JP2002232280A - 負荷制御装置 - Google Patents
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/082—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit
- H03K17/0822—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit in field-effect transistor switches
-
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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- Electronic Switches (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Control Of Voltage And Current In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 異常な発熱の原因となるスイッチング素子の
みを選択的に保護制御するとともに、小型化、低コスト
化を図る。 【解決手段】 ハイブリッドIC21は、マイコン2
3、制御IC24,MOSトランジスタ25〜28から
構成され、制御IC24は、1つの温度検出回路48
と、各トランジスタ25〜28ごとの駆動回路59と電
流検出回路60とを備えている。トランジスタ25〜2
8と温度検出回路48とは、熱的に密に結合されてい
る。マイコン23は、温度検出回路48の検出温度がし
きい値温度を超えると、オン駆動中の何れかのトランジ
スタに異常な発熱が生じたと判断し、トランジスタ25
〜28のうち電流検出回路60による検出電流がしきい
値電流を超えているものをオフ駆動する。
みを選択的に保護制御するとともに、小型化、低コスト
化を図る。 【解決手段】 ハイブリッドIC21は、マイコン2
3、制御IC24,MOSトランジスタ25〜28から
構成され、制御IC24は、1つの温度検出回路48
と、各トランジスタ25〜28ごとの駆動回路59と電
流検出回路60とを備えている。トランジスタ25〜2
8と温度検出回路48とは、熱的に密に結合されてい
る。マイコン23は、温度検出回路48の検出温度がし
きい値温度を超えると、オン駆動中の何れかのトランジ
スタに異常な発熱が生じたと判断し、トランジスタ25
〜28のうち電流検出回路60による検出電流がしきい
値電流を超えているものをオフ駆動する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の負荷を駆動
するための複数のスイッチング素子を備えた負荷制御装
置に関する。
するための複数のスイッチング素子を備えた負荷制御装
置に関する。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】例えば自動車などの車
両には多数のランプやモータなどの負荷が装備されると
ともに、これら多数の負荷を駆動するために電流出力能
力の高い負荷制御装置が搭載されている。図6および図
7は、それぞれ従来の負荷制御装置に用いられている制
御基板の電気的構成図および上面図である。その図7に
おいて、配線パターン(図示せず)が形成された基板
(プリント板)1には、信号用コネクタ2、負荷接続用
コネクタ3、放熱板4などが配設されており、その放熱
板4には自身の過熱保護および過電流保護を行う自己保
護機能付きのパワーMOSトランジスタ5〜8(スイッ
チング素子)が取り付けられている。パワーMOSトラ
ンジスタ5〜8はモールドされたディスクリート素子で
あり、図中、各パワーMOSトランジスタ5〜8内に記
載された破線白丸は端子を表している。
両には多数のランプやモータなどの負荷が装備されると
ともに、これら多数の負荷を駆動するために電流出力能
力の高い負荷制御装置が搭載されている。図6および図
7は、それぞれ従来の負荷制御装置に用いられている制
御基板の電気的構成図および上面図である。その図7に
おいて、配線パターン(図示せず)が形成された基板
(プリント板)1には、信号用コネクタ2、負荷接続用
コネクタ3、放熱板4などが配設されており、その放熱
板4には自身の過熱保護および過電流保護を行う自己保
護機能付きのパワーMOSトランジスタ5〜8(スイッ
チング素子)が取り付けられている。パワーMOSトラ
ンジスタ5〜8はモールドされたディスクリート素子で
あり、図中、各パワーMOSトランジスタ5〜8内に記
載された破線白丸は端子を表している。
【0003】基板1には、コネクタ2を介して入力され
る制御信号に応じて上記パワーMOSトランジスタ5〜
8を駆動制御する制御用IC9(例えばマイコン)と、
この制御用IC9からの駆動信号に応じてパワーMOS
トランジスタ5〜8をそれぞれ駆動する駆動用IC10
〜13が搭載されている。
る制御信号に応じて上記パワーMOSトランジスタ5〜
8を駆動制御する制御用IC9(例えばマイコン)と、
この制御用IC9からの駆動信号に応じてパワーMOS
トランジスタ5〜8をそれぞれ駆動する駆動用IC10
〜13が搭載されている。
【0004】この場合、図6に示すように、信号用コネ
クタ2にはコンビネーションスイッチECU14が接続
され、負荷接続用コネクタ3(3a〜3f)にはバッテ
リ16およびパワーMOSトランジスタ5〜8により駆
動される負荷17〜20が接続されている。コンビネー
ションスイッチECU14は、コンビネーションスイッ
チ14aと、当該コンビネーションスイッチ14aから
の信号を処理するECU(電子制御装置)14bとから
構成されている。
クタ2にはコンビネーションスイッチECU14が接続
され、負荷接続用コネクタ3(3a〜3f)にはバッテ
リ16およびパワーMOSトランジスタ5〜8により駆
動される負荷17〜20が接続されている。コンビネー
ションスイッチECU14は、コンビネーションスイッ
チ14aと、当該コンビネーションスイッチ14aから
の信号を処理するECU(電子制御装置)14bとから
構成されている。
【0005】パワーMOSトランジスタ5〜8は、それ
ぞれ素子5a〜8aに加え、温度検出回路5b〜8b、
電流検出回路5c〜8cおよび遮断回路5d〜8dを備
えている。その遮断回路5d〜8dは、それぞれ素子5
a〜8aの温度が所定値を超えた場合およびその電流が
所定値を超えた場合に素子5a〜8aを停止させるなど
の保護制御を行うようになっている。
ぞれ素子5a〜8aに加え、温度検出回路5b〜8b、
電流検出回路5c〜8cおよび遮断回路5d〜8dを備
えている。その遮断回路5d〜8dは、それぞれ素子5
a〜8aの温度が所定値を超えた場合およびその電流が
所定値を超えた場合に素子5a〜8aを停止させるなど
の保護制御を行うようになっている。
【0006】この負荷制御装置は、自己保護機能付きの
パワーMOSトランジスタ5〜8を使用しているため、
例えば何れかの負荷の短絡異常などにより過大な電流が
流れた場合、その過大な電流によって異常発熱をしてい
るパワーMOSトランジスタのみを選択的に停止させる
ことができる。これにより、一つの負荷の異常が連鎖的
に他の負荷駆動にも影響を及ぼずことを防止することが
できる。また、温度検出手段や電流検出手段を別途設け
る必要がないため、構成を簡単化することができる。
パワーMOSトランジスタ5〜8を使用しているため、
例えば何れかの負荷の短絡異常などにより過大な電流が
流れた場合、その過大な電流によって異常発熱をしてい
るパワーMOSトランジスタのみを選択的に停止させる
