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JP2003069181A - 電子機器装置及びその製造方法 - Google Patents

電子機器装置及びその製造方法

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Publication number
JP2003069181A
JP2003069181A JP2001257592A JP2001257592A JP2003069181A JP 2003069181 A JP2003069181 A JP 2003069181A JP 2001257592 A JP2001257592 A JP 2001257592A JP 2001257592 A JP2001257592 A JP 2001257592A JP 2003069181 A JP2003069181 A JP 2003069181A
Authority
JP
Japan
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substrate
input
board
electronic device
electronic
Prior art date
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Pending
Application number
JP2001257592A
Other languages
English (en)
Inventor
Masanori Iwaki
賢典 岩木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2001257592A priority Critical patent/JP2003069181A/ja
Publication of JP2003069181A publication Critical patent/JP2003069181A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子部品を搭載した基板を複数積層して構成
する電子機器装置において、スルーホールなどの困難な
プロセスを用いず、小型化、軽量化、高密度化が可能で
歩留まりの良い積層型電子機器装置を得ることを目的と
する。 【解決手段】 各層間に再配線基板を配置し、再配線基
板が有する配線パターンによって、各層の入出力端子間
を接続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品を搭載し
た基板を複数積層して構成される電子機器装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来の技術について説明する。例えば、
特開2000−68443号公報には、LSIベアチッ
プを第一のインターポーザの面にフリップチップして搭
載を行いシングルモジュールを形成し、第一のインター
ポーザの両側部に設けられた外部端子によって第二のイ
ンターポーザの両面に接合し、第二のインターポーザは
当該第二のインターポーザの両側部に設けられた外部端
子によってマザーボードに搭載する積層型半導体装置の
積載構造が示されている。
【0003】また、特開平8−236694号公報に
は、シングルモジュールを単数もしくは複数個積層した
構造の半導体パッケージであって、フリップチップして
半導体チップを搭載した複数のシングルモジュールを積
層する際、導体ピンまたはCuコアにはんだをコーティ
ングしたバンプによってシングルモジュールを支持しつ
つ、3次元的に接続を行う半導体パッケージが示されて
いる。
【0004】以上のように構成された構造では、シング
ルモジュール間を接続する外部端子、またはスルーホー
ルは基板の辺縁部に設けられた構造であるため、I/O
数が多いロジック系のLSIでは、LSIの入出力端子
数に対して基板の辺縁部に設けられた外部端子数が少な
い場合、LSIのチップ寸法よりも大きな面積を持った
基板を用いなければならず、小型化および軽量化ができ
なかった。
【0005】また、外部端子がインターポーザの辺縁部
に集中しているため、積層数が多数におよぶ場合、隣接
していない離れたインターポーザ同士の間で入出力信号
の授受を行うなどの場合は、信号経路の選択が不自由で
あるため、遅延が生じるなどの問題点があった。
【0006】また、積層した基板同士をスルーホールに
よって接続する場合には、スルーホールの加工や、スル
