接続工程と、を含む。
【0066】
かかる構成とすることによって配列された各第2基板の電気的接続を行うことが可能となる。
【0067】
好ましくは、上記接続工程は、インクジェット方式により撥液線を形成し、その後にインクジェット方式により配線を形成し、複数の上記第2基板上の回路を互いに接続する。それにより、インクジェット方式による配線のより確実化を図ることが可能となる。
【0068】
好ましくは、上記接続工程の前に、更に、配列された上記第2基板相互間の溝や隙間を埋設する埋設工程を含む。それにより、インクジェット式配線の断線を回避することが可能となる。
【0069】
好ましくは、上記第2基板配列工程は、隣接する2つの上記第2基板のそれぞれに互いに相補的な形状となる部分を予め形成しておき、これ等相補的形状部分の嵌め合わせを各第2基板について繰り返すことによって上記第2の基板をタイル状に配置する。それにより、各第2の基板の配置位置を一意に決めることが可能となる。
【0070】
好ましくは、上記薄膜素子は薄膜トランジスタ又は有機エレクトロルミネッセンス素子である。薄膜素子や薄膜回路は剥離転写の適用が容易である。
【0071】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好ましい実施の形態について説明する。
【0072】
(第1の実施例)
図1は、本発明の第1の実施例の半導体装置の製造過程を説明する工程図である。
【0073】
まず、図1(a)に示すように、石英ガラスなどの透明な第1基板11上にアモルファスシリコンなどの剥離層10を介して機能素子12を1つ以上含む機能素子チップ13を複数形成する。各機能素子チップ13上には、導電性材料からなる第1パッド15が回路接続用の端子として形成される。
【0074】
図1(b)は、機能素子チップ13を転写すべき第2基板14を示している。第2基板14は、例えば、プリント配線回路基板であり、上面に導電性材料からなる第2パッド16、下面に配線17、第2パッド16及び配線17を接続するビアプラグ18(ビアホールを埋設する導電体)などが形成されている。
【0075】
次に、図1(c)に示すように、第1基板110及び第2基板14を張り合わせ、転写対象となる機能素子チップ13のパッド15と第2基板14のパッド16とを接続し、機能素子チップ13の回路と第2基板14の回路配線とを接続する。そして、接着剤などの張り合わせ手段を介して転写対象となる機能素子チップ13を第2の基板14に貼り合わせる。
【0076】
次に、図1(c)に示すように、基板剥離転写技術によって第1基板11から素子チップ13を剥離して第2基板14側に転写する。
【0077】
すなわち、第1基板11の背面から転写対象の機能素子チップ13の下地の剥離層10にレーザを照射してアブレーションを生じさせ、機能素子チップ13と第1基板11間を遊離する。接着剤などの接着(あるいは接合)手段を介して機能素子チップ13を第2基板基板14側に固定して、第1の基板を第2の基板から離間し、機能素子チップ13を第1基板11から剥離し、第2の基板14側に移動する。なお、剥離転写技術については後述する。
【0078】
機能素子12を1つ以上含む素子チップ13を剥離し、第2基板14上へ転写し、素子チップ13上の回路と第2基板14上の回路を接続することにより、半導体装置を形成する。第1パッド15と第2パッド16の導通をとることにより、機能素子チップ13上の回路と第2基板14上の回路を接続する。第1パッド15と第2パッド16との導通をとるのは、剥離転写前でも後でもよい。
【0079】
このようにして、機能素子チップ13を第2基板14に転写してチップ転写第2基板21が形成される。
【0080】
次に、図2に示すように、複数のチップ転写第2基板21を更に支持基板23の上にタイル状に複数配置あるいは配列することでより大型の半導体装置を形成する。
【0081】
同図に示すように、複数のチップ転写第2基板21をタイル状に配置することで半導体装置をより大型化している。これ等のチップ転写第2基板21はそれぞれ独立に電源や信号の供給を受けて、搭載回路や画素等が独立して駆動可能になされている。電源や信号の供給は下地基板23に形成された配線を介して行うことが可能である。また、後述するように、配列されたチップ転写第2基板21上に配線を更に形成して電源や信号の供給を行うこととしても良い。図示の例では、チップ転写第2基板21の素子チップを転写した面と反対側の面に駆動回路22を配置している。それにより、個々のチップ転写第2基板21毎に独立に駆動可能としている。
【0082】
なお、上述した、第1基板11、機能素子12、素子チップ13、第2基板14、第1パッド15、第2パッド16、配線17、ビアプラグ18などの材料、製造方法、構造などは、同等の他の手段、材料、均等物等への置き換えが可能であり、このようなものも本発明の思想の範囲内にある。また、支持基板23は必須のものではなく、なくとも良い。
【0083】
(第2の実施例)
図3は、本発明の第2の実施例の半導体装置の製造過程を説明する工程図である。この例では、第3の基板(仮転写基板)を使用している。
【0084】
まず、同図(a)に示すように、石英ガラス等の透明な第1基板11上にアモルファスシリコン等による剥離層10を形成する。この上に、機能素子12を1つ又はそれ以上含む機能素子チップ13を複数形成する。
【0085】
図3(b)に示すように、仮転写基板としての第3基板19に仮接着層19aを形成する。
【0086】
図3(c)に示すように、第1基板11と第3基板19とを仮接着層19aを介して貼り合わせる。第1基板11の背面側から転写対象の機能素子チップ13の下地の剥離層10にレーザを照射し、剥離層10にアブレーションを生じさせる。第1及び第3基板を離間して機能素子チップ13を第1基板11から剥離し、第3基板19に仮転写する。
【0087】
次に、図3(d)に示すように、第3基板19に仮転写された機能素子チップ13に接着剤を塗布して第2基板14と貼り合わせる。第2基板は、例えば、多層配線のフレキシブルプリント回路であり、前述したように、第2パッド16、配線17、ビアプラグ18等が形成されている。
【0088】
図3(e)に示すように、第基板19の背面からレーザ照射などによって仮接着層19aの接着力を失わせる。第3基板を第2基板から離間して、機能チップ13を第3基板から剥離し、第2基板14側に転写する。機能チップのパッド15と第2基板14のパッド16とを金やアルミニウムなどのパッド配線20によって接続する。第1パッド15と第2パッド16の導通をとることにより、素子チップ13上の回路と第2基板14上の回路を接続する。なお、後述するように、ワイヤボンディング以外の接続手段によって基板14の電気回路や配線と接続しても良い。
【0089】
このようにして、機能素子チップ13を搭載したチップ転写第2基板21が形成される。
【0090】
次に、図4に示すように、複数のチップ転写第2基板21を更に支持基板23の上にタイル状に複数配置あるいは配列することでより大型の半導体装置を形成する。
【0091】
