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JP2003277508A - Material for insulating film, coating varnish for insulating film, and insulating film and semiconductor unit therewith - Google Patents

Material for insulating film, coating varnish for insulating film, and insulating film and semiconductor unit therewith

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Publication number
JP2003277508A
JP2003277508A JP2002087069A JP2002087069A JP2003277508A JP 2003277508 A JP2003277508 A JP 2003277508A JP 2002087069 A JP2002087069 A JP 2002087069A JP 2002087069 A JP2002087069 A JP 2002087069A JP 2003277508 A JP2003277508 A JP 2003277508A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
insulating film
acid
formula
bis
polyamide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2002087069A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoko Hase
陽子 長谷
Hisafumi Enoki
尚史 榎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Bakelite Co Ltd filed Critical Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority to JP2002087069A priority Critical patent/JP2003277508A/en
Publication of JP2003277508A publication Critical patent/JP2003277508A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Other Resins Obtained By Reactions Not Involving Carbon-To-Carbon Unsaturated Bonds (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)
  • Organic Insulating Materials (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a material for insulating film excellent in electric characteristics, thermal characteristics, mechanical characteristics, etc., and capable of making its dielectric constant lower, and a coating varnish for an insulating film containing it, and an insulating film and semiconductor units therewith. <P>SOLUTION: This material for insulating film contains as a film forming component a copolymer obtained by reacting a polyamide having a specific structure with a reactive oligomer, and the coating varnish for insulating film contains the material and an organic solvent. The insulating film having minute pores comprises a resin layer structured mainly with a polybenzooxazole obtainable by condensation reaction and crosslinking reaction which take place by heat treating the materials, and the interlayer insulating film for multi-layered wiring and/or the semiconductor unit having a protective surface layer are prepared therewith. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、絶縁膜用材料、絶
縁膜用コーティングワニス及びこれらを用いた絶縁膜並
びに半導体装置に関する。さらに詳しくは、本発明は、
電気特性、熱特性、機械特性などに優れ、かつ低誘電率
化が可能であって、半導体の層間絶縁膜や表面保護膜、
多層回路の層間絶縁膜、フレキシブル銅張板のカバーコ
ート、ソルダーレジスト膜、液晶配向膜などに好適に用
いられる絶縁膜用材料、このものを含む絶縁膜用コーテ
ィングワニス及びこれらを用いた絶縁膜、並びに該絶縁
膜を有する半導体装置に関するものである。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an insulating film material, an insulating film coating varnish, an insulating film using the same, and a semiconductor device. More specifically, the present invention provides
It has excellent electrical properties, thermal properties, mechanical properties, etc., and can have a low dielectric constant.
Insulating film material suitably used for interlayer insulating film of multilayer circuit, cover coat of flexible copper clad board, solder resist film, liquid crystal alignment film, etc., insulating film coating varnish containing the same and insulating film using these, It also relates to a semiconductor device having the insulating film.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体用材料には、必要とされる特性に
応じて、無機材料、有機材料などが、様々な部分で用い
られている。例えば、半導体用の層間絶縁膜としては、
化学気相法で作製した二酸化ケイ素等の無機酸化物膜が
使用されている。しかしながら、近年の半導体の高速
化、高性能化に伴い、上記のような無機酸化物膜では、
比誘電率が高いことが問題となっている。この改良手段
の一つとして、有機材料の適用が検討されている。
2. Description of the Related Art As materials for semiconductors, inorganic materials, organic materials and the like are used in various parts according to required characteristics. For example, as an interlayer insulating film for a semiconductor,
An inorganic oxide film such as silicon dioxide produced by a chemical vapor deposition method is used. However, with the recent increase in speed and performance of semiconductors, in the above inorganic oxide film,
The high relative dielectric constant has been a problem. The application of organic materials is being studied as one of the means for improving this.

【0003】半導体用途の有機材料としては、耐熱性、
電気特性、機械特性などに優れたポリイミド樹脂が挙げ
られ、ソルダーレジスト、カバーレイ、液晶配向膜など
に用いられている。しかしながら、一般にポリイミド樹
脂はイミド環にカルボニル基を2個有していることか
ら、吸水性、電気特性に問題がある。これらの問題に対
して、フッ素あるいはフッ素含有基を有機高分子内に導
入することにより、吸水性、電気特性を改良することが
試みられており、実用化されているものもある。また、
ポリイミド樹脂に比べて、耐熱性、吸水性、電気特性に
関して、より優れた性能を示すポリベンゾオキサゾール
樹脂があり、様々な分野への適用が試みられている。例
えば、4,4'−ジアミノ−3,3'−ジヒドロキシビフェ
ニルとテレフタル酸からなる構造を有するもの、2,2
−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサ
フルオロプロパンとテレフタル酸からなる構造を有する
ポリベンゾオキサゾール樹脂等がある。しかしながら、
さらに厳しい耐熱性、電気特性、吸水性等の向上を要求
されている先端分野では、このような要求全てを満足す
る材料は、未だ得られていないのが現状である。つま
り、優れた耐熱性を示すが、誘電率等の電気特性は十分
ではなく、また、フッ素導入により電気特性は向上する
ものの、耐熱性の低下を招くといった不具合が発生して
いる。特に、半導体用層間絶縁膜として有機材料を適用
する場合、無機材料に匹敵する耐熱性、機械特性、吸水
性が要求され、その上で更なる低誘電率化が求められて
いる。このような高性能化の要求に対して、無機材料で
ある無機酸化物膜の膜中に微細孔を開けることにより、
低密度化を図り、比誘電率を低減させる方法が検討され
ている。空気の比誘電率は1であり、膜中に空気を導入
して比誘電率を下げることは、米国特許第3,883,4
52号明細書に記載されている約20μmの平均孔径を
有する発泡重合体を生成させる方法から類推される。し
かしながら、空気を膜中に導入することによって効果的
な絶縁体にするためには、膜厚がサブマイクロメーター
オーダーで、平均化された比誘電率を有する必要があ
り、そして膜自体の機械特性も各工程に耐え得るもので
なければならない。このような問題を克服する無機材料
が、未だ得られていないのが現状である。
As an organic material for semiconductor use, heat resistance,
Polyimide resins, which have excellent electrical and mechanical properties, are mentioned and are used in solder resists, coverlays, liquid crystal alignment films, and the like. However, since a polyimide resin generally has two carbonyl groups in the imide ring, it has problems in water absorption and electric characteristics. In order to solve these problems, it has been attempted to introduce water or fluorine-containing groups into the organic polymer to improve water absorption and electrical characteristics, and some of them have been put into practical use. Also,
There is a polybenzoxazole resin that shows superior performance in heat resistance, water absorption, and electrical characteristics as compared with a polyimide resin, and its application to various fields has been attempted. For example, those having a structure composed of 4,4′-diamino-3,3′-dihydroxybiphenyl and terephthalic acid, 2,2
There are polybenzoxazole resins having a structure composed of -bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane and terephthalic acid. However,
In the advanced field where even more strict heat resistance, electrical characteristics, water absorption and the like are required, materials that satisfy all such requirements have not yet been obtained. That is, although excellent heat resistance is exhibited, electric characteristics such as a dielectric constant are not sufficient, and although introduction of fluorine improves the electric characteristics, the heat resistance is deteriorated. In particular, when an organic material is used as an interlayer insulating film for semiconductors, heat resistance, mechanical properties and water absorption comparable to those of inorganic materials are required, and further lower dielectric constant is required. To meet such demands for high performance, by forming fine pores in the inorganic oxide film, which is an inorganic material,
Methods for reducing the density and reducing the relative permittivity are being studied. The relative permittivity of air is 1, and it is disclosed in US Pat. No. 3,883,4 that air is introduced into the film to lower the relative permittivity.
By analogy with the method described in No. 52 for producing a foamed polymer having an average pore size of about 20 μm. However, in order to make an effective insulator by introducing air into the film, the film thickness needs to be on the order of sub-micrometer and have an averaged relative dielectric constant, and the mechanical properties of the film itself. Must also be able to withstand each process. At present, an inorganic material that overcomes such a problem has not yet been obtained.

【0004】一方、有機材料においては、サブマイクロ
メーターオーダーの微細孔を得る技術については、ブロ
ックコポリマーを加熱処理して、サブマイクロメーター
オーダーの微細孔を有する樹脂を生成させる技術が開示
されている(米国特許第5,776,990号明細書)。
ブロックコポリマーがサブマイクロメーターオーダーで
相分離することは、公知のことであり[T.Hashimoto,
M.Shibayama, M.Fujimura and H.Kawai,"Microphase Se
paration and the Polymer-polymer Interphase in Blo
ck Polymers" in "Block Copolymers-Science and Tech
nology",p.63, Ed. By D.J.Meier(Academic Pub., 19
83)]、天井温度の低いポリマー類が容易に分解するこ
とも、高分子化学の分野では、一般に良く知られている
ことである。しかしながら、比誘電率のみならず、機械
特性、電気特性、耐吸水性、耐熱性を満足させながら、
微細孔を有する樹脂組成物を得るためには、樹脂、ブロ
ック化技術、熱分解性成分などの組合わせの選択が非常
に限定され、すべての特性を満足できるものは得られて
いないのが実状である。
On the other hand, as for the technique for obtaining submicrometer-order micropores in organic materials, a technique has been disclosed in which a block copolymer is heat-treated to produce a resin having submicrometer-order micropores. (U.S. Pat. No. 5,776,990).
It is known that block copolymers undergo phase separation on the order of sub-micrometer [T. Hashimoto,
M. Shibayama, M. Fujimura and H. Kawai, "Microphase Se
paration and the Polymer-polymer Interphase in Blo
ck Polymers "in" Block Copolymers-Science and Tech
nology ", p.63, Ed. By DJMeier (Academic Pub., 19
It is also well known in the field of polymer chemistry that polymers with a low ceiling temperature easily decompose. However, while satisfying not only the relative dielectric constant but also the mechanical properties, electrical properties, water absorption resistance, and heat resistance,
In order to obtain a resin composition having fine pores, the selection of the combination of resin, blocking technology, heat decomposable component, etc. is very limited, and the fact that all properties are not satisfied has not been obtained. Is.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、このような
事情のもとで、電気特性、熱特性、機械特性などに優
れ、かつ低誘電率化を可能とする絶縁膜用材料、このも
のを含む絶縁膜用コーティングワニス及びこれらを用い
た絶縁膜、並びに該絶縁膜を有する半導体装置を提供す
ることを目的としてなされたものである。
Under these circumstances, the present invention provides an insulating film material which has excellent electrical properties, thermal properties, mechanical properties, and the like, and which has a low dielectric constant. The present invention has been made for the purpose of providing a coating varnish for an insulating film containing the above, an insulating film using the same, and a semiconductor device having the insulating film.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、前記目的
を達成するために鋭意研究を重ねた結果、特定構造のポ
リアミドと、反応性オリゴマーとを反応させてなる共重
合体を、絶縁膜用材料の膜形成成分として用いることに
より、その目的を達成し得ることを見出し、この知見に
基づいて本発明を完成するに至った。
Means for Solving the Problems As a result of intensive studies for achieving the above-mentioned object, the present inventors isolated a copolymer obtained by reacting a polyamide having a specific structure and a reactive oligomer with each other. It was found that the object can be achieved by using it as a film forming component of a film material, and the present invention has been completed based on this finding.

【0007】すなわち、本発明は、 1. 一般式(A)で表されるポリアミド構造の一部
に、ビスアミノフェノール類とトリメリック酸、トリメ
シン酸、1,3,5−シクロヘキサントリカルボン酸、
ビフェニルエーテル−3,3’,5−トリカルボン酸か
ら選ばれる3官能カルボン酸とで反応させて得られた枝
分かれ構造を有するポリアミドと、該ポリアミド構造中
のカルボキシル基、アミノ基又はヒドロキシル基と反応
し得る置換基を有する反応性オリゴマーとを反応させて
得られた共重合体を膜形成成分として含むことを特徴と
する絶縁膜用材料、
That is, the present invention is as follows: Bisaminophenols and trimeric acid, trimesic acid, 1,3,5-cyclohexanetricarboxylic acid, a part of the polyamide structure represented by the general formula (A),
A polyamide having a branched structure obtained by reacting with a trifunctional carboxylic acid selected from biphenyl ether-3,3 ′, 5-tricarboxylic acid, and a carboxyl group, an amino group or a hydroxyl group in the polyamide structure. An insulating film material comprising a copolymer obtained by reacting the obtained reactive oligomer having a substituent as a film forming component,

【化11】 [式中のR1〜R4は、それぞれ独立して水素原子又は一
価の有機基、Xは下記式(B)で表される基の中から選
ばれる四価の基を示し、2つのXは同一でも異なってい
てもよく、Yは下記式(C)、式(D)、式(E)及び
式(F)で表される基の中から選ばれる少なくとも1種
の二価の基、Zは式(G)で表される基の中から選ばれ
る二価の基を示し、m及びnは、それぞれm>0、n≧
0、2≦m+n≦1000及び0.05≦m/(m+
n)≦1の関係を満たす整数であり、繰り返し単位の配
列はブロック的、ランダム的のいずれであってもよ
い。]
[Chemical 11] [Wherein R 1 to R 4 are each independently a hydrogen atom or a monovalent organic group, and X represents a tetravalent group selected from the groups represented by the following formula (B), X may be the same or different, and Y is at least one divalent group selected from the groups represented by the following formula (C), formula (D), formula (E) and formula (F): , Z represents a divalent group selected from the groups represented by formula (G), and m and n are m> 0 and n ≧, respectively.
0, 2 ≦ m + n ≦ 1000 and 0.05 ≦ m / (m +
n) is an integer that satisfies the relationship of ≦ 1, and the arrangement of repeating units may be either block-like or random. ]

【化12】 [Chemical 12]

【化13】 [Chemical 13]

【化14】 [Chemical 14]

【化15】 [Chemical 15]

【化16】 [Chemical 16]

【化17】 [Chemical 17]

【化18】 [式(B)及び式(G)中のX1は、式(H)[Chemical 18] [X 1 in Formula (B) and Formula (G) is the same as Formula (H)]

【化19】 で表される基の中から選ばれる二価の基を示し、式
(D)中のRはアルキル基又は式(I)
[Chemical 19] Represents a divalent group selected from the group represented by: R in the formula (D) is an alkyl group or

【化20】 で表される基の中から選ばれる一価の基を示す。また式
(B)、式(C)、式(D)、式(E)、式(F)、式
(G)及び式(H)で表される基におけるベンゼン環上
の水素原子は、炭素数1〜4のアルキル基、フッ素原子
及びトリフルオロメチル基の中から選ばれる少なくとも
1個の基で置換されていてもよい。] 2. 3官能カルボン酸が、一般式(A)で表されるポ
リアミド中の繰り返し単位(m+n)に対して0.1〜
10%のモル比で反応している請求項1記載の絶縁膜材
料、 3. 3官能カルボン酸が、一般式(A)で表されるポ
リアミド中の繰り返し単位(m+n)に対して1〜5%
のモル比で反応している請求項2記載の絶縁膜材料、 4. ポリアミドが、一般式(A)中のYとして、式
(C)で表される基の中から選ばれる二価の基を有する
ものである第1項ないし第3項のいずれかに記載の絶縁
膜用材料、 5. ポリアミドが、一般式(A)中のYとして、式
(D)で表される基の中から選ばれる二価の基を有する
ものである第1項ないし第3項のいずれかに記載の絶縁
膜用材料、 6. ポリアミドが、一般式(A)中のYとして、式
(E)で表される基の中から選ばれる二価の基を有する
ものである第1項ないし第3項のいずれかに記載の絶縁
膜用材料、 7. ポリアミドが、一般式(A)中のYとして、式
(F)で表される基の中から選ばれる二価の基を有する
ものである第1項ないし第3項のいずれかに記載の絶縁
膜用材料、 8. 反応性オリゴマーが、ポリオキシアルキレン、ポ
リメチルメタクリレート、ポリα−メチルスチレン、ポ
リスチレン、ポリエステル、ポリエーテルエステル、ポ
リカプロラクトン及びポリウレタンの中から選ばれる少
なくとも1種である第1項ないし第7項のいずれかに記
載の絶縁膜用材料、 9. 反応性オリゴマーが、数平均分子量100〜1
0,000のものである第1項ないし第8項のいずれか
に記載の絶縁膜用材料、 10. 共重合体が、反応性オリゴマーユニット5〜5
0重量%を導入したものである第1項ないし第9項のい
ずれかに記載の絶縁膜用材料、 11. 第1項ないし第10項のいずれかに記載の絶縁
膜用材料と、該絶縁膜用材料を溶解若しくは分散させる
ことが可能な有機溶媒を含むことを特徴とする、絶縁膜
用コーティングワニス、 12. 第1項ないし第10項のいずれかに記載の絶縁
膜用材料、又は、第11項記載の絶縁膜用コーティング
ワニスを、加熱処理して縮合反応及び架橋反応せしめて
得られるポリベンゾオキサゾールを主構造とする樹脂の
層からなり、かつ、微細孔を有することを特徴とする絶
縁膜、 13. 絶縁膜の微細孔の大きさが、20nm以下であ
る第12項記載の絶縁膜、 14. 絶縁膜の空隙率が、5〜50%である第11項
ないし13項のいずれかに記載の絶縁膜、 15. 半導体の多層配線用層間絶縁膜として用いる第
11項ないし第14項のいずれかに記載の絶縁膜、 16. 半導体の表面保護膜として用いる第13項ない
し第14項のいずれかに記載の絶縁膜、及び 17.第15項記載の絶縁膜からなる多層配線用層間絶
縁膜及び/又は第16項記載の絶縁膜からなる表面保護
層を有することを特徴とする半導体装置、を提供するも
のである。
[Chemical 20] A monovalent group selected from the groups represented by The hydrogen atom on the benzene ring in the groups represented by formula (B), formula (C), formula (D), formula (E), formula (F), formula (G) and formula (H) is a carbon atom. It may be substituted with at least one group selected from the alkyl groups of formulas 1 to 4, a fluorine atom and a trifluoromethyl group. ] 2. The trifunctional carboxylic acid is 0.1 to 0.1 with respect to the repeating unit (m + n) in the polyamide represented by the general formula (A).
2. The insulating film material according to claim 1, which reacts at a molar ratio of 10%. Trifunctional carboxylic acid is 1 to 5% with respect to the repeating unit (m + n) in the polyamide represented by the general formula (A).
3. The insulating film material according to claim 2, which reacts in a molar ratio of Insulation according to any one of claims 1 to 3, wherein the polyamide has a divalent group selected from the groups represented by formula (C) as Y in formula (A). 4. Material for film, Insulation according to any one of items 1 to 3, wherein the polyamide has a divalent group selected from the groups represented by formula (D) as Y in formula (A). Membrane material, 6. The insulation according to any one of items 1 to 3, wherein the polyamide has a divalent group selected from the groups represented by formula (E) as Y in formula (A). Membrane material, 7. Insulation according to any one of claims 1 to 3, wherein the polyamide has a divalent group selected from the groups represented by formula (F) as Y in formula (A). Membrane material, 8. Any of paragraphs 1 to 7, wherein the reactive oligomer is at least one selected from polyoxyalkylene, polymethylmethacrylate, polyα-methylstyrene, polystyrene, polyester, polyetherester, polycaprolactone and polyurethane. 8. A material for an insulating film as described in 9. Reactive oligomer has a number average molecular weight of 100 to 1
10. The insulating film material according to any one of items 1 to 8, which is of 0000; The copolymer is a reactive oligomer unit 5-5.
10. The insulating film material according to any one of items 1 to 9, wherein 0% by weight is introduced. 12. A coating varnish for insulating film, comprising the insulating film material according to any one of items 1 to 10 and an organic solvent capable of dissolving or dispersing the insulating film material. . A polybenzoxazole obtained by subjecting the insulating film material according to any one of items 1 to 10 or the coating varnish for an insulating film according to item 11 to heat treatment to cause a condensation reaction and a crosslinking reaction 12. An insulating film comprising a resin layer having a structure and having fine pores. 13. The insulating film according to item 12, wherein the size of the fine holes in the insulating film is 20 nm or less. 14. The insulating film according to any one of items 11 to 13, wherein the insulating film has a porosity of 5 to 50%. 15. The insulating film according to any one of items 11 to 14, which is used as an interlayer insulating film for semiconductor multi-layer wiring. 15. The insulating film according to any one of items 13 to 14 used as a surface protective film for a semiconductor; A semiconductor device, comprising: an interlayer insulating film for multilayer wiring, which is formed of the insulating film according to item 15; and / or a surface protective layer, which is formed of the insulating film according to item 16.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】本発明の絶縁膜用材料は、ポリア
ミドと反応性オリゴマーとを反応させて得られた共重合
体を膜形成成分として含むものであって、該共重合体中
のポリアミドユニットの主鎖に、予め3次元構造を有す
る枝分かれ構造と、加熱により架橋するエチニル、フェ
ニルエチニル、アルキルエチニル、ビフェニレン、及び
内部アセチレンの少なくとも1種の骨格を導入し、アミ
ド基の閉環反応によるポリベンゾオキサゾールへの変換
と共に、エチニル、フェニルエチニル、アルキルエチニ
ル、ビフェニレン、内部アセチレン骨格の架橋反応によ
って、樹脂構造を3次元化させることにより、高い耐熱
性を有する樹脂を与えることができる。そして、共重合
体中のオリゴマーユニットを、樹脂加熱工程において熱
分解させ、揮散せしめることにより、ポリベンゾオキサ
ゾール樹脂を主構造とする樹脂膜中に、容易に微細孔を
形成させ低誘電率化し、耐熱性と電気特性を両立させた
多孔質絶縁膜を得ることが、本発明の骨子である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The insulating film material of the present invention contains a copolymer obtained by reacting a polyamide and a reactive oligomer as a film-forming component, and the polyamide in the copolymer is used. A branched structure having a three-dimensional structure and at least one skeleton of ethynyl, phenylethynyl, alkylethynyl, biphenylene, and internal acetylene, which are cross-linked by heating, are introduced into the main chain of the unit, and the amide group is subjected to a ring-closing reaction to form a polyamide. A resin having a high heat resistance can be provided by converting the resin structure into a three-dimensional structure through a crosslinking reaction of ethynyl, phenylethynyl, alkylethynyl, biphenylene, and internal acetylene skeleton together with conversion into benzoxazole. Then, the oligomer unit in the copolymer is thermally decomposed in the resin heating step and volatilized to form a fine pore in the resin film having a polybenzoxazole resin as a main structure to easily reduce the dielectric constant, The essence of the present invention is to obtain a porous insulating film having both heat resistance and electrical characteristics.

