JP2002299138A - 非接触充電器用平面磁気素子 - Google Patents
非接触充電器用平面磁気素子Info
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Abstract
が得られる、非接触充電器用平面磁気素子を提供する。 【解決手段】 磁性体体積密度が25%以上のフェライト
磁性層の片面に、平面コイルを、その上面を露出させて
埋設する。
Description
載される薄型の平面磁気素子に関し、特にその充電効率
の有利な向上を図ったものである。
伴い、Liイオン電池のような2次電池で駆動する携帯機
器が多用されている。このような分野では、機器寸法の
面での制約などから、主に接点を用いた充電システムが
用いられている。しかしながら、携帯機器は人体の近く
に常備されることが多く、接点形では信頼性に問題の生
じるおそれがあるため、非接触形の充電システムが要望
されている。
ハブラシなどの水廻りの機器には従来から用いられてき
た(例えば、特開平2000−78763 号公報)。一方、携帯
情報機器関連では、カード型非接触充電の例がある(Ka
nai et al:IEEE APEC Record, pp.1157 −1162 (2000)
や金井ら:電気学会マグネティクス研究会 MAG−00−1
50 など)。かかる非接触充電システムにおけるコイル
は、フェライト板やアモルフス薄帯上に銅線を巻き回し
た構造になっている。
次に述べるような問題があった。 (1) コイル厚さが1mm程度でかつ寸法が数cm角と大きい
ため、占有体積が大きく、機器の小型・薄型化が阻害さ
れる。 (2) 磁性コア間を渡る磁束がコイルを横切るため、コイ
ルでの渦電流の発生が大きく、損失が大きい。
法やシート法で形成したフェライト磁性膜を用いた平面
型の磁気素子が知られている(特開平11−26239 号公
報)。この平面磁気素子は、フェライト粉にバインダを
混ぜた磁性ペーストをSi基板上に印刷、焼成することに
よって高抵抗のフェライト磁性膜を形成し、この膜上に
コイルパターンをめっき法などで形成したのち、さらに
その上に磁性膜を形成して磁気素子とするものである。
コイルの損失を効果的に抑制することができるが、コイ
ルの両側に磁性体を配置しているため磁束の外部への取
り出しが十分とはいえず、受送電コイル間の磁束がお互
いのコイルを横切らないため、非接触充電器用としては
十分な能力を発揮できない。従って、本発明が対象とし
ているような非接触充電器用コイルとしては、適用する
ことができなかった。
に鑑み開発されたもので、非接触充電器の特に受電側に
ついて、その小型・薄型化を満足しつつ、さらに良好な
充電効率が得られる、新規な構造になる非接触充電器用
平面磁気素子を提案することを目的とする。
の目的を達成すべく鋭意研究を重ねたところ、フェライ
ト磁性層の片面に、平面コイルを、その上面を露出させ
て埋設し、さらに好ましくは平面コイルのコイル線の厚
みおよび幅をそれぞれ適正な範囲に調整することによっ
て、所期した目的が有利に達成されることの知見を得
た。本発明は、上記の知見に立脚するものである。
である。 1.磁性層の片面に、上面を露出させて平面コイルを埋
設した構造になる平面磁気素子であって、該磁性層が磁
性体体積密度:25%以上のフェライト磁性層からなるこ
とを特徴とする非接触充電器用平面磁気素子。
性層から露出しているので、充電器側の送電コイルと機
器本体側の受電コイルとのギャップを小さくすることが
でき、ひいては受送電コイル間の磁束をお互いのコイル
に十分に横切らせることができるので、充電効率を格段
に向上させることができる。
子(コイル形状はスパイラル型)を模式で示す。図1
(a) は平面図、同図(b) はそのA−A断面図であり、図
中番号1はフェライト磁性層、2は平面コイル、そして
3が端子である。上記のフェライト磁性層において、磁
性体の体積密度を 25vol%以上としたのは、これ未満で
は、充電器側の送電コイルと機器本体側の受電コイル間
の磁気的結合(次式に示す結合係数kで表される)が小
さくなって十分の充電特性が得られないからである。 k=M/(L1 ×L2 )1/2 ここで、M:相互インダクタンス L1 ,L2 :コイル1,2の自己インダクタンス(例え
