JP2002202503A - 液晶表示装置 - Google Patents
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Abstract
配向不良を防止する。 【解決手段】液晶表示装置は、アレイ基板10と、対向
基板11と、これらアレイ基板および対向基板間に挟持
され、液晶分子配列がアレイ基板10および対向基板1
1により各々制御される複数の画素領域PXに区分され
る液晶層12とを備え、アレイ基板10が対向基板11
および液晶層12を介して入射する光を散乱させる反射
画素電極23を含む。特に、反射画素電極23が各画素
領域PXの範囲に緩斜面を配置する第1起伏および各画
素領域PXの範囲に主散乱部となる複数の凸部23cを
配置する第2起伏を重畳した反射表面を有する。
Description
係り、特に、反射機能を有する反射型液晶表示装置、及
び、反射機能と透過機能とを有する半透過型液晶表示装
置に関する。
ナルコンピュータ、テレビ、ワードプロセッサ、携帯電
話のような様々な機器に応用されている。液晶表示装置
の応用範囲がこのように広がる一方で、小型、省電力、
低コストというような高機能化の要望も高まっている。
この要望に対処するため、反射型液晶表示装置の開発が
現在進んでいる。この反射型液晶表示装置は外光を用い
て画像表示を行うことからバックライトのような内部光
源を必要としない。
板で反射し液晶層で光学変調されることにより画像とし
て表示面に表示される。外光の明るさは液晶表示装置の
設置環境に依存し、バックライト光のように安定してい
ない。従って、外光の光強度をできる限り減衰させない
ことが明るい画像を表示するために重要である。特に反
射板の反射特性は光強度の減衰に大きく影響することか
ら、あらゆる角度で入射する外光を効率良く反射する反
射特性を得るための最適化が試みられている。
うな起伏を反射板の反射表面に設けることが提案されて
いる。すなわち、この反射表面の起伏は一定範囲の領域
に反射光を集中させたり、特定の観察方向に対する反射
光強度を高めたりするように反射光の散乱を制御する。
上述の反射表面は不規則に並ぶ複数の円形凸部を主散乱
部として反射板に配置して得られる。この反射板の反射
特性は、凸部の直径dを3〜20μmの範囲に設定し、
凸部の高さHを0.6〜1.2μmの範囲に設定するこ
とによりほぼ最適となる。しかし、反射表面の起伏、す
なわち高低差が上述の構造により10μm程度の微小な
横幅に対して1μmを越える場合、これが液晶の配向不
良を誘起し、画像コントラストの低下をもたらす。
の横幅に対して0.5μm程度に制限すれば、画質の劣
化を避けることができる。しかし、反射表面の傾斜角が
これにより減少することから、正反射付近の反射光強度
が相対的に増大し、十分な反射光強度の得られる視野角
範囲を狭める結果となる。すなわち、この対策は反射板
の反射特性を最適でなくすることから実用的でない。
たものであって、その目的は、良好な光学特性を損なう
ことなく液晶の配向不良を防止でき、高コントラストで
表示品位が良好な液晶表示装置を提供することにある。
達成するために、請求項1に記載の液晶表示装置は、第
1および第2電極基板と、第1および第2電極基板間に
挟持され、第1および第2電極基板により液晶分子配列
を各々制御される複数の画素領域に区分される液晶層と
を備え、第1電極基板が前記第2電極基板および液晶層
を介して入射する光を散乱させる反射板を含み、反射板
が各画素領域の範囲に緩斜面を配置する第1起伏および
各画素領域の範囲に複数の主散乱部を配置する第2起伏
を重畳した反射表面を有することを特徴とする。
および第2電極基板と、前記第1および第2電極基板間
に挟持され、液晶分子配列が前記第1および第2電極基
板により各々制御される複数の画素領域に区分される液
晶層とを備え、前記第1電極基板は、前記第2電極基板
及び前記液晶層を介して入射する光を散乱させる反射板
が形成された反射機能を有する領域と、前記第1電極基
板を介して入射する光を透過する透過機能を有する領域
とを含み、前記反射板が各画素領域の範囲に緩斜面を配
置する第1起伏およびこの画素領域の範囲に複数の主散
乱部を配置する第2起伏を重畳した反射表面を有するこ
とを特徴とする。
域の範囲に緩斜面を配置する第1起伏および各画素領域
の範囲に複数の主散乱部を配置する第2起伏を重畳した
反射表面を有する。すなわち、第2起伏の主散乱部は各
画素領域について第1起伏により得られる緩斜面上で反
射光の散乱を制御する。
高低差を制限しても、第1および第2起伏の重畳により
反射板の反射特性を最適に維持できる。いいかえると、
良好な光学的反射特性を損なうことなく液晶の配向不良
を防止することができる。この結果、液晶表示装置は広
視野角および高コントラストという高品質な画像を表示
できるようになる。
一実施の形態について図面を参照して説明する。
に係る反射型液晶表示装置の画素周辺の断面構造を示
し、図2は、この反射型液晶表示装置の画素周辺の平面
構造を示し、図3は、図2に示すIII−III線に沿った断
面構造を示す。この液晶表示装置は、アレイ基板10、
対向基板11、これら基板10および11間に挟持され
る液晶層12を備える。
クス状に配置される複数の反射画素電極23、これら反
射画素電極23の列に沿って配置される複数の信号線1
4、これら反射画素電極23の行に沿って配置される複
数の走査線15、各々対応走査線15および対応信号線
14の交差位置近傍にスイッチング素子として配置され
る複数の画素用薄膜トランジスタ(TFT)24、およ
び複数の反射画素電極23を覆う配向膜31を含む。
と、この絶縁基板36を覆うカラーフィルタとなる着色
層37と、この着色層37を覆う透明対向電極38と、
この対向電極38を覆う配向膜39とを有する。また、
偏光板40が着色層37とは反対側において透明絶縁基
板36に貼り付けられる。
が複数の反射画素電極23にそれぞれ対応して複数の画
素領域PXに区画され、各画素領域PXが各々2本の隣
