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JP2003143961A - 植物又は植物群の3次元構造測定方法 - Google Patents

植物又は植物群の3次元構造測定方法

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JP2003143961A
JP2003143961A JP2001349857A JP2001349857A JP2003143961A JP 2003143961 A JP2003143961 A JP 2003143961A JP 2001349857 A JP2001349857 A JP 2001349857A JP 2001349857 A JP2001349857 A JP 2001349857A JP 2003143961 A JP2003143961 A JP 2003143961A
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Japan
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light
plant
measuring
laser
measurement
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JP2001349857A
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Takafumi Tanaka
隆文 田中
Shigeaki Hattori
重昭 服部
Kotaku Boku
昊澤 朴
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Nagoya University NUC
Japan Science and Technology Agency
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Nagoya University NUC
Japan Science and Technology Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡易な方法によって、測定装置と植物群との
距離が広範囲に渡る場合でも、植物群の構造全体を計測
することができる技術を実現する。 【解決手段】 測定対象物Bにスリット光を照射するレ
ーザユニット10と、レーザユニット10から照射され
るレーザ光Lに対し光軸が斜交するような位置関係に配
置されるCCDカメラ20とを有する光学式測定装置を
用いる。レーザユニット10から測定対象物B(植物又
は植物群)にスリット状のレーザ光を照射し、測定対象
物B(植物又は植物群)上に描かれる光切断像TをCC
Dカメラ20で測定する。レーザユニット10から照射
されるレーザ光の一つの照射方向について複数の露出時
間で測定対象物B上に描かれる光切断像Tを測定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】 本発明は、植物又は植物群
の3次元構造を測定する方法に関し、詳しくは測定対象
である植物又は植物群を破壊することなく非接触で測定
するための技術に関する。
【0002】
【従来の技術】 木(植物の一種)や森(植物群の一
種)の活力(健康度)を評価する一つの指標として、従
来から葉の状態(葉の数、生え方等)や枝の状態(枝の
数、枝の伸び方等)が用いられる。このため、従来から
木(又は森)を構成する葉や枝の状態(すなわち、木や
森の構造)を測定するための種々の技術が開発されてい
る。それら従来の技術の一つとして、本発明者等は、レ
ーザ光切断法を用いた木や森の構造を測定する技術を開
発している(Agricultural and Forest Meteorology 91
(1998) 149-160)。この技術では、測定対象物にスリッ
ト光を照射する光源と、スリット光の光面に対して光軸
が斜交するような位置関係で配置される撮像器とを用い
る。具体的には、光源から測定対象物(木や森等)にス
リット光を照射し、測定対象物(木や森等)によって反
射された光(反射光の輝度)を撮像器で撮像する。そし
て、撮像器で撮像された画像(スリット光によって形成
される光断面像)から、測定対象物(木や森等)の3次
元構造を求める。すなわち、光源の位置と撮像器の位置
と撮像された画像上の光の位置から、測定対象物(木や
森等)の3次元位置を算出する。このようなスリット光
の照射、反射光の取得、取得した画像のデータ解析を、
スリット光の照射方向を変えながら複数の光切断面に対
して行うことで、測定対象物の3次元構造を測定する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】 ところで、木(又は
森)は、多数の葉、多数の枝、多数の幹等により構成さ
れ、これらの各構成要素(葉、枝・幹)は、それぞれ光
の反射特性が異なる性質を有している。したがって、上
述した従来の技術を発展させ、測定された光の輝度(光