ば、L1が送電側コイルのインダクタンス、L2 が受電
側のインダクタンスとなる) なお、本発明を受電コイルとして利用する場合、500kHz
以上、 20MHz以下の周波数で受電する方式の非接触充電
システムに搭載すると特に有利である。
の厚みは5〜500 μm 程度とすることが好ましい。とい
うのは、この厚みが5μm に満たないと結合係数が小さ
く、一方 500μm を超えると磁気素子の厚みが厚くなる
からである。さらに、コイルの厚みは5〜200 μm 程度
とすることが好ましい。というのは、この厚みが5μm
に満たないとコイル直流抵抗が大きくなり、一方 200μ
m を超えるとレジスト露出やコイル線間をフェライトで
埋めることが困難となるからである。
線の幅および厚みをそれぞれ、次式で示される表皮厚み
δの 0.5倍以上、8倍以下としたことを特徴とする非接
触充電器用平面磁気素子。 δ={2/(μ・σ・ω)}1/2 ここで、μ:透磁率 σ:電気伝導率(S) ω:角振動数(=2πf) なお、透磁率および電気伝統率は、平面コイルの透磁率
および電気伝統率である。
幅をそれぞれ、好適範囲に規定したものである。コイル
線の厚みや幅が表皮厚み以上のコイルに高周波電流を流
すとコイル表面にしか電流が流れず、交流抵抗が大きく
なる。しかしながら、これらの値を表皮厚みに揃える
と、コイル断面積が小さくなり、直流抵抗が大きくなっ
て、その結果損失が大きくなる。これを避けるために、
コイル線の幅を表皮厚み程度に分割したコイルが用いら
れることが多い。しかしながら、この場合、コイル線間
のスペースが大きくなるため、素子の小型化が損なわれ
る。
よる損失の和が最小となる組み合わせについて種々検討
を重ねたところ、図2に示すコイル線の厚みaおよび幅
bをそれぞれ、次式で示される表皮厚みδの 0.5倍以
上、8倍以下とすることが有効であることが分かった。 δ={2/(μ・σ・ω)}1/2 なお、コイル線の厚みおよび幅が表皮厚みδの 0.5倍に
満たないと、コイル直流抵抗が大きくなり、コイルが発
熱する。一方、8倍を超えると、直流抵抗は小さくなる
ものの、表皮効果による交流抵抗が大きくなって、全体
としての損失の増大を招いたり、磁気素子の寸法が大き
くなる。より好適には2倍以上、4倍以下である。
ル型およびミアンダー型のいずれでも良く、また、スパ
イラル型は1つあるいは2つ以上の組み合わせでもい
い。また、本発明の平面磁気素子は、そのまま使用して
も何ら問題ないが、表面を保護するために、図2に示し
たように、コイルの露出している面に、エポキシ樹脂、
ポリイミド樹脂などの樹脂やガラス等の非磁性でかつ電
気的絶縁体からなる保護被膜4を被覆することが有利で
ある。
は、絶縁体であるNiZn系フェライト、中でも焼成温度を
低くしたNiCuZn系フェライトが好適である。その組成に
ついては特に限定されることはないが、代表組成を示す
と次のとおりである。なお、この組成は、磁気素子全体
おいて、必ずしも同一組成とする必要はなく、下部フェ
ライト、上部フェライトおよびコイル線間に充填するフ
ェライトなど、場所に応じて適宜組成を変更することが
できる。
電気抵抗値が急激に低下する。電気抵抗の低下は高周波
領域で使用するとき渦電流の発生でフェライトコアでの
損失を急増させてしまう。また、40 mol%未満になると
フェライトの透磁率低下にともなうインダクタンスの劣
化が大きいため、Fe203 は40〜50 mol%程度とすること
が好ましい。
与える。キュリー温度は磁気素子の耐熱性を決める重要
なパラメータである。15 mol%未満ではキュリー温度は
高いもののインダクタンスが低下する。一方、35 mol%
を超えるとインダクタンスは高いものの、キュリー温度
が低下する。従って、ZnOは15〜35 mol%程度とするこ
とが好ましい。
ら、20 mol%を超えると焼成温度は低下するがインダク
タンスが劣化するので、CuOは 20mol%以下程度とする
ことが好ましい。
る。しかしながら、10mol %を超えると焼成温度は低下
するものの、インダクタンスが劣化するため、Bi203 は
10mol%以下程度とすることが好ましい。残部はNiOで
ある。
ライトについて主に説明したが、これ以外のフェライト