接走査線15と2本の隣接信号線14との間に配置され
る。各薄膜トランジスタ24は、対応走査線15から供
給される走査パルスに応答して導通し、対応信号線14
の電位を対応反射画素電極23に供給する。各反射画素
電極23は、対応信号線14の電位を画素電位として液
晶層12の対応画素領域PXに印加し、この画素電位と
対向電極38の電位との電位差に基づいて画素領域PX
の透過率を制御する。
は、アモルファスシリコンあるいはポリシリコンの半導
体層16と、この半導体層16の上方に絶縁して形成さ
れ対応走査線15に接続されるゲート電極18と、ゲー
ト電極18の両側において半導体層16にコンタクトホ
ール21,22を介してコンタクトし対応反射画素電極
23および対応信号線14にそれぞれ接続されるソース
およびドレイン電極19,20とを有する。
れ、絶縁基板13と一緒にゲート絶縁膜17により覆わ
れる。ゲート電極18は、このゲート絶縁膜17により
半導体層16から絶縁され、このゲート絶縁膜17上で
対応走査線15と一体的に形成される。ゲート電極18
および走査線15は、ゲート絶縁膜17と一緒に層間絶
縁膜32により覆われる。
極18の両側において半導体層16内に形成されるソー
ス領域16Sおよびドレイン16Dを露出するように層
間絶縁膜32およびゲート絶縁膜17に形成される。ソ
ース電極19およびドレイン電極20は、これらコンタ
クトホール21,22において半導体層16のソース領
域16Sおよびドレイン領域16Dにそれぞれコンタク
トして層間絶縁膜32上に形成される。
張ソース電極33と一体的に形成され、ドレイン電極2
0は、層間絶縁膜32上で対応信号線14と一体的に形
成される。ソース電極19、拡張ソース電極33、ドレ
イン電極20、および信号線14は、層間絶縁膜32と
一緒に保護絶縁膜25により覆われる。
3を部分的に露出するコンタクトホール29を有し、有
機絶縁膜26により覆われる。有機絶縁膜26は、保護
絶縁膜25のコンタクトホール29に対応して拡張ソー
ス電極33を部分的に露出するコンタクトホール30を
有する。反射画素電極23は、コンタクトホール29,
30において拡張ソース電極33にコンタクトして有機
絶縁膜26上に形成され、配向膜31により覆われる。
において外縁から中央付近に向かって緩やかに陥没する
第1の成型用起伏およびこの画素領域PXの範囲におい
て複数の位置で隆起する第2の成型用起伏を重畳した上
部表面を有する。すなわち、第1成型用起伏は、画素領
域PXの範囲において外縁に沿って配置される凸部26
aと、この凸部26aによって取り囲まれる凹部26b
とから構成される。第2成型用起伏は、この画素領域P
Xの範囲においてランダムに配置される複数の半球状凸
部26cと、これら凸部26cを取り囲む凹部26dと
から構成される。
液晶層12を介して入射する光を高い反射率で散乱させ
る反射板として例えば銀、アルミニウム、あるいはこれ
らの合金のような材料を含み、有機絶縁膜26の上部表
面に沿って所定の厚さに形成される。このため、反射画
素電極23は、画素領域PXの範囲に緩斜面を配置する
第1の起伏およびこの画素領域PXの範囲に複数の主散
乱部を配置する第2の起伏を重畳した上部表面を有する
ように有機絶縁膜26の上部表面により規定される。
は、有機絶縁膜26の凹部26bに対応した凹部23b
および有機絶縁膜26の凸部26aに対応した凸部23
aから構成される。反射画素電極23の第2起伏は、有
機絶縁膜26の凸部26cに対応した凸部23cおよび
有機絶縁膜26の凹部26dに対応した凹部23dから
構成される。第1起伏の緩斜面は、凸部23aおよび凹
部23bの組み合わせとして得られ、第2起伏の主散乱
部は、凸部23cとして得られる。図1では、H1が凸
部23aの高さあるいは凹部23bの深さである第1起
伏の高低差を表し、H2が凸部23cの高さあるいは凹
部23dの深さである第2起伏の高低差を表す。
工程を説明する。
す。アレイ基板10の製造では、高歪点ガラス板や石英
板等が絶縁基板13として用いられ、半導体層16が例
えばアモルファスシリコンをCVD法などにより50n
m程度の厚さで絶縁基板13上に堆積し、さらにこれを
フォトエッチング法でパターニングすることにより形成
される。
VD法によりを100nmから150nm程度の厚さで
半導体層16および絶縁基板13上に堆積することによ
り形成される。
がTa,Cr,Al,Mo,WおよびCuなどの単体又
はその積層膜あるいは合金膜をゲート絶縁膜17上に2
00nmから400nm程度の厚さで堆積し、これをフ
ォトエッチング法でパターニングすることにより一体的
に形成される。この後、例えばリンのような不純物がゲ
ート電極18をマスクとして用いたイオン注入やイオン
ドーピング法で半導体層16に注入される。ここでは、
リンが例えばPH3/H2の雰囲気において加速電圧8
0keVで加速され、ドーズ量5×1015atoms
/cm2という高濃度で注入される。この不純物注入領
域は半導体層16をアニーリングすることにより活性化
され、薄膜トランジスタ24のソースおよびドレインを
構成する。
32が例えばPECVD法を用いてSiOxを500n
mから700nm程度の厚さでゲート電極18、走査線
15、およびゲート酸化膜17上に堆積することにより
形成される。層間絶縁膜32はフォトエッチング法で半
導体層16のソースおよびドレインを露出させるように
パターニングされ、これによりコンタクトホール21お
よび22を形成する。
r,Al,Mo,W,Cuなどの単体又はその積層膜あ
るいは合金膜が500nm〜700nm程度の厚さで層
間絶縁膜32上に堆積され、フォトエッチング法で所定
の形状にパターンニングされ、これにより信号線14、
ソース電極19、拡張ソース電極33、信号線14のよ
うな配線を形成する。
25がSiNxをPECVD法でこれら配線および層間
絶縁膜32上に堆積することにより形成され、コンタク
トホール29が保護絶縁膜25をフォトエッチング法で
パターニングすることにより形成される。
26がポジ型感光性樹脂を保護絶縁膜25上にスピンコ
