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JP2003157528A - 光ディスク装置 - Google Patents

光ディスク装置

Info

Publication number
JP2003157528A
JP2003157528A JP2001353905A JP2001353905A JP2003157528A JP 2003157528 A JP2003157528 A JP 2003157528A JP 2001353905 A JP2001353905 A JP 2001353905A JP 2001353905 A JP2001353905 A JP 2001353905A JP 2003157528 A JP2003157528 A JP 2003157528A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
circuit
defect
defect detection
reproduction
Prior art date
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Abandoned
Application number
JP2001353905A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Yamaguchi
茂男 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2001353905A priority Critical patent/JP2003157528A/ja
Publication of JP2003157528A publication Critical patent/JP2003157528A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、光ディスク装置に関し、例えば相変
化型光ディスク装置に適用して、充分なディフェクト検
出の感度を確保して、種々のディフェクトを適切に検出
する。 【解決手段】 本発明は、第1及び第2のしきい値TH
R1及びTHR2によるヒステリシス特性により再生信
号RFの信号レベルを判定してディフェクトを検出す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置に
関し、例えば相変化型光ディスク装置に適用することが
できる。本発明は、第1及び第2のしきい値によるヒス
テリシス特性により再生信号の信号レベルを判定してデ
ィフェクトを検出することにより、充分なディフェクト
検出の感度を確保して、種々のディフェクトを適切に検
出することができるようにする。
【0002】
【従来の技術】従来、光ディスク装置においては、再生
信号の振幅値を所定のしきい値により判定してディフェ
クトを検出し、この検出結果によりPLL回路の位相比
較結果である位相誤差信号をホールドすることにより、
ディフェクトによるクロックの変動を防止して、光ディ
スクに記録されたデータを確実に再生できるようになさ
れている。
【0003】すなわち図4は、この種の光ディスク装置
を示すブロック図である。この光ディスク装置1におい
て、光ピックアップ2は、光ディスク3にレーザービー
ムを照射し、光ディスク3より得られる戻り光を所定の
受光素子により受光する。光ピックアップ2は、この受
光結果を処理することにより、光ディスク3に形成され
たマーク列に応じて信号レベルが変化する再生信号RF
を生成する。リードチャンネル4は、この再生信号RF
を処理して再生データD1を出力する。
【0004】すなわちリードチャンネル4において、増
幅回路6は、再生信号RFを所定利得により増幅して出
力し、イコライザ7は、この再生信号RFの周波数特性
をパーシャルレスポンスクラス4(PR(1、2、
1))に適した特性に補正すると共に、高周波帯域のノ
イズ成分を抑圧して出力する。
【0005】ディフェクト検出回路8は、図5に示すよ
うに、このイコライザ7から出力される再生信号RFを
エンベロープ検波し、その結果得られる検波信号ERF
を所定のしきい値TH1により判定することにより(図
5(A))、再生信号RFの振幅が急激に変化するとデ
ィフェクトフラグFDを立ち上げ(図5(A))、これ