ことができる。これにより、一つの負荷の異常が連鎖的
に他の負荷駆動にも影響を及ぼずことを防止することが
できる。また、温度検出手段や電流検出手段を別途設け
る必要がないため、構成を簡単化することができる。
【0007】しかしながら、上記構成の負荷制御装置
は、自己保護機能付きのモールドされたディスクリート
のパワーMOSトランジスタ5〜8を用いて構成されて
いるので大型化してしまい、限られた車室内において大
きな取り付けスペースを必要とする。また、自己保護機
能付きのパワーMOSトランジスタ5〜8はコストが非
常に高いため、負荷の数の増大に伴って当該パワーMO
Sトランジスタの数が増大するほどコスト高の問題が深
刻化してしまうという問題があった。
は、自己保護機能付きのモールドされたディスクリート
のパワーMOSトランジスタ5〜8を用いて構成されて
いるので大型化してしまい、限られた車室内において大
きな取り付けスペースを必要とする。また、自己保護機
能付きのパワーMOSトランジスタ5〜8はコストが非
常に高いため、負荷の数の増大に伴って当該パワーMO
Sトランジスタの数が増大するほどコスト高の問題が深
刻化してしまうという問題があった。
【0008】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、異常な発熱の原因となるスイッチング
素子のみを選択的に保護制御することができ、しかも比
較的小型且つ低コストに構成できる負荷制御装置を提供
することにある。
で、その目的は、異常な発熱の原因となるスイッチング
素子のみを選択的に保護制御することができ、しかも比
較的小型且つ低コストに構成できる負荷制御装置を提供
することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載した手段
によれば、複数のスイッチング素子が単独でまたは並列
接続されてそれぞれ負荷を駆動する。この場合、温度検
出手段はスイッチング素子より発生される熱を一括して
検出可能なので、何れかのスイッチング素子の発熱によ
る温度上昇を確実に検出することができる。そして、保
護制御手段は、この検出温度に基づいて異常な発熱状態
を検知した場合、電流検出手段により検出された各スイ
ッチング素子の検出電流に基づいて、異常な発熱の原因
となっているスイッチング素子を特定し、その特定した
スイッチング素子の保護制御を実行する。
によれば、複数のスイッチング素子が単独でまたは並列
接続されてそれぞれ負荷を駆動する。この場合、温度検
出手段はスイッチング素子より発生される熱を一括して
検出可能なので、何れかのスイッチング素子の発熱によ
る温度上昇を確実に検出することができる。そして、保
護制御手段は、この検出温度に基づいて異常な発熱状態
を検知した場合、電流検出手段により検出された各スイ
ッチング素子の検出電流に基づいて、異常な発熱の原因
となっているスイッチング素子を特定し、その特定した
スイッチング素子の保護制御を実行する。
【0010】本手段によれば、異常な発熱の原因となる
スイッチング素子のみを選択的に且つ確実に保護制御す
ることができる。そして、複数のスイッチング素子に対
し共通の温度検出手段を具備することで足りるため低コ
スト化が可能となる。また、スイッチング素子、温度検
出手段および電流検出手段を一体化する必要がないの
で、従来の負荷制御装置と比較して小型化が図られる。
スイッチング素子のみを選択的に且つ確実に保護制御す
ることができる。そして、複数のスイッチング素子に対
し共通の温度検出手段を具備することで足りるため低コ
スト化が可能となる。また、スイッチング素子、温度検
出手段および電流検出手段を一体化する必要がないの
で、従来の負荷制御装置と比較して小型化が図られる。
【0011】請求項2に記載した手段によれば、温度検
出手段はスイッチング素子のそれぞれに対して熱的に密
に結合されているので、何れかのスイッチング素子の発
熱による温度上昇を一層確実に検出することができる。
出手段はスイッチング素子のそれぞれに対して熱的に密
に結合されているので、何れかのスイッチング素子の発
熱による温度上昇を一層確実に検出することができる。
【0012】請求項3に記載した手段によれば、保護制
御手段は、検出温度が所定のしきい値温度を超えた場合
に何れかのスイッチング素子で異常な発熱状態が発生し
たと判断し、第1のしきい値電流を超えた電流が流れて
いるスイッチング素子を異常な発熱状態が生じているス
イッチング素子として特定する。これにより、スイッチ
ング素子に過電流が流れることにより生じる過熱状態の
進行を抑制することができる。
御手段は、検出温度が所定のしきい値温度を超えた場合
に何れかのスイッチング素子で異常な発熱状態が発生し
たと判断し、第1のしきい値電流を超えた電流が流れて
いるスイッチング素子を異常な発熱状態が生じているス
イッチング素子として特定する。これにより、スイッチ
ング素子に過電流が流れることにより生じる過熱状態の
進行を抑制することができる。
【0013】請求項4に記載した手段によれば、保護制
御手段は、スイッチング素子の検出電流が第2のしきい
値電流を超えた場合に、検出温度にかかわらず直ちにそ
のスイッチング素子を停止させるので、負荷の完全短絡
などにより生ずる急峻な電流増加に対してもスイッチン
グ素子を保護することができる。
御手段は、スイッチング素子の検出電流が第2のしきい
値電流を超えた場合に、検出温度にかかわらず直ちにそ
のスイッチング素子を停止させるので、負荷の完全短絡
などにより生ずる急峻な電流増加に対してもスイッチン
グ素子を保護することができる。
【0014】請求項5に記載した手段によれば、しきい
値温度およびしきい値電流は、ヒステリシスを伴った設
定とされているので、保護制御手段による保護制御が不
安定(例えば振動的)となることを防止できる。
値温度およびしきい値電流は、ヒステリシスを伴った設
定とされているので、保護制御手段による保護制御が不
安定(例えば振動的)となることを防止できる。
【0015】請求項6に記載した手段によれば、保護制
御手段は、特定したスイッチング素子を停止させること
またはPWM制御することにより電流を制限するので、
負荷の特性や重要度などに応じた自由度の高い保護制御
が可能となる。
御手段は、特定したスイッチング素子を停止させること
またはPWM制御することにより電流を制限するので、
負荷の特性や重要度などに応じた自由度の高い保護制御
が可能となる。
【0016】請求項7に記載した手段によれば、負荷制
御装置がハイブリッドICとして構成されるので、従来
の負荷制御装置に対し大幅な小型化が図られる。本請求
項に係る発明は、ハイブリッドICとすることによりス
イッチング素子が集約的に配置され、全てのスイッチン
グ素子と温度検出手段とが熱的に密に結合し易くなると
いう特性を利用している。従って、各スイッチング素子
ごとに独立した過熱保護回路を備える負荷制御装置をそ
のままハイブリッドIC化したものでは、その密な熱結
合により他のスイッチング素子の発熱による温度上昇に
よって自己のスイッチング素子の過熱保護回路が誤動作
する虞があり、本発明のような確実な過熱保護動作を実
現することができない可能性がある。
御装置がハイブリッドICとして構成されるので、従来
の負荷制御装置に対し大幅な小型化が図られる。本請求
項に係る発明は、ハイブリッドICとすることによりス
イッチング素子が集約的に配置され、全てのスイッチン
グ素子と温度検出手段とが熱的に密に結合し易くなると
いう特性を利用している。従って、各スイッチング素子
ごとに独立した過熱保護回路を備える負荷制御装置をそ
のままハイブリッドIC化したものでは、その密な熱結
合により他のスイッチング素子の発熱による温度上昇に