ート法などによって1μmから4μm程度の厚さで塗布
し、アレイ基板10をプリベークすることにより形成さ
れる。感光性樹脂の粘度とスピンの回転数を最適化する
ことで、2本の隣接信号線14と2本の隣接走査線15
に囲まれた画素領域PXの範囲に凸部26aおよび凹部
26bの第1成型用起伏を形成できる。具体的には、
0.1μm〜0.5μm程度の高低差が走査線15およ
び信号線14のような配線材の厚さに依存して有機絶縁
膜26の上部表面に生じ、各画素領域PXの外縁、すな
わち隣接画素領域との境界に凸部26aを配置し、この
凸部26aに囲まれるように凹部26bを配置する。従
って、凹部26bの寸法D1は通常20μm〜400μ
m程度の画素ピッチに実質的に一致する。
26が第1のフォトマスクを用いてコンタクトホール2
9に対応する範囲で部分的に露光される。拡張ソース電
極33を露出するコンタクトホール30として有機絶縁
膜26を開口するため、露光量iは200mJ〜100
0mJ程度であることが好ましい。
範囲において信号線14および走査線15に重ならない
ようにしてランダムに配置された円形の遮光部を持つ第
2のフォトマスク34を用いて露光される。ここで、遮
光部の直径は上述した凹部26bの寸法D1よりも小さ
い2μm〜20μm程度に設定され、露光量は10mJ
〜200mJに設定される。有機絶縁膜26の起伏、す
なわち凹凸形状および凹凸密度はこのフォトマスク34
の開口形状、密度、露光量等により制御可能である。
26が上述の露光部分を除去するために現像され、これ
により複数の凸部26c’およびこれら凹部26d’を
コンタクトホール30と共に有機絶縁膜26に形成す
る。尚、第2フォトマスク34を用いた露光では、露光
量が10〜200mJであるため、凹部26d’の底が
有機絶縁膜26の下地となる保護絶縁膜25に達するこ
とはなく、有機絶縁膜26の上部表面付近にとどまる。
10の加熱処理が行われ、これにより有機絶縁膜26の
凸部26c’および凹部26d’が角のとれた滑らかな
半球状の凸部26cおよびこの凸部26cを取り囲む凹
部26dに変化して第2成型用起伏となる。凸部26c
の直径D2は遮光部の直径に対応して凹部26bの寸法
D1よりも小さい値に設定される。
i,CrおよびAg等の金属膜がスパッタ法により10
0nm程度の厚さで有機絶縁膜26上に堆積され、フォ
トエッチング法で所定の形状にパターニングされ、これ
により反射画素電極23を形成する。
ラス板や石英板等が光透過性の絶縁基板36として用い
られ、顔料などを分散させた着色層37がこの絶縁基板
36上に形成される。透明な対向電極38は例えば1T
Oをスパッタ法で着色層37上に堆積することにより形
成される。
は、配向膜31および39の形成後に一体化される。配
向膜31は、低温キュア型のポリイミドを印刷により反
射画素電極23および有機絶縁膜26を覆うように塗布
しこれをラビング処理することにより形成される。ま
た、配向膜39は、低温キュア型のポリイミドを印刷に
より透明対向電極38を覆うように塗布しこれをラビン
グ処理することにより形成される。
のようにして得られると、これら配向膜31および39
を内側にして向かい合わされ、所定の間隙を残して周縁
シール材によって貼り合わされる。液晶層12は、アレ
イ基板10および対向基板11間において周縁シール材
で囲まれた液晶注入空間をセルとし、ネマチック液晶の
ような液晶組成物をこのセルに注入し封止することによ
り得られる。偏光板40は、こうして液晶層12がアレ
イ基板10および対向基板11間に挟持された状態で、
着色層37とは反対側において透明絶縁基板36に貼り
付けられる。反射型液晶表示装置は上述のようにして完
成する。
素電極23が反射板を構成し、その反射表面が高低差H
1の第1起伏および高低差H2の第2起伏を重畳した状
態となる。第1起伏は、各画素領域PXの範囲において
外縁に沿って配置される凸部23aと、この凸部23a
によって取り囲まれる凹部23bとから構成される。第
2起伏は、各画素領域PXの範囲においてランダムに配
置される複数の半球状凸部23cと、これら凸部23c
を取り囲む凹部23dとから構成される。
範囲において外縁から中央付近に向かって緩やかに陥没
して、各画素領域PXの範囲に緩斜面を配置する。ま
た、第2起伏は、各画素領域PXの範囲において複数の
位置で隆起して、各画素領域PXの範囲に複数の主散乱
部を配置する。
れる傾斜角に第2起伏により得られる傾斜角を上乗せし
た傾斜角で散乱されることになる。このため、第2起伏
により得られる傾斜角が小さくても最適な反射特性を得
ることができる。他方、微小範囲の高低差をH2のよう
な従来よりも十分小さい値にできるため、この高低差に
起因する液晶配向不良を防止することができる。この結
果、反射型液晶表示装置は広視野角および高コントラス
トという高品質な画像を表示できるようになる。
電極23間のスペースに存在しないが、これは反射表面
の反射特性を実質的に劣化させる原因とならないだけで
なく、有機絶縁膜26側の第2成型用起伏もこのスペー
スの範囲で不要にできる。このため、パターニング不良
が反射画素電極23の形成工程で有機絶縁膜26を下地
として堆積される金属膜をパターニングする際に発生せ
ず、画素電極23間のショートによる点欠陥不良を低減
できる。また、第2成型用起伏は走査線15および信号
線14に重ならないように配置されるため、走査線15
および画素電極23間並びに信号線14および画素電極
23間の寄生容量が低減される。従って、クロストーク
等による表示品質の悪化を防止できる。
型液晶表示装置を説明する。図5は、この反射型液晶表
示装置の画素周辺の平面構造を示し、図6は、図5に示
すVI−VI線に沿った断面構造を示す。この液晶表示装
置は、以下の構造を除いて第1実施形態と同様に構成さ
れる。このため、図5および図6において、第1実施形
態と同様な部分を同一参照符号で示し、その説明を省略
する。
に、保護絶縁膜25が反射画素電極23に対応する領域
内で層間絶縁膜32を露出し複数の島50を残すように
