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JP2003196892A - Method and apparatus for manufacturing optical disk - Google Patents

Method and apparatus for manufacturing optical disk

Info

Publication number
JP2003196892A
JP2003196892A JP2002304812A JP2002304812A JP2003196892A JP 2003196892 A JP2003196892 A JP 2003196892A JP 2002304812 A JP2002304812 A JP 2002304812A JP 2002304812 A JP2002304812 A JP 2002304812A JP 2003196892 A JP2003196892 A JP 2003196892A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
ring
optical disc
shaped
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002304812A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Eiji Ono
鋭二 大野
Yoshitaka Sakagami
嘉孝 坂上
Kenichi Osada
憲一 長田
Nobuo Akahira
信夫 赤平
Masahide Yokoyama
政秀 横山
Hiroshi Hayata
博 早田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2002304812A priority Critical patent/JP2003196892A/en
Publication of JP2003196892A publication Critical patent/JP2003196892A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 角速度一定で使用する場合に内周から外周の
全領域において記録、消去、再生のすべての特性に優れ
る光ディスクと、このような光ディスクを安定かつ高速
に成膜可能な方法とを提供する。 【解決手段】 光ディスクの記録膜組成はGe,Sb,
Teの3元素を含み、Ge,Sb,Teの比率は図1の
A,B,C,Dで囲まれた範囲とし、光ディスクの全領
域でGeとTeの組成比が同じで、光ディスクの内周か
ら外周にかけてSb量を減少させる。またその製造方法
としては、基板を中心軸を共通とする複数のリング状タ
ーゲットに対向し、中心軸が基板とターゲットとで一致
するように設置し、複数のリング状ターゲットの組成を
異なるものとして、記録膜を複数のリング状ターゲット
からの同時スパッタリング法で作製する。
(57) [Summary] [PROBLEMS] An optical disc having excellent recording, erasing, and reproducing characteristics in all areas from the inner circumference to the outer circumference when used at a constant angular velocity, and such an optical disc can be formed stably and at high speed. And methods. SOLUTION: The recording film composition of the optical disk is Ge, Sb,
It contains three elements of Te, and the ratio of Ge, Sb, and Te is in a range surrounded by A, B, C, and D in FIG. 1. The composition ratio of Ge and Te is the same in the entire region of the optical disk. The Sb amount is reduced from the periphery to the outer periphery. In addition, as a manufacturing method, the substrate is opposed to a plurality of ring-shaped targets having a common central axis, and the substrate and the target are installed so as to coincide with each other, and the compositions of the plurality of ring-shaped targets are different. Then, a recording film is formed by simultaneous sputtering from a plurality of ring targets.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザー光線等の
光学的手段を用いて情報を高密度かつ高速に、記録、再
生あるいは書換えを行う光ディスクおよびその製造方法
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disc for recording, reproducing or rewriting information at high density and high speed by using an optical means such as a laser beam and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】レーザー光線等の光を利用して、光ディ
スク上に高密度な情報の記録再生を行う技術は公知であ
り、現在文書ファイル、静止画ファイル、コンピュータ
用外部メモリ等への応用が行われている。
2. Description of the Related Art A technique for recording and reproducing high-density information on an optical disk by using light such as a laser beam is known, and is currently applied to document files, still image files, external memory for computers, etc. It is being appreciated.

【0003】最近では書換え可能型の実用化が進み、特
に記録膜のアモルファス状態と結晶状態間の可逆的な状
態変化を利用する相変化光ディスクは、信号トラック上
をレーザースポットが一回通過するだけで、古い信号を
消去しながら新しい信号を記録する、いわゆるオーバー
ライトが可能なため注目されている。このような相変化
光ディスクの記録膜組成としては、Ge、Te、Sb、
Se等の合金がおもに用いられる。
Recently, a rewritable type has been put into practical use, and particularly in a phase change optical disk utilizing reversible state change between an amorphous state and a crystalline state of a recording film, a laser spot passes through a signal track only once. In this regard, so-called overwriting is possible, in which a new signal is recorded while an old signal is erased. The recording film composition of such a phase change optical disc includes Ge, Te, Sb,
Alloys such as Se are mainly used.

【0004】相変化光ディスクでの一般的なオーバーラ
イト方法は、レーザーパワーを記録信号で記録パワーと
消去パワーの間で変調してトラック上を照射する。記録
パワーで照射された領域は、記録膜が融点に達したのち
冷却されるため、古い記録マークの有無にかかわらずア
モルファス化して新しい信号が記録され、消去パワーで
照射された領域は、記録膜が結晶化温度以上に熱せられ
るため、アモルファス状態の古い信号が結晶化して消去
されるのである。
In a general overwrite method for a phase change optical disk, laser power is modulated between a recording power and an erasing power by a recording signal and a track is irradiated with the modulated laser power. The area irradiated with the recording power is cooled after the recording film reaches the melting point and is cooled, so that a new signal is recorded by amorphization regardless of the presence or absence of old recording marks, and the area irradiated with the erasing power is the recording film. Is heated above the crystallization temperature, the old signal in the amorphous state is crystallized and erased.

【0005】従って、相変化光ディスクでは、結晶化速
度が重要なパラメータとなる。つまり、結晶化速度が遅
すぎる(すなわち結晶化時間が長すぎる)と、レーザー
スポットが通過する間に充分に結晶化されず消し残りを
生じる。逆に、結晶化速度が速すぎる(すなわち結晶化
時間が短かすぎる)と、信号を記録する場合に記録膜が
溶融後冷却されても、完全にアモルファス化されず再結
晶化されて、充分な記録マークが得られなかったり、あ
るいは記録マークの形が歪んだりする。すなわち、線速
度(レーザースポットと光ディスクの相対速度)に応じ
て最適な結晶化速度が存在するのである。
Therefore, in the phase change optical disk, the crystallization speed is an important parameter. In other words, if the crystallization speed is too slow (that is, the crystallization time is too long), the laser spot is not sufficiently crystallized and the unerased residue occurs. On the other hand, if the crystallization speed is too fast (that is, the crystallization time is too short), even if the recording film is cooled after melting when recording a signal, it will not be completely amorphized but recrystallized sufficiently. Recording marks are not obtained, or the shape of the recording marks is distorted. That is, there is an optimum crystallization speed according to the linear speed (relative speed between the laser spot and the optical disk).

【0006】光ディスクの回転方法には主に2通りあ
る。一つは光ディスクの全領域において線速度一定で回
転する方法であり、もう一つは角速度一定(すなわち回
転数一定)で回転する方法である。後者によれば、例え
ば光ヘッドが内周から外周に移動して必要な情報にアク
セスする場合でも、回転数を調整する必要がないため、
高速で行えるというメリットがある。
There are mainly two methods for rotating an optical disk. One is a method of rotating at a constant linear velocity in the entire area of the optical disc, and the other is a method of rotating at a constant angular velocity (that is, a constant number of rotations). According to the latter, for example, even when the optical head moves from the inner circumference to the outer circumference to access necessary information, it is not necessary to adjust the rotation speed,
It has the advantage of being fast.

【0007】ところで、光ディスクを一定の角速度で回
転するとき、その内周と外周では線速度は異なる。内周
で遅く外周で速い。このとき結晶化速度を内周の線速度
に合わせて最適化すると、外周では結晶化が不足して消
し残りが生じ、逆に、外周の線速度に合わせて最適化す
ると、内周では溶融部分の再結晶化が進み大きな記録マ
ークが得られない場合があった。
By the way, when an optical disc is rotated at a constant angular velocity, the linear velocity is different between the inner circumference and the outer circumference. Inner circumference is slow and outer circumference is fast. At this time, if the crystallization speed is optimized according to the linear velocity of the inner circumference, crystallization will be insufficient at the outer circumference and unerased residue will occur. Conversely, if it is optimized according to the linear velocity of the outer circumference, the melted portion at the inner circumference will In some cases, a large recording mark could not be obtained due to the progress of recrystallization.

【0008】これを解消する方法として、特開平1−1
84510号公報では、記録膜組成を半径方向に変え、
結晶化時間を外周ほど短くした光ディスクが提案されて
いる。具体的にはGeTeとSb2Te3の合金からなる
光ディスクにおいて、内周ではGeTeリッチにして結
晶化速度を遅くし、外周ではSb2Te3リッチにして結
晶化速度を速くする方法が開示されている。この方法に
よれば内周から外周まで良好な消去特性が得られる。
As a method for solving this, Japanese Patent Laid-Open No. 1-1
In Japanese Patent No. 84510, the composition of the recording film is changed in the radial direction,
An optical disc has been proposed in which the crystallization time is shortened toward the outer circumference. Specifically, a method is disclosed in which, in an optical disc made of an alloy of GeTe and Sb 2 Te 3 , the inner circumference is made GeTe rich to slow down the crystallization speed, and the outer circumference is made to be Sb 2 Te 3 rich to speed up the crystallization speed. ing. According to this method, good erasing characteristics can be obtained from the inner circumference to the outer circumference.

【0009】また、上述の特願では、このような光ディ
スクの製造方法として図12に示すように、基板9を回
転させながら、その回転中心に対して偏心した位置に、
2つ以上の蒸発源22あるいはスパッタソースを設け、
さらに基板とソースの間に仕切り板23を設けて、ディ
スクの半径方向に組成を変化させる方法が開示されてい
る。
Further, in the above-mentioned Japanese Patent Application, as a method of manufacturing such an optical disc, as shown in FIG. 12, while rotating the substrate 9, a position eccentric to the center of rotation is provided.
Providing two or more evaporation sources 22 or sputter sources,
Further, a method of providing a partition plate 23 between the substrate and the source to change the composition in the radial direction of the disk is disclosed.

【0010】[0010]

【特許文献1】特開平1−184510号公報[Patent Document 1] JP-A-1-184510

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、発明者
らがさらなる検討を加えた結果、上記の内周ではGeT
eリッチにして結晶化速度を遅くし、外周ではSb2
3リッチにして結晶化速度を速くした光ディスクで
は、内周と外周とで再生信号の振幅が異なる場合がある
ことが分かった。この原因は、GeTeとSb2Te3
の比率を変えると、記録膜の結晶化速度だけでなく、複
素屈折率も大きく変わってしまうためと考えられる。
However, as a result of further investigations by the inventors, in the above inner circumference, GeT
e-rich to slow down the crystallization speed, and Sb 2 T
It has been found that the amplitude of the reproduced signal may differ between the inner circumference and the outer circumference of the optical disc that is made e 3 rich and has a high crystallization speed. It is considered that this is because when the ratio of GeTe and Sb 2 Te 3 is changed, not only the crystallization speed of the recording film but also the complex refractive index is significantly changed.

【0012】相変化光ディスクにおける信号の再生は、
一般的に再生レーザーパワーで信号トラック上を照射し
て、結晶状態とアモルファス状態との反射率の差を検出
することで行う。内周と外周とで複素屈折率が変化する
と、アモルファス状態と結晶状態との反射率も変わり、
結果として内周と外周とで再生信号の振幅が異なり、そ
のために、光ディスクの全記録領域で均質な再生信号品
質が得られなくなってしまう。
The reproduction of a signal on a phase change optical disk is
Generally, this is performed by irradiating the signal track with a reproduction laser power and detecting the difference in reflectance between the crystalline state and the amorphous state. When the complex refractive index changes between the inner circumference and the outer circumference, the reflectivity between the amorphous state and the crystalline state also changes,
As a result, the amplitude of the reproduced signal is different between the inner circumference and the outer circumference, which makes it impossible to obtain uniform reproduced signal quality in the entire recording area of the optical disc.