よって自己のスイッチング素子の過熱保護回路が誤動作
する虞があり、本発明のような確実な過熱保護動作を実
現することができない可能性がある。
【0017】請求項8に記載した手段によれば、ハイブ
リッドIC内の熱伝導性の良い基板上に、各スイッチン
グ素子が形成された各チップと温度検出手段が形成され
たチップとが配設されているので、温度検出手段は何れ
かのスイッチング素子の発熱による温度上昇を確実に検
出することができる。
リッドIC内の熱伝導性の良い基板上に、各スイッチン
グ素子が形成された各チップと温度検出手段が形成され
たチップとが配設されているので、温度検出手段は何れ
かのスイッチング素子の発熱による温度上昇を確実に検
出することができる。
【0018】請求項9に記載した手段によれば、リード
フレーム上に配設された各スイッチング素子で発生した
熱は、当該リードフレームおよび熱伝導性の良い基板を
介して温度検出手段に伝導されるので、温度検出手段は
何れかのスイッチング素子の発熱による温度上昇を確実
に検出することができる。また、リードフレームがスイ
ッチング素子の放熱に寄与するため、スイッチング素子
の温度上昇を抑制することができる。なお、請求項8ま
たは9に記載した手段においては、請求項10に記載し
た手段のようにセラミック基板を用いることが好まし
い。
フレーム上に配設された各スイッチング素子で発生した
熱は、当該リードフレームおよび熱伝導性の良い基板を
介して温度検出手段に伝導されるので、温度検出手段は
何れかのスイッチング素子の発熱による温度上昇を確実
に検出することができる。また、リードフレームがスイ
ッチング素子の放熱に寄与するため、スイッチング素子
の温度上昇を抑制することができる。なお、請求項8ま
たは9に記載した手段においては、請求項10に記載し
た手段のようにセラミック基板を用いることが好まし
い。
【0019】請求項11に記載した手段によれば、スイ
ッチング素子で発生する熱が放熱板により放熱されるの
で、スイッチング素子の温度上昇を一層抑制することが
できる。
ッチング素子で発生する熱が放熱板により放熱されるの
で、スイッチング素子の温度上昇を一層抑制することが
できる。
【0020】請求項12に記載した手段によれば、温度
検出手段と電流検出手段と保護制御手段とが同一のチッ
プ内に形成されているので、チップを搭載する基板面積
を低減でき、一層の小型化、低コスト化を図れる。
検出手段と電流検出手段と保護制御手段とが同一のチッ
プ内に形成されているので、チップを搭載する基板面積
を低減でき、一層の小型化、低コスト化を図れる。
【0021】
【発明の実施の形態】(第1の実施形態)本発明の第1
の実施形態について、図1ないし図4を参照しながら説
明する。まず、図2はハイブリッドICの内部を示す上
面図である。このハイブリッドIC21(負荷制御装置
に相当)は、車両前部の灯火装置例えばヘッドランプ、
フォグランプ、クリアランスランプならびにウォッシャ
モータ、ホーンなどの負荷を駆動するために用いられる
もので、これらの負荷を駆動するのに十分な電流出力能
力を備えている。
の実施形態について、図1ないし図4を参照しながら説
明する。まず、図2はハイブリッドICの内部を示す上
面図である。このハイブリッドIC21(負荷制御装置
に相当)は、車両前部の灯火装置例えばヘッドランプ、
フォグランプ、クリアランスランプならびにウォッシャ
モータ、ホーンなどの負荷を駆動するために用いられる
もので、これらの負荷を駆動するのに十分な電流出力能
力を備えている。
【0022】この図2において、セラミック基板22の
上面には、ICとして構成されたマイコン23、制御I
C24、チップの形態をなすMOSトランジスタ25、
26、27、28(スイッチング素子に相当)などが搭
載されている。この場合、制御IC24とMOSトラン
ジスタ25、26、27、28とは、セラミック基板2
2に対し熱的に密に結合されるように、それぞれセラミ
ック基板22に対し密着した状態とされている。なお、
制御IC24は、MOSトランジスタ25、26、2
7、28のぞれぞれに対しほぼ等距離となる位置に配置
することが好ましい。
上面には、ICとして構成されたマイコン23、制御I
C24、チップの形態をなすMOSトランジスタ25、
26、27、28(スイッチング素子に相当)などが搭
載されている。この場合、制御IC24とMOSトラン
ジスタ25、26、27、28とは、セラミック基板2
2に対し熱的に密に結合されるように、それぞれセラミ
ック基板22に対し密着した状態とされている。なお、
制御IC24は、MOSトランジスタ25、26、2
7、28のぞれぞれに対しほぼ等距離となる位置に配置
することが好ましい。
【0023】このセラミック基板22は熱伝導性が良い
という特性を備えており、熱伝導性の良い接着剤により
アルミニウム製の放熱板29に固着された上で、樹脂製
のインサートケース30に格納されている。インサート
ケース30には複数の端子(ターミナル)31、32、
33、34、…が設けられており、セラミック基板22
またはその搭載部品とこれらの端子31、32、33、
34、…との間はボンディングワイヤ35、36、3
7、38、…により接続されている。
という特性を備えており、熱伝導性の良い接着剤により
アルミニウム製の放熱板29に固着された上で、樹脂製
のインサートケース30に格納されている。インサート
ケース30には複数の端子(ターミナル)31、32、
33、34、…が設けられており、セラミック基板22
またはその搭載部品とこれらの端子31、32、33、
34、…との間はボンディングワイヤ35、36、3
7、38、…により接続されている。
【0024】図1は、上記ハイブリッドIC21の電気
的構成を示している。この図1において、ハイブリッド
IC21の端子31、32、33、34にはそれぞれ負
荷39、40、41、42の一端子が接続されるように
なっており、電源端子43、44および45にはそれぞ
れバッテリ46の正側端子および負側端子が接続される
ようになっている。電源端子44と端子31、32、3
3、34との各間には、それぞれハイサイドスイッチと
して機能するNチャネル型のMOSトランジスタ25、
26、27、28のドレイン・ソース間が接続されてい
る。なお、負荷39〜42の各他端子は、バッテリ46
の負側端子(車体アース)に接続されている。
的構成を示している。この図1において、ハイブリッド
IC21の端子31、32、33、34にはそれぞれ負
荷39、40、41、42の一端子が接続されるように
なっており、電源端子43、44および45にはそれぞ
れバッテリ46の正側端子および負側端子が接続される
ようになっている。電源端子44と端子31、32、3
3、34との各間には、それぞれハイサイドスイッチと
して機能するNチャネル型のMOSトランジスタ25、
26、27、28のドレイン・ソース間が接続されてい
る。なお、負荷39〜42の各他端子は、バッテリ46
の負側端子(車体アース)に接続されている。
【0025】制御IC24は、定電圧回路47、温度検
出回路48、昇圧回路70に加え、MOSトランジスタ
25〜28のそれぞれに対する駆動制御回路49〜52
を備えている。これら駆動制御回路49〜52は全て同
じ回路構成を有しているので、図1においては駆動制御
回路50〜52を省略して示している。以下、この制御
IC24の具体的な回路構成について説明する。
出回路48、昇圧回路70に加え、MOSトランジスタ
25〜28のそれぞれに対する駆動制御回路49〜52
を備えている。これら駆動制御回路49〜52は全て同
じ回路構成を有しているので、図1においては駆動制御
回路50〜52を省略して示している。以下、この制御