図4に示す例では、チップ転写第2基板21の片側が隣接するチップ転写基板21の上に一部乗り上げるようにしている。この基板21同士が重畳した部分で両基板間の回路の接続を行うことができる。この実施例も同様に、複数のチップ転写第2基板21はそれぞれ独立に駆動されている。チップ転写第2基板21の素子チップを転写した面とは反対側の面に駆動回路22を配置している。また、チップ転写第2基板21をフレキシブルプリント回路(FPC)で形成し、複数の第2基板21同士を互いに重ね合せ、重なり合う部分に駆動回路22を配置している。なお、この場合、チップ転写第2基板21は、その端部において積層されているが、重なり合うそれぞれのチップ転写第2基板21の端部の間に駆動回路22を配置することが好ましい。
【0092】
なお、上述した、第1基板11、機能素子12、素子チップ13、第2基板14、第1パッド15、第2パッド16、配線17、ビアプラグ18などの材料、製造方法、構造などは、同等の他の手段、材料、均等物等への置き換えが可能であり、このようなものも本発明の思想の範囲内にある。また、支持基板23は必須のものではなく、なくとも良い。
【0093】
(第3の実施例)
図5は、本発明の第3の実施例の半導体装置の構造を示す図である。チップ転写第2基板21やこれらの製造過程は、前述した第1及び第2の実施例と略同様である。
【0094】
本実施例では、複数のチップ転写第2基板21間で搭載している回路同士を互いに接続している。また、タイル状に配置したチップ転写第2基板21を1つの第4基板24に貼りつけ、第2基板21上の回路を、異方性導電材料25や第4基板24上に形成された接続配線26を介して接続している。なお、支持基板23は第4基板24として兼用することが出来る。この場合、第4基板24上に、接続配線26が形成されるように、凹部を設けることが好ましい。その際には、凹部の中心が、タイル状に配置されるチップ転写基板21のつなぎ目に位置するようにするとよい。
【0095】
(第4の実施例)
図6は、本発明の第4の実施例の半導体装置の構造を示す図である。第2基板21やこれらの製造方法は、第1と第2の実施例と概略は同一である。本実施例では、複数のチップ転写第2基板21上の回路を互いに接続している。また、タイル状に配置したチップ転写第2基板21に複数の第4基板24を貼りつけ、チップ転写第2基板21上の回路を、異方性導電材料25や第4基板24上に形成された接続配線26を介して接続している。
【0096】
なお、チップ転写第2基板21、第4基板24、異方性導電材料25、接続配線26等の材料、製造方法、構造等は、同等の他の手段、材料、均等物等への置き換えが可能であり、このようなものも本発明の思想の範囲内にある。
【0097】
(第5の実施例)
図7は、本発明の第5の実施例の半導体装置の構造を示す図である。チップ転写第2基板21やこれらの製造方法は、第1と第2の実施例と概略は同一である。本実施例では、基板23条に複数のチップ転写第2基板21がタイル状に配列されている。また、配列されたチップ転写第2基板21の相互間に光トランシーバ(光送信機、光受信機)T1、T2、T3…Tnをそれぞれ配置し、光インターコネクト(光相互接続)によって互いに接続している。光信号でデータや画像情報の伝送を確保している。
【0098】
なお、光トランシーバは所要数を配置することが可能である。また、画像等のデータ信号をシリアル信号で伝送することによって光信号数(トランシーバ数)を減らすことが可能である。
【0099】
(第6の実施例)
図8は、本発明の第6の実施例の半導体装置の構造を示す図である。チップ転写第2基板21やこれらの製造方法は、前述の第1及び第2の実施例と同様である。
【0100】
本実施例では、チップ転写第2基板21をフレキシブルプリント回路で形成している。複数のチップ転写第2基板21を互いに重ね合わせ、互いに重なり合う部分において、異方性導電材料25を介して互いの回路を接続している。また、この実施例では、1種類のチップ転写第2基板21の複数を、瓦のように互いに重ね合わせている。
【0101】
なお、チップ転写第2基板21、異方性導電材料25などの材料、製造方法、構造等は、同等の他の手段、材料、均等物等への置き換えが可能であり、このようなものも本発明の思想の範囲内にある。
【0102】
(第7の実施例)
図9は、本発明の第7の実施例の半導体装置の構造を示す図である。チップ転写第2基板21やこれらの製造方法は、第1及び第2の実施例と同様である。
【0103】
本実施例では、チップ転写第2基板21をフレキシブルプリント回路で形成している。複数のチップ転写第2基板21を互いに重ね合わせ、重なり合う部分で異方性導電材料25を介して互いの回路を接続している。また、平坦な形状の第1種類のチップ転写第2基板21aと、両端部が持ち上がった形状の第2の種類のチップ転写第2基板21bとを交互に配置する。該両端部でそれぞれチップ転写第2基板21aの上にチップ転写基板21bが乗り上げるように重ね合わせ、第1の種類のチップ転写第2基板21aの素子チップを転写した側の面と、第2の種類のチップ転写第2基板21bの素子チップを転写した側とは反対側の面とで、互いの回路を接続している。
【0104】
そして、隣接するチップ転写第2基板21aと21bとでそれぞれ相補的な凹凸部を形成し、凹凸部の嵌め合せを繰り返すことによってチップ転写第2基板をタイル状に配置する。
【0105】
なお、第7の実施例の、チップ転写第2基板21、第4基板24、異方性導電材料25、接続配線26などの材料、製造方法、構造等は、同等の他の手段、材料、均等物等への置き換えが可能であり、このようなものも本発明の思想の範囲内にある。
【0106】
なお、第3乃至第7の実施例では、異方性導電材料25や光結合によって複数のチップ転写第2基板21上の回路を互いに接続している。しかしながら、ワイヤボンディングにより、複数のチップ転写第2基板21上の回路を互いに接続してもよい。
【0107】
また、インクジェット方式により配線を形成し、複数のチップ転写第2基板21上の回路を互いに接続してもよい。
【0108】
また、インクジェット方式によりチップ転写第2基板21相互間の溝や隙間を埋め、その後、インクジェット方式により導電性配線材料を吐出して配線を形成し、複数の第2基板21上の回路を互いに接続してもよい。
【0109】
また、インクジェット方式により撥液材料を吐出して撥液線(線状の撥液膜)を形成し、そのあとインクジェット方式により導電性材料を撥液線間に吐出してより確実に配線を形成し、複数の第2基板21上の回路を互いに接続してもよい。
【0110】
また、光インターコネクト(光相互接続)により、複数のチップ転写第2基板21上の回路を互いに非接触型(発光器・受光器)で接続してもよい。
【0111】
また、第1乃至第7の実施例において、隣接するチップ転写第2基板21にそれぞれ相補的な形状の凸部及び凹部を形成し、この凹部と凸部とを嵌合するとチップ転写第2基板21同士が連結し、タイル状に配置されるようにしても良い。
【0112】
また、第1から第7の実施例では、機能素子12が薄膜トランジスタであってもよい。機能素子12が有機エレクトロルミネッセンス素子であってもよい。
【0113】
また、上述した第3の実施例では、第4基板24上に有機エレクトロルミネッセンス素子を備えていてもよい。
【0114】
(第8の実施例)
図10は、本発明の第8の実施例の電気光学装置30の表示素子の構造を示す図である。第1乃至第7のいずれかの実施例と略同一な構造や製造方法による半導体装置を用いている。