【0013】また、上述の特願に記載された光ディスク
の製造方法にも、以下のような課題がある。
The optical disk manufacturing method described in the above-mentioned Japanese Patent Application also has the following problems.

【0014】まず、基板の回転中心に対して偏心した位
置に、2つ以上の蒸発源あるいはスパッタソースを設け
てあるため、円周方向に同一組成にするには高速で回転
させるか、あるいは成膜レートを遅くする必要がある。
いずれにしても成膜開始から終了するまでに基板を充分
な回数回転しないと、円周方向の組成と膜厚が不均一に
なる。これは光ディスクを大量かつ高速に生産する場合
には、大きな課題となる。
First, since two or more evaporation sources or sputter sources are provided at positions eccentric to the center of rotation of the substrate, they must be rotated at a high speed to achieve the same composition in the circumferential direction, or they must be rotated. It is necessary to slow down the membrane rate.
In any case, unless the substrate is rotated a sufficient number of times from the start to the end of film formation, the composition in the circumferential direction and the film thickness become non-uniform. This is a big problem when producing a large number of optical disks at high speed.

【0015】なお、上述の特願では、成膜法の一つとし
て真空蒸着法を挙げているが、真空蒸着法はスパッタ法
に比べて薄膜の付着強度が小さく、また成膜時の蒸着源
での突沸等による基板上異物ができ易いといった課題も
ある。
In the above-mentioned Japanese Patent Application, a vacuum vapor deposition method is mentioned as one of the film forming methods. However, the vacuum vapor deposition method has a smaller adhesion strength of a thin film than the sputtering method, and a vapor deposition source at the time of film formation. There is also a problem that foreign matter is likely to be formed on the substrate due to bumping or the like.

【0016】本発明は上記課題を解決し、内周から外周
にかけて結晶化速度が速くなるが、信号の再生特性は変
化しない光ディスクを提供すると共に、このような光デ
ィスクを安定かつ高速に成膜可能な装置を提供すること
を目的とする。
The present invention solves the above problems and provides an optical disk in which the crystallization speed increases from the inner circumference to the outer circumference, but the signal reproduction characteristics do not change, and such an optical disk can be stably and rapidly deposited. It is intended to provide a new device.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本願発明の製造方法は、光の照射によって光学的
に識別可能な状態間で変化する記録膜を有する光ディス
クの製造方法であって、それぞれが同じ構成元素を含み
前記構成元素の組成が異なる複数のリング状ターゲット
を同心軸に配置し、前記複数のリング状ターゲットの中
心軸が、基板の中心軸と一致するように前記基板を設置
し、前記基板上に前記記録膜を成膜する場合に、前記基
板上での成膜速度が均一になるように前記複数のリング
状ターゲットの各々に投入されるスパッタパワーを独立
制御してスパッタリングを行うことを特徴としている。
In order to achieve the above object, the manufacturing method of the present invention is a manufacturing method of an optical disc having a recording film which changes between optically distinguishable states by irradiation of light. A plurality of ring-shaped targets each having the same constituent element and different compositions of the constituent elements are arranged concentrically, and the central axes of the plurality of ring-shaped targets are aligned with the central axis of the substrate. When the recording film is formed on the substrate, the sputtering power to be applied to each of the plurality of ring-shaped targets is independently controlled so that the film formation rate on the substrate becomes uniform. The feature is that sputtering is performed.

【0018】また、本願発明の他の製造方法は、光の照
射によって光学的に識別可能な状態間で変化する記録膜
を有する光ディスクの製造方法であって、それぞれが同
じ構成元素を含み前記構成元素の組成が異なる円盤状タ
ーゲットとリング状ターゲットを同心軸に配置し、前記
円盤状ターゲットの中心軸が、基板の中心軸と一致する
ように前記基板を設置し、前記基板上に前記記録膜を成
膜する場合に、前記基板上での成膜速度が均一になるよ
うに前記円盤状ターゲットと前記リング状ターゲットの
各々に投入されるスパッタパワーを独立制御してスパッ
タリングを行うことを特徴としている。
Another manufacturing method of the present invention is a manufacturing method of an optical disc having a recording film that changes between optically distinguishable states by irradiation of light, each of which contains the same constituent element. A disk-shaped target and a ring-shaped target having different elemental compositions are arranged concentrically, and the substrate is placed so that the central axis of the disk-shaped target coincides with the central axis of the substrate, and the recording film is formed on the substrate. In the case of depositing a film, it is characterized in that sputtering is performed by independently controlling the sputtering power supplied to each of the disk-shaped target and the ring-shaped target so that the film formation rate on the substrate becomes uniform. There is.

【0019】さらに本願発明の製造装置は、光の照射に
よって光学的に識別可能な状態間で変化する記録膜を基
板上に有する光ディスクの製造装置であって、それぞれ
が同じ構成元素を含み前記構成元素の組成が異なる複数
のリング状ターゲットと、スパッタリングにより前記基
板上に前記記録膜を成膜する場合に、前記基板上での成
膜速度が均一になるように前記複数のリング状ターゲッ
トの各々に投入されるスパッタパワーを独立制御する制
御手段と、を備えている。
Further, the manufacturing apparatus of the present invention is a manufacturing apparatus of an optical disc having a recording film on a substrate which changes between optically distinguishable states by irradiation of light, each of which includes the same constituent element. When a plurality of ring-shaped targets having different elemental compositions and the recording film is formed on the substrate by sputtering, each of the plurality of ring-shaped targets is formed so that the film formation rate on the substrate becomes uniform. And a control means for independently controlling the sputtering power input to the.

【0020】また、本願発明の他の製造装置は、光の照
射によって光学的に識別可能な状態間で変化する記録膜
を基板上に有する光ディスクの製造装置であって、それ
ぞれが同じ構成元素を含み前記構成元素の組成が異なる
円盤状ターゲット及びリング状ターゲットと、スパッタ
リングにより前記基板上に前記記録膜を成膜する場合
に、前記基板上での成膜速度が均一になるように前記円
盤状ターゲットと前記リング状ターゲットの各々に投入
されるスパッタパワーを独立制御する制御手段と、を備
えている。
Further, another manufacturing apparatus of the present invention is an optical disk manufacturing apparatus having a recording film on a substrate which changes between optically distinguishable states by irradiation of light, each of which has the same constituent element. A disk-shaped target and a ring-shaped target having different compositions of the constituent elements, and the disk-shaped target so that the film formation rate on the substrate becomes uniform when the recording film is formed on the substrate by sputtering. A target and a control unit for independently controlling the sputtering power applied to each of the ring-shaped targets.

【0021】上述の製造方法、製造装置において、前記
複数のリング状ターゲット、あるいは前記円盤状ターゲ
ットおよび前記リング状ターゲットは、それぞれGe、
Sb、Teの3元素を含み、GeとTeとの組成比が同
じで、Ge量よりTe量の方が多く、外側に配置するタ
ーゲットほどSb量が少なくすることも本願発明の特徴
の1つである。
In the above-mentioned manufacturing method and manufacturing apparatus, the plurality of ring-shaped targets, or the disk-shaped target and the ring-shaped target are Ge,
One of the features of the present invention is that it contains three elements of Sb and Te, the composition ratio of Ge and Te is the same, the Te amount is larger than the Ge amount, and the Sb amount is smaller as the target is placed outside. Is.

【0022】また、前記複数のリング状ターゲット、あ
るいは前記円盤状ターゲットおよび前記リング状ターゲ
ットのGeとTeとの組成比が2:5であることも本願
発明の特徴の1つである。
Another feature of the present invention is that the plurality of ring-shaped targets, or the disk-shaped target and the ring-shaped target have a composition ratio of Ge and Te of 2: 5.

【0023】さらに、前記複数のリング状ターゲット、
あるいは前記円盤状ターゲットおよび前記リング状ター
ゲットは前記3元素以外の添加元素を含み、内側に配置
するターゲットより外側に配置するターゲットの方が、
前記添加元素の添加量が少ないことも本願発明の特徴の
1つである。また、前記添加元素が、Pd,Co,N
i,Tl,Se,In,Au,Ag,Crの少なくとも
1つであることも本願発明の特徴の1つである。
Furthermore, the plurality of ring-shaped targets,
Alternatively, the disc-shaped target and the ring-shaped target include an additive element other than the three elements, and a target arranged outside is more preferable than a target arranged inside,
It is one of the features of the present invention that the amount of the additional element added is small. Also, if the additive element is Pd, Co, N
At least one of i, Tl, Se, In, Au, Ag, and Cr is also one of the features of the present invention.

【0024】本発明の製造方法や製造装置によって製造
した光ディスクでは、内周から外周にかけて結晶化速度
が速く、かつ内周と外周で再生振幅がほぼ同じであるた
め、光ディスクの全領域において良好な記録消去および
再生特性が得られる。
In the optical disc manufactured by the manufacturing method and the manufacturing apparatus of the present invention, the crystallization speed is fast from the inner circumference to the outer circumference, and the reproduction amplitude is almost the same on the inner circumference and the outer circumference. Recording and erasing and reproducing characteristics can be obtained.

【0025】さらに本発明による光ディスクの製造方
法、製造装置によれば、内周から外周にかけて結晶化速
度の速くなる光ディスクを、再現性よくかつ高速に作製
することが可能になる。
Further, according to the optical disk manufacturing method and manufacturing apparatus of the present invention, it becomes possible to manufacture an optical disk having a high crystallization speed from the inner circumference to the outer circumference with good reproducibility and at high speed.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】以下図面を参照しながら本願発明
を詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0027】図2に本願発明による光ディスクの一例の
断面図を示す。1は基板であり、その材質としては一般
的に透明なガラス、石英、ポリカーボネート、ポリメチ
ルメタクリレート等が用いられる。
FIG. 2 shows a sectional view of an example of an optical disk according to the present invention. A substrate 1 is generally made of transparent glass, quartz, polycarbonate, polymethylmethacrylate, or the like.

【0028】基板1上には、第1の誘電体層2、記録膜
3、第2の誘電体層4、反射膜5の順に積層されてい
る。さらに必要に応じて、薄膜層を保護するために保護
カバー6を設けてもよい。
On the substrate 1, a first dielectric layer 2, a recording film 3, a second dielectric layer 4 and a reflective film 5 are laminated in this order. Further, if necessary, a protective cover 6 may be provided to protect the thin film layer.

【0029】第1の誘電体層2および第2の誘電体層4
は、透明でかつ熱的に安定な物質がよく、たとえば、金
属や半金属の酸化物、窒化物、カルコゲン化物、フッ化
物、炭化物等およびこれらの混合物であり、具体的には
SiO2、SiO、Al23、GeO2、In23、Ta
25、TeO2、TiO2、MoO3、WO3、ZrO2
Si34、AlN,BN、TiN、ZnS、CdS、C
dSe、ZnSe、ZnTe、AgF、PbF2、Mn
2、NiF2、SiC等の単体あるいはこれらの混合物
等である。
First dielectric layer 2 and second dielectric layer 4
Is preferably a transparent and thermally stable substance, and examples thereof include oxides, nitrides, chalcogenides, fluorides, carbides of metals and semimetals, and mixtures thereof, and specifically, SiO 2 , SiO 2 . , Al 2 O 3 , GeO 2 , In 2 O 3 , Ta
2 O 5 , TeO 2 , TiO 2 , MoO 3 , WO 3 , ZrO 2 ,
Si 3 N 4 , AlN, BN, TiN, ZnS, CdS, C
dSe, ZnSe, ZnTe, AgF, PbF 2 , Mn
It is a simple substance such as F 2 , NiF 2 , or SiC, or a mixture thereof.