【0009】本発明の絶縁膜用材料における共重合体中
のポリアミドユニットを構成するポリアミドは、前記一
般式(A)で表される構造を有するものである。このポ
リアミドは、前記式(B)で表される四価の基の中のい
ずれかを有するビスアミノフェノール化合物の少なくと
も1種と、式(C)、式(D)、式(E)、式(F)に
表される二価の基の中のいずれかを有するジカルボン酸
の少なくとも1種とを用いて、あるいはジカルボン酸と
して、前記ジカルボン酸と式(G)に表される二価の基
の中のいずれかを有するジカルボン酸とを併用し、従来
の酸クロリド法、活性化エステル法、ポリリン酸やジシ
クロヘキシルカルボジイミド等の脱水縮合剤の存在下で
の縮合反応等の方法により得ることが出来る。一部に使
用されるビスアミノフェノール類と3官能カルボン酸と
で反応させて得られる枝分かれ構造を有するポリアミド
構造も、従来の酸クロリド法、活性化エステル法、ポリ
リン酸やジシクロヘキシルカルボジイミド等の脱水縮合
剤の存在下での縮合反応等の方法により導入出来る。ま
た、このエチニル、フェニルエチニル、アルキルエチニ
ル、ビフェニレン、及び内部アセチレンの少なくとも1
種の骨格を有するポリアミドに、従来から用いられてき
た、架橋反応基を有さない(架橋反応しない)タイプの
別のポリアミドを組み合わせて、相互侵入網目構造とす
ることによっても、同様に高耐熱性の樹脂を得ることが
可能である。この場合、エチニル、フェニルエチニル、
アルキルエチニル、ビフェニレン、内部アセチレン骨格
を有さないポリアミドは、前記式(B)に表される四価
の基の中のいずれかを有するビスアミノフェノール化合
物の少なくとも1種と、式(G)に表される二価の基の
中のいずれかを有するジカルボン酸の少なくとも1種と
を用いて、同様の方法により得ることが出来る。
The polyamide constituting the polyamide unit in the copolymer in the insulating film material of the present invention has a structure represented by the above general formula (A). This polyamide comprises at least one bisaminophenol compound having any one of the tetravalent groups represented by the formula (B), the formula (C), the formula (D), the formula (E) and the formula (E). At least one dicarboxylic acid having any of the divalent groups represented by (F) is used or as the dicarboxylic acid, the dicarboxylic acid and the divalent group represented by the formula (G). In combination with a dicarboxylic acid having any of the above, it can be obtained by a conventional acid chloride method, an activated ester method, a condensation reaction in the presence of a dehydration condensation agent such as polyphosphoric acid or dicyclohexylcarbodiimide, etc. . A polyamide structure having a branched structure obtained by reacting a bisaminophenol used in part with a trifunctional carboxylic acid can also be used for conventional acid chloride method, activated ester method, dehydration condensation of polyphosphoric acid, dicyclohexylcarbodiimide, etc. It can be introduced by a method such as a condensation reaction in the presence of an agent. Further, at least one of ethynyl, phenylethynyl, alkylethynyl, biphenylene, and internal acetylene.
Similar heat resistance can also be obtained by combining a polyamide having a different skeleton with another type of polyamide that has not been used in the past (no crosslinking reaction) to form an interpenetrating network structure. It is possible to obtain a resin having a strong property. In this case, ethynyl, phenylethynyl,
The polyamide having no alkylethynyl, biphenylene, or internal acetylene skeleton has at least one bisaminophenol compound having any one of the tetravalent groups represented by the above formula (B), and a polyamide represented by the formula (G). It can be obtained by a similar method using at least one dicarboxylic acid having any of the divalent groups represented.

【0010】本発明で用いる、式(B)に表される四価
の基を有するビスアミノフェノール化合物としては、
2,4−ジアミノレゾルシノール、4,6−ジアミノレゾ
ルシノール、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキ
シフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス
(4−アミノ−3−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオ
ロプロパン、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキ
シフェニル)プロパン、2,2−ビス(4−アミノ−3
−ヒドロキシフェニル)プロパン、3,3'−ジアミノ−
4,4'−ジヒドロキシジフェニルスルホン、4,4'−ジ
アミノ−3,3'−ジヒドロキシジフェニルスルホン、
3,3'−ジアミノ−4,4'−ジヒドロキシビフェニル、
4,4'−ジアミノ−3,3'−ジヒドロキシビフェニル、
9,9−ビス(4−((4−アミノ−3−ヒドロキシ)
フェノキシ)フェニル)フルオレン、9,9−ビス(4
−((3−アミノ−4−ヒドロキシ)フェノキシ)フェ
ニル)フルオレン、9,9−ビス((4−アミノ−3−
ヒドロキシ)フェニル))フルオレン、9,9−ビス
((3−アミノ−4−ヒドロキシ)フェニル))フルオ
レン、3,3'−ジアミノ−4,4'−ジヒドロキシジフェ
ニルエーテル、4,4'−ジアミノ−3,3'−ジヒドロキ
シフェニルエーテル、2,2−ビス(3−アミノ−4−
ヒドロキシ−2−トリフルオロメチルフェニル)プロパ
ン、2,2−ビス(4−アミノ−3−ヒドロキシ−2−
トリフルオロメチルフェニル)プロパン、2,2−ビス
(3−アミノ−4−ヒドロキシ−5−トリフルオロメチ
ルフェニル)プロパン、2,2−ビス(4−アミノ−3
−ヒドロキシ−5−トリフルオロメチルフェニル)プロ
パン、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシ−6
−トリフルオロメチルフェニル)プロパン、2,2−ビ
ス(4−アミノ−3−ヒドロキシ−6−トリフルオロメ
チルフェニル)プロパン、2,2−ビス(3−アミノ−
4−ヒドロキシ−2−トリフルオロメチルフェニル)ヘ
キサフルオロプロパン、2,2−ビス(4−アミノ−3
−ヒドロキシ−2−トリフルオロメチルフェニル)ヘキ
サフルオロプロパン、2,2−ビス(3−アミノ−4−
ヒドロキシ−5−トリフルオロメチルフェニル)ヘキサ
フルオロプロパン、2,2−ビス(4−アミノ−3−ヒ
ドロキシ−5−トリフルオロメチルフェニル)ヘキサフ
ルオロプロパン、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒド
ロキシ−6−トリフルオロメチルフェニル)ヘキサフル
オロプロパン、2,2−ビス(4−アミノ−3−ヒドロ
キシ−6−トリフルオロメチルフェニル)ヘキサフルオ
ロプロパン、3,3'−ジアミノ−4,4'−ジヒドロキシ
−2,2'−ビス(トリフルオロメチル)ビフェニル、
4,4'−ジアミノ−3,3'−ジヒドロキシ−2,2'−ビ
ス(トリフルオロメチル)ビフェニル、3,3'−ジアミ
ノ−4,4'−ジヒドロキシ−5,5'−ビス(トリフルオ
ロメチル)ビフェニル、4,4'−ジアミノ−3,3'−ジ
ヒドロキシ−5,5'−ビス(トリフルオロメチル)ビフ
ェニル、3,3'−ジアミノ−4,4'−ジヒドロキシ−
6,6'−ビス(トリフルオロメチル)ビフェニル、4,
4'−ジアミノ−3,3'−ジヒドロキシ−6,6'−ビス
(トリフルオロメチル)ビフェニル9,9−ビス(4−
((4−アミノ−3−ヒドロキシ)フェノキシ)−3−
フェニル−フェニル)−フルオレン、9,9−ビス(4
−((3−アミノ−4−ヒドロキシ)フェノキシ)−3
−フェニル−フェニル)−フルオレン、9,9−ビス
((2−アミノ−3−ヒドロキシ−4−フェニル)−フ
ェニル)−フルオレン、9,9−ビス((2−ヒドロキ
シ−3−アミノ−4−フェニル)−フェニル)−フルオ
レン、等が挙げられる。これらは単独で用いてもよく、
また2種類以上を組み合わせて使用してもよい。
The bisaminophenol compound having a tetravalent group represented by the formula (B) used in the present invention is
2,4-diaminoresorcinol, 4,6-diaminoresorcinol, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (4-amino-3-hydroxyphenyl) hexafluoro Propane, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) propane, 2,2-bis (4-amino-3)
-Hydroxyphenyl) propane, 3,3'-diamino-
4,4'-dihydroxydiphenyl sulfone, 4,4'-diamino-3,3'-dihydroxydiphenyl sulfone,
3,3'-diamino-4,4'-dihydroxybiphenyl,
4,4'-diamino-3,3'-dihydroxybiphenyl,
9,9-bis (4-((4-amino-3-hydroxy)
Phenoxy) phenyl) fluorene, 9,9-bis (4
-((3-amino-4-hydroxy) phenoxy) phenyl) fluorene, 9,9-bis ((4-amino-3-)
Hydroxy) phenyl)) fluorene, 9,9-bis ((3-amino-4-hydroxy) phenyl)) fluorene, 3,3′-diamino-4,4′-dihydroxydiphenyl ether, 4,4′-diamino-3 , 3'-Dihydroxyphenyl ether, 2,2-bis (3-amino-4-)
Hydroxy-2-trifluoromethylphenyl) propane, 2,2-bis (4-amino-3-hydroxy-2-)
Trifluoromethylphenyl) propane, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxy-5-trifluoromethylphenyl) propane, 2,2-bis (4-amino-3)
-Hydroxy-5-trifluoromethylphenyl) propane, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxy-6)
-Trifluoromethylphenyl) propane, 2,2-bis (4-amino-3-hydroxy-6-trifluoromethylphenyl) propane, 2,2-bis (3-amino-
4-hydroxy-2-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (4-amino-3)
-Hydroxy-2-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (3-amino-4-)
Hydroxy-5-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (4-amino-3-hydroxy-5-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (3-amino-4- Hydroxy-6-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (4-amino-3-hydroxy-6-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, 3,3'-diamino-4,4'- Dihydroxy-2,2'-bis (trifluoromethyl) biphenyl,
4,4'-diamino-3,3'-dihydroxy-2,2'-bis (trifluoromethyl) biphenyl, 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxy-5,5'-bis (trifluoro Methyl) biphenyl, 4,4'-diamino-3,3'-dihydroxy-5,5'-bis (trifluoromethyl) biphenyl, 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxy-
6,6'-bis (trifluoromethyl) biphenyl, 4,
4'-diamino-3,3'-dihydroxy-6,6'-bis (trifluoromethyl) biphenyl 9,9-bis (4-
((4-amino-3-hydroxy) phenoxy) -3-
Phenyl-phenyl) -fluorene, 9,9-bis (4
-((3-amino-4-hydroxy) phenoxy) -3
-Phenyl-phenyl) -fluorene, 9,9-bis ((2-amino-3-hydroxy-4-phenyl) -phenyl) -fluorene, 9,9-bis ((2-hydroxy-3-amino-4-) Phenyl) -phenyl) -fluorene and the like. These may be used alone,
Moreover, you may use it in combination of 2 or more types.

【0011】本発明で用いる、式(C)に表される二価
の基を有するエチニル骨格を持つジカルボン酸の例とし
ては、3−エチニルフタル酸、4−エチニルフタル酸、
2−エチニルイソフタル酸、4−エチニルイソフタル
酸、5−エチニルイソフタル酸、2−エチニルテレフタ
ル酸、2−エチニル−1,5−ナフタレンジカルボン
酸、3−エチニル−1,5−ナフタレンジカルボン酸、
4−エチニル−1,5−ナフタレンジカルボン酸、1−
エチニル−2,6−ナフタレンジカルボン酸、3−エチ
ニル−2,6−ナフタレンジカルボン酸、4−エチニル
−2,6−ナフタレンジカルボン酸、2−エチニル−1,
6−ナフタレンジカルボン酸、3−エチニル−1,6−
ナフタレンジカルボン酸、4−エチニル−1,6−ナフ
タレンジカルボン酸、5−エチニル−1,6−ナフタレ
ンジカルボン酸、7−エチニル−1,6−ナフタレンジ
カルボン酸、8−エチニル−1,6−ナフタレンジカル
ボン酸、3,3'−ジエチニル−2,2'−ビフェニルジカ
ルボン酸、4,4'−ジエチニル−2,2'−ビフェニルジ
カルボン酸、5,5'−ジエチニル−2,2'−ビフェニル
ジカルボン酸、6,6'−ジエチニル−2,2'−ビフェニ
ルジカルボン酸、2,2'−ジエチニル−3,3'−ビフェ
ニルジカルボン酸、4,4'−ジエチニル−3,3'−ビフ
ェニルジカルボン酸、5,5'−ジエチニル−3,3'−ビ
フェニルジカルボン酸、6,6'−ジエチニル−3,3'−
ビフェニルジカルボン酸、2,2'−ジエチニル−4,4'
−ビフェニルジカルボン酸、3,3'−ジエチニル−4,
4'−ビフェニルジカルボン酸、2,2−ビス(2−カル
ボキシ−3−エチニルフェニル)プロパン、2,2−ビ
ス(2−カルボキシ−4−エチニルフェニル)プロパ
ン、2,2−ビス(2−カルボキシ−5−エチニルフェ
ニル)プロパン、2,2−ビス(2−カルボキシ−6−
エチニルフェニル)プロパン、2,2−ビス(3−カル
ボキシ−2−エチニルフェニル)プロパン、2,2−ビ
ス(3−カルボキシ−4−エチニルフェニル)プロパ
ン、2,2−ビス(3−カルボキシ−5−エチニルフェ
ニル)プロパン、2,2−ビス(3−カルボキシ−6−
エチニルフェニル)プロパン、2,2−ビス(4−カル
ボキシ−2−エチニルフェニル)プロパン、2,2−ビ
ス(4−カルボキシ−3−エチニルフェニル)プロパ
ン、2,2−ビス(2−カルボキシ−4−エチニルフェ
ニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス(3−カ
ルボキシ−5−エチニルフェニル)ヘキサフルオロプロ
パン、2,2−ビス(4−カルボキシ−2−エチニルフ
ェニル)ヘキサフルオロプロパン、4−エチニル−1,
3−ジカルボキシシクロプロパン、5−エチニル−2,
2−ジカルボキシシクロプロパン、1,3−ビス(4−
カルボキシ−フェノキシ)−5−エチニル−ベンゼンの
構造異性体、5−(3−エチニル−フェノキシ)−イソ
フタル酸、5−(1−エチニル−フェノキシ)−イソフ
タル酸、5−(2−エチニル−フェノキシ)イソフタル
酸、2−(1−エチニル−フェノキシ)テレフタル酸、
2−(2−エチニル−フェノキシ)テレフタル酸、2−
(3−エチニル−フェノキシ)テレフタル酸、5−(1
−エチニル−フェニル)−イソフタル酸、5−(2−エ
チニル−フェニル)−イソフタル酸、5−(3−エチニ
ル−フェニル)−イソフタル酸、2−(1−エチニル−
フェニル)−テレフタル酸、2−(2−エチニル−フェ
ニル)−テレフタル酸、2−(3−エチニル−フェニ
ル)−テレフタル酸等が挙げられるが、これらに限定さ
れるものではない。これらは単独で用いてもよく、また
2種類以上を組み合わせて使用してもよい。また、2種
以上のビスアミノフェノール化合物を組み合わせて使用
することも可能である。
Examples of the dicarboxylic acid having an ethynyl skeleton having a divalent group represented by the formula (C) used in the present invention include 3-ethynylphthalic acid, 4-ethynylphthalic acid,
2-ethynyl isophthalic acid, 4-ethynyl isophthalic acid, 5-ethynyl isophthalic acid, 2-ethynyl terephthalic acid, 2-ethynyl-1,5-naphthalenedicarboxylic acid, 3-ethynyl-1,5-naphthalenedicarboxylic acid,
4-ethynyl-1,5-naphthalenedicarboxylic acid, 1-
Ethynyl-2,6-naphthalenedicarboxylic acid, 3-ethynyl-2,6-naphthalenedicarboxylic acid, 4-ethynyl-2,6-naphthalenedicarboxylic acid, 2-ethynyl-1,
6-naphthalenedicarboxylic acid, 3-ethynyl-1,6-
Naphthalenedicarboxylic acid, 4-ethynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 5-ethynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 7-ethynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 8-ethynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid Acid, 3,3′-diethynyl-2,2′-biphenyldicarboxylic acid, 4,4′-diethynyl-2,2′-biphenyldicarboxylic acid, 5,5′-diethynyl-2,2′-biphenyldicarboxylic acid, 6,6'-diethynyl-2,2'-biphenyldicarboxylic acid, 2,2'-diethynyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 4,4'-diethynyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 5, 5'-diethynyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 6,6'-diethynyl-3,3'-
Biphenyldicarboxylic acid, 2,2'-diethynyl-4,4 '
-Biphenyldicarboxylic acid, 3,3'-diethynyl-4,
4'-biphenyldicarboxylic acid, 2,2-bis (2-carboxy-3-ethynylphenyl) propane, 2,2-bis (2-carboxy-4-ethynylphenyl) propane, 2,2-bis (2-carboxy) -5-ethynylphenyl) propane, 2,2-bis (2-carboxy-6-
Ethynylphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxy-2-ethynylphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxy-4-ethynylphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxy-5) -Ethynylphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxy-6-
Ethynylphenyl) propane, 2,2-bis (4-carboxy-2-ethynylphenyl) propane, 2,2-bis (4-carboxy-3-ethynylphenyl) propane, 2,2-bis (2-carboxy-4) -Ethynylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (3-carboxy-5-ethynylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (4-carboxy-2-ethynylphenyl) hexafluoropropane, 4-ethynyl- 1,
3-dicarboxycyclopropane, 5-ethynyl-2,
2-dicarboxycyclopropane, 1,3-bis (4-
Carboxy-phenoxy) -5-ethynyl-benzene structural isomer, 5- (3-ethynyl-phenoxy) -isophthalic acid, 5- (1-ethynyl-phenoxy) -isophthalic acid, 5- (2-ethynyl-phenoxy) Isophthalic acid, 2- (1-ethynyl-phenoxy) terephthalic acid,
2- (2-ethynyl-phenoxy) terephthalic acid, 2-
(3-ethynyl-phenoxy) terephthalic acid, 5- (1
-Ethynyl-phenyl) -isophthalic acid, 5- (2-ethynyl-phenyl) -isophthalic acid, 5- (3-ethynyl-phenyl) -isophthalic acid, 2- (1-ethynyl-
Examples thereof include, but are not limited to, phenyl) -terephthalic acid, 2- (2-ethynyl-phenyl) -terephthalic acid, 2- (3-ethynyl-phenyl) -terephthalic acid, and the like. These may be used alone or in combination of two or more. It is also possible to use two or more bisaminophenol compounds in combination.