によりディフェクトを検出する。
【0006】PLL回路9は、イコライザ7から出力さ
れる再生信号RFを2値化して2値化信号を生成し、こ
の2値化信号と電圧制御型発振回路の出力信号とを位相
比較する。さらにPLL回路9は、この位相比較結果を
帯域制限して位相誤差信号を生成し、この位相誤差信号
を電圧制御型発振回路にフィードバックする。これによ
りPLL回路9は、電圧制御型発振回路の出力信号を2
値化信号に位相同期させ、この電圧制御型発振回路の出
力信号をクロックCKとして出力することにより、再生
信号RFよりクロックCKを再生して出力する。この処
理において、PLL回路9は、ディフェクトフラグFD
が立ち上がると、位相誤差信号をホールドし、これによ
りディフェクトにより位相誤差信号が急激に変動した場
合でも、この位相誤差信号の変動によるクロックCKの
変動を防止する。
【0007】アナログディジタル変換回路(ADC:An
alog to Digital Converter )10は、このようにして
再生されるクロックCKにより再生信号RFをアナログ
ディジタル変換処理し、ディジタル再生信号DRFを出
力する。ビタビ復号回路11は、このディジタル再生信
号DRFをビタビ復号して再生データD1を出力する。
【0008】ODC(Optical Disk Controller )13
は、この再生データD1より同期パターンを検出し、こ
の同期パターン検出結果を基準にしてこの再生データD
1よりユーザーフィールドのデータを選択的に取得す
る。さらにODC13は、このユーザーフィールドのデ
ータを復調、デインターリーブ処理した後、誤り訂正処
理等してユーザーデータを再生し、このユーザーデータ
をホスト装置に出力する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところでディフェクト
にはいくつかの種類が存在し、光ディスクの表面に形成
された傷等によるディフェクトにおいては、図5につい
て上述したように、再生信号RFのエンベロープが局所
的に変化し、これによりエンベロープ検波結果ERFを
所定のしきい値TH1により判定して、確実にディフェ
クトを検出することができる。
【0010】しかしながらディフェクトには、図6に示
すように、エンベロープ検波結果ERFがしきい値TH
1を跨いで上下変動する場合もある(図6(A))。こ
の場合、従来の光ディスク装置1においては、短い周期
でディフェクトフラグが頻繁に立ち上がるようになり
(図6(B))、これによりPLL回路9で安定にクロ
ックCKを再生できなくなる問題がある。
【0011】この問題を解決する1つの方法として、し
きい値TH1を変更する方法が考えられるが、しきい値
TH1を高くすると、ディフェクトの検出感度が低下
し、本来、ディフェクトとして検出されるべき状態がデ
ィフェクトとして検出されなくなることにより、却って
PLL回路9の動作が不安定になる。またこれとは逆
に、しきい値TH1を低くすると、ディフェクトの検出
感度が不必要に向上し、再生信号RFの微小な信号レベ
ルの変化についても、ディフェクトとして検出されるこ
とにより、この場合も、却ってPLL回路9の動作が不
安定になる。
【0012】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、充分なディフェクト検出の感度を確保して、種々の
ディフェクトを適切に検出することができる光ディスク
装置を提案しようとするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め請求項1の発明においては、第1及び第2のしきい値
によるヒステリシス特性により再生信号の信号レベルを
判定してディフェクト検出結果を出力する。
【0014】請求項1の構成によれば、第1及び第2の
しきい値によるヒステリシス特性により再生信号の信号
レベルを判定してディフェクト検出結果を出力すること
により、この第1及び第2のしきい値の設定により、再
生信号の信号レベルが第1のしきい値を跨いで変動する
場合、第2のしきい値を跨いで変動する場合であって
も、短い周期でディフェクト検出結果が頻繁に立ち上が
る状況を有効に回避して、ディフェクトを検出すること
ができる。またこのときこの第1及び第2のしきい値の
設定により、充分なディフェクトの検出感度を確保する
ことができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、適宜図面を参照しながら本
発明の実施の形態を詳述する。
【0016】(1)実施の形態の構成 図1は、本発明の実施の形態に係る光ディスク装置を示
すブロック図である。この光ディスク装置21において
は、コンピュータ等のホスト装置に接続されて、このホ
スト装置から出力されるユーザーデータを光ディスク2
2に記録し、またこの光ディスク22からユーザーデー
タを再生してホスト装置に出力することにより、ホスト
装置の外部記憶装置を構成する。ここで光ディスク22
は、相変化型の光ディスクである。
【0017】光ディスク装置21において、ODC23
は、ホスト装置との間で入出力するデータを処理する処
理回路であり、ホスト装置より得られるコマンドを中央
処理ユニット(CPU)24に通知し、またこの通知に
よる中央処理ユニット24からの応答をホスト装置に通
知する。またこのようなコマンドの通知により得られる
動作切り換えの指示により、ホスト装置から順次入力さ
れるユーザーデータを処理して所定のデータ列D1Wを
生成し、このデータ列D1Wによりレーザードライバ2
5を駆動してユーザーデータを光ディスク22に記録す
る。またこれとは逆に、リードチャンネル26から出力
される再生データD2Rを処理してユーザーデータを再
生し、このユーザーデータをホスト装置に出力する。
【0018】すなわちODC23において、SCSI
(Small Computer System Interface)28は、ホスト
装置との間のインターフェースであり、ホスト装置より
得られるコマンドを中央処理ユニット24に通知し、ま
たこの通知による中央処理ユニット24からの応答をホ
スト装置に通知する。またホスト装置から順次入力され
るユーザーデータをエンコーダ/デコーダ(ENDE
C)29に出力し、またエンコーダ/デコーダ29より
得られるユーザーデータをホスト装置に出力する。
【0019】ゲート信号発生回路31は、図示しないセ
クタマーク検出回路で検出されるセクタマーク検出のタ
イミングを基準にして、記録系、再生系の動作基準であ
るライトゲート信号WG、リードゲート信号RGを出力
する。なおここでセクタマークは、光ディスク22にプ
リフォーマットにより記録された基準信号であり、各セ
クタの先頭位置を示すようになされている。
【0020】誤り訂正回路(ECC)33は、書き込み
時においては、順次誤り訂正符号を生成してエンコーダ
/デコーダ29に出力するのに対し、読み出し時におい
ては、エンコーダ/デコーダ29で再生されるユーザー
データを誤り訂正処理する。
【0021】エンコーダ/デコーダ29は、書き込み
時、SCSI28より入力されるユーザーデータを所定
ブロック単位で区切り、誤り訂正回路で生成される誤り
訂正符号を付加した後、インターリーブ処理する。エン
コーダ/デコーダ29は、このようにしてインターリー
ブ処理したデータをRLL(1−7)変調してRLL変
調データを生成し、フォーマッタ35は、このRLL変
調データに、同期パターン、PLL回路のロック用信号
であるVFO等を付加する。エンコーダ/デコーダ29
は、このように同期パターン等が付加されてなるRLL
変調データをNRZI変調してNRZI変調データD1
Wを生成する。
【0022】エンコーダ/デコーダ29、ライトゲート
信号WGがアサートされると、このようにして生成した
NRZI変調データD1Wを書き込み時の基準信号であ
るライトクロックに同期して順次レーザードライバ25
に出力する。
【0023】これに対して再生時、エンコーダ/デコー
ダ29は、リードゲート信号RGがアサートされると、
リードチャンネル26の出力データD2Rを選択的に入
力し、フォーマッタ35において、この出力データD2
Rより同期パターンを検出する。さらにこの同期パター
ンの検出結果を基準にして、出力データD2Rを選択的
に処理することにより、ユーザーデータを再生して出力
する。
【0024】レーザードライバ25は、書き込み時、ラ
イトゲート信号WGのアサートにより、ODC23から
出力されるNRZI変調データD1Wに応じて、光ディ
スク22に照射するレーザービームの光量を立ち上げ、
また読み出し時、レーザービームの光量を所定値に保持
する。
【0025】すなわちレーザードライバ25において、
