JP2003194953A - 放射線測定プログラム及び放射線測定器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】高エネルギから低エネルギまでの放射線を容易
に測定するための放射線測定プログラム及び放射線測定
器を提供すること。 【解決手段】検出された放射線に対応する放射線の計数
値を複数の放射線エネルギ領域に分割して求めるステッ
プ（ｂ）と、ある放射線エネルギ領域の計数値及び当該
放射線エネルギ領域よりも高位の前記放射線エネルギ領
域の計数値を用いて、当該放射線エネルギ領域の線量を
求めるステップ（１０２）と、を含む処理が実行され
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、放射線測定プログ
ラム及び放射線測定器に関する。

【０００２】

【従来の技術】空間線量率を測定するための放射線測定
器として、Ｓｉなどの半導体を検出素子とするものが使
用されている。このような半導体を用いた測定器におい
ては、ノイズレベルを低下させると共に、静電容量を小
さくして応答性を高めるため、半導体の面積を小さくす
ると共に、半導体の放射線吸収層の層厚さを薄く形成し
ている。このような測定器は、放射線吸収層が薄いた
め、高エネルギの放射線に対する感度が低く、低エネル
ギの放射線に対する感度が高くなる。そこで、上記測定
器においては、検出素子である半導体の放射線検出特性
と、検出対象である放射線のエネルギの高低とに応じて
選択したフィルタを用い、このフィルタの材質や厚みを
変えることにより、エネルギの高低に対する放射線検出
特性を調整している。

【０００３】また、空間線量率を測定するための放射線
測定器として、電離箱も使用されている。この電離箱を
用いた測定器においても、上記のようなフィルタを用い
てエネルギの高低に対する放射線検出特性を調整してい
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ように種々のフィルタを用いて、高エネルギから低エネ
ルギまでの放射線を検出することは、コスト高である上
に、測定器の校正や検出に手間がかかり非効率である。

【０００５】本発明の目的は、高エネルギから低エネル
ギまでの放射線を容易に測定するための放射線測定プロ
グラム及び放射線測定器を提供することである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するため、第１の視点において、放射線の計数値を複
数の放射線エネルギ領域毎に分割し、前記放射線エネル
ギ領域の計数値及び当該放射線エネルギ領域よりも高位
の前記放射線エネルギ領域の計数値を用いて、当該放射
線エネルギ領域の線量を求めるための放射線測定プログ
ラムを提供する。また、本発明は、第２の視点におい
て、放射線エネルギ領域の計数値及び当該放射線エネル
ギ領域よりも高位の放射線エネルギ領域の計数値を用い
て、当該放射線エネルギ領域における放射線の線量を求
める演算手段を有する放射線測定器を提供する。

【０００７】本発明は、演算により、高位のスペクトル
チャンネルに表れる放射線の影響を、低位のスペクトル
チャンネルの計数より排除するための手段を提供する。
したがって、従来のように、検出する放射線のエネルギ
の高低に応じて、所望のエネルギを有する放射線以外を
遮るためのフィルタを交換しなくとも、本発明のプログ
ラムないし測定器を用いることにより、高エネルギ（高
位のスペクトルチャンネル）から低エネルギ（低位のス
ペクトルチャンネル）までに亘って、放射線を容易に測
定することができる。

【０００８】次に、本発明の原理を、半導体を放射線検
出素子として用いる場合について説明する。しかし、本
発明は、下記の説明ないし演算方法に限定されるもので
はない。

【０００９】検出素子として半導体を用いた場合、この
半導体は層厚さが薄いものが用いられるため、検出素子
は基本的に散乱線エネルギのみを検出する。したがっ
て、この検出素子が検出出力するスペクトルパターン
は、指数関数的に単調減少したものとなる。このスペク
トルパターンを、複数のスペクトルチャンネル毎の計数
に変換する。

【００１０】次に、前記乗算によって求められたスペク
トルチャンネル毎の計数において、低位の前記スペクト
ルチャンネルの計数に含まれる、高位の前記スペクトル
チャンネルに表れる放射線の影響を、当該低位のスペク
トルチャンネルの計数より排除する演算を行う。例え
ば、低位のスペクトルチャンネルの計数から、高位のス
ペクトルチャンネルの計数に所定の補正係数を乗算した
ものを差し引くことにより、前記影響を排除する。