の強度,エネルギ)と測定対象物までの距離から反射特
性を算出し、その算出された反射特性から測定対象物が
葉なのか枝・幹なのかを判定することが考えられてい
る。しかしながら、木や森は多数の葉、多数の枝・幹等
が何重にも重なって構成される。したがって、測定装置
(光源,撮像器)と測定対象物(木や森)との距離は、
数メートルから20メートル以上の範囲に及ぶこととな
る。このため、測定装置から近くにある反射率の高い対
象物の場合と、測定装置から遠くにある反射率の低い対
象物の場合では、撮像器で測定される光の輝度が大きく
異なることとなる。このため、現在の撮像器の解像度で
は、木や森を広範囲に渡って測定(葉・枝・幹等の判
定)を行うことは不可能であって、測定対象物の一部し
か測定することできなかった。
【0004】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであって、その目的は、簡易な方法によって、測定
対象物(植物又は植物群)を広範囲に渡って計測するこ
とができる技術を実現する。
【0005】
【課題を解決するための手段、作用及び効果】 上記課
題を解決するため本発明に係る方法は、測定対象物に光
を照射する光源と、光源から照射される光に対し光軸が
斜交するような位置関係に配置される撮像器とを有する
光学式測定装置を用い、光源から植物又は植物群に光を
照射し、植物又は植物群から反射される光の輝度を撮像
器で測定することで植物又は植物群の3次元構造を測定
する方法であり、下記の位置決め工程、第1測定工程、
第2測定工程を有する。位置決め工程は、植物又は植物
群に対する光の照射方向が所定の方向となるように光源
を位置決めする。第1測定工程は、位置決め工程で位置
決めされた光源から光を照射し、第1の測定時間内に植
物又は植物群から反射される反射光の輝度を測定する。
第2測定工程は、位置決め工程で位置決めされた光源か
ら光を照射し、第2の測定時間内に植物又は植物群から
反射される反射光の輝度を測定する。そして、位置決め
工程を繰り返すことで光の照射方向を変えながら、位置
決めされた各照射方向について第1測定工程と第2測定
工程を行うことで、植物又は植物群の3次元構造を測定
する。
【0006】上記の方法では、光源から照射される光の
方向が決まると、その照射方向に対してそれぞれ、第1
の測定時間内に測定対象物(植物又は植物群)から反射
される反射光の輝度と、第2の測定時間内に測定対象物
(植物又は植物群)から反射される反射光の輝度が測定
される。したがって、短い測定時間の測定結果から測定
装置の近くにある測定対象物(植物又は植物群)の構造
を求めることができ、長い測定時間の測定結果から測定
装置の遠くにある測定対象物(植物又は植物群)の構造
を求めることができる。すなわち、短い測定時間(撮像
器の露出時間が短い)では、撮像器から近い距離にある
植物(特に、反射率の高い部分)から反射された光の輝
度だけが測定され、これによって測定装置から近い距離
にある植物(特に、反射率が高い部分)の構造を求める
ことができる。一方、長い測定時間(撮像器の露出時間
が長い)では、撮像器から近い距離にある植物と遠い距
離にある植物の両者から反射された光の輝度が測定され
る。ここで、長い測定時間とすると(すなわち、撮像器
の露出時間を長くすると)、近い距離にある植物(特
に、反射率の高い部分)から反射された光の輝度は撮像
器の解像度を越えて飽和することとなる(葉と枝・幹の
判別が不能となる)。しかしながら、近い距離にある植
物(植物群)の構造については、短い測定時間による測
定結果から求めることができるため、長い測定時間の測
定結果からは遠い距離にある植物(特に、反射率の低い
部分)の構造について求めることができれば良い。した
がって、上記の方法では測定時間を変えることによっ
て、測定装置と測定対象物(木や森等)との距離が広範
囲に渡っても測定対象物の構造を求めることができる
【0007】ここで、上記「第1の測定時間」と「第2
の測定時間」は、測定装置から測定対象物までの距離
(測定範囲)や撮像器の解像度に応じて適宜設定するこ
とができる。例えば、一桁程度異なる測定時間とするこ
とで広範囲に渡って測定対象物を測定することができ
る。また、測定対象物との距離(測定範囲)によって
は、第3の測定時間を設定して計測を行うようにしても
良い。すなわち、測定回数は、測定対象物、撮像器の解
像度等に応じて種々に変更することができる。また、
「光源」としては、光源からの光の照射角、反射光の撮
像器への入射角から測定対象物の3次元位置が特定でき
るものであればどのようなものでも良く、例えば、スリ
ット状(直線状)の光を照射するスリット光源や点状の
光を照射する光源等を用いることができる。
【0008】前記光源は少なくとも第1の波長の光と第
2の波長の光が照射可能となっており、前記の第1測定
工程と第2測定工程では、第1の波長と第2の波長の光
をそれぞれ照射し、それぞれの場合について反射される
反射光の輝度を測定することが好ましい。このような構
成によると、第1の波長の光を照射した場合と第2の波
長の光を照射した場合における反射光の輝度をそれぞれ