【0030】反射層5は金属膜で構成され、材料として
は例えばAu,Al,Ti,Ni,Cu,Cr等の単体あるいはこれらの
合金を用いることができる。
The reflective layer 5 is composed of a metal film, and as a material thereof, a simple substance such as Au, Al, Ti, Ni, Cu, Cr or the like or an alloy thereof can be used.

【0031】なお、第1の誘電体層2、記録膜3、第2
の誘電体層4の膜厚を適切に設計することにより、反射
層5を用いない構造とすることも可能である。
Incidentally, the first dielectric layer 2, the recording film 3, the second
By appropriately designing the film thickness of the dielectric layer 4, the structure without the reflective layer 5 is possible.

【0032】また、光ディスクの薄膜構成がさらに異な
る場合でも、本願発明の主旨を満たすものであれば本願
発明に含まれる。
Further, even when the thin film structure of the optical disk is further different, it is included in the present invention as long as it satisfies the gist of the present invention.

【0033】ここで、本発明の光ディスクの特徴は、記
録膜3の結晶化速度が内周より外周の方が速いことであ
り、かつ記録膜の組成が少なくともGe,Sb,Teの
3元素を含み、Ge,Sb,Teの比率は図1のA,
B,C,Dで囲まれた範囲にあり、光ディスクの全領域
でGeとTeの組成比が概ね同じで、光ディスクの内周
から外周にかけてSb量を減少させるたことにある。
The characteristics of the optical disk of the present invention are that the crystallization speed of the recording film 3 is faster on the outer circumference than on the inner circumference, and the composition of the recording film contains at least three elements of Ge, Sb and Te. Including, the ratio of Ge, Sb, Te is A in FIG.
It is in the range surrounded by B, C, and D, and the composition ratio of Ge and Te is almost the same in the entire area of the optical disc, and the amount of Sb is reduced from the inner periphery to the outer periphery of the optical disc.

【0034】あるいは、光ディスクの記録膜組成をG
e、Sb、Teの3元素に、Pd,Co,Ni,Tl,
Se,In,Au,Ag,Cr等の元素を1種類以上添
加したものとし、光ディスクの内周から外周にかけて添
加元素の量が減少することにある。
Alternatively, the recording film composition of the optical disk is set to G
e, Sb, and Te, Pd, Co, Ni, Tl,
One or more elements such as Se, In, Au, Ag, and Cr are added, and the amount of the added element decreases from the inner circumference to the outer circumference of the optical disk.

【0035】光ディスクにおいて、内周から外周まで良
好な記録消去特性を得るためには、記録膜の結晶化速度
を内周より外周の方を速くすることが望ましい。上述の
特願平1−184510号では、記録膜としてGeSb
Teの3元合金を用い、内周と外周でGeTeとSb2
Te3の比率を変えた光ディスクが提案されている。
In order to obtain good recording and erasing characteristics from the inner circumference to the outer circumference of the optical disk, it is desirable that the crystallization speed of the recording film is faster on the outer circumference than on the inner circumference. In the above-mentioned Japanese Patent Application No. 1-184510, GeSb is used as the recording film.
Using a ternary alloy of Te, GeTe and Sb 2 on the inner and outer circumferences
Optical discs with different Te 3 ratios have been proposed.

【0036】GeSbTeの3元合金は、相変化光ディ
スク用の記録膜としてよく知られており、薄膜の結晶化
速度は図13のようになることが報告されている(Japa
neseJournal of Applied Physics, Vol.26(1987)Supple
ment26-4,p61)。
GeSbTe ternary alloy is well known as a recording film for phase change optical disks, and it has been reported that the crystallization rate of the thin film is as shown in FIG. 13 (Japa
neseJournal of Applied Physics, Vol.26 (1987) Supple
ment26-4, p61).

【0037】すなわち結晶化速度は、化学量論組成のG
eTeとSb2Te3を結ぶライン上で変化し、GeTe
リッチでは結晶化速度は遅く、Sb2Te3リッチでは結
晶化速度が速くなる。上述の特願は、このようなGeS
bTeの3元合金の特徴を利用してなされた発明であ
る。
That is, the crystallization rate is G of stoichiometric composition.
Change on the line connecting eTe and Sb 2 Te 3 ,
When rich, the crystallization speed is slow, and when Sb 2 Te 3 rich, the crystallization speed is fast. The above-mentioned Japanese patent application is such a GeS
It is an invention made by utilizing the characteristics of the ternary alloy of bTe.

【0038】しかしながら、発明者らのさらなる検討の
結果、光ディスクの内周と外周で結晶化速度を変えるこ
とは、結晶化速度の異なる任意の2つの組成(構成元素
が異なってもよい)を採用すれば容易に実現できるが、
場合によっては、内周組成と外周組成で複素屈折率が大
きく異なるため、光ディスクの内周と外周で再生信号品
質(特に再生振幅)が異なることが分かった。
However, as a result of further study by the inventors, the crystallization rate is changed between the inner circumference and the outer circumference of the optical disk by adopting any two compositions having different crystallization speeds (the constituent elements may be different). If you do this easily,
In some cases, it has been found that the reproduced signal quality (particularly the reproduced amplitude) is different between the inner circumference and the outer circumference of the optical disc because the complex refractive index differs greatly between the inner circumference composition and the outer circumference composition.

【0039】例えば、図3のGeTeとSb2Te3とを
結ぶライン上の点Eと点Fとでは、点Fの組成の方が結
晶化速度は約2倍速いが、複素屈折率が大きく異なるた
め、光ディスクの薄膜構成にしたとき、例えば波長λ=
780nmにおいて、点Eではアモルファス状態と結晶
状態との反射率差ΔRは約30%であるが、点FではΔ
Rは約10%となった(詳細は後述の実施例1参照)。
For example, between point E and point F on the line connecting GeTe and Sb 2 Te 3 in FIG. 3, the composition of point F has a crystallization speed about twice as fast, but a large complex refractive index. Therefore, when the thin film structure of the optical disk is used, for example, the wavelength λ =
At 780 nm, at point E, the reflectance difference ΔR between the amorphous state and the crystalline state is about 30%, but at point F, ΔR
R was about 10% (see Example 1 below for details).

【0040】相変化光ディスクは、おもにアモルファス
状態と結晶状態との反射率の差を検出して記録された信
号を再生するため、点Eと点Fとの反射率差ΔRの違い
は、結果として内周と外周とでの再生振幅の差となり、
実用上課題となることが分かる。なお、図3は、図1に
示したGe,Sb,Teの3元組成図のSb近傍の領域
を拡大したものである。さらに、図3中の組成点A〜M
に対応する具体的組成については、実施例の最後に列記
する。
Since the phase-change optical disk mainly reproduces the recorded signal by detecting the difference in reflectance between the amorphous state and the crystalline state, the difference in reflectance difference ΔR between the points E and F results in It will be the difference in playback amplitude between the inner and outer circumferences,
It turns out that this is a practical problem. Note that FIG. 3 is an enlarged view of a region near Sb in the ternary composition diagram of Ge, Sb, and Te shown in FIG. Further, composition points A to M in FIG.
Specific compositions corresponding to are listed at the end of the examples.

【0041】これに対して本発明では、記録膜組成をG
eTeとSb2Te3のライン上の任意の点と、Sb10
0%の点とを結ぶライン上で変化させるのである。例え
ば、図3の点Gと点Hとでは、点Gの組成の方が結晶化
速度は約2倍速いが、複素屈折率の差は小さいため、光
ディスクの薄膜構成にしたとき波長λ=780nmにお
いて、点Gでの反射率差ΔRが約24.5%であるのに
対して、点HではΔRは約24%であり、その差は小さ
く、結果として内周と外周での再生振幅の差も小さく、
実用上問題ないことが分かった。
On the other hand, in the present invention, the recording film composition is G
Any point on the line of eTe and Sb 2 Te 3 and Sb10
It is changed on the line connecting the 0% point. For example, between point G and point H in FIG. 3, the composition of point G has a crystallization speed about twice as fast, but the difference in complex refractive index is small, so when the optical disk is formed into a thin film, the wavelength λ = 780 nm. At the point G, the reflectance difference ΔR is about 24.5%, while at the point H, the difference ΔR is about 24%, and the difference is small. As a result, the reproduction amplitudes at the inner and outer circumferences are small. The difference is small,
It turns out that there is no problem in practice.

【0042】また、GeTeとSb2Te3のラインから
Teリッチの組成領域(図1の直線ABよりTe側の組
成領域)でも、組成を選ぶことによって結晶化速度が変
化するが、信号の繰り返し記録による信号品質の低下が
激しいことが分かった。
Also in the Te-rich composition region from the GeTe and Sb 2 Te 3 lines (the composition region on the Te side of the straight line AB in FIG. 1), the crystallization rate changes depending on the composition, but the signal repetition It was found that the deterioration of signal quality due to recording was severe.

【0043】さらにGeTeとSb100%とを結ぶラ
インよりGeリッチの組成領域(図1の直線DAよりG
e側の組成領域)では、結晶化時間が1μsより長くな
る。1μsという時間は、例えば直径1μmのレーザー
スポットが、線速度1m/sで光ディスク上の一点を通
過するのに要する時間に相当する。
Further, a Ge-rich composition region from the line connecting GeTe and Sb100% (from the straight line DA in FIG.
In the e-side composition region), the crystallization time is longer than 1 μs. The time of 1 μs corresponds to the time required for a laser spot having a diameter of 1 μm to pass through one point on the optical disc at a linear velocity of 1 m / s, for example.

【0044】一般的に線速度は1m/sより速い速度で
使用されるので、これ以上結晶化時間が長い(すなわ
ち、結晶化速度が遅い)と、光ディスク用の記録膜材料
としては実用的でない。さらに、この領域では融点が高
いため、大きな記録パワーが必要なため、光ディスクの
記録膜に使用できない。
Since the linear velocity is generally used at a velocity higher than 1 m / s, if the crystallization time is longer than that (that is, the crystallization velocity is slow), it is not practical as a recording film material for optical discs. . Further, since the melting point is high in this region, a large recording power is required, and therefore it cannot be used for the recording film of the optical disc.

【0045】なお、図1の直線CDよりTeが少ない組
成領域では、結晶化時間が1μsより長く、結晶化速度
が遅くなりすぎて実用的でなくなる。Te量は45%以
上が良い。
In the composition region in which Te is smaller than that of the straight line CD in FIG. 1, the crystallization time is longer than 1 μs, and the crystallization speed becomes too slow to be practical. The Te amount is preferably 45% or more.

【0046】さらに、GeとTeの組成比をGe:Te
=2:5近傍とした本発明の限定領域の組成を選択した
場合(図3の点Gと点Mを結ぶ直線上)には、オーバー
ライトの繰り返し特性が非常に良好となり、100万回
を超えるオーバーライトが実現できる。
Further, the composition ratio of Ge and Te is Ge: Te.
In the case where the composition of the limited region of the present invention is set to be near 2: 5 (on the straight line connecting the point G and the point M in FIG. 3), the overwrite repetitive characteristic becomes very good, and 1 million times Overwriting can be achieved.

【0047】また、本発明においては、記録膜組成とし
てGe,Sb,Teの3元素は必須であるが、本願発明
の主旨を損なわない程度に他の元素が含まれていてもか
まわない。
Further, in the present invention, the three elements Ge, Sb and Te are indispensable as the recording film composition, but other elements may be contained to the extent that the gist of the present invention is not impaired.