ーホールへの導体の充填もしくは鍍金加工などのプロセ
スが必要であり、工程数が多くなり、通常の表面実装設
備しかない場合は新規設備投資が必要で低コスト化が難
しかった。
【0007】さらに、特開2000−307055号公
報では、複数の半導体チップと、複数の半導体チップが
搭載されて屈曲して半導体チップを積み重ねて配置する
基板とを含み、基板は着脱可能な粘着剤によって半導体
チップが積み重ねられた屈曲状態が維持されている電子
機器が示されており、本従来例の効果として半導体チッ
プの交換が可能な点が上げられている。
【0008】しかし、通常、半導体チップは異方性導伝
材料を使用して基板に接続されているため、異方性導伝
材料が硬化反応率が80%以下でも、薬品で異方性導伝
材料を除去すると基板が溶けたり伸びたりしてチップの
交換は事実上不可能であった。また、はんだを使用して
基板に接続された場合でも、同様にはんだが除去しきれ
ずに残ってしまい、チップの交換は事実上不可能であっ
た。即ち、一つの基板を屈曲して用いるため部品を全て
搭載してからでないと検査を行うことができないが、一
度半導体チップを基板上に搭載してしまうと、基板を屈
曲前後であろうと、上記の通り半導体チップの交換は行
うことができない。そのため、複数の半導体の内の一つ
が不良だった場合でも全てを不良扱いするために歩留ま
りが悪く、低コスト化ができなかった。
【0009】逆に、基板を分離して各基板ごとに機能ブ
ロックを構成し検査できるようにした場合には、歩留ま
りは向上するものの、スルーホールなどの困難なプロセ
スが必要となり、工程の複雑化の他、設備面からもコス
トを低くできないという問題があり、両立が難しかっ
た。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上のよう
な問題点を解決するためになされたものであり、スルー
ホールなどの困難なプロセスを用いず、小型化、軽量
化、高密度化が可能な積層型電子機器装置を得ることを
目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる電子機器
装置は、電子部品を搭載するとともに、入出力端子を設
けた基板を複数積載した電子機器装置であって、前記複
数の基板の間に配置され、配線パターンを有する再配線
基板を備え、この再配線基板の両側に位置する基板の入
出力端子を前記再配線基板の配線パターンを介して接続
したことものである。
【0012】また、前記再配線基板は、前記再配線基板
に対向する前記基板面上の各入出力端子と対向する位置
に入出力端子を有するものである。
【0013】また、前記再配線基板は、表面および内部
の少なくとも一つに配線パターンが形成されたFPCフ
ィルムであるものである。
【0014】また、電子部品を搭載するとともに、入出
力端子が設けられた屈曲可能な端部を有する基板を複数
積層した電子機器装置であって、前記基板が、当該基板
の屈曲可能な端部を屈曲し、当該端部の入出力端子によ
って他の基板と電気的に接続するものである。
【0015】また、前記基板に搭載した回路的には不要
な電子部品からなるダミー部品によって各層間を支持す
るものである。
【0016】また、前記基板上に塗布して、熱硬化させ
たエポキシ系樹脂によって各基板を支持するものであ
る。
【0017】また、前記基板上に塗布して、熱硬化、ま
たは常温硬化させたシリコン系樹脂によって各基板を支
持するものである。
【0018】また、前記入出力端子は、Sn−Pb系ク
リームはんだからなるものである。
【0019】また、前記入出力端子は、導電性樹脂また
は異方性導電樹脂からなるものである。
【0020】また、前記基板は、複数の電子部品を組み
合わせて一つの機能ブロックを形成したものである。
【0021】また、本発明に係わる電子機器装置の製造
方法は、基板に電子部品を搭載するとともに、入出力端
子を設ける工程と、再配線基板に配線パターンを形成す
る工程と、前記基板の上に前記再配線基板を積層する工
程と、当該再配線基板が積層されたシングルモジュール
を複数個積層して接続する工程とを備えたものである。
【0022】また、前記再配線基板は、表面または内部
の少なくとも1つに配線パターンが形成されたFPCフ
ィルムであるものである。
【0023】また、前記基板に電子部品を搭載するとと
もに、入出力端子を設ける工程において、さらにダミー
部品も搭載するものである。
【0024】また、前記基板に電子部品を搭載するとと
もに、入出力端子を設ける工程の後、前記電子部品が搭
載された基板に電気試験、および特性試験を行い、良好