測定することで、測定対象物(植物又は植物群)の構造
をより正確に測定することができる。なお、第1の波長
の光として600〜700nmの波長帯域の光(赤色
光)を用い、第2の波長の光として700〜900nm
の波長帯域の光(近赤外)を用いることが好ましい。植
物(詳しくは、植物を構成する葉)の反射特性は、赤色
と近赤外の光のときに大きな違いがあり、この二つの波
長帯域の光を利用することで植物の構造をより正確に測
定することができる。
【0009】前記第1測定工程で測定される反射光の輝
度は、光源から光を照射しない状態で第1の測定時間内
に植物又は植物群から反射される反射光の輝度によって
補正され、前記第2測定工程で測定される反射光の輝度
は、光源から光を照射しない状態で第2の測定時間内に
植物又は植物群から反射される反射光の輝度によって補
正されていることが好ましい。このような構成による
と、測定装置の光源以外の外光(例えば、月光、屋外広
告灯等)の影響を取除くことができ、より正確に測定対
象物(植物又は植物群)の構造を測定することができ
る。
【0010】
【発明の実施の形態】 本発明は、下記に示す形態によ
って好適に実施することができる。 (形態1) 第1の波長の光は685nmの波長の光
(赤色レーザ光)であり、第2の波長の光は830nm
(近赤外レーザ光)である。木や森等の一構成要素であ
る葉は、赤色レーザ光に対する反射率が低く、近赤外レ
ーザ光に対する反射率が高い。一方、木や森等の他の構
成要素である枝・幹等は、赤色レーザ光に対する反射率
が高く、近赤外レーザ光に対する反射率も高い。したが
って、赤外レーザ光と近赤外レーザ光を用いて測定する
ことで、測定対象物が葉であるのか、それとも枝・幹で
あるのかの判別を正確に行うことができる。 (形態2) 測定装置の光源からはスリット状の光が照
射される。スリット状の光を照射することで、点状の光
を照射する場合に比較して、光の照射・反射光の測定の
回数を少なくすることができる。
【0011】
【実施例】 本発明の測定方法に係る具体的な実施例に
ついて図面を参照して説明する。図1に本発明の測定方
法を実施するための測定装置の構成を模式的に示してい
る。図1に示すように、本実施例に係る測定装置は、プ
ラットホーム30上の測定ヘッド(図示省略)に取付け
られるレーザユニット10及びCCDカメラ20と、C
CDカメラ20で撮影された画像データを記憶すると共
に、レーザユニット10,CCDカメラ20の動作を制
御する制御装置24とで構成される。レーザユニット1
0は、測定対象である植物群に対しスリット光を照射す
るレーザラインマーカ12(スリットレーザ)を備え
る。レーザラインマーカ12は、波長685nmの赤色
レーザ光と波長830nmの近赤外レーザ光のいずれか
を選択的に出射可能となっており、制御装置24の指示
に応じて一方の波長のレーザ光を出射する。また、レー
ザラインマーカ12は、ポテンションメータ14及びス
テッピングモータ16を介してプラットホーム30の測
定ヘッドに取付けられており、ステッピングモータ16
が回転することでレーザラインマーカ12から照射され
るレーザ光の照射方向が変わるようになっている。ステ
ッピングモータ16の回転角度はポテンションメータ1
4によって検出され、ポテンションメータ14で検出さ
れた回転角度は制御装置24に出力されるようになって
いる。制御装置24は、ポテンションメータ14から出
力される検出信号に基づいてステッピングモータ16を
駆動することで、レーザラインマーカ12から照射され
るレーザ光の照射角度が所望の角度となるように制御す
る。CCDカメラ20は、測定対象物から反射された光
の像(反射輝度)を撮像する装置であって、プラットホ
ーム30の測定ヘッドに対して撮影方向を調整可能に取
付けられている。CCDカメラ20とレーザユニット1
0間の距離は、測定前に予め所定の間隔となるように調
整され、また、CCDカメラ20の撮影方向は、CCD
カメラ20の光軸とレーザユニット10から照射される
スリット光の光面とが斜めに交わるよう(斜交するよ
う)に調整されている。CCDカメラ20には制御装置
24が接続されており、CCDカメラ20で撮像された
画像データは制御装置24に記憶される。制御装置24
は、汎用のパーソナルコンピュータであり、レーザユニ
ット10の動作を制御することでレーザ光の照射方向を
調整し、同時に、CCDカメラ20で撮影された画像デ
ータを制御装置内のハードディスクに格納する処理と、
制御装置24のハードディスクに格納された画像データ
を処理することで植物群の3次元構造を算出する処理を
行う。
【0012】次に、上述した測定装置を用いた測定方法
を説明する。なお、本発明に係る測定方法では、レーザ
ユニット10以外の光源による光の影響を少なくするた
め、測定対象物の測定は夜間に行われる。まず、図2〜
図4を用いて、レーザユニット10とCCDカメラ20
の配置からCCDカメラ20による画像の撮像、撮像し
た画像データから測定対象物の3次元位置の算出までの
手順を説明する。ここで、図2はレーザユニットから照
射されたスリットレーザ光により測定対象物に描かれる
光切断像をCCDカメラで撮像する状態を模式的に示す