IC24の具体的な回路構成について説明する。
【0026】例えばバンドギャップレギュレータとして
構成される定電圧回路47は、バッテリ46の電圧VB
に基づいて温度変動率の極めて小さい基準電圧Vrを生
成し、それを出力端子から出力するようになっている。
その定電圧回路47の出力端子とグランド端子53との
間には、図示極性のダイオード54〜57と温度変動率
の小さい抵抗58との直列回路からなる温度検出回路4
8(温度検出手段に相当)が接続されている。ここで、
ダイオード57と抵抗58との接続ノードn1が当該温
度検出回路48の出力ノードであって、このノードn1
はマイコン23の入力端子に接続されている。また、定
電圧回路47は、マイコン23の動作用電源電圧Vccを
生成し出力するようになっている。
構成される定電圧回路47は、バッテリ46の電圧VB
に基づいて温度変動率の極めて小さい基準電圧Vrを生
成し、それを出力端子から出力するようになっている。
その定電圧回路47の出力端子とグランド端子53との
間には、図示極性のダイオード54〜57と温度変動率
の小さい抵抗58との直列回路からなる温度検出回路4
8(温度検出手段に相当)が接続されている。ここで、
ダイオード57と抵抗58との接続ノードn1が当該温
度検出回路48の出力ノードであって、このノードn1
はマイコン23の入力端子に接続されている。また、定
電圧回路47は、マイコン23の動作用電源電圧Vccを
生成し出力するようになっている。
【0027】昇圧回路70は、バッテリ46の電圧VB
を入力し、当該バッテリ電圧VBに対し少なくともMO
Sトランジスタ25〜28のしきい値電圧VTHよりも高
い昇圧電圧Vhを生成して出力するようになっている。
を入力し、当該バッテリ電圧VBに対し少なくともMO
Sトランジスタ25〜28のしきい値電圧VTHよりも高
い昇圧電圧Vhを生成して出力するようになっている。
【0028】駆動制御回路49は、駆動回路59と電流
検出回路60とから構成されている。駆動回路59は、
上記昇圧電圧Vhを入力し、マイコン23の出力端子か
ら与えられる駆動指令信号に基づいて、MOSトランジ
スタ25にゲート電圧を印加するようになっている。
検出回路60とから構成されている。駆動回路59は、
上記昇圧電圧Vhを入力し、マイコン23の出力端子か
ら与えられる駆動指令信号に基づいて、MOSトランジ
スタ25にゲート電圧を印加するようになっている。
【0029】電流検出回路60(電流検出手段に相当)
は、MOSトランジスタ25のドレイン・ソース間電圧
を検出し、それをマイコン23の入力端子に対し出力す
るものである。MOSトランジスタ25のオン時にあっ
ては、このドレイン・ソース間電圧はオン電圧となる。
オン電圧は、MOSトランジスタ25に流れるドレイン
電流が大きいほど高くなる傾向を示す。
は、MOSトランジスタ25のドレイン・ソース間電圧
を検出し、それをマイコン23の入力端子に対し出力す
るものである。MOSトランジスタ25のオン時にあっ
ては、このドレイン・ソース間電圧はオン電圧となる。
オン電圧は、MOSトランジスタ25に流れるドレイン
電流が大きいほど高くなる傾向を示す。
【0030】ここで、MOSトランジスタ25のドレイ
ンとグランド端子53との間には、分圧用の抵抗61と
62とが直列に接続され、その分圧点は抵抗63を介し
てオペアンプ64の非反転入力端子に接続されている。
また、MOSトランジスタ25のソースとグランド端子
53との間には、分圧用の抵抗65と66とが直列に接
続され、その分圧点は抵抗67を介してオペアンプ64
の反転入力端子に接続されている。オペアンプ64の反
転入力端子と出力端子との間には抵抗68が接続されて
いる。これら抵抗61〜63、65〜68の各抵抗値
は、当該電流検出回路60がMOSトランジスタ25の
ドレイン・ソース間電圧(オン電圧)を正確に出力する
ように決定されている。
ンとグランド端子53との間には、分圧用の抵抗61と
62とが直列に接続され、その分圧点は抵抗63を介し
てオペアンプ64の非反転入力端子に接続されている。
また、MOSトランジスタ25のソースとグランド端子
53との間には、分圧用の抵抗65と66とが直列に接
続され、その分圧点は抵抗67を介してオペアンプ64
の反転入力端子に接続されている。オペアンプ64の反
転入力端子と出力端子との間には抵抗68が接続されて
いる。これら抵抗61〜63、65〜68の各抵抗値
は、当該電流検出回路60がMOSトランジスタ25の
ドレイン・ソース間電圧(オン電圧)を正確に出力する
ように決定されている。
【0031】一方、マイコン23(保護制御手段に相
当)は、図示しないCPU、RAM、制御プログラムが
格納されたROM,A/Dコンバータ、入出力ポートな
どを備えて構成されており、定電圧回路47から動作用
電源電圧Vccの供給を受けて動作するものである。この
マイコン23には、車両に搭載されたコンビネーション
スイッチECU69が接続されるようになっている。コ
ンビネーションスイッチECU69は、コンビネーショ
ンスイッチ69a(負荷39〜42の各動作スイッチが
組み合わされたもの)とECU(電子制御装置)69b
とから構成されており、運転者により操作されるコンビ
ネーションスイッチ69aの状態に応じて、駆動すべき
負荷を識別する識別信号を出力するようになっている。
当)は、図示しないCPU、RAM、制御プログラムが
格納されたROM,A/Dコンバータ、入出力ポートな
どを備えて構成されており、定電圧回路47から動作用
電源電圧Vccの供給を受けて動作するものである。この
マイコン23には、車両に搭載されたコンビネーション
スイッチECU69が接続されるようになっている。コ
ンビネーションスイッチECU69は、コンビネーショ
ンスイッチ69a(負荷39〜42の各動作スイッチが
組み合わされたもの)とECU(電子制御装置)69b
とから構成されており、運転者により操作されるコンビ
ネーションスイッチ69aの状態に応じて、駆動すべき
負荷を識別する識別信号を出力するようになっている。
【0032】次に、ハイブリッドIC21の動作につい
て図3および図4も参照しながら説明する。マイコン2
3の行う処理は、ROMに格納された制御プログラムに
従って実行される。マイコン23は、コンビネーション
スイッチECU69からの識別信号に基づいて駆動すべ
き負荷を認識し、駆動制御回路49〜52に対しオンま
たはオフの駆動指令信号を出力する。駆動回路59は、
昇圧電圧Vhを得て、オン駆動指令信号に対して(バッ
テリ電圧VB+MOSトランジスタのしきい値電圧VT
H)よりも高いゲート電圧を出力し、オフ駆動指令信号
に対して0Vのゲート電圧を出力する。
て図3および図4も参照しながら説明する。マイコン2
3の行う処理は、ROMに格納された制御プログラムに
従って実行される。マイコン23は、コンビネーション
スイッチECU69からの識別信号に基づいて駆動すべ
き負荷を認識し、駆動制御回路49〜52に対しオンま
たはオフの駆動指令信号を出力する。駆動回路59は、
昇圧電圧Vhを得て、オン駆動指令信号に対して(バッ
テリ電圧VB+MOSトランジスタのしきい値電圧VT
H)よりも高いゲート電圧を出力し、オフ駆動指令信号
に対して0Vのゲート電圧を出力する。
【0033】また、マイコン23は、内蔵するA/Dコ
ンバータを用いて、温度検出回路48の出力電圧と駆動
制御回路49〜52の各電流検出回路60の出力電圧と
をディジタルデータに変換して取り込んでいる。温度検
出回路48は、MOSトランジスタ25〜28で発生す
る熱を一括して検出するものである。この温度検出回路
48は、シリコンダイオード54〜57の順方向電圧V