【００１１】スペクトルチャンネル毎の補正係数は、既
存の校正装置を用いて、次のように求められる。この校
正装置は、あるスペクトルチャンネルに属するスペクト
ルを有し且つその強度が既知の放射線を放射することが
できるものである。ここで、一例として、スペクトルチ
ャンネル数が３個であり、低位から高位に向かって、Ｃ
Ｈ１，ＣＨ２，ＣＨ３とする。

【００１２】前記校正装置を用いて、ＣＨ３の範疇に属
するスペクトルを有する放射線を測定器に照射する。測
定器は、ＣＨ３のスペクトルと共に散乱線エネルギも検
出するから、ＣＨ３だけでなく、低位のＣＨ２及びＣＨ
１にも計数が表れる。そこで、ＣＨ３の計数と、ＣＨ２
の計数を比較することにより、ＣＨ２の計数に表れるＣ
Ｈ３の計数の影響を示す補正係数（ＣＨ３−２）が求め
られる。同様に、ＣＨ３の計数と、ＣＨ１の計数を比較
することにより、ＣＨ３の計数に表れるＣＨ１の計数の
影響を示す補正係数（ＣＨ３−１）も求められる。同様
に、前記校正装置を用いて、ＣＨ２の範囲のスペクトル
を有する放射線を測定器に照射することにより、ＣＨ１
の計数に表れるＣＨ２の計数の影響を示す補正係数（Ｃ
Ｈ２−１）も求められる。

【００１３】したがって、実測において、本発明の測定
器に、ＣＨ３のスペクトルを有する第１の放射線と、Ｃ
Ｈ２のスペクトルを有する第２の放射線が入射した場
合、ＣＨ３の計数は第１の放射線の入射による計数であ
り、一方、ＣＨ２の計数には、第１の放射線の散乱に起
因する計数と、第２の放射線に起因する計数とが重畳さ
れる。しかし、ＣＨ３の計数と、予め求められている上
記補正係数（ＣＨ３−２）とから、ＣＨ２の計数に含ま
れている第１の放射線の散乱に起因する計数を求めるこ
とができるから、結局、ＣＨ２の真の計数、すなわち、
ＣＨ２の計数における第２の放射線に起因する計数を求
めることができる。このようにして、本発明によれば、
放射線を簡易な手法により正確に測定することができ
る。測定結果を所望の単位で報告することができる。

【００１４】次に、測定結果（スペクトルチャネル毎の
計数）を、所定の単位、例えば、放射線が生体組織に与
える影響を示す、線量率に換算して表す場合について説
明する。すなわち、スペクトルチャンネル（エネルギ）
の高低により、放射線が生体組織に与える影響が相違す
るため、スペクトルチャンネル毎の計数に、スペクトル
チャンネル毎に予め定められている換算係数を乗算す
る。

【００１５】スペクトルチャンネル毎の換算係数は、上
記既存の校正装置を用いて、次のように求められる。す
なわち、前記校正装置に本発明の測定器を装着して、あ
るスペクトルチャンネルに属するスペクトルを有し且つ
その強度が既知の放射線を測定器に照射し、測定器の検
出出力（計数）と、校正装置から放射された放射線の強
度の比より、前記換算係数を算出する。これを、少なく
とも、スペクトルパターンの分割数、すなわち、スペク
トルチャンネル数だけ繰り返して行う。なお、前記校正
装置の線源として、複数のスペクトルを有する放射線を
放射する線源ないしβ線とγ線の両方を放射する線源を
用いる場合には、適当のフィルタを用いて、所望のスペ
クトルを有する放射線等を選択すればよい。このように
して、本発明によれば、放射線を簡易な手法により正確
に測定し、かつ、測定結果を所望の単位で報告すること
ができる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施の形
態を説明する。