【0012】本発明で用いる、式(D)に表される二価
の基を有するジカルボン酸の例としては、3−フェニル
エチニルフタル酸、4−フェニルエチニルフタル酸、2
−フェニルエチニルイソフタル酸、4−フェニルエチニ
ルイソフタル酸、5−フェニルエチニルイソフタル酸、
2−フェニルエチニルテレフタル酸、2−フェニルエチ
ニル−1,5−ナフタレンジカルボン酸、3−フェニル
エチニル−1,5−ナフタレンジカルボン酸、4−フェ
ニルエチニル−1,5−ナフタレンジカルボン酸、1−
フェニルエチニル−2,6−ナフタレンジカルボン酸、
3−フェニルエチニル−2,6−ナフタレンジカルボン
酸、4−フェニルエチニル−2,6−ナフタレンジカル
ボン酸、2−フェニルエチニル−1,6−ナフタレンジ
カルボン酸、3−フェニルエチニル−1,6−ナフタレ
ンジカルボン酸、4−フェニルエチニル−1,6−ナフ
タレンジカルボン酸、5−フェニルエチニル−1,6−
ナフタレンジカルボン酸、7−フェニルエチニル−1,
6−ナフタレンジカルボン酸、8−フェニルエチニル−
1,6−ナフタレンジカルボン酸、3,3'−ジフェニル
エチニル−2,2'−ビフェニルジカルボン酸、4,4'−
ジフェニルエチニル−2,2'−ビフェニルジカルボン
酸、5,5'−ジフェニルエチニル−2,2'−ビフェニル
ジカルボン酸、6,6'−ジフェニルエチニル−2,2'−
ビフェニルジカルボン酸、2,2'−ジフェニルエチニル
−3,3'−ビフェニルジカルボン酸、4,4'−ジフェニ
ルエチニル−3,3'−ビフェニルジカルボン酸、5,5'
−ジフェニルエチニル−3,3'−ビフェニルジカルボン
酸、6,6'−ジフェニルエチニル−3,3'−ビフェニル
ジカルボン酸、2,2'−ジフェニルエチニル−4,4'−
ビフェニルジカルボン酸、3,3'−ジフェニルエチニル
−4,4'−ビフェニルジカルボン酸、2,2−ビス(2
−カルボキシ−3−フェニルエチニルフェニル)プロパ
ン、2,2−ビス(2−カルボキシ−4−フェニルエチ
ニルフェニル)プロパン、2,2−ビス(2−カルボキ
シ−5−フェニルエチニルフェニル)プロパン、2,2
−ビス(2−カルボキシ−6−フェニルエチニルフェニ
ル)プロパン、2,2−ビス(3−カルボキシ−2−フ
ェニルエチニルフェニル)プロパン、2,2−ビス(3
−カルボキシ−4−フェニルエチニルフェニル)プロパ
ン、2,2−ビス(3−カルボキシ−5−フェニルエチ
ニルフェニル)プロパン、2,2−ビス(3−カルボキ
シ−6−フェニルエチニルフェニル)プロパン、2,2
−ビス(4−カルボキシ−2−フェニルエチニルフェニ
ル)プロパン、2,2−ビス(4−カルボキシ−3−フ
ェニルエチニルフェニル)プロパン、2,2−ビス(2
−カルボキシ−4−フェニルエチニルフェニル)ヘキサ
フルオロプロパン、2,2−ビス(3−カルボキシ−5
−フェニルエチニルフェニル)ヘキサフルオロプロパ
ン、2,2−ビス(4−カルボキシ−2−フェニルエチ
ニルフェニル)ヘキサフルオロプロパン、4−フェニル
エチニル−1,3−ジカルボキシシクロプロパン、5−
フェニルエチニル−2,2−ジカルボキシシクロプロパ
ン、1,3−ビス(4−カルボキシ−フェノキシ)−5
−フェニルエチニル−ベンゼンの構造異性体、1,3−
ビス(4−カルボキシ−フェニル)−5−フェニルエチ
ニル−ベンゼンの構造異性体、5−(1−フェニルエチ
ニル−フェノキシ)−イソフタル酸、5−(2−フェニ
ルエチニル−フェノキシ)−イソフタル酸、5−(3−
フェニルエチニル−フェノキシ)イソフタル酸、2−
(1−フェニルエチニル−フェノキシ)テレフタル酸、
2−(2−フェニルエチニル−フェノキシ)テレフタル
酸、2−(3−フェニルエチニル−フェノキシ)テレフ
タル酸、5−(1−フェニルエチニル−フェニル)−イ
ソフタル酸、5−(2−フェニルエチニル−フェニル)
−イソフタル酸、5−(3−フェニルエチニル−フェニ
ル)−イソフタル酸、2−(1−フェニルエチニル−フ
ェニル)−テレフタル酸、2−(2−フェニルエチニル
−フェニル)−テレフタル酸、2−(3−フェニルエチ
ニル−フェニル)−テレフタル酸等が挙げられる。
Examples of the dicarboxylic acid having a divalent group represented by the formula (D) used in the present invention include 3-phenylethynylphthalic acid, 4-phenylethynylphthalic acid and 2
-Phenylethynyl isophthalic acid, 4-phenylethynyl isophthalic acid, 5-phenylethynyl isophthalic acid,
2-phenylethynyl terephthalic acid, 2-phenylethynyl-1,5-naphthalenedicarboxylic acid, 3-phenylethynyl-1,5-naphthalenedicarboxylic acid, 4-phenylethynyl-1,5-naphthalenedicarboxylic acid, 1-
Phenylethynyl-2,6-naphthalenedicarboxylic acid,
3-phenylethynyl-2,6-naphthalenedicarboxylic acid, 4-phenylethynyl-2,6-naphthalenedicarboxylic acid, 2-phenylethynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 3-phenylethynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid Acid, 4-phenylethynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 5-phenylethynyl-1,6-
Naphthalenedicarboxylic acid, 7-phenylethynyl-1,
6-naphthalenedicarboxylic acid, 8-phenylethynyl-
1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 3,3'-diphenylethynyl-2,2'-biphenyldicarboxylic acid, 4,4'-
Diphenylethynyl-2,2'-biphenyldicarboxylic acid, 5,5'-diphenylethynyl-2,2'-biphenyldicarboxylic acid, 6,6'-diphenylethynyl-2,2'-
Biphenyldicarboxylic acid, 2,2'-diphenylethynyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 4,4'-diphenylethynyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 5,5 '
-Diphenylethynyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 6,6'-diphenylethynyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 2,2'-diphenylethynyl-4,4'-
Biphenyldicarboxylic acid, 3,3'-diphenylethynyl-4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 2,2-bis (2
-Carboxy-3-phenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (2-carboxy-4-phenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (2-carboxy-5-phenylethynylphenyl) propane, 2,2
-Bis (2-carboxy-6-phenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxy-2-phenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (3
-Carboxy-4-phenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxy-5-phenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxy-6-phenylethynylphenyl) propane, 2,2
-Bis (4-carboxy-2-phenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (4-carboxy-3-phenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (2
-Carboxy-4-phenylethynylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (3-carboxy-5)
-Phenylethynylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (4-carboxy-2-phenylethynylphenyl) hexafluoropropane, 4-phenylethynyl-1,3-dicarboxycyclopropane, 5-
Phenylethynyl-2,2-dicarboxycyclopropane, 1,3-bis (4-carboxy-phenoxy) -5
Structural isomers of -phenylethynyl-benzene, 1,3-
Structural isomers of bis (4-carboxy-phenyl) -5-phenylethynyl-benzene, 5- (1-phenylethynyl-phenoxy) -isophthalic acid, 5- (2-phenylethynyl-phenoxy) -isophthalic acid, 5- (3-
Phenylethynyl-phenoxy) isophthalic acid, 2-
(1-phenylethynyl-phenoxy) terephthalic acid,
2- (2-phenylethynyl-phenoxy) terephthalic acid, 2- (3-phenylethynyl-phenoxy) terephthalic acid, 5- (1-phenylethynyl-phenyl) -isophthalic acid, 5- (2-phenylethynyl-phenyl)
-Isophthalic acid, 5- (3-phenylethynyl-phenyl) -isophthalic acid, 2- (1-phenylethynyl-phenyl) -terephthalic acid, 2- (2-phenylethynyl-phenyl) -terephthalic acid, 2- (3 -Phenylethynyl-phenyl) -terephthalic acid and the like.

【0013】更に、本発明で用いる、式(D)に表され
た構造で、Rが、式(I)で表される一価の基の内、ビ
フェニル基であるビフェニルエチニル基を有するジカル
ボン酸の例としては、3−ビフェニルエチニルフタル
酸、4−ビフェニルエチニルフタル酸、2−ビフェニル
エチニルイソフタル酸、4−ビフェニルエチニルイソフ
タル酸、5−ビフェニルエチニルイソフタル酸、2−ビ
フェニルエチニルテレフタル酸、3−ビフェニルエチニ
ルテレフタル酸、5−ビフェニルエチニル−テレフタル
酸、2−ビフェニルエチニル−1,5−ナフタレンジカ
ルボン酸、3−ビフェニルエチニル−1,5−ナフタレ
ンジカルボン酸、4−ビフェニルエチニル−1,5−ナ
フタレンジカルボン酸、1−ビフェニルエチニル−2,
6−ナフタレンジカルボン酸、3−ビフェニルエチニル
−2,6−ナフタレンジカルボン酸、4−ビフェニルエ
チニル−2,6−ナフタレンジカルボン酸、2−ビフェ
ニルエチニル−1,6−ナフタレンジカルボン酸、3−
ビフェニルエチニル−1,6−ナフタレンジカルボン
酸、4−ビフェニルエチニル−1,6−ナフタレンジカ
ルボン酸、5−ビフェニルエチニル−1,6−ナフタレ
ンジカルボン酸、7−ビフェニルエチニル−1,6−ナ
フタレンジカルボン酸、8−ビフェニルエチニル−1,
6−ナフタレンジカルボン酸、3,3'−ジビフェニルエ
チニル−2,2'−ビフェニルジカルボン酸、4,4'−ジ
ビフェニルエチニル−2,2'−ビフェニルジカルボン
酸、5,5'−ジビフェニルエチニル−2,2'−ビフェニ
ルジカルボン酸、6,6'−ジビフェニルエチニル−2,
2'−ビフェニルジカルボン酸、2,2'−ジビフェニル
エチニル−3,3'−ビフェニルジカルボン酸、4,4'−
ジビフェニルエチニル−3,3'−ビフェニルジカルボン
酸、5,5'−ジビフェニルエチニル−3,3'−ビフェニ
ルジカルボン酸、6,6'−ジビフェニルエチニル−3,
3'−ビフェニルジカルボン酸、2,2'−ジビフェニル
エチニル−4,4'−ビフェニルジカルボン酸、3,3'−
ジビフェニルエチニル−4,4'−ビフェニルジカルボン
酸、2,2−ビス(2−カルボキシ−3−ビフェニルエ
チニルフェニル)プロパン、2,2−ビス(2−カルボ
キシ−4−ビフェニルエチニルフェニル)プロパン、
2,2−ビス(2−カルボキシ−5−ビフェニルエチニ
ルフェニル)プロパン、2,2−ビス(2−カルボキシ
−6−ビフェニルエチニルフェニル)プロパン、2,2
−ビス(3−カルボキシ−2−ビフェニルエチニルフェ
ニル)プロパン、2,2−ビス(3−カルボキシ−4−
ビフェニルエチニルフェニル)プロパン、2,2−ビス
(3−カルボキシ−5−ビフェニルエチニルフェニル)
プロパン、2,2−ビス(3−カルボキシ−6−ビフェ
ニルエチニルフェニル)プロパン、2,2−ビス(4−
カルボキシ−2−ビフェニルエチニルフェニル)プロパ
ン、2,2−ビス(4−カルボキシ−3−ビフェニルエ
チニルフェニル)プロパン、2,2−ビス(2−カルボ
キシ−4−ビフェニルエチニルフェニル)ヘキサフルオ
ロプロパン、2,2−ビス(3−カルボキシ−5−ビフ
ェニルエチニルフェニル)ヘキサフルオロプロパン、
2,2−ビス(4−カルボキシ−2−ビフェニルエチニ
ルフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス
(4−カルボキシ−2−ビフェニルエチニルフェニル)
ヘキサフルオロプロパン、4−ビフェニルエチニル−
1,3−ジカルボキシシクロプロパン、5−ビフェニル
エチニル−2,2−ジカルボキシシクロプロパン、1,3
−ビス(4−カルボキシ−フェノキシ)−5−ビフェニ
ルエチニル−ベンゼンの構造異性体、1,3−ビス(4
−カルボキシ−フェニル)−5−ビフェニルエチニル−
ベンゼンの構造異性体、5−(3−ビフェニルエチニル
−フェノキシ)−イソフタル酸、5−(1−ビフェニル
エチニル−フェノキシ)−イソフタル酸、5−(2−ビ
フェニルエチニル−フェノキシ)イソフタル酸、2−
(1−ビフェニルエチニル−フェノキシ)テレフタル
酸、2−(2−ビフェニルエチニル−フェノキシ)テレ
フタル酸、2−(3−ビフェニルエチニル−フェノキ
シ)テレフタル酸、5−(1−ビフェニルエチニル−フ
ェニル)−イソフタル酸、5−(2−ビフェニルエチニ
ル−フェニル)−イソフタル酸、5−(3−ビフェニル
エチニル−フェニル)−イソフタル酸、2−(1−ビフ
ェニルエチニル−フェニル)−テレフタル酸、2−(2
−ビフェニルエチニル−フェニル)−テレフタル酸、2
−(3−ビフェニルエチニル−フェニル)−テレフタル
酸等が挙げられるが、これらに限定されるものではな
い。これらは単独で用いてもよく、また2種類以上を組
み合わせて使用してもよい。また、2種以上のビスアミ
ノフェノール化合物を組み合わせて使用することも可能
である。
Further, the dicarboxylic acid having a structure represented by the formula (D) and having a biphenylethynyl group which is a biphenyl group among the monovalent groups represented by the formula (I) used in the present invention. Examples of 3-biphenylethynylphthalic acid, 4-biphenylethynylphthalic acid, 2-biphenylethynylisophthalic acid, 4-biphenylethynylisophthalic acid, 5-biphenylethynylisophthalic acid, 2-biphenylethynylterephthalic acid, 3-biphenyl Ethynyl terephthalic acid, 5-biphenylethynyl-terephthalic acid, 2-biphenylethynyl-1,5-naphthalenedicarboxylic acid, 3-biphenylethynyl-1,5-naphthalenedicarboxylic acid, 4-biphenylethynyl-1,5-naphthalenedicarboxylic acid , 1-biphenylethynyl-2,
6-naphthalenedicarboxylic acid, 3-biphenylethynyl-2,6-naphthalenedicarboxylic acid, 4-biphenylethynyl-2,6-naphthalenedicarboxylic acid, 2-biphenylethynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 3-
Biphenylethynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 4-biphenylethynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 5-biphenylethynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 7-biphenylethynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 8-biphenylethynyl-1,
6-naphthalenedicarboxylic acid, 3,3'-dibiphenylethynyl-2,2'-biphenyldicarboxylic acid, 4,4'-dibiphenylethynyl-2,2'-biphenyldicarboxylic acid, 5,5'-dibiphenylethynyl -2,2'-biphenyldicarboxylic acid, 6,6'-dibiphenylethynyl-2,
2'-biphenyldicarboxylic acid, 2,2'-dibiphenylethynyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 4,4'-
Dibiphenylethynyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 5,5'-dibiphenylethynyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 6,6'-dibiphenylethynyl-3,
3'-biphenyldicarboxylic acid, 2,2'-dibiphenylethynyl-4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,3'-
Dibiphenylethynyl-4,4′-biphenyldicarboxylic acid, 2,2-bis (2-carboxy-3-biphenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (2-carboxy-4-biphenylethynylphenyl) propane,
2,2-bis (2-carboxy-5-biphenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (2-carboxy-6-biphenylethynylphenyl) propane, 2,2
-Bis (3-carboxy-2-biphenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxy-4-)
Biphenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxy-5-biphenylethynylphenyl)
Propane, 2,2-bis (3-carboxy-6-biphenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (4-
Carboxy-2-biphenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (4-carboxy-3-biphenylethynylphenyl) propane, 2,2-bis (2-carboxy-4-biphenylethynylphenyl) hexafluoropropane, 2, 2-bis (3-carboxy-5-biphenylethynylphenyl) hexafluoropropane,
2,2-bis (4-carboxy-2-biphenylethynylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (4-carboxy-2-biphenylethynylphenyl)
Hexafluoropropane, 4-biphenylethynyl-
1,3-dicarboxycyclopropane, 5-biphenylethynyl-2,2-dicarboxycyclopropane, 1,3
Structural isomers of -bis (4-carboxy-phenoxy) -5-biphenylethynyl-benzene, 1,3-bis (4
-Carboxy-phenyl) -5-biphenylethynyl-
Structural isomers of benzene, 5- (3-biphenylethynyl-phenoxy) -isophthalic acid, 5- (1-biphenylethynyl-phenoxy) -isophthalic acid, 5- (2-biphenylethynyl-phenoxy) isophthalic acid, 2-
(1-biphenylethynyl-phenoxy) terephthalic acid, 2- (2-biphenylethynyl-phenoxy) terephthalic acid, 2- (3-biphenylethynyl-phenoxy) terephthalic acid, 5- (1-biphenylethynyl-phenyl) -isophthalic acid 5- (2-biphenylethynyl-phenyl) -isophthalic acid, 5- (3-biphenylethynyl-phenyl) -isophthalic acid, 2- (1-biphenylethynyl-phenyl) -terephthalic acid, 2- (2
-Biphenylethynyl-phenyl) -terephthalic acid, 2
Examples thereof include, but are not limited to,-(3-biphenylethynyl-phenyl) -terephthalic acid. These may be used alone or in combination of two or more. It is also possible to use two or more bisaminophenol compounds in combination.