Fの温度特性(−2mV/℃)を利用して温度を検出す
るもので、温度が上昇するに従ってノードn1の電圧が
上昇する。また、電流検出回路60は、上述したように
MOSトランジスタ25のオン電圧を検出しており、M
OSトランジスタ25に流れるドレイン電流が増大する
に従ってその出力電圧が上昇する。
ンバータを用いて、温度検出回路48の出力電圧と駆動
制御回路49〜52の各電流検出回路60の出力電圧と
をディジタルデータに変換して取り込んでいる。温度検
出回路48は、MOSトランジスタ25〜28で発生す
る熱を一括して検出するものである。この温度検出回路
48は、シリコンダイオード54〜57の順方向電圧V
Fの温度特性(−2mV/℃)を利用して温度を検出す
るもので、温度が上昇するに従ってノードn1の電圧が
上昇する。また、電流検出回路60は、上述したように
MOSトランジスタ25のオン電圧を検出しており、M
OSトランジスタ25に流れるドレイン電流が増大する
に従ってその出力電圧が上昇する。
【0034】マイコン23は、上記ディジタルデータと
して取り込んだ電圧すなわち検出温度Tおよび検出電流
Iを、それぞれ所定のしきい値温度Taおよびしきい値
電流Ia、Ibと比較する。これらのしきい値温度Ta
およびしきい値電流Ia、Ibは、マイコン23が各負
荷39〜42ごとにその駆動を停止させる保護制御動作
へ移行する際のしきい値である。ここで、しきい値電流
Ia、Ibは、MOSトランジスタ25〜28(負荷3
9〜42)ごとに設定されている。
して取り込んだ電圧すなわち検出温度Tおよび検出電流
Iを、それぞれ所定のしきい値温度Taおよびしきい値
電流Ia、Ibと比較する。これらのしきい値温度Ta
およびしきい値電流Ia、Ibは、マイコン23が各負
荷39〜42ごとにその駆動を停止させる保護制御動作
へ移行する際のしきい値である。ここで、しきい値電流
Ia、Ibは、MOSトランジスタ25〜28(負荷3
9〜42)ごとに設定されている。
【0035】ハイブリッドIC21および負荷39〜4
2が正常な場合にあっては、(オンしている)MOSト
ランジスタ25〜28の検出電流Iはそれぞれのしきい
値電流Ia、Ibよりも小さい。また、MOSトランジ
スタ25〜28にはドレイン損失が生じるものの、それ
による発熱は比較的少なく放熱板29の放熱作用によっ
て十分に放熱される。従って、検出温度Tはしきい値温
度Taよりも低い。その結果、マイコン23は、保護制
御動作に移行せず通常制御動作を維持する。
2が正常な場合にあっては、(オンしている)MOSト
ランジスタ25〜28の検出電流Iはそれぞれのしきい
値電流Ia、Ibよりも小さい。また、MOSトランジ
スタ25〜28にはドレイン損失が生じるものの、それ
による発熱は比較的少なく放熱板29の放熱作用によっ
て十分に放熱される。従って、検出温度Tはしきい値温
度Taよりも低い。その結果、マイコン23は、保護制
御動作に移行せず通常制御動作を維持する。
【0036】これに対し、図3は、例えば負荷39に完
全短絡(デッドショート)やモータロックが生じた場合
における検出温度TおよびMOSトランジスタ25(負
荷39)の検出電流Iを示している。この場合の検出電
流Iは通常時の電流の10倍或いはそれ以上にまで急激
に増大する。そこで、上記しきい値電流Ia(第2のし
きい値電流に相当)として、瞬時的な過電流に対してM
OSトランジスタ25に許容される保護レベルを設定す
る。
全短絡(デッドショート)やモータロックが生じた場合
における検出温度TおよびMOSトランジスタ25(負
荷39)の検出電流Iを示している。この場合の検出電
流Iは通常時の電流の10倍或いはそれ以上にまで急激
に増大する。そこで、上記しきい値電流Ia(第2のし
きい値電流に相当)として、瞬時的な過電流に対してM
OSトランジスタ25に許容される保護レベルを設定す
る。
【0037】マイコン23は、検出電流Iがしきい値電
流Iaを超えると、直ちに(例えば数十ms〜数百ms
以内のMOSトランジスタ25が耐え得る時間内に)駆
動回路59を介してMOSトランジスタ25をオフ駆動
する。この時、MOSトランジスタ25のドレイン損失
も増大するが、MOSトランジスタ25から制御IC2
4への熱伝導の遅れにより検出温度Tの上昇が遅れるた
め、マイコン23は検出温度TにかかわらずMOSトラ
ンジスタ25をオフ駆動する。
流Iaを超えると、直ちに(例えば数十ms〜数百ms
以内のMOSトランジスタ25が耐え得る時間内に)駆
動回路59を介してMOSトランジスタ25をオフ駆動
する。この時、MOSトランジスタ25のドレイン損失
も増大するが、MOSトランジスタ25から制御IC2
4への熱伝導の遅れにより検出温度Tの上昇が遅れるた
め、マイコン23は検出温度TにかかわらずMOSトラ
ンジスタ25をオフ駆動する。
【0038】図4は、例えば負荷39が部分的に短絡
(レアショート)した場合やモータのトルクが増大(ハ
ーフロック)したような場合における検出温度Tおよび
MOSトランジスタ25(負荷39)の検出電流Iを示
している。この場合の検出電流Iは、上記しきい値電流
Iaよりも小さく、例えば通常時の電流を超えて徐々に
増加するような傾向を示す。従って、直ちにMOSトラ
ンジスタ25をオフ駆動する必要はないが、そのままオ
ン駆動を維持するとその発熱によりやがては故障に至る
可能性がある。この場合、MOSトランジスタ25と制
御IC24とはセラミック基板22を介して熱的に密に
結合されているので、検出電流Iの増加に伴うMOSト
ランジスタ25の発熱の増大により、検出温度Tが徐々
に上昇する傾向を示す。
(レアショート)した場合やモータのトルクが増大(ハ
ーフロック)したような場合における検出温度Tおよび
MOSトランジスタ25(負荷39)の検出電流Iを示
している。この場合の検出電流Iは、上記しきい値電流
Iaよりも小さく、例えば通常時の電流を超えて徐々に
増加するような傾向を示す。従って、直ちにMOSトラ
ンジスタ25をオフ駆動する必要はないが、そのままオ
ン駆動を維持するとその発熱によりやがては故障に至る
可能性がある。この場合、MOSトランジスタ25と制
御IC24とはセラミック基板22を介して熱的に密に
結合されているので、検出電流Iの増加に伴うMOSト
ランジスタ25の発熱の増大により、検出温度Tが徐々
に上昇する傾向を示す。
【0039】そこで、マイコン23は、検出温度Tがし
きい値温度Taを超えた時刻t1において、オン駆動中
の何れかのMOSトランジスタに異常な発熱が生じたと
判断し、(オン駆動中の)MOSトランジスタ25〜2
8のそれぞれについて検出電流Iがしきい値電流Ibを
超えているかどうかを判定する。このしきい値電流Ib
(第1のしきい値電流に相当)としては、通常時の電流
よりも大きく且つ上記しきい値電流Iaよりも小さく、
しかもその電流状態を維持し続けると故障が生じる可能
性のある最小電流レベル(例えば通常時の電流の1.5
倍〜2倍程度)を設定する。ここでは、時刻t1におい
て、負荷39の異常に対応してMOSトランジスタ25
の検出電流Iがしきい値電流Ibを超えているため、マ
イコン23は駆動回路59を介してMOSトランジスタ
25をオフ駆動する。
きい値温度Taを超えた時刻t1において、オン駆動中
の何れかのMOSトランジスタに異常な発熱が生じたと
判断し、(オン駆動中の)MOSトランジスタ25〜2
8のそれぞれについて検出電流Iがしきい値電流Ibを
超えているかどうかを判定する。このしきい値電流Ib
(第1のしきい値電流に相当)としては、通常時の電流
よりも大きく且つ上記しきい値電流Iaよりも小さく、
しかもその電流状態を維持し続けると故障が生じる可能
性のある最小電流レベル(例えば通常時の電流の1.5