【0048】なお、一般的にはGe・Sb・Te合金に
対して他の元素を添加すると、ほとんどの場合、結晶化
速度が低下する。すなわち、この特性を利用して添加元
素濃度を内周と外周とで変化させ、結晶化速度を制御す
ることも可能である。
Generally, when other elements are added to the Ge.Sb.Te alloy, the crystallization rate is lowered in most cases. That is, it is possible to control the crystallization rate by utilizing this characteristic to change the concentration of the additive element between the inner circumference and the outer circumference.

【0049】特に添加元素として、Pd,Co,Ni,
Tl,Se,In,Au,Ag,Crのうちの少なくと
も一つを選択すると、結晶化速度が低下し、かつ複素屈
折率の変化が小さいため、光ディスクの反射率変化量Δ
Rはほぼ一定で、かつ結晶化温度の低下もないことがわ
かった。なお、添加量は20%以下がよい。これより多
いと結晶化速度が急激に低下したり、あるいは複素屈折
率が大きく変化する場合がある。
Particularly, as additional elements, Pd, Co, Ni,
When at least one of Tl, Se, In, Au, Ag, and Cr is selected, the crystallization speed is lowered and the change in complex refractive index is small, so that the reflectance change amount Δ of the optical disc is decreased.
It was found that R was almost constant and that the crystallization temperature did not decrease. The addition amount is preferably 20% or less. If it is more than this range, the crystallization rate may be sharply reduced or the complex refractive index may be greatly changed.

【0050】また、本願発明の記録膜の結晶化速度を内
周より外周の方を速くした光ディスクの作製は、図4に
断面図を示したような装置により可能となる。なお、図
5は図4に示したターゲットと基板との位置関係を示す
見取り図である。
The optical disk of the present invention in which the crystallization speed of the recording film is faster on the outer circumference than on the inner circumference can be manufactured by an apparatus as shown in the sectional view of FIG. 5 is a sketch showing the positional relationship between the target and the substrate shown in FIG.

【0051】リング状の内側ターゲット7と外側ターゲ
ット8とは中心軸10を共通とするものであり、またそ
の中心軸10をさらに共通として基板9が、ターゲット
7及び8と対向している。2つのターゲット7及び8の
組成を変えると、内周から外周に向かって組成の変化す
る光ディスクが作製できる。
The ring-shaped inner target 7 and the outer target 8 share a central axis 10, and the substrate 9 faces the targets 7 and 8 with the central axis 10 further common. By changing the composition of the two targets 7 and 8, an optical disk whose composition changes from the inner circumference to the outer circumference can be manufactured.

【0052】図6に、それぞれのターゲットから成膜し
た場合の基板位置における半径方向の成膜速度分布、お
よび両者の合計の成膜速度分布を示す。なお、図6での
成膜速度は、合計の成膜速度の最大値で規格化して示し
てある。また、本来記録膜厚は、光ディスクの内周から
外周まで均一にしなければならないが、図6のように内
周ターゲットと外周ターゲットの成膜速度を調整するこ
とにより、略均一化できることが分かる。
FIG. 6 shows a radial film formation rate distribution at the substrate position when a film is formed from each target, and a total film formation rate distribution of both. Note that the film forming rate in FIG. 6 is standardized and shown by the maximum value of the total film forming rate. Further, although the recording film thickness should originally be made uniform from the inner circumference to the outer circumference of the optical disk, it can be seen that it can be made substantially uniform by adjusting the film forming rates of the inner circumference target and the outer circumference target as shown in FIG.

【0053】このとき、記録膜組成を内周から外周にか
けて、図3点Hから点Gまで変化させるためには、例え
ば内周ターゲット組成として点HよりSbリッチな点J
の組成、外周ターゲット組成としては点GよりSbプア
な点Iの組成を選ぶ。このときの記録膜組成のディスク
半径方向の分布を、図7に示す。組成点I,G,H,J
は、それぞれGe量:Te量=2:5の直線上にあっ
て、Sb量が変化しているため、図7では記録膜組成を
Sb量で代表して示した。この光ディスクにおける記録
領域が、例えば最内周で半径25mm、最外周で半径6
0mmとすれば、最内周の半径25mmでほぼ点Hの組
成になり、最外周の半径60mmでほぼ点Gの組成にな
り、かつ内周から外周にかけて徐々にSb量が減少して
いるのがわかる。
At this time, in order to change the composition of the recording film from the inner circumference to the outer circumference from point H to point G in FIG.
The composition of the point I, which is Sb poor from the point G, is selected as the composition of 1) and the peripheral target composition. The distribution of the recording film composition at this time in the radial direction of the disk is shown in FIG. Composition point I, G, H, J
Are on the straight line of Ge amount: Te amount = 2: 5, respectively, and the Sb amount changes. Therefore, in FIG. 7, the recording film composition is represented by the Sb amount. The recording area of this optical disc has a radius of 25 mm at the innermost circumference and a radius of 6 at the outermost circumference.
When it is 0 mm, the composition of the point H is approximately 25 mm at the innermost radius, the composition of the point G is approximately 60 mm at the outermost radius, and the Sb amount gradually decreases from the inner periphery to the outer periphery. I understand.

【0054】記録膜組成とターゲット組成の関係は、タ
ーゲット形状、TS距離(ターゲットと基板の距離)、
基板の大きさ等によって変わるものであるが、記録膜の
組成を、Ge,Sb,Teの3元組成図である図1の
A,B,C,Dで囲まれた範囲とし、さらに光ディスク
の全領域でGeとTeとの組成比概ねが同じで、かつ光
ディスクの内周から外周にかけてSb量を減少させたも
のとするためには、リング状のターゲット組成も、Ge
とTeとの組成比が概ね同じで、かつGe量よりTe量
の方が多く、内周ターゲットから外周ターゲットにかけ
てSb量を減少させればよい。ただし、ターゲット組成
としては上記実施例のごとく、図1のA,B,C,Dで
囲まれた領域の外にくる場合もある。
The relationship between the recording film composition and the target composition is as follows: target shape, TS distance (distance between target and substrate),
Although it depends on the size of the substrate and the like, the composition of the recording film is set to a range surrounded by A, B, C, and D in FIG. 1 which is a ternary composition diagram of Ge, Sb, and Te. In order that the composition ratio of Ge and Te is almost the same in the entire region and the amount of Sb is reduced from the inner circumference to the outer circumference of the optical disc, the ring-shaped target composition is also Ge.
The composition ratios of Te and Te are substantially the same, the Te content is larger than the Ge content, and the Sb content may be reduced from the inner peripheral target to the outer peripheral target. However, the target composition may be outside the region surrounded by A, B, C, and D in FIG. 1 as in the above embodiment.

【0055】なお、図5ではリング状ターゲットは2つ
としたが、3つ以上にしてもよい。この場合中間のター
ゲット組成は、内側ターゲットの組成と外側ターゲット
の組成との間の組成にする。このようにして3つ以上の
ターゲットを用い成膜した記録膜の結晶化速度は、内周
から外周にかけてより連続的に速くできる。
Although the number of ring-shaped targets is two in FIG. 5, it may be three or more. In this case, the intermediate target composition is between the composition of the inner target and the composition of the outer target. In this way, the crystallization rate of the recording film formed by using three or more targets can be continuously increased from the inner circumference to the outer circumference.

【0056】また、リング状ターゲットの数を増やす
と、基板サイズが大きくなっても、TS距離をあまり大
きくすることなく均質な膜厚分布を得ることが可能とな
る。したがって、スパッタされた原子の基板への付着率
が高くなり、ターゲット材料の有効利用ができる。
When the number of ring-shaped targets is increased, it is possible to obtain a uniform film thickness distribution without increasing the TS distance even if the substrate size is increased. Therefore, the attachment rate of the sputtered atoms to the substrate is increased, and the target material can be effectively used.

【0057】また、図5では内側ターゲットもリング状
であったが、例えば図8のように、中心のターゲットを
リング状ではなく、円盤状ターゲット14としてもよ
い。この場合のターゲット組成の選び方は、上述のすべ
てリング状ターゲットを用いた場合と同じである。ま
た、リング状ターゲット15の数は2つ以上でもよく、
リング状ターゲットの数を増やすと、基板サイズが大き
くなってもTS距離をあまり大きくすることなく均質な
膜厚分布を得ることが可能となり、ターゲット材料の有
効利用ができる。
Although the inner target is also ring-shaped in FIG. 5, the center target may be a disc-shaped target 14 instead of the ring-shaped target as shown in FIG. The method of selecting the target composition in this case is the same as the case of using all the ring-shaped targets described above. The number of ring-shaped targets 15 may be two or more,
When the number of ring-shaped targets is increased, a uniform film thickness distribution can be obtained without increasing the TS distance even if the substrate size is increased, and the target material can be effectively used.

【0058】さらには、例えば図9のように、一つのタ
ーゲット16を同心円状に組成の異なる複数の領域に分
割したターゲットで構成し、内側領域17と外側領域1
8とで組成を変えることで、光ディスクの内周から外周
にかけて結晶化速度の速くなるディスクを作製すること
も可能である。
Further, as shown in FIG. 9, for example, one target 16 is composed of targets which are concentrically divided into a plurality of regions having different compositions, and an inner region 17 and an outer region 1 are formed.
It is also possible to manufacture a disk having a higher crystallization rate from the inner circumference to the outer circumference of the optical disk by changing the composition with 8 and.

【0059】この製法のメリットは、従来の一般的な円
盤状ターゲットを用いるスパッタリング装置で成膜でき
ることである。すなわち、シンプルな装置によって、内
側から外周にかけて結晶化速度が速くなる光ディスクを
作製することが可能となる。
The merit of this manufacturing method is that the film can be formed by a conventional sputtering apparatus using a general disc-shaped target. That is, with a simple device, it is possible to manufacture an optical disc in which the crystallization speed increases from the inner side to the outer side.

【0060】なお、ターゲットの分割は2つ以上の領域
に分割されればいくつでもよいが、ターゲットの製造を
考えた場合は2分割がよい。なお、この場合のターゲッ
ト組成の選び方は、上述のすべてリング状ターゲットを
用いた場合に準じるものである。
It should be noted that the target may be divided into any number as long as it is divided into two or more regions, but in consideration of manufacturing the target, the division into two is preferable. The method of selecting the target composition in this case is based on the case where all the ring-shaped targets are used.

【0061】なお、図5および図8の製法の、図9の製
法に対するメリットは、ターゲットの製法が容易なこと
にある。例えば図9のように、一つのターゲットを2つ
以上に分割するとその境界ができる。この境界に隙間等
ができると異常放電の原因になるため、高度なターゲッ
ト製作技術が必要になる。これに対して例えば図5およ
び図8の製法では、ターゲットはそれぞれ単一の組成の
ため、異常放電等の心配はない。
The advantage of the manufacturing method of FIGS. 5 and 8 over the manufacturing method of FIG. 9 is that the target manufacturing method is easy. For example, as shown in FIG. 9, when one target is divided into two or more, the boundary is created. If a gap or the like is formed at this boundary, it will cause an abnormal discharge, so a high-level target manufacturing technique is required. On the other hand, for example, in the manufacturing method shown in FIGS. 5 and 8, the targets have a single composition, so that there is no fear of abnormal discharge.