【0014】Rがアルキル基である例としては、3−ヘ
キシニルフタル酸、4−へキシニルフタル酸、2−へキ
シニルイソフタル酸、4−へキシニルイソフタル酸、5
−へキシニルイソフタル酸、2−へキシニルテレフタル
酸、3−へキシニルテレフタル酸、2−へキシニル−
1,5−ナフタレンジカルボン酸、3−へキシニル−1,
5−ナフタレンジカルボン酸、4−へキシニル−1,5
−ナフタレンジカルボン酸、1−へキシニル−2,6−
ナフタレンジカルボン酸、3−へキシニル−2,6−ナ
フタレンジカルボン酸、4−へキシニル−2,6−ナフ
タレンジカルボン酸、2−へキシニル−1,6−ナフタ
レンジカルボン酸、3−へキシニル−1,6−ナフタレ
ンジカルボン酸、4−へキシニル−1,6−ナフタレン
ジカルボン酸、5−へキシニル−1,6−ナフタレンジ
カルボン酸、7−へキシニル−1,6−ナフタレンジカ
ルボン酸、8−へキシニル−1,6−ナフタレンジカル
ボン酸、3,3'−ジへキシニル−2,2'−ビフェニルジ
カルボン酸、4,4'−ジへキシニル−2,2'−ビフェニ
ルジカルボン酸、5,5'−ジヘキシニル−2,2'−ビフ
ェニルジカルボン酸、6,6'−ジへキシニル−2,2'−
ビフェニルジカルボン酸、2,2'−ジへキシニル−3,
3'−ビフェニルジカルボン酸、4,4'−ジへキシニル
−3,3'−ビフェニルジカルボン酸、5,5'−ジへキシ
ニル−3,3'−ビフェニルジカルボン酸、6,6'−ジへ
キシニル−3,3'−ビフェニルジカルボン酸、2,2'−
ジへキシニル−4,4'−ビフェニルジカルボン酸、3,
3'−ジへキシニル−4,4'−ビフェニルジカルボン
酸、2,2−ビス(2−カルボキシ−3−へキシニルフ
ェニル)プロパン、2,2−ビス(2−カルボキシ−4
−へキシニルフェニル)プロパン、2,2−ビス(2−
カルボキシ−5−へキシニルフェニル)プロパン、2,
2−ビス(2−カルボキシ−6−へキシニルフェニル)
プロパン、2,2−ビス(3−カルボキシ−2−へキシ
ニルフェニル)プロパン、2,2−ビス(3−カルボキ
シ−4−へキシニルフェニル)プロパン、2,2−ビス
(3−カルボキシ−5−へキシニルフェニル)プロパ
ン、2,2−ビス(3−カルボキシ−6−へキシニルフ
ェニル)プロパン、2,2−ビス(4−カルボキシ−2
−へキシニルフェニル)プロパン、2,2−ビス(4−
カルボキシ−3−へキシニルフェニル)プロパン、2,
2−ビス(2−カルボキシ−4−へキシニルフェニル)
ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス(3−カルボキ
シ−5−へキシニルフェニル)ヘキサフルオロプロパ
ン、2,2−ビス(4−カルボキシ−2−へキシニルフ
ェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス(4−
カルボキシ−2−へキシニルフェニル)ヘキサフルオロ
プロパン、4−へキシニル−1,3−ジカルボキシシク
ロプロパン、5−ヘキシニル−2,2−ジカルボキシシ
クロプロパン、1,3−ビス(4−カルボキシ−フェノ
キシ)−5−ヘキシニル−ベンゼンの構造異性体、1,
3−ビス(4−カルボキシ−フェニル)−5−ヘキシニ
ル−ベンゼンの構造異性体、5−(3−ヘキシニル−フ
ェノキシ)−イソフタル酸、5−(1−ヘキシニル−フ
ェノキシ)−イソフタル酸、5−(2−ヘキシニル−フ
ェノキシ)イソフタル酸、2−(1−ヘキシニル−フェ
ノキシ)テレフタル酸、2−(2−ヘキシニル−フェノ
キシ)テレフタル酸、2−(3−ヘキシニル−フェノキ
シ)テレフタル酸、5−(1−ヘキシニル−フェニル)
−イソフタル酸、5−(2−ヘキシニル−フェニル)−
イソフタル酸、5−(3−ヘキシニル−フェニル)−イ
ソフタル酸、2−(1−ヘキシニル−フェニル)−テレ
フタル酸、2−(2−ヘキシニル−フェニル)−テレフ
タル酸、2−(3−ヘキシニル−フェニル)−テレフタ
ル酸等が挙げられるが、これらに限定されるものではな
い。これらは単独で用いてもよく、また2種類以上を組
み合わせて使用してもよい。また、2種以上のビスアミ
ノフェノール化合物を組み合わせて使用することも可能
である。
Examples of R being an alkyl group include 3-hexynylphthalic acid, 4-hexynylphthalic acid, 2-hexynylisophthalic acid, 4-hexynylisophthalic acid, 5
-Hexynyl isophthalic acid, 2-hexynyl terephthalic acid, 3-hexynyl terephthalic acid, 2-hexynyl-
1,5-naphthalenedicarboxylic acid, 3-hexynyl-1,
5-naphthalenedicarboxylic acid, 4-hexynyl-1,5
-Naphthalenedicarboxylic acid, 1-hexynyl-2,6-
Naphthalenedicarboxylic acid, 3-hexynyl-2,6-naphthalenedicarboxylic acid, 4-hexynyl-2,6-naphthalenedicarboxylic acid, 2-hexynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 3-hexynyl-1, 6-naphthalenedicarboxylic acid, 4-hexynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 5-hexynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 7-hexynyl-1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 8-hexynyl- 1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 3,3'-dihexynyl-2,2'-biphenyldicarboxylic acid, 4,4'-dihexynyl-2,2'-biphenyldicarboxylic acid, 5,5'-dihexynyl -2,2'-biphenyldicarboxylic acid, 6,6'-dihexynyl-2,2'-
Biphenyldicarboxylic acid, 2,2'-dihexynyl-3,
3'-biphenyldicarboxylic acid, 4,4'-dihexynyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 5,5'-dihexynyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 6,6'-di Xynyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 2,2'-
Dihexynyl-4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,
3'-dihexynyl-4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 2,2-bis (2-carboxy-3-hexynylphenyl) propane, 2,2-bis (2-carboxy-4)
-Hexynylphenyl) propane, 2,2-bis (2-
Carboxy-5-hexynylphenyl) propane, 2,
2-bis (2-carboxy-6-hexynylphenyl)
Propane, 2,2-bis (3-carboxy-2-hexynylphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxy-4-hexynylphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxy- 5-hexynylphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxy-6-hexynylphenyl) propane, 2,2-bis (4-carboxy-2)
-Hexynylphenyl) propane, 2,2-bis (4-
Carboxy-3-hexynylphenyl) propane, 2,
2-bis (2-carboxy-4-hexynylphenyl)
Hexafluoropropane, 2,2-bis (3-carboxy-5-hexynylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (4-carboxy-2-hexynylphenyl) hexafluoropropane, 2,2- Bis (4-
Carboxy-2-hexynylphenyl) hexafluoropropane, 4-hexynyl-1,3-dicarboxycyclopropane, 5-hexynyl-2,2-dicarboxycyclopropane, 1,3-bis (4-carboxy- Phenoxy) -5-hexynyl-benzene structural isomers, 1,
Structural isomers of 3-bis (4-carboxy-phenyl) -5-hexynyl-benzene, 5- (3-hexynyl-phenoxy) -isophthalic acid, 5- (1-hexynyl-phenoxy) -isophthalic acid, 5- ( 2-hexynyl-phenoxy) isophthalic acid, 2- (1-hexynyl-phenoxy) terephthalic acid, 2- (2-hexynyl-phenoxy) terephthalic acid, 2- (3-hexynyl-phenoxy) terephthalic acid, 5- (1- (Hexynyl-phenyl)
-Isophthalic acid, 5- (2-hexynyl-phenyl)-
Isophthalic acid, 5- (3-hexynyl-phenyl) -isophthalic acid, 2- (1-hexynyl-phenyl) -terephthalic acid, 2- (2-hexynyl-phenyl) -terephthalic acid, 2- (3-hexynyl-phenyl) ) -Terephthalic acid and the like, but not limited thereto. These may be used alone or in combination of two or more. It is also possible to use two or more bisaminophenol compounds in combination.

【0015】本発明で用いる、式(E)に表される二価
の基を有するビフェニレン骨格を持つジカルボン酸の例
としては、1,2−ビフェニレンジカルボン酸、1,3−
ビフェニレンジカルボン酸、1,4−ビフェニレンジカ
ルボン酸、1,5−ビフェニレンジカルボン酸、1,6−
ビフェニレンジカルボン酸、1,7−ビフェニレンジカ
ルボン酸、1,8−ビフェニレンジカルボン酸、2,3−
ビフェニレンジカルボン酸、2,6−ビフェニレンジカ
ルボン酸、2,7−ビフェニレンジカルボン酸などが挙
げられ、得られる塗膜の性能から、2,6−ビフェニレ
ンジカルボン酸、2,7−ビフェニレンジカルボン酸が
特に好ましい。これらは単独で用いてもよく、また2種
類以上を組み合わせて使用してもよい。
Examples of the dicarboxylic acid having a biphenylene skeleton having a divalent group represented by the formula (E) used in the present invention include 1,2-biphenylenedicarboxylic acid and 1,3-
Biphenylenedicarboxylic acid, 1,4-biphenylenedicarboxylic acid, 1,5-biphenylenedicarboxylic acid, 1,6-
Biphenylenedicarboxylic acid, 1,7-biphenylenedicarboxylic acid, 1,8-biphenylenedicarboxylic acid, 2,3-
Examples thereof include biphenylenedicarboxylic acid, 2,6-biphenylenedicarboxylic acid, and 2,7-biphenylenedicarboxylic acid. From the performance of the resulting coating film, 2,6-biphenylenedicarboxylic acid and 2,7-biphenylenedicarboxylic acid are particularly preferable. . These may be used alone or in combination of two or more.

【0016】本発明で用いる式(F)で表される二価の
基を有するジカルボン酸の例としては、4,4'−トラン
ジカルボン酸、3,4'−トランジカルボン酸、3,3'−
トランジカルボン酸、2,4'−トランジカルボン酸、
2,3'−トランジカルボン酸、2,2'−トランジカルボ
ン酸などを1種、または2種以上混合して用いることが
できる。
Examples of the dicarboxylic acid having a divalent group represented by the formula (F) used in the present invention include 4,4'-transdicarboxylic acid, 3,4'-transdicarboxylic acid and 3,3 '. −
Transdicarboxylic acid, 2,4′-transdicarboxylic acid,
One or a mixture of 2,3′-transdicarboxylic acid and 2,2′-transdicarboxylic acid can be used.

【0017】本発明で用いる、式(G)に表される二価
の基を有するジカルボン酸の例としては、イソフタル
酸、テレフタル酸、4,4'−ビフェニルジカルボン酸、
3,4'−ビフェニルジカルボン酸、3,3'−ビフェニル
ジカルボン酸、1,4−ナフタレンジカルボン酸、2,3
−ナフタレンジカルボン酸、2,6−ナフタレンジカル
ボン酸、4,4'−スルホニルビス安息香酸、3,4'−ス
ルホニルビス安息香酸、3,3'−スルホニルビス安息香
酸、4,4'−オキシビス安息香酸、3,4'−オキシビス
安息香酸、3,3'−オキシビス安息香酸、2,2−ビス
(4−カルボキシフェニル)プロパン、2,2−ビス
(3−カルボキシフェニル)プロパン、2,2−ビス
(4−カルボキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、
2,2−ビス(3−カルボキシフェニル)ヘキサフルオ
ロプロパン、2,2'−ジメチル−4,4'−ビフェニルジ
カルボン酸、3,3'−ジメチル−4,4'−ビフェニルジ
カルボン酸、2,2'−ジメチル−3,3'−ビフェニルジ
カルボン酸、2,2'−ビス(トリフルオロメチル)−
4,4'−ビフェニルジカルボン酸、3,3'−ビス(トリ
フルオロメチル)−4,4'−ビフェニルジカルボン酸、
2,2'−ビス(トリフルオロメチル)−3,3'−ビフェ
ニルジカルボン酸、9,9−ビス(4−(4−カルボキ
シフェノキシ)フェニル)フルオレン、9,9−ビス
(4−(3−カルボキシフェノキシ)フェニル)フルオ
レン、4,4'−ビス(4−カルボキシフェノキシ)ビフ
ェニル、4,4'−ビス(3−カルボキシフェノキシ)ビ
フェニル、3,4'−ビス(4−カルボキシフェノキシ)
ビフェニル、3,4'−ビス(3−カルボキシフェノキ
シ)ビフェニル、3,3'−ビス(4−カルボキシフェノ
キシ)ビフェニル、3,3'−ビス(3―カルボキシフェ
ノキシ)ビフェニル、4,4'−ビス(4−カルボキシフ
ェノキシ)−p−ターフェニル、4,4'−ビス(4−カ
ルボキシフェノキシ)−m−ターフェニル、3,4'−ビ
ス(4−カルボキシフェノキシ)−p−ターフェニル、
3,3'−ビス(4−カルボキシフェノキシ)−p−ター
フェニル、3,4'−ビス(4−カルボキシフェノキシ)
−m−ターフェニル、3,3'−ビス(4−カルボキシフ
ェノキシ)−m−ターフェニル、4,4'−ビス(3−カ
ルボキシフェノキシ)−p−ターフェニル、4,4'−ビ
ス(3−カルボキシフェノキシ)−m−ターフェニル、
3,4'−ビス(3−カルボキシフェノキシ)−p−ター
フェニル、3,3'−ビス(3−カルボキシフェノキシ)
−p−ターフェニル、3,4'−ビス(3−カルボキシフ
ェノキシ)−m−ターフェニル、3,3'−ビス(3−カ
ルボキシフェノキシ)−m−ターフェニル、3−フルオ
ロイソフタル酸、2−フルオロイソフタル酸、2−フル
オロテレフタル酸、2,4,5,6−テトラフルオロイソ
フタル酸、2,3,5,6−テトラフルオロテレフタル
酸、5−トリフルオロメチルイソフタル酸、9,9−ビ
ス−(2−カルボキシ−フェニル)フルオレン、9,9
−ビス−(3−カルボキシ−フェニル)フルオレン、
9,9−ビス−(4−カルボキシ−フェニル)フルオレ
ン、ビス−((2−カルボキシ−3−フェニル)−フェ
ニル)−フルオレン、ビス−((4−カルボキシ−3−
フェニル)−フェニル)−フルオレン、ビス−((5−
カルボキシ−3−フェニル)−フェニル)−フルオレ
ン、ビス−((6−カルボキシ−3−フェニル)−フェ
ニル)−フルオレン、9,9−ビス(4−(2−カルボ
キシ−フェノキシ)−フェニル)−フルオレン、9,9
−ビス(4−(3−カルボキシ−フェノキシ)−フェニ
ル)−フルオレン、9,9−ビス(4−(4−カルボキ
シ−フェノキシ)−フェニル)−フルオレン、9、9−
ビス((4−(2−カルボキシ−フェノキシ)−3−フ
ェニル)−フェニル)−フルオレン、9,9−ビス
((4−(3−カルボキシ−フェノキシ)−3−フェニ
ル)−フェニル)−フルオレン、9,9−ビス((4−
(4−カルボキシ−フェノキシ)−3−フェニル)−フ
ェニル)−フルオレン等が挙げられ、これらは単独で用
いてもよく、また2種類以上を組み合わせて使用しても
よい。なお、式(B)、式(C)、式(D)、式
(E)、式(F)、式(G)及び式(H)で表される基
におけるベンゼン環上の水素原子は、炭素数1〜4のア
ルキル基、フッ素原子及びトリフルオロメチル基の中か
ら選ばれる少なくとも1個の基で置換されていてもよ
い。上記炭素数1〜4のアルキル基としては、メチル
基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル
基、イソブチル基、t−ブチル基などが挙げられる。
Examples of the dicarboxylic acid having a divalent group represented by the formula (G) used in the present invention include isophthalic acid, terephthalic acid, 4,4'-biphenyldicarboxylic acid,
3,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 1,4-naphthalenedicarboxylic acid, 2,3
-Naphthalenedicarboxylic acid, 2,6-naphthalenedicarboxylic acid, 4,4'-sulfonylbisbenzoic acid, 3,4'-sulfonylbisbenzoic acid, 3,3'-sulfonylbisbenzoic acid, 4,4'-oxybisbenzoic acid Acid, 3,4'-oxybisbenzoic acid, 3,3'-oxybisbenzoic acid, 2,2-bis (4-carboxyphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxyphenyl) propane, 2,2- Bis (4-carboxyphenyl) hexafluoropropane,
2,2-bis (3-carboxyphenyl) hexafluoropropane, 2,2'-dimethyl-4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,3'-dimethyl-4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 2,2 '-Dimethyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 2,2'-bis (trifluoromethyl)-
4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,3'-bis (trifluoromethyl) -4,4'-biphenyldicarboxylic acid,
2,2'-bis (trifluoromethyl) -3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 9,9-bis (4- (4-carboxyphenoxy) phenyl) fluorene, 9,9-bis (4- (3- Carboxyphenoxy) phenyl) fluorene, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) biphenyl, 4,4'-bis (3-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,4'-bis (4-carboxyphenoxy)
Biphenyl, 3,4'-bis (3-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,3'-bis (4-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,3'-bis (3-carboxyphenoxy) biphenyl, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 3,4'-bis (4-carboxyphenoxy) -p-terphenyl,
3,3'-bis (4-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 3,4'-bis (4-carboxyphenoxy)
-M-terphenyl, 3,3'-bis (4-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 4,4'-bis (3-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 4,4'-bis (3 -Carboxyphenoxy) -m-terphenyl,
3,4'-bis (3-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 3,3'-bis (3-carboxyphenoxy)
-P-terphenyl, 3,4'-bis (3-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 3,3'-bis (3-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 3-fluoroisophthalic acid, 2- Fluoroisophthalic acid, 2-fluoroterephthalic acid, 2,4,5,6-tetrafluoroisophthalic acid, 2,3,5,6-tetrafluoroterephthalic acid, 5-trifluoromethylisophthalic acid, 9,9-bis- (2-carboxy-phenyl) fluorene, 9,9
-Bis- (3-carboxy-phenyl) fluorene,
9,9-bis- (4-carboxy-phenyl) fluorene, bis-((2-carboxy-3-phenyl) -phenyl) -fluorene, bis-((4-carboxy-3-
Phenyl) -phenyl) -fluorene, bis-((5-
Carboxy-3-phenyl) -phenyl) -fluorene, bis-((6-carboxy-3-phenyl) -phenyl) -fluorene, 9,9-bis (4- (2-carboxy-phenoxy) -phenyl) -fluorene , 9,9
-Bis (4- (3-carboxy-phenoxy) -phenyl) -fluorene, 9,9-bis (4- (4-carboxy-phenoxy) -phenyl) -fluorene, 9,9-
Bis ((4- (2-carboxy-phenoxy) -3-phenyl) -phenyl) -fluorene, 9,9-bis ((4- (3-carboxy-phenoxy) -3-phenyl) -phenyl) -fluorene, 9,9-bis ((4-
(4-carboxy-phenoxy) -3-phenyl) -phenyl) -fluorene and the like can be mentioned, and these may be used alone or in combination of two or more kinds. The hydrogen atom on the benzene ring in the groups represented by formula (B), formula (C), formula (D), formula (E), formula (F), formula (G) and formula (H) is It may be substituted with at least one group selected from an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, a fluorine atom and a trifluoromethyl group. Examples of the alkyl group having 1 to 4 carbon atoms include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, an isobutyl group and a t-butyl group.

【0018】本発明に用いる3官能カルボン酸として、
トリメリック酸、トリメシン酸、1,3,5−シクロヘ
キサントリカルボン酸、ビフェニルエーテル−3,
3’,5−トリカルボン酸等が挙げられる。これらは単
独で用いてもよく、また2種類以上組み合わせて使用し
ても良い。3官能カルボン酸の使用量としては、使用さ
れる前記ジカルボン酸1モルに対して0.001モル以
上、0.10モル以下が好ましく、より好ましくは0.
005モル以上、0.08モル以下であり、さらに好ま
しくは0.01モル以上、0.05モル以下である。
0.05より大きい場合も絶縁膜としての使用に問題は
ないが、0.05より小さい場合と比べて比誘電率が高
くなる傾向にある。前記下限値よりも小さいと空孔サイ
ズが不均一になる恐れがある。また、前記上限値よりも
大きいと、分子量が急激に増大し反応溶液がゲル化して
しまう。また、枝分かれ構造を有するポリアミドに用い
るビスアミノフェノール類としては、前記式(B)に表
される四価の基を有するビスアミノフェノール化合物と
同じであって良い。
As the trifunctional carboxylic acid used in the present invention,
Trimeric acid, trimesic acid, 1,3,5-cyclohexanetricarboxylic acid, biphenyl ether-3,
3 ', 5-tricarboxylic acid and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more. The amount of the trifunctional carboxylic acid used is preferably 0.001 mol or more and 0.10 mol or less, and more preferably 0.001 mol or less relative to 1 mol of the dicarboxylic acid used.
It is 005 mol or more and 0.08 mol or less, more preferably 0.01 mol or more and 0.05 mol or less.
When it is larger than 0.05, there is no problem in using it as an insulating film, but the relative dielectric constant tends to be higher than when it is smaller than 0.05. If it is smaller than the lower limit, the pore size may become non-uniform. On the other hand, when the amount is larger than the upper limit, the molecular weight rapidly increases and the reaction solution gels. Further, the bisaminophenols used for the polyamide having a branched structure may be the same as the bisaminophenol compound having a tetravalent group represented by the formula (B).

【0019】本発明におけるポリアミドは、架橋する骨
格を有する繰り返し単位と、架橋する骨格を持たない繰
り返し単位の数である一般式(A)中のmとnについ
て、m及びnは 、それぞれm>0、n≧0、2≦m+
n≦1000及び0.05≦m/(m+n)≦1の関係
を満たす整数である。mとnの和は、好ましくは5以上
100以下である。ここでmとnの和が、2未満である
と成膜性が低下し、樹脂膜の機械強度が十分でなくな
る。また1000を越えると分子量が大きくなりすぎ
て、溶剤に溶けにくくなったり、溶解しても粘調なワニ
スとなり実用的でない。m及びnは0.05≦m/(m
+n)≦1を満たす整数であることが必須であり、さら
には、0.5≦m/(m+n)≦1を満たすことが好ま
しい。0.05>m/(m+n)であると、架橋する骨
格を持つ繰り返し単位の数が少ないことを意味し、架橋
反応部位が少ないため耐熱性が向上せず、微細孔が保持
できなかったり、不均一な微細孔となり好ましくない。
In the polyamide of the present invention, with respect to m and n in the general formula (A), which is the number of repeating units having a crosslinkable skeleton and the number of repeating units having no crosslinkable skeleton, m and n are respectively m> 0, n ≧ 0, 2 ≦ m +
It is an integer that satisfies the relationship of n ≦ 1000 and 0.05 ≦ m / (m + n) ≦ 1. The sum of m and n is preferably 5 or more and 100 or less. Here, if the sum of m and n is less than 2, the film forming property is deteriorated and the mechanical strength of the resin film becomes insufficient. On the other hand, if it exceeds 1000, the molecular weight becomes too large and it becomes difficult to dissolve in a solvent, or even if it dissolves, it becomes a viscous varnish, which is not practical. m and n are 0.05 ≦ m / (m
It is essential that it is an integer that satisfies + n) ≦ 1, and more preferably 0.5 ≦ m / (m + n) ≦ 1. When 0.05> m / (m + n), it means that the number of repeating units having a skeleton to be crosslinked is small, and since the number of crosslinking reaction sites is small, heat resistance is not improved, and micropores cannot be retained. Uneven fine pores are not preferable.