【００１７】［第１の実施の形態］本発明の第１の実施
の形態に係る放射線測定検出器及び放射線測定プログラ
ムの内容を説明する。

【００１８】＜線量率換算係数＞まず、本発明の検出器
又はそれに相当する装置を用いて、前記したような手法
により、線量率換算係数を求めておく。例えば、４つの
スペクトルチャンネルＣＨ１〜４を設定する場合、ＣＨ
１，ＣＨ２，ＣＨ３，ＣＨ４に属する既知のスペクトル
を有する放射線を放射する核種を、設定した同一線量率
（所定の強度）でそれぞれ測定し、スペクトルパターン
をそれぞれ記憶する。図１に、ＣＨ４に属する単一スペ
クトルの放射線を測定して得られるスペクトルパターン
（単一エネルギのスペクトルパターン）の一例を示す。

【００１９】図１を参照して、得られたスペクトルパタ
ーンを、エネルギの大きさに応じて設定された複数のス
ペクトルチャンネル毎、すなわち、４つのスペクトルチ
ャンネルＣＨ１〜ＣＨ４毎にサンプリングして、スペク
トルチャンネルＣＨ１〜ＣＨ４毎の計数分布を求める。
そして、ＣＨ４の計数を線量当量に変換するための、Ｃ
Ｈ４の換算係数Ｋ４を、上述の設定した線量率とＣＨ４
の計数（測定値）との比より求める。

【００２０】同様の手法により、ＣＨ３の換算係数Ｋ
３、ＣＨ２の換算係数Ｋ２、ＣＨ１の換算係数Ｋ１を求
めておく。なお、Ｃｏ−６０、Ｃｓ−１３７及びＸ線１
５０Ｋｅｖ等、３種類程度の核種のスペクトルパターン
から実用レベルの測定精度を得ることができる、スペク
トルチャンネル毎の線量率換算係数を得ることができ
る。

【００２１】＜補正係数＞低位の前記スペクトルチャン
ネルの計数に含まれる、高位の前記スペクトルチャンネ
ルに表れる放射線の影響を、当該低位のスペクトルチャ
ンネルの計数より排除するための、補正係数（高位チャ
ンネルの計数が低位チャンネルの計数に与える影響を示
す係数）は、前記したような手法により、求める。

【００２２】続いて、実測されたスペクトルパターン
（複数のスペクトルが混在ないし重畳しているスペクト
ルパターン）から、線量率を求める方法について説明す
る。

【００２３】図２は、複数エネルギのスペクトルパター
ン図であって、実際に測定されるスペクトルパターンに
相当するスペクトルパターンを示している。図３は、本
発明の第１の実施の形態に係る放射線測定プログラムの
フローチャートである。

【００２４】図２及び図３を参照して、この放射線測定
プログラムを実行する情報処理装置の動作を説明する
と、情報処理装置は、放射線検出器の検出信号が入力さ
れた（ステップａ）、波高分析器（マルチチャンネルア
ナライザ、ＡＤ変換器）によって、４つのスペクトルチ
ャンネルＣＨ１〜ＣＨ４毎にサンプリングされた計数
（ステップｂ）から、計数が存在する最大エネルギのス
ペクトルチャンネルを探索する（ステップ１０１）。

【００２５】図２に示したように、情報処理装置は、Ｃ
Ｈ４が計数を有する最大エネルギのスペクトルチャンネ
ルである場合、低位チャンネルより散乱分を減算する
（ステップ１０２）。すなわち、情報処理装置は、低位
チャンネルであるＣＨ３〜ＣＨ１の計数（実測値）Ｂ
３，Ｃ２，Ｄ１から、計数Ａ４の影響による計数Ａ３，
Ａ２，Ａ１を差し引く。ここで、ＣＨ３の真の計数Ｂ
３’（＝Ｂ３（実測値）−Ａ３（ＣＨ４の計数Ａ４の影
響分））が求まる。

【００２６】次に、情報処理装置は、次位のＣＨ３が最
低位チャンネルかどうか判定する（ステップ１０３）。
ＣＨ３が最低位チャンネルである場合、プログラムは終
了し、最低位チャンネルでない場合には、情報処理装置
は、次位のＣＨ２に計数があるかどうかを判定する（ス
テップ１０４）。