図であり、図3はCCDカメラで撮像された画像から測
定対象物の3次元的位置を算出する際の原理を説明する
ための図であり、図4はレーザユニットから照射される
スリットレーザの照射角を変えながら測定対象物の全体
を測定する際の手順を説明するための図である。上述し
た測定装置によって測定対象物(植物群)を測定するに
は、まず、図2に示すように、測定対象物Bに対してス
リット光を照射するレーザユニット10を配置する。次
いで、レーザユニット10から測定対象物Bに対して照
射されるスリットレーザ光の光面とCCDカメラ20の
光軸(撮像方向)が斜交するようにCCDカメラ20を
配置する。なお、CCDカメラ20は、測定対象物Bの
全体が撮像できる位置に配置され、測定中にその光軸
(撮像方向)が変更されることはない。また、既に説明
したようにレーザユニット10とCCDカメラ20は、
プラットホーム30上に所定の間隔を設けて取付けられ
ているため、レーザユニット10とCCDカメラ20の
間隔(位置)が測定中に変更されることはない。
【0013】上述のようにしてレーザユニット10とC
CDカメラ20の位置が位置決めされると、レーザユニ
ット10からスリット光Lが照射される。レーザユニッ
ト10から照射されたスリット光Lの光面に測定対象物
Bがあると、測定対象物Bから光が反射され、これによ
って測定対象物Bの上に光切断像Tが描かれる。この光
切断像T(測定対象物Bにより反射された光)がCCD
カメラ20で撮像され、撮像された画像データは制御装
置24のハードディスクに記憶される。このようなスリ
ット光Lの照射と、測定対象物B上に描かれた光切断像
Tの撮像とを、スリット光Lの照射方向を変えながら行
うことで、測定対象物Bの全体について光切断像Tを撮
像する。すなわち、図4に示すように、ステッピングモ
ータ16を駆動することでレーザラインマーカ12から
照射されるレーザ光の照射方向をL1→L2→L3→L
4→L5・・と変えながら、各照射方向(レーザユニッ
ト10の各走査角)における光切断像TをCCDカメラ
20で撮像し、撮像した画像を制御装置24のハードデ
ィスクに記憶する。
【0014】レーザユニット10の各照射方向(各走査
角)における光切断像Tが撮像されると、撮像された各
画像から測定対象物Bの3次元の位置座標が算出され
る。3次元の位置座標を算出する原理を図3に基づいて
説明する。図3には、A点にレーザユニット10(光
源)が、C点にCCDカメラ20(撮像器)が配置さ
れ、測定対象物Bの座標(x,y,z)を算出する場合
を示している。図3に示すように、レーザユニット10
(光源)から照射されるスリット光の照射角θはポテン
ションメータ14によって検出されて既知であり、ま
た、レーザユニット10とCCDカメラ20はプラット
ホーム30上に取付けられて両者の距離dは既知であ
る。さらに、CCDカメラ20で撮像した画像内におけ
る座標値(画像内のピクセルの座標値)から、CCDカ
メラ20から見た対象物Bの方向〔すなわち、反射光の
CCDカメラ20への入射角(図3に示すαとβで規定
される)〕を求めることができる。このように3つの角
度θ,α,βと、レーザユニット10とCCDカメラ2
0間の距離dが分かると、図3に示す幾何学的関係から
以下に示す関係式が成立する。ここで、測定対象物Bの
位置座標は(x,y,z)とする。
【0015】
【式1】
【0016】したがって、上記の連立方程式を解くこと
によって、測定対象物Bの位置(x,y,z)が算出さ
れる。このような計算を撮像した画像内の全てのピクセ
ルについて行うことで画像内の各点の3次元の位置座標
が算出され、その点の反射輝度から各位置に何があるの
か(測定対象物の3次元構造)を特定することができ
る。
【0017】上述したレーザユニット10のレーザ照射
角を所定の角度に位置決めするレーザユニット10の位
置決め動作と、レーザユニット10から照射されたレー
ザ光による光切断像のCCDカメラ20による撮像と、
撮像された画像の制御装置24のハードディスクへの記
憶は、制御装置24がレーザユニット10及びCCDカ
メラ20を制御することにより自動的に行われる。以
下、測定対象物測定時における制御装置24の処理フロ
ーを図5,6を用いて説明する。ここで、図5は制御装
置24における画像撮影処理全体の手順を示すフローチ
ャートであり、図6は撮影した画像のデータ取込処理の
手順を示すフローチャートである。図5に示すように、
制御装置24は、まずレーザユニット10の照射方向が
所定の角度となるようレーザユニット10を位置決めす
る(S01)。具体的には、ステッピングモータ16を
駆動することでレーザラインマーカ12を回転させる。
この際、ポテンションメータ14でステッピングモータ
16の回転角を検出し、検出されたステッピングモータ
16(レーザラインマーカ12)の回転角から、レーザ
ラインマーカ12が所定の角度となる位置でステッピン
グモータ16の駆動を停止する。なお、レーザユニット
10の位置決め(ただし、最初の走査線上への位置決め
のみ)はレーザ光を照射しながら行われ、これにより測
定者は意図した測定範囲にレーザ光が照射されるか否か