【0020】一般式(A)において繰り返し単位の配列
は、ブロック的であっても、ランダム的であってもかま
わない。例えば、ブロック的な繰り返し単位の製造方法
としては、酸クロリド法による場合、式(B)で表され
る基の中から選ばれる四価の基を有するビスアミノフェ
ノール化合物と式(G)で表される基の中から選ばれる
二価の基を有するジカルボン酸のクロリドとを、予め反
応させて分子量を上げた後、式(B)で表される基の中
から選ばれる四価の基を有するビスアミノフェノール化
合物と3官能カルボン酸のクロリドとを反応させ、更に
式(B)で表される基の中から選ばれる四価の基を有す
るビスアミノフェノール化合物と、式(C)、式
(D)、式(E)及び式(F)で表される二価の基の中
から選ばれる架橋に寄与する構造を有するジカルボン酸
のクロリドとを反応させることにより得ることができ
る。これらの順番については、ブロック的な構造となれ
ば、限定されない。
In the general formula (A), the repeating unit sequence may be block-like or random. For example, as a method for producing a block-like repeating unit, in the case of the acid chloride method, a bisaminophenol compound having a tetravalent group selected from the group represented by the formula (B) and the formula (G) are used. A dicarboxylic acid chloride having a divalent group selected from the group represented by the formula (B) is reacted in advance to increase the molecular weight, and then a tetravalent group selected from the groups represented by the formula (B) is added. And a bisaminophenol compound having a tetravalent group selected from the group represented by the formula (B) by reacting the bisaminophenol compound with a chloride of a trifunctional carboxylic acid; It can be obtained by reacting with a chloride of a dicarboxylic acid having a structure that contributes to crosslinking selected from divalent groups represented by (D), formula (E) and formula (F). The order is not limited as long as it has a block-like structure.

【0021】ランダムな繰り返し単位の場合は、式
(B)で表される基の中から選ばれる四価の基を有する
ビスアミノフェノール化合物と式(G)で表される基の
中から選ばれる二価の基を有するジカルボン酸のクロリ
ドと式(C)、式(D)、式(E)及び式(F)で表さ
れる二価の基の中から選ばれる架橋に寄与する構造を有
するジカルボン酸と3官能カルボン酸のクロリドとを、
同時に反応させることにより得ることができる。
In the case of a random repeating unit, a bisaminophenol compound having a tetravalent group selected from the group represented by the formula (B) and a group represented by the formula (G) are selected. A dicarboxylic acid chloride having a divalent group and a structure contributing to crosslinking selected from divalent groups represented by formula (C), formula (D), formula (E) and formula (F). Dicarboxylic acid and trifunctional carboxylic acid chloride,
It can be obtained by reacting at the same time.

【0022】本発明において、ポリアミドとの反応にて
使用する反応性オリゴマーは、その構造中にポリアミド
構造中のカルボキシル基、アミノ基、又はヒドロキシル
基と反応し得る反応性置換基を有しており、反応性置換
基としては、カルボキシル基、アミノ基またはヒドロキ
シル基を持つことが必須であり、そしてポリアミドの熱
分解温度より低い温度で熱分解し、分解物が気化するオ
リゴマーでなければならない。具体的に例示すると、ポ
リオキシメチレン、ポリオキシエチレン、ポリオキシメ
チレン−オキシエチレン共重合体、ポリオキシメチレン
−オキシプロピレン共重合体、ポリオキシエチレン−オ
キシプロピレン共重合体、ポリテトラヒドロフラン等の
ポリオキシアルキレンや、ポリメチルメタクリレート、
ポリウレタン、ポリα−メチルスチレン、ポリスチレ
ン、ポリエステル、ポリエーテルエステル、ポリカプロ
ラクトン等が好適に挙げられる。これらは単独で用いて
もよく、また2種類以上を組み合わせて使用してもよ
い。この反応性オリゴマーとしては、側鎖もしくは主鎖
の片末端または両末端に反応性置換基を導入したものを
用いることができる。工業的に入手が容易であるのは、
主鎖の末端を修飾した反応性オリゴマーである。より具
体的には、4−アミノ安息香酸エステル化末端スチレン
オリゴマー、4-アミノ安息香酸エステル化末端ポリ
(プロピレングリコール)オリゴマー、両ヒドロキシ末
端ポリ(エチレングリコール)−ブロック−ポリ(プロ
ピレングリコール)−ブロック−ポリ(エチレングリコ
ール)、ポリ(プロピレングリコール)ビス(2−アミ
ノプロピルエーテル)などが挙げられる。
In the present invention, the reactive oligomer used in the reaction with the polyamide has in its structure a reactive substituent capable of reacting with the carboxyl group, amino group or hydroxyl group in the polyamide structure. As the reactive substituent, it is essential to have a carboxyl group, an amino group or a hydroxyl group, and it must be an oligomer that thermally decomposes at a temperature lower than the thermal decomposition temperature of polyamide and the decomposed product vaporizes. Specific examples include polyoxymethylene, polyoxyethylene, polyoxymethylene-oxyethylene copolymer, polyoxymethylene-oxypropylene copolymer, polyoxyethylene-oxypropylene copolymer, polyoxytetrahydrofuran and other polyoxymethylene. Alkylene, polymethylmethacrylate,
Suitable examples include polyurethane, poly α-methylstyrene, polystyrene, polyester, polyether ester, polycaprolactone and the like. These may be used alone or in combination of two or more. As this reactive oligomer, one having a reactive substituent introduced at one end or both ends of the side chain or main chain can be used. Industrially easily available,
It is a reactive oligomer in which the ends of the main chain are modified. More specifically, 4-aminobenzoic acid ester-terminated styrene oligomer, 4-aminobenzoic acid ester-terminated poly (propylene glycol) oligomer, both hydroxy-terminated poly (ethylene glycol) -block-poly (propylene glycol) -block -Poly (ethylene glycol), poly (propylene glycol) bis (2-aminopropyl ether) and the like.

【0023】該反応性オリゴマーは、数平均分子量が1
00〜10,000の範囲のものが好ましい。分子量が
100未満であると、分解・気化した後の空隙が小さく
潰れやすいため、比誘電率の低減を発現させることがで
きにくい。また分子量が10,000を越えると、空隙
が大きくなりすぎて絶縁膜の機械特性が極端に低下し、
実用に供すことができなくなるといった問題が発生する
おそれがある。本発明においては、共重合体中の前記反
応性オリゴマーユニットの導入量は、5〜50重量%が
好ましい。この導入量が5重量%未満であると絶縁膜中
の空隙率が小さく、誘電率を低減させることが不十分で
あり、また、50重量%を越えると、膜中の空隙率が大
きくなり膜の機械強度が極端に低下したり、空隙が連続
し不均一となり、誘電率が場所により異なる等の問題が
発生し好ましくない。したがって、ポリアミドと反応性
オリゴマーを反応させる場合、それぞれの使用量を、得
られる共重合体中の反応性オリゴマーユニットの導入量
が上記範囲になるように、調整することが重要である。
The reactive oligomer has a number average molecular weight of 1
The range of 00 to 10,000 is preferable. If the molecular weight is less than 100, the voids after decomposition and vaporization are small and easily crushed, so that it is difficult to achieve a reduction in the relative dielectric constant. When the molecular weight exceeds 10,000, the voids become too large and the mechanical properties of the insulating film are extremely deteriorated.
There is a possibility that a problem that it cannot be put to practical use may occur. In the present invention, the amount of the reactive oligomer unit introduced into the copolymer is preferably 5 to 50% by weight. If the amount introduced is less than 5% by weight, the porosity in the insulating film is small, and it is insufficient to reduce the dielectric constant. The mechanical strength of No. 1 is extremely reduced, the voids are continuous and non-uniform, and the dielectric constant varies depending on the location, which is not preferable. Therefore, when reacting the polyamide and the reactive oligomer, it is important to adjust the amount of each used so that the amount of the reactive oligomer unit introduced into the resulting copolymer falls within the above range.

【0024】本発明において、共重合体の製造方法の例
としては、従来の酸クロリド法、活性化エステル法、ポ
リリン酸やジシクロヘキシルカルボジイミド等の脱水縮
合剤の存在下での縮合反応等の方法を用いることができ
る。例えば、酸クロリド法では、使用するジカルボン酸
クロリド及び3官能カルボン酸クロリドは、まず、N,
N−ジメチルホルムアミド等の溶媒存在下で、ジカルボ
ン酸と過剰量の塩化チオニルとを、室温ないし130℃
程度の温度で反応させ、過剰の塩化チオニルを加熱及び
減圧により留去した後、残査をヘキサン等の溶媒で再結
晶することにより得ることができる。このようにして製
造したジカルボン酸クロリド及び3官能カルボン酸クロ
リドと、前記他のジカルボン酸を併用する場合、同様に
して得られる酸クロリドとを、ビスアミノフェノール化
合物と共に、通常N−メチル−2−ピロリドン、N,N
−ジメチルアセトアミド等の極性溶媒に溶解し、ピリジ
ン、トリエチルアミン等の酸受容剤存在下に、室温ない
し−30℃程度の温度で反応させ、ポリアミドを合成
し、これに更に、 予め反応性オリゴマーをγ−ブチロ
ラクトンなどに溶解したものを加えて反応させる。次い
で反応液を水とイソプロピルアルコールの混合溶液など
に加え、沈殿物を集め,乾燥することによりポリアミド
と反応性オリゴマーとを反応せしめた共重合体を得るこ
とができる。また、極性溶媒中、酸クロライド、ビスア
ミノフェノール化合物、反応性オリゴマーを同時に反応
させてランダムに共重合体を合成することも可能であ
る。
In the present invention, examples of the method for producing the copolymer include a conventional acid chloride method, an activated ester method, a condensation reaction in the presence of a dehydrating condensation agent such as polyphosphoric acid and dicyclohexylcarbodiimide. Can be used. For example, in the acid chloride method, dicarboxylic acid chloride and trifunctional carboxylic acid chloride used are
In the presence of a solvent such as N-dimethylformamide, the dicarboxylic acid and an excess amount of thionyl chloride are mixed at room temperature to 130 ° C.
It can be obtained by reacting at about temperature, distilling off excess thionyl chloride by heating and reducing pressure, and recrystallizing the residue with a solvent such as hexane. When the dicarboxylic acid chloride and trifunctional carboxylic acid chloride thus produced are used in combination with the above-mentioned other dicarboxylic acid, the acid chloride obtained in the same manner is used together with a bisaminophenol compound, usually in N-methyl-2- Pyrrolidone, N, N
-Dissolved in a polar solvent such as dimethylacetamide, reacted in the presence of an acid acceptor such as pyridine and triethylamine at a temperature from room temperature to about -30 ° C to synthesize a polyamide. -Add the one dissolved in butyrolactone and react. Then, the reaction solution is added to a mixed solution of water and isopropyl alcohol, and the precipitate is collected and dried to obtain a copolymer in which the polyamide and the reactive oligomer are reacted. It is also possible to simultaneously react the acid chloride, the bisaminophenol compound and the reactive oligomer in a polar solvent to randomly synthesize a copolymer.

【0025】ジカルボン酸及び3官能カルボン酸クロリ
ドと、ビスアミノフェノール化合物の仕込みモル比は、
得られるポリアミドの分子量に大きく影響し、またポリ
アミドの末端基構造を制御するのに重要である。すなわ
ち、反応性オリゴマーと共重合反応させるには、ポリア
ミドの末端をオリゴマーの反応性基と反応し得るように
しなければならない。つまり、ジカルボン酸及び3官能
カルボン酸クロリド/ビスアミノフェノール化合物のモ
ル比を、1未満とすると、得られるポリアミドの末端
は、アミノ基とヒドロキシル基を有し、カルボキシル基
を有するオリゴマーとの共重合が可能となる。また、酸
クロリド/ビスアミノフェノールのモル比を、1より大
きくすると、得られるポリアミドの末端は、カルボキシ
ル基を有し、アミノ基またはヒドロキシル基を有する反
応性オリゴマーとの共重合が可能となる。この場合、オ
リゴマーの末端反応基は、求核性の強いアミノ基の方が
より好ましい。この際、オリゴマーの末端水酸基をアミ
ノ基に変換する例としては、水酸基末端反応性オリゴマ
ーと4−ニトロ安息香酸クロリドを、通常テトラヒドロ
フランなどの溶媒中において、ピリジン等の酸受容剤存
在下で、室温ないし−30℃程度の温度で反応させるこ
とにより、4−ニトロ安息香酸エステル末端オリゴマー
を得ることができる。その後、この末端オリゴマーをテ
トラヒドロフランなどの溶媒に溶解し、パラジウム炭素
などの還元触媒存在下、水素ガス雰囲気下で反応させ、
その反応液から触媒を取り除いたのち、溶媒を濃縮して
除去することにより4−アミノ安息香酸エステル末端の
オリゴマーを得て、これをアミノ基末端反応性オリゴマ
ーとして使用することができる。また、ポリアミドユニ
ットの主鎖構造中の水酸基に、カルボキシル基やイソシ
アネート基を持つ反応性オリゴマーと反応させてグラフ
ト共重合体を合成し用いることも可能であるが、水酸基
と反応する反応性オリゴマーであれば、特にこれらに限
定されるものではない。
The charging molar ratio of the dicarboxylic acid and trifunctional carboxylic acid chloride to the bisaminophenol compound is
It has a great influence on the molecular weight of the obtained polyamide and is important for controlling the end group structure of the polyamide. That is, in order to carry out the copolymerization reaction with the reactive oligomer, the end of the polyamide must be made reactive with the reactive group of the oligomer. That is, when the molar ratio of dicarboxylic acid and trifunctional carboxylic acid chloride / bisaminophenol compound is less than 1, the end of the obtained polyamide has an amino group and a hydroxyl group and is copolymerized with an oligomer having a carboxyl group. Is possible. Further, when the molar ratio of acid chloride / bisaminophenol is larger than 1, the terminal of the obtained polyamide has a carboxyl group, and copolymerization with a reactive oligomer having an amino group or a hydroxyl group becomes possible. In this case, the terminal reactive group of the oligomer is more preferably an amino group having strong nucleophilicity. At this time, as an example of converting the terminal hydroxyl group of the oligomer to an amino group, a hydroxyl group-end reactive oligomer and 4-nitrobenzoic acid chloride are usually used in a solvent such as tetrahydrofuran in the presence of an acid acceptor such as pyridine at room temperature. A 4-nitrobenzoic acid ester-terminated oligomer can be obtained by reacting at a temperature of about -30 ° C. After that, this terminal oligomer is dissolved in a solvent such as tetrahydrofuran and reacted in the presence of a reducing catalyst such as palladium carbon in a hydrogen gas atmosphere,
After removing the catalyst from the reaction solution, the solvent is concentrated and removed to obtain a 4-aminobenzoic acid ester-terminated oligomer, which can be used as an amino group-terminated reactive oligomer. It is also possible to synthesize and use a graft copolymer by reacting a hydroxyl group in the main chain structure of a polyamide unit with a reactive oligomer having a carboxyl group or an isocyanate group. If there is, it is not particularly limited to these.

【0026】本発明の絶縁膜用材料には、膜形成成分で
ある上記共重合体の他に、目的に応じて各種添加剤を含
有させることができる。各種添加剤としては、界面活性
剤、シラン系に代表されるカップリング剤、酸素ラジカ
ルやイオウラジカルを加熱により発生するラジカル開始
剤、ジスルフィド類などの触媒等が挙げられる。また、
本発明におけるポリアミドは、感光剤としてのナフトキ
ノンジアジド化合物と一緒に用いることで、ポジ型の感
光性樹脂組成物として、また、式(A)中のヒドロキシ
ル基の少なくとも一方の末端が、メタクリロイル基のよ
うな光架橋性基を有する基で置換された場合は、光開始
剤を用いることでネガ型感光性樹脂組成物として用いる
ことが可能である。
The insulating film material of the present invention may contain various additives in addition to the above-mentioned copolymer which is a film forming component depending on the purpose. Examples of various additives include a surfactant, a coupling agent typified by silanes, a radical initiator that generates oxygen radicals and sulfur radicals by heating, and a catalyst such as disulfides. Also,
The polyamide in the present invention is used as a positive photosensitive resin composition by using together with a naphthoquinonediazide compound as a photosensitizer, and at least one terminal of the hydroxyl group in the formula (A) has a methacryloyl group. When it is substituted with a group having such a photo-crosslinkable group, it can be used as a negative photosensitive resin composition by using a photoinitiator.

【0027】本発明の絶縁膜用材料の使用方法として
は、適当な有機溶媒に溶解させるか又は均一に分散させ
て、コーティングワニスとして使用することが可能であ
る。具体的に例示すると、当該絶縁膜用材料を有機溶媒
に溶解又は均一に分散させ、適当な支持体、例えば、ガ
ラス、繊維、金属、シリコンウエーハ、セラミック基板
等に塗布する。その塗布方法は、浸漬、スクリーン印
刷、スプレー、回転塗布、ロールコーティングなどが挙
げられ、塗布後に加熱乾燥して溶剤を揮発せしめ、タッ
クフリーな塗膜とすることができる。その後、加熱処理
して、ポリベンゾオキサゾール樹脂架橋体に変換して用
いるのが好ましい。また、ジカルボン酸成分、ビスアミ
ノフェノール化合物成分及び反応性オリゴマー成分を選
択することにより、溶剤に可溶なポリベンゾオキサゾー
ル樹脂として用いることもできる。
The insulating film material of the present invention can be used as a coating varnish by dissolving it in a suitable organic solvent or uniformly dispersing it. More specifically, the insulating film material is dissolved or uniformly dispersed in an organic solvent and applied on a suitable support such as glass, fiber, metal, silicon wafer, ceramic substrate and the like. Examples of the coating method include dipping, screen printing, spraying, spin coating, roll coating and the like. After coating, heating and drying can evaporate the solvent to form a tack-free coating film. Then, it is preferable to heat-treat and convert it into a crosslinked polybenzoxazole resin for use. Further, by selecting a dicarboxylic acid component, a bisaminophenol compound component and a reactive oligomer component, it can be used as a solvent-soluble polybenzoxazole resin.

【0028】本発明の絶縁膜用材料を溶解又は分散させ
る有機溶媒としては、固形分を完全に溶解する溶媒が好
ましく、例えば、N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブ
チロラクトン、N,N−ジメチルアセトアミド、ジメチ
ルスルホキシド、ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレ
ングリコールジブチルエーテル、プロピレングリコール
モノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチ
ルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル
アセテート、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸ブチル、メ
チル−1,3−ブチレングリコールアセテート、1,3−
ブチレングリコール−3−モノメチルエーテル、ピルビ
ン酸メチル、ピルビン酸エチル、メチル−3−メトキシ
プロピオネート、メチルエチルケトン、メチルイソブチ
ルケトン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、テト
ラヒドロフラン等を挙げることができる。これらは1種
を用いてもよく、2種以上を混合して用いてよい。コー
ティングワニスを調製する場合の溶媒使用量としては、
絶縁膜用材料を完全に溶解し得る量であればよく、特に
制限されず、その用途に応じて適宜調整することができ
るが、一般的にはワニス中の溶媒含有量は、70〜95
重量%程度が好ましい。
The organic solvent for dissolving or dispersing the insulating film material of the present invention is preferably a solvent capable of completely dissolving solids, for example, N-methyl-2-pyrrolidone, γ-butyrolactone, N, N-dimethyl. Acetamide, dimethyl sulfoxide, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol dibutyl ether, propylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monomethyl ether acetate, methyl lactate, ethyl lactate, butyl lactate, methyl-1,3-butylene glycol Acetate, 1,3-
Examples thereof include butylene glycol-3-monomethyl ether, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, methyl-3-methoxypropionate, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclopentanone, cyclohexanone and tetrahydrofuran. These may be used alone or in combination of two or more. As the amount of solvent used when preparing a coating varnish,
There is no particular limitation as long as it is an amount capable of completely dissolving the material for the insulating film, and it can be appropriately adjusted according to its application. Generally, the solvent content in the varnish is 70 to 95.
About wt% is preferable.