【0115】
同図に示すように、表示領域31は、複数のチップ転写第2基板32によって構成されている。チップ転写第2基板32上には、素子チップ33がマトリクス状に配置され、配線34が格子状に形成されている。
【0116】
この構造によれば、電気光学装置30は、一般に、機能素子33よりも機能素子33に対する配線や支持基板の面積比率が大きいので、配線や支持基板を別個に作成し、必要とされる部分にだけ機能素子を配置することによる製造コストの低減の効果が、より有効となる。電気光学装置30は、例えば、有機EL表示装置や液晶表示装置が該当する。チップ転写第2基板を多数(複数)使用することによって大画面の表示装置を実現可能となる。
【0117】
(剥離転写方法の例)
図11は、本発明に使用する剥離転写技術を説明する説明図である。
【0118】
まず、図11(a)に示すように、石英やガラスでできた第1基板41上に、SiH4を用いたPECVDや、Si2H6を用いたLPCVDにより、非晶質シリコン膜42を成膜する。次に、その上に、機能素子43を形成する。最上層には、第1パッド44を形成する。
【0119】
図11(b)に示すように、これを上下逆にして、第2基板45に貼り合わせ、石英やガラスでできているため透明な第1基板41を通して、剥離転写したい素子チップ47にのみ、レーザー46を照射する。
【0120】
すると、図11(c)に示すように、レーザー46が照射したところのみ、非晶質シリコン膜42がアブレーションして剥離し、素子チップ47が第2基板45に転写される。素子チップ47の剥離や転写に、レーザー46の照射を用いている。この構造によれば、素子チップ47の剥離や転写を、確実に行うことが可能となる。
【0121】
(薄膜トランジスタの製造方法の例)
図12は、機能素子チップ47の製造過程の例を説明する工程図である。この例は、機能素子の1例としての薄膜トランジスタについて、その製造過程を説明する。ここでは、レーザー結晶化多結晶薄膜トランジスタを例にとっている。
【0122】
まず、図12(a)に示すように、石英やガラスでできた第1基板51上に、SiH4を用いたPECVDや、Si2H6を用いたLPCVDにより、非晶質シリコン膜を成膜する。この非晶質膜にレーザ53を照射することにより熱処理を行うと、非晶質シリコン膜は結晶化し、多結晶シリコン膜52となる。
【0123】
図12(b)に示すように、多結晶シリコン膜52をパターニングした後、ゲート絶縁膜54を成膜し、ゲート電極55を成膜およびパターニングする。リンやボロンなどの不純物をゲート電極55を用いて自己整合的に多結晶シリコン膜52に打ち込み、活性化し、CMOS構造のソース領域およびドレイン領域56を形成する。
【0124】
図12(c)に示すように、層間絶縁膜57を成膜し、コンタクトホールを開穴し、ソース電極およびドレイン電極58を成膜およびパターニングする。
【0125】
このようにして、第1の基板上に薄膜トランジスタチップ47が形成される。
【0126】
(有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法の例)
図13は、機能素子の1つとしての有機エレクトロルミネッセンス素子についてその製造過程を説明する説明図である。
【0127】
まず、図13(a)に示すように、石英やガラスでできた第1基板61上に、透明電極62を成膜し、密着層63を成膜し、発光させたい領域に開口部を形成する。ポリイミドやアクリルによりバンク64を成膜し、発光させたい領域に開口部を形成する。
【0128】
次に、図13(b)に示すように、酸素プラズマやCF4プラズマなどのプラズマ処理により、基板表面の濡れ性を制御する。その後、正孔注入層65および発光層66を、スピンコート、スキージ塗り、インクジェットプロセス等の液相プロセスや、スパッタ、蒸着などの真空プロセスにより成膜する。仕事関数を小さくするためにアルカリ金属を含んだ陰極67を成膜し、封止剤68により封止し、完成する。
【0129】
なお、本有機エレクトロルミネッセンス素子の製造過程の例は、第4基板に形成する有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法としても用いることもできる。
【0130】
(第9の実施例)
図14及び図15は、本発明を使用して大画面の表示装置を形成する例を説明する説明図である。この例では、表示装置の具体的として電気光学装置である液晶表示装置を示している。
【0131】
図14に示すように、大画面の液晶表示装置70は図10に示した例と同様に大画面の表示領域を複数の単位表示パネル71の組み合わせによって構成している。この行列状に配置された単位表示パネル71各々をチップ転写第2基板21(図10の32に相当する)によって構成している。単位表示パネル71上には、行列状に配列された多数の図示しない画素電極を駆動する素子チップが各画素電極毎に配置されている。各素子チップは格子状の配線を介して単位表示パネル71毎に設けられた駆動回路22によって駆動される。
【0132】
液晶表示装置70には大画面の表示領域に表示すべき全体の画像情報(映像信号)が供給されるドライバIC29が設けられている。このドライバIC29によって画面全体の画像情報が複数の小画面領域に分割され、各小画面の画像情報が該当する単位表示パネル71の駆動回路22に送られる。駆動回路22は小画面の画像情報を単位表示パネル71の各画素に割り当てて各素子チップの動作を制御する。このようにすることによって、大画面の表示装置を構成することが出来る。
【0133】
なお、ドライバIC29は基板23(あるいは表示画面)の大きさに対応して1辺に複数個配置する構成としても良い。また、シリアル伝送やバスライン形式とすること等によってドライバIC29とこれによって駆動される複数の駆動回路22間の配線の一部を共用する構成としても良い。
【0134】
図15(a)は、図14中に点線で示すA部を拡大した説明図である。また、同図(b)は、図15(a)中のB−B方向における断面を概略的に示している。
【0135】
同図に示すように、単位表示パネル71は、いわゆるTFTアレイ基板72とカラーフィルタ基板73との間にシール材74、スペーサ75を介して隙間を確保し、この隙間に液晶76を保持する構成としている。TFTアレイ基板72はチップ転写第2基板21によって形成され、これが予め配線が形成された第5基板28上に行列状に複数配列されている。第5基板28は、支持基板23と、この上に形成されたドライバIC29と各駆動回路22とを接続する接続パターンを担う配線膜26と、この配線膜26を絶縁する絶縁膜27を含んで構成される。第5基板28に形成された配線パターンはシール材74、スペーサ75の配置パターンに対応して形成されており、表示画素の開口効率を低下させないように配慮されている。チップ転写第2基板21の駆動回路22と配線26とは基板21及び絶縁膜27に形成されたビアプラグを介して接続される。
【0136】
配列されたカラーフィルタ基板73には、図示しない透明電極やカラーフィルタ、配向膜等が形成されている。カラーフィルタ基板73相互間は、例えば、接着材によって密閉される。単位表示パネル71に設けられる駆動回路22は、好ましくは、シール材74あるいはスペーサ75の内部に配置される。