を確認することができる。次に、CCDカメラ20によ
る測定対象物の撮影時間(露出時間)を決定し、ステッ
プS03で行われるCCDカメラ20の撮影のためにレ
ーザユニット10から照射されるレーザをOFFする
(S02)。すなわち、本実施例では、測定対象物を撮
影する撮影時間(CCDカメラ20の露出時間)を予め
設定された複数の条件(本実施例では2条件)に変え
て、それぞれの撮影時間で測定対象物を撮影する。この
ため、CCDカメラ20の露出時間を予め設定された複
数の露出時間の中の一つに決定する。また、ステップS
03では測定対象物にレーザが照射されていない状態で
画像を撮影するため、ステップS02ではレーザユニッ
ト10をOFFする。
【0018】次いで、制御装置24はCCDカメラ20
にデータ取込指令を出力することでデータ取込処理を行
う(S03)。このデータ取込処理については図6を用
いて説明する。図6に示すように、データ取込処理で
は、まず制御装置24はCCDカメラ20に対してデー
タ取込指令を出力する(S11)。この制御装置24か
らCCDカメラ20に出力されるデータ取込指令には、
図5のステップS02で決定された露出時間が含まれて
いる。データ取込指令がCCDカメラ20に出力される
と、CCDカメラ20は、測定対象物の撮影を開始し、
撮影開始からの経過時間がデータ取込指令で指示された
露出時間となったか否かを判断する(S12)。そし
て、指示された露出時間が経過していない場合〔ステッ
プS12でNOの場合〕にはCCDカメラ20による撮
影を続行する。一方、指示された露出時間が経過してい
る場合〔ステップS12でYESの場合〕には撮影(デ
ータ取込)を終了する(S13)。したがって、このス
テップS03のデータ取込処理によって、レーザユニッ
ト10からレーザ光が照射されていない状態でステップ
S02で設定された露出時間だけ測定対象物が撮影さ
れ、撮影された画像データが取込まれることとなる。な
お、CCDカメラ20により撮影された画像データは制
御装置24に転送され、制御装置24のハードディスク
上の所定のアドレスに格納される。
【0019】上述のステップS03のデータ取込処理が
終了すると、次に、制御装置24はレーザユニット10
から照射されるレーザ光の波長を設定する(S04)。
すなわち、本実施例では、レーザユニット10から波長
685nmの赤色レーザ光と、波長830nmの近赤外
レーザ光を交互に照射し、それぞれのレーザ光照射時に
おいて測定対象物の反射光の輝度をCCDカメラ20で
撮像する。したがって、このステップS04では、どち
らの波長のレーザ光を測定対象物に照射するかを設定す
る。ステップS04でレーザユニット10から照射する
レーザ光の波長が決まると、制御装置24はレーザユニ
ット10にステップS04で決定された波長のレーザ光
を測定対象物に照射するよう指令を出力する(S0
5)。これにより、レーザユニット10からは、ステッ
プS04で決定された波長のレーザ光が照射される。レ
ーザ光が照射が開始され、照射されるレーザ光の出力が
安定すると、次に、前述したデータ取込処理(図6参
照)を行う(S06)。したがって、このステップS0
6の処理では、ステップS04で決定された波長のレー
ザ光がレーザユニット10から測定対象物に照射された
状態で、ステップS02で決定された露出時間だけ測定
対象物を撮像する。
【0020】データ取込処理が終了すると、レーザユニ
ット10から照射されるレーザをオフし(S07)、次
いで、全ての波長についてステップS06のデータ取込
処理を行ったか否かを判断する(S08)。すなわち、
本実施例では、赤色レーザと近赤外レーザの2種類のレ
ーザ光を測定対象物に照射し、それぞれの場合について
CCDカメラ20で画像を撮像する。したがって、2種
類の波長のレーザ光を照射したそれぞれの場合について
測定対象物を撮像しているか否かを判定する。全ての波
長について画像を撮像していない場合〔ステップS08
でNOの場合〕には、ステップS04に戻ってステップ
S04からの処理を繰返す。これによって、レーザユニ
ット10から照射されるレーザ光の波長が変更されて、
測定対象物の画像が撮像される。一方、全ての波長につ
いて画像を撮影している場合〔ステップS08でYES
の場合〕にはステップS09に進んで、撮像しなければ
ならない全ての露出時間で測定対象物を撮像したか否か
が判断される(S09)。すなわち、本実施例では、測
定対象物を予め設定された複数の露出時間のそれぞれの
条件で撮影する。したがって、ステップS09では、全
ての露出時間(本実施例では2条件)で測定対象物を撮
影したか否かを判断する。
【0021】全ての露出時間で測定対象物を撮影してい
ない場合〔ステップS09でNOの場合〕には、ステッ
プS02に戻ってステップS02からの処理を繰返す。
したがって、ステップS02で露出時間が変更され、変
更された露出時間についてステップS03からの処理が
行われる。一方、全ての露出時間で測定対象物を撮影し
ている場合〔ステップS09でYESの場合〕にはステ
ップS10に進んで、予め設定された全てのレーザ照射
角(ステッピングモータ16の走査角)についてステッ