選択的に除去され、有機絶縁膜26がこの保護絶縁膜2
5および層間絶縁膜32を下地として形成される。この
場合、第1成型用起伏が上述の構成に依存して有機絶縁
膜26の上部表面に得られ、反射画素電極23がこの上
部表面に沿って形成される。これにより、複数の主散乱
部、すなわち凸部23cが図6に示すように緩斜面に配
置された反射画素電極23の反射表面が得られる。反射
画素電極23がこの上部表面に沿って図6に示すように
形成される。
実施形態と同様に、良好な光学的反射特性を損なうこと
なく液晶の配向不良を防止することができる。また、こ
れら島50の間隔は任意に変更可能であるため、画素ピ
ッチが大きな場合でもこの光学反射特性の最適化できな
い状況になりにくい。さらに、これら島50の配置をラ
ンダムにすることで、光散乱パターンの規則性に起因し
て生じるような光の干渉を防止して反射光の色付きを低
減することができる。
液晶表示装置を説明する。図7は、この反射型液晶表示
装置の画素周辺の平面構造を示し、図8は、図7に示す
VIII−VIII線に沿った断面構造を示す。この液晶表示
装置は、以下の構造を除いて第1実施形態と同様に構成
される。このため、図7および図8において第1実施形
態と同様な部分を同一参照符号で示し、その説明を省略
する。
に、各走査線15が対応反射画素電極23の下方におい
てこの反射画素電極23の中央を横切るように配置され
る。層間絶縁膜32、保護絶縁膜25、および有機絶縁
膜26が走査線15を覆って順次形成されると、第1成
型用起伏が上述の構成に依存して有機絶縁膜26の上部
表面に得られ、反射画素電極23がこの上部表面に沿っ
て形成される。これにより、複数の主散乱部、すなわち
凸部23cが図8に示すように緩斜面に配置された反射
画素電極23の反射表面が得られる。
実施形態と同様に、良好な光学的反射特性を損なうこと
なく液晶の配向不良を防止することができる。さらに、
走査線15が反射画素電極23間にないので、走査線1
5の表面で反射する光を抑えられ、高コントラストであ
る高品質な画像を表示できる。
液晶表示装置を説明する。図9は、この反射型液晶表示
装置の製造工程を示す。この液晶表示装置は、以下の構
造を除いて第1実施形態と同様に構成される。このた
め、図8において第1実施形態と同様な部分を同一参照
符号で示し、その説明を省略する。
板や石英板等が絶縁基板13として用いられ、半導体層
16が例えばアモルファスシリコンをCVD法などによ
り50nm程度の厚さで絶縁基板13上に堆積し、さら
にこれをフォトエッチング法でパターニングすることに
より形成される。
VD法によりを100nmから150nm程度の厚さで
半導体層16および絶縁基板13上に堆積することによ
り形成される。
がTa,Cr,Al,Mo,WおよびCuなどの単体又
はその積層膜あるいは合金膜をゲート絶縁膜17上に2
00nmから400nm程度の厚さで堆積し、これをフ
ォトエッチング法でパターニングすることにより一体的
に形成される。この後、例えばリンのような不純物がゲ
ート電極18をマスクとして用いたイオン注入やイオン
ドーピング法で半導体層16に注入される。ここでは、
リンが例えばPH3/H2の雰囲気において加速電圧8
0keVで加速され、ドーズ量5×1015atoms
/cm2という高濃度で注入される。この不純物注入領
域は半導体層16をアニーリングすることにより活性化
され、薄膜トランジスタ24のソースおよびドレインを
構成する。
〜(d)に示す工程で順次処理される。図9の(a)〜
(d)に示す工程は、第1実施形態で説明した図4の
(a)〜(d)に示す工程と同様である。従って、0.
1μm〜0.5μm程度の高低差が走査線15および信
号線14のような配線材の厚さに依存して有機絶縁膜2
6の上部表面に生じ、各画素領域PXの外縁、すなわち
隣接画素領域との境界に凸部26aを配置し、この凸部
26aに囲まれるように凹部26bを配置する。従っ
て、凹部26bの寸法D1は、通常20μm〜400μ
m程度の画素ピッチに実質的に一致する。
63が感光性樹脂を有機絶縁膜26上にスピンコート法
によって0.6μmの厚さで塗布し、アレイ基板10を
プリベークすることにより形成される。
63が画素領域PXの範囲において信号線14および走
査線15に重ならないようにしてランダムに配置された
円形の透光部を持つフォトマスク64を用いて露光され
る。ここで、透光部の直径は、上述した凹部26bの寸
法D1よりも小さい2μm〜20μm程度に設定され、
露光量は、50mJ〜4000mJに設定される。有機
絶縁膜63の起伏、すなわち凹凸形状および凹凸密度
は、このフォトマスク64の開口形状、密度、露光量等
により制御可能である。
63が現像され、上述の露光部分を有機絶縁膜26から
除去することにより複数の微細な円形凹部63b’およ
びこれら凹部63b’を取り囲む凸部63a’を形成す
る。
10の加熱処理が行われ、これにより有機絶縁膜63の
凹部63b’および凸部63a’が角のとれた滑らかな
凹部63bおよびこの凹部63bを取り囲む凸部63a
に変化する。
67が有機絶縁膜63の形成で用いたものと同様な感光
性樹脂をスピンコート法によって凹部63bおよび凸部
63aを覆うように有機絶縁膜26上に0.3μmの厚
さで塗布し、アレイ基板10をプリベークすることによ
り形成される。これにより、有機絶縁膜67に第2成型
用起伏が得られる。この第2成型用起伏は、凹部67b
およびこれら凹部67bを取り囲む凸部67aにより構
成される。
i,CrおよびAg等の金属膜がスパッタ法により10
0nm程度の厚さで有機絶縁膜67上に堆積され、フォ
トエッチング法で所定の形状にパターニングされ、これ
により反射画素電極23を形成する。
射画素電極23が反射板を構成し、その反射表面が高低
差H1の第1起伏および高低差H2の第2起伏を重畳し
た状態となる。第1起伏は、各画素領域PXの範囲にお
いて外縁に沿って配置される凸部23aと、この凸部2
3aによって取り囲まれる凹部23bとから構成され