【0062】また、記録膜がGe・Sb・Te合金に、
さらに他の添加元素を添加した組成からなる場合は、内
側のターゲットほど添加元素の量を多くすればよい。例
えば図5では外側ターゲット8より内側ターゲット7で
の添加元素量を多くし、図8ではリング状ターゲット1
5より円盤状ターゲット14の添加元素量を多くし、ま
た図9では外側領域18より内側領域17での添加元素
量を多くすれば、光ディスクの内周から外周にかけて結
晶化速度の速くなるディスクを作製することが可能であ
る。
Further, the recording film is made of Ge / Sb / Te alloy,
In the case of a composition in which another additional element is added, the amount of the additional element may be increased toward the inner target. For example, in FIG. 5, the amount of added elements in the inner target 7 is larger than that in the outer target 8, and in FIG.
5, the disk-shaped target 14 has a larger amount of added elements, and in FIG. 9, the amount of added elements in the inner region 17 is larger than that in the outer region 18, a disk having a higher crystallization speed from the inner circumference to the outer circumference is obtained. It is possible to make.

【0063】なお、基板は成膜時にターゲット上で回転
(自転)させてもよい。しかし、ターゲット構成が中心
軸に対して回転対称であり、かつ基板もターゲットと中
心軸を共通としているため、基板上の組成と膜厚も中心
に対して等方的になる。したがって、ターゲットに対し
て基板を静止対向としてもよく、この場合光ディスクの
回転機構が不要になるため装置構成が簡単になる。
The substrate may be rotated (rotated) on the target during film formation. However, since the target structure is rotationally symmetric with respect to the central axis and the substrate shares the central axis with the target, the composition and film thickness on the substrate are also isotropic with respect to the center. Therefore, the substrate may be stationary facing the target, and in this case, the rotation mechanism of the optical disk is not required, and the device configuration is simplified.

【0064】また、例えば図5または図8の構成による
製法のように、複数の独立したターゲットを用いる場合
には、それぞれのターゲット寿命を同一にすることが望
ましい。すなわち、光ディスクの成膜可能枚数が両者と
もに同じであれば、ターゲット交換時期を常に同じにで
きるため、成膜装置の停止期間を短くでき、したがって
成膜装置の稼動率を向上できる。
When a plurality of independent targets are used as in the manufacturing method having the configuration of FIG. 5 or FIG. 8, it is desirable that the targets have the same life. In other words, if the number of film-depositable optical disks is the same, the target replacement time can always be the same, so that the stop period of the film-forming apparatus can be shortened and therefore the operating rate of the film-forming apparatus can be improved.

【0065】それぞれのターゲットからの必要な成膜速
度は、基板形状、TS距離、ターゲット形状等によって
異なる。したがって、光ディスクの成膜可能枚数を両者
ともに同じにする(ターゲットの寿命を同じにする)た
めには、それぞれの成膜速度に応じてターゲットの厚み
を調整すればよい。
The required film formation rate from each target differs depending on the substrate shape, the TS distance, the target shape, and the like. Therefore, in order to make both the number of film formations of the optical disk the same (make the life of the target the same), the thickness of the target may be adjusted according to each film formation speed.

【0066】なお、多元の真空蒸着法により例えば図1
0に示したような蒸着源および基板を設置し、成膜する
ことも可能である。例えば中心の蒸着源19に、図3の
点Jの組成材料、中心から離れた蒸着源20に点Iの組
成材料を設置し、同時蒸着により成膜して、内周から外
周にかけて結晶化速度が遅くなる光ディスクを作製する
ことが可能である。
By the multi-source vacuum deposition method, for example, as shown in FIG.
It is also possible to install a vapor deposition source and a substrate as shown in FIG. For example, the composition material at the point J in FIG. 3 is placed in the vapor deposition source 19 at the center, and the composition material at the point I is placed at the vapor deposition source 20 distant from the center. It is possible to manufacture an optical disc in which the delay is delayed.

【0067】しかし、前述のように、真空蒸着法はスパ
ッタ法に比べて薄膜の付着強度が小さく、また成膜時の
蒸着源での突沸等による基板上異物ができ易いといった
課題に加えて、蒸着源は一般的には点であり、基板上の
組成と膜厚を中心に対して等方的にするには、基板を回
転する必要がある。特に、量産時等に短時間で成膜する
場合には、高速での回転が必要となり、実用的でない。
However, as described above, in addition to the problems that the vacuum vapor deposition method has a lower adhesion strength of the thin film than the sputtering method and that foreign substances are easily formed on the substrate due to bumping or the like at the vapor deposition source during film formation, The vapor deposition source is generally a point, and it is necessary to rotate the substrate to make the composition and film thickness on the substrate isotropic with respect to the center. In particular, when a film is formed in a short time during mass production, high speed rotation is required, which is not practical.

【0068】また、蒸着法で一つの蒸着源から複数の元
素からなる合金を蒸発させる場合、元素による融点や蒸
気圧の違いによって、成膜される元素の比率が蒸発源の
組成と違ったり、時間とともに変化することがあり、こ
の点からも実用的でない。
In the case of evaporating an alloy composed of a plurality of elements from one evaporation source by the evaporation method, the ratio of the elements to be formed may be different from the composition of the evaporation source due to the difference in melting point and vapor pressure depending on the elements. It may change over time and is impractical also in this respect.

【0069】(実施例1)本発明による光ディスクを作
製する前に、記録膜組成と光ディスクの反射率の関係を
求めた。
Example 1 Before producing the optical disc according to the present invention, the relationship between the recording film composition and the reflectance of the optical disc was determined.

【0070】光ディスク構成にした場合の反射率は、1
2×18mmのガラス基板上に図2と同じ構成で成膜
し、成膜直後のアモルファス状態の反射率Raおよび3
00℃で5分間熱処理した結晶状態の反射率Rcを測定
し、反射率差ΔR=Rc−Raを求めた。
The reflectance in the case of the optical disc configuration is 1
A film having the same structure as that shown in FIG. 2 was formed on a 2 × 18 mm glass substrate, and reflectances Ra and 3 in an amorphous state immediately after the film formation were measured.
The reflectance Rc in the crystalline state which was heat-treated at 00 ° C. for 5 minutes was measured to obtain the reflectance difference ΔR = Rc−Ra.

【0071】誘電体層の材料は、第1の誘電体層、第2
の誘電体層ともにSiO2を20mol%添加したZn
Sであり、また反射層の材料はAlである。各膜厚は、
第1の誘電体層が174nm、記録膜厚が30nm、第
2の誘電体層が23nm、反射層厚が100nmであ
る。また、測定波長は780nmである。
The material of the dielectric layer is the first dielectric layer and the second dielectric layer.
Zn with 20 mol% of SiO 2 added to both dielectric layers
S, and the material of the reflective layer is Al. Each film thickness is
The first dielectric layer is 174 nm, the recording film thickness is 30 nm, the second dielectric layer is 23 nm, and the reflective layer thickness is 100 nm. The measurement wavelength is 780 nm.

【0072】このようにして薄膜構成を同一にして、記
録膜組成を図1のA,B,C,Dで囲まれた領域の近傍
で種々変化させ、記録膜組成と光ディスクの反射率との
関係を求めた。なお、成膜はすべてスパッタリング法で
行った。
Thus, the recording film composition is changed in the vicinity of the area surrounded by A, B, C, and D in FIG. 1 with the same thin film structure, and the recording film composition and the reflectance of the optical disk are changed. Sought a relationship. Note that all film formation was performed by a sputtering method.

【0073】図11にその結果を示す。図中では光ディ
スク構造にした時の反射率差ΔRの組成比依存性を等高
線で示した。前出の図13では、GeTeとSb2Te3
とを結ぶライン上で組成を変化させると、結晶化速度が
変化することが示されているが、図11からは、光ディ
スクとしての反射率変化量ΔRも大きく変化してしまう
ことが分かる。
FIG. 11 shows the result. In the figure, the contour line shows the composition ratio dependence of the reflectance difference ΔR when the optical disc structure is formed. In FIG. 13 described above, GeTe and Sb 2 Te 3 are used.
Although it is shown that the crystallization speed changes when the composition is changed on the line connecting the and, it can be seen from FIG. 11 that the reflectance change amount ΔR of the optical disc also largely changes.

【0074】これに対して、GeTeとSb2Te3を結
ぶライン上の任意の点の組成に、さらにSbを添加した
場合には、ΔRはほとんど変化しないことが分かる。す
なわち、ΔRを変化させることなく、図13のように結
晶化速度のみを変化させることが可能となる。
On the other hand, when Sb is further added to the composition at an arbitrary point on the line connecting GeTe and Sb 2 Te 3 , ΔR hardly changes. That is, it is possible to change only the crystallization speed as shown in FIG. 13 without changing ΔR.

【0075】ただし、Sb量が多すぎると、図13から
わかるように、結晶化時間が長くなる。前出のJapanese
Journal of Applied Physics, Vol.26 (1987) Suppl
ement 26-4,p61に記載の方法と同じ方法で、結晶化速
度を測定した結果、図1の直線CDより右の領域、すな
わち、Teが45%より少ない領域では、結晶化時間は
1μsを超えてしまい、光ディスクの記録材料としては
不適となることがわかった。
However, if the amount of Sb is too large, as can be seen from FIG. 13, the crystallization time becomes long. Japanese mentioned above
Journal of Applied Physics, Vol.26 (1987) Suppl
As a result of measuring the crystallization rate by the same method as described in ement 26-4, p61, the crystallization time is 1 μs in the area on the right side of the straight line CD in FIG. 1, that is, the area where Te is less than 45%. It has been found that it exceeds the limit and is unsuitable as a recording material for optical discs.

【0076】なお、図11においてSb2Te3近傍の組
成ではΔRが小さいが、これは薄膜構成が記録膜の複素
屈折率変化に適合していないためである。つまり各薄膜
の膜厚を最適化することで、ΔRを例えば20%以上の
大きな値にすることが可能である(ただしその場合Ge
Te近傍の組成ではΔRは小さくなる)。すなわち、例
えば点BからさらにSbを添加した点Cにかけて組成を
変化させた場合でも、光ディスク構成を最適化すれば光
ディスクの全領域でΔRを20%以上にでき、良好な信
号品質が得られる。
In FIG. 11, ΔR is small in the composition near Sb 2 Te 3, but this is because the thin film structure does not match the change in the complex refractive index of the recording film. That is, by optimizing the film thickness of each thin film, it is possible to make ΔR a large value of, for example, 20% or more (in this case, Ge).
ΔR becomes smaller in the composition near Te). That is, for example, even when the composition is changed from the point B to the point C where Sb is further added, if the optical disc configuration is optimized, ΔR can be set to 20% or more in the entire region of the optical disc, and good signal quality can be obtained.

【0077】なお、内周から外周にかけてGeTeとS
2Te3とを結ぶライン上で組成を変化させて結晶化速
度を変える場合でも、薄膜の膜厚も内周から外周にかけ
て変化させれば、全領域において大きな反射率変化が得
られるが、薄膜の膜厚を一つの光ディスク内で変化させ
るのは量産性を考えた場合困難である。
From the inner circumference to the outer circumference, GeTe and S
Even when the composition is changed on the line connecting b 2 Te 3 to change the crystallization rate, if the film thickness of the thin film is also changed from the inner circumference to the outer circumference, a large reflectance change can be obtained in the entire region. It is difficult to change the film thickness of the thin film within one optical disk in view of mass productivity.

【0078】また、図13からわかる様に、GeTeと
Sb2Te3とのライン上の組成から離れるほど結晶化速
度は遅くなる。従って、GeTeとSb2Te3とのライ
ン上の任意の組成点からGeとSbの組成比を同じにし
て、光ディスクの内周と外周でTeの濃度を変えること
でも、内周と外周とで結晶化速度を変えることができ
る。しかし、この場合は図11から分かるように、Te
濃度変化による光学定数変化が大きく、内周と外周とで
反射率が大きく変わってしまうため良くない。
Further, as can be seen from FIG. 13, the crystallization rate becomes slower as the distance from the composition on the line between GeTe and Sb 2 Te 3 increases. Therefore, even if the composition ratio of Ge and Sb is made the same from an arbitrary composition point on the line of GeTe and Sb 2 Te 3 and the concentration of Te is changed between the inner circumference and the outer circumference of the optical disk, The crystallization rate can be changed. However, in this case, as shown in FIG.
This is not good because the optical constant changes greatly due to the density change, and the reflectance changes greatly between the inner circumference and the outer circumference.

