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JP2003197750A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JP2003197750A
JP2003197750A JP2001390168A JP2001390168A JP2003197750A JP 2003197750 A JP2003197750 A JP 2003197750A JP 2001390168 A JP2001390168 A JP 2001390168A JP 2001390168 A JP2001390168 A JP 2001390168A JP 2003197750 A JP2003197750 A JP 2003197750A
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JP
Japan
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voltage
power supply
circuit
semiconductor device
operating
Prior art date
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Pending
Application number
JP2001390168A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Yamamoto
博 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Design Corp
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Renesas Design Corp
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Design Corp, Mitsubishi Electric Corp filed Critical Renesas Design Corp
Priority to JP2001390168A priority Critical patent/JP2003197750A/ja
Priority to US10/164,607 priority patent/US6820241B2/en
Priority to TW091112569A priority patent/TW548827B/zh
Priority to CN02129855A priority patent/CN1427478A/zh
Priority to KR1020020049109A priority patent/KR20030052953A/ko
Publication of JP2003197750A publication Critical patent/JP2003197750A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
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    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L24/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
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    • H01L23/522Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 仕様が同一である半導体装置であっても、単
に電源電圧が異なるだけでレイアウト変更等を行わなけ
ればならず、品種展開を容易にすることができないとい
う課題があった。 【解決手段】 所定の動作電圧で単体動作する少なくと
も1つの回路部からなる回路ブロックと、該回路ブロッ
クとは独立して追加配置されてなり、外部から供給され
る電源電圧を所定の動作電圧に変換する電圧変換部と、
電圧変換部からの動作電圧を回路ブロックに供給する供
給手段とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は電源電圧の相違に
よるレイアウト変更等の品種展開を容易に行うことので
きる半導体装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体装置(特に、マイクロコ
ンピュータ等の半導体集積回路)では、半導体装置の機
能を変更することなく、電源電圧(入力電圧)の仕様を
変更することがある。このような場合、例えば降圧回路
(Voltage DownCircuit:VDC)
を用いて半導体装置の動作電圧を得ている。つまり、電
源電圧が半導体装置の動作電圧よりも高いと、VDCを
用いて電源電圧を降圧して半導体装置の動作電圧として
いる。
【0003】このように、VDCを用いれば、電源電圧