な基板を選別する工程を備えたものである。
【0025】また、前記基板の上に再配線基板を積層す
る工程では、前記基板上にエポキシ系樹脂、またはシリ
コン系樹脂を塗布した後、再配線基板を積層するもので
ある。
【0026】また、前記基板に電子部品を搭載するとと
もに、入出力端子を設ける工程では、前記基板にSn−
Pb系クリームはんだからなる入出力端子を設けるもの
である。
【0027】また、前記基板に電子部品を搭載するとと
もに、入出力端子を設ける工程では、前記基板には導電
性樹脂または異方性導伝樹脂からなる入出力端子を設け
るものである。
【0028】
【発明の実施の形態】実施の形態1.本発明の実施の形
態1について説明する。図1は本発明の実施の形態1に
係わる電子機器装置の構成を表すブロック図である。1
はLSIチップ、2はLSIチップ以外の電子部品、3
a、3b、3cはLSIチップ1および電子部品2を搭
載する基板であり、プリント基板、セラミック多層基
板、FPC(flexible printed ci
rcuit)フィルムなどが用いられる。4a、4bは
基板3の間に配置された再配線基板でありFPCフィル
ムが好適である。5は金ワイヤ、6はモールド樹脂、7
は金属ボール、8は入出力端子、9はスペーサーとして
用いるダミー部品、10は熱硬化性樹脂、12は配線パ
ッドである。
【0029】本発明の実施の形態1は、図1のように基
板3aおよび3bの間に再配線基板4aを、基板3bと
3cの間に再配線基板4bを配置した構成となってい
る。以下、特に基板3a、3bと再配線基板4aについ
て説明する。図2(a)、図2(b)、図2(c)はそ
れぞれ基板3a上面、再配線基板4a、基板3b下面の
回路配置を表す図である。説明の便宜上、回路の要部の
み示す。また、図2(b)の再配線基板4aについては
上方から透視した下面の配線パットもあわせて示す。図
2(a)、図2(b)、図2(c)において図1と同じ
構成要素には同じ符号を付す。11は再配線基板4の表
面もしくは内部に設けられた配線パターン、12aは基
板3a上面の配線パッド、12bは基板3aと対向する
再配線基板4a面上の配線パッド、12cは基板3bと
対向する再配線基板4b面上の配線パッド、12dは基
板3b下面の配線パッドである。
【0030】図2(a)、図2(b)に示したように、
基板3a、3b上には電子部品が搭載される。1はLS
Iチップ、2はコンデンサ、抵抗などの受動素子であ
る。LSIチップ1の搭載方法はワイヤーボンド実装、
またはフリップチップ実装いずれでもよい。その他、基
板3a、3b上の配線パターン11が疎な部分に配線パ
ッド12a、12dを配置する。このようにして、各入
出力端子8が基板3a、3bの辺縁部のみに偏らないよ
うにする。次に、図2(b)に示したように、再配線基
板4aの上下2つの面上の配線パターンは、基板3aの
配線パッド12aと基板3bの配線パッド12dとを接
続している。基板3a、3b上の入出力端子同士を、再
配線基板4aを介しないで直接接続する場合には、当然
向かい合ったプリント基板上の配線パターンが異なるた
めに、一方の配線パターンが疎な部分に入出力端子8を
配置しても、他方ではLSIチップ1、電子部品2、配
線などが多数あって入出力端子8を配線できない。しか
し、再配線基板4aを介して接続するようにすれば、基
板3a、3b上の各入出力端子8をそれぞれの面上の配
線パターンの疎な部分に配置することができ、効率のい
い配置を行うことで基板3a、3bの面積も、辺縁部の
みに入出力端子8を配したときとくらべて小さく抑える
ことができる。
【0031】次に、本発明の実施の形態1に係わる電子
機器装置の製造方法について説明する。図3(a)、図
3(b)および図3(c)は本発明の実施の形態1に係
わる電子機器装置の製造工程を表す図である。図2
(a)、(b)、(c)と同じ構成要素には同じ符号を
付す。まず、図3(a)に示したように、電子部品2
が、クリームはんだが印刷または塗布されたプリント基
板3aの片面に表面実装される。同様に、LSIチップ
1も基板3aにダイボンドされ、ワイヤーボンド実装、
またはフリップチップ実装にて実装搭載し、同時にSn
−Pb系のはんだからなる入出力端子8も搭載し、リフ
ロー炉にて加熱して接着する。
【0032】次いで、図3(b)に示したように、基板
3aのもう一方の面にも電子部品2およびLSIチップ
1を図3(a)に示した場合と同様に搭載するととも
に、配線パッド12aと、さらに基板3aと再配線基板
4a間の間隔を確保するためのスペーサとして用いるダ