【0029】本発明の絶縁膜用材料は、上記のようにし
て得られた塗膜を、通常80〜200℃の範囲の温度で
溶媒を蒸発させ、200〜500℃程度の温度で加熱処
理することにより、絶縁膜用材料中のポリアミドユニッ
トが、環化縮合反応及び架橋反応を生じポリベンゾオキ
サゾール樹脂となり、また、絶縁膜用材料中の該オリゴ
マーユニットは、この際、熱分解して、分解物が気化・
揮散し、ポリベンゾオキサゾールを主構造とする樹脂の
層に微細孔を形成させることにより、多孔質絶縁膜であ
る本発明の絶縁膜を得ることができる。この際の熱履歴
も微細孔を形成させるには重要である。通常は、オーブ
ンなどにより、徐々にしかも段階的に昇温加熱して、微
細孔の形成を行うが、本発明の絶縁膜用材料によれば、
ホットプレートなどによりに一気に加熱しても、良好な
微細孔が得られる。熱処理は、不活性ガス雰囲気下、ま
たは真空中で行なうことが好ましい。不活性ガスとして
は、窒素ガス、アルゴンなどが挙げられる。この際系中
の酸素濃度は100ppm以下が好ましい。
In the insulating film material of the present invention, the coating film obtained as described above is subjected to heat treatment at a temperature of about 200 to 500 ° C. by evaporating the solvent at a temperature of usually 80 to 200 ° C. As a result, the polyamide unit in the insulating film material undergoes a cyclocondensation reaction and a crosslinking reaction to become a polybenzoxazole resin, and the oligomer unit in the insulating film material is thermally decomposed and decomposed at this time. Things vaporize
The insulating film of the present invention, which is a porous insulating film, can be obtained by volatilizing and forming fine pores in the resin layer having a polybenzoxazole main structure. The thermal history at this time is also important for forming fine pores. Usually, by using an oven or the like, heating is performed gradually and stepwise to form fine pores. According to the insulating film material of the present invention,
Good micropores can be obtained even when heated at once with a hot plate or the like. The heat treatment is preferably performed in an inert gas atmosphere or in vacuum. Examples of the inert gas include nitrogen gas and argon. At this time, the oxygen concentration in the system is preferably 100 ppm or less.

【0030】本発明のポリベンゾオキサゾールを主構造
とする樹脂の層からなり、微細孔を有してなる絶縁膜に
おける、微細孔の大きさは、絶縁膜の用途や膜の厚みに
もよるが、一般的には、20nm以下、さらに好ましく
は5nm以下であることが望ましい。半導体用層間絶縁
膜においては、孔径が20nmより大きいと配線間に用
いられた絶縁膜における空隙が不均一になり、電気特性
が一定とならない。また、膜の機械強度が低下し、接着
性に悪影響が出る等の問題が発生する。ただし、フィル
ムの用途により最適な膜厚、最適な微細孔の大きさがあ
るので必ずしも5nmが必要というわけではない。ま
た、絶縁膜の空隙率としては、5〜50%が好ましい。
空隙率が5%より小さいと十分な誘電率の低下が発現し
なくなる恐れがあり、50%よりも大きいと膜の機械強
度が低下し、接着性に悪影響が出る等の問題が発生する
恐れがある。
The size of the fine pores in the insulating film having the fine pores, which is composed of the resin layer containing polybenzoxazole as the main structure, depends on the use of the insulating film and the thickness of the film. Generally, it is desirable that the thickness is 20 nm or less, more preferably 5 nm or less. In the interlayer insulating film for semiconductors, if the hole diameter is larger than 20 nm, the voids in the insulating film used between the wirings become nonuniform, and the electrical characteristics are not constant. In addition, the mechanical strength of the film is reduced, which causes a problem that the adhesiveness is adversely affected. However, 5 nm is not always necessary because there is an optimal film thickness and an optimal micropore size depending on the application of the film. The porosity of the insulating film is preferably 5 to 50%.
If the porosity is less than 5%, a sufficient decrease in the dielectric constant may not be manifested, and if it is more than 50%, the mechanical strength of the film may decrease, and problems such as adversely affecting the adhesiveness may occur. is there.

【0031】本発明の絶縁膜の厚みとしては、その使用
目的に応じて異なるが、通常0.1〜100μm、好ま
しくは0.1〜50μm、より好ましくは0.1〜20μ
mの範囲である。本発明の絶縁膜用材料及び絶縁膜は、
半導体用層間絶縁膜や保護膜、多層回路の層間絶縁膜、
フレキシブル銅張板のカバーコート、ソルダーレジスト
膜、液晶配向膜等の形成に用いることができる。
The thickness of the insulating film of the present invention varies depending on the purpose of use, but is usually 0.1 to 100 μm, preferably 0.1 to 50 μm, more preferably 0.1 to 20 μm.
The range is m. The insulating film material and insulating film of the present invention,
Inter-layer insulation film and protective film for semiconductors, Inter-layer insulation film for multilayer circuits,
It can be used for forming a cover coat of a flexible copper clad board, a solder resist film, a liquid crystal alignment film and the like.

【0032】本発明の絶縁膜を半導体装置の多層配線用
層間絶縁膜に用いる場合の例としては、まず、接着性を
向上させる場合、接着性コーティング剤を半導体基板上
に、塗布して、塗膜を形成する。塗布の方法としては、
スピンナーによる回転塗布、スプレーコーターによる噴
霧塗布、浸漬、印刷、ロールコーティング等が挙げられ
る。その後、有機溶剤の沸点以上の温度でプリベークし
て有機溶剤を蒸発乾燥させることにより、接着性コーテ
ィング膜を形成する。次に、前記接着性コーティング膜
の上に、本発明の絶縁膜用材料の溶液を、前記同様の方
法により、積層するように塗布して、塗膜を形成する。
次いで、塗膜を前記の条件でプリベークして有機溶剤を
蒸発乾燥し、更に、加熱処理することにより、微細孔を
有する樹脂膜とし、層間絶縁膜を形成することができ
る。同様にして、樹脂膜を形成して表面保護膜とするこ
ともできる。
As an example of using the insulating film of the present invention as an interlayer insulating film for a multilayer wiring of a semiconductor device, first, in the case of improving the adhesiveness, an adhesive coating agent is applied on a semiconductor substrate and then applied. Form a film. As a method of application,
Examples include spin coating with a spinner, spray coating with a spray coater, dipping, printing, and roll coating. Then, the adhesive coating film is formed by pre-baking at a temperature equal to or higher than the boiling point of the organic solvent to evaporate and dry the organic solvent. Next, a solution of the insulating film material of the present invention is applied onto the adhesive coating film so as to be laminated in the same manner as described above to form a coating film.
Then, the coating film is pre-baked under the above conditions to evaporate and dry the organic solvent, and further subjected to heat treatment to form a resin film having fine pores, and an interlayer insulating film can be formed. Similarly, a resin film can be formed to serve as a surface protective film.

【0033】[0033]

【実施例】以下、実施例により本発明を具体的に説明す
るが、本発明はこれらの例によって何んら限定されるも
のではない。なお、実施例及び比較例で作製したフィル
ムについて、下記の方法により比誘電率、耐熱性、ガラ
ス転移温度及び吸水率を測定すると共に、フィルムの断
面を観察した。 (1)比誘電率 JIS−K6911に準拠し、周波数100kHzで、
ヒューレットパッカード社製HP−4284A Pre
cision LCRメーターを用いて測定を行った。 (2)耐熱性 セイコーインスツルメンツ(株)製TG/DTA620
0を用いて、窒素ガス200mL/分フロー下、昇温速度
10℃/分の条件により、重量減少5%の際の温度を測
定した。 (3)ガラス転移温度(Tg) セイコーインスツルメンツ(株)製DMS6100を用
いて、窒素ガス300mL/分フロー下、測定周波数1H
z、昇温速度3℃/分の条件で、引張りモードで測定
し、損失正接(tanδ)のピークトップ温度をガラス
転移温度とした。 (4)吸水率 5cm角、厚み10μmの試験フィルムを、23℃の純水
に24時間浸漬した後の、重量変化率を算出した。 (5)フィルム断面観察 フィルムの断面について、透過型電子顕微鏡(TEM)
を用いて、微細孔の有無とその孔径を観察した。
EXAMPLES The present invention will be described in detail below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. The relative dielectric constant, heat resistance, glass transition temperature, and water absorption of the films produced in Examples and Comparative Examples were measured by the following methods, and the cross sections of the films were observed. (1) Relative permittivity According to JIS-K6911, at a frequency of 100 kHz,
Hewlett Packard HP-4284A Pre
The measurement was performed using a cision LCR meter. (2) Heat resistance TG / DTA620 manufactured by Seiko Instruments Inc.
0 was used to measure the temperature at a weight loss of 5% under the condition of a temperature rising rate of 10 ° C./min under a flow of 200 mL / min of nitrogen gas. (3) Glass transition temperature (Tg) Using DMS6100 manufactured by Seiko Instruments Inc. under a nitrogen gas flow of 300 mL / min, measurement frequency 1H
The glass transition temperature was defined as the peak top temperature of the loss tangent (tan δ), which was measured in the tensile mode under the conditions of z and temperature rising rate of 3 ° C./min. (4) Water absorption rate A test film having a 5 cm square and a thickness of 10 μm was immersed in pure water at 23 ° C. for 24 hours, and then the weight change rate was calculated. (5) Observation of film cross section Regarding the cross section of the film, a transmission electron microscope (TEM)
The presence and absence of fine pores and the diameter of the pores were observed using.

【0034】製造例1 5−エチニルイソフタル酸ジクロリドの製造 (1)5−トリフルオロメタンスルホニロキシイソフタ
ル酸ジメチルの合成 温度計、ジムロー卜冷却管、塩化カルシウム管、撹拌機
を備えた4つ口の5Lフラスコに、5−ヒドロキシイソ
フタル酸ジメチル190.0 g(0.904mol)、脱水
トルエン3L、脱水ピリジン214.7g(2.718mo
l)を仕込み、撹拌しながら−30℃まで冷却した。こ
こに無水トリフルオロメタンスルホン酸510.2g
(1.808mol)を、温度が−25℃以上に上がらない
ように注意しながら、ゆっくりと滴下した。この場合、
滴下が終了するまでに1時間を要した。滴下終了後、反
応温度を0℃に昇湿し1時間、さらに室温に昇温し5時
間反応した。得られた反応混合物を4Lの氷水に注ぎ、
水層と有機層を分離した。更に水層を500mLのトルエ
ンで2回抽出し、これを先の有機層とあわせた。この有
機層を水3Lで2回洗浄し、無水硫酸マグネシウム10
0gで乾燥、ろ過により無水硫酸マグネシウムを除去
し、ロータリーエバポレーターでトルエンを留去、減圧
乾燥することによって、淡黄色固体の5−トリフルオロ
メタンスルホニロキシイソフタル酸ジメチルを294.
0 g得た(収率95%)。この粗生成物をヘキサン
で、再結晶することによって白色針状晶を得、これを次
の反応に用いた。 (2)4−[3,5−ビス(メトキシカルボニル)フェ
ニル]−2−メチル−3−ブチン−1−オールの合成 温度計、ジムロート冷却管、窒素導入管、撹拌機を備え
た4つ口の1Lフラスコに、上記(1)で得られた5−
トリフルオロメタンスルホニロキシイソフタル酸ジメチ
ル125g(0.365mol)、トリフェニルホスフィン
1.1g(0.00419mol)、ヨウ化銅0.275g
(0.00144mol)、3−メチル−1−ブチン−3−
オール33.73g(0.401mol)を仕込み、窒素を
流した。脱水トリエチルアミン375mLおよび脱水ピリ
ジン200mLを加え、撹拌溶解した。l時間窒素を流し
続けた後、ジクロロビス(トリフェニルホスフィン)パ
ラジウム0.3g(0.000427mol)を素早く添加
し、オイルバスで1時間加熱還流した。その後、トリエ
チルアミンおよびピリジンを減圧留去し、粘稠な褐色溶
液を得た。これを水500mLに注ぎ析出した固形物をろ
取し、さらに水500mL、5モル/リットル濃度塩酸5
00mL、水500mLで各2回洗浄した。この固形物を、
50℃で減圧乾燥することにより、98.8gの4−
[3,5−ビス(メトキシカルボニル)フェニル]−2
−メチル−3−ブチン−1−オールを得た(収率98
%)
Production Example 1 Production of 5-ethynyl isophthalic acid dichloride (1) Synthesis of dimethyl 5-trifluoromethanesulfonyloxyisophthalate Thermometer, Dimlow condenser tube, calcium chloride tube, 4 ports equipped with stirrer In a 5 L flask, dimethyl 5-hydroxyisophthalate (190.0 g, 0.904 mol), dehydrated toluene (3 L), dehydrated pyridine (214.7 g, 2.718 mo)
l) was charged and cooled to -30 ° C with stirring. 510.2 g of trifluoromethanesulfonic anhydride
(1.808 mol) was slowly added dropwise, taking care not to let the temperature rise above -25 ° C. in this case,
It took one hour to complete the dropping. After the completion of the dropping, the reaction temperature was raised to 0 ° C., the temperature was raised to 1 hour, and the temperature was further raised to room temperature to carry out the reaction for 5 hours. The reaction mixture obtained was poured into 4 L of ice water,
The aqueous layer and the organic layer were separated. Further, the aqueous layer was extracted twice with 500 mL of toluene, and this was combined with the previous organic layer. This organic layer was washed twice with 3 L of water, and anhydrous magnesium sulfate 10
The anhydrous magnesium sulfate was removed by drying at 0 g and filtration, toluene was distilled off with a rotary evaporator, and the residue was dried under reduced pressure to give dimethyl 5-trifluoromethanesulfonyloxyisophthalate as a pale yellow solid 294.
0 g was obtained (yield 95%). The crude product was recrystallized with hexane to give white needle crystals, which were used in the next reaction. (2) 4- [3,5-bis (methoxycarbonyl) phenyl] -2-methyl-3-butyn-1-ol synthesis thermometer, Dimroth condenser tube, nitrogen introduction tube, four ports equipped with stirrer In a 1-liter flask of No. 5 obtained in (1) above.
125 g (0.365 mol) of dimethyl trifluoromethanesulfonyloxyisophthalate, 1.1 g (0.00419 mol) of triphenylphosphine, 0.275 g of copper iodide
(0.00144 mol), 3-methyl-1-butyne-3-
A total of 33.73 g (0.401 mol) was charged and flushed with nitrogen. Dehydrated triethylamine (375 mL) and dehydrated pyridine (200 mL) were added and dissolved by stirring. After continuing the nitrogen flow for 1 hour, 0.3 g (0.00000427 mol) of dichlorobis (triphenylphosphine) palladium was quickly added, and the mixture was heated under reflux in an oil bath for 1 hour. Then, triethylamine and pyridine were distilled off under reduced pressure to obtain a viscous brown solution. This was poured into 500 mL of water, the precipitated solid matter was collected by filtration, and further 500 mL of water and 5 mol / liter concentration of hydrochloric acid 5
Each was washed twice with 00 mL and 500 mL of water. This solid
By drying under reduced pressure at 50 ° C., 98.8 g of 4-
[3,5-bis (methoxycarbonyl) phenyl] -2
-Methyl-3-butyn-1-ol was obtained (yield 98
%)

【0035】(3)5−エチニルイソフタル酸二カリウ
ム塩の合成 温度計、ジムロート冷却管、撹拌機を備えた5Lの4つ
口フラスコにn−ブタノール3L、水酸化カリウム(8
5%)182g(2.763mol)を仕込み、加熱還流し
て溶解した。これに上記(2)で合成した4−[3,5
−ビス(メトキシカルボニル)フェニル]−2−メチル
−3−ブチン−1−オール95g(0.344mol)を加
えて30分間加熱還流した。これを氷浴にて冷却し、析
出した結晶をろ取した。この結晶をエタノール1Lで2
回洗浄し、60℃で減圧乾燥することによって、88.
87gの5−エチニルイソフタル酸二カリウム塩を得た
(収率97%)。 (4)5−エチニルイソフタル酸ジクロリドの合成 温度計、ジムロート冷却管、撹拌機を備えた2Lの4つ
口フラスコに、上記(3)で得られた5−エチニルイソ
フタル酸二カリウム塩80g(0.3mol)、クロロホル
ム400Lを仕込み、0℃に冷却した。これに塩化チオ
ニル391g(4.5mol)を、5℃以下で1時間かけて
滴下した。その後、ジメチルホルムアミド4mL、ヒドロ
キノン4gを加え、45〜50℃で3時間撹拌した。冷
却後ろ過して結晶を除き、結晶をクロロホルム150mL
で洗浄した。ろ液と洗浄液をあわせて40℃以下で減圧
濃縮し、得られた残渣をジエチルエーテル200mLで2
回抽出ろ過した。抽出液からジエチルエーテルを減圧留
去することで、半固体の粗生成物を得た。これを乾燥し
たn−へキサンで洗浄し、続いてジエチルエーテルで再
結晶することで13gの5−エチニルイソフタル酸ジク
ロリドを得た(収率19%)。また、上記の方法に準拠
して、5−エチニルテレフタル酸ジクロリド及び4−エ
チニル−2,6−ナフタレンジカルボン酸ジクロリドを
製造した。
(3) Synthesis of 5-ethynylisophthalic acid dipotassium salt In a 5 L four-necked flask equipped with a thermometer, a Dimroth condenser, and a stirrer, 3 L of n-butanol and potassium hydroxide (8
182 g (2.763 mol) of 5%) was charged and heated to reflux to dissolve. 4- [3,5 synthesized in (2) above
95 g (0.344 mol) of -bis (methoxycarbonyl) phenyl] -2-methyl-3-butyn-1-ol was added and the mixture was heated under reflux for 30 minutes. This was cooled in an ice bath, and the precipitated crystals were collected by filtration. 2 L of this crystal with 1 L of ethanol
By washing twice and drying under reduced pressure at 60 ° C., 88.
87 g of 5-ethynylisophthalic acid dipotassium salt was obtained (yield 97%). (4) Synthesis of 5-ethynylisophthalic acid dichloride In a 2 L four-necked flask equipped with a thermometer, a Dimroth condenser, and a stirrer, 80 g of 5-ethynylisophthalic acid dipotassium salt obtained in (3) above (0 (0.3 mol) and 400 L of chloroform were charged and cooled to 0 ° C. To this, 391 g (4.5 mol) of thionyl chloride was added dropwise at 5 ° C or lower over 1 hour. Then, 4 mL of dimethylformamide and 4 g of hydroquinone were added, and the mixture was stirred at 45 to 50 ° C for 3 hours. After cooling, the crystals were removed by filtration and the crystals were added to 150 mL of chloroform.
Washed with. The filtrate and washing solution were combined and concentrated under reduced pressure at 40 ° C or lower, and the obtained residue was diluted with 200 mL of diethyl ether to 2 times.
It was extracted and filtered twice. Diethyl ether was distilled off from the extract under reduced pressure to obtain a semi-solid crude product. This was washed with dried n-hexane and then recrystallized from diethyl ether to obtain 13 g of 5-ethynylisophthalic acid dichloride (yield 19%). Further, 5-ethynyl terephthalic acid dichloride and 4-ethynyl-2,6-naphthalenedicarboxylic acid dichloride were produced according to the above method.