プS01〜ステップS09までの処理が終了しているか
否かが判断される(S10)。全てのレーザ照射角につ
いて処理が終了していない場合〔ステップS10でNO
の場合〕は、ステップS01に戻ってステップS01か
らの処理が繰返される。したがって、レーザユニット1
0のレーザ照射角が変更されて、ステップS02からの
処理が繰返される。一方、全てのレーザ照射角について
処理が終了している場合〔ステップS10でYESの場
合〕には画像撮影処理を終了する。
【0022】上述の説明から明らかなように、本実施例
に係る方法では、1つのスリット光(レーザユニット1
0の1つの照射方向)について、各露出時間毎に、(1)
レーザ光が照射されていない状態、(2)赤色レーザ光が
照射されている状態、(3)近赤外レーザ光が照射されて
いる状態の3条件で測定対象物が撮影される。なお、本
実施例では、露出時間は2条件であるので、レーザユニ
ット10の1つの照射方向について撮影条件を変えて計
6枚の画像が撮影され、次に説明する画像解析処理が行
われる。
【0023】制御装置24で行われる画像解析処理につ
いて図7に示すフローチャートを参照して説明する。図
7に示すように画像解析処理では、まず、解析対象とな
る画像を選択するための条件として、まず、撮影した画
像の各レーザ照射角(ステッピングモータ16の走査
角)の中から一つのレーザ照射角を選択する(S1
4)。すなわち、図4に示すようにレーザユニット10
でL1〜L5・・とレーザ照射角を変えて測定対象物を
撮影しているので、これらのレーザ照射角L1〜L5・
・の一つを選択する。レーザ照射角が選択されると、そ
のレーザ照射角で撮影された画像内の各点の座標(2次
元座標)を3次元の位置座標に変換する(S15)。す
なわち、既に説明した式1の連立方程式を解くことによ
って、画像内の各点の座標を3次元の位置座標に変換す
る(図3参照)。
【0024】次に、撮影条件の一つであるCCDカメラ
20の露出時間を選択する(S16)。具体的には、撮
影した2つの露出時間の中の一つの露出時間を選択す
る。ステップS14とステップS16により解析対象と
なる画像のレーザ照射角と露出時間が決定されると、ま
ずは、当該レーザ照射角及び当該露出時間で撮影した各
画像(具体的には、レーザ非照射時,赤色レーザ照射
時,近赤外レーザ照射時の3画像)の中からレーザ非照
射時の画像データを制御装置24のハードディスクから
読み込む(S17)。次に、照射されたレーザ光の波長
の一つを選択する(S16)。すなわち、赤色レーザ照
射時か近赤外レーザ照射時のいずれかを選択する。レー
ザ光の波長が選択されると、その波長のレーザ光を照射
した時の画像データ(ステップS14で選択されたレー
ザ照射角でレーザが照射され、ステップS16で選択さ
れた露出時間で撮影した画像のデータ)を制御装置24
のハードディスクより読み込む(S19)。次に、ステ
ップS19で読み込んだ画像データ(ステップS18で
選択された波長のレーザ光照射時の画像データ)の各点
の反射輝度を、ステップS16で読み込んだ画像データ
(レーザ非照射時の画像データ)の対応する点の反射輝
度によって修正する(S20)。すなわち、レーザ照射
時の画像データの反射輝度からレーザ非照射時の画像デ
ータの反射輝度を減算することによって、レーザ以外の
光源(例えば、月光、屋外広告灯等の外光)による影響
を除去する。各画像データの反射輝度が修正されると、
次に、その修正された各点の反射輝度をステップS15
で算出された3次元の位置座標とを関連付けて記憶する
(S21)。これによって、各位置座標(x,y,z)
における反射輝度とが関連付けられて記憶されることな
る。
【0025】ステップS22では、ステップS14で選
択されたレーザ照射角で、かつ、ステップS16で選択
された露出時間で撮影された全ての波長の画像データに
ついて、上記ステップS21の処理が行われたか否かを
判断する(S22)。全ての波長(本実施例では、赤色
レーザ光と近赤外レーザ光の2種類)についてステップ
S21の処理が終了していない場合〔ステップS22で
NOの場合〕には、ステップS18に戻ってステップS
18からの処理を繰り返す。これによって、ステップS
14で選択されたレーザ照射角で、かつ、ステップS1
6で選択された露出時間で撮影された赤色レーザ光照射
時の画像データと近赤外レーザ光照射時の画像データに
ついて、3次元の位置座標とその位置座標における反射
輝度とが関連付けられて記憶される。全波長についてス
テップS21の処理が終了している場合〔ステップS2
2でYESの場合〕には、ステップS14で選択された
レーザ照射角について,全ての露出時間の画像データ
(すなわち、短露出時間と長露出時間)についてデータ
処理が終了しているか否かを判断する(S23)。全て
の露出時間の画像データについてデータ処理が終了して
いない場合〔ステップS23でNOの場合〕には、ステ
ップS16に戻ってステップS16からの処理を繰り返
す。これによって、ステップS14で選択されたレーザ
照射角で撮影された全ての画像データについてステップ
S16からの処理が実行される。全ての露出時間につい