倍〜2倍程度)を設定する。ここでは、時刻t1におい
て、負荷39の異常に対応してMOSトランジスタ25
の検出電流Iがしきい値電流Ibを超えているため、マ
イコン23は駆動回路59を介してMOSトランジスタ
25をオフ駆動する。
【0040】マイコン23は、検出温度Tとしきい値温
度との比較についてヒステリシスを有しており、検出温
度Tが一旦しきい値温度Taを超えた後はしきい値温度
をTaからTbに下げる。マイコン23は、MOSトラ
ンジスタ25の発熱が停止し検出温度Tがしきい値温度
Tbよりも低下すると(時刻t2)、再びMOSトラン
ジスタ25をオン駆動する。その結果、負荷39の異常
が回復した場合(図4に示す場合)には通常制御動作に
戻る。また、負荷39の異常が継続している場合には、
通常制御動作と保護制御動作とが繰り返されつつ、MO
Sトランジスタ25ひいてはハイブリッドIC21の温
度上昇が抑制される。
度との比較についてヒステリシスを有しており、検出温
度Tが一旦しきい値温度Taを超えた後はしきい値温度
をTaからTbに下げる。マイコン23は、MOSトラ
ンジスタ25の発熱が停止し検出温度Tがしきい値温度
Tbよりも低下すると(時刻t2)、再びMOSトラン
ジスタ25をオン駆動する。その結果、負荷39の異常
が回復した場合(図4に示す場合)には通常制御動作に
戻る。また、負荷39の異常が継続している場合には、
通常制御動作と保護制御動作とが繰り返されつつ、MO
Sトランジスタ25ひいてはハイブリッドIC21の温
度上昇が抑制される。
【0041】以上説明したように、本実施形態のハイブ
リッドIC21によれば、負荷39〜42を駆動するM
OSトランジスタ25〜28と温度検出回路48を内蔵
した制御IC24とはセラミック基板22を介して熱的
に密に結合されているので、温度検出回路48は、何れ
かのMOSトランジスタ25〜28の発熱による温度上
昇を確実に検出することができる。そして、マイコン2
3は、検出温度Tがしきい値温度Taを超えたことによ
り異常な発熱状態の発生を検知し、しきい値電流Ibを
超える電流が流れているMOSトランジスタを異常な発
熱の原因であるとして保護制御(本実施形態では停止)
する。
リッドIC21によれば、負荷39〜42を駆動するM
OSトランジスタ25〜28と温度検出回路48を内蔵
した制御IC24とはセラミック基板22を介して熱的
に密に結合されているので、温度検出回路48は、何れ
かのMOSトランジスタ25〜28の発熱による温度上
昇を確実に検出することができる。そして、マイコン2
3は、検出温度Tがしきい値温度Taを超えたことによ
り異常な発熱状態の発生を検知し、しきい値電流Ibを
超える電流が流れているMOSトランジスタを異常な発
熱の原因であるとして保護制御(本実施形態では停止)
する。
【0042】従って、たとえ一部の負荷に異常が生じて
も、異常な発熱の原因となる負荷(MOSトランジス
タ)のみを選択的に且つ確実に保護制御することがで
き、ハイブリッドIC21全体としての異常な温度上昇
が抑えられる。しかも、MOSトランジスタ25〜28
で発生する熱が放熱板29により放熱されるので、MO
Sトランジスタ25〜28と温度検出回路48との熱結
合を密な状態に保持しつつ、ハイブリッドIC21の温
度上昇を一層抑制することができる。このように、本実
施形態のハイブリッドIC21は、正常な負荷について
は継続して駆動することができるので、灯火装置、ウォ
ッシャモータ、ホーンなど車両の安全走行に不可欠な負
荷39〜42を駆動する用途に特に適している。
も、異常な発熱の原因となる負荷(MOSトランジス
タ)のみを選択的に且つ確実に保護制御することがで
き、ハイブリッドIC21全体としての異常な温度上昇
が抑えられる。しかも、MOSトランジスタ25〜28
で発生する熱が放熱板29により放熱されるので、MO
Sトランジスタ25〜28と温度検出回路48との熱結
合を密な状態に保持しつつ、ハイブリッドIC21の温
度上昇を一層抑制することができる。このように、本実
施形態のハイブリッドIC21は、正常な負荷について
は継続して駆動することができるので、灯火装置、ウォ
ッシャモータ、ホーンなど車両の安全走行に不可欠な負
荷39〜42を駆動する用途に特に適している。
【0043】また、マイコン23は、MOSトランジス
タ25〜28の検出電流Iがそれぞれしきい値電流Ia
を超えた場合に、検出温度Tにかかわらず直ちにそのM
OSトランジスタ25〜28を停止させるので、負荷3
9〜42の完全短絡などにより生ずる急峻な電流増加に
対してもMOSトランジスタ25〜28を確実に保護す
ることができる。
タ25〜28の検出電流Iがそれぞれしきい値電流Ia
を超えた場合に、検出温度Tにかかわらず直ちにそのM
OSトランジスタ25〜28を停止させるので、負荷3
9〜42の完全短絡などにより生ずる急峻な電流増加に
対してもMOSトランジスタ25〜28を確実に保護す
ることができる。
【0044】さらに、本実施形態においては、しきい値
温度Ta、Tbがヒステリシスを伴った設定とされてい
るので、マイコン23による保護制御が不安定(例えば
振動的)となることを防止できる。また、本実施形態の
電流検出回路60は、それぞれMOSトランジスタ25
〜28のオン電圧を検出しているので、電流の大小のみ
ならず、ゲート電圧の不足によるオン電圧の増加異常を
も検出することができる。
温度Ta、Tbがヒステリシスを伴った設定とされてい
るので、マイコン23による保護制御が不安定(例えば
振動的)となることを防止できる。また、本実施形態の
電流検出回路60は、それぞれMOSトランジスタ25
〜28のオン電圧を検出しているので、電流の大小のみ
ならず、ゲート電圧の不足によるオン電圧の増加異常を
も検出することができる。
【0045】ハイブリッドIC21は、従来の負荷制御
装置(図7参照)に対し大幅な小型化が図られている。
また、MOSトランジスタ25〜28に対し共通に1つ
の温度検出回路48を具備することで足りるため低コス
ト化が可能となる。これは、ハイブリッドICとするこ
とによりMOSトランジスタ25〜28が集約的に配置
され、全てのMOSトランジスタ25〜28と1つの温
度検出回路48とが熱的に密に結合し易くなるという特
性を利用していることによる。しかも、MOSトランジ
スタ25〜28と温度検出回路48を内蔵した制御IC
24とは、熱伝導性の良いセラミック基板22の上に搭
載されているので、両者間の熱結合を一層密な状態とす
ることができる。
装置(図7参照)に対し大幅な小型化が図られている。
また、MOSトランジスタ25〜28に対し共通に1つ
の温度検出回路48を具備することで足りるため低コス
ト化が可能となる。これは、ハイブリッドICとするこ
とによりMOSトランジスタ25〜28が集約的に配置
され、全てのMOSトランジスタ25〜28と1つの温
度検出回路48とが熱的に密に結合し易くなるという特
性を利用していることによる。しかも、MOSトランジ
スタ25〜28と温度検出回路48を内蔵した制御IC
24とは、熱伝導性の良いセラミック基板22の上に搭
載されているので、両者間の熱結合を一層密な状態とす
ることができる。
【0046】なお、MOSトランジスタ25〜28ごと
に独立した過熱保護回路を備える負荷制御装置(例えば
図6に示すもの)をそのままハイブリッドIC化したも
のでは、その密な熱結合により他のMOSトランジスタ
の発熱による温度上昇によって自己のMOSトランジス
タの過熱保護回路が誤動作する虞があり、当該ハイブリ
ッドIC21のような確実な過熱保護動作を実現するこ
とができない可能性がある。
に独立した過熱保護回路を備える負荷制御装置(例えば
図6に示すもの)をそのままハイブリッドIC化したも