が半導体装置の動作電圧よりも高い場合であっても、半
導体装置を構成する回路素子等を電源電圧に合わせて変
更する必要がなく、この結果、電源電圧の相違に伴うレ
イアウト変更等の品種展開を容易に行うことができるこ
とになる。
【0004】図9は従来の半導体装置の構成を示す図で
あり、(a)は通常電圧版を示す図、(b)は低電圧版
を示す図である。図において、11は基板、12は中央
演算装置(CPU)、13はタイマ、14はVDC、1
5は入出力パッドである。入出力パッド15は、CPU
12、タイマ13、及びVDC14を取り囲むようにし
て、基板11の周辺部に配置されている。なお、図9
(a)においては、他の周辺機能回路等は省略されてい
る。図示の半導体装置は、電源電圧が動作電圧より高い
場合に用いられる半導体装置であり、VDC14によっ
て電源電圧を降圧して動作電圧としてCPU12及びタ
イマ13等に与えている(このような半導体装置を通常
電圧版と呼ぶことにする)。
【0005】一方、電源電圧が低く、電源電圧と動作電
圧とが等しい場合には、図9(b)に示すように、VD
C14を除去して、電源電圧を動作電圧として半導体装
置に与える。これによって、図9(b)に示す半導体装
置は図9(a)に示す半導体装置と同一の動作を行うこ
とになる(このような半導体装置を低電圧版と呼ぶこと
にする)。
【0006】ところで、通常電圧版と低電圧版とでは、
VDC14の有無に起因して、不可避的に入出力パッド
15等の回路素子のレイアウトが異なる。言い換える
と、通常電圧版及び低電圧版について、それぞれ専用の
レイアウトを設計する必要がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の半導体装置は以
上のように構成されているので、単に動作電圧が異なる
だけで、他の仕様が同一である半導体装置であっても、
専用のレイアウトを設計しなければならない。この結
果、仕様が同一である半導体装置の品種展開を行う際に
おいても、レイアウト変更等を行わなければならず、品
種展開を容易にすることができないという課題があっ
た。
【0008】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、動作電圧の相違によるレイアウト
変更等の品種展開を容易に行うことのできる半導体装置
を得ることを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】この発明に係る半導体装
置は、所定の動作電圧で単体動作する少なくとも1つの
回路部からなる回路ブロックと、該回路ブロックとは独
立して追加配置されてなり、外部から供給される電源電
圧を所定の動作電圧に変換する電圧変換部と、電圧変換
部からの動作電圧を回路ブロックに供給する供給手段と
を備えるものである。
【0010】この発明に係る半導体装置は、異なる動作
電圧で単体動作する複数の回路部を含んでなる回路ブロ
ックと、回路部に対応する数で上記回路ブロックとは独
立して配置されてなり、外部から供給される電源電圧を
各動作電圧に変換する複数の電圧変換部と、複数の電圧
変換部からの各動作電圧を回路部に供給する供給手段と
を備えるものである。
【0011】この発明に係る半導体装置は、所定の動作
電圧で単体動作する少なくとも1つの回路部からなる回
路ブロックと、回路ブロックとは独立して配置されると
共に、回路部に応じて少なくとも2つ以上設けられ、外
部から供給される電源電圧を各動作電圧に変換する電圧
変換部と、電圧変換部から動作電圧を回路部に供給する
と共に、電圧変換部のいずれかが生成した動作電圧が回
路部の動作に不十分である場合、該回路部に応じて設け
られた他の電圧変換部からの動作電圧を追加供給する供
給手段とを備えるものである。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1による半
導体装置の構成を示す図である。図において、1Aは実
施の形態1による半導体装置、2a〜2dは外部からの
電源電圧をコアチップ3〜5,9の動作電圧に変換する
VDC(電圧変換部、供給手段)であり、半導体装置1
Aのコアチップ3〜5,9の外側に配置されている。3
〜5,9はコアチップ(回路ブロック)で、例えばCP
U、タイマ、及びその他の周辺機能回路などが搭載され
る。これらコアチップ3〜5,9には予め規定された機
能を有する機能ブロック(回路部)が少なくとも1つ搭
載される。また、コアチップ3〜5,9内の各機能ブロ
ックは、予め定められた動作電圧で動作する。6aは外
部から通常供給される電源電圧が印加される通常電圧電
源ライン(供給手段)、6bはVDC2a〜2dが電源
電圧から変換した所定の動作電圧が印加される低電圧電
源ライン(供給手段)であって、図示の例では電源電圧
より低い動作電圧が印加される。また、これらライン6
a,6bは、コアチップ3〜5,9を囲むように設けら
れる。さらに、各VDC2a〜2dとコアチップ3〜
5,9とを接続する電源ラインもライン6a,6bに含
めるものとする。7a,7bは半導体装置1A外部から
電源電圧を供給するための電源パッドである。8はコア
チップ3〜5,9の周囲に複数配置される入出力パッド