駆動信号生成回路37は、図2(A)及び(B)に示す
ように、NRZI変調データD1Wが立ち上がっている
期間の間、NRZI変調データD1Wの基本周期Tに対
して、1.5Tの周期で信号レベルが立ち上がった後、
0.5T周期で、信号レベルの立ち下がりと、信号レベ
ルの立ち上がりとを繰り返し、これによりNRZI変調
データD1Wに応じて駆動信号SRを生成する。
【0026】自動光量制御回路(APC)39は、光ピ
ックアップ40から出力されるレーザービームLの光量
モニタ結果を基準にして、書き込み時、この駆動信号S
Rに応じて再生時の光量より書き込みの光量にレーザー
ビームを立ち上げるように、光ピックアップ40の半導
体レーザーを駆動する。これによりレーザードライバ2
5は、いわゆるパルストレイン方式により順次光ディス
ク22にマーク列を形成して所望のユーザーデータを記
録するようになされている。これに対して読み出し時、
自動光量制御回路39は、所定の光量によりレーザービ
ームを照射するように、光ピックアップ40の半導体レ
ーザーを駆動する。
【0027】光ピックアップ40は、所定の駆動機構に
より保持されて光ディスク22の半径方向に可動できる
ように構成され、図示しないスピンドルモータにより所
定の回転速度で回転する光ディスク22に対して、内蔵
の半導体レーザーより出射されるレーザービームを照射
する。また光ピックアップ40は、このレーザービーム
の照射により光ディスク22から得られる戻り光を所定
の受光素子で受光し、この受光素子の受光結果を処理す
ることにより、ピット列、マーク列に応じて信号レベル
が変化する再生信号RF、トラッキングエラー量に応じ
て信号レベルが変化するトラッキングエラー信号、フォ
ーカスエラー量に応じて信号レベルが変化するフォーカ
スエラー信号等を生成する。光ピックアップ40におい
ては、図示しないサーボ回路によりこれらトラッキング
エラー信号、フォーカスエラー信号に応じて対物レンズ
が可動し、これによりトラッキング制御、フォーカス制
御できるようになされている。
【0028】リードチャンネル26は、リードゲート信
号RGを基準にして光ピックアップ40より得られる再
生信号RFを信号処理することにより、RLL変調デー
タD2Rを再生して出力する。
【0029】すなわちリードチャンネル26において、
増幅回路41は、再生信号RFを所定利得により増幅し
て出力する。
【0030】イコライザ(EQ)42は、イクィリップ
ルフィルタ等により形成され、増幅回路41から出力さ
れる再生信号RFの周波数特性を補正して出力する。な
おこのイコライザ42における特性の補正は、エンコー
ダ/デコーダ29で生成されるRLL変調データに対す
る再生信号RFによる応答が、パーシャルレスポンスク
ラス4(PR(1,2,1))に対応する応答となるよ
うにする補正である。この補正において、イコライザ4
2は、DCレベル補正回路43から出力される補正信号
により再生信号RFにおけるオフセットを補正して出力
する。
【0031】PLL回路44は、このイコライザ42よ
り出力される再生信号RFによりクロックCKを再生し
て出力する。すなわちPLL回路44は、イコライザ4
2から出力される再生信号RFを2値化して2値化信号
を生成し、この2値化信号と電圧制御型発振回路の出力
信号とを位相比較する。さらにPLL回路44は、この
位相比較結果を帯域制限して位相誤差信号を生成し、こ
の位相誤差信号を電圧制御型発振回路にフィードバック
する。これによりPLL回路44は、電圧制御型発振回
路の出力信号を2値化信号に位相同期させ、この電圧制
御型発振回路の出力信号をクロックCKとして出力する
ことにより、再生信号RFよりクロックCKを再生して
出力する。この処理において、PLL回路44は、ディ
フェクトフラグFDが立ち上がると、位相誤差信号をホ
ールドし、これによりディフェクトにより位相誤差信号
が急激に変動した場合でも、この位相誤差信号の変動に
よるクロックCKの変動を防止する。
【0032】アナログディジタル変換回路(ADC)4
6は、このクロックCKを基準にしてイコライザ42よ
り出力される再生信号RFをアナログディジタル変換処
理し、その処理結果であるディジタル再生信号DRFを
出力する。
【0033】ビタビ復号回路47は、このディジタル再
生信号DRFをビタビ復号し、RLL変調データD2R
を再生して出力する。この処理において、ビタビ復号回