てデータ処理が終了している場合〔ステップS22でY
ESの場合〕には、次に、上述したデータ処理が全ての
レーザ照射角の画像データについて終了しているか否か
かを判断する(S24)。全てのレーザ照射角の画像デ
ータについてデータ処理が終了していない場合〔ステッ
プS24でNOの場合〕には、ステップS14に戻って
ステップS14からの処理を繰り返す。これによって、
撮影した全画像データの全てについてステップS21の
処理が実行されることとなる。
【0026】全ての画像データについてデータ処理が終
了している場合〔ステップS24でYESの場合〕に
は、ステップS21で格納された位置座標(x,y,
z)と、その位置座標の各反射輝度(赤色レーザ光の反
射輝度,近赤外レーザ光の反射輝度)から、その位置に
葉があるのか枝・幹があるのかを判別する(S25)。
すなわち、葉がある場合は、赤色レーザ光の反射輝度は
低く、近赤外レーザ光の反射輝度は高くなる。一方、枝
・幹がある場合は、赤色レーザ光と近赤外レーザ光の反
射輝度はともに高くなる。また、葉・枝・幹のいずれも
が無い場合は、赤色レーザ光と近赤外レーザ光の反射輝
度はいずれも低くなる。したがって、これらの特徴か
ら、各位置に葉があるのか枝・幹があるのかを判別す
る。これによって、測定対象物(植物又は植物群)の3
次元構造(葉と枝・幹の判別)が測定される。なお、衛
星画像解析の分野で提案されているNDVI(正規化植
生指標)を用いて、求めた反射輝度から植物(植物群)
の分光反射特性を評価することもできる。具体的には、
露出時間を短くして撮影した画像データの反射輝度をそ
の露出時間で除算することで正規化し、また、露出時間
を長くして撮影した画像データの反射輝度をその露出時
間で除算することで正規化する。そして、この正規化し
た反射輝度でNDVIを求め、測定した植物(植物群)
を総合的に評価する。NDVIは、次に示す式2であら
わされる。
【0027】
【式2】
【0028】式2中、Lrefはレーザ光非照射時の正規
化された反射輝度を示し、Lredは赤色レーザ光照射時
の正規化された反射輝度を示し、Lirは近赤外レーザ光
照射時の正規化された反射輝度を示している。上述した
葉と枝・幹の相違による反射特性の相違から明らかなよ
うに、NDVIの値が大きくなると、その位置に葉が存
在すると判定することができる。また、NDVIの値が
小さくなると、その位置には葉が存在せず、枝・幹又は
植物が存在しないと判定することができる。したがっ
て、NDVIの値によって植物(又は植物群)の葉の状
態が判定することができ、これによって植物の活性度
(健康度)を判定することができる。
【0029】以上本実施例に係る測定装置の構造及び動
作を説明してきたが、次に、上述の測定装置を用いて森
林(植物群)を測定した例について説明する。まず、本
実施例に係る測定装置を用いた森林測定の応用例につい
て図8を参照して説明する。図8は、測定装置を用いた
森林の測定の応用例を模式的に示した図である。図8
(a)に示す例は、森林内にレーザユニット10とCC
Dカメラ20を地面上に、地面と水平方向を撮影するよ
うに配置し、森林の低層部分を測定した例である。この
測定によって森林の低層部の植物群の状態(樹木の植
生,低層木の活性度)を判定することができる。図8
(b)に示す例は、森林内にレーザユニット10とCC
Dカメラ20を地面から上方に向って撮影するように配
置し、森林の上層部分を測定した例である。この測定に
よって森林内における高さ方向の葉の状態を判定するこ
とができる。図8(c)に示す例は、森林の上方にレー
ザユニット10とCCDカメラ20をセットし、森林の
林冠部を測定した例である。この測定によって林冠部の
葉の状態を判定することができる。図9及び図10は、
実際に測定した実験結果を示している。すなわち、森林
の林床(地面)に測定装置を真上に向けて設置した場合
(図8(b)の場合)の測定結果を3次元的に横から示
した図である。図中左側に落葉樹(コナラ)が、右側に
常緑樹(クスノキ)が示されており、植生指標(NDV
I)が高いほど濃い色で示されている。各図の測定条件
は、それぞれ、図9は落葉期に露出時間0.03秒(単
一露出時間)で測定した例であり、図10は落葉期に露
出時間0.063秒(単一露出時間)で測定した例であ
る。図9,図10から明らかなように、露出時間が短い
と測定装置から距離が近い植物群のみが観測され、一方
露出時間が長くなると測定装置から距離が離れた植物群
までが観測されている。ただし、露出時間が長くなる
と、測定装置から距離が近い植物群の植生指標が全て飽
和し、葉と枝・幹の区別が不能となっている(一方、図
9では測定装置から近い植物群の濃淡が表れている)。
したがって、露出条件を変えて複数の露出時間で植物群
を測定することで、植物群の3次元構造を広範囲に渡っ
て測定できることが確認された。
【0030】上述の説明から明らかなように、本実施例
に係る測定方法では、CCDカメラ20の露出時間を変
えて複数条件で撮影することで、短露出時間の測定によ
って測定装置から近い距離の植物(又は植物群)の3次
元構造を測定することができ、長露出時間の測定によっ