【0137】
上述した実施例によれば、予め配線した第5基板上に素子転写基板(TFTアレイ基板)とカラーフィルタを含む単位表示パネル71を配列して大画面を形成するので、技術的に開発が困難な大型のTFTパネル製造設備を使用せずに製造することが可能となる。
【0138】
(第10の実施例)
図16は、第10の実施例を示している。同図において図14及び図15と対応する部分には同一符号を付し、かかる部分の説明は省略する。
【0139】
この例では、チップ転写第2基板21にフレキシブル印刷配線基板(FPC)を使用し、このフレキシブル基板FPC内に形成された配線26を利用してドライバIC29と隣接基板21の駆動回路22との接続を行うことで支持基板23上の配線膜形成を不要としている。また、大型のFPC基板を転写対象体とすることによって支持基板23を不要とした薄膜表示装置等を形成することも可能である。この場合の単位表示パネル21としては、反射型液晶パネル、トップエミッション型の有機ELパネルなどが該当する。
【0140】
(第11の実施例)
図17は、第11の実施例を示している。同図において図14及び図15と対応する部分には同一符号を付し、かかる部分の説明は省略する。
【0141】
この例もチップ転写第2基板21にフレキシブル印刷配線基板(FPC)を使用し、支持基板23上の配線膜形成を不要としている。この例では、FPCの配線26と駆動回路22とがビアプラグを介して接続されている。
【0142】
(第12の実施例)
図18は、第12の実施例を示している。同図において図4と対応する部分には同一符号を付し、かかる部分の説明は省略する。
【0143】
この例では、フレキシブル回路(FPC)等を使用することによって行列状に配置された各チップ転写第2基板21の片側が隣接するチップ転写第2基板21の駆動回路22上に一部乗り上げるようにしている。このチップ転写第2基板21の乗り上げた部分の下面の接続端子と駆動回路22との間で、駆動回路22と配線26との間で、また、チップ転写第2基板21の下面に接続端子と配線236との間で、それぞれ回路接続が可能である。前述したように、接続には異方性導電膜や接続端子、導電性接着剤などが使用可能である。それにより、回路接続の容易化が図られる。また、組み合わされた全体の基板の突起部の高さが略同じ高さとなり、例えば、液晶の封止や有機ELのパッケージの際に組み立てがより容易になる。
【0144】
(電気光学装置及び電子機器への適用例)
図19に、上述の発明の構成を有する表示装置80の回路接続の例を示す。本実施例の表示装置80は、各画素領域に電界発光効果により発光可能な発光層OLED、それを駆動するための電流を記憶する保持容量Cを備え、さらに本発明の製造方法で製造される薄膜トランジスタT1およびT2を備えて構成されている。ドライバ領域81からは、選択信号線Vselが各画素領域に供給されている。ドライバ領域82からは、信号線Vsigおよび電源線Vddが各画素領域に供給されている。選択信号線Vselと信号線Vsigを制御することにより、各画素領域に対する電流プログラムが行われ、発光部OLEDによる発光が制御される。ここで、ドライバ領域81及びドライバ領域82は上述した駆動回路22に対応する。
【0145】
なお、表示装置80の接続回路は、発光要素に電界発光素子を使用する場合の回路の一例であり他の回路構成も可能である。また発光要素に液晶表示素子を利用することも回路構成を種々変更することにより可能である。
【0146】
さらに本実施形態の表示装置80は、種々の電子機器に適用可能である。図20に、本表示パネル80を適用可能な電子機器の例を挙げる。
【0147】
図20(a)は携帯電話への適用例であり、当該携帯電話90は、アンテナ部91、音声出力部92、音声入力部93、操作部94、および本発明の表示パネル80を備えている。このように本発明の表示装置は表示部として利用可能である。
【0148】
図20(b)はビデオカメラへの適用例であり、当該ビデオカメラ100は、受像部101、操作部102、音声入力部103、および本発明の表示装置80を備えている。このように本発明の表示装置は、ファインダーや表示部として利用可能である。
【0149】
図20(c)は携帯型パーソナルコンピュータへの適用例であり、当該コンピュータ110は、カメラ部111、操作部112、および本発明の表示装置80を備えている。このように本発明の表示装置は、表示部として利用可能である。
【0150】
図20(d)はヘッドマウントディスプレイへの適用例であり、当該ヘッドマウントディスプレイ120は、バンド121、光学系収納部122および本発明の表示装置80を備えている。このように本発明の表示装置は画像表示源として利用可能である。
【0151】
図20(e)はリア型プロジェクターへの適用例であり、当該プロジェクター130は、筐体131に、光源132、合成光学系133、ミラー134、ミラー135、スクリーン136、および本発明の表示装置80を備えている。このように本発明の表示装置は画像表示源として利用可能である。
【0152】
図20(f)はフロント型プロジェクターへの適用例であり、当該プロジェクター140は、筐体142に光学系141および本発明の表示装置80を備え、画像をスクリーン143に表示可能としている。このように本発明の表示装置は画像表示源として利用可能である。
【0153】
上記例に限らず本発明の表示装置80は、アクティブマトリクス型の表示装置を適用可能なあらゆる電子機器に適用可能である。例えば上記の大画面用表示装置に限定されずに、この他に、表示機能付きファックス装置、デジタルカメラのファインダ、携帯型TV、DSP装置、PDA、電子手帳、電光掲示盤、宣伝公告用ディスプレイなどにも活用することができる。
【0154】
上述した各実施例、特に、図2、図4乃至図9の配列と接続に関する各実施例は適宜に組み合わせて実施することが可能である。
【0155】
以上説明したように、本発明の半導体装置においては、回路基板間転写技術によって、形成した基板を複数組み合わせることが可能であるので、大型の装置を比較的に小型の製造装置で組み立てることが可能となって好ましい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の半導体装置の製造方法を示す図である。
【図2】本発明の第1の実施例の半導体装置の構造を示す図である。
【図3】本発明の第2の実施例の半導体装置の製造方法を示す図である。
【図4】本発明の第2の実施例の半導体装置の構造を示す図である。
【図5】本発明の第3の実施例の半導体装置の構造を示す図である。
【図6】本発明の第4の実施例の半導体装置の構造を示す図である。
【図7】本発明の第5の実施例の半導体装置の構造を示す図である。
【図8】本発明の第6の実施例の半導体装置の構造を示す図である。
【図9】本発明の第7の実施例の半導体装置の構造を示す図である。
【図10】本発明の第8の実施例の電気光学装置の表示素子の構造を説明する図である。
【図11】本発明の剥離転写方法の例を示す図ある。
【図12】本発明の薄膜トランジスタの製造方法の例を示す図ある。