路47は、ブランチメトリックの計算基準である振幅基
準値を適宜更新し、これにより適応型振幅基準値により
復号結果の精度を向上するようになされている。ビタビ
復号回路47は、ディフェクトフラグFDが立ち上がる
と、振幅基準値をホールドすることにより、この振幅基
準値の更新を中止するようになされている。またビタビ
復号回路47は、復号過程でディジタル再生信号DRF
の直流レベルを検出し、この直流レベル検出結果をDC
レベル補正回路43に出力する。
【0034】DCレベル補正回路43は、この直流レベ
ル検出結果に応じて、オフセット補正用の補正信号を生
成し、この補正信号をイコライザ42に出力する。これ
によりこの光ディスク装置21では、再生信号RFのオ
フセットを補正するフィードバックループを構成するよ
うになされている。
【0035】ディフェクト検出回路51は、イコライザ
42から出力される再生信号RFよりディフェクトを検
出し、ディフェクトフラグFDを出力する。すなわちデ
ィフェクト検出回路51において、エンベロープ検波回
路(ENV)52は、再生信号RFをエンベロープ検波
し、エンベロープ検波信号ERFを出力する。レジスタ
(R)53及び54は、それぞれ中央処理ユニット24
により設定される第1及び第2のしきい値データを保持
し、ディジタルアナログ変換回路(DAC:Digital to
Analog Converte)55及び56は、それぞれレジスタ
53及び54に保持された第1及び第2のしきい値デー
タをディジタルアナログ変換処理し、第1及び第2のし
きい値THR1及びTHR2を出力する。
【0036】比較回路57は、第1のしきい値THR1
よりエンベロープ検波信号ERFの信号レベルが立ち上
がると、ディフェクトフラグFDを立ち上げ、第2のし
きい値THR2よりエンベロープ検波信号ERFの信号
レベルが立ち下がると、ディフェクトフラグFDを立ち
上げる。ここでこれら第1及び第2のしきい値THR1
及びTHR2は、図3に示すように、エンベロープ検波
信号ERFのディフェクトによる信号レベルの変化に対
して、ヒステリシス特性を有するように、第2のしきい
値THR2に対して第1のしきい値TH1がディフェク
トフラグFDを立ち上げる側にシフトした信号レベルに
設定される。また第1のしきい値TH1は、実用上充分
な検出感度を確保できる信号レベルに設定されるのに対
し、第2のしきい値THR2は、図6について上述した
ような信号レベルの小さな変動に対してディフェクトフ
ラグFDが立ち下がらないように設定される。これによ
りディフェクト検出回路51においては、充分なディフ
ェクト検出の感度を確保して、種々のディフェクトを適
切に検出することができるようになされている。
【0037】中央処理ユニット24は、この光ディスク
装置21全体の動作を制御するコントローラであり、O
DC23を介して得られるホスト装置からのコマンドに
より、全体の動作を制御し、これにより光ディスク22
にユーザーデータを記録し、また光ディスク22に記録
されたユーザーデータを再生してホスト装置に出力す
る。これらの処理において、中央処理ユニット24は、
電源が立ち上げられると、メモリに保持した第1及び第
2のしきい値データをレジスタ53及び54にロードす
る。
【0038】(2)実施の形態の動作 以上の構成において、この光ディスク装置21は(図
1)、ホスト装置からの書き込みの指示により、ホスト
装置から順次入力されるユーザーデータが所定のブロッ
ク単位で区切られて誤り訂正符号が付加され、インター
リーブ処理される。さらにRLL変調によりRLL変調
データが生成され、同期パターン等が付加された後、さ
らにこのRLL変調データがNRZI変調されてNRZ
I変調データによる記録に供するデータ列に変換され、
このデータ列に応じたレーザードライバ25による光ピ
ックアップ40の駆動により、光ディスク22にマーク
列が形成されてユーザーデータが記録される。
【0039】また同様にしてホスト装置より読み出しが
指示されると、光ピックアップ40より得られる再生信
号RFがイコライザ42により補正された後、PLL回
路44によりクロックCKが再生され、さらにこのクロ
ックCKを基準にしたアナログディジタル変換回路46
における処理により、ディジタル再生信号DRFが生成
される。光ディスク装置21では、このディジタル再生
信号DRFがビタビ復号回路47でビタビ復号されてR