【0079】(実施例2)次に、GeSbTe3元合金
に、さらに他の元素を添加した場合における、添加元素
の量と、反射率差ΔRおよび結晶化時間の関係を求め
た。ΔRを求めた場合のサンプル構成および測定方法は
実施例1と同様であり、また結晶化時間の求め方は前出
のJapanese Journal of Applied Physics, Vol.26 (19
87) Supplement 26-4,p61に記載の方法と同じであ
る。
(Example 2) Next, in the case where another element was added to the GeSbTe ternary alloy, the relationship between the amount of the added element, the reflectance difference ΔR, and the crystallization time was determined. The sample configuration and the measuring method for obtaining ΔR are the same as in Example 1, and the method for obtaining the crystallization time is as described above in Japanese Journal of Applied Physics, Vol. 26 (19).
87) Same as the method described in Supplement 26-4, p61.

【0080】(表1)に、GeSbTe3元合金の組成
として図3の点Hの組成を選択し、それに他の元素を添
加した場合の結果を示す。表からわかるように、GeS
bTe3元合金にPd,Co,Seを添加すると全ての
場合、結晶化速度が遅くなるのが分かる。ただし、添加
量が20%を超えると結晶化時間が1μsを超えたり、
あるいは反射率差ΔRが小さくなったりするため、添加
量は20%以下がよい。
Table 1 shows the results when the composition of point H in FIG. 3 was selected as the composition of the GeSbTe ternary alloy and other elements were added to it. As you can see from the table, GeS
It can be seen that the addition of Pd, Co, and Se to the bTe ternary alloy slows down the crystallization rate in all cases. However, if the addition amount exceeds 20%, the crystallization time exceeds 1 μs,
Alternatively, since the reflectance difference ΔR may be small, the addition amount is preferably 20% or less.

【0081】なお、添加元素としては他にNi,Tl,
In,Au,Cr,Agを用いても同様の結果となっ
た。また、複数の元素を同時に添加してもよい。
Incidentally, as additional elements, other elements such as Ni, Tl,
Similar results were obtained using In, Au, Cr and Ag. Also, a plurality of elements may be added at the same time.

【0082】また、Ge,Sb,Teの組成として点H
以外の図1のA,B,C,Dで囲まれた領域の他の組成
を用いても、同様に反射率差ΔRをほとんど変化させる
ことなく結晶化速度を遅くできることが分かった。
Further, as the composition of Ge, Sb, and Te, the point H
It has been found that the crystallization speed can be slowed with almost no change in the reflectance difference ΔR by using other compositions in the region surrounded by A, B, C, and D in FIG. 1 other than the above.

【0083】[0083]

【表1】 [Table 1]

【0084】(実施例3)図4の構成のスパッタ装置に
より光ディスクを作製して記録消去特性を測定した。内
側ターゲットのサイズは外径66mm(直径)、内径3
4mm、厚さ6mm、外側ターゲットのサイズは外径1
42mm、内径108mm、厚さ6mmである。ターゲ
ット組成は、内側が図3の点Jの組成、外側が図3の点
Iの組成である。内側ターゲットと外側ターゲットと
は、スパッタパワーを独立して制御することが可能であ
る。
(Embodiment 3) An optical disk was produced by the sputtering apparatus having the structure shown in FIG. 4 and the recording / erasing characteristics were measured. Inner target size is outer diameter 66mm (diameter), inner diameter 3
4 mm, thickness 6 mm, outer target size is outer diameter 1
42 mm, inner diameter 108 mm, and thickness 6 mm. The inside of the target composition is the composition of point J in FIG. 3, and the outside is the composition of point I in FIG. The sputtering power of the inner target and the outer target can be controlled independently.

【0085】基板は、信号記録用のトラックを設けた直
径123mmのポリカーボネイト基板であり、ターゲッ
ト上35mmの位置で静止対向している。基板上には予
め誘電体層のZnS−SiO2が174nm成膜してあ
る。
The substrate is a polycarbonate substrate having a diameter of 123 mm provided with a signal recording track, and is stationary and opposed at a position of 35 mm above the target. On the substrate, ZnS—SiO 2 as a dielectric layer is formed in advance with a thickness of 174 nm.

【0086】真空室11の内部を3×10-7Torrま
で排気系13で排気後、ガス導入口12からArガスを
導入して3mTorrのガス圧のもとで、2つのターゲ
ットからの同時スパッタリングにより、基板上に記録膜
厚を30nm成膜した。その後、ZnS−SiO2を2
3nm、反射層としてAlを100nm成膜した。さら
に、その上にUV樹脂をオーバーコートし、光ディスク
とした。また、記録膜はスパッタリング後はアモルファ
ス状態であるため、レーザー照射によって全面結晶化し
て光ディスクを初期化した。これを光ディスク1とす
る。
After exhausting the inside of the vacuum chamber 11 to 3 × 10 -7 Torr by the exhaust system 13, Ar gas is introduced from the gas inlet 12 and simultaneous sputtering from two targets is performed under a gas pressure of 3 mTorr. Thus, a recording film having a thickness of 30 nm was formed on the substrate. After that, ZnS-SiO 2 is added to 2
A film having a thickness of 3 nm and Al having a thickness of 100 nm was formed as a reflective layer. Further, a UV resin was overcoated thereon to form an optical disc. Since the recording film was in an amorphous state after sputtering, the entire surface was crystallized by laser irradiation to initialize the optical disk. This is an optical disc 1.

【0087】なお、記録膜の組成を光ディスク1と同一
条件で成膜した場合、信号記録の最内周領域である半径
25mm近傍で図3の点Hの組成、最外周領域である半
径60mm近傍で図3の点Gの組成であることをICP
分析法で確認した。
When the composition of the recording film is formed under the same conditions as those of the optical disk 1, the composition at the point H in FIG. 3 is around the radius 25 mm which is the innermost peripheral area of the signal recording, and the radius is around 60 mm which is the outermost peripheral area. ICP that the composition of point G in FIG.
Confirmed by analytical method.

【0088】ここで、比較例として上記光ディスク1と
同じ構成で、記録膜組成だけが異なる3種類の光ディス
クを作製した。光ディスク2は記録膜組成が全領域にお
いて光ディスク1の最内周と同じ点Hの組成であり、光
ディスク3は記録膜組成が全領域において光ディスク1
の最外周と同じ点Gの組成である。また、光ディスク4
は、記録膜組成が全領域において、点Hの組成と点Gの
組成との中間である点Kの組成である。
As comparative examples, three types of optical discs having the same structure as the above-mentioned optical disc 1 but having different recording film compositions were produced. The optical disc 2 has a recording film composition in the entire region at the same point H as the innermost circumference of the optical disc 1, and the optical disc 3 has the recording film composition in the entire region in the optical disc 1
The composition of the point G is the same as that of the outermost circumference. Also, the optical disc 4
Is the composition at point K, which is intermediate between the composition at point H and the composition at point G in the entire area of the recording film composition.

【0089】作製した光ディスク1〜4を波長780n
m、対物レンズの開口数(NA)0.55の記録再生装置
で、記録再生特性を測定した。
The produced optical discs 1 to 4 were recorded at a wavelength of 780n.
The recording / reproducing characteristics were measured with a recording / reproducing apparatus having an objective lens numerical aperture (NA) of 0.55.

【0090】信号の記録再生評価は、以下の手順で行な
った。光ディスクを記録再生装置に設置し、スピンドル
モータを1800rpm一定で回転させて、半導体レー
ザーからの光ビームを光学系により、微小な光スポット
として記録薄膜層に照射し、フォーカスおよびトラッキ
ング制御をかけた。
The recording / reproducing evaluation of signals was carried out by the following procedure. The optical disk was installed in a recording / reproducing apparatus, the spindle motor was rotated at 1800 rpm constant, and a light beam from a semiconductor laser was irradiated to a recording thin film layer as a minute light spot by an optical system to perform focus and tracking control.

【0091】最初に半径25mmの位置で周波数f1
(0.785MHz)とf2(0.589MHz)との
信号をともに、デューティ50%で交互に20回オーバ
ーライトし、f1のCNR(信号対雑音比)と、f1の
上にf2をオーバーライトした場合のf1成分の消去率
とを求めた。なお、測定は、CNRが飽和する記録パワ
ーと、最大の消去率が得られる消去パワーとで行った。
また、このときの線速度は4.71m/sであり、記録
マーク長はf1のとき3.0μm、f2のとき4.0μmで
ある。
First, at a position with a radius of 25 mm, the frequency f1
Both the signals of (0.785 MHz) and f2 (0.589 MHz) are alternately overwritten 20 times with a duty of 50%, and the CNR (signal to noise ratio) of f1 and f2 are overwritten on f1. In this case, the erasing rate of the f1 component was calculated. The measurement was performed with the recording power at which the CNR was saturated and the erasing power at which the maximum erasing rate was obtained.
The linear velocity at this time is 4.71 m / s, and the recording mark length is 3.0 μm at f1 and 4.0 μm at f2.

【0092】次に、半径60mmの位置で周波数f3
(1.885MHz)とf4(1.414MHz)との
信号をともに、デューティ50%で交互に20回オーバ
ーライトし、f3のCNRと、f3の上にf4をオーバ
ーライトした場合のf3成分の消去率とを求めた。この
ときの線速度は11.31m/sであり、記録マーク長
はf3のとき3.0μm、f4のとき4.0μmであり、半
径25mmの場合と同じである。
Next, at a position with a radius of 60 mm, the frequency f3
(1.885 MHz) and f4 (1.414 MHz) signals are alternately overwritten 20 times with a duty of 50% to erase the CNR of f3 and the f3 component when f4 is overwritten on f3. I asked for the rate. The linear velocity at this time is 11.31 m / s, the recording mark length is 3.0 μm at f3 and 4.0 μm at f4, which is the same as the case of the radius of 25 mm.

【0093】測定結果を(表2)に示す。本発明による
光ディスク1では、最内周、最外周ともに良好な記録・
消去特性が得られることが分かる。これに対し、光ディ
スク2では結晶化速度が遅いため、外周で充分な消去率
が得られていないことが分かる。光ディスク3では内周
においてCNRが非常に小さい。これは、結晶化速度が
速いため、線速度の遅い内周では、充分な大きさのアモ
ルファスの記録マークが得られないためと考えられる。
また、光ディスク4では結晶化速度が内周では速すぎ、
外周では遅すぎるために、内周のCNR低下と外周の消
去不足が観察される。
The measurement results are shown in (Table 2). In the optical disc 1 according to the present invention, good recording is achieved on both the innermost circumference and the outermost circumference.
It can be seen that erase characteristics can be obtained. On the other hand, it is understood that the optical disk 2 has a slow crystallization rate, and thus a sufficient erasing rate cannot be obtained at the outer periphery. In the optical disc 3, the CNR is very small in the inner circumference. It is considered that this is because the crystallization speed is high, and thus an amorphous recording mark of a sufficient size cannot be obtained at the inner circumference where the linear velocity is low.
In addition, the crystallization speed of the optical disk 4 is too high at the inner circumference,
Since the outer circumference is too slow, a decrease in CNR on the inner circumference and insufficient erasure on the outer circumference are observed.