【0036】製造例2 5−フェニルエチニルイソフタル酸ジクロリドの製造 (1)5−ブロモイソフタル酸の合成 温度計、撹拌機、滴下ロートを備えた4つ口の1Lフラ
スコに5−アミノイソフタル酸99.18g(0.55mo
l)と48重量%臭化水素酸165mL、蒸留水150mL
を入れ、撹拌した。フラスコを5℃以下まで冷却し、こ
こへ亜硝酸ナトリウム39.4g(0.57mol)を、蒸
留水525mLに溶解したものを、1時間かけて滴下し、
ジアゾニウム塩水溶液を得た。温度計、ジムロート冷却
管、滴下ロート、撹拌機を備えた4つ口の3Lフラスコ
に、臭化第一銅94.25g(0.66mol)と48重量
%臭化水素酸45mLを入れ、撹拌した。フラスコを0℃
以下に冷却し、上記のジアゾニウム塩水溶液を2時間か
けて滴下した。滴下終了後に室温で30分間撹拌し、続
けて30分間還流させた。放冷後、析出物をろ別し、蒸
留水2Lで2回洗浄し、得られた白色固体を50℃で2
日間減圧乾燥し、粗生成物117gを得た。精製せずに
次の反応へ用いた。 (2)5−ブロモイソフタル酸ジメチルの合成 撹拌機、ジムロート冷却管を備えた500mLフラスコ
に、上記(1)で得られた5−ブロモイソフタル酸11
0g、メタノール500mL、濃硫酸10gを入れ、6時
間還流させた。放冷後、蒸留水1Lに滴下し、これを5
重量%炭酸水素ナトリウム水溶液で中和した。析出物を
ろ別し、蒸留水2Lで2回洗浄した後、得られた白色固
体を50℃で2日間減圧乾燥し、5−ブロモイソフタル
酸ジメチル109g(0.4mol)を得た(収率89
%)。 (3)5−フェニルエチニルイソフタル酸ジクロリドの
合成 製造例4(2)において、5−トリフルオロメタンスル
ホニロキシイソフタル酸ジメチル125g(0.365m
ol)を、上記(2)で得られた5−ブロモイソフタル酸
ジメチル99.7g(0.365mol)とする以外は同様
にして80.8gの1−[3,5−ビス(メトキシカルボ
ニル)フェニル]−2−フェニルエチンを得た(収率7
5%)。以下、製造例3(3)及び(4)と同様にし
て、5−(2−フェニルエチニル)イソフタル酸二カリ
ウム塩を得たのち、5−(2−フェニルエチニル)イソ
フタル酸ジクロリドを得た。
Production Example 2 Production of 5-phenylethynyl isophthalic acid dichloride (1) Synthesis of 5-bromoisophthalic acid 5-aminoisophthalic acid 99.99 in a 4-necked 1 L flask equipped with a thermometer, a stirrer and a dropping funnel. 18g (0.55mo
l) and 165 mL of 48 wt% hydrobromic acid, 150 mL of distilled water
And stirred. The flask was cooled to 5 ° C or lower, and 39.4 g (0.57 mol) of sodium nitrite dissolved in 525 mL of distilled water was added dropwise thereto over 1 hour.
An aqueous diazonium salt solution was obtained. A 4-L 3 L flask equipped with a thermometer, a Dimroth condenser, a dropping funnel, and a stirrer was charged with 94.25 g (0.66 mol) of cuprous bromide and 45 mL of 48 wt% hydrobromic acid and stirred. . Flask at 0 ° C
After cooling below, the above diazonium salt aqueous solution was added dropwise over 2 hours. After the dropwise addition was completed, the mixture was stirred at room temperature for 30 minutes and then refluxed for 30 minutes. After allowing to cool, the precipitate was filtered off and washed twice with 2 L of distilled water, and the obtained white solid was dried at 50 ° C. for 2 times.
After drying under reduced pressure for a day, 117 g of a crude product was obtained. Used in the next reaction without purification. (2) Synthesis of dimethyl 5-bromoisophthalate In a 500 mL flask equipped with a stirrer and a Dimroth condenser, 5-bromoisophthalic acid 11 obtained in (1) above was added.
0 g, 500 mL of methanol and 10 g of concentrated sulfuric acid were added, and the mixture was refluxed for 6 hours. After allowing to cool, add dropwise to 1 L of distilled water and add 5
It was neutralized with an aqueous solution of sodium hydrogencarbonate in a weight percentage. The precipitate was separated by filtration, washed twice with 2 L of distilled water, and the obtained white solid was dried under reduced pressure at 50 ° C. for 2 days to obtain 109 g (0.4 mol) of dimethyl 5-bromoisophthalate (yield. 89
%). (3) Synthesis of 5-phenylethynyl isophthalic acid dichloride In Production Example 4 (2), 125 g (0.365 m) of dimethyl 5-trifluoromethanesulfonyloxyisophthalate was used.
ol) was 99.7 g (0.365 mol) of dimethyl 5-bromoisophthalate obtained in (2) above, and 80.8 g of 1- [3,5-bis (methoxycarbonyl) phenyl was similarly prepared. ] -2-Phenylethyne was obtained (yield 7
5%). Thereafter, in the same manner as in Production Example 3 (3) and (4), 5- (2-phenylethynyl) isophthalic acid dipotassium salt was obtained, and then 5- (2-phenylethynyl) isophthalic acid dichloride was obtained.

【0037】製造例3 2,7−ビフェニレンジカルボン酸ジクロリドの製造 「J.Poly.Sci.:Polymer Lett
ers Edition」第16巻、第653〜656
ページ(1978年)に記載されている方法に従って、
2,7−ビフェニレンジカルボン酸ジクロリドを製造し
た。
Production Example 3 Production of 2,7-biphenylenedicarboxylic acid dichloride "J. Poly. Sci .: Polymer Lett"
ers Edition "Vol. 16, 653-656
According to the method described on page (1978),
2,7-biphenylenedicarboxylic acid dichloride was prepared.

【0038】実施例1 3、3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシビフェニ
ル2.054g(9.5mmol)を、乾燥したN−メチ
ル−2−ピロリドン30mLに溶解し、この溶液にトリメ
シン酸トリクロリド0.0265g(0.1mmol)、
5−フェニルエチニルイソフタル酸2.274g(7.5
mmol)、5−エチニルイソフタル酸0.568g
(2.5mmol)を、乾燥窒素下10℃で添加した。
添加後、10℃で1時間撹拌した。攪拌後、10℃でト
リエチルアミン2.024g(20.2mmol)を添加
し、次いでγ−ブチロラクトン10mLに、アルドリッチ
社製ポリ(プロピレングリコール)ビス(2−アミノプ
ロピルエーテル)4.0g(1.0mmol、数平均分子
量4,000)を溶解した溶液を、乾燥窒素下10℃で
添加した。添加後、10℃で1時間、続いて20℃で2
0時間攪拌した。反応終了後、反応液をろ過してトリエ
チルアミン塩酸塩を除去し、ろ過した液をイオン交換水
1Lとイソプロパノール0.1Lの混合溶液に滴下し、
沈殿物を集めて乾燥することにより、共重合体7.05
gを得た。得られた共重合体の分子量を東ソー株式会社
製GPCを用いてポリスチレン換算で求めたところ、重
量平均分子量50,300、分子量分布4.21であっ
た。1H−NMRにより反応性オリゴマー成分の導入率
は48重量%であった。得られた共重合体2.00gを
N−メチル−2−ピロリドン20.00gに溶解し、孔
径0.2μmのテフロン(R)フィルターで、ろ過して
ワニスを得た。このワニスをスピンコーターを用いてア
ルミニウムを蒸着したシリコンウエーハ上に塗布した。
この際熱処理後の膜厚が約0.5μmとなるようにスピ
ンコーターの回転数と時間を設定した。塗布後、120
℃のホットプレート上で240秒間乾燥した後、窒素を
流入して酸素濃度を100ppm以下に制御したオーブン
を用いて、300℃で60分間で加熱させることで、末
端をオリゴマーと反応させたポリベンゾオキサゾール樹
脂の皮膜を得た。さらに、400℃で60分間加熱して
オリゴマーユニットを分解し、細孔を有するポリベンゾ
オキサゾール樹脂の皮膜を得た。皮膜上にアルミニウム
を蒸着してパターンニングを行い所定の大きさの電極を
形成した。シリコンウエーハ側のアルミニウムと、この
電極による容量を測定し、測定後に皮膜の電極隣接部
を、酸素プラズマによりエッチングして、表面粗さ計に
より膜厚を測定することにより、周波数1MHzにおけ
る誘電率を算出したところ1.90であった。また、こ
の皮膜について断面をTEMにより観察したところ、得
られた空隙は、15nm以下の細孔で非連続であった。
耐熱性、Tg、吸水率も併せて第1表にまとめた。
Example 1 2.054 g (9.5 mmol) of 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxybiphenyl was dissolved in 30 mL of dried N-methyl-2-pyrrolidone, and trimesic acid trichloride was added to this solution. 0.0265 g (0.1 mmol),
5-phenylethynyl isophthalic acid 2.274 g (7.5
mmol), 0.568 g of 5-ethynylisophthalic acid
(2.5 mmol) was added at 10 ° C. under dry nitrogen.
After the addition, the mixture was stirred at 10 ° C for 1 hour. After stirring, 2.024 g (20.2 mmol) of triethylamine was added at 10 ° C., and then 10 g of γ-butyrolactone was added to 4.0 g (1.0 mmol, poly (propylene glycol) bis (2-aminopropyl ether) manufactured by Aldrich. A solution in which a number average molecular weight of 4,000) was dissolved was added at 10 ° C under dry nitrogen. After addition, 1 hour at 10 ° C, then 2 hours at 20 ° C
Stir for 0 hours. After completion of the reaction, the reaction solution was filtered to remove triethylamine hydrochloride, and the filtered solution was added dropwise to a mixed solution of 1 L of ion-exchanged water and 0.1 L of isopropanol,
By collecting the precipitate and drying it, the copolymer 7.05
g was obtained. When the molecular weight of the obtained copolymer was determined in terms of polystyrene using GPC manufactured by Tosoh Corporation, the weight average molecular weight was 50,300 and the molecular weight distribution was 4.21. The introduction rate of the reactive oligomer component was 48% by weight by 1 H-NMR. The obtained copolymer (2.00 g) was dissolved in N-methyl-2-pyrrolidone (20.00 g) and filtered through a Teflon (R) filter having a pore size of 0.2 μm to obtain a varnish. This varnish was applied onto a silicon wafer on which aluminum was vapor deposited using a spin coater.
At this time, the rotation speed and time of the spin coater were set so that the film thickness after the heat treatment was about 0.5 μm. After application, 120
After drying for 240 seconds on a hot plate at ℃, nitrogen was introduced and the oxygen concentration was controlled to 100ppm or less by using an oven to heat at 300 ℃ for 60 minutes, the end of which was reacted with oligomeric polybenzo A film of oxazole resin was obtained. Furthermore, the oligomer unit was decomposed by heating at 400 ° C. for 60 minutes to obtain a film of polybenzoxazole resin having pores. Aluminum was vapor-deposited on the film and patterned to form an electrode having a predetermined size. Aluminum on the silicon wafer side and the capacitance by this electrode were measured, and after the measurement, the electrode adjacent part of the film was etched by oxygen plasma and the film thickness was measured by a surface roughness meter to determine the dielectric constant at a frequency of 1 MHz. The calculated value was 1.90. When a cross section of this coating was observed by TEM, the obtained voids were discontinuous with pores of 15 nm or less.
The heat resistance, Tg and water absorption are also summarized in Table 1.

【0039】実施例2 実施例1において、トリメシン酸トリクロリド0.02
65g(0.1mmol)を0.0796g(0.3mm
ol)とする以外は同様にして、共重合体7.10gを
得た。得られた共重合体の分子量を東ソー株式会社製G
PCを用いてポリスチレン換算で求めたところ、重量平
均分子量55,000、分子量分布4.31であった。1
H−NMRにより反応性オリゴマー成分の導入率は50
重量%であった。得られた共重合体を用い、実施例1と
同様にして、評価用サンプルを得て、測定結果を第1表
にまとめた。
Example 2 In Example 1, trimesic acid trichloride 0.02
65 g (0.1 mmol) is replaced with 0.0796 g (0.3 mm)
ol) was obtained in the same manner to obtain 7.10 g of a copolymer. The molecular weight of the obtained copolymer is G manufactured by Tosoh Corporation.
When calculated in terms of polystyrene using PC, the weight average molecular weight was 55,000 and the molecular weight distribution was 4.31. 1
The introduction rate of the reactive oligomer component was 50 by H-NMR.
% By weight. Using the obtained copolymer, an evaluation sample was obtained in the same manner as in Example 1, and the measurement results are summarized in Table 1.

【0040】実施例3 実施例1において、トリメシン酸トリクロリド0.02
65g(0.1mmol)を0.1327g(0.5mm
ol)とする以外は同様にして、共重合体7.14gを
得た。得られた共重合体の分子量を東ソー株式会社製G
PCを用いてポリスチレン換算で求めたところ、重量平
均分子量57,000、分子量分布4.33であった。1
H−NMRにより反応性オリゴマー成分の導入率は51
重量%であった。得られた共重合体を用い、実施例1と
同様にして、評価用サンプルを得て、測定結果を第1表
にまとめた。
Example 3 In Example 1, trimesic acid trichloride 0.02
65g (0.1 mmol) is replaced with 0.1327 g (0.5 mm)
7.14 g of a copolymer was obtained in the same manner except that the above was used. The molecular weight of the obtained copolymer is G manufactured by Tosoh Corporation.
The weight average molecular weight was 57,000 and the molecular weight distribution was 4.33 as determined by polystyrene conversion using PC. 1
The introduction rate of the reactive oligomer component was 51 by H-NMR.
% By weight. Using the obtained copolymer, an evaluation sample was obtained in the same manner as in Example 1, and the measurement results are summarized in Table 1.

【0041】実施例4 実施例1において、トリメシン酸トリクロリド0.02
65g(0.1mmol)を0.2650g(1.0mm
ol)とする以外は同様にして、共重合体7.26gを
得た。得られた共重合体の分子量を東ソー株式会社製G
PCを用いてポリスチレン換算で求めたところ、重量平
均分子量63,000、分子量分布5.31であった。1
H−NMRにより反応性オリゴマー成分の導入率は48
重量%であった。得られた共重合体を用い、実施例1と
同様にして、評価用サンプルを得て、測定結果を第1表
にまとめた。
Example 4 In Example 1, trimesic acid trichloride 0.02
65 g (0.1 mmol) to 0.2650 g (1.0 mm)
ol) was obtained in the same manner as above to obtain 7.26 g of a copolymer. The molecular weight of the obtained copolymer is G manufactured by Tosoh Corporation.
The weight average molecular weight was 63,000 and the molecular weight distribution was 5.31 as determined by polystyrene conversion using PC. 1
The introduction rate of the reactive oligomer component was 48 by H-NMR.
% By weight. Using the obtained copolymer, an evaluation sample was obtained in the same manner as in Example 1, and the measurement results are summarized in Table 1.

【0042】実施例5 実施例1において、トリメシン酸トリクロリド0.02
65g(0.1mmol)を1,3,5-シクロヘキサント
リカルボン酸トリクロリド0.0815g(0.3mmo
l)とする以外は同様にして、共重合体7.10gを得
た。得られた共重合体の分子量を東ソー株式会社製GP
Cを用いてポリスチレン換算で求めたところ、重量平均
分子量55,000、分子量分布4.31であった。1
−NMRにより反応性オリゴマー成分の導入率は50重
量%であった。得られた共重合体を用い、実施例1と同
様にして、評価用サンプルを得て、測定結果を第1表に
まとめた。
Example 5 In Example 1, trimesic acid trichloride 0.02
65 g (0.1 mmol) of 1,3,5-cyclohexanetricarboxylic acid trichloride 0.0815 g (0.3 mmo)
7.10 g of a copolymer was obtained in the same manner except that 1) was used. The molecular weight of the obtained copolymer is GP manufactured by Tosoh Corporation.
When calculated in terms of polystyrene using C, the weight average molecular weight was 55,000 and the molecular weight distribution was 4.31. 1 H
By NMR, the introduction rate of the reactive oligomer component was 50% by weight. Using the obtained copolymer, an evaluation sample was obtained in the same manner as in Example 1, and the measurement results are summarized in Table 1.

【0043】実施例6 3、3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシビフェニ
ル2.054g(9.5mmol)を、乾燥したN−メチ
ル−2−ピロリドン30mLに溶解し、この溶液にトリメ
リック酸トリクロリド0.1327g(0.5mmo
l)、2,7−ビフェニレンジカルボン酸ジクロリド
2.771g(10.0mmol)を、乾燥窒素下10℃
で添加した。添加後、10℃で1時間撹拌した。攪拌
後、10℃でトリエチルアミン2.024g(20.2m
mol)を添加し、次いでγ−ブチロラクトン10mL
に、アルドリッチ社製ポリ(プロピレングリコール)ビ
ス(2−アミノプロピルエーテル)4.0g(1.0mm
ol、数平均分子量4,000)を溶解した溶液を、乾
燥窒素下10℃で添加した。添加後、10℃で1時間、
続いて20℃で20時間攪拌した。反応終了後、反応液
をろ過してトリエチルアミン塩酸塩を除去し、ろ過した
液をイオン交換水1Lとイソプロパノール0.1Lの混
合溶液に滴下し、沈殿物を集めて乾燥することにより、
共重合体7.28gを得た。得られた共重合体の分子量
を東ソー株式会社製GPCを用いてポリスチレン換算で
求めたところ、重量平均分子量57,000、分子量分
布4.33であった。1H−NMRにより反応性オリゴマ
ー成分の導入率は51重量%であった。得られた共重合
体を用い、実施例1と同様にして、評価用サンプルを得
て、測定結果を第1表にまとめた。
Example 6 2.03 g (9.5 mmol) of 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxybiphenyl was dissolved in 30 mL of dried N-methyl-2-pyrrolidone, and trimeric acid trichloride was added to this solution. 0.1327g (0.5mmo
l), 2.771 g (10.0 mmol) of 2,7-biphenylenedicarboxylic acid dichloride, at 10 ° C. under dry nitrogen.
Added in. After the addition, the mixture was stirred at 10 ° C for 1 hour. After stirring, 2.04 g (20.2 m) of triethylamine was added at 10 ° C.
mol), and then 10 mL of γ-butyrolactone
In addition, 4.0 g (1.0 mm) of poly (propylene glycol) bis (2-aminopropyl ether) manufactured by Aldrich
ol, number average molecular weight 4,000) was dissolved at 10 ° C. under dry nitrogen. 1 hour after addition,
Then, it stirred at 20 degreeC for 20 hours. After completion of the reaction, the reaction solution was filtered to remove triethylamine hydrochloride, the filtered solution was added dropwise to a mixed solution of 1 L of ion-exchanged water and 0.1 L of isopropanol, and the precipitate was collected and dried to
7.28 g of a copolymer was obtained. When the molecular weight of the obtained copolymer was determined in terms of polystyrene by using GPC manufactured by Tosoh Corporation, the weight average molecular weight was 57,000 and the molecular weight distribution was 4.33. The introduction rate of the reactive oligomer component was 51% by weight by 1 H-NMR. Using the obtained copolymer, an evaluation sample was obtained in the same manner as in Example 1, and the measurement results are summarized in Table 1.

【0044】実施例7 3、3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシビフェニ
ル2.054g(9.5mmol)を、乾燥したN−メチ
ル−2−ピロリドン30mLに溶解し、この溶液に1,
3,5-シクロヘキサントリカルボン酸トリクロリド0.
0815g(0.3mmol)、4,4'−トランジカル
ボン酸ジクロリド3.031g(10.0mmol)
を、乾燥窒素下10℃で添加した。添加後、10℃で1
時間撹拌した。攪拌後、10℃でトリエチルアミン2.
024g(20.2mmol)を添加し、次いでγ−ブ
チロラクトン10mLに、アルドリッチ社製ポリ(プロピ
レングリコール)ビス(2−アミノプロピルエーテル)
4.0g(1.0mmol、数平均分子量4,000)を
溶解した溶液を、乾燥窒素下10℃で添加した。添加
後、10℃で1時間、続いて20℃で20時間攪拌し
た。反応終了後、反応液をろ過してトリエチルアミン塩
酸塩を除去し、ろ過した液をイオン交換水1Lとイソプ
ロパノール0.1Lの混合溶液に滴下し、沈殿物を集め
て乾燥することにより、共重合体7.59gを得た。得
られた共重合体の分子量を東ソー株式会社製GPCを用
いてポリスチレン換算で求めたところ、重量平均分子量
55,000、分子量分布4.31であった。1H−NM
Rにより反応性オリゴマー成分の導入率は50重量%で
あった。得られた共重合体を用い、実施例1と同様にし
て、評価用サンプルを得て、測定結果を第1表にまとめ
た。
Example 7 2.03 g (9.5 mmol) of 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxybiphenyl was dissolved in 30 mL of dried N-methyl-2-pyrrolidone, and 1 was added to this solution.
3,5-Cyclohexanetricarboxylic acid trichloride
0815 g (0.3 mmol), 4,4'-transdicarboxylic acid dichloride 3.031 g (10.0 mmol)
Was added at 10 ° C. under dry nitrogen. After addition, 1 at 10 ℃
Stir for hours. After stirring, triethylamine 2.
024 g (20.2 mmol) was added, and then to 10 mL of γ-butyrolactone, poly (propylene glycol) bis (2-aminopropyl ether) manufactured by Aldrich was added.
A solution in which 4.0 g (1.0 mmol, number average molecular weight 4,000) was dissolved was added under dry nitrogen at 10 ° C. After the addition, the mixture was stirred at 10 ° C for 1 hour and then at 20 ° C for 20 hours. After completion of the reaction, the reaction solution was filtered to remove triethylamine hydrochloride, the filtered solution was added dropwise to a mixed solution of 1 L of ion-exchanged water and 0.1 L of isopropanol, and the precipitate was collected and dried to obtain a copolymer. 7.59 g was obtained. When the molecular weight of the obtained copolymer was determined in terms of polystyrene using GPC manufactured by Tosoh Corporation, the weight average molecular weight was 55,000 and the molecular weight distribution was 4.31. 1 H-NM
The introduction rate of the reactive oligomer component by R was 50% by weight. Using the obtained copolymer, an evaluation sample was obtained in the same manner as in Example 1, and the measurement results are summarized in Table 1.