る。第2起伏は、各画素領域PXの範囲においてランダ
ムに配置される複数の半球状凹部23eと、これら凹部
23eを取り囲む凸部23fとから構成される。すなわ
ち、第1起伏は、各画素領域PXの範囲において外縁か
ら中央付近に向かって緩やかに陥没して、各画素領域P
Xの範囲に緩斜面を配置する。また、第2起伏は、各画
素領域PXの範囲において複数の位置で陥没して、各画
素領域の範囲に複数の主散乱部を配置する。
様に、良好な光学的反射特性を損なうことなく液晶の配
向不良を防止することができる。
説明する。
態に係る半透過型液晶表示装置の画素周辺の断面構造を
示し、図12は、この半透過型液晶表示装置の画素周辺
の平面構造を示し、図13は図12に示すA−B線に沿
った断面構造を示す。この半透過型液晶表示装置は、ア
レイ基板10、対向基板11、これら基板10および1
1間に挟持される液晶層12を備え、対向基板11及び
液晶層12を介して入射する光を散乱させる反射板が形
成された反射機能を有するとともに、アレイ基板10を
介して入射する光を透過する透過機能を有する。
クス状に配置される複数の反射画素電極23、これら反
射画素電極23の列に沿って配置される複数の信号線1
4、これら反射画素電極23の行に沿って配置される複
数の走査線15、各々対応走査線15および対応信号線
14の交差位置近傍にスイッチング素子として配置され
る複数の画素用薄膜トランジスタ(TFT)24、およ
び複数の反射画素電極23を覆う配向膜31を含む。
と、この絶縁基板36を覆うカラーフィルタとなる着色
層37と、この着色層37を覆う透明対向電極38と、
この対向電極38を覆う配向膜39とを有する。また、
偏光板40は、着色層37とは反対側において透明絶縁
基板36に貼り付けられる。
2が複数の反射画素電極23にそれぞれ対応して複数の
画素領域PXに区画され、各画素領域PXが各々2本の
隣接走査線15と2本の隣接信号線14との間に配置さ
れる。各薄膜トランジスタ24は、対応走査線15から
供給される走査パルスに応答して導通し、対応信号線1
4の電位を対応反射画素電極23に供給する。各反射画
素電極23は、対応信号線14の電位を画素電位として
液晶層12の対応画素領域PXに印加し、この画素電位
と対向電極38の電位との電位差に基づいて画素領域P
Xの透過率を制御する。
は、アモルファスシリコンあるいはポリシリコンの半導
体層16と、この半導体層16の上方に絶縁して形成さ
れ対応走査線15に接続されるゲート電極18と、ゲー
ト電極18の両側において半導体層16のソース領域1
6S及びドレイン領域16Dにコンタクトホール21,
22を介してコンタクトし対応反射画素電極23および
対応信号線14にそれぞれ接続されるソース電極19お
よびドレイン電極20とを有する。
れ、絶縁基板13と一緒にゲート絶縁膜17により覆わ
れる。ゲート電極18は、このゲート絶縁膜17により
半導体層16から絶縁され、このゲート絶縁膜17上で
対応走査線15と一体的に形成される。ゲート電極18
および走査線15は、ゲート絶縁膜17と一緒に層間絶
縁膜32により覆われる。コンタクトホール21,22
は、ゲート電極18の両側において半導体層16内に形
成されるソース領域16Sおよびドレイン16Dを露出
するように層間絶縁膜32およびゲート絶縁膜17に形
成される。
は、これらコンタクトホール21,22において半導体
層16のソース領域16Sおよびドレイン16Dにそれ
ぞれコンタクトして層間絶縁膜32上に形成される。ソ
ース電極19は、層間絶縁膜32上で拡張ソース電極3
3と一体的に形成され、ドレイン電極20は、層間絶縁
膜32上で対応信号線14と一体的に形成される。ソー
ス電極19、拡張ソース電極33、ドレイン電極20、
および信号線14は、層間絶縁膜32と一緒に保護絶縁
膜25により覆われる。
3を部分的に露出するコンタクトホール29を有し、有
機絶縁膜26により覆われる。有機絶縁膜26は、保護
絶縁膜25のコンタクトホール29に対応して拡張ソー
ス電極33を部分的に露出するコンタクトホール30を
有する。反射画素電極23は、コンタクトホール29,
30において拡張ソース電極33にコンタクトして有機
絶縁膜26上に形成され、配向膜31により覆われる。
において外縁から中央付近に向かって緩やかに陥没する
第1の成型用起伏およびこの画素領域PXの範囲におい
て複数の位置で隆起する第2の成型用起伏を重畳した上
部表面を有する。すなわち、第1成型用起伏は、画素領
域PXの範囲において外縁に沿って配置される凸部26
aと、この凸部26aによって取り囲まれる凹部26b
とから構成される。第2成型用起伏は、この画素領域P
Xの範囲においてランダムに配置される複数の半球状凸
部26cと、これら凸部26cを取り囲む凹部26dと
から構成される。
液晶層12を介して入射する光を高い反射率で散乱させ
る反射板として例えば銀、アルミニウム、あるいはこれ
らの合金のような材料を含み、有機絶縁膜26の上部表
面に沿って所定の厚さに形成される。このため、反射画
素電極23は、画素領域PXの範囲に緩斜面を配置する
第1の起伏およびこの画素領域PXの範囲に複数の主散
乱部を配置する第2の起伏を重畳した上部表面を有する
ように有機絶縁膜26の上部表面により規定される。
板10を介して入射する光を透過可能とする透過用孔2
3eを備えている。
は、有機絶縁膜26の凹部26bに対応した凹部23b
および有機絶縁膜26の凸部26aに対応した凸部23
aから構成される。反射画素電極23の第2起伏は、有
機絶縁膜26の凸部26cに対応した凸部23cおよび
有機絶縁膜26の凹部26dに対応した凹部23dから
構成される。第1起伏の緩斜面は、凸部23aおよび凹
部23bの組み合わせとして得られ、第2起伏の主散乱
部は、凸部23cとして得られる。図11では、H1が
凸部23aの高さあるいは凹部23bの深さである第1
起伏の高低差を表し、H2が凸部23cの高さあるいは
凹部23dの深さである第2起伏の高低差を表す。
工程を説明する。
10の製造工程を示す。アレイ基板10の製造では、高