て測定装置から遠い距離の植物(又は植物群)の3次元
構造を測定することができる。また、赤色レーザ光と近
赤外レーザ光を照射して得られた輝度を、レーザ非照射
時に得られた輝度で修正するため、レーザ以外の光源
(月光、屋外広告灯等)の影響を除去することができ
る。
【0031】以上、本発明の具体例を詳細に説明した
が、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定する
ものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上
に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれ
る。また、本明細書または図面に説明した技術要素は、
単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性
を発揮するものであり、出願時請求項記載の組み合わせ
に限定されるものではない。また、本明細書または図面
に例示した技術は複数の目的を同時に達成するものであ
り、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的
有用性を持つものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の測定方法を実施するための測定装置
の構成を模式的に示す図。
【図2】 レーザユニットから照射されたスリットレー
ザ光による測定対象物の光切断像をCCDカメラで撮像
する状態を模式的に示す図。
【図3】 CCDカメラで撮像された画像から測定対象
物の3次元的位置を算出する際の原理を説明するための
図。
【図4】 レーザユニットから照射されるレーザ光の照
射角を変えながら測定対象物の全体を測定する際の手順
を説明するための図。
【図5】 画像撮影処理の手順を示すフローチャート。
【図6】 データ取込処理の手順を示すフローチャー
ト。
【図7】 画像解析処理の手順を示すフローチャート。
【図8】 本実施例に係る測定装置による森林測定の応
用例を模式的に示す図。
【図9】 測定結果の一例を示す図。
【図10】 測定結果の一例を示す図。
【符号の説明】
10・・レーザユニット 12・・レーザラインマーカ 14・・ポテンションメータ 16・・ステッピングモータ 20・・CCDカメラ 24・・制御装置(パーソナルコンピュータ) 30・・プラットホーム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 朴 昊澤 愛知県名古屋市千種区千代ヶ丘1番102− 314千代ヶ丘団地 Fターム(参考) 2F065 AA53 CC00 FF04 FF66 GG04 GG22 HH05 HH18 JJ03 JJ08 JJ26 QQ24 QQ31 UU05

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定対象物に光を照射する光源と、光源
    から照射される光に対し光軸が斜交するような位置関係
    に配置される撮像器とを有する光学式測定装置を用い、
    光源から植物又は植物群に光を照射し、植物又は植物群
    から反射される光の輝度を撮像器で測定することで植物
    又は植物群の3次元構造を測定する方法であり、 植物又は植物群に対する光の照射方向が所定の方向とな
    るように光源を位置決めする位置決め工程と、 その位置決め工程で位置決めされた光源から光を照射
    し、第1の測定時間内に植物又は植物群から反射される
    反射光の輝度を測定する第1測定工程と、 前記位置決め工程で位置決めされた光源から光を照射
    し、第2の測定時間内に植物又は植物群から反射される
    反射光の輝度を測定する第2測定工程とを有し、 前記位置決め工程を繰り返すことで光の照射方向を変え
    ながら、位置決めされた各照射方向について第1測定工
    程と第2測定工程を行うことで、植物又は植物群の3次
    元構造を測定することを特徴とする植物又は植物群の3
    次元構造測定方法。
  2. 【請求項2】 前記光源は少なくとも第1の波長の光と
    第2の波長の光が照射可能となっており、前記の第1測
    定工程と第2測定工程では、第1の波長と第2の波長の
    光をそれぞれ照射し、それぞれの場合について反射され
    る反射光の輝度を測定することを特徴とする請求項1に
    記載の植物又は植物群の3次元構造測定方法。
  3. 【請求項3】 前記第1測定工程で測定される反射光の
    輝度は、光源から光を照射しない状態で第1の測定時間
    内に植物又は植物群から反射される反射光の輝度によっ
    て補正され、前記第2測定工程で測定される反射光の輝
    度は、光源から光を照射しない状態で第2の測定時間内
    に植物又は植物群から反射される反射光の輝度によって
    補正されていることを特徴とする請求項1又は2に記載
    の植物又は植物群の3次元構造測定方法。
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