【００２７】図２に示したように、ＣＨ３及びＣＨ２等
に計数が存在するから、前記ステップ１０２と同様の処
理が実行される。すなわち、情報処理装置は、ＣＨ３の
低位チャンネルであるＣＨ２〜ＣＨ１の計数（実測値）
Ｃ２，Ｄ１から、計数Ｂ３’（ＣＨ３の真の計数、Ｂ
３’＝Ｂ３（実測値）−Ａ３（ＣＨ４の計数Ａ４の影響
分））の影響による計数Ｂ２，Ｂ１を差し引く。ここ
で、ＣＨ２の真の計数Ｃ２’（＝Ｃ２（実測値）−Ａ２
（ＣＨ４の計数Ａ４の影響分）−Ｂ２（ＣＨ３の計数Ｂ
３’の影響分））が求まる。

【００２８】以下、情報処理装置は、同様に、ＣＨ２の
低位チャンネルであるＣＨ１の計数（実測値）Ｄ１か
ら、計数Ｃ２’（ＣＨ２の真の計数、Ｃ２’＝Ｃ２（実
測値）−Ａ３（ＣＨ４の計数Ａ４の影響分））の影響に
よる計数Ａ３，Ａ２，Ａ１を差し引く。ここで、ＣＨ１
の真の計数Ｄ１’（＝Ｄ１（実測値）−Ａ１（ＣＨ４の
計数Ａ４の影響分）−Ｂ１（ＣＨ３の計数Ｂ３’の影響
分）−Ｂ１（ＣＨ３の計数Ｂ３’の影響分））が求ま
る。

【００２９】以上のステップにより、スペクトルチャン
ネルＣＨ１〜ＣＨ４毎の真の計数Ｄ１’，Ｃ２’，Ｂ
３’，Ａ４が算出され、これらに、スペクトルチャンネ
ルＣＨ１〜ＣＨ４毎に予め求められている換算係数Ｋ１
〜Ｋ４をそれぞれ乗算することにより、線量率Ｙが算出
される：

【００３０】Ｙ＝Ｋ１・Ｄ１’＋Ｋ２・Ｃ２’＋Ｋ３・
Ｂ３’＋Ｋ４・Ａ４

【００３１】なお、以上説明した本発明の第１の実施の
形態においては、高位の前記放射線エネルギ領域から低
位の前記放射線エネルギ領域の順に、各放射線エネルギ
領域の線量を求めたが、下記の第２の実施の形態に示す
ように、本発明は、第１の実施の形態で説明した順番に
限定されるものではない。

【００３２】［第２の実施の形態］本発明の第２の実施
の形態に係る放射線測定検出器及び放射線測定プログラ
ムの内容を説明する。

【００３３】図２を参照して、スペクトルチャンネルＣ
Ｈ４の範囲のエネルギを有する、単位線量率の放射線が
入射したとき、この放射線の影響による各スペクトルチ
ャンネルＣＨ４，ＣＨ３，ＣＨ２，ＣＨ１の計数率（計
数値、この場合には補正係数となる）ａ(4,4)，ａ(3,
4)，ａ(2,4)，ａ(1,4)は予め求めることができる。した
がって、ＣＨ４相当の未知の線量率（線量）ｋ(4)が測
定されたとき、ｋ(4)の影響による各スペクトルチャン
ネルＣＨ４，ＣＨ３，ＣＨ２，ＣＨ１の計数率はそれぞ
れ下式で与えられる： ＣＨ４：ａ(4,4)ｋ(4)； ＣＨ３：ａ(3,4)ｋ(4)； ＣＨ２：ａ(2,4)ｋ(4)； ＣＨ１：ａ(1,4)ｋ(4)。

【００３４】したがって、ＣＨ３，ＣＨ２，ＣＨ１に未
知の線量率（線量）ｋ(3)，ｋ(2)，ｋ(1)がそれぞれ入
射したとき、ｋ(3)，ｋ(2)，ｋ(1)の影響による各スペ
クトルチャンネルＣＨ３，ＣＨ２，ＣＨ１にあらわれる
計数率（計数値）はそれぞれ下式で与えられる： ＣＨ３：ａ(3,3)ｋ(3) ＣＨ２：ａ(2,3)ｋ(3)，ａ(2,2)ｋ(2) ＣＨ１：ａ(1,3)ｋ(3)，ａ(1,2)ｋ(2)，ａ(1,1)ｋ(1)。