【図13】本発明の有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法の例を示す図ある。
【図14】本発明の第8の実施例の大画面の表示装置を形成する例を説明する説明図である。
【図15】本発明の第8の実施例の大画面の表示装置を形成する例を説明する部分拡大図及びその断面図である。
【図16】本発明の第9の実施例を説明する説明図である。
【図17】本発明の第10の実施例を説明する説明図である。
【図18】本発明の第11の実施例を説明する説明図である。
【図19】本発明の第12の実施例を説明する説明図である。
【図20】本発明を適用した電気光学装置として有機ELを使用した表示装置の系を説明する説明図である。
【符号の説明】
11,41,61,51…第1基板、12,43…機能素子、13…素子チップ、14,21,32,45…第2基板、15…第1パッド、16…第2パッド、17,34…配線、18…ビアプラグ、19…第3基板、20…パッド配線、22…駆動回路、23…支持基板、24…第4基板、25…異方性導電材料、26…接続配線、27…絶縁膜、28…第5基板
Claims (27)
- 第1基板上に回路素子としての機能を果たす機能素子を形成し、この機能素子を1つ以上含む素子チップを剥離して第2基板上へ転写することにより、又は、前記素子チップを前記第1基板から剥離して第3基板に転写し、さらに前記第3基板から前記素子チップを前記第2基板上へ転写することにより該第2の基板に回路を形成してなる半導体装置であって、
前記第2基板をタイル状に複数配置して接続し、前記回路をより大型化する、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項1記載の半導体装置であって、
複数の前記第2基板にそれぞれ形成された各回路は各基板毎に独立に駆動されてなる、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項2記載の半導体装置であって、
前記第2基板の前記素子チップが転写される側とは反対側に、駆動回路がを配置されてなる、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項2記載の半導体装置であって、
前記第2基板はフレキシブルプリント回路基板で形成されてなり、該フレキシブルプリント回路基板同士の少なくとも一部が互いに重ね合わされてなり、重なり合う部分に駆動回路が配置されてなる、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項1記載の半導体装置であって、
隣接する前記第2基板の回路同士が接続されてなる、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項5記載の半導体装置であって、
前記タイル状に配置される複数の前記第2基板が1つの第4基板に貼りつけられてなり、前記第2基板相互の回路同士が前記第4基板の配線を介して接続されてなる、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項5記載の半導体装置であって、
前記タイル状に配置される複数の前記第2基板が複数の第4基板を貼りつけられてなり、互いに隣接する前記第2基板の回路同士が前記第4基板の配線を介して接続されてなる、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項5記載の半導体装置であって、
前記タイル状に配置される複数の前記第2基板はフレキシブルプリント回路基板で形成されてなり、該フレキシブルプリント回路基板同士の少なくとも一部が互いに重ね合わされてなり、重なり合う部分で互いの基板の回路が接続されてなる、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項8記載の半導体装置であって、
前記フレキシブル回路基板を第1及び第2のフレキシブルプリント回路基板で形成し、前記第1及び第2のフレキシブルプリント回路基板を交互に配置すると共に、前記第2のフレキシブルプリント回路基板の両側をそれぞれ隣接する前記第1のフレキシブルプリント回路基板に乗り上げるように重ね合わせて両基板の回路同士を接続する、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項5記載の半導体装置であって、
光インターコネクトにより、互いに隣接する前記第2基板の回路同士を接続する、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項1記載の半導体装置であって、
隣接する前記第2基板にそれぞれ相補的な凹凸部を形成し、当該凹凸部同士の嵌め合わせを繰り返すことによって前記第2の基板をタイル状に配置する、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項11のいずれかに記載の半導体装置であって、
前記機能素子が薄膜トランジスタ又は有機エレクトロルミネッセンス素子である、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項6記載の半導体装置であって、
前記第4基板上に有機エレクトロルミネッセンス素子を備える、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項13のいずれかに記載の半導体装置であって、
前記素子チップの剥離や転写にレーザー照射を用いる、ことを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項14のいずれかに記載の半導体装置を用いている、ことを特徴とする電気光学装置。
- 請求項15に記載の電気光学装置を備えた電子機器。
- 支持基板と、
前記支持基板上に画面の単位表示領域を構成する単位表示パネルを複数配列してなる液晶表示パネルと、
前記単位表示パネルの画素素子群を駆動する駆動回路と、
前記駆動回路を制御するドライバICと、
を備える液晶表示装置。 - 請求項17に記載の液晶表示装置であって、
前記駆動回路は、前記液晶表示パネルの外周に形成されて液晶を封止するシール部、又は前記単位表示パネル相互間の境界領域に形成されて前記液晶の保持空間を確保するスペーサ部に配置されてなる、ことを特徴とする液晶表示装置。 - 請求項17又は18に記載の液晶表示装置であって、
前記支持基板に各単位表示パネルへの信号配線を担う配線層が形成され、
この配線層を利用して前記ドライバICから各駆動回路への信号が供給される、液晶表示装置。 - 支持基板と、
前記支持基板上に画面の単位表示領域を構成する単位表示パネルを複数配列してなる表示パネルと、
前記単位表示パネルの画素素子群を駆動する駆動回路と、
前記駆動回路を制御するドライバICと、
を備える電気光学装置。 - 請求項20に記載の電気光学装置であって、
前記支持基板に各単位表示パネルへの信号配線を担う配線層が形成され、
この配線層を利用して前記ドライバICから各駆動回路への信号が供給される、電気光学装置。 - 第1基板に剥離層を介して薄膜素子又は薄膜回路を含む回路チップを形成する転写基板形成工程と、
前記第1基板に形成した回路チップを剥離して直接に又は第3基板への転写を介して第2基板に転写する剥離転写工程と、