のでは、その密な熱結合により他のMOSトランジスタ
の発熱による温度上昇によって自己のMOSトランジス
タの過熱保護回路が誤動作する虞があり、当該ハイブリ
ッドIC21のような確実な過熱保護動作を実現するこ
とができない可能性がある。
【0047】(第2の実施形態)次に、本発明の第2の
実施形態について、ハイブリッドIC内部の上面図であ
る図5を参照しながら説明する。なお、本実施形態に示
すハイブリッドIC71は、第1の実施形態で説明した
ハイブリッドIC21と同じ電気的構成を備えており、
マイコン23、制御IC24およびMOSトランジスタ
25〜28は、ハイブリッドIC21と同一のものを使
用している。
実施形態について、ハイブリッドIC内部の上面図であ
る図5を参照しながら説明する。なお、本実施形態に示
すハイブリッドIC71は、第1の実施形態で説明した
ハイブリッドIC21と同じ電気的構成を備えており、
マイコン23、制御IC24およびMOSトランジスタ
25〜28は、ハイブリッドIC21と同一のものを使
用している。
【0048】この図5において、セラミック基板72の
上面にはマイコン23、制御IC24などが搭載がされ
ている。ハイブリッドIC71のリードフレーム73の
上には、このセラミック基板72が熱伝導性の良い接着
剤により固着されており、その周囲に位置してMOSト
ランジスタ25〜28がリードフレーム73(電圧VB
を有する)にはんだ付けされている。
上面にはマイコン23、制御IC24などが搭載がされ
ている。ハイブリッドIC71のリードフレーム73の
上には、このセラミック基板72が熱伝導性の良い接着
剤により固着されており、その周囲に位置してMOSト
ランジスタ25〜28がリードフレーム73(電圧VB
を有する)にはんだ付けされている。
【0049】ここで、制御IC24とセラミック基板7
2との間、セラミック基板72とリードフレーム73と
の間、MOSトランジスタ25〜28とリードフレーム
73との間は、それぞれ熱的に密に結合されている。リ
ードフレーム73は樹脂によりモールドされ、そのパッ
ケージ74にはアルミニウム製の放熱板75が取り付け
られている。また、セラミック基板22、その搭載部
品、MOSトランジスタ25〜28と、リードフレーム
73の端子76、77、78、79、…との間はボンデ
ィングワイヤ80、81、82、83、…により接続さ
れている。
2との間、セラミック基板72とリードフレーム73と
の間、MOSトランジスタ25〜28とリードフレーム
73との間は、それぞれ熱的に密に結合されている。リ
ードフレーム73は樹脂によりモールドされ、そのパッ
ケージ74にはアルミニウム製の放熱板75が取り付け
られている。また、セラミック基板22、その搭載部
品、MOSトランジスタ25〜28と、リードフレーム
73の端子76、77、78、79、…との間はボンデ
ィングワイヤ80、81、82、83、…により接続さ
れている。
【0050】このハイブリッドIC71によれば、MO
Sトランジスタ25〜28と温度検出回路48(図1参
照)を内蔵した制御IC24とはリードフレーム73お
よびセラミック基板72を介して熱的に密に結合されて
いるので、温度検出回路48は、何れかのMOSトラン
ジスタ25〜28の発熱による温度上昇を確実に検出す
ることができる。従って、本実施形態によっても、第1
の実施形態と同様の作用および効果を得ることができ
る。また、MOSトランジスタ25〜28は、リードフ
レーム73を介しても放熱されるので、ドレイン損失に
よる温度上昇を一層抑制することができる。
Sトランジスタ25〜28と温度検出回路48(図1参
照)を内蔵した制御IC24とはリードフレーム73お
よびセラミック基板72を介して熱的に密に結合されて
いるので、温度検出回路48は、何れかのMOSトラン
ジスタ25〜28の発熱による温度上昇を確実に検出す
ることができる。従って、本実施形態によっても、第1
の実施形態と同様の作用および効果を得ることができ
る。また、MOSトランジスタ25〜28は、リードフ
レーム73を介しても放熱されるので、ドレイン損失に
よる温度上昇を一層抑制することができる。
【0051】(その他の実施形態)なお、本発明は上記
し且つ図面に示す各実施形態に限定されるものではな
く、例えば以下のように変形または拡張が可能である。
第1および第2の実施形態において、セラミック基板2
2、72とマイコン23、制御IC24とは、ワイヤボ
ンディングまたはフリップチップにより接続しても良
い。また、インサートケース30に設けられた端子3
1、32、33、34、…やリードフレーム73の端子
76、77、78、79、…に対する接続には、ワイヤ
ボンディングの他リード溶接接続を用いても良い。
し且つ図面に示す各実施形態に限定されるものではな
く、例えば以下のように変形または拡張が可能である。
第1および第2の実施形態において、セラミック基板2
2、72とマイコン23、制御IC24とは、ワイヤボ
ンディングまたはフリップチップにより接続しても良
い。また、インサートケース30に設けられた端子3
1、32、33、34、…やリードフレーム73の端子
76、77、78、79、…に対する接続には、ワイヤ
ボンディングの他リード溶接接続を用いても良い。
【0052】ランプ負荷の調光が必要な場合などには、
マイコン23は、オンオフ制御に替えてPWM制御を実
行するようにしても良い。この場合、マイコン23は、
MOSトランジスタ25〜28のオフ駆動ではなくPW
M制御のデューティ比低減により保護制御を実行するこ
とができる。これにより、異常時において、電流は低下
するものの当該異常負荷への通電状態を維持することが
できる。
マイコン23は、オンオフ制御に替えてPWM制御を実
行するようにしても良い。この場合、マイコン23は、
MOSトランジスタ25〜28のオフ駆動ではなくPW
M制御のデューティ比低減により保護制御を実行するこ
とができる。これにより、異常時において、電流は低下
するものの当該異常負荷への通電状態を維持することが
できる。
【0053】各実施形態においては、マイコン23と制
御IC24との2チップ構成としたが、これらをワンチ
ップ化しても良い。これにより、ICチップを搭載する
基板面積を低減でき、一層の小型化、低コスト化が図ら
れる。スイッチング素子はバイポーラトランジスタやI
GBT等であっても良い。また、これらスイッチング素
子は、ハイサイドスイッチに限らずロウサイドスイッチ
として機能するように接続しても良い。しきい値電流I
a、Ibをヒステリシスを伴った設定としても良い。こ
れにより保護制御の安定化が図れる。
御IC24との2チップ構成としたが、これらをワンチ
ップ化しても良い。これにより、ICチップを搭載する
基板面積を低減でき、一層の小型化、低コスト化が図ら
れる。スイッチング素子はバイポーラトランジスタやI
GBT等であっても良い。また、これらスイッチング素
子は、ハイサイドスイッチに限らずロウサイドスイッチ
として機能するように接続しても良い。しきい値電流I
a、Ibをヒステリシスを伴った設定としても良い。こ
れにより保護制御の安定化が図れる。
【0054】マイコン23は、同じMOSトランジスタ
に対し所定回数だけ連続して保護制御を行った場合に
は、そのMOSトランジスタのオフ駆動を維持するとと
もに、車両内のコンビネーションスイッチECU69ま
たは車両外のサービスセンタに対しダイアグ信号を送信
するように構成しても良い。これにより、車両の使用者
やサービスマンが異常の発生を認識することができる。
温度検出回路48は、MOSトランジスタ25〜28に
より発生される熱を一括して検出可能であってその検出
結果をマイコン23に対し出力できるものであれば、複