ミー部品9も搭載する。当該ダミー部品9は、回路的に
は不要なものであり、配線パターンの無い部分に配置さ
れる。リフロー炉にてLSIチップ1、電子部品2、ダ
ミー部品9、配線パッド12aを加熱して接着する。こ
こで、当該シングルモジュールの電気試験および特性試
験を行い、良品のみを次工程に流せば、次工程後の歩留
まりが向上する。
【0033】このように両面を形成した基板3aの表面
に熱硬化性樹脂10を塗布した後、基板3aの上に、あ
らかじめ配線パターン11が表面または内部に形成さ
れ、かつ、配線パッド12b上に入出力端子8が設けら
れた再配線基板4aを積層して熱硬化させることでシン
グルモジュールの両面を形成する。前記したシングルモ
ジュールの電気試験および特性試験はこの工程の後で行
ってもよい。
【0034】熱硬化性樹脂10に粘度の低いものを用い
れば、基板3a上の配線パッド上に塗布しても、積載す
る再配線基板4aの自重で熱硬化性樹脂10の膜を突き
破って入出力端子8が配線パッド12aと接触すること
ができるため、配線パッド12上であってもディスペン
サー等の装置で自動的に塗布して問題ない。
【0035】次に、図3(c)に示したように、第一の
シングルモジュールの上部にある再配線基板4a上面
に、熱硬化性樹脂10を塗布し、さらにその上に第二の
シングルモジュールを載せリフロー炉または熱硬化炉に
よって熱硬化させる。この工程を繰り返すことで、積層
構造を持った電子機器装置が形成される。
【0036】基板3の上に再配線基板4を積層する場合
や、シングルモジュールの上にさらにシングルモジュー
ルを積層する場合には、通常の表面実装で用いるマウン
タなどの装置を適用すれば、積層の際の入出力端子の位
置合わせも容易で、新規設備を導入する必要がない。
【0037】以上の例では、入出力端子としてSn−P
b系クリームはんだを用いたが、その他、Sn−Pb系
にAgを配合したはんだや、導電性樹脂、もしくは異方
性導伝樹脂を用いてもよい。
【0038】また、基板間の支持に熱硬化性樹脂および
ダミー部品を用いたが、積層構造を維持する強度が保て
るならば、どちらか一方のみでもよく、また、代わりに
入出力端子にCu、Ag、Ni、Feなどの金属核をは
んだでコーティングしたボールを用いて支持してもよ
い。
【0039】以上のように、本発明の実施の形態1に係
わる電子機器装置は、配線パターンを有する再配線基板
を備え、上下のプリント基板上の入出力端子を前記再配
線基板の配線パターンを介して接続することで、スルー
ホールなどの困難なプロセスを用いず、配線の自由度が
向上し、小型化、軽量化、高密度化が可能な電子機器装
置を得る。
【0040】また、各基板上にシングルモジュールを形
成することで、当該シングルモジュールごとに電気試験
および特性試験を行い、良品のみを次工程に流すため歩
留まりを良くすることができる。
【0041】実施の形態2.前記実施の形態1では、再
配線基板を用いたが、本実施の形態2では、基板に少な
くとも一端が屈曲可能な基板を用い、当該屈曲可能な一
端が他の基板と電気的に接続しているため、スルーホー
ルなどの困難なプロセスを用いず、接続が容易であり、
低コスト化が図れ、また基板ごとに機能ブロックを構成
し、検査を行うため歩留まりが良い電子機器装置を得る
ものである。
【0042】図4は本発明の実施の形態2に係わる電子
機器装置の構成を表す断面図である。図1と同じ構成要
素には同じ符号を付す。13は配線パターンを有し少な
くとも一端が屈曲可能な基板、14は基板13の配線パ
ターンを有する屈曲部、15は導電性樹脂である。
【0043】図のように、屈曲部14を有する基板13
を導電性樹脂15を介して積層する構造とし、各基板1
3上には複数の電子部品を搭載して一つの機能ブロック
を形成する。入出力端子が基板端部に集中するため、基
板面積の小型化にはつながらないが、各基板13上の機
能ブロックは積層する前に電気試験および特性試験を行
い、良品のみを用いて積層するため、従来例のような屈
曲可能な基板一枚を折り畳んで積層構造とした場合と比
べて歩留まりが良くなる。また、基板13の屈曲部14
を屈曲して他の基板13と導電性樹脂15で接着するだ
けで、電気的接続を行えるため、製造の際にスルーホー
ルなどの困難なプロセスを伴わず、基板同士の位置合わ
せも容易であり、通常の基板を積層した電子機器装置と
比べて低コスト化が図れる。
【0044】基板13は全てをFPCフィルムで構成し
てもよいが、電子部品2の搭載部分には通常のプリント
基板、セラミック基板等を用い、屈曲部14のみをFP
Cフィルムとしてもよい。