前記回路チップが転写された第2基板を下地基板上にタイル状に複数配列する第2基板配列工程と、
を含む半導体装置の製造方法。 - 請求項22記載の半導体装置の製造方法であって、
前記第2基板配列工程は、更に、
前記タイル状に複数配列された第2基板のうち互いに隣接する第2基板同士を前記下地基板に形成された配線によって電気的に接続する接続工程、を含む半導体装置の製造方法。 - 請求項22記載の半導体装置の製造方法であって、
前記第2基板配列工程は、更に、
前記タイル状に複数配列された第2基板のうち互いに隣接する第2基板同士の少なくとも一部を重ね合せ、この重ね合わせた部分で隣接する第2基板相互の電気的接続を行う接続工程、を含む半導体装置の製造方法。 - 第1基板に剥離層を介して薄膜素子又は薄膜回路を含む回路チップを形成する転写基板形成工程と、
前記第1基板に形成した回路チップを剥離して直接に又は第3基板への転写を介して第2基板に転写する剥離転写工程と、
前記回路チップが転写された第2基板をタイル状に複数配列すると共に、配列された第2基板同士の境界上に該境界を跨ぐ第4の基板を配置し、この第4基板を介して互いに隣接する第2基板同士を電気的に接続する第2基板配列工程と、
を含む半導体装置の製造方法。 - 請求項22乃至25のいずれかに記載の半導体装置の製造方法であって、
前記第2基板配列工程は、隣接する2つの前記第2基板のそれぞれに互いに相補的な形状となる部分を予め形成しておき、これ等相補的形状部分の嵌め合わせを各第2基板について繰り返すことによって前記第2の基板をタイル状に配置する、半導体装置の製造方法。 - 請求項22乃至26のいずれかに記載の記載の半導体装置の製造方法であって、
前記薄膜素子が薄膜トランジスタ又は有機エレクトロルミネッセンス素子である半導体装置の製造方法。
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Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010504645A (ja) * | 2006-09-21 | 2010-02-12 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 熱伝導性led組立体 |
JP2010211647A (ja) * | 2009-03-11 | 2010-09-24 | Seiko Epson Corp | タッチパネル装置、電気光学装置および電子機器 |
WO2011043099A1 (ja) * | 2009-10-08 | 2011-04-14 | シャープ株式会社 | 発光部を有する複数のパネルを繋げてなる発光パネル装置、それを備えた画像表示装置および照明装置 |
WO2011068158A1 (ja) * | 2009-12-03 | 2011-06-09 | シャープ株式会社 | 画像表示装置、パネルおよびパネルの製造方法 |
JP2012238001A (ja) * | 2005-07-01 | 2012-12-06 | Ind Technol Res Inst | 電子標識のためのタイル状ディスプレイ |
JP2013504092A (ja) * | 2009-09-08 | 2013-02-04 | グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー | 重なり合うフレキシブル基板を用いるタイル型ディスプレイ |
JP2015129891A (ja) * | 2014-01-08 | 2015-07-16 | パナソニック株式会社 | ディスプレイ装置及びパネルユニット |
JP2015534703A (ja) * | 2012-09-06 | 2015-12-03 | クーレッジ ライティング インコーポレイテッド | アレイベースの電子素子のための配線板 |
WO2018074611A1 (ja) * | 2016-10-19 | 2018-04-26 | 株式会社オルガノサーキット | アクティブマトリクスledディスプレイ |
JPWO2021235114A1 (ja) * | 2020-05-20 | 2021-11-25 | ||
WO2022238799A1 (ja) * | 2021-05-13 | 2022-11-17 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 電子機器 |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7585703B2 (en) * | 2002-11-19 | 2009-09-08 | Ishikawa Seisakusho, Ltd. | Pixel control element selection transfer method, pixel control device mounting device used for pixel control element selection transfer method, wiring formation method after pixel control element transfer, and planar display substrate |
TWI366701B (en) * | 2004-01-26 | 2012-06-21 | Semiconductor Energy Lab | Method of manufacturing display and television |
JP2006049800A (ja) | 2004-03-10 | 2006-02-16 | Seiko Epson Corp | 薄膜デバイスの供給体、薄膜デバイスの供給体の製造方法、転写方法、半導体装置の製造方法及び電子機器 |
JP3956955B2 (ja) * | 2004-04-22 | 2007-08-08 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体基板の製造方法、電気光学装置の製造方法 |
JP4016968B2 (ja) * | 2004-05-24 | 2007-12-05 | セイコーエプソン株式会社 | Da変換器、データ線駆動回路、電気光学装置、その駆動方法及び電子機器 |
EP2650907B1 (en) * | 2004-06-04 | 2024-10-23 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Methods and devices for fabricating and assembling printable semiconductor elements |
US7521292B2 (en) | 2004-06-04 | 2009-04-21 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Stretchable form of single crystal silicon for high performance electronics on rubber substrates |