数設置しても良い。
に対し所定回数だけ連続して保護制御を行った場合に
は、そのMOSトランジスタのオフ駆動を維持するとと
もに、車両内のコンビネーションスイッチECU69ま
たは車両外のサービスセンタに対しダイアグ信号を送信
するように構成しても良い。これにより、車両の使用者
やサービスマンが異常の発生を認識することができる。
温度検出回路48は、MOSトランジスタ25〜28に
より発生される熱を一括して検出可能であってその検出
結果をマイコン23に対し出力できるものであれば、複
数設置しても良い。
【図1】本発明の第1の実施形態を示すハイブリッドI
Cの電気的構成図
Cの電気的構成図
【図2】ハイブリッドICの内部を示す上面図
【図3】負荷に完全短絡等が生じた場合における検出温
度Tおよび検出電流Iの時間変化を示す図
度Tおよび検出電流Iの時間変化を示す図
【図4】負荷に部分的な短絡等が生じた場合における検
出温度Tおよび検出電流Iの時間変化を示す図
出温度Tおよび検出電流Iの時間変化を示す図
【図5】本発明の第2の実施形態を示す図2相当図
【図6】従来技術を示す負荷制御装置の制御基板の電気
的構成図
的構成図
【図7】制御基板の上面図
21、71はハイブリッドIC(負荷制御装置)、2
2、72はセラミック基板、23はマイコン(保護制御
手段)、25、26、27、28はMOSトランジスタ
(スイッチング素子)、29、75は放熱板、39、4
0、41、42は負荷、48は温度検出回路(温度検出
手段)、60は電流検出回路(電流検出手段)、73は
リードフレームである。
2、72はセラミック基板、23はマイコン(保護制御
手段)、25、26、27、28はMOSトランジスタ
(スイッチング素子)、29、75は放熱板、39、4
0、41、42は負荷、48は温度検出回路(温度検出
手段)、60は電流検出回路(電流検出手段)、73は
リードフレームである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // G05F 1/00 G05F 1/10 304M 1/10 304 H01L 23/34 D H01L 23/34 H03K 17/687 A Fターム(参考) 5F036 AA01 BB05 BD13 BF01 BF05 5G004 AA04 AB03 BA04 CA01 DA04 DC04 DC14 5H410 BB04 BB05 CC02 DD02 DD05 EB01 EB25 FF05 FF14 FF23 KK05 LL06 LL09 5J055 AX34 AX45 BX16 CX28 DX13 DX22 DX44 DX48 DX88 EY01 EY12 EZ09 EZ61 FX05 FX19 FX32 FX33 GX01 GX08
Claims (12)
- 【請求項1】 複数の負荷を駆動するための複数のスイ
ッチング素子と、 これらスイッチング素子より発生される熱を一括して検
出可能な温度検出手段と、 前記各スイッチング素子に流れる電流を検出する電流検
出手段と、 前記温度検出手段による検出温度と前記電流検出手段に
よる前記各スイッチング素子の検出電流とに基づいて、
異常な発熱の原因となるスイッチング素子を特定し、そ
の特定したスイッチング素子を保護制御する保護制御手
段とを備えたことを特徴とする負荷制御装置。 - 【請求項2】 前記温度検出手段は、前記スイッチング
素子のそれぞれに対して熱的に密に結合されていること
を特徴とする請求項1記載の負荷制御装置。 - 【請求項3】 前記保護制御手段は、前記検出温度が所
定のしきい値温度を超えており且つ前記スイッチング素
子の検出電流がそのスイッチング素子に対して設定され
た第1のしきい値電流を超えている場合に、そのスイッ
チング素子を前記異常な発熱の原因となるスイッチング
素子として特定するように構成されていることを特徴と
する請求項1または2記載の負荷制御装置。 - 【請求項4】 前記保護制御手段は、前記スイッチング
素子の検出電流がそのスイッチング素子に対して設定さ
れた第2のしきい値電流を超えた場合に、そのスイッチ
ング素子を直ちに停止させるように構成されていること
を特徴とする請求項3記載の負荷制御装置。 - 【請求項5】 前記しきい値温度およびしきい値電流
は、ヒステリシスを伴った設定とされていることを特徴
とする請求項3または4記載の負荷制御装置。 - 【請求項6】 前記保護制御手段は、前記特定したスイ
ッチング素子を停止させまたはPWM制御することによ
り当該スイッチング素子に流れる電流を制限するように
前記保護制御を実行することを特徴とする請求項1ない
し5の何れかに記載の負荷制御装置。 - 【請求項7】 ハイブリッドICとして構成されている
ことを特徴とする請求項1ないし6の何れかに記載の負
荷制御装置。 - 【請求項8】 前記ハイブリッドIC内において、前記
各スイッチング素子が形成された各チップと前記温度検
出手段が形成されたチップとが熱伝導性の良い同一基板
上に配設されていることを特徴とする請求項7記載の負
荷制御装置。 - 【請求項9】 前記ハイブリッドIC内において、前記
各スイッチング素子が形成された各チップがリードフレ
ーム上に配設され、前記温度検出手段が形成されたチッ
プが前記リードフレームと熱的に結合された熱伝導性の
良い基板上に配設されていることを特徴とする請求項7
記載の負荷制御装置。 - 【請求項10】 前記熱伝導性の良い基板はセラミック
基板であることを特徴とする請求項8または9記載の負
荷制御装置。 - 【請求項11】 前記ハイブリッドICには、前記スイ
ッチング素子で発生する熱を放熱するための放熱板が具
備されていることを特徴とする請求項7ないし10の何
れかに記載の負荷制御装置。 - 【請求項12】 前記温度検出手段、前記電流検出手段
および前記保護制御手段は同一のチップ内に形成されて
いることを特徴とする請求項1ないし11の何れかに記
載の負荷制御装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001029642A JP2002232280A (ja) | 2001-02-06 | 2001-02-06 | 負荷制御装置 |
US10/059,548 US6630748B2 (en) | 2001-02-06 | 2002-01-28 | Load control apparatus and method having single temperature detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001029642A JP2002232280A (ja) | 2001-02-06 | 2001-02-06 | 負荷制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002232280A true JP2002232280A (ja) | 2002-08-16 |
Family
ID=18893961
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001029642A Pending JP2002232280A (ja) | 2001-02-06 | 2001-02-06 | 負荷制御装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
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JP (1) | JP2002232280A (ja) |
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