【0045】なお、図4で示したように、マザーボード
(図示せず)と入出力端子8で接続する最下段の基板3
には、基板のそりや変形によってマザーボードとの電気
的接続が行えなくならないように、プリント基板やセラ
ミック基板などの剛性の高い部材を用いるのが効果的で
ある。
【0046】製造方法については、図5に示したように
実施の形態1に示したものと同様に各基板の両面を構成
する。そして、各基板13の屈曲部14を屈曲し、積層
面に熱硬化性樹脂10を塗布し、また、他の基板の屈曲
部14が接続する部分には導電性樹脂15を塗布して順
次積層する。
【0047】また、図4では隣接した基板3および基板
13同士を接続したが、積層数が多数におよび、最上層
と最下層間の配線が長くなる場合には、図6に示したよ
うに、最下層の基板3と離れた基板13、または、離れ
た基板13間を屈曲部14で接続する構成としてもよ
い。
【0048】以上のように、本実施の形態では、屈曲可
能な基板を用いることで、スルーホールなどの困難なプ
ロセスを用いず、基板間の接続が容易であり、低コスト
化が図れる積層型電子機器装置を得る。
【0049】また、基板ごとに機能ブロックを実現して
検査を行い、良品のみを次工程に流すため、歩留まりが
よくなる。
【0050】
【発明の効果】以上のように、本発明に係わる電子機器
装置は、電子部品を搭載し、入出力端子を設けた基板を
複数積層して構成する電子機器装置であって、再配線基
板が有する配線パターンによって、各層の入出力端子間
を接続するため、スルーホールなどの困難なプロセスを
用いず、基板間の接続が容易であり、低コスト化が図
れ、また、基板間の入出力端子が基板の辺縁部に集中し
ないため、小型化、軽量化、高密度化が可能なものであ
る。
【0051】また、再配線基板を用いる代わりに、前記
基板に入出力端子が設けられた屈曲可能な端部を有する
基板を用いて、当該屈曲可能な端部の入出力端子によっ
て他の基板と電気的に接続することで、スルーホールな
どの困難なプロセスを用いず、基板間の接続が容易であ
り、低コスト化が図れるものである。
【0052】また、再配線基板にFPCフィルムを用い
ることで、更に小型化、軽量化、高密度化を図るもので
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態1に係わる電子機器装置
の断面図である。
【図2】 本発明の実施の形態1に係わる電子機器装置
の基板上の配線の要部を表す図である。(a)基板3b
下面の配線を表す図である。(b)再配線基板4aの配
線を表す図である。(c)基板3a上面の配線を表す図
である。
【図3】 本発明の実施の形態1に係わる電子機器装置
の製造方法を表す図である。
【図4】 本発明の実施の形態2に係わる電子機器装置
の断面図である。
【図5】 本発明の実施の形態2に係わる電子機器装置
の製造方法を表す図である。
【図6】 本発明の実施の形態2に係わる電子機器装置
の断面図である。
【符号の説明】
1 LSIチップ、 2 電子部品、 3a、3
b、3c 基板、4a、4b 再配線基板、 5 金
ワイヤ、 6 モールド樹脂、7 金属ボール、
8 入出力端子、 9 ダミー部品、10 熱硬化性
樹脂、 12 配線パッド、12a 基板3a上面の
配線パッド、12b 再配線基板4a下面の再配線パッ
ド、12c 再配線基板4a上面の再配線パッド、12
d 基板3b下面の再配線パッド、13 一端が屈曲可
能な基板、 14 基板13の屈曲部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 25/11 H05K 1/18 S 25/18 3/36 A H05K 1/02 B 1/18 H01L 25/14 Z 3/36 Fターム(参考) 5E336 AA11 AA12 AA16 BB02 BB07 BC21 CC31 CC51 CC55 DD16 EE01 GG05 GG09 GG30 5E338 AA02 AA05 AA12 BB51 BB54 EE21 EE22 EE31 EE51 5E344 AA01 AA10 AA22 AA23 AA28 BB02 BB03 BB04 BB16 CC15 CC23 CD02 CD21 CD38 DD02 DD06 EE12 EE16 EE21 EE26

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子部品を搭載するとともに、入出力端
    子を設けた基板を複数積載した電子機器装置であって、 前記複数の基板の間に配置され、配線パターンを有する