【0094】すなわち、本発明による光ディスクによっ
て、初めて最内周から最外周まで良好な記録消去特性が
得られることが分かる。
That is, it is understood that the optical disc according to the present invention can obtain good recording / erasing characteristics from the innermost circumference to the outermost circumference for the first time.

【0095】なお、記録膜の複素屈折率が内周と外周で
差が小さいため、反射光変化ΔRが内外周ほぼ同じであ
り、結果として内外周ともに良好なCNRが得られてい
る。
Since the difference in the complex refractive index of the recording film between the inner circumference and the outer circumference is small, the reflected light change ΔR is substantially the same, and as a result, good CNR is obtained for both the inner circumference and the outer circumference.

【0096】[0096]

【表2】 [Table 2]

【0097】(実施例4)基板およびターゲットを図9
に示した構成のスパッタ装置により、光ディスクを作製
し記録消去特性を測定した。
Example 4 A substrate and a target are shown in FIG.
An optical disk was produced by the sputtering apparatus having the configuration shown in and the recording / erasing characteristics were measured.

【0098】ターゲットサイズは直径200mmであ
り、直径80mmのところで同心円状に2分割されてい
る。ターゲット組成は、内側が図3の点Mの組成、外側
が図3の点Lの組成である。スパッタリング時には、放
電によるエロージョン領域がターゲットの内側と外側の
両領域を被うため、ターゲットの内側領域と外側領域と
からそれぞれの組成が同時にスパッタリングされる。
The target size is 200 mm in diameter, and is divided into two concentric circles at a diameter of 80 mm. The inside of the target composition is the composition of the point M in FIG. 3, and the outside is the composition of the point L in FIG. At the time of sputtering, since the erosion region due to discharge covers both the inside and outside regions of the target, the respective compositions are simultaneously sputtered from the inside region and outside region of the target.

【0099】なお、光ディスクの基板形状、記録膜組成
以外の薄膜構成、各薄膜の膜厚、成膜条件、初期化方法
はすべて実施例3と同じとした。また、記録膜成膜の場
合、基板はターゲット上40mmの位置で静止対向して
いる。本願発明によるこの光ディスクを光ディスク5と
する。
The substrate shape of the optical disk, the thin film structure other than the recording film composition, the film thickness of each thin film, the film forming conditions, and the initialization method were all the same as in Example 3. Further, in the case of recording film formation, the substrate is stationary and opposed at a position of 40 mm above the target. This optical disk according to the present invention will be referred to as an optical disk 5.

【0100】なお、記録膜の組成は光ディスク5と同一
条件で成膜した場合、信号記録の最内周領域である半径
25mm近傍で図3の点Hの組成、最外周領域である半
径60mm近傍で図3の点Gの組成であることをICP
分析法で確認した。
When the composition of the recording film is formed under the same conditions as the optical disk 5, the composition of the point H in FIG. 3 is around the radius of 25 mm which is the innermost peripheral area of the signal recording, and the radius of around 60 mm is the outermost area. ICP that the composition of point G in FIG.
Confirmed by analytical method.

【0101】作製した光ディスク5の記録消去特性を、
実施例3と同じ評価装置および評価条件で測定した。そ
の結果、光ディスク5では最内周でCNRが59.8d
B、消去率が−31.9dBであり、また最外周ではC
NRが60.5dB、消去率が−31.0dBとなっ
た。すなわち、光ディスク1と同様に、最内周、最外周
ともに良好な記録・消去特性が得られることが分かる。
The recording / erasing characteristics of the optical disk 5 thus produced are
The measurement was performed using the same evaluation device and evaluation conditions as in Example 3. As a result, the optical disk 5 has a CNR of 59.8d at the innermost circumference.
B, the erasure rate is -31.9 dB, and C is the outermost circumference.
The NR was 60.5 dB and the erasing rate was -31.0 dB. That is, like the optical disc 1, it can be seen that good recording / erasing characteristics can be obtained at both the innermost circumference and the outermost circumference.

【0102】(実施例5)本発明との比較例として光デ
ィスクの内周で図3の点Eの組成、外周で図3の点Fの
組成を有する光ディスク6を作製した。光ディスクの基
板、薄膜構成は実施例3と同じである。
Example 5 As a comparative example with the present invention, an optical disk 6 having the composition of point E in FIG. 3 on the inner circumference and the composition of point F in FIG. 3 on the outer circumference was produced. The substrate and thin film structure of the optical disk are the same as those in the third embodiment.

【0103】作製した光ディスクの評価方法は実施例3
に準ずるが、光ディスク6は光ディスク1に比べて記録
膜の結晶化速度が速いため、光ディスクの回転数を24
00rpmとし、実施例3の場合の約1.33で回転さ
せた。そして周波数f1〜f4も1.33倍し、記録さ
れるマーク長を実施例3の場合と同じにした。
The evaluation method of the manufactured optical disc is described in Example 3.
However, since the optical disc 6 has a faster crystallization speed of the recording film than the optical disc 1, the optical disc rotation speed is 24
The rotation speed was set to 00 rpm, and rotation was performed at about 1.33 in the case of Example 3. The frequencies f1 to f4 are also multiplied by 1.33 to make the recorded mark length the same as in the third embodiment.

【0104】測定の結果、光ディスク6では最内周でC
NRが62.5dB、消去率が−32.7dBであり、
また最外周ではCNRが52.3dB、消去率が−3
1.1dBとなった。内周から外周にかけて結晶化速度
が速くなるため、最内周、最外周ともに良好な消去特性
が得られる。しかしながら、CNRは最内周では良好で
あるが、最外周においてCNRが小さいのがわかる。顕
微鏡観察の結果、最外周でも充分大きなアモルファスの
記録マークが形成されていた。したがって、最外周でC
NRが小さい原因は反射率変化ΔRが小さいことによる
ものと考えられる。
As a result of the measurement, the optical disc 6 has a C at the innermost circumference.
NR is 62.5 dB, erasure rate is -32.7 dB,
At the outermost circumference, the CNR is 52.3 dB and the erase rate is -3.
It became 1.1 dB. Since the crystallization speed increases from the inner circumference to the outer circumference, good erasing characteristics can be obtained at both the innermost circumference and the outermost circumference. However, it can be seen that the CNR is good at the innermost circumference, but is small at the outermost circumference. As a result of microscopic observation, a sufficiently large amorphous recording mark was formed even at the outermost periphery. Therefore, C at the outermost circumference
It is considered that the reason why the NR is small is that the reflectance change ΔR is small.

【0105】なお、本明細書で用いた各組成を現わすA
〜Mの各点のat%で表示した具体的組成は、 A:(Ge,Sb,Te)=(50, 0,50) B:(Ge,Sb,Te)=( 0,40,60) C:(Ge,Sb,Te)=( 0,55,45) D:(Ge,Sb,Te)=(45,10,45) E:(Ge,Sb,Te)=(35,12,53) F:(Ge,Sb,Te)=( 7,35,58) G:(Ge,Sb,Te)=(22,22,56) H:(Ge,Sb,Te)=(20,29,51) I:(Ge,Sb,Te)=(23,20,57) J:(Ge,Sb,Te)=(19,34,47) K:(Ge,Sb,Te)=(21,26,53) L:(Ge,Sb,Te)=(23,19,58) M:(Ge,Sb,Te)=(18,36,46) である。
A representing each composition used in the present specification
The specific composition represented by at% of each point of ~ M is: A: (Ge, Sb, Te) = (50, 0, 50) B: (Ge, Sb, Te) = (0, 40, 60) C: (Ge, Sb, Te) = (0, 55, 45) D: (Ge, Sb, Te) = (45, 10, 45) E: (Ge, Sb, Te) = (35, 12, 53) ) F: (Ge, Sb, Te) = (7, 35, 58) G: (Ge, Sb, Te) = (22, 22, 56) H: (Ge, Sb, Te) = (20, 29, 51) I: (Ge, Sb, Te) = (23,20,57) J: (Ge, Sb, Te) = (19,34,47) K: (Ge, Sb, Te) = (21,26) , 53) L: (Ge, Sb, Te) = (23, 19, 58) M: (Ge, Sb, Te) = (18, 36, 46).

【0106】[0106]

【発明の効果】以上のように本発明の製造方法や製造装
置による光ディスクは、内周から外周にかけて結晶化速
度が速く、かつ内周と外周で再生振幅がほぼ同じである
ため、角速度一定の場合でも光ディスクの全領域におい
て良好な記録消去および再生特性が得られる。従って、
全領域にわたって高品質な信号記録が可能であり、かつ
高速アクセスも実現できる光ディスクを容易に提供でき
る。
As described above, the optical disk produced by the manufacturing method and the manufacturing apparatus of the present invention has a high crystallization speed from the inner circumference to the outer circumference, and the reproduction amplitudes are almost the same on the inner circumference and the outer circumference, so that the angular velocity is constant. Even in this case, good recording / erasing and reproducing characteristics can be obtained in the entire area of the optical disc. Therefore,
It is possible to easily provide an optical disc capable of high-quality signal recording over the entire area and realizing high-speed access.

【0107】さらに本発明の光ディスクの製造方法や製
造装置によれば、上記高パフォーマンスの光ディスク
を、再現性よくかつ高速に作製することが可能になる。
Further, according to the optical disk manufacturing method and manufacturing apparatus of the present invention, it becomes possible to manufacture the above high performance optical disk with good reproducibility and at high speed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の光ディスクの記録膜組成の領域を示す
Ge,Sb,Teの3元合金組成図
FIG. 1 is a Ge, Sb, Te ternary alloy composition diagram showing a region of a recording film composition of an optical disc of the present invention.

【図2】本発明の光ディスクの断面構造を示す図FIG. 2 is a diagram showing a cross-sectional structure of an optical disc of the present invention.

【図3】実施例で採用したターゲットおよび記録膜の組
成を表わすGe,Sb,Teの3元合金組成図
FIG. 3 is a Ge, Sb, Te ternary alloy composition diagram showing the composition of the target and the recording film adopted in the examples.

【図4】本発明による光ディスクの製造方法を実現する
スパッタ装置の一例の構成図
FIG. 4 is a configuration diagram of an example of a sputtering apparatus that realizes the optical disc manufacturing method according to the present invention.

【図5】図4のスパッタ装置の基板とターゲットの位置
関係を示す見取図
5 is a schematic diagram showing a positional relationship between a substrate and a target of the sputtering apparatus of FIG.

【図6】図4のスパッタ装置で成膜した場合の成膜速度
の分布を示す図
FIG. 6 is a diagram showing a distribution of film formation rates when a film is formed by the sputtering apparatus of FIG.

【図7】図4のスパッタ装置で成膜した場合の光ディス
クの半径方向の組成分布を示す図
7 is a diagram showing the composition distribution in the radial direction of the optical disc when a film is formed by the sputtering apparatus of FIG.

【図8】本発明による光ディスクの製造方法を実現する
異なる態様のスパッタ装置の基板とターゲットの位置関
係を示す見取図
FIG. 8 is a schematic diagram showing a positional relationship between a substrate and a target of a sputtering apparatus of a different mode for realizing the optical disc manufacturing method according to the present invention.

【図9】本発明による光ディスクの製造方法を実現する
さらに異なる態様のスパッタ装置の基板とターゲットの
位置関係を示す見取図
FIG. 9 is a schematic diagram showing a positional relationship between a substrate and a target of a sputtering apparatus of still another aspect for realizing the optical disc manufacturing method according to the present invention.

【図10】本発明による光ディスクを同時蒸着法で製造
する場合の蒸着装置を示す図
FIG. 10 is a diagram showing a vapor deposition apparatus when an optical disc according to the present invention is manufactured by a simultaneous vapor deposition method.