LL変調データD2Rが復号される。光ディスク装置2
1では、エンコーダ/デコーダ29に設けられたフォー
マッタ35により、このRLL変調データD2Rより同
期パターンが検出され、この同期パターンを基準にした
RLL変調データD2Rの選択的な処理によりユーザー
データが再生され、このユーザーデータがホスト装置に
出力される。
【0040】このようにして再生信号RFを処理してユ
ーザーデータを再生する際に、光ディスク装置21で
は、エンベロープ検波回路52により再生信号RFのエ
ンベロープが検波されてエンベロープ検波信号ERFが
生成され、このエンベロープ検波信号ERFの信号レベ
ルの監視によりディフェクトが検出される。さらにディ
フェクトが検出されると、このディフェクト検出結果で
あるディフェクトフラグFDにより、PLL回路44に
おいて、位相比較結果である位相誤差信号がホールドさ
れ、これによりディフェクトによるクロックCKの変化
が防止される。
【0041】またビタビ復号回路47における処理過程
で、ディジタル再生信号DRFのオフセットが検出さ
れ、このオフセットを補正するように、DCレベル補正
回路43で生成される補正信号によりイコライザ42で
再生信号RFの信号レベルが補正され、ディフェクトフ
ラグFDによりディフェクトの検出が通知されると、こ
の補正信号がホールドされる。これにより光ディスク装
置21では、ディフェクトによるディジタル再生信号D
RFのオフセット変動が防止され、その分、ビタビ復号
回路47における誤り訂正能力が向上される。
【0042】またビタビ復号回路47において、ブラン
チメトリックの計算基準である振幅基準値が適宜更新さ
れ、ディフェクトフラグFDによりディフェクトの検出
が通知されると、この振幅基準値がホールドされる。こ
れによりディフェクトによる振幅基準値の誤った更新が
有効に回避され、これによってもビタビ復号回路47に
おける誤り訂正能力が向上される。
【0043】光ディスク装置21では、このようなエン
ベロープ検波信号ERFの信号レベルの監視によるディ
フェクトの検出においては、エンベロープ検波信号ER
Fの信号レベルが第1のしきい値THR1を越えて立ち
上がると、ディフェクトフラグFDが立ち上げられてデ
ィフェクトと判定され(図3)、充分なディフェクト検
出の感度を確保する信号レベルにこのしきい値THR1
が設定されていることにより、この光ディスク装置にお
いては、充分なディフェクトの感度を確保してディフェ
クトを検出することができる。
【0044】またこのようにディフェクトフラグFDが
立ち上げられた後においては、この第1のしきい値TH
R1より小さな信号レベルである第2のしきい値THR
2よりエンベロープ検波信号ERFの信号レベルが立ち
下がってディフェクトフラグFDが立ち下げられ、これ
によりヒステリシス特性により、エンベロープ検波信号
ERFの信号レベルを判定してディフェクトが検出され
る。光ディスク装置21においては、これにより第1の
しきい値THR1を跨ぐように、エンベロープ検波信号
ERFの信号レベルが変動してなる場合でも(図6参
照)、不必要なディフェクトフラグFDの立ち下がりを
防止することができ、これによりこのような信号レベル
の変化を呈するディフェクトについても、適切に検出す
ることができる。
【0045】これにより光ディスク装置21では、この
ディフェクト検出結果によりPLL回路で位相比較結果
をホールドすることにより、安定にクロックを生成する
ことができる。また補正信号をホールドしてイコライザ
42によりオフセットを補正して、さらにビタビ復号回
路47で振幅基準値をホールドして、安定に復号結果を
得ることができる。
【0046】(3)実施の形態の効果 以上の構成によれば、第1及び第2のしきい値によるヒ
ステリシス特性により再生信号の信号レベルを判定して
ディフェクトを検出することにより、充分なディフェク
ト検出の感度を確保して、種々のディフェクトを適切に
検出することができる。
【0047】またディフェクト検出結果によりPLL回
路における位相比較結果をホールドすることにより、安
定にクロックを再生することができる。
【0048】(4)他の実施の形態 なお上述の実施の形態においては、起動時に第1及び第
2のしきい値を設定する場合について述べたが、本発明
はこれに限らず、光ディスクに応じてこれら第1及び第