で、コアチップ3〜5,9と外部装置との接続に使用さ
れる。
【0013】次に概要について説明する。先ず、半導体
装置1A内の全てのコアチップ3〜5,9が低電圧版と
して用いられ、それぞれの動作電圧が異なる場合、電源
パッド7a(若しくは7b)を介して電源ライン6aに
供給される電源電圧を、VDC2a〜2dによってコア
チップ3〜5,9の各動作電圧に変換する。VDC2a
〜2dによって変換された各動作電圧は、VDC2a〜
2dとコアチップ3〜5,9とを接続する電源ライン6
bを介してコアチップ3〜5,9に供給される。
【0014】また、図1ではコアチップ3〜5,9を囲
む電源ライン6bは1つであるが、コアチップ3〜5,
9の各動作電圧に対応する数の電源ライン6bで数重に
囲むようにしても良い。この場合、VDC2a〜2dか
ら各動作電圧に対応する電源ライン6bに接続する構成
を追加するだけでよく、よりレイアウト面積を効率的に
使用することができる。
【0015】一方、半導体装置1A内の全てのコアチッ
プ3〜5,9が低電圧版として用いられ、それぞれの動
作電圧が同一である場合、VDC2a〜2dのいずれか
が変換した動作電圧を、コアチップ3〜5,9を囲むよ
うにして設けた1つの電源ライン6bに供給する。これ
によっても、該電源ライン6bから各コアチップ3〜
5,9に接続する構成を追加するだけでよく、よりレイ
アウト面積を効率的に使用することができる。
【0016】図2は実施の形態1による半導体装置の他
の構成を示す図である。図において、1Bは半導体装
置、2a−1〜2d−1は外部からの電源電圧をコアチ
ップ3〜5,9の動作電圧に変換するVDC(電圧変換
部、供給手段)である。なお、図1と同一構成要素には
同一符号を付して重複する説明を省略する。
【0017】図2に示す例では、半導体装置1B内のコ
アチップ3〜5,9のいずれかの機能ブロックが通常電
圧版として用いられる場合を想定している。ここでは、
CPUを含む周辺機能回路からなるコアチップ9内のい
ずれかの機能ブロックが、電源ライン9を介して直接電
源電圧が供給されて動作する。この場合、コアチップ3
〜5,9を囲むようにして設けられた電源ライン6aか
ら、コアチップ9内の通常電圧版として用いられる機能
ブロックに電源電圧が直接供給される。また、他の機能
ブロックに対しては、VDC2a−1〜2d−1によっ
て電源電圧から変換された動作電圧が与えられることに
なる。
【0018】また、コアチップ内の全ての機能ブロック
が通常電圧版として用いられる場合は、これに対応する
VDCを取り除くけばよく、コアチップ自体のレイアウ
トを変更する必要は一切ない。これにより、チップサイ
ズ(半導体装置のサイズ)を縮小することができる。
【0019】以上のように、この実施の形態1によれ
ば、電源電圧を所定の動作電圧に変換するVDCをコア
チップとは独立して追加配置するので、コアチップのレ
イアウトが通常電圧版及び低電圧版ともに共通すること
から、コアチップの動作電圧の相違による品種展開を容
易に行うことができる。
【0020】また、この実施の形態1によれば、電源電
圧を各動作電圧に変換する複数のVDCをコアチップ内
の機能ブロックに対応する数でコアチップとは独立して
配置するので、複数の異なる動作電圧で動作する機能ブ
ロックを装置内に構成することができると共に、これら
機能ブロックの動作電圧の相違による品種展開に柔軟に
対応することができる。
【0021】実施の形態2.図3はこの発明の実施の形
態2による半導体装置の構成を示す図である。図におい
て、1Cは実施の形態2による半導体装置、2a−2〜
2e−2は外部からの電源電圧をコアチップ9〜12の
動作電圧に変換するVDC(電圧変換部、供給手段)で
ある。9〜12はコアチップ(回路ブロック)で、例え
ばCPU、タイマ、及びその他の周辺機能回路などが搭
載される。これらコアチップ9〜12には予め規定され
た機能を有する機能ブロック(回路部)が少なくとも1
つ搭載される。また、コアチップ9〜12内の各機能ブ
ロックは、予め定められた動作電圧で動作する。なお、
図1と同一構成要素には同一符号を付して重複する説明
を省略する。
【0022】次に動作について説明する。半導体装置1
C内の全てのコアチップ9〜12が低電圧版として用い
られ、それぞれの動作電圧が異なる場合、電源パッド7
a(若しくは7b)を介して電源ライン6aに供給され
る電源電圧を、VDC2a−2〜2e−2によってコア
チップ9〜12の各動作電圧に変換する。VDC2a−
2〜2e−2によって変換された各動作電圧は、VDC
2a−2〜2e−2とコアチップ9〜12とを接続する
電源ライン6bを介してコアチップ9〜12に供給され
る。ここまでの動作は、上記実施の形態1と同様であ
る。
【0023】この実施の形態2において上記実施の形態
1と異なる点について説明する。図に示すように、例え
ば1つのコアチップ9に、これに応じた動作電圧を生成
する複数のVDC2a−2〜2c−2を配置しておき、
VDC2a−2〜2c−2のいずれかに接続してコアチ
ップ9の動作電圧を生成・供給させる。このようにする
ことで、該半導体装置の設計を改訂する場合、例えば設