WO2006011664A1 (en) * | 2004-07-30 | 2006-02-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
WO2007000695A2 (en) * | 2005-06-29 | 2007-01-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Package, subassembly and methods of manufacturing thereof |
JP4897882B2 (ja) * | 2006-07-05 | 2012-03-14 | アリゾナ ボード オブ リージェンツ ア ボディー コーポレート アクティング オン ビハーフ オブ アリゾナ ステイト ユニバーシティ | 硬質担体を基板に暫定的に取り付ける方法 |
KR100826982B1 (ko) * | 2006-12-29 | 2008-05-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | 메모리 모듈 |
WO2009011699A1 (en) * | 2007-07-18 | 2009-01-22 | Nanolumens Acquisition, Inc. | Voltage partitioned display |
DE102007061473A1 (de) * | 2007-09-27 | 2009-04-02 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Strahlungsemittierende Vorrichtung |
CN101556966B (zh) * | 2008-04-10 | 2010-12-15 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种可减小等离子体损伤效应的mos管 |
JP5401831B2 (ja) * | 2008-04-15 | 2014-01-29 | 株式会社リコー | 表示装置 |
KR101221871B1 (ko) * | 2009-12-07 | 2013-01-15 | 한국전자통신연구원 | 반도체 소자의 제조방법 |
TWI490426B (zh) * | 2011-07-29 | 2015-07-01 | Light emitting device | |
KR102049735B1 (ko) * | 2013-04-30 | 2019-11-28 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계발광표시장치 및 그 제조방법 |
KR102396760B1 (ko) * | 2015-04-08 | 2022-05-11 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
CN112542468A (zh) * | 2016-07-05 | 2021-03-23 | 群创光电股份有限公司 | 显示装置 |
KR102512945B1 (ko) * | 2017-07-11 | 2023-03-22 | 코닝 인코포레이티드 | 타일링된 디스플레이들 및 그 제조 방법들 |
KR102599722B1 (ko) * | 2018-12-28 | 2023-11-09 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 패널 및 이를 포함하는 타일드 표시 장치 |
TWI694280B (zh) * | 2019-03-05 | 2020-05-21 | 友達光電股份有限公司 | 顯示裝置及其製造方法 |
KR102084353B1 (ko) * | 2019-05-21 | 2020-03-03 | 김종하 | 태양광을 이용한 시트지형 led 조명장치 및 그 제조방법 |
KR102105806B1 (ko) * | 2020-02-12 | 2020-04-28 | 김종하 | 태양광을 이용한 시트지형 led 조명장치 및 그 제조방법 |
CN112599030B (zh) * | 2020-12-11 | 2022-09-30 | 季华实验室 | 一种拼接缝隙填充装置以及led显示屏 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4548470A (en) * | 1984-06-11 | 1985-10-22 | Apogee, Inc. | Projection screen |
JP2794499B2 (ja) * | 1991-03-26 | 1998-09-03 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
GB9106720D0 (en) * | 1991-03-28 | 1991-05-15 | Secr Defence | Large area liquid crystal displays |
JPH05127605A (ja) * | 1991-04-23 | 1993-05-25 | Hitachi Ltd | 大画面液晶表示装置 |
JP3131354B2 (ja) | 1994-09-02 | 2001-01-31 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置 |
US5834327A (en) * | 1995-03-18 | 1998-11-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for producing display device |
JP4619462B2 (ja) | 1996-08-27 | 2011-01-26 | セイコーエプソン株式会社 | 薄膜素子の転写方法 |
KR100229676B1 (ko) * | 1996-08-30 | 1999-11-15 | 구자홍 | 셀프얼라인 박막트랜지스터 제조방법 |
CN1179228C (zh) * | 1997-12-25 | 2004-12-08 | 夏普公司 | 液晶显示装置 |
JPH11272209A (ja) | 1998-01-30 | 1999-10-08 | Hewlett Packard Co <Hp> | 表示用集積回路ビデオ・タイル |
JP4126747B2 (ja) * | 1998-02-27 | 2008-07-30 | セイコーエプソン株式会社 | 3次元デバイスの製造方法 |
FR2781925B1 (fr) * | 1998-07-30 | 2001-11-23 | Commissariat Energie Atomique | Transfert selectif d'elements d'un support vers un autre support |
CN1262499A (zh) * | 1999-01-29 | 2000-08-09 | 张云祥 | 液晶组合式大型彩色显示器 |
JP3539555B2 (ja) * | 1999-10-21 | 2004-07-07 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置 |