【００３５】以上より、未知の線量率ｋ(4)，ｋ(3)，ｋ
(2)，ｋ(1)が同一測定時間に、本発明の測定器に入射し
て測定されたとき、各スペクトルチャンネルＣＨ４，Ｃ
Ｈ３，ＣＨ２，ＣＨ１にあらわれる計数率（測定値）Ａ
(4)，Ａ(3)，Ａ(2)，Ａ(1)は次式のように表される： Ａ(4)＝ａ(4,4)ｋ(4)； Ａ(3)＝ａ(3,4)ｋ(4)＋ａ(3,3)ｋ(3)； Ａ(2)＝ａ(2,4)ｋ(4)＋ａ(2,3)ｋ(3)＋ａ(2,2)ｋ(2)； Ａ(1)＝ａ(1,4)ｋ(4)＋ａ(1,3)ｋ(3)＋ａ(1,2)ｋ(2)＋
ａ(1,1)ｋ(1)。

【００３６】上式を行列式にすると下記のようになる：

【数１】

【００３７】上記行列式を変形すると下記のようにな
る：

【数２】

【００３８】［第３の実施の形態］本発明の第３の実施
の形態に係る放射線測定プログラムは、下式に基づき、
放射線の線量を算出する。

【００３９】任意の放射線エネルギ領域Ｉの計数値をＡ
（Ｉ）、前記放射線エネルギ領域Ｉよりも高位又は同位
の放射線エネルギ領域Ｊの線量ｋ（Ｊ）が前記計数値Ａ
（Ｉ）に与える影響を表す係数をａ（Ｉ，Ｊ）と定義す
ると、 Ａ（Ｉ）＝Σ_ｊａ（Ｉ，Ｊ）ｋ（Ｊ）。

【００４０】図４は、上式に基づく、本発明の第３の実
施の形態に係る放射線測定プログラムを説明するための
フローチャートである。

【００４１】図４を参照して、この放射線測定プログラ
ムを実行する情報処理装置の動作を説明すると、情報処
理装置には、放射線検出器の検出信号を取り込んだ（ス
テップａ）、波高分析器（マルチチャンネルアナライ
ザ）から出力された信号、すなわち、複数のスペクトル
チャンネル（放射線エネルギ領域）毎にサンプリングさ
れた計数値（ステップｂ）が入力される。

【００４２】次に、情報処理装置は、任意のスペクトル
チャンネル（Ｉ）の計数値から、任意のスペクトルチャ
ンネル（Ｊ）の線量ｋ（Ｊ）による補正分を除去する
（ステップ２０１〜２０３）。

【００４３】次に、情報処理装置は、Ｊ＝Ｉであるか否
か判定し（ステップ２０４）、Ｊ＝Ｉでない場合、Ｊを
インクリメントし（ステップ２０５）、スペクトルチャ
ンネル（Ｊ）よりも高位のスペクトルチャンネルがスペ
クトルチャンネル（Ｉ）の計数値を除去していく（ステ
ップ２０３）。

【００４４】ステップ２０４において、Ｊ＝Ｉである場
合、情報処理装置は、Ｉが最高位のスペクトルチャンネ
ルであるか否か判定し（ステップ２０６）、Ｉが最高位
である場合には測定終了し、Ｉが最高位でない場合には
Ｉをインクリメントして（ステップ２０７）、ステップ
２０２に移行し、次のスペクトルチャンネルの計数値に
ついて補正を行っていく。

【００４５】［第４の実施の形態］本発明の第４の実施
の形態に係る放射線測定プログラムは、上式及び下式に
基づき、放射線の線量を算出する： Ｉ＝Ｊの場合にはａ（Ｉ，Ｊ）＝１。

【００４６】本発明の好ましい実施の形態においては、
検出素子として、Ｓｉ等の半導体が用いられる。別の好
ましい実施の形態においては、本発明の原理に反しない
限り、半導体以外の検出素子が用いられる。例えば、で
ある。電離箱、比例計数管もＧＭ計数管、シンシチレー
タ、等が用いられる。