計完了後、製品として客先に出荷する前の評価段階にお
いて、1つのVDCでは電源供給能力が不足していた場
合、電源ライン6bを配線変更するだけで他のVDCに
よってバックアップすることができる。
【0024】また、設計段階においてコアチップに十分
な電源供給源を必要とする場合においても、複数のVD
C2a−2〜2c−2のうちのいくつかとコアチップと
を電源ライン6bで配線するだけで、電源供給源の追加
に対応することができる。さらに、仕様変更に伴って任
意周辺機能ブロックに電源供給が必要な場合においても
対応することができる。
【0025】図4は実施の形態2による半導体装置の他
の構成を示す図である。図において、1Dは半導体装
置、2a−3,2b−3は外部からの電源電圧をコアチ
ップ9の動作電圧に変換するVDC(電圧変換部、供給
手段)である。なお、図1と同一構成要素には同一符号
を付して重複する説明を省略する。
【0026】図4に示す例では、半導体装置1D内のコ
アチップ9の機能ブロックの一部を除く全てのコアチッ
プ3〜5が通常電圧版として用いられる場合を想定して
いる。具体的には、CPUを含む周辺機能回路からなる
コアチップ9内のいずれかの機能ブロックが、電源ライ
ン9を介して直接電源電圧が供給されて動作し、他の機
能ブロックに対応してVDC2a−3,2b−3が配置
される。この場合、コアチップ3〜5,9を囲むように
して設けられた電源ライン6aから、コアチップ3〜5
及びコアチップ9内の通常電圧版として用いられる機能
ブロックに電源電圧が直接供給される。
【0027】また、コアチップ9内の低電圧版の機能ブ
ロックには、これに応じた動作電圧を生成する複数のV
DCとしてVDC2a−3,2b−3を配置しておき、
VDC2a−3,2b−3のいずれかに接続して動作電
圧を生成・供給させる。このようにすることで、該半導
体装置の設計を改訂する場合、例えば設計完了後、製品
として客先に出荷する前の評価段階において、1つのV
DCでは電源供給能力が不足していた場合、電源ライン
6bを配線変更するだけで他のVDCによってバックア
ップすることができる。
【0028】また、設計段階においてコアチップに十分
な電源供給源を必要とする場合においても、VDC2a
−3,2b−3の両方とコアチップとを電源ライン6b
で配線するだけで、電源供給源の追加に対応することが
できる。さらに、仕様変更に伴って任意周辺機能ブロッ
クに電源供給が必要な場合においても対応することがで
きる。
【0029】ここで、コアチップ内の全ての機能ブロッ
クが通常電圧版として用いられるコアチップ3〜5につ
いては、図4に示すように、これに対応するVDCを取
り除くけばよく、コアチップ自体のレイアウトを変更す
る必要は一切ない。これにより、チップサイズ(半導体
装置のサイズ)を縮小することができる。
【0030】以上のように、この実施の形態2によれ
ば、複数接続したVDCのいずれかが生成した動作電圧
が機能ブロックの動作に不十分である場合、他のVDC
からの動作電圧を追加供給するように構成したので、電
源電圧の相違による品種展開が容易になるばかりでな
く、簡単な構成の追加でVDCの動作電圧供給能力を増
加させることができる。
【0031】なお、本願発明は、上記実施の形態1,2
の他に、以下のような構成としてもよい。図5から図8
は、この発明の半導体装置の具体例を示す図である。図
において、1E〜1Hは実施の形態3による半導体装置
の様々な形態を示しており、2a−4は外部からの電源
電圧をコアチップの動作電圧に変換するVDC(電圧変
換部、供給手段)である。6b−1〜6b−3はVDC
2a−4からコアチップに動作電圧を供給する低電圧電
源ライン(供給手段)の様々な形態を示している。な
お、図1と同一構成要素には同一符号を付して重複する
説明を省略する。
【0032】次に動作について説明する。先ず、コアチ
ップ3,5,9が通常電圧版として用いられ、1つのコ
アチップ4が低電圧版として用いられる場合、半導体装
置1Eのように、電源パッド7a(若しくは7b)を介
して電源ライン6aに供給される電源電圧を、VDC2
a−4によってコアチップ4の動作電圧に変換し電源ラ
イン6bを介して供給する。このように、実施の形態3
では、コアチップと独立してVDCを配置することか
ら、VDCによって変換すべき動作電圧が単一である場
合は1つのVDCを設けるのみでよい。
【0033】また、通常電圧版として用いられるコアチ
ップ3,5,9に対しては、コアチップ3〜5,9を囲
むように設けた電源ライン6aから電源電圧を直接供給
する。この場合、電源ライン6aからコアチップ3,
5,9に接続する構成を追加するだけでよく、よりレイ
アウト面積を効率的に使用することができる。
【0034】一方、コアチップ3〜5,9のうちの複数
のコアチップが低電圧版として用いられ、それぞれの動
作電圧が同一である場合、半導体装置1F〜1Hのよう
に、1つのVDC2a−4が変換した動作電圧を、電源
ライン6b−1〜6b−3を該当するコアチップに接続
して供給する。このように、動作電圧が同一のコアチッ
プが半導体装置内に複数存在する場合でも電源ライン6
b−1〜6b−3を追加するだけで対応することがで