【0045】実施例8 実施例1において、トリメシン酸トリクロリド0.02
65g(0.1mmol)をビフェニルエーテル−3,
3’,5−トリカルボン酸0.0358g(0.1mmo
l)に、5−エチニルイソフタル酸0.568g(2.5
mmol)をテレフタル酸0.508g(2.5mmo
l)に、ポリ(プロピレングリコール)ビス(2−アミ
ノプロピルエーテル)4.0g(1.0mmol、数平均
分子量4,000)を、末端をアミン化したポリスチレ
ン4.0g(1.0mmol、数平均分子量4,000)
とする以外は同様にして、共重合体7.33gを得た。
得られた共重合体の分子量を東ソー株式会社製GPCを
用いてポリスチレン換算で求めたところ、重量平均分子
量55,000、分子量分布4.31であった。1H−N
MRにより反応性オリゴマー成分の導入率は50重量%
であった。得られた共重合体を用い、実施例1と同様に
して、評価用サンプルを得て、測定結果を第1表にまと
めた。
Example 8 In Example 1, the trimesic acid trichloride 0.02
65 g (0.1 mmol) of biphenyl ether-3,
3 ′, 5-tricarboxylic acid 0.0358 g (0.1 mmo
l), 0.568 g of 5-ethynylisophthalic acid (2.5
0.508 g (2.5 mmo) of terephthalic acid
In 1), 4.0 g (1.0 mmol, number average molecular weight 4,000) of poly (propylene glycol) bis (2-aminopropyl ether) and 4.0 g (1.0 mmol, number average) of amine-terminated polystyrene were added. Molecular weight 4,000)
A copolymer (7.33 g) was obtained in the same manner except that
When the molecular weight of the obtained copolymer was determined in terms of polystyrene using GPC manufactured by Tosoh Corporation, the weight average molecular weight was 55,000 and the molecular weight distribution was 4.31. 1 H-N
50% by weight of reactive oligomer component introduced by MR
Met. Using the obtained copolymer, an evaluation sample was obtained in the same manner as in Example 1, and the measurement results are summarized in Table 1.

【0046】比較例1 3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシビフェニ
ル2.054g(9.5mmol)を、乾燥したN−メチ
ル−2−ピロリドン30mLに溶解し、この溶液に、5−
フェニルエチニルイソフタル酸2.274g(7.5mm
ol)、5−エチニルイソフタル酸0.568g(2.5
mmol)を、乾燥窒素下10℃で添加した。添加後、
10℃で1時間撹拌した。攪拌後、10℃でトリエチル
アミン2.024g(20.2mmol)を添加した。添
加後、10℃で1時間、続いて20℃で20時間攪拌し
た。反応終了後、反応液をろ過してトリエチルアミン塩
酸塩を除去し、ろ過した液をイオン交換水1Lとイソプ
ロパノール0.1Lの混合溶液に滴下し、沈殿物を集め
て乾燥することにより、共重合体3.43gを得た。得
られた共重合体の分子量を東ソー株式会社製GPCを用
いてポリスチレン換算で求めたところ、重量平均分子量
44,000、分子量分布2.21であった。得られたポ
リマーを用い、実施例1と同様にして、評価用サンプル
を得て、測定結果を第1表にまとめた。
Comparative Example 1 2.03 g (9.5 mmol) of 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxybiphenyl was dissolved in 30 mL of dried N-methyl-2-pyrrolidone, and this solution was mixed with 5-
Phenylethynyl isophthalic acid 2.274g (7.5mm
ol), 5-ethynylisophthalic acid 0.568 g (2.5
mmol) was added at 10 ° C. under dry nitrogen. After addition
Stirred at 10 ° C. for 1 hour. After stirring, 2.024 g (20.2 mmol) of triethylamine was added at 10 ° C. After the addition, the mixture was stirred at 10 ° C for 1 hour and then at 20 ° C for 20 hours. After completion of the reaction, the reaction solution was filtered to remove triethylamine hydrochloride, and the filtered solution was added dropwise to a mixed solution of 1 L of ion-exchanged water and 0.1 L of isopropanol, and the precipitate was collected and dried to obtain a copolymer. 3.43 g was obtained. When the molecular weight of the obtained copolymer was determined in terms of polystyrene using GPC manufactured by Tosoh Corporation, the weight average molecular weight was 44,000 and the molecular weight distribution was 2.21. Using the obtained polymer, a sample for evaluation was obtained in the same manner as in Example 1, and the measurement results are summarized in Table 1.

【0047】比較例2 実施例1において、トリメシン酸トリクロリド0.02
65g(0.1mmol)を0.3190g(1.2mm
ol)とする以外は同様にして反応させたところ、トリ
エチルアミンを添加した際に分子量が急激に増大し、ゲ
ル化した。
Comparative Example 2 In Example 1, trimesic acid trichloride 0.02
65 g (0.1 mmol) to 0.3190 g (1.2 mm)
When the reaction was conducted in the same manner except that the reaction was carried out in the same manner as above, the molecular weight rapidly increased when triethylamine was added, and gelled.

【0048】比較例3 実施例1において、トリメシン酸トリクロリド0.02
65g(0.1mmol)を0.0796g(0.3mm
ol)とし、5−フェニルエチニルイソフタル酸2.2
74g(7.5mmol)を0.909g(0.3mmo
l)とし、5−エチニルイソフタル酸0.568g(2.
5mmol)を添加しない以外は同様にして、共重合体
5.82gを得た。得られた共重合体の分子量を東ソー
株式会社製GPCを用いてポリスチレン換算で求めたと
ころ、重量平均分子量35,000、分子量分布4.25
であった。1H−NMRにより反応性オリゴマー成分の
導入率は62重量%であった。得られた共重合体を用
い、実施例1と同様にして、評価用サンプルを得て、測
定結果を第1表にまとめた。
Comparative Example 3 In Example 1, trimesic acid trichloride 0.02
65 g (0.1 mmol) is replaced with 0.0796 g (0.3 mm)
ol) and 5-phenylethynyl isophthalic acid 2.2
74g (7.5 mmol) to 0.909 g (0.3 mmo)
l) and 0.568 g of 5-ethynylisophthalic acid (2.
5.82 g of a copolymer was obtained in the same manner except that (5 mmol) was not added. The molecular weight of the obtained copolymer was determined by using GPC manufactured by Tosoh Corporation in terms of polystyrene. The weight average molecular weight was 35,000 and the molecular weight distribution was 4.25.
Met. The introduction rate of the reactive oligomer component was 62% by weight by 1 H-NMR. Using the obtained copolymer, an evaluation sample was obtained in the same manner as in Example 1, and the measurement results are summarized in Table 1.

【0049】比較例4 実施例1において、トリメシン酸トリクロリド0.02
65g(0.1mmol)を0.0796g(0.3mm
ol)とし、5−フェニルエチニルイソフタル酸2.2
74g(7.5mmol)をテレフタル酸1.538g
(7.5mmol)とし、5−エチニルイソフタル酸0.
568g(2.5mmol)をイソフタル酸0.513g
(2.5mmol)とする以外は同様にして、共重合体
6.39gを得た。得られた共重合体の分子量を東ソー
株式会社製GPCを用いてポリスチレン換算で求めたと
ころ、重量平均分子量50,000、分子量分布4.25
であった。1H−NMRにより反応性オリゴマー成分の
導入率は54重量%であった。得られた共重合体を用
い、実施例1と同様にして、評価用サンプルを得て、測
定結果を第1表にまとめた。
Comparative Example 4 In Example 1, trimesic acid trichloride 0.02
65 g (0.1 mmol) is replaced with 0.0796 g (0.3 mm)
ol) and 5-phenylethynyl isophthalic acid 2.2
74 g (7.5 mmol) of 1.538 g of terephthalic acid
(7.5 mmol), and 5-ethynyl isophthalic acid 0.1.
568 g (2.5 mmol) of isophthalic acid 0.513 g
6.39 g of a copolymer was obtained in the same manner except that the amount was (2.5 mmol). The molecular weight of the obtained copolymer was determined in terms of polystyrene using GPC manufactured by Tosoh Corporation, and the weight average molecular weight was 50,000 and the molecular weight distribution was 4.25.
Met. The introduction rate of the reactive oligomer component was 54% by weight by 1 H-NMR. Using the obtained copolymer, an evaluation sample was obtained in the same manner as in Example 1, and the measurement results are summarized in Table 1.

【0050】[0050]

【表1】 [Table 1]

【0051】第1表にまとめた、実施例および比較例の
評価結果から、本発明の絶縁膜用材料から得られた絶縁
膜(被膜)は、優れた耐熱性と低吸水性を維持しなが
ら、低誘電率化を可能とすることがわかる。また、測定
した誘電率を用いて対数混合式から計算した空隙率と反
応性オリゴマー導入率とほぼ一致した。
From the evaluation results of Examples and Comparative Examples summarized in Table 1, the insulating film (coating) obtained from the insulating film material of the present invention maintained excellent heat resistance and low water absorption. It can be seen that the low dielectric constant is possible. In addition, the porosity calculated from the logarithmic mixing equation using the measured dielectric constant and the reactive oligomer introduction ratio were almost the same.

【0052】[0052]

【発明の効果】本発明によれば、良好な微細孔が得ら
れ、更には、優れた熱特性、電気特性、吸水性を達成す
ることが可能な絶縁膜を形成できる絶縁膜用材料及びコ
ーティング用ワニスを提供できる。本発明で得られる絶
縁膜は、特に、誘電率の極めて低く、半導体用の層間絶
縁膜や保護膜、多層回路の層間絶縁膜、フレキシブル銅
張板のカバーコート、ソルダーレジスト膜、液晶配向膜
等の用途に、好適に使用することができる。
EFFECTS OF THE INVENTION According to the present invention, an insulating film material and a coating capable of forming an excellent insulating film capable of obtaining excellent micropores and excellent thermal characteristics, electrical characteristics, and water absorption. Varnish can be provided. The insulating film obtained by the present invention has an extremely low dielectric constant, and is an interlayer insulating film or protective film for semiconductors, an interlayer insulating film of a multilayer circuit, a cover coat of a flexible copper clad board, a solder resist film, a liquid crystal alignment film, etc. Can be suitably used for

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4J001 DA01 DB04 DB06 DD02 DD05 EB14 EB33 EB46 EB67 EC44 EC54 EC56 EC67 GE02 4J031 AA13 AA42 AA49 AA53 AA55 AA56 AB01 AB04 AC03 AC07 AD01 AF24 4J038 CC032 CC082 CG142 CH032 DD002 DF022 DG002 DH001 DJ002 GA01 GA03 GA06 GA08 GA13 MA14 NA21 PA19 PB09 5F058 AA04 AA10 AC02 AC10 AF04 AG01 AH02 AH03 5G305 AA07 AB10 BA09 CA20 CB00   ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F-term (reference) 4J001 DA01 DB04 DB06 DD02 DD05                       EB14 EB33 EB46 EB67 EC44                       EC54 EC56 EC67 GE02                 4J031 AA13 AA42 AA49 AA53 AA55                       AA56 AB01 AB04 AC03 AC07                       AD01 AF24                 4J038 CC032 CC082 CG142 CH032                       DD002 DF022 DG002 DH001                       DJ002 GA01 GA03 GA06                       GA08 GA13 MA14 NA21 PA19                       PB09                 5F058 AA04 AA10 AC02 AC10 AF04                       AG01 AH02 AH03                 5G305 AA07 AB10 BA09 CA20 CB00

Claims (17)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 一般式(A)で表されるポリアミド構造
の一部に、ビスアミノフェノール類とトリメリック酸、
トリメシン酸、1,3,5−シクロヘキサントリカルボ
ン酸、ビフェニルエーテル−3,3’,5−トリカルボ
ン酸から選ばれる3官能カルボン酸とで反応させて得ら
れた枝分かれ構造を有するポリアミドと、該ポリアミド
構造中のカルボキシル基、アミノ基又はヒドロキシル基
と反応し得る置換基を有する反応性オリゴマーとを反応
させて得られた共重合体を膜形成成分として含むことを
特徴とする絶縁膜用材料。 【化1】 [式中のR1〜R4は、それぞれ独立して水素原子又は一
価の有機基、Xは下記式(B)で表される基の中から選
ばれる四価の基を示し、2つのXは同一でも異なってい
てもよく、Yは下記式(C)、式(D)、式(E)及び
式(F)で表される基の中から選ばれる少なくとも1種
の二価の基、Zは式(G)で表される基の中から選ばれ
る二価の基を示し、m及びnは、それぞれm>0、n≧
0、2≦m+n≦1000及び0.05≦m/(m+
n)≦1の関係を満たす整数であり、繰り返し単位の配
列はブロック的、ランダム的のいずれであってもよ
い。] 【化2】 【化3】 【化4】 【化5】 【化6】 【化7】 【化8】 [式(B)及び式(G)中のX1は、式(H) 【化9】 で表される基の中から選ばれる二価の基を示し、式
(D)中のRはアルキル基又は式(I) 【化10】 で表される基の中から選ばれる一価の基を示す。また式
(B)、式(C)、式(D)、式(E)、式(F)、式
(G)及び式(H)で表される基におけるベンゼン環上
の水素原子は、炭素数1〜4のアルキル基、フッ素原子
及びトリフルオロメチル基の中から選ばれる少なくとも
1個の基で置換されていてもよい。]
1. Bisaminophenols and trimeric acid are added to a part of the polyamide structure represented by the general formula (A).
A polyamide having a branched structure obtained by reacting with a trifunctional carboxylic acid selected from trimesic acid, 1,3,5-cyclohexanetricarboxylic acid, and biphenyl ether-3,3 ', 5-tricarboxylic acid, and the polyamide structure A material for an insulating film, comprising a copolymer obtained by reacting a reactive oligomer having a substituent capable of reacting with a carboxyl group, an amino group or a hydroxyl group therein, as a film forming component. [Chemical 1] [Wherein R 1 to R 4 are each independently a hydrogen atom or a monovalent organic group, and X represents a tetravalent group selected from the groups represented by the following formula (B), X may be the same or different, and Y is at least one divalent group selected from the groups represented by the following formula (C), formula (D), formula (E) and formula (F): , Z represents a divalent group selected from the groups represented by formula (G), and m and n are m> 0 and n ≧, respectively.
0, 2 ≦ m + n ≦ 1000 and 0.05 ≦ m / (m +
n) is an integer that satisfies the relationship of ≦ 1, and the arrangement of repeating units may be either block-like or random. ] [Chemical 2] [Chemical 3] [Chemical 4] [Chemical 5] [Chemical 6] [Chemical 7] [Chemical 8] [X 1 in Formula (B) and Formula (G) is the same as Formula (H): Represents a divalent group selected from the group represented by: R in the formula (D) is an alkyl group or a compound represented by the formula (I): A monovalent group selected from the groups represented by The hydrogen atom on the benzene ring in the groups represented by formula (B), formula (C), formula (D), formula (E), formula (F), formula (G) and formula (H) is a carbon atom. It may be substituted with at least one group selected from the alkyl groups of formulas 1 to 4, a fluorine atom and a trifluoromethyl group. ]
【請求項2】3官能カルボン酸が、一般式(A)で表さ
れるポリアミド中の繰り返し単位(m+n)に対して
0.1〜10%のモル比で反応している請求項1記載の
絶縁膜材料。
2. The trifunctional carboxylic acid is reacted in a molar ratio of 0.1 to 10% with respect to the repeating unit (m + n) in the polyamide represented by the general formula (A). Insulating film material.
【請求項3】3官能カルボン酸が、一般式(A)で表さ
れるポリアミド中の繰り返し単位(m+n)に対して1
〜5%のモル比で反応している請求項2記載の絶縁膜材
料。
3. A trifunctional carboxylic acid is used in an amount of 1 with respect to the repeating unit (m + n) in the polyamide represented by the general formula (A).
The insulating film material according to claim 2, wherein the insulating film material reacts at a molar ratio of -5%.
【請求項4】 ポリアミドが、一般式(A)中のYとし
て、式(C)で表される基の中から選ばれる二価の基を
有するものである請求項1ないし請求項3のいずれかに
記載の絶縁膜用材料。
4. The polyamide according to claim 1, wherein Y in the general formula (A) has a divalent group selected from the groups represented by the formula (C). An insulating film material as described in 1.
【請求項5】 ポリアミドが、一般式(A)中のYとし
て、式(D)で表される基の中から選ばれる二価の基を
有するものである請求項1ないし請求項3のいずれかに
記載の絶縁膜用材料。
5. The polyamide according to claim 1, wherein Y in the general formula (A) has a divalent group selected from the groups represented by the formula (D). An insulating film material as described in 1.
【請求項6】 ポリアミドが、一般式(A)中のYとし
て、式(E)で表される基の中から選ばれる二価の基を
有するものである請求項1ないし請求項3のいずれかに
記載の絶縁膜用材料。
6. The polyamide according to claim 1, wherein Y in the general formula (A) has a divalent group selected from the groups represented by the formula (E). An insulating film material as described in 1.
【請求項7】 ポリアミドが、一般式(A)中のYとし
て、式(F)で表される基の中から選ばれる二価の基を
有するものである請求項1ないし請求項3のいずれかに
記載の絶縁膜用材料。
7. The polyamide according to claim 1, wherein Y in the general formula (A) has a divalent group selected from the groups represented by the formula (F). An insulating film material as described in 1.
【請求項8】 反応性オリゴマーが、ポリオキシアルキ
レン、ポリメチルメタクリレート、ポリα−メチルスチ
レン、ポリスチレン、ポリエステル、ポリエーテルエス
テル、ポリカプロラクトン及びポリウレタンの中から選
ばれる少なくとも1種である請求項1ないし7のいずれ
かに記載の絶縁膜用材料。
8. The reactive oligomer is at least one selected from polyoxyalkylene, polymethylmethacrylate, polyα-methylstyrene, polystyrene, polyester, polyetherester, polycaprolactone and polyurethane. 7. The material for insulating film according to any one of 7.
【請求項9】 反応性オリゴマーが、数平均分子量10
0〜10,000のものである請求項1ないし8のいず
れかに記載の絶縁膜用材料。
9. The reactive oligomer has a number average molecular weight of 10.
The insulating film material according to any one of claims 1 to 8, which is from 0 to 10,000.
【請求項10】 共重合体が、反応性オリゴマーユニッ
ト5〜50重量%を導入したものである請求項1ないし
9のいずれかに記載の絶縁膜用材料。
10. The insulating film material according to claim 1, wherein the copolymer has 5 to 50% by weight of a reactive oligomer unit introduced therein.
【請求項11】 請求項1ないし10のいずれかに記載
の絶縁膜用材料と、該絶縁膜用材料を溶解若しくは分散
させることが可能な有機溶媒を含むことを特徴とする絶
縁膜用コーティングワニス。
11. A coating varnish for insulating film, comprising the insulating film material according to claim 1 and an organic solvent capable of dissolving or dispersing the insulating film material. .
【請求項12】 請求項1ないし10のいずれかに記載
の絶縁膜用材料、又は、請求項11記載の絶縁膜用コー
ティングワニスを、加熱処理して縮合反応及び架橋反応
せしめて得られるポリベンゾオキサゾールを主構造とす
る樹脂の層からなり、かつ、微細孔を有することを特徴
とする絶縁膜。
12. A polybenzo obtained by subjecting the insulating film material according to any one of claims 1 to 10 or the insulating film coating varnish according to claim 11 to heat treatment to cause a condensation reaction and a crosslinking reaction. An insulating film comprising a resin layer containing oxazole as a main structure and having fine pores.
【請求項13】 絶縁膜の微細孔の大きさが、20nm
以下である請求項12記載の絶縁膜。
13. The size of the fine pores of the insulating film is 20 nm.
The insulating film according to claim 12, which is as follows.
【請求項14】 絶縁膜の空隙率が、5〜50%である
請求項11ないし13記載の絶縁膜。
14. The insulating film according to claim 11, wherein the insulating film has a porosity of 5 to 50%.
【請求項15】 半導体の多層配線用層間絶縁膜として
用いる請求項11ないし14のいずれかに記載の絶縁
膜。
15. The insulating film according to claim 11, which is used as an interlayer insulating film for semiconductor multilayer wiring.
【請求項16】 半導体の表面保護膜として用いる請求
項13ないし14のいずれかに記載の絶縁膜。
16. The insulating film according to claim 13, which is used as a surface protective film for a semiconductor.
【請求項17】 請求項15記載の絶縁膜からなる多層
配線用層間絶縁膜及び/又は請求項16記載の絶縁膜か
らなる表面保護層を有することを特徴とする半導体装
置。
17. A semiconductor device comprising an interlayer insulating film for multilayer wiring, which is formed of the insulating film according to claim 15, and / or a surface protective layer, which is formed of the insulating film according to claim 16.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005255612A (en) * 2004-03-11 2005-09-22 Sumitomo Bakelite Co Ltd Aromatic dicarboxylic acid ester having ethynyl group and method for producing the same
WO2016001949A1 (en) * 2014-07-02 2016-01-07 東洋インキScホールディングス株式会社 Heat-curable resin composition, polyamide, adhesive sheet, cured article, and printed wiring board
WO2024224654A1 (en) * 2023-04-28 2024-10-31 学校法人 関西大学 Poly-arm-type resin having polyamide structure or heterocyclic structure, lithography film-forming composition containing same, and production method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005255612A (en) * 2004-03-11 2005-09-22 Sumitomo Bakelite Co Ltd Aromatic dicarboxylic acid ester having ethynyl group and method for producing the same
WO2016001949A1 (en) * 2014-07-02 2016-01-07 東洋インキScホールディングス株式会社 Heat-curable resin composition, polyamide, adhesive sheet, cured article, and printed wiring board
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