2のしきい値を設定する場合、再生信号RFの信号レベ
ル等に応じて適宜第1及び第2のしきい値を更新する場
合等に広く適用することができる。
【0049】また上述の実施の形態においては、ディフ
ェクト検出結果により、PLL回路における位相比較結
果、ビタビ復号回路における振幅基準値等をホールドす
ることにより、これらの回路における動作を切り換える
場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば
イコライザ42における適応等化の処理を停止する場合
等、ディフェクト検出結果を種々の制御に利用する場合
に広く適用することができる。
【0050】また上述の実施の形態においては、本発明
を相変化型光ディスク装置に適用する場合について述べ
たが、本発明はこれに限らず、光磁気ディスク装置等の
光ディスク装置、さらには再生専用の光ディスク装置に
も広く適用することができる。
【0051】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、第1及び
第2のしきい値によるヒステリシス特性により再生信号
の信号レベルを判定してディフェクトを検出することに
より、充分なディフェクト検出の感度を確保して、種々
のディフェクトを適切に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置を示
すブロック図である。
【図2】図1の光ディスク装置における書き込み時の説
明に供する信号波形図である。
【図3】図1の光ディスク装置におけるディフェクト検
出回路の動作の説明に供する信号波形図である。
【図4】従来の光ディスク装置を示すブロック図であ
る。
【図5】図4の光ディスク装置におけるディフェクト検
出回路の動作の説明に供する信号波形図である。
【図6】図5の場合とは異なる変化を呈するディフェク
トにおける動作の説明に供する信号波形図である。
【符号の説明】
1、21……光ディスク装置、3、22……光ディス
ク、2、40……光ピックアップ、7、42……イコラ
イザ、8、51……ディフェクト検出回路、9、44…
…PLL回路、11、47……ビタビ復号回路

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光ディスクにレーザービームを照射して得
    られる戻り光を受光して、前記光ディスクに形成された
    ピット列又はマーク列に応じて信号レベルが変化する再
    生信号を出力する光ピックアップと、 前記再生信号を信号処理してディフェクトを検出し、デ
    ィフェクト検出結果を出力するディフェクト検出回路
    と、 前記ディフェクト検出結果に応じて動作を切り換え、前
    記再生信号を信号処理して前記光ディスクに記録された
    データを再生する信号処理回路とを備え、 前記ディフェクト検出回路は、 第1及び第2のしきい値によるヒステリシス特性により
    前記再生信号の信号レベルを判定して前記ディフェクト
    検出結果を出力することを特徴とする光ディスク装置。
  2. 【請求項2】前記ディフェクト検出回路は、 前記再生信号をエンベロープ検波してエンベロープ検波
    信号を出力する検波回路と、 前記エンベロープ検波信号の信号レベルを前記第1のし
    きい値により判定して前記ディフェクト検出結果を立ち
    上げ、前記エンベロープ検波信号の信号レベルを前記第
    2のしきい値により判定して前記ディフェクト検出結果
    を立ち下げる比較回路とを有することを特徴とする請求
    項1に記載の光ディスク装置。
  3. 【請求項3】前記信号処理回路は、 前記再生信号との間の位相比較結果により電圧制御型発
    振回路を制御して、前記再生信号よりクロックを再生す
    るPLL回路と、 前記クロックを基準にして前記再生信号を処理して前記
    データを再生するデータ再生回路とを有し、 ディフェクト検出結果により前記PLL回路における前
    記位相比較結果をホールドすることを特徴とする請求項
    1に記載の光ディスク装置。
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Cited By (3)

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