JP3906653B2 (ja) * | 2000-07-18 | 2007-04-18 | ソニー株式会社 | 画像表示装置及びその製造方法 |
US6855384B1 (en) * | 2000-09-15 | 2005-02-15 | 3M Innovative Properties Company | Selective thermal transfer of light emitting polymer blends |
EP1313149A1 (en) * | 2001-11-14 | 2003-05-21 | STMicroelectronics S.r.l. | Process for fabricating a dual charge storage location memory cell |
KR100662780B1 (ko) * | 2002-12-18 | 2007-01-02 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 테스트화소를 구비한 액정표시장치 및 이를 이용한 블랙 매트릭스를 제작하는 방법 |
-
2003
- 2003-03-20 US US10/392,191 patent/US7101729B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-03-20 JP JP2003076904A patent/JP4329368B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-03-27 TW TW092106986A patent/TWI239078B/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-03-27 KR KR10-2003-0019123A patent/KR100515774B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2003-03-27 CN CNB031082947A patent/CN100339939C/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012238001A (ja) * | 2005-07-01 | 2012-12-06 | Ind Technol Res Inst | 電子標識のためのタイル状ディスプレイ |
JP2010504645A (ja) * | 2006-09-21 | 2010-02-12 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 熱伝導性led組立体 |
JP2010211647A (ja) * | 2009-03-11 | 2010-09-24 | Seiko Epson Corp | タッチパネル装置、電気光学装置および電子機器 |
JP2013504092A (ja) * | 2009-09-08 | 2013-02-04 | グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー | 重なり合うフレキシブル基板を用いるタイル型ディスプレイ |
US8674370B2 (en) | 2009-10-08 | 2014-03-18 | Sharp Kabushiki Kaisha | Light emitting panel device wherein a plurality of panels respectively having light emitting sections are connected, and image display device and illuminating device provided with the light emitting panel device |
WO2011043099A1 (ja) * | 2009-10-08 | 2011-04-14 | シャープ株式会社 | 発光部を有する複数のパネルを繋げてなる発光パネル装置、それを備えた画像表示装置および照明装置 |
CN102576508A (zh) * | 2009-10-08 | 2012-07-11 | 夏普株式会社 | 将具有发光部的多个面板连接而成的发光面板装置、具备该装置的图像显示装置和照明装置 |
JPWO2011043099A1 (ja) * | 2009-10-08 | 2013-03-04 | シャープ株式会社 | 発光部を有する複数のパネルを繋げてなる発光パネル装置、それを備えた画像表示装置および照明装置 |
US9024936B2 (en) | 2009-12-03 | 2015-05-05 | Sharp Kabushiki Kaisha | Image display device, panel and panel manufacturing method |
JP5254469B2 (ja) * | 2009-12-03 | 2013-08-07 | シャープ株式会社 | 画像表示装置、パネルおよびパネルの製造方法 |
WO2011068158A1 (ja) * | 2009-12-03 | 2011-06-09 | シャープ株式会社 | 画像表示装置、パネルおよびパネルの製造方法 |
JP2015534703A (ja) * | 2012-09-06 | 2015-12-03 | クーレッジ ライティング インコーポレイテッド | アレイベースの電子素子のための配線板 |
JP2015129891A (ja) * | 2014-01-08 | 2015-07-16 | パナソニック株式会社 | ディスプレイ装置及びパネルユニット |
WO2018074611A1 (ja) * | 2016-10-19 | 2018-04-26 | 株式会社オルガノサーキット | アクティブマトリクスledディスプレイ |
JPWO2018074611A1 (ja) * | 2016-10-19 | 2019-09-12 | 株式会社オルガノサーキット | アクティブマトリクスledディスプレイ |
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JPWO2021235114A1 (ja) * | 2020-05-20 | 2021-11-25 | ||
WO2021235114A1 (ja) * | 2020-05-20 | 2021-11-25 | ソニーグループ株式会社 | 表示モジュール、表示装置、およびセンサモジュール |
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WO2022238799A1 (ja) * | 2021-05-13 | 2022-11-17 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 電子機器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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