歪点ガラス板や石英板等が絶縁基板13として用いら
れ、画素TFT24のチャネル層となる半導体層16が
例えばアモルファスシリコンをCVD法などにより50
nm程度の厚さで絶縁基板13上に堆積し、さらにこれ
をフォトエッチング法でパターニングすることにより形
成される。
VD法によりを100nmから150nm程度の厚さで
半導体層16および絶縁基板13上に堆積することによ
り形成される。
がTa,Cr,Al,Mo,WおよびCuなどの単体又
はその積層膜あるいは合金膜をゲート絶縁膜17上に2
00nmから400nm程度の厚さで堆積し、これをフ
ォトエッチング法でパターニングすることにより一体的
に形成される。この後、例えばリンのような不純物がゲ
ート電極18をマスクとして用いたイオン注入やイオン
ドーピング法で半導体層16に注入される。ここでは、
リンが例えばPH3/H2の雰囲気において加速電圧8
0keVで加速され、ドーズ量5×1015atoms
/cm2という高濃度で注入される。この不純物注入領
域は、半導体層16をアニーリングすることにより活性
化され、薄膜トランジスタ24のソース領域16Sおよ
びドレイン16Dを構成する。
膜32が例えばPECVD法を用いてSiOxを500
nmから700nm程度の厚さでゲート電極18、走査
線15、およびゲート酸化膜17上に堆積することによ
り形成される。層間絶縁膜32は、フォトエッチング法
で半導体層16のソース領域16Sおよびドレイン16
Dを露出させるようにパターニングされ、これによりコ
ンタクトホール21および22を形成する。
r,Al,Mo,W,Cuなどの単体又はその積層膜あ
るいは合金膜が500nm〜700nm程度の厚さで層
間絶縁膜32上に堆積され、フォトエッチング法で所定
の形状にパターンニングされ、これにより信号線14、
ソース電極19、ドレイン電極20、拡張ソース電極3
3のような配線を形成する。
護絶縁膜25がSiNxをPECVD法でこれら配線お
よび層間絶縁膜32上に堆積することにより形成され、
コンタクトホール29が保護絶縁膜25をフォトエッチ
ング法でパターニングすることにより形成される。
膜26がポジ型感光性樹脂を保護絶縁膜25上にスピン
コート法などによって1μmから4μm程度の厚さで塗
布し、アレイ基板10をプリベークすることにより形成
される。感光性樹脂の粘度とスピンの回転数を最適化す
ることで、2本の隣接信号線14と2本の隣接走査線1
5に囲まれた画素領域PXの範囲に凸部26aおよび凹
部26bの第1成型用起伏を形成する。具体的には、
0.1μm〜0.5μm程度の高低差が走査線15およ
び信号線14のような配線材の厚さに依存して有機絶縁
膜26の上部表面に生じ、各画素領域PXの外縁、すな
わち隣接画素領域との境界に凸部26aを配置し、この
凸部26aに囲まれるように凹部26bを配置する。従
って、凹部26bの寸法D1は、通常20μm〜400
μm程度の画素ピッチに実質的に一致する。
膜26が第1のフォトマスクを用いてコンタクトホール
29に対応する範囲で部分的に露光される。拡張ソース
電極33を露出するコンタクトホール30として有機絶
縁膜26を開口するため、露光量iは200mJ〜10
00mJ程度であることが好ましい。
範囲において信号線14および走査線15に重ならない
ようにしてランダムに配置された円形の遮光部を持つ第
2のフォトマスク34を用いて露光される。ここで、遮
光部の直径は、上述した凹部26bの寸法D1よりも小
さい2μm〜20μm程度に設定され、露光量は、10
mJ〜200mJに設定される。有機絶縁膜26の起
伏、すなわち凹凸形状および凹凸密度は、このフォトマ
スク34の開口形状、密度、露光量等により制御可能で
ある。
膜26が上述の露光部分を除去するために現像され、こ
れにより複数の凸部26c’およびこれら凹部26d’
をコンタクトホール30と共に有機絶縁膜26に形成す
る。尚、第2フォトマスク34を用いた露光では、露光
量が10〜200mJであるため、凹部26d’の底が
有機絶縁膜26の下地となる保護絶縁膜25に達するこ
とはなく、有機絶縁膜26の上部表面付近にとどまる。
板10の加熱処理が行われ、これにより有機絶縁膜26
の凸部26c’および凹部26d’が角のとれた滑らか
な半球状の凸部26cおよびこの凸部26cを取り囲む
凹部26dに変化して第2成型用起伏となる。凸部26
cの直径D2は、遮光部の直径に対応して凹部26bの
寸法D1よりも小さい値に設定される。
i,CrおよびAg等の金属膜がスパッタ法により10
0nm程度の厚さで有機絶縁膜26上に堆積され、フォ
トエッチング法で所定の形状にパターニングされ、これ
により反射画素電極23を形成する。このとき、同時
に、反射画素電極23の一部に透過用孔23eを形成す
る。
ラス板や石英板等が光透過性の絶縁基板36として用い
られ、顔料などを分散させた着色層37がこの絶縁基板
36上に形成される。透明な対向電極38は、例えば1
TOをスパッタ法で着色層37上に堆積することにより
形成される。
は、配向膜31および39の形成後に一体化される。配
向膜31は、低温キュア型のポリイミドを印刷により反
射画素電極23および有機絶縁膜26を覆うように塗布
しこれをラビング処理することにより形成される。ま
た、配向膜39は、低温キュア型のポリイミドを印刷に
より透明対向電極38を覆うように塗布しこれをラビン
グ処理することにより形成される。
のようにして得られると、これら配向膜31および39
を内側にして向かい合わされ、所定の間隙を残して周縁
シール材によって貼り合わされる。液晶層12は、アレ
イ基板10および対向基板11間において周縁シール材
で囲まれた液晶注入空間をセルとし、ネマチック液晶の
ような液晶組成物をこのセルに注入し封止することによ
り得られる。偏光板40は、こうして液晶層12がアレ
イ基板10および対向基板11間に挟持された状態で、
着色層37とは反対側において透明絶縁基板36に貼り
付けられる。半透過型液晶表示装置は、上述のようにし
て完成する。
表示装置では、反射画素電極23が反射板を構成し、そ