【００４７】

【実施例】以上説明した本発明の好ましい実施の形態を
さらに明確化するために、以下図面を参照して、本発明
の一実施例を説明する。

【００４８】図５は、前記本発明の一実施の形態に係る
放射線測定プログラムを実行する情報処理装置を含む、
本発明の一実施例に係る放射線測定器の構成を説明する
ためのブロック図である。

【００４９】図５を参照すると、本発明の一実施例に係
る放射線測定器は、放射線を検出して放射線のスペクト
ルパターン情報に対応する信号（放射線のエネルギに応
じた出力信号）を出力する検出素子（放射線検出手段）
１と、検出素子１の出力信号を増幅ないしフィルタする
増幅器２と、増幅器２の出力信号に基づいて、前記スペ
クトルパターン情報を予め定められた複数のスペクトル
チャンネル（放射線エネルギ領域）毎の計数情報に変換
して出力するマルチチャンネルアナライザ（計数手段）
３と、マルチチャンネルアナライザ３に接続され、前記
計数情報、予め設定された補正係数及び単位換算係数に
基づいて線量率を算出する演算手段（コンピュータ）４
と、線量率を表示する出力装置（表示器）５とを有して
いる。

【００５０】検出素子１は、Ｓｉ半導体検出素子であっ
て、広範囲のエネルギの放射線を検出することができ
る。本発明による放射線測定器は、高位のスペクトルチ
ャンネルの範疇に属するエネルギの大きい放射線が、低
位のスペクトルチャンネルの計数に与える影響を、演算
手段４によって減殺することができる。このため、検出
素子１を特別のフィルタで覆ったり、測定したい所望の
スペクトルチャンネルに応じてフィルタを交換したりし
なくとも、精度の高い線量率測定を行うことができる。

【００５１】演算手段４は、内部記憶装置にロードされ
た所定のプログラムを実行することにより、前記本発明
の各実施の形態に係る放射線測定プログラム（演算方
法）に従って、線量率を算出する。

【００５２】次に、以上説明した本発明の一実施例に係
る放射線測定器を用いて、前記本発明の第１の実施の形
態に係る手法に従い、線量率を求めた測定結果を説明す
る。

【００５３】まず、核種として、Ｃｏ−６０、Ｃｓ−１
３７、さらに、１００ｋｅＶのエネルギを有するＸ線を
用い、スペクトルチャンネル数は４個として補正係数及
び線量率換算係数を求めた。図６に、本発明の一実施例
に係る放射線測定器に相当する装置を用いて測定したＣ
ｏ−６０のスペクトルパターン図、図７に、同じくＣｓ
−１３７のスペクトルパターン図を示す。図８に、Ａｍ
−２４１のスペクトルパターン図（１００ｋｅＶのエネ
ルギを有するＸ線のスペクトルパターン図に相当する）
を示す。

【００５４】図９は、比較例として、本発明による校正
を行わずに、いわゆる裸のエネルギ特性を測定した結果
を示すグラフであり、一方、図１０は、本発明の一実施
例に係る放射線測定器を用いて、本発明による校正を行
った測定結果を示すグラフである。

【００５５】図９を参照すると、校正を行っていない比
較例においては、高エネルギの放射線の散乱によって、
低エネルギの計数（レスポンス）が多くなっている。一
方、図１０を参照すると、本発明の校正を行うことによ
り、高エネルギの放射線の散乱が低エネルギの計数に与
える影響が減殺されている。

【００５６】また、本発明の一実施例に係る測定器（ハ
ンディーターミナルサーベイメータ）と、現在、原子力
発電所等で標準器として使用されている電離箱型の放射
線検出器と、を用いて同様の測定を行い、両者の測定結
果を照合したところ、表１に示すように、本発明の一実
施例に係る放射線測定器によって精度の高い測定を行う
ことができることが明らかになった。

【００５７】

【表１】

【００５８】

【発明の効果】本発明によれば、高エネルギから低エネ
ルギまでの放射線を一台の測定器で測定することが可能
な放射線測定プログラム及び放射線測定器が提供され
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】単独エネルギのスペクトルパターン図である。