き、よりレイアウト面積を効率的に使用することができ
る。
【0035】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、所定
の動作電圧で単体動作する少なくとも1つの回路部から
なる回路ブロックと、該回路ブロックとは独立して追加
配置されてなり、外部から供給される電源電圧を所定の
動作電圧に変換する電圧変換部と、電圧変換部からの動
作電圧を回路ブロックに供給する供給手段とを備えるの
で、回路ブロックのレイアウトが通常電圧版及び低電圧
版ともに共通することから、回路ブロック(若しくは回
路部)の動作電圧の相違による品種展開を容易に行うこ
とができるという効果がある。
【0036】この発明によれば、異なる動作電圧で単体
動作する複数の回路部を含んでなる回路ブロックと、回
路部に対応する数で回路ブロックとは独立して配置され
てなり、外部から供給される電源電圧を各動作電圧に変
換する複数の電圧変換部と、複数の電圧変換部からの各
動作電圧を回路部に供給する供給手段とを備えるので、
複数の異なる動作電圧で動作する回路部を装置内に構成
することができると共に、これらの動作電圧の相違によ
る品種展開に柔軟に対応することができるという効果が
ある。
【0037】この発明によれば、所定の動作電圧で単体
動作する少なくとも1つの回路部からなる回路ブロック
と、回路ブロックとは独立して配置されると共に、回路
部に応じて少なくとも2つ以上設けられ、外部から供給
される電源電圧を各動作電圧に変換する電圧変換部と、
電圧変換部から動作電圧を回路部に供給すると共に、電
圧変換部のいずれかが生成した動作電圧が回路部の動作
に不十分である場合、該回路部に応じて設けられた他の
電圧変換部からの動作電圧を追加供給する供給手段とを
備えるので、電源電圧の相違による品種展開が容易にな
るばかりでなく、簡単な構成の追加で電圧変換部の動作
電圧供給能力を増加させることができるという効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1による半導体装置の
構成を示す図である。
【図2】 実施の形態1による半導体装置の他の構成を
示す図である。
【図3】 この発明の実施の形態2による半導体装置の
構成を示す図である。
【図4】 実施の形態2による半導体装置の他の構成を
示す図である。
【図5】 この発明の半導体装置の具体例を示す図であ
る。
【図6】 この発明の半導体装置の他の構成を示す図で
ある。
【図7】 この発明の半導体装置の他の構成を示す図で
ある。
【図8】 この発明の半導体装置の他の構成を示す図で
ある。
【図9】 従来の半導体装置の構成を示す図である。
【符号の説明】
1A〜1H 半導体装置、2a〜2d,2a−1〜2d
−1,2a−2〜2e−2,2a−3,2b−3,2a
−4 VDC(電圧変換部、供給手段)、3〜5,9〜
12 コアチップ(回路ブロック)、6a 通常電圧電
源ライン(供給手段)、6b,6b−1〜6b−3 低
電圧電源ライン(供給手段)、7a,7b 電源パッ
ド、8 入出力パッド。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山本 博 兵庫県伊丹市中央3丁目1番17号 三菱電 機システムエル・エス・アイ・デザイン株 式会社内 Fターム(参考) 5F038 BB09 CA03 CA05 DF04 DF14 DF16 EZ20 5F064 BB09 DD14 FF08 FF36 FF48

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の動作電圧で単体動作する少なくと
    も1つの回路部からなる回路ブロックと、 該回路ブロックとは独立して追加配置されてなり、外部
    から供給される電源電圧を上記所定の動作電圧に変換す
    る電圧変換部と、 上記電圧変換部からの動作電圧を上記回路ブロックに供
    給する供給手段とを備えた半導体装置。
  2. 【請求項2】 異なる動作電圧で単体動作する複数の回
    路部を含んでなる回路ブロックと、 上記回路部に対応する数で上記回路ブロックとは独立し
    て配置されてなり、外部から供給される電源電圧を上記
    各動作電圧に変換する複数の電圧変換部と、 上記複数の電圧変換部からの各動作電圧を上記回路部に
    供給する供給手段とを備えた半導体装置。
  3. 【請求項3】 所定の動作電圧で単体動作する少なくと
    も1つの回路部からなる回路ブロックと、 上記回路ブロックとは独立して配置されると共に、上記
    回路部に応じて少なくとも2つ以上設けられ、外部から
    供給される電源電圧を上記各動作電圧に変換する電圧変
    換部と、 上記電圧変換部から動作電圧を上記回路部に供給すると
    共に、上記電圧変換部のいずれかが生成した動作電圧が
    上記回路部の動作に不十分である場合、該回路部に応じ
    て設けられた他の電圧変換部からの動作電圧を追加供給
    する供給手段とを備えた半導体装置。
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