の反射表面が高低差H1の第1起伏および高低差H2の
第2起伏を重畳した状態となる。第1起伏は、各画素領
域PXの範囲において外縁に沿って配置される凸部23
aと、この凸部23aによって取り囲まれる凹部23b
とから構成される。第2起伏は、各画素領域PXの範囲
においてランダムに配置される複数の半球状凸部23c
と、これら凸部23cを取り囲む凹部23dとから構成
される。
範囲において外縁から中央付近に向かって緩やかに陥没
して、各画素領域PXの範囲に緩斜面を配置する。ま
た、第2起伏は、各画素領域PXの範囲において複数の
位置で隆起して、各画素領域PXの範囲に複数の主散乱
部を配置する。
れる傾斜角に第2起伏により得られる傾斜角を上乗せし
た傾斜角で散乱されることになる。このため、第2起伏
により得られる傾斜角が小さくても最適な反射特性を得
ることができる。他方、微小範囲の高低差をH2のよう
な従来よりも十分小さい値にできるため、この高低差に
起因する液晶配向不良を防止することができる。この結
果、反射型液晶表示装置は広視野角および高コントラス
トという高品質な画像を表示できるようになる。
画素電極23間のスペースに存在しないが、これは反射
表面の反射特性を実質的に劣化させる原因とならないだ
けでなく、有機絶縁膜26側の第2成型用起伏もこのス
ペースの範囲で不要にできる。このため、パターニング
不良が反射画素電極23の形成工程で有機絶縁膜26を
下地として堆積される金属膜をパターニングする際に発
生せず、画素電極23間のショートによる点欠陥不良を
低減できる。また、第2成型用起伏は、走査線15およ
び信号線14に重ならないように配置されるため、走査
線15および画素電極23間並びに信号線14および画
素電極23間の寄生容量が低減される。従って、クロス
トーク等による表示品質の悪化を防止できる。
示装置を説明する。
面構造を示す。この半透過型液晶表示装置は、以下の構
造を除いて第1実施形態と同様に構成される。このた
め、図15において第1実施形態と同様な部分を同一参
照符号で示し、その説明を省略する。
すように、反射画素電極23の透過用孔23eに対応す
る領域にITOなどの透明導電性部材によって形成され
た透明画素電極23fを備えている。この透過用孔23
eに対応する領域は、下地として凹凸を有する有機絶縁
膜26を備え、透明画素電極23fは、この有機絶縁膜
26上に配置されている。
イ基板10側から照明するバックライトユニット42を
備えている。さらに、この半透過型液晶表示装置は、バ
ックライトユニット42に対向するアレイ基板10表面
に偏光板41を備えている。この偏光板41は、例えば
対向基板11に配置された偏光板40と偏光面が直交す
るように配置される。
て、反射型として利用する場合には、上述した実施の形
態と同様に、対向基板11及び液晶層12を介して入射
する外部光を反射電極23によって反射し、選択的に対
向基板11側から出射することにより、画像を表示す
る。
おいて、透過型として利用する場合には、バックライト
ユニット42からアレイ基板10を介して入射するバッ
クライト光を透過用孔23eを介して選択的に対向基板
11側から出射することにより、画像を表示する。
のように製造される。すなわち、上述した第1実施形態
と同様に、図14の(a)乃至(g)に示すような工程
を経た後、有機絶縁膜26上に、スパッタ法により例え
ばITOからなる透明性導電膜を約100nm程度の膜
厚に成膜し、フォトエッチング法により所定の形状にパ
ターニングされ、これにより透明画素電極23fを形成
する。この後、図14の(h)に示すように、透過用孔
23eを有する反射画素電極23を形成する。その後の
工程は、上述した第1実施形態と同様である。
おいても、上述した第1実施形態と同様の効果が得られ
る。また、透過型として利用する場合、透過用孔23e
付近における透過領域において、液晶層12に作用する
電界が高くなる。すなわち、上述した第1実施形態と比
較して透過用孔23eに対応して透明画素電極23fを
配置したことにより、液晶層12対して透明画素電極2
3fと対向電極38との間の電界が直接的に作用する。
このため、透過型として利用した場合、コントラストが
高くなり、より表示品位の良好な液晶表示装置を得るこ
とが可能となる。
示装置を説明する。
面構造を示す。この半透過型液晶表示装置は、以下の構
造を除いて図15に示した第2実施形態と同様に構成さ
れる。このため、図16において第2実施形態と同様な
部分を同一参照符号で示し、その説明を省略する。
すように、反射画素電極23の透過用孔23eに対応す
る領域にITOなどの透明導電性部材によって形成され
た透明画素電極23fを備えている。この透過用孔23
eに対応する領域は、凹凸を有する有機絶縁膜26が除
去され、平坦化された保護絶縁膜25を下地として備え
ている。透明画素電極23fは、この保護絶縁膜25上
に配置されている。
イ基板10側から照明するバックライトユニット42を
備えている。さらに、この半透過型液晶表示装置は、バ
ックライトユニット42に対向するアレイ基板10表面
に偏光板41を備えている。この偏光板41は、例えば
対向基板11に配置された偏光板40と偏光面が直交す
るように配置される。
のように製造される。すなわち、上述した第1実施形態
と同様に、図14の(a)乃至(g)に示すような工程
を経た後、フォトエッチング法により一部の有機絶縁膜
26を除去して一部の保護絶縁膜25を露出する。続い
て、有機絶縁膜26及び保護絶縁膜25上に、スパッタ
法により例えばITOからなる透明性導電膜を約100
nm程度の膜厚に成膜し、フォトエッチング法により所
定の形状にパターニングされ、これにより透明画素電極
23fを形成する。この後、図14の(h)に示すよう
に、有機絶縁膜26を除去した領域に対応して透過用孔
23eを有する反射画素電極23を形成する。その後の
工程は、上述した第1実施形態と同様である。
おいても、上述した第1実施形態と同様の効果が得られ
る。また、透過領域と反射領域とにおけるそれぞれの液