であってもNiZn系フェライトと同等の特性を持つもので
あれば、いずれもが使用できるのはいうまでもない。
法について説明する。まず初めに、Si基板上にポリイミ
ド樹脂をスピンコートにより塗布したのち、熱硬化させ
て、保護被膜とする。この保護被膜の好適厚みは10μm
程度である。ついで、この上に、この上にコイル形成の
下地層として無電解めっきによりCu膜を 0.5μm 厚程度
に成膜する。ついで、この下地めっき層の上にフォトレ
ジストを塗布したのち、フォトエッチングにより所望の
コイル形状のレジストフレームを形成する。引き続き、
電気めっきにより、レジストフレーム内にCuを析出させ
たのち、レジストを剥離し、ついで化学エッチングによ
りコイル線間の下地めっき層を除去して、平面コイルを
保護被膜上に形成する。この時、コイル端子も併せて形
成することが好ましい。
上に、エポキシ樹脂やポリイミド樹脂などの樹脂とフェ
ライト粉末を混ぜた樹脂ペーストを印刷法にて塗布した
後、熱硬化処理を施して、上部フェライト磁性層を形成
する。この上部フェライト磁性層の形成に際し、樹脂ペ
ーストの硬化処理温度は 150〜400 ℃程度とすることが
好ましい。なお、場合によっては基板を付けたまま、あ
るいは裏面研磨を施してもよく、また基板の種類はSi以
外にもアルミナやセラミックスなどでもよい。
したのち、熱硬化させて、厚み:10μm の保護被膜を形
成した。ついで、下地めっき層として 0.5μm厚のCu膜
を無電解めっき法で成膜した。ついで、この上にフォト
レジストを塗布したのち、フォトエッチングにより所望
のコイル形状のレジストフレームを形成した。その後、
電気めっきにより、レジストフレーム内にCuを析出させ
たのち、レジストを剥離し、ついで化学エッチングでコ
イル線間の下地めっきを除去して、平面コイルとした。
かくして、コイル線の厚みa:100 μm 、幅b:100 μ
m 、間隔c:30μm でターン数が14のスパイラル型の平
面コイルを作製した。
%、CuO :12 mol%、NiO :16 mol%の組成になるフェ
ライト磁粉を、硬化後のフェライト体積が表1に示す割
合になるように調合したエポキシ樹脂ペーストをを、ス
クリーン印刷法にてその上部に塗布し、150 ℃で熱硬化
させて、コイルトップからの膜厚:100 μm のフェライ
ト磁性層を形成した。ついで、基板と保護被膜間を剥が
して約 200μm の薄型受電コイルを作製した。送電コイ
ルは、ドラム型のNiZnフェライトで作製し、これを3MH
z の周波数で駆動したものに、受電側平面磁気素子を0.
5 mmのスペースで接触させて、そのときの結合係数kと
発生電圧を測定した。得られた結果を表1に併記する。
び発生電圧の両者が共に大きく、薄型化に寄与するのは
言うまでもなく、非接触充電に適していることが分か
る。
変化させること以外は、実施例1のNo.2と同じ製造条件
で、保護被膜、平面コイルおよびフェライト磁性層を形
成して薄型受電コイルを製造した。かくして得られた薄
型受電コイルの結合係数kと発生電圧について調べた結
果を、表2に併記する。
コイル線の厚みaおよび幅bを表皮厚みδの 0.5倍以
上、8倍以下の範囲に調整したものは、結合係数kはい
ずれも0.80、また発生電圧はいずれも 4.2Vであり、従
来よりも優れた結合係数kおよび発生電圧が得られてい
る。
論のこと、充電効率に優れた非接触充電器用平面磁気素
子を得ることができる。
合の、本発明に従う代表的な平面磁気素子の平面図(a)
およびA−A断面図(b) である。
Claims (2)
- 【請求項1】 磁性層の片面に、上面を露出させて平面
コイルを埋設した構造になる平面磁気素子であって、該
磁性層が磁性体体積密度:25%以上のフェライト磁性層
からなることを特徴とする非接触充電器用平面磁気素
子。 - 【請求項2】 請求項1において、平面コイルのコイル
線の幅および厚みをそれぞれ、次式で示される表皮厚み
δの 0.5倍以上、8倍以下としたことを特徴とする非接
触充電器用平面磁気素子。 δ={2/(μ・σ・ω)}1/2 ここで、μ:透磁率 σ:電気伝導率(S) ω:角振動数(=2πf)
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