【図２】複数エネルギのスペクトルパターン図である。

【図３】本発明の第１の実施の形態に係る放射線測定の
フローチャートである。

【図４】本発明の第３の実施の形態に係る放射線測定の
フローチャートである。

【図５】本発明の一実施例に係る放射線検出器の構成を
説明するためのブロック図である。

【図６】β線をカットしたＣｏ−６０のスペクトルパタ
ーン図である。

【図７】β線をカットしたＣｓ−１３７のスペクトルパ
ターン図である。

【図８】Ａｍ−２４１のスペクトルパターン図である
（１００ｋｅＶのエネルギを有するＸ線のスペクトルパ
ターン図に相当する）。

【図９】比較例に係り（本発明の校正なし）、Ｃｏ−６
０、Ｃｓ−１３７、１００ｋｅＶのエネルギを有するＸ
線を同時に測定した場合、検出されるスペクトルパター
ン（裸のエネルギ特性）である。

【図１０】本発明の一実施例に係る放射線測定器を用い
て（本発明の校正有り）、Ｃｏ−６０、Ｃｓ−１３７、
１００ｋｅＶのエネルギを有するＸ線を同時に測定した
場合、検出されるスペクトルパターン（裸のエネルギ特
性）である。

【符号の説明】

１ 検出素子（検出手段） ２ 増幅器 ３ マルチチャンネルアナライザ（計数手段） ４ 演算手段 ５ 出力装置（表示器）

フロントページの続き (72)発明者 渡辺 広綱 東京都港区高輪１丁目３番13号東電工業株 式会社内 (72)発明者 佐藤 典仁 東京都文京区湯島１丁目７番12号株式会社 千代田テクノル内 (72)発明者 斎藤 数弘 埼玉県坂戸市花影町10番地10有限会社エス ディー技研内 Ｆターム(参考） 2G088 FF17 GG01 GG21 LL05

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】検出された放射線の線量を求めるための放
   射線測定プログラムであって、 検出された放射線に対応する放射線の計数値を複数の放
   射線エネルギ領域に分割して求める第１のステップと、 前記放射線エネルギ領域の計数値及び当該放射線エネル
   ギ領域よりも高位の前記放射線エネルギ領域の計数値を
   用いて、当該放射線エネルギ領域の線量を求める第２の
   ステップと、を含む処理を情報処理装置に実行させるこ
   とを特徴とする放射線測定プログラム。
2. 【請求項２】前記第２のステップは、下式に基づき、放
   射線の線量を求めるステップであることを特徴とする請
   求項１記載の放射線測定プログラム：任意の放射線エネ
   ルギ領域Ｉの計数値をＡ（Ｉ）、前記放射線エネルギ領
   域Ｉよりも高位又は同位の放射線エネルギ領域Ｊの線量
   ｋ（Ｊ）が前記計数値Ａ（Ｉ）に与える影響を表す係数
   をａ（Ｉ，Ｊ）と定義すると、 Ａ（Ｉ）＝Σ_ｊａ（Ｉ，Ｊ）ｋ（Ｊ）。
3. 【請求項３】Ｉ＝Ｊの場合にはａ（Ｉ，Ｊ）＝１、 であることを特徴とする請求項２記載の放射線測定プロ
   グラム。
4. 【請求項４】前記第２のステップにおいては、高位の前
   記放射線エネルギ領域から低位の前記放射線エネルギ領
   域の順に、各放射線エネルギ領域の線量を求めることを
   特徴とする請求項１記載の放射線測定プログラム。
5. 【請求項５】放射線を検出して放射線線量を求めるため
   の放射線測定器であって、 放射線を検出して該放射線のエネルギに応じた出力信号
   を出力する放射線検出手段と、 前記放射線検出手段の前記出力信号を複数の放射線エネ
   ルギ領域に分割して計数する計数手段と、 前記放射線エネルギ領域の計数値及び当該放射線エネル
   ギ領域よりも高位の前記放射線エネルギ領域の計数値を
   用いて、当該放射線エネルギ領域における放射線の線量
   を求める演算手段と、を有することを特徴とする放射線
   測定器。
6. 【請求項６】前記演算手段が、請求項１〜４のいずれか
   一記載のプログラムを実行するものであることを特徴と
   する請求項５記載の放射線測定器。
7. 【請求項７】前記放射線検出手段が、半導体検出器であ
   ることを特徴とする請求項５記載の放射線測定器。