    再配線基板を備え、 この再配線基板の両側に位置する基板の入出力端子を前
    記再配線基板の配線パターンを介して接続したことを特
    徴とする電子機器装置。
  2. 【請求項2】 前記再配線基板は、当該再配線基板に対
    向する前記基板面上の各入出力端子と対向する位置に入
    出力端子を有することを特徴とする請求項1記載の電子
    機器装置。
  3. 【請求項3】 前記再配線基板は、表面および内部の少
    なくとも一つに配線パターンが形成されたFPCフィル
    ムであることを特徴とする請求項1または2記載の電子
    機器装置。
  4. 【請求項4】 電子部品を搭載するとともに、入出力端
    子が設けられた屈曲可能な端部を有する基板を複数積層
    した電子機器装置であって、 前記基板が、当該基板の屈曲可能な端部を屈曲し、当該
    端部の入出力端子によって他の基板と電気的に接続する
    ことを特徴とする電子機器装置。
  5. 【請求項5】 前記基板に搭載した回路的には不要な電
    子部品からなるダミー部品によって各層間の支持をする
    ことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載の電
    子機器装置。
  6. 【請求項6】 前記基板上に塗布し、熱硬化させたエポ
    キシ系樹脂によって各層間の支持をすることを特徴とす
    る請求項1〜5いずれか一項記載の電子機器装置。
  7. 【請求項7】 前記基板上に塗布し、熱硬化、または常
    温硬化させたシリコン系樹脂によって各層間の支持を支
    持することを特徴とする請求項1〜6いずれか一項記載
    の電子機器装置。
  8. 【請求項8】 前記入出力端子は、Sn−Pb系クリー
    ムはんだからなることを特徴とする請求項1〜7いずれ
    か一項記載の電子機器装置。
  9. 【請求項9】 前記入出力端子は、導電性樹脂または異
    方性導電樹脂からなることを特徴とする請求項1〜8い
    ずれか一項記載の電子機器装置。
  10. 【請求項10】 前記基板は、複数の電子部品を組み合
    わせて一つの機能ブロックを形成したことを特徴とする
    請求項1〜9いずれか一項記載の電子機器装置。
  11. 【請求項11】 基板に電子部品を搭載するとともに、
    入出力端子を設ける工程と、再配線基板に配線パターン
    を形成する工程と、前記基板の上に前記再配線基板を積
    層する工程と、当該再配線基板が積層されたシングルモ
    ジュールを複数個積層して接続する工程とを備えること
    を特徴とする電子機器装置の製造方法。
  12. 【請求項12】 前記再配線基板は、表面および内部の
    少なくとも一つに配線パターンが形成されたFPCフィ
    ルムであることを特徴とする請求項11記載の電子機器
    装置の製造方法。
  13. 【請求項13】 前記基板に電子部品を搭載するととも
    に、入出力端子を設ける工程において、さらにダミー部
    品も搭載することを特徴とする請求項1または12記載
    の電子機器装置の製造方法。
  14. 【請求項14】 前記基板に電子部品を搭載するととも
    に、入出力端子を設ける工程の後、前記電子部品が搭載
    された基板に電気試験、および特性試験を行い、良好な
    基板を選別する工程を備えたことを特徴とする請求項1
    1〜13いずれか一項記載の電子機器装置の製造方法。
  15. 【請求項15】 前記基板の上に再配線基板を積層する
    工程では、前記基板上にエポキシ系樹脂、またはシリコ
    ン系樹脂を塗布した後、再配線基板を積層することを特
    徴とする請求項11〜14いずれか一項記載の電子機器
    装置の製造方法。
  16. 【請求項16】 前記基板に電子部品を搭載するととも
    に、入出力端子を設ける工程では、前記基板にSn−P
    b系クリームはんだからなる入出力端子を設けることを
    特徴とする請求項11〜15いずれか一項記載の電子機
    器装置の製造方法。
  17. 【請求項17】 前記基板に電子部品を搭載するととも
    に、入出力端子を設ける工程では、前記基板には導電性
    樹脂または異方性導伝樹脂からなる入出力端子を設ける
    ことを特徴とする請求項11〜16いずれか一項記載の
    電子機器装置。
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