晶層12の厚みを独立に制御することができる。このた
め、透過型として利用する場合及び反射型として利用す
る場合、ともに光学条件を最適化することが可能とな
り、それぞれの場合においてともに表示品位の良好な液
晶表示装置を得ることが可能となる。
ば、良好な光学的反射特性を損なうことなく液晶の配向
不良を防止することができ、この結果として液晶表示装
置は広視野角および高コントラストという高品質な画像
を表示できる液晶表示装置を提供することができる。
液晶表示装置の画素周辺の断面構造を示す図である。
図である。
造を示す。
基板の製造工程を示す図である。
液晶表示装置の画素周辺の平面構造を示す図である。
造を示す図である。
液晶表示装置の画素周辺の平面構造を示す図である。
面構造を示す図である。
施形態に係る反射型液晶表示装置のアレイ基板の製造工
程を示す図である。
周面の断面構造を示す図である。
半透過型液晶表示装置の画素周辺の断面構造を示す図で
ある。
を示す図である。
面構造を示す。
アレイ基板の製造工程を示す図である。
透過型液晶表示装置の画素周辺の断面構造を示す図であ
る。
透過型液晶表示装置の画素周辺の断面構造を示す図であ
る。
Claims (22)
- 【請求項1】第1および第2電極基板と、前記第1およ
び第2電極基板間に挟持され、液晶分子配列が前記第1
および第2電極基板により各々制御される複数の画素領
域に区分される液晶層とを備え、 前記第1電極基板が前記第2電極基板および液晶層を介
して入射する光を散乱させる反射板を含み、 前記反射板が各画素領域の範囲に緩斜面を配置する第1
起伏およびこの画素領域の範囲に複数の主散乱部を配置
する第2起伏を重畳した反射表面を有することを特徴と
する液晶表示装置。 - 【請求項2】前記第1電極基板は、各々対応画素領域に
画素電位を印加する複数の画素電極を含み、前記第2起
伏はこれら画素電極の間隙を除くように配置されること
を特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。 - 【請求項3】前記反射板は、前記複数の画素電極で構成
されることを特徴とする請求項2に記載の液晶表示装
置。 - 【請求項4】前記第1電極基板は、前記反射板の下地と
して絶縁層を含むことを特徴とする請求項1に記載の液
晶表示装置。 - 【請求項5】前記第1電極基板は、前記絶縁層により覆
われる配線部材を含み、前記第1起伏の傾斜角が前記配
線部材の厚さに依存することを特徴とする請求項4に記
載の液晶表示装置。 - 【請求項6】前記第1電極基板は、前記絶縁層により覆
われる配線部材を含み、前記主散乱部が前記配線部材の
上方を除いて配置されることを特徴とする請求項4に記
載の液晶表示装置。 - 【請求項7】前記絶縁層は、前記第1起伏および前記第
2起伏を規定する有機絶縁層を含むことを特徴とする請
求項4に記載の液晶表示装置。 - 【請求項8】前記有機絶縁層は、感光性樹脂から構成さ
れることを特徴とする請求項7に記載の液晶表示装置。 - 【請求項9】前記有機絶縁層は、前記第1起伏を規定す
る第1有機絶縁膜および前記第2起伏を規定する第2有
機絶縁膜の積層体を含むことを特徴とする請求項7に記
載の液晶表示装置。 - 【請求項10】前記第1有機絶縁膜および第2有機絶縁
膜は、いずれも感光性樹脂から構成されることを特徴と
する請求項9に記載の液晶表示装置。 - 【請求項11】前記絶縁層は、さらに前記有機絶縁層の
下地として無機絶縁層を含むことを特徴とする請求項7
に記載の液晶表示装置。 - 【請求項12】前記無機絶縁層は、各画素領域範囲の外
縁よりも内側に配置される複数の島部分を含み、前記第
1起伏の傾斜角が前記複数の島部分の厚さに依存するこ
とを特徴とする請求項11に記載の液晶表示装置。 - 【請求項13】各主散乱部は、ランダムに配置される凸
部であることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装
置。 - 【請求項14】各主散乱部は、ランダムに配置される凹
部であることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装
置。 - 【請求項15】第1および第2電極基板と、前記第1お
よび第2電極基板間に挟持され、液晶分子配列が前記第
1および第2電極基板により各々制御される複数の画素
領域に区分される液晶層とを備え、 前記第1電極基板は、前記第2電極基板及び前記液晶層
を介して入射する光を散乱させる反射板が形成された反
射機能を有する領域と、前記第1電極基板を介して入射
する光を透過する透過機能を有する領域とを含み、 前記反射板が各画素領域の範囲に緩斜面を配置する第1
起伏およびこの画素領域の範囲に複数の主散乱部を配置
する第2起伏を重畳した反射表面を有することを特徴と
する液晶表示装置。 - 【請求項16】前記透過機能を有する領域は、前記反射
板に透過用孔を備えたことを特徴とする請求項15に記
載の液晶表示装置。 - 【請求項17】前記透過機能を有する領域は、各々対応
画素領域に画素電位を印加する複数の透明電極を備えた
ことを特徴とする請求項15に記載の液晶表示装置。 - 【請求項18】前記透明電極は、凹凸を有する絶縁層上
に配置されたことを特徴とする請求項17に記載の液晶
表示装置。 - 【請求項19】前記絶縁層は、前記第1起伏および前記
第2起伏を規定する有機絶縁層を含むことを特徴とする
請求項18に記載の液晶表示装置。 - 【請求項20】前記有機絶縁層は、感光性樹脂から構成
されることを特徴とする請求項19に記載の液晶表示装
置。 - 【請求項21】前記透明電極は、平坦化された絶縁層上
に配置されたことを特徴とする請求項17に記載の液晶
表示装置。 - 【請求項22】前記絶縁層は、有機絶縁層の下地として
無機絶縁層を含み、前記透明電極は、無機絶縁層上に配
置されたことを特徴とする請求項21に記載の液晶表示
装置。
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