【図11】光ディスクの反射率変化ΔRと記録膜組成の
関係を示す図
FIG. 11 is a diagram showing a relationship between a reflectance change ΔR of an optical disc and a recording film composition.

【図12】特願平1−184510に於ける光ディスク
の製造方法を示す図
FIG. 12 is a diagram showing a method for manufacturing an optical disc in Japanese Patent Application No. 1-184510.

【図13】Ge,Sb,Teの3元合金からなる記録膜
組成と結晶化速度の関係を示す図
FIG. 13 is a diagram showing the relationship between the composition of a recording film made of a ternary alloy of Ge, Sb, and Te and the crystallization rate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 第1の誘電体層 3 記録膜 4 第2の誘電体層 5 反射膜 6 保護カバー 7 内側ターゲット 8 外側ターゲット 9 基板 10 中心軸 11 真空室 12 ガス導入口 13 排気系 14 円盤状ターゲット 15 リング状ターゲット 1 substrate 2 First dielectric layer 3 recording film 4 Second dielectric layer 5 Reflective film 6 Protective cover 7 Inside target 8 outer target 9 substrates 10 central axis 11 vacuum chamber 12 gas inlet 13 Exhaust system 14 Disc target 15 ring target

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G11B 7/24 522 B41M 5/26 X (72)発明者 長田 憲一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 赤平 信夫 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 横山 政秀 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 早田 博 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 2H111 EA04 EA23 FB05 FB09 FB12 FB15 FB16 FB17 FB21 FB23 4K029 BA21 BB02 BC07 BD12 CA05 DC04 DC15 5D029 JA01 JB18 JB37 5D121 AA01 EE03 EE10 EE14 EE18 EE19 EE30 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) G11B 7/24 522 B41M 5/26 X (72) Inventor Kenichi Nagata 1006 Kadoma, Kadoma-shi, Osaka Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Nobuo Akabira No. 1006 Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Inventor Masahide Yokoyama 1006 Kadoma, Kadoma City, Osaka Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Person Hiroshi Hayada 1006 Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. F term (reference) 2H111 EA04 EA23 FB05 FB09 FB12 FB15 FB16 FB17 FB21 FB23 4K029 BA21 BB02 BC07 BD12 CA05 DC04 DC15 5D029 JA01 J18 A01 J18A5 EE18 EE19 EE30

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光の照射によって光学的に識別可能な状
態間で変化する記録膜を有する光ディスクの製造方法で
あって、 それぞれが同じ構成元素を含み前記構成元素の組成が異
なる複数のリング状ターゲットを同心軸に配置し、 前記複数のリング状ターゲットの中心軸が、基板の中心
軸と一致するように前記基板を設置し、 前記基板上に前記記録膜を成膜する場合に、前記基板上
での成膜速度が均一になるように前記複数のリング状タ
ーゲットの各々に投入されるスパッタパワーを独立制御
してスパッタリングを行うことを特徴とする光ディスク
の製造方法。
1. A method for manufacturing an optical disc having a recording film that changes between optically distinguishable states by irradiation with light, wherein a plurality of ring-shaped optical elements each containing the same constituent element and different in composition of the constituent element. The targets are arranged concentrically, and the substrates are set so that the central axes of the plurality of ring-shaped targets coincide with the central axes of the substrates, and the substrate is formed when the recording film is formed on the substrates. A method for manufacturing an optical disk, characterized in that sputtering is performed by independently controlling the sputtering power supplied to each of the plurality of ring-shaped targets so that the above film formation rate becomes uniform.
【請求項2】 前記複数のリング状ターゲットは、それ
ぞれGe、Sb、Teの3元素を含み、GeとTeとの
組成比が同じで、Ge量よりTe量の方が多く、外側に
配置するターゲットほどSb量が少ないことを特徴とす
る請求項1に記載の光ディスクの製造方法。
2. The plurality of ring-shaped targets each include three elements of Ge, Sb, and Te, have the same composition ratio of Ge and Te, and have a larger amount of Te than the amount of Ge and are arranged outside. The optical disc manufacturing method according to claim 1, wherein the target has a smaller amount of Sb.
【請求項3】 前記複数のリング状ターゲットのGeと
Teとの組成比が、2:5であることを特徴とする請求
項2記載の光ディスクの製造方法。
3. The method of manufacturing an optical disk according to claim 2, wherein the composition ratio of Ge and Te of the plurality of ring-shaped targets is 2: 5.
【請求項4】 前記複数のリング状ターゲットは前記3
元素以外の添加元素を含み、内側に配置するターゲット
より外側に配置するターゲットの方が、前記添加元素の
添加量が少ないことを特徴とする請求項1に記載の光デ
ィスクの製造方法。
4. The plurality of ring-shaped targets are the three targets.
2. The method of manufacturing an optical disc according to claim 1, wherein a target that includes an additional element other than the element and that is disposed outside the target that is disposed inside has a smaller amount of the additive element added.
【請求項5】 前記添加元素が、Pd,Co,Ni,T
l,Se,In,Au,Ag,Crの少なくとも1つで
あることを特徴とする請求項4記載の光ディスクの製造
方法。
5. The additive element is Pd, Co, Ni, T
5. The method for manufacturing an optical disc according to claim 4, wherein the method is at least one of 1, Se, In, Au, Ag, and Cr.
【請求項6】 光の照射によって光学的に識別可能な状
態間で変化する記録膜を有する光ディスクの製造方法で
あって、 それぞれが同じ構成元素を含み前記構成元素の組成が異
なる円盤状ターゲットとリング状ターゲットを同心軸に
配置し、 前記円盤状ターゲットの中心軸が、基板の中心軸と一致
するように前記基板を設置し、 前記基板上に前記記録膜を成膜する場合に、前記基板上
での成膜速度が均一になるように前記円盤状ターゲット
と前記リング状ターゲットの各々に投入されるスパッタ
パワーを独立制御してスパッタリングを行うことを特徴
とする光ディスクの製造方法。
6. A method of manufacturing an optical disc having a recording film which changes between optically distinguishable states by irradiation of light, comprising a disk-shaped target each containing the same constituent element and different in composition of the constituent element. A ring-shaped target is arranged concentrically, the central axis of the disk-shaped target is placed on the substrate so as to match the central axis of the substrate, and the substrate is formed when the recording film is formed on the substrate. A method for manufacturing an optical disk, wherein sputtering is performed by independently controlling the sputtering power supplied to each of the disk-shaped target and the ring-shaped target so that the above film formation rate becomes uniform.
【請求項7】 前記円盤状ターゲットおよび前記リング
状ターゲットは、それぞれGe、Sb、Teの3元素を
含み、GeとTeとの組成比が同じで、Ge量よりTe
量の方が多く、外側に配置するターゲットほどSb量が
少ないことを特徴とする請求項6に記載の光ディスクの
製造方法。
7. The disk-shaped target and the ring-shaped target each contain three elements of Ge, Sb, and Te, and have the same composition ratio of Ge and Te, and the Te content is higher than the Te content.
7. The method for manufacturing an optical disc according to claim 6, wherein the amount of Sb is larger and the Sb amount is smaller as the target is arranged outside.
【請求項8】 前記円盤状ターゲットおよび前記リング
状ターゲットのGeとTeとの組成比が、2:5である
ことを特徴とする請求項7記載の光ディスクの製造方
法。
8. The method of manufacturing an optical disk according to claim 7, wherein the composition ratio of Ge and Te of the disk-shaped target and the ring-shaped target is 2: 5.
【請求項9】 前記円盤状ターゲットおよび前記リング
状ターゲットは前記3元素以外の添加元素を含み、内側
に配置するターゲットより外側に配置するターゲットの
方が、前記添加元素の添加量が少ないことを特徴とする
請求項6に記載の光ディスクの製造方法。
9. The disk-shaped target and the ring-shaped target contain an additive element other than the three elements, and the target placed outside has a smaller addition amount of the additive element than the target placed inside. 7. The method for manufacturing an optical disc according to claim 6, wherein the optical disc is manufactured.
【請求項10】 前記添加元素が、Pd,Co,Ni,
Tl,Se,In,Au,Ag,Crの少なくとも1つ
であることを特徴とする請求項9記載の光ディスクの製
造方法。
10. The additive element is Pd, Co, Ni,
10. The method for manufacturing an optical disc according to claim 9, wherein the optical disc is at least one of Tl, Se, In, Au, Ag, and Cr.
【請求項11】 光の照射によって光学的に識別可能な
状態間で変化する記録膜を基板上に有する光ディスクの
製造装置であって、 それぞれが同じ構成元素を含み前記構成元素の組成が異
なる複数のリング状ターゲットと、 スパッタリングにより前記基板上に前記記録膜を成膜す
る場合に、前記基板上での成膜速度が均一になるように
前記複数のリング状ターゲットの各々に投入されるスパ
ッタパワーを独立制御する制御手段と、を備えた光ディ
スクの製造装置。
11. A manufacturing apparatus for an optical disc having a recording film on a substrate, which changes between optically distinguishable states by irradiation of light, wherein a plurality of optical discs each contain the same constituent element and have different compositions of the constituent elements. And a sputtering power applied to each of the plurality of ring-shaped targets so that the film formation rate on the substrate becomes uniform when the recording film is formed on the substrate by sputtering. An optical disk manufacturing apparatus comprising: a control unit that independently controls the optical disk.
【請求項12】 前記複数のリング状ターゲットは、そ
れぞれGe、Sb、Teの3元素を含み、GeとTeと
の組成比が同じで、Ge量よりTe量の方が多く、外側
に配置するターゲットほどSb量が少ないことを特徴と
する請求項11に記載の光ディスクの製造装置。
12. The plurality of ring-shaped targets each include three elements of Ge, Sb, and Te, have the same composition ratio of Ge and Te, and have a larger amount of Te than the amount of Ge and are arranged outside. The optical disk manufacturing apparatus according to claim 11, wherein the target has a smaller amount of Sb.
【請求項13】 光の照射によって光学的に識別可能な
状態間で変化する記録膜を基板上に有する光ディスクの
製造装置であって、 それぞれが同じ構成元素を含み前記構成元素の組成が異
なる円盤状ターゲット及びリング状ターゲットと、 スパッタリングにより前記基板上に前記記録膜を成膜す
る場合に、前記基板上での成膜速度が均一になるように
前記円盤状ターゲットと前記リング状ターゲットの各々
に投入されるスパッタパワーを独立制御する制御手段
と、を備えた光ディスクの製造装置。
13. A manufacturing apparatus of an optical disc having a recording film on a substrate which changes between optically distinguishable states by irradiation of light, wherein the disks each contain the same constituent element and the composition of the constituent element is different. A ring-shaped target and a ring-shaped target, and when the recording film is formed on the substrate by sputtering, the disk-shaped target and the ring-shaped target are formed so that the film formation rate on the substrate becomes uniform. An optical disc manufacturing apparatus comprising: a control unit that independently controls the sputtering power that is input.
【請求項14】 前記円盤状ターゲットと前記リング状
ターゲットは、それぞれGe、Sb、Teの3元素を含
み、GeとTeとの組成比が同じで、Ge量よりTe量
の方が多く、外側に配置するターゲットほどSb量が少
ないことを特徴とする請求項13に記載の光ディスクの
製造装置。
14. The disk-shaped target and the ring-shaped target each contain three elements of Ge, Sb, and Te, and have the same composition ratio of Ge and Te, and the Te content is larger than the Ge content and is outside. 14. The optical disk manufacturing apparatus according to claim 13, wherein the Sb amount is smaller as the targets are arranged closer to each other.
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